CN101086872B - 光拾取器和光盘装置 - Google Patents

Abstract

在再现双层盘的情况下，来自其它层的返回光与信号光干涉，聚焦误差信号与跟踪误差信号变动，产生难以确保光拾取器的性能的问题。本发明的光拾取器设置有：射出光束的激光光源；配置于光束透过的位置、将光束至少分支为0次光与±1次光的3束光束的衍射元件；使透过衍射元件的光束汇聚光在光盘上的物镜；以及接收来自光盘的反射光的光检测器，衍射元件是仅使光束的特定偏振光成分通过，而对与其正交方向的偏振光方向的成分衍射的偏振光衍射光栅。

Description

光拾取器和光盘装置

技术领域

本发明涉及光拾取器装置和光盘装置。

背景技术

作为本技术领域的背景技术，例如有日本专利特开平10-269587号公报。在该公报中，作为目的记载有“能够容易地防止无用散乱光的产生，且能够同时由推挽法和3光束法进行信号的检测”，作为解决的方法，记载有“存在有将入射光束分割为0次(主光束)、±1次(副光束)的3束光束的第一衍射元件；具有多个衍射区域的第二衍射元件；以及将从记录介质反射的光向在两个方向上分离的光束分裂器，在由光束分裂器所分离的一侧的光路上，设置有将多个光检测器直线配置在记录介质的跟踪(Track)方向上的第一光检测器，其仅接受主光束；在另一侧的光路上设置有由多个光检测器构成的第二光检测器，由各光检测器至少接受0次光成分和±1次光成分中的任一种。”

发明内容

在光盘系统中，为了增大记录容量，存在有使信号记录面双层化的双层盘，例如在DVD中，存在有DVD-R和DVD-RW的双层盘，与单层光盘相比，能够实现约2倍的容量。而且，在被称为Blu-ray Disc(以下简称BD)的高密度记录的光盘系统中同样也存在有双层盘。

在装载于光盘装置的光拾取器中，通过使用来自光盘的反射光，作为物镜的聚焦方向和跟踪方向的伺服控制用信号。因此，如果在信号中应该使用的反射光中添加了无用的散乱光，则在信号检测中产生问题。

将从激光光源射出的光束至少分支为0次光与±1次光的至少3束光束而照射在光盘上，在由光检测器接收来自光盘的反射光的光拾取器中，在进行双层盘的再现、记录动作的情况下，来自其它层的无用反射光就成为散乱光成分，存在有成为跟踪信号的外来干扰成分的问题。

虽然不是考虑了其它层的散乱光的文献，但在专利文献1中，记载了以“能够容易地防止无用散乱光的产生，且能够同时由推挽法和3光束法进行信号的检测”为目的，作为解决的方法，记载有“存在有将入射光束分割为0次(主光束)、±1次(副光束)的3束光束的第一衍射元件；具有多个衍射区域的第二衍射元件；以及将从记录介质反射的光束在两个方向上分离的光束分裂器，在由光束分裂器所分离的一侧的光路上，设置有将多个光检测器直线配置在记录介质的跟踪方向上的第一光检测器，其仅接受主光束；在另一侧的光路上设置有由多个光检测器构成的第二光检测器，由各光检测器至少接受0次光成分和±1次光成分中的任一种。”

但是，在专利文献1中，为了排除该散乱光成分，将衍射区域分别分割为仅接受+1次光与仅接受-1次光的区域。因此，衍射的光束就成为原来的一半以下的光量，检测的信号也变小。而且，由于从不同分割区域都生成±1次光束，所以在各分割区域衍射的光量比例容易产生偏差，照射到光盘上的±1次光的光点位置就难以与0次光对称地配置，存在有难以得到良好的伺服信号的问题。

