CN101504844B - 光学拾取头装置、再生装置、及循轨误差信号生成方法 - Google Patents

Abstract

本发明可提供光学拾取头装置、再生装置、记录装置及循轨误差信号生成方法。4个受光元件(204～207)是用于接受光盘(2)的多层记录层中在进行记录或再生的记录层以外的记录层上反射的主光束及副光束的杂散光的受光元件。4个受光元件(204～207)配置于4头受光元件(201)附近的四处，其中受光元件(204)及受光元件(206)分别配置于双头受光元件(202)及双头受光元件(203)之间。可根据由4个受光元件(204～207)检测出的杂散光强度来计算强度分布，对循轨误差信号进行修正。

Description

光学拾取头装置、再生装置、及循轨误差信号生成方法

技术领域

本发明涉及适合于由多层记录层组成的光记录介质的光学拾取头装置、再生装置、记录装置及循轨误差信号生成方法。

背景技术

光盘记录再生装置使来自激光光源的光束的聚光点追踪预先以螺旋状形成于光盘等光记录介质上的光道，例如导向沟槽或由位串组成的信道，以进行信息的记录或再生。作为用于进行使聚光点追踪信道的追踪控制的方法，通常采用检测推挽误差信号的方法(以下称为「推挽检测法」)。

推挽检测法采用在光盘的光道切线方向及法线方向上分别一分为两的具有4个受光区域的4头受光元件来检测因导向沟槽的形状而受到衍射的反射光，通过检测出0次衍射光(以下称为「主光束」)和±1次衍射光(以下称为「副光束」)间的干涉强度分布，从而生成循轨误差信号。

例如现有的第1种技术即光学拾取头的循轨误差检测方式采用3个双头检测器。即3个双头检测器由一个对主光束在光盘上被反射的反射光束进行检测(以下称为「返回光」)的双头检测器、及两个检测副光束的返回光的双头检测器构成。对将主光束的双头检测器的两个输出之差经差动放大器进行放大后的差动输出利用将两个副光束各自的双头检测器的两个输出之差经各自的差动放大器进行放大后的差动输出来进行修正，以作为推挽误差信号即循轨误差信号被检测出(例如参照特开昭61-94246号公报)。

现有的第1种技术中使用的检测推挽误差信号的方法为差动推挽检测法，通过对由两个副光束检测出的各推挽信号之和乘上某个系数后再将其从由主光束检测出的差动输出(以下称为「推挽信号」)中减去，从而检测出差动推挽误差信号。差动推挽检测法能减轻由于推挽误差信号中的光量变动、透镜的偏置及光盘的倾斜带来的影响。

图7为表示采用现有的第2种技术的光检测器90的结构图。现有的第2种技术中，由检测主光束的返回光的4头受光元件901、及检测副光束的返回光的两个双头受光元件902、903等3个受光元件构成。4头受光元件901由4个区域A～D组成，双头受光元件902由两个区域E、F组成，而双头受光元件903由两个区域G、H组成。

在图7示出的例子中，通过对由两个副光束检测出的各推挽信号「(区域E的输出-区域F的输出)」及「(区域G的输出-区域H的输出)」之和即「(区域E的输出-区域F的输出)」+「(区域G的输出-区域H的输出)」乘上某个系数后再将其从由主光束检测出的推挽信号「(区域A的输出+区域B的输出)」-「(区域C的输出+区域D的输出)」中减去，从而检测出差动推挽误差信号。

采用主光束及副光束的光盘记录再生装置通常设定成主光束和副光束的强度比为10∶1左右。在主光束和副光束的强度比设定成10∶1左右的情况下，在对双层光盘等设有多层记录层的光盘进行记录或再生时，会产生以下的问题。例如，在双层光盘上，对作为存取对象的记录层即进行记录或再生的记录层照射聚光点，并使用其返回光进行信号再生时，受光元件会检测到来自非存取对象的其它记录层的反射光(以下称为「杂散光」)。

因此存在如下问题，在生成差动推挽误差信号时，在根据盘面反射率、及记录或再生时的照射功率来变换差动推挽误差信号的AGC(自动增益控制)电路中，副光束的受光元件会检测到主光束的杂散光，差动推挽误差信号会成为不准确的信号。当差动推挽误差信号为不准确的信号时，便不能进行恰当的循轨控制，从而伺服性能降低。

采用现有的第3种技术的光盘装置除了用于检测来自一个信息记录层的反射光的第1光检测部外，还在受光元件上安装用于检测来自其它信息记录层的杂散光的由1层以上的受光面组成的第2光检测部。根据由第2光检测部检测出的杂散光的强度，判别层叠于光盘上的信息记录层的层数，根据所判别的信息记录层的层数在聚焦伺服控制前相应地执行对光学拾取头的控制(例如参照特开2006-31773号公报)。

采用现有的第4种技术的的光盘装置除了设置用于获得0次衍射光的推挽信号的第1受光元件部、及用于获得±1次衍射光的推挽信号的第2受光元件部外，还设置有检测层间杂散光分量即杂散光分量的受光元件部以作为第3受光元件部。第1受光元件部为4头检测元件，第2受光元件部为两个双头检测元件，其结构与图7所示的结构相同。第3受光元件部为配置于两个双头检测元件各自附近的两侧的两组两个检测元件。生成从第2受光元件部的和信号中减去在第3受光元件部的检测信号即杂散光分量的信号乘上某个系数的信号后的信号，利用所生成的信号，除去第2受光元件部的推挽信号中所含的杂散光分量，通过这样来减轻差动推挽误差信号运算不准确的现象(例如，参照特开2005-346882号公报)。

但是，现有的第3种技术虽然利用第2光检测部检测杂散光，但所检测出的杂散光并不修正对主光束的返回光及副光束的返回光带来的影响。

现有的第4种技术假设层间杂散光的强度一样，来生成差动推挽误差信号即循轨误差信号。即，假设在第3受光元件部和第2受光元件部上存在具有同一强度的杂散光。但是实际上，层间杂散光在全部区域并非是同一强度，杂散光的强度因位置而异，故不能准确地除去副光束的返回光中所含的杂散光分量，所以存在差动推挽误差信号即循轨误差信号的计算不准确的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供在对由多层记录层组成的光盘进行记录或再生时，能减轻因二维扩散的杂散光分量而造成循轨误差信号的计算不准确的现象，而使循轨控制稳定的光学拾取头装置、再生装置、记录装置及循轨误差信号生成方法。

