CN100395827C - 衍射元件和具有该衍射元件的光学拾取设备 - Google Patents

衍射元件和具有该衍射元件的光学拾取设备 Download PDF

Info

Publication number
CN100395827C
CN100395827C CNB2005101150806A CN200510115080A CN100395827C CN 100395827 C CN100395827 C CN 100395827C CN B2005101150806 A CNB2005101150806 A CN B2005101150806A CN 200510115080 A CN200510115080 A CN 200510115080A CN 100395827 C CN100395827 C CN 100395827C
Authority
CN
China
Prior art keywords
area
light
diffraction grating
zone
diffraction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CNB2005101150806A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1808576A (zh
Inventor
金凤基
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of CN1808576A publication Critical patent/CN1808576A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100395827C publication Critical patent/CN100395827C/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00—Optical elements other than lenses
    • G02B5/18—Diffraction gratings
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B2007/0003—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier
    • G11B2007/0006—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier adapted for scanning different types of carrier, e.g. CD & DVD
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
    • G11B7/0903—Multi-beam tracking systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)

Abstract

一种在光学拾取设备中使用的衍射元件能够不考虑光学元件中的任何装配误差而更稳定地计算TE信号。本发明的衍射元件被分为三个区域：第一区域、第二区域和第三区域。每个区域包括具有预定的周期的衍射光栅，并且第二区域设置在第一区域和第三区域之间。第一区域的衍射光栅基本平行于第三区域的衍射光栅，第二区域的衍射光栅基本正交于第一区域和第三区域的衍射光栅。

