WO2018116932A1 - レーザ加工装置、レーザ加工方法及び半導体装置の製造方法 - Google Patents

レーザ加工装置、レーザ加工方法及び半導体装置の製造方法 Download PDF

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WO2018116932A1
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workpiece
liquid
main surface
laser processing
nozzle
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PCT/JP2017/044721
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圭吾 福永
民雄 松村
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三菱電機株式会社
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    • B23K26/12Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring in a special atmosphere, e.g. in an enclosure
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B23K26/142Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring using a fluid stream, e.g. a jet of gas, in conjunction with the laser beam; Nozzles therefor for the removal of by-products

Definitions

  • the present invention relates to a laser processing apparatus, a laser processing method, and a semiconductor device manufacturing method.
  • Patent Document 1 discloses a laser processing apparatus and a laser processing method for forming grooves in a semiconductor wafer by irradiating the semiconductor wafer with laser light guided by a liquid column. .
  • An object of the present invention is to provide a laser processing apparatus capable of efficiently processing a workpiece and preventing debris generated from the workpiece during laser processing of the workpiece from adhering to the main surface of the workpiece. It is another object of the present invention to provide a laser processing method and a semiconductor device manufacturing method.
  • the laser processing apparatus of the present invention includes a holding unit, a head unit, a first nozzle, and a driving unit.
  • the holding part is configured to hold the workpiece.
  • the head portion is configured so that the first portion of the main surface of the workpiece can be irradiated with laser light.
  • the first nozzle is configured to supply a first liquid to the first portion.
  • the drive unit is configured to be able to drive the holding unit so that the work piece can be rotated around the optical axis of the laser beam in the first portion.
  • the first liquid is supplied from the first nozzle to the first portion of the main surface of the workpiece, and the workpiece is processed around the optical axis of the laser beam in the first portion. Irradiating the first portion with laser light while rotating the object.
  • the semiconductor device manufacturing method of the present invention uses the laser processing apparatus of the present invention to separate a workpiece into an inner peripheral region of the workpiece and an outer peripheral region of the workpiece, and to separate the workpiece. Forming a semiconductor element in the inner peripheral region of the work piece.
  • the circular motion of the workpiece causes a centrifugal force to act on the liquid layer formed on the main surface by supplying the first liquid onto the main surface. Due to this centrifugal force, the liquid layer has a minimum thickness in the first portion, and the thickness of the liquid layer increases with distance from the first portion. Therefore, it can be suppressed that the laser light is diffused and attenuated by the liquid layer. Further, the main surface is prevented from being exposed from the liquid layer. The liquid layer is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece with laser light. According to the laser processing apparatus of the present invention, the workpiece can be processed efficiently, and debris generated from the workpiece during the laser processing of the workpiece is prevented from adhering to the main surface of the workpiece. obtain.
  • the circular motion of the workpiece causes the centrifugal force to act on the liquid layer formed on the main surface by supplying the first liquid onto the main surface. Due to this centrifugal force, the liquid layer has a minimum thickness in the first portion, and the thickness of the liquid layer increases with distance from the first portion. Therefore, it can be suppressed that the laser light is diffused and attenuated by the liquid layer. Further, the main surface is prevented from being exposed from the liquid layer. The liquid layer is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece with laser light. According to the laser processing method of the present invention, the workpiece can be processed efficiently, and debris generated from the workpiece during the laser processing of the workpiece is prevented from adhering to the main surface of the workpiece. obtain.
  • the workpiece can be processed efficiently, and debris generated from the workpiece can adhere to the main surface of the workpiece during laser processing of the workpiece. Can be prevented.
  • FIG. 1 is a schematic perspective view of a laser processing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.
  • 1 is a schematic plan view of a laser processing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention. It is a schematic side view of the workpiece processed using the laser processing apparatus which concerns on Embodiment 1 of this invention. It is a general
  • FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of the laser processing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention taken along a cross-sectional line VV shown in FIG.
  • FIG. 3 is a schematic sectional view of the laser processing apparatus according to the first embodiment of the present invention taken along a sectional line IX-IX shown in FIG. It is a top view which shows the circular motion of the to-be-processed object in the laser processing apparatus which concerns on Embodiment 1 of this invention.
  • the laser processing apparatus 1 mainly includes a holding unit 10, a head unit 50, a first nozzle 54, and a driving unit 29.
  • the laser processing apparatus 1 may further include a control unit 80.
  • the holding unit 10 is configured to hold the workpiece 2.
  • the workpiece 2 may be a semiconductor wafer such as a silicon wafer or a silicon carbide wafer.
  • the workpiece 2 has a first main surface 3 and a second main surface 4 opposite to the first main surface 3.
  • a semiconductor element such as an insulated gate bipolar transistor (IGBT) or a metal oxide semiconductor field effect transistor (MOSFET) may be formed on the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • the workpiece 2 may include an inner peripheral region 5 and an outer peripheral region 6.
  • the inner peripheral region 5 may be thinner than the outer peripheral region 6.
  • the workpiece may have a notch 7 formed on the first main surface 3.
  • the notch 7 can function as an indicator of the orientation of the workpiece.
  • the holding part 10 may include a first holding part 11, a plurality of second holding parts 12, and a plurality of first arms 13.
  • the first holding part 11 may hold the workpiece 2 with a larger area than the second holding part 12.
  • the first holding portion 11 may be configured to hold the inner peripheral region 5 of the workpiece 2.
  • the second holding portion 12 may be disposed around the first holding portion 11.
  • maintenance part 12 may be comprised so that the outer peripheral area
  • the plurality of first arms 13 are connected to the first base 31 and the second holding portion 12.
