CN102005217B - 光拾取器装置及使用其的光盘装置 - Google Patents

光拾取器装置及使用其的光盘装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102005217B
CN102005217B CN201010167259.7A CN201010167259A CN102005217B CN 102005217 B CN102005217 B CN 102005217B CN 201010167259 A CN201010167259 A CN 201010167259A CN 102005217 B CN102005217 B CN 102005217B
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
diffraction
region
signal
grade
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201010167259.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102005217A (zh
Inventor
中村俊辉
中井伸郎
木村茂治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Media Electronics Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Media Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Media Electronics Co Ltd filed Critical Hitachi Media Electronics Co Ltd
Publication of CN102005217A publication Critical patent/CN102005217A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102005217B publication Critical patent/CN102005217B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1381—Non-lens elements for altering the properties of the beam, e.g. knife edges, slits, filters or stops
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
    • G11B7/0906—Differential phase difference systems
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0943—Methods and circuits for performing mathematical operations on individual detector segment outputs
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/13—Optical detectors therefor
    • G11B7/133—Shape of individual detector elements
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B2007/0003—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier
    • G11B2007/0009—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier for carriers having data stored in three dimensions, e.g. volume storage
    • G11B2007/0013—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier for carriers having data stored in three dimensions, e.g. volume storage for carriers having multiple discrete layers
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/094—Methods and circuits for servo offset compensation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

本发明提供一种光拾取器装置和使用该装置的光盘装置，该光拾取器能够降低由多层光盘中的杂散光得到的检测信号的变动，能够稳定且高品质地进行记录再现。在由光盘反射的光束中，仅根据除去推挽区域后的周边部区域的光生成DPD信号，由此能够将光检测器受光面的内部连接优化，以比以往小的放大率实现DPP方式的跟踪误差信号时需要的透镜误差信号的信号放大。此外，配置光束的分割区域和受光面，以将反射光分割为多个区域，并使分割后的光束汇聚于光检测器的不同位置，并且焦点在目标层上汇聚时，来自其它层的记录层的杂散光不会入射到光检测器的伺服信号用受光面。由此抑制干扰成分被放大器放大而进行稳定且良好的信号检测。

Description

光拾取器装置及使用其的光盘装置
技术领域
本发明涉及光拾取器装置、光盘装置。
背景技术
作为本技术领域的背景技术，例如存在日本专利特开2006-344344号公报(专利文献1)。在本公报中记载有“从具有多个记录层的光盘精度良好地取得所希望的信号”。此外，例如存在日本专利特开2006-344380号公报(专利文献2)。在本公报中记载有”具有2面信息记录面的能够记录的光记录介质的情况下，检测杂散光少的跟踪误差信号”。进一步，例如在非专利文献1中记载有“在另一层没有杂散光的区域配置追踪用光检测器(photo detector)”，对于该构成在特开2004-281026(专利文献3)中也有记载。
此外，例如存在特开2008-102998号公报(专利文献4)。在本公报中记载有“以光盘的目标信息记录层上对准焦点的情况下，来自目标信息记录层的反射光束在光检测器的受光部上对准焦点，来自目标信息记录层以外的信息记录层的反射光束以不照射在光检测器的受光部的方式，构成分割元件的各区域和光检测器的受光部。”。
专利文献1特开2006-344344号公报
专利文献2特开2006-344380号公报
专利文献3特开2004-281026号公报
专利文献4特开2008-102998号公报
非专利文献1电子信息通信学会信学技报CPM2005-149(2005-10)
发明内容
近年来，存在如下问题：在记录层被多层化的光盘的记录或再现时，在不是再现的对象的记录层反射的杂散光向光检测器面入射从而成为干扰成分，使光检测器的检测信号发生变动。特别地在记录层被多层化为3层以上的光盘中，在多个层中发生无用光束，因此干扰成分增加从而上述检测信息的变动进一步增大。对于上述问题，在专利文献4中，设置具有多个区域的分割元件，将由光盘反射的光束分割为出射方分割为出射方向不同的多个光束，由此来分离杂散光和信号光，而抑制检测信号的变动。
但是，在上述结构中，存在如下问题，即，需要对在DPP方式的跟踪误差信号中所使用的信号进行10倍左右的信号放大，使得由不能完全分离而少量残留的杂散光引起的信号摆动成分、损伤和污染等干扰成分大幅放大。其结果，被放大后的干扰成分漏入DPP信号，难以得到稳定且高品质的记录或再现品质。
