JP4791335B2 - トラッキング誤差検出方法及びそれを用いた光ディスク再生装置 - Google Patents

トラッキング誤差検出方法及びそれを用いた光ディスク再生装置 Download PDF

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    • G11B7/0906Differential phase difference systems

Description

本発明は,光ディスク再生装置において,高密度ディスク再生,あるいは高速再生の際にも,安定したトラッキングサーボを可能にする,トラッキング誤差検出方法及びそれを用いた光ディスク再生装置に関する。
CD(Compact Disc)・DVD(Digital Versatile Disc)などで知られる光ディスクは,レーザ光をディスクの情報記録面に集光することによって形成される光スポットを用いて情報の記録又は再生を行う情報記録媒体である。高密度光ディスクとして最近実用化されたものに,BD(Blu-ray Disc)やHD DVDがある。Blu-ray Discに関しては「White Paper: Blu-ray Disc Format-General」に,HD DVDに関しては「DVD Forum技術白書−HD DVDフォーマットの概要−」に,それぞれ詳細に記載されている。
再生専用光ディスク(ROM:Read Only Memory)では,情報は,情報記録面上に形成された微小な凹凸(ピット)として記録されており,ピットの有無による光の反射率の変化を検出することによって情報が再生される。ピットはスパイラル状又は同心円状に配列し,記録トラックを形成する。
情報を再生する際には,光スポットを記録トラックに精密に追従(トラッキング)させる必要がある。トラッキングは,光スポットの記録トラック中心からのずれ量(トラッキング誤差)を,光学的手段で検出し,トラッキング誤差がゼロになるように対物レンズをディスク半径方向に駆動することによって行う。
再生専用光ディスクに対するトラッキング誤差検出方法としては,3スポット法,又はDPD方式(Differential Phase Detection)などがあるが,最近のドライブ装置では,複数種類のディスク規格に対応できるように,トラックピッチの違いに影響されることのないDPD方式が用いられることが多い。
従来のDPD方式によるトラッキング誤差検出の原理を,図1を用いて説明する。図1は,再生専用ディスクを再生している時の,ピット,光スポット及び4分割光検出器上の光強度分布の様子を示している。光スポットがピット上にある時,4分割光検出器上には,ピットによる回折光の内,0次回折光と±1次回折光が干渉して光強度の小さい領域ができる。
ここで4分割光検出器の各分割要素A,B,C及びDの内,互いに対角に位置する分割要素の出力電流の和(IA+IC)及び(IB+ID)を考える。光スポットがピット列のちょうど中心を通っている場合,(IA+IC)と(IB+ID)の間に位相差は生じない。ところが,光スポットがピット列の中心線からずれると(オフトラック),ピットのエッジ(光スポット進行方向の前後の端)を通過する時の上記干渉部分は,4分割光検出器の対角方向に対をなすようになるため,(IA+IC)と(IB+ID)の間に位相差が生じる。図1に示されるように,位相差の符号は,オフトラックの方向によって異なり,位相差の大きさはオフトラック量に概ね比例する。
次に,従来のDPD方式によるトラッキング誤差信号生成方法の一例を,図2のブロック図,及び図3の信号波形図を用いて説明する。対角和信号(IA+IC)及び(IB+ID)はそれぞれアンプで増幅されてA1及びA2となる。A1及びA2はそれぞれイコライザによって短マーク信号の振幅が相対的に増幅される。続いて各信号はレベル比較器によって二値化されて信号B1及びB2となる。B1及びB2は位相比較器に入力され,両者の信号のエッジ(信号がゼロレベルを横切る点)の位相差が検出される。位相比較器は,B1の位相がB2に対して進んでいる時にC1に位相差パルスを出力する。一方,B2の位相がB1に対して進んでいる時にはC2に位相差パルスを出力する。位相差パルスの高さは一定であり,幅はB1とB2の位相差の絶対値に等しい。C1及びC2はそれぞれローパスフィルタ(LPF)によって所定の時定数で積分され,それぞれの信号の差分がトラッキング誤差信号となる。
