JP2010277663A - 光ピックアップ及び光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】トラッキング制御の精度を高めるようにする。
【解決手段】光ピックアップ１７は、反射光ビームＬＲの領域毎に、１／２波長板３１により偏光方向を回転させ、偏光ホログラム素子３２によりその偏光方向に応じて回折させる。また光ピックアップ１７は、領域３２Ｅ及び３２Ｈにおける回折効率の比率を約１：２として、互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈを受光領域ＲＥにより受光して受光信号ＳＥを生成し、領域３２Ｆ及び３２Ｇにおける回折効率の比率を約１：２として、互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ１Ｆ及びＬＲ１Ｇを受光領域ＲＦにより受光して受光信号ＳＦを生成する。これにより光ディスク装置１０は、受光信号ＳＥ及びＳＦの差分から高品質なトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出でき、高精度なトラッキング制御を行うことができる。
【選択図】図９

Description

本発明は光ピックアップ及び光ディスク装置に関し、例えば複数の記録層を有する光ディスクに対応する光ディスク装置に適用して好適なものである。

従来、光ディスク装置においては、光ディスクに対して光ビームを照射し、当該光ビームが当該光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを読み取ることにより、情報を再生するようになされている。光ディスクとしては、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）及びＢｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標、以下ＢＤと呼ぶ）等が広く普及している。

この光ディスクには、記録すべき情報が符号化されると共に変調された上で、螺旋状又は同心円状に形成されたトラックにピット等として記録されるようになされている。

そこで光ディスク装置では、対物レンズにより光ビームを集光し、光ディスクから情報を再生する際、光ディスクの記録層に螺旋状又は同心円状に形成されているトラックに対し、当該光ビームの焦点を合わせるようになされている。

このとき光ディスク装置は、光検出器に所定形状の受光領域を設けるなどして反射光を受光する。光ディスク装置は、その受光結果を基に、光ビームを照射すべきトラック（以下これを目標トラックと呼ぶ）と光ビームの焦点との、フォーカス方向及びトラッキング方向に関するずれ量を表すフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をそれぞれ算出する。

続いて光ディスク装置は、フォーカスエラー信号を基に対物レンズをフォーカス方向へ移動すると共に、トラッキングエラー信号を基に当該対物レンズをトラッキング方向へ移動することにより、光ビームの焦点を目標トラックに合わせるようになされている。

光ディスク装置においてトラッキングエラー信号を生成する手法としては、種々のものが提案されているが、その一つとして１ビームプッシュプル法と呼ばれる手法がある。（例えば、特許文献１参照）。

一般に反射光ビームＬＲは、光ディスクにおけるトラックの溝構造による回折作用に起因して、図中斜線で示すプッシュプル領域の光量（以下プッシュプル成分とも呼ぶ）が、光ビームの焦点とトラックとのずれ量に応じて変化することが知られている。また反射光ビームＬＲは、対物レンズのトラッキング方向への移動（いわゆるレンズシフト）に応じて、ホログラム素子１における照射位置が図の左右方向へ変位される。

そこで１ビームプッシュプル法を用いた光ディスク装置では、図１に示すように複数の領域１Ｅ、１Ｆ、１Ｇ及び１Ｈのように分割されたホログラム素子１等を用いて、反射光ビームＬＲをその領域毎に異なる方向（図中矢印で示す）へ回折させる。

このとき領域１Ｅ及び１Ｆの光量には、プッシュプル成分に加えてレンズシフトに起因したレンズシフト成分が含まれ、領域１Ｇ及び１Ｈの光量には、レンズシフト成分のみが含まれる。

また光ディスク装置は、領域１Ｅ、１Ｆ、１Ｇ及び１Ｈによってそれぞれ回折された反射光ビームを、図２に示すように、光検出器２に複数設けられた受光領域２Ｅ、２Ｆ、２Ｇ及び２Ｈによりそれぞれ受光する。

その後光ディスク装置は、受光領域ごとに得られた受光信号を基に信号処理回路等において所定の演算処理を行うことにより、レンズシフト成分を相殺してプッシュプル成分に基づいたトラッキングエラー信号を生成することができる。

因みに光ディスク装置１は、いわゆる層間迷光（図中破線で示す）によるオフセットを回避するべく、反射光ビームＬＲの回折方向及び受光領域の配置等がそれぞれ設定されている。

特開２００８−１３５１５１公報（第８図）

ところで光ディスク装置は、光検出器に到達する反射光ビームＬＲの光量が比較的小さく、光検出器により生成した受光信号の信号レベルが比較的弱いことから、当該受光信号をアンプ等によりそれぞれ増幅した上で演算処理を行う。

しかしながら光ディスク装置は、各受光信号を増幅する際、いわゆるアンプノイズが重畳されるなどして当該受光信号の品質を劣化させる場合がある。

特に光ディスク装置は、多くの受光信号をそれぞれ増幅する場合、演算結果として得られるトラッキングエラー信号においてノイズ成分が累積されて品質を劣化させてしまい、トラッキング制御の精度を低下させてしまうという問題があった。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、トラッキング制御の精度を高め得る光ピックアップ及び光ディスク装置を提案しようとするものである。

かかる課題を解決するため本発明の光ピックアップにおいては、光ビームを出射する光源と、光ディスクに複数設けられた記録層のうち対象とする対象記録層に光ビームを集光する対物レンズと、対物レンズを、対象記録層に螺旋状又は同心円状に形成されたトラック溝とほぼ直交するトラッキング方向へ移動させるレンズ移動部と、光ビームが光ディスクにより反射されてなる反射光ビームのうち、トラック溝により回折された＋１次光及び−１次光でなるプッシュプル成分が含まれるプッシュプル領域の偏光方向を第１偏光方向に回転させると共に、プッシュプル成分が殆ど含まれないレンズシフト領域部分の偏光方向を第２偏光方向に回転させる偏光方向回転部と、反射光ビームにおけるプッシュプル領域のうち光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第１領域により所定の第１軸偏光成分を所定の第１進行方向へ回折させて第１ビームとし、反射光ビームにおけるプッシュプル領域のうち光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第２領域により第１軸偏光成分を第１進行方向と相違する第２進行方向へ回折させて第２ビームとし、反射光ビームにおけるレンズシフト領域のうち光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第３領域により第１軸と相違する軸方向でなる第２軸偏光成分を第２進行方向へ回折させて第３ビームとし、反射光ビームにおけるレンズシフト領域のうち光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第４領域により第２軸偏光成分を第１進行方向へ回折させて第４ビームとする偏光回折光学素子と、反射光ビームのうち偏光回折光学素子により回折されなかった反射０次光ビームの照射位置を基準として第１進行方向側に設けられた第１受光領域により第１ビーム及び第４ビームを受光して第１受光信号を生成すると共に、反射０次光ビームの照射位置を基準として第２進行方向側に設けられた第２受光領域により第２ビーム及び第３ビームを受光して第２受光信号を生成する光検出器とを設け、所定の信号処理部により、第１受光信号及び第２受光信号を基に、トラッキング方向に関する光ビームの焦点とトラック溝の中心線とのずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成させ、所定の駆動制御部により、トラッキングエラー信号を基にレンズ移動部を介して対物レンズをトラッキング方向へ移動させるようにした。

これにより本発明の光ピックアップは、第１受光領域おいて、反射光ビームのプッシュプル領域を第１偏光方向における第１軸偏光成分の光量比で抽出した第１ビームと、レンズシフト領域を第２偏光方向における第２軸偏光成分の光量比で抽出した第４ビームとの合成光量に応じた第１受光信号を直接生成できる。また光ピックアップは、第２受光領域おいて、反射光ビームのプッシュプル領域を第１偏光方向における第１軸偏光成分の光量比で抽出した第２ビームと、レンズシフト領域を第２偏光方向における第２軸偏光成分の光量比で抽出した第３ビームとの合成光量に応じた第２受光信号も直接生成できる。このため光ピックアップは、信号処理部により第１受光信号及び第２受光信号の差分から高品質なトラッキングエラー信号を生成させ、これを基に駆動制御部によりトラッキング制御を行わせることができる。

また本発明の光ディスク装置においては、光ビームを出射する光源と、光ディスクに複数設けられた記録層のうち対象とする対象記録層に光ビームを集光する対物レンズと、対物レンズを、対象記録層に螺旋状又は同心円状に形成されたトラック溝とほぼ直交するトラッキング方向へ移動させるレンズ移動部と、光ビームが光ディスクにより反射されてなる反射光ビームのうち、トラック溝により回折された＋１次光及び−１次光でなるプッシュプル成分が含まれるプッシュプル領域の偏光方向を第１偏光方向に回転させると共に、プッシュプル成分が殆ど含まれないレンズシフト領域部分の偏光方向を第２偏光方向に回転させる偏光方向回転部と、反射光ビームにおけるプッシュプル領域のうち光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第１領域により所定の第１軸偏光成分を所定の第１進行方向へ回折させて第１ビームとし、反射光ビームにおけるプッシュプル領域のうち光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第２領域により第１軸偏光成分を第１進行方向と相違する第２進行方向へ回折させて第２ビームとし、反射光ビームにおけるレンズシフト領域のうち光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第３領域により第１軸と相違する軸方向でなる第２軸偏光成分を第２進行方向へ回折させて第３ビームとし、反射光ビームにおけるレンズシフト領域のうち光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第４領域により第２軸偏光成分を第１進行方向へ回折させて第４ビームとする偏光回折光学素子と、反射光ビームのうち偏光回折光学素子により回折されなかった反射０次光ビームの照射位置を基準として第１進行方向側に設けられた第１受光領域により第１ビーム及び第４ビームを受光して第１受光信号を生成すると共に、反射０次光ビームの照射位置を基準として第２進行方向側に設けられた第２受光領域により第２ビーム及び第３ビームを受光して第２受光信号を生成する光検出器と、第１受光信号及び第２受光信号を基に、トラッキング方向に関する光ビームの焦点とトラック溝の中心線とのずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成する信号処理部と、トラッキングエラー信号を基にレンズ移動部を介して対物レンズをトラッキング方向へ移動させる駆動制御部とを設けるようにした。

これにより本発明の光ディスク装置は、第１受光領域おいて、反射光ビームのプッシュプル領域を第１偏光方向における第１軸偏光成分の光量比で抽出した第１ビームと、レンズシフト領域を第２偏光方向における第２軸偏光成分の光量比で抽出した第４ビームとの合成光量に応じた第１受光信号を直接生成できる。また光ディスク装置は、第２受光領域おいて、反射光ビームのプッシュプル領域を第１偏光方向における第１軸偏光成分の光量比で抽出した第２ビームと、レンズシフト領域を第２偏光方向における第２軸偏光成分の光量比で抽出した第３ビームとの合成光量に応じた第２受光信号も直接生成できる。このため光ディスク装置は、信号処理部により第１受光信号及び第２受光信号の差分から高品質なトラッキングエラー信号を生成でき、これを基に駆動制御部によりトラッキング制御を行うことができる。

本発明によれば、第１受光領域おいて、反射光ビームのプッシュプル領域を第１偏光方向における第１軸偏光成分の光量比で抽出した第１ビームと、レンズシフト領域を第２偏光方向における第２軸偏光成分の光量比で抽出した第４ビームとの合成光量に応じた第１受光信号を直接生成できる。また本発明は、第２受光領域おいて、反射光ビームのプッシュプル領域を第１偏光方向における第１軸偏光成分の光量比で抽出した第２ビームと、レンズシフト領域を第２偏光方向における第２軸偏光成分の光量比で抽出した第３ビームとの合成光量に応じた第２受光信号も直接生成できる。このため本発明は、信号処理部により第１受光信号及び第２受光信号の差分から高品質なトラッキングエラー信号を生成でき、これを基に駆動制御部によりトラッキング制御を行うことができる。かくして本発明は、トラッキング制御の精度を高め得る光ピックアップ及び光ディスク装置を実現できる。

従来のホログラム素子の構成を示す略線図である。 従来の光検出器の構成を示す略線図である。 光ディスク装置の構成を示す略線図である。 光ディスクにおける反射光ビーム及び層間迷光ビームの発生の説明に供する略線図である。 光ピックアップの構成を示す略線図である。 １／２波長板の構成を示す略線図である。 偏光ホログラム素子の構成を示す略線図である。 反射光ビームの分離の様子を示す略線図である。 光検出器の構成を示す略線図である。 層間隔が狭い場合に照射される迷光パターンの様子を示す略線図である。 第２の実施の形態による光検出器の構成（１）を示す略線図である。 第２の実施の形態による光検出器の構成（２）を示す略線図である。 第２の実施の形態による光検出器の構成（３）を示す略線図である。 第２の実施の形態による光検出器の構成（４）を示す略線図である。 第３の実施の形態による１／２波長板の構成を示す略線図である。 第４の実施の形態による光ピックアップの構成を示す略線図である。 第４の実施の形態による１／２波長板の構成を示す略線図である。 第４の実施の形態による偏光ホログラム素子の構成を示す略線図である。 第４の実施の形態による光検出器の構成を示す略線図である。

以下、発明を実施するための形態（以下実施の形態とする）について、図面を用いて説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．第１の実施の形態（光ディスク装置・本発明の基本的な構成例）
２．第２の実施の形態（光ディスク装置・迷光受光領域を設けた例）
３．第３の実施の形態（光ディスク装置・偏光方向を調整可能な１／２波長板を用いる例）
４．第４の実施の形態（光ディスク装置・ＳＳＤ法によりフォーカスエラー信号を生成する例）
５．他の実施の形態

＜１．第１の実施の形態＞
［１−１．光ディスク装置の構成］
図３に示すように、光ディスク装置１０は、統括制御部１１を中心に構成されており、光ディスク１００に対して情報を記録し、また当該光ディスク１００から情報を再生し得るようになされている。

光ディスク１００は、図４に断面図を示すように、例えば２層の記録層Ｙ０及びＹ１（以下、これらをまとめて記録層Ｙと呼ぶ）を有している。各記録層Ｙは、螺旋状又は同心円状のトラック溝が形成されており、当該トラック溝に沿って情報が記録されるようになされている。

統括制御部１１は、図示しないＣＰＵ(Central Processing Unit)と、各種プログラム等が格納されるＲＯＭ(Read Only Memory)と、当該ＣＰＵのワークメモリとして用いられるＲＡＭ(Random Access Memory)とによって構成されている。

統括制御部１１は、光ディスク１００から情報を再生する場合、駆動制御部１２を介してスピンドルモータ１５を回転駆動させ、ターンテーブル１５Ｔに載置された光ディスク１００を所望の速度で回転させる。

また統括制御部１１は、駆動制御部１２を介してスレッドモータ１６を駆動させることにより、光ピックアップ１７を移動軸に沿ってトラッキング方向、すなわち光ディスク１００の内周側又は外周側へ向かう方向へ大きく移動させるようになされている。

