CN100378831C - 多层记录介质和用于记录和/或再现该介质的光学拾取器 - Google Patents

多层记录介质和用于记录和/或再现该介质的光学拾取器 Download PDF

Info

Publication number
CN100378831C
CN100378831C CNB2005101237142A CN200510123714A CN100378831C CN 100378831 C CN100378831 C CN 100378831C CN B2005101237142 A CNB2005101237142 A CN B2005101237142A CN 200510123714 A CN200510123714 A CN 200510123714A CN 100378831 C CN100378831 C CN 100378831C
Authority
CN
China
Prior art keywords
optical pickup
photoelectric detector
pickup apparatus
recording layer
recording medium
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CNB2005101237142A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1848258A (zh
Inventor
洪涛
金泰敬
郑钟三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of CN1848258A publication Critical patent/CN1848258A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100378831C publication Critical patent/CN100378831C/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
    • G11B7/0903—Multi-beam tracking systems
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P1/00—Auxiliary devices
    • H01P1/18—Phase-shifters
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/13—Optical detectors therefor
    • G11B7/131—Arrangement of detectors in a multiple array
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q3/00—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system
    • H01Q3/26—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the relative phase or relative amplitude of energisation between two or more active radiating elements; varying the distribution of energy across a radiating aperture
    • H01Q3/30—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the relative phase or relative amplitude of energisation between two or more active radiating elements; varying the distribution of energy across a radiating aperture varying the relative phase between the radiating elements of an array
    • H01Q3/32—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the relative phase or relative amplitude of energisation between two or more active radiating elements; varying the distribution of energy across a radiating aperture varying the relative phase between the radiating elements of an array by mechanical means
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B2007/0003—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier
    • G11B2007/0009—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier for carriers having data stored in three dimensions, e.g. volume storage
    • G11B2007/0013—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier for carriers having data stored in three dimensions, e.g. volume storage for carriers having multiple discrete layers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

本发明提供了一种相对于具有多个记录层的多层记录介质记录和/或再现数据的光学拾取器，该光学拾取器包括：光源，发射具有预定波长的光束；衍射单元，将从所述光源发射的光束分为主光束和副光束；和光电检测器，具有检测从多层记录介质反射的主光束的主光电检测器和检测副光束的副光电检测器。在该光学拾取器中，主光电检测器和副光电检测器彼此间隔开预定的距离，从而由从散焦记录层反射的光束形成的光束点不被副光电检测器检测到。

