CN102646429A - 光拾取装置和光盘装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种再现信号的S/N高且适于小型化的简单的光学系统的光拾取装置。用偏振分束器(52)将从半导体激光器(50)出射的光束分支为第一光束和第二光束，使第一光束照射光盘而得到信号光，使第二光束在反射元件(53)上反射而得到参照光。将信号光与参照光的光束合成，用包括衍射光栅(12)、分割波长板(13)和偏振衍射光栅(14)的相位差形成部(20)分离为4个光束，并且对各个光束中包括的信号光和参照光给予不同的相位差。用1个光检测器(10A)检测4个光束，生成再现信号。

Description

光拾取装置和光盘装置

技术领域

本发明涉及用于从DVD、BD等光盘再现信息的光拾取装置和使用该光拾取装置的光盘装置。

背景技术

在DVD、BD等光盘中，通过使其成为具有2层以上记录层的多层光盘来增加记录容量。今后预计会进一步通过增加记录层数来增大记录容量。但是，为了增加记录层数并从各记录层得到信号光，必须减小每层的反射率。其结果是，不能够充分确保再现信号的S/N，不能进行稳定的再现。此外，因为随着大容量化也需要高速再现，所以需要再现信号的高S/N化。

作为涉及再现信号的高S/N化的技术，已知如下技术：使来自光源的出射光在照射光盘前分支，将不照射光盘的光与来自光盘的反射光合成并使之发生干涉，由此将来自光盘的检测信号的振幅放大。例如专利文献1中，将从光源出射的光束分割为第一光束和第二光束，使第一光束在光盘上聚光照射，将从光盘反射的信号光导向4个检测器，使第二光束不对光盘聚光而作为参照光导向4个检测器。然后，在4个检测器上使信号光和参照光以信号光与参照光之间的相位关系相互不同的状态发生光学干涉，对来自4个检测器的输出的全部或一部分选择性地进行运算来得到再现信号。

先行技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2008-65961号公报

发明内容

发明要解决的课题

根据专利文献1的结构，叙述了能够检测出高S/N的信号，并且在原理上不需要用于使2束光成为规定的相位关系的光路差调整，所以信号放大效果高，是适于光学系统的小型化的干涉型的检测系统。

但是，专利文献1的结构中，配置4个光检测器，并且需要用于使光束入射到4个光检测器的光分支元件。因此，光拾取装置变得复杂，有为了小型化而改善的余地。此外，因为使用光检测器和光分支元件等多个光学部件，所以是成本提高的原因。

于是，本发明的目的在于提供一种再现信号的S/N高且适于小型化的简单的光学系统的光拾取装置和使用该光拾取装置的光盘装置。

用于解决课题的方法

为了解决上述课题，本发明的光拾取装置，包括：半导体激光器，其出射激光的光束；偏振分束器，其使从半导体激光器出射的光束分支为第一光束和第二光束，并且将从该第一光束得到的信号光与从该第二光束得到的参照光合成；物镜，其将第一光束照射在光盘而得到信号光；反射元件，其将第二光束不照射在光盘地反射而得到参照光；相位差形成部，其将用偏振分束器合成的光束分离为多个光束，并且对各个光束中包含的信号光和参照光给予不同的相位差；和共用的光检测器，其具有接受分离的多个光束的多个受光部。此处，相位差形成部包括：衍射光栅、分割波长板和偏振衍射光栅，衍射光栅，通过使入射的光束衍射而将其分离为2个以上的光束，分割波长板，分割为包括对入射的光束给予规定的相位差的1/4波长板和1/2波长板的2个以上的区域，偏振衍射光栅，通过使入射的特定的偏振光束衍射而将其分离为2个以上的光束。

发明效果

根据本发明，能够提供利用信号光与参照光的干涉来提高再现信号的S/N，并且削减光学系统的部件数量来适于小型化的光拾取装置和光盘装置。

附图说明

图1是表示实施例1的光拾取装置的光学系统的图。

图2是表示图1中的相位差形成部20的构成部件的图。

图3是表示图1中的光检测器10A的受光部配置的图。

图4是表示图1中的衍射光栅11的形状的图。

图5是表示图1中的光检测器10B的受光部配置的图。

图6是表示图1中的光学系统的变形例的图。

图7是表示图3中的光检测器10A的变形例的图。

图8是表示实施例2中的相位差形成部20的构成部件的图。

图9是表示实施例2中的光检测器10A的结构的图。

图10是表示实施例3中的相位差形成部20的构成部件的图。

图11是表示实施例3中的光检测器10A的结构的图。

图12是表示实施例4的光拾取装置的光学系统的图。

图13是表示图12中的相位差形成部20的构成部件的图。

图14是表示图12中的光检测器10的受光部配置的图。

图15是表示实施例5中的光拾取装置的光学系统的图。

图16是表示图15中的光检测器10的受光部配置的图。

图17是表示实施例6中的光盘装置的概略结构的图。

符号说明

2：物镜

5：致动器

7：1/2波长板

8、56：1/4波长板

10、10A、10B：光检测器

11、12、22：衍射光栅

13、23：分割波长板

14、24：偏振衍射光栅

    15、57、60、61：检测透镜

20：相位差形成部

50：半导体激光器

51：准直透镜

52、58：偏振分束器

53：角隅棱镜

55：竖立反射镜

170：光拾取装置

171：主轴电机驱动电路

172：访问控制电路

173：致动器驱动电路

174：伺服信号生成电路

175：信息信号再现电路

176：控制电路

177：激光器点亮电路

178：信息记录电路

180：主轴电机

具体实施方式

以下将本发明分为数个实施例，用附图进行说明。

[实施例1]

图1是表示本发明的第一实施例的光拾取装置的光学系统的图。本实施例中，以BD多层光盘的再现为对象，但也可以是除此以外的光盘，也可以是单层光盘。

波长约405nm的光束从半导体激光器50作为发散光出射。出射的光束经过1/2波长板7，被准直透镜51变换为大致平行的光束，入射到偏振分束器52。偏振分束器52，是具有使S偏振光大致100％反射、使P偏振光大致100％透过的功能的光分支元件。

在偏振分束器52上反射的S偏振光的光束在竖立反射镜55上反射，入射到1/4波长板56被变换为圆偏振光。然后，圆偏振光的光束通过装载于致动器(Actuator)5的物镜2在光盘(BD多层光盘)的规定的记录层聚光。在光盘的记录层上反射的圆偏振光的光束，经过物镜2入射到1/4波长板56被变换为P偏振光，经过竖立反射镜55返回偏振分束器52。该光束是P偏振光，透过偏振分束器52成为“信号光”。

