CN100428344C - 光拾取装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光拾取装置，其中，利用光将信息记录到记录介质(47)和/或从记录介质(47)将信息再生的光拾取装置(40)所具备的全息元件(43)，具有由与通过物镜透镜(45)聚焦着光的聚焦记录层(47a)不同的记录层(47b)所反射并衍射的衍射光中的至少1级衍射光，向着用于检测焦点位置信息的第1和第2受光元件(46a、46b)以及用于检测跟踪位置信息的第3～第8受光元件(46c～46h)不衍射的第4和第5分割区域(63、64)，从而降低来自与光聚焦的一记录层不同的其他记录层的衍射产生的杂光，能够获得稳定伺服信号的光拾取装置。

Description

光拾取装置

技术领域

本发明涉及一种通过对记录介质进行光照射而执行对信息进行记录处理以及再生处理的至少一方的处理的光拾取装置。

背景技术

作为信息记录再生装置所利用的记录介质具有：由780nm附近的红外波长带的光所记录再生的光盘(Compact Disk；简称CD)；由比CD的记录再生所利用的光的波长更短的波长，具体为650nm附近的红色波长带的光所记录再生的数字化多功能光盘(Digital Versatile Disk：DVD)；由405nm附近的蓝紫色的波长带的光记所录再生的蓝光光盘(Blu-ray Disc(注册商标))等。另外，对利用光的记录介质(以下为“光记录介质”的情况)来说，通用着的是，在1个记录介质中形成多个记录层而通过多层结构来增大记录容量的记录介质。

对光记录介质的信息的再生或记录，如果是再生专用的光记录介质则对形成在记录层的凹凸状的凹坑(pit)照射激光，如果是记录用的光记录介质则对形成在记录层的、由槽间平坦区(land)和沟槽(groove)构成的信息道(track)照射激光，通过受光元件检测出该反射光，并在进行信息的再生或记录的同时检测出伺服信号来执行伺服控制。

但是，在多层结构的光记录介质中，当前并非只有由进行聚焦的聚焦记录层反射的反射光，也产生由聚焦记录层以外的记录层反射的反射光。假若将由聚焦记录层以外的记录层反射的反射光作为杂光，与由聚焦记录层反射的反射光一起入射到作为将反射光导引向受光元件的光分割部的全息元件，并被衍射，进而入射到受光元件，则由于杂光作为噪音起作用，使得伺服控制信号中噪音重叠，从而产生不能稳定进行伺服控制这样的问题。

为此，提出了对在这样多层结构的光记录介质中的信息的记录或再生时所产生杂光问题进行解决的光拾取装置的方案(例如，参照特开2004-303296号公报以及特开2004-288227号公报)。

图15是对现有技术的光拾取装置1的结构简单地进行表示的图。图16是对图15所示的光拾取装置1所具备的全息元件4以及光检测部7的结构简单地进行表示的图。在以下有关光拾取装置1的说明中，将相对于形成在记录介质8中的信息道的切线方向即切向方向定义为X轴方向，将记录介质8的半径方向即径向(radial)方向定义为Y轴方向。还有，所谓记录介质8的半径方向是指沿将从光拾取装置出射的光的光轴和记录介质8的记录面的交点与记录介质8的中心连结的一半径线的方向。另外，径向方向与记录介质8的记录面内切向方向垂直。再有，将与X轴以及Y轴方向垂直的方向即与从光源2出射的出射光的光轴14平行的方向定义为Z轴。

光拾取装置1，包括：对光进行出射的光源2、衍射光栅3、全息元件4、准直透镜5、作为聚焦部的物镜透镜6、以及具有多个受光元件的光检测部7，并执行将信息记录到记录介质8中的处理以及将记录在记录介质8中的信息进行再生的处理的至少一方的处理。

在光源2利用例如半导体激光元件。衍射光栅3将从光源2出射的出射光分割为主光束11、第1和第2亚光束12、13这至少3束的光束。衍射光栅3具有形成有周期凹凸的结构并使出射光衍射而输出多个光束。主光束11是用于取得记录在记录介质8中的信息的主光束，亚光束12、13是用来对主光束11的焦点位置进行控制的亚光束。由衍射光栅3分割的光通过全息元件4，然后通过准直透镜5成为大致平行光并被导引到物镜透镜6。

物镜透镜6使从光源2出射的光聚焦在记录介质8的记录信息的记录层中。该物镜透镜6由未图示的驱动器支撑并按照可分别朝着与出射光的光轴14平行的方向以及垂直的方向移位的方式进行设置。物镜透镜6通过朝与出射光的光轴14平行的方向以及垂直的方向移位，而使出射光相对记录介质8的焦点位置变化。

主光束11和第1以及第2亚光束12、13通过物镜透镜6在记录介质8上被聚焦。而由记录介质8反射的主光束11和第1以及第2亚光束12、13在通过物镜透镜6后，通过准直透镜5被导引到全息元件4。

作为光分割部的全息元件4设置在光检测部7和物镜透镜6之间。全息元件4上形成有：具有用于将来自记录介质8的反射光分割为多束光的多个分割区域的全息图案。

光拾取装置1所具备的全息元件4的全息图案，从Z轴方向一方观察的外形形成为大致圆形。全息元件4的全息图案由第1分割线16分割为第1分割区域21以及残余的分割区域，所述第1分割线16与安装在信息记录再生装置中处于信息的记录或再生状态的记录介质8的半径方向即Y轴方向大致平行，且中央部具有半圆形的曲线部分16a。残余分割区域进而由第2分割线17分割为第2分割区域22和第3分割区域23，所述第2分割线17与相对于记录介质8所形成的信息道的切线方向即X轴方向平行。

第1分割区域21以如下方式进行设计，即在第1分割线16的半圆形曲线部分16a中，具有比连结第1分割线16的两端的假想分割线18更向第2以及第3分割区域22、23侧凸出的半圆形的凸出区域24。因而，第2以及第3分割区域22、23形成为大致1/4圆形的圆环形状。

光检测部7具有8个受光元件7a、7b、7c、7d、7e、7g、7f以及7h。各受光元件7a～7h从Z轴方向一方观察的形状为大致长方形，以长度方向与Y轴方向平行的方式进行配置。在光检测部7中，将受光元件7e、7c、7f、7a、7b、7g、7d、7h顺次在X轴方向排列而设置。在各受光元件7a～7d中，接收主光束11的由记录介质8产生的反射光，在各受光元件7e～7h中，接收亚光束12、13由记录介质8产生的反射光。

如果主光束11由记录介质8产生的反射光入射到全息元件4，则由第1分割区域21产生的衍射光入射到受光元件7a和受光元件7b的边界，由第2分割区域22产生的衍射光入射到受光元件7d，由第3分割区域23产生的衍射光入射到受光元件7c。另外，如果亚光束12、13的由记录介质8产生的反射光入射到全息元件4中，则由第1分割区域21产生的衍射光不入射到受光元件7a和受光元件7b，而入射到受光元件7a和受光元件7b的两侧即不存在受光元件的位置，由第2分割区域22产生的衍射光入射到受光元件7g以及受光元件7h，由第3分割区域23产生的衍射光入射到受光元件7e以及受光元件7f。

用于进行调焦的伺服控制信号即焦点误差信号(Focus Error Signal：简称FES)从由受光元件7a和受光元件7b检测出的信号中生成。用于进行跟踪的伺服控制信号即跟踪误差信号(Tracking Error Signal：简称TES)从由受光元件7c～7h检测出的信号中生成。

所述FES以及TES的生成，表示由来自通过物镜透镜6聚焦着光的聚焦记录层的反射光的信号生成。在记录介质8具有多层结构时，也产生来自聚焦记录层以外的记录层的反射光。

图17是用于对具有2层记录层的记录介质8中的光透射以及反射的概要进行说明的图。在图17中，为了避免麻烦易于理解仅图示有关主光束11的透过以及反射，并且将记录层的折射率设为为与空气相同。在具有2层记录层的记录介质8中，将位于与物镜透镜6接近侧的记录层称为第1记录层25a，将位于远离物镜透镜6侧的记录层称为第2记录层25b。另外，将第1记录层25a和第2记录层25b之间的距离(以下有称为“记录层间距离”的情况)设为td。

从物镜透镜6出射的主光束11由聚焦记录层即第1记录层25a反射，该直接反射光即0级衍射光11a，再次通过物镜透镜6以及准直透镜5，进而由全息元件4所衍射，并入射到光检测部7的各受光元件7a～7d。这与上述情况相同。

但是，主光束11中也具有透过第1记录层25a的成分，透过第1记录层25a后残留的光，入射到第2记录层25b由第2记录层25b上的信息道反射而生成0级衍射光11b以及+1级衍射光11c。在以下的说明中，将+1级衍射光11c的符号“+”省略而进行表示。

由第2记录层25b生成的0级衍射光11b，按照焦点位于从第2记录层25b离开了记录层间距离td量的位置方式，朝向物镜透镜6被反射。0级衍射光11b，以与入射到第2记录层25b的主光束11的入射角度相同的角度，被反射向物镜透镜6。该0级衍射光11b透过第1记录层25a并再次通过物镜透镜6以及准直透镜5，进而比来自第1记录层25a的反射光更进一层地聚焦，而被入射到全息元件4中。

图18是用于对由第2记录层25b产生的衍射光入射到全息元件4以及光检测部7的状态进行说明的图。由第2记录层25b产生的0级衍射光11b，入射到全息元件4中的第1分割区域21的凸出区域24内而形成0级衍射光光斑(spot)26。在光拾取装置1的全息元件4中，按照入射的0级衍射光光斑26不超出到用于生成TES的光衍射的第2以及第3分割区域22、23的方式，来确定把凸出区域24与第2和第3分割区域22、23隔开的半圆形的曲线部分16a的半径。

这样，通过使来自第2记录层25b的0级衍射光11b全部入射到凸出区域24，由于0级衍射光11b不被朝向TES生成用的受光元件7c～7h衍射，进而0级衍射光11b没有作为杂光被接收，从而能够取得，除去了由与聚焦记录层即第1记录层25a不同的第2记录层25b的反射所产生的杂光，的TES。