White Paper: Blu-ray Disc Format-General DVD Forum技術白書−HD DVDフォーマットの概要−
ここで,従来のDPD方式によるトラッキング誤差検出の課題を指摘する。図4は,再生専用光ディスクの再生信号を模式的に示した図である。この例では,8Tマーク,2Tスペース,2Tマーク,及び8Tスペースの順に並んでいるピットを再生している。ここで,Tはチャネルビット周期である。8Tのような長マークの再生信号のエッジでは,その勾配が大きいのに対して,2Tのような短マークの場合には光学分解能の不足により信号振幅が低下し,エッジの勾配が小さくなる。特に,最近実用化されたBD(Blu-ray Disc)やHD DVDのような高密度光ディスクでは,短マークの信号振幅が非常に小さくエッジの勾配が小さいため,ノイズや信号レベル変動等の影響によって位相差検出精度が低下し,トラッキングサーボが不安定になる。
また,データを高速で再生する場合においては,ドライブ装置の電気回路の信号伝送帯域不足により,周波数の高い短マーク信号の振幅が低下し,高密度光ディスクの再生の場合と同様の問題が生じる。
実用化されている主な光ディスク(CD,DVD,BD,HD DVD)のいずれにおいても,マークエッジ記録方式が用いられており,データ効率を高めて記録容量を向上させるために,マーク長が短いほど,その存在割合が多くなるようにデータが変調されて記録されている。すなわち再生信号の総エッジ数に占める短マーク信号エッジの割合が大きい。
このため,従来のDPD方式によるトラッキング誤差検出方法の場合,トラッキング誤差信号への短マーク信号エッジの寄与率が高く,上記のような理由で,高密度光ディスク再生時や高速再生時にトラッキングサーボが不安定になる問題があった。
そこで,本発明は,不安定な短マーク信号エッジの影響を低減して,安定なトラッキングサーボを可能にするトラッキング誤差検出方法及びそれを用いた光ディスク再生装置を提供することを目的とする。
本発明では以下のような方法を用いてトラッキング誤差信号を生成する。本発明では,トラッキング誤差信号への短マーク信号エッジの寄与率を小さくし,長マーク信号エッジの寄与率を大きくするために,DPDトラッキング誤差信号を生成する過程で出力される位相差パルスの高さ又は幅を,当該エッジに隣接するマーク/スペースの長さで重み付けする。すなわち,当該エッジに隣接するマーク/スペースの長さが長い程,位相差パルスの高さ又は幅が大きくなるようにする。DPD方式におけるトラッキング誤差信号は,位相差パルスを所定の時定数で積算したものであるから,上記のようにすることで,トラッキング誤差信号への長マーク信号エッジの寄与率を相対的に大きくすることができる。
本発明を実現する方式として,次の2つの方式が考えられる。
(1) 第1の方式:位相差パルスの高さを当該エッジに隣接するマーク/スペースの長さで重み付けする方式
この方式では,位相差パルスの高さが当該信号エッジの勾配に概ね比例するようにする。先に述べたように,信号エッジの勾配は,そのエッジに隣接するマーク/スペースの長さが長い程大きい。このため,より安定な長マーク信号エッジにおける位相差パルス程,その高さが大きくなるようにする。
(2) 第2の方式:位相差パルスの幅を当該エッジに後続するマーク/スペースの長さに応じて重み付けする方式
本方式では,マーク/スペースの長さに等しい幅の位相差パルスを出力する。すなわち,あるエッジからその次のエッジまでの期間,位相差パルスを出力するようにする。こうすることで,長マークのエッジを起点とする位相差パルスの方が,短マークのエッジを起点とする位相差パルスよりパルス幅が大きくなる。しかしながら,この場合,位相差パルスの高さを一定にすると,位相差パルスに位相差情報が含まれなくなってしまうため,パルス高さに関しては,第1の構成と同じようにエッジ傾きに概ね比例するようにする。
