KR100497382B1 - 호환형 광픽업장치 - Google Patents

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KR100497382B1
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박수한
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Abstract

포맷이 다른 광기록매체에 대해 정보의 기록 재생을 수행할 수 있도록 된 호환형 광픽업장치가 개시되어 있다.
이 개시된 호환형 광픽업장치는 제1광을 생성 조사하는 제1광원과; 제2광을 생성 조사하는 제2광원과; 제1 및 제2광의 진행 경로 상에 마련되는 것으로, 입사되는 제1 및 제2광을 정형함과 아울러 입사된 제1 및 제2광의 진행경로를 변환하는 빔정형 빔스프리터와; 제1 및 제2광원쪽에서 입사된 제1 및 제2공을 집속시켜 광기록매체에 광스폿이 맺히도록 하는 대물렌즈와; 제1 및 제2광을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 메인 광검출기;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 개시된 호환형 광픽업장치는 제1광을 생성 조사하는 제1광원과; 제2광을 생성 조사함과 아울러 광기록매체에서 반사된 제2광을 수광하는 광모듈과; 입사되는 제1 및 제2광을 정형함과 아울러 입사된 제1 및 제2광의 진행경로를 변환하는 빔정형 빔스프리터와; 제1 및 제2광원쪽에서 입사된 제1 및 제2광을 집속시켜 광기록매체에 광스폿이 맺히도록 하는 대물렌즈와; 광기록매체에서 반사된 제1광을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 제1메인 광검출기;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

호환형 광픽업장치{Compatible optical pickup apparatus}
본 발명은 포맷이 다른 광기록매체에 대해 정보의 기록 재생을 수행할 수 있도록 된 호환형 광픽업장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 구조가 개선된 빔정형 프리즘을 이용한 호환형 광픽업장치에 관한 것이다.
일반적으로, 호환형 광픽업장치는 포맷이 서로 다른 광기록매체 예컨대 DVD와 CD에 대하여 정보의 기록/재생을 수행하는 장치이다.
도 1을 참조하면, 종래의 호환형 광픽업장치는 소정 파장의 광을 조사함과 아울러 광기록매체(D)에서 반사된 광을 수광하는 광원모듈(11), 광원모듈(11)에서 조사된 광의 파장과 다른 파장의 광을 제2광원(21)과, 입사광의 진행경로를 변환함과 아울러 입사빔을 정형하기 위한 빔정형 프리즘(30)과, 입사광의 진행경로를 변환하기 위한 빔스프리터(41)와, 광기록매체(D)에 광스폿이 맺히도록 입사광을 집속시키는 대물렌즈(43) 및, 상기 광기록매체(D)에서 반사되고 상기 대물렌즈(43), 상기 빔스프리터(41) 및 빔정형 프리즘(30)을 경유하여 입사된 광을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 메인 광검출기(49)를 포함하여 구성된다.
상기 광원모듈(11)은 제1광원과 광검출기 및 홀로그램소자(HOE)가 일체로 형성된 모듈로서, 제1광원에서 조사된 광은 상기 홀로그램소자를 직진 투과하여 상기 광기록매체(D) 쪽으로 향하고, 상기 광기록매체(D)에서 반사되어 입사된 광은 상기 홀로그램소자에서 회절되어 상기 제1광원에 이웃되게 배치된 광검출기에 맺히게 된다.
한편, 상기 광원모듈(11)과 상기 빔스프리터(41) 사이의 광로 상에는 상기 제1광원에서 조사된 광을 0차, ±1차, ±2차,...등으로 회절 투과시키는 제1그레이팅(15)과, 상기 제1광원 쪽에서 입사된 발산광을 일차적으로 집속시키는 제1커플링렌즈(13)가 마련되어 있다. 또한, 상기 제1광원에서 조사되어 상기 빔스프리터(41)로 향하는 광의 대부분은 상기 빔스프리터(41)를 투과하여 상기 광기록매체(D)로 향하고, 그 일부는 반사되어 제1모니터용 광검출기(17)에 수광된다. 이 제1모니터용 광검출기(17)에 수광된 광량으로부터 상기 제1광원의 광출력을 알 수 있고 이를 통하여 상기 제1광원의 광출력을 제어할 수 있다.
상기 제2광원(21)은 제1광원에 비하여 상대적으로 파장이 짧은 광을 조사하는 반도체 레이저로 구성된다.
도 2를 참조하면서 제2광원(21)을 살펴보면, 베이스(211) 상에 레이저 빔이 투과되는 윈도우(215)를 가지는 캡(213)이 마련되어 있다. 그리고, 상기 베이스(211) 상에는 마운트(212)가 마련되어 있고, 이 마운트(212)의 측벽에 소정 파장의 레이저 빔을 양측면으로 각각 조사하는 반도체 레이저(215)가 설치되어 있다.
한편, 도 3을 참조하여 볼 때, 상기한 반도체 레이저의 활성층(217a)의 소정 위치에서 출사된 레이저 빔은 그 단면 형상이 타원형을 유지한다. 이는 활성층(217a)의 두께방향과 이에 수직한 폭방향에서의 레이저 빔이 출사되는 출사구의 크기가 서로 달라, 두께방향과 폭방향 각각에서 서로 다르게 회절 되는 현상에 기인한 것이다. 이때 두께방향(Y축 방향)의 레이저 빔은 레이저의 앞쪽 부분에서 출사되는 것과 같고, 폭방향(X축 방향)의 레이저 빔은 레이저의 앞쪽에서 ΔZ 만큼 들어간 부분에서부터 출사되는 것처럼 나타난다. 여기서, 간격차 ΔZ가 비점수차이다. 도 2에서 는 폭방향의 퍼지는 각도이고, 는 수직방향의 퍼지는 각도를 나타낸 것이다.