Description

多层记录介质和用于记录和/或再现该介质的光学拾取器
技术领域
本发明的一方面涉及一种光学拾取器，更具体地讲，涉及一种能够在相对于具有多个记录层的多层记录介质记录和/或再现预定的数据期间，防止由相邻层引起的寻轨误差信号的恶化的光学拾取器。
背景技术
最近，已进行了许多研究以增加光盘的信息存储容量。具有提供多个层的多层结构的记录介质已被建议为一种增加光盘的信息存储容量的方法。例如，两个记录层以约55μm的距离间隔开的DVD格式已被采用为一种标准。作为下一代记录介质之一的蓝光盘具有双层结构，每层具有约25GB的存储容量，并且该蓝光盘使用蓝紫色激光二极管和具有0.85NA(数值孔径)的物镜。具有两个或更多记录层的多层记录介质的存储容量可随记录层的数量成比例地增加。
作为用于光盘的几种寻轨方法之一，差分推挽(DPP)方法已是公知的。由于DPP方法可去除由于物镜的移动而造成的推挽信号的偏移，因此在光盘系统中广泛采用DPP方法。在DPP方法中，使用光栅将光束分离为三个光束：第0级光束(主光束)和第±1级光束(副光束)。然后，主光束和两个副光束被发射到光盘上，光电检测器检测与发射的光束相应的反射信号。检测的信号经过预定的计算处理，作为寻轨误差信号(TES)被输出。
图1是示意性地示出在根据传统的技术再现具有多层结构的光盘期间的光路的示图。将参照图1描述多层记录介质中的相邻记录层的反射光束对TES的影响。在图1中，L0和L1表示多层记录介质的记录层。
参照图1，从光源(未示出)发射的光束通过衍射光栅(未示出)，并被分为主光束M1以及两个副光束S1和S2。然后，分离的光束通过准直透镜4和物镜1，并被发射到记录层L1上。
图2是图1的部分A的放大图，并示出主光束M1以及两个副光束S1和S2被发射到记录层L1。参照图2，主光束M1被发射到形成于记录层L1上的轨道中心TC，副光束S1和S2被发射到相应的轨道与相邻的轨道之间。主光束M1以及两个副光束S1和S2从记录层L1反射，并被光电检测器5接收。另外，主光束M1的部分光束M2没有从正被再现的记录层L1反射，而是从记录层L0反射，并被光电检测器5接收。
图3是图1的部分B的放大图，并示出由光电检测器5检测到的由主光束M1以及两个副光束S1和S2形成的光束点。图4是示意性地示出在记录层L1的再现期间由光电检测器5检测到的光的分布的示图。参照图3，光电检测器5包括：主光电检测器(MPD)，接收主光束M1的主光点10；和副光电检测器SPD 1和SPD 2，分别接收副光束S1和S2的副光点11和12。主光电检测器MPD沿水平方向和垂直方向被分为四个区域。副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个被分为两个区域。假设光电检测器的各个区域的输出信号为A、B、C、D、E、F、G和H，则通过计算这些信号来产生TES。在DPP方法中检测的TESDPP通过等式TESDPP＝[(A+B)-(C+D)]-k[(E-F)+(G-H)]来计算.
参照图4，从记录层L0反射并被光电检测器5接收到的主光束M1的部分光束M2的光束点20大于从实际被再现的记录层L1反射的主光点10。因此，从记录层L0反射的光束点20可覆盖副光点11和12。鉴于主光束与副光束之间的光量的比通常被设置为10∶1，因此当由主光束M1的部分光束M2形成的光束点20与副光点11和12的至少一部分重叠时，光束点20可影响使用副光点11和12的推挽信号。由从记录层L0反射的部分光束M2形成的光束点20影响副光点11和12之间的对称，从而在推挽信号中可能产生DC偏移。
如上所述，在多层记录介质中，当从与将被再现的记录层不同的记录层反射的光束的一部分被副光电检测器检测到时，该部分光束可极大地影响副光束的推挽信号。
再参照图1，为了防止由从相邻层反射的光束引起的寻轨信号的恶化，已建议包括：光学构件2，用于衍射从相邻层反射的光的一部分；和1/4波片，用于改变入射光的偏振。根据上述布置，由于使用光学构件2来衍射从相邻层反射的光，因此由相邻层引起的寻轨伺服串扰可被减小。当像双层记录介质中一样，记录层之间的距离相对较大时，上述布置可在没有太多的RF信号损失的情况下减弱由相邻层引起的反射信号的影响。
然而，由于当记录层的数量增加时，记录层之间的距离减小，因此为了减小由相邻层引起的反射信号的影响，需要增加光学构件2的尺寸。光学构件2的增加的尺寸相应地增加了由光学构件2衍射的光的量，从而由主光电检测器接收的光束的损失可能增大并且抖动特性可能恶化。
