JP4784663B2 - 光ピックアップ及び光ディスク装置 - Google Patents

Description

本発明は光ピックアップ及び光ディスク装置に関し、例えば複数の記録層を有する光ディスクに対応する光ディスク装置に適用して好適なものである。

従来、光ディスク装置においては、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）及びＢｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標、以下ＢＤと呼ぶ）等のように、光ディスクに対して光ビームを照射し、その反射光を読み取ることにより情報を再生するようになされたものが広く普及している。

この光ディスクには、記録すべき情報が符号化されると共に変調された上で、螺旋状又は同心円状に形成されたトラックにピット等として記録されるようになされている。

そこで光ディスク装置では、対物レンズにより光ビームを集光し、光ディスクから情報を再生する際、光ディスクの記録層に螺旋状又は同心円状に形成されているトラックに対し、当該光ビームの焦点を合わせるようになされている。

このとき光ディスク装置は、フォトディテクタに所定形状の受光領域を設けるなどして反射光を受光する。光ディスク装置は、その受光結果を基に、光ビームを照射すべきトラック（以下これを目標トラックと呼ぶ）と光ビームの焦点との、フォーカス方向及びトラッキング方向に関するずれ量を表すフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をそれぞれ算出する。

続いて光ディスク装置は、フォーカスエラー信号を基に対物レンズをフォーカス方向へ移動すると共に、トラッキングエラー信号を基に当該対物レンズをトラッキング方向へ移動することにより、光ビームの焦点を目標トラックに合わせるようになされている。

ところで光ディスクのなかには、２層の記録層を有し、各記録層でそれぞれ所定の反射率で光ビームを反射するものがある。このような光ディスクに対し、光ディスク装置は、所望の記録層に光ビームの焦点を合わせるよう制御した上で、その反射光を検出するようになされている。

ここで光ディスク装置は、所望の記録層と異なる他の記録層において光ビームの一部が反射されてなる層間迷光が、フォトディテクタの受光領域に照射されてしまう場合がある。このとき光ディスク装置は、この層間迷光によってトラッキングエラー信号に誤差を生じトラッキング制御を正しく行い得ないおそれがある。

また光ディスクについては、記録容量を増加させるために、例えば４層や６層の記録層を設けることが考えられる。かかる光ディスクでは、従来の２層の記録層を有する光ディスクにおける層間隔と比較して、最も近接した（すなわち隣接する）記録層同士の層間隔が狭まり、また最も離隔した記録層同士の層間隔が広がることが考えられる。

このため光ディスク装置では、所望の記録層と他の記録層との層間距離に応じて、層間迷光の照射状態がそれぞれ相違することになる。

そこで、光ディスク装置のなかには、光ディスクにおける記録層が増加した場合にも層間迷光による影響を回避するべく、いわゆる１ビームプッシュプル法を利用したものが提案されている（例えば、特許文献１参照）。

この光ディスク装置では、図１に示すようにホログラム素子１等を用いて反射光の領域毎に異なる方向（図中矢印で示す）へ回折させ、図２に示すようにフォトディテクタ２に複数設けられた受光領域により反射光の領域毎に受光するようになされている。

図１及び図２に示したように、この光ディスク装置は、反射光のうちいわゆるプッシュプル成分が含まれる領域（メイン領域）といわゆるレンズシフト成分が含まれる領域（サブ領域）とを相違する方向へ回折させている。

これにより光ディスク装置は、いずれの記録層を所望の記録層としている場合であっても、受光領域に対する層間迷光（図中破線で示す）の照射を防止し、或いは照射された際にもトラッキングエラー信号等における誤差の発生を防止できるようになされている。

特開２００８−１３５１５１公報（第８図）

ところで光ディスク装置は、その原理上、対物レンズをトラッキング方向へ移動させるトラッキング制御を行ったとき、すなわちレンズシフトが発生したときにも、層間迷光の照射状態が変化してしまう。

また光ディスク装置では、所望の記録層との層間隔が狭い他の記録層からの層間迷光は、反射光ビームとの光路長差が小さいため照射範囲が狭まり、フォトディテクタの受光領域に近接する。

このため光ディスク装置では、図２と対応する図３に示すように、レンズシフトが発生した場合、所望の記録層との層間隔が狭い他の記録層による層間迷光が受光領域にかかってしまうおそれがある。

このような場合、光ディスク装置では、やはりトラッキングエラー信号に誤差を生じてしまうため、トラッキング制御の精度が低下してしまう、という問題があった。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光ディスクが多数の記録層を有しレンズシフトが発生したときにも高精度なトラッキング制御を行い得る受光信号を生成できる光ピックアップ及び光ディスクが多数の記録層を有しレンズシフトが発生したときにも高精度なトラッキング制御を行い得る光ディスク装置を提案しようとするものである。

かかる課題を解決するため本発明の光ピックアップにおいては、光ビームを出射する光源と、光ディスクに複数設けられた記録層のうち対象とする対象記録層に光ビームを集光する対物レンズと、対物レンズを、対象記録層に螺旋状又は同心円状に形成されたトラック溝とほぼ直交するトラッキング方向へ移動させるレンズ移動部と、光ビームが光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを集光する集光レンズと、反射光ビームを回折させて反射０次光ビーム及び反射１次光ビームに分離する際、反射１次光ビームのうちトラック溝により回折された＋１次光が含まれる部分に対応する第１領域により当該反射１次光ビームの一部を所定の第１方向へ回折させて第１ビームとし、反射１次光ビームのうちトラック溝により回折された−１次光が含まれる部分に対応する第２領域により当該反射１次光ビームの一部を第１方向と相違する第２方向へ回折させて第２ビームとし、反射１次光ビームのうちトラック溝により回折された＋１次光及び−１次光が殆ど含まれず光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第３領域により当該反射１次光ビームの一部を第１方向及び第２方向のいずれとも相違する第３方向へ回折させて第３ビームとし、反射１次光ビームのうちトラック溝により回折された＋１次光及び−１次光が殆ど含まれず光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第４領域により当該反射１次光ビームの一部を上記第３方向と同一又は相違する第４方向へ回折させて第４ビームとする回折光学素子と、光ビームの一部が光ディスクにおける対象記録層と異なる他の記録層により反射されてなる層間迷光のうち回折光学素子により回折されずに透過する０次迷光により形成される０次迷光スポットの最大となるときの半径をｒ２としたとき、反射０次光ビームの照射位置における第１方向側及び第２方向側であって反射０次光ビームの照射位置から半径ｒ２よりも離れ、且つ０次迷光スポットが最小となるときに層間迷光が回折光学素子の第１領域及び第２領域でそれぞれ回折されることにより形成される第１迷光スポット及び第２迷光スポットの照射範囲を避けた箇所にそれぞれ設けられた第１受光領域及び第２受光領域により、第１ビーム及び第２ビームをそれぞれ受光して受光信号を生成すると共に、反射０次光ビームの照射位置における第３方向側に設けられた第３受光領域及び反射０次光ビームの照射位置における第４方向側に設けられた第４受光領域により、第３ビーム及び第４ビームをそれぞれ受光して受光信号を生成する光検出器とを有し、所定の信号処理部により、第１受光領域、第２受光領域、第３受光領域及び第４受光領域によりそれぞれ生成された受光信号を基に、トラッキング方向に関する光ビームの焦点とトラック溝の中心線とのずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成させ、所定のサーボ制御部により、トラッキングエラー信号を基にレンズ移動部を介して対物レンズをトラッキング方向へ移動させるようにした。

本発明の光ピックアップは、第１受光領域と、第２受光領域と、第３受光領域及び第４受光領域とを互いに離隔させながら、それぞれ第１ビーム、第２ビーム、第３ビーム及び第４ビームを受光することができる。さらに光ピックアップは、光ビームを集光する記録層と最も近接し又は最も離隔した記録層のいずれにより生じた層間迷光についても、光学回折素子の第２領域に起因した層間迷光の第１受光領域に対する照射及び光学回折素子の第１領域に起因した層間迷光の第２受光領域に対する照射をそれぞれ回避できる。

また本発明の光ディスク装置においては、光ビームを出射する光源と、光ディスクに複数設けられた記録層のうち対象とする対象記録層に光ビームを集光する対物レンズと、対物レンズを、対象記録層に螺旋状又は同心円状に形成されたトラック溝とほぼ直交するトラッキング方向へ移動させるレンズ移動部と、光ビームが光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを集光する集光レンズと、反射光ビームを回折させて反射０次光ビーム及び反射１次光ビームに分離する際、反射１次光ビームのうちトラック溝により回折された＋１次光が含まれる部分に対応する第１領域により当該反射１次光ビームの一部を所定の第１方向へ回折させて第１ビームとし、反射１次光ビームのうちトラック溝により回折された−１次光が含まれる部分に対応する第２領域により当該反射１次光ビームの一部を第１方向と相違する第２方向へ回折させて第２ビームとし、反射１次光ビームのうちトラック溝により回折された＋１次光及び−１次光が殆ど含まれず光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第３領域により当該反射１次光ビームの一部を第１方向及び第２方向のいずれとも相違する第３方向へ回折させて第３ビームとし、反射１次光ビームのうちトラック溝により回折された＋１次光及び−１次光が殆ど含まれず光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第４領域により当該反射１次光ビームの一部を上記第３方向と同一又は相違する第４方向へ回折させて第４ビームとする回折光学素子と、光ビームの一部が光ディスクにおける対象記録層と異なる他の記録層により反射されてなる層間迷光のうち回折光学素子により回折されずに透過する０次迷光により形成される０次迷光スポットの最大となるときの半径をｒ２としたとき、反射０次光ビームの照射位置における第１方向側及び第２方向側であって反射０次光ビームの照射位置から半径ｒ２よりも離れ、且つ０次迷光スポットが最小となるときに層間迷光が回折光学素子の第１領域及び第２領域でそれぞれ回折されることにより形成される第１迷光スポット及び第２迷光スポットの照射範囲を避けた箇所にそれぞれ設けられた第１受光領域及び第２受光領域により、第１ビーム及び第２ビームをそれぞれ受光して受光信号を生成すると共に、反射０次光ビームの照射位置における第３方向側に設けられた第３受光領域及び反射０次光ビームの照射位置における第４方向側に設けられた第４受光領域により、第３ビーム及び第４ビームをそれぞれ受光して受光信号を生成する光検出器と、第１受光領域、第２受光領域、第３受光領域及び第４受光領域によりそれぞれ生成された受光信号を基に、トラッキング方向に関する光ビームの焦点とトラック溝の中心線とのずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成する信号処理部と、トラッキングエラー信号を基にレンズ移動部を介して対物レンズをトラッキング方向へ移動させるサーボ制御部とを設けるようにした。

これにより本発明の光ディスク装置は、第１受光領域と、第２受光領域と、第３受光領域及び第４受光領域とを互いに離隔させながら、それぞれ第１ビーム、第２ビーム、第３ビーム及び第４ビームを受光することができる。さらに光ディスク装置は、光ビームを集光する記録層と最も近接し又は最も離隔した記録層のいずれにより生じた層間迷光についても、光学回折素子の第２領域に起因した層間迷光の第１受光領域に対する照射及び光学回折素子の第１領域に起因した層間迷光の第２受光領域に対する照射をそれぞれ回避できる。

本発明によれば、第１受光領域と、第２受光領域と、第３受光領域及び第４受光領域とを互いに離隔させながら、それぞれ第１ビーム、第２ビーム、第３ビーム及び第４ビームを受光することができる。さらに本発明では、光ビームを集光する記録層と最も近接し又は最も離隔した記録層のいずれにより生じた層間迷光についても、光学回折素子の第２領域に起因した層間迷光の第１受光領域に対する照射及び光学回折素子の第１領域に起因した層間迷光の第２受光領域に対する照射をそれぞれ回避できる。かくして本発明は、光ディスクが多数の記録層を有しレンズシフトが発生したときにも高精度なトラッキング制御を行い得る受光信号を生成できる光ピックアップ及び光ディスクが多数の記録層を有しレンズシフトが発生したときにも高精度なトラッキング制御を行い得る光ディスク装置を実現できる。

従来のホログラム素子の構成を示す略線図である。 従来の層間迷光の照射の様子（１）を示す略線図である。 従来の層間迷光の照射の様子（２）を示す略線図である。 光ディスク装置の全体構成を示す略線図である。 光ディスクにおける反射光ビーム及び層間迷光ビームの発生の説明に供する略線図である。 光ピックアップの構成を示す略線図である。 ホログラム素子の構成を示す略線図である。 第１の実施の形態による反射光ビームの分離の様子を示す略線図である。 第１の実施の形態による光検出器の構成を示す略線図である。 迷光パターンの形成（１）の説明に供する略線図である。 迷光パターンの形成（２）の説明に供する略線図である。 迷光パターンの形成（３）の説明に供する略線図である。 他層回折迷光パターンの形成の説明に供する略線図である。 レンズシフトによる反射光ビームの照射位置の移動の説明に供する略線図である。 迷光パターンの形成（４）の説明に供する略線図である。 従来の他層回折迷光パターンの形成の説明に供する略線図である。 迷光パターンの形成（５）の説明に供する略線図である。 迷光パターンの形成（６）の説明に供する略線図である。 レンズシフトが生じた際の迷光層間隔と光量との関係を示す略線図である。 第３の実施の形態による反射光ビームの分離の様子を示す略線図である。 第３の実施の形態による光検出器の構成を示す略線図である。 第３の実施の形態による迷光パターンの形成の説明に供する略線図である。

以下、発明を実施するための形態（以下実施の形態とする）について、図面を用いて説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．第１の実施の形態（プッシュプル成分の受光領域近傍に設けた迷光受光領域の受光結果を用いる例）
２．第２の実施の形態（レンズシフト成分の受光領域近傍に設けた迷光受光領域の受光結果をも用いる例）
３．第３の実施の形態（反射光ビームの一部領域について０次光を生成しない例）
４．他の実施の形態

＜１．第１の実施の形態＞
［１−１．光ディスク装置の構成］
図４に示すように、光ディスク装置１０は、統括制御部１１を中心に構成されており、光ディスク１００に対して情報を記録し、また当該光ディスク１００から情報を再生し得るようになされている。

光ディスク１００は、図５（Ａ）に断面図を示すように、例えば４層の記録層Ｙ０、Ｙ１、Ｙ２及びＹ３（以下、これらをまとめて記録層Ｙと呼ぶ）を有している。各記録層Ｙは、螺旋状又は同心円状のトラック溝が形成されており、当該トラック溝に沿って情報が記録されるようになされている。

統括制御部１１は、図示しないＣＰＵ(Central Processing Unit)と、各種プログラム等が格納されるＲＯＭ(Read Only Memory)と、当該ＣＰＵのワークメモリとして用いられるＲＡＭ(Random Access Memory)とによって構成されている。