  • the plurality of first arms 13 are configured such that their lengths can be changed.
  • the plurality of first arms 13 can change the height of the second holding portion 12 according to the shape of the workpiece 2.
  • the first holding portion 11 has a first suction hole 14.
  • the first holding portion 11 may further include a cavity 15 and a jet port 16.
  • the first suction hole 14 communicates with the cavity 15 via the first flow path 17.
  • the spout 16 communicates with the cavity 15 via the second flow path 18.
  • the first flow channel 17 has a narrower cross-sectional area than the second flow channel 18.
  • the width w 1 of the first channel 17 may be narrower than the width w 2 of the second channel 18.
  • the cavity 15 communicates with the pressurized gas supply unit 20. When the pressurized gas is supplied from the pressurized gas supply unit 20 to the cavity 15, the pressurized gas is discharged from the ejection port 16 to the outside of the first holding part 11 through the cavity 15 and the second flow path 18.
  • first flow path 17 has a narrower cross-sectional area than the second flow path 18, a negative pressure is generated in the first flow path 17 due to the venturi effect. Due to this negative pressure, the inner peripheral region 5 of the workpiece 2 is attracted to the first holding portion 11. Thus, the inner peripheral region 5 of the workpiece 2 is held by the first holding portion 11.
  • the second holding part 12 has a second suction hole 22.
  • the second adsorption hole 22 communicates with the exhaust pump 23.
  • the exhaust pump 23 By operating the exhaust pump 23, the outer peripheral region 6 of the workpiece 2 is adsorbed by the second holding portion 12.
  • the outer peripheral region 6 of the workpiece 2 is held by the second holding portion 12.
  • the head unit 50 is configured to be able to irradiate the first portion 82 of the first main surface 3 of the workpiece 2 with the laser light 62.
  • the first portion 82 is a portion to be laser processed on the workpiece 2 such as a boundary portion between the inner peripheral region 5 and the outer peripheral region 6.
  • the head unit 50 may include a mirror 51, a lens 52, and a transparent window 53.
  • the mirror 51 reflects the laser beam 62 toward the workpiece 2.
  • the lens 52 may collect the laser light 62.
  • the transparent window 53 transmits the laser light 62 and partitions the space in the head unit 50.
  • the laser light source unit 60 is connected to the head unit 50. Specifically, the laser light source unit 60 may be connected to the head unit 50 via a light guide 66 such as an optical fiber.
  • laser light source unit 60 includes a laser light source 61.
  • the laser light source 61 outputs a laser beam 62.
  • the laser light source 61 is not particularly limited, but may be an Nd: YAG laser, an Nd: YLF laser, an Nd: YVO 4 laser, or a titanium sapphire laser.
  • the wavelength of the laser beam 62 is preferably shorter than 532 nm.
  • the laser light 62 emitted from the laser light source 61 is reflected by the mirror 51, collected by the lens 52, transmitted through the transparent window 53, and the first main light of the workpiece 2. The light is emitted to the first portion 82 of the surface 3.
  • the laser light source unit 60 may further include a shutter 63, a frequency adjuster 64, and a power measuring device 65.
  • the shutter 63 is configured to be switchable between a first state where the laser light 62 is transmitted and a second state where the laser light 62 is blocked.
  • the frequency adjuster 64 adjusts the oscillation frequency of the laser light source 61.
  • the power measuring device 65 measures the power of the laser light 62 emitted from the laser light source 61, and the power of the laser light 62 emitted from the laser light source 61 can be adjusted based on the measured power of the laser light 62. .
  • the head unit 50 is attached to the third base 40.
  • the head unit 50 may be attached to the third base 40 so as to be movable in the height direction (z direction).
  • the head unit 50 may be attached to the third base 40 via the support unit 42 and the third drive unit 44.
  • the third drive unit 44 may include a third motor 45, a third ball screw 46, a fourth base 47, and a fifth base 48 to which the head unit 50 is fixed.
  • the support portion 42 may have one end attached to the third base 40 and the other end attached to the fourth base 47.
  • the third motor 45 may be attached to the fourth base 47.
  • the third drive unit 44 is configured to move the head unit 50 in the height direction (z direction).
  • the third ball screw 46 is screwed to the fifth base 48.
  • the third ball screw 46 extends in the height direction (z direction).
  • the third motor 45 rotates the third ball screw 46.
  • the head unit 50 can move in the height direction (z direction) in which the third ball screw 46 extends.
  • the first nozzle 54 is configured to be able to supply the first liquid 73 to the first portion 82 of the first main surface 3 of the workpiece 2. Specifically, the first nozzle 54 may be configured to supply the first liquid 73 to the first portion 82 and emit the laser light 62.
  • the first nozzle 54 is a liquid column (73) formed between the first nozzle 54 and the first portion 82 by the first liquid 73 when the laser beam 62 is emitted from the first nozzle 54.
  • the head unit 50 may be provided so that the laser beam 62 can propagate therethrough. The laser beam 62 may propagate through the liquid column (73) while being totally reflected by the surface of the liquid column (73).
  • the second extendable protective cover 49 may cover the gap between the fourth base 47 and the head unit 50.
  • the second extendable protective cover 49 prevents the first liquid 73 used during laser processing and debris generated during laser processing from adhering to the third motor 45 and the third ball screw 46.
  • the liquid reservoir 70 is connected to the head unit 50.
  • the liquid reservoir 70 may be connected to the head unit 50 via the first pipe 71 and the first pump 72.