以上,本発明のトラッキング誤差信号生成方法を,位相差パルスの高さ及び幅に含まれる情報としてまとめると,図9のようになる。
従来のDPD方式の場合,パルス高さは一定であるから,パルス高さには情報は含まれていない。パルス幅はA1とA2の位相差そのものである。
第1の方式,位相差パルスの高さを当該信号エッジの勾配で重み付けする方式の場合,パルス高さには,A1とA2の位相差情報及びマーク長情報が含まれている。パルス幅は位相差そのものである。
第2の方式,位相差パルスの幅を当該信号エッジに後続マーク/スペースの長さで重み付けする方式の場合,パルス幅はマーク/スペースの長さそのものであり,パルス高さに関しては,第1の方式と同様である。
以上のように,第1の方式及び第2の方式共に,位相差パルスに位相差情報が含まれるようにし,かつパルス面積を当該エッジに隣接するマーク/スペースの長さで重み付けすることによって,トラッキング誤差信号への長マーク信号エッジの寄与率が大きくなり,先に述べた従来のDPDトラッキング方式における位相差検出精度の課題が解決される。
本発明によると,トラッキング誤差信号が安定し,高密度ディスク再生時,あるいは高速再生時にも,安定したトラッキングサーボが可能になる。
以下、本発明の実施の形態について説明する。
図5は,本発明を採用した光ディスク再生装置の構成例を示す図である。
レーザダイオード101から発生した直線偏光のレーザ光102は,コリメートレンズ103によって平行光束となり,偏光ビームスプリッタ104に入射する。偏光ビームスプリッタ104は,ある方向の直線偏光をほぼ損失無く透過させ,それに垂直の方向の直線偏光をほぼ損失無く反射させる性質を持つ光学素子である。偏光ビームスプリッタ104は,レーザダイオード101から発生したレーザ光102をほぼ損失なく透過させるように配置されている。偏光ビームスプリッタ104を透過したレーザ光102は,ハーフミラー105で反射して垂直に方向を変える。ハーフミラー105は,入射するレーザ光のごく一部を透過するようになっており,透過したレーザ光102は,前方に位置するフロントモニタレンズ106によって集光され,さらに前方に位置するフロントモニタ107に入射する。フロントモニタ107は,入射したレーザ光のパワーに比例した電流を出力する。フロントモニタ107が出力する電流は,通常,レーザダイオード101が出力するパワーを監視して,パワー制御を行うために用いられる。ハーフミラー105で反射したレーザ光102は,λ/4板108を通ることで円偏光に変化する。円偏光に変化したレーザ光102は対物レンズ109で集光され,光ディスク110に入射する。
光ディスク110の情報記録面111で反射されたレーザ光102は,再び対物レンズ109を通り,λ/4板108を通ることで直線偏光に戻る。この時,その偏光方向は往路の偏光方向に対して垂直の方向になっている。このため,ハーフミラー105で反射した後,レーザ光102は偏光ビームスプリッタ104でほぼ損失なく反射される。その後レーザ光102は,検出レンズ112によって集光され,光検出器113に入射する。
光検出器113は,図1に示したような4分割光検出器であり,その出力は再生信号生成回路114,トラッキング誤差信号生成回路120,フォーカス誤差信号生成回路121で処理され,それぞれの回路から再生信号,トラッキング誤差信号,フォーカス誤差信号が生成される。トラッキング誤差信号とフォーカス誤差信号はレンズアクチュエータ122に供給され,対物レンズ109をトラック幅方向及びフォーカス方向に駆動してトラッキング制御とフォーカス制御が行われる。上述の光ディスク110を除く構成は,通常,光学系として,光ピックアップによって実現されている。4分割光検出器の4つの分割素子の出力の和信号である再生信号は,制御部の信号処理回路115,復号回路116で処理されユーザデータとなり,マイクロプロセッサ117を介して上位装置に転送される。マイクロプロセッサ117は,また,フロントモニタ107の出力を監視して,それが所定値となるようにレーザ駆動回路118を制御する。