另一方面，从半导体激光器50出射、透过偏振分束器52的P偏振光的光束，入射到1/4波长板8被变换为圆偏振光，入射到作为反射元件的角隅棱镜53。此处，角隅棱镜53，是使光束不论以怎样的入射角入射，都使光束在同一方向上反射的光学元件。在角隅棱镜53上反射的圆偏振光的光束，入射到1/4波长板8被变换为S偏振光，返回偏振分束器52。该光束是S偏振光，在偏振分束器52上反射成为“参照光”。

偏振分束器52中，从上述光盘反射的光束(信号光)和在角隅棱镜53上反射的光束(参照光)被合成。此时，作为P偏振光的信号光和作为S偏振光的参照光，以偏振方向相互正交的状态合成。以下，将信号光和参照光作为同一个光束进行光路的说明。

在偏振分束器52中合成的光束，因检测透镜57而汇聚，入射到作为光分支元件的偏振分束器58。偏振分束器58中，S偏振光的参照光的反射率设定得高，此处使S偏振光的参照光大致100％反射，使P偏振光的信号光反射大致一半(使其余透过)。根据在偏振分束器58上反射的光束(信号光和参照光)生成再现信号，根据透过偏振分束器58的光束(信号光)生成伺服信号。

在偏振分束器58上反射的光束(信号光和参照光)，入射到相位差形成部20(用虚线表示)。相位差形成部20，包括衍射光栅(无偏振)12、分割波长板13和偏振衍射光栅14，具有将入射的光束分离为4个光束，并且对各光束中包括的信号光和参照光分别给予不同的相位差的功能。衍射光栅12将光束分离为2个光束，分割波长板13对分离后的2个光束给予相位差，偏振衍射光栅14进而将其分离为4个光束。4个光束分别被检测器10A上设置的4个受光部检测，通过对来自4个受光部的检测信号进行运算生成再现信号。相位差形成部20和检测器10A的详情在后文中叙述。

另一方面，透过偏振分束器58的光束(信号光)，入射到具有多个区域的衍射光栅11，从各区域向分别不同的方向分离并出射，在光检测器10B上结成焦点。在光检测器10B上形成多个受光部，照射用衍射光栅11分离后的各光束。从各受光部输出与照射的光量相应的检测信号，对这些输出进行运算生成聚焦误差信号和寻轨(tracking)误差信号等伺服信号。然后，根据聚焦误差信号在光轴方向上驱动装载有物镜2的致动器5，进行聚焦控制。此时，为了根据上述检测器10A的检测信号生成稳定的再现信号，也可以用聚焦误差信号在光轴方向上驱动角隅棱镜53。

以下，详细说明相位差形成部20和检测器10A的结构和动作。

图2是表示相位差形成部20的构成部件的图，(a)是衍射光栅12，(b)是分割波长板13，(c)是偏振衍射光栅14。图中的虚线表示光束的外形，Rad表示光盘半径方向，Tan表示光盘切线方向。

首先，用衍射光栅(无偏振)12将入射的光束分离为2个光束。此处，衍射光栅12的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率，例如设为0∶1∶1。但是，衍射效率的比不限定于此，也可以是1∶1∶0或者其他比例。其中，因为光束因检测透镜57而成为汇聚光，所以2个光束因衍射而分离的同时光束的有效直径也变小。从衍射光栅12出射的2个光束(+1级光、-1级光)入射到分割波长板13。

分割波长板13，配置在来自衍射光栅12的2个光束分离的位置。分割波长板13被分为为区域A和区域B两部分，2个光束+1级光13A、-1级光13B分别入射到区域A和区域B。区域A由1/2波长板构成，区域B由1/4波长板构成。该分割波长板13可以是光子晶体的波长板，也可以是区域分割后的液晶的波长板。进而，也可以是将2个波长板贴合而成的波长板。入射到区域A的光束13A，偏振方向被1/2波长板旋转45度。此外，入射到区域B的光束13B，被1/4波长板给予相位差。透过分割波长板13的2个光束，入射到偏振衍射光栅14。

偏振衍射光栅14中，通过分割波长板13的2个光束14A、14B分别入射到不同的区域。该光束14A、14B中，包括信号光和参照光。此处，偏振衍射光栅14仅在特定的偏振光、例如S偏振光入射的情况下产生衍射作用。此时的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率例如设为0∶1∶0。因此，当P偏振光和S偏振光入射到偏振衍射光栅14时，得到P偏振光作为透过光，得到S偏振光作为+1级光。其结果是，各光束14A、14B被分离为相互正交的2束直线偏振光，共出射4个光束。此时，各光束中的信号光与参照光的相位差，成为0°、90°、180°、270°四种。4个光束入射到光检测器10A。

图3是表示光检测器10A的受光部配置的图。光检测器10A具有4个受光部a、b、c、d。用偏振衍射光栅14从光束14A分离出的正交的2束直线偏振光10a、10b，入射到光检测器10A的受光部a、b。此外，用偏振衍射光栅14从光束14B分离出的正交的2束直线偏振光10c、10d，入射到光检测器10A的受光部c、d。此时，透过偏振衍射光栅14的P偏振光入射到受光部a、c，作为偏振衍射光栅14的+1级衍射光的S偏振光入射到受光部b、d。

此处，光检测器10A上的光束10a中参照光与信号光的相位差为0°，光束10b中参照光与信号光的相位差为180°地干涉。此外，光检测器10A上的光束10c中参照光与信号光的相位差为90°，光束10d中参照光与信号光的相位差为270°地干涉。因此，设信号光的电场矢量为Es，参照光的电场矢量为Er时，用光检测器10A上的受光部a、b、c、d得到的信号A、B、C、D可以用下式表示。

[式1]

$A={|\frac{1}{2}\mathrm{Es}+\frac{1}{2}\mathrm{Er}|}^2$

$=\frac{1}{4}{\left|\mathrm{Es}\right|}^2+\frac{1}{4}{\left|\mathrm{Er}\right|}^2+\frac{1}{2}\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|\cos (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

$B={|\frac{1}{2}\mathrm{Es}-\frac{1}{2}\mathrm{Er}|}^2$

$=\frac{1}{4}{\left|\mathrm{Es}\right|}^2+\frac{1}{4}{\left|\mathrm{Er}\right|}^2-\frac{1}{2}\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|\cos (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

$C=\frac{1}{8}{|(1-i)\mathrm{Es}+(1+i)\mathrm{Er}|}^2$

$=\frac{1}{4}\left|{\mathrm{Es}}^2\right|+\frac{1}{4}\left|{\mathrm{Er}}^2\right|+\frac{1}{2}\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|\sin (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

$D=\frac{1}{8}{|(1+i)\mathrm{Es}+(1-i)\mathrm{Er}|}^2$

$=\frac{1}{4}{|\mathrm{Es}}^2|+\frac{1}{4}{|\mathrm{Er}}^2|-\frac{1}{2}\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|\sin (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