  • the first pump 72 includes a third state in which the first liquid 73 is supplied from the liquid reservoir 70 to the head unit 50 and a fourth state in which the first liquid 73 from the liquid reservoir 70 is blocked. It is configured to be switchable between the two.
  • the transparent window 53 prevents the first liquid 73 from entering the mirror 51 and the lens 52.
  • the first liquid 73 supplied from the liquid reservoir 70 to the head unit 50 is supplied from the first nozzle 54 to the first portion 82 of the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • a liquid column (73) is formed between the first nozzle 54 and the first portion 82. It is formed.
  • the first liquid 73 spreads on the first main surface 3, and a liquid layer 79 is formed on the first main surface 3.
  • the drive unit 29 allows the workpiece 2 to orbit around the optical axis 25 of the laser light 62 in the first portion 82. It is comprised so that the holding
  • the drive unit 29 drives the holding unit 10 so that the holding unit 10 can rotate around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82, so that the workpiece 2 is It makes a circular motion along the central locus 26.
  • the circular motion of the workpiece 2 means a circular motion or an elliptical motion of the workpiece 2 around the first portion 82 of the workpiece 2.
  • the workpiece 2 may perform a circular motion with a radius r 1 about the first portion 82.
  • the speed of the circular motion of the workpiece 2 may be constant or may vary.
  • the drive unit 29 may be configured so that the orientation of the workpiece 2 can be maintained while the workpiece 2 is rotating.
  • the configuration of the drive unit 29 is not particularly limited, but the drive unit 29 may include a first drive unit 30 and a second drive unit 35.
  • the first driving unit 30 is configured to be able to move the holding unit 10 in the first direction (y direction).
  • the first drive unit 30 may include a first base 31, a first motor 32, a first ball screw 33, and a first guide rail 34.
  • the holding unit 10 is fixed to the first base 31.
  • the first ball screw 33 and the first guide rail 34 extend in the first direction (y direction).
  • the first guide rail 34 is fixed to the second base 36.
  • the first ball screw 33 is screwed to the first base 31.
  • the first motor 32 rotates the first ball screw 33. Therefore, the first base 31 can move in the first direction (y direction) in which the first ball screw 33 and the first guide rail 34 extend.
  • the second drive unit 35 is configured to be able to move the holding unit 10 in a second direction (x direction) that intersects the first direction (y direction).
  • the second drive unit 35 may include a second base 36, a second motor 37, a second ball screw 38, and a second guide rail 39.
  • the second guide rail 39 is fixed to the third base 40.
  • the second ball screw 38 and the second guide rail 39 extend in the second direction (x direction).
  • the second ball screw 38 is screwed into the second base 36.
  • the second motor 37 rotates the second ball screw 38. Therefore, the second base 36 can move in the second direction (x direction) in which the second ball screw 38 and the second guide rail 39 extend.
  • the first extendable protective cover 41 may cover the gap between the first base 31 and the third base 40.
  • the first extendable protective cover 41 includes a first liquid 73 used during laser processing and debris generated during the laser processing.
  • the first motor 32, the first ball screw 33, the first guide rail 34, The adhesion to the second motor 37, the second ball screw 38, and the second guide rail 39 is prevented.
  • the control unit 80 is connected to the laser light source unit 60 and the first pump 72.
  • the control unit 80 controls the operation of the laser light source unit 60.
  • the control unit 80 switches the operation of the shutter 63 included in the laser light source unit 60 between a first state where the laser light 62 is transmitted and a second state where the laser light 62 is blocked.
  • the control unit 80 controls the operation of the first pump 72.
  • the control unit 80 blocks the first pump 72 from the third state in which the first liquid 73 is supplied from the liquid reservoir 70 to the head unit 50 and the first liquid 73 from the liquid reservoir 70. Switch between the 4th state.
  • the control unit 80 is configured to be able to control the drive unit 29 so that the workpiece 2 can make a circular motion around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82. Specifically, the control unit 80 controls the drive unit 29 so that the orientation of the workpiece 2 is maintained while the workpiece 2 is revolving around the optical axis 25 of the laser light 62. It may be configured to obtain. Specifically, the control unit 80 is connected to the first motor 32 and the second motor 37. The control unit 80 controls the first motor 32 and the second motor 37 so that the holding unit 10 can rotate around the optical axis 25 of the laser light 62.
  • control unit 80 is connected to the first motor 32 so that the orientation of the workpiece 2 is maintained while the workpiece 2 is revolving around the optical axis 25 of the laser beam 62.
  • the second motor 37 may be controlled.
  • the control unit 80 is further connected to the third motor 45.
  • the control unit 80 controls the third motor 45 to adjust the position of the head unit 50 in the height direction (z direction) relative to the workpiece 2 or the holding unit 10.
  • FIG. 5 Referring mainly to FIG. 5, FIG. 8, FIG. 10 and FIG. 11, a laser processing method using the laser processing apparatus 1 of the present embodiment will be described.
  • the laser processing method of the present embodiment includes supplying the first liquid 73 from the first nozzle 54 to the first portion 82 of the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • the control unit 80 switches the first pump 72 to the third state in which the first liquid 73 is supplied from the liquid reservoir 70 to the head unit 50, and the head unit 50 from the liquid reservoir 70. Is supplied with the first liquid 73.
  • the first liquid 73 supplied to the head unit 50 is supplied from the first nozzle 54 to the first portion 82 of the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • the first liquid 73 is supplied by forming a liquid column (73) between the first nozzle 54 and the first portion 82, and on the first main surface 3 of the workpiece 2. Forming a liquid layer 79.
  • the first liquid 73 may be supplied to the first portion 82 of the first main surface 3 before the laser beam 62 is irradiated to the first portion 82 of the first main surface 3.