統括制御部１１は、光ディスク１００から情報を再生する場合、駆動制御部１２を介してスピンドルモータ１５を回転駆動させ、ターンテーブル１５Ｔに載置された光ディスク１００を所望の速度で回転させる。

また統括制御部１１は、駆動制御部１２を介してスレッドモータ１６を駆動させることにより、光ピックアップ１７を移動軸に沿ってトラッキング方向、すなわち光ディスク１００の内周側又は外周側へ向かう方向へ大きく移動させるようになされている。

光ピックアップ１７は、対物レンズ１８や２軸アクチュエータ１９等の複数の部品が取り付けられており、統括制御部１１の制御に基づいて光ディスク１００へ光ビームを照射するようになされている。

因みに統括制御部１１は、光ディスク１００に光ビームを照射する場合、記録層Ｙ０〜Ｙ３のうち情報を読み出す対象とする記録層Ｙ、すなわち光ビームの焦点を合わせるべき記録層Ｙを対象記録層ＹＴとして選定するようになされている。

また光ピックアップ１７は、光ビームが光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを受光し、その受光結果に応じた受光信号を生成して信号処理部１３へ供給するようになされている。

信号処理部１３は、供給された受光信号を用いた所定の演算処理を行うことによりフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をそれぞれ生成し、これらを駆動制御部１２へ供給する。

駆動制御部１２のサーボ制御部１２Ａは、供給されたフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を基に、対物レンズ１８を駆動するための駆動信号を生成し、これを光ピックアップ１７の２軸アクチュエータ１９へ供給する。

光ピックアップ１７の２軸アクチュエータ１９は、この駆動信号に基づいて対物レンズ１８のフォーカス制御及びトラッキング制御を行い、当該対物レンズ１８により集光される光ビームの焦点位置を調整するようになされている。

また駆動制御部１２は、統括制御部１１から対象記録層ＹＴの通知を受け、当該対象記録層ＹＴに当該光ビームの焦点を合わせるようフォーカス制御を行うようになされている。

信号処理部１３は、受光信号に対し所定の演算処理、復調処理及び復号化処理等を施すことにより、光ディスク１００に記録されている情報を再生し得るようになされている。

また統括制御部１１は、光ディスク１００に情報を記録する場合、図示しない外部機器等から記録すべき情報を受け付け、これを信号処理部１３へ供給する。信号処理部１３は、当該情報に対し所定の符号化処理や変調処理等を施すことにより記録用信号を生成し、これを光ピックアップ１７へ供給する。

光ピックアップ１７は、光ビームを記録用の強度とすると共に記録用信号に応じて変調させることにより、記録用信号に応じた記録マークを形成していく。例えば光ディスク１００がＢＤ−ＲＥ（Blu-ray Disc-Rewritable）と同様の記録方式の場合、記録層を形成する材料を局所的に相変化させることにより当該記録マークを形成する。

このように光ディスク装置１０は、光ディスク１００に対し光ピックアップ１７から光ビームを照射させ、その反射光を基にフォーカス制御及びトラッキング制御を行いながら、情報の再生処理や記録処理を行い得るようになされている。

［１−２．光ピックアップの構成］
光ピックアップ１７は、図６に示すように、光ディスク１００に光ビームＬ１を照射し、当該光ディスク１００により当該光ビームＬ１が反射されてなる反射光ビームＬＲを受光するようになされている。

レーザダイオード２１は、光源制御部３１の制御の基で、波長約４０５［ｎｍ］の青紫色レーザ光でなる光ビームＬ１を発散光として出射し得るようになされている。またレーザダイオード２１は、光ビームＬ１がＰ偏光となるようにその取付角度等が調整されている。

実際上統括制御部１１は、光源制御部３１を制御することにより、レーザダイオード２１から光ビームＬ１を発射させ、コリメータレンズ２２へ入射させる。コリメータレンズ２２は、光ビームＬ１を発散光から平行光に変換し、偏光ビームスプリッタ２３へ入射させる。

偏光ビームスプリッタ２３は、光ビームの偏光方向に応じて透過率が相違する反射透過面２３Ｓを有しており、Ｐ偏光の光ビームをほぼ全て透過すると共に、Ｓ偏光の光ビームをほぼ全て反射するようになされている。

実際上偏光ビームスプリッタ２３は、反射透過面２３Ｓにより光ビームＬ１をほぼ全て透過させ、球面収差補正部２４へ入射させる。

球面収差補正部２４は、例えば液晶素子でなり、光ビームＬ１の球面収差を変化させ１／４波長板２５へ入射させるようになされている。また球面収差補正部２４は、サーボ制御部１２Ａの球面収差制御部１２ＡＳにより、液晶素子による球面収差の変化度合いを調整し得るようにもなされている。

実際上球面収差補正部２４は、統括制御部１１及び球面収差制御部１２ＡＳの制御に基づき、光ビームＬ１が集光され光ディスク１００の対象記録層ＹＴに到達した際に生じる球面収差と逆特性となるような球面収差を当該光ビームＬ１に予め与える。これにより球面収差補正部２４は、光ビームＬ１の対象記録層ＹＴへの到達時における球面収差を補正し得るようになされている。

１／４波長板２５は、光ビームを直線偏光と円偏光との間で相互変換し得るようになされており、例えばＰ偏光でなる光ビームＬ１を左円偏光に変換し、対物レンズ１８へ入射させる。

対物レンズ１８は、光ビームＬ１を集光する。ここで統括制御部１１は、フォーカス制御部１２ＡＦを介して、フォーカスアクチュエータ９Ｆにより対物レンズ１８のフォーカス方向に関する位置を調整している。このため対物レンズ１８は、光ビームＬ１の焦点Ｆ１を光ディスク１００の対象記録層ＹＴにおおよそ合わせるよう照射する。

このとき光ビームＬ１は、対象記録層ＹＴで反射されることにより、反射光ビームＬＲとなり、対物レンズ１８へ入射される。また反射光ビームＬＲは、円偏光における回転方向が反射時に反転されるため、右円偏光となる。

例えば記録層Ｙ０が対象記録層ＹＴであった場合（図５（Ａ））、光ビームＬ１は、記録層Ｙ０において反射されることにより反射光ビームＬＲとなる。

この後反射光ビームＬＲは、対物レンズ１８により発散光から平行光に変換され、１／４波長板２５により右円偏光からＳ偏光（直線偏光）へ変換され、さらに球面収差補正部２４へ入射される。

球面収差補正部２４は、反射光ビームＬＲが対象記録層ＹＴにより反射されてから対物レンズ１８を通過するまでの間に生じた球面収差を補正し、当該反射光ビームＬＲを偏光ビームスプリッタ２３へ入射させる。

偏光ビームスプリッタ２３は、Ｓ偏光でなる反射光ビームＬＲを反射透過面２３Ｓにおいて反射し、集光レンズ２６へ入射させる。集光レンズ２６は、反射光ビームＬＲを収束光に変換し、ホログラム素子２７へ入射させる。

ホログラム素子２７は、回折素子としての性質により、反射光ビームＬＲを回折させて少なくとも０次光及び１次光に分離する。このときホログラム素子２７は、０次光でなる反射光ビームＬＲ０をほぼ直進させると共に、１次光でなる反射光ビームＬＲ１については０次光と異なる方向へ進行させ、シリンドリカルレンズ２８へ入射させる。

ところで反射光ビームＬＲ（図５）は、光ビームＬ１の焦点Ｆ１が光ディスク１００における所望のトラックに対し内周側又は外周側へ変位した際に、当該トラックの溝構造による回折作用に起因して、図１の斜線部分における光量が変動する。この斜線部分は、プッシュプル領域とも呼ばれ、この斜線部分に相当する光量の成分は、プッシュプル成分とも呼ばれる。

このプッシュプル成分は、光ビームＬ１の焦点Ｆ１が所望のトラックから変位した際の変位量に応じて、その光量が変化することが知られている。そこで光ディスク装置１０では、このプッシュプル成分を検出することにより、対物レンズ１８のトラッキング制御を行うようになされている。

かかるプッシュプル領域と対応するべく、ホログラム素子２７は、図７（Ａ）に示すように反射光ビームＬＲの通過部分が複数の領域２７Ｅ〜２７Ｊに分割されており、また図７（Ｂ）に示すように各領域ごとに反射光ビームＬＲの回折方向が設定されている。

領域２７Ｅは、反射光ビームＬＲ１のうち、光ディスク１００におけるトラックの溝構造により回折された１次回折光（すなわち＋１次光又は−１次光）を多く含み、且つ当該光ディスク１００の内周側部分に相当する部分を反射光ビームＬＲ１Ｅとする。このとき領域２７Ｅは、反射光ビームＬＲ１Ｅをほぼトラックの走行方向に沿った方向（便宜上、以下この方向を縦方向と呼ぶ）から内周側（図の左側）へ傾いた方向へ回折させる。

領域２７Ｆは、反射光ビームＬＲ１のうち、光ディスク１００におけるトラックの溝構造により回折された１次回折光（すなわち−１次光又は＋１次光）を多く含み、且つ当該光ディスク１００の外周側部分に相当する部分を反射光ビームＬＲ１Ｆとする。このとき領域２７Ｆは、反射光ビームＬＲ１Ｆを縦方向から外周側（図の右側）へ傾いた方向へ回折させる。

ここで反射光ビームＬＲ１Ｆの進行方向は、縦方向と直交する横方向に関して反射光ビームＬＲ１Ｅの進行方向とほぼ対称となっている。これを換言すれば、反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆは、縦方向に関しては互いにほぼ同一の方向へ、横方向に関しては互いに反対の方向へそれぞれ進行することになる。

領域２７Ｇ１及び２７Ｇ２は、反射光ビームＬＲ１における、光ディスク１００のトラックにより回折された１次回折光を殆ど含まず、且つ当該反射光ビームＬＲ１の中央部分を除いた領域のうち、当該光ディスク１００の内周側部分に相当する部分を反射光ビームＬＲ１Ｇ１及びＬＲ１Ｇ２とする。このとき領域２７Ｇ１及び２７Ｇ２（以下、これらをまとめて領域２７Ｇと呼ぶ）は、反射光ビームＬＲ１Ｇ１及びＬＲ１Ｇ２（以下、これらをまとめて反射光ビームＬＲ１Ｇと呼ぶ）をほぼ横方向の外周方向（図の右方向）へ回折させる。

領域２７Ｈ１及び２７Ｈ２は、反射光ビームＬＲ１における、光ディスク１００のトラックにより回折された１次回折光を殆ど含まず、且つ当該反射光ビームＬＲ１の中央部分を除いた領域のうち、当該光ディスク１００の外周側部分に相当する部分を反射光ビームＬＲ１Ｈ１およびＬＲ１Ｈ２とする。このとき領域２７Ｈ１及び２７Ｈ２（以下、これらをまとめて領域２７Ｈと呼ぶ）は、反射光ビームＬＲ１Ｈ１及びＬＲ１Ｈ２（以下、これらをまとめて反射光ビームＬＲ１Ｈと呼ぶ）をほぼ横方向の外周方向へ、且つ反射光ビームＬＲ１Ｇよりも僅かに大きく回折させる。

領域２７Ｊは、反射光ビームＬＲ１の中央部分を反射光ビームＬＲ１Ｊとする。このとき領域２７Ｊは、反射光ビームＬＲ１Ｊを縦方向及び横方向のほぼ中間となる斜め方向、すなわち図の右下方向へ回折させる。

かくしてホログラム素子２７は、１次光でなる反射光ビームＬＲ１のうち、プッシュプル成分を含む部分を反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆとし、これらを縦方向の内周側及び外周側へそれぞれ回折させる。

またホログラム素子２７は、反射光ビームＬＲ１のうち、プッシュプル成分を殆ど含まず、且つトラックの走行方向における前後部分を反射光ビームＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈとし、これらを横方向へそれぞれ回折させる。

因みにホログラム素子２７は、各領域２７Ｅ〜２７Ｊにいわゆるバイナリ型のホログラムが形成されているため、実際には回折作用によりそれぞれ＋１次光及び−１次光が生じる。しかしながら光ピックアップ１７では、１次回折光としては、＋１次光又は−１次光のいずれか一方のみを利用するようになされており、他方は利用しないようになされている。

このようにホログラム素子２７は、反射光ビームＬＲ１を領域ごとに設定された方向へ回折させることにより、複数の反射光ビームＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊに分割し互いに分離させるようになされている。

シリンドリカルレンズ２８は、０次光でなる反射光ビームＬＲ０に非点収差を持たせ、光検出器２９へ照射する。

因みにシリンドリカルレンズ２８は、その光学的性質により、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｅ、ＬＲ１Ｆ、ＬＲ１Ｇ、ＬＲ１Ｈ及びＬＲ１Ｊについても同様に非点収差を持たせることになる。しかしながら反射光ビームＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊは、ホログラム素子２７に形成された回折格子により、予め当該非点収差を相殺するような収差が与えられ、これによりシリンドリカルレンズ２８から出射される時点で収差を殆ど持たないようになされている。

ここで、反射光ビームＬＲがホログラム素子２７により分割され光検出器２９に照射される様子を模式的に表すと、図８のようになる。

光検出器２９は、図９に示すように、複数の受光部ＤＡ、ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ、ＤＨ及びＤＪが形成され、さらに各受光部にそれぞれ複数の受光領域が形成されている。

受光部ＤＡは、０次光でなる反射光ビームＬＲ０の光軸に対応する基準点Ｐ２を中心に、縦方向及び横方向にそれぞれ２分割された、すなわち格子状に４分割された受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤにより構成されている。因みに受光領域ＲＡ〜ＲＤは、いずれもほぼ同等の大きさでなる略正方形状に形成されている。

受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤは、反射光ビームＬＲ０により形成されるスポットＴＡの一部をそれぞれ受光し、その受光量に応じた受光信号ＳＡ、ＳＢ、ＳＣ及びＳＤをそれぞれ生成してヘッドアンプ３２（図６）へ送出するようになされている。

受光部ＤＥは、全体として縦方向に長い長方形状に形成されると共に、縦方向に３分割されている。受光部ＤＥの中央部分は、略正方形状の受光領域ＲＥとなっており、その両端部分は、それぞれ縦方向に短い迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２となっている。

すなわち受光部ＤＥでは、中央に受光領域ＲＥが配置されると共に、横方向に関して当該受光領域ＲＥとほぼ同等の範囲に渡り当該受光領域ＲＥに隣接して迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２が配置されている。

受光領域ＲＥは、反射光ビームＬＲ１Ｅにより形成されるスポットＴＥを受光し、その受光量に応じた受光信号ＳＥを生成してヘッドアンプ３２（図６）へ送出するようになされている。また迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２は、それぞれの受光量の加算値に相当する受光信号ＳＥＮを生成してヘッドアンプ３２へ送出するようになされている。