本发明的目的在于提供可靠性高的光拾取器装置和光盘装置。

上述目的可通过使光检测面上0次光与±1次光的偏振光状态大体正交而达到。

根据本发明，能够提供可靠性高的光拾取器装置和光盘装置。

附图说明

本发明的特征能够通过结合以下附图的说明而得到更好的理解：

图1是表示第一实施例中光拾取器结构的示意图。

图2是表示装载在半导体激光器中的激光芯片和偏振光的示意图。

图3是表示射出半导体激光器后的光束的偏振光方向与偏振光衍射光栅的位置关系的示意图。

图4是表示偏振光衍射光栅中光束的衍射状态的示意图。

图5是表示光拾取器中光束的偏振光状态的示意图。

图6是表示入射到偏振光衍射光栅的偏振光的角度与0次光与±1次光的光量的关系图。

图7是表示再现双层光盘情况下的光束状态的示意图。

图8是表示再现双层光盘情况下的光检测器上的光点状态的示意图。

图9是表示第二实施例中光拾取器的光学系统结构的示意图。

图10是表示第三实施例中光拾取器的光学系统结构的示意图。

图11是表示第四实施例中衍射光栅和偏振光状态的示意图。

图12是装载有第一实施例至第四实施例的光拾取器的光盘装置的概略模块图。

具体实施方式

作为实施本发明的具体结构，使用第一实施例至第五实施例进行以下的说明。

[第一实施例]

以下，作为本发明的第一实施例参照附图说明光拾取器的构成。

图1是表示第一实施例中光拾取器结构的示意图。在图1中，半导体激光器1是能够以405nm频带的波长振荡的半导体激光器，常温下震荡波长为405nm。其中，405nm频带是BD的可记录再现的波长。图1表示射出405nm波长的光束的状态。半导体激光器1旋转光束的光轴而配置，使得从半导体激光器1射出的光束，对于后述的与纸面平行的方向，成为与围绕光束的光轴旋转角度α的面平行的偏振光状态的光束。

光束到达半导体激光器前方的偏振光衍射光栅2。这里，偏振光衍射光栅2是根据入射的光束的偏振光状态，将其分支为0次光与±1次光的3束光束，在光盘上生成3个光点的装置。其详细情况后面将进行叙述。光束由偏振光衍射光栅2的光栅面而分支为0次光与±1次光的3束光束，到达半透明反射镜3。

半透明反射镜3是：对于从半导体激光器1射出的光束的射出光轴成45°的角度而配置，在其表面形成的膜对405nm频带波长的光束的约80％、P偏振光成分的约70％进行反射的光学元件。因此，到达半透明反射镜3的光束，仅对应于其偏振光状态的量对于入射方向而向90°方向反射。其中，光束的一部分透过半透明反射镜3，到达用于监视光束的光量的前面监视器5。

由半透明反射镜3的反射膜所反射的光束，由准直透镜4而变换为平行的光束。射出准直透镜4的光束透过1/4波长板6。这里，透过准直透镜4的光束由1/4波长板6变换为圆偏振光之后，入射到物镜7。物镜7是在405nm频带的光束平行入射的情况下，例如具有BD这样基板厚度为0.1mm的第一光盘11的信息记录面能够聚焦的功能的透镜。

物镜7保持于与驱动线圈9成为一体的致动器8，在与驱动线圈9相对的位置上配置有磁体10。因此，对驱动线圈9通电，产生由磁体10的反作用力而得到的驱动力，由此形成物镜7能够在与光盘11的大体半径方向以及与盘面垂直的方向上移动的结构。这里，透过物镜7的光束，是基于由前面监视器5检测的光量，能够推测透过物镜7的光束的光量，或可推定在光盘11上聚光的光点的光量的结构。

由光盘11所反射的光束，在与去路同样的光路上、与去路相反的方向上返回，经过物镜7而到达1/4波长板6。此时，由于光束的几乎全部的偏振光是与去路相同的圆偏振光，所以通过透过1/4波长板6能够变换为与去路正交的偏振光。其后，光束入射到准直透镜4，由准直透镜4将平行光变换为汇聚光，到达半透明反射镜3。到达半透明反射镜3的光束，由半透明反射镜3的膜面而使20％～30％的光束透过半透明反射镜3。