  • the first portion 82 is irradiated with the laser beam 62 while the workpiece 2 is rotated around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82. Further prepare. Specifically, the control unit 80 switches the shutter 63 to the first state in which the laser beam 62 is transmitted, and the laser beam 62 is applied to the first portion 82 of the workpiece 2.
  • the control unit 80 controls the first motor 32 and the second motor 37 so that the work piece 2 and the holding unit 10 can move around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82. Control. Specifically, the orientation of the workpiece 2 may be maintained while the workpiece 2 is rotated around the optical axis 25 of the laser beam 62.
  • the laser beam 62 may propagate through the liquid column (73) and irradiate the first portion 82.
  • the first liquid 73 may continue to be supplied to the first portion 82 before the first portion 82 is irradiated with the laser light 62. At the same time that the first portion 82 starts to be irradiated with the laser beam 62, the workpiece 2 and the holding unit 10 may start a circular motion. Before starting to irradiate the first portion 82 with the laser beam 62, the workpiece 2 and the holding unit 10 may continue to make a circular motion. The first liquid 73 may start to be supplied to the first portion 82 at the same time when the workpiece 2 and the holding unit 10 start the circular motion. The first liquid 73 may continue to be supplied to the first portion 82 before the workpiece 2 and the holding unit 10 start the circular motion.
  • the workpiece 2 rotates around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82.
  • the circular motion of the workpiece 2 causes the centrifugal force 27 to act on the liquid layer 79 on the first main surface 3. Due to the centrifugal force 27, the liquid layer 79 has a minimum thickness in the first portion 82, and the thickness of the liquid layer 79 increases as the distance from the first portion 82 increases. Therefore, it can be suppressed that the laser light 62 is diffused and attenuated by the liquid layer 79.
  • the first main surface 3 of the workpiece 2 is prevented from being exposed from the liquid layer 79.
  • the liquid layer 79 is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece 2 with the laser beam 62.
  • Debris is, for example, a melt of the workpiece 2. If the orientation of the workpiece 2 is maintained while the workpiece 2 rotates around the optical axis 25 of the laser beam 62, the workpiece 2 rotates around the optical axis 25 of the laser beam 62. During this, the thickness distribution of the liquid layer 79 can be stably maintained.
  • the laser processing method of the present embodiment may further include stopping the irradiation of the laser beam 62 onto the workpiece 2 and stopping the circular motion of the workpiece 2.
  • the control unit 80 switches the shutter 63 to the second state where the laser beam 62 is blocked, and the irradiation of the laser beam 62 onto the workpiece 2 is stopped.
  • the control unit 80 stops the first motor 32 and the second motor 37 to stop the circular motion of the workpiece 2 and the holding unit 10.
  • the laser processing apparatus 1 includes a holding unit 10, a head unit 50, a first nozzle 54, and a driving unit 29.
  • the holding unit 10 is configured to hold the workpiece 2.
  • the head unit 50 is configured to irradiate the first portion 82 of the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2 with the laser beam 62.
  • the first nozzle 54 is configured to supply the first liquid 73 to the first portion 82 of the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2.
  • the drive unit 29 is configured to drive the holding unit 10 so that the workpiece 2 can rotate around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82.
  • the circular motion of the workpiece 2 is caused by the liquid layer 79 formed on the main surface (first main surface 3) by supplying the first liquid 73 onto the main surface (first main surface 3).
  • a centrifugal force 27 is applied. Due to the centrifugal force 27, the liquid layer 79 has a minimum thickness in the first portion 82, and the thickness of the liquid layer 79 increases as the distance from the first portion 82 increases. Therefore, it can be suppressed that the laser light 62 is diffused and attenuated by the liquid layer 79. Further, the main surface (first main surface 3) is prevented from being exposed from the liquid layer 79.
  • the liquid layer 79 is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece 2 with the laser beam 62. According to the laser processing apparatus 1 of the present embodiment, the workpiece 2 can be processed efficiently, and debris generated from the workpiece 2 during laser processing of the workpiece 2 is the main surface of the workpiece 2. Adhesion to (first main surface 3) can be prevented.
  • the first liquid 73 is supplied onto the first main surface 3 of the workpiece 2 only from the first nozzle 54.
  • the laser processing apparatus 1 of the present embodiment in order to form the thickness distribution of the liquid layer 79 that has the minimum thickness in the first portion 82 and increases as the distance from the first portion 82 increases.
  • the amount of the first liquid 73 required for the process can be reduced.
  • the liquid supply equipment such as the first pipe 71 and the first pump 72 necessary to form such a thickness distribution of the liquid layer 79. Can be simplified.
  • the first nozzle 54 is configured such that the laser light 62 is emitted from the first nozzle 54, and the first nozzle 54 and the first portion 82 are It may be provided in the head unit 50 so that the laser beam 62 can propagate through the liquid column (73) formed between the two. Therefore, the laser beam 62 is stably guided to the first portion 82 of the workpiece 2 through the liquid column (73). Further, the heat generated in the first portion 82 during laser processing is cooled by the first liquid 73. According to the laser processing apparatus 1 of the present embodiment, the quality of the workpiece 2 after laser processing can be improved.
  • the drive unit 29 may be configured to maintain the orientation of the workpiece 2 while the workpiece 2 is rotating. Therefore, the distribution of the thickness of the liquid layer 79 can be stably maintained while the work piece 2 rotates. According to the laser processing apparatus 1 of the present embodiment, the laser beam 62 can be suppressed from being diffused and attenuated by the liquid layer 79, and the debris generated from the workpiece 2 is the main surface of the workpiece 2. Adhesion to (first main surface 3) can be prevented.