入射到第1分割区域21所包括的凸出区域24的0级衍射光11b，由第1分割区域21衍射而作为杂光入射到用于生成FES的受光元件7a、7b中，但成为非常模糊的入射光斑27，并且作为杂光入射的光强度分布也扩散，相对于来自第1记录层25a的反射光而言为充分小的信号量，同时FES取得了受光元件7a和受光元件7b的差分(differential)，因此在向受光元件7a、7b的双方入射时，相互抵消而抑制作为噪音的作用。

如图17所示，在透过第1记录层25a由第2记录层25b反射并衍射的光中，不仅存在0级衍射光11b，而且也存在作为高级次衍射光的1级衍射光11c。在此所谓高级次衍射光是指1级以上的高级次衍射光。

比0级衍射光11b衍射级数高的1级衍射光11c，如图18所示那样，作为将所述0级衍射光光斑26夹于其中，并作为与Y轴方向平行的2个第1以及第2光斑28、29入射到全息元件4上。并且，第1光斑28在全息元件4上横跨第1分割区域21和第2分割区域22而入射到第1分割线16上，第2光斑29在全息元件4上横跨第1分割区域21和第3分割区域23而入射到第1分割线16上。由于第1和第2光斑28、29分别入射到，对用于生成TES的光进行衍射的第2分割区域22和第3分割区域23，使得入射到第2以及第3分割区域22、23的光分别被衍射，并被导向TES检测用受光元件7c～7h。

由第2分割区域22衍射的1级衍射光作为较大地扩散的第1入射光斑30照射到受光元件7f、7d、7h，另外由第3分割区域23衍射的1级衍射光作为较大地扩散的第2入射光斑31照射到受光元件7e、7c、7g。受光元件7f、7d、7h和受光元件7e、7c、7g本来是设置用来接收亚光束12、13的。另外，由于亚光束12、13的光强度相对主光束11的光强度低到大致1/10，使得对于由接收亚光束12、13的受光元件所检测的检测输出的信号放大率，设定得比对由接收光束11的受光元件所检测的检测输出的信号放大率大。

因而，由于作为杂光的第1和第2入射光斑30、31的检测信号也被大幅度放大，因此由第2记录层25b衍射的1级衍射光11c即杂光，相对于原始的来自第1记录层的反射光，所起的影响增大，从而产生如下问题，即因杂光产生TES所不需要的噪音成分和偏离(offset)成分，且跟踪伺服(track servo)特性恶化。

也就是，在特开2004-303296号公报中提出的光拾取装置1中，虽然能够排除由聚焦记录层以外的记录层产生的单纯的反射光即0级衍射光的影响，但是仍存在着不能排除由聚焦记录层以外的记录层产生的高级衍射光的影响。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种能够减低由来自与聚焦着光的记录层不同的其他的记录层的衍射所产生的杂光并获得稳定的伺服信号的光拾取装置。

本发明的特征在于，提供一种光拾取装置，通过对具有多层记录信息的记录层的记录介质照射光，而将信息记录到记录介质和/或将信息从记录介质再生，包括：光源，其出射光；聚焦部，其将从光源出射的光聚焦到记录介质的一层记录层，并通过向垂直于出射光光轴的方向变位，而使出射光相对于记录介质的聚焦位置变化；光检测部，其具有多个对由记录介质反射的反射光进行受光的受光元件；以及光分割部，其设置在光检测部和聚焦部之间，具有用于将来自记录介质的反射光向着多个受光元件而衍射的多个分割区域，光分割部，具有使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的衍射光中至少1级衍射光不向着用于检测跟踪位置信息的受光元件而衍射的分割区域，所述跟踪位置信息是与垂直于出射光光轴的方向相关的、出射光相对于记录介质的聚焦位置信息。

根据本发明，光拾取装置所具备的光分割部，具有使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层(以下称为“聚焦记录层”)不同的其他的记录层反射并衍射的衍射光中至少1级衍射光不向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射的分割区域。由此，在具有多个记录层的记录介质中，将来自与聚焦记录层不同的记录层的衍射光中的至少1级衍射光不入射到跟踪误差信号(以下称为“TES”)生成用受光元件中，从而能够防止杂光噪声混入TES中。由此能够生成稳定的TES。

另外，在本发明中，其特征在于，光分割部，进一步具有如下分割区域，其使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的0级衍射光，不向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射的。

根据本发明，光拾取装置所具备的光分割部，具有使由与通过聚焦部聚焦有光的一记录层不同的其他的记录层反射并衍射的衍射光中的0级衍射光不向着用于检测出跟踪位置信息的受光元件而衍射的分割区域。由此，在具有多个记录层的记录介质中，设计为来自与聚焦记录层不同的记录层的衍射光中的0级衍射光不入射到TES生成用受光元件中，从而能够防止杂光噪声混入TES中。由此能够生成稳定的TES。

另外，在本发明中，其特征在于，光分割部具有如下分割区域：其能够对由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的衍射光中的0级衍射光入射而形成的光斑、即垂直于出射光光轴的方向的位置随着聚焦部向垂直于出射光光轴的方向的变位而变动的光斑，与该位置无关地包含。

根据本发明，光分割部具有如下分割区域：其能够对由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的衍射光中的0级衍射光入射而形成的光斑、即垂直于出射光光轴的方向的位置随着聚焦部向垂直于出射光光轴的方向的变位而变动的光斑，与该位置无关地包含。这样，即使对于由于记录介质的旋转中心和记录介质的信息道中心的偏心而使物镜透镜在记录介质的半径方向即径向方向移位时的移位量较大的情况，因为来自与聚焦记录层不同的其他的记录层的0级衍射光以及1级衍射光的双方不入射到TES生成用受光元件中，因此能够防止杂光噪声混入TES中，从而能够生成稳定的TES。

另外，在本发明中，其特征在于，光分割部，具有：由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的至少1级衍射光所入射的分割区域。

根据本发明，由于光分割部，具有：由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的至少1级衍射光所入射的分割区域，因此来自与聚焦记录层不同的记录层的0级衍射光以及1级衍射光的双方不入射到TES生成用受光元件中，能够防止杂光噪声混入TES中，由此能够稳定地生成TES。

另外，在本发明中，其特征在于，

光分割部，光分割部以如下方式形成，即，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的0级衍射光入射的分割区域与高级次衍射光入射的分割区域不同。

根据本发明，由于光分割部以如下方式形成，即，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的0级衍射光入射的分割区域与高级次衍射光入射的分割区域不同，因此能够仅使来自与聚焦记录层不同的其他的记录层的高级次衍射光向生成焦点误差信号(以下称为“FES”)和ES的受光元件不存在的位置分离并入射，从而能够稳定地生成TES。

另外，在本发明中，其特征在于，光分割部的、高级次衍射光所入射的分割区域，不对高级次衍射光进行衍射，而使之透过。

根据本发明，由于光分割部的、高级次衍射光所入射的分割区域，不对高级次衍射光进行衍射而使之透过，从而能够稳定地生成TES。

另外，在本发明中，其特征在于，光分割部的、高级次衍射光所入射的分割区域，使高级次衍射光至少向着跟踪误差信号生成用受光元件不存在的位置衍射。

根据本发明，由于光分割部的、高级次衍射光所入射的分割区域，使高级次衍射光至少向着跟踪误差信号生成用受光元件不存在的位置衍射，从而能够稳定地生成TES。

另外，在本发明中，其特征在于，光分割部以如下方式形成，即，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的衍射光中的0级衍射光入射的分割区域和高级次衍射光入射的分割区域相同。

根据本发明，由于光分割部以如下方式形成，即，使由与聚焦记录层不同的其他记录层反射并衍射的衍射光中的0级衍射光入射的分割区域和高级次衍射光入射的分割区域相同，因而将由0级衍射光和高级次衍射光入射的分割区域所被衍射并入射的位置，设为不存在生成FES和TES的受光元件的位置，从而能够稳定地生成FES以及TES。

另外，在本发明中，其特征在于，光检测部进一步包括：用于检测焦点位置信息的受光元件和用于检测跟踪位置信息的受光元件以外的信息检测用受光元件，所述焦点位置信息是与平行于出射光的光轴的方向相关的、出射光相对于记录介质的焦点位置的信息，

光分割部，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的高级次衍射光，向着信息检测用受光元件而衍射。

根据本发明，由于光检测部包括：用于检测焦点位置信息的受光元件和用于检测跟踪位置信息的受光元件以外的信息检测用受光元件，所述焦点位置信息是与平行于出射光的光轴的方向相关的、出射光相对于记录介质的焦点位置的信息，光分割部，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的高级次衍射光，向着信息检测用受光元件而衍射。所以，将由信息检测用受光元件检测出的信息用作信息再生信号即RF信号，从而能够防止RF信号精度的降低。

另外，在本发明中，其特征在于，进一步包括将从光源出射的光分离为至少主光束和2束亚光束的衍射元件，光分割部具有如下分割区域：其使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的主光束和亚光束的0级衍射光和高级次衍射光，不向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射。

根据本发明，由于光分割部具有如下分割区域：其使由与聚焦记录层不同的其他记录层反射并衍射的主光束和亚光束的0级衍射光和高级次衍射光，不向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射。所以，能够使所述0级衍射光和高级次衍射光不向着用于生成TES的受光元件入射，从而能够稳定地生成TES。

另外，在本发明中，其特征在于，进一步包括将从光源出射的光分离为至少主光束和2束亚光束的衍射元件，光分割部具有如下分割区域：其使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的主光束和亚光束的0级衍射光和主光束的高级次衍射光，不向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射。

根据本发明，由于光分割部具有如下分割区域：其使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的主光束和亚光束的0级衍射光和主光束的高级次衍射光，不向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射。因此能够抑制来自聚焦记录层的反射光引起的TES和RF信号的S/N的降低。