本发明为一种光学拾取头装置，其特点为，包括：光源，该光源射出光；受光部，该受光部接受光，并将接受到的光中包含的光信号变换成电信号；及光学系统，该光学系统使光源射出的光衍射以生成由0次衍射光组成的主光束、以及由+1次衍射光及-1次衍射光组成的副光束，对由多层记录层组成的光记录介质的所述多层记录层中的任一记录层照射生成的主光束及副光束，并将在该光记录介质上反射的反射光引至所述受光部，所述受光部包括：第1受光元件，该第1受光元件由形成于光记录介质的光道的切线方向的直线及法线方向的直线分割成4个区域，用于接受主光束的反射光；第2受光元件及第3受光元件，该第2受光元件及第3受光元件分别配置于第1受光元件的所述法线方向的两侧，由所述切线方向的直线分割成两个区域，且用于接受副光束的反射光；第4受光元件，该第4受光元件配置于第1受光元件和第2受光元件之间，用于接受所述多层记录层中在和被照射所述主光束及副光束的记录层不同的其它记录层上反射的杂散光；第5受光元件，该第5受光元件配置于第1受光元件和第3受光元件之间，用于接受所述杂散光；及第6受光元件及第7受光元件，该第6受光元件及第7受光元件分别配置于第1受光元件的所述切线方向的两侧，用于接受所述杂散光。

另外，在本发明中，理想的为所述第4受光元件及所述第5受光元件配置于所述第1受光元件和所述第4受光元件间的距离与所述第1受光元件和所述第5受光元件间的距离为不同的距离的位置。

另外，在本发明中，理想的为所述第6受光元件及所述第7受光元件配置于所述第1受光元件和所述第6受光元件间的距离与所述第1受光元件和所述第7受光元件间的距离为不同的距离的位置。

另外，在本发明中，理想的为所述第4受光元件～所述第7受光元件其接受光的受光面的面积相同。

另外，本发明为一种对记录于由多层记录层组成的光记录介质上的信息进行再生的再生装置，其特点为，包括：所述光学拾取头装置；信号生成部，该信号生成部根据由所述光学拾取头装置的受光部所变换成的电信号来生成用于使照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致的聚焦误差信号、用于使照射到光记录介质上的光的焦点与光道的位置一致的循轨误差信号、及表示从光记录介质读取到的信息的信息信号；再生处理部，该再生处理部将由所述信号生成部生成的信息信号变换成数字信息；及移动部，该移动部根据由所述信号生成部生成的聚焦误差信号及循轨误差信号来移动所述光学拾取头装置的位置，使得所述光学拾取头装置照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致，且使得该光的焦点位置与光道的位置一致，所述信号生成部根据由所述受光部的第1～第7受光元件所变换成的电信号，并利用差动推挽检测法来生成所述循轨误差信号。

另外，本发明中，理想的为所述信号生成部根据由所述第1受光元件的4个区域的各个区域受光而变换成的4个电信号来生成与主光束的反射光有关的第1推挽信号；根据所述第2受光元件及所述第3受光元件各自的两个区域受光而变换成的各自的两个电信号来生成副光束的反射光的第2推挽信号及第3推挽信号；根据由所述第4受光元件～第7受光元件受光而变换成的4个电信号来生成分别修正第2推挽信号及第3推挽信号的修正信号；用所生成的各个修正信号分别修正第2推挽信号及第3推挽信号，并根据修正后的第2推挽信号及第3推挽信号来生成所述循轨误差信号。

另外，在本发明中，理想的为所述信号生成部根据由所述第4受光元件～第7受光元件受光而变换成的4个电信号来计算所述杂散光的强度分布，并根据计算出的强度分布来分别生成所述第2受光元件及第3受光元件的位置处的修正信号。

另外，本发明为一种将信息记录于由多层记录层组成的光记录介质的记录装置，其特点为，包括：所述光学拾取头装置；信号生成部，该信号生成部根据由所述光学拾取头装置的受光部所变换成的电信号来生成用于使照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致的聚焦误差信号、用于使照射到光记录介质上的光的焦点与光道的位置一致的循轨误差信号、及表示从光记录介质读取到的信息的信息信号；再生处理部，该再生处理部将由所述信号生成部生成的信息信号变换成数字信息；及移动部，该移动部根据所述信号生成部生成的聚焦误差信号及循轨误差信号来移动所述光学拾取头装置的位置，使得所述光学拾取头装置照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致，且使得该光的焦点位置与光道的位置一致，所述信号生成部根据由所述受光部的第1～第7受光元件所变换成的电信号，并利用差动推挽检测法来生成所述循轨误差信号。

另外，本发明中，理想的为所述信号生成部根据由所述第1受光元件的4个区域的各个区域受光而变换成的4个电信号来生成与主光束的反射光有关的第1推挽信号；根据所述第2受光元件及所述第3受光元件各自的两个区域受光而变换成的各两个电信号来生成副光束的反射光的第2推挽信号及第3推挽信号；根据由所述第4受光元件～第7受光元件受光而变换成的4个电信号来生成分别修正第2推挽信号及第3推挽信号的修正信号；用所生成的各个修正信号分别修正第2推挽信号及第3推挽信号，并根据修正后的第2推挽信号及第3推挽信号来生成所述循轨误差信号。

另外，在本发明中，理想的为所述信号生成部根据由所述第4受光元件～第7受光元件受光而变换成的4个电信号来计算所述杂散光的强度分布，并根据计算出的强度分布来分别生成所述第2受光元件及第3受光元件的位置处的修正信号。

另外，本发明是一种生成在所述再生装置或所述记录装置中使用的循轨误差信号的循轨误差信号生成方法，其特点为，包括：第1推挽信号生成步骤，该第1推挽信号生成步骤根据由所述第1受光元件4个区域的各个区域受光而变换成的电信号来生成与主光束的反射光有关的第1推挽信号；第2及第3推挽信号生成步骤，该第2及第3推挽信号生成步骤根据由所述第2受光元件及所述第3受光元件两个区域的各个区域受光而变换成的各自的两个电信号来生成副光束的反射光的第2推挽信号及第3推挽信号；修正信号生成步骤，该修正信号生成步骤根据由所述第4受光元件～第7受光元件受光而变换成的4个电信号来生成分别修正第2推挽信号及第3推挽信号的修正信号；修正步骤，该修正步骤用所述修正信号生成步骤中生成的各个修正信号来分别修正在第2及第3推挽信号生成步骤中生成的第2推挽信号及第3推挽信号；及生成步骤，该生成步骤根据在所述修正步骤中修正后的第2推挽信号及第3推挽信号，并利用差动推挽检测法来生成所述循轨误差信号。

根据本发明，由光源射出光，由受光部接受光，并将所接受到的光中包含的光信号变换成电信号，再由光学系统使光源射出的光衍射来生成由0次衍射光组成的主光束，以及由+1次衍射光及-1次衍射光组成的副光束，所生成的主光束及副光束被照射到由多层记录层组成的光记录介质的所述多层记录层中的任一记录层，在该光记录介质上反射的反射光被引至所述受光部。

所述受光部具有第1受光元件～第7受光元件，用由形成于光记录介质的光道的切线方向的直线和法线方向的直线分割成4个区域的第1受光元件，来接受主光束的反射光，用分别配置于第1受光元件的所述法线方向两侧、并由所述切线方向的直线分割成两个区域的第2受光元件及第3受光元件，来接受副光束的反射光。