한편, 상기한 반도체 레이저를 채용한 광픽업장치는 광원의 구조적 특성에 기인한 비점수차가 문제된다. 즉, 비점수차가 큰 경우는 광픽업장치의 메인 광검출기를 통하여 광기록매체에서 반사된 신호를 재생시 지터 특성이 나빠져 신호 검출에 영향을 미치는 문제점이 있다. 여기서, 지터란 광기록매체에 기록된 피트의 형성이 나쁘게 되거나, 광기록매체에 맺히는 광스폿의 형상이 비대칭적인 경우 신호의 편차가 증가하는 현상을 말한다. 이런 현상은 특히 광기록매체에 정보를 저장할 때 더 큰 영향을 끼친다. 따라서, 상기한 광출력모듈을 기록용 광픽업장치에 사용하기 위해서는 빔 정형이 필수적이다.
상기 빔정형 프리즘(30)은 입사된 타원형상의 광을 정형하여, 상기 광기록매체(D)에 원형상의 광스폿이 맺히도록 한다. 이와 같이, 빔을 정형함으로써 상기 제2광원(21)에서 조사된 광을 이용하여 상기 광기록매체(D)에 대해 정보를 기록할 수 있다.
상기 제2광원(21)과 상기 빔정형 프리즘(30) 사이의 광로 상에는 입사된 발산광을 집속시키는 제2커플링렌즈(23) 및 입사광을 회절투과시키는 제2그레이팅(25)이 배치된다.
상기 빔정형 프리즘(30)은 상기 제2광원(21)에서 조사된 광이 입사되는 입사면(31)과, 이 입사된 빔을 반사시키는 반사면(32) 및 상기 반사면(32)에서 반사된 광은 직진 투과시키고 상기 광기록매체(D) 쪽에서 입사된 광은 상기 메인 광검출기(49) 쪽으로 반사시키는 출반사면(33)을 가진다. 따라서, 상기 제2광원(21) 쪽에서 입사되고 상기 출반사면(33)을 투과한 광은 상기 빔스프리터(41)에서 반사되어 상기 광기록매체(D) 쪽으로 향한다.
상기 입사면(31)에 대향되는 소정 위치에는 제2모니터용 광검출기(27)가 배치되어 있다. 이 배치된 제2모니터용 광검출기(27)는 상기 제2광원(21)에서 조사되고 상기 입사면(31)에서 반사된 광의 일부를 수광하여, 상기 제2광원(21)의 광출력을 검출한다.
상기 출반사면(33)과 상기 메인 광검출기(49) 사이의 광경로 상에는 입사광을 집속시키는 콜리메이팅렌즈(45)와, 입사광의 크기 조절 및 초점 위치를 바꾸어 주는 센서렌즈(47)가 배치되어 있다.
상기한 바와 같이 구성된 호환형 광픽업장치는 서로 다른 포맷을 갖는 광기록매체에 대하여 정보의 재생 및 기록을 수행할 수 있다. 한편, 기록을 위하여 빔정형 프리즘을 포함한 복수의 광학요소들을 사용함으로써 제조단가가 상승하고, 구조가 복잡해서 광픽업장치의 크기가 커짐과 아울러 조립공수가 많이 드는 문제점이 있다. 또한, 상기한 빔정형 프리즘을 채용함에 의하여 고온에서 동작시 광축이 틀여질 우려가 높다는 단점이 있다.
본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로서, 빔정형 프리즘의 구조를 개선함과 아울러 광학요소들의 배치를 변경하여, 빔 정형을 수행함과 아울러, 단순화 된 구조의 호환형 광픽업장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 호환형 광픽업장치는, 소정 파장의 제1광을 생성 조사하는 제1광원과; 상기 제1광과는 다른 파장의 제2광을 생성 조사하는 제2광원과; 상기 제1 및 제2광의 진행 경로 상에 마련되는 것으로, 상기 제1 및 제2광의 단면 형상이 원형상이 되도록, 입사되는 제1 및 제2광을 정형함과 아울러 입사된 제1 및 제2광의 진행경로를 변환하는 빔정형 빔스프리터와; 상기 제1 및 제2광원쪽에서 입사된 제1 및 제2공을 집속시켜 광기록매체에 광스폿이 맺히도록 하는 대물렌즈와; 상기 광기록매체에서 반사되고, 상기 대물렌즈 및 상기 빔정형 빔스프리터를 경유하여 입사된 제1 및 제2광을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 메인 광검출기;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 빔정형 빔스프리터는, 상기 제1 및 제2광원에서 조사된 제1 및 제2광의 광축에 대해 소정 기울기로 경사지게 배치되어 입사광의 대부분을 굴절 투과시킴과 아울러, 상기 광기록매체 쪽에서 입사된 제1 및 제2광은 상기 메인 광검출기 쪽으로 반사시키는 제1면과; 상기 제1광은 직진 투과시키고 상기 제2광은 대부분 반사시켜, 상기 제1 및 제2광원에서 조사된 제1 및 제2광이 동일 경로로 상기 제1면 쪽으로 향하도록 하는 제2면;을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 호환형 광픽업장치는, 소정 파장의 제1광을 생성 조사하는 제1광원과; 상기 제1광과는 다른 파장의 제2광을 생성 조사함과 아울러, 광기록매체에서 반사된 제2광을 수광하는 광모듈과; 상기 제1 및 제2광의 진행 경로 상에 마련되는 것으로, 상기 제1 및 제2광의 단면 형상이 원형상이 되도록, 입사되는 제1 및 제2광을 정형함과 아울러 입사된 제1 및 제2광의 진행경로를 변환하는 빔정형 빔스프리터와; 상기 제1 및 제2광원쪽에서 입사된 제1 및 제2광을 집속시켜 광기록매체에 광스폿이 맺히도록 하는 대물렌즈와; 상기 광기록매체에서 반사되고, 상기 대물렌즈 및 상기 빔정형 빔스프리터를 경유하여 입사된 제1광을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 제1메인 광검출기;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 광모듈은 상기 제2광을 조사하는 제2광원과; 상기 제2광원 주변에 마련되어, 상기 광기록매체에서 반사되고 상기 빔정형 빔스프리터를 경유하여 입사된 제2광을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 제2메인 광검출기와; 상기 제2광원 쪽에서 입사된 제2광은 직진 투과시켜 상기 빔정형 프리즘 쪽으로 향하도록 하고, 상기 빔정형 프리즘 쪽에서 입사된 광은 회절 투과시켜 상기 제2메인 광검출기로 향하도록 하는 제1홀로그램소자;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하면서 본 발명의 바람직한 실시예들에 따른 호환형 광픽업장치를 상세히 설명한다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 호환형 광픽업장치는 서로 다른 파장의 제1 및 제2광(L3)(L4)을 각각 조사하는 제1 및 제2광원(51)(61)과, 빔정형 및 입사된 제1 및 제2광(L3)(L4)의 진행경로를 변환하는 빔정형 빔스프리터(70)와, 상기 제1 및 제2광원(51)(61) 쪽에서 입사된 제1 및 제2광(L3)(L4)을 집속시켜 광기록매체(D)에 광스폿이 맺히도록 하는 대물렌즈(87)와, 광기록매체(D)에서 반사된 제1 및 제2광(L3)(L4)을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 메인 광검출기(95)를 포함한다.