本发明的目的在于，提供一种光拾取器装置和光盘装置，能够抑制电信号放大并生成DPP信号，大幅降低干扰成分向检测信号的泄漏，能够得到稳定且高品质的记录或再现品质。
上述目的，作为一个例子能够由本发明的技术范围中记载的发明来完成。
本发明的光拾取器装置，包括，激光光源；使从该激光光源射出的激光光束汇聚在光盘上的物镜；将由光盘反射的信号光束分割成多个光束的光束分割元件；和具有用于分别接受被分割成多个的所述信号光束的受光面的光检测器，利用所述光检测器，对由所述光束分割元件分割的信号光束中除去推挽信号区域的光束周边部的区域的光进行检测，使用来自所述光束周边部的光的检测信号，对作为跟踪误差信号的DPD信号进行检测。
另外，本发明另一方面的光拾取器装置，其特征在于：包括，激光光源；使从该激光光源射出的激光光束汇聚在光盘上的物镜；将由光盘反射的信号光束分割成多个光束的光束分割元件；和具有用于分别接受被分割成多个的光束的受光面的光检测器，作为跟踪误差信号仅对DPP信号进行检测。
根据本发明，提供一种光拾取器装置和光盘装置，能够降低对检测信号的杂散光的影响，能够检测高品质的信号。
附图说明
图1是表示本发明的光拾取器装置的结构例的概略图。
图2是表示现有例的光束分割元件的概略图。
图3是表示现有例的光检测器的结构的概略图。
图4是表示第一实施例的光束分割元件的概略图。
图5是表示第一实施例的光检测器的结构的概略图。
图6是表示第二实施例的光检测器的结构的概略图。
图7是表示第三实施例的光束分割元件的概略图。
图8是表示第三实施例的光检测器的结构的概略图。
图9是表示第四实施例的光检测器的结构的概略图。
图10是表示第五实施例的光检测器的结构的概略图。
图11是表示本发明的光盘装置的结构例的概略图。
符号说明
1激光光源
2激光光束
3偏光分束器
4步进发达
5准直(collimate)透镜
61/4波长板
7物镜
8光盘
9促动器
10光束分割元件
11光检测器
18～44电流-电压变换放大器
910激光点亮电路
920光拾取器装置
930主轴发达
940主轴发达驱动电路
950访问控制电路
960促动器驱动电路
970伺服信号生成电路
980信息信号再现电路
990信息信号记录电路
900控制电路
具体实施方式
下面，参照附图对本发明的实施方式的详细进行说明。另外，在各图中，对于表示相同作用的构成要素标注相同的符号。
(实施例1)
图1是表示本发明的第一实施例的光拾取器装置的一个例子的概略结构图。利用偏光分束器3使从激光光源1射出的激光光束2改变进路方向，通过步进发达4的驱动，经过能够对入射光束的球面像差进行修正的准直透镜5、对相互正交的偏光成分赋予90度的相位差的1/4波长板6，而由物透镜7汇聚在光盘8内的规定的记录层。
来自光盘8的反射光束再次透过物镜7后，经过1/4波长板6、偏光分束器3，利用光束分割元件10将光束分割为多个光束后，向光检测器11入射。另外，优选物镜7安装在用于在规定的方向上进行驱动的促动器(actuator)9内。对该促动器进行驱动从而执行物镜的位置控制。在物镜的位置控制中执行使用了跟踪误差信号的跟踪控制和使用了聚焦误差信号的聚焦控制。作为上述球面像差修正单元也可以使用液晶元件等。
上述结构是在记录或者再现多层光盘时经常使用的光学系统方式。因而，首先对现有的上述光束分割元件和光检测器的具体的结构和问题进行说明。在图2(a)中表示现有例的上述光束分割元件10的概略形状的一个例子。上述光束分割元件是衍射光栅，并且衍射光栅面被分割为多个区域，在每个区域中分别设置有规定的衍射光栅槽的形状。在光束分割元件中设置有多个衍射区域a至衍射区域i。由光盘反射的上述反射光束因设置于光盘的记录层上的轨道槽而受到衍射作用。该盘衍射光中的包含光束的中心的0级盘衍射光入射衍射区域i，并且0级、+1级盘衍射光入射上述衍射区域a和b，0级和-1级盘衍射光入射上述衍射区域c和d。进一步，与上述衍射区域a邻接设置衍射区域e，与上述衍射区域b邻接设置衍射区域f，与上述衍射区域c邻接设置衍射区域g，与上述衍射区域d邻接设置衍射区域h。并且，0级的盘衍射光束的周边部区域的光主要入射衍射区域e至衍射区域h。如果处于对应于上述各入射光束成分与衍射区域的关系的范围内，则各衍射区域的形状的变更和区域间的一体化或者也可以进行进一步的区域分割。在图2(b)中作为一个例子表示光束分割元件的变形例。与各衍射区域与入射的盘衍射光的关系维持上述关系。
从光盘槽的±1级盘衍射光中包含的衍射区域a至衍射区域d的光束中，包含跟踪误差信号生成所需要的推挽(push pull)(下面，记为PP)信号成分。通过PP信号，能够知道光盘槽和聚光点(spot)的相对位置关系。在衍射区域e至衍射区域h的光束中，包含有跟踪误差信号生成中所需要的透镜误差信号成分。透镜误差信号成为与在促动器上搭载的物镜的位置移动量成比例的信号。
由各区域衍射后的+1级光和-1级光，分别汇聚并入射到设置于光检测器11内的多个受光面并被检测信号。图3(a)是表示现有例的光检测器11的受光面模式和信号连结的概略图。此外，在图3(b)中表示：在记录或再现多层光盘之际，作为来自成为记录或者再现的对象的记录层的反射光的信号光束、与不是记录或者再现的对象的层的反射光(下面，记为杂散光)的光检测器面上的光强度分布。
通过衍射区域a、b、c、d、e、f、g、h、i后的光束中的+1级光分别向受光面DET1、4、2、3、8、6、7、5、19入射，从而形成聚光点45、46、47、48、49、50、51、52、61。通过衍射区域e、f、g、h后的光束的-1级光分别入射受光面DET15、17、16、18，形成聚光点57、58、59、60。通过衍射区域a、b、c、d后的光束的-1级光入射聚焦检测用的受光面DET9至DET14的区域。但是，优选在聚焦误差信号检测中使用双刃口(double knife edge)法，因此聚焦控制时光没有直接入射DET9至DET14中，而使光束入射到各受光面之间从而形成聚光点53至聚光点56。跟踪误差信号广泛普遍使用的差动推挽(Differentialpush-pull)法(下面，记为DPP法)和差分相位检测(Differential phasedetection)法(下面记为DPD法)进行信号检测。通过光束分割元件由非对称再现的记录层反射的杂散光也被分割为与信号光束相同多个光束。对于在光检测器面上汇聚的信号光，杂散光由于焦点偏离因此与信号光点不同，没有被汇聚而在一定的区域具有模糊的光强度分布。通过衍射区域a、b、c、d、e、f、g、h、i后的杂散光中的+1级光形成点62、63、64、65、66、67、68、69、78。通过衍射区域e、f、g、h后的杂散光的-1级光形成点74、75、76、77。通过衍射区域a、b、c、d后的杂散光的-1级光形成点70、71、72、73。由此能够采用如下结构：在来自用于生成跟踪误差信号的衍射区域的聚光点中，在受光面上没有入射杂散光，能够抑制因杂散光对信号光的干涉所引起的检测信号的变动。
当使对上述衍射区域e至衍射区域h的+1级光栅衍射光或-1级光栅衍射光进行检测的2个以上的受光面，在与相当于上述光盘的半径方向的方向大致一致的方向上大致以一直线排列，使对上述衍射光栅区域a至衍射区域d的+1级光栅衍射光或-1级光栅衍射光进行检测的2个以上的受光面，在与相当于上述光盘的切线方向的方向大致一致的方向上排列的结构时，能够成为在物镜移位(shift)时也容易避免杂散光的结构。
根据+1级光的检测信号，对用作信息再现信号和跟踪误差信号使用的DPD信号和PP信号进行检测。-1级光用于聚焦误差信号和透镜误差信号的检测。DPP信号通过基于PP信号和透镜误差信号的PP信号-k*透镜误差信号的运算而生成。k表示由放大器得到的放大率。
具体而言，如下那样内部连结，并且经过信号运算而检测各种信号。
将DET4和DET6内部连结并且经过电流-电压变换放大器12输出的信号为A，
将DET2和DET7内部连结并且经过电流-电压变换放大器13输出的信号为B，
将DET3和DET5内部连结并且经过电流-电压变换放大器14输出的信号为C，
