WO2023136272A1 - 接着剤組成物、回路接続用接着剤フィルム、及び、接続構造体の製造方法 - Google Patents

接着剤組成物、回路接続用接着剤フィルム、及び、接続構造体の製造方法 Download PDF

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WO2023136272A1
WO2023136272A1 PCT/JP2023/000529 JP2023000529W WO2023136272A1 WO 2023136272 A1 WO2023136272 A1 WO 2023136272A1 JP 2023000529 W JP2023000529 W JP 2023000529W WO 2023136272 A1 WO2023136272 A1 WO 2023136272A1
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circuit
adhesive
circuit member
component
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裕太 山崎
克彦 富坂
敏光 森谷
亮太 小林
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株式会社レゾナック
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    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate

Definitions

  • the present disclosure relates to an adhesive composition, an adhesive film for circuit connection, and a method for manufacturing a connection structure.
  • an adhesive for circuit connection having anisotropic conductivity in which conductive particles are dispersed in the adhesive.
  • Films are known (see, for example, Patent Documents 1 to 4 below).
  • Such an adhesive film is used for connection between a liquid crystal display (LCD) panel and a tape carrier package (TCP: Tape Carrier Package) or a chip on flex (COF: Chip On Flex) on which a semiconductor for driving the LCD is mounted, Alternatively, it is widely used for electrical connection between a printed wiring board and TCP or COF.
  • a circuit-connecting adhesive film having anisotropic conductivity is used as a circuit-connecting material.
  • connection resistance In order to stabilize the connection resistance, it is required to increase the adhesive strength of the circuit connecting material. Connection resistance tends to increase in later mounting bodies. The present inventors have found that peeling occurs between the circuit connecting material and the circuit member in a package with a large increase in connection resistance.
  • the present disclosure provides an adhesive composition that provides sufficient adhesive strength and does not easily peel off on the adhesive surface even under high temperature and high humidity conditions, and has excellent peel resistance on the adhesive surface under high temperature and high humidity conditions.
  • An object of the present invention is to provide a circuit-connecting adhesive film capable of obtaining a circuit-connecting structure whose connection resistance does not easily increase, a connecting structure using the adhesive film, and a method for producing the same.
  • one aspect of the present disclosure contains (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (C) a film-forming component, and as the component (A), an aromatic Contains more than 90% by mass of an epoxy resin based on the total amount of component (A), contains a polyfunctional epoxy resin having a skeleton represented by the following general formula (1) as an aromatic epoxy resin, and contains, as component (B), An adhesive composition containing an onium-based compound is provided.
  • X 1 represents an oxygen atom, a sulfur atom, or an alkylene group having 1 to 10 carbon atoms.
  • the onium-based compound may be a pyridinium salt or an aromatic sulfonium salt.
  • the content of the polyfunctional epoxy resin may be 5 to 90% by mass based on the total amount of the aromatic epoxy resin.
  • the above adhesive composition can further contain conductive particles.
  • Another aspect of the present disclosure provides a circuit-connecting adhesive film having a region formed by the adhesive composition described above.
  • Another aspect of the present disclosure includes a first region containing a first adhesive component and a second region containing a second adhesive component adjacent to the first region. and wherein one or both of the first region and the second region are formed from the adhesive composition described above.
  • Another aspect of the present disclosure is a first circuit member having a first electrode, a second circuit member having a second electrode, and a circuit member disposed between the first circuit member and the second circuit member. and a connecting portion for electrically connecting the first electrode and the second electrode to each other, wherein the connecting portion includes the cured adhesive film for circuit connection.
  • Another aspect of the present disclosure is to interpose the circuit-connecting adhesive film between a first circuit member having a first electrode and a second circuit member having a second electrode, and Provided is a method for manufacturing a connection structure, comprising a step of thermocompression bonding one circuit member and a second circuit member to electrically connect the first electrode and the second electrode to each other.
  • an adhesive composition that provides sufficient adhesive strength and is resistant to peeling on the adhesive surface even under high-temperature and high-humidity conditions, has excellent peel resistance on the adhesive surface under high-temperature and high-humidity conditions, It is possible to provide a circuit-connecting adhesive film capable of obtaining a circuit-connecting structure whose connection resistance does not easily increase, a connecting structure using the adhesive film, and a method for producing the same.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of an adhesive film for circuit connection
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of an adhesive film for circuit connection
  • FIG. It is a schematic cross section which shows one Embodiment of a connection structure.
  • FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a method of manufacturing the connection structure of FIG. 3;
  • the upper limit or lower limit of the numerical range may be replaced with the values shown in the examples.
  • the lower and upper limits of a numerical range can be arbitrarily combined with the lower and upper limits of other numerical ranges, respectively.
  • both numerical values A and B are included in the numerical range as lower and upper limits, respectively.
  • the description "10 or more” means 10 and a numerical value exceeding 10, and this also applies when the numerical values are different.
  • the description "10 or less” means 10 and less than 10, and the same applies when the numerical values are different.
  • each component and material exemplified in this specification may be used singly or in combination of two or more unless otherwise specified.
  • each component in the composition refers to the total amount of the multiple substances present in the composition when there are multiple substances corresponding to each component in the composition, unless otherwise specified.
  • (meth)acrylate means at least one of acrylate and methacrylate corresponding thereto.
  • the adhesive composition of the present embodiment comprises (A) an epoxy resin (hereinafter also referred to as component (A)), (B) a curing agent (hereinafter also referred to as component (B)), and (C) a film-forming component. (hereinafter also referred to as component (C)).
  • the adhesive composition of the present embodiment contains, as the component (A), an aromatic epoxy resin of more than 90% by mass based on the total amount of the component (A), and as the aromatic epoxy resin, (A1) the following general formula ( 1) contains a polyfunctional epoxy resin having a skeleton represented by (hereinafter also referred to as component (A1)).
  • X 1 represents an oxygen atom, a sulfur atom, or an alkylene group having 1 to 10 carbon atoms. From the viewpoint of peeling resistance, X 1 may be -CH 2 -.
  • a polyfunctional epoxy resin represented by the following general formula (2) can be used as the component (A1).
  • X 1 represents an oxygen atom, a sulfur atom, or an alkylene group having 1 to 10 carbon atoms; group, m and n each represent an integer of 1 to 7, and m+n is 2 or more.
  • a polyfunctional epoxy resin represented by the following general formula (3) can be used as the component (A1).
  • R 11 , R 12 , R 21 and R 22 each independently represent a hydrogen atom, a glycidyl group or a glycidyloxy group, and two of R 11 , R 12 , R 21 and R 22 The above is a glycidyl group or a glycidyloxy group.
  • R 11 and R 22 are a glycidyl group or a glycidyloxy group
  • R 12 and R 21 may be hydrogen atoms
  • all of R 11 , R 12 , R 21 and R 22 are glycidyl or a glycidyloxy group.
  • the (A1) component can be used singly or in combination of two or more.
  • the content of component (A1) in the adhesive composition may be 10 to 70% by mass, or 20 to 60% by mass, based on the total amount of the adhesive composition (excluding conductive particles). good too.
  • the adhesive composition of the present embodiment can contain a second aromatic epoxy resin (hereinafter also referred to as (A2) component) other than the (A1) component.
  • A2) component a second aromatic epoxy resin
  • bisphenol A type epoxy resin bisphenol S type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, bisphenol A novolac type epoxy resin, bisphenol F novolac type epoxy resin, tetramethyl Bisphenol A type epoxy resin, 3′,4′-epoxycyclohexylmethyl-3,4-epoxycyclohexane carboxylate (bi-7-oxabicyclo[4,1,0]heptane), 3,4-epoxycyclohexylmethyl (meth ) acrylate, (3,3′,4,4′-diepoxy)bicyclohexyl, dicyclopentadiene dimethanol diglycidyl ether, xylene-novolac type glycidyl ether, and the like.
  • the second aromatic epoxy resin is at least one selected from the group consisting of bisphenol A type epoxy resin, tetramethylbisphenol A type epoxy resin, dicyclopentadiene dimethanol diglycidyl ether, and xylene-novolac type glycidyl ether. good.
  • the content of component (A1) may be 5% by mass or more, 10% by mass or more, 20% by mass or more, 30% by mass or more, 40% by mass or more, or 90% by mass, based on the total amount of the aromatic epoxy resin. Below, it may be 80 mass % or less, 70 mass % or less, or 60 mass % or less.
  • the adhesive composition of the present embodiment may contain other epoxy resins than the aromatic epoxy resin as the (A) component.
  • Other epoxy resins include aliphatic epoxy resins and cycloaliphatic epoxy resins.
  • the content of the alicyclic epoxy resin may be less than 10% by mass, or may be 5% by mass or less, based on the total amount of component (A). It may be 0% by mass.
  • the content of component (A) in the adhesive composition may be 10 to 70% by mass, or 20 to 60% by mass, based on the total amount of the adhesive composition (excluding conductive particles). good too.
  • the adhesive composition of the present embodiment contains (B1) an onium-based compound (hereinafter also referred to as (B1) component) as the (B) component.
  • onium salts such as sulfonium salts, pyridinium salts, phosphonium salts, ammonium salts, diazonium salts, iodonium salts, and anilinium salts can be used.
  • Onium salt anions include BF 4 ⁇ , BR 4 ⁇ (R represents a phenyl group substituted with two or more fluorine atoms or two or more trifluoromethyl groups), PF 6 ⁇ , SbF 6 ⁇ , AsF 6 - and the like.
  • the (B1) component can be used singly or in combination of two or more.
  • the (B1) component may be a pyridinium salt or a sulfonium salt.
  • pyridinium salt A a pyridinium salt having a benzyl group at the 1-position, an electron-withdrawing group at the 2-position, and the benzyl group having an electron-donating group (hereinafter also referred to as "pyridinium salt A") is used. be able to.
  • pyridinium salt A has a pyridine ring and a benzene ring, with an electron-withdrawing group located ortho to the nitrogen atom of the pyridine ring, with the benzene ring having an electron-donating group.
  • the pyridinium salt A may be a compound composed of a pyridinium cation and an anion.
  • the 1-position of a pyridinium salt or a pyridinium cation means the position of the nitrogen atom in the pyridine ring of a pyridinium salt or a pyridinium cation.
  • Pyridinium salt A may be, for example, a compound represented by the following general formula (4).
  • R 31 represents an electron-withdrawing group
  • R 32 represents an electron-donating group
  • X - represents an anion.
  • Examples of the electron-withdrawing group that the pyridinium salt A has at the 2-position include a cyano group, a halogeno group, a nitro group, a carbonyl group, a carboxy group, a sulfo group, and the like.
  • the halogeno group includes a fluoro group, a chloro group, a bromo group, an iodo group and the like.
  • the electron-withdrawing group may be a cyano group or a halogeno group, or a cyano group or a chloro group, from the viewpoint of enhancing the activity of the curing agent and curing the adhesive composition in a shorter time. good.
  • Pyridinium salt A may contain an electron withdrawing group other than the voltage withdrawing group located at the 2-position.
  • the number of electron-withdrawing groups that the pyridinium salt A has may be 3 or less, 2 or less, or 1.
  • Examples of the electron-donating group of the benzyl group located at the 1-position of the pyridinium salt A include an alkyl group, an alkoxy group, a hydroxyl group, an amino group, and an alkylamino group.
  • the alkyl group includes methyl group, ethyl group, normal propyl group, isopropyl group and the like.
  • the alkoxy group includes a methoxy group, an ethoxy group, and the like.
  • the electron-withdrawing group may be an alkyl group or an alkoxy group, or may be a methyl group or a methoxy group, from the viewpoint of increasing the activity of the curing agent and curing the adhesive composition in a shorter time. .
  • the benzene ring may contain a plurality of electron-donating groups, and the number of electron-donating groups possessed by the benzyl group located at the 1-position of the pyridinium salt A may be 1 or more, 2 or more, or 3 or more.
  • the benzyl group placed at the 1-position of pyridinium salt A is the 4-position (4-position when the bonding position of the benzyl group to the pyridine ring is the 1-position.
  • the para-position to the bonding position of the benzyl group to the pyridine ring may have at least one electron donating group.