  • the first liquid 73 is supplied from the first nozzle 54 to the first portion 82 of the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2; Irradiating the first portion 82 with the laser beam 62 while rotating the workpiece 2 around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82.
  • the circular motion of the workpiece 2 is caused by the liquid layer 79 formed on the main surface (first main surface 3) by supplying the first liquid 73 onto the main surface (first main surface 3).
  • a centrifugal force 27 is applied. Due to the centrifugal force 27, the liquid layer 79 has a minimum thickness in the first portion 82, and the thickness of the liquid layer 79 increases as the distance from the first portion 82 increases. Therefore, it can be suppressed that the laser light 62 is diffused and attenuated by the liquid layer 79. Further, the main surface (first main surface 3) is prevented from being exposed from the liquid layer 79.
  • the liquid layer 79 is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece 2 with the laser beam 62. According to the laser processing method of the present embodiment, the workpiece 2 can be processed efficiently, and debris generated from the workpiece 2 during laser processing of the workpiece 2 on the main surface of the workpiece 2. Adhesion can be prevented.
  • the first liquid 73 is supplied onto the first main surface 3 of the workpiece 2 only from the first nozzle 54.
  • the laser processing method of the present embodiment in order to form the thickness distribution of the liquid layer 79 that has the minimum thickness in the first portion 82 and increases as the distance from the first portion 82 increases.
  • the required amount of the first liquid 73 used can be reduced.
  • liquid supply equipment such as the first pipe 71 and the first pump 72 necessary for forming such a thickness distribution of the liquid layer 79 is provided. It can be simplified.
  • laser light is emitted from the first nozzle, and the laser light passes through the liquid column formed between the first nozzle and the first portion by the first liquid. May propagate. Therefore, the laser beam 62 is stably guided to the first portion 82 of the workpiece 2 through the liquid column (73). Further, the heat generated in the first portion 82 during laser processing is cooled by the first liquid 73. According to the laser processing method of the present embodiment, the quality of the workpiece 2 after laser processing can be improved.
  • the first liquid 73 may be continuously supplied to the first portion 82 before the first portion 82 is irradiated with the laser light 62. Since the liquid layer 79 is formed on the first main surface 3 before the first portion 82 is irradiated with the laser beam 62, debris generated by processing the workpiece 2 with the laser beam 62 is reduced to the liquid. Layer 79 is immediately cooled and washed away. According to the laser processing method of the present embodiment, the workpiece 2 can be processed efficiently, and debris generated from the workpiece 2 during laser processing of the workpiece 2 on the main surface of the workpiece 2. Adhesion can be prevented.
  • the orientation of the workpiece may be maintained while the workpiece is orbiting. Therefore, the distribution of the thickness of the liquid layer 79 can be stably maintained while the work piece 2 rotates. According to the laser processing method of the present embodiment, it is possible to suppress the laser light 62 from being diffused and attenuated by the liquid layer 79, and debris generated from the work 2 is the main surface of the work 2 ( Adhering to the first main surface 3) can be prevented.
  • Embodiment 2 FIG. With reference to FIG.12 and FIG.13, the laser processing apparatus 1b which concerns on Embodiment 2 is demonstrated.
  • the laser processing apparatus 1b of the present embodiment has the same configuration as that of the laser processing apparatus 1 of the first embodiment, but mainly differs in the following points.
  • the laser processing apparatus 1b further includes a second nozzle 76 configured to be able to supply the second liquid 78 to the second portion of the first main surface 3 different from the first portion 82.
  • the second nozzle 76 is not particularly limited, but may be attached to the head unit 50 via the second arm 77.
  • the second nozzle 76 is connected to the liquid reservoir 70.
  • the second nozzle 76 may be connected to the liquid reservoir 70 via the second pipe 74 and the second pump 75.
  • the second pump 75 has a fifth state in which the second liquid 78 is supplied from the liquid reservoir 70 to the second nozzle 76 and a sixth state in which the second liquid 78 from the liquid reservoir 70 is shut off. It is configured to be able to switch between the two.
  • the material of the second liquid 78 may be the same as the material of the first liquid 73.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be greater than the first supply rate of the first liquid 73.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be 10 times or more the first supply rate of the first liquid 73, or 20 times or more.
  • the second nozzle 76 may have a larger opening area than the first nozzle 54.
  • the area of the opening of the second nozzle 76 may be 10 times or more than the area of the opening of the first nozzle 54, or 20 times or more.
  • control unit 80 is connected to the second pump 75.
  • the control unit 80 controls the operation of the second pump 75.
  • the controller 80 causes the second pump 75 to supply the second liquid 78 from the liquid reservoir 70 to the second nozzle 76, and the second state supplied from the liquid reservoir 70. It is configured to be able to switch between the sixth state in which the liquid 78 is blocked.
  • the laser processing method according to the second embodiment will be described with reference to FIGS.
  • the laser processing method of the present embodiment includes the same steps as the laser processing method of Embodiment 1, but mainly differs in the following points.
  • the control unit 80 switches the second pump 75 to the fifth state in which the second liquid 78 is supplied from the liquid reservoir 70 to the second nozzle 76, and the second reservoir 75 is switched from the liquid reservoir 70 to the second state.
  • the second liquid 78 is supplied to the second nozzle 76.
  • the second liquid 78 supplied to the second nozzle 76 is supplied from the second nozzle 76 to a second portion of the first main surface 3 different from the first portion 82.