此处(θs-θr)表示信号光的电场矢量Es与参照光的电场矢量Er的相位差。此处为了简便，设信号光和参照光是相干光。此处，对信号A与信号B、信号C与信号D的差动信号进行运算时，用下式表示。

[式2]

A-B＝|Es||Er|cos(θs-θr)    (1)

C-D＝|Es||Er|sin(θs-θr)    (2)

此处，通过对(1)和(2)的平方和的平方根进行运算，生成本实施例的再现信号(RF)。

[式3]

$\mathrm{RF}=\sqrt{{(A-B)}^2+{(C-D)}^2}$

$=\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|$

通过进行这样的运算，对于再现信号RF，能够与信号光和参照光的相位差(θs-θr)无关地检测出稳定的信号。然后，因为用通常方式检测的情况的信号光可以用|Es|的平方表示，所以本实施例的再现信号的放大率Am可以用下式表示。

[式4]

$\mathrm{Am}=\frac{\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|}{{\left|\mathrm{Es}\right|}^2}$

$=\frac{\left|\mathrm{Er}\right|}{\left|\mathrm{Es}\right|}$

像这样，本实施例的放大率Am仅由参照光的电场振幅|Er|与信号光的电场振幅|Es|之比决定。例如，偏振分束器52中朝向光盘的光和朝向角隅棱镜53的光是同量的，在多层光盘的反射率是1％的情况下，光检测器10A上参照光的光强度相对于信号光的光强度是约100倍。此处，因为光强度用电场振幅的平方表示，所以再现信号的放大率Am是√100＝10倍。即，通过本实施例的结构，能够将再现信号放大到大致10倍得到高S/N的再现信号。由此，特别是对于多层光盘等中各记录层的反射率低的情况和高速再现时要求高S/N化的情况等是有效的。

此外，本实施例的结构中，通过组合衍射光栅12、分割波长板13、偏振衍射光栅14，能够用1个光检测器10A得到将再现信号的振幅放大的效果。由此，对于现有方式能够削减部件数量，使光学系统大幅地小型化。

此外，本实施例的结构中，将包括信号光和参照光的光束分离为其相位差不同的4个光束并生成再现信号，但分离的光束的数量并不限定于此，通过分离为相位差不同的多个光束，能够得到同样的效果。

接着，说明本实施例中的伺服信号(聚焦误差信号、跟踪误差信号)的生成方法。关于伺服信号，是将透过偏振分束器58的光束(信号光)用衍射光栅11分离为多束，用光检测器10B受光。

图4是表示衍射光栅11的形状的图。实线表示区域的边界线，两点划线表示激光的光束的外形，斜线部表示因光盘的轨道而衍射的0级衍射光与±1级衍射光的干涉区域(推挽图案)。衍射光栅11，由如下区域形成：在光盘上的轨道上衍射的光盘衍射光的仅有0级衍射光入射的区域Ge、Gf、Gg、Gh；光盘衍射光的0级衍射光、±1级光入射的区域Gab、Gcd；和包含0级衍射光的大致中心的区域Gi。此处，衍射光栅11中，0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率例如设为0∶1∶1。

图5是表示光检测器10B的受光部配置的图。光检测器10B中，配置用ab1、ab2等表示的多个受光部，图中的黑点表示信号光。衍射光栅11的区域与光检测器10B的各受光部的关系如下所述。在衍射光栅11的区域Gab、Gcd衍射的+1级光，分别入射到光检测器10B的受光部ab1、cd1，在区域Ge、Gf、Gg、Gh衍射的+1级光入射到聚焦误差信号检测用的受光部re、se、tg、ug、tf、uf、rh、sh。此外，在区域Gab、Gcd、Ge、Gf、Gg、Gh衍射的-1级光，分别入射到受光部ab2、cd2、e2、f2、g2、h2。

设从受光部ab1、cd1、re、se、tf、uf、tg、ug、rh、sh、ab2、cd2、e2、f2、g2、h2得到的信号为AB1、CD1、RE、SE、TF、UF、TG、UG、RH、SH、AB2、CD2、E2、F2、G2、H2，通过以下运算生成聚焦误差信号(FES)、跟踪误差信号(TES)。

[式5]

FES＝(SE+TG+TF+SH)-(RE+UG+UF+RH)

TES＝{(AB1+AB2)-(CD1+CD2)}-kt{(E2+F2)-(G2+H2)}

此处，kt是在物镜位移时不在跟踪误差信号中产生DC成分的系数。此处，聚焦误差检测方式是刀口(knife edge)方式，因为该方式是公知的所以省略说明。此外，式中信号AB1、CD1是与信号AB2、CD2同样的成分，所以在运算上也可以省略，也可以使衍射光栅11的区域Dab、Dcd的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率例如为0∶1∶1，用单侧的受光部(受光部ab1、cd1)检测。

如上所述，本实施例的光拾取装置的光学系统，通过在汇聚光中配置包括衍射光栅12、分割波长板13、偏振衍射光栅14的相位差形成部20，能够用1个光检测器10A得到再现信号的放大效果，与现有方式相比能够削减部件数量，能够大幅地小型化。其所用的无偏振的衍射光栅、分割波长板、偏振衍射光栅是通用部件，与光检测器等电子部件相比更廉价，所以在成本方面也非常有利。

上述实施例中，能够进行如下所述的变形。

图6是表示图1中的光学系统的变形例的图。本例中，将图1的检测透镜57，从偏振分束器58移动到光检测器10A、10B一侧，分别作为检测透镜15、60配置。此外，也可以是将检测透镜15配置在衍射光栅12之后的结构。此时，也可以将检测透镜15、衍射光栅12、分割波长板13、偏振衍射光栅14模块化。进而，也可以是与光检测器10A组合而成的模块。

此外，图7是表示图3中的光检测器10A的变形例的图。本例中，将光检测器10A的受光部a、b、c、d分别分为四部分，用作为相同信号成分的受光部a1、b1、c1、d1的信号、受光部a2、b2、c2、d2的信号、受光部a3、b3、c3、d3的信号、受光部a4、b4、c4、d4的信号的组合进行与上述运算相同的运算，能够将再现信号放大。该方式中，能够根据得到的4个信号的相位差生成跟踪误差信号(推挽信号和DPD信号)。

图1中，使用角隅棱镜53作为参照光的反射元件，但也可以用反射镜代替它。此外，角隅棱镜53即使不用致动器5驱动，也能够得到本实施例的效果。

图2所示的衍射光栅12和偏振衍射光栅14的槽方向不限定于此，只要衍射的光束在分割波长板13、光检测器10A上重合可以是任意方向。此外，使用渥拉斯顿棱镜等偏振光分支元件代替偏振衍射光栅14也能够得到同样的效果。此外，也可以不单独配置衍射光栅12、分割波长板13、偏振衍射光栅14而是使其模块化。进而，也可以是组合了光检测器10A的模块。此外，也可以将分割波长板13与偏振衍射光栅14贴合成为一体，也可以作为具有相同功能的1个光学元件配置。