Description

衍射元件和具有该衍射元件的光学拾取设备
技术领域
本发明通常涉及一种光学拾取设备。更具体地讲，本发明涉及一种衍射元件和具有该衍射元件的具有改进的寻轨控制的光学拾取设备。
背景技术
在诸如压缩盘(CD)播放器、数字通用盘(DVD)播放器、压缩盘只读存储器(CD-ROM)驱动器的装置中，光学拾取设备被使用以在没有接触的情况下将信息记录在作为光学记录介质的盘上和/或从该盘再现信息。为了记录数据，光学拾取器将激光束照射到盘表面上的轨道上以形成凹坑并记录数据位。为了再现记录的数据，该光学拾取器对形成于盘上的凹坑数据进行光学读取并输出与记录的数据相应的电信号。为此，该光学拾取器包括多个光学元件，例如，用作光源以发射激光束的光电二极管、衍射元件、用于调整激光束的偏转的分束器、用于形成光路并在盘上形成光点(即，将激光束聚焦)的物镜、用于检测信号的光学检测器等。
该光学拾取设备在垂直方向上控制物镜，从而光束点可被聚焦在盘表面上(这被称为聚焦控制)。该光学拾取设备还在水平方向上控制物镜，从而光束可跟随轨道(这被称为寻轨控制)。为了执行聚焦控制和寻轨控制，需要产生聚焦误差信号(将被称为“FE信号”)和寻轨误差信号(将被称为“TE信号”)。通常，使用像散方法来产生FE信号。此外，使用推挽方法(将被称为“PP方法”)和差分推挽方法(将被称为“DPP方法”)来产生TE信号。在PP方法中，使用单个激光束，并且基于在被分为两个区域的光电检测元件的每个区域上的入射光束的强度来检测光点是否形成在轨道的中心。由于物镜为了执行寻轨伺服而移动和倾斜，在TE信号中引起了DC偏移。
为此，有时使用DPP方法(也被称为3光束法)来进行寻轨控制。在DPP方法中，激光束被分为主光束和两个副光束，主光束照射在轨道中心，两个副光束分别在半径方向和切线方向上与主光束间隔开预定的距离，并且照射在凹槽的外围。DPP方法使用从三个激光束获得的信号中的差异来纠正TE信号的DC偏移。当DPP方法应用于具有不同的轨道间距的盘时，副光束点不形成在凹槽上。因此，在具有不同轨道间距的盘中纠正TE信号的DC偏移仍然是需要解决的问题。
第2004-63073号日本专利申请公开了一种将三个光束照射到一个轨道上以试图解决上述问题的方法。参照图1给出该方法的简要描述，衍射元件10被分为第一区域12、第二区域14和第三区域16，并且区域12、14、16的每个的衍射光栅彼此错开1/4间距(P/4)。衍射元件10上的入射光束被衍射并被分为第0级主光束MB和第±1级副光束SB1、SB2。尽管主光束MB不产生相位差，但是第一副光束SB1和第二副光束SB2分别产生-90°、0°和90°的相对相位差。在每个副光束SB1和SB2中，-90度相位差由衍射元件10的第一区域12产生，0度相位差由衍射元件10的第二区域14产生，90度相位差由衍射元件10的第三区域16产生。
现在，参照图2，主光束MB和副光束SB1、SB2从盘反射，并再次分别被衍射为三个光束(MBa、MBb、MBc)、(SB1a、SB1b、SB1c)和(SB2a、SB2b、SB2c)。特别地，从入射到盘上的第一副光束SB1衍射的三个光束SB1a、SB1b、SB1c以及从入射到盘上的第二副光束SB2衍射的三个光束SB2a、SB2b、SB2c与由衍射元件10的第一区域12、第二区域14和第三区域16产生第一副光束SB1和第二副光束SB2的相位差的位置相一致。
如图2所示，分别来自主光束MB、第一副光束SB1和第二副光束SB2的衍射光束(MBa、MBb、MBc)、(SB1a、SB1b、SB1c)和(SB2a、SB2b、SB2c)彼此干涉，并被光学检测器20的用于主光束的光电检测元件22和光电检测器20的用于副光束的光电检测元件24、26接收。
然而，实际上，由于在装配该光学拾取设备时在衍射元件10或其他光学元件中产生的装配误差，来自光源的光束有时不通过衍射元件的中心。在这种情况下，衍射元件10在主光束MB中不产生相位差。因此，尽管从光源发出的光束可能不通过衍射元件10的中心，但是透过中心光束MBa的干涉光束MBb、MBc的大小是均匀的。因此，MPP(主光束推挽)信号不产生误差。相反，在副光束SB1、SB2的情况下，由于上述装配误差，透过中心光束SB1a、SB2a的干涉光束(SB1b、SB1c)和(SB2b、SB2c)经常向光电检测元件24和26的一侧倾斜。这在使用来自用于第一副光束的光电检测元件24的信号计算出的SPP1(副光束推挽1)和使用来自用于第二副光束的光电检测元件26的信号计算出的SPP2(副光束推挽2)中分别产生误差。不幸的是，如果SPP1和SPP2相加，则这些误差不能彼此抵消，反而增加得更多。最终，这些误差在作为TE信号的DPP(差分推挽)信号中引起误差。由于DVD-RAM在凹槽和槽脊之间具有相对长的距离，因此在DVD-RAM中这一问题变得特别严重。
因此，需要使寻轨误差最小化的改进的光学设备。
发明内容
本发明的一方面旨在解决至少上述问题和/或缺点并提供至少下面所描述的优点。因此，本发明的一方面旨在提供一种能够不考虑光学元件中的任何装配误差而稳定地检测TE信号的衍射元件和使用该衍射元件的光学拾取设备。
根据本发明的一方面，一种在光学拾取设备中使用的衍射元件，该衍射元件沿着光学记录介质的半径方向被分为三个区域：第一区域、第二区域和第三区域。每个区域包括具有预定的周期的衍射光栅。第二区域位于第一区域和第三区域之间。第一区域的衍射光栅基本平行于第三区域的衍射光栅，而第二区域的衍射光栅基本正交于第一区域和第三区域的衍射光栅。第二区域的衍射光栅沿着光学记录介质的切线方向形成，并且第一区域和第三区域的衍射光栅彼此偏移180度。