将DET1和DET8内部连结并且经过电流-电压变换放大器15输出的信号为D，
将DET15和DET17内部连结并且经过电流-电压变换放大器16输出的信号为L，
将DET16和DET18内部连结并且经过电流-电压变换放大器17输出的信号为M，
从DET19经过电流-电压变换放大器18输出的信号为R，
将DET10和DET13内部连结并且经过电流-电压变换放大器19输出的信号为F1，
将DET9、DET11、DET12和DET14内部连结并且经过电流-电压变换放大器20输出的信号作为F2。
通过根据上述输出信号以下的运算，能够得到信息再现信号和伺服控制信号。
PP信号：(A+D)-(B+C)
透镜误差信号：L-M
DPP信号：PP信号-k*透镜误差信号((A+D)-(B+C))-k*(L-M))
聚焦误差信号：F1-F2
DPD信号：(A和B的相位比较)+(C和D的相位比较)
信息再现信号：A+B+C+D+R
在现有例的光检测器中，不是在每个受光面上设置电流-电压变换放大器并进行信号检测，而是在光检测器的内部对受光面彼此连结，从而其后设置电流-电压变换放大器进行信号检测，由此减少电流-电压变换放大器的数量。这是因为确保信息再现信号检测所需要的S/N。电流-电压变换放大器越是数量减少越能够减少噪音成分。此外，在使用于聚焦检测中使用的双刃口法中在受光面内设置的暗线区域，信号检测的频率特性劣化，因此来自上述受光面的信号可以不用于信号再现信号的检测。因而，+1级光和-1级光的光量分配为4∶1左右，使+1级光中具有权重，再现信号检测仅根据光量强的+1级光侧，且利用通过内部连结降低电流-电压变换放大器的数量的结构进行检测。利用光量弱的-1级光进行聚焦误差的检测。因此上述光束分割元件的衍射区域的分光比为0级光∶+1级光∶-1级光＝0∶4∶1左右，为使+1级光的光量比-1级光的光量大，一般使用经闪耀化(blaze)的衍射光栅。
下面，对现有例的课题进行叙述。在现有例中成为问题的是只能从光量弱的-1级光检测透镜误差信号，需要在受光面中检测后由放大器将信号以电气方式以放大率k＝10左右大幅放大。受光面配置在几何光学上，成为在多层盘上杂散光不向受光面入射的结构，但是，在波动光学上考虑，则难以完全分离杂散光和信号光束，杂散光遍及广范围而具有一定的光量成分。因此，虽然很少，但也存在向受光面入射的杂散光成分。特别是在层间隔小并存在多个成为杂散光产生的原因的记录层的多层光盘中，在光检测器面上的杂散光的光量分布非常复杂，难以与信号光的完全分离。因此，杂散光容易入射受光面，上述杂散光成为干扰成分使检测信号产生变动。由该多层杂散光引起的信号变动在现有例的结构中用上述放大器大幅放大从而进入到DPP信号。实际上，在现有结构的光拾取器中，在多层光盘中容易使由-1级光检测的透镜误差信号产生变动。此外，除由多层杂散光引起的信号变动以外，在损伤、污染等的干扰成分也进入到透镜误差信号的情况下，由上述放大器大幅放大并使记录或再现品质大幅劣化。像这样，在现有例子中透镜误差信号非常敏感于各种干扰成为问题。
透镜移位信号成分，也能够根据衍射区域e至衍射区域h的+1级光侧的光点检测。如果能够这样进行检测，则没有分光比的光量差，能够将上述放大率抑制得很小。此外，也存在如下问题：光量弱的-1级光侧的光容易受到衍射光栅的制造误差的影响，光束分割元件的各区域间的分光比的偏差变大。这是DPP信号的偏移要因，使记录或再现品质下降。因此，从分光比偏差的观点来看，优选仅使用光量强的+1级光的光来生成DPP信号。但是，为了进行DPD信号检测，需要对衍射区域a和e的和信号、衍射区域b和f的和信号、衍射区域c和g的和信号、衍射区域d和h的和信号这4个信号进行检测。因此，不连结PP和DPD信号生成所需要的信号，而全部通过电流-电压变换放大器而独立地检测，并通过运算生成，在此情况下，用于信息再现信号的检测的电流-电压变换放大器成为9个，S/N变大并且劣化。为了避免该劣化，通过内部连结将电流-电压变换放大器减少到5个从而兼顾PP信号和DPD信号和低噪音的信息再现信号的检测。上述结构成为：本来在DPP信号运算时应该从PP信号减去的透镜移位信号的+1级光侧的信号，被加到PP信号。因此，成为不能由+1级光检测透镜误差信号，在现有例中不得不根据光量小的-1级光取得透镜误差信号的结构。
正因此，将分光比的光量差和+1级光的透镜移位信号成分加到PP，结果上述放大率成为k＝10左右这样大的值。
如以上进行的说明，在现有例的结构中，为了检测DPD信号，且为了确保S/N而实现电流-电压变换放大器数量降低，要使得DPP信号生成所需要的透镜误差信号的电放大率成为k＝10左右大的值。因此，在本发明中，通过导入新的DPD信号的检测法，将DPP信号生成所需要的上述放大器的放大率大幅抑制到1～2左右，并且得到与现有技术相同的能够取得各种信号的光拾取器装置。由此能够提供一种光拾取器，抗多层杂散光、衍射光栅的分光比偏差以及损伤等的干扰能力强，成品率良好且能够稳定地得到高品质的记录/再现品质。
首先，对于在本发明中新的DPD信号的检测方法进行说明。现有的DPD法如上所述大致使用信号光束的全区域进行DPD信号检测。在本发明中，着眼于除去了信号光束的PP信号区域后的信号光束的周边部区域。即，仅利用相当于衍射区域e至衍射区域h的光束周边部的区域的光束，来研究是否能够进行DPD信号检测。并且，仅研究的结果得知，即使仅利用周边区域的光束也能够检测良好的品质的DPD信号。这是因为，DPD信号并不是将光量的变化自身作为信号进行检测，而是检测光量变化的定时的不同(相位差)，将其相位差的变化量作为信号，因此即使光量或一部分光束的区域减少，只要能够检测光量变化的定时就能够生成信号。利用上述本发明的新建立的DPD检测法得知，在现有例子中，即使不进行为了使电流-电压变换放大器降低而强制执行的受光面DET1和8以及DET2和7、DET3和5、DET4和6的各内部连结，也能够利用周围区域的光束所入射的DET5、6、7、8的信号进行DPD信号检测。利用本发明的新建立的DPD检测法，通过不需要上述内部连结，而只使用DET5、6、7、8的信号，就能够由光量强的+1级光侧生成透镜误差信号，并且能够进行DPD信号检测。因此能够大大降低上述放大器的放大率。具体而言，放大率能够大幅降低到1.5左右。
下面，对本发明的具体结构进行说明。图4是表示本发明中的上述光束分割元件10的结构的概略图。在上述的现有例子的变形例子的范围内，但衍射区域b、c分别与衍射区域a、d成为一体。衍射区域e、f、g、h优选为与现有例子相同的分光比。衍射区域a、d可以是与现有例相同的分光比，也可以是光量仅集中于+1级光的分光比。衍射区域i可以是与现有例相同的分光比。图5是表示本发明中的受光面结构和连结方法的概略图。
通过衍射区域a、d、e、f、g、h、i后的光束中，+1级光分别向DET1′、2′、3′、5′、4′、6′、15′入射。通过衍射区域e、f、g、h后的光束中，-1级光入射聚焦检测用的受光面DET7′至DET14′的区域。其中，优选在聚焦误差信号检测中使用双刃口法，因此在聚焦控制时信号光束没有直接入射DET7′至DET14′，光束直接入射各受光面之间。
各信号分别由以下的运算求得。
使从DET5′经过电流-电压变换放大器21的输出的信号为A′、
从DET4′经过电流-电压变换放大器22的输出的信号为B′、
从DET6′经过电流-电压变换放大器23的输出的信号为C′、
从DET3′经过电流-电压变换放大器24的输出的信号为D′、
从DET1′经过电流-电压变换放大器25的输出的信号为L′、
从DET2′经过电流-电压变换放大器26的输出的信号为M′、
从DET15′经过电流-电压变换放大器27的输出的信号为R′、
从DET8′和DET14′内部连结经过电流-电压变换放大器28的输出的信号为F1′、
将从DET10′和DET12′内部连结，经过电流-电压变换放大器29的输入的信号为F2′、
将从DET9′和DET11′内部连结，经过电流-电压变换放大器30的输入的信号为F3′、
从DET7′和DET13′经过电流-电压变换放大器31的输入的信号为F4′。