而且，用配置于第1受光元件和第2受光元件之间的第4受光元件，接受在所述多层记录层中和被照射所述主光束及副光束的记录层不同的其它记录层上反射的杂散光，用配置于第1受光元件和第3受光元件之间的第5受光元件接受所述杂散光，用分别配置于第1受光元件的所述切线方向两侧的第6受光元件及第7受光元件接受所述杂散光。

因此，若使用本发明的光学拾取头装置，能输出用第4～第7受光元件接受杂散光后变换成的电信号，根据这些电信号，能从由第2受光元件及第3受光元件受光而变换成的电信号中除去杂散光分量。即，能根据与除去杂散光分量后的副光束有关的推挽信号来生成循轨误差信号。换言之，在对由多层记录层组成的光盘进行记录或再生时，能减轻因二维扩散的杂散光分量而造成循轨误差信号计算不准确的现象，使循轨控制稳定。

根据本发明，在对记录于由多层记录层组成的光记录介质中的信息进行再生时，利用信号生成部根据由所述光学拾取头装置的受光部变换成的电信号，生成用于使照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致的聚焦误差信号、用于使照射到光记录介质上的光的焦点与光道的位置一致的循轨误差信号、及表示从光记录介质读取到的信息的信息信号，利用再生处理部将由所述信号生成部生成的信息信号变换成数字信息。

然后，利用移动部根据由所述信号生成部生成的聚焦误差信号及循轨误差信号，移动所述光学拾取头装置的位置，使得所述光学拾取头装置照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致，且使得该光的焦点位置与光道的位置一致，利用所述信号生成部根据由所述受光部的第1～第7受光元件变换成的电信号，用差动推挽检测法生成所述循轨误差信号。

因而，若使用本发明的再生装置，能输出由第4～第7受光元件接受杂散光后变换成的电信号，根据这些电信号，能从由第2受光元件及第3受光元件受光而变换成的电信号中除去杂散光分量。即，能根据与除去杂散光分量后的副光束有关的推挽信号来生成循轨误差信号。换言之，在对由多层记录层组成的光盘进行再生时，能减轻因二维扩散的杂散光分量而造成循轨误差信号计算不准确的现象，使循轨控制稳定。

根据本发明，在将信息记录于由多层记录层组成的光记录介质时，利用信号生成部根据由所述光学拾取头装置的受光部变换成的电信号，生成用于使照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致的聚焦误差信号、用于使照射到光记录介质上的光的焦点与光道的位置一致的循轨误差信号、及表示从光记录介质读取到的信息的信息信号，利用再生处理部将由所述信号生成部生成的信息信号变换成数字信息。

而且，利用移动部根据由所述信号生成部生成的聚焦误差信号及循轨误差信号，移动所述光学拾取头装置的位置，使得所述光学拾取头装置照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致，且使得该光的焦点位置与光道的位置一致，利用所述信号生成部根据由所述受光部的第1～第7受光元件变换成的电信号，用差动推挽检测法生成所述循轨误差信号。

因而，若使用本发明的记录装置，能输出由第4～第7受光元件接受杂散光后变换成的电信号，根据这些电信号，能从由第2受光元件及第3受光元件受光而变换成的电信号中除去杂散光分量。即，能根据与除去杂散光分量后的副光束有关的推挽信号来生成循轨误差信号。换言之，在对由多层记录层组成的光盘进行记录时，能减轻因二维扩散的杂散光分量而造成循轨误差信号计算不准确的现象，使循轨控制稳定。

根据本发明，在生成所述再生装置或所述记录装置中使用的循轨误差信号时，在第1推挽信号生成步骤中，根据在所述第1受光元件的4个区域的各个区域受光而变换成的4个电信号来生成与主光束的反射光有关的第1推挽信号。在第2及第3推挽信号生成步骤中，根据在所述第2受光元件及所述第3受光元件的两个区域的各个区域受光而变换成的各自的两个电信号，生成副光束的反射光的第2推挽信号及第3推挽信号。

在修正信号生成步骤中，根据在所述第4受光元件～第7受光元件受光而变换成的4个电信号，生成分别对第2推挽信号及第3推挽信号进行修正的修正信号。在修正步骤中，用所述修正信号生成步骤中生成的各个修正信号，分别对第2及第3推挽信号生成步骤中生成的第2推挽信号及第3推挽信号进行修正。

而且，在生成步骤中，根据在所述修正步骤中修正后的第2推挽信号及第3推挽信号，利用差动推挽检测法生成循轨误差信号。

因而，若利用本发明的循轨误差信号生成方法，能输出由第4～第7受光元件接受杂散光后变换成的电信号，根据这些电信号，能从由第2受光元件及第3受光元件受光而变换成的电信号中除去杂散光分量。即，能根据与除去杂散光分量后的副光束有关的推挽信号生成循轨误差信号。换言之，在对由多层记录层组成的光盘进行记录或再生时，能减轻因二维扩散的杂散光分量而造成循轨误差信号计算不准确的现象，使循轨控制稳定。

附图说明

本发明的目的、特征、及优点根据以下的具体说明及附图将会变得更加明确。

图1为表示作为本发明的实施方式之一的光学拾取头装置的结构方框图。

图2为光检测器的结构示意图。

图3为表示对于光检测器的杂散光的范围的图。

图4为用于说明式(5)～(8)中所使用的变量「e」～「g」用的图。

图5为表示作为本发明的实施方式之一的再生装置的概要结构的方框图。

图6为表示由信号生成电路执行的循轨误差信号生成处理的处理步骤的流程图。

图7为表示现有第2种技术中的光检测器的结构图。

具体实施方式

下面，参照附图对本发明优选的实施方式详细地进行说明。

图1为表示本发明的实施方式之一的光学拾取头装置1的结构方框图。光学拾取头装置1的构成包括：半导体激光器11、λ/2波片12、衍射光栅13、衍射光束分束器(Diffractive Beam Splitter)14、偏振光束分束器(Polarized BeamSplitter)15、准直透镜16、λ/4波片17、物镜18、柱面透镜19、光检测器20及监视用光敏二极管21。

光盘2为利用光可将信息记录于多层记录层的光记录介质，例如，DVD-ROM(只读存储数字通用光盘Digital Versatile Disk-Read Only Memory)、DVD-R(Digital Versatile Disk-Recordable：可记录数字通用光盘)、DVD-RW(Digital Versatile Disk-ReWritable：可重写数字通用光盘)、DVD+R(Digital Versatile Disk+Recordable：可记录数字通用光盘)、DVD+RW(DigitalVersatile Disk+ReWritable：可重写数字通用光盘)、BD(蓝光光盘)或HD-DVD(High Definition-Digital Versatile Disk：高清数字通用光盘)。