受光部ＤＦは、基準点Ｐ２を通り縦方向に延長された仮想的な直線Ｖ１を対称軸として、受光部ＤＥとほぼ対称な位置に設けられている。また受光部ＤＦは、受光部ＤＥと同様の形状になされており、受光領域ＲＥ並びに迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２とそれぞれ対応する受光領域ＲＦ並びに迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２により構成されている。

受光領域ＲＦは、反射光ビームＬＲ１Ｆにより形成されるスポットＴＦを受光し、その受光量に応じた受光信号ＳＦを生成してヘッドアンプ３２（図６）へ送出するようになされている。また迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２は、それぞれの受光量の加算値に相当する受光信号ＳＦＮを生成してヘッドアンプ３２へ送出するようになされている。

受光部ＤＧは、基準点Ｐ２を通り横方向に延長された仮想的な直線Ｖ２上に配置されている。受光部ＤＧは、受光部ＤＥと同様、全体として縦方向に長い長方形状に形成されると共に、縦方向に３分割されている。受光部ＤＧの中央部分は、略正方形状の受光領域ＲＧとなっており、その両端部分は、それぞれ縦方向に短い迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２となっている。

すなわち受光部ＤＧでは、受光部ＤＥと同様、中央に受光領域ＲＧが配置されると共に、当該受光領域ＲＧに対して縦方向にそれぞれ隣接して迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２が配置されている。

受光領域ＲＧは、反射光ビームＬＲ１Ｇ１及びＬＲ１Ｇ２により形成されるスポットＴＧ１及びＴＧ２を受光し、その受光量に応じた受光信号ＳＧを生成してヘッドアンプ３２（図６）へ送出するようになされている。また迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２は、それぞれの受光量の加算値に相当する受光信号ＳＧＮを生成してヘッドアンプ３２へ送出するようになされている。

受光部ＤＨは、仮想的な直線Ｖ２上における、基準点Ｐ２から見て受光部ＤＧよりも遠方に、当該受光部ＤＧからやや離隔するよう配置されている。また受光部ＤＨは、受光部ＤＧと同様の形状になされており、受光領域ＲＧ並びに迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２とそれぞれ対応する受光領域ＲＨ並びに迷光受光領域ＲＨＮ１及びＲＨＮ２により構成されている。

受光領域ＲＨは、反射光ビームＬＲ１Ｈ１及びＬＲ１Ｈ２により形成されるスポットＴＨ１及びＴＨ２を受光し、その受光量に応じた受光信号ＳＨを生成してヘッドアンプ３２（図６）へ送出するようになされている。また迷光受光領域ＲＨＮ１及びＲＨＮ２は、それぞれの受光量の加算値に相当する受光信号ＳＨＮを生成してヘッドアンプ３２へ送出するようになされている。

受光部ＤＪは、基準点Ｐ２から斜め方向（すなわち縦方向及び横方向のほぼ中間となる方向）における、当該基準点Ｐ２から離隔し、且つ受光部ＤＦからもやや離隔した箇所に配置されている。

受光部ＤＪは、格子状に４分割された受光領域ＲＪＡ、ＲＪＢ、ＲＪＣ及びＲＪＤにより反射光ビームＬＲ１Ｊを受光するようになされている。因みに受光部ＤＪにおける各受光領域の分割方向は、受光部ＤＡにおける分割方向と約４５度の角度をなすようになされている。また受光領域ＲＪＡ〜ＲＪＤは、いずれもほぼ同等の大きさでなる略正方形状に形成されている。

受光領域ＲＪＡ、ＲＪＢ、ＲＪＣ及びＲＪＤは、それぞれの受光量に応じた受光信号ＳＪＡ、ＳＪＢ、ＳＪＣ及びＳＪＤを生成し、これらをヘッドアンプ３２（図６）へ送出するようになされている。

このように光検出器２９は、受光部ＤＡ及びＤＥ〜ＤＪの各受光領域Ｒにより、それぞれの受光量に応じた受光信号Ｓをそれぞれ生成してヘッドアンプ３２へ送出するようになされている。

因みに光ピックアップ１７では、集光レンズ２６及びホログラム素子２７の設計等により、反射光ビームＬＲ０、ＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊが光検出器２９の照射面付近においてそれぞれ焦点を結ぶようになされている。

［１−３．迷光の照射と受光部の配置］
ところで光ディスク１００（図５）は、記録層Ｙ１〜Ｙ３において常にそれぞれ所定の反射率で光ビームＬを反射すると共にその残りを透過し、記録層Ｙ１を透過した光ビームＬ１を記録層Ｙ０において反射するようになされている。

このため光ビームＬ１は、光ディスク装置１０により例えば記録層Ｙ０が対象記録層ＹＴとして選定されていたとしても、常に他の記録層Ｙ１〜Ｙ３によってもそれぞれ反射されることになる。このように、他の記録層Ｙ１〜Ｙ３により光ビームＬ１の一部が反射されてなる光ビームを層間迷光ビームＬＮと呼ぶ。

層間迷光ビームＬＮは、反射光ビームＬＲと同様の光路を通り、ホログラム素子２７により回折された上で、最終的に光検出器２９に照射される。

しかしながら層間迷光ビームＬＮは、反射光ビームＬＲと比較して、対物レンズ１８から光ビームＬ１として出射されてから再び対物レンズ１８へ入射されるまでの光路長が相違する。このため層間迷光ビームＬＮは、対物レンズ１８へ入射される際の収束状態（発散状態）が反射光ビームＬＲと相違する。

一方、光ピックアップ１７では、反射光ビームＬＲについて、光検出器２９が対象記録層ＹＴの共焦点となるように各種光学部品の配置や光学特性等が定められている。

このため層間迷光ビームＬＮは、ホログラム素子２７により反射光ビームＬＲと同様の分割パターンに分割され、且つ焦点が外れた状態、いわゆるデフォーカスした状態で光検出器２９に照射される。

また光ディスク１００は、他の記録層Ｙを複数（この場合は３層）有している。このため層間迷光ビームＬＮは、反射された記録層Ｙ（すなわち記録層Ｙ１〜Ｙ３）に応じて、反射光ビームＬＲとの光路長差も相違し、光検出器２９上に照射されたときのデフォーカスの状態が相違することになる。

すなわち光検出器２９では、層間迷光ビームＬＮを生じた記録層Ｙと対象記録層ＹＴとの層間隔により、当該層間迷光ビームＬＮの照射パターン（以下これを迷光パターンＷと呼ぶ）が相違する。

以下では、対象記録層ＹＴと層間迷光ビームＬＮを生じた記録層Ｙとの層間隔が広い場合及び狭い場合のそれぞれについて、迷光パターンＷが照射される様子を説明する。

［１−３−１．層間隔が広い場合］
ここでは、まず光ディスク１００における最も奥側の記録層Ｙ０が対象記録層ＹＴとして選定され、光ビームＬ１の焦点Ｆ１が当該記録層Ｙ０に合焦している場合を想定する（図５（Ａ））。

この場合、最も手前側の記録層Ｙ３により光ビームＬ１が反射されてなる層間迷光ビームＬＮ（以下これを層間迷光ビームＬＮ３と呼ぶ）は、光検出器２９上において、図１０に示すような迷光パターン群Ｗ３を形成する。

この迷光パターン群Ｗ３は、ホログラム素子２７により０次光の迷光パターンＷＡが形成されている。また迷光パターン群Ｗ３は、ホログラム素子２７の領域２７Ｅ、２７Ｆ、２７Ｇ１、２７Ｇ２、２７Ｈ１及び２７Ｈ２により１次光の迷光パターンＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２がそれぞれ形成されている。

迷光パターンＷＥは、迷光パターンＷＡと同等の半径でなりスポットＴＥの照射位置を中心とした仮想的な迷光パターンＶＷＥ（図中一点鎖線で示す）のうち、ホログラム素子２７の領域２７Ｅに対応する部分となっている。他の迷光パターンＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２についても同様である。

ここで記録層Ｙ３（図５（Ａ））は、対象記録層ＹＴである記録層Ｙ０から最も離隔した記録層Ｙである。すなわち各記録層Ｙによる層間迷光ビームＬＮと反射光ビームＬＲとの光路長差は、層間迷光ビームＬＮ３についての光路長差が最長となる。

このため迷光パターン群Ｗ３は、各層間迷光ビームＬＮによりそれぞれ形成される迷光パターン群Ｗのうち、最も拡大されたものとなる。

そこで光検出器２９の受光部ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ及びＤＨは、この迷光パターン群Ｗ３に関し、迷光パターンＷＡ、ＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２のいずれにもかからないように大きさや配置等が定められている。

次に、図５（Ａ）と対応する図５（Ｂ）に示すように、光ディスク１００における最も手前側の記録層Ｙ３が対象記録層ＹＴとして選定され、光ビームＬ１の焦点Ｆ１が当該記録層Ｙ３に合焦している場合を想定する。

この場合、最も奥側の記録層Ｙ０により光ビームＬ１が反射されてなる層間迷光ビームＬＮ（以下これを層間迷光ビームＬＮ０と呼ぶ）は、光検出器２９上において、図１０と対応する図１１に示すような迷光パターン群Ｗ０を形成する。

この迷光パターン群Ｗ０は、迷光パターン群Ｗ３の場合と同様、ホログラム素子２７により０次光の迷光パターンＷＡが形成されている。また迷光パターン群Ｗ０は、ホログラム素子２７の領域２７Ｅ、２７Ｆ、２７Ｇ１、２７Ｇ２、２７Ｈ１及び２７Ｈ２により１次光の迷光パターンＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２がそれぞれ形成されている。

このとき層間迷光ビームＬＮ０の光路長は、反射光ビームＬＲの光路長よりも延長されている。このため層間迷光ビームＬＮ０は、集光レンズ２６により集光されると、反射光ビームＬＲよりも手前で、すなわち光検出器２９に到達する前に一度焦点を結び、その後発散光となる。このとき層間迷光ビームＬＮ０の像（すなわち断面の形状）は、光軸を中心に１８０度回転する。

このため、例えば迷光パターン群Ｗ０（図１１）における迷光パターンＷＥは、迷光パターン群Ｗ３（図１０）の迷光パターンＷＥと比較して、スポットＴＥの照射位置を中心に１８０度回転されたような状態で形成されている。他の迷光パターンＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２についても同様である。

因みに、迷光パターン群Ｗ３及び迷光パターン群Ｗ０に関して、迷光パターンＷＡは円形状であるため、また迷光パターンＷＪは長方形状であるために、いずれも１８０度回転されても同等の形状となる。

このように迷光パターン群Ｗ０（図１１）は、迷光パターンＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２の形成位置及び方向が迷光パターン群Ｗ３（図１０）と相違している。

すなわち層間迷光ビームＬＮは、反射光ビームＬＲとの光路長差が同等であっても、当該反射光ビームＬＲよりも光路長が延長されているか或いは短縮されているかにより、光検出器２９上に照射されたときに形成する迷光パターンの形状が相違することになる。

そこで光検出器２９の受光部ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ及びＤＨは、迷光パターン群Ｗ３に加えて迷光パターン群Ｗ０についても、迷光パターンＷＡ、ＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２のいずれにもかからないよう配置されている。

ここでは、光検出器２９において受光部ＤＥ及びＤＦが迷光パターンＷＥ及びＷＦをいずれも回避するための具体的な回避条件について検討する。

まず、ホログラム素子２７（図７）における、領域２７Ｈ１及び２７Ｈ２の境界線と、領域２７Ｆ及び２７Ｊの境界線との間隔をｄ１とし、反射光ビームＬＲの半径をｒ１とする。また光検出器２９（図１０）における、受光部ＤＥ及びＤＦの間隔（すなわち受光領域ＲＥ及びＲＦの間隔又はスポットＴＥ及びＴＦの間隔）をｄ２とし、迷光パターンＷＡの半径をｒ２とする。

次に、ホログラム素子２７における反射光ビームＬＲの半径ｒ１と光検出器２９における迷光パターンＷＡの半径ｒ２が同等であったと仮定する。このときの回避条件は、「間隔ｄ２が半径ｒ１及び間隔ｄ１の加算値よりも大きいこと」となる。

実際上、半径ｒ１及び半径ｒ２は、光ピックアップ１７の光学的設計等により、互いに相違する。そこで上述した回避条件に半径ｒ１及び半径ｒ２の比率を反映させると、次に示す（１）式のように表すことができる。

この（１）式を変形すると、次に示す（２）式が得られる。

そこで光検出器２９は、受光部ＤＥ及びＤＦの間隔ｄ２について、この（２）式を満たすように設計されている。

［１−３−２．層間隔が狭い場合］
次に、再び光ディスク１００における記録層Ｙ０が対象記録層ＹＴとして選定され、光ビームＬ１の焦点Ｆ１が当該記録層Ｙ０に合焦している場合（図５（Ａ））を想定する。

この場合、当該記録層Ｙ０に近い、すなわち層間隔が狭い記録層Ｙ１により光ビームＬ１が反射されてなる層間迷光ビームＬＮ（以下これを層間迷光ビームＬＮ１と呼ぶ）は、光検出器２９上において、図１０と対応する図１２に示すような迷光パターン群Ｗ１を形成する。

この迷光パターン群Ｗ１は、迷光パターン群Ｗ３の場合と同様、ホログラム素子２７により０次光の迷光パターンＷＡが形成されている。また迷光パターン群Ｗ１は、ホログラム素子２７の領域２７Ｅ、２７Ｆ、２７Ｇ１、２７Ｇ２、２７Ｈ１及び２７Ｈ２により１次光の迷光パターンＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２がそれぞれ形成されている。

ここで、光ディスク１００の記録層Ｙ１で反射された層間迷光ビームＬＮ１と反射光ビームＬＲとの光路長差は、記録層Ｙ３で反射された層間迷光ビームＬＮ３と当該反射光ビームＬＲとの光路長差よりも短くなる。

このため、迷光パターン群Ｗ１の各迷光パターンＷは、迷光パターン群Ｗ３（図１０）の各迷光パターンＷを、対応するスポットＴを中心に縮小したような形状となっている。

これに伴い、迷光パターン群Ｗ１の迷光パターンＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２は、それぞれ検出部ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ及びＤＨにそれぞれ近接している。

ここで記録層Ｙ１（図５（Ａ））は、対象記録層ＹＴである記録層Ｙ０に最も近接した記録層Ｙである。すなわち各記録層Ｙによる層間迷光ビームＬＮと反射光ビームＬＲとの光路長差は、層間迷光ビームＬＮ１についての光路長差が最短となる。