根据上述输出信号由下面的运算能够得到信息再现信号和伺服控制信号。
PP信号：L′-M′
透镜误差信号：(A′+D′)-(B′+C′)
DPP信号：PP信号-k*透镜误差信号(L′-M′-k*{(A′+D′)-(B′+C′)})
聚焦误差信号：(F1′+F3′)-(F2′+F4′)
DPD信号：(A′和B′的相位比较)+(C′和D′的相位比较)
信息再现信号：A′+B′+C′+D′+L′+M′+R′
电流-电压变换放大器变为7个，从原来的5个增加，但如果增加了2个则劣化量不大，通过改善电流-电压变换放大器自身的性能、和优化电流-电压变换放大器的灵敏度设定等而能够得到改善。此外，光检测器面上的点数减少，因此存在如下优点：通过由1个衍射区域和与其相对的受光面得到PP区域，使光检测器的调整变得容易并能够改善成品率。
另外，将上述光束分割元件位于往返路经中的光学分割元件10也可以配置在偏光分束器3与1/4波长板6之间。光检测器和光束分割元件之间的距离拉长，因此存在如下优点：能够增大需要的衍射光栅间距，容易制作出元件。此外，在衍射光栅面上的光束有效径也变大，因此由元件的位置偏移引起的各种信号的劣化程度有所缓和。但是，没有使上述光束元件对去路的光束发挥作用，因此优选采用在光束分割元件的衍射光栅中，作为具有偏光性的偏光衍射光栅仅作用于返路的结构。
优选受光面的配置为与现有例子的基本结构一致的配置，使得成为容易避免杂散光的结构。因此，能够采用如下结构：检测上述衍射区域e至衍射区域h的+1次光栅衍射光或-1次衍射光的2个以上的受光面，以大致直线排列在与相当于上述光盘的半径方向大致一致的方向上，检测上述衍射区域a至衍射区域d的+1次光栅衍射光或-1次衍射光的2个以上的受光面，排列在与相当于上述光盘的切线方向的方向大致一致的方向上。因此，各受光面的配置并不限定于图5所示的配置。来自各衍射区域的光束与射入的受光面的对应关系如果不变，则各受光面的配置位置可以变更。据此，只要采用如下结构即可：通过使光速分割元件的衍射方向、角度一致，在使光束入射对应的受光面。另外，上述聚焦误差信号的检测的受光面组也不进行信息再现信号和其他的控制信号的检测，因此不仅是受光面模式的位置，也可以自由地进行新的受光面的追加和内部连结的变更、输出信号和电流-电压变换放大器的追加等的改变。
通过上述结构，由光量强的+1级光侧检测PP信号和透镜误差信号，并且能够进行DPD信号检测，能够根据与PP信号分光比相等的+1级光侧检测透镜误差信号。由此能够将上述放大器的放大率大幅下降，放大率变为1.5左右。因此，能够提供一种光拾取器装置，其抗由多层杂散光引起的干涉变动和光盘的损伤或污染这样的各种干扰变动的能力强，并且能够抑制由分光比偏差得到的信号劣化，能够得到稳定且高品质的记录/再现品质。
(实施例2)
使用图6对第二实施例进行说明。在本实施例中，通过使用与第一实施例相比制造容易的光束分割元件，抑制上述光束分割元件的量产制造偏差从而使元件单体的性能稳定化，由此能够实现光拾取器装置的成品率的提高和低成本化。
本实施例的光拾取器装置的光学系统结构，也可以为与例如图1所示的光拾取器装置相同的结构。与第一实施例不同之处在于光束分割元件10和光检测器11的结构。因而，在图6中表示作为第二实施例的主要部的光检测器11的结构。
在第一实施例的光学系结构中，衍射区域i的衍射光栅间隔容易变为最小。当衍射光栅的间隔变小时，在制造误差的影响下容易在衍射效率等上产生变化。结果，产生光拾取器的性能偏差，导致成品率的下降。因而，仅在上述衍射区域i中设置+1次和-1级光的光量相等的矩形光栅。与在第一实施例中使用的闪耀光栅相比，矩形光栅非常容易制作，能够大幅抑制性能的偏差。各衍射区域的形状可以与第一实施例相同。
图6表示使衍射区域i为矩形光栅时的光检测器的概略图。与第一实施例不同的是，接受来自衍射区域i的光束的受光面结构和其内部连结。由于使衍射区域i为矩形光栅并且对±1级光均等地分割光量，因此+1级光的光量与第一实施例相比减少。于是，也重新设置DET16′来检测光量增加的衍射区域i的-1级光。此外，可以使DET15′和DET16′内部连结并作为信号R′输入，不会产生电流-电压变换放大器的增加。
其他的各衍射区域与受光面的对应、内部连结以及信号运算方法可以与第一实施例相同。具体而言，通过衍射区域a、d、e、f、g、h、i后的光束中的+1级光分别射入DET1′、2′、3′、5′、4′、6′、15′。通过衍射区域e、f、g、h后的光束中的-1级光射入聚焦检测用的受光面DET7′至DET14′的区域。但是，优选在聚焦误差信号检测中使用双刃口法，因此信号光束没有直接射入DET7′至DET14′中，而直接射入各受光面之间。对于跟踪误差信号，进行广泛通常使用的DPP法和DPD法的信号检测。设置了上述矩形的衍射光栅槽的衍射区域i的+1级光向受光面DET15′射入，-1级光向受光面DET16′射入。
各信号分别由以下的运算求得。
使从DET5′经过电流-电压变换放大器21的输出的信号为A′、
从DET4′经过电流-电压变换放大器22的输出的信号为B′、
从DET6′经过电流-电压变换放大器23的输出的信号为C′、
从DET3′经过电流-电压变换放大器24的输出的信号为D′、
从DET1′经过电流-电压变换放大器25的输出的信号为L′、
从DET2′经过电流-电压变换放大器26的输出的信号为M′、
将DET15′和DET16′内部连结，经过电流-电压变换放大器27的输入的信号为R′、
将DET8′和DET14内部连结经过电流-电压变换放大器28的输出的信号为F1′、
将DET10′和DET12′内部连结，经过电流-电压变换放大器29的输入的信号为F2′、
将DET9′和DET11′内部连结，经过电流-电压变换放大器30的输入的信号为F3′、
将DET7′和DET13′经过电流-电压变换放大器31的输入的信号为F4′。
根据上述输出信号由下面的运算能够得到信息再现信号和伺服控制信号。
PP信号：L′-M′
透镜误差信号：(A′+D′)-(B′+C′)
DPP信号：PP信号-k*透镜误差信号(L′-M′-k*{(A′+D′)-(B′+C′)})
聚焦误差信号：(F1′+F3′)-(F2′+F4′)
DPD信号：(A′和B′的相位比较)+(C′和D′的相位比较)
信息再现信号：A′+B′+C′+D′+L′+M′+R′
即，在本实施例中，通过使用比第一实施例制造容易的光束分割元件，抑制上述光束分割元件的量产制造偏差从而使元件单体的性能稳定化，实现光拾取器装置的成品率提高和低成本化，并且能够将上述放大器的放大率大幅下降到1.5左右。由此，具有如下优点：抗多层杂散光干涉等的干扰强，且比第一实施例量产时的性能偏差少而稳定从而能够得到高品质的记录/再现信号的光拾取器装置。
(实施例3)
接着，参照图7和图8对第三实施例进行说明。在本实施例中，提供一种光拾取器装置，其与第一实施例相比，将使用于信息再现信号检测的电流-电压变换放大器的数量降低，能够检测噪声成分更少的高品质的信息再现信号。
本实施例的光拾取器装置的光学系统结构也可以是例如与如图1所示的光拾取器装置相同的结构。与第一实施例不同之处在于光束分割元件10和光检测器11。因而，分别在图7和图8中表示作为第三实施例的主要部的光束分割元件10和光检测器11的结构。
光束分割元件的结构可以与在第一实施例中说明的现有例的光束分割元件相同。衍射区域a、b、c、d、e、f、g、h、i优选采用与现有例相同的分光比。
由衍射区域a至衍射区域d的+1级光检测PP信号，由衍射区域e至衍射区域h的+1级光检测透镜误差信号，由衍射区域e至衍射区域h的-1级光检测上述DPD信号，由衍射区域a至衍射区域d的-1级光检测聚焦误差信号，由衍射区域a至衍射区域i的+1级光检测信息再现信号。在第二实施例子中成为特征的是，由光量弱的-1级光侧对使用光束周边部的区域的新建立的DPD信号进行检测。如上所述，DPD信号检测信号变化的定时，根据该变化定时的相位差得到跟踪误差信号。因此，具有如下优点：即使信号光量弱，只要能够检测信号变化的定时，就能够得到正确的跟踪误差信号，光量变化与直接为跟踪误差信号的DPP信号相比也抗干扰强。因而，成为如下结构：从光量弱的-1级光检测从光束周边部检测的DPD信号。由此，可以根据+1级光侧得到PP信号和透镜移位信号，因此分别将受光面DET1和4、受光面2和3、受光面5和7、受光面6和8分别内部连结，由此能够将电流-电压变换放大器的数量降低到与现有例相同的5个。透镜误差信号从+1级光检测，因此透镜误差信号的放大率能够降低到与第一实施例相同的k＝1.5左右。