从信号输出的观点出发，为了防止信号的饱和，也可以与光盘相应地使1/2波长板在光轴方向上旋转使放大率Am变化。此外，为了实现高倍速记录也同样。用于这样的结构，例如可以使用液晶构成的动态的偏振光变换元件，也可以是动态插入波长板的结构。

本实施例中，聚焦误差信号和跟踪误差信号的检测方式并不限定。例如，为了改善检测精度，也可以采用日本特开2004-281026号公报(随着轨道槽制作时的误差降低跟踪误差信号振幅变动)、日本特开2008-135155号公报(对不同种类的光盘适当检测跟踪误差信号)、日本特开2010-61751号公报(在多层光盘中不受来自其他层的杂散光影响而得到稳定的伺服信号)等记载的技术。

[实施例2]

实施例1的光学系统中，将包括信号光和参照光的光束分离为4个光束生成再现信号，但实施例2中，是分离为6个光束生成再现信号的结构。因此，与实施例1相比，相位差形成部20(衍射光栅12，分割波长板13，偏振衍射光栅14)的光学特性和光检测器10A的受光部配置不同。

本实施例中，在偏振分束器58上反射的光束，被衍射光栅12分离为3个光束。3个光束透过分割波长板13的3个区域，被偏振衍射光栅14分离为6个光束。6个光束分别被设置在检测器10A上的6个受光部检测，基于这6个受光部的检测信号生成再现信号。

图8是表示本实施例中的相位差形成部20的构成部件的图，(a)是衍射光栅12，(b)是分割波长板13，(c)是偏振衍射光栅14。图中的虚线表示光束的外形。

首先，入射到衍射光栅12的光束被分离为3个光束。为此，衍射光栅12的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率，例如设为1∶2∶1。但是衍射效率之比并不限定于此，也可以是1∶1∶1或其他比例。从衍射光栅12出射的3个光束(0级光，+1级光，-1级光)，入射到分割波长板13。

分割波长板13被分为区域A、区域B1、区域B2三部分，3个光束0级光13A、+1级光13B1、-1级光13B2分别入射到区域A、区域B1、区域B2。区域A是1/2波长板，区域B1和B2是1/4波长板。入射到区域A的光束13A，偏振方向被1/2波长板旋转45度。入射到区域B1的光束13B1，被1/4波长板给予相位差。同样地，入射到区域B2的光束13B2，被1/4波长板给予相位差。透过分割波长板13的3个光束，入射到偏振衍射光栅14。

来自分割波长板13的3个光束14A、14B1、14B2入射到偏振衍射光栅14。这些光束14A、14B1、14B2中，包括信号光和参照光。此处，偏振衍射光栅14例如仅在S偏振光入射的情况下发生衍射作用。此时的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率例如设为0∶1∶0。因此，当P偏振光和S偏振光入射到偏振衍射光栅14时，得到P偏振光作为透过光，得到S偏振光作为+1级光。其结果是，各光束14A、14B1、14B2分别分离为正交的2束直线偏振光，共出射6个光束。此时，各光束中的信号光与参照光的相位差，成为0°、90°、180°、270°四种。6个光束入射到光检测器10A。

图9是表示本实施例中的光检测器10A的结构的图。光检测器10A具有6个受光部a、b、ca、da、cb、db。用偏振衍射光栅14从光束14A分离出的正交的2束直线偏振光10a、10b入射到光检测器10A的受光部a、b。此外，用偏振衍射光栅14从光束14B1分离出的正交的2束直线偏振光10ca、10da，入射到光检测器10A的受光部ca、da。此外，用偏振衍射光栅14从光束14B2分离出的正交的2束直线偏振光10cb、10db，入射到光检测器10A的受光部cb、db。此时，透过偏振衍射光栅14的P偏振光入射到受光部a、ca、cb，作为偏振衍射光栅14的+1级衍射光的S偏振光入射到受光部b、da、db。

此处，光检测器10A上的光束10a中参照光与信号光的相位差为0°，光束10b中参照光与信号光的相位差为180°地干涉。此外，光检测器10A上的光束10ca、10cb中参照光与信号光的相位差为90°，光束10da、10db中参照光与信号光的相位差为270°地干涉。因此，设信号光的电场矢量为Es，参照光的电场矢量为Er时，用光检测器10A上的受光部a、b、ca、cb、da、db得到的信号A、B、CA、CB、DA、DB可以用下式表示。

[式6]

$A={|\frac{1}{2}\mathrm{Es}+\frac{1}{2}\mathrm{Er}|}^2$

$=\frac{1}{4}{\left|\mathrm{Es}\right|}^2+\frac{1}{4}{\left|\mathrm{Er}\right|}^2+\frac{1}{2}\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|\cos (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

$B={|\frac{1}{2}\mathrm{Es}-\frac{1}{2}\mathrm{Er}|}^2$

$=\frac{1}{4}{\left|\mathrm{Es}\right|}^2+\frac{1}{4}{\left|\mathrm{Er}\right|}^2-\frac{1}{2}\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|\cos (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

$\mathrm{CA}=\mathrm{CB}=\frac{1}{16}{|(1-i)\mathrm{Es}+(1+i)\mathrm{Er}|}^2$

$=\frac{1}{8}{|\mathrm{Es}}^2|+\frac{1}{8}{|\mathrm{Er}}^2|+\frac{1}{4}\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|\sin (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

$\mathrm{DA}=\mathrm{DB}=\frac{1}{16}{|(1+i)\mathrm{Es}+(1-i)\mathrm{Er}|}^2$

$=\frac{1}{8}{|\mathrm{Es}}^2|+\frac{1}{8}|{\mathrm{Er}}^2|-\frac{1}{4}|\mathrm{Es}\left|\right|\mathrm{Er}|\sin (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

此处(θs-θr)表示信号光的电场矢量Es与参照光的电场矢量Er的相位差。此处，对信号A与信号B、信号(CA+CB)与信号(DA+DB)的差动信号进行运算时，用下式表示。

[式7]

A-B＝|Es||Er|cos(θs-θr)    (3)

(CA+CB)-(DA+DB)＝|Es||Er|sin(θs-θr)    (4)

此处，通过对(3)和(4)的平方和的平方根进行运算，生成本实施例的再现信号(RF)。

[式8]

$\mathrm{RF}=\sqrt{{(A-B)}^2+{\{(\mathrm{CA}+\mathrm{CB})-(\mathrm{DA}+\mathrm{DB})\}}^2}$