光ピックアップ１７は、対物レンズ１８や２軸アクチュエータ１９等の複数の部品が取り付けられており、統括制御部１１の制御に基づいて光ディスク１００へ光ビームを照射するようになされている。

因みに統括制御部１１は、光ディスク１００に光ビームを照射する場合、記録層Ｙ０又はＹ１のうち情報を読み出す対象とする記録層Ｙ、すなわち光ビームの焦点を合わせるべき記録層Ｙを対象記録層ＹＴとして選定するようになされている。

また光ピックアップ１７は、光ビームが光ディスクにより反射されてなる反射光ビームを受光し、その受光結果に応じた受光信号を生成して信号処理部１３へ供給するようになされている。

信号処理部１３は、供給された受光信号を用いた所定の演算処理を行うことによりフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をそれぞれ生成し、これらを駆動制御部１２へ供給する。

駆動制御部１２は、供給されたフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を基に、対物レンズ１８を駆動するための駆動信号を生成し、これを光ピックアップ１７の２軸アクチュエータ１９へ供給する。

光ピックアップ１７の２軸アクチュエータ１９は、この駆動信号に基づいて対物レンズ１８を移動させることにより、当該対物レンズ１８により集光される光ビームの焦点位置を調整するようになされている。

因みに駆動制御部１２は、統括制御部１１から対象記録層ＹＴの通知を受け、当該対象記録層ＹＴに当該光ビームの焦点を合わせるよう制御するようにもなされている。

信号処理部１３は、受光信号に対し所定の演算処理、復調処理及び復号化処理等を施すことにより、光ディスク１００に記録されている情報を再生し得るようになされている。

また統括制御部１１は、光ディスク１００に情報を記録する場合、図示しない外部機器等から記録すべき情報を受け付け、これを信号処理部１３へ供給する。信号処理部１３は、当該情報に対し所定の符号化処理や変調処理等を施すことにより記録用信号を生成し、これを光ピックアップ１７へ供給する。

光ピックアップ１７は、光ビームを記録用の強度とすると共に記録用信号に応じて変調させることにより、記録用信号に応じた記録マークを形成していく。例えば光ディスク１００がＢＤ−ＲＥ（Blu-ray Disc-Rewritable）と同様の記録方式の場合、記録層を形成する材料を局所的に相変化させることにより当該記録マークを形成する。

このように光ディスク装置１は、光ディスク１００に対し光ピックアップ１７から光ビームを照射させ、その反射光を基に対物レンズ１８のフォーカス制御及びトラッキング制御を行いながら、情報の再生処理や記録処理を行い得るようになされている。

［１−２．光ピックアップの構成］
光ピックアップ１７は、図５に示すように、光ディスク１００に光ビームＬ１を照射し、当該光ビームＬ１が当該光ディスク１００により反射されてなる反射光ビームＬＲを受光するようになされている。

レーザダイオード２１は、波長約４０５［ｎｍ］の青紫色レーザ光でなる光ビームＬ１を発散光として出射しコリメータレンズ２２へ入射させる。因みにレーザダイオード２１は、光ビームＬ１がＰ偏光となるようにその取付角度等が調整されている。

コリメータレンズ２２は、光ビームＬ１を発散光から平行光に変換し、偏光ビームスプリッタ２３へ入射させる。

偏光ビームスプリッタ２３は、光ビームの偏光方向に応じて透過率が相違する反射透過面２３Ｓを有しており、Ｐ偏光の光ビームをほぼ全て透過すると共に、Ｓ偏光の光ビームをほぼ全て反射するようになされている。実際上偏光ビームスプリッタ２３は、反射透過面２３Ｓにより光ビームＬ１をほぼ全て透過させ、ビームエクスパンダ２４へ入射させる。

ビームエクスパンダ２４は、凹レンズでなり光ビームＬ１の光軸方向に移動し得る可動レンズ２４Ａと、凸レンズでなり光ピックアップ１７に固定された固定レンズ２４Ｂとを有している。ビームエクスパンダ２４は、この可動レンズ２４Ａ及び固定レンズ２４Ｂにより光ビームＬ１の球面収差を変化させ、１／４波長板２５へ入射させるようになされている。

このときビームエクスパンダ２４は、駆動制御部１２の制御に基づき、光ビームＬ１が集光され光ディスク１００の対象記録層ＹＴに到達する際に生じる球面収差と逆特性となるような球面収差を当該光ビームＬ１に予め与える。これによりビームエクスパンダ２４は、光ビームＬ１の対象記録層ＹＴへの到達時における球面収差を補正し得るようになされている。

１／４波長板２５は、光ビームを直線偏光と円偏光との間で相互変換し得るようになされており、例えばＰ偏光でなる光ビームＬ１を左円偏光に変換し、対物レンズ１８へ入射させる。

対物レンズ１８は、光ビームＬ１を集光する。ここで統括制御部１１は、駆動制御部１２を介して、２軸アクチュエータ１９により対物レンズ１８のフォーカス方向に関する位置を調整している。これにより対物レンズ１８は、光ビームＬ１の焦点Ｆ１を光ディスク１００の対象記録層ＹＴにおおよそ合わせるよう照射する。

このとき光ビームＬ１は、対象記録層ＹＴで反射されることにより、反射光ビームＬＲとなり、対物レンズ１８へ入射される。また反射光ビームＬＲは、円偏光における回転方向が反射時に反転されるため、右円偏光となる。

例えば記録層Ｙ０が対象記録層ＹＴであった場合（図４）、光ビームＬ１は、記録層Ｙ０において反射されることにより反射光ビームＬＲとなる。

この後反射光ビームＬＲは、対物レンズ１８により発散光から平行光に変換され、１／４波長板２５により右円偏光からＳ偏光（直線偏光）へ変換され、さらにビームエクスパンダ２４へ入射される。

ビームエクスパンダ２４は、反射光ビームＬＲが対象記録層ＹＴにより反射されてから対物レンズ１８を通過するまでの間に生じた球面収差を補正し、当該反射光ビームＬＲを偏光ビームスプリッタ２３へ入射させる。

偏光ビームスプリッタ２３は、Ｓ偏光でなる反射光ビームＬＲを反射透過面２３Ｓにおいて反射し、１／２波長板３１へ入射させる。

１／２波長板３１は、複数の領域に分割されており、当該領域毎に当該反射光ビームＬＲの偏光方向を回転させ、偏光ホログラム素子３２へ入射させるようになされている（詳しくは後述する）。

偏光ホログラム素子３２は、複数の領域に分割されており、当該領域毎に偏光ホログラムが形成されている。偏光ホログラム素子３２は、領域毎に反射光ビームＬＲにおける所定の偏光方向成分を回折させて１次光でなる反射光ビームＬＲ１とし、他の偏光方向成分を透過して０次光でなる反射光ビームＬＲ０として、これらを復路コリメータレンズ３３へ入射させる（詳しくは後述する）。

復路コリメータレンズ３３は、反射光ビームＬＲ０並びにＬＲ１をそれぞれ収束させ、シリンドリカルレンズ３４へ入射させる。

シリンドリカルレンズ３４は、０次光でなる反射光ビームＬＲ０に非点収差を持たせ、光検出器３５へ照射する。

因みにシリンドリカルレンズ３４は、その光学的性質により、１次光でなる反射光ビームＬＲ１についても同様に非点収差を持たせることになる。しかしながら反射光ビームＬＲ１は、偏光ホログラム素子３２に形成された偏光ホログラムにより、予め当該非点収差を相殺するような波面収差が与えられ、これによりシリンドリカルレンズ３４から出射される時点で収差を殆ど持たないようになされている。

光検出器３５は、複数の受光領域Ｒが設けられており、各受光領域Ｒにより反射光ビームＬＲ０及びＬＲ１をそれぞれ受光し、その受光量に応じた受光信号Ｓをそれぞれ生成する。その後光検出器３５は、受光信号Ｓをヘッドアンプ３６によりそれぞれ増幅して信号処理部１３（図３）へ送出するようになされている。

［１−２−１．１／２波長板の構成］
１／２波長板３１は、図６（Ａ）に示すように、領域３１Ｐ１及び領域３１Ｐ２（以下これらをまとめて領域３１Ｐと呼ぶ）と残りの領域３１Ｌとに分割されており、領域毎に反射光ビームＬＲの偏光方向を回転させるようになされている。

反射光ビームＬＲは上述したようにＳ偏光であり、図６では１／２波長板３１への入射時における偏光方向Ｚ１が縦方向（すなわち光ディスク１００におけるトラックの走行方向と対応する方向、図中Ｙ方向として示す）となっている。

領域３１Ｐは、反射光ビームＬＲのプッシュプル領域に対応しており、当該反射光ビームＬＲのうち当該領域３１Ｐに入射された部分について、その偏光方向Ｚ１を回転させて偏光方向Ｚ２Ｐとし、偏光ホログラム素子３２へ入射させる。

偏光方向Ｚ２Ｐは、図６（Ｂ）に示すように、光ディスク１００における内周側及び外周側を結びトラッキング方向と対応する横方向（図中Ｘ方向として示す）を基準として、左回りに約１５°傾いた角度となっている。このため当該領域３１Ｐから出射される反射光ビームＬＲは、横方向成分及び縦方向成分に分解した場合、振幅としてそれぞれｃｏｓ１５°及びｓｉｎ１５°の比率となる。

領域３１Ｌは、反射光ビームＬＲのうち当該領域３１Ｌに入射された部分について、その偏光方向Ｚ１を回転させて偏光方向Ｚ２Ｌとし、偏光ホログラム素子３２へ入射させる。

この偏光方向Ｚ２Ｌは、図６（Ｃ）に示すように、横方向を基準として左回りに約６８°傾いた角度となっている。このため当該領域３１Ｌから出射される反射光ビームＬＲは、横方向成分及び縦方向成分に分解した場合、振幅としてそれぞれｃｏｓ６８°及びｓｉｎ６８°の比率となる。

［１−２−２．偏光ホログラム素子の構成］
偏光ホログラム素子３２は、図１と対応する図７（Ａ）に示すように、複数の領域３２Ｅ〜３２Ｊに分割されており、領域毎に偏光ホログラムが形成されている。

偏光ホログラム素子３２は、図７（Ａ）に示すように、領域毎に回折作用を呈する偏光方向成分（図中幅広の矢印で示す）が設定されており、また図７（Ｂ）に示すように、領域毎に反射光ビームＬＲの回折方向（図中実線の矢印で示す）が設定されている。

偏光ホログラム素子３２は、各領域３２Ｅ〜３２Ｊにいわゆるブレーズド型の回折格子が形成されており、所定の偏光方向成分を回折させて＋１次光の反射光ビームＬＲ１とするものの、−１次光を発生させないようになされている。

また偏光ホログラム素子３２は、回折させなかった偏光方向成分については、０次光の反射光ビームＬＲ０としてそのまま直進させるようになされている。

偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｅは、反射光ビームＬＲのうち光ディスク１００における内周側のプッシュプル領域に対応している。この領域３２Ｅには、１／２波長板３１の領域３１Ｐにより偏光方向が横方向から左回り１５°に回転された反射光ビームＬＲが入射される。

領域３２Ｅは、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｙの成分、すなわち縦偏光成分であり振幅として（ｓｉｎ１５°）に相当する割合を回折させ、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｅとして縦方向からやや内周側へ傾いた方向（図の左下方向）へ回折させる。

また領域３２Ｅは、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｙとほぼ直交する横方向の偏光成分、すなわち振幅として（ｃｏｓ１５°）に相当する割合をそのまま透過し、０次光でなる反射光ビームＬＲ０の一部として直進させる。

偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｆは、反射光ビームＬＲのうち光ディスク１００における外周側のプッシュプル領域に対応している。この領域３２Ｆには、領域３２Ｅと同様、１／２波長板３１の領域３１Ｐにより偏光方向が横方向から左回り１５°に回転された反射光ビームＬＲが入射される。

領域３２Ｆは、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｙの成分を回折させ、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｆとして縦方向からやや外周側へ傾いた方向（図の右下方向）へ回折させる。

また領域３２Ｆは、領域３２Ｅと同様、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｙとほぼ直交する横方向の偏光成分、すなわち振幅として（ｃｏｓ１５°）に相当する割合をそのまま透過し、０次光でなる反射光ビームＬＲ０の一部として直進させる。

偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｇ１及び３２Ｇ２は、反射光ビームＬＲにおける、光ディスク１００のトラックにより回折された１次回折光を殆ど含まず、且つ中央部分を除いた領域（すなわちレンズシフト領域）の内周側部分に対応している。

この領域３２Ｇ１及び３２Ｇ２（以下まとめて領域３２Ｇとも呼ぶ）には、１／２波長板３１の領域３１Ｌにより偏光方向が横方向から左回り６８°に回転された反射光ビームＬＲが入射される。

領域３２Ｇ１及び３２Ｇ２は、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｘの成分（すなわち横偏光成分）をそれぞれ回折させ、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｇ１及びＬＲ１Ｇ２（以下まとめて反射光ビームＬＲ１Ｇとも呼ぶ）とする。このとき領域３２Ｇは、この反射光ビームＬＲ１Ｇを縦方向からやや外周側へ傾いた方向（図の右下方向）へ回折させる。

すなわち偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｆ及び３２Ｇは、図７（Ａ）に示したように互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ１Ｆ及びＬＲ１Ｇを、図７（Ｂ）に示したようにほぼ同一の方向へ進行させる。

ここで領域３２Ｆ及び３２Ｇにおける回折効率の比率は、光量に換算すると、各偏光成分の２乗値の比率となるため、次に示す（１）式のように表すことができる。

すなわち領域３２Ｇにおける回折効率は、領域３２Ｆにおける回折効率の約２倍となっている。

また領域３２Ｇは、反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｘとほぼ直交する縦方向の偏光成分、すなわち振幅として（ｓｉｎ６８°）に相当する割合をそのまま透過し、０次光でなる反射光ビームＬＲ０の一部として直進させる。

偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｈ１及び３２Ｈ２は、反射光ビームＬＲにおけるレンズシフト領域の外周側部分に対応している。

この領域３２Ｈ１及び３２Ｈ２（以下まとめて領域３２Ｈとも呼ぶ）には、領域３２Ｇと同様、１／２波長板３１の領域３１Ｌにより偏光方向が横方向から左回り６８°に回転された反射光ビームＬＲが入射される。

領域３２Ｈ１及び３２Ｈ２は、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｘの成分をそれぞれ回折させ、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｈ１及びＬＲ１Ｈ２（以下まとめて反射光ビームＬＲ１Ｈとも呼ぶ）とする。このとき領域３２Ｈは、この反射光ビームＬＲ１Ｈを縦方向からやや内周側へ傾いた方向（図の左下方向）へ回折させる。