根据本发明的一方面，一种光学拾取设备，包括光源和沿着光学记录介质的半径方向被分为三个区域，即第一区域、第二区域和第三区域的衍射元件。每个区域包括具有预定的周期的衍射光栅，并且第二区域位于第一区域和第三区域之间。该衍射元件将从光源发出的光束衍射为三个光束。光学系统将由所述衍射元件衍射的光束照射到光学记录介质上，并引导从该光学记录介质反射的光。光电二极管集成电路(PDIC)接收由所述光学系统引导的光，并检测RF信号、FE信号和TE信号。第一区域的衍射光栅基本平行于第三区域的衍射光栅，而第二区域的衍射光栅基本正交于第一区域和第三区域的衍射光栅。第二区域的衍射光栅沿着光学记录介质的切线方向形成，并且第一区域和第三区域的衍射光栅彼此偏移180度。
在示例性实施例中，优选地，所述光源包括用于DVD的第一光源和用于CD的第二光源，并且所述衍射元件包括分别衍射从第一光源和第二光源发出的光的第一衍射元件和第二衍射元件。同时，所述光学系统包括：第一分束器，用于改变从第一光源发射的光的光路，并透射从第二光源发射的光；第二分束器，用于改变从第一分束器发出的光的光路，并将从所述光学记录介质反射的光引导向PDIC；准直透镜，用于对从第二分束器发出的光进行准直；和光学物镜，用于将从所述准直透镜发出的光聚焦到光学记录介质上。
附图说明
从下面结合附图的描述，本发明的某些实施例的上述和其他目的、特征和优点将更清楚，附图中：
图1是现有技术的衍射元件的示意性透视图；
图2是示出来自图1中的衍射元件的衍射光束被光电检测元件接收到的状态的平面图；
图3是根据本发明的一个示例性实施例的光学拾取设备的示意性示图；
图4是图3中的衍射元件的透视图；
图5是图4中的衍射元件的正视图；
图6是示出来自图4中的衍射元件的衍射光束被光电检测元件接收到的状态的正视图；和
图7是示出由于装配误差，光电检测元件上的副光束被移动的状态的示意性正视图。
在附图中，相同的标号将始终被理解为表示相同的部件、特征和结构。
具体实施方式
在描述中定义的诸如详细的结构和部件的事物被提供，以有助于对本发明实施例的充分理解。因此，本领域的普通技术人员将理解，在不脱离本发明的范围和精神的情况下，可对其中所描述的实施例进行各种改变和修改。并且，为了清楚和简洁，公知的功能和结构的描述被省略。
参照图3，本发明的光学拾取设备包括：光源100、光学系统120、前光电二极管(FPD)140、衍射元件160和光电二极管集成电路(PDIC)180。
光源100包括用于DVD(数字通用盘)的第一光源100a和用于CD(压缩盘)的第二光源100b。优选地，所述光源是产生具有适合于特定介质的波长的光束的激光二极管(LD)。例如，第一光源100a可发射具有650nm波长的光以用于DVD，而第二光源100b可发射具有780nm波长的光以用于CD。尽管本示例性实施例示出适合于CD和DVD的两个光源，但是也可使用发射诸如用于BD(蓝光盘)和HD(高清晰度)-DVD的405nm波长的光的另外的光源。
光学系统120包括第一分束器122、第二分束器124、反射镜126、准直透镜(CL)128、1/4波片130、物镜(OL)132和传感器透镜(SL)134。
优选地，第一分束器122是立方体分束器。第一分束器122反射从第一光源100a发射的光以改变该光的路径，并透射从第二光源100b发射的光。利用第一光源100a和第二光源100b发射具有彼此不同的波长的光或者发射的光具有不同的偏振的情况，来实现这样的选择性透射。由于分束技术为本领域的技术人员所公知，因此为了清楚和简洁，进一步细节被省略。
第二分束器124将从第一分束器122发出的光的一部分透射向FPD 140。并将剩余的光反射向反射镜126。
反射镜126改变来自第二分束器124的反射光的路径，以引导该光使该光入射到物镜132上。
CL 128对来自反射镜126的反射光进行准直。
1/4波片130将由CL 128透射的线偏振光改变为圆偏振光，并将从盘D反射的圆偏振光改变为线偏振光。1/4波片的功能和操作也是本领域技术人员所公知的，因此为了清楚和简洁，进一步的细节被省略。
物镜132将从1/4波片130发出的光聚焦到盘上。
传感器透镜134包括凹透镜，并放大来自盘的反射光的光点以形成由PDIC 180使用的有效(焦点)光点。传感器透镜134还可产生来自盘的反射光的像散以产生FE信号。
FPD 140接收从第一光源100a和第二光源100b发射的光的一部分，并测量发射的光的强度。测量的结果被提供给控制器(未示出)以控制施加到第一光源100a和第二光源100b的电压。这样，可控制发射的光的强度以将该强度保持在基本恒定的水平。
衍射元件160包括用于衍射从第一光源100a发射的光束的第一衍射元件160a和用于衍射从第二光源100b发射的光束的第二衍射元件160b。由于第一衍射元件160a和第二衍射元件160b的功能和结构相同，因此仅详细描述它们中的一个。
参照图4和图5，衍射元件160被分为三个区域：第一区域162、第二区域164和第三区域166。第二区域164位于第一区域162和第三区域166之间，并且每个区域包括具有恒定周期的衍射光栅。特别地，第一区域162和第三区域166的衍射光栅沿着盘的半径方向形成，从而衍射元件160在盘的单个轨道上形成多个衍射光束。另外，第一区域162和第三区域166的衍射光栅彼此错开1/2间距(P/2)。因此，在作为第±1级衍射光束的副光束SB1、SB2的被第一区域162和第三区域166衍射的部分中产生180度相位差。换言之，第一区域162和第三区域166的衍射光栅彼此偏移180度。同时，第二区域164的衍射光栅与第一区域162和第三区域166的衍射光栅基本正交。即，第二区域164的衍射光栅形成在盘的切线方向上。