另外，在本发明中，其特征在于，在对聚焦部的光学轴和来自光源的出射光的光轴处于同轴的中立位置进行包含的可动范围内，在垂直于出射光光轴的方向可变位地设置聚焦部，

光分割部具有：跟踪用分割区域和聚焦用分割区域，所述跟踪用分割区域对用来取得跟踪位置信息的光进行分割，所述聚焦用分割区域对用于取得焦点位置信息的光进行分割，所述焦点位置信息是与平行于出射光光轴的方向相关的、出射光相对于记录介质的聚焦位置信息，

跟踪用分割区域，夹着不将所述1级衍射光向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射的分割区域，而形成在其两侧。

根据本发明，聚焦部，在对聚焦部的光学轴与来自光源的出射光的光轴为同轴的中立位置进行包含的可动范围内，在垂直于出射光光轴的方向可变位地设置聚焦部。光分割部具有：跟踪用分割区域和聚焦用分割区域，所述跟踪用分割区域对用来取得跟踪位置信息的光进行分割，所述聚焦用分割区域对用于取得焦点位置信息的光进行分割，所述焦点位置信息是与平行于出射光光轴的方向相关的、出射光相对于记录介质的聚焦位置信息。

由于光分割部中跟踪用分割区域，夹着不将由与聚焦记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的1级衍射光向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射的分割区域，而形成在其两侧。因而增加TES强度特别是亚光束的光强度，由此能够提高TES特性。

另外，在本发明中，其特征在于，跟踪用分割区域，夹着不将所述1级衍射光向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射的分割区域，并形成在，聚焦部处于中立位置的状态时通过入射到光分割部的反射光的光轴并在光分割部上相对于记录介质的径向方向平行的一假想直线的两侧。

根据本发明，由于光分割部中跟踪用分割区域，夹着不将所述1级衍射光向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射的分割区域，并形成在，聚焦部处于中立位置的状态时通过入射到光分割部的反射光的光轴并在光分割部上相对于记录介质的径向方向平行的一假想直线的两侧。所以，能够增加TES强度特别是亚光束的光强度，从而提高TES特性。

另外，在本发明中，其特征在于，聚焦用分割区域，以包含聚焦部处于中立位置的状态时入射到光分割部的反射光的光轴的方式，而形成。

根据本发明，由于聚焦用分割区域，以包含聚焦部处于中立位置的状态时入射到光分割部的反射光的光轴的方式，而形成。所以能够使由与聚焦记录层不同的其他的记录层反射并衍射的0级衍射光朝向聚焦用分割区域入射。由此，能够防止TES中混入由所述0级衍射光产生的杂光噪声，从而稳定地生成TES。

另外，在本发明中，其特征在于，光分割部具有：形成在一假想直线上的分割区域，所述分割区域既不将所入射的光向着对用来取得跟踪位置信息的光进行受光的受光元件进行衍射，也不向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件进行衍射。

根据本发明，由于光分割部具有：形成在一假想直线上的分割区域，所述分割区域既不将所入射的光向着对用来取得跟踪位置信息的光进行受光的受光元件进行衍射，也不向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件进行衍射。由此，来自与聚焦记录层不同的其他的记录层的反射光引起的所谓杂光，不入射到TES和FES生成用受光元件，从而能够防止杂光噪音混入TES和FES中，能够稳定地生成TES和FES。

另外，在本发明中，其特征在于，光分割部具有：形成在一假想直线上的分割区域，即将入射的光向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件衍射的分割区域。

根据本发明，光分割部具有：形成在一假想直线上的分割区域，即将入射的光向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件(以下存在称为“焦点位置信息取得用的受光元件”的情况)衍射的分割区域。由此，即使在由与聚焦记录层不同的其他的记录层反射并衍射的光入射到形成在一假想直线上的分割区域的情况下，由于使该光朝向焦点位置信息取得用受光元件入射，而不向着对用来取得跟踪位置信息的光进行受光的受光元件入射，从而能够防止TES中混入杂光噪音，能够稳定地生成TES。

另外，在本发明中，其特征在于，进一步包括将从光源出射的光分离为至少主光束和2束亚光束的衍射元件，光分割部，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的主光束的高级次衍射光，向着形成在光分割部的一假想直线上的分割区域入射，所述分割区域既不使光向着对用来取得跟踪位置信息的光进行受光的受光元件进行衍射，也不向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件进行衍射。

根据本发明，光分割部，使由与聚焦记录层不同的其他记录层反射并衍射的主光束的高级次衍射光，既不向着对用来取得跟踪位置信息的光进行受光的受光元件进行衍射，也不向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件进行衍射的分割区域衍射。由此，来自与聚焦记录层不同的其他的记录层的反射光引起的所谓杂光不入射到TES和FES生成用受光元件，从而能够防止TES和FES中混入杂光噪音，能够稳定地生成TES和FES。

另外，在本发明中，其特征在于，进一步包括将从光源出射的光分离为至少主光束和2束亚光束的衍射元件，

光分割部，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他的记录层所反射并衍射的主光束和亚光束的高级次衍射光，向着形成在光分割部的一假想直线上的分割区域入射，所述分割区域既不使光向着对用来取得跟踪位置信息的光进行受光的受光元件衍射，也不向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件衍射。

根据本发明，光分割部，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他的记录层所反射并衍射的主光束和亚光束的高级次衍射光，向着形成在光分割部的一假想直线上的分割区域入射，所述分割区域既不使光向着对用来取得跟踪位置信息的光进行受光的受光元件衍射，也不向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件衍射。由此，来自与聚焦记录层不同的其他的记录层的反射光引起的所谓杂光不入射到TES和FES生成用受光元件，从而能够防止TES和FES中混入杂光噪声，能够稳定地生成TES和FES。

另外，在本发明中，其特征在于，光分割部因入射的光的偏振方向而衍射效率不同。

根据本发明，由于光分割部构成为因入射的光的偏振方向而衍射效率不同。因此对来自光源的出射光大约100％透过，而将由记录介质反射的反射光的偏振方向通过偏振片进行改变，可以仅使反射光衍射。由此，能够提高光的利用效率。

附图说明

本发明的目的、特色和优点根据下述的详细说明和附图会更明确。

图1是对作为本发明第1实施方式的光拾取装置的结构进行简单表示的图。

图2是表示光拾取装置所具备的全息元件和光检测部的结构的图。

图3是用于对来自位于物镜透镜侧的、与聚焦记录层不同的其他记录层的衍射光入射到全息元件并被衍射的概要进行说明的图。

图4是表示作为本发明第2实施方式的光拾取装置所具备的全息元件的结构的图。

图5是表示作为本发明第3实施方式的光拾取装置所具备的全息元件和光检测部的结构的图。

图6是表示作为本发明第4实施方式的光拾取装置所具备的全息元件和光检测部的结构的图。

图7是表示作为本发明第5实施方式的光拾取装置所具备的全息元件的结构的图。

图8是表示由全息图案分割的光朝向光检测部入射的概要的图。

图9是表示全息图案中入射杂光的状态的图。

图10是表示作为本发明第6实施方式的光拾取装置所具备的全息元件的结构的图。

图11是表示作为本发明第7实施方式的光拾取装置所具备的全息元件的结构的图。

图12是表示作为本发明第8实施方式的光拾取装置所具备的全息元件的结构的图。

图13是表示作为本发明第9实施方式的光拾取装置所具备的全息元件的结构的图。

图14是表示作为本发明第10实施方式的光拾取装置所具备的全息元件的结构的图。

图15是对现有技术的光拾取装置的结构进行简化而表示的图。

图16是对图15所示的光拾取装置所具备的全息元件和光检测部的结构进行简化而表示的图。

图17是用于说明具有2层记录层的记录介质中的光的透射和反射的概要的图。

图18是用于说明由第2记录层产生的衍射光入射到全息元件元件和光检测部的状态的图。

具体实施方式

下面，参照附图对本发明的优选实施方式详细地进行说明。

以下，对用于实施本发明的多个实施方式进行说明。在各实施方式中，有时对与先执行的实施方式中说明的事项对应的部分赋予同一参考符号，并省略重复说明。在仅对结构的一部分进行说明的情况下，结构的其他部分则与先执行并说明的实施方式同样。

图1是对作为本发明第1实施方式的光拾取装置40的结构简单地进行表示的图。图2是表示光拾取装置40所具备的全息元件43和光检测部46的结构的图。在以下的实施方式中，将相对于形成在光盘状记录介质(以下简单称为“记录介质”)47中的信息道的切线方向即切向方向定义为X轴方向，将记录介质47的半径方向即径向方向定义为Y轴方向。还有，所谓记录介质47的半径方向，是指将从光拾取装置40出射的光的光轴和记录介质47的记录面的交点，与记录介质47的中心连结的一半径线的方向。另外，径向方向在记录介质47的记录面内与切向方向垂直。再有，将与X轴和Y轴方向垂直的方向即与从光源41出射的出射光的光轴54平行的方向，定义为Z轴。X轴方向、Y轴方向和Z轴方向构成相互正交的3维正交坐标系统。

光拾取装置40，通过对光盘(Compact Disk：CD)和数字化多功能光盘(Digital Versatile Disk：DVD)等的记录介质47进行光照射，来执行将记录在记录介质47中的信息进行再生的处理，和将信息记录到记录介质47中的处理的至少一方的处理。

光拾取装置40包括如下构件而构成：将光出射的光源41、衍射光栅42、全息元件43、准直透镜44、物镜透镜45、具有多个受光元件的光检测部46。光源41通过半导体激光部件来实现。作为衍射元件的衍射光栅42将从光源41出射的出射光分割为主光束51和第1以及第2亚光束52、53这至少3束光束。衍射光栅42具有形成有周期凹凸的构造并使出射光衍射而输出多个光束。主光束51是用于取得记录在记录介质47中的信息的主光束，第1和第2亚光束52、53是用来对主光束51的焦点位置进行控制的亚光束。由衍射光栅42分割的光通过全息元件43，然后通过准直透镜44而成为大致平行光并被导引到物镜透镜45。

作为聚焦部的物镜透镜45使从光源41出射的光聚焦到记录介质47的对信息进行记录的记录层上。该物镜透镜45由未图示的驱动器支撑，并以如下方式进行设置，即可分别向与出射光的光轴54平行的方向即相对于记录介质47的记录层垂直的方向即聚焦方向，以及与出射光的光轴54垂直的切向方向移位。物镜透镜45通过朝所述聚焦方向以及径向方向移位，而使出射光相对记录介质47的焦点位置变化。

