JP4357518B2 - 光学ヘッド及びそれを備える光ディスク装置 - Google Patents

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本発明は、光ディスク上に情報の記録又は再生を行う光ディスク装置及びそれに用いられる光学ヘッドに関し、特に、積層された複数の情報記録層を有する光ディスク上の情報の記録又は再生を行う光ディスク装置及びそれに用いられる光学ヘッドに関する。
光ディスクの記録容量を増す方法として、情報記録層を積層する多層光ディスクの技術が検討されている。DVD(Digital Versatile Disc)やBD(Blu-ray Disc)、HD−DVD(High Density Digital Versatile Disc)の規格では2つの情報記録層を約20〜55μmの間隔で積層した2層光ディスクが製品化されている。また更なる大容量化技術として3層以上の光ディスクも研究されている。
このような多層光ディスクの記録又は再生を行う場合は、目的の層にレーザ光の焦点を正確に位置付けするために、他層からの迷光によるフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号などのサーボ信号のオフセットを出来る限り排除しなければならない。
他層からの迷光の影響を排除する方法として、例えば、非特許文献1には、トラッキング用フォトディテクタを多層迷光のない領域に配置することが記載されている(非特許文献1)。
電子情報通信学会 技報 CPM2005−149(2005−10)
しかし、非特許文献1ではフォーカスエラー信号に対する迷光の影響については記載されていない。
また、非特許文献1では、フォーカスエラー信号用の受光部の周囲に生じる他層からの迷光の外側にトラッキングエラー信号用の受光部を配置することが必要なため、光検出器のサイズが大きくなってしまう。
本発明は、多層光ディスクの記録再生において、安定したサーボ信号を得ることが出来る光学ヘッドとそれを備える光ディスク装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明に従う光学ヘッドは、光源と;前記光源から出射される光束を前記光ディスク上に集光するための対物レンズと;前記光ディスクで反射された光束を複数の光束に分割するための分割素子と;前記光ディスクで反射された光束を集光するための集光レンズと;前記集光レンズによって集光された光束を複数の受光部で受光して電気信号に変換するための光検出器とを有し;
前記分割素子は、略中央に配置された第1の分割領域と、第1の分割線により区分されるとともに、第1の分割線の方向に沿って前記第1の分割領域を挟むように配置された4つの領域から構成される第2の分割領域と、前記第1の分割線に直交する第2の分割線により区分されるとともに、前記第2の分割線の方向に沿って前記第1の分割領域を挟むように配置された4つの領域から構成される第3の分割領域とを有しており;
前記第1から第3の分割領域の各領域は、前記光ディスクの目的の情報記録層に焦点を合わせた場合に、前記目的の情報記録層からの反射光束が前記光検出器の受光部上に焦点を結び、前記目的の情報記録層以外の記録再生層からの反射光束は前記光検出器の前記受光部に照射されないように構成されている。
本発明によれば、1ビームトラッキング方式で安定したフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を得ることが出来る。
本発明の光学ヘッドは、例えば、多層光ディスクからの反射光を、分割素子で、出射方向の異なる複数の反射光束に分割し、分割された光束が光検出器上の異なる位置に焦点を結ぶように構成される。そして、分割素子を通過する反射光束のうち、光束中心を含まない領域を通過した反射光束を用いてナイフエッジ法によりフォーカスエラー信号を検出し、光束中心を含まない領域を通過した反射光束を用いてトラッキングエラー信号を検出するように構成されている。さらに目的の層に焦点が合っているときには、他層からの迷光が光検出器のサーボ信号用の受光部に入らないように、分割素子の各領域と受光部が配置されている。
以下、本発明に従う光学ヘッドとそれを備える光ディスク装置の実施の形態を、図1から図5を用いて詳細に説明する。
図1は本発明の実施例である光学ヘッドの構成を示す図である。