如上所述，在多层记录介质中，当由除了正被记录或再现的记录层之外的相邻层反射的光束被光电检测器接收到时，特别是当具有相对较大的光量的主光束的一部分从相邻层反射并影响副光电检测器时，难以确定由副光束产生的推挽信号，并且在该推挽信号中可能产生偏移。其结果是，通过寻轨伺服误差信号进行的寻轨变得不稳定，并且记录和/或再现特性可能恶化。
发明内容
为了解决上述和/或其他问题，本发明的一方面提供一种光学拾取器，该光学拾取器通过减小由多层记录介质中相邻层引起的寻轨伺服串扰来防止寻轨信号的恶化。
根据本发明的另一方面，提供一种设置主光电检测器和副光电检测器之间的距离，从而防止在差分推挽方法的寻轨伺服控制中由从相邻层反射的信号引起的寻轨伺服串扰的方法。
根据本发明的另一方面，提供一种当包括在上述的光学拾取器中的主光电检测器和副光电检测器之间距离被设置为预定的距离时，设置多层记录介质的记录层之间的距离以减小使用该光学拾取器的寻轨伺服串扰的方法。
根据本发明的一方面，提供一种相对于多层记录介质记录和/或再现数据的光学拾取器，该光学拾取器包括：光源，发射具有预定波长的光束；衍射单元，将从所述光源发射的光束分为主光束和副光束；和光电检测器，具有检测从多层记录介质反射的主光束的主光电检测器和检测副光束的副光电检测器，其中，主光电检测器和副光电检测器彼此间隔开预定的距离，从而由从散焦记录层反射的光束形成的光束点不被副光电检测器检测到。
根据本发明的另一方面，主光电检测器与副光电检测器之间的距离Ds满足下面的不等式：
D s ≥ A 2 + QR ,
其中，“R”是由从散焦记录层反射的光束形成的光束点的半径，“A”是副光电检测器的宽度，“Q”是表示副推挽信号的DC偏移的允许范围的系数。根据本发明的另一方面，所述半径R满足下面的等式：
R = 2 × d sp n sp × M × NA ,
其中，“dsp”是散焦记录层与经受记录和/或再现的记录层之间的隔层的厚度，“nsp”是该隔层的折射率，“M”是光学拾取器的放大率，“NA”是在光学拾取器中使用的物镜的数值孔径。
根据本发明的另一方面，当DC偏移的允许范围不大于5％时，系数Q在0.85-0.90之间。
根据本发明的另一方面，主光电检测器是四区光电检测器，而副光电检测器是二区光电检测器。
根据本发明的另一方面，所述光学拾取器还包括：计算部分，其计算由主光电检测器和副光电检测器检测到的信号，并输出差分推挽信号。
根据本发明的另一方面，提供一种设置光学拾取器的方法，该光学拾取器包括：发射具有预定波长的光束的光源、将从所述光源发射的光束分为主光束和副光束的衍射单元、和具有检测从多层记录介质反射的主光束的主光电检测器和检测副光束的副光电检测器的光电检测器，所述方法包括以下步骤：设置主光电检测器和副光电检测器之间的距离Ds使其满足下面的不等式，以防止由主光束形成的光束点被副光电检测器检测到，
D s ≥ A 2 + QR ,
其中，“R”是由从散焦记录层反射的光束形成的光束点的半径，“A”是副光电检测器的宽度，“Q”是表示副推挽信号的DC偏移的允许范围的系数。
根据本发明的另一方面，所述半径R满足下面的等式：
R = 2 × d sp n sp × M × NA ,
其中，“dsp”是散焦记录层与经受记录和/或再现的记录层之间的隔层的厚度，“nsp”是该隔层的折射率，“M”是光学拾取器的放大率，“NA”是在光学拾取器中使用的物镜的数值孔径。
根据本发明的另一方面，当DC偏移的允许范围不大于5％时，系数Q在0.85-0.90之间。
根据本发明的另一方面，提供一种多层记录介质和光学拾取器，其中，当主光电检测器和副光电检测器之间的距离为Ds时，所述多层记录介质的记录层之间的隔层的厚度dsp满足下面的不等式：
d sp ≤ ( D s - A 2 ) × n sp 2 Q × M × NA ,
其中，“A”是副光电检测器的宽度，“Q”是表示副推挽信号的DC偏移的允许范围的系数，“nsp”是多层记录介质的记录层之间的隔层的折射率，“M”是光学拾取器的放大率，“NA”是在光学拾取器中使用的物镜的数值孔径。
根据本发明的另一方面，当DC偏移的允许范围不大于5％时，系数Q在0.85-0.90之间。
根据本发明的另一方面，光学拾取器使用差分推挽方法来执行寻轨伺服控制。