次に,トラッキング誤差信号生成回路120の構成例を,図6を用いて説明する。図6(a)は4分割光検出器の2種類の対角和信号A1=(IA+IC)及びA2=(IB+ID)と,それから生成されるパルス信号を表す波形図,図6(b)は図6(a)に示したパルスを生成する回路の構成例を示す図である。
本実施例における位相差パルス生成回路は,二値化回路,サンプルホールド回路,加算回路,スイッチ回路及び減算回路から構成される。二値化回路63及び66は,入力信号の二値化信号を出力する。二値化回路64及び65は,入力信号の二値化信号のレベル反転信号を出力する。サンプルホールド回路(S/H)67,68,69及び610は,サンプルホールド信号Aのエッジにおける入力信号Dのレベルを,サンプルホールド信号Aの次のエッジまで保持する。スイッチ回路613及び614は,信号A及びBの両方がHighレベル(H)の場合に入力信号Dそのものを出力し,それ以外の場合にはゼロを出力する。減算回路615は,スイッチ回路613の出力とスイッチ回路614の差信号を出力する。
図6(a)に示すように,本構成において,位相差パルスは,信号A1のエッジから次の信号A2のエッジまでの期間,出力される。すなわち位相差パルスの幅は,信号A1と信号A2の位相差の絶対値に等しい。パルス高さは信号A1のエッジ時刻(ゼロレベルを横切る時刻)における信号A2の信号レベルと,信号A2のエッジ時刻における信号A1の信号レベルの和である。
図6(a)のように,対角和信号A1,A2が負から正の方向にゼロレベルを横切るとき,対角和信号A1のエッジ時刻における対角和信号A2の信号レベルをp,信号A2のエッジ時刻における信号A1の信号レベルをqとし,対角和信号A1,A2が正から負の方向にゼロレベルを横切るとき,信号A1のエッジ時刻における信号A2の信号レベルをr,信号A2のエッジ時刻における信号A1の信号レベルをsとする。
このとき,対角和信号が負から正の方向にゼロレベルを横切るとき,信号A1のエッジから次の位相遅れした信号A2のエッジまでの期間,パルス61が発生される。このパルス61の信号レベルは,パルス開始時の信号A1のエッジ時刻における信号A2の信号レベルpと信号A2のその直前のエッジ時刻における信号A1の信号レベルsの和(s+p)である。また,対角和信号が正から負の方向にゼロレベルを横切るとき,信号A1のエッジから次の信号A2のエッジまでの期間,パルス62が発生される。このパルス62の信号レベルは,パルス開始時の信号A1のエッジ時刻における信号A2の信号レベルrと信号A2のその直前のエッジ時刻における信号A1の信号レベルqの和(q+r)である。この2つのパルスは符号が異なるため,トラッキング誤差信号は,この2つのパルス,すなわち信号レベル(s+p)のパルス61と信号レベル(q+r)のパルス62を差動増幅し,それを所定期間積算して生成される。
実施例1の基本構成を基に,トラッキング誤差信号生成部のみ別の構成とした実施例を,図7を用いて説明する。図7(a)は4分割光検出器の2種類の対角和信号A1=(IA+IC)及びA2=(IB+ID)と,それから生成されるパルス信号を表す波形図,図7(b)は図7(a)に示したパルスを生成する回路の構成例を示す図である。
本実施例における位相差パルス生成回路は,二値化回路,サンプルホールド回路,スイッチ回路及び減算回路から構成される。二値化回路,サンプルホールド回路,加算回路及びスイッチ回路の動作は,実施例1の場合と同様である。
本構成において,位相差パルスは,A2の信号エッジから次のA1の信号エッジまでの期間,出力される。すなわち,位相差パルスの幅は,当該エッジに後続するマーク/スペースの長さに概ね等しい。一方,位相差パルスの高さについては,位相差パルスの起点となるA2の信号エッジにおけるA1の信号レベルと,そのひとつ前のA1の信号エッジにおけるA2の信号レベルの差である。