半導体レーザ1から出射したレーザ光2は、偏光ビームスプリッタ3で反射してコリメートレンズ4で平行光束となる。平行光束は、偏光回折格子5、1/4波長板6を通過して対物レンズ7で光ディスク8上に集光される。光ディスク8には第1層9と第2層10の2つの記録再生層(情報記録層)が設けられており、それぞれ矢印11の方向にトラック(図示せず)が形成されている。
光ディスクの2つの記録再生層のどちらかの層に焦点が合っているときに、光ディスク8で反射されたレーザ光2は対物レンズ7、1/4波長板6を透過して偏光回折格子5によって複数の領域に光束が分割されて、それぞれ異なった方向に進行する。そして、コリメートレンズ4、偏光ビームスプリッタ3を透過して光検出器12上に焦点を結ぶ。
光検出器上12には複数の受光部13が形成されており、それぞれの受光部13には偏光回折格子5によって分割された光束が照射される。受光部13に照射された光量に応じて光検出器12から電気信号が出力され、これらの出力を演算してフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号が生成される。
以下の説明においては、記録又は再生のために光学ヘッドを光ディスクに対向させた場合に、光ディスク8の面に対して垂直となる方向をZ軸、トラック方向をY軸、トラックと垂直な方向をX軸と定義する。Z軸は、対物レンズ1を出射した光束の光軸と略平行である。
図2に、図1における偏光回折格子5の形状を示す。偏光回折格子5は、複数の領域に分割されており、図2において、実線は領域の境界線を示している。また、図2において、2点鎖線はレーザ光の光束の外形を模式的に示し、斜線部は光ディスクのトラックによって生じるプッシュプルパターンを模式的に示している。
偏光回折格子5には光束中心14を通るY軸方向に分割線15が形成され、X軸方向に分割線16が形成されている。また、偏光回折格子5には、光束中心14に対して点対称で、光束中心14を含む4つの領域(領域C1〜C4)から構成される分割領域(第1分割領域)と、光束中心14に対して点対称で、光束中心14を含まず、X軸方向の分割線16の一部を含む4つの領域(領域A1からA4)から構成される分割領域(第2分割領域)と、光束中心14に対して点対称で、光束中心14を含まず、Y軸方向の分割線15の一部を含む4つの領域(領域B1からB4)から構成される分割領域(第3分割領域)とが形成されている。
記録時又は再生時に、光学ヘッドを光ディスクの表面に対向させた場合、分割線15は、光ディスクのトラック方向に略平行となり、分割線16は、光ディスクのトラック方向と略直交する

領域A1からA4は、光束中心14を通るX軸方向の分割線16と、光束中心14を通らないY軸方向の2本の分割線17と、光束中心14を通らないX軸方向の4本の分割線18と、光束中心14を中心にY軸方向に対して約30度の角度をなす4本の分割線19によって分割されている。X軸方向の4本の分割線18のY軸方向の間隔uはプッシュプルパターンを含むように設定されており実施例では光束径の約55〜70%の範囲に設定されている。
また、領域A1からA4は、領域C1からC4を挟むように配置されている。領域A1及びA2が、それぞれ、領域A4及びA3と、分割線15に対して線対称となるように、各領域A1からA4が形成されている。
また、領域B1からB4も、領域C1からC4を挟むように設けられている。領域B1は領域B2と、分割線16に対して線対称となり、領域B4が領域B3と分割線16に対して線対称となるように設けられている。
Y軸方向の2本の分割線17の間隔wは、領域Aがプッシュプルパターンを含みかつ光検出器12の受光部13の形状に応じて迷光が受光部に入らない条件内で出来るだけ小さくなるように設定されており、実施例では光束径の約25〜30%の範囲に設定されている。Y軸方向に対して約30度の角度をなす分割線19は迷光が受光部13に入らないように設けられている。
また領域Bの領域Cとの境界のX軸方向の2本の分割線20の間隔vは光検出器12の受光部13の形状に応じて迷光が受光部13に入らない条件内で出来るだけ小さくなるように決められている。
各領域に形成されている回折格子の形状は、領域C1とC3、C2とC4に対してはそれぞれ同じ形状であるが、それ以外の領域は、互いに異なる形状になっている。それぞれの回折格子において光束は±1次の回折光に分離されて光検出器12に照射される。