このため迷光パターン群Ｗ１は、各層間迷光ビームＬＮによりそれぞれ形成される迷光パターン群Ｗのうち、最も縮小されたものとなる。

そこで光検出器２９の受光部ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ及びＤＨは、この迷光パターン群Ｗ１に関しても、迷光パターンＷＡ、ＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２のいずれにもかからないよう大きさや配置等が定められている。

このように光検出器２９は、受光部ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ及びＤＨについて、各迷光パターン群Ｗにおける各迷光パターンのいずれにもかからないよう大きさや配置等が定められている。

［１−３−３．他の記録層のトラックに起因した迷光の影響］
ところで光ディスク１００（図５（Ａ）及び（Ｂ））では、上述したように、目標記録層ＹＴと異なる他の記録層Ｙにより光ビームＬ１の一部が反射され層間迷光ビームＬＮとなる。

これに加えて光ディスク１００では、他の記録層Ｙに形成されているトラックの溝構造に起因して光ビームＬ１の一部が反射及び回折されることにより、＋１次及び−１次の回折光でなる他層回折迷光ビームＬＭが発生する。

この他層回折迷光ＬＭは、光検出器２９に到達した際、図１３に示すように、スポットＴＥ及びＴＦの照射位置をそれぞれ中心として、略楕円状若しくはレモン型の他層回折迷光パターンＷＭＥ及びＷＭＦをそれぞれ形成する。

ここで光検出器２９では、上述したように受光部ＤＥ及びＤＦがある程度離隔して配置されている。このため光検出器２９では、スポットＴＥの照射位置を中心とした他層回折迷光パターンＷＭＥについては、検出領域ＲＥにはかかるものの検出領域ＲＦにはかからない。これと反対にスポットＴＦの照射位置を中心とした他層回折迷光パターンＷＭＦについては、検出領域ＲＦにはかかるものの検出領域ＲＥにはかからない。

このように光検出器２９では、他層回折迷光ビームＬＭに起因した他層回折迷光パターンＷＭＥ及び他層回折迷光パターンＷＭＦを互いに分離することができるので、当該他層回折迷光パターンＷＭＥ及びＷＭＦが重なることがない。

［１−４．フォーカス制御及びトラッキング制御］
光ディスク装置１０のヘッドアンプ３２（図６）は、受光信号ＳＡ、ＳＢ、ＳＣ及びＳＤ、ＳＥ及びＳＦ、ＳＧ及びＳＨ、並びにＳＪＡ、ＳＪＢ、ＳＪＣ及びＳＪＤをそれぞれ増幅し、信号処理部１３へ供給する。

またヘッドアンプ３２は、迷光受光信号ＳＥＮ、ＳＦＮ、ＳＧＮ及びＳＨＮについてもそれぞれ増幅し、信号処理部１３へ供給するようになされている。

信号処理部１３は、フォーカスエラー信号演算回路１３Ｆによって次の（３）式に従った演算を行うことにより、非点収差法によるフォーカスエラー信号ＳＦＥを算出し、これをサーボ制御部１２Ａのフォーカス制御部１２ＡＦへ供給する。

このフォーカスエラー信号ＳＦＥは、光ディスク１００において、光ビームＬ１の焦点Ｆ１と対象記録層ＹＴとのずれ量を表すことになる。

サーボ制御部１２Ａのフォーカス制御部１２ＡＦ（図６）は、フォーカスエラー信号ＳＦＥを基にフォーカス駆動信号ＳＦＤを生成し、これをフォーカスアクチュエータ１９Ｆへ供給する。フォーカスアクチュエータ１９Ｆは、フォーカス駆動信号ＳＦＤに基づき対物レンズ１８をフォーカス方向へ駆動する、いわゆるフォーカス制御を行う。

光ディスク装置１０は、このフォーカス制御を繰り返し行う（すなわちフィードバック制御を行う）ことにより、光ビームＬ１の焦点Ｆ１と対象記録層ＹＴとのフォーカス方向に関するずれ量を任意の目標値に収束させていく。

また信号処理部１３は、光ビームＬ１の焦点Ｆ１と対象記録層ＹＴにおける所望のトラックとのずれ量を表すトラッキングエラー信号の生成については、１ビームプッシュプル法を用いるようになされている。この１ビームプッシュプル法では、基本的に、反射光ビームＬＲのうち図１に斜線で示したプッシュプル成分の差分値を算出するようになされている。

ところで光ディスク装置１０では、対物レンズ１８により集光する光ビームＬ１の焦点Ｆ１を光ディスク１００における所望のトラックに追従させるようになされている。ここで当該トラックが偏心等している場合、光ディスク装置１０は、焦点Ｆ１を当該トラックに追従させるべく、光ピックアップ１７の対物レンズ１８を半径方向に移動させる、いわゆるレンズシフトを行う。

このレンズシフトが生じた場合、図１の斜線部分に対応するスポットＴＥ及びＴＦ（図９）は、当該レンズシフトにより光量が変化することになる。

信号処理部１３は、このレンズシフトに対応すべく、トラッキングエラー信号演算回路１３Ｔによって次の（４）式に従った演算を行うことにより、トラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出することができる。

この（４）式において、前半の項にはプッシュプル成分及びレンズシフト成分が含まれており、後半の項にはレンズシフト成分のみが含まれる。係数Ｋｔは、光ピックアップ１７においてレンズシフトが生じた際に、前半の項に含まれるレンズシフト成分を相殺し得るよう適宜定められた係数である。

ところで対物レンズ１８のレンズシフトが生じた場合、光検出器２９に形成される迷光パターン群Ｗ１は、図１２と対応する図１５に示すように、例えば迷光パターンＷＦが内周側に延長され検出部ＤＦにかかってしまう場合がある。

このとき受光領域ＲＦは、スポットＴＦ及び迷光パターンＷＦの双方が加算された光量を検出してしまい、トラッキングエラー信号ＳＴＥの算出に必要なスポットＴＦの光量のみを検出することができない。

ここで迷光パターンＷＦにおける内周側の辺は、縦方向とほぼ平行な直線状となっている。このため、受光領域ＲＦに照射される迷光パターンＷＦの光量は、受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２に照射される迷光パターンＷＦの光量と、常にほぼ一定の比率を保つことになる。

そこで光ディスク装置１０は、受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２の光量を用いて受光領域ＲＦに照射される迷光パターンＷＦの光量を相殺すれば、スポットＴＦの光量を算出することができる。

また光ディスク装置１０は、受光領域ＲＥについても同様に、受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２の光量を用いて受光領域ＲＥに照射される迷光パターンＷＥの光量を相殺すれば、スポットＴＥの光量を算出することができる。

すなわち光ディスク装置１０の信号処理部１３は、上述した（４）式に代えて次に示す（５）式に従って演算することにより、検出領域ＲＥ及びＲＦにおける迷光パターンの影響を排除したトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出することができる。

ここで係数Ｋｐｐは、当該係数Ｋｐｐに合わせて最適な係数Ｋｔを定める場合に、光ディスク１００における各記録層Ｙの反射率が変化したときに係数Ｋｔの変動幅が最も小さくなるように定められた値となっている。

サーボ制御部１２Ａのトラッキング制御部１２ＡＴ（図６）は、トラッキングエラー信号ＳＴＥ２を基に、トラッキング駆動信号ＳＴＤを生成し、これをトラッキングアクチュエータ１９Ｔへ供給する。トラッキングアクチュエータ１９Ｔは、トラッキング駆動信号ＳＴＤに基づき対物レンズ１８をトラッキング方向へ駆動する、いわゆるトラッキング制御を行う。

光ディスク装置１０は、このトラッキング制御についても繰り返し行う（すなわちフィードバック制御を行う）ことにより、光ビームＬ１の焦点Ｆ１と対象記録層ＹＴにおける所望のトラックとのトラッキング方向に関するずれ量を任意の目標値に収束させていく。

かくして光ディスク装置１０は、フォーカス制御及びトラッキング制御を行うことにより、光ビームＬ１の焦点Ｆ１を対象記録層ＹＴにおける所望のトラックに合わせるようになされている。

また光ディスク装置１０は、信号処理部１３の再生信号演算回路１３Ｒにおいて、次の（６）式に従って受光信号ＳＡ〜ＳＤを加算することにより再生ＲＦ信号ＳＲＦを算出するようになされている。

この再生ＲＦ信号ＳＲＦは、０次光でなる反射光ビームＬＲ０全体の光量に相当すると共に、光ディスク１００に記録された信号を表している。その後再生信号演算回路１３Ｒは、再生ＲＦ信号ＳＲＦに対し所定の復調処理や復号化処理等を施すことにより、光ディスク１００に記録されている情報を再生するようになされている。

［１−５．取付位置の調整］
さらに光ピックアップ１７では、ホログラム素子２７及び光検出器２９等の取付位置を調整する際、受光部ＤＡ及びＤＪにおける検出結果を用いるようになされている。

すなわち光ピックアップ１７は、その組立工程等において、調整用の光ディスクが装填された上で、統括制御部１１の制御に基づき、光ビームＬ１を当該調整用の光ディスクへ照射する。

これに応じて光検出器２９の受光部ＤＡには、０次光でなる反射光ビームＬＲ０が非点収差を持った状態で照射される。

この組立工程において、光検出器２９は、まず反射光ビームＬＲ０の光軸に沿った方向に関する取付位置及び当該光軸に直交する平面における取付位置が微調整される。このとき光検出器２９は、フォーカスエラー信号ＳＦＥが値「０」となり、受光信号ＳＡ及びＳＢの和と受光信号ＳＣ及びＳＤの和とがほぼ同等の信号レベルとなり、さらに受光信号ＳＡ及びＳＤの和と受光信号ＳＢ及びＳＣの和がほぼ同等となるように調整される。これにより光検出器２９は、反射光ビームＬＲ０の光軸に沿った方向に関する取付位置が最適化され、また縦方向及び横方向に関する取付位置も最適化される。

また光検出器２９は、受光部ＤＪにより生成される受光信号ＳＪＡ及びＳＪＢの和と受光信号ＳＪＣ及びＳＪＤの和がほぼ同等の信号レベルになるよう、基準点Ｐ２を中心とした取付角度が調整される。これにより光検出器２９は、基準点Ｐ２を中心とした回転方向に関する取付角度についても最適化される。

さらにホログラム素子２７は、受光部ＤＪにより生成される受光信号ＳＪＡ及びＳＪＤの和と受光信号ＳＪＢ及びＳＪＣの和とがほぼ同等の信号レベルになるよう、反射光ビームＬＲ０の光軸に沿った方向に関する位置が調整される。これによりホログラム素子２７は、基準点Ｐ２からの反射光ビームＬＲ１Ｊの距離、並びに反射光ビームＬＲ１Ｅ、ＬＲ１Ｆ、ＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈまでの距離が最適化された状態となる。

［１−６．動作及び効果］
以上の構成において、光ディスク装置１０の光ピックアップ１７は、光ビームＬ１を光ディスク１００へ照射し、当該光ディスク１００により反射されてなる反射光ビームＬＲをホログラム素子２７により分割すると共に分離する。

すなわちホログラム素子２７は、０次光でなる反射光ビームＬＲ０をほぼ直進させると共に、領域２７Ｅ〜２７Ｊ（図７（Ａ））の回折作用により、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊに分離する。

このときホログラム素子２７は、プッシュプル成分、レンズシフト成分及び迷光成分を含む反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆを縦方向の内周側及び外周側へそれぞれ回折させる。またホログラム素子２７は、レンズシフト成分及び迷光成分を含む反射光ビームＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈをそれぞれ横方向へ回折させ、さらに反射光ビームＬＲ１Ｊを斜め方向へ回折させる。

これに応じて光検出器２９は、受光部ＤＡの受光領域ＲＡ〜ＲＤにより反射光ビームＬＲ０を受光し、受光信号ＳＡ〜ＳＤを生成する。また光検出器２９は、受光部ＤＥの受光領域ＲＥ及び受光部ＤＦの受光領域ＲＦにより反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆをそれぞれ受光し、受光信号ＳＥ及びＳＦを生成する。さらに光検出器２９は、受光部ＤＧの受光領域ＲＧ及び受光部ＤＨの受光領域ＲＨにより反射光ビームＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈをそれぞれ受光し、受光信号ＳＧ及びＳＨを生成する。

さらに光検出器２９は、受光部ＤＥの迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２により迷光を受光して受光信号ＳＥＮを生成し、受光部ＤＦの迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２により迷光を受光して受光信号ＳＦＮを生成する。また光検出器２９は、受光部ＤＧの迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２により迷光を受光して受光信号ＳＧＮを生成し、受光部ＤＨの迷光受光領域ＲＨＮ１及びＲＨＮ２により迷光を受光して受光信号ＳＨＮを生成する。

信号処理部１３は、フォーカスエラー信号演算回路１３Ｆにより（３）式に従ってフォーカスエラー信号ＳＦＥを算出する。サーボ制御部１２Ａのフォーカス制御部１２ＡＦは、当該フォーカスエラー信号ＳＦＥを基にフォーカス制御を行う。

また信号処理部１３は、トラッキングエラー信号演算回路１３Ｔにより（５）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出する。サーボ制御部１２Ａのトラッキング制御部１２ＡＴは、当該トラッキングエラー信号ＳＴＥ２を基にトラッキング制御を行う。

さらに信号処理部１３は、再生信号演算回路１３Ｒにより（６）式に従って再生ＲＦ信号ＳＲＦを生成し、これを基に光ディスク１００に記録されている情報を再生する。

ここで、１ビームプッシュプル法では、一般に、再生ＲＦ信号ＳＲＦの信号レベルを高めるべく、ホログラム素子２７の回折作用により０次光でなる反射光ビームＬＲ０の光強度を１次光でなる反射光ビームＬＲ１の光強度よりも高めるようになされている。

これに伴い光検出器２９では、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｅ、ＬＲ１Ｆ、ＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈの照射強度が相対的に弱くなり、受光信号ＳＥ等のＳ／Ｎ（Signal/Noise）比等も比較的低くなってしまう。

このため光ディスク装置１０では、光検出器２９において１次光を受光するための受光領域ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ及びＤＨに迷光パターンＷがかかった場合、トラッキングエラー信号ＳＴＥ１のリニアリティが低下する等、精度が大幅に低下してしまうおそれがあった。

これに対しホログラム素子２７は、プッシュプル成分を多く含む反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆと、レンズシフト成分を多く含む反射光ビームＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈとを、互いに異なる方向へ回折させている。

これにより光検出器２９では、領域２７Ｅ及び２７Ｆによる迷光パターンＷＥ及びＷＦが受光部ＤＧ及びＤＨ照射されることを回避できると共に、領域２７Ｇ及び２７Ｈによる迷光パターンＷＧ及びＷＨが受光部ＤＥ及びＤＦに照射されることも回避できる。