通过上述的衍射元件160，从光源100发出的光束被衍射并被分为一个主光束MB和三个副光束SB1、SB2、SB3。
衍射元件160在主光束MB中不产生任何相位差。即，主光束MB具有与衍射元件160上的入射光相同的相位。
在三个副光束SB1、SB2、SB3中，第一副光束SB1和第二副光束SB2相对于主光束MB在切线方向上被衍射，而第三副光束SB3相对于主光束MB在半径方向上被衍射。
然后，第一副光束SB1和第二副光束SB2分别被进一步分为两个光束(SB1b、SB1c)、(SB2b、SB2c)，(SB1b、SB1c)和(SB2b、SB2c)的每个被衍射元件160的第一区域162和第三区域166衍射。这里，每一对(SB1b、SB1c)、(SB2b、SB2c)中的两个光束分别具有180度的相位差。也就是说，如果光束SB1b、SB2b中的一个相对于主光束MB具有-90度相位差，则其他光束SB1c、SB2c中的另一个相对于主光束MB具有+90度相位差。
第三副光束SB3被衍射元件160的第二区域的衍射光栅衍射，并被分为形成在盘的半径方向上的两个光束SB3a、SB3b。
其每个被衍射元件160分离的主光束MB和三个副光束SB1、SB2、SB3顺次通过第一分束器122、第二分束器124、反射镜126、准直透镜128、1/4波片130、和物镜132(请参见图3)，并被照射到盘的轨道上。然后，光束MB、SB1、SB2、SB3被盘反射并衍射，并在最终照射到PDIC 180之前，顺次通过物镜132、1/4波片130、准直透镜128、反射镜126、第二分束器124、和传感器透镜134(请参见图3)。
现在，将详细描述PDIC 180以及PDIC 180对光束的接收。参照图6，PDIC 180是将来自盘的反射光束转换为电信号的元件，并检测RF(射频)信号、FE信号和TE信号。
PDIC 180包括3个光电检测元件182、184和186。特别地，设置在中心位置处的光电检测元件182用于主光束，并被分为四个区域A、B、C和D。另一方面，位于光电检测元件182的两侧的光电检测元件184和186用于第一和第二副光束，其每一个分别被分为四个区域E1、E2、E3和E4以及F1、F2、F3和F4。这些区域(A、B、C和D)、(E1、E2、E3和E4)以及(F1、F2、F3和F4)接收主光束MB和副光束SB1、SB2，并输出表示接收的光束的强度的检测的电信号。从这些电信号中计算RF信号、FE信号和TE信号。例如，可通过差分像散方法来获得FE信号，并可通过DPP方法来获得TE信号。下面将提供关于这些方法的更多的细节。
假设从区域(A、B、C和D)、(E1、E2、E3和E4)以及(F1、F2、F3和F4)检测到的电信号分别为(a、b、c和d)、(e1、e2、e3和e4)和(f1、f2、f3和f4)。由下面的方程1获得RF信号，由方程2获得FE信号，由方程3获得TE信号。
[方程1]
RF＝a+b+c+d
[方程2]
FE＝[(a+c)-(b+d)]+k[(e1+e3)-(e2+e4)+(f1+f3)-(f2+f4)]
k＝(a+b+c+d)/(e1+e2+e3+e4+f1+f2+f3+f4)
[方程3]
MPP＝(a+d)-(b+c)
SPP1＝(e1+e4)-(e2+e3)
SPP2＝(f1+f4)-(f2+f3)
SPP＝SPP1+SPP2
TE(DPP)＝MPP-kSPP
k＝(a+b+c+d)/(e1+e2+e3+e4+f1+f2+f3+f4)
这里，“k”是用于补偿第±1级第一副光束SB1和第二副光束SB2的强度的增益，所述第±1级副光束的强度小于第0级主光束的强度。
来看已从盘反射并随后被PDIC 180接收的光束的状态，第一副光束SB1和第二副光束SB2从盘被衍射并分别被分为两个光束(SB1b、SB1c)和(SB2b、SB2c)。这些光束分别照射到用于副光束的第一光电检测元件184和第二光电检测元件186上。此时，在第一副光束SB1和第二副光束SB2中，由第二区域(图4中的164)衍射的光束被消去，剩余的光束被第一光电检测元件184和第二光电检测元件186接收。即，两个光束(SB1b、SB1c)和(SB2b、SB2c)分别被第一光电检测元件184和第二光电检测元件186接收。因此，如图7所示，即使由于装配误差，衍射元件(图4中的160)或其他光学元件沿着切线方向移动，SPP1和SPP2值仍保持恒定。换言之，尽管由于装配误差，从光源(图3中的100)发出的光束可能没有入射到衍射元件160的中心，但是TE信号不会变化。
同时，由于用于副光束的第一光电检测元件184和第二光电检测元件186布置在盘的切线方向上，因此从衍射元件160衍射的第三光束SB3没有被光电检测元件182、184、186接收到。即，计算FE信号和TE信号不需要第三光束SB3。
如上所述，本发明可被有利地用于即使由于衍射元件或其他元件中的装配误差，从光源发出的光束没有照射到衍射元件的中心，仍保持TE信号值恒定。因此，可以不考虑装配误差而计算正常的TE信号。
尽管已参照其某些示例性实施例显示和描述了本发明，但是本领域的技术人员应该理解，在不脱离权利要求所限定的本发明的精神和范围的情况下，可在其中进行各种形式和细节上的改变。