図3に光検出器12の受光部13の形状と光検出器上に照射される光パターンの形状を示す。図3には記録再生層からの反射光のみの光パターンを示しており、他層からの迷光の光パターンは示していない。
記録再生層に合焦点の時、記録再生層で反射されたレーザ光2は光検出器12上に焦点21を結び、それらは光検出器12上に形成されたAからTまでの18個の受光部13に照射されている。
受光部M,N,O,Pはダブルナイフエッジ法によりフォーカスエラー信号を検出するための受光部である。領域A1で回折されて光検出器12上に照射される±1次回折光の光束をa1+,a1−というように表すと、光束a1−が受光部MとNの境界に、光束a2−が受光部PとOの境界に、光束a3−が受光部PとNの境界に、光束a4−が受光部MとOの境界に照射される。受光部AからJの出力を、それぞれ、aからjで表し、受光部MからTの出力を、それぞれ、mからtで表すと、フォーカスエラー信号(FES)は、
(FES)=(m+p)−(n+o)
という演算式によって得られる。
また受光部E,F,G,Hと受光部Q,R,S,Tは、それぞれ、受光部A,B,C,Dと受光部M,N,O,Pの外側に配置されており、受光部A,B,C,Dには光束a1+,a2+,a3+,a4+が、受光部E,F,G,Hには光束b1+,b2+,b3+,b4+が、受光部Q,R,S,Tには光束b1−,b2−,b3−,b4−が照射されて、これらはトラッキングエラー信号の検出に用いられる。
プッシュプル法によるトラッキングエラー信号(TES)は、
(TES)=((a+e+b+f)−(c+g+d+h))−K((q+r)−(s+t))
という演算式によって得られる。Kは定数であり、対物レンズ7がトラッキング動作によりX軸方向に移動した場合に、(TES)にオフセットが生じないようにKの値が決められる。
またDPD法によるトラッキングエラー信号(DPD)は(a+e,c+g)と(b+f,d+h)の位相差を検出して得られる。
受光部I,Jは受光部E,F,G,Hの外側に配置されており、受光部Iには光束c1+,c3+が、受光部Jには光束c2+,c4+が照射される。これらは他の信号と合わせて再生信号(RF)の検出に用いられ、
(RF)=a+b+c+d+e+f+g+h+i+j
という演算式によって得られる。
また光束c1−,c2−,c3−,c4−は受光部13の無い箇所に照射されており、これらは信号の検出には利用されない。
図4にデフォーカス時に光検出器12上に照射される各光束の光パターンの変化の様子とフォーカスエラー信号(FES)の波形を示す。
+1次回折光22の光パターンを格子模様で示し、−1次回折光23の光パターンを斜線で示した。合焦点位置(c)では光パターンは受光部M〜Pの境界線上に焦点を結んでおり、このときフォーカスエラー信号は0になる。デフォーカスするにしたがって光パターンが大きくなり(b)(d)のときにフォーカスエラー信号が極大、極小値をとる。さらに光パターンが大きくなる(a)(e)では受光部13に光が照射されなくなりフォーカスエラー信号が0になる。
デフォーカスするにしたがって光パターンは(c)の集光点を中心に拡大していき、このときC1〜C4の領域の光パターンも拡大されるが、受光部I,Jの領域以外では領域C1〜C4の光束中心付近の光パターンを含まないので、受光部13から光パターンが外れていくことになる。フォーカスエラー信号を検出する受光部MからPでは、領域B1からB4と領域C1からC4の光パターンの拡大に応じて受光部MからPから光パターンが外れていく。
図5を用いてフォーカスエラー信号を検出する受光部M〜Pでの光パターンの変化を詳細に説明する。図5は合焦点時に受光面OとPの境界に集光される光束a2−の光パターン25の変化を示したものである。(b)(c)(d)は図4の状態と対応し、(a´) (e´)はそれぞれ(a)と(b)、(d)と(e)の中間の状態を示す。(c)では光束中心16に相当する位置に集光されており、光パターン25はデフォーカスするにしたがって(c)の集光点(光束中心)を中心に拡大していく。このとき他の受光部に照射される光束b2−とc2−に相当する仮想の光パターン26,27が拡大するので光パターン25が受光部M〜Pから外れていき、(a´) (e´)では受光部M〜Pから完全に外れて照射されない状態となる。