  • Pyridinium cations of pyridinium salt A include 2-cyano-1-(4-methoxybenzyl)pyridinium cation, 2-chloro-1-(4-methoxybenzyl)pyridinium cation, 2-bromo-1-(4-methoxybenzyl) ) pyridinium cation, 2-cyano-1-(4-methylbenzyl)pyridinium cation, 2-chloro-1-(4-methylbenzyl)pyridinium cation, 2-bromo-1-(4-methylbenzyl)pyridinium cation, 2 -cyano-1-(2,4,6-trimethylbenzyl)pyridinium cation, 2-chloro-1-(2,4,6-trimethylbenzyl)pyridinium cation, 2-bromo-1-(2,4,6- trimethylbenzyl)pyridinium cation and the like.
  • the pyridinium cation of pyridinium salt A is 2-cyano-1-(4-methoxybenzyl) pyridinium cation, 2-chloro-1-(4-methoxy at least selected from the group consisting of benzyl)pyridinium cation, 2-cyano-1-(2,4,6-trimethylbenzyl)pyridinium cation, and 2-chloro-1-(2,4,6-trimethylbenzyl)pyridinium cation may be of one type.
  • the anions of pyridinium salt A are SbF 6 ⁇ , PF 6 ⁇ , PF X (CF 3 ) 6-X ⁇ (where X is an integer of 1 to 5), BF 4 ⁇ , B(C 6 F 5 ) 4 ⁇ , RSO 3 ⁇ (where R is an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms or a substituted or unsubstituted aryl group), C(SO 2 CF 3 ) 3 ⁇ , B(C 6 H 3 (CF 3 ) 2 ) 4 - (provided that CF 3 groups are substituted at the 3,5-positions of the phenyl group), and the like.
  • the anion of pyridinium salt A may be B(C 6 F 5 ) 4 — .
  • the pyridinium salt A may be a compound in which the above pyridinium cation and the above anion are combined.
  • Pyridinium salt A is 2-cyano-1-(4-methoxybenzyl)pyridinium tetrakis(pentafluorophenyl)borate, 2-chloro-1- (4-methoxybenzyl)pyridinium tetrakis(pentafluorophenyl)borate, 2-cyano-1-(2,4,6-trimethylbenzyl)pyridinium tetrakis(pentafluorophenyl)borate, and 2-chloro-1-( It may be at least one selected from the group consisting of 2,4,6-trimethylbenzyl)pyridinium tetrakis(pentafluorophenyl)borate.
  • the curing agent containing pyridinium salt A is, for example, at least one of a pyridine compound having an electron withdrawing group at the 2-position, a benzyl chloride compound having an electron donating group, or a benzyl bromide compound having an electron donating group, and an alkali metal A step of reacting an iodide salt (e.g., sodium iodide) of (e.g., sodium iodide) in a solvent (e.g., acetonitrile) to obtain a pyridinium iodide having a pyridine ring and a benzene ring; (for example, dichloromethane) to obtain pyridinium salt A.
  • an iodide salt e.g., sodium iodide
  • a solvent e.g., acetonitrile
  • the pyridine compound having an electron withdrawing group at the 2-position may be a pyridine compound having the above electron withdrawing group at the 2-position, such as 2-cyanopyridine and 2-chloropyridine.
  • the benzyl chloride compound having an electron donating group may be the above benzyl chloride compound having an electron donating group, such as 4-methoxybenzyl chloride and 2,4,6-trimethylbenzyl chloride.
  • the benzyl bromide compound having an electron donating group may be the benzyl bromide compound having an electron donating group as described above, such as 4-methoxybenzyl bromide and 2,4,6-trimethylbenzyl bromide.
  • the anion salt may be any compound capable of introducing the anion of the pyridinium salt A, and may be, for example, the lithium salt, sodium salt, potassium salt, or cesium salt of the anion of the pyridinium salt A.
  • the reaction may be carried out, for example, at room temperature (20-30°C).
  • the reaction time can be, for example, 10-50 hours or 20-30 hours.
  • the solvent used may be removed by washing the resulting pyridinium iodide with acetone, distilled water, or the like, and vacuum drying.
  • the yield of pyridinium iodide may be 40% or higher, 55% or higher, 70% or higher, or 80% or higher.
  • the yield of pyridinium iodide is the ratio of the amount actually obtained to the maximum amount of pyridinium iodide obtainable from the raw materials used in the synthesis of pyridinium iodide.
  • the reaction may be carried out, for example, at room temperature (20-30°C).
  • the reaction time can be, for example, 1-15 hours or 1-5 hours.
  • the solvent used may be removed by washing the obtained pyridinium salt A with acetone, distilled water, or the like, and vacuum drying.
  • the yield of pyridinium salt A may be 70% or more, 80% or more, or 85% or more.
  • the yield of pyridinium salt A is the ratio of the amount actually obtained to the maximum amount of pyridinium salt A obtainable from the pyridinium iodide used in the synthesis of pyridinium salt A.
  • pyridinium salt A was obtained can be confirmed by measuring the obtained compound by nuclear magnetic resonance spectroscopy ( 1 H-NMR). Specifically, it can be confirmed by the method described in Examples below.
  • Examples of sulfonium salts include compounds represented by the following general formula (5).
  • R 41 represents a phenyl group, a 1-naphthyl group, a 2-naphthyl group, or a phenyl group having a substituent at the o, m, or p position
  • R 42 and R 43 are electron donating group and Y- represents an anion.
  • substituents of a phenyl group having a substituent include a methyl group, a cyano group, a halogeno group, a nitro group, an acetyl group, a carbonyl group, a carboxy group, and a sulfo group.
  • the halogeno group includes a fluoro group, a chloro group, a bromo group, an iodo group and the like.
  • electron-donating groups include amino groups, hydroxyl groups, and methyl groups.
  • Y ⁇ includes SbF 6 ⁇ , PF 6 ⁇ , PF X (CF 3 ) 6-X ⁇ (where X is an integer of 1 to 5), BF 4 ⁇ , B(C 6 F 5 ) 4 ⁇ , RSO 3 - (wherein R is an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted aryl group), C(SO 2 CF 3 ) 3 - , B(C 6 H 3 (CF 3 ) 2 ) 4 - ( However, the CF 3 group is substituted at the 3,5-position of the phenyl group) and the like.
  • sulfonium salt a commercially available product such as 1-naphthylmethylmethyl-p-hydroxyphenylsulfonium hexafluoroantimonate (manufactured by Sanshin Chemical Industry Co., Ltd., trade name "SI-60”) can be used.
  • SI-60 1-naphthylmethylmethyl-p-hydroxyphenylsulfonium hexafluoroantimonate
  • the content of component (B1) in the adhesive composition may be 1 to 30% by mass or 4 to 10% by mass based on the total amount of component (A).
  • thermoplastic resin can be used as the component (C).
  • thermoplastic resins include phenoxy resins, polyester resins, polyamide resins, polyurethane resins, polyester urethane resins, acrylic rubbers, and the like. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.
  • the weight average molecular weight (Mw) of the thermoplastic resin may be, for example, 5000 or more, 10000 or more, 20000 or more, or 40000 or more, and may be 200000 or less, 100000 or less, 80000 or less, or 60000 or less.
  • the weight average molecular weight of the thermoplastic resin is measured by gel permeation chromatography (GPC) and converted using a standard polystyrene calibration curve.
  • the content of the thermoplastic resin may be 5% by mass or more, 15% by mass or more, 20% by mass or more, or 25% by mass or more based on the total mass of the adhesive composition.
  • the content of the thermoplastic resin may be 40% by mass or less, 30% by mass or less, 20% by mass or less, or 10% by mass or less based on the total mass of the adhesive composition.
  • the adhesive composition may contain conductive particles.
  • the conductive particles are not particularly limited as long as they are conductive particles.
  • Metal particles composed of metals such as gold, silver, palladium, nickel, copper, and solder; conductive carbon particles composed of conductive carbon.
  • coated conductive particles comprising a core containing non-conductive glass, ceramic, plastic (polystyrene, etc.), etc., and a coating layer containing the metal or conductive carbon described above and covering the core;
  • the conductive particles are easily deformed by heating and/or pressurization, and when the electrodes are electrically connected to each other, the contact area between the electrodes and the conductive particles is increased to improve the conductivity between the electrodes. It may be coated conductive particles from the viewpoint of further improvement.
  • the average particle size of the conductive particles may be 1 ⁇ m or more, 2 ⁇ m or more, or 2.5 ⁇ m or more from the viewpoint of excellent dispersibility and conductivity.
  • the average particle size of the conductive particles may be 20 ⁇ m or less, 15 ⁇ m or less, 10 ⁇ m or less, 8 ⁇ m or less, 6 ⁇ m or less, 5.5 ⁇ m or less, or 5 ⁇ m or less from the viewpoint of ensuring insulation between adjacent electrodes. From these viewpoints, the average particle size of the conductive particles may be 1 to 20 ⁇ m, 1 to 15 ⁇ m, 1 to 10 ⁇ m, 1 to 8 ⁇ m, or 1 to 6 ⁇ m.
  • the average particle size of the conductive particles is obtained by observing 300 conductive particles contained in the adhesive composition using a scanning electron microscope (SEM), measuring the particle size of each conductive particle, and determining the average particle size of 300 conductive particles. It is the average value of particle diameters.
  • the particle diameter of the conductive particles is the diameter of a circle circumscribing the conductive particles in the observation image using the SEM.
  • the particle density of the conductive particles in the adhesive composition may be 100/mm 2 or more, 1000/mm 2 or more, or 3000/mm 2 or more from the viewpoint of obtaining stable connection resistance.
  • the particle density of the conductive particles in the adhesive composition may be 100000/ mm2 or less, 50000/ mm2 or less, or 30000/mm2 or less from the viewpoint of ensuring insulation between adjacent electrodes. . From these points of view, the particle density of the conductive particles in the adhesive composition may be from 100 to 100,000/mm 2 , from 1,000 to 50,000/mm 2 , or from 3,000 to 30,000/mm 2 .
  • the content of the conductive particles may be 10% by mass or more, 20% by mass or more, or 25% by mass or more based on the total mass of the adhesive composition.
  • the content of the conductive particles may be 50% by weight or less, 40% by weight or less, or 30% by weight or less based on the total weight of the adhesive composition.
  • the adhesive composition may further contain a coupling agent.
  • the adhesive composition can further improve adhesiveness by containing a coupling agent.
  • the coupling agent may be a silane coupling agent, such as vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, 3-( meth) acryloxypropylmethyldimethoxysilane, 3-(meth)acryloxypropyltrimethoxysilane, 3-(meth)acryloxypropylmethyldiethoxysilane, 3-(meth)acryloxypropyltriethoxysilane, N-2- (aminoethyl)-3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-ureidopropyltriethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane,
  • the content of the coupling agent may be 0.5% by mass or more, 1% by mass or more, or 2% by mass or more based on the total mass of the adhesive composition.
  • the content of the coupling agent may be 15 wt% or less, 10 wt% or less, or 5 wt% or less based on the total weight of the adhesive composition.
  • the adhesive composition may further contain a filler.
  • the adhesive composition can further improve connection reliability by containing a filler.
  • Fillers include non-conductive fillers (eg, non-conductive particles).
  • the filler may be either an inorganic filler or an organic filler.
  • inorganic fillers include metal oxide particles such as silica particles, alumina particles, silica-alumina particles, titania particles, and zirconia particles; and metal nitride particles. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.
  • organic fillers examples include silicone particles, methacrylate/butadiene/styrene particles, acrylic/silicone particles, polyamide particles, and polyimide particles. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.
  • the filler may be an inorganic filler or silica particles from the viewpoint of improving the film formability and the reliability of the connected structure.
  • the silica particles may be crystalline silica particles or amorphous silica particles, and these silica particles may be synthetic.
  • a method for synthesizing silica may be a dry method or a wet method.
  • the silica particles may contain at least one selected from the group consisting of fumed silica particles and sol-gel silica particles.
  • the silica particles may be surface-treated silica particles from the viewpoint of excellent dispersibility in the adhesive component.
  • the surface-treated silica particles are obtained, for example, by hydrophobizing the hydroxyl groups on the surfaces of silica particles with a silane compound or a silane coupling agent.
  • the surface-treated silica particles may be, for example, silica particles surface-treated with a silane compound such as an alkoxysilane compound, a disilazane compound, or a siloxane compound, or may be silica particles surface-treated with a silane coupling agent. .