図7(a)に示すように,図6(a)と同様に信号レベルp,q,r,sを定める。本実施例では,対角和信号が負から正の方向にゼロレベルを横切るとき,信号A2のエッジから次の信号A1のエッジまでの期間,パルス71が発生される。このパルス71の信号レベルは(p−q)である。また,対角和信号が正から負の方向にゼロレベルを横切るとき,信号A2のエッジから次の信号A1のエッジまでの期間,パルス72が発生される。このパルスの信号レベルは(r−s)である。この2つのパルスは符号が異なるため,トラッキング誤差信号は,この2つのパルス,すなわち信号レベル(p−q)のパルス71と信号レベル(r−s)のパルス72を差動増幅し,それを所定期間積算して生成される。
実施例1の基本構成を基に,トラッキング誤差信号生成部のみ別の構成とした実施例を,図8を用いて説明する。図8(a)は4分割光検出器の2種類の対角和信号A1=(IA+IC)及びA2=(IB+ID)と,それから生成されるパルス信号を表す波形図,図8(b)は図8(a)に示したパルスを生成する回路の構成例を示す図である。
本実施例における位相差パルス生成回路は,二値化回路,サンプルホールド回路,加算回路,スイッチ回路及び減算回路から構成される。二値化回路,サンプルホールド回路,減算回路,加算回路の動作は,実施例1の場合と同様である。スイッチ回路813及び814は,信号AがHighレベルの場合に入力信号そのものを出力し,信号AがLowレベルの場合にゼロを出力する。
本構成では,信号A1と信号A2の平均レベル信号A3を用い,位相差パルスは,信号A3のエッジから次の信号A3のエッジまでの期間,出力される。位相差パルスの高さについては,信号A3の当該エッジにおけるA2信号レベルとA1信号レベルの差である。
図8(a)に図示するように,対角和信号が負から正の方向にゼロレベルを横切るとき,信号A3のエッジ時刻における信号A1のレベルをq,信号A2のレベルをpとし,対角和信号が正から負の方向にゼロレベルを横切るとき,信号A3のエッジ時刻における信号A1のレベルをs,信号A2のレベルをrとする。このとき,信号A3が正の期間,信号レベル(p−q)のパルス81が発生される。また,信号A3が負の期間,信号レベル(r−s)のパルス82が発生される。この2つのパルスは符号が異なるため,トラッキング誤差信号は,この2つのパルス,すなわち信号レベル(p−q)のパルス81と信号レベル(r−s)のパルス82を差動増幅し,それを所定期間積算して生成される。
従来のDPD方式の原理を示した図。 従来のDPD方式によるトラッキング誤差信号生成ブロックを示した図。 従来のDPD方式によるトラッキング誤差信号生成過程の信号波形を示した図。 再生信号とそのエッジ勾配を示した図。 本発明を採用した光ディスク再生装置の模式図。 本発明の実施例1におけるトラッキング誤差信号生成方法を示した図。 本発明の実施例2におけるトラッキング誤差信号生成方法を示した図。 本発明の実施例3におけるトラッキング誤差信号生成方法を示した図。 トラッキング誤差信号生成方式と,位相差パルスの高さ及び幅に含まれる情報との関係を示す図。
符号の説明
61,62:位相差パルス
63,64,65,66:二値化回路
67,68,69,610:サンプルホールド回路
101:レーザダイオード
102:レーザ光
103:コリメートレンズ
104:偏光ビームスプリッタ
105:ハーフミラー
106:フロントモニタレンズ
107:フロントモニタ
108:λ/4板
109:対物レンズ
110:光ディスク
111:情報記録面
112:検出レンズ
113:4分割光検出器
114:再生信号生成回路
115:信号処理回路
116:復号回路
117:マイクロプロセッサ
118:レーザ駆動回路
120:トラッキング誤差信号生成回路
121:フォーカス誤差信号生成回路
122:レンズアクチュエータ
611,612:加算回路
613,614:スイッチ回路
615:減算回路
813,814:スイッチ回路

Claims (6)