図4において偏光回折格子5の分割線17の幅wに対応してデフォーカス時の領域A1〜A4の光パターンのX軸方向の間隔Wpが決まるのでデフォーカス時に光パターンが受光部13に照射されないように受光部13の形状と分割線17の幅wとの関係が決められる。
また間隔Wpの間に受光部13を配置するので、受光部13をデフォーカス時の光パターンの外側に配置する場合に比べて受光部同士を近づけて配置することが可能であり、光検出器を小型化することが出来る。
またデフォーカスするにしたがって光パターンが拡大していく際に受光部M〜Pに他の領域の光パターンが照射されるとフォーカスエラー信号波形に歪みが生じてフォーカス引き込み時のエラーの原因となる。偏光回折格子5のY軸方向と約30度の角度をなす分割線19によって形成される領域Aの斜線部24は受光部A〜Dに照射される光パターンがデフォーカスとともに拡大していく際に受光部M〜Pに入射されないように設けられている。受光部の配置によってはこの斜線部は不要になる。
図6は2層ディスクにおける光検出器12上の光パターンの形状とフォーカスエラー信号(FES)の波形を示す。第1層9からの反射光の光パターン28を格子模様で第2層10からの反射光の光パターン29を斜線で示す。
2層ディスクのフォーカスエラー信号波形(FE)は第1層9で生成されるフォーカスエラー信号波形(FE1)と、第2層10で生成されるフォーカスエラー波形(FE2)の合成として得られる。図6において、(a)は第1層9に焦点が合っているときの光パターン28,29の様子であり、光パターン28は光検出器12上に焦点を結んでおり、このとき光パターン29(迷光)は受光部13の外に照射されている。
第1層9から第2層10に焦点が移動するにしたがって光パターン28が大きくなるとともに光パター29が小さくなり、第1層9と第2層10の中間点(b)では光パターン28と光パターン29の大きさがほぼ同じで受光部M〜Pにはほとんど照射されない状態となっている。第2層10に焦点の合った(c)においては光パターン29が光検出器12上に焦点を結び、光パターン28(迷光)が受光部13の外に照射されている。
フォーカスエラー信号は受光部M〜Pの出力を演算して得られるが合焦点においては迷光が受光部M〜Pに照射されないので迷光によるオフセットが生じることがなく、またレーザ光2の強度分布のばらつきや受光部13と光パターンの位置ずれに対しても迷光によるオフセットが生じないので、安定したフォーカスエラー信号を得ることが出来る。
さらに2層ディスクのフォーカスエラー信号波形(FE)は第1層9で生成される波形(FE1)と第2層10で生成される波形(FE2)の重なりが大きいと歪みが生じて、フォーカス引き込みエラーを生じることがあるが、本実施例では第1層9と第2層10の中間点(b)付近では光パターンが受光部M〜Pにほとんど照射されないので(FE1)と(FE2)の出力が小さく、フォーカスエラー信号波形(FE)の歪みも小さい。
同様にトラッキングエラー信号も受光部A〜H、Q〜Tの出力を演算して得られるが、合焦点においては迷光が受光部A〜H,Q〜Tに照射されないので、迷光によるオフセットが生じない安定したトラッキングエラー信号を得ることが出来る。
受光部I,Jは光束の中心を含むため光パターンが大きくなっても光束の中心付近の光線が受光部に残って迷光となるが、この部分はフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号の検出に使用せず、再生信号の検出のみに用いているので迷光があっても実用上問題とならない。
上記のように迷光の影響を受けないことから、偏光回折格子5において回折される±1次回折光の光量のバランスを変えることができる。再生信号を検出する受光部の光量が増えるように+1次回折光22の光量を増やすことで再生信号のSNを改善することが可能であり、このとき−1次回折光23の光量が減るが、光量が減ったことにより迷光によるオフセットが大きくなることが無いので、電気的な制約のみを考慮すればよい。
上記実施例において偏光回折格子5と1/4波長板は対物レンズ7と一緒に動くように一体に固定してもよく、また対物レンズ7と一緒に動かないように別々に固定しても良い。対物レンズ7と別々に固定した場合には、対物レンズ7がトラッキング動作によりX軸方向に移動すると、図2において2点鎖線で示した光束の外形もX方向に移動して分割線15が光束中心14からずれるが、分割線17の幅wに対応して光検出器12上に現れる光パターンの間隔Wpの位置と大きさは変わらないので、この場合も迷光が受光部13に照射されることがない。光束の外形がX方向に移動するのでプッシュプル法によるトラッキングエラー信号(TES)の演算式におけるKの値が一体固定の場合とは異なる。