  • the second liquid 78 is the first liquid 73. It may begin to be supplied to a second portion of the first major surface 3 that is different from the portion 82.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be greater than the first supply rate of the first liquid 73.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be 10 times or more the first supply rate of the first liquid 73, or 20 times or more.
  • the irradiation of the laser beam 62 onto the workpiece 2 is stopped and the second main surface 3 different from the first portion 82 from the second nozzle 76 is used. Stopping the supply of the second liquid 78 to the portion may be provided.
  • the control unit 80 switches the shutter 63 to the second state where the laser beam 62 is blocked, and the irradiation of the laser beam 62 onto the workpiece 2 is stopped.
  • the controller 80 switches the second pump 75 to the sixth state in which the second liquid 78 supplied from the liquid reservoir 70 is shut off, and the second nozzle 76 is connected to the first main surface 3.
  • the supply of the second liquid 78 is stopped.
  • the supply of the second liquid 78 from the second nozzle 76 may be stopped simultaneously with stopping the irradiation of the laser light 62.
  • the supply of the second liquid 78 from the second nozzle 76 may be stopped after the irradiation of the laser beam 62 is stopped.
  • the laser processing apparatus 1b according to the present embodiment has the following effects in addition to the effects of the laser processing apparatus 1 according to the first embodiment.
  • the laser processing apparatus 1b according to the present embodiment is configured to be able to supply the second liquid 78 to a second portion of the main surface (first main surface 3) different from the first portion 82.
  • Two nozzles 76 are further provided.
  • the second supply rate of the second liquid 78 is greater than the first supply rate of the first liquid 73. Since the liquid layer 79 is formed by the first liquid 73 from the first nozzle 54 and the second liquid 78 from the second nozzle 76, the liquid is formed on the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • the time for forming layer 79 can be reduced.
  • the time T until the first portion 82 of the first main surface 3 is irradiated with the laser light 62 can be shortened. According to the laser processing apparatus 1b of the present embodiment, the workpiece 2 can be processed efficiently.
  • the laser processing method of the present embodiment has the following effects in addition to the effects of the laser processing method of the first embodiment.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be greater than the first supply rate of the first liquid 73. Since the liquid layer 79 is formed by the first liquid 73 from the first nozzle 54 and the second liquid 78 from the second nozzle 76, the liquid is formed on the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • the time for forming layer 79 can be reduced.
  • the time T until the first portion 82 of the first main surface 3 is irradiated with the laser light 62 can be shortened. According to the laser processing method of the present embodiment, the workpiece 2 can be processed efficiently.
  • FIG. 3 A laser processing apparatus 1c according to the third embodiment will be described with reference to FIGS.
  • the laser processing apparatus 1c of the present embodiment has the same configuration as the laser processing apparatus 1b of the second embodiment, but is mainly different in the following points.
  • the laser processing apparatus 1 c further includes a plurality of second nozzles 76 and 90 configured to be able to supply the second liquid 78 toward the first main surface 3 excluding the first portion 82.
  • the number of the plurality of second nozzles 76 and 90 is not limited to two, and may be three or more.
  • the second nozzle 76 is not particularly limited, but may be attached to the head unit 50 via the second arm 77.
  • the second nozzle 90 is not particularly limited, and may be attached to the head unit 50 via the third arm 91.
  • the plurality of second nozzles 76 and 90 are connected to a liquid reservoir 70 (not shown).
  • the plurality of second nozzles 76 and 90 are configured to shut off the second liquid 78 from the seventh state in which the second liquid 78 is supplied toward the first main surface 3 excluding the first portion 82. It is configured to be able to switch between eight states.
  • the second arm 77 may be configured such that the length of the second arm 77 can be changed according to the circular motion of the workpiece 2.
  • the third arm 91 may be configured such that the length of the third arm 91 can be changed according to the circular motion of the workpiece 2.
  • the second supply speed of the second liquid 78 may be larger than the first supply speed of the first liquid 73.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be 10 times or more the first supply rate of the first liquid 73, or 20 times or more.
  • the plurality of second liquids 78 can continue to be supplied toward the main surface (the first main surface 3) excluding the first portion 82 while the workpiece 2 is rotating.
  • the nozzles 76 and 90 are arranged. Specifically, the plurality of second nozzles 76 and 90 may be disposed on the closed loop 28 in a plan view of the first main surface 3. More specifically, the plurality of second nozzles 76 and 90 may be arranged at equal intervals on the closed loop 28 centering on the first portion 82 in the plan view of the first main surface 3.
  • the closed loop 28 is configured by a row of intersection points 92 in plan view of the first main surface 3.
  • the intersection point 92 includes a first outer edge of the workpiece 2 in the first position in the orbiting motion and a second outer edge of the workpiece 2 in the second position that orbited by 180 ° from the first position. Is the point where The first position is an arbitrary position in the circular motion of the workpiece 2.
  • a row of intersections 92 is formed as the work piece 2 moves around the circuit. While the workpiece 2 is rotating, some of the plurality of second nozzles 76 and 90 continue to face the first main surface 3 excluding the first portion 82.
  • the circular motion of the workpiece 2 is a circular motion around the first portion 82
  • the closed loop 28 is the circumference (28)
  • the plurality of second nozzles 76, 90 are
  • the first main surface 3 may be arranged on a circumference (28) centered on the first portion 82 in a plan view. More specifically, the plurality of second nozzles 76 and 90 are arranged at equal intervals on a circumference (28) centered on the first portion 82 in the plan view of the first main surface 3. Also good.
  • the radius r 2 of the circumference (28) is equal to the distance between the intersection 92 and the first portion 82 in the plan view of the first main surface 3.