このため光検出器２９では、受光部ＤＥ及びＤＦについては、０次光並びに領域２７Ｅ及び２７Ｆに起因した迷光パターンＷを回避するよう設計すれば良い。また光検出器２９では、受光部ＤＧ及びＤＨについては、０次光並びに領域２７Ｇ及び２７Ｈに起因した迷光パターンＷを回避するよう設計すれば良いため、設計上の難易度を緩和することができる。

かくして光検出器２９は、光ディスク１００における対象記録層ＹＴの奥又は手前にあり層間距離が相違する複数の記録層Ｙに起因した種々の迷光パターンＷを効果的に回避し得るよう、受光部ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ及びＤＨを配置することができる。

実際上、光検出器２９は、レンズシフトが生じなかった場合には、図１０〜図１２に示したように、受光部ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ及びＤＨに対する層間迷光の照射を回避することができる。

このため光ディスク装置１０では、レンズシフトが生じていない場合、受光部ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ及びＤＨに迷光パターンＷがかかることなく、品質の良好なトラッキングエラー信号を生成することができる。

ところで、光検出器２９では、光ディスク１００におけるトラック溝の偏心等に起因して対物レンズ１８のレンズシフトが生じた場合、図１５に示したように、層間距離が短い記録層Ｙに起因した迷光パターンＷが受光領域ＲＥ又はＲＦにかかる場合がある。

特に、図３に示したように、受光領域ＲＥ及びＲＦを隣接配置した場合、迷光パターンＷＦ又はＷＥが受光領域ＲＥ又はＲＦに中途半端に照射され、迷光受光領域における受光量からは受光領域ＲＥ又はＲＦにおける迷光成分を相殺できないおそれがあった。

これに対し光検出器２９では、（２）式を満たすように受光部ＤＥ及び受光部ＤＦを分離配置した（図９）。このため光検出器２９の受光領域ＲＥは、対物レンズ１８のレンズシフトが生じた場合等に、迷光パターンＷＥは照射され得るものの、迷光パターンＷＦは照射を回避することができる（図１４）。また受光領域ＲＦも、同様に迷光パターンＷＥの照射を回避することができる。

このとき光検出器２９は、受光領域ＲＥに迷光が照射されており受光信号ＳＥに迷光成分が含まれていたとしても、迷光パターンＷＦの影響を受けることなく、当該迷光成分に応じた光量を迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２により検出することができる。

これと同様に光検出器２９は、受光領域ＲＦに迷光が照射されており受光信号ＳＦに迷光成分が含まれていたとしても、迷光パターンＷＥの影響を受けることなく、当該迷光成分に応じた光量を迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２により検出することができる。

このため光ディスク装置１０では、（５）式の演算を行うことにより、受光領域ＲＥ及びＲＦにより生成した受光信号ＳＥ及びＳＦから、迷光成分を確実に相殺することができる。

また光検出器２９では、受光部ＤＥにおいて、受光領域ＲＥを縦方向から挟むように２つの迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２を設けている。

このため光検出器２９は、反射光ビームＬＲ０が垂直に入射されない場合や当該光検出器２９及びホログラム素子２７等の取付位置・角度等がずれている場合でも、受光領域ＲＥに照射される迷光パターンＷＥの光量に応じた受光信号ＳＥＮを生成できる。迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２についても同様に受光信号ＳＦＮを生成できる。

また、図３と対応する図１６に示すように、受光領域ＲＥ及びＲＦを隣接配置した場合には、他層回折迷光パターンＷＭＥ及びＷＭＦが重なり、さらにスポットＴＥ又はＴＦが重なることにより、複雑な干渉縞が形成されるおそれがあった。

特にこの場合、光ディスク１００の面ブレやレンズシフト等の要因により、当該干渉縞の状態が変化してトラッキングエラー信号の品質を大幅に低下させるおそれがあり、しかも当該トラッキングエラー信号から当該干渉縞の影響を排除することは困難であった。

またこの構成では、０次光の光軸が光検出器に対し垂直に入射しない場合やホログラム素子及び光検出器の取付位置・角度等に誤差がある場合等にレンズシフトが生じると、他層回折迷光パターンＷＭＥ及びＷＭＦがアンバランスに照射されるおそれもあった。このとき、トラッキングエラー信号にオフセットが生じてしまい、トラッキング制御の精度を低下させるおそれがあった。

この点において光検出器２９では、受光領域ＲＥ及びＲＦを互いに離隔して配置したことにより、他層回折迷光ビームＬＭに起因した他層回折迷光パターンＷＭＥ及びＷＭＦを重ねることなく互いに分離することができる（図１３）。

このため光検出器２９では、受光領域ＲＥ及びＲＦにおける干渉縞の形成を排除することができ、当該干渉縞の変動等に応じて受光信号ＳＥ及びＳＦに含まれるノイズ成分を大幅に低減することができる。

かくして光ディスク装置１０は、受光領域ＲＥ及びＲＦを分離配置した光検出器２９により生成した受光信号Ｓに基づき（５）式に従った演算処理を行うことにより、迷光の影響を殆ど排除した高精度なトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出することができる。

さらに光ピックアップ１７は、集光レンズ２６及びホログラム素子２７の設計により、光検出器２９の受光部ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ及びＤＨへ照射される反射光ビームＬＲ１Ｅ等を比較的小さなビームスポットとするよう集光している。

このため光ピックアップ１７は、光検出器２９における各受光領域の面積を小さく抑えることができると共に、対物レンズ１８のレンズシフトが生じた際の各ビームスポットの移動量も小さく抑えることができる。

このとき光ピックアップ１７は、迷光パターンＷについても極力小さく集光することになるため、当該迷光パターンＷの照射範囲をできるだけ狭めることができる。

さらに光ピックアップ１７は、その組立工程等において、受光部ＤＡ及びＤＪにおける検出結果を用いて、ホログラム素子２７及び光検出器２９等の取付位置や取付角度等が調整される。

これにより光ディスク装置１０において、反射光ビームＬＲ等に種々の摂動が生じた際に、各反射光ビームＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊがそれぞれ受光領域ＲＥ〜ＲＧ及びＲＪＡ〜ＲＪＤからはみ出してしまうことを防止できる。これに伴い光ディスク装置１０は、トラッキングエラー信号ＳＴＥ２等の各種信号にオフセット成分が含まれ、或いは信号レベルが低下するといった問題の発生を未然に防ぐことができる。

以上の構成によれば、光ディスク装置１０の光ピックアップ１７は、反射光ビームＬＲをホログラム素子２７により回折させる。ホログラム素子２７は、プッシュプル成分及びレンズシフト成分を含む反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆを縦方向の内周側及び外周側へ分離して進行させ、レンズシフト成分を含む反射光ビームＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈをそれぞれ横方向へ進行させる。光検出器２９は、横方向に距離ｄ２だけ離隔された受光領域ＲＥ及びＲＦ、受光領域ＲＧ及びＲＨ、並びに当該受光領域ＲＥ、ＲＦ、ＲＧ及びＲＨにそれぞれ隣接して配置された迷光受光領域により受光信号Ｓを生成する。光ディスク装置１０は、受光信号Ｓを用い（５）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出することにより、迷光パターンＷ及びレンズシフトの影響を排除でき、高精度なトラッキング制御を行うことができる。

＜２．第２の実施の形態＞
［２−１．光ディスク装置及び光ピックアップの構成］
第２の実施の形態による光ディスク装置５０は、第１の実施の形態による光ディスク１０（図４）と比較して、信号処理部１３に代えて信号処理部５３が設けられている点が異なっているものの、他は同様に構成されている。

信号処理部５３は、第１の実施の形態による信号処理部１３と比較して、トラッキングエラー信号演算回路１３Ｔに代わるトラッキングエラー信号演算回路５３Ｔが設けられている点が相違するものの、他は同様に構成されている。

［２−２．迷光の照射及びトラッキングエラー信号の生成］
第２の実施の形態では、光ディスク１００（図５）における記録層Ｙ同士の層間隔が極めて狭いものとする。

ここで、例えば光ディスク１００における記録層Ｙ０が対象記録層ＹＴとして選定され、光ビームＬ１の焦点Ｆ１が当該記録層Ｙ０に合焦している場合を想定する（図５（Ａ））。

この場合、当該記録層Ｙ０に近い記録層Ｙ１による層間迷光ビームＬＮ１は、光検出器２９上において、図１２と対応する図１７に示すような迷光パターン群Ｗ１を形成する。

図１７において、迷光パターン群Ｗ１の迷光パターンＷＥ及びＷＦは、それぞれ受光部ＤＥ及び受光部ＤＦにかかっている。このとき受光信号ＳＥ及びＳＦには、それぞれ迷光パターンＷＥ及びＷＦの成分が含まれており、迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２並びにＲＦＮ１及びＲＦＮ２により生成される受光信号ＳＥＮ及びＳＦＮには、それぞれ迷光パターンＷＥ及びＷＦの成分が含まれている。

このとき信号処理部５３は、（５）式によりトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出すれば、第１の実施の形態と同様に、迷光パターンＷＥ及びＷＦの影響を排除することができる。

次に、対物レンズ１８のレンズシフトが生じ、図１４に示したように、ホログラム素子２７に対する反射光ビームＬＲ０の照射位置が横方向に移動した場合を想定する。

このとき光検出器２９では、図１７と対応する図１８に示すように、迷光パターンＷＥが外周方向へ短縮されると共に、迷光パターンＷＦが内周方向へ延長される。

ここで、光ディスク１００における対象記録層ＹＴと層間迷光ビームＬＮを発生した記録層Ｙとの層間隔を迷光層間隔ｄｎ（図５）とする。また、（５）式における（ＳＦ−ＳＥ）の項（以下、これを第１項と呼ぶ）に含まれる迷光成分をプッシュプル迷光成分ＳＮｐｐと呼ぶ。

光ピックアップ５７においてレンズシフトが生じたときの迷光層間隔ｄｎに対するプッシュプル迷光成分ＳＮｐｐの関係は、図１９（Ａ）における特性曲線Ｑ１のようになる。

この特性曲線Ｑ１によれば、迷光層間隔ｄｎが比較的大きい場合（ｄｎ＞ｄｎ２）、プッシュプル迷光成分ＳＮｐｐは値「０」となる。これは、第１の実施の形態において上述した図１０、図１２及び図１３のように、受光領域ＲＥ及びＲＦのいずれにも迷光パターンＷが全くかかっていない状態に相当する。

また特性曲線Ｑ１によれば、迷光層間隔ｄｎが狭くなるに連れて、すなわちｄｎ１＜ｄｎ＜ｄｎ２のとき、プッシュプル迷光成分ＳＮｐｐの値は徐々に増加する。

ここで、（５）式における（ＳＦＮ−ＳＥＮ）の項（以下、これを第２項と呼ぶ）について、迷光層間隔ｄｎとの関係は、図１９（Ａ）における特性曲線Ｑ２のようになる。これは、図１５に示したように、レンズシフトにより受光領域ＲＥ又はＲＦに迷光パターンＷＥ又はＷＦがかかっている状態に相当する。

この特性曲線Ｑ２によれば、迷光層間隔ｄｎが（ｄｎ１＜ｄｎ＜ｄｎ２）の範囲にあるとき、特性曲線Ｑ１とＱ２とはほぼ比例関係にあるといえる。これは（５）式に示したように、第２項に係数Ｋｐｐを乗じた値を第１項から差し引くことにより、当該第１項に含まれるプッシュプル迷光成分ＳＮｐｐを相殺し得ることを意味している。

さらに特性曲線Ｑ１によれば、迷光層間隔ｄｎがさらに狭くなるに連れて、すなわちｄｎ＜ｄｎ１のとき、プッシュプル迷光成分ＳＮｐｐの値は急激に増加する。しかしながら特性曲線Ｑ２では、（ＳＦＮ−ＳＥＮ）の値は徐々にしか増加せず、比例関係にはない。このことは、ｄｎ＜ｄｎ１のとき、（５）式によってはプッシュプル迷光成分ＳＮｐｐを相殺できないことを意味している。

ここで光検出器２９の迷光受光領域ＲＧＮ１、ＲＧＮ２、ＲＨＮ１及びＲＨＮ２に着目すると、図１７及び１８において、迷光パターンＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２がそれぞれかかった状態となっている。

さらに図１７及び図１８を比較すると、レンズシフトが生じた図１８の状態では、迷光パターンＷＧ１及びＷＧ２がそれぞれ外周方向へ短縮されると共に、迷光パターンＷＨ１及びＷＨ２がそれぞれ内周方向へ延長されている。このため図１８の場合、図１７の場合と比較して、受光信号ＳＧＮの値は減少し、受光信号ＳＨＮの値は増加することになる。

このようなレンズシフトによる迷光パターンＷの形状の変化は、図１４に示したように、ホログラム素子２７に対する反射光ビームＬＲの照射位置が移動したことに起因している。

かかる点を考慮すると、レンズシフトに伴う受光領域ＲＦにおける迷光成分の増加分と、迷光受光領域ＲＨＮ１及びＲＨＮ２による迷光受光量の増加分、すなわち受光信号ＳＨＮの増加分との間には、何らかの相関関係があるものと推察される。これと同様に、レンズシフトに伴う受光領域ＲＥにおける迷光成分の減少分と、迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２による受光量の減少分、すなわち受光信号ＳＧＮの減少分との間には、何らかの相関関係があるものと推察される。

実際上、（ＳＨＮ−ＳＧＮ）の値について、（ＳＦＮ−ＳＥＮ）の場合と同様に迷光層間隔ｄｎとの関係を表すと、図１９の特性曲線Ｑ３のようになる。

この特性曲線Ｑ３は、迷光層間隔ｄｎが比較的広いとき、すなわちｄｎ＞ｄｎ１のとき、ほぼ値「０」となっている。このことは、図１０、図１１及び図１２のように迷光層間隔ｄｎが比較的広い場合には、迷光受光領域ＲＧＮ１、ＲＧＮ２、ＲＨＮ１及びＲＨＮ２のいずれにも迷光パターンＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２がかかっていないことを表している。

一方、特性曲線Ｑ３は、迷光層間隔ｄｎが比較的狭いとき、すなわちｄｎ≦ｄｎ１のとき、当該迷光層間隔ｄｎが狭くなるに連れて（ＳＨＮ−ＳＧＮ）の値が急激に増加しており、特性曲線Ｑ１とほぼ比例関係にあるといえる。

そこで信号処理部５３のトラッキングエラー信号演算回路５３Ｔは、上述した（５）式に代えて、次に示す（７）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を算出するようになされている。