  • Alkoxysilane compounds include methyltrimethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, dimethoxydiphenylsilane, tetraethoxysilane, methyltriethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, phenyltriethoxysilane, n-propyltrimethoxysilane, n-propyltriethoxysilane, hexyltrimethoxysilane, hexyltriethoxysilane, octyltriethoxysilane, decyltrimethoxysilane, 1,6-bis(trimethoxysilyl)hexane, 3,3,3-trifluoropropyltrimethoxy Silane etc. are mentioned.
  • Disilazane compounds include 1,1,1,3,3,3-hexamethyldisilazane, 1,3-diphenyltetramethyldisilazane, 1,3-bis(3,3,3,-trifluoropropyl)- 1,1,3,3-Tetramethyldisilazane, 1,3-divinyl-1,1,3,3-tetramethyldisilazane and the like.
  • siloxane compounds include tetradecamethylcycloheptasiloxane, decamethylcyclopentasiloxane, hexaphenylcyclosiloxane, octadecamethylcyclononasiloxane, hexadecamethylcyclooctasiloxane, dodecamethylcyclohexasiloxane, octaphenylcyclotetrasiloxane, hexa methylcyclotrisiloxane, heptaphenyldisiloxane, tetradecamethylhexasiloxane, dodecamethylpentasiloxane, hexamethyldisiloxane, decamethyltetrasiloxane, hexamethoxydisiloxane, octamethyltrisiloxane, octamethylcyclotetrasiloxane, 1,3 -vinylte
  • Silane coupling agents include vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, 2-(3,4-epoxycyclohexyl)ethyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane.
  • Silica particles surface-treated with a silane compound or a silane coupling agent are treated with 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, trimethoxyphenyl in order to further hydrophobize the hydroxyl group residues on the silica particle surface.
  • the surface may be treated with a silane compound such as silane to make it more hydrophobic.
  • the surface-treated silica particles When the adhesive composition is used as an adhesive film for circuit connection, the surface-treated silica particles have a viewpoint that the fluidity is easily controlled when the adhesive film for circuit connection is pressure-bonded, and the connection structure after pressure-bonding.
  • At least one selected from the group consisting of a reaction product of silica and trimethoxyoctylsilane and a reaction product of silica and bis(trimethylsilyl)amine may be included.
  • the content of the filler may be 5% by mass or more, 10% by mass or more, or 15% by mass or more based on the total mass of the adhesive composition.
  • the filler content may be 50 wt% or less, 30 wt% or less, or 20 wt% or less based on the total weight of the adhesive composition.
  • the adhesive composition may further contain components other than the above components.
  • Other ingredients may include stabilizers, colorants, antioxidants, and the like.
  • the circuit-connecting adhesive film of this embodiment has a region formed from the above-described adhesive composition of this embodiment.
  • the regions may be films or layers.
  • the particle density of the conductive particles in the adhesive film for circuit connection is 100 particles/mm2 or more , 1000 particles/mm, from the viewpoint of obtaining stable connection resistance. It may be 2 or more, or 3000/mm 2 or more.
  • the particle density of the conductive particles in the adhesive film for circuit connection is 100,000 particles/mm 2 or less, 50,000 particles/mm 2 or less, or 30,000 particles/mm 2 or less from the viewpoint of ensuring insulation between adjacent electrodes. you can From these viewpoints, the particle density of the conductive particles in the adhesive film for circuit connection may be 100 to 100000/mm 2 , 1000 to 50000/mm 2 or 3000 to 30000/mm 2 .
  • the content of the conductive particles may be 10% by mass or more, 20% by mass or more, or 25% by mass or more based on the total mass of the circuit connection adhesive film.
  • the content of the conductive particles may be 50% by mass or less, 40% by mass or less, or 30% by mass or less based on the total mass of the circuit-connecting adhesive film.
  • the circuit connection adhesive film may be provided on a substrate (for example, PET film) or the like.
  • the substrate-attached adhesive film for circuit connection is produced, for example, by applying an adhesive composition containing conductive particles onto the substrate using a knife coater, roll coater, applicator, comma coater, die coater, or the like. can do.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing a circuit-connecting adhesive film according to one embodiment.
  • the circuit-connecting adhesive film 1 is, in one embodiment, composed of a single layer consisting of an adhesive component 2 and conductive particles 3 dispersed in the adhesive component 2 .
  • the adhesive component 2 contains the components (A), (B) and (C) described above and other components.
  • the circuit-connecting adhesive film 1 may be in an uncured state or in a partially cured state.
  • the thickness of the circuit connection adhesive film 1 may be, for example, 3 ⁇ m or more or 10 ⁇ m or more, and may be 30 ⁇ m or less or 20 ⁇ m or less.
  • the circuitized adhesive film may be a multi-layer structure having two or more layers, wherein the circuitized adhesive film comprises a first region comprising a first adhesive component and the first and a second region comprising a second adhesive component provided adjacent to the region of the present embodiment described above, wherein one or both of the first region and the second region may be formed from the adhesive composition of Each of the first region and the second region may be a layer.
  • the adhesive film 1 for circuit connection includes a layer containing conductive particles 3A (a first adhesive layer comprising an adhesive component 2A and conductive particles 3A dispersed in the adhesive component 2A). It may have a two-layer structure comprising an adhesive layer) 1A and a layer (second adhesive layer comprising an adhesive component 2B) 1B that does not contain conductive particles.
  • the first adhesive layer 1A is an adhesive composition (first adhesive composition).
  • the second adhesive layer 1B is a layer made of an adhesive composition (second adhesive composition) containing the above components (A), (B) and (C), and other components. It's okay. The kind, content, etc.
  • first adhesive layer 1A and the second adhesive layer 1B of the circuit-connecting adhesive film 1 may each be in an uncured state or in a partially cured state.
  • the thickness of the first adhesive layer 1A may be, for example, 3 ⁇ m or more or 5 ⁇ m or more, and may be 15 ⁇ m or less or 10 ⁇ m or less.
  • the thickness of the second adhesive layer 1B may be, for example, 3 ⁇ m or more or 10 ⁇ m or more, and may be 20 ⁇ m or less or 15 ⁇ m or less.
  • the thickness of the first adhesive layer 1A may be the same as or different from the thickness of the second adhesive layer 1B.
  • the ratio of the thickness of the first adhesive layer 1A to the thickness of the second adhesive layer 1B is 0.1. or more, or 0.3 or more, and may be 1.5 or less, or 0.5 or less.
  • the circuit connection adhesive film may be an anisotropic conductive adhesive film (anisotropic conductive film) or a conductive adhesive film without anisotropic conductivity.
  • FIG. 1 Another embodiment of the present disclosure includes a first circuit member having a first electrode, a second circuit member having a second electrode, and disposed between the first circuit member and the second circuit member. and a connecting portion for electrically connecting the first electrode and the second electrode to each other, wherein the connecting portion contains the cured adhesive film for circuit connection.
  • FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing one embodiment of the connection structure.
  • the structure 10 includes a first circuit member 4 and a second circuit member 5 facing each other, and a first circuit member 4 and a first circuit member 5 between the first circuit member 4 and the second circuit member 5 .
  • a connecting portion 6 that connects the circuit member 4 and the second circuit member 5 is provided.
  • the first circuit member 4 includes a first circuit board 41 and a first electrode 42 formed on the main surface 41 a of the first circuit board 41 .
  • the second circuit member 5 includes a second circuit board 51 and second electrodes 52 formed on the main surface 51 a of the second circuit board 51 .
  • the first circuit member 4 and the second circuit member 5 are not particularly limited as long as they are formed with electrodes that require electrical connection.
  • members (circuit members, etc.) on which electrodes are formed include inorganic substrates such as semiconductors, glass, and ceramics; polyimide substrates such as TCP, FPC, and COF; electrodes on films such as polycarbonate, polyester, and polyethersulfone; A printed wiring board or the like is used, and a plurality of these may be used in combination.
  • the connection part 6 contains the cured product of the adhesive film 1 for circuit connection, and contains the insulating substance 7 which is the cured product of the adhesive component 2 and the conductive particles 3 .
  • the conductive particles 3 are placed not only between the opposing first electrode 42 and the second electrode 52, but also between the main surface 41a of the first circuit board 41 and the main surface 51a of the second circuit board 51. may be placed.
  • the first electrode 42 and the second electrode 52 are electrically connected via the conductive particles 3 . That is, the conductive particles 3 are in contact with both the first electrode 42 and the second electrode 52 .
  • the first electrode 42 and the second electrode 52 facing each other are electrically connected via the conductive particles 3, as described above. Therefore, the connection resistance between the first electrode 42 and the second electrode 52 is sufficiently reduced. Therefore, the current flow between the first electrode 42 and the second electrode 52 can be made smooth, and the functions of the first circuit member 4 and the second circuit member 5 can be fully exhibited. can be done.
  • connection structure Another embodiment of the present disclosure is to interpose the circuit connection adhesive film between a first circuit member having a first electrode and a second circuit member having a second electrode,
  • a method of manufacturing a connection structure comprising the step of thermally compressing a first circuit member and a second circuit member to electrically connect the first electrode and the second electrode to each other.
  • FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing one embodiment of a method for manufacturing a connection structure.
  • a first circuit member 4 and a circuit-connecting adhesive film 1 are prepared.
  • the circuit-connecting adhesive film 1 is placed on the main surface 41 a of the first circuit member 4 .
  • the circuit-connecting adhesive film 1 is laminated on a substrate (not shown), the circuit-connecting adhesive film 1 side of the substrate is directed toward the first circuit member 4, A laminate is placed on the first circuit member 4 .
  • the adhesive film 1 for circuit connection has a first adhesive layer 1A and a second adhesive layer 1B as shown in FIG. It is preferable to dispose so that the first adhesive layer side is in contact with the main surface 41a of the first circuit member 4 from the top.
  • circuit-connecting adhesive film 1 is pressurized in the directions of arrows A and B in FIG. 4(a) to temporarily connect the circuit-connecting adhesive film 1 to the first circuit member 4 (FIG. reference). At this time, heating may be performed together with the pressurization.
  • the second electrode 52 side is directed toward the first circuit member 4 . (that is, in a state in which the first electrode 42 and the second electrode 52 are arranged to face each other, and the circuit connection adhesive is placed between the first circuit member 4 and the second circuit member 5 A second circuit member 5 is further arranged (with the film 1 interposed).
  • the circuit-connecting adhesive film 1 is laminated on a substrate (not shown), the substrate is peeled off and then the second circuit member 5 is arranged on the circuit-connecting adhesive film 1. .
  • circuit-connecting adhesive film 1 is thermocompression bonded in the directions of arrows A and B in FIG. 4(c). As a result, the circuit-connecting adhesive film 1 is cured, and final connection is established to electrically connect the first electrode 42 and the second electrode 52 to each other. As a result, a structure 10 as shown in FIG. 3 is obtained.
  • the adhesive component 2 is cured to become the insulating material 7 while the distance between the first electrode 42 and the second electrode 52 is sufficiently reduced. , the first circuit member 4 and the second circuit member 5 are firmly connected via the connecting portion 6 .
  • a sufficiently high adhesive strength is maintained for a long period of time. Therefore, in the structure 10, the change over time of the distance between the first electrode 42 and the second electrode 52 is sufficiently suppressed, and the long-term reliability of the electrical characteristics between the first electrode 42 and the second electrode 52 is maintained. is superior.
  • the structure 10 has excellent peeling resistance of the adhesive surface under high-temperature and high-humidity conditions, and the connection resistance can be less likely to increase.
  • the present disclosure can provide the following adhesive composition, adhesive film for circuit connection, connection structure, and method for manufacturing a connection structure.
  • [1] Contains (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (C) a film-forming component.
  • the onium compound is a pyridinium salt or an aromatic sulfonium salt.
  • the content of the polyfunctional epoxy resin is 5 to 90% by mass based on the total amount of the aromatic epoxy resin.
  • the adhesive film for circuit connection according to [5] or [6] above is provided.
  • a method of manufacturing a connection structure comprising the step of interposing and thermocompression bonding the first circuit member and the second circuit member to electrically connect the first electrode and the second electrode to each other.
  • the obtained compound was measured by nuclear magnetic resonance spectroscopy (1H-NMR, manufactured by JEOL Ltd., JNM-ECX400II), and the following spectral data were obtained. Measurement by 1 H-NMR confirmed that the obtained compound was 2-cyano-1-(2,4,6-trimethylbenzyl)pyridinium tetrakis(pentafluorophenyl)borate having the following structure.