$=\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|$

像这样，再现信号RF与实施例1的式3同样，再现信号的放大率Am也与式4同样地被给予。其中，因为实施例2的衍射光栅12是单纯的矩形的衍射光栅结构，所以具有比实施例1的衍射光栅更易于制造的特性。

实施例2中，也通过组合衍射光栅12、分割波长板13、偏振衍射光栅14，用1个光检测器10A得到将再现信号的振幅放大的效果。由此，对于现有方式能够削减部件数量，使光学系统大幅地小型化。

[实施例3]

实施例3的光学系统中，将包括信号光和参照光的光束分离为6个光束生成再现信号，但与实施例2相比，相位差形成部20(衍射光栅12，分割波长板13，偏振衍射光栅14)的光学特性和光检测器10A的受光部配置不同。

本实施例中，在偏振分束器58上反射的光束，被衍射光栅12分离为2个光束。2个光束透过分割波长板13的2个区域，被偏振衍射光栅14分离为6个光束。6个光束分别被检测器10A上设置的6个受光部检测，基于这6个受光部的检测信号生成再现信号。

图10是表示本实施例中的相位差形成部20的构成部件的图，(a)是衍射光栅12，(b)是分割波长板13，(c)是偏振衍射光栅14。图中的虚线表示光束的外形。

首先，入射到衍射光栅12的光束被分离为2个光束。为此，衍射光栅12的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率，例如设为0∶1∶1。但是衍射效率的比并不限定于此，也可以是1∶1∶0或其他比例。从衍射光栅12出射的2个光束(+1级光，-1级光)，入射到分割波长板13。

分割波长板13被分为区域A和区域B两部分，2个光束+1级光13A、-1级光13B分别入射到区域A、区域B。区域A是1/2波长板，区域B是1/4波长板。入射到区域A的光束13A，偏振方向被1/2波长板旋转45度。此外，入射到区域B的光束13B，被1/4波长板给予相位差。透过分割波长板13的2个光束，入射到偏振衍射光栅14。

来自分割波长板13的2个光束14A、14B入射到偏振衍射光栅14。此处，偏振衍射光栅14例如仅在S偏振光入射的情况下发生衍射作用。此时的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率例如设为0∶1∶1。因此，当P偏振光和S偏振光入射到偏振衍射光栅14时，得到P偏振光作为透过光，得到S偏振光作为+1级光和-1级光。其结果是，各光束14A、14B分别分离为正交的3束直线偏振光，共出射6个光束。此时，各光束中的信号光与参照光的相位差，成为0°、90°、180°、270°四种。6个光束入射到光检测器10A。

图11是表示本实施例中的光检测器10A的结构的图。光检测器10A具有6个受光部a、ba、bb、c、da、db。

用偏振衍射光栅14从光束14A分离出的正交的3束直线偏振光10a、10ba、10bb入射到光检测器10A的受光部a、ba、bb。此外，用偏振衍射光栅14从光束14B分离出的正交的3束直线偏振光10c、10da、10db入射到光检测器10A的受光部c、da、db。此时，透过偏振衍射光栅14的P偏振光入射到受光部a、c，作为偏振衍射光栅14的+1级衍射光的S偏振光入射到受光部ba、da，作为偏振衍射光栅14的-1级衍射光的S偏振光入射到受光部bb、db。

此处，光检测器10A上的光束10a中参照光与信号光的相位差为0°，光束10ba、10bb中参照光与信号光的相位差为180°地干涉。此外，光检测器10A上的光束10c中参照光与信号光的相位差为90°，光束10da、10db中参照光与信号光的相位差为270°地干涉。因此，设信号光的电场矢量为Es，参照光的电场矢量为Er时，用光检测器10A上的受光部a、ba、bb、c、da、db得到的信号A、BA、BB、C、DA、DB可以用下式表示。

[式9]

$A={|\frac{1}{2}\mathrm{Es}+\frac{1}{2}\mathrm{Er}|}^2$

$\frac{1}{4}{\left|\mathrm{Es}\right|}^2+\frac{1}{4}{\left|\mathrm{Er}\right|}^2+\frac{1}{2}\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|\cos (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

$\mathrm{BA}=\mathrm{BB}=\frac{1}{2}{|\frac{1}{2}\mathrm{Es}-\frac{1}{2}\mathrm{Er}|}^2$

$=\frac{1}{8}{\left|\mathrm{Es}\right|}^2+{\frac{1}{8}\left|\mathrm{Er}\right|}^2-\frac{1}{4}\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|\cos (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

$C=\frac{1}{8}{|(1-i)\mathrm{Es}+(1+i)\mathrm{Er}|}^2$

$=\frac{1}{4}{|\mathrm{Es}}^2|+\frac{1}{4}{|\mathrm{Er}}^2|+\frac{1}{2}\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|\sin (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

$\mathrm{DA}=\mathrm{DB}=\frac{1}{16}{|(1+i)\mathrm{Es}+(1-i)\mathrm{Er}|}^2$

$=\frac{1}{8}\left|{\mathrm{Es}}^2\right|+\frac{1}{8}\left|{\mathrm{Er}}^2\right|-\frac{1}{4}\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|\sin (\mathrm{\θs}-\mathrm{\θr})$

此处(θs-θr)表示信号光的电场矢量Es与参照光的电场矢量Er的相位差。此处，对信号A与(BA+BB)、信号C与(DA+DB)的差动信号进行运算时，用下式表示。

[式10]

A-(BA+BB)＝|Es||Er|cos(θs-θr)    (5)

C-(DA+DB)＝|Es||Er|sin(θs-θr)    (6)

此处，通过对(5)和(6)的平方和的平方根进行运算，生成本实施例的再现信号(RF)。

[式11]

$\mathrm{RF}=\sqrt{{\{A-(\mathrm{BA}+\mathrm{BB})\}}^2+{\{C-(\mathrm{DA}+\mathrm{DB})\}}^2}$

$=\left|\mathrm{Es}\right|\left|\mathrm{Er}\right|$

这样，再现信号RF与实施例1的式3同样，再现信号的放大率Am也与式4同样地被给予。其中，因为实施例3的偏振衍射光栅14是单纯的矩形的衍射光栅结构，所以具有比实施例1的偏振衍射光栅更易于制造的特性。

实施例3中，也能够通过组合衍射光栅12、分割波长板13、偏振衍射光栅14，用1个光检测器10A得到将再现信号的振幅放大的效果。由此，对于现有方式能够削减部件数量，使光学系统大幅地小型化。

[实施例4]