すなわち偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｅ及び３２Ｈは、領域３２Ｅ及び３２Ｈの場合と同様に、図７（Ａ）に示したように互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈを、図７（Ｂ）に示したようにほぼ同一の方向へ進行させる。

ここで領域３２Ｅ及び３２Ｈにおける回折効率の比率は、光量に換算すると、領域３２Ｆ及び３２Ｇの場合と同様、（１）式のように表すことができる。すなわち領域３２Ｈにおける回折効率は、領域３２Ｅにおける回折効率の約２倍となっている。

また領域３２Ｈは、領域３２Ｇと同様、反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｘとほぼ直交する縦方向の偏光成分、すなわち振幅として（ｓｉｎ６８°）に相当する割合をそのまま透過し、０次光でなる反射光ビームＬＲ０の一部として直進させる。

偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｊは、反射光ビームＬＲの中央部分と対応しており、１／２波長板３１の領域３１Ｌにより偏光方向が横方向から左回り６８°に回転された反射光ビームＬＲが入射される。

領域３２Ｊは、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｘを回折させ、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｊとして外周方向（図の右方向）へ回折させる。

また領域３２Ｊは、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｘとほぼ直交する縦方向の成分をそのまま透過し、０次光でなる反射光ビームＬＲ０の一部として直進させる。

ここで、反射光ビームＬＲが１／２波長板３１及び偏光ホログラム素子３２により分割され光検出器３５に照射される様子を模式的に表すと、図８のようになる。

［１−２−３．光検出器の構成］
光検出器３５は、図９に示すように、反射光ビームＬＲ０及びＬＲ１が照射される照射面に複数の受光部ＤＡ、ＤＥ、ＤＦ及びＤＪが形成されている。

受光部ＤＡは、０次光でなる反射光ビームＬＲ０の光軸に対応する基準点Ｐ２を中心に、縦方向及び横方向にそれぞれ２分割された、すなわち格子状に４分割された受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤにより構成されている。因みに受光領域ＲＡ〜ＲＤは、いずれもほぼ同等の大きさでなる略正方形状に形成されている。

受光領域ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ及びＲＤは、反射光ビームＬＲ０により形成されるスポットＴＡの一部をそれぞれ受光し、その受光量に応じた受光信号ＳＡ、ＳＢ、ＳＣ及びＳＤをそれぞれ生成してヘッドアンプ３６（図５）へ送出するようになされている。

因みに反射光ビームＬＲ０は、シリンドリカルレンズ３４の作用により、光検出器３５上における照射パターンが約９０°回転されている。

受光部ＤＥは、図９において基準点Ｐ２の左斜め下側に配置されており、全体として縦方向に長い長方形状に形成された受光領域ＲＥのみにより構成されている。

受光領域ＲＥは、反射光ビームＬＲ１Ｅにより形成されるスポットＴＥ並びに反射光ビームＬＲ１Ｈ１及びＬＲ１Ｈ２によりそれぞれ形成されるスポットＴＨ１及びＴＨ２を合わせて受光し、その全受光量に応じた受光信号ＳＥを生成する。さらに受光領域ＲＥは、この受光信号ＳＥをヘッドアンプ３６（図５）で増幅させ信号処理部１３へ送出するようになされている。

ここで領域３２Ｅ及び３２Ｈは、（１）式により示したように、互いの回折効率の比率が約１：２となっている。このため受光信号ＳＥは、反射光ビームＬＲのうち偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｅに入射された部分の光量値と領域３２Ｈに入射された部分の光量値を約２倍した値とを加算した値に相当することになる。

受光部ＤＦは、図９において基準点Ｐ２の右斜め下側に配置されており、全体として縦方向に長い長方形状に形成された受光領域ＲＦのみにより構成されている。

受光領域ＲＦは、反射光ビームＬＲ１Ｆにより形成されるスポットＴＦ並びに反射光ビームＬＲ１Ｇ１及びＬＲ１Ｇ２によりそれぞれ形成されるスポットＴＧ１及びＴＧ２を合わせて受光し、その全受光量に応じた受光信号ＳＦを生成する。さらに受光領域ＲＦは、この受光信号ＳＦをヘッドアンプ３６（図５）で増幅させ信号処理部１３へ送出するようになされている。

ここで領域３２Ｆ及び３２Ｇは、（１）式により示したように、領域３２Ｅ及び３２Ｈの場合と同様、互いの回折効率の比率が約１：２となっている。このため受光信号ＳＦは、反射光ビームＬＲのうち偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｆに入射された部分の光量値と領域３２Ｇに入射された部分の光量値を約２倍した値とを加算した値に相当することになる。

受光部ＤＪは、図９において基準点Ｐ２の右横側に配置されており、縦方向及び横方向にそれぞれ２分割された、すなわち格子状に４分割された受光領域ＲＪＡ、ＲＪＢ、ＲＪＣ及びＲＪＤにより反射光ビームＬＲ１Ｊを受光するようになされている。

因みに受光領域ＲＪＡ〜ＲＪＤは、いずれもほぼ同等の大きさでなる略正方形状に形成されている。

受光領域ＲＪＡ、ＲＪＢ、ＲＪＣ及びＲＪＤは、それぞれの受光量に応じた受光信号ＳＪＡ、ＳＪＢ、ＳＪＣ及びＳＪＤを生成し、これらをヘッドアンプ３６（図５）へ送出するようになされている。

因みに光ピックアップ１７では、偏光ホログラム素子３２、復路コリメータレンズ３３及びシリンドリカルレンズ３４等の光学設計等により、反射光ビームＬＲ０、ＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊが光検出器３５の照射面付近においてそれぞれ焦点を結ぶようになされている。

このためスポットＴＥ、ＴＦ、ＴＧ１及びＴＧ２、ＴＨ１及びＴＨ２並びにＴＪは、実際には図８に示したようにいずれも点状に集光されるが、説明の都合上、図９では偏光ホログラム素子３２における各領域に対応する形状として表している。

このように光検出器３５は、受光部ＤＡ、ＤＥ、ＤＦ及びＤＪの各受光領域Ｒにより、反射光ビームＬＲ０及びＬＲ１を受光し、それぞれの受光量に応じた受光信号Ｓをそれぞれ生成するようになされている。このとき受光領域ＲＥは、反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈを合わせて受光して受光信号ＳＥを生成し、受光領域ＲＦは、反射光ビームＬＲ１Ｆ及びＬＲ１Ｇを合わせて受光して受光信号ＳＦを生成するようになされている。

［１−３．受光信号に基づいた信号処理及び駆動制御］
信号処理部１３（図３）は、光ピックアップ１７から供給される受光信号ＳＡ、ＳＢ、ＳＣ及びＳＤを基に、次に示す（２）式に従い非点収差法によるフォーカスエラー信号ＳＦＥ１を算出し、これを駆動制御部１２へ供給する。

このフォーカスエラー信号ＳＦＥ１は、光ディスク１００において、光ビームＬ１の焦点Ｆと対象記録層ＹＴとのフォーカス方向に関するずれ量を表すことになる。

駆動制御部１２は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ１を基にフォーカス駆動信号ＳＦＤを生成し、これを２軸アクチュエータ１９へ供給して対物レンズ１８（及びその焦点Ｆ１）をフォーカス方向へ移動させる、いわゆるフォーカス制御を行う。

また信号処理部１３は、光ピックアップ１７から供給される受光信号ＳＥ及びＳＦを基に、次に示す（３）式に従い１ビームプッシュプル法によるトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出し、これを駆動制御部１２へ供給する。

このトラッキングエラー信号ＳＴＥ１は、光ディスク１００の対象記録層ＹＴにおいて、光ビームＬ１の焦点Ｆと所望のトラックとのトラッキング方向に関するずれ量を表すことになる。

駆動制御部１２は、トラッキングエラー信号ＳＴＥ１を基にトラッキング駆動信号ＳＦＤを生成し、これを２軸アクチュエータ１９へ供給して対物レンズ１８（及びその焦点Ｆ１）をトラッキング方向へ移動させる、いわゆるトラッキング制御を行う。また以下では、対物レンズ１８がトラッキング方向へ移動されることをレンズシフトとも呼ぶ。

さらに信号処理部１３は、光ピックアップ１７から供給される受光信号ＳＡ〜ＳＤを基に、次に示す（４）式に従い再生ＲＦ信号ＳＲＦ１を算出する。

続いて信号処理部１３は、再生ＲＦ信号ＳＲＦ１に所定の復調処理や復号化処理等を施すことにより、光ディスク１００に記録されている情報を再生し、制御部１１を介して外部機器（図示せず）へ出力するようになされている。

このように光ディスク装置１は、光ピックアップ１７から供給される受光信号Ｓを基にフォーカスエラー信号ＳＦＥ１及びトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を生成してフォーカス制御及びトラッキング制御を行うようになされている。

また光ディスク装置１０は、光ピックアップ１７から供給される受光信号Ｓを基に再生ＲＦ信号ＳＲＦ１を生成して光ディスク１００に記録されている情報の再生を行うようになされている。

［１−４．迷光の照射と受光部の配置］
ところで光ディスク１００（図４）は、記録層Ｙ１において常に所定の反射率で光ビームＬを反射すると共にその残りを透過し、当該記録層Ｙ１を透過した光ビームＬ１を記録層Ｙ０において反射するようになされている。

このため光ビームＬ１は、光ディスク装置１０により例えば記録層Ｙ０が対象記録層ＹＴとして選定されていたとしても、常に他方の記録層Ｙ１によってもその一部が反射されることになる。このように、他の記録層Ｙ１により光ビームＬ１の一部が反射されてなる光ビームを層間迷光ビームＬＮと呼ぶ。

層間迷光ビームＬＮは、反射光ビームＬＲと同様の光路を通り、１／２波長板３１により偏光方向を回転され偏光ホログラム素子３２により回折された上で、最終的に光検出器３５に照射される。

しかしながら層間迷光ビームＬＮは、反射光ビームＬＲと比較して、対物レンズ１８から光ビームＬ１として出射されてから再び対物レンズ１８へ入射されるまでの光路長が相違する。このため層間迷光ビームＬＮは、対物レンズ１８へ入射される際の収束状態（発散状態）が反射光ビームＬＲと相違する。

一方、光ピックアップ１７では、反射光ビームＬＲについて、光検出器３５が対象記録層ＹＴの共焦点となるように各種光学部品の配置や光学特性等が定められている。

このため層間迷光ビームＬＮは、１／２波長板３１及び偏光ホログラム素子３２の作用により反射光ビームＬＲと同様の分割パターンで分割され、且つ焦点が外れた状態、いわゆるデフォーカスした状態で光検出器３５に照射される。この結果光検出器３５（図９）には、迷光パターン群Ｗ（図中破線で示す）が形成される。

迷光パターン群Ｗは、基準点Ｐ２を中心として、偏光ホログラム素子３２による０次光の迷光パターンＷＡが形成されている。また迷光パターン群Ｗは、偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｅ、３２Ｆ、３２Ｇ１、３２Ｇ２、３２Ｈ１、３２Ｈ２及び３２Ｊにより、１次光の迷光パターンＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１、ＷＨ２及びＷＪがそれぞれ形成されている。

迷光パターンＷＥは、迷光パターンＷＡと同等の半径でなりスポットＴＥの照射位置を中心とした仮想的な迷光パターンＶＷＥ（図中一点鎖線で示す）のうち、ホログラム素子３２の領域３２Ｅに対応する部分となっている。他の迷光パターンＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１、ＷＨ２及びＷＪについても同様である。

光検出器３５の受光領域ＲＥ及びＲＦは、この迷光パターン群Ｗに関し、迷光パターンＷＡ、ＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１、ＷＨ２及びＷＪのいずれにもかからないように大きさや配置等が定められている。また受光部ＤＡの受光領域ＲＡ〜ＲＤは、迷光パターンＷＡ以外の迷光パターンＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１、ＷＨ２及びＷＪのいずれにもかからないように大きさ及び配置等が定められている。

具体的に受光領域ＲＥは、基準点Ｐ２からの距離が、迷光パターンＷＡの半径よりも大きくなるようになされている。また受光領域ＲＥは、迷光パターンＷＥ、ＷＨ１及びＷＨ２がかからないような大きさになされている。

ところで光検出器３５では、光ピックアップ１７における光学的な原理により、層間迷光ビームＬＮを生じた記録層Ｙと対象記録層ＹＴとの層間隔ｄｎに応じて、当該層間迷光ビームＬＮによる迷光パターン群Ｗの大きさが相違することになる。

ここで、光ディスク１００（図４）における層間隔ｄｎが狭い場合を想定する。この場合、対物レンズ１８から光ビームＬ１として出射されてから反射光ビームＬＲとして再び対物レンズ１８へ入射されるまでの光路長と、層間迷光ビームＬＮとして再び対物レンズ１８へ入射されるまでの光路長との差である光路長差が短縮される。

このため光検出器３５に形成される迷光パターン群Ｗの各迷光パターンＷＡ、ＷＥ〜ＷＪは、図１０に示すように、図９に示した場合よりも各受光領域を中心にそれぞれ縮小されている。

ここで、光ピックアップ１７における光検出器３５の検出領域ＲＥに迷光パターンＷＥ、ＷＨ１及びＷＨ２がかからないための条件について説明する。

偏光ホログラム素子３２（図７（Ａ））の領域３２Ｊにおける横方向及び縦方向の長さをそれぞれ長さα及びβとする。また、光検出器３５（図１０）の受光領域ＲＥにおける横方向及び縦方向の長さをそれぞれ長さγ及びδとする。

光ピックアップ１７では、長さα、β、γ及びδが次の（５）式の関係を満たすよう、偏光ホログラム素子３２及び光検出器３５が設計されている。

このため光ピックアップ１７は、光ディスク１００の層間隔ｄｎが狭まり各迷光パターンＷが縮小された場合にも、各迷光パターンＷが受光領域ＲＥにかかる可能性を最小限に抑えることができる。

またレンズシフトが生じた場合、迷光パターンＷＥは、外周側に延長され、又は延長されると共に当該外周側に移動する。これと同時に迷光パターンＷＨ１及びＷＨ２は、内周側にそれぞれ延長され、又は延長されると共に当該内周側にそれぞれ移動する。

このため光ピックアップ１７は、長さα、β、γ及びδが次の（６）式の関係を満たせば、レンズシフトが生じた場合にも、受光領域ＲＥに各迷光パターンＷが極力かからないようにすることができる。

因みに光ピックアップ１７は、受光領域ＲＦについても、受光領域ＲＥと同様の条件を満たすよう設計されている。

このように光ピックアップ１７は、長さα及びβの比率と、長さγ及びδの比率との関係が（５）式又は（６）式を満たすことにより、受光領域ＲＥに各迷光パターンＷが極力かからないようになされている。