作为光源的半导体激光器11射出激光、λ/2波片12使半导体激光器11射出的激光的偏光方向旋转90度。衍射光栅13使透过λ/2波片12而来的激光衍射，分离成0次衍射光的主光束和±1次衍射光的两束副光束。两束副光束用于生成循轨误差信号。

衍射光束分束器14使衍射光栅13所衍射的部分激光无反射地透过，朝监视用光敏二极管21的方向射出，并且反射其余的激光，激光的行进方向改变90度朝偏振光束分束器15的方向射出。偏振光束分束器15使来自衍射光束分束器14的激光无反射地透过，并且反射透过准直透镜16而来的光，使光的行进方向改变90度朝柱面透镜19的方向射出。

准直透镜16使透过偏振光束分束器15的激光变成平行光，而且使透过λ/4波片17的平行光聚光于光检测器20的受光面形成聚光点。λ/4波片17使透过准直透镜16的平行光变换成圆偏振光，并且将透过物镜的平行光变换成线偏振光。物镜18将透过λ/4波片17的平行光聚光于光盘2的记录层使得在记录层上形成聚光点，并使在光盘2上反射的反射光变成平行光。

柱面透镜19对在偏振光束分束器15反射来的反射光的象散进行修正。作为受光部的光检测器20由将在图2作详细阐述的多个受光元件构成，各受光元件接受透过柱面透镜19的反射光，将反射光中包含的光信号变换成电信号。监视用光敏二极管21为了控制激光器功率而将光信号变换成电信号。

λ/2波片12、衍射光栅13、衍射光束分束器14、偏振光束分束器15、准直透镜16、λ/4波片17、物镜18及柱面透镜19构成光学系统。

图2为光检测器20的结构示意图。光检测器20的构成包括：1个4头的受光元件201、两个双头的受光元件202、203、及4个受光元件204～207。这些受光元件例如可由光敏二极管构成。

第1受光元件即4头受光元件201由根据光盘2的光道的切线方向的直线及法线方向的直线分割成的4个区域A～D组成。各个区域分别具有宽频带特性，分别将接受到的光变换成电信号。区域A和区域D、及区域B和区域C分别在光道的法线方向上相邻，区域A和区域B、及区域C和区域D分别在光道的切线方向上相邻。

第2受光元件即双头受光元件202由用光盘2的光道的切线方向的直线分割的两个区域E、F组成，并将各区域上接受到的光变换成电信号。第3受光元件即双头受光元件203由用光盘2的光道的切线方向的直线分割的两个区域G、H组成，并将各区域上接受到的光变换成电信号。双头受光元件202、203夹着4头受光元件201，在光盘2的光道的法线方向上配置于4头受光元件201的两侧附近。

第4受光元件即受光元件204配置于4头受光元件201和双头受光元件202之间，第5受光元件即受光元件206配置于4头受光元件201和双头受光元件203之间。受光元件204及受光元件206配置于受光元件204和4头受光元件201间的距离与受光元件206和4头受光元件201间的距离为不同距离的位置。在图2所示的例子中，受光元件204及受光元件206的位置如下，即与受光元件204和4头受光元件201间的距离相比，受光元件206和4头受光元件201间的距离较远。

第6受光元件即受光元件205及第7受光元件即受光元件207夹着4头受光元件201，在光盘2的光道的切线方向上配置于4头受光元件201的两侧附近。受光元件205及受光元件207配置于受光元件205和4头受光元件201间的距离与受光元件207和4头受光元件201间的距离为不同距离的位置。在图2所示的例子中，受光元件205及受光元件207的位置如下，即与受光元件207和4头受光元件201间的距离相比，受光元件205和4头受光元件201间的距离较远。

4个受光元件204～207为用于接受光盘2的多层记录层中在进行记录或再生的记录层以外的记录层上反射的主光束及副光束的反射光(以下称为「杂散光」或「层间杂散光」)的受光元件。4个受光元件204～207的受光面的面积为相同的大小。

光点S1为主光束反射光的聚光点，光点S2为为+1次衍射光的副光束反射光的聚光点，光点S3为-1次衍射光的副光束反射光的聚光点。即，在4头受光元件201的4个区域A～D接受主光束的反射光，在双头受光元件202的两个区域E、F接受+1次衍射光的副光束的反射光，在双头受光元件203的两个区域G、H接受-1次衍射光的副光束的反射光。

图3为表示对于光检测器20的杂散光的范围S4的图。光盘2例如由L0层及L1层两层记录层组成，设L0层为进行记录或再生的记录层，来自L0层的主光束的反射光作为光点S1，及来自L0层的两束副光束的反射光分别作为光点S2、S3聚光于光检测器20，并且来自L1层的主光束的反射光及副光束的反射光作为杂散光对较大的范围S4进行照射。即，来自L1层的杂散光与在4头受光元件201接受到的主光束的反射光及在两个双头受光元件202、203接受到的副光束的反射光重叠。

与进行记录或再生的L0层反射的反射光相比因为杂散光的强度低，所以L1层反射的主光束的杂散光对L0层反射的主光束的反射光带来的影响、及L1层反射的副光束的杂散光对L0层反射的主光束的反射光及L0层反射的副光束的反射光带来的影响可以忽略不计。但是，在主光束和副光束之间的强度比为10；1的情况下，L1层反射的主光束的杂散光对L0层反射的副光束的反射光带来的影响为L0层反射的主光束的反射光带来的影响的10倍，这一点是不能忽略的。再有，在L1层未记录信息的情况下，杂散光的强度增加，带来更大的影响。

杂散光的范围S4为以4头受光元件201为中心的椭圆形形状。通常，激光的强度分布为高斯分布，杂散光的强度分布也为高斯分布。因而，由于知道4头受光元件201、两个双头受光元件202、203、及4个受光元件204～207的位置关系，所以通过从4个受光元件204～207变换成的电信号的大小中检测出4个受光元件204～207的位置处的杂散光强度，从而能计算出4头受光元件201及两个双头受光元件202、203的位置处的杂散光强度。

此时，根据由受光元件205及受光元件207检测出的电信号来计算光道切线方向的杂散光强度分布，根据由受光元件204及受光元件206检测出的电信号来计算光道法线方向的杂散光强度分布。

设4头受光元件201的中心为原点(0，0)、光道的切线方向为X轴方向、及光道的法线方向为Y轴方向时，杂散光的强度分布I_M可根据式(1)进行计算。

[数学式1]

$I_M=I_{\mathrm{Mx}0}\×\exp (-\frac{x^2}{{{\mathrm{\ω}}_x}^2})\×I_{\mathrm{My}0}\×\exp (-\frac{y^2}{{{\mathrm{\ω}}_y}^2})\·\·\·\left(1\right)$