实施例1中，根据各个光检测器的检测信号生成再现信号和伺服信号(聚焦误差信号/跟踪误差信号)，但实施例4中是根据共用的1个检测器的检测信号生成它们的结构。

图12是表示本发明的第四实施例的光拾取装置的光学系统的图。与实施例1(图1)相比，从偏振分束器52到光检测器10的结构不同。

从偏振分束器52出射的光束经过检测透镜57入射到相位差形成部20。相位差形成部20中，用衍射光栅22分离为3个光束。然后，分离为3个的光束，透过分割波长板23的3个区域，被偏振衍射光栅24分离为多个光束。多个光束分别被设置在检测器10上的多个受光部检测。基于这些受光部的检测信号，生成再现信号和伺服信号(聚焦误差信号和跟踪误差信号)。根据聚焦误差信号在光轴方向上驱动装载有物镜2的致动器5，进行聚焦控制。此时，为了根据上述检测器10的检测信号生成稳定的再现信号，也可以用聚焦误差信号在光轴方向上驱动角隅棱镜53。

以下详细说明相位差形成部20和检测器10的结构和动作。

图13是表示相位差形成部20的构成部件的图，(a)是衍射光栅22，(b)是分割波长板23，(c)是偏振衍射光栅24。此外，图中的虚线表示光束的外形。

首先，入射到衍射光栅22的光束被分离为3个光束。为此，衍射光栅22的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率，例如设为1∶1∶1。但是衍射效率之比并不限定于此，也可以是其他比例。此外，衍射光栅22是全息元件，对衍射的±1级光分别给予相反方向的离焦(defocus)像差。从衍射光栅22出射的3个光束(0级光，+1级光，-1级光)，入射到分割波长板23。

分割波长板23被分割为区域A、区域B、区域C，3个光束+1级光23A、-1级光23B、0级光23C，分别入射到区域A、区域B、区域C。区域A是1/2波长板，区域B是1/4波长板，区域C是1/2波长板。入射到区域A的光束23A，偏振方向被1/2波长板旋转45度。入射到区域B的光束23B，被1/4波长板给予相位差。入射到区域C的光束23C，偏振方向被1/2波长板旋转90度，信号光成为S偏振光，参照光成为P偏振光。透过分割波长板23的3个光束，入射到偏振衍射光栅24。

偏振衍射光栅24被分割为衍射光栅区域GA、GB、GC。其中区域GC由如下区域形成：在光盘上的轨道上衍射的光盘衍射光的仅有0级衍射光入射的区域De、Df、Dg、Dh(区域X)；光盘衍射光的0级衍射光、±1级光入射的区域Dab、Dcd(区域Y)；和包含0级衍射光的大致中心的区域Di(区域Z)。从分割波长板23的区域A、B、C出射的光束24A、24B、24C入射到各区域GA、GB、GC。偏振衍射光栅24，例如仅在S偏振光入射的情况下发生衍射作用。此时，区域GA、GB的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率设为0∶1∶0，区域GC的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率设为0∶1∶1。因此，区域GA、GB中P偏振光和S偏振光入射时，得到P偏振光作为透过光，得到S偏振光作为+1级光，所以分离为正交的2束直线偏振光。区域GC的各区域中，分离为正交的直线偏振光。用偏振衍射光栅24分离后的各光束，入射到光检测器10。

图14是表示本实施例中的光检测器10的受光部配置的图。图中的黑点和斜线区域表示信号光。

从偏振衍射光栅24的区域GA、GB出射的光束10a、10b、10c、10d入射到再现信号检测用的受光部a、b、c、d。从区域GA出射的光束中，透过成分(P偏振光)10a入射到受光部a，+1级衍射光(S偏振光)10b入射到受光部b。从区域GB出射的光束之中，透过成分(P偏振光)10c入射到受光部c，+1级衍射光(S偏振光)10d入射到受光部d。这些光束10a、10b、10c、10d，受到用衍射光栅22给予的离焦像差的影响而在受光面上散焦。

从偏振衍射光栅24的区域GC出射的光束入射到其他伺服信号检测用的受光部。在偏振衍射光栅24的区域De、Df、Dg、Dh衍射的+1级光入射到聚焦误差信号检测用的受光部re、se、tf、uf、tg、ug、rh、sh。在偏振衍射光栅24的区域Dab、Dcd衍射的+1级光入射到跟踪误差信号检测用的受光部ab1、cd1，在区域Dab、Dcd衍射的-1级光入射到跟踪误差信号检测用的受光部ab2、cd2。在区域De、Df、Dg、Dh衍射的-1级光入射到跟踪误差信号检测用的受光部e2、f2、g2、h2。

设从各受光部a、b、c、d、ab1、cd1、re、se、tf、uf、tg、ug、rh、sh、ab2、cd2、e2、f2、g2、h2得到的信号为A、B、C、D、AB1、CD1、RE、SE、TF、UF、TG、UG、RH、SH、AB2、CD2、E2、F2、G2、H2，则通过以下运算生成聚焦误差信号(FES)、跟踪误差信号(TES)、再现信号(RF)。

[式12]

FES＝(SE+TG+TF+SH)-(RE+UG+UF+RH)

TES＝{(AB1+AB2)-(CD1+CD2)}-kt{(E2+F2)-(G2+H2)}

$F=\sqrt{{(A-B)}^2+{(C-D)}^2}$

此处，kt是在物镜位移时不在跟踪误差信号中产生DC成分的系数。此处，聚焦误差检测方式是刀口方式，因为该方式是公知的所以省略说明。此外，式中信号AB1、CD1是与信号AB2、CD2同样的成分，所以在运算上也可以省略，也可以使偏振衍射光栅24的区域Dab、Dcd的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率例如为0∶0∶1，用单侧的受光部(受光部ab2、cd2)检测。

此处，本实施例中得到的再现信号(RF)，与实施例1的式3相等，能够得到相同的信号放大效果。此外，关于伺服信号(FES、TES)也能够得到与实施例1的式5相同的结果。本实施例中，通过在汇聚光中配置衍射光栅22、分割波长板23、偏振衍射光栅24，将分割波长板23、偏振衍射光栅24分为三部分，能够根据1个光检测器的检测信号得到再现信号和伺服信号双方，对于现有方式能够大幅地小型化。

此外，本实施例的特征在于用衍射光栅22分离为3个光束，将在衍射光栅22衍射的2个光束作为再现信号用，将在衍射光栅22衍射的1个光束作为伺服信号用。因此，在本实施例中组合使用1个光束的跟踪误差信号检测方式也能够得到相同的效果。此外，在去路(往路)中配置衍射光栅，使用3光束的DPP方式也能够得到同样的效果。

本实施例中，为了达成使受光部a、b、c、d上信号光与参照光的位置偏移增强的目的，用衍射光栅22给予离焦像差。这是因为，由于信号光与参照光的光轴偏移因调整偏移而发生时汇聚位置不一致，所以在受光部上散焦更能够增加干涉区域。因此，在光盘上散焦的方法不仅限定于离焦像差，也可以给予其他像差，也可以物理上地给予离焦。进而，也可以是用偏振衍射光栅24给予离焦像差的结构。