Claims (4)

1.一种在光学拾取设备中使用的衍射元件，包括：
第一衍射光栅区域，具有第一预定周期；
第二衍射光栅区域，具有第二预定周期；和
第三衍射光栅区域，具有第三预定周期，
其中，第一至第三区域沿光学记录介质的半径方向排列，第二区域位于第一区域和第三区域之间，第一区域的衍射光栅基本平行于第三区域的衍射光栅，第二区域的衍射光栅基本正交于第一区域和第三区域的衍射光栅，第二区域的衍射光栅沿着光学记录介质的切线方向形成，并且第一区域和第三区域的衍射光栅彼此偏移180度。
2.一种光学拾取设备，包括：
光源；
衍射元件，沿着光学记录介质的半径方向被分为三个区域：第一区域、第二区域和第三区域，每个区域包括具有预定的周期的衍射光栅，并且第二区域位于第一区域和第三区域之间，该衍射元件用于将从光源发出的光束衍射为三个光束；
光学系统，将由所述衍射元件衍射的光束照射到光学记录介质上，并引导从该光学记录介质反射的光；和
光电二极管集成电路，用于接收由所述光学系统引导的光，并检测射频信号、聚焦误差信号和寻轨误差信号，
其中，第一区域的衍射光栅基本平行于第三区域的衍射光栅，第二区域的衍射光栅基本正交于第一区域和第三区域的衍射光栅，第二区域的衍射光栅沿着光学记录介质的切线方向形成，并且第一区域和第三区域的衍射光栅彼此偏移180度。
3.如权利要求2所述的光学拾取设备，其中，
所述光源包括用于DVD的第一光源和用于CD的第二光源，并且
所述衍射元件包括分别衍射从第一光源和第二光源发出的光的第一衍射元件和第二衍射元件。
4.如权利要求3所述的光学拾取设备，其中，所述光学系统包括：
第一分束器，用于改变从第一光源发射的光的光路，并透射从第二光源发射的光；
第二分束器，用于改变从第一分束器发出的光的光路，并将从所述光学记录介质反射的光引导向所述光电二极管集成电路；
准直透镜，用于对从第二分束器发出的光进行准直；和
光学物镜，用于将来自所述准直透镜的光聚焦到所述光学记录介质上。
CNB2005101150806A 2005-01-20 2005-11-25 衍射元件和具有该衍射元件的光学拾取设备 Expired - Fee Related CN100395827C (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050005474A KR100754517B1 (ko) 2005-01-20 2005-01-20 회절소자 및 이를 포함하는 광픽업장치
KR1020050005474 2005-01-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1808576A CN1808576A (zh) 2006-07-26
CN100395827C true CN100395827C (zh) 2008-06-18