［１−５．取付位置の調整］
さらに光ピックアップ１７では、１／２波長板３１、偏光ホログラム素子３２及び光検出器３５等の取付位置を調整する際、受光部ＤＡ及びＤＪにおける検出結果を用いるようになされている。

すなわち光ピックアップ１７は、その組立工程等において、調整用の光ディスクが装填された上で、統括制御部１１の制御に基づき、光ビームＬ１を当該調整用の光ディスクへ照射する。これに応じて光検出器３５の受光部ＤＡには、０次光でなる反射光ビームＬＲ０が非点収差を持った状態で照射される。

この組立工程において、光検出器３５は、まず反射光ビームＬＲ０の光軸に沿った方向に関する取付位置及び当該光軸に直交する平面における取付位置が微調整される。このとき光検出器３５は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ１が値「０」となり、受光信号ＳＡ及びＳＢの和と受光信号ＳＣ及びＳＤの和とがほぼ同等の信号レベルとなり、さらに受光信号ＳＡ及びＳＤの和と受光信号ＳＢ及びＳＣの和がほぼ同等となるように調整される。

これにより光検出器３５は、反射光ビームＬＲ０の光軸に沿った方向に関する取付位置が最適化され、また縦方向及び横方向に関する取付位置も最適化される。

また光検出器３５は、受光部ＤＪにより生成される受光信号ＳＪＡ及びＳＪＤの和と受光信号ＳＪＢ及びＳＪＣの和がほぼ同等の信号レベルになるよう、基準点Ｐ２を中心とした取付角度が調整される。

これにより光検出器３５は、基準点Ｐ２を中心とした回転方向に関する取付角度についても最適化される。

［１−６．動作及び効果］
以上の構成において、光ディスク装置１０の光ピックアップ１７は、光ビームＬ１を光ディスク１００へ照射し、当該光ディスク１００により反射されてなる反射光ビームＬＲを１／２波長板３１及び偏光ホログラム素子３２により分割すると共に分離する。

すなわち１／２波長板３１は、Ｓ偏光でなる反射光ビームＬＲの偏光方向を、領域３１Ｐについては横方向から左回りに１５°傾いた偏光方向Ｚ２Ｐとし、領域３１Ｌについては横方向から左回りに６８°傾いた偏光方向Ｚ２Ｌとする。

続いて偏光ホログラム素子３２は、０次光でなる反射光ビームＬＲ０をほぼ直進させると共に、領域３２Ｅ〜３２Ｊ（図７（Ａ））の回折作用により、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊに分離する。

このとき偏光ホログラム素子３２は、互いの偏光方向を相違させた、内周側のプッシュプル領域を含む反射光ビームＬＲ１Ｅ及び外周側のレンズシフト領域を含む反射光ビームＬＲ１Ｈを、いずれも左斜め下方向へ回折させる。

また偏光ホログラム素子３２は、互いの偏光方向を相違させた、外周側のプッシュプル領域を含む反射光ビームＬＲ１Ｆ及び内周側のレンズシフト領域を含む反射光ビームＬＲ１Ｇを、いずれも右斜め下方向へ回折させる。

これに応じて光検出器３５は、受光部ＤＡの受光領域ＲＡ〜ＲＤにより反射光ビームＬＲ０を受光し、受光信号ＳＡ〜ＳＤを生成する。また光検出器３５は、受光部ＤＥの受光領域ＲＥにより反射光ビームＬＲ１Ｅ、ＬＲ１Ｈ１及びＬＲ１Ｈ２を全て受光し、受光信号ＳＥを生成する。さらに光検出器３５は、受光部ＤＦの受光領域ＲＦにより反射光ビームＬＲ１Ｆ、ＬＲ１Ｇ１及びＬＲ１Ｇ２を全て受光し、受光信号ＳＦを生成する。

信号処理部１３は、（２）式に従ってフォーカスエラー信号ＳＦＥ１を算出し、駆動制御部１２により当該フォーカスエラー信号ＳＦＥ１を基にフォーカス制御を行う。また信号処理部１３は、（３）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出し、駆動制御部１２により当該トラッキングエラー信号ＳＴＥ１を基にトラッキング制御を行う。

ここで、図１に示した従来のホログラム素子において、反射光ビームＬＲのうち領域１Ｅ、１Ｆ、１Ｇ及び１Ｈにそれぞれ照射され回折された成分をそれぞれ光成分ＬＲＥ、ＬＲＦ、ＬＲＧ及びＬＲＨとする。

また図２に示したように、光成分ＬＲＥ、ＬＲＦ、ＬＲＧ及びＬＲＨを、受光領域２Ｅ、２Ｆ、２Ｇ及び２Ｈによりそれぞれ受光し、それぞれ受光信号ＵＥ、ＵＦ、ＵＧ及びＵＨを生成するものとする。

この場合、受光信号ＵＥ、ＵＦ、ＵＧ及びＵＨを所定のヘッドアンプによりそれぞれ増幅した後、次に示す（７）式に従った演算処理を行うことにより、トラッキングエラー信号ＳＴＥ２が得られることになる。

この（７）式では、受光信号ＵＥ、ＵＦに含まれるレンズシフト成分を、所定の係数Ｋｔを乗じて信号レベルを揃えた受光信号ＵＧ及びＵＨにより相殺している。すなわち（７）式では、光成分ＬＲＥ及びＬＲＦにおける光量の差分値（実際にはその直流成分）と、光成分ＬＲＧ及びＬＲＨにおける差分値に係数Ｋｔを乗じた値とにおける、それぞれのレンズシフト成分がほぼ同等の値となっている。

この場合、４系統の受光信号ＵＥ、ＵＦ、ＵＧ及びＵＨをそれぞれヘッドアンプにより増幅することになるため、トラッキングエラー信号ＳＴＥ２には４系統分のアンプノイズが累積されてしまっていた。

ところで、（７）式を変形すると、次に示す（８）式が得られる。

（８）式の前半は、トラッキングエラー信号ＳＴＥ２の算出過程において、光成分ＬＲＥの光量の値と、係数Ｋｔを乗じた光成分ＬＲＨの光量の値とを加算することを意味している。また（８）式の後半は、トラッキングエラー信号ＳＴＥ２の算出過程において、光成分ＬＲＦの光量の値と、係数Ｋｔを乗じた光成分ＬＲＧの光量の値とを加算することを意味している。

また、例えばＢＤ方式の光ディスク１００については、係数Ｋｔの値として約「２」を用いる場合がある。

そこで光ディスク装置１０の光ピックアップ１７では、反射光ビームＬＲのうちプッシュプル領域では振幅として（ｓｉｎ１５°）に相当する割合を反射光ビームＬＲ１Ｅとし、レンズシフト領域では振幅として（ｃｏｓ６８°）に相当する割合を反射光ビームＬＲ１Ｈとする。

これにより光ピックアップ１７は、（１）式に示したように偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｈにおける回折効率を領域３２Ｅにおける回折効率の約２倍とした状態で、受光領域ＲＥにおいて反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈを合わせて受光することができる。

このことは、受光領域ＲＥにおいて反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈを合わせて受光することが、反射光ビームＬＲのうち領域３２Ｈに照射された部分の光量を約２倍して領域３２Ｅに照射された部分の光量に加算することと同義であることを意味している。

このため光検出器３５の受光領域ＲＥは、係数Ｋｔを値「２」としたときの（８）式における前半部分の演算結果に相当する受光信号ＳＥを、直接生成することができる。

これを換言すれば、光ピックアップ１７は、（８）式における前半部分の演算を、反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈが受光領域ＲＥに照射される段階で光学的に実行したということができる。

このとき光ピックアップ１７は、反射光ビームＬＲ１ＥとＬＲ１Ｈとの偏光方向をほぼ直交させているため、受光領域ＲＥ上でスポットＴＥ及びＴＨが重なったときの両者の干渉を殆ど排除でき、干渉縞の発生やその摂動等による光量の変動を未然に防止できる。

また光ピックアップ１７は、光検出器３５の受光領域ＲＦにおいても、反射光ビームＬＲ１Ｆ及びＬＲ１Ｇを合わせて受光することにより、（８）式における後半部分の演算結果に相当する受光信号ＳＦを、直接生成することができる。

これにより光ピックアップ１７は、（３）式に従い２つの受光信号ＳＥ及びＳＦの差分値を算出するだけで、従来の（７）式の演算を行った場合と同等の演算結果であるトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を生成することができる。

このことを（７）式と対応してみると、ピックアップ１７は、レンズシフトが生じた場合の、反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆの光量における差分値（実際にはその直流成分）と、反射光ビームＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈの光量における差分値とを、ほぼ同等に揃えているといえる。

このとき光ピックアップ１７は、実際に（７）式のような演算を行う場合と比較して受光信号の数を削減できるため、ヘッドアンプ３６におけるアンプ回路の数を削減でき、これに伴い各信号へのアンプノイズの影響を大幅に抑制することができる。

また光ピックアップ１７は、従来よりも信号処理部１３等における演算処理を簡略化することができるので、処理負荷を軽減でき、回路規模を縮小することができ、消費電力や発熱量も低減することが可能となる。

さらに光ピックアップ１７は、受光信号Ｓの数を削減できることに伴い、信号処理部１３等との間で接続する信号線の数を削減することもでき、配線の簡素化により当該光ピックアップ１７の小型化や軽量化に寄与することもできる。

この結果光ピックアップ１７は、アンプノイズが低減され干渉縞の発生による値の変動を未然に防止した、安定した高品質なトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を生成できる。これに伴い光ディスク装置１０は、高精度なトラッキング制御を行うことができる。

以上の構成によれば、光ディスク装置１０の光ピックアップ１７は、反射光ビームＬＲの領域毎に、１／２波長板３１により偏光方向を回転させ、偏光ホログラム素子３２によりその偏光方向に応じて回折させる。光ピックアップ１７は、領域３２Ｅ及び３２Ｈにおける回折効率の比率を約１：２として、互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈを受光領域ＲＥにより受光して受光信号ＳＥを生成する。また光ピックアップ１７は、領域３２Ｆ及び３２Ｇにおける回折効率の比率を約１：２として、互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ１Ｆ及びＬＲ１Ｇを受光領域ＲＦにより受光して受光信号ＳＦを生成する。これにより光ディスク装置１０は、（３）式に従って安定した高品質なトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出でき、高精度なトラッキング制御を行うことができる。

＜２．第２の実施の形態＞
［２−１．光ディスク装置及び光ピックアップの構成］
第２の実施の形態による光ディスク装置５０は、第１の実施の形態による光ディスク装置１０（図３）と比較して、信号処理部１３及び光ピックアップ１７に代えて信号処理部５３及び光ピックアップ５７が設けられている点が異なっている。

因みに光ディスク装置５０は、他の部分については、光ディスク装置１０と同様に構成されている。

信号処理部５３は、第１の実施の形態による信号処理部１３と比較して、トラッキングエラー信号の演算手法が相違するものの、他は同様に構成されている。

光ピックアップ５７は、光ピックアップ１７と比較して、光検出器３５に代えて光検出器６５が設けられている点が相違するものの、他の部分は同様に構成されている。

光検出器６５は、図１０と対応する図１１に示すように、光検出器３５における各受光領域Ｒに加えて、受光部ＤＥに迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２が設けられ、また受光部ＤＦに迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２が設けられている。

受光部ＤＥにおいて、迷光受光領域ＲＥＮ１は、受光領域ＲＥを縦方向及び横方向にそれぞれ縮小したような長方形状に形成されており、また受光領域ＲＥの上側に隣接すると共に当該受光領域ＲＥと内周側の辺を揃えるように配置されている。また迷光受光領域ＲＥＮ２は、迷光受光領域ＲＥＮ１とほぼ同等の形状でなり、受光領域ＲＥの下側に隣接すると共に当該受光領域ＲＥと内周側の辺を揃えるように配置されている。

迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２は、両者の合計受光量に応じた迷光受光信号ＳＥＮを生成し、これらをヘッドアンプ３６により増幅させた上で信号処理部５３へ供給する。

受光部ＤＦにおいて、迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２は、いずれも迷光受光領域ＲＥＮ１とほぼ同等の形状でなり、それぞれ受光領域ＲＦの上側及び下側に隣接すると共に、いずれも当該受光領域ＲＦと外周側の辺を揃えるように配置されている。実際上、受光部ＤＦは受光部ＤＥと横方向にほぼ対称な形状に構成されている。

迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２は、両者の合計受光量に応じた迷光受光信号ＳＦＮを生成し、これらをヘッドアンプ３６により増幅させた上で信号処理部５３へ供給する。

信号処理部５３は、信号処理部１３とは異なる演算式に従いトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を算出するようになされている（詳しくは後述する）。

［２−２．迷光の照射とトラッキングエラー信号の生成］
ところで図１１は、図１０と同様、光ディスク１００における層間隔ｄｎが比較的狭く、且つ対物レンズ１８のレンズシフトが生じていない場合における、光検出器６５における迷光パターン群Ｗの形成状態を表している。

図１１では、受光部ＤＥの受光領域ＲＥ並びに迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２に対し、迷光パターンＷＥ、ＷＨ１及びＷＨ２のいずれもがかかっていない。また図１１では、受光部ＤＦの受光領域ＲＦ並びに迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２に対しても、迷光パターンＷＦ、ＷＧ１及びＷＧ２のいずれもがかかっていない。

次に、光ディスク１００における層間隔ｄｎが図１１の場合と同程度に狭く、且つ対物レンズ１８のレンズシフトが生じた場合の、光検出器６５における迷光パターン群Ｗの形成状態を、図１１と対応する図１２に示す。

図１２では、図１１と比較して、対物レンズ１８のレンズシフトに伴い、迷光パターンＷＥが外周側方向（図の右方向）へ移動すると共に、迷光パターンＷＨ１及びＷＨ２がいずれも内周側方向（図の左方向）へ移動している。

このとき迷光パターンＷＥは、受光部ＤＥの受光領域ＲＥ並びに迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２の内周側に対し、近接しているもののかかってはいない。また迷光パターンＷＨ１及びＷＨ２は、それぞれ迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２に対し、外周側に近接しているもののかかってはいない。受光部ＤＦの受光領域ＲＦ並びに迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２についても同様である。

すなわち光ピックアップ５７は、光ディスク１００における層間隔ｄｎがある程度狭い場合には、対物レンズ１８のレンズシフトに伴い、各迷光パターンＷが横方向に移動するものの、受光領域ＲＥ及びＲＦにはかからない。

従って光ピックアップ５７は、図１２の場合にも、各迷光パターンＷの影響を受けることなく、高品質な受光信号ＳＥ及びＳＦを生成することができる。

次に、光ディスク１００における層間隔ｄｎが図１１の場合よりもさらに狭くなった場合を想定する。まず、対物レンズ１８のレンズシフトが生じていない場合の、光検出器６５における迷光パターン群Ｗの形成状態を、図１１と対応する図１３に示す。