主光束51以及第1和第2亚光束52、53通过物镜透镜45在记录介质47上被聚焦。而由记录介质47反射的主光束51与第1和第2亚光束52、53在通过物镜透镜45后，通过准直透镜44而被导引到全息元件43。

作为光分割部的全息元件43设置在光检测部46和物镜透镜45之间的光路上。全息元件43上形成有具有用于将来自记录介质47的反射光分割为多个光的多个分割区域的全息图案。

全息元件43的全息图案，从Z轴方向一方观察的外形形成为大致圆形。全息元件43的全息图案由第1分割线55分割为第1分割区域60以及残余的分割区域，该第1分割线55与记录介质47的半径方向即Y轴方向大致平行，且中央部具有半圆形的曲线部分55a。第1分割区域60以具有半圆形的凸出区域65的方式而形成，所述凸出区域65，在第1分割线55的半圆形曲线部分55a中比连结第1分割线55的两端的假想分割线56更向所述残余的分割区域侧凸出。

所述残余分割区域由第2分割线57a、57b分割为在Y轴方向并列排列的2个分割区域即第4分割区域63和第5分割区域64、以及再次分割区域。所述第2分割线57a、57b与Y轴方向平行，并且在X轴方向从第1分割线55的直线部分远离间隔G1。并且，第2分割线57a、57b以靠接在形成有凸出区域65的第1分割线55的曲线部分55a的方式分离为2根而形成。

所述进一步形成的残余分割区域由与X轴方向平行的第3分割线58，进一步分割为第2分割区域61和第3分割区域62。因而，全息元件43以具有5个分割区域、具体而言第1～第5分割区域60～64的方式而形成。由于全息元件43的各分割区域60～64使光衍射的方向不同，因此形成全息图案的凹凸的方向、形状和间距不同。

首先，对全息元件43的衍射动作进行说明，所述全息元件43的衍射动作与来自通过物镜透镜45而聚焦有光的一记录层(以下存在称为“聚焦记录层”的情况)的反射光相对应。由聚焦记录层反射而入射到全息元件43的主光束51，借助于第1分割区域60，向着第1受光元件46a和第2受光元件46b的边界而被衍射，并借助于第2分割区域61，向着第4受光元件46d而被衍射并被入射到第2入射点67，借助于第3分割区域62向着第3受光元件46c而被衍射，并被入射到第3入射点68，并借助于第4和第5分隔区域63、64入射到不存在受光元件位置即第4入射点69。

由聚焦记录层反射而入射到全息元件43的第1和第2亚光束52、53，由第1分割区域60所反射，并入射到位于第1受光元件46a和第2受光元件46b的两侧且不存在受光元件的位置，借助于第2分割区域61向着第6受光元件46f和第8受光元件46h而被衍射，并被入射，借助于第3分割区域62向着第5受光元件46e和第7受光元件46g而被衍射，并入射，借助于第4和第5分割区域63、64，与主光束51同样地，被照射到不存在受光元件的位置即第4入射点69附近。

接着，基于来自聚焦记录层的反射光，例如对光拾取装置40的信息再生动作进行说明。光源41，被利用在例如DVD的再生中，并出射波长650nm的红色光。由光源41出射的出射光，因通过衍射光栅42，而分离为主光束51以及第1和第2亚光束52、53。在以下的说明中，存在着将主光束51和第1以及第2亚光束52、53简单地称为“光”的情况。由衍射光栅42衍射的光，通过全息元件43而入射到准直透镜44。入射到准直透镜44的光成为大致平行的光，通过物镜透镜45而聚焦在记录介质47的一记录层上。此时，主光束51在主信息道上聚焦，第1以及第2亚光束52、53在副信息道上聚焦。

由记录介质47中的聚焦记录层的主信息道以及副信息道反射的反射光，再次通过物镜透镜45、准直透镜44而入射到全息元件43，如前述那样由各分割区域60～64衍射，进而入射到受光元件上或不存在受光元件的位置。从入射到受光元件的反射光中读取信号信息。

在本实施方式中，根据由来自聚焦记录层的反射光所入射的各受光元件46a～46h而获得的光信号，通过未图示的信号生成部生成焦点误差信号(简称：FES)、跟踪误差信号(简称：TES)以及信息再生(简称：RF)信号。通过信号生成部中的伺服信号生成部生成FES以及TES。根据这些伺服信号，未图示的伺服信号处理部执行聚焦伺服控制以及跟踪伺服控制，并对记录介质47的聚焦记录层中的规定信息道，以跟踪由物镜透镜45产生的焦点的方式，进行搭载在驱动器上的物镜透镜45的聚焦方向和跟踪方向的位置控制。

如果将由第1受光元件46a检测出的信号设为Sa，将由第2受光元件46b检测出的信号设为Sb，则FES由式(1)赋予：

FES＝Sa-Sb    …(1)

式(1)是指在全息元件43中，利用将包括曲线部分55a的第1分割线55作为边界的刀刃(knife edge)，而根据刀刃法进行聚焦伺服控制。但是，由于第1分割区域60具有凸出为半圆状的凸出区域65，因此与没有凸出区域65凸出的情况相比，FES的振幅减小并且产生正成分和负成分的不平衡。进一步，如果第1分割线55沿X轴方向移动，则FES的信号振幅和正负成分的平衡恶化。

因而，在本实施方式的全息元件43中，为了防止FES的振幅的缩小和失衡，而将第1分割线55设定为，通过入射到全息元件43的反射光光斑70的光轴71，并位于在Y轴方向延伸的轴线α上。

在TES的检测中利用相位差(Differential Phase Detection：DPD)法时，如果将由第3受光元件46c检测出的信号设为Sc，将由第4受光元件46d检测出的信号设为Sd，则TES由式(2)赋予：

TES(DPD)＝Sc-Sd    …(2)

这是利用了使由形成在记录介质47的记录层的凹坑衍射的±1级的凹坑衍射光叠加在反射光光斑70上并进行干涉，而形成明暗图案即+1级的凹坑衍射光70a和-1级的凹坑衍射光70b。

也就是说，在激光与凹坑的中心一致的情况下，由于±1级的凹坑衍射光70a、70b，形成在全息元件43中关于所述光轴71相互对称的位置，因此由TES检测用受光元件输出的信号的相位差为0。与此相对，在激光从凹坑的中心偏离的情况下，由于+1级的凹坑衍射光70a和由凹坑反射的0级衍射光即反射光光斑70的干涉程度，与-1级的凹坑衍射光70b和所述反射光光斑70的干涉程度不同，使得从TES检测用受光元件输出的信号产生相位差。其结果意味着：根据由第3受光元件46c和第4受光元件46d检测出的主光束51的相位差，获得表示激光在径向方向即Y轴方向从信号凹坑以何种程度偏离的TES。

在TES的检测中利用差分推挽法(Differential Push Pull：DPP)时，如果分别将由第3～第8受光元件46c～46h检测出的信号设为Sc、Sd、Se、Sf、Sg、Sh，则TES由式(3)赋予：

TES(DPP)＝(Sc-Sd)-k×{(Se-Sf)+(Sg-Sh)}

…(3)

式(3)的第1项(Sc-Sd)是主光束51的推挽信号，第2项(Se-Sf)和(Sg-Sh)是第1和第2亚光束52、53的推挽信号。k是主光束51与第1和第2亚光束52、53的光强度比，能够根据衍射光栅42的凹凸的深度来决定。另外，在利用DPP法时，从第1和第2亚光束52、53获得的推挽信号的相位，相对于从主光束51获得推挽信号，需要移相180度，因此以如下方式来确定衍射光栅42的凹凸的间距：即例如相对于聚焦在记录介质47的成为主信息道的槽间平坦区域的主光束51，第1和第2亚光束52、53聚焦到成为其邻接的信息道的沟槽。

基于由式(1)获得的FES进行聚焦伺服控制，基于由式(2)或式(3)获得的TES进行跟踪伺服控制。由此能够使从光源41出射的光聚焦到记录介质47的规定信息道中。

作为信息再生信号的RF信号，根据由第1～第4受光元件46a～46d检测出的信号Sa、Sb、Sc、Sd，由式(4)赋予：

RF＝Sa+Sb+Sc+Sd    …(4)

接着，对与由不同于聚焦记录层的其他记录层所衍射的0级衍射光和高级次衍射光相对应的全息元件43的衍射动作进行说明。在以下的说明中，高级次衍射光中仅对比0级衍射光衍射级数高的1级衍射光进行说明。

图3是用于对来自与位于位于物镜透镜45侧的聚焦记录层不同的其他的记录层的衍射光入射到全息元件43被衍射的概要进行说明的图。由与聚焦记录层(以下存在称为“第1记录层”的情况)不同的其他的记录层(以下存在称为“第2记录层”的情况)衍射的0级衍射光，入射到全息元件43中的来自第1记录层的反射光的光轴71附近，即第1分割区域60的凸出区域65所包括的位置而成为主光束51的0级衍射光光斑75。此时，通过按照不仅将主光束51的0级衍射光、也将第1和第2亚光束52、53的0级衍射光入射到未图示的第1分割区域60的凸出区域65中的方式，来决定形成有凸出区域65的第1分割线55的半圆形的曲线部分55a的半径，由此由第2记录层衍射的0级衍射光借助于第1分割区域60而向着第1和第2受光元件46a、46b衍射。这样，因为由第2记录层衍射的0级衍射光不作为杂光入射到用于生成TES的第3～第8受光元件46c～46h，所以，能够使TES中不包括由0级衍射光产生的噪音。

另外，第1分割区域60的凸出区域65的大小通过考虑以下各点来决定。若将第1记录层和第2记录层之间的折射率设为nd，将记录层间的厚度尺寸设为td，则由于在折射率nd为最大并且厚度尺寸td为最小时，由第2记录层产生的0级衍射光光斑75成为最大，从而按照也能够包含成为该最大的0级衍射光光斑75的方式，来确定第1分割区域60的凸出区域65的大小、即第1分割线55的曲线部分55a的半径。