这里，透过半透明反射镜3的光束，通过透过准直透镜4而已经成为聚焦光，在透过对于光束的行进方向倾斜45°方向的半透明反射镜3时给予光束像散。其后，光束透过检测透镜12之后汇聚在光检测器13的规定的光检测面。检测透镜12是用于抵消半透明反射镜3所产生的慧形像差，以及用于放大检测系统一侧的合成焦距的透镜。在光检测器13中，能够从接受的光束输出来自光盘11的伺服信号以及再现信号。

通过以上说明的光学部件与电部件的组合构成光拾取器14。

接着，使用图2，对半导体激光器中装载的激光芯片和偏振光加以说明。在图2中，激光芯片21是射出405nm频带的光束的芯片，装载在基板23上，装载于图1所示的半导体激光器1的内部。在激光芯片21的内部形成有活性层22，从该活性层的端面射出光束。从激光芯片21上的活性层22的端面向着与激光芯片21的长边方向大体平行的方向射出的405nm频带的光束，对于光束的光轴，与活性层22平行的方向θh(水平方向)的扩展角变窄，而与活性层22垂直的方向θv(垂直方向)扩展角变宽。例如该扩展角大约为9°与18°，光束的扩展24是具有在θv方向上长的椭圆状的强度分布。这里，从激光芯片21射出的光束的振动面与平行于活性层22的面、即θh的方向大体一致，在图中箭头所示的方向上振动，成为所谓P偏振光的偏振光状态。

接着，使用图3对射出半导体激光器后的光束的偏振光方向与偏振光衍射光栅的位置关系加以说明。其中，关于半导体激光器部分与图2的说明相同。在图3中，从激光芯片21发出的光束的偏振光方向是平行于活性层22的面、即θh的方向的P偏振光的方向。另一方面，在半导体激光器1的前面配置的偏振光衍射光栅2是衍射P偏振光的光栅，其衍射方向、即与衍射光栅的槽结构正交的方向对于图中的θh方向仅倾斜角度α而配置。因此，入射到偏振光衍射光栅的光束中，相当于cosα的成分(即P偏振光)由偏振光衍射光栅作为±1次光而衍射，相当于sinα的成分(即S偏振光)作为0次光而通过偏振光衍射光栅。

图4是表示偏振光衍射光栅中光束的衍射状态的示意图。在图4中，表示的是从与偏振光衍射光栅的光栅槽正交的截面方向所看到的状态。因此，从图面的右侧入射到偏振光衍射光栅2的光束，成为其振动面对于纸面仅倾斜角度α的直线偏振光。如图3中的说明，由于在偏振光衍射光栅2中，有光栅而成为P偏振光成分的光束是作为规定角度的±1次光而衍射，所以相当于cosα的光量分支为+1次光与-1次光而衍射。此时，衍射的±1次光的偏振光方向，成为具有图中圆圈所示的与纸面垂直的振动面的P偏振光。另一方面，入射到偏振光衍射光栅2的光束中，相当于sinα的光量作为0次光而通过偏振光衍射光栅2。此时，0次光的偏振光方向成为具有图中箭头所示的与纸面平行的振动面的S偏振光。以上，在本实施例中，透过偏振光衍射光栅2之后的0次光为S偏振光，±1次光为P偏振光。就是说，0次光与±1次光的偏振光方向正交。

接着，使用图5对光拾取器中光束的偏振光状态加以说明。在图5中，(a)是表示0次光的偏振光状态，(b)是表示±1次光的偏振光状态。其中，关于图5中的各构成部件，已经使用图1进行了说明，所以这里将其说明予以省略。在图5(a)中，从半导体激光器1射出的光束入射到偏振光衍射光栅2。此时，与图4中说明的同样，光束成为其振动面对于纸面仅倾斜角度α的直线偏振光。因此，入射到偏振光衍射光栅2的光束中，相当于sinα的光量作为0次光而通过偏振光衍射光栅2，此时，0次光的偏振光方向成为具有图中箭头所示的与纸面平行的振动面的S偏振光。