図１３では、図１１と比較して、層間隔ｄｎが狭くなったことに伴い、各迷光パターンＷが、相似形を保ちながら各受光領域Ｒを中心に縮小されたように形成されている。

このとき迷光パターンＷＥは、受光部ＤＥの受光領域ＲＥ並びに迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２の内周側に対し、図１１の状態よりも近接しているもののかかってはいない。また迷光パターンＷＨ１及びＷＨ２は、受光領域ＲＥに対し、それぞれ上方向及び下方向から近接しているもののかかってはいない。受光部ＤＦの受光領域ＲＦ並びに迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２についても同様である。

ここで、図１３の状態からさらに対物レンズ１８のレンズシフトが生じた場合の、光検出器６５における迷光パターン群Ｗの形成状態を、図１３と対応する図１４に示す。

図１４では、図１３と比較して、対物レンズ１８のレンズシフトに伴い、迷光パターンＷＥが外周側方向（図の右方向）へ移動すると共に、迷光パターンＷＨ１及びＷＨ２がいずれも内周側方向（図の左方向）へ移動している。

これにより受光領域ＲＥには、迷光パターンＷＥがかかっている。すなわち受光領域ＲＥが生成する受光信号ＳＥには、当該迷光パターンＷＥに起因した成分が含まれることになる。

このとき迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２は、受光領域ＲＥと外周側の辺を揃えるよう隣接配置されているため、横方向に関し受光領域ＲＥと同等の幅に渡って迷光パターンＷＥがかかっている。

さらに迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２には、それぞれ迷光パターンＷＨ１及びＷＨ２もかかっている。因みに、横方向に関して、迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２にかかる迷光パターンＷＨ１及びＷＨ２の幅は、受光領域ＲＥにかかる迷光パターンＷＥの幅とほぼ同等となっている。

受光部ＤＥにおけるこのような各受光領域Ｒの形状や配置等の設計により、受光領域ＲＥにより受光される迷光パターンＷＥの光量と、迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２により受光される迷光パターンＷＥ、ＷＨ１及びＷＨ２の全光量とは、ほぼ比例関係をなすようになされている。

また受光部ＤＦにおいても、同様に各受光領域Ｒの形状や配置等の設計により、受光領域ＲＦにより受光される迷光パターンＷＦの光量と、迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２により受光される迷光パターンＷＦ、ＷＧ１及びＷＧ２の全光量とは、ほぼ比例関係をなすようになされている。

そこで光ディスク装置５０の信号処理部５３は、第１の実施の形態における（２）式に代わる（９）式を用いることによりトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を算出し、これを駆動制御部１２へ供給する。

この（９）式では、受光信号ＳＥ及びＳＦから、所定の係数ｋを乗じた迷光受光信号ＳＥＮ及びＳＦＮをそれぞれ差し引いている。これにより（９）式では、受光信号ＳＥ及びＳＦから、迷光パターンＷＥ及びＷＦに起因した迷光成分を相殺することができる。

駆動制御部１２は、トラッキングエラー信号ＳＴＥ３を基にトラッキング駆動信号ＳＦＤを生成し、これを２軸アクチュエータ１９へ供給することにより、対物レンズ１８のトラッキング制御を行う。

この結果光ディスク装置５０は、迷光パターンＷの影響を排除した高精度なトラッキング制御を行うことができる。

［２−３．動作及び効果］
以上の構成において、光ディスク装置５０の光ピックアップ５７は、第１の実施の形態と同様、反射光ビームＬＲを１／２波長板３１及び偏光ホログラム素子３２により分割すると共に分離する。

光検出器６５は、受光部ＤＥの受光領域ＲＥにより反射光ビームＬＲ１Ｅ、ＬＲ１Ｈ１及びＬＲ１Ｈ２を全て受光して受光信号ＳＥを生成し、受光部ＤＦの受光領域ＲＦにより反射光ビームＬＲ１Ｆ、ＬＲ１Ｇ１及びＬＲ１Ｇ２を全て受光して受光信号ＳＦを生成する。

また光検出器６５は、迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２により迷光パターンＷＥ、ＷＨ１及びＷＨ２の受光量に応じた迷光受光信号ＳＥＮを生成し、迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２により迷光パターンＷＦ、ＷＧ１及びＷＧ２の受光量に応じた迷光受光信号ＳＦＮを生成する。

信号処理部５３は、（９）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を算出し、駆動制御部１２により当該トラッキングエラー信号ＳＴＥ３を基にトラッキング制御を行う。

特に光ディスク装置５０では、光ディスク１００における層間隔ｄｎが極めて狭く且つレンズシフトが発生した場合、迷光パターン群Ｗが受光領域ＲＥ又はＲＦにかかり得る（図１４）。

このとき光ディスク装置５０は、受光信号ＳＥ及びＳＦに含まれる当該迷光パターン群Ｗに起因した成分に相当する値を、迷光受光信号ＳＥＮ及びＳＦＮから得ることができる。

従って光ディスク装置５０は、（９）式に従った演算を行うことにより、その前半部分において、第１の実施の形態と同様にレンズシフト成分を相殺することができ、さらにその後半部分において、迷光パターン群Ｗに起因した迷光成分を相殺することができる。

また光ディスク装置５０は、（図１４）に示したように、層間隔ｄｎが極めて狭い場合、迷光パターンＷＥにおける縦方向の長さが短くなる。これに伴い、迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２にかかる当該迷光パターンＷＥの面積（すなわち光量）も極めて小さくなる。

このため光ディスク装置５０は、迷光パターンＷＥのみの受光結果を基に迷光受光信号ＳＥＮを生成した場合、その値が極めて小さくなり、（９）式の演算において受光信号ＲＥに含まれ当該迷光パターンＷＥに起因した迷光成分を相殺できないおそれがある。

この点において光ディスク装置５０は、迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２において、迷光パターンＷＥに加えて迷光パターンＷＨ１及びＷＨ２もかかるようにし、迷光受光信号ＳＥＮの値が、受光信号ＳＥに含まれる迷光成分と比例する程度の大きさとなるようにした。

これは、光ピックアップ１７の原理上、対物レンズ１８のレンズシフトにより迷光パターンＷＥは外周側へ移動する場合、迷光パターンＷＨ１及びＷＨ２は反対の内周側へ移動することを利用したものである。

この結果光ディスク装置５０は、迷光パターン群Ｗの影響を排除した高品質なトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を生成することができ、当該トラッキングエラー信号ＳＴＥ３に基づいた高精度なトラッキング制御を行うことができる。

また光ディスク装置５０は、その他の点について、第１の実施の形態における光ディスク装置１０と同様の作用効果を奏し得る。

以上の構成によれば、光ディスク装置５０の光ピックアップ５７は、反射光ビームＬＲの領域毎に、１／２波長板３１により偏光方向を回転させ、偏光ホログラム素子３２によりその偏光方向に応じて回折させる。光ピックアップ５７は、領域３２Ｅ及び３２Ｈにおける回折効率の比率を約１：２として、互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈを受光領域ＲＥにより受光して受光信号ＳＥを生成する。また光ピックアップ５７は、領域３２Ｆ及び３２Ｇにおける回折効率の比率を約１：２として、互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ１Ｆ及びＬＲ１Ｇを受光領域ＲＦにより受光して受光信号ＳＦを生成する。さらに光ピックアップ５７は、迷光受光領域ＲＥＮ及びＲＦＮにより、迷光パターンＷＥ又はＷＦが受光領域ＲＥ又はＲＦにかかるときの光量に比例した迷光受光信号ＳＥＮ又はＳＦＮを生成する。これにより光ディスク装置５０は、（９）式に従って迷光パターンＷの影響をも排除した安定した高品質なトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を算出でき、高精度なトラッキング制御を行うことができる。

＜３．第３の実施の形態＞
［３−１．光ディスク装置及び光ピックアップの構成］
第３の実施の形態による光ディスク装置７０は、第１の実施の形態による光ディスク１０（図３）と比較して、駆動制御部１２及び光ピックアップ１７に代えて駆動制御部７２及び光ピックアップ７７が設けられている点が異なっている。

因みに光ディスク装置７０は、他の部分については光ディスク装置１０と同様に構成されている。

駆動制御部７２は、第１の実施の形態による駆動制御部１２と比較して、内部に偏光角調整部（図示せず）を有している点が相違するものの、他は同様に構成されている。

光ピックアップ７７は、光ピックアップ１７と比較して、１／２波長板３１に代わる１／２波長板８１を有する点が相違するものの、他の部分は同様に構成されている。

１／２波長板８１は、図６（Ａ）と対応する図１５（Ａ）に示すように、１／２波長板３１と同様の分割パターンにより、領域３１Ｐ１及び３１Ｐ２並びに３１Ｌとそれぞれ対応する領域８１Ｐ１及び８１Ｐ２並びに８１Ｌに分割されている。

領域８１Ｐ１及び８１Ｐ２は、それぞれ領域３１Ｐ１及び３１Ｐ２と同様に、反射光ビームＬＲのうち当該領域８１Ｐ１及び８１Ｐ２にそれぞれ入射された部分について、その偏光方向Ｚ１を回転させて偏光方向Ｚ２Ｐとし、偏光ホログラム素子３２へ入射させる。

偏光方向Ｚ２Ｐは、上述したように、横方向（Ｘ方向）を基準として左回りに約１５度傾いた角度となっている。

一方領域８１Ｌは、領域３１Ｌとは異なり、液晶素子により１／２波長板が構成されている。駆動制御部７２の偏光角調整部は、当該領域８１Ｌの液晶素子に対する印加電圧を調整することにより、偏光方向Ｚ４Ｌの角度を調整し得るようになされている。

実際上領域８１Ｌは、反射光ビームＬＲのうち当該領域８１Ｌに入射された部分について、その偏光方向Ｚ１を回転させて偏光方向Ｚ４Ｌとし、偏光ホログラム素子３２へ入射させる。

この偏光方向Ｚ４Ｌは、図１５（Ｂ）に示すように、横方向を基準として左回りにθ°傾いた角度となっている。このため、当該領域８１Ｌから出射される反射光ビームＬＲを横方向成分及び縦方向成分に分解した場合、振幅としてそれぞれｃｏｓθ°及びｓｉｎθ°の比率となる。

これに応じて偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｇ及び３２Ｈは、反射光ビームＬＲのうち横偏光成分、すなわち（ｃｏｓθ°）の割合を回折させて反射光ビームＬＲ１Ｇとする。

このため領域３２Ｅ及び３２Ｈにおける回折効率の比率、並びに領域３２Ｆ及び３２Ｇにおける回折効率の比率は、いずれも（１）式と対応する（１０）式のように表すことができる。

すなわち光ディスク装置７０は、領域８１Ｌにおける偏光方向Ｚ４Ｌを調整することにより、反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆに対する反射光ビームＬＲ１Ｈ及びＬＲ１Ｇの光量の割合を変化させることができる。このことは、上述した（７）式における係数Ｋｔを任意に変化させることに相当する。

その後光ピックアップ７７は、第１の実施の形態と同様、光検出器３５の受光領域ＲＥにより反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈを受光して受光信号ＳＥを生成し、また受光領域ＲＦにより反射光ビームＬＲ１Ｆ及びＬＲ１Ｇを受光して受光信号ＳＦを生成する。

このように光ディスク装置７０は、１／２波長板８１における領域８１Ｌの偏光方向Ｚ４Ｌを調整することにより、反射光ビームＬＲ１Ｈ及びＬＲ１Ｇの光量を変化させた上で、それぞれ受光領域ＲＥ及びＲＦに照射させるようになされている。

［３−２．動作及び効果］
以上の構成において、第３の実施の形態による光ディスク装置７０の光ピックアップ７７は、反射光ビームＬＲを１／２波長板８１及び偏光ホログラム素子３２により分割すると共に分離する。

すなわち１／２波長板８１は、Ｓ偏光でなる反射光ビームＬＲの偏光方向を、領域８１Ｐについては横方向から左回りに１５°傾いた偏光方向Ｚ２Ｐとし、領域８１Ｌについては横方向から左回りにθ°傾いた偏光方向Ｚ４Ｌとする。

続いて偏光ホログラム素子３２は、第１の実施の形態と同様に、０次光でなる反射光ビームＬＲ０をほぼ直進させると共に、領域３２Ｅ〜３２Ｊ（図７（Ａ））の回折作用により、１次光でなる反射光ビームＬＲ１Ｅ〜ＬＲ１Ｊに分離する。

光検出器３５は、第１の実施の形態と同様、受光領域ＲＥにより反射光ビームＬＲ１Ｅ、ＬＲ１Ｈ１及びＬＲ１Ｈ２を受光して受光信号ＳＥを生成し、受光領域ＲＦにより反射光ビームＬＲ１Ｆ、ＬＲ１Ｇ１及びＬＲ１Ｇ２を受光して受光信号ＳＦを生成する。

信号処理部１３は、（３）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出し、駆動制御部１２により当該トラッキングエラー信号ＳＴＥ１を基にトラッキング制御を行う。

従って光ディスク装置７０は、第１の実施の形態と同様、（３）式に従い２つの受光信号ＳＥ及びＳＦの差分値を算出するだけで、従来の（７）式の演算を行った場合と同等の演算結果であるトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を生成することができる。

さらに光ディスク装置７０は、１／２波長板８１の領域８１Ｌにおける偏光方向Ｚ４Ｌを調整することにより、横偏光成分の割合、すなわち反射光ビームＬＲ１Ｈ及びＬＲ１Ｇの光量を動的に変化させることができる。

これを換言すれば、光ディスク装置７０は、トラッキングエラー信号ＳＴＥ１におけるレンズシフト成分のオフセット量を動的に調整できることになる。

実際上光ディスク装置７０では、光ディスク１００に対する光ビームＬ１の入射角度に応じてその反射率が相違する。これに伴い反射光ビームＬＲは、光束断面における中心部分と周辺部分との光量比が変化する可能性がある。そうすると、（７）式等によりトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出する際の最適な係数Ｋｔが変化することになる。

このような場合であっても、光ディスク装置７０は、偏光方向Ｚ４Ｌを調整することにより、反射光ビームＬＲ１Ｈ及びＬＲ１Ｇの光量を最適な値に調整できる。これにより光ディスク装置７０は、（３）式の演算をするだけでレンズシフト成分を適切に相殺でき、いわゆるオフセットの発生を抑止できるため、トラッキング制御のさらなる高精度化を図ることができる。