式中，I_Mx0为通过4头受光元件201中心的Y轴方向即光道法线方向的杂散光强度分布，I_My0为通过4头受光元件201中心的X轴方向即光道切线方向的杂散光强度分布。ω_x为杂散光Y轴方向的束腰的大小，ω_y为杂散光X轴方向的束腰的大小。束腰为基本模式的高斯光束中曲率为零的波面、且为束径最小的光点。通过确定I_Mx0、I_My0、ω_x、及ω_y，从而能计算任意位置的杂散光强度。

设由受光元件204～207检测出的各个杂散光强度为I₄、I₅、I₆、及I₇，则ω_x、及ω_y可分别利用式(2)及式(3)进行计算。

[数学式2]

${{\mathrm{\ω}}_x}^2=\frac{d^2-c^2}{\ln I_6-\ln I_7}\·\·\·\left(2\right)$

[数学式3]

${{\mathrm{\ω}}_y}^2=\frac{b^2-a^2}{\ln I_4-\ln I_5}\·\·\·\left(3\right)$

式中，a为原点至受光元件204中心的距离，b为原点至受光元件206中心的距离，c为原点至受光元件205中心的距离，d为原点至受光元件207中心的距离。因而，能根据由受光元件204～207检测出的杂散光强度来计算ω_x、及ω_y。

将x＝0及y＝0代入式(1)，原点处的杂散光强度I_M0可以根据式(4)进行计算。即，若将x＝0及y＝0代入式(1)，则原点处的杂散光强度I_M0就变成下式。

[数学式4]

I_M0＝I_Mx0×I_My0

这里，将I_M＝I₁，x＝a，及y＝0代入式(1)，则成为下式。

[数学式5]

$I_1=I_{\mathrm{Mx}0}\×\exp (-a^2/{{\mathrm{\ω}}_x}^2)\×I_{\mathrm{My}0}$

这里，若将该式变形，则成为下式。

[数学式6]

$I_{\mathrm{Mx}0}\×I_{\mathrm{My}0}=\frac{I_1}{\exp (-a^2/{{\mathrm{\ω}}_x}^2)}=I_1\×\exp (a^2/{{\mathrm{\ω}}_x}^2)\·\·\·\left(4\right)$

通过将式(2)～式(4)求出的I_M0、ω_x及ω_y代入式(1)，便能计算任意位置的杂散光强度I_M。即成为下式。

[数学式7]

$I_M=I_{\mathrm{Mx}}\×I_{\mathrm{My}}\×\exp \left(\frac{x^2}{{{\mathrm{\ω}}_x}^2}\right)\×\exp \left(\frac{y^2}{{{\mathrm{\ω}}_y}^2}\right)=I_{M0}\×\exp \left(\frac{x^2}{{{\mathrm{\ω}}_x}^2}\right)\×\exp \left(\frac{y^2}{{{\mathrm{\ω}}_y}^2}\right)$

两个双头受光元件202、203各个区域E～H的位置处的杂散光强度即修正信号可以根据式(1)分别用式(5)～式(8)进行计算。

[数学式8]

$I_{\mathrm{ME}}=\underset{-e}{\overset{e}{\∫}}\underset{g}{\overset{g+f}{\∫}}{I}_M\mathrm{dxdy}\·\·\·\left(5\right)$

[数学式9]

$I_{\mathrm{ME}}=\underset{-e}{\overset{e}{\∫}}\underset{\mathrm{g-f}}{\overset{g}{\∫}}{I}_M\mathrm{dxdy}\·\·\·\left(6\right)$

[数学式10]

$I_{\mathrm{ME}}=\underset{-e}{\overset{e}{\∫}}\underset{\mathrm{g-f}}{\overset{g}{\∫}}{I}_M\mathrm{dxdy}\·\·\·\left(7\right)$

[数学式11]

$I_{\mathrm{ME}}=\underset{-e}{\overset{e}{\∫}}\underset{g}{\overset{g+f}{\∫}}{I}_M\mathrm{dxdy}\·\·\·\left(8\right)$

图4为用于说明式(5)～(8)中所使用的变量「e」～「g」的图。在设将4头受光元件201分割成4个区域A～D的光盘2的光道切线方向的直线为X轴、及法线方向的直线为Y轴时，变量「e」为区域A及区域B的X轴方向的宽度。区域B的Y轴方向的两边中靠近受光元件207的边的X坐标的位置为「e」，区域A的Y轴方向的两边中靠近受光元件205的边的X坐标的位置为「-e」，变量「f」为双头受光元件202的区域E及区域F的Y轴方向的宽度。变量「g」为从X轴至双头受光元件202的区域E和区域F间的边界的距离。因此，区域E的X轴方向的两边中位于离X轴最远位置的边的Y坐标的位置为「g+f」，而区域F的X轴方向的两边中靠近受光元件204的边的Y坐标的位置为「g-f」。

这样，用半导体激光器11射出光，用光检测器20接受光，将接受到的光中所含的光信号变换成电信号，再利用λ/2波片12、衍射光栅13、衍射光束分束器14、偏振光束分束器15、准直透镜16、λ/4波片17、物镜18及柱面透镜19，使半导体激光器11射出的光衍射，生成由0次衍射光组成的主光束、以及由+1次衍射光及-1次衍射光组成的副光束，所生成的主光束及副光束照射到由多层记录层组成的光盘2的所述多层记录层中任一记录层，将在该光记录介质上反射的反射光引至光检测器20。

光检测器20具有4头受光元件201、双头受光元件202、203、及受光元件204～受光元件207，利用由形成于光盘2的光道的切线方向的直线及法线方向的直线分割成4个区域的4头受光元件201，接受主光束的反射光，利用分别配置于4头受光元件201的所述法线方向的两侧的、由所述切线方向的直线分割成两个区域的双头受光元件202、203，接受副光束的反射光。

而且，利用配置于4头受光元件201和双头受光元件202之间的受光元件204接受在所述多层记录层中和被照射所述主光束及副光束的记录层不同的其它记录层上反射的杂散光，利用配置于4头受光元件201和双头受光元件203之间的受光元件206接受所述杂散光，利用分别配置于4头受光元件201的所述切线方向两侧的受光元件205及受光元件207接受所述杂散光。

因而，若使用本发明的光学拾取头装置1，能输出由受光元件204～受光元件207接受杂散光后变换成的电信号，根据这些电信号，能从由双头受光元件202、203受光而变换成的电信号中除去杂散光分量。即，能根据与除去杂散光分量后的副光束有关的推挽信号来生成循轨误差信号。换言之，在对具有多层记录层的光盘2进行记录或再生时，能减轻因二维扩散的杂散光分量而造成循轨误差信号计算不准确的现象，使循轨控制稳定。

再有，由于受光元件204及受光元件206配置于4头受光元件201和受光元件204间的距离与4头受光元件201和受光元件206间的距离为不同距离的位置，所以能利用杂散光的强度分布为高斯分布这一点来计算光道法线方向的强度分布。