本实施例中，用4个受光部检测再现信号，但不限定于此，例如也可以使偏振衍射光栅24的区域GA、GB的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率为0∶1∶1，配置与其对应的受光部来检测再现信号。

此外，用参照光透过偏振衍射光栅24的区域GC的结构进行了说明，但为了不使多余的光束入射，也可以在从偏振衍射光栅24到光检测器10之间配置分割偏振光元件，遮蔽区域GC的参照光成分。此外，能够使用光子晶体等作为分割偏振光元件。

[实施例5]

实施例4中，是根据共用的1个检测器的检测信号生成再现信号和伺服信号(聚焦误差信号/跟踪误差信号)的结构，但实施例5中，是进一步变更相位差形成部20的光学特性的一部分，并且追加给予像散的检测透镜的结构。

图15是表示本发明的第五实施例的光拾取装置的光学系统的图。与实施例4(图12)相比，从相位差形成部20到光检测器10的结构不同。

从偏振分束器52出射的光束经过检测透镜57入射到相位差形成部20。相位差形成部20中，用衍射光栅22分离为3个光束，3个光束透过分割波长板23的3个区域，被偏振衍射光栅24分离为多个光束。之后，用追加的检测透镜61仅对规定的光束给予像散，用设置在光检测器10上的多个受光部分别检测。基于这些受光部的检测信号，生成再现信号和伺服信号(聚焦误差信号和跟踪误差信号)。

此处，相位差形成部20(衍射光栅22，分割波长板23，偏振衍射光栅24)，是与实施例4(图13)同样的形状，但光学特性的一部分不同。

首先，入射到衍射光栅22的光束被分割为3个光束。此处，衍射光栅22的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率，例如设为1∶1∶1。在衍射光栅22衍射的3个光束，入射到分割波长板23。

分割波长板23分割为区域A、区域B、区域C，区域A是1/2波长板，区域B是1/4波长板，区域C是1/2波长板。入射到区域A的光束23A，偏振方向被1/2波长板旋转45度。入射到区域B的光束23B，被1/4波长板给予相位差。入射到区域C的光束23C，偏振方向被1/2波长板旋转规定角度。此处，使信号光的S偏振光与参照光的P偏振光成为1∶1。透过分割波长板23的3个光束，入射到偏振衍射光栅24。

偏振衍射光栅24，被分割为衍射光栅区域GA、GB、GC。区域GC中根据入射的光盘衍射光的种类(0级光，±1级光)进一步分割区域。偏振衍射光栅24，例如仅在S偏振光入射的情况下发生衍射作用，此时各区域GA、GB、GC的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的衍射效率设为0∶1∶0。因此，当P偏振光和S偏振光入射到各区域GA、GB、GC时，得到P偏振光作为透过光，得到S偏振光作为+1级衍射光，所以分离为正交的2束直线偏振光。用偏振衍射光栅24分离后的各光束，入射到检测透镜61。

检测透镜61的中央部是透镜区域，对透过的光束给予像散。此外，检测透镜61的外周部是平行平板区域。

图16是表示本实施例中的光检测器10的受光部配置的图。图中的黑点和斜线区域表示信号光。

从偏振衍射光栅24的区域GA、GB出射的光束10a、10b、10c、10d透过检测透镜61的平行平板区域入射到再现信号检测用的受光部a、b、c、d。从区域GA出射的光束之中，透过成分(P偏振光)10a入射到受光部a，+1级衍射光(S偏振光)10b入射到受光部b。从区域GB出射的光束之中，透过成分(P偏振光)10c入射到受光部c，+1级衍射光(S偏振光)10d入射到受光部d。这些光束10a、10b、10c、10d，受到用衍射光栅22给予的离焦像差的影响而在受光面上散焦。

从偏振衍射光栅24的区域GC内的各区域出射的光束，经由检测透镜61入射到其他伺服信号检测用的受光部。此时，P偏振光成分在检测透镜61的透镜区域中被给予像散，入射到聚焦误差信号检测用的受光部ia～id。此外，S偏振光成分透过检测透镜61的平行平板区域，入射到跟踪误差信号检测用的受光部ab1、cd1、e1、f1、g1、h1。其中，在区域GC内的区域Dab、Dcd衍射的+1级光，入射到受光部ab1、cd1，在区域De、Df、Dg、Dh衍射的+1级光，入射到受光部e1、f1、g1、h1。

设从各受光部a、b、c、d、ia、ib、ic、id、ab1、cd1、e1、f1、g1、h1得到的信号为A、B、C、D、IA、IB、IC、ID、AB1、CD1、E1、F1、G1、H1，通过以下运算生成聚焦误差信号(FES)、跟踪误差信号(TES)、再现信号(RF)。

[式13]

FES＝(IA+IC)-(IB+ID)

TES＝(AB1-CD1)-kt{(E1+F1)-(G1+H1)}

$\mathrm{RF}=\sqrt{{(A-B)}^2+{(C-D)}^2}$

此处，kt是在物镜位移时不在跟踪误差信号中产生DC成分的系数。此处，聚焦误差检测方式是像散方式，因为该方式是公知的所以省略说明。

此处，本实施例中得到的再现信号(RF)，与实施例1的式3相等，能够得到相同的信号放大效果。本实施例中，也通过在汇聚光中配置衍射光栅22、分割波长板23、偏振衍射光栅24，将分割波长板23、偏振衍射光栅24分为三部分，而能够根据1个光检测器的检测信号得到再现信号和伺服信号双方，对于现有方式能够大幅地小型化。此外，本实施例中衍射光栅区域GA的衍射光、GB的衍射光、区域GC的+1级衍射光透过平行平板，但不限定于此，例如衍射光栅也可以是全息元件，以抑制用检测透镜61产生的像散的方式用全息元件产生像散。

[实施例6]

实施例6中，说明装载有上述各实施例1～实施例5的光拾取装置170的光盘装置。

图17是表示第六实施例的光盘装置的概要结构的图。光拾取装置170，具有上述各实施例1～5中的任意一个结构。光拾取装置170中，设置有能够沿光盘100的Rad方向驱动的机构，根据来自访问控制电路172的访问控制信号进行位置控制。

激光器点亮电路177，对光拾取装置170内的半导体激光器供给规定的激光器驱动电流，与记录或再现相应地以规定光量从半导体激光器出射激光。其中，激光器点亮电路177也能够组装在光拾取装置170内。