射出偏振光衍射光栅2的0次光，由半透明反射镜3反射而到达准直透镜4。由半透明反射镜3，0次光的约80％被反射，反射后的0次光的偏振光方向，是图中去路标记所示的与纸面平行的偏振光方向。其后，0次光经过准直透镜4而透过1/4波长板6。0次光由1/4波长板6而变换为圆偏振光。其后，入射到物镜7的0次光，由盘11的记录面所反射，再次以圆偏振光的状态，经过物镜7而到达1/4波长板6。透过1/4波长板6时，0次光变换为与去路正交方向上的偏振光，就是说，成为具有图中圆圈所示的与纸面垂直的振动面的P偏振光。其后，0次光入射到准直透镜4，由准直透镜4将平行光变换为聚焦光，到达半透明反射镜3。到达半透明反射镜3的光束，由半透明反射镜3的膜面的特性而使30％的光量透过半透明反射镜3。其后，0次光透过检测透镜12，聚光于光检测器13的规定的光检测面，0次光的偏振光方向是图中圆圈所示的与纸面垂直的振动面的P偏振光的状态。

接着对±1次光的偏振光状态加以说明。在图5(b)中，从半导体激光器1射出的光束入射到偏振光衍射光栅2。此时，与图4中说明的同样，光束成为其振动面对于纸面仅倾斜角度α的直线偏振光。因此，偏振光衍射光栅2中成为P偏振光的成分的光束作为规定角度的±1次光而衍射。就是说，光束的相当于cosα的光量分支衍射为+1次光与-1次光。此时，衍射的±1次光的偏振光方向，成为具有图中圆圈所示的与纸面垂直的振动面的P偏振光。

由于从偏振光衍射光栅2射出的±1次光是P偏振光，所以±1次光的约70％被半透明反射镜3反射而到达准直透镜4。反射后的±1次光的偏振光方向，是图中去路标记的圆圈所示的与纸面垂直的偏振光方向。其后，±1次光经过准直透镜4而透过1/4波长板6。±1次光由1/4波长板6而变换为圆偏振光。其后，入射到物镜7的±1次光，由盘11的记录面所反射，再次以圆偏振光的状态，经过物镜7而到达1/4波长板6。透过1/4波长板6时，变换为与±1次光去路正交方向上的偏振光。就是说，成为具有图中箭头所示的与纸面平行的振动面的S偏振光。其后，±1次光入射到准直透镜4，由准直透镜4将平行光变换为聚焦光，到达半透明反射镜3。到达半透明反射镜3的光束，由半透明反射镜3的膜面的特性而使20％的光量透过半透明反射镜3。其后，±1次光透过检测透镜12，聚光于光检测器13的规定的光检测面，±1次光的偏振光方向是图中圆圈所示的与纸面平行的振动面的S偏振光的状态。

接着，对入射到偏振光衍射光栅的偏振光的角度与0次光以及±1次光的光量的关系加以说明。图6是表示入射到偏振光衍射光栅的偏振光的角度与0次光与±1次光的光量的关系图。这里，为了简化讨论，第一实施例中的偏振光衍射光栅，是将P偏振光成分衍射为其入射光量各50％的光量的+1次光与-1次光的衍射光栅。因此，在入射偏振光角度为0度的情况下，不发生衍射，全部光量原封不动地透过，0次光的光量为1，+1次光与-1次光的光量为0。由于衍射的P偏振光的成分是随着入射偏振光的入射角度的变化而增加，所以0次光减少，图中表示同一举动的+1次光与-1次光的光量却增加。在使用3束、即差动推挽方式中0次光与±1次光的光量的比例，从±1次光不消除光盘上的记录标记的观点看，±1次光的光量不会有大的增大。因此，±1次光对于0次光的比例的上限，为10∶1左右。另一方面，为了使检测的信号成分不容易受到噪音的影响，必须有一定程度的±1次光的光量。因此，0次光与±1次光的比例的下限为20∶1。就是说，通过将0次光与±1次光的比例设定为10∶1～20∶1，作为光拾取器能够得到良好的性能。在第一实施例中，如图6所示，为了将0次光与±1次光的比例设定在10∶1～20∶1之间，将射入偏振光衍射光栅的偏振光的角度设定为5度到12度之间，就能够设定最佳的0次光与±1次光的光量比例，即能够设定分光比。