  1. マーク長が異なる複数のマークによって情報が記録された光ディスクに再生光を照射する工程と,
    光ディスクからの反射光を4分割光検出器で受光する工程と,
    前記4分割光検出器の対角に位置する分割素子の出力の和信号である第1の再生信号と第2の再生信号とから,前記第1の再生信号と第2の再生信号の位相差情報を含み,面積が前記第1および第2の再生信号のエッジ(信号がゼロレベルを横切る点)に隣接するマーク長の長さが長いほど大きくなるように重み付けされたパルス信号を生成する工程と,
    前記パルス信号を所定の期間積算することによって,トラッキング誤差信号を生成する工程と,
    前記トラッキング誤差信号を用いてトラッキング制御を行う工程と
    を有し,
    前記パルス信号は,前記第1の再生信号のエッジから次の前記第2の再生信号のエッジまでの幅を有し,前記第1の再生信号のエッジ時刻における前記第2の再生信号の信号レベルとその直前の前記第2の再生信号のエッジ時刻における前記第1の再生信号の信号レベルの和に比例する高さを有する
    ことを特徴とする光ディスク再生方法。
  2. マーク長が異なる複数のマークによって情報が記録された光ディスクに再生光を照射する工程と,
    光ディスクからの反射光を4分割光検出器で受光する工程と,
    前記4分割光検出器の対角に位置する分割素子の出力の和信号である第1の再生信号と第2の再生信号とから,前記第1の再生信号と第2の再生信号の位相差情報を含み,面積が前記第1および第2の再生信号のエッジ(信号がゼロレベルを横切る点)に隣接するマーク長の長さが長いほど大きくなるように重み付けされたパルス信号を生成する工程と,
    前記パルス信号を所定の期間積算することによって,トラッキング誤差信号を生成する工程と,
    前記トラッキング誤差信号を用いてトラッキング制御を行う工程と,
    を有し,
    前記パルス信号は,前記第2の再生信号のエッジから次の前記第1の再生信号のエッジまでの幅を有し,前記第2の再生信号のエッジ時刻における前記第1の再生信号の信号レベルとその直前の前記第1の再生信号のエッジ時刻における前記第2の再生信号の信号レベルの差に比例する高さを有する
    ことを特徴とする光ディスク再生方法。
  3. マーク長が異なる複数のマークによって情報が記録された光ディスクに再生光を照射する工程と,
    光ディスクからの反射光を4分割光検出器で受光する工程と,
    前記4分割光検出器の対角に位置する分割素子の出力の和信号である第1の再生信号と第2の再生信号とから,前記第1の再生信号と第2の再生信号の位相差情報を含み,面積が前記第1および第2の再生信号のエッジ(信号がゼロレベルを横切る点)に隣接するマーク長の長さが長いほど大きくなるように重み付けされたパルス信号を生成する工程と,
    前記パルス信号を所定の期間積算することによって,トラッキング誤差信号を生成する工程と,
    前記トラッキング誤差信号を用いてトラッキング制御を行う工程と,
    を有し,
    前記パルス信号は,前記第1の再生信号と前記第2の再生信号の平均レベル信号がゼロレベルを横切ってから次に再びゼロレベルを横切るまでの幅を有し,当該パルス信号の起点となる時刻における前記第1の再生信号の信号レベルと前記第2の再生信号の信号レベルの差に比例する大きさを有する
    ことを特徴とする光ディスク再生方法。
  4. 光源と,
    対物レンズと,
    前記光源からの光を前記対物レンズを通して光ディスクに照射する照射光学系と,
    4分割光検出器と,
    光ディスクによって反射された光を前記対物レンズを通して前記4分割光検出器に入射させる検出光学系と,
    前記4分割光検出器の対角に位置する分割素子の出力の和信号である第1の再生信号と第2の再生信号とからトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成回路と,
    前記トラッキング誤差信号生成回路によって生成されたトラッキング誤差信号によって前記対物レンズを駆動するレンズアクチュエータとを有し,