偏光回折格子5は上記実施例の形状に限られるものではない。以下に、偏光回折格子の他の実施例について説明する。
図7、図8は偏光回折格子5の第2の実施例の分割領域の形状と、そのときに光検出器12上に照射される光パターンの形状を示す。第1層9からの反射光の光パターン28は光検出器12上に焦点を結んでおり、その時の第2層10からの反射光の光パターン29(迷光)が斜線で示されている。第1の実施例との違いは、領域C1〜C4のX軸方向の幅Wcが狭いことである。幅を狭くした分は領域B1〜B4が拡大されている。領域A1〜A4の形状は第1の実施例と同じである。領域B1〜B4が拡大されるので光検出器12の位置ずれに対しては迷光が受光部E〜F、Q〜Tに入りやすくなるが、トラッキングエラー信号の出力を増やす効果が期待できる。
図9、図10は偏光回折格子5の第3の実施例の分割領域の形状と、そのときに光検出器12上に照射される光パターンの形状を示す。第1層9からの反射光の光パターン28は光検出器上に焦点を結んでおり、その時の第2層10からの反射光の光パターン29(迷光)が斜線で示されている。
第1の実施例との違いは、光束中心14を通らないX軸方向の4本の分割線18が無く、光束中心14を中心にY軸方向に対して約30度の角度をなす4本の分割線19が延長されていることである。このため領域B1〜B4の面積が減るので受光部Q〜Tの出力q〜tが小さくなり、プッシュプル法によるトラッキングエラー信号の演算式、
(TES)=((a+e+b+f)−(c+g+d+h))−K((q+r)−(s+t))
においてKの値を大きくしなければならないが、A1〜A4の面積が増えるのでフォーカスエラー信号の出力を増やす効果が期待できる。
上記の実施例においては光束の分割素子に偏光回折格子を用いて、コリメートレンズと1/4波長板の間に配置しているが、通常の回折格子を偏光ビームスプリッタと光検出器の間に配置してもよい。
光ディスク上に情報の記録再生を行う光ディスク装置への利用が期待できる。
光ディスクの目的の層に焦点が合っているときには、他層からの迷光が光検出器のサーボ信号用の受光部から外れているので、目的の層の反射光のみを受光してサーボ信号を得ることが可能であり、他層からの迷光によるオフセットが生じない安定したフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を得ることが出来る。
つぎに、本発明に従う光学ヘッドを備える光ディスク装置について説明する。
図11は図1に示した光学ヘッドを搭載した光ディスク装置の具体例を示す概略図である。図1に示した半導体レーザ1、偏光ビームスプリッタ3、偏光回折格子5、1/4波長板6、光検出器12、および図1に示されていないがレーザ光の方向を変えるためのミラー27はケース28に接着固定されている。コリメートレンズ4は移動機構29によって光軸にそって移動可能な状態でケース28に固定されており、光ディスク8の第1層9に記録再生する場合と第2層10に記録再生する場合の各々で、光ディスク8に集光されるレーザ光2の球面収差が最小になる位置に移動することが出来る。
対物レンズ7はコイル30が組み込まれたホルダ31に取り付けられて、図示されていないマグネットと組み合わせてアクチュエータを形成しており光ディスク8の面ぶれと偏心に対して対物レンズ7を追従させることが出来る。
また、ケース28はモータ32とリードスクリュー33によって光ディスク8の半径方向に移動可能である。光ディスク8はスピンドルモータ34に固定されている。
各構成部位の動作はシステム制御回路によって制御されており、記録再生を行う際にはまずスピンドルモータ駆動回路を動作させてスピンドルモータ34を駆動し、光ディスク8を回転する。
次にレーザ駆動回路を動作させて半導体レーザ1を発光させる。
光検出器12の出力からサーボ信号生成回路によってフォーカスエラー信号が生成され、その信号に基づいてアクチュエータ駆動回路によりアクチュエータを駆動して対物レンズ7によるレーザ光2の集光点を記録再生層に合わせるようにフォーカシング制御をおこなう。