ここで係数Ｋｌｓは、係数Ｋｐｐの場合と同様、当該係数Ｋｌｓ及びＫｐｐに合わせて最適な係数Ｋｔを定める場合に、光ディスク１００における各記録層Ｙの反射率が変化したときに当該係数Ｋｔの変動幅が最も小さくなるように定められた値となっている。

ここで、（７）式において（ＳＦＮ−ＳＥＮ）の項及び（ＳＨＮ−ＳＧＮ）の項により相殺した後のプッシュプル迷光成分ＳＮｐｐの値と迷光層間隔ｄｎとの関係を、図１９（Ａ）と対応する図１９（Ｂ）に特性曲線Ｑ４として示す。なお図１９（Ｂ）には、比較用に特性曲線Ｑ１も示している。

図１９（Ｂ）において、特性曲線Ｑ４は、迷光層間隔ｄｎの値に拘わらず、ほぼ全範囲に渡って光量の値がほぼ「０」となっている。このことから、（７）式において、（ＳＦＮ−ＳＥＮ）の項及び（ＳＨＮ−ＳＧＮ）の項により、（ＳＦ−ＳＥ）の項に含まれるプッシュプル迷光成分ＳＮｐｐが良好に相殺されていることが分かる。

このように信号処理部５３は、迷光受光領域ＲＧＮ１、ＲＧＮ２、ＲＨＮ１及びＲＨＮ２における受光結果をも利用した（７）式に従った演算を行うようになされている。これにより信号処理部５３は、迷光層間隔ｄｎが極めて狭く、且つレンズシフトが生じた場合にもプッシュプル迷光成分ＳＮｐｐを良好に相殺した高品質なトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を生成することができる。

［２−３．動作及び効果］
以上の構成において、第２の実施の形態による光ディスク装置５０の光ピックアップ５７は、第１の実施の形態と同様、反射光ビームＬＲをホログラム素子２７により分割すると共に分離する。

光検出器２９は、受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤにより受光信号ＳＡ、ＳＢ、ＳＣ及びＳＤをそれぞれ生成し、受光領域ＲＥ、ＲＦ、ＲＧ及びＲＨにより受光信号ＳＥ、ＳＦ、ＳＧ及びＳＨをそれぞれ生成する。また光検出器２９は、各迷光受光領域によりそれぞれ迷光を受光して受光信号を生成する。

信号処理部５３は、トラッキングエラー信号演算回路５３Ｔにより（７）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を算出し、これをトラッキング制御部１２ＡＴへ供給することによりトラッキング制御を行わせる。

このとき信号処理部５３は、迷光受光領域ＲＧＮ１、ＲＧＮ２、ＲＨＮ１及びＲＨＮ２における受光結果をも利用する。特に迷光受光領域ＲＧＮ１、ＲＧＮ２、ＲＨＮ１及びＲＨＮ２は、迷光層間隔ｄｎが狭いとき（ｄｎ＜ｄｎ１のとき）に特性曲線Ｑ３（図１９（Ａ））が特性曲線Ｑ１とほぼ比例するように形状及び配置が定められている。

この結果光ディスク装置５０では、特に迷光層間隔ｄｎが狭くレンズシフトが生じた場合であっても、プッシュプル迷光成分ＳＮｐｐが殆ど相殺された高品質なトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を基に、高精度なトラッキング制御を行うことができる。

また光検出器２９では、受光部ＤＧにおいて、受光領域ＲＧを縦方向から挟むように２つの迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２を設けている。

このため光検出器２９は、反射光ビームＬＲ０が垂直に入射されない場合や当該光検出器２９及びホログラム素子２７等の取付位置・角度等がずれている場合でも、受光領域ＲＥに照射される迷光パターンＷＥの光量に応じた受光信号ＳＧＮを生成できる。迷光受光領域ＲＨＮ１及びＲＨＮ２についても同様に受光信号ＳＨＮを生成できる。

また（７）式では、（５）式と比較して、（ＳＨＮ−ＳＧＮ）に所定の係数Ｋｌｓを乗算して減算する項が追加された形となっている。このため信号処理部５３のトラッキングエラー信号演算回路５３Ｔでは、減算処理及び乗算処理といった極めて単純な演算処理が増加しただけであり、第１の実施の形態における信号処理部１３の構成から敢えて処理能力の増強等を行う必要がない。

また光ディスク装置５０は、その他の点について、第１の実施の形態と同様の作用効果を奏し得る。

以上の構成によれば、光ディスク装置５０の光ピックアップ５７は、反射光ビームＬＲをホログラム素子２７により回折させ、複数に分割すると共に分離する。光検出器２９は、受光領域ＲＥ、ＲＦ、ＲＧ及びＲＨにより受光信号ＳＥ、ＳＦ、ＳＧ及びＳＨをそれぞれ生成する。また光検出器２９は、迷光受光領域ＲＥＮ１、ＲＥＮ２、ＲＦＮ１、ＲＦＮ２、ＲＧＮ１、ＲＧＮ２、ＲＨＮ１及びＲＨＮ２により、受光信号ＳＥＮ、ＳＦＮ、ＳＧＮ及びＳＨＮを生成する。信号処理部５３は、（７）式により、受光信号ＳＥ及びＳＦに含まれるプッシュプル迷光成分ＳＮｐｐを、受光信号ＳＥＮ及びＳＦＮに加えて受光信号ＳＧＮ及びＳＨＮを利用して相殺したトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を生成する。この結果光ディスク装置５０では、迷光層間隔ｄｎが狭い場合であっても、プッシュプル迷光成分ＳＮｐｐが殆ど相殺された高品質なトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を基に、高精度なトラッキング制御を行うことができる。

＜３．第３の実施の形態＞
［３−１．光ディスク装置及び光ピックアップの構成］
第３の実施の形態による光ディスク装置７０は、第１の実施の形態による光ディスク１０（図４）と比較して、信号処理部１３及び光ピックアップ１７に代えて信号処理部７３及び光ピックアップ７７が設けられている点が異なっているものの、他は同様に構成されている。

信号処理部７３は、第１の実施の形態による信号処理部１３と比較して、再生信号演算回路１３Ｒに代わる再生信号演算回路７３Ｒが設けられている点が相違するものの、他は同様に構成されている（詳しくは後述する）。

光ピックアップ７７は、第１の実施の形態による光ピックアップ１７（図６）と比較して、ホログラム素子２７及び光検出器２９に代えてホログラム素子８７及び光検出器８９が設けられている点が異なっているものの、他は同様に構成されている。

光ピックアップ７７のホログラム素子８７（図７）は、第１の実施の形態によるホログラム素子２７と比較して、同様の分割パターンにより、領域８７Ｅ、８７Ｆ、８７Ｇ１、８７Ｇ２、８７Ｈ１、８７Ｈ２及び８７Ｊに分割されている。

領域８７Ｇ１、８７Ｇ２、８７Ｈ１及び８７Ｈ２については、それぞれ領域２７Ｇ１、２７Ｇ２、２７Ｈ１及び２７Ｈ２と同様の回折格子が形成されており、それぞれ反射光ビームＬＲの一部を回折させるようになされている。

一方領域８７Ｅ及び８７Ｆは、領域２７Ｅ及び２７Ｆと比較して形成されている回折格子の性質が相違しており、いわゆるブレーズドホログラムとなっている。このため領域８７Ｅ及び８７Ｆは、それぞれ反射光ビームＬＲのほぼ全てを１次光として回折させることにより反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆとするようになされている。

すなわちホログラム素子８７は、領域８７Ｅ及び８７Ｆ以外の部分についてのみ０次光でなる反射光ビームＬＲ０を生成するようになされている。

因みに領域８７Ｅ及び８７Ｆは、領域２７Ｅ及び２７Ｆと比較して、１次光の回折角度が比較的小さくなるように設計されている。

また領域８７Ｊは、領域２７Ｊと同様に反射光ビームＬＲ０の一部を回折させるものの、シリンドリカルレンズ２８により付与される非点収差を完全には相殺しない程度の収差を持たせるようになされている。

ここで、反射光ビームＬＲがホログラム素子８７により分割され光検出器８９に照射される様子を模式的に表すと、図８と対応する図２０のようになる。

光検出器８９は、図９と対応する図２１に示すように、光検出器２９と比較して、光検出部ＤＥ及びＤＦが縦方向に関し光検出部ＤＡに近接して配置されている点が相違するものの、他は同様に構成されている。すなわち検出部ＤＥ及びＤＦの間隔ｄ２は、（２）式を満たすように設計されている。

図２１において、０次光でなる反射光ビームＬＲ０が受光部ＤＡに照射されてなるスポットＴＡは、ホログラム素子８７における領域８７Ｅ及び８７Ｆに相当する部分、すなわちプッシュプル領域に相当する部分が欠落したような形状となっている。

また反射光ビームＬＲ１Ｊが受光部ＤＪに照射されてなるスポットＴＪは、第１の実施の形態（図９）と比較して、やや拡大された状態となっている。

受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤは、それぞれ光強度に応じた受光信号ＳＡ、ＳＢ、ＳＣ及びＳＤを生成する。また受光領域ＲＥ、ＲＦ、ＲＧ、ＲＨ、ＲＪＡ、ＲＪＢ、ＲＪＣ及びＲＪＤは、それぞれ光強度に応じた受光信号ＳＥ、ＳＦ、ＳＧ、ＳＨ、ＳＪＡ、ＳＪＢ、ＳＪＣ及びＳＪＤを生成する。さらに各迷光受光領域は、それぞれの光強度に応じて受光信号を生成する。

このように第３の実施の形態による光ディスク装置７０では、０次光でなる反射光ビームＬＲ０においてプッシュプル領域が欠落しており、また受光部ＤＪに形成されるスポットＴＪが比較的大きくなるようになされている。

［３−２．迷光の照射と受光部の配置］
光ディスク１００における最も奥側の記録層Ｙ０を対象記録層ＹＴとした場合（図５（Ａ））、層間迷光ビームＬＮ３による迷光パターン群Ｗ３は、図１０と対応する図２２に示すように形成される。

光検出器８９では、第１の実施の形態における光検出器２９と同様、光検出部ＤＥ及びＤＦの間隔ｄ２が（２）式を満たすように設計されている。このため受光領域ＲＥ及びＲＦは、対物レンズ１８のレンズシフトが生じていない場合、迷光パターンＷＥ及びＷＦのいずれにもかかることはない。

また受光領域ＲＥ及びＲＦは、対物レンズ１８のレンズシフトが生じていない場合、迷光パターンＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２のいずれにもかかることはない。

さらに光検出部ＤＧ及びＤＨは、光検出器２９の場合と同様、対物レンズ１８のレンズシフトが生じていない場合、迷光パターンＷＡ、ＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２のいずれにもかかることはない。

一方光検出器８９では、上述したように、光検出部ＤＥ及びＤＦが縦方向に関し光検出部ＤＡに近接して配置されているため、迷光パターンＷＡが受光領域ＲＥ及びＲＦにかかっている。

［３−３．フォーカス制御及びトラッキング制御］
第３の実施の形態では、上述したように、０次光でなる反射光ビームＬＲ０において、プッシュプル領域に相当する部分が欠落している。

フォーカスエラー信号演算回路１３Ｆは、第１の実施の形態と同様、（３）式に従ってフォーカスエラー信号ＳＦＥを算出し、これをサーボ制御部１２Ａのフォーカス制御部１２ＡＦへ供給する。

ここで、反射光ビームＬＲ０においてプッシュプル領域に相当する部分が欠落しているため、受光信号ＳＡ、ＳＢ、ＳＣ及びＳＤには、プッシュプル成分が殆ど含まれないことになる。このためフォーカスエラー信号ＳＦＥについても、プッシュプル成分が殆ど含まれないことになる。

またトラッキングエラー信号演算回路１３Ｔは、第１の実施の形態と同様、（５）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出し、これをサーボ制御部１２Ａのトラッキング制御部１２ＡＴへ供給する。

ここで受光信号ＳＥ及びＳＦには、いずれも迷光パターンＷＡに起因した成分が含まれることになる。

しかしながら、迷光パターンＷＡ（図２２）は、横方向に関し、仮想直線Ｖ１を対称軸としてほぼ対称な形状となっている。また受光部ＤＥ及びＤＦは、当該仮想直線Ｖ１を対称軸としてほぼ対称に配置されている。このため、受光信号ＳＥ及びＳＦに含まれる迷光パターンＷＡに起因した成分は、互いにほぼ同程度となる。

また（５）式では、受光信号ＳＥ及びＳＦの減算が行われる。このため（５）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥを算出する場合、受光信号ＳＥ及びＳＦに含まれる迷光パターンＷＡに起因した成分は、相殺されることになり、当該トラッキングエラー信号ＳＴＥに対して殆ど影響を与えることはない。

また再生信号演算回路７３Ｒでは、（６）式に代えて、次に示す（８）式に従って再生ＲＦ信号ＳＲＦを算出する。

この（８）式では、０次光でなる反射光ビームＬＲ０にプッシュプル成分が含まれないことから、当該プッシュプル成分を含めるべく、（６）式と比較して、当該プッシュプル成分に相当する受光信号ＳＥ及びＳＦが加算されている。

［３−４．取付位置の調整］
光ピックアップ７７は、その組立工程等において、第１の実施の形態と同様に、受光部ＤＡ及びＤＪにおける検出結果が用いられ、ホログラム素子８７及び光検出器８９等の取付位置や取付角度等が調整されるようになされている。

すなわち光検出器８９は、まず反射光ビームＬＲ０の光軸に沿った方向に関する取付位置及び当該光軸に直交する平面における取付位置が微調整される。このとき光検出器８９は、フォーカスエラー信号ＳＦＥが値「０」となり、受光信号ＳＡ及びＳＢの和と受光信号ＳＣ及びＳＤの和とがほぼ同等の信号レベルとなり、さらに受光信号ＳＡ及びＳＤの和と受光信号ＳＢ及びＳＣの和がほぼ同等となるように調整される。

また光検出器８９は、受光部ＤＪにより生成される受光信号ＳＪＡ及びＳＪＢの和と受光信号ＳＪＣ及びＳＪＤの和がほぼ同等の信号レベルになるよう、基準点Ｐ２を中心とした取付角度が調整される。

さらにホログラム素子８７は、受光部ＤＪにより生成される受光信号ＳＪＡ及びＳＪＤの和と受光信号ＳＪＢ及びＳＪＣの和とがほぼ同等の信号レベルになるよう、反射光ビームＬＲ０の光軸に沿った方向に関する位置が調整される。

［３−５．動作及び効果］
以上の構成において、光ディスク装置７０の光ピックアップ７７は、第１の実施の形態と同様、光ビームＬ１を光ディスク１００へ照射し、当該光ディスク１００により反射されてなる反射光ビームＬＲをホログラム素子８７により分割すると共に分離する。