Family

ID=36202455

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB2005101150806A Expired - Fee Related CN100395827C (zh) 2005-01-20 2005-11-25 衍射元件和具有该衍射元件的光学拾取设备

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7609607B2 (zh)
EP (1) EP1684274B1 (zh)
KR (1) KR100754517B1 (zh)
CN (1) CN100395827C (zh)
DE (1) DE602005013054D1 (zh)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7245407B2 (en) * 2002-06-10 2007-07-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Complex objective lens compatible with information media of different thicknesses
KR100765393B1 (ko) * 2005-07-11 2007-10-10 엘지전자 주식회사 부빔의 각도 조정이 필요없는 광 디스크 장치의 광 픽업
CN101140772B (zh) * 2006-09-07 2012-10-10 松下电器产业株式会社 光学头和光盘装置
WO2008041330A1 (fr) * 2006-10-04 2008-04-10 Pioneer Corporation Dispositif de lecture
JP2009223936A (ja) 2008-03-14 2009-10-01 Ricoh Co Ltd 光ピックアップおよびこれを用いる光情報処理装置
JP2009223937A (ja) 2008-03-14 2009-10-01 Ricoh Co Ltd 光ピックアップおよびこれを用いる光情報処理装置
JP5178339B2 (ja) * 2008-06-20 2013-04-10 三洋電機株式会社 光ピックアップ装置
JP5142879B2 (ja) * 2008-08-06 2013-02-13 株式会社日立メディアエレクトロニクス 光ピックアップおよび光ディスク装置
JP5433533B2 (ja) * 2010-09-03 2014-03-05 株式会社日立メディアエレクトロニクス 光ピックアップ装置および光ディスク装置
CN102736152A (zh) * 2011-04-13 2012-10-17 中国科学院微电子研究所 一种偶次级透射光栅
US10514296B2 (en) * 2015-07-29 2019-12-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Spectrometer including metasurface
US11268854B2 (en) 2015-07-29 2022-03-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Spectrometer including metasurface
US11867556B2 (en) 2015-07-29 2024-01-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Spectrometer including metasurface
EP3446103A4 (en) 2016-04-18 2019-12-11 Hewlett-Packard Development Company, L.P. SIMULTANEOUS DETECTION OF SEVERAL SPECTROES FROM STREUSTRAULUNG

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5128914A (en) * 1989-01-13 1992-07-07 Sharp Kabushiki Kaisha Optical pickup apparatus utilizing a diffraction device
US20040081064A1 (en) * 2002-10-22 2004-04-29 Hitachi, Ltd. Optical pickup and optical information recording apparatus using the same
US20050002313A1 (en) * 2003-04-11 2005-01-06 Kenichi Hayashi Optical head device, diffraction element and manufacturing method for diffraction element