本发明的另外的方面和/或优点将在下面的描述中部分地被阐述，并且部分地从该描述变得明显或者可通过本发明的实施而了解。
附图说明
从下面结合附图对实施例的描述，本发明的这些和/或其他方面和优点将变得更加清楚，附图中：
图1是示意性地示出在根据传统的技术再现具有多层结构的光盘期间的光路的示图；
图2是图1中的部分A的放大图；
图3是图1中的部分B的放大图；
图4是示意性地示出在图1的记录层L1的再现期间由光电检测器检测到的光的分布的示图；
图5是示意性地示出根据本发明的实施例的光学拾取器的配置的示图；
图6是示出在图5的光学拾取器中使用的光电检测器的配置的示图；
图7是示出在图5的光学拾取器中使用的计算部分的示图；
图8至图10是显示当多层记录介质中的隔层的厚度分别为10μm、12μm、和14μm时，与主光电检测器MPD和副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个之间的距离的变化相应的副推挽信号的DC偏移的曲线图；
图11是显示在多层记录介质的再现期间检测到的副推挽信号的波形随着图5的光学拾取器的主光电检测器与副光电检测器之间的距离Ds的变化而变化的曲线图；
图12是显示散焦光束的DC值随着根据本发明实施例的多层记录介质的隔层的厚度的变化而变化的曲线图；和
图13是显示散焦光点的半径R随着根据本发明实施例的多层记录介质的隔层的厚度的变化而变化的曲线图。
具体实施方式
现在，将详细说明本发明的实施例，其例子示于附图中，在附图中相同的标号始终表示相同的部件。下面，参照附图来描述这些实施例，以解释本发明。
在本发明的描述中使用的术语定义如下。
“散焦记录层”表示在多层记录介质中除了正被记录和/或再现的记录层之外的多个记录层中的一个，发射到多层记录介质上的光束从该散焦记录层反射。
“散焦光束”表示从所述散焦记录层反射并被光电检测器检测到的光束。
“散焦光点”表示由所述散焦光束在光电检测器上形成的光束点。
图5是示意性地示出根据本发明实施例的光学拾取器100的配置的示图。参照图5，光学拾取器100包括：光源101、衍射光栅102、分束器103、准直透镜104、物镜105、凹透镜107、光电检测器108、计算部分110和驱动单元115。
光源101包括发射预定的波长范围内的光束的激光二极管。例如，光源101可被配置以发射满足高级光盘(AOD)和蓝光盘(BD)标准的蓝光波长范围的光束，即具有405nm波长的光束。光学拾取器100使用差分推挽(DPP)方法来进行寻轨伺服控制。为了DPP方法，衍射光栅102将从光源101发射的光束分为一个主光束和两个副光束。
被分离的光束的传播方向被分束器103改变为向着多层记录介质D传播。准直透镜104将发散形式的光束转换为将入射到物镜105上的平行光束。
物镜105将光束聚焦到多层记录介质的将被记录和/或再现的记录层上。物镜105具有满足BD标准的约0.85的高NA。图5显示在多层记录介质中的记录层之中的记录层L0被记录和/或再现的情况。
从多层记录介质D反射的主光束和副光束通过凹透镜107被聚焦到光电检测器108上。计算部分110使用由光电检测器108检测到的信号来执行预定的计算，产生并输出寻轨误差信号(TES)。驱动单元115使多层记录介质D旋转，芯轴电机可用于该驱动单元。
当光源101发射蓝色波长范围内的405nm波长的光，并且物镜105具有0.85的NA时，根据本发明实施例的光学拾取器100适合于记录和/或再现满足BD标准的多层记录介质。另外，当根据本发明实施例的光学拾取器100与具有多个记录层并满足DVD标准的多层记录介质一起使用时，光源101发射红色波长范围内的650nm波长的光，并且物镜105具有适合于DVD的0.65的NA。通过根据使用中的记录介质的标准来调整光源105的波长和物镜105的NA，根据本发明实施例的光学拾取器100可与满足不同标准的其他多层记录介质一起使用。
图6是示出图5的光学拾取器100中使用的光电检测器108的配置的示图。图7是示出图5中的光学拾取器100中使用的计算部分的配置的示图。参照图6，根据本发明实施例的光电检测器108包括：主光电检测器MPD，检测主光束的主光点10；以及第一副光电检测器SPD 1和第二副光电检测器SPD 2，检测两个副光束的副光点11和12。