상기 제1광원(51)은 소정 파장의 제1광(L3)을 생성 조사한다. 그리고, 상기 제2광원(61)은 제1광(L3)과는 다른 소정 파장의 제2광(L4)을 생성 조사한다. 예를 들어, 상기 제1광원(51)은 상기 광기록매체(D)로 DVD가 채용된 경우에 기록 및/또는 재생을 수행하는 것으로, 대략 650 nm 파장의 제1광(L3)을 조사한다. 그리고, 상기 제2광원(61)은 상기 광기록매체(D)로 CD가 채용된 경우에 기록 및/또는 재생을 수행하는 것으로, 대략 780 nm 파장의 제2광(L4)을 조사한다.
상기 빔정형 빔스프리터(70)는 상기 제1 및 제2광원(51)(61), 상기 대물렌즈(87) 및 상기 메인 광검출기(95) 사이의 광로 상에 배치된다. 이 빔정형 빔스프리터(70)는 상기 제1 및 제2광원(51)(61) 각각에서 조사된 제1 및 제2광(L3)(L4)의 단면 형상이 타원형상에서 원형상이 되도록 빔을 정형한다. 또한, 상기 제1 및 제2광원(51)(61) 각각에서 조사된 제1 및 제2광(L3)(L4)은 상기 광기록매체(D) 쪽으로 향하도록 하고, 상기 광기록매체(D)에서 반사된 제1 및 제2광(L3)(L4)은 상기 메인 광검출기(95)로 향하도록 한다.
이를 위하여, 상기 빔정형 빔스프리터(70)는 상기 제1 및 제2광원(51)(61)에서 조사된 제1 및 제2광(L3)(L4)의 광축에 대해 소정 기울기로 경사지게 배치된 제1면(71)과, 상기 제1광(L3)은 직진 투과시키고 상기 제2광(L4)의 대부분은 반사시켜 제1 및 제2광(L3)(L4)이 동일 광로로 상기 제1면(71) 쪽으로 향하도록 하는 제2면(73)을 포함한다.
상기 제1면(71)은 제1 및 제2광원(51)(61) 쪽에서 입사된 대부분의 광은 굴절 투과시킴으로써, 제1 및 제2광(L3)(L4)의 단면형상이 원형상이 되도록 빔정형한다. 여기서, 빔정형 원리에 대하여 도 5를 참조하면서 설명하기로 한다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 빔정형 빔스프리터(도 4의 70)에 대응되는 빔정형 프리즘(75)은 굴절률 n을 가지는 투명부재로, 빗면이 밑면에 대해 각도만큼 경사지게 배치되어 있다. 이 빔정형 프리즘(75)의 빗면에 각도만큼의 기울기를 가지고 레이저 빔이 입사되어 밑면으로 출사되는 것을 나타내었다.
이와 같은 배치를 가지는 경우에 있어서, 예를 들어, 단면 직경이 인 입사빔에 대하여, 출사빔의 단면 직경을 a로 하고자 하는 경우의 각도 와 각도는 다음과 같이 설정된다. 여기서, 상기 빔정형 프리즘(75)은 굴절률 이 1.514362인 매질이다.
상기 각도 및, 각도는 수학식 1로 나타낸 바와 같이, 스넬의 법칙에 따른 방정식과, 수학식 2로 나타낸 바와 같은 기하학적인 형상에 따른 방정식의 연립하여 풀 수 있다.
상기한 수학식 1 및 2를 연립하여 각도 θ와 각도 α를 각각 구하면, 각도 θ는 37.29°이고, 각도 α는 23.44°임을 알 수 있다.
한편, 상기한 설명은 상기 빔정형 프리즘(75)에 입사되는 광의 일 방향 예컨대 수평방향(도 1의 방향)에 대한 것이고, 이와 직교하는 방향 예컨대, 수직방향(도 1의방향)에 대해서는 직경의 변화 없이 투과시킨다. 따라서, 상기 각도 θ와 각도 α 각각을 소정 각도로 선택함으로써, 빔정형 프리즘(75)에 단면이 타원형상인 레이저 빔이 입사된 경우에도 그 단면 형상을 원형상으로 정형할 수 있고, 출사된 레이저 빔의 크기를 소망하는 크기로 바꿀 수 있다.
한편, 상기 제1광원(51)에서 조사된 제1광(L3) 중, 일부는 상기 제1면(71)에서 반사된다. 따라서, 이 반사된 제1광(L3)의 광로 상에는, 반사된 제1광(L3)을 수광하여 상기 제1광원(51)의 광출력을 모니터링 할 수 있도록 된 제1모니터용 광검출기(55)를 더 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 제1면(71)은 상기 광기록매체(D) 쪽에서 입사된 제1 및 제2광(L3)(L4) 중 일부를 상기 메인 광검출기(95) 쪽으로 반사시킨다. 이와 같이, 상기 빔정형 빔스프리터(70)의 제1면(71)에서의 광로 변환은 소정 광량비 또는 편광특성에 따라 가능하다.