  • the molecular weight of the obtained phenoxy resin a was measured by a high-performance liquid chromatograph (manufactured by Tosoh Corporation, GP8020, columns: Gelpack GL-A150S and GLA160S manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., eluent: tetrahydrofuran, flow rate: 1.0 mL/min).
  • conductive particles having an average particle size of 3.3 ⁇ m, a maximum particle size of 3.5 ⁇ m, and a specific gravity of 2.7 were obtained.
  • Epoxy resin A1 Bisphenol A type epoxy resin (trade name: YL980, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation)
  • A2 Tetrafunctional naphthalene skeleton epoxy resin (trade name: HP4700, manufactured by DIC Corporation)
  • A3 Bifunctional naphthalene skeleton epoxy resin (trade name: HP4770, manufactured by DIC Corporation)
  • A4 Bifunctional naphthalene skeleton epoxy resin (trade name: HP4032D, manufactured by DIC Corporation)
  • A5 Bifunctional anthracene skeleton epoxy resin (trade name: YX8800, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation)
  • Curing agent B1 pyridinium salt synthesized above
  • B2 1-naphthylmethylmethyl-p-hydroxyphenylsulfonium hexafluoroantimonate (trade name: SI-60, manufactured by Sanshin Chemical Industry Co., Ltd.)
  • Film-forming component C1 phenoxy resin a synthesized above
  • C2 Bisphenol A/F
  • a second adhesive composition was applied onto the substrate (PET film) to form a second adhesive layer on the substrate. Furthermore, the first adhesive composition is applied on the second adhesive layer to form the first adhesive layer, the first adhesive layer, the second adhesive layer, the substrate were laminated in this order to prepare an adhesive film for circuit connection.
  • the thickness of the first adhesive layer of each circuit connection adhesive film of Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 3 was 7 ⁇ m, and the thickness of the second adhesive layer was 7 ⁇ m.
  • connection structure AlNd (100 nm)/Mo (50 nm)/AlNd (100 nm)/Mo (50 nm)/ An ITO (100 nm) wiring pattern (pattern width: 19 ⁇ m, inter-electrode space: 5 ⁇ m) was prepared.
  • an IC chip in which bump electrodes are arranged in two rows in a zigzag pattern (outer shape: 0.9 mm ⁇ 20.3 mm, thickness: 0.3 mm, size of bump electrode: 70 ⁇ m ⁇ 12 ⁇ m, bump electrode space: 12 ⁇ m, bump electrode thickness: 8 ⁇ m).
  • connection structures were produced.
  • the first adhesive layer of the circuit connecting adhesive film was placed on the first circuit member.
  • a thermocompression bonding device (LD-06, manufactured by Ohashi Seisakusho Co., Ltd.) consisting of a ceramic heater stage and a tool (8 mm ⁇ 50 mm), under the conditions of 50 ° C. and 0.98 MPa (10 kgf / cm 2 ). Heat and pressure were applied for 2 seconds to attach the circuit connecting adhesive film to the first circuit member.
  • the base material on the opposite side of the circuit-connecting adhesive film to the first circuit member was peeled off, and the bump electrodes of the first circuit member and the circuit electrodes of the second circuit member were aligned.
  • a PTFE sheet with a thickness of 50 ⁇ m as a cushioning material is placed on a pedestal heated to 80 ° C. and heated at 135 ° C. for 5 seconds at 60 MPa.
  • the second adhesive layer of the circuit-connecting adhesive film was adhered to the second circuit member to prepare a connection structure.
  • the heating temperature and heating time were changed to 150° C. for 5 seconds and 220° C. for 5 seconds, respectively, so as to sufficiently activate the curing agent.
  • the temperature was the measured maximum temperature of the adhesive film for circuit connection, and the pressure was a value calculated with respect to the total area of the surfaces of the bump electrodes of the second circuit member facing the first circuit member.
  • the high temperature and high humidity test was performed by storing the connection structure for 150 hours in a high temperature and high humidity tank at a temperature of 110°C and a humidity of 85% RH.
  • connection strength The adhesive strength of the resulting bonded structure at 25° C. was measured using a bond tester 4000Plus (load cell: 100 N) manufactured by Dage Precision Industries. "A” indicates that the shear strength is 30 MPa or more, and “B” indicates that the shear strength is less than 30 MPa.
  • connection resistance was measured at 14 points by the four-terminal measurement method, and the maximum connection resistance value (maximum resistance value) was evaluated.
  • a multimeter (MLR21, manufactured by ETAC) was used to measure the connection resistance.
  • the high temperature and high humidity test was performed by storing the connection structure for 150 hours in a high temperature and high humidity tank at a temperature of 110°C and a humidity of 85% RH.

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Abstract

接着剤組成物は、(A)エポキシ樹脂と、(B)硬化剤と、(C)フィルム形成成分と、を含有し、(A)成分として、芳香族系エポキシ樹脂を、(A)成分全量基準で90質量%超含み、芳香族系エポキシ樹脂として、下記一般式(1)で表される骨格を有する多官能エポキシ樹脂を含み、(B)成分として、オニウム系化合物を含む。[式(1)中、X1は、酸素原子、硫黄原子、又は、炭素数1~10のアルキレン基を示す。]

Description

接着剤組成物、回路接続用接着剤フィルム、及び、接続構造体の製造方法
 本開示は、接着剤組成物、回路接続用接着剤フィルム、及び、接続構造体の製造方法に関する。
 対向する回路部材を加熱及び加圧し、加圧方向の電極間を電気的に接続する回路接続材料として、例えば、接着剤中に導電粒子が分散された異方導電性を有する回路接続用接着剤フィルムが知られている(例えば、下記特許文献1~4を参照)。このような接着剤フィルムは、液晶ディスプレイ(LCD)パネルと、LCDを駆動させる半導体が搭載されたテープキャリアパッケージ(TCP:Tape Carrier Package)或いはチップオンフレックス(COF:Chip On Flex)との接続、又は、プリント配線板と、TCP或いはCOFとの電気的接続に広く使用されている。
 最近では、半導体をフェイスダウンで直接LCDパネル又はプリント配線板に実装する場合でも、従来のワイヤーボンディング法に替えて、薄膜化及び狭ピッチ接続に有利なフリップチップ実装が採用されており、ここでも異方導電性を有する回路接続用接着剤フィルムが回路接続材料として用いられている。
特開昭60-191228号公報 特開平1-251787号公報 特開平7-90237号公報 特開2019-104869号公報
 近年、市場からはパネル品質の信頼性への要求レベルが高まってきている。信頼性の向上には、実装体が、過酷な高温高湿条件下の試験後においても接続抵抗が上昇しにくい特性を有していることが必要とされている。
 接続抵抗の安定化のためには、回路接続材料の接着強度を高めることが求められるが、接続直後に回路接続材料と回路部材とが充分な接着強度を有していても、高温高湿試験後の実装体では接続抵抗が上昇する傾向にある。接続抵抗の上昇が大きい実装体においては、回路接続材料と回路部材との間に剥離が生じていることが本発明者らの検討により判明した。
 そこで、本開示は、充分な接着強度が得られるとともに高温高湿条件下であっても接着面に剥離が生じにくい接着剤組成物、高温高湿条件下における接着面の耐剥離性に優れ、接続抵抗が上昇しにくい回路接続構造体を得ることができる回路接続用接着剤フィルム、並びに、当該接着剤フィルムを用いた接続構造体及びその製造方法を提供することを目的とする。
 上記課題を解決するために、本開示の一側面は、(A)エポキシ樹脂と、(B)硬化剤と、(C)フィルム形成成分と、を含有し、(A)成分として、芳香族系エポキシ樹脂を、(A)成分全量基準で90質量%超含み、芳香族系エポキシ樹脂として、下記一般式(1)で表される骨格を有する多官能エポキシ樹脂を含み、(B)成分として、オニウム系化合物を含む、接着剤組成物を提供する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002