主光电检测器MPD在多层记录介质的半径方向R和切线方向T上被分为两个区，以利于聚焦误差信号和/或TES的检测。即，主光电检测器MPD具有至少四区的结构。图6示出具有四区结构的主光电检测器MPD的示例，该主光电检测器MPD在R方向上被分为两个区，在T方向上被分为两个区。
第一副光电检测器SPD 1和第二副光电检测器SPD 2的每个在R方向上被分为两个区，以利于在DPP方法中的TES的检测。假设主光电检测器MPD的各个光接收区域为A、B、C和D，第一副光电检测器SPD 1的各个光接收区域为E和F，第二副光电检测器SPD 2的各个光接收区域为G和H，则如下面所描述的，计算部分110计算从光接收区域A至H检测到的信号，并输出副推挽信号SPP和差分推挽信号DPP。
参照图7，从第一副光电检测器SPD 1的光接收区域E和F检测到的信号之间的差值，即E-F，作为第一副推挽信号SPP 1被输出。同样，从第二副光电检测器SPD 2的光接收区域G和H检测到的信号之间的差值，即G-H，作为第二副推挽信号SPP 2被输出。第一和第二副推挽信号被相加，并作为副推挽信号SPP被输出。
从主光电检测器MPD的光接收区域A、B、C和D检测到的信号经过计算“(A+B)-(C+D)”之后，作为主推挽信号MPP被输出。另外，通过将从光接收区域A至D检测到的信号相加，即A+B+C+D，来产生RF信号。
通过从主推挽信号MPP中减去与预定的增益k相乘的副推挽信号SPP来获得差分推挽信号DPP。即，DPP方法中的TES如下所示：
TESDPP＝[(A+B)-(C+D)]-k[(E-F)+(G-H)]。
根据传统的技术，由于主光电检测器MPD与副光电检测器SPD 1和SPD2没有充分地间隔开，因此从散焦记录层，即与经受记录和/或再现的记录层相邻的记录层，反射的光束可被第一副光电检测器SPD 1和第二副光电检测器SPD 2检测到。例如，当相对于图5的记录层L0记录和/或再现预定的数据时，从与记录层L0相邻的记录层L1反射的光束可被光电检测器检测到。
然而，在DPP方法中，由于副光点的光的量比主光点10的光的量相对较小，因此副推挽信号对从相邻层反射的光束非常敏感。因此，当为寻轨而发射的光束的焦点偏离或者由于记录层之间的厚度的微小变化而引起主光束从散焦记录层被反射并被副光电检测器SPD 1和SPD 2检测到时，推挽信号受到很大影响。即，当由于散焦光点20没有位于主光电检测器MPD的中心而导致由副光电检测器SPD 1和SPD 2检测到的散焦光点20产生了光的量的差异时，在副推挽信号SPP，即(E-F)+(G-H)中产生预定的偏移，从而使用该TES的寻轨伺服控制变得不稳定。
因此，为了使由副光电检测器SPD 1和SPD 2检测到的副推挽信号稳定，主光电检测器MPD以及副光电检测器SPD 1和SPD 2需要彼此间隔开预定的距离，以使具有相对较大的直径的散焦光点20不被副光电检测器SPD 1和SPD 2检测到，或者即使散焦光点20的一部分被副光电检测器检测到，散焦光点20的光的量也不影响推挽信号。
光电检测器108有这样的特性：主光电检测器MPD与副光电检测器SPD1和SPD 2彼此间隔开预定的距离，以防止散焦光点20被副光电检测器SPD1和SPD 2检测到，该散焦光点20是由从与经受记录和/或再现的记录层相邻的散焦记录层反射的光束形成的。
再参照图6，假设散焦光点20的半径为R，副光电检测器SPD 1和SPD2的宽度为A，则为了防止散焦光点20影响副光电检测器SPD 1和SPD 2，主光电检测器MPD与副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个之间的距离Ds必须满足下面的不等式1。
D s ≥ A 2 + QR [不等式1]
这里，“Q”是考虑到由散焦光点20引起的DC偏移的容许的范围的检测容限系数，该系数表示在副光电检测器SPD 1和SPD 2中允许检测到多少散焦光点20的光量。当在副推挽信号SPP中允许小于大约5％的DC偏移时，检测容限系数Q具有0.85-0.90之间的值。
不等式1中的散焦光点20的半径R与下面的等式2中的R相同。
R = 2 × d sp n sp × M × NA [等式2]
这里，“dsp”是散焦记录层与经受记录和/或再现的记录层之间的隔层的厚度，“nsp”是该隔层的折射率，“M”是光学拾取器的放大率，“NA”是用于光学拾取器的物镜的数值孔径。