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0675300B2 (ja) 1988-04-11 1994-09-21 三菱電機株式会社 光学式ヘッド装置
JPH0227534A (ja) 1988-07-16 1990-01-30 Mitsubishi Electric Corp 光学式ヘッド装置
US5066138A (en) * 1988-06-16 1991-11-19 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Optical head apparatus
EP0351953B1 (en) * 1988-06-20 1995-08-16 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Optical head with a tilt correction servo mechanism
US4983017A (en) * 1988-08-02 1991-01-08 Sharp Kabushiki Kaisha Optical head device for reading information stored in a recording medium
US5835471A (en) * 1995-06-12 1998-11-10 Canon Kabushiki Kaisha Optical information recording and/or reproducing apparatus
JP3549301B2 (ja) * 1995-09-08 2004-08-04 三菱電機株式会社 光ヘッドのトラッキング誤差検出装置
JP3606961B2 (ja) 1995-09-25 2005-01-05 シャープ株式会社 光ピックアップ装置
JP3661694B2 (ja) * 1998-02-16 2005-06-15 株式会社日立製作所 光ヘッドおよび光ディスク装置
JP3371846B2 (ja) 1999-04-06 2003-01-27 日本電気株式会社 ホログラム素子
JP2001014717A (ja) * 1999-04-28 2001-01-19 Matsushita Electronics Industry Corp 光学装置
US7012875B2 (en) * 2000-09-06 2006-03-14 Hitachi, Ltd. Optical disk apparatus using focal shift signals to control spherical aberration
JP2003091856A (ja) * 2001-09-18 2003-03-28 Sony Corp 光学ピックアップ
JP3834810B2 (ja) * 2001-09-19 2006-10-18 日本電気株式会社 光ヘッド装置
WO2003075267A1 (fr) * 2002-03-06 2003-09-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Mecanisme de tete optique et dispositif de lecture d'informations optiques utilisant un tel mecanisme, lecteur de disque optique, systeme de navigation automobile, enregistreur de disque optique et serveur de disque optique utilisant ce dispositif de lecture d'informations optiques
JP2004091856A (ja) 2002-08-30 2004-03-25 Sumitomo Metal Ind Ltd 酸洗鋼板の製造方法及び酸洗装置
JP2004334962A (ja) * 2003-05-06 2004-11-25 Sony Corp 光ヘッド及び光記録媒体記録再生装置
TWI325078B (en) * 2003-10-15 2010-05-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Planar light device and liquid crystal display

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5128914A (en) * 1989-01-13 1992-07-07 Sharp Kabushiki Kaisha Optical pickup apparatus utilizing a diffraction device
US20040081064A1 (en) * 2002-10-22 2004-04-29 Hitachi, Ltd. Optical pickup and optical information recording apparatus using the same
US20050002313A1 (en) * 2003-04-11 2005-01-06 Kenichi Hayashi Optical head device, diffraction element and manufacturing method for diffraction element

Also Published As

Publication number Publication date
KR100754517B1 (ko) 2007-09-03
US20060158996A1 (en) 2006-07-20
EP1684274B1 (en) 2009-03-04
KR20060084689A (ko) 2006-07-25
DE602005013054D1 (de) 2009-04-16
CN1808576A (zh) 2006-07-26
EP1684274A3 (en) 2006-09-20
EP1684274A2 (en) 2006-07-26
US7609607B2 (en) 2009-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100395827C (zh) 衍射元件和具有该衍射元件的光学拾取设备
CN101494064B (zh) 光拾取器装置及光盘装置
US7643395B2 (en) Diffraction element and optical pick-up apparatus having the same
CN100359575C (zh) 光记录/再现设备和跟踪误差信号检测方法
EP1892705A2 (en) Optical pick-up
EP1755116A2 (en) Optical pickup apparatus capable of detecting and compensating for spherical aberration caused by thickness variation of recording layer
US20070025205A1 (en) Optical pickup and optical recording and/or reproducing apparatus employing the same
US20060193219A1 (en) Diffraction grating, optical pickup device, and optical disk apparatus
CN101136220A (zh) 光拾取装置
CN100424760C (zh) 衍射元件和具有该衍射元件的光学拾取设备
KR100888599B1 (ko) 광디스크 재생 방법 및 이를 이용한 광디스크 재생 장치
US5559771A (en) Tracking control apparatus and optical pickup having the same
CN104217733B (zh) 光学介质再生装置和光学介质再生方法
US9147426B2 (en) Optical pickup and optical information storage system including the same
KR101286641B1 (ko) 호환형 광픽업 및 이를 적용한 광정보저장매체 시스템
KR100370205B1 (ko) 호환형 광픽업장치
KR100645621B1 (ko) 2파장용 단일 광검출기를 갖는 광픽업
JP3931493B2 (ja) 光検出器の分割構造およびこの光検出器を用いた光ピックアップ
US20070097833A1 (en) Optical head unit and optical disc apparatus
US9142243B2 (en) Optical pickup and optical information storage system including the same
KR101416323B1 (ko) 광 픽업 장치 및 이를 적용하는 광 디스크 드라이브
KR100200856B1 (ko) 광픽업의 구동 알고리즘
US7965609B2 (en) Optical pickup device and optical recording medium information reproduction device
CN101128873A (zh) 光拾取装置
KR20010047945A (ko) 호환형 광픽업장치

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20080618

Termination date: 20181125