图8是表示本发明中的光检测器11的结构的概略图。通过衍射区域a、b、c、d、e、f、g、h、i后的光束中+1级光分别入射DET1、4、2、3、8、6、7、5、19，通过衍射区域e、f、g、h后的光束中-1级光分别入射DET15、17、16、18。通过衍射区域a、b、c、d后的光束的-1级光入射聚焦检测用的受光面DET9至DET14的区域。但是，优选在聚焦误差信号检测中使用双刃口法，因此光不直接入射DET9至DET14，而使光束入射各受光面之间。
各信号分别由以下的运算求出。
使从DET17经过电流-电压变换放大器32的输出的信号为A′、
从DET16经过电流-电压变换放大器33的输出的信号为B′、
从DET18经过电流-电压变换放大器34的输出的信号为C′、
从DET15经过电流-电压变换放大器35的输出的信号为D′、
将DET1和DET4内部连结从电流-电压变换放大器36的输出信号为L′、
将DET2和DET3内部连结从电流-电压变换放大器37的输出信号为M′、
将DET6和DET8内部连结从电流-电压变换放大器38的输出信号为P′、
将DET5和DET7内部连结从电流-电压变换放大器39的输出信号为Q′、
从DET19经过电流-电压变换放大器40的输出的信号为R′、
将DET10和DET13内部连结经过电流-电压变换放大器41的输出信号为F1′、
将DET9和DET11和DET12和DET14内部连结经过电流-电压变换放大器42的输出信号为F2′。
根据上述输出信号由下面的运算能够得到信息再现信号和伺服控制信号。
PP信号：L′-M′
透镜误差信号：P′-Q′
DPP信号：PP信号-k*透镜误差信号(L′-M′-k*(P′-Q′))
聚焦误差信号：F1′-F2′
DPD信号：(A′和B′的相位比较)+(C′和D′的相位比较)
信息再现信号：L′+M′+P′+Q′+R′
如上所述，从光量弱的-1级光检测在光束周边部检测的DPD信号的结构，因此分别内部连结受光面DET1和4、受光面2和3、受光面5和7、受光面6和8从而能够进行信号输出，能够将电流-电压变换放大器减低到与现有例相同的5个为止。
即，在本实施例中，通过构成为，根据光量弱的-1级光对由光束周边部检测的DPD信号进行检测，而具有如下优点：能够降低电流-电压变换放大器的使用数量，能够取得比第一实施例相比噪音少的高品质的信息再现信号。并且，能够提供一种光拾取器装置，其能够将上述放大器的放大率大幅降低到k＝1.5左右，得到抗多层杂散光干涉等的干扰强的稳定且高品质的记录/再现信号。
(实施例4)
使用图9对第四实施例进行说明。在本实施例中，通过使用比实施例3容易制造的光束分割元件，能够抑制上述光束分割元件的量产制造偏差，从而使元件单体的性能稳定化，实现光拾取器装置的成品率提高和低成本化。
本实施例的光拾取器装置的光学系统结构，也可以是与例如图1所示的光拾取器装置相同的结构。与第一实施例不同之处是光束分割元件10和光检测器11的结构。因而在图9中表示作为第四实施例的主要部的光检测器11的结构。
第一实施例中的光学系统结构，容易使衍射区域i的衍射光栅间距变为最小。当衍射光栅的间距变小时，在制造误差的影响下容易在衍射效率等中产生变化。结果，产生光拾取器的性能偏差，招致成品率的下降。
因而，仅对上述衍射区域i设置使+1级光和-1级光的光量相等的矩形光栅的区域。与在第一实施例中使用的闪耀光栅相比矩形光栅制造非常容易，能够大幅抑制性能的偏差。各衍射区域的形状与第一实施方式相同为好。
图9是表示使衍射区域i为矩形光栅时的光检测器结构的一个例子的概略图。与第三实施例不同的是接受来自衍射区域i的光束的受光面的结构。由于使衍射区域i为矩形光栅并对±1级光均等地分配光量，因此+1级光的光量与第一实施例相比减少。因此，重新设置DET20，检测来自衍射区域i的光束的-1级光。此外，可以使DET19和DET20内部连结并作为信号R′输出，没有电流-电压变换放大器的增加。
其他的各衍射区域与受光面的对应、内部连结以及信号运算方法可以与第一实施例相同。具体而言，通过衍射区域a、b、c、d、e、f、g、h后的光束中的+1级光分别入射DET1、4、2、3、8、6、7、5，通过衍射区域e、f、g、h后的光束中的-1级光分别入射DET15、17、16、18。通过衍射区域a、b、c、d后的光束的-1级光入射聚焦检测用的受光面DET9至DET14的区域。其中，优选在聚焦误差信号检测中使用双刃口法，因此光不直接入射DET9至DET14，而使光束入射各受光面之间。对于跟踪误差信号，进行广泛普遍地使用的DPP法和DPD法的信号检测。设置了上述矩形的衍射光栅槽的衍射区域i的+1级光入射受光面DET19，-1级光入射受光面DET20。
各信号分别由以下的运算求出。
使从DET17经过电流-电压变换放大器32的输出的信号为A′、
从DET16经过电流-电压变换放大器33的输出的信号为B′、
从DET18经过电流-电压变换放大器34的输出的信号为C′、
从DET15经过电流-电压变换放大器35的输出的信号为D′、
将DET1和DET4内部连结从电流-电压变换放大器36的输出信号为L′、
将DET2和DET3内部连结从电流-电压变换放大器37的输出信号为M′、
将DET6和DET8内部连结从电流-电压变换放大器38的输出信号为P′、
将DET5和DET7内部连结从电流-电压变换放大器39的输出信号为Q′、
从DET19和DET20内部连结经过电流-电压变换放大器40的输出的信号为R′、
从DET10和DET13内部连结经过电流-电压变换放大器41的输出的信号为F1′、
将DET9和DET11和DET12和DET14内部连结经过电流-电压变换放大器42的输出信号为F2′。
根据上述输出信号由下面的运算能够得到信息再现信号和伺服控制信号。
PP信号：L′-M′
透镜误差信号：P′-Q′
DPP信号：PP信号-k*透镜误差信号(L′-M′-k*(P′-Q′))
聚焦误差信号：F1′-F2′
DPD信号：(A′和B′的相位比较)+(C′和D′的相位比较)
信息再现信号：L′+M′+P′+Q′+R′
即，在本实施例中，通过使用比第三实施例容易制造的光束分割元件，由此抑制上述光束分割元件的量产制造偏差，从而使元件单体的性能稳定，实现光拾取器装置的成品率提高和低成本化，并且能够将上述放大器的放大率大幅下降到1.5左右。由此，具有如下优点：抗多层杂散光干涉等的干扰强，并且量产时的性能偏差少且稳定从而能够得到高品质的记录/再现信号的光拾取器装置。
(实施例5)
接着，使用图10对第五实施例进行说明。在本实施例中，与第一实施例相比，降低使用于信息再现信号检测的电流-电压变换放大器的数量，得到噪音成分更少的高品质的信息再现信号的光拾取器装置。
本实施例的光拾取器装置的光学系统结构，也可以采用例如与图1所示的第一实施例的光拾取器装置相同的结构。与第一实施例不同点在于光检测器11的结构。因而，在图10中表示作为第五实施例的主要部的光检测器11。DPD信号是以ROM盘为前提的跟踪误差信号的检测方式。DPD信号检测光量变化的相位差，这是因为该光量变化是由设置于ROM盘的记录凹坑(pit)引起的。但是，例如在Blu-rey盘(以下记为BD)中ROM盘也支持DPP方式，因此不必需要DPD信号的检测。因而，在本实施例的光拾取器装置中，目标在于：不进行DPD信号的检测，而ROM盘也进行DPP方式的跟踪误差信号检测，由此进一步增加受光面的内部连结从而降低电流-电压变换放大器的数量，从而降低信息再现信号的噪音成分。光束分割元件可以与第一和第二实施例同样。此外，光检测器的受光面配置也与第一和第二实施例同样。与第一和第二实施例不同的是，从受光面DET3′至DET6′到电流-电压变换放大器43和电流-电压变换放大器44的内部连结的方法。在图10中表示使衍射区域i为矩形的衍射光栅槽时的受光面模式的一个例子。