[式(1)中、Xは、酸素原子、硫黄原子、又は、炭素数1~10のアルキレン基を示す。]
 オニウム系化合物は、ピリジニウム塩又は芳香族スルホニウム塩であってもよい。
 多官能エポキシ樹脂の含有量が、芳香族系エポキシ樹脂全量基準で5~90質量%であってもよい。
 上記の接着剤組成物は、導電粒子を更に含有することができる。
 本開示の別の側面は、上記の接着剤組成物により形成された領域を有する、回路接続用接着剤フィルムを提供する。
 本開示の別の側面は、第1の接着剤成分を含む第1の領域と、該第1の領域に隣接して設けられた、第2の接着剤成分を含む第2の領域と、を備え、第1の領域及び第2の領域のうちの一方又は両方が、上記の接着剤組成物により形成されている、回路接続用接着剤フィルムを提供する。
 本開示の別の側面は、第一の電極を有する第一の回路部材と、第二の電極を有する第二の回路部材と、第一の回路部材及び第二の回路部材の間に配置され、第一の電極及び第二の電極を互いに電気的に接続する接続部と、を備え、接続部が、上記の回路接続用接着剤フィルムの硬化物を含む、接続構造体を提供する。
 本開示の別の側面は、第一の電極を有する第一の回路部材と、第二の電極を有する第二の回路部材との間に、上記の回路接続用接着剤フィルムを介在させ、第一の回路部材及び第二の回路部材を熱圧着して、第一の電極及び第二の電極を互いに電気的に接続する工程を備える、接続構造体の製造方法を提供する。
 本開示によれば、充分な接着強度が得られるとともに高温高湿条件下であっても接着面に剥離が生じにくい接着剤組成物、高温高湿条件下における接着面の耐剥離性に優れ、接続抵抗が上昇しにくい回路接続構造体を得ることができる回路接続用接着剤フィルム、並びに、当該接着剤フィルムを用いた接続構造体及びその製造方法を提供することができる。
回路接続用接着剤フィルムの一実施形態を示す模式断面図である。 回路接続用接着剤フィルムの一実施形態を示す模式断面図である。 接続構造体の一実施形態を示す模式断面図である。 図3の接続構造体の製造方法を示す模式断面図である。
 以下、本開示の実施形態について詳細に説明する。なお、本開示は、以下の実施形態に限定されない。
 本明細書中に記載されている数値範囲において、その数値範囲の上限値又は下限値は、実施例に示されている値に置き換えてもよい。また、数値範囲の下限値及び上限値は、それぞれ他の数値範囲の下限値又は上限値と任意に組み合わせられる。数値範囲「A~B」という表記においては、両端の数値A及びBがそれぞれ下限値及び上限値として数値範囲に含まれる。本明細書において、例えば、「10以上」という記載は、10及び10を超える数値を意味し、数値が異なる場合もこれに準ずる。また、例えば、「10以下」という記載は、10及び10未満の数値を意味し、数値が異なる場合もこれに準ずる。また、本明細書に例示する各成分及び材料は、特に断らない限り、一種を単独で使用してもよいし、二種以上を併用してもよい。本明細書において、組成物中の各成分の含有量は、組成物中に各成分に該当する物質が複数存在する場合、特に断らない限り、組成物中に存在する当該複数の物質の合計量を意味する。また、本明細書中、「(メタ)アクリレート」とは、アクリレート、及び、それに対応するメタクリレートの少なくとも一方を意味する。
<接着剤組成物>
 本実施形態の接着剤組成物は、(A)エポキシ樹脂(以下、(A)成分ともいう)と、(B)硬化剤(以下、(B)成分ともいう)と、(C)フィルム形成成分(以下、(C)成分ともいう)と、を含有する。
(エポキシ樹脂)
 本実施形態の接着剤組成物は、(A)成分として、芳香族系エポキシ樹脂を、(A)成分全量基準で90質量%超含み、芳香族系エポキシ樹脂として、(A1)下記一般式(1)で表される骨格を有する多官能エポキシ樹脂(以下、(A1)成分ともいう)を含む。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
 式(1)中、Xは、酸素原子、硫黄原子、又は、炭素数1~10のアルキレン基を示す。耐剥離性の観点から、Xは、-CH-であってもよい。
(エポキシ樹脂)
 まず、(A1)成分について説明する。
 (A1)成分としては、下記一般式(2)で表される多官能エポキシ樹脂を用いることができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004
[式(2)中、Xは、酸素原子、硫黄原子、又は、炭素数1~10のアルキレン基を示し、R及びRは、置換基であり、それぞれ独立にグリシジル基又はグリシジルオキシ基を示し、m及びnはそれぞれ、1~7の整数を示し、m+nが2以上である。]
 耐剥離性の観点から、(A1)成分としては、下記一般式(3)で表される多官能エポキシ樹脂を用いることができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
[式(3)中、R11、R12、R21及びR22はそれぞれ独立に、水素原子、グリシジル基又はグリシジルオキシ基を示し、R11、R12、R21及びR22のうちの2以上がグリシジル基又はグリシジルオキシ基である。]
 式(3)中、R11及びR22がグリシジル基又はグリシジルオキシ基であり、R12及びR21が水素原子であってもよく、R11、R12、R21及びR22のすべてがグリシジル基又はグリシジルオキシ基であってもよい。
 (A1)成分は、「HP4700」及び「HP4770」(以上、DIC株式会社製、商品名)などの市販品を用いることができる。
 (A1)成分は、1種を単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
 接着剤組成物における(A1)成分の含有量は、接着剤組成物全量(但し、導電粒子を除く)を基準として、10~70質量%であってもよく、20~60質量%であってもよい。
 本実施形態の接着剤組成物は、(A1)成分以外の第2の芳香族エポキシ樹脂(以下、(A2)成分ともいう)を含有することができる。
 第2の芳香族エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールFノボラック型エポキシ樹脂、テトラメチルビスフェノールA型エポキシ樹脂、3’,4’-エポキシシクロヘキシルメチル-3,4-エポキシシクロヘキサンカルボキシレート(ビ-7-オキサビシクロ[4,1,0]ヘプタン)、3,4-エポキシシクロヘキシルメチル(メタ)アクリレート、(3、3’、4、4’-ジエポキシ)ビシクロヘキシル、ジシクロペンタジエンジメタノールジグリシジルエーテル、キシレン-ノボラック型グリシジルエーテル等が挙げられる。第2の芳香族エポキシ樹脂は、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、テトラメチルビスフェノールA型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエンジメタノールジグリシジルエーテル、及びキシレン-ノボラック型グリシジルエーテルからなる群より選ばれる少なくとも一種であってよい。
 (A1)成分の含有量は、芳香族エポキシ樹脂全量基準で、5質量%以上、10質量%以上、20質量%以上、30質量%以上、40質量%以上であってもよく、90質量%以下、80質量%以下、70質量%以下、60質量%以下であってもよい。
 本実施形態の接着剤組成物は、(A)成分として、芳香族系エポキシ樹脂以外のその他のエポキシ樹脂を含んでいてもよい。その他のエポキシ樹脂としては、脂肪族エポキシ樹脂、及び脂環式エポキシ樹脂が挙げられる。
 本実施形態の接着剤組成物においては、脂環式エポキシ樹脂の含有量が、(A)成分全量を基準として、10質量%未満であってもよく、5質量%以下であってもよく、0質量%であってもよい。
 接着剤組成物における(A)成分の含有量は、接着剤組成物全量(但し、導電粒子を除く)を基準として、10~70質量%であってもよく、20~60質量%であってもよい。
(硬化剤)
 本実施形態の接着剤組成物は、(B)成分として、(B1)オニウム系化合物(以下、(B1)成分ともいう)を含む。
 (B1)成分としては、スルホニウム塩、ピリジニウム塩、ホスホニウム塩、アンモニウム塩、ジアゾニウム塩、ヨードニウム塩、アニリニウム塩等のオニウム塩を用いることができる。オニウム塩のアニオンは、BF 、BR (Rは、2以上のフッ素原子又は2以上のトリフルオロメチル基で置換されたフェニル基を示す。)、PF 、SbF 、AsF 等が挙げられる。
 (B1)成分は、1種を単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
 低温硬化性の観点から、(B1)成分は、ピリジニウム塩又はスルホニウム塩であってもよい。
 ピリジニウム塩としては、1位にベンジル基を有し、且つ、2位に電子求引基を有し、ベンジル基が電子供与基を有するピリジニウム塩(以下、「ピリジニウム塩A」ともいう)を用いることができる。換言すると、ピリジニウム塩Aは、ピリジン環及びベンゼン環を有し、ピリジン環の窒素原子に対してオルト位に配置された電子求引基を有し、ベンゼン環が電子供与基を有する。
 ピリジニウム塩Aは、ピリジニウムカチオンとアニオンとから構成される化合物であってよい。なお、本明細書において、ピリジニウム塩又はピリジニウムカチオンの1位とは、ピリジニウム塩又はピリジニウムカチオンのピリジン環における窒素原子の位置を意味する。
 ピリジニウム塩Aは、例えば、下記一般式(4)で表される化合物であってよい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
[式(4)中、R31は、電子求引基を表し、R32は、電子供与基を表し、Xは、アニオンを表す。]
 ピリジニウム塩Aが2位に有する電子求引基としては、シアノ基、ハロゲノ基、ニトロ基、カルボニル基、カルボキシ基、スルホ基等が挙げられる。ハロゲノ基としては、フルオロ基、クロロ基、ブロモ基、ヨード基等が挙げられる。電子求引基は、硬化剤の活性を高めて、接着剤組成物をより短時間での硬化させることができる観点から、シアノ基又はハロゲノ基であってよく、シアノ基又はクロロ基であってよい。ピリジニウム塩Aは、2位に配置された電位求引基以外の電子求引基を含んでよい。ピリジニウム塩Aが有する電子求引基の数は、3以下、2以下、又は1であってよい。
 ピリジニウム塩Aの1位に配置されたベンジル基が有する電子供与基としては、アルキル基、アルコキシ基、ヒドロキシル基、アミノ基、アルキルアミノ基等が挙げられる。アルキル基としては、メチル基、エチル基、ノルマルプロピル基、イソプロピル基等が挙げられる。アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基等が挙げられる。電子求引基は、硬化剤の活性を高めて、接着剤組成物をより短時間で硬化させることができる観点から、アルキル基又はアルコキシ基であってよく、メチル基又はメトキシ基であってよい。ベンゼン環は、複数の電子供与基を含んでよく、ピリジニウム塩Aの1位に配置されたベンジル基が有する電子供与基の数は、1以上、2以上、又は3以上であってよい。ピリジニウム塩Aの1位に配置されたベンジル基は、4位(ベンジル基のピリジン環との結合位置を1位としたときの4位。ベンジル基のピリジン環との結合位置に対してパラ位)に少なくとも1つの電子供与基を有していてよい。
 ピリジニウム塩Aのピリジニウムカチオンとしては、2-シアノ-1-(4-メトキシベンジル)ピリジニウムカチオン、2-クロロ-1-(4-メトキシベンジル)ピリジニウムカチオン、2-ブロモ-1-(4-メトキシベンジル)ピリジニウムカチオン、2-シアノ-1-(4-メチルベンジル)ピリジニウムカチオン、2-クロロ-1-(4-メチルベンジル)ピリジニウムカチオン、2-ブロモ-1-(4-メチルベンジル)ピリジニウムカチオン、2-シアノ-1-(2,4,6-トリメチルベンジル)ピリジニウムカチオン、2-クロロ-1-(2,4,6-トリメチルベンジル)ピリジニウムカチオン、2-ブロモ-1-(2,4,6-トリメチルベンジル)ピリジニウムカチオン等が挙げられる。ピリジニウム塩Aのピリジニウムカチオンは、接着剤組成物をより短時間で硬化させることができる観点から、2-シアノ-1-(4-メトキシベンジル)ピリジニウムカチオン、2-クロロ-1-(4-メトキシベンジル)ピリジニウムカチオン、2-シアノ-1-(2,4,6-トリメチルベンジル)ピリジニウムカチオン、及び2-クロロ-1-(2,4,6-トリメチルベンジル)ピリジニウムカチオンからなる群より選ばれる少なくとも一種であってよい。
 ピリジニウム塩Aのアニオンは、SbF 、PF 、PF(CF6-X (但し、Xは1~5の整数)、BF 、B(C 、RSO (但し、Rは炭素数1~3のアルキル基、置換又は無置換のアリール基)、C(SOCF 、B(C(CF (但し、CF基はフェニル基の3,5位に置換)等が挙げられる。ピリジニウム塩Aのアニオンは、B(C であってよい。
 ピリジニウム塩Aは、上記のピリジニウムカチオンと、上記のアニオンと、を組み合わせた化合物であってよい。ピリジニウム塩Aは、接着剤組成物をより短時間で硬化させることができる観点から、2-シアノ-1-(4-メトキシベンジル)ピリジニウム・テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート、2-クロロ-1-(4-メトキシベンジル)ピリジニウム・テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート、2-シアノ-1-(2,4,6-トリメチルベンジル)ピリジニウム・テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート、及び2-クロロ-1-(2,4,6-トリメチルベンジル)ピリジニウム・テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートからなる群より選ばれる少なくとも一種であってよい。