再有，由于受光元件205及受光元件207配置于4头受光元件201和受光元件205间的距离与4头受光元件201和受光元件207间的距离为不同距离的位置，所以能利用杂散光的强度分布为高斯分布这一点来计算光道切线方向的强度分布。

再有，由于受光元件204～受光元件207其接受光的受光面的面积相同，所以在计算用于对与副光束有关的推挽信号进行修正的修正信号时，对于由受光元件204～受光元件207接受杂散光而变换成的电信号，可无需变换面积之差而原样地利用，从而能使计算简化。

图5为表示本发明的实施方式之一的再生装置100的概要结构的方框图。本发明的循轨误差信号生成方法可用再生装置100来执行。再生装置100为对记录于光盘2上的信息进行再生的装置，其构成包括：光学拾取头装置1、信号生成电路31、再生处理电路32及伺服电路33。

光学拾取头装置1为图1所示的光学拾取头装置。信号生成部即信号生成电路31根据由光学拾取头装置1的光检测器20变换成的电信号，生成用于使照射光盘2的激光的焦点与记录层一致的聚焦误差信号、用于使照射光盘2的激光的焦点的位置与光道的位置一致的循轨误差信号、及表示从光盘2读取到的信息的信息信号。

再生处理部即再生处理电路32将信号生成电路31生成的信息信号变换成数字信息，再生处理部即伺服电路33根据信号生成电路31生成的聚焦误差信号及循轨误差信号，移动光学拾取头装置1的位置，使光学拾取头装置1照射到光盘2上的激光的焦点与记录层一致，且使该激光的焦点位置与光道的位置一致。

信号生成电路31用象散法生成聚焦误差信号，利用相位差法及差动推挽检测法来生成循轨误差信号(以下称为「差动推挽误差信号」)。相位差法例如为特开昭58-150145号公报所记载的光学式数字光盘播放器的循轨控制电路中所采用的方法，差动推挽检测法例如为特开昭61-94246号公报所记载的光学拾取头的循轨误差检测方式中采用的方法。

信号生成电路31将由光检测器20的各受光元件变换成的电信号放大，并根据放大后的电信号，计算主光束反射光的推挽信号MPP、+1次衍射光的副光束反射光的推挽信号SPP1、及-1次衍射光的副光束反射光的推挽信号SPP2。

第1推挽信号即推挽信号MPP、第2推挽信号即推挽信号SPP1、及第3推挽信号即推挽信号SPP2可分别根据式(9)～式(11)进行计算。

MPP＝(A+B)-(C+D)                   …(9)

SPP1＝E-F                          …(10)

SPP2＝G-H                          …(11)

这里，式(9)～(11)中的A～H分别为将由4头受光元件201的区域A～D、双头受光元件202的区域E、F、及双头受光元件209的区域G、H变换成的电信号在信号生成电路31中放大后输出的值。

差动推挽误差信号DPP可用式(12)进行计算。式中k为系数。

DPP＝MPP-k×(SPP1+SPP2)             …(12)

差动推挽误差信号DPP是通过接受照射到记录层上的聚光点被光盘2上形成的光道例如导向沟槽或位串衍射反射而生成的。

式(10)、(11)示出的推挽信号SPP1及推挽信号SPP2为不考虑杂散光影响时的计算式，在考虑到杂散光的影响、除去杂散光分量时，将由式(5)～(8)算出的修正信号I_ME、I_MF、I_MG、I_MH代入式(13)、(14)，算出推挽信号SPP1及推挽信号SPP2。

[数学式12]

SPP1＝(E-I_ME)-(F-I_MF)                             …(13)

[数学式13]

SPP2＝(G-I_MG)-(H-I_MH)                             …(14)

由信号生成电路31生成的差动推挽误差信号DPP被传送到伺服电路33。伺服电路33根据自信号生成电路31取得的循轨误差信号，移动光学拾取头装置1的位置，使照射于光盘2的记录层的光束的光点位置与光道的位置一致。

由于该差动推挽误差信号DPP即循轨误差信号被除去杂散光分量，所以在再生由多层记录层组成的光盘2上的信息时，能减轻因杂散光产生的循轨误差信号的误差。对于由两层以上的记录层组成的光盘2，能采用差动推挽检测法进行准确的循轨控制，对于物镜18的视野状况，即对于物镜18向光盘2半径方向的偏移，能实现稳定可靠的循轨控制。在现有技术中，在由两层以上的记录层组成的光盘2上因杂散光而无法使用准确的差动推挽法，但是，根据本发明，即使是对于由两层以上的记录层组成的光盘2也能生成准确的差动推挽信号，从而能够实现稳定可靠的循轨控制。

这样，在对记录于由多层记录层组成的光盘2的信息进行再生时，信号生成电路31根据由光学拾取头装置1的光检测器20变换成的电信号，生成用于使照射光盘2的光的焦点与记录层一致的聚焦误差信号、用于使照射光盘2的光的焦点与光道的位置一致的循轨误差信号、及表示从光盘2读取到的信息的信息信号，由再生处理电路32将所述信号生成电路31生成的信息信号变换成数字信息。

然后，利用伺服电路33根据由信号生成电路31生成的聚焦误差信号及循轨误差信号，移动所述光学拾取头装置1的位置，使所述光学拾取头装置1照射到光盘2上的光的焦点与记录层一致，且使该光的焦点位置与光道的位置一致，利用信号生成电路31根据由光检测器20的4头受光元件201、双头受光元件202、203、及受光元件204～受光元件207变换成的电信号，用差动推挽检测法生成前述循轨误差信号。

因而，若使用本发明的再生装置100，能输出由受光元件204～受光元件207接受杂散光后变换成的电信号，根据这些电信号，能从由双头受光元件202、203受光而变换成的电信号中除去杂散光分量。即，能根据与除去杂散光分量后的副光束有关的推挽信号来生成循轨误差信号。换言之，在对由多层记录层组成的光盘2进行再生时，能减轻因二维扩散的杂散光分量而造成循轨误差信号的计算不准确的现象，使循轨控制稳定。

再有，利用信号生成电路31根据由4头受光元件201的4个区域中各个区域受光变换成的4个电信号来生成与主光束反射光有关的推挽信号MPP，根据由双头受光元件202、203的各自两个区域受光而变换成的各自的两个电信号来生成副光束反射光的推挽信号SPP1及推挽信号SPP2。

然后，根据由受光元件204～受光元件207受光而变换成的4个电信号，生成分别对推挽信号SPP1及推挽信号SPP2进行修正的修正信号，用所生成的各个修正信号分别对推挽信号SPP1及推挽信号SPP2进行修正，根据修正后的推挽信号SPP1及推挽信号SPP2，生成前述循轨误差信号。

因而，根据由受光元件204～受光元件207受光而变换成的4个电信号，能生成用于从推挽信号SPP1及推挽信号SPP2中除去杂散光分量的修正信号。

再有，利用信号生成电路31根据由受光元件204～受光元件207受光而变换成的4个电信号，能计算前述杂散光强度分布，根据计算出的强度分布，能分别生成双头受光元件202、203位置处的修正信号。