편광특성에 따른 광로 변환을 위하여는 상기 제1면(71)은 편광 코팅 되어 있다. 즉, 상기 제1면(71)은 제1 및 제2광(L3)(L4)에 대해서 일 직선 편광은 대부분은 투과시키고, 이와 직교하는 다른 직선 편광은 대부분 반사시키도록 반사 코팅되어 있다.
이 경우, 상기 대물렌즈(87)와 상기 빔정형 빔스프리터(70) 사이의 광로 상에 1/4파장판(85)을 더 구비한다. 이 1/4파장판(85)은 입사된 직선편광을 원편광으로, 원편광을 직선편광으로 바꾸어 준다. 따라서, 상기 제1면(71)을 굴절 투과한 소정 편광의 광은 상기 1/4파장판(85)을 두 번 통과하여 상기 제1면(71) 쪽으로 재입사되는 경우 그 편광방향이 90°바뀌게 되어, 본래 편광에 대해 직교하는 편광의 광이 된다.
예를 들면, 상기 제1면(71)은 650 nm, 780 nm 파장을 가지는 광에 대해서 수직 편광은 99% 이상 투과시키고, 수평 편광은 99% 이상 반사시키도록 반사 코팅되어 있다. 따라서, 제1 및 제2광원(51)(61)에서 조사된 수직 편광의 광은 상기 제1면(71)에서 굴절 투과되어 상기 광기록매체(D) 쪽으로 향한다. 이때, 상기 1/4 파장판(85)을 투과하면서 원편광으로 바뀌게 되고, 광기록매체(D)에서 반사되어 상기 1/4 파장판(85)을 재투과하면서 수평 편광의 광으로 바뀐다. 이 수평 편광의 광은 상기 제1면(71)에서 대부분 반사되어 상기 메인 광검출기(95)로 향하게 된다.
상기 빔정형 빔스프리터(70)의 제2면(73)은 상기 제1광(L3)은 대부분 직진 투과시키고, 상기 제2광(L4)은 대부분 반사시키도록 반사 코팅되어 있다. 예컨대, 650 nm 파장대의 광은 모두 투과시키고, 780 nm 파장대의 광은 수직 편광에 대해서 대략 99% 이상 반사시키도록 코팅 형성되어 있다.
이와 같은 반사 특성을 가지는 제2면(73)을 형성함으로써, 서로 다른 위치에 배치된 제1 및 제2광원(51)(61) 각각에서 조사된 제1 및 제2광(L3)(L4)이 동일 광로로 상기 광기록매체(D)로 향하도록 할 수 있다.
여기서, 상기 제2광원(61)에서 조사된 제2광(L4) 중, 일부는 상기 제2면(73)을 투과한다. 따라서, 이 투과된 제2광(L4)의 광로 상에는 제2광(L4)을 수광하여 상기 제2광원(61)의 광출력을 모니터링 할 수 있도록 된 제2모니터용 광검출기(65)를 더 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 바람직하게는 상기 제2광원(61)과 상기 빔정형 빔스프리터(70) 사이의 광로 상에는 입사된 광을 회절 투과시키는 그레이팅(63)을 더 포함한다. 상기 그레이팅(63)은 입사된 제2광(L4)을 0차광, ±1차광, ±2차광 등으로 회절 투과시킨다. 이는 상기 메인 광검출기(95)에서 3빔법으로 트랙오차신호를 검출하고자 하는데 이용된다. 이 3빔법 자체는 잘 알려져 있으므로 그 자세한 설명은 생략한다.
상기 대물렌즈(87)는 상기 제1 및 제2광원(51)(61)에서 조사된 광을 집속하여 상기 광기록매체(D)에 광스폿이 형성되도록 한다. 이 대물렌즈(87)는 상기 메인 광검출기(95)에서 검출된 오차신호를 바탕으로 하여, 트랙 방향 및 포커스 방향으로 구동 가능하도록 보빈(87)에 설치된다. 상기 대물렌즈(87)와 상기 빔정형 빔스프리터(70) 사이의 광로 상에는 상기 빔정형 빔스프리터(70) 쪽에서 입사된 발산광을 집속시켜 평행광이 되도록 하는 콜리메이팅렌즈(81)를 더 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 빔정형 빔스프리터(70)와 상기 대물렌즈(87) 사이의 광로 상에는, 입사된 제1광(L3) 또는 제2광(L4)에 대해 선택적으로 비점수차를 발생시키는 홀로그램소자(83)를 더 포함한다.
이 홀로그램소자(83)는 상기 빔정형 빔스프리터(70) 쪽에서 입사된 광의 편광방향에 대해서는 직진 투과시키고, 상기 광기록매체(D) 쪽에서 입사된 광의 편광방향에 대해서는 비점수차를 발생시킨다. 예를 들어, 650 nm 파장영역의 광 중 수평 편광의 광에 대해서만 광분할 특성을 가진다.
이 홀로그램소자(83)는 상기 보빈(89)에 고정 설치되어, 상기 대물렌즈(87)의 포커싱 및 트래킹 동작시 상기 대물렌즈(87)와 함께 구동된다. 또한, 상기 홀로그램소자(83)는 도시된 바와 같이, 상기 1/4 파장판(85)과 일체로 형성된 것이 바람직하다. 이와 같이 일체로 형성함으로써 구조의 단순화 및 조립의 편리성을 도모할 수 있다.
도 6을 참조하면, 상기 홀로그램소자(83)는 적어도 2개로 분할된 분할면(83a)(83b)을 가진다. 여기서, 일 분할면(83a)은 양(+)의 비점수차를 발생시키고, 다른 분할면(83b)은 음(-)의 비점수차를 발생시키도록 홀로그램 패턴이 형성되어 있다. 따라서, 도 7에 도시된 바와 같이 광기록매체(D) 쪽에서 입사된 광은 O차광과, +1차광 및 -1차광으로 나뉘어 상기 메인 광검출기(95)로 향하게 된다.