 ピリジニウム塩Aを含有する硬化剤は、例えば、2位に電子求引基を有するピリジン化合物、電子供与基を有する塩化ベンジル化合物又は電子供与基を有する臭化ベンジル化合物のうち少なくとも一方、及びアルカリ金属のヨウ化物塩(例えば、ヨウ化ナトリウム)を溶媒(例えば、アセトニトリル)中で反応させて、ピリジン環及びベンゼン環を有するヨウ化ピリジニウムを得る工程と、得られたヨウ化ピリジニウム及びアニオン塩を溶媒(例えば、ジクロロメタン)中で反応させて、ピリジニウム塩Aを得る工程と、を備える製造方法により得ることができる。
 2位に電子求引基を有するピリジン化合物は、上記の電子求引基を2位に有するピリジン化合物であってよく、例えば、2-シアノピリジン、2-クロロピリジンが挙げられる。
 電子供与基を有する塩化ベンジル化合物は、上記の電子供与基を有する塩化ベンジル化合物であってよく、例えば、4-メトキシベンジルクロリド、2,4,6-トリメチルベンジルクロリドが挙げられる。電子供与基を有する臭化ベンジル化合物は、上記の電子供与基を有する臭化ベンジル化合物であってよく、例えば、4-メトキシベンジルブロミド、2,4,6-トリメチルベンジルブロミドが挙げられる。
 アニオン塩は、ピリジニウム塩Aが有するアニオンを導入することができる化合物であればよく、例えば、上記のピリジニウム塩Aのアニオンのリチウム塩、ナトリウム塩、カリウム塩、セシウム塩であってよい。
 ヨウ化ピリジニウムを得る工程において、反応は、例えば、室温下(20~30℃)で行われてよい。反応時間は、例えば、10~50時間又は20~30時間であってよい。反応終了後、得られたヨウ化ピリジニウムに対してアセトン、蒸留水等を用いて洗浄、真空乾燥させることで、用いた溶媒を除去してもよい。
 ヨウ化ピリジニウムを得る工程において、ヨウ化ピリジニウムの収率は、40%以上、55%以上、70%以上、又は80%以上であってよい。ヨウ化ピリジニウムの収率は、ヨウ化ピリジニウムの合成に用いた原料から得ることができるヨウ化ピリジニウムの最大量に対する実際に得られた量の比率とする。
 ピリジニウム塩Aを得る工程において、反応は、例えば、室温下(20~30℃)で行われてよい。反応時間は、例えば、1~15時間又は1~5時間であってよい。反応終了後、得られたピリジニウム塩Aに対してアセトン、蒸留水等を用いて洗浄、真空乾燥させることで、用いた溶媒を除去してもよい。
 ピリジニウム塩Aを得る工程において、ピリジニウム塩Aの収率は、70%以上、80%以上、85%以上であってよい。ピリジニウム塩Aの収率は、ピリジニウム塩Aの合成に用いたヨウ化ピリジニウムから得ることができるピリジニウム塩Aの最大量に対する実際に得られた量の比率とする。
 ピリジニウム塩Aが得られたことは、得られた化合物を核磁気共鳴スペクトル(H-NMR)で測定することにより確認することができる。具体的には、後述の実施例に記載の方法により確認することができる。
 スルホニウム塩としては、例えば、下記一般式(5)で表される化合物が挙げられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000007
[式(5)中、R41は、フェニル基、1-ナフチル基、2-ナフチル基、又はo,m,若しくはp位に置換基を有するフェニル基を表し、R42及びR43は電子供与基を表し、Yは、アニオンを表す。]
 置換基を有するフェニル基の置換基としては、メチル基、シアノ基、ハロゲノ基、ニトロ基、アセチル基、カルボニル基、カルボキシ基、スルホ基等が挙げられる。ハロゲノ基としては、フルオロ基、クロロ基、ブロモ基、ヨード基等が挙げられる。
 電子供与基としては、例えば、アミノ基、水酸基、メチル基等が挙げられる。
 Yとしては、SbF 、PF 、PF(CF6-X (但し、Xは1~5の整数)、BF 、B(C 、RSO (但し、Rは炭素数1~3のアルキル基、置換又は無置換のアリール基)、C(SOCF 、B(C(CF (但し、CF基はフェニル基の3,5位に置換)等が挙げられる。
 スルホニウム塩は、1-ナフチルメチルメチル-p-ヒドロキシフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート(三新化学工業株式会社製、商品名「SI-60」)などの市販品を用いることができる。
 接着剤組成物における(B1)成分の含有量は、(A)成分全量を基準として、1~30質量%であってもよく、4~10質量%であってもよい。
(フィルム形成成分)
 (C)成分としては、熱可塑性樹脂を用いることができる。熱可塑性樹脂としては、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステルウレタン樹脂、アクリルゴム等が挙げられる。これらは、一種を単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。
 熱可塑性樹脂の重量平均分子量(Mw)は、例えば、5000以上、10000以上、20000以上、又は40000以上であってよく、200000以下、100000以下、80000以下、又は60000以下であってよい。熱可塑性樹脂の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で測定し、標準ポリスチレンによる検量線を用いて換算した値とする。
 熱可塑性樹脂の含有量は、接着剤組成物の全質量を基準として、5質量%以上、15質量%以上、20質量%以上、又は25質量%以上であってよい。熱可塑性樹脂の含有量は、接着剤組成物の全質量を基準として、40質量%以下、30質量%以下、20質量%以下、又は10質量%以下であってよい。
 接着剤組成物は、導電粒子を含有していてもよい。導電粒子としては、導電性を有する粒子であれば特に制限されず、金、銀、パラジウム、ニッケル、銅、はんだ等の金属で構成された金属粒子;導電性カーボンで構成された導電性カーボン粒子;非導電性のガラス、セラミック、プラスチック(ポリスチレン等)などを含む核と、上記の金属又は導電性カーボンを含み、核を被覆する被覆層と、を備える被覆導電粒子などが挙げられる。導電粒子は、加熱及び/又は加圧することにより変形させることが容易であり、電極同士を電気的に接続する際に、電極と導電粒子との接触面積を増加させて、電極間の導電性をより向上させることができる観点から、被覆導電粒子であってよい。
 導電粒子の平均粒子径は、分散性及び導電性に優れる観点から、1μm以上、2μm以上、又は2.5μm以上であってよい。導電粒子の平均粒子径は、隣り合う電極間の絶縁性を確保する観点から、20μm以下、15μm以下、10μm以下、8μm以下、6μm以下、5.5μm以下、又は5μm以下であってよい。これらの観点から、導電粒子の平均粒子径は、1~20μm、1~15μm、1~10μm、1~8μm、又は1~6μmであってよい。
 導電粒子の平均粒子径は、接着剤組成物が含有する導電粒子300個について、走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて観察して、各導電粒子の粒子径を測定し、導電粒子300個の粒子径の平均値とする。なお、導電粒子が球形ではない場合、導電粒子の粒子径は、SEMを用いた観察画像における導電粒子に外接する円の直径とする。
 接着剤組成物における導電粒子の粒子密度は、安定した接続抵抗が得られる観点から、100個/mm以上、1000個/mm以上、又は3000個/mm以上であってよい。接着剤組成物における導電粒子の粒子密度は、隣り合う電極間の絶縁性を確保する観点から、100000個/mm以下、50000個/mm以下、又は30000個/mm以下であってよい。これらの観点から、接着剤組成物における導電粒子の粒子密度は、100~100000個/mm、1000~50000個/mm、又は3000~30000個/mmであってよい。
 導電粒子の含有量は、接着剤組成物の全質量を基準として、10質量%以上、20質量%以上、又は25質量%以上であってよい。導電粒子の含有量は、接着剤組成物の全質量を基準として、50質量%以下、40質量%以下、又は30質量%以下であってよい。
 接着剤組成物は、カップリング剤を更に含有してよい。接着剤組成物は、カップリング剤を含有することで、接着性をより向上させることができる。カップリング剤は、シランカップリング剤であってよく、例えば、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3-(メタ)アクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3-(メタ)アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3-(メタ)アクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、3-(メタ)アクリロキシプロピルトリエトキシシラン、N-2-(アミノエチル)-3-アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N-フェニル-3-アミノプロピルトリメトキシシラン、3-ウレイドプロピルトリエトキシシラン、3-メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3-イソシアネートプロピルトリエトキシシラン、及び、これらの縮合物が挙げられる。これらは、一種を単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。
 カップリング剤の含有量は、接着剤組成物の全質量を基準として、0.5質量%以上、1質量%以上、又は2質量%以上であってよい。カップリング剤の含有量は、接着剤組成物の全質量を基準として、15質量%以下、10質量%以下、又は5質量%以下であってよい。
 接着剤組成物は、充填材を更に含有してよい。接着剤組成物は、充填材を含有することで、接続信頼性をより向上させることができる。充填材としては、非導電性のフィラー(例えば、非導電粒子)が挙げられる。充填材は、無機フィラー及び有機フィラーのいずれであってもよい。
 無機フィラーとしては、シリカ粒子、アルミナ粒子、シリカ-アルミナ粒子、チタニア粒子、ジルコニア粒子等の金属酸化物粒子;金属窒化物粒子などが挙げられる。これらは、一種を単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。
 有機フィラーとしては、例えば、シリコーン粒子、メタアクリレート・ブタジエン・スチレン粒子、アクリル・シリコーン粒子、ポリアミド粒子、ポリイミド粒子等が挙げられる。これらは、一種を単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。
 充填材は、フィルム成形性及び接続構造体の信頼性を向上させる観点から、無機フィラーであってよく、シリカ粒子であってよい。シリカ粒子は、結晶性シリカ粒子又は非結晶性シリカ粒子であってよく、これらのシリカ粒子は合成品であってもよい。シリカの合成方法は、乾式法又は湿式法であってよい。シリカ粒子は、ヒュームドシリカ粒子及びゾルゲルシリカ粒子からなる群より選ばれる少なくとも一種を含んでもよい。
 シリカ粒子は、接着剤成分中での分散性に優れる観点から、表面処理されたシリカ粒子であってよい。表面処理されたシリカ粒子は、例えば、シリカ粒子の表面の水酸基をシラン化合物又はシランカップリング剤により疎水化したものである。表面処理されたシリカ粒子は、例えば、アルコキシシラン化合物、ジシラザン化合物、シロキサン化合物等のシラン化合物により表面処理されたシリカ粒子であってよく、シランカップリング剤により表面処理されたシリカ粒子であってよい。
 アルコキシシラン化合物としては、メチルトリメトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、ジメトキシジフェニルシラン、テトラエトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、n-プロピルトリメトキシシラン、n-プロピルトリエトキシシラン、ヘキシルトリメトキシシラン、ヘキシルトリエトキシシラン、オクチルトリエトキシシラン、デシルトリメトキシシラン、1,6-ビス(トリメトキシシリル)ヘキサン、3,3,3-トリフルオロプロピルトリメトキシシラン等が挙げられる。
 ジシラザン化合物としては、1,1,1,3,3,3-ヘキサメチルジシラザン、1,3-ジフェニルテトラメチルジシラザン、1,3-ビス(3,3,3,-トリフルオロプロピル)-1,1,3,3,-テトラメチルジシラザン、1,3-ジビニル-1,1,3,3-テトラメチルジシラザン等が挙げられる。
 シロキサン化合物としては、テトラデカメチルシクロヘプタシロキサン、デカメチルシクロペンタシロキサン、ヘキサフェニルシクロシロキサン、オクタデカメチルシクロノナシロキサン、ヘキサデカメチルシクロオクタシロキサン、ドデカメチルシクロヘキサシロキサン、オクタフェニルシクロテトラシロキサン、ヘキサメチルシクロトリシロキサン、ヘプタフェニルヂシロキサン、テトラデカメチルヘキサシロキサン、ドデカメチルペンタシロキサン、ヘキサメチルジシロキサン、デカメチルテトラシロキサン、ヘキサメトキシジシロキサン、オクタメチルトリシロキサン、オクタメチルシクロテトラシロキサン、1,3-ビニルテトラメチルジシロキサン、2,4,6-トリメチル-2,4,6-トリビニルシクロトリシロキサン、1,3-ジメトキシ-1,1,3,3-テトラフェニルジシロキサン、1,1,3,3-テトラメチル-1,3-ジフェニルジシロキサン、1,3-ジメチル-1,3-ジフェニル-1,3-ジビニルジシロキサン、2,4,6,8-テトラメチル-2,4,6,8-テトラビニルシクロテトラシロキサン、1,1,1,3,5,5,5,-ヘプタメチル-3-(3-グリシドイロキシプロピル)トリシロキサン、1,3,5-トリス(3,3,3-トリフルオロプロピル)-1,3,5-トリメチルシクロトリシロキサン、1,1,1,3,5,5,5,-ヘプタメチル-3-[(トリメチルシリル)オキシ]トリシロキサン、1,3,-ビス[2-(7-オキサビシクロ[4.1.0]ヘプタン-3-イル)エチル]-1,1,3,3,-テトラメチルジシロキサン、1,1,1,5,5,5-ヘキサメチル-3-[(トリメチルシリル)オキシ]-3-ビニルトリシロキサン、3-[[ジメチル(ビニル)シリル]オキシ]-1,1,5,5,-テトラメチル-3-フェニル-1,5-ビニルトリシロキサン、オクタビニルオクタシルセスキオキサン、オクタフェニルオクタシラシルセスキオキサン等が挙げられる。