使将DET3′和DET5′内部连结从电流-电压变换放大器43的输出信号为P′、
将DET4′和DET6′内部连结从电流-电压变换放大器44的输出信号为Q′。由此透镜误差信号由P′-Q′产生，信息再现信号由L′+M′+P′+Q′+R′产生。其他的内部连结方法和信号运算方法可以与第一和第二实施例相同。
通过上述结构，能够将影响信号再现信号的电流-电压变换放大器的数量从7个降低到5个。即，在本实施例子中，存在如下优点：与第一实施例子相比能够得到噪音少的高品质的信息再现信号。
(实施例6)
图11是搭载了第一至第五实施例中的光拾取器装置的光盘装置概略图。8是光盘、910是激光点亮电路、920是光拾取器装置、930是主轴发达、940是主轴发达驱动电路、950是访问控制电路、960是促动器驱动电路、970是伺服信号生成电路、980是信息信号再现电路、990是信息信号记录电路、900是控制电路。控制电路900、伺服信号生成电路970、促动器驱动电路960根据来自光拾取器920的输出，对促动器进行控制。通过将来自本发明的光拾取器装置的输出使用于促动器控制，能够进行稳定且高精度的信息记录和信息再现。
此外，作为使用了本发明的光拾取器装置，并不限定于图1所示这样的光学系统和在实施例中说明的光学系统结构或者受光面结构。
通过使用上述各单元，在记录或者再现多层化后的光盘之际，能够得到良好的再现品质。
以上，根据本发明的光拾取器装置和使用该装置的光盘装置的实施方式进行了说明，本发明并不限定于上述实施方式，能够在不脱离本发明的要旨的范围内进行各种改良和变形。即，上述实施例是为了容易理解地说明本发明而详细地说明的实施例，未必限定于具有说明过的全部的结构。此外，能够将某一实施例的结构置换为另一个实施例的结构，此外，能够在某实施例的结构中加上其他的实施例的结构。此外，对于各实施例的结构的一部分，能够进行其他的结构的追加、删除、替换。

Claims (10)

1.一种光拾取器装置，其特征在于：包括，
激光光源；
使从该激光光源射出的激光光束汇聚在光盘上的物镜；
将由光盘反射的信号光束分割成多个光束的光束分割元件；和
具有用于分别接受被分割成多个的所述信号光束的受光面的光检测器，
利用所述光检测器，对由所述光束分割元件分割的信号光束中除去由轨道槽衍射的盘衍射光中0级和+1级衍射光以及0级和-1级衍射光重叠的推挽信号区域的光束周边部的区域的光进行检测，
使用来自所述光束周边部的光的检测信号，对作为跟踪误差信号的DPD信号进行检测，
所述光束分割元件至少具有7个衍射区域，
在由设置于所述光盘的记录层的轨道槽所衍射的盘衍射光中，
包含光束的中心的0级盘衍射光入射至第一衍射区域；
0级、+1级盘衍射光入射至第二衍射区域；
0级、-1级盘衍射光入射至第三衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第二衍射区域邻接的第四和第五衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第三衍射区域邻接的第六和第七衍射区域，
第四和第六衍射区域相互邻接，
第五和第七衍射区域也相互邻接，
第二和第三衍射区域是所述推挽信号区域，第四至第七衍射区域是所述光束周边部的区域。
2.一种光拾取器装置，其特征在于：包括，
激光光源；
使从该激光光源射出的激光光束汇聚在光盘上的物镜；
将由光盘反射的信号光束分割成多个光束的光束分割元件；和
具有用于分别接受被分割成多个的所述信号光束的受光面的光检测器，
利用所述光检测器，对由所述光束分割元件分割的信号光束中除去由轨道槽衍射的盘衍射光中0级和+1级衍射光以及0级和-1级衍射光重叠的推挽信号区域的光束周边部的区域的光进行检测，
使用来自所述光束周边部的光的检测信号，对作为跟踪误差信号的DPD信号进行检测，
所述光束分割元件为衍射光栅，且衍射光栅面被分割为多个区域，在每个区域分别设置有规定的衍射光栅槽的形状，
所述光束分割元件的衍射光栅，以使+1级衍射光的光量与-1级衍射光的光量比不同的方式而被闪耀化，
所述光束分割元件至少具有7个衍射区域，
在由设置于所述光盘的记录层的轨道槽所衍射的盘衍射光中，
包含光束的中心的0级盘衍射光入射至第一衍射区域；
0级、+1级盘衍射光入射至第二衍射区域；
0级、-1级盘衍射光入射至第三衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第二衍射区域邻接的第四和第五衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第三衍射区域邻接的第六和第七衍射区域，
第四和第六衍射区域相互邻接，
第五和第七衍射区域也相互邻接，
在由所述光束分割元件分割的光束中，
根据所述第二和第三衍射区域的光量强的符号的1级光检测PP信号，
根据所述第四至第七衍射区域的光量强的符号的1级光检测与物镜移动量成比例的透镜误差信号和所述DPD信号，
根据所述第四至第七衍射区域的光量弱的符号的1级光检测聚焦误差信号，
根据所述第一至第七衍射区域的光量强的符号的1级光检测信息再现信号。
3.一种光拾取器装置，其特征在于：包括，
激光光源；
使从该激光光源射出的激光光束汇聚在光盘上的物镜；
将由光盘反射的信号光束分割成多个光束的光束分割元件；和
具有用于分别接受被分割成多个的所述信号光束的受光面的光检测器，
利用所述光检测器，对由所述光束分割元件分割的信号光束中除去由轨道槽衍射的盘衍射光中0级和+1级衍射光以及0级和-1级衍射光重叠的推挽信号区域的光束周边部的区域的光进行检测，
使用来自所述光束周边部的光的检测信号，对作为跟踪误差信号的DPD信号进行检测，
所述光束分割元件为衍射光栅，且衍射光栅面被分割为多个区域，在每个区域分别设置有规定的衍射光栅槽的形状，
所述光束分割元件的衍射光栅，以使+1级衍射光的光量与-1级衍射光的光量比不同的方式而被闪耀化，
所述光束分割元件至少具有7个衍射区域，
在由设置于所述光盘的记录层的轨道槽所衍射的盘衍射光中，
包含光束的中心的0级盘衍射光入射至第一衍射区域；
0级、+1级盘衍射光入射至第二衍射区域；
0级、-1级盘衍射光入射至第三衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第二衍射区域邻接的第四和第五衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第三衍射区域邻接的第六和第七衍射区域，
第四和第六衍射区域相互邻接，
第五和第七衍射区域也相互邻接，
在由所述光束分割元件分割的光束中，
根据所述第二和第三衍射区域的光量强的符号的1级光检测PP信号，
根据所述第四至第七衍射区域的光量强的符号的1级光检测透镜误差信号，
根据所述第四至第七衍射区域的光量弱的符号的1级光检测所述DPD信号，
根据所述第二至第三衍射区域的光量弱的符号的1级光检测聚焦误差信号，
根据所述第一至第七衍射区域的光量强的符号的1级光检测信息再现信号。
4.一种光拾取器装置，其特征在于：包括，
激光光源；
使从该激光光源射出的激光光束汇聚在光盘上的物镜；
将由光盘反射的信号光束分割成多个光束的光束分割元件；和
具有用于分别接受被分割成多个的所述信号光束的受光面的光检测器，
利用所述光检测器，对由所述光束分割元件分割的信号光束中除去由轨道槽衍射的盘衍射光中0级和+1级衍射光以及0级和-1级衍射光重叠的推挽信号区域的光束周边部的区域的光进行检测，
使用来自所述光束周边部的光的检测信号，对作为跟踪误差信号的DPD信号进行检测，
所述光束分割元件是衍射光栅，且衍射光栅面被分割为多个区域，在每个区域分别设置有规定的衍射光栅槽的形状，