이와 같이, 홀로그램소자(83)를 구비하여, 상기 두 분할면(83a)(83b) 각각에서 발생되는 양의 비점수차와 음의 비점수차를 상기 메인 광검출기(95)를 통하여 차동 검출함으로써, 상기 대물렌즈(87)의 포커싱 동작을 수행할 수 있다.
상기 메인 광검출기(95)는 상기 광기록매체(D) 쪽에서 입사되고, 상기 빔정형 빔스프리터(71)의 제1면(71)에서 반사된 제1 및 제2광(L3)(L4)을 수광하여, 정보신호와, 포커스 오차신호 및 트랙 오차신호를 검출한다.
이를 위하여 상기 메인 광검출기(95)는 도 8에 도시된 바와 같이, 제1 내지 제3수광부(95a)(95b)(95c)를 포함한다.
상기 제1수광부(95a)는 상기 제1광(L3)에 대응된 광기록매체에 대해 정보의 기록/재생시 상기 대물렌즈(87)의 포커싱 오차신호 전부 및 트래킹 오차신호의 일부를 검출한다. 그리고, 제2광(L4)에 대응된 광기록매체에 대해 정보의 기록/재생시 상기 대물렌즈(87)의 포커싱 오차신호를 검출한다. 이를 위하여, 제1수광부(95a)는 각각 독립적으로 광전변환하는 것으로, 2×3 배열 구조를 가지는 6개의 분할판 A1, A2, A3, B1, B2 및 B3를 포함한다.
상기 제2수광부(95b)는 상기 제1 및 제2광(L3)(L4)에 대응되는 광기록매체에 대해 정보의 기록/재생시 정보신호를 검출한다. 또한, 제1광(L3)에 대응되는 광기록매체에 대해 정보의 기록/재생시 틸트(tilt) 오차신호를 검출한다. 이를 위하여 상기 제2수광부(95b)는 각각 독립적으로 광전변환하는 것으로, 2×2 배열 구조를 가지는 4개의 분할판 C, D, E 및 F를 포함한다.
상기 제3수광부(95c)는 상기 제1수광부(95a)와 더불어 상기 제1광(L3)에 대응되는 광기록매체에 대해 정보의 기록/재생시 상기 대물렌즈(87)의 트래킹 오차시호를 검출한다. 이를 이하여 상기 제3수광부(95c)는 각각 독립적으로 광전변환하는 것으로, 2×1 배열 구조를 가지는 2개의 분할판 G 및 H를 포함한다.
상기 제1광(L3)을 이용한 정보의 기록/재생시, 상기한 제1 내지 제3수광부(95a)(95b)(95c)를 이용한 포커싱 오차신호(FES), 트래킹 오차신호(TES), 틸트 신호(Tilt) 및 정보신호(RF)는 하기의 수학식 3과 같이 합산 및 차동함으로써 검출할 수 있다.
그리고 상기 제2광(L4)을 이용한 정보의 기록/재생시, 상기한 제1 내지 제3수광부(95a)(95b)(95c)를 이용한 포커싱 오차신호(FES) 및 정보신호(RF)는 하기의 수학식 4과 같이 합산 및 차동함으로써 검출할 수 있다. 또한 트래킹 오차신호(TES)는 차동 위상 검출법(DPD : Different Phase Detection)으로 검출할 수 있다.
여기서, 상기 메인 광검출기(95)는 그 전체 분할구조에 있어서, 상기한 12분할 구조 이외에도 다양한 변형이 가능함은 물론이다.
또한, 본 실시예는 빔정형 빔스프리터(70)와 상기 메인 광검출기 사이의 광로 상에 입사광을 발산시키는 오목렌즈(91)를 더 구비할 수 있다. 이 오목렌즈(91)를 구비함으로써, 상기 메인 광검출기(95)의 설치 위치의 조절이 가능하다는 이점이 있다.
도 9를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 호환형 광픽업장치는 소정 파장의 제1광(L3)을 생성 조사하는 제1광원(51)과, 제2광(L4)을 생서 조사함과 아울러 광기록매체(D)에서 반사된 제2광(L4)을 수광하는 광모듈(160)과, 빔정형 및 입사된 제1 및 제2광(L3)(L4)의 진행경로를 변환하는 빔정형 빔스프리터(70)와, 상기 제1광원(51) 및 광모듈(160) 쪽에서 입사된 제1 및 제2광(L3)(L4)을 집속시켜 광기록매체(D)에 광스폿이 맺히도록 하는 대물렌즈(87)와, 광기록매체(D)에서 반사된 제1 광(L3)을 수광하여 제1광(L3)을 이용한 광기록매체(D)에 대한 정보신호 및 오차신호를 검출하는 제1메인 광검출기(195)를 포함한다.
상기 제1광원(51)은 소정 파장의 제1광(L3) 예컨대, 광기록매체(D)로 DVD가 채용된 경우에 기록 및/또는 재생을 수행하는 것으로, 대략 650 nm 파장의 제1광(L3)을 조사한다. 이 제1광원(51)에서 조사된 제1광(L3)을 이용한 정보신호의 기록/재생은 앞서 설명된 본 발명의 일 실시예에 따른 호환형 광픽업장치에서의 기록/재생과 실질적으로 동일하다.
즉, 상기 제2광원(51)에서 조사된 광 대부분은 상기 빔정형 빔스프리터(70)를 굴절 투과한 후, 상기 대물렌즈(81)에서 집속되어 광기록매체(D)에 집속된다. 여기서, 일부는 빔정형 빔스프리터(70)에서 반사되어 모니터용 광검출기(55)에 수광된다. 이 수광된 광으로부터 상기 제1광원(51)의 광출력을 제어할 수 있다. 한편, 상기 광기록매체(D)에서 반사된 광은 상기 대물렌즈(87) 및 빔정형 빔스프리터(71)를 경유하여 제1메인 광검출기(195)에 맺힌다. 상기 제1메인 광검출기(195)는 수광된 광으로부터 정보신호 및 오차신호를 검출한다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 상기 광모듈(160)은 제1광(L3)의 파장과 다른 소정 파장의 광을 조사하는 제2광원(161)과, 이 제2광원(161) 주변에 마련되어 광기록매체(D)에서 반사되고 상기 빔정형 빔스프리터(70)를 경유하여 입사된 제2광을 수광하는 제2메인 광검출기(165)와, 제2광의 진행경로를 변환하는 제1홀로그램 소자(163)를 포함한다.