接着，使用图7对再现双层盘的情况下的光束的状态进行说明。图7(a)是表示再现双层盘情况下的光束状态的示意图，图7(b)是表示双层盘内的光束状态的示意图。其中，在图7中，由于各光学部件的配置与图1所示的结构相同，所以其说明予以省略。

从半导体激光器1射出的光束，与前面说明的同样，由物镜7聚光于记录面16，进行光盘15上的再现。记录面16所反射的光束如图中实线所示，成为与去路相同光路的光束，到达光检测器。这里，双层盘是具有2个记录面16和记录面17的光盘，从物镜7看，前侧的记录面16设定有反射规定量的光束，透过规定量的光束，导向记录面17的记录面特性。因此，即使是在光束聚光于记录面16的情况下，透过记录面16的光束也必然产生一定的量。汇聚于记录面16中透过记录面16的光束，如图中的虚线所示，由记录面17全反射，经过物镜7，到达准直透镜4。与实线所示的记录面16反射的光束相比，该记录面17反射的光束，如虚线所示，聚焦的状态不同。因此，在到达光检测器13之前成为临时聚光的状态，在光检测器13上光束的有效直径有所增大。

图8是表示再现双层盘情况下的光检测器上的光点状态的示意图。图8(a)是表示来自所希望的记录面的信号光的光点，图8(b)是表示来自其它的记录面的反射光的光点。在图8(a)中，在光检测器内配置有由分别分割为4份的受光面30、受光面31、受光面32所构成的3个受光面。调整光检测器的位置，使来自所希望的记录面的3个信号光照射到该受光面，对受光面30照射0次信号光33，对受光面31照射+1次信号光34，对受光面32照射-1次信号光35。因此，通过计算来自受光面30、31、32的输出信号，就能够输出像散法或差动像散法的聚焦误差信号以及差动推挽法的跟踪误差信号。这里，由于像散法、差动像散法以及差动推挽法都是公知的技术，所以其详细的说明予以省略。如前面的说明，在第一实施例中，由于对于偏振光衍射光栅入射规定角度的直线偏振光，所以是在0次光与±1次光的偏振光方向相互正交的关系下照射于光盘，其后回到光检测器的结构。因此，光检测器上的0次信号光33是图中右上斜线所示的S偏振光，+1次信号光34是图中左上斜线所示的P偏振光，-1次信号光35也成为P偏振光。

在再现双层盘的情况下，如前面使用图7所说明的那样，来自另一层反射的0次光的返回光36照射于光检测器面上。如图8(b)所示，该返回光36对于0次光的信号在大体同心圆上，其直径不仅是受光面30，而且在包含受光面31和受光面32的程度是大的直径。对于+1次信号光34，照射于相同受光面31的返回光36，由于作为光量是相同程度或数分之一程度，但大体是相同光路长，所以在返回光36与+1次信号光为相同偏振光状态的光的组合的情况下，以记录面16与记录面17的面间隔变动为主要原因，会发生与+1次信号光的干涉。在这种情况下，会发生对从受光面31得到的聚焦误差信号以及跟踪误差信号的干涉所引起的变动。在本发明的第一实施例中，该返回光36的偏振光方向是S偏振光，+1次信号光33是P偏振光。因此，虽然返回光36在受光面31中总光量仅有很小的增加，但由于没有由干涉引起的变动因素，所以就没有从受光面31可输出的聚焦误差信号以及跟踪误差信号的干涉所引起的变动。