  • the control unit 80 controls the open / closed state of each of the plurality of second nozzles 76 and 90.
  • the control unit 80 can switch each of the plurality of second nozzles 76 and 90 between a seventh state in which the second liquid is allowed to pass and an eighth state in which the second liquid is blocked. It is configured.
  • the control unit 80 supplies the second liquid 78 from a part of the plurality of second nozzles 76 and 90 while the workpiece 2 is rotating, and the plurality of second nozzles 76 and 90. The supply of the second liquid 78 from the remaining portion may be stopped.
  • the control unit 80 may be configured to change the length of the second arm 77 and the length of the third arm 91 in accordance with the circular motion of the workpiece 2.
  • a laser processing method according to the third embodiment will be described with reference to FIGS.
  • the laser processing method of the present embodiment includes the same steps as the laser processing method of the second embodiment, but mainly differs in the following points.
  • the plurality of second nozzles 76, 90 are directed toward the first main surface 3 excluding the first portion 82.
  • the control unit 80 switches the second pump 75 to the fifth state in which the second liquid 78 is supplied from the liquid storage unit 70 to the plurality of second nozzles 76 and 90, and the liquid storage The second liquid 78 is supplied from the unit 70 to the plurality of second nozzles 76 and 90.
  • the control unit 80 switches the plurality of second nozzles 76 and 90 to the seventh state in which the second liquid 78 is supplied toward the first main surface 3 excluding the first portion 82, thereby The second liquid 78 is supplied from the second nozzles 76 and 90 toward the first main surface 3 excluding the first portion 82.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be greater than the first supply rate of the first liquid 73.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be 10 times or more the first supply rate of the first liquid 73, or 20 times or more.
  • a plurality of second nozzles 76, 90 are provided so that the second liquid 78 can continue to be supplied toward the first main surface 3 excluding the first portion 82 while the workpiece 2 is in a circular motion. Is arranged. Specifically, the plurality of second nozzles 76 and 90 may be disposed on the closed loop 28 in a plan view of the first main surface 3. More specifically, the plurality of second nozzles 76 and 90 may be arranged at equal intervals on the closed loop 28 centering on the first portion 82 in the plan view of the first main surface 3. The closed loop 28 is configured by a row of intersection points 92 in plan view of the first main surface 3.
  • the intersection point 92 includes a first outer edge of the workpiece 2 in the first position in the orbiting motion and a second outer edge of the workpiece 2 in the second position that orbited by 180 ° from the first position. Is the point where The first position is an arbitrary position in the circular motion of the workpiece 2.
  • a row of intersections 92 is formed as the work piece 2 moves around the circuit. While the workpiece 2 is rotating, some of the plurality of second nozzles 76 and 90 continue to face the first main surface 3 excluding the first portion 82.
  • the circular motion of the workpiece 2 is a circular motion around the first portion 82
  • the closed loop 28 is the circumference (28)
  • the plurality of second nozzles 76, 90 are
  • the first main surface 3 may be arranged on a circumference (28) centered on the first portion 82 in a plan view. More specifically, the plurality of second nozzles 76 and 90 are arranged at equal intervals on a circumference (28) centered on the first portion 82 in the plan view of the first main surface 3. Also good.
  • the radius r 2 of the circumference (28) is equal to the distance between the intersection 92 and the first portion 82 in the plan view of the first main surface 3.
  • the second liquid 78 is supplied from the part of the plurality of second nozzles 76 and 90 while the workpiece 2 is rotating.
  • the liquid 78 may be supplied, and the supply of the second liquid 78 from the rest of the plurality of second nozzles 76 and 90 may be stopped.
  • the second liquid 78 alternates the first portion 82 from the second nozzle 76 and the second nozzle 76. It is supplied toward the first main surface 3 except for the above.
  • the second liquid 78 continues to be supplied from a part of the plurality of second nozzles 76 and 90 toward the first main surface 3 excluding the first portion 82.
  • the laser processing apparatus 1c of the present embodiment has the following effects in addition to the effects of the laser processing apparatus 1b of the second embodiment.
  • the laser processing apparatus 1c is configured to supply a plurality of second liquids 78 toward the main surface (first main surface 3) excluding the first portion 82.
  • Nozzles 76 and 90 are further provided.
  • the second supply rate of the second liquid 78 is greater than the first supply rate of the first liquid 73.
  • the plurality of second liquids 78 can continue to be supplied toward the main surface (the first main surface 3) excluding the first portion 82 while the workpiece 2 is rotating.
  • the nozzles 76 and 90 are arranged. Therefore, the main surface (first main surface 3) is prevented from being exposed from the liquid layer 79.
  • the liquid layer 79 is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece 2 with the laser beam 62. According to the laser processing apparatus 1c of the present embodiment, debris generated from the workpiece 2 during the laser processing of the workpiece 2 adheres to the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2. It can be reliably prevented.
  • the plurality of second nozzles 76 and 90 may be arranged on the closed loop 28 in a plan view of the main surface (first main surface 3).
  • the closed loop 28 is constituted by a sequence of intersection points 92.
  • the intersection 92 is the first outer edge of the workpiece 2 at the first position in the orbiting motion of the workpiece 2 and the workpiece 2 at the second position that orbits 180 ° from the first position. This is the point where the second outer edge intersects.
  • a row of intersections 92 is formed as the work piece 2 moves around the circuit. Therefore, the main surface excluding the first portion 82 from the part of the plurality of second nozzles 76 and 90 while the workpiece 2 is rotating (first main surface 3). Will continue to be supplied.
  • debris generated from the workpiece 2 during the laser processing of the workpiece 2 adheres to the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2. It can be reliably prevented.