再有，根据物镜透镜45向Y轴方向的移位，按照对Y轴方向中的位置变动了的0级衍射光光斑75，无论该移动位置如何仍然能够包括的方式，来确定第1分割线55的曲线部分55a的半径。凸出区域65的大小，并非限定于使第1分割线55的曲线部分55a的半径变化，也可以按照能够将Y轴方向中的位置变动的0级衍射光光斑75包括的方式，将凸出区域65的形状形成为在Y轴方向延伸的半椭圆形状。

并且，凸出区域65的形状并非限定于半圆形、半椭圆形，只要设计为由第2记录层衍射的0级衍射光光斑75，不从第1分割区域60露出，并不入射到第3～第8受光元件46c～46h的任何一方的形状尺寸即可。或者即使在一部分入射到第3～第8受光元件46c～46h的情况下，如果由该入射产生的感光量相比于由第1记录层的反射光产生的感光量充分小，则也不限定于所述的形状。

由第2记录层衍射的0级衍射光，作为杂光入射到用于生成FES的第1和第2受光元件46a、46b中，但成为非常模糊的入射光斑78，不仅作为杂光入射的光强度分布，并且光量相对于来自第1记录层的反射光非常小，另外，至于FES，由于取得了第1受光元件46a和第2受光元件46b的差分(differential)，在向双方进行入射时，相互抵消而难以成为噪音。

然后，由第2记录层衍射的主光束51的1级衍射光，作为将主光束51的0级衍射光光斑75夹于其中并与Y轴方向平行的1级衍射光的第1光斑76和1级衍射光的第2光斑77入射到全息元件43上。1级衍射光的第1光斑76在全息元件43上横跨第1分割区域60和第4分割区域63而入射到也与轴线α一致的直线即第1分割线55上。1级衍射光的第2光斑77在全息元件43上横跨第1分割区域60和第5分割区域64而入射到也与轴线α一致的直线即第1分割线55上。

由第2记录层衍射的1级衍射光所入射的全息元件43的第4和第5分割区域63、64，是不向着第1和第2受光元件46a、46b以及第3～8受光元件46c～46h衍射的分割区域，所述第1和第2受光元件46a、46b用于对与平行于出射光的光轴54的方向相关的、出射光相对于记录介质47的焦点位置的信息即焦点位置信息进行检测，第3～8受光元件46c～46h用于对与出射光的光轴54垂直的方向相关的、出射光相对于记录介质47的焦点位置的信息即跟踪位置信息进行检测。

第4和第5分割区域63、64，将由第2记录层产生的主光束51以及第1和第2亚光束52、53的任何一个未图示的1级衍射光，朝向受光元件不存在的位置衍射而形成1级衍射光入射光斑79。由第2记录层衍射的1级衍射光中入射到第1分割区域60的主光束51的1级衍射光，向着第1和第2受光元件46a、46b而被衍射，第1和第2亚光束52、53的1级衍射光向着第1受光元件46a和第2受光元件46b的两侧即受光元件不存在的位置衍射。

这样，光拾取装置40的全息元件43以如下方式而形成，即具有将第4和第5分割区域63、64，所述第4和第5分割区域64，不使由第2记录层产生的主光束51以及第1和第2亚光束52、53的1级衍射光向着用于生成TES的第3～8受光元件46c～46h衍射。因而，因为由第2记录层衍射的1级衍射光不作为杂光入射到用于生成TES的第3～8受光元件46c～46h，所以，能够实现TES中不包括由第2记录层所衍射的1级衍射光所产生的噪音，从而可以稳定地生成TES。

接着，对第4和第5分割区域63、64的大小进行说明。如果第1分割线55的直线部分和第2分割线57a、57b的间隔，换言之轴线α和第2分割线57a、57b的间隔G1太大，则来自第1记录层的反射光的光量也减少，TES和RF信号的振幅也减少，使得该大小存在某程度的限制。

但是，对于横跨与轴线α一致的直线即第1分割线55而入射的光，也就是由第2记录层衍射的主光束51以及第1和第2亚光束52、53的1级衍射光中第1和第2亚光束52、53的1级衍射光，如果考虑第1和第2亚光束52、53相对于主光束51的光量比，以及1级衍射光相对由信息道产生的0级衍射光的衍射效率比的双方，则相对于来自第1记录层的反射光的光量充分小，其所起影响也小。

因而，在决定所述间隔G1的大小的始终，按照第4和第5分割区域63、64能够将由第2记录层衍射的3束的1级衍射光中至少主光束51的1级衍射光的入射光光斑包含的方式而设计，对于第1和第2亚光束52、53的1级衍射光的入射光斑，即使某种程度地不被包括，通过将间隔G1确定为不得已的大小，而抑制由第1记录层反射的0级衍射光的信号量的减少，由此能够抑制TES和RF信号的振幅减少。

并且，在本实施方式的全息元件43中，即使物镜透镜45沿Y轴方向移动，也按照入射到全息元件43的主光束51的1级衍射光的第1和第2光斑76、77不入射到第2和第3分割区域61、62的方式，将第4和第5分割区域63、64形成得以到达全息图案的最外周为止。但是，例如如果物镜透镜45，为了因记录介质47的旋转中心和信息道的偏心而对信息道进行追随，从而相对于全息元件43上形成全息图案的最外周的圆的半径，沿Y轴方向移动，而1级衍射光的第1和第2光斑76、77朝全息图案的最外周方向移动后的光斑移动量变小，则第4和第5分割区域63、64不限定于本实施方式的形状，也可以为不到达全息图案的最外周的形状。另外，第2分割线57a、57b也可以形成为，随着向全息图案的外周接近而间隔G1变狭窄的直线或曲线形状。

通过将全息元件43构成为具有所述那样的5个分割区域60～64的结构，能够在来自物镜透镜45的入射光聚焦到第1记录层时，使由第2记录层衍射的0级衍射光和1级衍射光成为杂光，从而降低入射到生成TES的第3～第8受光元件46c～46h的量。由此，能够减低TES中包含的杂光噪声并生成稳定的TES，并可以稳定地进行跟踪伺服控制。进一步，也能够抑制FES的振幅及其正负成分的平衡恶化，从而可以稳定地进行聚焦伺服控制。

图4是表示本发明的第2实施方式的光拾取装置所具备的全息元件81的结构的图。由于本实施方式的光拾取装置与所述第1实施方式的光拾取装置40类似，从而仅对不同的部分进行说明，而对与第1实施方式对应的部分赋予同一参考符号并省略共同的说明。

本实施方式的光拾取装置，代替所述第1实施方式的全息元件43，具备另外的全息元件81。本实施方式的全息元件81，按照如下方式来形成，即由第2记录层衍射的1级衍射光所入射的第4和第5分割区域82、83不使1级衍射光衍射，而透过。也就是，第4和第5分割区域82、83并非形成为用于使光衍射的凹凸形状，而是使入射的由第2记录层衍射的1级衍射光特别是主光束51的1级衍射光原样透过，并不入射向用于生成TES的第3～8受光元件46c～46h。由此，本实施方式的光拾取装置能够获得与所述第1实施方式的光拾取装置40相同的效果。

图5是表示本发明的第3实施方式的光拾取装置所具备的全息元件43和光检测部85的结构的图。由于本实施方式的光拾取装置与所述第1实施方式的光拾取装置40类似，从而仅对不同的部分进行说明，而对与第1实施方式对应的部分赋予同一参考符号并省略共同的说明。

本实施方式的光拾取装置，代替所述第1实施方式的光检测部46，具备另外的光检测部85而构成。本实施方式的光检测部85，除用于检测焦点位置信息的第1和第2受光元件85a、85b以及用于检测跟踪位置信息的第3～第8受光元件85c～85h以外，还包括信息检测用受光元件85i，全息元件43的第4和第5分割区域63、64，将与光通过物镜透镜45而聚焦有光的第1记录层不同的第2记录层所反射并衍射的衍射光中的1级衍射光，向着信息检测用受光元件85i衍射。

也就是说，信息检测用受光元件85i，按照如下方式设置，即从Z轴方向一方观察时，在用于检测焦点位置信息的第1和第2受光元件85a、85b和全息元件43之间，相对于第1和第2受光元件85a、85b在Y轴方向排列，并位于由第4和第5分割区域63、64衍射的光进行聚焦入射的第4入射点69。但是，信息检测用受光元件85i的位置位于85a～85h以外的位置也可，而不限于上述例示。

在本实施方式中，将由第4和第5分割区域63、64衍射、由信息检测用受光元件85i检测出的信号作为RF信号进行利用。因而，如果将由第1～第4受光元件85a～85d和信息检测用受光元件85i检测出的信号分别设为Sa、Sb、Sc、Sd、Si，则RF信号由式(5)赋予：

RF＝Sa+Sb+Sc+Sd+Si    …(5)

由此，本实施方式的光拾取装置，不仅能够获得与所述第1实施方式的光拾取装置40相同的效果，而且由于将由第4和第5分割区域63、64产生的衍射光作为RF信号有效地进行利用，从而能够获得质量优异的RF信号，并能够实现稳定的信息再生。

图6是表示本发明的第4实施方式的光拾取装置所具备的全息元件91和光检测部85的构成。由于本实施方式的光拾取装置与所述第3实施方式的光拾取装置类似，从而仅对不同的部分进行说明，而对与第1实施方式对应的部分赋予同一参考符号并省略共同的说明。

本实施方式的光拾取装置，作为所述第3实施方式的全息元件43的替代，具备另外的全息元件91。本实施方式的全息元件91，按照如下方式形成，即由与通过物镜透镜45聚焦的第1记录层不同的第2记录层所衍射的衍射光中，0级衍射光所入射的分割区域和1级衍射光所入射的分割区域成为相同区域。也就是说，全息元件91的全息图案从Z轴方向一方进行观察的外形形成为大致圆形，通过与Y轴方向大致平行即与轴线α也一致的直线即第1分割线92，分割为半圆形状的第1分割区域95和残余的分割区域。