图8至图10是显示当多层记录介质中的隔层的厚度分别为10μm、12μm、和14μm时，与主光电检测器MPD和副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个之间的距离的变化相应的副推挽信号的DC偏移的曲线图。参照图8至图10，当主光电检测器MPD与副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个之间的距离增加时，副推挽信号的DC偏移减小。因此，在根据本发明实施例的光学拾取器中，当需要预定量的DC偏移时，鉴于副推挽信号的DC偏移随着主光电检测器MPD与副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个之间的距离而变化，来合适地设置主光电检测器MPD与副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个之间的距离。例如，如图8所示，当隔层的厚度为10μm并且需要大约5％以下的DC偏移时，主光电检测器MPD与副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个之间的距离被设置为至少244μm。
图11是显示在多层记录介质的再现期间检测到的副推挽信号的波形随着图5的光学拾取器的主光电检测器与副光电检测器之一之间的距离Ds的变化而变化的曲线图。这里，x轴表示时间，而y轴表示副推挽信号的大小。多层记录介质的记录层之间的间隔被设置为10μm。参照图11，主光电检测器MPD与副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个之间的距离Ds从172μm逐渐增加到272μm，从而副推挽信号的平均值，即DC偏移逐渐地减小。然而，考虑到光学头的大小，主光电检测器MPD与副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个之间的距离Ds需要在合适的范围内增加。
图12是显示散焦光束的DC值随着根据本发明实施例的多层记录介质的隔层的厚度的变化而变化的曲线图。参照图12，当隔层的厚度从10μm增加到14μm时，由副光电检测器SPD 1和SPD 2检测到的散焦光束的DC值逐渐地减小。通常，由于隔层的厚度较小，在10μm-14μm之间，因此当多层记录介质中所提供的记录层的数量增加时，必须考虑在相对于多层记录介质记录和/或再现数据的光学拾取器中引起副推挽信号的DC偏移的散焦光束的DC值。
图13是显示散焦光点的半径R随着根据本发明实施例的多层记录介质的隔层的厚度的变化而变化的曲线图。参照图13，当隔层的厚度增加时，散焦光点的半径与隔层的厚度成比例地逐渐增加。
如上所述，由于由副光电检测器SPD 1和SPD 2检测的散焦光束的DC值和大小随着多层记录介质的隔层的厚度的变化而变化，因此当确定主光电检测器MPD与副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个之间的距离Ds时，必须考虑散焦光束的DC值和大小。
当确定主光电检测器MPD与副光电检测器SPD 1和SPD 2的每个之间的距离Ds时，多层记录介质的隔层的厚度dsp可被设置以防止由相邻层引起的寻轨误差信号的串扰。即，当使用不等式1和等式2计算多层记录介质的隔层的厚度dsp时，获得下面的不等式3。
d sp ≤ ( D s - A 2 ) × n sp 2 Q × M × NA [不等式3]
如上所述，鉴于允许的副推挽信号的DC偏移的范围来确定检测容限系数Q。例如，当允许约5％的DC偏移时，检测容限系数Q具有0.85-0.90之间的范围。
可使用根据本发明的实施例的光学拾取器来防止当在多层记录介质中检测径向倾斜信号时由从相邻层反射的光束引起的串扰。
尽管已参照其实施例显示和描述了本发明，但是本领域的技术人员应该理解，在不脱离权利要求所限定的本发明的精神和范围的情况下，可在其中进行各种形式和细节上的改变。
如上所述，根据本发明的实施例，在相对于多层记录介质记录和/或再现数据期间，防止了由从相邻层反射的光束引起的串扰而导致的寻轨误差信号的恶化，从而可进行更稳定的寻轨伺服控制。另外，由于可在没有RF信号的损失的情况下检测稳定的寻轨误差信号，因此改善了抖动特性。
尽管已显示和描述了本发明的几个实施例，但是本领域的技术人员应该理解，在不脱离权利要求及其等同物所限定的本发明的原则和范围的情况下，可对所述实施例进行改变。