また光ディスク装置７０は、その他の点について、第１の実施の形態における光ディスク装置１０と同様の作用効果を奏し得る。

以上の構成によれば、光ディスク装置７０の光ピックアップ７７は、反射光ビームＬＲの領域毎に、１／２波長板８１により偏光方向を回転させ、偏光ホログラム素子３２によりその偏光方向に応じて回折させる。光ピックアップ７７は、領域３２Ｅ及び３２Ｈにおける回折効率の比率を調整し、互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈを受光領域ＲＥにより受光して受光信号ＳＥを生成する。また光ピックアップ７７は、領域３２Ｆ及び３２Ｇにおける回折効率の比率を調整し、互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ１Ｆ及びＬＲ１Ｇを受光領域ＲＦにより受光して受光信号ＳＦを生成する。これにより光ディスク装置７０は、（３）式により、レンズシフト成分を適切に相殺でき且つ安定した高品質なトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出でき、高精度なトラッキング制御を行うことができる。

＜４．第４の実施の形態＞
［４−１．光ディスク装置及び光ピックアップの構成］
第４の実施の形態による光ディスク装置１１０は、第１の実施の形態による光ディスク１０（図３）と比較して、信号処理部１３及び光ピックアップ１７に代えて信号処理部１１３及び光ピックアップ１１７が設けられている点が異なっている。

因みに光ディスク装置１１０は、他の部分については、光ディスク装置１０と同様に構成されている。

信号処理部１１３は、第１の実施の形態による信号処理部１３と比較して、フォーカスエラー信号及び再生ＲＦ信号の演算手法が相違するものの、他は同様に構成されている。

光ピックアップ１１７は、図５と対応する図１６に示すように、光ピックアップ１７と比較して往路コリメータレンズ２２、ビームエクスパンダ２４及び復路コリメータレンズ３３に代わるコリメータレンズ１２４が設けられている点が相違する。

また光ピックアップ１１７は、光ピックアップ１７と比較して、１／２波長板３１及び偏光ホログラム素子３２に代わる１／２波長板１３１及び偏光ホログラム素子１３２が設けられている点が相違する。

さらに光ピックアップ１１７は、光ピックアップ１７と比較して、シリンドリカルレンズ３４に代わるＳＳＤ（Spot Size Detect）用ホログラム素子１３３が設けられている点が相違する。

因みに光ピックアップ１１７は、その他の部分については、光ピックアップ１７と同様に構成されている。

コリメータレンズ１２４は、往路コリメータレンズ２２と同様に光ビームＬ１を発散光から平行光に変換し、また復路コリメータレンズ３３と同様に反射光ビームＬＲを平行光から収束光に変換する。

またコリメータレンズ１２４は、駆動制御部１２の制御に基づき、ビームエクスパンダ２４の可動レンズ２４Ａと同様に光ビームＬ１の光軸方向に移動されるようになされている。

このときコリメータレンズ１２４は、光ビームＬ１が集光され光ディスク１００の対象記録層ＹＴに到達する際に生じる球面収差と逆特性となるような球面収差を当該光ビームＬ１に予め与える。これによりコリメータレンズ１２４は、光ビームＬ１の対象記録層ＹＴへの到達時における球面収差を補正することができる。

またコリメータレンズ１２４は、反射光ビームＬＲが対象記録層ＹＴにより反射されてから対物レンズ１８を通過するまでの間に生じた球面収差についても同様に補正し得るようになされている。

［４−１−１．１／２波長板の構成］
１／２波長板１３１は、図６（Ａ）と対応する図１７（Ａ）に示すように、領域３１Ｐ１、３１Ｐ２及び３１Ｌとそれぞれ対応する領域１３１Ｐ１、１３１Ｐ２及び１３１Ｌに分割され、当該領域毎に反射光ビームＬＲの偏光方向を回転させるようになされている。

領域１３１Ｐ１及び１３１Ｐ２（以下これらをまとめて領域１３１Ｐと呼ぶ）は、反射光ビームＬＲのうち当該領域１３１Ｐに入射された部分について、その偏光方向Ｚ１を回転させて偏光方向Ｚ５Ｐとし、偏光ホログラム素子１３２へ入射させる。

偏光方向Ｚ５Ｐは、図１７（Ｂ）に示すように、横方向（Ｘ方向）を基準として左回りに約４５°傾いた角度となっている。このため、反射光ビームＬＲのうち当該領域１３１Ｐに入射された部分を横方向成分及び縦方向成分に分解した場合、振幅としてそれぞれｃｏｓ４５°及びｓｉｎ４５°の比率となる。

領域１３１Ｌは、反射光ビームＬＲのうち当該領域１３１Ｌに入射された部分について、その偏光方向Ｚ１を回転させて偏光方向Ｚ５Ｌとし、偏光ホログラム素子１３２へ入射させる。

この偏光方向Ｚ５Ｌは、図１７（Ｃ）に示すように、横方向（Ｘ方向）を基準として０°（すなわち横方向そのもの）となっている。このため、当該領域３１Ｌから出射される反射光ビームＬＲは、横方向成分のみとなる。

［４−１−２．偏光ホログラム素子の構成］
偏光ホログラム素子１３２は、図７（Ａ）と対応する図１８（Ａ）に示すように、偏光ホログラム素子３２と同様に複数の領域１３２Ｅ〜１３２Ｊに分割されている。

領域１３２Ｅ、１３２Ｆ、１３２Ｇ１及び１３２Ｇ２、並びに１３２Ｈ１及び１３２Ｈ２は、それぞれブレーズド型の偏光回折格子が形成されており、反射光ビームＬＲにおける所定の偏光方向成分をそれぞれ回折させて＋１次光の反射光ビームＬＲ５とする。

また偏光ホログラム素子１３２は、反射光ビームＬＲのうち領域１３２Ｊ以外の各領域において回折させなかった偏光方向成分、及び領域１３２Ｊに入射された部分については、０次光の反射光ビームＬＲ０としてそのまま直進させるようになされている。

さらに偏光ホログラム素子１３２は、図７（Ｂ）と対応する図１８（Ｂ）に示すように、各領域毎に反射光ビームＬＲの回折方向（図中実線の矢印で示す）が設定されている。因みに偏光ホログラム素子１３２における各領域の回折方向は、偏光ホログラム素子３２における各領域の回折方向といずれも相違している。

偏光ホログラム素子１３２の領域１３２Ｅは、偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｅと同様、反射光ビームＬＲのうち光ディスク１００における内周側のプッシュプル領域に対応している。この領域１３２Ｅには、１／２波長板１３１の領域１３１Ｐにより偏光方向が横方向から左回り４５°に回転された反射光ビームＬＲが入射される。

領域１３２Ｅは、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｙの成分、すなわち縦偏光成分であり振幅として（ｓｉｎ４５°）に相当する割合を回折させ、１次光でなる反射光ビームＬＲ５Ｅとして内周方向（図の左方向）へ回折させる。

また領域１３２Ｅは、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｙとほぼ直交する横方向の偏光成分、すなわち振幅として（ｃｏｓ４５°）に相当する割合をそのまま透過し、０次光でなる反射光ビームＬＲ０の一部として直進させる。

偏光ホログラム素子１３２の領域１３２Ｆは、偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｆと同様、反射光ビームＬＲのうち光ディスク１００における外周側のプッシュプル領域に対応している。この領域１３２Ｆには、１／２波長板１３１の領域１３１Ｐにより偏光方向が横方向から左回り４５°に回転された反射光ビームＬＲが入射される。

領域１３２Ｆは、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｙの成分を回折させ、１次光でなる反射光ビームＬＲ５Ｆとして外周方向（図の右方向）へ回折させる。

また領域１３２Ｆは、領域１３２Ｅと同様、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｙとほぼ直交する横方向の偏光成分をそのまま透過し、０次光でなる反射光ビームＬＲ０の一部として直進させる。

偏光ホログラム素子１３２の領域１３２Ｇ１及び１３２Ｇ２は、偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｇ１及び３２Ｇ２と同様、反射光ビームＬＲにおけるレンズシフト領域の内周側部分に対応している。

この領域１３２Ｇ１及び１３２Ｇ２（以下まとめて領域１３２Ｇとも呼ぶ）には、１／２波長板１３１の領域１３１Ｌにより偏光方向が横方向に回転された反射光ビームＬＲが入射される。

領域１３２Ｇ１及び１３２Ｇ２は、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｘの成分、すなわち全成分をそれぞれ回折させ、１次光でなる反射光ビームＬＲ５Ｇ１及びＬＲ５Ｇ２（以下まとめて反射光ビームＬＲ５Ｇとも呼ぶ）とする。このとき領域１３２Ｇは、この反射光ビームＬＲ５Ｇを外周方向（図の右方向）へ回折させる。

すなわち偏光ホログラム素子１３２の領域１３２Ｆ及び１３２Ｇは、図１８（Ａ）に示したように互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ５Ｆ及びＬＲ５Ｇを、図１８（Ｂ）に示したようにほぼ同一の方向へ進行させる。

ここで領域１３２Ｆ及び１３２Ｇにおける回折効率の比率は、各偏光成分の２乗値の比率となるため、（１）式と対応する（１１）式のように表すことができる。

すなわち領域１３２Ｇにおける回折効率は、領域１３２Ｆにおける回折効率の約２倍となっている。

因みに領域１３２Ｇに入射される反射光ビームＬＲは、横方向以外の偏光方向成分を含まない。このため０次光でなる反射光ビームＬＲ０には、当該領域１３２Ｇに対応する部分が含まれない。

偏光ホログラム素子１３２の領域１３２Ｈ１及び１３２Ｈ２は、偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｈ１及び３２Ｈ２と同様、反射光ビームＬＲにおけるレンズシフト領域の外周側部分に対応している。

この領域１３２Ｈ１及び１３２Ｈ２（以下まとめて領域１３２Ｈとも呼ぶ）には、１／２波長板１３１の領域１３１Ｌにより偏光方向が横方向に回転された反射光ビームＬＲが入射される。

領域１３２Ｈ１及び１３２Ｈ２は、この反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｘの成分、すなわち全成分をそれぞれ回折させ、１次光でなる反射光ビームＬＲ５Ｈ１及びＬＲ５Ｈ２（以下まとめて反射光ビームＬＲ５Ｈとも呼ぶ）とする。このとき領域１３２Ｈは、この反射光ビームＬＲ５Ｈを内周方向（図の左方向）へ回折させる。

すなわち偏光ホログラム素子１３２の領域１３２Ｅ及び１３２Ｈは、領域１３２Ｆ及び１３２Ｇの場合と同様、互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ５Ｅ及びＬＲ５Ｈをほぼ同一の方向へ進行させる。

ここで領域１３２Ｅ及び１３２Ｈにおける回折効率の比率は、領域１３２Ｆ及び１３２Ｇの場合と同様、（１１）式のように表すことができる。すなわち領域１３２Ｈにおける回折効率は、領域１３２Ｅにおける回折効率の約２倍となっている。

因みに領域１３２Ｈは、領域１３２Ｇと同様、入射される反射光ビームＬＲが横方向の偏光方向成分のみを有する。このため０次光でなる反射光ビームＬＲ０には、当該領域１３２Ｈに対応する部分も含まれない。

この結果反射光ビームＬＲ０には、領域１３２Ｅ、１３２Ｆ及び１３２Ｊに対応した部分のみが含まれることになる。

［４−１−３．ＳＳＤ用ホログラム素子の構成］
ＳＳＤ用ホログラム素子１３３は、反射光ビームＬＲ０及びＬＲ５をそれぞれ所定の割合で回折させることにより０次光、＋１次光及び−１次光に分離し、それぞれ光検出器１３５へ照射する。

このとき０次光でなる反射光ビームＬＲ０及びＬＲ５（以下まとめて反射光ビーム群ＬＲＫと呼ぶ）は、そのまま直進する。＋１次光でなる反射光ビームＬＲＰ０及びＬＲＰ５（以下まとめて反射光ビーム群ＬＲＰと呼ぶ）は、内周側へ回折される。−１次光でなる反射光ビームＬＲＭ０及びＬＲＭ５（以下まとめて反射光ビーム群ＬＲＭと呼ぶ）は、外周側へ回折される。

またＳＳＤ用ホログラム素子１３３は、反射光ビーム群ＬＲＰ及びＬＲＭを回折させる際、縦方向に関して、いずれか一方を光検出器１３５の照射面よりも手前で合焦させ、他方を当該光検出器１３５の照射面よりも遠方で合焦させるよう、焦点位置を変化させる。

［４−１−４．光検出器の構成］
光検出器１３５は、図９と対応する図１９に示すように、光検出器３５とは大きく異なる構成となっており、複数の受光部ＤＫ、ＤＰ及びＤＭが形成され、各受光部に複数の受光領域が設けられている。

受光部ＤＫは、それぞれ略長方形状でなる受光領域ＲＫ、ＲＥ及びＲＦが横方向に所定間隔を空けて配置されており、各受光領域Ｒにより反射光ビーム群ＬＲＫを受光するようになされている。

受光領域ＲＫは、反射光ビーム群ＬＲＫのうち０次光でなる反射光ビームＬＲ０により形成されるスポットＴＫを受光し、その全受光量に応じた受光信号ＳＫを生成する。さらに受光領域ＲＫは、この受光信号ＳＥをヘッドアンプ３６（図１６）で増幅させ信号処理部１１３へ送出するようになされている。

受光領域ＲＥは、反射光ビームＬＲ５Ｅにより形成されるスポットＴＥ並びに反射光ビームＬＲ５Ｈ１及びＬＲ５Ｈ２によりそれぞれ形成されるスポットＴＨ１及びＴＨ２を合わせて受光し、その全受光量に応じた受光信号ＳＥを生成する。さらに受光領域ＲＥは、この受光信号ＳＥをヘッドアンプ３６（図１６）で増幅させ信号処理部１１３へ送出するようになされている。

ここで偏光ホログラム素子１３２の領域１３２Ｅ及び１３２Ｈにおける回折効率の比率は、（１１）式により示したように約１：２となっている。すなわち受光信号ＳＥは、第１の実施の形態と同様、反射光ビームＬＲのうち偏光ホログラム素子１３２の領域１３２Ｅに入射された部分の光量値と、領域１３２Ｈに入射された部分の光量値を約２倍した値とを、加算した値に相当することになる。

受光領域ＲＦは、反射光ビームＬＲ５Ｆにより形成されるスポットＴＦ並びに反射光ビームＬＲ５Ｇ１及びＬＲ５Ｇ２によりそれぞれ形成されるスポットＴＧ１及びＴＧ２を合わせて受光し、その全受光量に応じた受光信号ＳＦを生成する。さらに受光領域ＲＦは、この受光信号ＳＦをヘッドアンプ３６（図１６）で増幅させ信号処理部１１３へ送出するようになされている。

ここで領域１３２Ｆ及び１３２Ｇにおける回折効率の比率も、反射光ビームＬＲ５Ｅ及びＬＲ５Ｈの場合と同様、（１１）式により示したように約１：２となっている。すなわち受光信号ＳＦは、受光信号ＳＥの場合と同様、反射光ビームＬＲのうち偏光ホログラム素子１３２の領域１３２Ｆに入射された部分の光量値と、領域１３２Ｇに入射された部分の光量値を約２倍した値とを、加算した値に相当することになる。