残余的分割区域，借助于与Y轴方向平行并且在X轴方向从第1分割线92离开间隔G1而形成的第2分割线93，分割为第4分割区域96和再次残余分割区域。第2分割线93，具有比连结其两端的假想分割线94更向所述再次残余分割区域侧凸出的弓形曲线部分93a。第4分割区域96，通过第2分割线93的弓形曲线部分93a，形成为具有向再次分割区域凸出的凸出区域97。

再次残余分割区域，与所述第1～第3实施方式同样地通过与X轴方向平行的第3分割线58，进一步分割为第2分割区域61和第3分割区域62。因而，全息元件91形成为具有4个分割区域，具体而言为第1分割区域95、第2分割区域61、第3分割区域62和第4分割区域96。

本实施方式的全息元件91，具有第4分割区域96，其作为将所述第3实施方式的全息元件43中的第4和第5分割区域63、64与第1分割区域60的半圆形凸出区域65组合的形状的分割区域。

由第2记录层衍射的0级衍射光和1级衍射光入射到全息元件91的第4分割区域96上。第4分割区域96，使由第2记录层衍射的0级衍射光和1级衍射光朝向光检测部85的信息检测用受光元件85i衍射并入射。由信息检测用受光元件85i接收的光，与所述第3实施方式同样地被利用为RF信号。因而，即使在本实施方式的光拾取装置中，如果将由第1～第4受光元件85a～85d以及信息检测用受光元件85i检测出的信号分别设为Sa、Sb、Sc、Sd、Si，则RF信号由式(6)赋予：

RF＝Sa+Sb+Sc+Sd+Si    …(6)

由此，本实施方式的光拾取装置能够获得与所述第3实施方式的光拾取装置同样的效果。

图7是表示本发明的第5实施方式的光拾取装置所具备的全息元件10的结构的图。由于本实施方式的光拾取装置与所述第1实施方式的光拾取装置40类似，从而仅对不同的部分进行说明，而对与第1实施方式对应的部分赋予同一参考符号并省略共同的说明。

在本实施方式中，记录介质47是具有例如将厚度尺寸0.6mm的光盘2张贴合的2层记录构造的DVD。将2层记录层中位于与物镜透镜45接近侧的记录层称为第1记录层47a，将位于从物镜透镜45远离侧的记录层称为第2记录层47b。

本实施方式的光拾取装置，作为所述第4实施方式的全息元件91的替代，而具备其他的全息元件101。本实施方式的全息元件101设置在光检测部46和物镜透镜45之间的光路上。全息元件101上形成有用于将来自记录介质47的反射光分割为多束光的多个分割区域。具体叙述的话，全息元件101具有：跟踪用分割区域，其对用于取得与出射光的光轴54垂直的方向相关的、出射光相对于记录介质47的焦点位置的信息即跟踪位置信息的光，进行分割；聚焦用分割区域，其对用于取得与出射光的光轴54平行的方向相关的、出射光相对于记录介质47的焦点位置的信息即焦点位置信息的光，进行分割。

以下，参照图7对形成在全息元件101上的分割区域进行说明。在全息元件101上以具有多个分割区域的方式而形成的全息图案102，从Z轴方向一方观察的外形为圆形。

全息图案102，首先通过第1分割线106分割为跟踪用分割区域107和残余分割区域，所述第1分割线106通过，物镜透镜45处于中立位置的状态时入射到全息元件101的来自第1记录层(聚焦记录层)47a的反射光103的光轴104，平行于在全息元件101上相对记录介质47的径向方向即Y轴方向平行的假想直线105，并且自一假想直线105沿X方向预先远离规定距离d而形成。

跟踪用分割区域107，从大致1/2圆中除去半圆形的轴附近部108而形成为从Z轴方向一方观察呈大致1/2圆的圆环形状，所述半圆形的轴附近部108将所述光轴104作为圆中心，以比所述距离d大且比全息图案102全体的半径小的半径r而形成。该跟踪用分割区域107，通过第2分割线109二等分为第1分割区域111和第2分割区域112，所述第2分割线109通过所述光轴104，与垂直于一假想直线105的方向即X轴方向平行。因而，第1分割区域111和第2分割区域112形成得具有相当于大致1/4圆的圆环形状。

所述半圆形的轴附近部108与半椭圆部115在包括所述光轴104的一假想直线105上合为一体，所述半椭圆部115，其短半径位于一假想直线105上而长半径位于第2分割线109的延长线上，该长半径的长度尺寸比全息图案102的半径尺寸小，并具有半椭圆形。半圆形的轴附近部108和半椭圆部115，在一假想直线105上合为一体，在所述残余分割区域内形成有第3分割区域116。该第3分割区域116构成聚焦用分割区域，以在其内部包括所述光轴104而形成。

全息图案102的除去第1～第3分割区域111、112、116而残余的区域，进一步通过第3分割线118a、118b分割为又一个跟踪用分割区域119和再次残余区域。该第3分割线118a、118b与一假想直线105平行，并且从一假想直线105沿X轴方向另一方远离预先规定的距离d而形成。所述又一个跟踪用分割区域119通过位于第2分割线109的延长线上的第4分割线120二等分为第4分割区域121和第5分割区域122。因而，在本实施方式的全息元件101中，夹着一假想直线105在该X轴方向两侧形成有跟踪用分割区域107和又一个跟踪分割区域119这2个跟踪用分割区域。

在全息图案102中如果除去第1～第5分割区域111、112、116、121、122，则残留有夹着一假想直线105在Y轴方向延伸、从Z轴方向一方观察的形状为大致长方形的2个分割区域。将所述大致长方形的2个分割区域中由第1分割区域111和第3分割区域116和第5分割区域122包围的分割区域设为第7分割区域126，将由第2分割区域112和第3分割区域116和第4分割区域121包围的分割区域设为第6分割区域125。因而，构成圆形全息图案102的各分割区域中，第1分割区域111、第2分割区域112、第6分割区域125、第4分割区域121、第5分割区域122以及第7分割区域126按顺时针顺序配置，第3分割区域116配置在中央部分。

在第1～第7分割区域111、112、116、121、122、125、126中分别形成有多个沟痕(凹坑)。基于全息图案102的衍射效率以及光检测部46的配置，来设定这些沟痕的深度和间隔。

图8是表示由全息图案102分割的光朝光检测部46入射的概要的图。由记录介质47的聚焦记录层即第1记录层47a反射并入射到全息元件101的反射光103，由第1～第7分割区域111、112、116、121、122、125、126分割，由第1～第5分割区域111、112、116、121、122所衍射的光被引导到光检测部46。本实施方式的光检测部46具有：包括第1和第2受光元件46a、46b的第1受光部46A，包括第4、第6和第8受光元件46d、46f、46h的第2受光部46B，以及包括第3、第5和第7受光元件46c、46e、46g的第3受光部46C。

由聚焦用分割区域即第3分割区域116所衍射的光，被第1受光部46A的第1和第2受光元件46a、46b所受光。由跟踪用分割区域即第1分割区域111和第5分割区域122衍射的光，被第2受光部46B接收。由跟踪用分割区域即第2分割区域112和第4分割区域121衍射的光，被第3受光部46C所受光。

由第6和第7分割区域125、126所衍射的光，入射到未由光检测部46受光的位置即不存在受光元件的位置。这样，本实施方式的全息元件101，具有第6分割区域和第7分割区域125、126其是形成在一假想直线105上的分割区域，其不将入射光向着以下受光元件的任何一个衍射，即对用于取得跟踪位置信息的光进行受光的受光元件，以及对用于取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件。

由第3分割区域116衍射的反射光，被导引到用于检测FES的第1受光部46A，并通过第1和第2受光元件46a、46b的双方或任何一方的受光元件检测出FES。与由物镜透镜45产生的聚焦位置的光轴方向的位置信息即FES，通过刀刃法取得。在刀刃法中，通过获取第1和第2受光元件46a、46b所接收的各自的光强度之差，从而能够获得FES。具体而言，如果把由第1和第2受光元件46a、46b检测出的光强度分别设为Ia、Ib，则FES由式(7)给出。

FES＝Ia-Ib    …(7)

在本实施方式中的全息元件101和光检测部46的配置中，在从光源41出射的光在比记录介质47更靠跟前位置(近侧)结聚焦点时，由于来自记录介质47的反射光在第1受光部46A的跟前位置结聚焦点，因此由第2受光元件46b受光的光强度Ib比由第1受光元件46a受光的光强度Ia大，从而FES为负的符号。

相对地，在与记录介质47相关地在物镜透镜45的相反侧即里侧(远侧)聚结假想焦点时，由于来自记录介质47的反射光在比第1受光部46A远的位置合焦，使得由第1受光元件46a接收的光强度Ia比由第2受光元件46b接收的光强度Ib大，从而FES为正的符号。

由全息图案102的第1分割区域111和第5分割区域122衍射的反射光中，主光束51的反射光被第2受光部46B的第4受光元件46d所受光。另外，由第1亚光束52和第2亚光束53产生的反射光分别被第2受光部46B的第8和第6受光元件46h、46f接收。

由全息图案102的第2分割区域112和第4分割区域121衍射的反射光中，主光束51产生的反射光被第3受光部46C的第3受光元件46c接收，另外由第1亚光束52和第2亚光束53产生的反射光分别被第3受光部46C的第7和第5受光元件46g、46e接收。

基于由第2和第3受光部46B、46C所产生的各接收结果，例如根据DPD法检测出跟踪位置信息。在所述DPD法中，通过由第3受光部46C中接收主光束51的反射光的第3受光元件46c产生的光强度Ic、和由第2受光部46B中接收主光束51的反射光的第4受光元件46d产生的光强度Id的相位差，而进行检测。也就是，表示根据DPD法的TES的I(DPD)由式(8)赋予。式(8)中，ph是指获取各个光强度的相位差。

I(DPD)＝ph(Ic-Id)    …(8)

形成在记录介质47上的凹坑根据光束通过怎样的位置使产生的相位差发生变化。在光束通过正中央时该相位差为0。另外，表示跟踪位置信息的TES也可以通过DPP法代替所述DPD法来进行检测。在DPP法中，根据由第2和第3受光部46B、46C的各接收结果来检测TES。