상기 제1홀로그램 소자(163)는 소정 회절패턴을 가지는 외부면(163a)과, 그레이팅 패턴을 가지는 내부면(163b)을 가진다. 이 제1홀로그램 소자(163)는 상기 제2광원(161) 쪽에서 입사된 제2광(L4)은 직진 투과시켜 상기 빔정형 빔스프리터(70) 쪽으로 향하도록 하고, 상기 빔정형 빔스프리터(70) 쪽에서 입사된 광은 회절 투과시켜 상기 제2메인 광검출기(165)에 맺히도록 한다. 또한, 광모듈(160)은 상기한 광학적 구성요소를 배치하기 위한 베이스(167) 및 캡(169)을 포함한다. 상기 그레이팅 패턴(163b)은 일 실시예에 따른 그레이팅(63)과 실질상 동일한 동작을 수행하는 것으로 그 자세한 설명은 생략한다.
상기 빔정형 빔스프리터(70)는 상기 제1광원(51) 및 광모듈(160), 상기 대물렌즈(87) 및 상기 제1메인 광검출기(195) 사이의 광로 상에 배치된다. 이 빔정형 빔스프리터(70)는 상기 제1 및 제2광원(51)(61) 각각에서 조사된 제1 및 제2광(L3)(L4)의 단면 형상이 타원형상에서 원형상이 되도록 빔을 정형한다. 또한, 상기 제1 및 제2광원(51)(61) 각각에서 조사된 제1 및 제2광(L3)(L4)은 상기 광기록매체(D) 쪽으로 향하도록 한다. 그리고, 상기 광기록매체(D)에서 반사된 광 중 제1광(L3)은 상기 메인 광검출기(95)로 향하도록 하고, 제2광(L4)은 상기 광모듈(160)로 향하도록 굴절 투과시킨다.
이를 위하여, 상기 빔정형 빔스프리터(70)는 상기 제1 및 제2광원(51)(61)에서 조사된 제1 및 제2광(L3)(L4)의 광축에 대해 소정 기울기로 경사지게 배치된 제1면(71)과, 상기 제1광(L3)은 직진 투과시키고 상기 제2광(L4)의 대부분은 반사시켜 제1 및 제2광(L3)(L4)이 동일 광로로 상기 제1면(71) 쪽으로 향하도록 하는 제2면(73)을 포함한다.
이와 같이 구성된 빔정형 빔스프리터(70)의 구조 및 기능은 도 4 내지 도 5를 참조하여 설명된 본 발명의 일 실시예에 따른 빔정형 빔스프리터(70)와 실질상 동일하므로 그 자세한 설명은 생략한다.
또한, 본 실시예는 대물렌즈(87)와 빔정형 빔스프리터(70) 사이의 광로 상에 콜리메이팅렌즈(81)와, 제2홀로그램소자(83) 및 1/4파장판(85)을 더 포함하는 것이 바람직하다. 또한, 빔정형 빔스프리터(70)와 제1메인 광검출기(195) 사이의 광로 상에 오목렌즈(91)를 더 포함하는 것이 바람직하다. 상기한 광학요소들의 구성 및 작용은 본 발명의 일 실시예에 따른 호환형 광픽업장치의 동일 부재 번호를 사용하는 광학요소 각각과 실질적으로 동일하므로 그 자세한 설명은 생략한다.
상기 제1메인 광검출기(195)는 상기 광기록매체(D) 쪽에서 입사되고, 상기 빔정형 빔스프리터(71)의 제1면(71)에서 반사된 제1광(L3)을 수광하여, 정보신호와, 포커스 오차신호 및 트랙 오차신호를 검출한다. 이 제1메인 광검출기(195)는 제2광(L4)에 대한 정보신호 및 오차신호를 검출하지 않는 점에서 상기한 일 실시예에 따른 메인 광검출기(도 4의 95)와 구별된다. 이 경우, 제1메인 광검출기(195)의 광분할 구조 자체는 잘 알려져 있으므로 그 자세한 설명은 생략한다.
상기한 바와 같이 구성된 호환형 광픽업장치는 제1 및 제2광 모두에 대한 빔정형과 아울러 광경로 변환을 수행할 수 있도록 된 빔정형 빔스프리터를 이용함으로써, 빔정형이 가능하여 광기록매체에 대한 기록 특성을 향상시킬 수 있다. 또한, 구조를 단순화 할 수 있으므로, 상대적으로 광학 부품수를 감소시킬 수 있으므로 조립 특성을 향상, 원가 절감시킬 수 있다.
또한, 빔정형시 광기록매체로 향하는 제1 및 제2광의 단면 크기를 작게함으로써, 콜리메이팅렌즈에 입사되는 광량을 증대시켜 광효율을 높일 수 있다.
도 1은 종래의 호환형 광픽업장치의 광학적 배치를 보인 도면.
도 2는 도 1의 제2광원을 보인 일부 절개 사시도.
도 3은 일반적인 반도체 레이저를 보인 개략적인 도면.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 호환형 광픽업장치의 광학적 배치를 보인 개략적인 도면.
도 5는 도 4의 빔정형 프리즘의 빔정형 원리를 설명하기 위한 개략적인 도면.
도 6은 도 4의 홀로그램소자의 분할 구조를 보인 개략적인 도면.
도 7은 도 4의 홀로그램소자에 의한 광기록매체에서 반사된 광의 회절 특성을 보인 개략적인 도면.
도 8은 도 4의 메인 광검출기의 분할 구조를 보인 개략적인 도면.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 호환형 광픽업장치의 광학적 배치를 보인 개략적인 도면.