信息再现时，从光拾取装置170内的光检测器10输出的信号，发送到伺服信号生成电路174和信息信号再现电路175。伺服信号生成电路174中，基于来自光检测器10的检测信号生成聚焦误差信号、跟踪误差信号以及倾斜控制信号等伺服信号，基于它经过制动器驱动电路173驱动光拾取装置170内的致动器，进行物镜的位置控制。信息信号再现电路175中，基于来自光检测器10的检测信号，生成光盘100中记录的信息的再现信号。

信息记录时，信息信号记录电路178基于从控制电路176接受的信息生成记录控制信号，控制激光器点亮电路177，对光盘100写入所要求的信息。

用上述伺服信号生成电路174和信息信号生成电路175得到的信号的一部分，被发送到控制电路176。控制电路176上连接有主轴电机驱动电路171、访问控制电路172、伺服信号生成电路174、激光器点亮电路177等，进行使光盘100旋转的主轴电机180的旋转控制、访问方向和访问位置的控制、物镜的伺服控制、光拾取装置170内的半导体激光器发光光量的控制等。

其中，如果在上述结构中删除信息信号记录电路178，就能够成为仅具有信息再现功能的光盘装置。

本实施例的光盘装置中，因为装载有上述各实施例1～5的光拾取装置，所以能够提高再现信号的S/N，并且实现光拾取装置和光盘装置的小型化。

以上说明了本发明的各种实施例，但本发明并不限定于上述实施例，包括各种变形例。例如，上述实施例是为了易于理解地说明本发明而详细说明的，并不限定于必须具备说明过的所有结构。此外，能够将某个实施例的结构的一部分替换为其他实施例的结构，或者也能够在某个实施例的结构上添加其他实施例的结构。此外，对于各实施例的结构的一部分，能够追加、删除、替换其他结构。

Claims (12)

1.一种光拾取装置，其对光盘照射激光，检测来自该光盘的反射光，该光拾取装置的特征在于，包括：

半导体激光器，其出射激光的光束；

偏振分束器，其使从所述半导体激光器出射的光束分支为第一光束和第二光束，并且将从该第一光束得到的信号光与从该第二光束得到的参照光合成；

物镜，其将所述第一光束照射在所述光盘而得到信号光；

反射元件，其将所述第二光束不照射在所述光盘地反射而得到参照光；

相位差形成部，其将用所述偏振分束器合成的光束分离为多个光束，并且对各个光束中包含的信号光和参照光给予不同的相位差；和

共用的光检测器，其具有接受所述分离的多个光束的多个受光部，其中

所述相位差形成部包括：衍射光栅、分割波长板和偏振衍射光栅。

2.如权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于：

所述衍射光栅，通过使入射的光束衍射而将其分离为2个以上的光束，

所述分割波长板，分割为包括对入射的光束给予规定的相位差的1/4波长板和1/2波长板的2个以上的区域，

所述偏振衍射光栅，通过使入射的特定的偏振光束衍射而将其分离为2个以上的光束，其中

由所述衍射光栅分离后的2个以上的光束，分别入射到所述分割波长板的不同区域，

通过所述分割波长板的各区域的光束，分别入射到所述偏振衍射光栅的不同区域。

3.如权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于：

所述衍射光栅将入射的光束分离为2个，

所述分割波长板具有2个区域，由所述衍射光栅分离后的2个光束入射到这2个区域，

通过所述分割波长板的2个光束，入射到所述偏振衍射光栅，分别分离为2个光束，由此总共分离为4个光束，

所述光检测器，用4个受光部检测从所述偏振衍射光栅出射的4个光束，作为再现信号生成用的检测信号。

4.如权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于：

所述衍射光栅将入射的光束分离为3个，

所述分割波长板具有3个区域，由所述衍射光栅分离后的3个光束入射到这3个区域，

通过所述分割波长板的3个光束，入射到所述偏振衍射光栅，分别分离为2个光束，由此总共分离为6个光束，

所述光检测器，用6个受光部检测从所述偏振衍射光栅出射的6个光束，作为再现信号生成用的检测信号。

5.如权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于：

所述衍射光栅将入射的光束分离为2个，

所述分割波长板具有2个区域，由所述衍射光栅分离后的2个光束入射到这2个区域，

通过所述分割波长板的2个光束，入射到所述偏振衍射光栅，分别分离为3个光束，由此总共分离为6个光束，

所述光检测器，用6个受光部检测从所述偏振衍射光栅出射的6个光束，作为再现信号生成用的检测信号。

6.如权利要求3～5中任一项所述的光拾取装置，其特征在于：

所述相位差形成部，对分离后的各光束的信号光和参照光，给予4种相位差0°、90°、180°、270°。

7.如权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于：

所述衍射光栅将入射的光束分离为3个，

所述分割波长板具有3个区域，由所述衍射光栅分离后的3个光束入射到这3个区域，

所述偏振衍射光栅具有第一区域、第二区域和被它们夹着的第三区域，通过所述分割波长板的3个光束入射到这三个区域，

所述光检测器，检测从所述偏振衍射光栅的第一区域、第二区域出射的光束，作为再现信号生成用的检测信号，并且检测从所述偏振衍射光栅的第三区域出射的光束，作为聚焦误差信号和跟踪误差信号生成用的检测信号。

8.如权利要求7所述的光拾取装置，其特征在于：

所述偏振衍射光栅的第三区域，具有区域X、区域Y、区域Z这3个区域，

因所述光盘上的轨道而衍射的光盘衍射光之中，0级光盘衍射光入射到所述区域X，0级、±1级光盘衍射光入射到所述区域Y，0级光盘衍射光的大致中心入射到所述区域Z。

9.如权利要求7或8所述的光拾取装置，其特征在于：

在所述偏振衍射光栅与所述光检测器之间，配置中央部为透镜区域外周部为平板区域的检测透镜，

从所述偏振衍射光栅的第三区域出射的光束之中，从通过所述检测透镜的透镜区域而被给予了像散的光束得到所述聚焦误差信号生成用的检测信号，从通过所述检测透镜的平板区域的光束得到所述跟踪误差信号生成用的检测信号。

10.如权利要求1～9中任一项所述的光拾取装置，其特征在于：

所述衍射光栅是全息元件，在使入射的光束衍射时给予离焦像差。

11.如权利要求1～9中任一项所述的光拾取装置，其特征在于：

所述光检测器之中的用于生成再现信号的受光部，分别被分为四部分。

12.一种光盘装置，其装载有权利要求1～11中任一项所述的光拾取装置，该光盘装置的特征在于，包括：

激光器点亮电路，其驱动所述光拾取装置内的所述半导体激光器；

信息信号再现电路，其用所述光拾取装置内的所述光检测器产生的检测信号，生成光盘中记录的信息的再现信号；和

伺服信号生成电路，其用所述光拾取装置内的所述光检测器产生的检测信号，生成聚焦误差信号和跟踪误差信号。

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