すなわちホログラム素子８７は、領域８７Ｅ及び８７Ｆ以外の部分について０次光でなる反射光ビームＬＲ０をほぼ直進させると共に、領域８７Ｅ〜８７Ｊの回折作用により、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊに分離する。

このときホログラム素子８７は、反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆを縦方向の内周側及び外周側へそれぞれ回折させ、反射光ビームＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈをそれぞれ横方向へ回折させ、さらに反射光ビームＬＲ１Ｊを斜め方向へ回折させる。

これに応じて光検出器８９は、受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤにより受光信号ＳＡ、ＳＢ、ＳＣ及びＳＤをそれぞれ生成し、受光領域ＲＥ、ＲＦ、ＲＧ及びＲＨにより受光信号ＳＥ、ＳＦ、ＳＧ及びＳＨをそれぞれ生成する。また光検出器８９は、各迷光受光領域によりそれぞれ迷光を受光して受光信号を生成する。

信号処理部７３は、フォーカスエラー信号演算回路１３Ｆにより（３）式に従ってフォーカスエラー信号ＳＦＥを算出し、これをフォーカス制御部１２ＡＦへ供給することによりフォーカス制御を行わせる。

また信号処理部７３は、トラッキングエラー信号演算回路１３Ｔにより（５）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出し、これをトラッキング制御部１２ＡＴへ供給することによりトラッキング制御を行わせる。

さらに信号処理部７３は、再生信号演算回路７３Ｒにより（８）式に従って再生ＲＦ信号ＳＲＦを生成し、これを基に光ディスク１００に記録されている情報を再生する。

ここで光検出器８９は、受光領域ＲＥ及びＲＦに対し、迷光パターンＷＡがかかっている。しかしながら受光信号ＳＥ及びＳＦは、それぞれに含まれる当該迷光パターンＷＡに起因した成分が互いにほぼ同等となる。

このため信号処理部７３は、第１の実施の形態と同様、（５）式に従った演算を行うことにより、迷光パターンＷＡの成分が相殺されたトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出することができる。

また光検出器８９は、（２）式を満たすよう光検出部ＤＥ及びＤＦの間隔ｄ２が設計されている。このため受光領域ＲＥ及びＲＦは、対物レンズ１８のレンズシフトが生じていない場合、迷光パターンＷＥ及びＷＦのいずれもがかからない。また受光領域ＲＥ及びＲＦは、対物レンズ１８のレンズシフトが生じていない場合、第１の実施の形態と同様、迷光パターンＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２のいずれもがかからない。

さらに受光領域ＲＧ及びＲＨは、対物レンズ１８のレンズシフトが生じていない場合、第１の実施の形態と同様、迷光パターンＷＡ、ＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２のいずれもがかからない。

このため信号処理部７３は、（５）式に従った演算を行うことにより、レンズシフトが生じない場合には、迷光パターンＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２の影響を受けることなく、トラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出することができる。

さらに迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２には、レンズシフト等により受光領域ＲＥに迷光パターンＷＥがかかる場合に、当該受光領域ＲＥに照射される迷光パターンＷＥの光量に対し一定の比率となる光量だけ、当該迷光パターンＷＥが照射される（図１４）。迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２についても、同様に迷光パターンＷＦが照射され得る。

このため信号処理部７３は、（５）式に従った演算を行うことにより、対物レンズ１８のレンズシフトが生じた場合であっても、迷光パターンＷＥ及びＷＦの成分が相殺されたトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出することができる。

また０次光でなる反射光ビームＬＲ０にはプッシュプル成分が含まれていないため、（３）式により算出されるフォーカスエラー信号ＳＦＥには、当該プッシュプル成分が殆ど含まれないことになる。

このことは、光検出器８９の取付位置誤差がある場合や、反射光ビームＬＲにおける波面収差が大きい場合であっても、プッシュプル成分の漏れ込みによるフォーカスエラー信号ＳＦＥの品質劣化を防止できることを意味している。

このため信号処理部７３は、レンズシフトによる影響を排除した、高品質なフォーカスエラー信号ＳＦＥを生成することができる。これに伴いフォーカス制御部１２ＡＦは、レンズシフトによる影響を排除した、極めて精度の高いフォーカス制御を行うことができる。

このときホログラム素子８７の領域８７Ｅ及び８７Ｆでは、第１の実施の形態と比較して反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆの回折角度を小さくすることができる。これにより、領域８７Ｅ及び８７Ｆに形成する回折格子のピッチを広くすることができるので、その製造の難易度を下げることができる。

また領域８７Ｅ及び８７Ｆにブレーズドホログラムを用いる場合には、回折格子のピッチを広げることにより回折効率を向上させることも可能となるため、受光信号ＳＥ及びＳＦにおけるＳ／Ｎ（Signal/Noise）比を高めることができる。

さらに光検出器８９は、光検出器２９と比較して縦方向に関する長さを短縮することが可能となる。このため光ピックアップ７７は、光ピックアップ１７と比較して全体構成を小型化することも可能となる。

さらに光ピックアップ７７は、その組立工程等において、受光部ＤＡ及びＤＪにおける検出結果を用いて、ホログラム素子８７及び光検出器８９等の取付位置や取付角度等が調整される。特に第３の実施の形態では、第１の実施の形態と比較して、スポットＴＪが拡大された状態となる（図２２）。

スポットＴＪが集光されている場合、光検出器８９等の取付位置や取付角度を僅かに調整したときに受光信号ＳＪＡ〜ＳＪＤの値が全く変化しないか、或いは急激に大きく変化するといった「ピーキーな特性」となり、調整作業が極めて困難となるおそれがある。

これに対し、第３の実施の形態のようにスポットＴＪが拡大された場合、光検出器８９等の取付位置や取付角度を僅かに調整したときに、受光信号ＳＪＡ〜ＳＪＤの値が僅かずつ又はある程度大きく変化することになる。

これにより、調整作業等において、例えば「どちらへ動かせば最適な取付位置に近づくのか」といった判断が容易となる。この結果、光ピックアップ７７の組立工程における調整作業を簡易化でき、所要時間の短縮を図ることができる。

また光ディスク装置７０は、その他の点について、第１の実施の形態と同様の作用効果を奏し得る。

以上の構成によれば、光ディスク装置７０の光ピックアップ７７は、反射光ビームＬＲをホログラム素子８７により回折させる。ホログラム素子８７は、プッシュプル成分が含まれない反射光ビームＬＲ０を直進させ、反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆを縦方向の内周側及び外周側へ分離して進行させ、反射光ビームＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈをそれぞれ横方向へ進行させる。光検出器８９は、横方向に距離ｄ２だけ離隔された受光領域ＲＥ及びＲＦ、受光領域ＲＧ及びＲＨ、並びに当該受光領域ＲＥ、ＲＦ、ＲＧ及びＲＨにそれぞれ隣接して配置された迷光受光領域により受光信号Ｓを生成する。光ディスク装置７０は、受光信号Ｓを用い（５）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出することにより、迷光パターンＷ及びレンズシフトの影響を排除でき、高精度なトラッキング制御を行うことができる。

＜４．他の実施の形態＞
なお上述した第１の実施の形態においては、検出部ＤＥ及びＤＦを、仮想的な直線Ｖ１を対称中心線としてほぼ対称な位置に配置するようにした場合について述べた。

本発明はこれに限らず、当該対称な位置からずれた任意の位置としても良い。この場合、ホログラム素子２７の領域２７Ｅ及び２７Ｆにおける回折方向を相違させ、且つ検出部ＤＥ及びＤＦの間隔ｄ２が（２）式を満たせば良い。これにより、検出部ＤＥには迷光パターンＷＦ及び他層回折迷光パターンＷＭＦがかからず、検出部ＤＦには迷光パターンＷＥ及び他層回折迷光パターンＷＭＥがかからなければ良い。第２及び第３の実施の形態についても同様である。

また上述した第１の実施の形態においては、検出部ＤＧ及びＤＨを、仮想的な直線Ｖ２に沿うように、且つ基準点Ｐ２（図１０）の外周側に配置した場合について述べた。本発明はこれに限らず、検出部ＤＧ及びＤＨを、仮想的な直線Ｖ２から外れた位置に配置しても良く、また検出部ＤＧ及びＤＨの双方又はいずれか一方を基準点Ｐ２の内周側に配置しても良い。第２及び第３の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、受光部ＤＧ及びＤＨにおいて、迷光受光領域ＲＧＮ１、ＲＧＮ２、ＲＨＮ１及びＲＨＮ２をそれぞれ設ける場合について述べた。

本発明はこれに限らず、例えば（５）式により算出したトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を用いてトラッキング制御を行う場合、すなわち受光信号ＳＧＮ及びＳＨＮを用いない場合に、迷光受光領域ＲＧＮ１、ＲＧＮ２、ＲＨＮ１及びＲＨＮ２を省略しても良い。第３の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、光検出器２９の受光部ＤＥにおいて受光領域ＲＥに隣接して迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２を形成するようにした場合について述べた。

本発明はこれに限らず、迷光受光領域ＲＥＮ１又はＲＥＮ２のいずれか一方のみを設けるようにしても良く、また受光領域ＲＥから離隔していても良い。また形状に関しても、長方形状以外の形状であっても良い。要は、迷光受光領域ＲＥＮ１等により、受光領域ＲＥにかかる迷光パターンＷＥの光量と相関関係のある光量を検出できれば良い。この場合、迷光パターンＷＥにおける受光部ＤＥ側の辺がほぼ縦方向に渡る直線状に形成されることを踏まえて、横方向に関し迷光受光領域ＲＥＮ１等の大きさ及び位置等を受光領域ＲＥと揃えておくことが望ましい。迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２についても同様であり、また第２及び第３の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第２の実施の形態においては、光検出器２９の受光部ＤＧにおいて受光領域ＲＧに隣接して迷光受光領域ＲＧＮ１及びＲＧＮ２を形成するようにした場合について述べた。

本発明はこれに限らず、迷光受光領域ＲＧＮ１又はＲＧＮ２のいずれか一方のみを設けるようにしても良く、また受光領域ＲＧから離隔していても良い。また形状に関しても、長方形状以外の形状であっても良い。要は、迷光受光領域ＲＥＮ１等により、受光領域ＲＥにかかる迷光パターンＷＥの光量と相関関係のある光量、特に迷光層間隔ｄｎ＜ｄｎ１となるときに特性曲線Ｑ１（図１９（Ａ））とほぼ比例関係を示すような光量を検出できれば良い。

さらに上述した第１の実施の形態においては、ホログラム素子２７の各領域２７Ｅ〜２７Ｊにそれぞれ形成された回折格子により反射光ビームＬＲの一部をそれぞれ回折させるようにした場合について述べた。

本発明はこれに限らず、他の種々の光学素子により反射光ビームＬＲを領域毎に分割すると共に、それぞれを回折等の光学的作用によって所望の方向へ進行させるようにしても良い。第２及び第３の実施の形態についても同様である。

さらに第３の実施の形態においては、ホログラム素子８７の領域８７Ｊに形成された回折格子により、シリンドリカルレンズ２８により付与される非点収差を完全には相殺しない程度の収差を持たせる場合について述べた。

本発明はこれに限らず、領域８７Ｊに形成された回折格子により、デフォーカス等の他の成分の収差を与えるようにしても良く、要は光検出器８９に形成されるスポットＴＪがそれほど集光されず、ある程度拡散された状態となっていれば良い。

さらに上述した第３の実施の形態においては、ホログラム素子８７の領域８７Ｊに形成された回折格子により、シリンドリカルレンズ２８により付与される非点収差を完全には相殺しない程度の収差を持たせる場合について述べた。

本発明はこれに限らず、第１及び第２の実施の形態においても、ホログラム素子２７の領域２７Ｊに形成された回折格子によりシリンドリカルレンズ２８により付与される非点収差を完全には相殺しない程度の収差を持たせるようにしても良い。

さらに上述した第１の実施の形態においては、受光部ＤＪを縦方向及び横方向と約４５度の角度をなす分割線により４分割する場合について述べた。

本発明はこれに限らず、受光部ＤＪを分割せず単一の受光領域とし、又は当該受光部ＤＪを２以上の任意数に分割するようにしても良く、また任意の方向に沿って分割するようにしても良い。この場合、受光部ＤＪの分割数や分割パターン等に対応した演算処理を行い、当該演算結果に基づいてホログラム素子２７や光検出器２９等の取付位置や取付角度等を調整すれば良い。要は、光ピックアップ１７におけるホログラム素子２７や光検出器２９等の取付位置や取付角度等に応じて変化する受光信号Ｓを生成し得れば良い。第２及び第３の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、光ディスク１００に４層の記録層Ｙを設ける場合について述べた。本発明はこれに限らず、光ディスク１００に２層以上の任意数の記録層Ｙを設けるようにしても良い。

この場合、迷光層間隔ｄｎが最も広い場合及び最も狭い場合のいずれにおいても、レンズシフトが生じていない場合において受光領域ＲＥ及びＲＦに迷光パターンＷＥ及びＷＦのいずれもがかからないことが望ましい。また、レンズシフトにより受光領域ＲＥ又はＲＦに迷光パターンＷＥ又はＷＦがかかる場合であっても、（５）式又は（６）式によりその迷光成分を相殺できれば良い。第３の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、ヘッドアンプ３２内の複数のアンプ回路により受光信号ＳＡ〜ＳＤをそれぞれ増幅してから（６）式に従って加算することにより、再生ＲＦ信号ＳＲＦを算出するようにした場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、例えば受光信号ＳＡ〜ＳＤを（６）式に従って加算してからヘッドアンプ３２内の単一のアンプ回路により増幅して再生ＲＦ信号ＳＲＦを生成するようにしても良い。この場合、利用するアンプ回路の数を削減することができるので、アンプ回路により重畳され得るアンプノイズを低減することが可能となる。トラッキングエラー信号ＳＴＥ２における加算部分についても同様であり、第２及び第３の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、光ディスク装置１０が１ビームプッシュプル法によりトラッキングエラー信号を生成する場合について述べた。本発明はこれに限らず、光ディスク１００の種類に応じて、例えばＢＤ−ＲＯＭの場合にはＤＰＤ（Differential Phase Detection）法等の位相差法を用い、ＢＤ−ＲやＢＤ−ＲＥ等の場合には１ビームプッシュプル法を用いるようにしても良い。この場合、ＤＰＤ法に対応したトラッキングエラー信号演算回路を信号処理部１３に追加するようにしても良い。