 シランカップリング剤としては、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、p-スチリルトリメトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3-アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、N-2-(アミノエチル)-3-アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N-2-(アミノエチル)-3-アミノプロピルトリメトキシシラン、3-アミノプロピルトリメトキシシラン、3-アミノプロピルトリエトキシシラン、3-トリエトキシシリル-N-(1,3-ジメチル-ブチリデン)プロピルアミン、N-フェニル-3-アミノプロピルトリメトキシシラン、トリス-(トリメトキシシリルプロピル)イソシアヌレート、3-ウレイドプロピルトリアルコキシシラン、3-メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、3-メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3-イソシアネートプロピルトリエトキシシラン、3-トリメトキシシリルプロピルコハク酸無水物等が挙げられる。
 シラン化合物又はシランカップリング剤により表面処理されたシリカ粒子は、シリカ粒子表面の水酸性基残基を更に疎水化するために、3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、トリメトキシフェニルシラン等のシラン化合物などを用いて表面処理し、更に疎水化させてもよい。
 表面処理されたシリカ粒子は、接着剤組成物を回路接続用接着剤フィルムとして用いた際に、回路接続用接着剤フィルムを圧着するときに、流動性を制御しやすい観点、圧着後の接続構造体の機械的物性及び耐水性を向上させる観点から、シリカとトリメトキシオクチルシランとの反応生成物(加水分解生成物)、シリカとジメチルシロキサンとの反応生成物、二酸化ケイ素又はシリカとジクロロ(ジメチル)シランとの反応生成物、シリカとビス(トリメチルシリル)アミンの反応生成物(加水分解生成物)、及びシリカとヘキサメチルジシラザンの反応生成物からなる群より選ばれる少なくとも一種を含んでよく、シリカとトリメトキシオクチルシランとの反応生成物、及び、シリカとビス(トリメチルシリル)アミンの反応生成物からなる群より選ばれる少なくとも一種を含んでもよい。
 充填材の含有量は、接着剤組成物の全質量を基準として、5質量%以上、10質量%以上、又は15質量%以上であってよい。充填材の含有量は、接着剤組成物の全質量を基準として、50質量%以下、30質量%以下、又は20質量%以下であってよい。
 接着剤組成物は、上記の成分以外の他の成分を更に含有してよい。他の成分としては、安定化剤、着色剤、酸化防止剤等を含有してよい。
<回路接続用接着剤フィルム>
 本実施形態の回路接続用接着剤フィルムは、上述した本実施形態の接着剤組成物により形成された領域を有する。領域は、フィルム状であってもよく、層であってもよい。
 本実施形態の接着剤組成物が導電粒子を含む場合、回路接続用接着剤フィルムにおける導電粒子の粒子密度は、安定した接続抵抗が得られる観点から、100個/mm以上、1000個/mm以上、又は3000個/mm以上であってよい。回路接続用接着剤フィルムにおける導電粒子の粒子密度は、隣り合う電極間の絶縁性を確保する観点から、100000個/mm以下、50000個/mm以下、又は30000個/mm以下であってよい。これらの観点から、回路接続用接着剤フィルムにおける導電粒子の粒子密度は、100~100000個/mm、1000~50000個/mm、又は3000~30000個/mmであってよい。
 導電粒子の含有量は、回路接続用接着剤フィルムの全質量を基準として、10質量%以上、20質量%以上、又は25質量%以上であってよい。導電粒子の含有量は、回路接続用接着剤フィルムの全質量を基準として、50質量%以下、40質量%以下、又は30質量%以下であってよい。
 回路接続用接着剤フィルムは、基材(例えばPETフィルム)等の上に設けられていてもよい。基材付きの回路接続用接着剤フィルムは、例えば、導電粒子を含有する接着剤組成物を、ナイフコーター、ロールコーター、アプリケーター、コンマコーター、ダイコーター等を用いて基材上に塗布して作製することができる。
 図1は、一実施形態に係る回路接続用接着剤フィルムを示す模式断面図である。図1に示すように、回路接続用接着剤フィルム1は、一実施形態において、接着剤成分2と、接着剤成分2中に分散された導電粒子3とからなる単層で構成されている。一実施形態において、接着剤成分2は、上述した(A)成分、(B)成分及び(C)成分、並びにその他の成分を含有する。回路接続用接着剤フィルム1は、未硬化の状態であってよく、一部が硬化している状態であってもよい。
 回路接続用接着剤フィルム1の厚さは、例えば、3μm以上又は10μm以上であってよく、30μm以下又は20μm以下であってよい。
 一実施形態において、回路接続用接着剤フィルムは二以上の層を有する多層構造であってよく、回路接続用接着剤フィルムは、第1の接着剤成分を含む第1の領域と、該第1の領域に隣接して設けられた、第2の接着剤成分を含む第2の領域と、を備え、、第1の領域及び第2の領域のうちの一方又は両方が、上述した本実施形態の接着剤組成物により形成されていてもよい。第1の領域及び第2の領域はそれぞれ、層であってもよい。
 例えば、図2に示すように、回路接続用接着剤フィルム1は、導電粒子3Aを含む層(接着剤成分2Aと、接着剤成分2A中に分散された導電粒子3Aとからなる第一の接着剤層)1Aと、導電粒子を含まない層(接着剤成分2Bからなる第二の接着剤層)1Bとを備える二層構造であってよい。この場合、第一の接着剤層1Aは、上述した(A)成分、(B)成分及び(C)成分、並びにその他の成分と、導電粒子と、を含有する接着剤組成物(第一の接着剤組成物)からなる層であってよい。第二の接着剤層1Bは、上述した(A)成分、(B)成分及び(C)成分、並びにその他の成分を含有する接着剤組成物(第二の接着剤組成物)からなる層であってよい。第二の接着剤層1Bが含有する各成分の種類、含有量等は、第一の接着剤層1Aと同じであってよく、異なっていてもよい。回路接続用接着剤フィルム1の第一の接着剤層1A及び第二の接着剤層1Bは、それぞれ未硬化の状態であってよく、一部が硬化している状態であってもよい。
 第一の接着剤層1Aの厚さは、例えば、3μm以上又は5μm以上であってよく、15μm以下又は10μm以下であってよい。第二の接着剤層1Bの厚さは、例えば、3μm以上又は10μm以上であってよく、20μm以下又は15μm以下であってよい。第一の接着剤層1Aの厚さは、第二の接着剤層1Bの厚さと同じであってよく、異なっていてもよい。第一の接着剤層1Aの厚さと第二の接着剤層1Bの厚さとの比(第一の接着剤層1Aの厚さ/第二の接着剤層1Bの厚さ)は、0.1以上又は0.3以上であってよく、1.5以下又は0.5以下であってよい。
 上記の回路接続用接着剤フィルムは、異方導電性接着剤フィルム(異方導電フィルム)であってもよく、異方導電性を有しない導電性接着剤フィルムであってもよい。
<接続構造体>
 本開示の他の実施形態は、第一の電極を有する第一の回路部材と、第二の電極を有する第二の回路部材と、第一の回路部材及び第二の回路部材の間に配置され、第一の電極及び第二の電極を互いに電気的に接続する接続部と、を備え、接続部が、上記の回路接続用接着剤フィルムの硬化物を含む、接続構造体である。
 図3は、接続構造体の一実施形態を示す模式断面図である。図3に示すように、構造体10は、相互に対向する第一の回路部材4及び第二の回路部材5と、第一の回路部材4及び第二の回路部材5の間において第一の回路部材4及び第二の回路部材5を接続する接続部6と、を備えている。
 第一の回路部材4は、第一の回路基板41と、第一の回路基板41の主面41a上に形成された第一の電極42とを備えている。第二の回路部材5は、第二の回路基板51と、第二の回路基板51の主面51a上に形成された第二の電極52とを備えている。
 第一の回路部材4及び第二の回路部材5は、電気的接続を必要とする電極が形成された部材であれば特に制限はない。電極が形成された部材(回路部材等)としては、半導体、ガラス、セラミック等の無機基板;TCP、FPC、COF等に代表されるポリイミド基板;ポリカーボネート、ポリエステル、ポリエーテルスルホン等のフィルム上に電極を形成した基板;プリント配線板などが用いられ、これらのうちの複数を組み合わせて用いてもよい。
 接続部6は、回路接続用接着剤フィルム1の硬化物を含み、接着剤成分2の硬化物である絶縁性物質7と、導電粒子3とを含有している。導電粒子3は、対向する第一の電極42と第二の電極52との間のみならず、第一の回路基板41の主面41aと第二の回路基板51の主面51aとの間に配置されていてもよい。構造体30においては、第一の電極42及び第二の電極52が、導電粒子3を介して電気的に接続されている。すなわち、導電粒子3が第一の電極42及び第二の電極52の双方に接触している。
 構造体10においては、上述したように、対向する第一の電極42と第二の電極52とが導電粒子3を介して電気的に接続されている。このため、第一の電極42及び第二の電極52間の接続抵抗が充分に低減される。したがって、第一の電極42及び第二の電極52間の電流の流れを円滑にすることが可能であり、第一の回路部材4及び第二の回路部材5が有する機能を充分に発揮させることができる。
<接続構造体の製造方法>
 本開示の他の実施形態は、第一の電極を有する第一の回路部材と、第二の電極を有する第二の回路部材との間に、上記の回路接続用接着剤フィルムを介在させ、第一の回路部材及び第二の回路部材を熱圧着して、第一の電極及び第二の電極を互いに電気的に接続する工程を備える、接続構造体の製造方法である。
 図4は、接続構造体の製造方法の一実施形態を示す模式断面図である。図4(a)に示されるように、まず、第一の回路部材4と、回路接続用接着剤フィルム1とを用意する。次に、回路接続用接着剤フィルム1を第一の回路部材4の主面41a上に配置する。回路接続用接着剤フィルム1が基材(図示せず)上に積層されている場合には、当該基材の回路接続用接着剤フィルム1側を第一の回路部材4に向けるようにして、積層体を第一の回路部材4上に配置する。回路接続用接着剤フィルム1が図2に示されるように第一の接着剤層1Aと第二の接着剤層1Bとを有する場合、対向する電極間に捕捉される導電粒子数を向上させる観点から第一の接着剤層側を第一の回路部材4の主面41aと接するようにして配置することが好ましい。
 そして、回路接続用接着剤フィルム1を、図4(a)の矢印A及びB方向に加圧し、回路接続用接着剤フィルム1を第一の回路部材4に仮接続する(図4(b)参照)。このとき、加圧と共に加熱を行ってもよい。
 続いて、図4(c)に示すように、第一の回路部材4上に配置された回路接続用接着剤フィルム1上に、第二の電極52側を第一の回路部材4に向けるようにして(すなわち、第一の電極42と第二の電極52とが対向配置される状態にして、第一の回路部材4と、第二の回路部材5との間に、回路接続用接着剤フィルム1を介在させて)第二の回路部材5を更に配置する。回路接続用接着剤フィルム1が基材(図示せず)上に積層されている場合には、基材を剥離してから第二の回路部材5を回路接続用接着剤フィルム1上に配置する。
 そして、回路接続用接着剤フィルム1を図4(c)の矢印A及びB方向に熱圧着する。これにより、回路接続用接着剤フィルム1が硬化され、第一の電極42及び第二の電極52を互いに電気的に接続する本接続が行われる。その結果、図3に示すような構造体10が得られる。
 上記のようにして得られる構造体10においては、対向する第一の電極42及び第二の電極52の双方に導電粒子3を接触させることが可能であり、第一の電極42及び第二の電極52間の接続抵抗を充分に低減することができる。
 回路接続用接着剤フィルム1を加熱しながら加圧することにより、第一の電極42及び第二の電極52間の距離を充分に小さくした状態で接着剤成分2が硬化して絶縁性物質7となり、第一の回路部材4と第二の回路部材5とが接続部6を介して強固に接続される。また、構造体10では、接着強度が充分に高い状態が長期間にわたって持続される。したがって、構造体10では、第一の電極42及び第二の電極52間の距離の経時的変化が充分に抑制され、第一の電極42及び第二の電極52間の電気特性の長期信頼性が優れる。
 また、構造体10は、高温高湿条件下における接着面の耐剥離性に優れ、接続抵抗が上昇しにくいものになり得る。
 本開示は、以下の接着剤組成物、回路接続用接着剤フィルム、接続構造体、及び接続構造体の製造方法を提供することができる。
[1] (A)エポキシ樹脂と、(B)硬化剤と、(C)フィルム形成成分と、を含有し、(A)成分として、芳香族系エポキシ樹脂を、(A)成分全量基準で90質量%超含み、芳香族系エポキシ樹脂として、上記一般式(1)で表される骨格を有する多官能エポキシ樹脂を含み、(B)成分として、オニウム系化合物を含む、接着剤組成物。
[2] オニウム系化合物が、ピリジニウム塩又は芳香族スルホニウム塩である、上記[1]に記載の接着剤組成物。
[3] 多官能エポキシ樹脂の含有量が、芳香族系エポキシ樹脂全量基準で5~90質量%である、上記[1]又は[2]に記載の接着剤組成物。
[4] 導電粒子を更に含有する、上記[1]~[3]のいずれかに記載の接着剤組成物。
[5] 上記[1]~[4]のいずれかに記載の接着剤組成物により形成された領域を有する、回路接続用接着剤フィルム。
[6] 第1の接着剤成分を含む第1の領域と、該第1の領域に隣接して設けられた、第2の接着剤成分を含む第2の領域と、を備え、第1の領域及び第2の領域のうちの一方又は両方が、上記[1]~[4]のいずれかに記載の接着剤組成物により形成されている、回路接続用接着剤フィルム。