レーザ光2の集光点を第1層9に合わせる場合には、コリメートレンズ5を第1層9に対応した位置に移動してから、フォーカスエラー信号を検出する。フォーカスエラー信号は図6に示した波形が得られるので第1層合焦点位置にフォーカシング制御を行う。
次にアクセス制御回路を動作してモータ32を回転させ、リードスクリュー33を介してケース28を光ディスク8の内周または外周の所望の位置に移動させる。
その後、光検出器12の出力からサーボ信号生成回路によって生成されたトラッキングエラー信号に基づいてアクチュエータ駆動回路によりアクチュエータを駆動して光ディスク8のトラック上にレーザ光2の集光点を追従させるトラッキング制御をおこなう。
次に、光検出器12の出力から情報信号再生回路によって、光ディスク8のトラック上のデータ信号が再生される。
また、光ディスク8に情報を記録する場合にはシステム制御回路によって記録情報に対応してレーザ駆動回路を動作させ、半導体レーザ1の出力を変調してトラック上に記録マークを形成させる。
記録再生層を第1層9から第2層10に移動する場合には、システム制御回路によってトラッキング制御を停止したのち、フォーカシング制御を停止すると同時にアクチュエータ駆動回路を動作させてレーザ光2の集光点を第2層に向かって移動させる。次にフォーカスエラー信号の第2層合焦点位置を検出したタイミングでアクチュエータを駆動して第2層にレーザ光の集光点を合わせるようにフォーカシング制御を行う。次にコリメートレンズ4を第2層10に対応した位置に移動してからトラッキングエラー信号に基づいてアクチュエータを駆動してトラック上にレーザ光2の集光点を追従させるトラッキング制御を行う。第2層10においての再生動作と記録動作は、第1層9のときと同様に行われる。
上記実施例において偏光回折格子5、1/4波長板6はケース28に固定されているが、対物レンズ7と同じホルダ31に固定して対物レンズ7と一緒に動くようにしても良い。
以上、本発明に従う光学ヘッド及びそれを備える光ディスク装置の実施の形態について実施例により詳細に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変形例及び改良例を含んでもよい。
例えば、上記実施の形態では、2層の記録再生層(情報記録層)が積層されている光ディスクの記録又は再生について説明したが、3層以上の記録再生層が積層されている光ディスクの記録又は再生にも本発明を適用することができる。
また、光検出器の受光部の配置パターンも上記例には限定されず、光ディスクの目的の情報記録層に焦点を合わせた場合に、目的の記録再生層以外の記録再生層からの反射光束が光検出器の受光部に照射されないのであれば、受光部はどのように配置されていても良い。
また、上記実施形態では、第1分割領域をC1からC4の4つの領域から構成したが、本発明はこれに限定されず、1つの領域だけで第1分割領域を構成してもよいし、2つの領域から構成してもよく、更に、4以上の領域から構成しても良い。
本発明の実施例である光学ヘッドの構成を示す図 本発明の実施例における偏光回折格子の形状を示す図 本発明の実施例における光検出器と光パターンの形状を示す図 本発明の実施例における光パターンの変化の様子を示す図 本発明の実施例における光パターンの変化の様子を示す図 本発明の実施例における2層ディスクでの光パターンの形状を示す図 本発明における偏光回折格子の第2の実施例を示す図 本発明における偏光回折格子の第2の実施例での光パターンの形状を示す図 本発明における偏光回折格子の第3の実施例を示す図 本発明における偏光回折格子の第3の実施例での光パターンの形状を示す図 本発明に従う光学ヘッドを搭載する光ディスク装置の概略図
符号の説明
1…半導体レーザ、2…レーザ光、3…偏光ビームスプリッタ、4…コリメートレンズ、5…偏光回折格子、6…1/4波長板、7…対物レンズ、8…光ディスク、9…第1層、10…第2層、11…矢印、12…光検出器、13…受光部、14…光束中心、15〜21…分割線、22…+1次回折光、23…−1次回折光、24…斜線部、25〜29…光パターン、27…ミラー、28…ケース、29…移動機構、30…コイル、31…ホルダ、32…モータ、33…リードスクリュー、34…スピンドルモータ

Claims (6)