[第二实施例]

接着，使用图9对本发明的第二实施例加以说明。在图9中，各光学部件的配置与图1所示的结构相同，关于同一部件都赋予同样的符号。第二实施例与图1所示的第一实施例的不同点在于，在半导体激光器1与偏振光衍射光栅2之间配置有1/2波长板18。该1/2波长板18是：通过设定与内部方位角的入射偏振光的角度，具有仅将偏振光方向旋转角度差的倍数角度的作用的光学元件。因此，由该1/2波长板18，能够将从半导体激光器1射出的直线偏振光的偏振光方向在规定的方向上变换而设定。就是说，由于可以不变更围绕半导体激光器1的光轴的角度，而设定向偏振光衍射光栅2入射的偏振光的角度，所以能够容易地调整由偏振光衍射光栅2衍射的±1次光的光量与非衍射的0次光的比例，例如，即使是在从半导体激光器1射出光束的偏振光角度有偏差的情况下，也具有能够容易地设定向偏振光衍射光栅2入射的偏振光的角度的优点。

[第三实施例]

接着，使用图10对本发明的第三实施例加以说明。在图10中，各光学部件的配置与图9所示的结构相同，关于同一部件都赋予同样的符号。第三实施例与图9所示的第二实施例的不同点在于，在半导体激光器1与偏振光衍射光栅2之间，配置有由电源的ON/OFF能够使入射偏振光的方向的角度旋转的液晶元件25，取代1/2波长板18。该液晶元件25，是通过由开关26使电源ON/OFF，从而使液晶元件25内部的1/2波长板功能的动作ON/OFF的元件。因此，至少能够使入射到偏振光衍射光栅2的偏振光状态成为两个状态，例如，即使是在从半导体激光器1射出的光束的偏振光角度有偏差的情况下，也能够容易地设定入射到偏振光衍射光栅2的偏振光角度，能够调整偏振光衍射光栅2所衍射的±1次光的光量。

[第四实施例]

接着，使用图11对本发明的第四实施例加以说明。图11(a)是表示第四实施例中衍射光栅的模式图，图11(b)表示光束透过该衍射光栅时的偏振光状态的示意图。在图11(a)中，衍射光栅19的基板38的表面的一部分成为没有衍射光栅槽的中央区域27。另一方面，在其两端形成没有特别偏振光依存性的衍射光栅区域28和衍射光栅区域29。这里，衍射光栅区域28和衍射光栅区域29是透过衍射光栅19的光束的有效直径37的一部分离开一定的程度而形成。而且，在衍射光栅区域28和衍射光栅区域29的一部分上，贴附有未图示的1/2波长板39与1/2波长板40。

在图11(b)中，从衍射光栅19的右侧入射的光束，成为与图中箭头所示的纸面平行方向的S偏振光状态。在光束入射到衍射光栅19的情况下，由于中央区域27的部分通过，所以通过该部分的光束的偏振光方向没有特别的变化，维持与纸面平行方向的S偏振光状态。另一方面，入射光束中透过衍射光栅区域28和衍射光栅区域29的光束，根据衍射光栅的槽结构而各自分支为±1次光。由于在衍射光栅区域28和衍射光栅区域29上，分别贴附有未图示的1/2波长板39与1/2波长板40，所以射出衍射光栅19的±1次光的偏振光方向可能成为P偏振光。由此，通过与高价的偏振光衍射光栅不同的结构，能够使0次光与±1次光的偏振光方向正交。就是说，通过使用第四实施例的衍射光栅19，能够与第一实施例同样，排除双层盘中来自其它层的返回光的影响，抑制由聚焦误差信号与跟踪误差信号的干涉所引起的信号变动。

[第五实施例]