所述光束分割元件的衍射光栅混合存在有，以使+1级衍射光的光量与-1级衍射光的光量比不同的方式而被闪耀化的衍射光栅区域，和
+1级衍射光的光量与-1级衍射光的光量相等的矩形衍射光栅区域，
所述光束分割元件至少具有7个衍射区域，
在由设置于所述光盘的记录层的轨道槽所衍射的盘衍射光中，
包含光束的中心的0级盘衍射光入射至第一衍射区域；
0级、+1级盘衍射光入射至第二衍射区域；
0级、-1级盘衍射光入射至第三衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第二衍射区域邻接的第四和第五衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第三衍射区域邻接的第六和第七衍射区域，
第四和第六衍射区域相互邻接，
第五和第七衍射区域也相互邻接，
所述第二至第七衍射区域是以使+1级衍射光的光量与-1级衍射光的光量比不同的方式而被闪耀化的衍射光栅区域，
所述第一衍射区域是+1级衍射光的光量与-1级衍射光的光量相等的矩形衍射光栅区域，
在由所述光束分割元件分割的光束中，
根据所述第二和第三衍射区域的光量强的符号的1级光检测PP信号，
根据所述第四至第七衍射区域的光量强的符号的1级光检测透镜误差和所述DPD信号，
根据所述第四至第七衍射区域的光量弱的符号的1级光检测聚焦误差信号，
根据所述第二至第七衍射区域的光量强的符号的1级光和所述第一衍射区域的±1级光检测信息再现信号。
5.一种光拾取器装置，其特征在于：包括，
激光光源；
使从该激光光源射出的激光光束汇聚在光盘上的物镜；
将由光盘反射的信号光束分割成多个光束的光束分割元件；和
具有用于分别接受被分割成多个的所述信号光束的受光面的光检测器，
利用所述光检测器，对由所述光束分割元件分割的信号光束中除去由轨道槽衍射的盘衍射光中0级和+1级衍射光以及0级和-1级衍射光重叠的推挽信号区域的光束周边部的区域的光进行检测，
使用来自所述光束周边部的光的检测信号，对作为跟踪误差信号的DPD信号进行检测，
所述光束分割元件是衍射光栅，且衍射光栅面被分割为多个区域，在每个区域分别设置有规定的衍射光栅槽的形状，
所述光束分割元件的衍射光栅混合存在有，以使+1级衍射光的光量与-1级衍射光的光量比不同的方式而被闪耀化的衍射光栅区域，和
+1级衍射光的光量与-1级衍射光的光量相等的矩形衍射光栅区域，
所述光束分割元件至少具有7个衍射区域，
在由设置于所述光盘的记录层的轨道槽所衍射的盘衍射光中，
包含光束的中心的0级盘衍射光入射至第一衍射区域；
0级、+1级盘衍射光入射至第二衍射区域；
0级、-1级盘衍射光入射至第三衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第二衍射区域邻接的第四和第五衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第三衍射区域邻接的第六和第七衍射区域，
第四和第六衍射区域相互邻接，
第五和第七衍射区域也相互邻接，
所述第二至第七衍射区域是以使+1级衍射光的光量与-1级衍射光的光量比不同的方式而被闪耀化的衍射光栅区域，
所述第一衍射区域是+1级衍射光的光量与-1级衍射光的光量相等的矩形衍射光栅区域，
在由所述光束分割元件分割的光束中，
根据所述第二和第三衍射区域的光量强的符号的1级光检测PP信号，
根据所述第四至第七衍射区域的光量强的符号的1级光检测透镜误差信号，
根据所述第四至第七衍射区域的光量弱的符号的1级光检测所述DPD信号，
根据所述第二和第三衍射区域的光量弱的符号的1级光检测聚焦误差信号，
根据所述第一至第七衍射区域的光量强的符号的1级光和所述第一衍射区域的±1级光检测信息再现信号。
6.一种光拾取器装置，其特征在于：包括，
激光光源；
使从该激光光源射出的激光光束汇聚在光盘上的物镜；
将由光盘反射的信号光束分割成多个光束的光束分割元件；和
具有用于分别接受被分割成多个的所述信号光束的受光面的光检测器，
利用所述光检测器，对由所述光束分割元件分割的信号光束中除去由轨道槽衍射的盘衍射光中0级和+1级衍射光以及0级和-1级衍射光重叠的推挽信号区域的光束周边部的区域的光进行检测，
使用来自所述光束周边部的光的检测信号，对作为跟踪误差信号的DPD信号进行检测，
所述光束分割元件至少具有7个衍射区域，
在由设置于所述光盘的记录层的轨道槽所衍射的盘衍射光中，
包含光束的中心的0级盘衍射光入射至第一衍射区域；
0级、+1级盘衍射光入射至第二衍射区域；
0级、-1级盘衍射光入射至第三衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第二衍射区域邻接的第四和第五衍射区域；
0级盘衍射光的光束周边部区域的光入射至与所述第三衍射区域邻接的第六和第七衍射区域，
第四和第六衍射区域相互邻接，
第五和第七衍射区域也相互邻接，
对所述第四至第七衍射光栅区域的+1级衍射光或-1级光栅衍射光进行检测的2个以上受光面，以大致一直线排列在与相当于所述光盘的半径方向的方向大致一致的方向上，
对所述第二和第三衍射光栅区域的+1级衍射光或-1级光栅衍射光进行检测的2个以上受光面，排列在与相当于所述光盘的切线方向的方向大致一致的方向上，
来自所述第一至第七衍射区域的各光束，在焦点对准所述光盘的目标记录层时，来自所述目标记录层的反射光束分别在所述光检测器的受光面上形成焦点，在来自第二至第七衍射区域的各光束中，使来自所述目标信息记录层以外的记录再现层的反射光束不照射于所述光检测器的所述受光面。
7.如权利要求1～6中任一项所述的光拾取器装置，其特征在于：
使在作为跟踪误差信号生成DPP信号时所需要的透镜误差信号的信号放大率为1至2的范围内。
8.如权利要求1～6中任一项所述的光拾取器装置，其特征在于：
具有，对记录在以规定间隔设置于所述光盘内的多个记录层中的各信息信号进行再现的功能；和
对各记录层记录各信息信号的功能。
9.一种光盘装置，其特征在于：搭载有，
权利要求1～8中任一项所述的光拾取器装置；
对该光拾取器装置内的所述激光光源进行驱动的激光点亮电路；
使用由所述光拾取器装置内的所述光检测器检测到的信号，生成聚焦误差信号和跟踪误差信号的伺服信号生成电路；和
对记录在光盘中的记录信号再现进行再现的信息信号再现电路。
10.如权利要求9所述的光盘装置，其特征在于：
具有，对记录在以规定间隔设置于所述光盘内的多个记录层中的各信息信号进行再现的功能；和
对各记录层记录各信息信号的功能。
CN201010167259.7A 2009-09-02 2010-04-21 光拾取器装置及使用其的光盘装置 Expired - Fee Related CN102005217B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009-202188 2009-09-02
JP2009202188A JP5378120B2 (ja) 2009-09-02 2009-09-02 光ピックアップ装置及びそれを用いた光ディスク装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102005217A CN102005217A (zh) 2011-04-06
CN102005217B true CN102005217B (zh) 2014-08-13

Family

ID=43624740

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201010167259.7A Expired - Fee Related CN102005217B (zh) 2009-09-02 2010-04-21 光拾取器装置及使用其的光盘装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8184509B2 (zh)
JP (1) JP5378120B2 (zh)