[7] 第一の電極を有する第一の回路部材と、第二の電極を有する第二の回路部材と、第一の回路部材及び第二の回路部材の間に配置され、第一の電極及び第二の電極を互いに電気的に接続する接続部と、を備え、接続部が、上記[5]又は[6]に記載の回路接続用接着剤フィルムの硬化物を含む、接続構造体。
[8] 第一の電極を有する第一の回路部材と、第二の電極を有する第二の回路部材との間に、上記[5]又は[6]に記載の回路接続用接着剤フィルムを介在させ、第一の回路部材及び第二の回路部材を熱圧着して、第一の電極及び第二の電極を互いに電気的に接続する工程を備える、接続構造体の製造方法。
 以下、実施例により本開示を具体的に説明する。但し、本開示は下記の実施例のみに限定されるものではない。
<ピリジニウム塩(硬化剤B1)の合成>
 アセトニトリル100mLと、スターラーチップと、を300mL三角フラスコに入れ、マグネチックスターラー上に設置した。2-シアノピリジン12.5g(120mmol、東京化成工業株式会社製)、2,4,6-トリメチルベンジルクロリド16.8g(100mmol、東京化成工業株式会社製)、及びヨウ化ナトリウム17.8g(119mmol、東京化成工業株式会社製)を300mL三角フラスコ中のアセトニトリルに加え、室温(25℃)で24時間反応させて結晶を得た。得られた結晶をガラスフィルターでろ過し、ガラスフィルター上の結晶をアセトン及び蒸留水により洗浄後、真空乾燥することで、29.1gの2-シアノ-1-(2,4,6-トリメチルベンジル)ピリジニウム・ヨーダイド(収率80%)を得た。
 ジクロロメタン200mLと、スターラーチップと、を500mL三角フラスコに入れ、マグネチックスターラー上に設置した。得られた2-シアノ-1-(2,4,6-トリメチルベンジル)ピリジニウム・ヨーダイド3.6g(10mmol)を500mL三角フラスコに加えて、500mL三角フラスコ中のジクロロメタンに懸濁させた。500mL三角フラスコにナトリウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート水溶液(固形分10%)72g(10.2mmol、日本触媒株式会社製)及び蒸留水50mLを加えて、室温(25℃)で3時間攪拌することで、塩交換反応を行った。撹拌後、有機層を蒸留水で洗浄、濃縮し、真空乾燥することで、化合物8.0g(収率88%)を得た。得られた化合物を硬化剤B1とした。
 得られた化合物を核磁気共鳴スペクトル(1H-NMR、日本電子株式会社製、JNM-ECX400II)で測定したところ、以下のスペクトルデータが得られた。H-NMRによる測定から、得られた化合物が下記の構造を有する2-シアノ-1-(2,4,6-トリメチルベンジル)ピリジニウム・テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートであることを確認した。
 H-NMR(400MHz,CDOD),δ:2.26(s,6H),2.32(s,3H),6.10(s,2H),7.08(s,2H),8.25(td,1H,J=3.2,6.4Hz)8.43(d,1H,J=6.4Hz)8.77-8.82(m,2H)
<フェノキシ樹脂a(フィルム形成成分C1)の合成>
 ジムロート冷却管と、塩化カルシウム管と、攪拌モーターに接続されたテフロン(登録商標)攪拌棒と、を装着した3000mLの3つ口フラスコ中で、4,4’-(9-フルオレニリデン)-ジフェノール45g(シグマアルドリッチジャパン株式会社製)及び3,3’,5,5’-テトラメチルビフェノールジグリシジルエーテル50g(商品名:YX-4000H、三菱化学株式会社製)をN-メチルピロリドン1000mLに溶解して反応液とした。この反応液に炭酸カリウム21gを加え、マントルヒーターで110℃に加熱しながら3時間攪拌した。攪拌後の反応液を1000mLのメタノールが入ったビーカーに滴下し、吸引ろ過することによって生成した沈殿物をろ取した。ろ取した沈殿物をさらに300mLのメタノールで3回洗浄して、フェノキシ樹脂aを75g得た。得られたフェノキシ樹脂aの分子量を高速液体クロマトグラフ(東ソー株式会社製、GP8020、カラム:日立化成工業株式会社製Gelpack GL-A150S及びGLA160S、溶離液:テトラヒドロフラン、流速:1.0mL/分)を用いて測定したところ、ポリスチレン換算でMn=15769、Mw=38045、Mw/Mn=2.413であった。
<導電粒子の作製>
 架橋ポリスチレン粒子の表面上に、層の厚さが0.15μmとなるようにニッケルからなる層を形成した。このようにして、平均粒子径3.3μm、最大粒子径3.5μm、比重2.7の導電粒子を得た。
<回路接続用接着剤フィルムの作製>
 表1~2に示す配合量(単位:質量部)で各成分を混合し、第一の接着剤層を形成する第一の接着剤組成物、及び第二の接着剤層を形成する第二の接着剤組成物を調製した。なお、表1~2中の各成分の詳細は以下のとおりであり、表中の各成分の配合量は不揮発分の配合量を表す。
・エポキシ樹脂
 A1:ビスフェノールA型エポキシ樹脂(商品名:YL980、三菱ケミカル株式会社製)
 A2:4官能ナフタレン骨格エポキシ樹脂(商品名:HP4700、DIC株式会社製)
 A3:2官能ナフタレン骨格エポキシ樹脂(商品名:HP4770、DIC株式会社製)
 A4:2官能ナフタレン骨格エポキシ樹脂(商品名:HP4032D、DIC株式会社製)
 A5:2官能アントラセン骨格エポキシ樹脂(商品名:YX8800、三菱ケミカル株式会社製)
・硬化剤
 B1:上記で合成したピリジニウム塩
 B2:1-ナフチルメチルメチル-p-ヒドロキシフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート(商品名:SI-60、三新化学工業株式会社製)
・フィルム形成成分
 C1:上記で合成したフェノキシ樹脂a
 C2:ビスフェノールA/F骨格含有フェノキシ樹脂(商品名:YP70、日鉄ケミカル&マテリアル株式会社製)
・充填材
 D1:表面処理されたシリカ粒子(シリカとビス(トリメチルシリル)アミンとの加水分解生成物)
 D2:表面処理されたシリカ微粒子(トリメトキシオクチルシランとシリカの加水分解生成物、商品名:アエロジルR805、Evonik Industries AG社製、有機溶媒で不揮発分の含有量を10質量%に希釈したものを使用)
・カップリング剤
 E1:3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(商品名:KBM-403、信越化学工業株式会社製)
・導電粒子
 F1:上記で作製した導電粒子
 基材(PETフィルム)の上に第二の接着剤組成物を塗布して、基材上に第二の接着剤層を形成した。さらに、第二の接着剤層の上に第一の接着剤組成物を塗布して、第一の接着剤層を形成して、第一の接着剤層、第二の接着剤層、基材がこの順に積層した回路接続用接着剤フィルムを作製した。実施例1~5及び比較例1~3の各回路接続用接着剤フィルムの第一の接着剤層の厚さは7μmであり、第二の接着剤層の厚さは7μmであった。
<接続構造体の作製>
 第一の回路部材として、無アルカリガラス基板(OA-11、日本電気硝子株式会社製、外形:38mm×28mm、厚さ:0.3mm)の表面に、AlNd(100nm)/Mo(50nm)/ITO(100nm)の配線パターン(パターン幅:19μm、電極間スペース:5μm)を形成したものを準備した。第二の回路部材として、バンプ電極を2列で千鳥状に配列したICチップ(外形:0.9mm×20.3mm、厚さ:0.3mm、バンプ電極の大きさ:70μm×12μm、バンプ電極間スペース:12μm、バンプ電極厚さ:8μm)を準備した。
 実施例1~5及び比較例1~3の各回路接続用接着剤フィルムを用いて接続構造体の作製を行った。まず、回路接続用接着剤フィルムの第一の接着剤層を第一の回路部材上に配置した。セラミックヒータからなるステージとツール(8mm×50mm)とから構成される熱圧着装置(LD-06、株式会社大橋製作所製)を用いて、50℃、0.98MPa(10kgf/cm)の条件で2秒間加熱及び加圧して、回路接続用接着剤フィルムを第一の回路部材に貼り付けた。次いで、回路接続用接着剤フィルムの第一の回路部材とは反対側の基材を剥離し、第一の回路部材のバンプ電極と第二の回路部材の回路電極との位置合わせを行った。次いで、ヒートツール(8mm×45mm)を用いて、緩衝材として厚さ50μmのPTFEシートを介して、80℃に加熱した台座上にて135℃で5秒間、60MPaにて加熱及び加圧することで、回路接続用接着剤フィルムの第二の接着剤層を第二の回路部材に貼り付けて、接続構造体を作製した。実施例5及び比較例3については、硬化剤が充分活性化するように、加熱温度及び加熱時間をそれぞれ150℃で5秒間、220℃で5秒間に変更した。なお、温度は回路接続用接着剤フィルムの実測最高到達温度とし、圧力は第二の回路部材のバンプ電極が第一の回路部材に対向する面の合計面積に対して算出される値とした。
<剥離評価>
 実装直後及び高温高湿試験後の接続構造体について、第一の回路部材の回路接続用接着剤フィルムとの接着面の反対側から、FPD/LSI検査顕微鏡(株式会社ニコンインステック製、ECLIPSE L300ND)を用いて、第一の回路部材と回路接続用接着剤フィルムとの界面を観察し、剥離状態を4段階で評価した。回路接続用接着剤フィルム全体の面積のうち、ガラス基板から剥離している割合を求め、剥離部分の割合が全体の1%未満のものを「A」、剥離部分の割合が全体の1%以上5%未満のものを「B」、剥離部分の割合が全体の5%以上20%未満のものを「C」、剥離部分の割合が全体の20%以上のものを「D」とした。
 なお、高温高湿試験は、温度110℃湿度85%RHの高温高湿槽にて接続構造体を150時間保管することにより行った。
<接続強度の評価>
 得られた接続構造体の25℃における接着強度を、Dage Precision Industries社製のボンドテスタ4000Plus(ロードセル:100N)を用いて測定した。シェア強度が30MPa以上のものを「A」、シェア強度が30MPa未満のものを「B」とした。
<接続抵抗の評価>
 実装直後及び高温高湿試験後の接続構造体について、四端子測定法にて、14箇所の接続抵抗を測定し、接続抵抗値の最大値(最大抵抗値)を評価した。接続抵抗の測定にはマルチメータ(MLR21、ETAC社製)を用いた。
 なお、高温高湿試験は、温度110℃湿度85%RHの高温高湿槽にて接続構造体を150時間保管することにより行った。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000009
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000010
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000011
 1…回路接続用接着剤フィルム、1A…第一の接着剤層、1B…第二の接着剤層、2,2A,2B…接着剤成分、3,3A…導電粒子、4…第一の回路部材、5…第二の回路部材、6…接続部、7…絶縁性物質、10…構造体、41…第一の回路基板、42…第一の電極、51…第二の回路基板、52…第二の電極。

Claims (10)

  1.  (A)エポキシ樹脂と、(B)硬化剤と、(C)フィルム形成成分と、を含有し、
     前記(A)成分として、芳香族系エポキシ樹脂を、(A)成分全量基準で90質量%超含み、
     前記芳香族系エポキシ樹脂として、下記一般式(1)で表される骨格を有する多官能エポキシ樹脂を含み、
     前記(B)成分として、オニウム系化合物を含む、接着剤組成物。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
    [式(1)中、Xは、酸素原子、硫黄原子、又は、炭素数1~10のアルキレン基を示す。]
  2.  前記オニウム系化合物が、ピリジニウム塩又は芳香族スルホニウム塩である、請求項1に記載の接着剤組成物。
  3.  前記多官能エポキシ樹脂の含有量が、前記芳香族系エポキシ樹脂全量基準で5~90質量%である、請求項1に記載の接着剤組成物。
  4.  導電粒子を更に含有する、請求項1に記載の接着剤組成物。
  5.  請求項1~4のいずれか一項に記載の接着剤組成物により形成された領域を有する、回路接続用接着剤フィルム。
  6.  第1の接着剤成分を含む第1の領域と、該第1の領域に隣接して設けられた、第2の接着剤成分を含む第2の領域と、を備え、
     前記第1の領域及び前記第2の領域のうちの一方又は両方が、請求項1~4のいずれか一項に記載の接着剤組成物により形成されている、回路接続用接着剤フィルム。
  7.  第一の電極を有する第一の回路部材と、
     第二の電極を有する第二の回路部材と、
     前記第一の回路部材及び前記第二の回路部材の間に配置され、前記第一の電極及び前記第二の電極を互いに電気的に接続する接続部と、
    を備え、
     前記接続部が、請求項5に記載の回路接続用接着剤フィルムの硬化物を含む、接続構造体。
  8.  第一の電極を有する第一の回路部材と、
     第二の電極を有する第二の回路部材と、
     前記第一の回路部材及び前記第二の回路部材の間に配置され、前記第一の電極及び前記第二の電極を互いに電気的に接続する接続部と、
    を備え、
     前記接続部が、請求項6に記載の回路接続用接着剤フィルムの硬化物を含む、接続構造体。
  9.  第一の電極を有する第一の回路部材と、第二の電極を有する第二の回路部材との間に、請求項5に記載の回路接続用接着剤フィルムを介在させ、前記第一の回路部材及び前記第二の回路部材を熱圧着して、前記第一の電極及び前記第二の電極を互いに電気的に接続する工程を備える、接続構造体の製造方法。
  10.  第一の電極を有する第一の回路部材と、第二の電極を有する第二の回路部材との間に、請求項6に記載の回路接続用接着剤フィルムを介在させ、前記第一の回路部材及び前記第二の回路部材を熱圧着して、前記第一の電極及び前記第二の電極を互いに電気的に接続する工程を備える、接続構造体の製造方法。
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