接着，对装载有第一实施例至第四实施例的光拾取器的光盘装置加以说明。图12是表示实施例中装载有光拾取器的光盘装置的概略框图。由光拾取器14所检测的信号的一部分送到光盘判别电路51。光盘判别电路51中光盘的判别动作，在将光盘的基板厚度点亮的半导体激光器的振荡波长相对应的动作的场合，与对应于不同波长的动作的场合进行比较的情况下，利用由光拾取器14检测的、例如聚焦误差信号振幅电平在前者情况下的增大。将该判别结果发送到控制电路54。进而，由光拾取器14所检测的检测信号的一部分，发送到伺服信号生成电路52或信息信号检测电路53。在伺服信号生成电路52中，从光拾取器14检测的各种信号生成适合于光盘11或双层盘15的聚焦误差信号与跟踪误差信号，发送到控制电路54。另一方面，在信息信号检测电路53中，从光拾取器16的检测信号检测光盘11或双层盘15中记录的信息信号，输出到再现信号输出端子。控制电路54根据来自光盘判别电路51的信号而设定光盘11或双层盘15，与此相对应，基于由伺服信号生成电路52所生成的聚焦误差信号与跟踪误差信号，将物镜驱动信号发送到致动器驱动电路55。致动器驱动电路55根据该物镜驱动信号而驱动光拾取器14致动器8，进行物镜7的位置控制。而且，控制电路54根据存取控制电路56而进行光拾取器14的存取方向位置的控制，由主轴电动机控制电路57而旋转控制主轴电动机58，使盘11或双层盘15旋转。进而，控制电路54通过驱动激光点灯电路59，使装载于光拾取器14的半导体激光器1对应于光盘11或双层光盘17而使其点亮，实现光盘装置中的记录再现动作。

这里，可以通过设置再现来自从光盘输出的信号的信息信号的信息信号再现部与输出从信息信号再现部输出的信号的输出部而构成光盘的再现装置。而且，通过设置输入信息信号的信息输入部；和生成由从信息输入部输入的信息生成光盘上的记录信号，向光拾取器输出的记录信号生成部可构成光盘的记录装置。

以上，根据上述各实施例，在双层盘的再现时，由衍射光栅生成的3束光束，在输出聚焦误差信号与跟踪误差信号的光拾取器中，通过±1次信号光与0次光的从另外的层的返回光的偏振光方向的正交，能够排除返回光的干扰，使聚焦误差信号与跟踪误差信号不发生变动。由此，能够实现可靠性高的光拾取器、光盘装置。

此外，本发明也不限于上述各实施例的偏振光方向，也可以是将0次光作为P偏振光，±1次光作为S偏振光。

而且，在第一实施例到第四实施例的光拾取器中，是将光束分支为0次光与±1次光，且在半导体激光器与半透明反射镜之间的去路部分配置有用于使其偏振光方向大体正交的偏振光衍射光栅的结构。但是，例如也可以是在由衍射光栅成为0次光与±1次光之后，由波长板或偏振光元件改变任意一方的偏振光，使本发明为在光检测面上0次光与±1次光的偏振光状态大体正交的结构，对于用于使偏振光正交的元件的配置场所及其装置也没有特别的限制，也可以是在往返路中或返路中配置用于使偏振光垂直的元件。

此外，上述实施形式仅是为了实施本发明的具体化的例子，并不能由此对本发明的技术范围进行限定性的解释。就是说，本发明在不脱离其技术思想、或其主要特征的前提下，能够以各种形式进行实施。

Claims (16)