受光部ＤＰは、受光部ＤＫの内周側（図の左側）におけるやや離隔した箇所に配置されており、全体として比較的大きな長方形状に形成されている。また受光部ＤＰは、縦方向に３分割されることにより、いずれも横方向に長い長方形状でなる受光領域ＲＰ１、ＲＰ２及びＲＰ３が互いに隣接するよう配置された状態となっている。

受光領域ＲＰ１、ＲＰ２及びＲＰ３には、反射光ビーム群ＬＲＰに基づいたスポット群ＴＰが形成される。受光領域ＲＰ１、ＲＰ２及びＲＰ３は、ぞれぞれの受光量に応じた受光信号ＳＰ１、ＳＰ２及びＳＰ３をそれぞれ生成し、ヘッドアンプ３６（図１６）で増幅させ信号処理部１１３へ送出するようになされている。

受光部ＤＭは、受光部ＤＫの外周側（図の右側）における、受光部ＤＰと横方向に関してほぼ対称となる箇所に配置されており、当該受光部ＤＰとほぼ同様の形状に構成されている。すなわち受光部ＤＭは、縦方向に３分割されることにより、いずれも横方向に長い長方形状でなる受光領域ＲＭ１、ＲＭ２及びＲＭ３が互いに隣接するよう配置された状態となっている。

受光領域ＲＭ１、ＲＭ２及びＲＮ３には、反射光ビーム群ＬＲＭに基づいたスポット群ＴＭが形成される。受光領域ＲＭ１、ＲＭ２及びＲＭ３は、ぞれぞれの受光量に応じた受光信号ＳＭ１、ＳＭ２及びＳＭ３をそれぞれ生成し、ヘッドアンプ３６（図１６）で増幅させ信号処理部１１３へ送出するようになされている。

また光検出器１３５は、層間迷光ビームＬＮが１／２波長板１３１、偏光ホログラム素子１３２及びＳＳＤ用ホログラム素子１３３を介して照射されることにより、図１９に示すような迷光パターン群Ｗが形成される。

迷光パターン群Ｗは、スポットＴＫの照射位置を中心に、０次光の迷光パターンＷＫが形成されている。また迷光パターン群Ｗは、偏光ホログラム素子１３２の領域１３２Ｅ、１３２Ｆ、１３２Ｇ１、１３２Ｇ２、１３２Ｈ１及び１３２Ｈ２により、１次光の迷光パターンＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２がそれぞれ形成されている。

光検出器１３５の受光領域ＲＥ及びＲＦは、この迷光パターン群Ｗに関し、迷光パターンＷＫ、ＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２のいずれにもかからないように大きさや配置等が定められている。また受光領域ＲＫは、迷光パターンＷＫ以外の迷光パターンＷＥ、ＷＦ、ＷＧ１、ＷＧ２、ＷＨ１及びＷＨ２のいずれにもかからないように大きさ及び配置等が定められている。

［４−２．受光信号に基づいた信号処理及び駆動制御］
信号処理部１１３（図３）は、光ピックアップ１１７から供給される受光信号ＳＰ１、ＳＰ２及びＳＰ３並びにＳＭ１、ＳＭ２及びＳＭ３を基に、（１２）式に従ってフォーカスエラー信号ＳＦＥ２を算出し、これを駆動制御部１２へ供給する。

この（１２）式はＳＳＤ法に基づく演算式を表している。また係数Ｋｆは、予め定められた所定の係数である。

駆動制御部１２は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ２を基にフォーカス駆動信号ＳＦＤを生成し、これを２軸アクチュエータ１９へ供給することによりフォーカス制御を行う。

また信号処理部１１３は、光ピックアップ１１７から供給される受光信号ＳＥ及びＳＦを基に、上述した（３）式に従い１ビームプッシュプル法によるトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出し、これを駆動制御部１２へ供給する。

駆動制御部１２は、第１の実施の形態と同様にトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を基にトラッキング駆動信号ＳＦＤを生成し、これを２軸アクチュエータ１９へ供給することによりトラッキング制御を行う。

さらに信号処理部１１３は、光ピックアップ１１７から供給される受光信号ＳＫ、ＳＥ及びＳＦを基に、次に示す（１３）式に従い再生ＲＦ信号ＳＲＦ２を算出する。

続いて信号処理部１１３は、再生ＲＦ信号ＳＲＦ２に所定の復調処理や復号化処理等を施すことにより、光ディスク１００に記録されている情報を再生し、制御部１１を介して外部機器（図示せず）へ出力するようになされている。

このように光ディスク装置１１０は、光ピックアップ１１７から供給される受光信号Ｓを基にフォーカスエラー信号ＳＦＥ２及びトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を生成してフォーカス制御及びトラッキング制御を行うようになされている。

また光ディスク装置１１０は、光ピックアップ１１７から供給される受光信号Ｓを基に再生ＲＦ信号ＳＲＦ２を生成して光ディスク１００に記録されている情報の再生を行うようになされている。

［４−３．動作及び効果］
以上の構成において、第４の実施の形態による光ディスク装置１１０の光ピックアップ１１７は、光ビームＬ１を光ディスク１００へ照射し、当該光ディスク１００により反射されてなる反射光ビームＬＲを１／２波長板１３１及び偏光ホログラム素子１３２並びにＳＳＤ用ホログラム素子１３３により分割すると共に分離する。

すなわち１／２波長板１３１は、Ｓ偏光でなる反射光ビームＬＲの偏光方向を、領域１３１Ｐについては横方向から左回りに４５°傾いた偏光方向Ｚ５Ｐとし、領域１３１Ｌについては横方向の偏光方向Ｚ５Ｌとする。

続いて偏光ホログラム素子１３２は、０次光でなる反射光ビームＬＲ０をほぼ直進させると共に、領域１３２Ｅ〜１３２Ｊ（図１８（Ａ））の回折作用により、１次光でなる反射光ビームＬＲ５Ｅ〜ＬＲ５Ｊに分離する。

このとき偏光ホログラム素子１３２は、互いの偏光方向を相違させた、内周側のプッシュプル領域を含む反射光ビームＬＲ５Ｅ及び外周側のレンズシフト領域を含む反射光ビームＬＲ５Ｈを、いずれも内周方向へ回折させる。

また偏光ホログラム素子１３２は、互いの偏光方向を相違させた、外周側のプッシュプル領域を含む反射光ビームＬＲ５Ｆ及び内周側のレンズシフト領域を含む反射光ビームＬＲ５Ｇを、いずれも外周方向へ回折させる。

ＳＳＤ用ホログラム素子１３３は、反射光ビームＬＲ０及びＬＲ５を回折させることにより反射光ビーム群ＬＲＫ、ＬＲＰ及びＬＲＭに分離し、反射光ビーム群ＬＲＰ及びＬＲＭについては縦方向の焦点位置をそれぞれ調整する。

これに応じて光検出器１３５は、受光部ＤＫの受光領域ＲＫにより反射光ビームＬＲ０を受光し、受光信号ＳＫを生成する。また光検出器１３５は、受光領域ＲＥにより反射光ビームＬＲ５Ｅ、ＬＲ５Ｈ１及びＬＲ５Ｈ２を全て受光し、受光信号ＳＥを生成する。さらに光検出器１３５は、受光領域ＲＦにより反射光ビームＬＲ５Ｆ、ＬＲ５Ｇ１及びＬＲ５Ｇ２を全て受光し、受光信号ＳＦを生成する。

信号処理部１１３は、（１２）式に従ってフォーカスエラー信号ＳＦＥ２を算出し、駆動制御部１２により当該フォーカスエラー信号ＳＦＥ２を基にフォーカス制御を行う。また信号処理部１１３は、（３）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出し、駆動制御部１２により当該トラッキングエラー信号ＳＴＥ１を基にトラッキング制御を行う。

さらに信号処理部１１３は、（１３）式に従って再生ＲＦ信号ＳＲＦを算出し、これを基に光ディスク１００に記録されている情報を再生する。

従って光ディスク装置１１０は、第１の実施の形態と同様、（３）式に従い２つの受光信号ＳＥ及びＳＦの差分値を算出するだけで、従来の（７）式の演算を行った場合と同等の演算結果であるトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を生成することができる。

ところで従来の光ディスク装置において、ＳＳＤ法によるフォーカス制御及び１ビームプッシュプル法によるトラッキング制御を組み合わせる場合、例えば特許文献２に記載されているように、５種類の受光信号を組み合わせて再生ＲＦ信号を算出していた。

特開２００７−２１３７５４公報

すなわちこの手法では、図１に示した従来のホログラム素子１における領域１Ｅ、１Ｆ、１Ｇ、１Ｈ及び１Ｊを通過した各反射光ビームを、５個の受光領域によりそれぞれ受光して５種類の受光信号を生成していた。

これに対し光ディスク装置１１０では、（１３）式からわかるように、３個の受光領域ＲＫ、ＲＥ及びＲＦにより生成した３種類の受光信号ＳＫ、ＳＥ及びＳＦを加算するだけで再生ＲＦ信号ＳＲＦ２を算出することができる。

これにより光ディスク装置１１０は、ヘッドアンプ３６内に設けられている、再生ＲＦ信号の生成に用いるアンプ回路の数を削減でき、これに伴いアンプノイズの影響を大幅に抑制することができる。

すなわち光ディスク装置１１０は、受光領域ＲＥにおいて反射光ビームＬＲ５Ｅ及びＬＲ５Ｈを受光し、受光領域ＲＦにおいて反射光ビームＬＲ５Ｆ及びＬＲ５Ｇを受光することにより、トラッキングエラー信号ＳＴＥ１及び再生ＲＦ信号ＳＲＦ２の双方における演算処理を予め光学的に行うことができる。

また光ディスク装置１１０は、その他の点について、第１の実施の形態における光ディスク装置１０と同様の作用効果を奏し得る。

以上の構成によれば、光ディスク装置１１０の光ピックアップ１１７は、反射光ビームＬＲの領域毎に、１／２波長板１３１により偏光方向を回転させ、偏光ホログラム素子１３２によりその偏光方向に応じて回折させ、さらにＳＳＤ用ホログラム素子１３３により０次光及び１次光に分離する。光ピックアップ１１７は、領域１３２Ｅ及び１３２Ｈにおける回折効率の比率を約１：２として、互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ５Ｅ及びＬＲ５Ｈを受光領域ＲＥにより受光して受光信号ＳＥを生成する。また光ピックアップ１１７は、領域１３２Ｆ及び１３２Ｇにおける回折効率の比率を約１：２として、互いの偏光方向を相違させた反射光ビームＬＲ５Ｆ及びＬＲ５Ｇを受光領域ＲＦにより受光して受光信号ＳＦを生成する。これにより光ディスク装置１１０は、（３）式に従って安定した高品質なトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出でき、高精度なトラッキング制御を行うことができる。これと共に光ディスク装置１１０は、（１３）式に従ってアンプノイズ成分が低減化された高品質な再生ＲＦ信号ＳＲＦ２を生成することができる。

＜５．他の実施の形態＞
なお上述した第１の実施の形態においては、１／２波長板３１の領域３１Ｐにおける偏光方向Ｚ２Ｐを横方向から左回りに１５°とし、領域３１Ｐにおける偏光方向Ｚ２Ｌを横方向から左回りに６８°とする場合について述べた。

本発明はこれに限らず、偏光方向Ｚ２Ｐ及びＺ２Ｌをそれぞれ任意の角度としても良い。この場合、（１）式のように、偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｅに入射される反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｙの成分の２乗値と領域３２Ｈに入射される反射光ビームＬＲのうち偏光方向Ｚ３Ｘの成分の２乗値との比率が、１：（係数Ｋｔ）となれば良い。これを換言すれば、（７）式からもわかるように、反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｆの光量における差分値の直流成分と、反射光ビームＬＲ１Ｇ及びＬＲ１Ｈの光量における差分値とがほぼ同等になれば良い。

さらにこの場合、偏光方向Ｚ２Ｐについては、偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｅに入射される反射光ビームＬＲのうち、０次光として再生ＲＦ信号に寄与させる割合と１次光としてトラッキングエラー信号に寄与させる割合とを考慮して定めれば良い。偏光方向Ｚ２Ｌについても、同様に定めるようにしても良い。第２及び第４の実施の形態についても同様である。

また上述した第１の実施の形態においては、偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｅ及び３２Ｆ、並びに領域３２Ｇ及び３２Ｈにおいて回折作用を呈する偏光方向を縦方向の偏光方向Ｚ３Ｙ及び横方向の偏光方向Ｚ３Ｘとする、すなわち直交させる場合について述べた。

本発明はこれに限らず、それぞれの偏光方向を任意に設定しても良い。この場合、領域３２Ｅ及び３２Ｆと、領域３２Ｇ及び３２Ｈとで回折作用を呈する偏光方向を少なくとも相違させることにより受光領域ＲＥ及びＲＦにおける光の干渉を低減でき、当該偏光方向の相違角度を９０°に近づけるほど、低減効果を高めることができる。第２〜第４の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、光検出器３５（図９）において、受光領域ＲＥ及びＲＦを迷光パターンＷＡの照射範囲外に配置する場合について述べた。

本発明はこれに限らず、受光領域ＲＥ及びＲＦを迷光パターンＷＡの照射範囲内に配置するようにしても良い。この場合、（３）式の演算等により、当該迷光パターンＷＡに起因した迷光成分を相殺できれば良い。第２及び第３の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、偏光ホログラム素子３２により、反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈを図７（Ｂ）における左下方向へ回折させ、反射光ビームＬＲ１Ｆ及びＬＲ１Ｇを図７（Ｂ）における右下方向へ回折させる場合について述べた。

本発明はこれに限らず、偏光ホログラム素子３２により、反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈを任意の方向へ回折させ、また反射光ビームＬＲ１Ｆ及びＬＲ１Ｇを任意の方向へ回折させても良い。この場合、受光領域ＲＥ及びＲＦは、各迷光パターンＷを回避するよう配置され、且つ反射光ビームＬＲ１Ｅ及びＬＲ１Ｈ、並びに反射光ビームＬＲ１Ｆ及びＬＲ１Ｇをそれぞれ受光できれば良い。第２及び第３の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、偏光ホログラム素子３２の領域３２Ｊにおける長さα及びβと、光検出器３５の受光領域ＲＥにおける長さγ及びδとが、（５）式又は（６）式を満たすようにする場合について述べた。

本発明はこれに限らず、長さα及びβと長さγ及びδが任意の関係を満たすようにしても良い。ただし、偏光ホログラム素子３２及び光検出器３５の光学的関係と、対物レンズ１８が横方向にレンズシフトすることを踏まえると、（５）式又は（６）式を満たす場合に迷光パターンＷを効果的に回避できると考えられる。第２〜第４の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第２の実施の形態においては、迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２を、それぞれ長方形状とし、且つ受光領域ＲＥの外周側の辺を揃えるよう上下に隣接配置する場合について述べた。