CN (1) CN102005217B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013097831A (ja) * 2011-10-31 2013-05-20 Sony Corp 光ディスク装置
WO2016208104A1 (ja) * 2015-06-26 2016-12-29 ソニー株式会社 光ディスク装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003045058A (ja) * 2001-07-31 2003-02-14 Canon Inc 光ディスク傾き検出装置
CN1609967A (zh) * 2003-10-16 2005-04-27 松下电器产业株式会社 倾斜检测装置和光盘装置
CN101252006A (zh) * 2007-02-19 2008-08-27 日立视听媒介电子股份有限公司 光头及光学信息记录再现装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003162832A (ja) 2001-09-14 2003-06-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップヘッド装置、情報記録再生装置、及び情報記録方法
JP2004281026A (ja) 2002-08-23 2004-10-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップヘッド装置及び光情報装置及び光情報再生方法
JP4059190B2 (ja) * 2003-11-17 2008-03-12 日本電気株式会社 光ヘッド装置
JPWO2006054383A1 (ja) * 2004-11-16 2008-05-29 松下電器産業株式会社 光ピックアップ装置
JP2006209924A (ja) * 2005-01-31 2006-08-10 Toshiba Corp 光ピックアップ装置および情報記録再生装置
JP4859095B2 (ja) 2005-03-02 2012-01-18 株式会社リコー 抽出光学系、光ピックアップ装置及び光ディスク装置
JP4433315B2 (ja) * 2006-01-12 2010-03-17 ソニー株式会社 光ピックアップ及び光情報装置
CN101140772B (zh) * 2006-09-07 2012-10-10 松下电器产业株式会社 光学头和光盘装置
JP4357518B2 (ja) * 2006-10-18 2009-11-04 株式会社日立メディアエレクトロニクス 光学ヘッド及びそれを備える光ディスク装置
US7567495B2 (en) * 2006-10-18 2009-07-28 Hitachi Media Electronics Co., Ltd. Optical pickup apparatus and optical disc apparatus using same
JP4945464B2 (ja) * 2008-01-21 2012-06-06 株式会社日立メディアエレクトロニクス 回折格子、光ピックアップ装置及び光ディスク装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003045058A (ja) * 2001-07-31 2003-02-14 Canon Inc 光ディスク傾き検出装置
CN1609967A (zh) * 2003-10-16 2005-04-27 松下电器产业株式会社 倾斜检测装置和光盘装置
CN101252006A (zh) * 2007-02-19 2008-08-27 日立视听媒介电子股份有限公司 光头及光学信息记录再现装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011054235A (ja) 2011-03-17
US20110051574A1 (en) 2011-03-03
JP5378120B2 (ja) 2013-12-25
CN102005217A (zh) 2011-04-06
US8184509B2 (en) 2012-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101494064B (zh) 光拾取器装置及光盘装置
CN100395827C (zh) 衍射元件和具有该衍射元件的光学拾取设备
CN102394069B (zh) 光拾取装置及光盘装置
US20060268669A1 (en) Optical pickup unit and information recording/reproducing apparatus
JP3566701B2 (ja) 光ディスク記録再生装置
JP2007179676A (ja) 光ヘッド装置及び光ディスク装置
CN102005217B (zh) 光拾取器装置及使用其的光盘装置
JP2013080547A (ja) 光ピックアップおよび光記録再生装置
US20100142355A1 (en) Optical head device and optical information recording or reproducing device
CN100505053C (zh) 衍射光栅和光拾取器装置
CN100378831C (zh) 多层记录介质和用于记录和/或再现该介质的光学拾取器
KR100557542B1 (ko) 트래킹 에러 오프셋 보상용 광검출 영역이 형성된 광픽업장치
US20060193219A1 (en) Diffraction grating, optical pickup device, and optical disk apparatus
CN101504844B (zh) 光学拾取头装置、再生装置、及循轨误差信号生成方法
CN102646429A (zh) 光拾取装置和光盘装置
CN100423100C (zh) 受光元件、光学头和光记录再现装置以及光记录再现方法
CN102024469B (zh) 光拾取器装置和使用其的光盘装置
EP1139339A2 (en) Apparatus for generating seek direction detecting signal for optical pickup
CN100568356C (zh) 拾光器单元以及具有该单元的拾光器装置和信息记录再现装置
CN102136279B (zh) 光拾取装置和使用该光拾取装置的光盘装置
US20060262708A1 (en) Optical head unit and optical disc apparatus
JP2005293637A (ja) 光ディスク記録再生装置及びその信号検出方法
CN101140771A (zh) 光学拾取器设备
CN101751950B (zh) 光拾取器装置和使用其的光盘装置
US20070097833A1 (en) Optical head unit and optical disc apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C53 Correction of patent of invention or patent application
CB02 Change of applicant information

Address after: Kanagawa

Applicant after: HITACHI MEDIA ELECTRONICS Co.,Ltd.

Address before: Iwate County

Applicant before: HITACHI MEDIA ELECTRONICS Co.,Ltd.

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20140813