도 10은 도 9의 광모듈을 보인 개략적인 단면도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
51...제1광원 61,161...제2광원
55...제1모니터용 광검출기 63...그레이팅
65...제2모니터용 광검출기 70...빔정형 빔스프리터
71...제1면 73...제2면
81...콜리메이팅렌즈 83...홀로그램소자
85...1/4파장판 87...대물렌즈
89...보빈 91...오목렌즈
95...메인 광검출기 160...광모듈
165...제2메인 광검출기 167...베이스
169...캡 195...제1메인 광검출기

Claims (27)

  1. 소정 파장의 제1광을 생성 조사하는 제1광원과;
    상기 제1광과는 다른 파장의 제2광을 생성 조사하는 제2광원과;
    상기 제1 및 제2광의 진행 경로 상에 마련되는 것으로, 상기 제1 및 제2광의 단면 형상이 원형상이 되도록 입사되는 제1 및 제2광을 정형함과 아울러 입사된 제1 및 제2광의 진행경로를 변환하는 빔정형 빔스프리터와;
    상기 제1 및 제2광원쪽에서 입사된 제1 및 제2광을 집속시켜 광기록매체에 광스폿이 맺히도록 하는 대물렌즈와;
    상기 광기록매체에서 반사되고, 상기 대물렌즈 및 상기 빔정형 빔스프리터를 경유하여 입사된 제1 및 제2광을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 것으로, 상기 제1광에 대응되는 광기록매체에 대해 정보의 기록/재생시 상기 대물렌즈의 포커싱 오차신호 전부 및 트래킹 오차신호의 일부를 검출함과 아울러 상기 제2광에 대응되는 광기록매체에 대한 정보의 기록/재생시 상기 대물렌즈의 포커싱 오차신호를 검출하는 제1수광부와, 상기 제1광에 대응되는 광기록매체에 대해 정보의 기록/재생시 정보신호 및 상기 대물렌즈의 틸트 오차신호를 검출함과 아울러 상기 제2광에 대응되는 광기록매체에 대해 정보의 기록/재생시 정보신호를 검출하는 제2수광부와, 상기 제1수광부와 더불어 상기 제1광에 대응되는 광기록매체에 대해 정보의 기록/재생시 상기 대물렌즈의 트래킹 오차신호를 검출하는 제3수광부를 구비한 메인 광검출기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 빔정형 빔스프리터는,
    상기 제1 및 제2광원에서 조사된 제1 및 제2광의 광축에 대해 소정 기울기로 경사지게 배치되어 입사광의 대부분을 굴절 투과시킴과 아울러, 상기 광기록매체 쪽에서 입사된 제1 및 제2광은 상기 메인 광검출기 쪽으로 반사시키는 제1면과;
    상기 제1광은 직진 투과시키고 상기 제2광은 대부분 반사시켜, 상기 제1 및 제2광원에서 조사된 제1 및 제2광이 동일 광로로 상기 제1면 쪽으로 향하도록 하는 제2면;을 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1광원에서 조사되고, 상기 제1면에서 반사된 제1광을 수광하여 상기 제1광원의 광출력을 모니터링하는 제1모니터용 광검출기;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제2광원에서 조사되고, 상기 제2면을 투과한 제2광을 수광하여 상기 제2광원의 광출력을 모니터링하는 제2모니터용 광검출기;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제2광원과 상기 빔정형 빔스프리터 사이의 광로 상에 배치되어, 상기 제2광원 쪽에서 입사된 광을 회절 투과시키는 그레이팅을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 빔정형 빔스프리터와 상기 대물렌즈 사이의 광로 상에 배치되어, 입사된 제1 및 제2광 중 어느 한 광에 대해 상기 빔정형 빔스프리터 쪽에서 입사된 광의 편광방향에 대해서는 직진 투과시키고, 상기 광기록매체 쪽에서 입사된 광의 편광방향에 대해서는 빔점수차를 발생시키는 홀로그램소자와;
    상기 홀로그램소자와 상기 대물렌즈 사이의 광로 상에 배치되어, 입사된 제1 및 제2광의 편광 방향을 바꾸어주는 1/4 파장판;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 홀로그램소자는,
    상기 대물렌즈에 고정 설치되어, 상기 대물렌즈의 포커싱 및 트래킹 동작시 상기 대물렌즈와 함께 구동되도록 된 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 홀로그램소자와 상기 1/4 파장판은 일체로 형성된 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  9. 제6항에 있어서,
    상기 홀로그램소자는 적어도 2개로 분할된 분할면을 포함하며,
    분할면 중 하나 이상은 양의 비점수차를 발생시키고, 나머지 분할면은 음의 비점수차를 발생시키도록 소정 홀로그램 패턴이 형성된 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  10. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 빔정형 빔스프리터와 상기 대물렌즈 사이의 광로 상에 배치되어, 상기 빔정형 빔스프리터 쪽에서 입사된 발산광을 집속시켜 평행광이 되도록 하는 콜리메이팅렌즈를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  11. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 빔정형 빔스프리터와 상기 대물렌즈 사이의 광로 상에 배치되어, 입사된 제1 및 제2광 중 어느 한 광에 대해 상기 빔정형 빔스프리터 쪽에서 입사된 광의 편광방향에 대해서는 직진 투과시키고, 상기 광기록매체 쪽에서 입사된 광의 편광방향에 대해서는 빔점수차를 발생시키는 홀로그램소자와;
    상기 홀로그램소자와 상기 대물렌즈 사이의 광로 상에 배치되어, 입사된 제1 및 제2광의 편광 방향을 바꾸어주는 1/4 파장판;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 홀로그램소자는,
    상기 대물렌즈에 고정 설치되어, 상기 대물렌즈의 포커싱 및 트래킹 동작시 상기 대물렌즈와 함께 구동되도록 된 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 홀로그램소자와 상기 1/4 파장판은 일체로 형성된 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 홀로그램소자는 적어도 2개로 분할된 분할면을 포함하며,
