CH676898A5 - - Google Patents

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CH676898A5
CH676898A5 CH328688A CH328688A CH676898A5 CH 676898 A5 CH676898 A5 CH 676898A5 CH 328688 A CH328688 A CH 328688A CH 328688 A CH328688 A CH 328688A CH 676898 A5 CH676898 A5 CH 676898A5
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CH328688A
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German (de)
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Inventor
Rolf Grimm
Original Assignee
Microcontact Ag
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Filing date
Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
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WO1990002954A1 (de) 1990-03-22
EP0387311A1 (de) 1990-09-19
JPH03501056A (ja) 1991-03-07

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