即，利用杂散光的强度分布为高斯分布这一特点，能计算出双头受光元件202、203的位置上的杂散光强度以作为修正信号，能计算出除去杂散光分量后的副光束反射光的推挽信号。因而，本发明的再生装置100能减轻循轨误差信号的计算不准确的现象，使循轨控制稳定。

在图5所示的实施方式中，虽然示出对记录于光盘2的信息进行再生的再生装置100的例子，但本发明并不只限于再生，也可在将信息记录于光盘2时使用，或者也可适用于将信息记录或再生于光盘2的记录再生装置。在这种情况下，本发明的循轨误差信号生成方法可在记录装置或记录再生装置上执行。

这样，在将信息记录于由多层记录层组成的光盘2时，利用信号生成电路31根据由光学拾取头装置1的光检测器20变换成的电信号，生成用于使照射到光盘2上的光的焦点与记录层一致的聚焦误差信号、用于使照射光盘2的光的焦点与光道的位置一致的循轨误差信号、及表示从光盘2读取到的信息的信息信号，利用再生处理电路32将由所述信号生成电路31生成的信息信号变换成数字信息。

然后，利用伺服电路33根据由信号生成电路31生成的聚焦误差信号及循轨误差信号，移动光学拾取头装置1的位置，使得光学拾取头装置1照射到光盘2上的光的焦点与记录层一致，且使得该光的焦点位置与光道的位置一致，利用信号生成电路31根据由光检测器20的4头受光元件201、双头受光元件202、203、及受光元件204～受光元件207变换成的电信号，用差动推挽检测法生成前述循轨误差信号。

因而，若使用本发明的记录装置或记录再生装置，能输出由受光元件204～受光元件207接受杂散光后变换成的电信号，根据这些电信号，能从由双头受光元件202、203受光而变换成的电信号中除去杂散光分量。即，能根据与除去杂散光分量后的副光束有关的推挽信号来生成循轨误差信号。换言之，在对由多层记录层组成的光盘2进行记录时，能减轻因二维扩散的杂散光分量而造成循轨误差信号计算不准确的现象，使循轨控制稳定。

再有，利用信号生成电路31根据由4头受光元件201的4个区域中各个区域受光变换成的4个电信号来生成与主光束反射光有关的推挽信号MPP，根据由双头受光元件202、203的各自两个区域受光变换成的各自的两个电信号来生成副光束反射光的推挽信号SPP1及推挽信号SPP2。

然后，根据由受光元件204～受光元件207受光变换成的4个电信号，生成分别对推挽信号SPP1及推挽信号SPP2进行修正的修正信号，用所生成的各个修正信号分别对推挽信号SPP1及推挽信号SPP2进行修正，根据修正后的推挽信号SPP1及推挽信号SPP2，生成前述循轨误差信号。

因而，根据由受光元件204～受光元件207受光而变换成的4个电信号，能生成用于从推挽信号SPP1及推挽信号SPP2中除去杂散光分量的修正信号。

再有，利用信号生成电路31根据由受光元件204～受光元件207受光变换成的4个电信号，能计算前述杂散光强度分布，根据计算出的强度分布，能分别生成双头受光元件202、203位置处的修正信号。

即，利用杂散光的强度分布为高斯分布这一特点，能计算出双头受光元件202、203的位置上的杂散光强度以作为修正信号，能计算出除去杂散光分量后的副光束反射光的推挽信号。因而，本发明的记录装置能减轻循轨误差信号计算不准确的现象，使循轨控制稳定。

图6为表示由信号生成电路31执行的循轨误差信号生成处理的处理步骤的流程图。当使光盘2旋转、开始记录或再生信息时，转移到步骤A1。

在第1推挽信号生成步骤即步骤A1中，根据由4头受光元件201的4个区域检测出的电信号，根据式(9)计算并生成主光束反射光的推挽信号MPP。在第2及第3推挽信号生成步骤即步骤A2中，根据由两个双头受光元件202、203各自两个区域检测出的电信号，根据式(10)、(11)计算并生成两束副光束反射光的推挽信号SPP1及推挽信号SPP2。

在修正信号生成步骤即步骤A3中，根据由受光元件204～207检测出的杂散光的电信号并利用式(1)来计算生成修正信号。具体为，将双头受光元件各区域的位置上的杂散光的强度作为修正信号，根据式(5)～(8)计算并生成I_ME、I_MF、I_MG、I_MH。在修正步骤即步骤A4中根据式(13)、(14)用修正信号I_ME、I_MF、I_MG、I_MH对两个副光束反射光的推挽信号SPP1及推挽信号SPP2进行修正、

在生成步骤即步骤A5中，根据主光束反射光的推挽信号MPP、以及对两束副光束反射光进行修正后的推挽信号SPP1及推挽信号SPP2，利用式(11)，计算并生成循轨误差信号DPP，至此循轨误差信号生成处理结束。

这样，在图6所示的流程图中，在生成再生装置100或前述记录装置中所使用的循轨误差信号时，在步骤A1中，根据由4头受光元件201的4个区域中各个区域受光而变换成的4个电信号来生成与主光束反射光有关的推挽信号MPP。在步骤A2中根据由双头受光元件202、203的两个区域中各个区域受光而变换成的各自的两个电信号，生成副光束反射光的推挽信号SPP1及推挽信号SPP2。

在步骤A3中，根据由受光元件204～受光元件207受光而变换成的4个电信号来生成分别对推挽信号SPP1及推挽信号SPP2进行修正的修正信号。在步骤A4中，用步骤A3生成的各个修正信号分别对步骤A2生成的推挽信号SPP1及推挽信号SPP2进行修正。

然后，在步骤A5中，根据步骤A4中所修正后的推挽信号SPP1及推挽信号SPP2，利用差动推挽检测法生成前述循轨误差信号。

因而，若用本发明的循轨误差检测信号生成方法，能输出由受光元件204～受光元件207接受杂散光后变换成的电信号，根据这些电信号，能从由双头受光元件202、203受光而变换成的电信号中除去杂散光分量。即，能根据与除去杂散光分量后的副光束有关的推挽信号来生成循轨误差信号。换言之，在对由多层记录层组成的光盘2进行记录或再生时，能减轻因二维扩散的杂散光分量而造成循轨误差信号计算不准确的现象，使循轨控制稳定。

本发明在不背离其技术思想或主要特征的前提下，可以以各种其它的方式进行实施。因而，前述的实施方式在所有的方面仅是示例而已，本发明的范围示于权利要求的范围内，不受说明书内容的任何约束。再有，属于权利要求范围内的变形或变更均在本发明的范围内。

Claims (11)