さらに第１の実施の形態の場合、光ディスク装置１０が、例えばＢＤ方式等の単一の方式のみでなく、ＤＶＤ方式やＣＤ方式等を加えた２以上の方式にも対応するようにしても良い。この場合、各方式に対応した波長の光ビームを出射し得るレーザダイオードをビームスプリッタ等と共に設け、各方式に対応した受光領域を光検出器２９に設ければ良い。第２及び第３の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、レーザダイオード２１から出射する光ビームＬ１の波長を４０５［ｎｍ］とする場合について述べた。本発明はこれに限らず、光ディスク１００に対応した任意の波長でなる光ビームを出射するようにしても良い。第２及び第３の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、光ディスク装置１０が光ディスク１００に対し情報の記録処理及び再生処理の双方を行い得るようにした場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、例えば光ディスク１００の再生処理のみを行い得る光ディスク装置に本発明を適用するようにしても良い。第２及び第３の実施の形態についても同様である。

さらに上述した実施の形態においては、光源としてのレーザダイオード２１と、対物レンズとしての対物レンズ１８と、レンズ移動部としての２軸アクチュエータ１９と、集光レンズとしての集光レンズ２６と、回折光学素子としてのホログラム素子１７と、光検出器としての光検出器２９とによって光ピックアップとしての光ピックアップ１７を構成する場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる光源と、対物レンズと、レンズ移動部と、集光レンズと、回折光学素子と、光検出器とによって光ピックアップを構成するようにしても良い。

さらに上述した実施の形態においては、光源としてのレーザダイオード２１と、対物レンズとしての対物レンズ１８と、レンズ移動部としての２軸アクチュエータ１９と、集光レンズとしての集光レンズ２６と、回折光学素子としてのホログラム素子１７と、光検出器としての光検出器２９と、信号処理部としての信号処理部１３と、サーボ制御部としてのサーボ制御部１２Ａとによって光ディスク装置としての光ディスク装置１０を構成する場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、その他種々の回路構成でなる光源と、対物レンズと、レンズ移動部と、集光レンズと、回折光学素子と、光検出器と、信号処理部と、サーボ制御部とによって光ディスク装置を構成するようにしても良い。

本発明は、映像や音声或いは種々のデータ等の情報を光ディスクに記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生する光ディスク装置でも利用できる。

１０、５０、７０……光ディスク装置、１１……統括制御部、１２……駆動制御部、１２Ａ……サーボ制御部、１２ＡＴ……トラッキング制御部、１３、５３、７３……信号処理部、１３Ｔ、５３Ｔ……トラッキングエラー信号演算回路、１７、７７……光ピックアップ、１８……対物レンズ、１９……２軸アクチュエータ、２１……レーザダイオード、２６……集光レンズ、２７、８７……ホログラム素子、２７Ｅ、２７Ｆ、２７Ｇ１、２７Ｇ２、２７Ｈ１、２７Ｈ２、２７Ｊ……領域、２８……シリンドリカルレンズ、２９、８９……光検出器、１００……光ディスク、Ｙ……記録層、ＹＴ……対象記録層、ＤＥ、ＤＦ、ＤＧ、ＤＨ、ＤＪ……受光部、ＲＥ、ＲＦ、ＲＧ、ＲＨ、ＲＪＡ、ＲＪＢ、ＲＪＣ、ＲＪＤ……受光領域、ＲＥＮ１、ＲＥＮ２、ＲＦＮ１、ＲＦＮ２、ＲＧＮ１、ＲＧＮ２、ＲＨＮ１、ＲＨＮ２……迷光受光領域、ＳＥ、ＳＦ、ＳＧ、ＳＨ、ＳＥＮ、ＳＦＮ、ＳＧＮ、ＳＨＮ……受光信号、Ｌ１……光ビーム、ＬＲ……反射光ビーム、ＬＮ……層間迷光ビーム、Ｗ……迷光パターン、ＳＴＥ１、ＳＴＥ２、ＳＴＥ３……トラッキングエラー信号。

Claims (15)

1. 光ビームを出射する光源と、
   光ディスクに複数設けられた記録層のうち対象とする対象記録層に上記光ビームを集光する対物レンズと、
   上記対物レンズを、上記対象記録層に螺旋状又は同心円状に形成されたトラック溝とほぼ直交するトラッキング方向へ移動させるレンズ移動部と、
   上記光ビームが上記光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを集光する集光レンズと、
   上記反射光ビームを回折させて反射０次光ビーム及び反射１次光ビームに分離する際、上記反射１次光ビームのうち上記トラック溝により回折された＋１次光が含まれる部分に対応する第１領域により当該反射１次光ビームの一部を所定の第１方向へ回折させて第１ビームとし、上記反射１次光ビームのうち上記トラック溝により回折された−１次光が含まれる部分に対応する第２領域により当該反射１次光ビームの一部を上記第１方向と相違する第２方向へ回折させて第２ビームとし、上記反射１次光ビームのうち上記トラック溝により回折された＋１次光及び−１次光が殆ど含まれず上記光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第３領域により当該反射１次光ビームの一部を上記第１方向及び上記第２方向のいずれとも相違する第３方向へ回折させて第３ビームとし、上記反射１次光ビームのうち上記トラック溝により回折された＋１次光及び−１次光が殆ど含まれず上記光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第４領域により当該反射１次光ビームの一部を上記第３方向と同一又は相違する第４方向へ回折させて第４ビームとする回折光学素子と、
   上記光ビームの一部が上記光ディスクにおける上記対象記録層と異なる他の記録層により反射されてなる層間迷光のうち上記回折光学素子により回折されずに透過する０次迷光により形成される０次迷光スポットの最大となるときの半径をｒ２としたとき、上記反射０次光ビームの照射位置における上記第１方向側及び上記第２方向側であって上記反射０次光ビームの照射位置から半径ｒ２よりも離れ、且つ上記０次迷光スポットが最小となるときに上記層間迷光が上記回折光学素子の上記第１領域及び上記第２領域でそれぞれ回折されることにより形成される第１迷光スポット及び第２迷光スポットの照射範囲を避けた箇所にそれぞれ設けられた第１受光領域及び第２受光領域により、上記第１ビーム及び上記第２ビームをそれぞれ受光して受光信号を生成すると共に、上記反射０次光ビームの照射位置における上記第３方向側に設けられた第３受光領域及び上記反射０次光ビームの照射位置における上記第４方向側に設けられた第４受光領域により、上記第３ビーム及び上記第４ビームをそれぞれ受光して受光信号を生成する光検出器と
   を有し、
   所定の信号処理部により、上記第１受光領域、上記第２受光領域、上記第３受光領域及び上記第４受光領域によりそれぞれ生成された受光信号を基に、上記トラッキング方向に関する上記光ビームの焦点と上記トラック溝の中心線とのずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成させ、
   所定のサーボ制御部により、上記トラッキングエラー信号を基に上記レンズ移動部を介して上記対物レンズを上記トラッキング方向へ移動させる
   光ピックアップ。
2. 上記回折光学素子は、
   上記トラック溝の像における走行方向に対し所定角度をなす方向を上記第１方向として上記第１ビームを進行させ、上記走行方向と略直交する直交方向に関して上記第１方向と略対称な方向を上記第２方向として上記第２ビームを進行させると共に、上記直交方向を上記第３方向及び上記第４方向として上記第３ビーム及び上記第４ビームを進行させる
   請求項１に記載の光ピックアップ。
3. 上記第４方向は、上記第３方向と同一であって、
   上記回折光学素子は、
   上記第１ビーム及び上記第２ビームにおける回折角度を互いにほぼ同等として上記第１方向及び上記第２方向へそれぞれ進行させると共に、上記第３ビーム及び上記第４ビームにおける回折角度を互いに相違させて上記第３方向及び上記第４方向へそれぞれ進行させ、
   上記光検出器は、
   上記走行方向に関し互いにほぼ対称となる位置に上記第１受光領域及び上記第２受光領域がそれぞれ設けられると共に、上記反射０次光ビームの照射位置を通り上記第３方向及び上記第４方向へ延長された仮想直線上に上記第３受光領域及び上記第４受光領域がそれぞれ設けられている
   請求項２に記載の光ピックアップ。
4. 上記回折光学素子における上記第１領域、上記第２領域、上記第３領域及び上記第４領域を除いた中央部分でなる第５領域と上記第１領域又は上記第２領域との境界線と、上記回折光学素子における上記第３領域及び上記第４領域の境界線との間の距離をｄ１とし、
   上記光検出器上における上記第１受光領域のほぼ中心を表す点と上記第２受光領域のほぼ中心を表す点との間の距離をＤ２とし、
   上記回折光学素子に入射される際における上記反射光ビームの半径をｒ１としたとき、次式
   

   

   の関係が満たされる
   請求項３に記載の光ピックアップ。
5. 上記回折光学素子は、
   上記第１領域、上記第２領域、上記第３領域及び上記第４領域を除いた中央部分でなる第５領域により、上記反射１次光ビームの一部を上記第１方向、上記第２方向、上記第３方向及び第４方向のいずれとも相違する第５方向へ回折させて第５ビームとし、
   上記光検出部は、
   上記０次光ビームの照射位置における上記第５方向側に設けられた第５受光領域により、上記第５ビームを受光して受光信号を生成する
   請求項３に記載の光ピックアップ。
6. 上記回折光学素子は、
   上記第５ビームに対し所定の収差を与えることにより、上記光検出器の受光面において上記第５ビームにより形成されるスポットを、上記第１ビームないし第４ビームによりそれぞれ形成されるスポットよりも拡大させる
   請求項５に記載の光ピックアップ。
7. 上記光検出器は、
   上記第５受光領域が少なくとも２以上に分割されている
   請求項５に記載の光ピックアップ。
8. 上記光検出器は、
   上記光ビームの一部が上記光ディスクにおける上記対象記録層以外の他の上記記録層により反射されてなる層間迷光を受光する迷光受光領域が、上記第１受光領域及び上記第２受光領域の近傍にそれぞれ設けられている
   請求項１に記載の光ピックアップ。
9. 上記光検出器は、
   上記光ビームの一部が上記光ディスクにおける上記対象記録層以外の他の上記記録層により反射されてなる層間迷光を受光する迷光受光領域が、上記第３受光領域及び上記第４受光領域の近傍にそれぞれ設けられている
   請求項１に記載の光ピックアップ。
10. 上記光検出器の上記第１受光領域及び上記第２受光領域は、
    上記光ビームの一部が上記光ディスクにおける上記対象記録層と異なる他の記録層に形成されているトラックにより反射されると共に回折された際の＋１次光及び−１次光でなる他層＋１次光ビーム及び他層−１次光ビームによりそれぞれ形成される他層＋１次スポット及び他層−１次スポットのうち、多くともいずれか一方が照射されるようそれぞれ配置されている
    請求項１に記載の光ピックアップ。
11. 上記光検出器は、
    上記光ビームの一部が上記光ディスクにおける上記対象記録層から最も離隔した他の記録層により反射されてなる層間迷光ビームが上記回折光学素子により回折され生じた０次光ビームの照射範囲外に、上記第１受光領域、上記第２受光領域、上記第３受光領域及び上記第４受光領域が配置されている
    請求項１に記載の光ピックアップ。
12. 上記回折光学素子は、
    上記第１領域及び上記第２領域において上記反射光ビームのほぼ全てを上記第１ビーム及び上記第２ビームとして回折させ、
    上記光検出器は、
    上記第１領域及び上記第２領域に相当する部分を含まない上記反射０次光ビームを上記０次光受光部により受光する
    請求項１１に記載の光ピックアップ。
13. 光ビームを出射する光源と、
    光ディスクに複数設けられた記録層のうち対象とする対象記録層に上記光ビームを集光する対物レンズと、
    上記対物レンズを、上記対象記録層に螺旋状又は同心円状に形成されたトラック溝とほぼ直交するトラッキング方向へ移動させるレンズ移動部と、
    上記光ビームが上記光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを集光する集光レンズと、
    上記反射光ビームを回折させて反射０次光ビーム及び反射１次光ビームに分離する際、上記反射１次光ビームのうち上記トラック溝により回折された＋１次光が含まれる部分に対応する第１領域により当該反射１次光ビームの一部を所定の第１方向へ回折させて第１ビームとし、上記反射１次光ビームのうち上記トラック溝により回折された−１次光が含まれる部分に対応する第２領域により当該反射１次光ビームの一部を上記第１方向と相違する第２方向へ回折させて第２ビームとし、上記反射１次光ビームのうち上記トラック溝により回折された＋１次光及び−１次光が殆ど含まれず上記光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第３領域により当該反射１次光ビームの一部を上記第１方向及び上記第２方向のいずれとも相違する第３方向へ回折させて第３ビームとし、上記反射１次光ビームのうち上記トラック溝により回折された＋１次光及び−１次光が殆ど含まれず上記光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第４領域により当該反射１次光ビームの一部を上記第３方向と同一又は相違する第４方向へ回折させて第４ビームとする回折光学素子と、
    上記光ビームの一部が上記光ディスクにおける上記対象記録層と異なる他の記録層により反射されてなる層間迷光のうち上記回折光学素子により回折されずに透過する０次迷光により形成される０次迷光スポットの最大となるときの半径をｒ２としたとき、上記反射０次光ビームの照射位置における上記第１方向側及び上記第２方向側であって上記反射０次光ビームの照射位置から半径ｒ２よりも離れ、且つ上記０次迷光スポットが最小となるときに上記層間迷光が上記回折光学素子の上記第１領域及び上記第２領域でそれぞれ回折されることにより形成される第１迷光スポット及び第２迷光スポットの照射範囲を避けた箇所にそれぞれ設けられた第１受光領域及び第２受光領域により、上記第１ビーム及び上記第２ビームをそれぞれ受光して受光信号を生成すると共に、上記反射０次光ビームの照射位置における上記第３方向側に設けられた第３受光領域及び上記反射０次光ビームの照射位置における上記第４方向側に設けられた第４受光領域により、上記第３ビーム及び上記第４ビームをそれぞれ受光して受光信号を生成する光検出器と、
    上記第１受光領域、上記第２受光領域、上記第３受光領域及び上記第４受光領域によりそれぞれ生成された受光信号を基に、上記トラッキング方向に関する上記光ビームの焦点と上記トラック溝の中心線とのずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成する信号処理部と、
    上記トラッキングエラー信号を基に上記レンズ移動部を介して上記対物レンズを上記トラッキング方向へ移動させるサーボ制御部と
    を有する光ディスク装置。
14. 上記光検出器は、
    上記光ビームの一部が上記光ディスクにおける上記対象記録層以外の他の上記記録層により反射されてなる層間迷光を受光する迷光受光領域が、上記第１受光領域、上記第２受光領域、上記第３受光領域及び上記第４受光領域の近傍にそれぞれ設けられている
    請求項１３に記載の光ディスク装置。
15. 上記信号処理部は、
    上記受光信号に加え、上記迷光受光領域による受光結果を基に上記トラッキングエラー信号を生成する
    請求項１４に記載の光ディスク装置。

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