1.一种光拾取器，向多层结构的光盘射出光，接收来自光盘的反射光，其特征在于，具有：

激光光源；

偏振光衍射元件，仅配置在去路上，将来自所述激光光源的光束分支为0次光与±1次光的3束光束；

偏振光模块，使得由所述偏振光衍射元件分支的0次光与±1次光的偏振光正交；

物镜，将通过所述偏振光衍射元件的光束汇聚在所述光盘上；和

光检测器，

所述光检测器接收作为因所述偏振光模块而正交的0次光与±1次光的、并且来自所述光盘的反射光。

2.一种光拾取器，向多层结构的光盘射出光，接收来自光盘的反射光，其特征在于，具有：

激光光源；

偏振光衍射元件，仅配置在去路上，将来自所述激光光源的光束的P偏振成分分支为0次光与±1次光的3束光束，并使该0次光与±1次光的偏振光正交；

物镜，将通过所述偏振光衍射元件的光束汇聚在所述光盘上；和

光检测器，接收来自所述光盘的反射光。

3.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于：

所述0次光与±1次光的光量比为10∶1～20∶1。

4.根据权利要求2所述的光拾取器，其特征在于：

所述0次光与±1次光的光量比为10∶1～20∶1。

5.根据权利要求1所述的光拾取器，其特征在于：

在所述激光光源与所述衍射元件之间配置有所述激光光源的振荡波长的1/2倍的二分之一波长板。

6.根据权利要求2所述的光拾取器，其特征在于：

在所述激光光源与所述偏振光衍射元件之间配置有所述激光光源的振荡波长的1/2倍的二分之一波长板。

7.根据权利要求3所述的光拾取器，其特征在于：

在所述激光光源与所述衍射元件之间配置有所述激光光源的振荡波长的1/2倍的二分之一波长板。

8.根据权利要求4所述的光拾取器，其特征在于：

在所述激光光源与所述偏振光衍射元件之间配置有所述激光光源的振荡波长的1/2倍的二分之一波长板。

9.一种光盘装置，其特征在于，具有：

权利要求1所述的光拾取器；和

使用从所述光拾取器输出的信号生成聚焦误差信号与跟踪误差信号的伺服信号生成电路，

所述伺服信号生成电路能够生成由差动推挽法得到的跟踪信号。

10.一种光盘装置，其特征在于，具有：

权利要求2所述的光拾取器；和

使用从所述光拾取器输出的信号生成聚焦误差信号与跟踪误差信号的伺服信号生成电路，

所述伺服信号生成电路能够生成由差动推挽法得到的跟踪信号。

11.一种光盘装置，其特征在于，具有：

权利要求3所述的光拾取器；和

使用从所述光拾取器输出的信号生成聚焦误差信号与跟踪误差信号的伺服信号生成电路，

所述伺服信号生成电路能够生成由差动推挽法得到的跟踪信号。

12.一种光盘装置，其特征在于，具有：

权利要求4所述的光拾取器；和

使用从所述光拾取器输出的信号生成聚焦误差信号与跟踪误差信号的伺服信号生成电路，

所述伺服信号生成电路能够生成由差动推挽法得到的跟踪信号。

13.一种光盘装置，其特征在于，具有：

权利要求5所述的光拾取器；和

使用从所述光拾取器输出的信号生成聚焦误差信号与跟踪误差信号的伺服信号生成电路，

所述伺服信号生成电路能够生成由差动推挽法得到的跟踪信号。

14.一种光盘装置，其特征在于，具有：

权利要求6所述的光拾取器；和

使用从所述光拾取器输出的信号生成聚焦误差信号与跟踪误差信号的伺服信号生成电路，

所述伺服信号生成电路能够生成由差动推挽法得到的跟踪信号。

15.一种光盘装置，其特征在于，具有：

权利要求7所述的光拾取器；和

使用从所述光拾取器输出的信号生成聚焦误差信号与跟踪误差信号的伺服信号生成电路，

所述伺服信号生成电路能够生成由差动推挽法得到的跟踪信号。

16.一种光盘装置，其特征在于，具有：

权利要求8所述的光拾取器；和

使用从所述光拾取器输出的信号生成聚焦误差信号与跟踪误差信号的伺服信号生成电路，

所述伺服信号生成电路能够生成由差动推挽法得到的跟踪信号。

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