1.一种光学拾取头装置，其特征在于，包括：

光源，该光源射出光；

受光部，该受光部接受光，并将接受到的光中包含的光信号变换成电信号；及

光学系统，该光学系统使光源射出的光衍射以生成由0次衍射光组成的主光束、以及由+1次衍射光及-1次衍射光组成的副光束，对由多层记录层组成的光记录介质的所述多层记录层中的任一记录层照射生成的主光束及副光束，并将在该光记录介质上反射的反射光引至所述受光部，

所述受光部包括：

第1受光元件，该第1受光元件由形成于光记录介质的光道的切线方向的直线及法线方向的直线分割成4个区域，用于接受主光束的反射光；

第2受光元件及第3受光元件，该第2受光元件及第3受光元件分别配置于第1受光元件的所述法线方向的两侧，由所述切线方向的直线分割成两个区域，且用于接受副光束的反射光；

第4受光元件，该第4受光元件配置于第1受光元件和第2受光元件之间，用于接受所述多层记录层中在和被照射所述主光束及副光束的记录层不同的其它记录层上反射的杂散光；

第5受光元件，该第5受光元件配置于第1受光元件和第3受光元件之间，用于接受所述杂散光；及

第6受光元件及第7受光元件，该第6受光元件及第7受光元件分别配置于第1受光元件的所述切线方向的两侧，用于接受所述杂散光。

2.如权利要求1所述的光学拾取头装置，其特征在于，

所述第4受光元件及所述第5受光元件配置于所述第1受光元件和所述第4受光元件间的距离与所述第1受光元件和所述第5受光元件间的距离为不同的距离的位置。

3.如权利要求1所述的光学拾取头装置，其特征在于，

所述第6受光元件及所述第7受光元件配置于所述第1受光元件和所述第6受光元件间的距离与所述第1受光元件和所述第7受光元件间的距离为不同的距离的位置。

4.如权利要求1所述的光学拾取头装置，其特征在于，

所述第4受光元件～所述第7受光元件的接受光的受光面的面积相同。

5.一种再生装置，所述再生装置对记录于由多层记录层组成的光记录介质上的信息进行再生，其特征在于，包括：

权利要求1所述的光学拾取头装置；

信号生成部，该信号生成部根据所述光学拾取头装置的受光部所变换成的电信号来生成用于使照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致的聚焦误差信号、用于使照射到光记录介质上的光的焦点与光道的位置一致的循轨误差信号、及表示从光记录介质读取到的信息的信息信号；

再生处理部，该再生处理部将由所述信号生成部生成的信息信号变换成数字信息；及

移动部，该移动部根据所述信号生成部生成的聚焦误差信号及循轨误差信号来移动所述光学拾取头装置的位置，使得所述光学拾取头装置照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致，且使得该光的焦点位置与光道的位置一致，

所述信号生成部根据所述受光部的第1～第7受光元件所变换成的电信号，并利用差动推挽检测法来生成所述循轨误差信号。

6.如权利要求5所述的再生装置，其特征在于，

所述信号生成部进行如下动作：

根据所述第1受光元件的4个区域的各个区域受光而变换成的4个电信号来生成与主光束的反射光有关的第1推挽信号；

根据所述第2受光元件及所述第3受光元件各自的两个区域受光而变换成的各自的两个电信号来生成副光束的反射光的第2推挽信号及第3推挽信号；

根据所述第4受光元件～第7受光元件受光而变换成的4个电信号来生成分别修正第2推挽信号及第3推挽信号的修正信号；

用所生成的各个修正信号分别修正第2推挽信号及第3推挽信号，并根据修正后的第2推挽信号及第3推挽信号来生成所述循轨误差信号。

7.如权利要求6所述的再生装置，其特征在于，

所述信号生成部根据所述第4受光元件～第7受光元件受光而变换成的4个电信号来计算所述杂散光的强度分布，并根据计算出的强度分布来分别生成所述第2受光元件及第3受光元件的位置处的修正信号。

8.一种记录装置，所述记录装置将信息记录于由多层记录层组成的光记录介质，其特征在于，包括：

权利要求1所述的光学拾取头装置；

信号生成部，该信号生成部根据所述光学拾取头装置的受光部所变换成的电信号来生成用于使照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致的聚焦误差信号、用于使照射到光记录介质上的光的焦点与光道的位置一致的循轨误差信号、及表示从光记录介质读取到的信息的信息信号；

再生处理部，该再生处理部将由所述信号生成部生成的信息信号变换成数字信息；及

移动部，该移动部根据所述信号生成部生成的聚焦误差信号及循轨误差信号来移动所述光学拾取头装置的位置，使得所述光学拾取头装置照射到光记录介质上的光的焦点与记录层一致，且使得该光的焦点位置与光道的位置一致，

所述信号生成部根据所述受光部的第1～第7受光元件所变换成的电信号，并利用差动推挽检测法来生成所述循轨误差信号。

9.如权利要求8所述的记录装置，其特征在于，

所述信号生成部进行如下动作：

根据所述第1受光元件的4个区域的各个区域受光而变换成的4个电信号来生成与主光束的反射光有关的第1推挽信号；

根据所述第2受光元件及所述第3受光元件各自的两个区域受光而变换成的各自的两个电信号来生成副光束的反射光的第2推挽信号及第3推挽信号；

根据所述第4受光元件～第7受光元件受光而变换成的4个电信号来生成分别修正第2推挽信号及第3推挽信号的修正信号；

用所生成的各个修正信号分别修正第2推挽信号及第3推挽信号，并根据修正后的第2推挽信号及第3推挽信号来生成所述循轨误差信号。

10.如权利要求9所述的记录装置，其特征在于，

所述信号生成部根据所述第4受光元件～第7受光元件受光而变换成的4个电信号来计算所述杂散光的强度分布，并根据计算出的强度分布来分别生成所述第2受光元件及第3受光元件的位置处的修正信号。

11.一种循轨误差信号生成方法，用于生成权利要求5所述的再生装置或权利要求8所述的记录装置中使用的循轨误差信号，其特征在于，包括：

第1推挽信号生成步骤，该第1推挽信号生成步骤根据所述第1受光元件4个区域的各个区域受光而变换成的电信号来生成与主光束的反射光有关的第1推挽信号；

第2及第3推挽信号生成步骤，该第2及第3推挽信号生成步骤根据所述第2受光元件及所述第3受光元件两个区域的各个区域受光而变换成的各自的两个电信号来生成副光束的反射光的第2推挽信号及第3推挽信号；

修正信号生成步骤，该修正信号生成步骤根据所述第4受光元件～第7受光元件受光而变换成的4个电信号来生成分别修正第2推挽信号及第3推挽信号的修正信号；

修正步骤，该修正步骤用所述修正信号生成步骤中生成的各个修正信号来分别修正在第2及第3推挽信号生成步骤中生成的第2推挽信号及第3推挽信号；及

生成步骤，该生成步骤根据在所述修正步骤中修正后的第2推挽信号及第3推挽信号，并利用差动推挽检测法来生成所述循轨误差信号。

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