Claims (18)

1.一种相对于具有多个记录层的多层记录介质记录和/或再现数据的光学拾取器，该光学拾取器包括：
光源，发射具有预定波长的光束；
衍射单元，将从所述光源发射的光束分为主光束和副光束；和
光电检测器，具有检测从多层记录介质反射的主光束的主光电检测器和检测副光束的副光电检测器，
其中，主光电检测器和副光电检测器彼此间隔开预定的距离Ds，从而由从多层记录介质的散焦记录层反射的光束形成的光束点不被副光电检测器检测到，
其中，主光电检测器与副光电检测器之间的所述预定的距离Ds满足下面的不等式：
D s ≥ A 2 + QR ,
其中，“R”是由从散焦记录层反射的光束形成的光束点的半径，“A”是副光电检测器的宽度，“Q”是表示副推挽信号的DC偏移的允许范围的系数，当DC偏移的允许范围不大于5％时，系数Q在0.85-0.90之间。
2.如权利要求1所述的光学拾取器，其中，所述半径R满足下面的等式：
R = 2 × d sp n sp × M × NA ,
其中，“dsp”是散焦记录层与经受记录和/或再现的记录层之间的隔层的厚度，“nsp”是该隔层的折射率，“M”是光学拾取器的放大率，“NA”是在该光学拾取器中使用的物镜的数值孔径。
3.如权利要求1所述的光学拾取器，其中，主光电检测器是四区光电检测器。
4.如权利要求1所述的光学拾取器，其中，副光电检测器是二区光电检测器。
5.如权利要求1所述的光学拾取器，还包括：计算部分，其计算由主光电检测器和副光电检测器检测到的信号，并输出差分推挽信号。
6.一种设置光学拾取器的方法，该光学拾取器包括：光源，发射具有预定波长的光束；衍射单元，将从所述光源发射的光束分为主光束和副光束；和光电检测器，具有检测从多层记录介质反射的主光束的主光电检测器和检测副光束的副光电检测器，所述方法包括以下步骤：
设置主光电检测器和副光电检测器之间的距离Ds使其满足下面的不等式，以防止由主光束形成的光束点被副光电检测器检测到：
D s ≥ A 2 + QR ,
其中，“R”是由从散焦记录层反射的光束形成的光束点的半径，“A”是副光电检测器的宽度，“Q”是表示副推挽信号的DC偏移的允许范围的系数，当DC偏移的允许范围不大于5％时，系数Q在0.85-0.90之间。
7.如权利要求6所述的方法，其中，所述半径R满足下面的等式：
R = 2 × d sp n sp × M × NA ,
其中，“dsp”是散焦记录层与经受记录和/或再现的记录层之间的隔层的厚度，“nsp”是该隔层的折射率，“M”是光学拾取器的放大率，“NA”是在光学拾取器中使用的物镜的数值孔径。
8.一种具有多个记录层的多层记录介质，使用光学拾取器来相对于所述多个记录层记录和/或再现，所述光学拾取器包括具有主光电检测器和副光电检测器的光电检测器，其中，当主光电检测器和副光电检测器之间的距离为Ds时，所述多个记录层之间的隔层的厚度dsp满足下面的不等式：
d sp ≤ ( D s - A 2 ) × n sp 2 Q × M × NA ,
其中，“A”是副光电检测器的宽度，“Q”是表示副推挽信号的DC偏移的允许范围的系数，“nsp”是所述多个记录层之间的隔层的折射率，“M”是光学拾取器的放大率，“NA”是用于光学拾取器的物镜的数值孔径。
9.如权利要求8所述的多层记录介质，其中，当DC偏移的允许范围不大于5％时，系数Q在0.85-0.90之间。
10.如权利要求8所述的多层记录介质，其中，光学拾取器使用差分推挽方法来执行寻轨伺服控制。
11.如权利要求9所述的多层记录介质，其中，基于副推挽信号的DC偏移的范围来确定表示该DC偏移的允许范围的所述系数。
12.如权利要求1所述的光学拾取器，其中，所述光源被配置以发射蓝色波长范围中的光束。
13.如权利要求1所述的光学拾取器，其中，所述光学拾取器使用差分推挽方法来进行寻轨伺服控制。
14.如权利要求2所述的光学拾取器，其中，物镜的数值孔径约为0.85。
15.如权利要求6所述的方法，包括以下步骤：从多层记录介质检测径向倾斜信号，防止由从散焦层反射的光束产生的串扰。
16.一种用于相对于具有多个记录层的多层记录介质记录和/或再现数据的光学拾取器，该光学拾取器包括：
光源，发射具有预定波长的光束；
衍射单元，将从所述光源发射的光束分为主光束和副光束；和
光电检测器，具有检测从多层记录介质反射的主光束的主光电检测器和检测至少一个副光束的至少一个副光电检测器，
其中，主光电检测器和所述至少一个副光电检测器彼此间隔开预定的距离Ds，以防止散焦光点被所述至少一个副光电检测器检测到，所述散焦光点由从与经受记录和/或再现的记录层相邻的散焦记录层反射的光束形成，
其中，主光电检测器与所述至少一个副光电检测器之间的所述预定的距离Ds满足下面的不等式：
D s ≥ A 2 + QR ,
其中，“R”是由从散焦记录层反射的光束形成的光束点的半径，“A”是所述至少一个副光电检测器的宽度，“Q”是指示副推挽信号的DC偏移的允许范围的系数，当DC偏移的允许范围不大于5％时，系数Q在0.85-0.90之间。
17.如权利要求16所述的光学拾取器，其中，所述光束点的半径R满足下面的等式：
R = 2 × d sp n sp × M × NA ,
其中，“dsp”是散焦记录层与经受记录和/或再现的记录层之间的隔层的厚度，“nsp”是该隔层的折射率，“M”是光学拾取器的放大率，“NA”是在光学拾取器中使用的物镜的数值孔径。
18.如权利要求16所述的光学拾取器，其中，当主光电检测器与所述至少一个副光电检测器之间的距离增加时，副推挽信号的DC偏移减小。
CNB2005101237142A 2005-04-11 2005-11-18 多层记录介质和用于记录和/或再现该介质的光学拾取器 Expired - Fee Related CN100378831C (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050029956A KR100694102B1 (ko) 2005-04-11 2005-04-11 다층 기록 매체 및 그 기록 및/또는 재생을 위한 광픽업장치
KR1020050029956 2005-04-11