  1. 互いに所定間隔離れて積層された複数の情報記録層を有する光ディスクに光束を照射し、前記光ディスクからの反射光束を検出するための光学ヘッドであって、
    光源と;
    前記光源から出射される光束を前記光ディスク上に集光するための対物レンズと;
    前記光ディスクで反射された光束を複数の光束に分割する分割素子と;
    前記光ディスクで反射された光束を集光する集光レンズと;
    前記集光レンズによって集光された光束を複数の受光部で受光して電気信号に変換する光検出器とを有し;
    前記分割素子は、
    当該分割素子に入射する光束の略中心を通り、前記光ディスクの半径方向に形成された第1の分割線と、
    当該分割素子に入射する光束の略中心を通り、前記光ディスクのトラック方向に形成された第2の分割線と、
    当該分割素子に入射する光束の略中心を含み、略中央に配置された第1の分割領域と、
    前記第1の分割線により区分されるとともに、第1の分割線の方向に沿って前記第1の分割領域を挟むように配置された4つの領域から構成される第2の分割領域と、
    前記第2の分割線により区分されるとともに、前記第2の分割線の方向に沿って前記第1の分割領域を挟むように配置された4つの領域から構成される第3の分割領域とを有しており;
    目的の情報記録層で反射され、前記分割素子の前記第2の領域と前記第3の領域を通過して分割された光束は、それぞれ、前記光検出器のフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を検出する各受光部に焦点を結び、目的の情報記録層以外の情報記録層で反射され、前記分割素子の前記第2の領域と前記第3の領域を通過して分割された光束は、前記フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を検出する前記受光部以外の領域にデフォーカスして照射されるように、前記光検出器のフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を検出する各受光部が配置されている光学ヘッド。
  2. 前記第2の分割領域を通過した光束で、ナイフエッジ法によるフォーカスエラー信号を検出し、
    前記第2の分割領域及び第3の分割領域を通過した光束でトラッキングエラー信号を検出し、
    前記第3の分割領域を通過した光束で前記トラッキングエラー信号のオフセット補正信号を検出し、
    前記第1、第2及び第3の分割領域を通過した光束で再生信号を検出することを特徴とする請求項1に記載の光学ヘッド。
  3. 前記分割素子の各領域には回折格子が形成されており、
    前記第2の分割領域で回折された−1次回折光でフォーカスエラー信号を検出し、
    前記第2及び第3の分割領域で回折された+1次回折光を用いてトラッキングエラー信号を検出し、
    前記第3の分割領域で回折された−1次回折光でトラッキングエラー信号のオフセット補正信号を検出し、
    前記第1、第2及び第3の分割領域で回折された+1次回折光の和で再生信号を検出することを特徴とする請求項1又は2に記載の光学ヘッド。
  4. 前記分割素子の各領域で回折される+1次回折光の光量が−1次回折光の光量より大きくなるように前記回折格子が形成されていることを特徴とする請求項3に記載の光学ヘッド。
  5. 更に、前記集光レンズを光軸方向に移動可能にする移動機構とを有し、
    前記移動機構により、前記集光レンズを移動させて前記光ディスクに集光される光束の球面収差を調整することを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の光学ヘッド。
  6. 請求項1から5のいずれか一項に記載の光学ヘッドと、
    前記光源を駆動するためのレーザ駆動回路と、
    前記光学ヘッドの光検出器の出力信号からサーボ信号を生成するためのサーボ信号生成回路と、
    前記光学ヘッドの光検出器の出力信号から前記光ディスクに記録されている情報を再生するための情報信号再生回路と、
    前記レーザ駆動回路、前記サーボ信号生成回路及び前記情報信号再生回路を制御するシステム制御回路とを有する光ディスク装置。
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