本発明はこれに限らず、任意の形状でなる迷光受光領域ＲＥＮ１及びＲＥＮ２を任意の箇所に配置しても良く、また当該迷光受光領域ＲＥＮ１又はＲＥＮ２のいずれか一方を省略しても良い。この場合、要は迷光パターンＷＥが受光領域ＲＥにかかる場合の受光信号ＳＥに含まれる迷光成分と比例する迷光受光信号ＳＥＮを生成できれば良い。迷光受光領域ＲＦＮ１及びＲＦＮ２についても同様である。

さらに上述した第３の実施の形態においては、１／２波長板８１の領域８１Ｌを液晶素子により構成する場合について述べた。

本発明はこれに限らず、当該領域８１Ｌを他の種々の光学素子により構成するようにしても良い。この場合、要は当該領域８１Ｌにより反射光ビームＬＲの偏光方向を回転させることができ、且つその回転角度を駆動制御部７２の偏光角調整部により調整できれば良い。また１／２波長板８１は、領域８１Ｌに限らず、領域８１Ｐについて偏光方向の回転角度を調整できるようにしても良い。

さらに上述した第１の実施の形態においては、光ディスク装置１０が１ビームプッシュプル法によりトラッキングエラー信号を生成する場合について述べた。本発明はこれに限らず、光ディスク１００の種類に応じて、例えばＢＤ−ＲＯＭの場合にはＤＰＤ（Differential Phase Detection）法等の位相差法を用い、ＢＤ−ＲやＢＤ−ＲＥ等の場合には１ビームプッシュプル法を用いるようにしても良い。この場合、ＤＰＤ法に対応したトラッキングエラー信号演算回路を信号処理部１３に追加すれば良い。第２〜第４の実施の形態についても同様である。

さらに第１の実施の形態の場合、光ディスク装置１０が、例えばＢＤ方式等の単一の方式のみでなく、ＤＶＤ方式やＣＤ方式等を加えた２以上の方式にも対応するようにしても良い。この場合、各方式に対応した波長の光ビームを出射し得るレーザダイオードをビームスプリッタ等と共に設け、各方式に対応した受光領域を光検出器３５に設ければ良い。第２〜第４の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、レーザダイオード２１から出射する光ビームＬ１の波長を４０５［ｎｍ］とする場合について述べた。本発明はこれに限らず、光ディスク１００に対応した任意の波長でなる光ビームを出射するようにしても良い。第２〜第４の実施の形態についても同様である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、光ディスク装置１０が光ディスク１００に対し情報の記録処理及び再生処理の双方を行い得るようにした場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、例えば光ディスク１００の再生処理のみを行い得る光ディスク装置に本発明を適用するようにしても良い。第２〜第４の実施の形態についても同様である。

さらに上述した実施の形態においては、光源としてのレーザダイオード２１と、対物レンズとしての対物レンズ１８と、レンズ移動部としての駆動制御部１２及び２軸アクチュエータ１９と、偏光方向回転部としての１／２波長板３１と、偏光回折光学素子としての偏光ホログラム素子３２と、光検出器としての光検出器３５とによって光ピックアップとしての光ピックアップ１７を構成する場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる光源と、対物レンズと、レンズ移動部と、集光レンズと、偏光方向回転部と、偏光回折光学素子と、光検出器とによって光ピックアップを構成するようにしても良い。

さらに上述した実施の形態においては、光源としてのレーザダイオード２１と、対物レンズとしての対物レンズ１８と、レンズ移動部としての２軸アクチュエータ１９と、偏光方向回転部としての１／２波長板３１と、偏光回折光学素子としての偏光ホログラム素子３２と、光検出器としての光検出器３５と、信号処理部としての信号処理部１３と、駆動制御部としての駆動制御部１２とによって光ディスク装置としての光ディスク装置１０を構成する場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる光源と、対物レンズと、レンズ移動部と、集光レンズと、偏光方向回転部と、偏光回折光学素子と、光検出器と、信号処理部と、駆動制御部とによって光ディスク装置を構成するようにしても良い。

本発明は、映像や音声或いは種々のデータ等の情報を光ディスクに記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生する光ディスク装置でも利用できる。

１０、５０、７０、１１０……光ディスク装置、１１……統括制御部、１２、７２……駆動制御部、１２Ａ……サーボ制御部、１３、５３、７３、１１３……信号処理部、１７、５７、７７、１１７……光ピックアップ、１８……対物レンズ、１９……２軸アクチュエータ、２１……レーザダイオード、３１、８１、１３１……１／２波長板、３２、１３２……偏光ホログラム素子、３１Ｐ１、３１Ｐ２、３１Ｌ、８１Ｐ１、８１Ｐ２、８１Ｌ、１３１Ｐ１、１３１Ｐ２、１３１Ｌ、３２Ｅ、３２Ｆ、３２Ｇ１、３２Ｇ２、３２Ｈ１、３２Ｈ２、３２Ｊ、１３２Ｅ、１３２Ｆ、１３２Ｇ１、１３２Ｇ２、１３２Ｈ１、１３２Ｈ２、１３２Ｊ……領域、３５、１３５……光検出器、ＲＡ、ＲＢ、ＲＣ、ＲＤ、ＲＥ、ＲＦ、ＲＫ……受光領域、ＲＥＮ１、ＲＥＮ２、ＲＦＮ１、ＲＦＮ２……迷光受光領域、１００……光ディスク、Ｙ……記録層、ＹＴ……対象記録層、Ｌ１……光ビーム、ＬＲ、ＬＲ０、ＬＲ１Ｅ、ＬＲ１Ｆ、ＬＲ１Ｇ１、ＬＲ１Ｇ２、ＬＲ１Ｈ１、ＬＲ１Ｈ２、ＬＲ１Ｊ、ＬＲ５Ｅ、ＬＲ５Ｆ、ＬＲ５Ｇ１、ＬＲ５Ｇ２、ＬＲ５Ｈ１、ＬＲ５Ｈ２、ＬＲ５Ｊ……反射光ビーム、ＬＮ……層間迷光ビーム、Ｗ……迷光パターン、ＳＥ、ＳＦ、ＳＫ……受光信号、ＳＥＮ、ＳＦＮ……迷光受光信号、ＳＦＥ１、ＳＦＥ２……フォーカスエラー信号、ＳＴＥ１、ＳＴＥ２、ＳＴＥ３……トラッキングエラー信号、ＳＲＦ１、ＳＲＦ２……再生ＲＦ信号。

Claims (12)

1. 光ビームを出射する光源と、
   光ディスクに複数設けられた記録層のうち対象とする対象記録層に上記光ビームを集光する対物レンズと、
   上記対物レンズを、上記対象記録層に螺旋状又は同心円状に形成されたトラック溝とほぼ直交するトラッキング方向へ移動させるレンズ移動部と、
   上記光ビームが上記光ディスクにより反射されてなる反射光ビームのうち、上記トラック溝により回折された＋１次光及び−１次光でなるプッシュプル成分が含まれるプッシュプル領域の偏光方向を第１偏光方向に回転させると共に、上記プッシュプル成分が殆ど含まれないレンズシフト領域部分の偏光方向を第２偏光方向に回転させる偏光方向回転部と、
   上記反射光ビームにおける上記プッシュプル領域のうち上記光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第１領域により所定の第１軸偏光成分を所定の第１進行方向へ回折させて第１ビームとし、上記反射光ビームにおける上記プッシュプル領域のうち上記光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第２領域により上記第１軸偏光成分を上記第１進行方向と相違する第２進行方向へ回折させて第２ビームとし、上記反射光ビームにおける上記レンズシフト領域のうち上記光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第３領域により上記第１軸と相違する軸方向でなる第２軸偏光成分を上記第２進行方向へ回折させて第３ビームとし、上記反射光ビームにおける上記レンズシフト領域のうち上記光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第４領域により上記第２軸偏光成分を上記第１進行方向へ回折させて第４ビームとする偏光回折光学素子と、
   上記反射光ビームのうち上記偏光回折光学素子により回折されなかった反射０次光ビームの照射位置を基準として上記第１進行方向側に設けられた第１受光領域により上記第１ビーム及び上記第４ビームを受光して第１受光信号を生成すると共に、上記反射０次光ビームの照射位置を基準として上記第２進行方向側に設けられた第２受光領域により上記第２ビーム及び上記第３ビームを受光して第２受光信号を生成する光検出器と
   を有し、
   所定の信号処理部により、上記第１受光信号及び上記第２受光信号を基に、上記トラッキング方向に関する上記光ビームの焦点と上記トラック溝の中心線とのずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成させ、
   所定の駆動制御部により、上記トラッキングエラー信号を基に上記レンズ移動部を介して上記対物レンズを上記トラッキング方向へ移動させる
   光ピックアップ。
2. 上記偏光方向回転部及び上記偏光回折光学素子は、
   上記対物レンズが上記トラッキング方向へ移動された際における、上記第１ビーム及び上記第２ビームの光量における差分値の直流成分と、上記第３ビーム及び上記第４ビームの光量の差分値とをほぼ同等とするよう、上記第１偏光方向及び上記第２偏光方向並びに上記第１軸及び上記第２軸がそれぞれ設定されている
   請求項１に記載の光ピックアップ。
3. 上記偏光方向回転部及び上記偏光回折光学素子は、
   上記第１ビーム及び上記第２ビームの光量における差分値の直流成分と上記第３ビーム及び上記第４ビームの光量の差分値との比率が、上記第２偏光方向における上記第２軸成分の２乗値と上記第１偏光方向における上記第１軸成分の２乗値との比率とほぼ同等である
   請求項２に記載の光ピックアップ。
4. 上記偏光回折光学素子は、
   上記第１軸及び上記第２軸を互いにほぼ直交させる
   請求項１に記載の光ピックアップ。
5. 上記光検出器の上記第１受光領域及び上記第２受光領域は、
   上記光ビームの一部が上記光ディスクにおける上記対象記録層以外の他の上記記録層により反射されてなる層間迷光の一部が上記偏光回折光学素子により回折されず当該光検出器に照射される際の照射範囲外に配置されている
   請求項１に記載の光ピックアップ。
6. 上記回折光学素子における上記第１領域、上記第２領域、上記第３領域及び上記第４領域を除いた中央部分を構成する辺のうち、上記光ディスクの上記トラック溝の走行方向に相当する方向と略平行な回折第１辺の長さに対する、当該回折第１辺と略直交する回折第２辺の長さの比率である回折辺比率が、上記光検出器の上記第１受光領域及び上記第２受光領域の少なくとも一方における辺のうち、上記光ディスクにおける上記トラック溝の走行方向に相当する方向と略平行な受光第１辺の長さに対する、当該受光第１辺と略直交する受光第２辺の長さの比率である受光辺比率よりも大きい
   請求項１に記載の光ピックアップ。
7. 上記回折辺比率は、上記受光辺比率とほぼ同等に設定されている
   請求項６に記載の光ピックアップ。
8. 上記光検出器は、
   上記第１受光領域及び上記第２受光領域の近傍に、
   上記光ビームの一部が上記光ディスクにおける上記対象記録層以外の他の上記記録層により反射されてなる層間迷光を検出する迷光受光領域がそれぞれ配置されている
   請求項１に記載の光ピックアップ。
9. 上記光検出器は、
   上記第１受光領域の近傍に配置された第１迷光受光領域における上記光ディスクの内周側に相当する辺が、上記第１受光領域における上記光ディスクの内周側に対応する辺の延長線上に位置するよう配置されると共に、上記第２受光領域の近傍に配置された第２迷光受光領域における上記光ディスクの外周側に対応する辺が、上記第２受光領域における上記光ディスクの外周側に相当する辺の延長線上に位置するよう配置されている
   請求項８に記載の光ピックアップ。
10. 上記偏光回折光学素子は、
    上記プッシュプル領域又は上記レンズシフト領域のうち少なくとも一方における偏光方向を動的に変化させる
    請求項１に記載の光ピックアップ。
11. 上記光検出部は、上記反射０次光ビームを受光して第３受光信号を生成する第３受光領域をさらに有し、
    上記信号処理部により、
    上記第１受光信号、上記第２受光信号及び上記第３受光信号の和を基に、上記光ディスクに記録された信号を表す再生ＲＦ（Radio Frequency）信号を生成する
    請求項１に記載の光ピックアップ。
12. 光ビームを出射する光源と、
    光ディスクに複数設けられた記録層のうち対象とする対象記録層に上記光ビームを集光する対物レンズと、
    上記対物レンズを、上記対象記録層に螺旋状又は同心円状に形成されたトラック溝とほぼ直交するトラッキング方向へ移動させるレンズ移動部と、
    上記光ビームが上記光ディスクにより反射されてなる反射光ビームのうち、上記トラック溝により回折された＋１次光及び−１次光でなるプッシュプル成分が含まれるプッシュプル領域の偏光方向を第１偏光方向に回転させると共に、上記プッシュプル成分が殆ど含まれないレンズシフト領域部分の偏光方向を第２偏光方向に回転させる偏光方向回転部と、
    上記反射光ビームを回折させて反射０次光ビーム及び反射１次光ビームに分離する際、上記反射１次光ビームの上記プッシュプル領域のうち上記光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第１領域により当該反射１次光ビームのうち所定の第１軸方向偏光成分を所定の第１方向へ回折させて第１ビームとし、上記反射１次光ビームの上記プッシュプル領域のうち上記光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第２領域により当該反射１次光ビームの上記第１軸方向偏光成分を上記第１方向と相違する第２方向へ回折させて第２ビームとし、上記反射１次光ビームの上記レンズシフト領域のうち上記光ディスクの内周側に相当する部分に対応する第３領域により当該反射１次光ビームうち少なくとも上記第１軸方向と相違する第２軸方向偏光成分を上記第２方向へ回折させて第３ビームとし、上記反射１次光ビームの上記レンズシフト領域のうち上記光ディスクの外周側に相当する部分に対応する第４領域により当該反射１次光ビームの上記第２軸方向偏光成分を上記第１方向へ回折させて第４ビームとする偏光回折光学素子と、
    上記反射０次光ビームの照射位置における上記第１方向側に設けられた第１受光領域により上記第１ビーム及び上記第４ビームを受光して第１受光信号を生成すると共に、上記反射０次光ビームの照射位置における上記第２方向側に設けられた第２受光領域により上記第２ビーム及び上記第３ビームを受光して第２受光信号を生成する光検出器と、
    上記第１受光信号及び上記第２受光信号を基に、上記トラッキング方向に関する上記光ビームの焦点と上記トラック溝の中心線とのずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成する信号処理部と、
    上記トラッキングエラー信号を基に上記レンズ移動部を介して上記対物レンズを上記トラッキング方向へ移動させる駆動制御部と
    を有する光ディスク装置。

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