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1848258A CN1848258A (zh) 2006-10-18
CN100378831C true CN100378831C (zh) 2008-04-02

Family

ID=36686069

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB2005101237142A Expired - Fee Related CN100378831C (zh) 2005-04-11 2005-11-18 多层记录介质和用于记录和/或再现该介质的光学拾取器

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7298675B2 (zh)
EP (1) EP1713066A3 (zh)
JP (1) JP2006294215A (zh)
KR (1) KR100694102B1 (zh)
CN (1) CN100378831C (zh)
TW (1) TWI329314B (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101785054A (zh) 2007-05-04 2010-07-21 Lg电子株式会社 光学拾取、记录/再现装置以及记录/再现方法
JP2008305461A (ja) * 2007-06-06 2008-12-18 Hitachi Ltd 光ディスク装置及び補正方法
JP4784663B2 (ja) 2009-02-24 2011-10-05 ソニー株式会社 光ピックアップ及び光ディスク装置
JP2011181118A (ja) * 2010-02-26 2011-09-15 Hitachi Media Electoronics Co Ltd 光ピックアップ装置および光ディスク装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1142276A (zh) * 1994-12-28 1997-02-05 索尼公司 光拾波装置
US6687201B2 (en) * 2000-05-29 2004-02-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus for generating seek direction detection signal
US20040202093A1 (en) * 2000-11-17 2004-10-14 Samsung Electric Co., Ltd. Error signal detection apparatus for an optical recording/reproducing system

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3166322B2 (ja) * 1992-06-15 2001-05-14 ソニー株式会社 再生方法、再生装置
JP3435067B2 (ja) * 1998-08-06 2003-08-11 シャープ株式会社 光ピックアップ装置
JP2001307352A (ja) * 2000-04-20 2001-11-02 Sony Corp 光学ピックアップ装置のトラッキングサーボ方法
JP2002025098A (ja) * 2000-07-07 2002-01-25 Pioneer Electronic Corp ピックアップ装置
JP3786367B2 (ja) * 2003-06-25 2006-06-14 船井電機株式会社 光ピックアップ装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1142276A (zh) * 1994-12-28 1997-02-05 索尼公司 光拾波装置
US6687201B2 (en) * 2000-05-29 2004-02-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus for generating seek direction detection signal
US20040202093A1 (en) * 2000-11-17 2004-10-14 Samsung Electric Co., Ltd. Error signal detection apparatus for an optical recording/reproducing system

Also Published As

Publication number Publication date
US7298675B2 (en) 2007-11-20
KR100694102B1 (ko) 2007-03-12
CN1848258A (zh) 2006-10-18
TWI329314B (en) 2010-08-21
EP1713066A3 (en) 2007-11-28
JP2006294215A (ja) 2006-10-26
EP1713066A2 (en) 2006-10-18
KR20060107995A (ko) 2006-10-17
TW200636705A (en) 2006-10-16
US20060227678A1 (en) 2006-10-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100411034C (zh) 多层光学信息记录介质
US6738324B2 (en) Recording and/or reproduction apparatus
JP2002358668A (ja) 光ピックアップ装置及び光スポットの最適集束方法
CN100382172C (zh) 光盘设备,光学拾取器的控制方法和光盘的判别方法
US20080109837A1 (en) Optical recording medium, information recording or reproducing method, and information recording or reproducing apparatus
CN100378831C (zh) 多层记录介质和用于记录和/或再现该介质的光学拾取器
US8018801B2 (en) Optical information reproduction device
CN101652814B (zh) 全息光学装置、包括该全息光学装置的可兼容光学拾取器以及包括该可兼容光学拾取器的光学信息存储介质系统
EP1892705A2 (en) Optical pick-up
EP1755116A2 (en) Optical pickup apparatus capable of detecting and compensating for spherical aberration caused by thickness variation of recording layer
EP1047052A2 (en) Compatible optical pickup for DVD-RAM reproduction
CN101504844B (zh) 光学拾取头装置、再生装置、及循轨误差信号生成方法
US7406023B2 (en) Optical reproduction method, optical pickup device, optical reproduction device, and optical recording medium
US20100067336A1 (en) Device and method for reproducing information and computer program
CN101246712A (zh) 光学拾取器和具有该光学拾取器的盘装置
EP1139339A2 (en) Apparatus for generating seek direction detecting signal for optical pickup
JP2006018877A (ja) 光ディスク装置
US20080316891A1 (en) Optical Scanning Device
JP5062240B2 (ja) 光学ドライブ装置
CA2729263A1 (en) Optical recording medium and method for producing optical recording medium
KR100370205B1 (ko) 호환형 광픽업장치
JP2006018873A (ja) 光ディスク装置
EP1959441A1 (en) Optical pick-up with stray-light filtering element
KR100903143B1 (ko) 대물렌즈와 이를 갖는 광 픽업장치
KR20010047945A (ko) 호환형 광픽업장치

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20080402

Termination date: 20141118

EXPY Termination of patent right or utility model