如果将由第3～第8受光元件46c～46h检测出的光强度分别设为Ic、Id、Ie、If、Ig、Ih，则表示根据DPP法的TES的I(DPP)由式(9)赋予。

I(DPP)＝(Ic-Id)-k×((Ig-Ih)+(Ie-If))

…(9)

式(9)的第1项(Ic-Id)是主光束51的推挽信号，第2项(Ig-Ih)以及(Ie-If)分别是±1级衍射光的第1和第2亚光束52、53的推挽信号。以如下方式将3光束的位置配置在记录介质47的信息道上，即将TES中呈现的因物镜透镜偏移而产生的偏离消去，并使第1和第2亚光束52、53的推挽信号即(Ig-Ih)和(Ie-If)的相位，与主光束51的推挽信号即(Ic-Id)的相位相异180度。

所述式(9)中的系数k是用于校正0级衍射光即主光束51、和+1级衍射光即第1亚光束52和-1级衍射光即第2亚光束53的光强度的差异的系数，如果强度比为0级衍射光∶+1级衍射光∶-1级衍射光＝a∶b∶c，则系数k＝a/(2b)。

表示信息再生信号即RF信号的I(RF)由式(10)赋予：

I(RF)＝Ic+Id+Ia+Ib    …(10)

图9是表示全息图案102中入射杂光的状态的图。图9表示在将信息记录到第1记录层47a、或对第1记录层47a所记录的信息进行再生的情况下，全息图案102中的一假想直线105和第1分割线106的间隔距离d，与由第2记录层47b衍射的衍射光即杂光的关系。

在此，所述间隔距离d，设定为如下那样的值，即在将信息记录到第1记录层47a、或将第1记录层47a所记录的信息再生时，将来自第2记录层47b的杂光即±1级衍射光光斑130、131尽可能包括在一假想直线105和第1分割线106之间的值。如果将其在本实施方式中换一种说法，则将第6和第7分割区域125、126的X轴方向的幅宽尺寸2d，设定为如下那样的值，即来自第2记录层47b的杂光即±1级衍射光光斑130、131尽可能包括在第6和第7分割区域125、126中。

但是，如果将所述间隔距离d增大，由于全息图案102的跟踪用分割区域107即第1和第2分割区域111、112所包括的信号光的推挽信号成分减少，因此TES的特性恶化。于是，在本实施方式的全息元件101中，夹着一假想直线105在跟踪用分割区域107的相反侧上形成又一个跟踪分割区域119即第4和第5分割区域121、122。

通过使入射到第4和第5分割区域121、122的光向检测有关跟踪位置信息的信号的第2和第3受光部46B、46C入射，并与入射到第1和第2分割区域111、112的光重叠而生成TES，能够使TES强度、特别是亚光束的光强度增加，从而能够提高TES特性。

由第2记录层47b衍射的衍射光即杂光中的0级衍射光光斑132，在全息图案102的中央附近部、也就是在物镜透镜45处于中立位置的状态下，在由第1记录层47a反射的反射光103，以接近聚焦状态的形状，入射到全息图案102的光轴104附近。在第1记录层47a和第2记录层47b的层间隔变化时，该0级衍射光光斑132的直径尺寸也发生变化，但是将光轴104作为中心的半圆形的轴附近部108的半径r和半椭圆部115的长半径，形成为也能够包括层间隔相对标准值变化大略±15μm时的光斑的尺寸。

这样，通过形成全息图案102的分割区域，在将信息记录到第1记录层47a、或将第1记录层47a所记录的信息再生的情况下，由于能够减低来自第2记录层47b的杂光中、入射到TES生成用的跟踪用分割区域107和又一个跟踪用分割区域119的杂光成分，从而能够进行稳定的跟踪伺服。

另外，全息元件101也可以构成为：因入射到全息元件101的光的偏振方向，衍射效率不同。由此，例如通过在全息元件101和记录介质47之间配置1/4波长板，使从光源41出射的光的偏振方向和由记录介质47反射的反射光的偏振方向旋转90度，从而能够实现，对于从光源41的出射的光基本透过全息元件101，而对于来自记录介质47的反射光仅产生衍射光。通过使全息元件101持有所述那样的偏振特性，增大了光的利用效率，从而也能够对记录介质47进行高速记录。

图10是表示本发明的第6实施方式的光拾取装置所具备的全息元件135的结构的图。由于本实施方式的光拾取装置与所述第5实施方式的光拾取装置类似，从而仅对不同的部分进行说明，而对与第5实施方式对应的部分赋予同一参考符号并省略共同的说明。

本实施方式的光拾取装置，代替所述第5实施方式的全息元件101，具备另外的全息元件135而构成。在所述第5实施方式的全息元件101中，具有被划分为第3分割区域116以及第6和第7分割区域125、126的3个分割区域，但在本实施方式的全息元件135的全息图案136中，以具有将所述3个分割区域合为一体的1个结合第3分割区域137的方式构成。

结合第3分割区域137，作为聚焦用分割区域，将入射的光向着对用于生成FES的光进行受光的第1受光部46A衍射。结合第3分割区域137，也能够使入射到与所述第5实施方式中的第6和第7分割区域125、126相当的区域的光，向着第1受光部46A衍射，并入射。因而，可以增大第1受光部46A所受光的光量，即能够增大可以用于RF和FES生成的光量，从而能够实现光的有效活用。

另外，由第2记录层47b衍射的0级衍射光光斑132和±1级衍射光光斑130、131，都向着结合第3分割区域137入射，并入射到第1受光部46A。但是，0级衍射光光斑132和±1级衍射光光斑130、131朝向第1受光部46A的入射光斑，成为非常模糊的光斑，作为杂光入射的光强度分布也被扩散，同时相对来自第1记录层47a的反射光而言光量充分小，并且对于FES，由于取得了第1受光元件46a和第2受光元件46b的差分(differential)，因此在对双方进行照射时，相互抵消而难以成为噪音，从而不会存在特别的问题。

图11是表示本发明的第7实施方式的光拾取装置所具备的全息元件140的结构的图。由于本实施方式的光拾取装置与所述第5实施方式的光拾取装置类似，从而仅对不同的部分进行说明，而对与第5实施方式对应的部分赋予同一参考符号并省略共同的说明。

本实施方式的光拾取装置，代替所述第5实施方式的全息元件101，具备另外的全息元件140而构成。本实施方式的全息元件140中，与半圆形的轴附近部108合体而构成第3分割区域142的部分(以下称为“合体部”)，代替半椭圆形而形成为大致长方形。也就是，合体部145形成为，由第5和第6分割线146、147、和一假想直线105和全息图案136的外周部分所包围的大致长方形的区域，该第5和第6分割线146、147从一假想直线105到全息图案141的外周部分为止，平行于X轴方向而延伸并分别形成第4和第5分割区域143、144的边界。

因而，第4分割区域143形成为，由第3分割线118b和第5分割线146和全息图案141的外周部分包围的扇形的区域，第5分割区域144形成为由第3分割线118b和第6分割线147和全息图案141的外周部分包围的扇形的区域。在具备如此而构成的全息元件140的本实施方式的光拾取装置中，关于除去来自第2记录层47b的杂光成分，能够获得与所述第5实施方式的光拾取装置同样的效果。

图12是表示本发明的第8实施方式的光拾取装置所具备的全息元件150的结构的图。由于本实施方式的光拾取装置与所述第5实施方式的光拾取装置类似，从而仅对不同的部分进行说明，而对与第5实施方式对应的部分赋予同一参考符号并省略共同的说明。

本实施方式的光拾取装置，代替所述第7实施方式的全息元件140，具备另外的全息元件150而结构。在所述第7实施方式的全息元件140中，具有被划分为第3分割区域142和第6和第7分割区域125、126的3个分割区域，但在本实施方式的全息元件150的全息图案151中，以具有将所述3个分割区域合为一体的1个结合第3分割区域152的方式构成。

在具备这样结构的全息元件150的本实施方式的光拾取装置中，能够获得与所述第6实施方式的光拾取装置同样的效果。

图13是表示作为本发明的第9实施方式的光拾取装置所具备的全息元件155的结构的图。由于本实施方式的光拾取装置与所述第5实施方式的光拾取装置类似，从而仅对不同的部分进行说明，而对与第5实施方式对应的部分赋予同一参考符号并省略共同的说明。

本实施方式的光拾取装置，代替所述第5实施方式的全息元件101，具备另外的全息元件155而构成。

在本实施方式的全息元件155中，以主光束51的±1级衍射光或第1和第2亚光束52、53的±1级衍射光，向着第6和第7分割区域125、126入射的方式而构成，所述第6和第7分割区域125、126是不向着对用来取得TES的光进行受光的第2和第3受光部46B、46C而衍射的区域。形成所述第6分割区域125的第3分割线118a和第1分割线106，皆与Y轴方向平行，并从一假想直线105沿X方向远离预先规定间隔距离d1，而形成。另外，形成所述第7分割区域126的第3分割线118b和第1分割线106，皆与Y轴平行，并从一假想直线105沿X方向远离预先规定间隔距离d1，而形成。

也就是说，在本实施方式的全息元件155中，将全息图案156中的、对第6和第7分割区域125、126的X轴方向的尺寸进行确定的一假想直线105和第1分割线106的间隔距离d1设定得比所述第5实施方式的全息元件中的一假想直线105和第1分割线106的间隔距离d大。从而，第6和第7分割区域125、126的X轴方向的长度尺寸成为2×d1(以下称为“2d1”)。

也就是说，在全息元件155中，将第6和第7分割区域125、126的X轴方向的长度尺寸2d1，设定为能够包含由第2记录层47b衍射的、主光束51以及第1和第2亚光束52、53的双方的、杂光成分的入射光光斑的尺寸。

当物镜透镜45位于中立位置时，在全息图案156上，来自第1记录层47a的反射光中的主光束51的反射光光斑103，以位于全息图案156的大致中央且光轴位于一假想直线105上的方式入射，另外第1和第2亚光束52、53的反射光光斑103a、103b与主光束51的反射光光斑103一部分重叠，并且入射到相对于主光束的反射光光斑103在X轴方向两侧分别少许偏离的位置。