    前記トラッキング誤差信号生成回路は,前記4分割光検出器の対角に位置する分割素子の出力の和信号である第1の再生信号と第2の再生信号とから,前記第1の再生信号と第2の再生信号の位相差情報を含み,面積が前記第1および第2の再生信号のエッジに隣接するマーク長の長さが長いほど大きくなるように重み付けされたパルス信号を生成し,それを所定の期間積算することによって,トラッキング誤差信号を生成し、
    前記パルス信号は,前記第1の再生信号のエッジから次の前記第2の再生信号のエッジまでの幅を有し,前記第1の再生信号のエッジ時刻における前記第2の再生信号の信号レベルと前記第2の再生信号のエッジ時刻における前記第1の再生信号の信号レベルの和に比例する高さを有する
    ことを特徴とする光ディスク再生装置。
  5. 光源と,
    対物レンズと,
    前記光源からの光を前記対物レンズを通して光ディスクに照射する照射光学系と,
    4分割光検出器と,
    光ディスクによって反射された光を前記対物レンズを通して前記4分割光検出器に入射させる検出光学系と,
    前記4分割光検出器の対角に位置する分割素子の出力の和信号である第1の再生信号と第2の再生信号とからトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成回路と,
    前記トラッキング誤差信号生成回路によって生成されたトラッキング誤差信号によって前記対物レンズを駆動するレンズアクチュエータとを有し,
    前記トラッキング誤差信号生成回路は,前記4分割光検出器の対角に位置する分割素子の出力の和信号である第1の再生信号と第2の再生信号とから,前記第1の再生信号と第2の再生信号の位相差情報を含み,面積が前記第1および第2の再生信号のエッジに隣接するマーク長の長さが長いほど大きくなるように重み付けされたパルス信号を生成し,それを所定の期間積算することによって,トラッキング誤差信号を生成し、
    前記パルス信号は,前記第2の再生信号のエッジから次の前記第1の再生信号のエッジまでの幅を有し,前記第2の再生信号のエッジ時刻における前記第1の再生信号の信号レベルとその直前の前記第1の再生信号のエッジ時刻における前記第2の再生信号の信号レベルの差に比例する高さを有する
    ことを特徴とする光ディスク再生装置。
  6. 光源と,
    対物レンズと,
    前記光源からの光を前記対物レンズを通して光ディスクに照射する照射光学系と,
    4分割光検出器と,
    光ディスクによって反射された光を前記対物レンズを通して前記4分割光検出器に入射させる検出光学系と,
    前記4分割光検出器の対角に位置する分割素子の出力の和信号である第1の再生信号と第2の再生信号とからトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成回路と,
    前記トラッキング誤差信号生成回路によって生成されたトラッキング誤差信号によって前記対物レンズを駆動するレンズアクチュエータとを有し,
    前記トラッキング誤差信号生成回路は,前記4分割光検出器の対角に位置する分割素子の出力の和信号である第1の再生信号と第2の再生信号とから,前記第1の再生信号と第2の再生信号の位相差情報を含み,面積が前記第1および第2の再生信号のエッジに隣接するマーク長の長さが長いほど大きくなるように重み付けされたパルス信号を生成し,それを所定の期間積算することによって,トラッキング誤差信号を生成し、
    前記パルス信号は,前記第1の再生信号と前記第2の再生信号の平均レベル信号がゼロレベルを横切ってから次に再びゼロレベルを横切るまでの幅を有し,当該パルスの起点となる時刻における前記第1の再生信号の信号レベルと前記第2の再生信号の信号レベルの差に比例する大きさを有する
    ことを特徴とする光ディスク再生装置。
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