    분할면 중 하나 이상은 양의 비점수차를 발생시키고, 나머지 분할면은 음의 비점수차를 발생시키도록 홀로그램 패턴이 형성된 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  15. 삭제
  16. 제1항에 있어서, 상기 제1수광부는,
    각각 독립적으로 광전변환하는 것으로, 2×3 배열된 6개의 분할판 A1, A2, A3 B1, B2 및 B3를 포함하며,
    상기 대물렌즈의 포커싱 오차신호는 상기 분할판 A2와 B2를 차동함으로써 검출되는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  17. 제16항에 있어서, 상기 제3수광부는,
    각각 독립적으로 광전 변환하는 것으로 2×1 배열된 분할판 G 및 H를 포함하며,
    상기 제1광에 대응되는 광기록매체에 대해 정보의 기록/재생시 상기 대물렌즈의 트래킹 오차신호는,
    상기 분할판 G 및 H의 차동신호와,
    상기 분할판 A1, A2 및 A3 각각에서 검출된 신호의 합신호와 상기 분할판 B1, B2 및 B3 각각에서 검출된 신호의 합신호를 차동함에 의하여 검출된 차동신호를 상호 차동함에 의하여 검출되는 되는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  18. 제16항 또는 제17항에 있어서, 상기 제2수광부는,
    각각 독립적으로 광전 변환하는 것으로, 2×2 배열된 4개의 분할판 C, D, E 및 F를 포함하며,
    상기 정보신호는 상기 분할판 C, D, E 및 F 각각에서 검출된 신호를 합산함으로써 검출되고,
    상기 대물렌즈의 틸트신호는 상기 분할판 C와 D 각각에서 검출된 신호의 합신호와 상기 분할판 E와 F 각각에서 검출된 신호의 합신호를 차동함에 의해 검출되는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  19. 소정 파장의 제1광을 생성 조사하는 제1광원과;
    상기 제1광과는 다른 파장의 제2광을 생성 조사함과 아울러, 광기록매체에서 반사된 제2광을 수광하는 광모듈과;
    상기 제1 및 제2광의 진행 경로 상에 마련되는 것으로, 상기 제1 및 제2광의 단면 형상이 원형상이 되도록 입사되는 제1 및 제2광을 정형함과 아울러 입사된 제1 및 제2광의 진행경로를 변환하는 빔정형 빔스프리터와;
    상기 제1광원 및 상기 광모듈 쪽에서 입사된 제1 및 제2광을 집속시켜 광기록매체에 광스폿이 맺히도록 하는 대물렌즈와;
    상기 대물렌즈에 고정 설치되어 상기 대물렌즈의 포커싱 및 트래킹 동작시 상기 대물렌즈와 함께 구동되도록 된 것으로, 입사된 제1광 또는 제2광에 대해 상기 빔정형 빔스프리터 쪽에서 입사된 광의 편광방향에 대해서는 직진 투과시키고, 상기 광기록매체 쪽에서 입사된 광의 편광방향에 대해서는 빔점수차를 발생시키는 제2홀로그램소자와;
    상기 광기록매체에서 반사되고, 상기 대물렌즈 및 상기 빔정형 빔스프리터를 경유하여 입사된 제1광을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 제1메인 광검출기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  20. 제19항에 있어서, 상기 광모듈은,
    상기 제2광을 조사하는 제2광원과;
    상기 제2광원 주변에 마련되어, 상기 광기록매체에서 반사되고 상기 빔정형 빔스프리터를 경유하여 입사된 제2광을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 제2메인 광검출기와;
    상기 제2광원 쪽에서 입사된 제2광은 직진 투과시켜 상기 빔정형 빔스프리터 쪽으로 향하도록 하고, 상기 빔정형 빔스프리터 쪽에서 입사된 광은 회절 투과시켜 상기 제2메인 광검출기로 향하도록 하는 제1홀로그램소자;를 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  21. 제20항에 있어서, 상기 빔정형 빔스프리터는,
    상기 제1 및 제2광원에서 조사된 제1 및 제2광의 광축에 대해 소정 기울기로 경사지게 배치되어 입사광의 대부분을 굴절 투과시킴과 아울러, 상기 광기록매체 쪽에서 입사된 제1광은 상기 제1메인 광검출기 쪽으로 반사시키고, 제2광은 상기 광모듈로 향하도록 굴절 투과시키는 제1면과;
    상기 제1광은 직진 투과시키고 상기 제2광은 대부분 반사시켜, 상기 제1 및 제2광원에서 조사된 제1 및 제2광이 동일 경로로 상기 제1면 쪽으로 향하도록 함과 아울러, 상기 제1면쪽에서 입사된 제2광이 상기 광모듈로 향하도록 하는 제2면;을 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  22. 제21항에 있어서,
    상기 제1광원에서 조사되고, 상기 제1면에서 반사된 제1광을 수광하여 상기 제1광원의 광출력을 모니터링하는 제1모니터용 광검출기;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  23. 제19항 내지 제22항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 빔정형 빔스프리터와 상기 대물렌즈 사이의 광로 상에 배치되어, 상기 빔정형 빔스프리터 쪽에서 입사된 발산광을 집속시켜 평행광이 되도록 하는 콜리메이팅렌즈를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  24. 제19항 내지 제22항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제2홀로그램소자와 상기 대물렌즈 사이의 광로 상에 배치되어, 입사된 제1 및 제2광의 편광 방향을 바꾸어주는 1/4 파장판;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  25. 삭제
  26. 제24항에 있어서,
    상기 제2홀로그램소자와 상기 1/4 파장판은 일체로 형성된 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
  27. 제24항에 있어서,
    상기 제2홀로그램소자는 적어도 2개로 분할된 분할면을 포함하며,
    분할면 중 하나 이상은 양의 비점수차를 발생시키고, 나머지 분할면은 음의 비점수차를 발생시키도록 홀로그램 패턴이 형성된 것을 특징으로 하는 호환형 광픽업장치.
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