至于由第2记录层47b衍射的0级衍射光，主光束51的0级衍射光光斑132向第3分割区域116的轴附近部108入射，第1和第2亚光束52、53的0级衍射光光斑132a、132b与主光束51的0级衍射光光斑132部分重合，并且入射到相对于主光束51的0级衍射光光斑132在X轴方向两侧分别少许偏离的位置。第3分割区域116设定为如下尺寸，其能够包含主光束51的0级衍射光光斑132、以及第1和第2亚光束52、53的0级衍射光光斑132a、132b的全体。

至于由第2记录层47b所衍射的±1级衍射光，在第6分割区域125中，主光束51的+1级衍射光光斑130朝一假想直线105上入射，第1和第2亚光束52、53的+1级衍射光光斑130a、130b入射到相对于主光束51的+1级衍射光光斑130在X轴方向两侧分别少许偏离的位置。在第7分割区域126中，主光束51的-1级衍射光光斑131向一假想直线105上入射，第1和第2亚光束52、53的-1级衍射光光斑131a、131b入射到相对于主光束51的-1级衍射光光斑131在X轴方向两侧分别少许偏离的位置。

第6和第7分割区域125、126的X轴方向的长度尺寸2d1，设定为如下尺寸，即能够分别包含主光束51的+1级衍射光光斑130、第1和第2亚光束52、53的+1级衍射光光斑130a、130b、主光束51的-1级衍射光光斑131、第1和第2亚光束52、53的-1级衍射光光斑131a、131b的全部。

如上述那样，全息元件155使由第2记录层47b衍射的主光束51以及第1和第2亚光束52、53的±1级衍射光朝第6和第7分割区域125、126而入射，所述第6和第7分割区域125、126是既不向着对用来取得跟踪位置信息的光进行受光的第2和第3受光部46B、46C、也不向着对用来取得焦点位置信息的光进行接收的第1受光部46A而衍射的区域。

因而，能够使由来自第2记录层47b的反射光所引起的所谓杂光不入射到TES生成用受光元件和FES生成用受光元件的任何一方。由此，能够防止杂光混入TES和FES中，从而能够稳定地生成TES和FES。

图14是表示作为本发明的第10实施方式的光拾取装置所具备的全息元件160的结构的图。由于本实施方式的光拾取装置与所述第9实施方式的光拾取装置类似，从而仅对不同的部分进行说明，而对与第9实施方式对应的部分赋予同一参考符号并省略共同的说明。

本实施方式的光拾取装置，代替所述第9实施方式的全息元件155，具备另外的全息元件160而构成。

如上述那样，对在第9实施方式的全息元件155中，对于形成第6和第7分割区域125、126的第3分割线118a、118b和第1分割线106皆与Y轴方向平行时的全息元件155，进行了叙述，但是所述第3分割线118a、118b和第1分割线106并非必须与Y轴方向平行。

在本实施方式的全息元件160的全息图案161中，第3分割线118a和第1分割线106a在Y轴方向一方，换言之在Y轴方向中，以随着趋向于从主光束51的反射光光斑103远离的方向而相互接近的方式倾斜。在如上述那样规定第3分割线118a和第1分割线106a时，由第1分割区域111和第3分割区域116和第5分割区域122包围的、随着指向Y轴方向一方而形成为尖细状的分割区域，成为第7分割区域126。

另外，在本实施方式的全息元件160的全息图案161中，第3分割线118b和第1分割线106b在Y轴方向另一方，换言之在Y轴方向中，以随着趋向于从主光束51的反射光光斑103远离的方向相互接近的方式倾斜。在如上述那样规定第3分割线118b和第1分割线106b时，由第2分割区域112和第3分割区域116以及第4分割区域121所包围的、随着指向Y轴方向另一方而形成为尖细状的分割区域，成为第6分割区域125。

具备这样结构的全息元件160的本实施方式的光拾取装置，能够获得与具备全息元件155的所述第9实施方式的光拾取装置同样的效果。

所述的各实施方式，仅是本发明的示例，可以在发明的范围内对结构进行变更。例如，在所述的各实施方式中，对记录介质47具有2层记录层时的光拾取装置的结构进行了叙述，但是即使记录介质47具有3层以上的记录层时，也能够获得与所述各实施方式同样的效果。

本发明，不超越其精神或主要特征能以其他的各种各样的方式来实施。因而，所述实施方式全部只是单纯的示例，本发明的范围表示在权利要求的范围中，不拘泥于说明书本文。并且，属于专利要求的范围的变形或变更全部为本发明的范围内。

Claims (19)

1、一种光拾取装置，通过对具有多层记录信息的记录层的记录介质照射光，而将信息记录到记录介质和/或将信息从记录介质再生，包括：

光源，其出射光；

聚焦部，其将从光源出射的光聚焦到记录介质的一层记录层，并通过向垂直于出射光光轴的方向变位，而使出射光相对于记录介质的聚焦位置变化；

光检测部，其具有多个对由记录介质反射的反射光进行受光的受光元件；以及

光分割部，其设置在光检测部和聚焦部之间，具有用于将来自记录介质的反射光向着多个受光元件而衍射的多个分割区域，

所述光分割部，具有使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的衍射光中至少1级衍射光不向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射的分割区域，所述跟踪位置信息是与垂直于出射光光轴的方向相关的、出射光相对于记录介质的聚焦位置信息。

2、根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

光分割部，进一步具有如下分割区域，其使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的0级衍射光，不向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射。

3、根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

光分割部具有分割区域，所述分割区域能够对由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的衍射光中的0级衍射光入射而形成的光斑、即垂直于出射光光轴的方向的位置随着聚焦部向垂直于出射光光轴的方向的变位而变动的光斑，与该光斑的位置无关地包含。

4、根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

光分割部，具有：由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的至少1级衍射光所入射的分割区域。

5、根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

光分割部以如下方式形成，即，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的0级衍射光入射的分割区域与高级次衍射光入射的分割区域不同。

6、根据权利要求5所述的光拾取装置，其特征在于，

光分割部的、高级次衍射光所入射的分割区域，不对高级次衍射光进行衍射，而使之透过。

7、根据权利要求5所述的光拾取装置，其特征在于，

光分割部的、高级次衍射光所入射的分割区域，使高级次衍射光至少向着跟踪误差信号生成用受光元件不存在的位置衍射。

8、根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

光分割部以如下方式形成，即，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的衍射光中的0级衍射光入射的分割区域和高级次衍射光入射的分割区域相同。

9、根据权利要求5所述的光拾取装置，其特征在于，

光检测部进一步包括：用于检测焦点位置信息的受光元件和用于检测跟踪位置信息的受光元件以外的信息检测用受光元件，所述焦点位置信息是与平行于出射光的光轴的方向相关的、出射光相对于记录介质的焦点位置的信息，

光分割部，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层所反射并衍射的衍射光中的高级次衍射光，向着信息检测用受光元件而衍射。

10、根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

进一步包括将从光源出射的光分离为至少主光束和2束亚光束的衍射元件，

光分割部具有如下分割区域：其使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的主光束和亚光束的0级衍射光和高级次衍射光，不向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射。

11、根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

进一步包括将从光源出射的光分离为至少主光束和2束亚光束的衍射元件，

光分割部具有如下分割区域：其使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的主光束和亚光束的0级衍射光以及主光束的高级次衍射光，不向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射。

12、根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

在对聚焦部的光学轴和来自光源的出射光的光轴处于同轴的中立位置进行包含的可动范围内，在垂直于出射光光轴的方向可变位地设置聚焦部，

光分割部具有：跟踪用分割区域和聚焦用分割区域，所述跟踪用分割区域对用来取得跟踪位置信息的光进行分割，所述聚焦用分割区域对用于取得焦点位置信息的光进行分割，所述焦点位置信息是与平行于出射光光轴的方向相关的、出射光相对于记录介质的聚焦位置信息，

跟踪用分割区域，夹着不将所述1级衍射光向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射的分割区域，而形成在其两侧。

13、根据权利要求12所述的光拾取装置，其特征在于，

跟踪用分割区域，夹着不将所述1级衍射光向着用于检测跟踪位置信息的受光元件衍射的分割区域，并形成在，聚焦部处于中立位置的状态时通过入射到光分割部的反射光的光轴并在光分割部上相对于记录介质的径向方向平行的一假想直线的两侧。

14、根据权利要求12所述的光拾取装置，其特征在于，

聚焦用分割区域，以包含聚焦部处于中立位置的状态时入射到光分割部的反射光的光轴的方式，而形成。

15、根据权利要求13所述的光拾取装置，其特征在于，

光分割部具有：形成在所述一假想直线上的分割区域，所述分割区域既不将所入射的光，向着对用来取得跟踪位置信息的光进行受光的受光元件进行衍射，也不向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件进行衍射。

16、根据权利要求13所述的光拾取装置，其特征在于，

光分割部具有：形成在所述一假想直线上的分割区域，即将入射的光向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件衍射的分割区域。

17、根据权利要求13所述的光拾取装置，其特征在于，

进一步包括将从光源出射的光分离为至少主光束和2束亚光束的衍射元件，

光分割部，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他记录层反射并衍射的主光束的高级次衍射光，向着形成在光分割部的所述一假想直线上的分割区域入射，所述分割区域既不使光向着对用来取得跟踪位置信息的光进行受光的受光元件衍射，也不向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件衍射。

18、根据权利要求13所述的光拾取装置，其特征在于，

进一步包括将从光源出射的光分离为至少主光束和2束亚光束的衍射元件，

光分割部，使由与通过聚焦部聚焦着光的一层记录层不同的其他的记录层所反射并衍射的主光束以及亚光束的高级次衍射光，向着形成在光分割部的所述一假想直线上的分割区域入射，所述分割区域既不使光向着对用来取得跟踪位置信息的光进行受光的受光元件衍射，也不向着对用来取得焦点位置信息的光进行受光的受光元件衍射。

19、根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

光分割部因入射的光的偏振方向而衍射效率不同。

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