  • the laser processing apparatus 1c further includes a control unit 80.
  • the control unit 80 supplies the second liquid 78 from a part of the plurality of second nozzles 76 and 90 while the workpiece 2 is rotating, and the plurality of second nozzles 76 and 90.
  • the supply of the second liquid 78 from the remaining portion can be stopped.
  • debris generated from the workpiece 2 during the laser processing of the workpiece 2 adheres to the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2. It can be reliably prevented and the amount of second liquid 78 used can be reduced.
  • the laser processing method of the present embodiment has the following effects in addition to the effects of the laser processing method of the second embodiment, but is mainly different in the following points.
  • the main surface (first main surface) excluding the first portion 82 from the plurality of second nozzles 76, 90 before irradiating the first portion 82 with the laser beam 62, the main surface (first main surface) excluding the first portion 82 from the plurality of second nozzles 76, 90.
  • the method further includes supplying the second liquid 78 toward 3).
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be greater than the first supply rate of the first liquid 73.
  • the plurality of second liquids 78 can continue to be supplied toward the main surface (the first main surface 3) excluding the first portion 82 while the workpiece 2 is rotating.
  • the nozzles 76 and 90 are arranged. Therefore, the main surface (first main surface 3) is prevented from being exposed from the liquid layer 79.
  • the liquid layer 79 is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece 2 with the laser beam 62. According to the laser processing method of the present embodiment, it is certain that debris generated from the workpiece 2 adheres to the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2 during laser processing of the workpiece 2. Can be prevented.
  • the second liquid 78 is supplied from the part of the plurality of second nozzles 76 and 90 while the workpiece 2 is rotating.
  • the liquid 78 is supplied, and the supply of the second liquid 78 from the rest of the plurality of second nozzles 76 and 90 is stopped.
  • the amount of the second liquid 78 used can be reduced.
  • FIG. 4 A laser processing apparatus 1d according to the fourth embodiment will be described with reference to FIGS.
  • the laser processing apparatus 1d of the present embodiment has the same configuration as the laser processing apparatus 1b of the second embodiment, but is mainly different in the following points.
  • the laser processing apparatus 1 d further includes a second nozzle 76 configured to be able to supply the second liquid 78 to the first main surface 3.
  • the second nozzle 76 is arranged so that the second liquid 78 can continue to be supplied to the same portion 93 of the first main surface 3 different from the first portion 82 while the work piece 2 is in a circular motion.
  • the holding unit 10 is configured to be movable.
  • the second nozzle 76 is configured to be movable with respect to the holding unit 10 so that the second nozzle 76 rotates in the same manner as the workpiece 2 in a plan view of the first main surface 3. May be.
  • the same location 93 of the 1st main surface 3 is not specifically limited, The center of the 1st main surface 3 may be sufficient.
  • the fourth drive unit (95) may include a fourth motor 95.
  • the fourth drive unit (95) may be attached to the inside of the first base 31.
  • the second nozzle 76 may be connected to the fourth motor 95 via the second arm 77.
  • the first base 31 may have a gap 96 formed so as to surround the holding unit 10.
  • the gap 96 is not particularly limited, but may have a circular shape.
  • the second arm 77 extends through the gap 96.
  • the second supply speed of the second liquid 78 may be larger than the first supply speed of the first liquid 73.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be 10 times or more the first supply rate of the first liquid 73, or 20 times or more.
  • control unit 80 is further connected to fourth motor 95.
  • the control unit 80 controls the fourth motor 95 to move the second nozzle 76. While the workpiece 2 is rotating, the second nozzle 76 is set so that the second liquid 78 can continue to be supplied to the same portion 93 of the first main surface 3 different from the first portion 82.
  • the control unit 80 is configured so that it can be moved. Even if the control unit 80 is configured so that the second nozzle 76 can be rotated in the same manner as the workpiece 2 in the plan view of the first main surface 3 while the workpiece 2 is rotating. Good.
  • the controller 80 may be configured so that the first portion 82 can be circularly moved with the radius r 1 around the first portion 82.
  • the laser processing method according to the fourth embodiment will be described with reference to FIGS.
  • the laser processing method of the present embodiment includes the same steps as the laser processing method of the second embodiment, but mainly differs in the following points.
  • the laser processing method of the present embodiment includes supplying the second liquid 78 from the second nozzle 76 to the first main surface 3 before irradiating the first portion 82 with the laser light 62.
  • the second nozzle 76 moves so that the second liquid 78 continues to be supplied to the same portion 93 of the first main surface 3 different from the first portion 82 while the work piece 2 is orbiting.
  • the second nozzle is configured so that the second nozzle 76 rotates in the same manner as the workpiece 2 in the plan view of the first main surface 3 while the workpiece 2 is rotating. 76 may move relative to the holding unit 10.
  • the same location 93 of the 1st main surface 3 is not specifically limited, The center of the 1st main surface 3 may be sufficient.
  • the control unit 80 While the workpiece 2 is rotating, the control unit 80 is configured so that the second liquid 78 is continuously supplied to the same portion 93 of the first main surface 3 different from the first portion 82.
  • the second nozzle 76 is moved by controlling the motor 95.
  • the control unit 80 is configured so that the second nozzle 76 rotates in the same manner as the work 2 in the plan view of the first main surface 3 while the work 2 rotates.
  • the fourth motor 95 may be controlled. For example, when the workpiece 2 moves circularly with a radius r 1 around the first portion 82 in the plan view of the first main surface 3, the second nozzle 76 also in the plan view of the first main surface 3.
  • the controller 80 may control the fourth motor 95 so as to make a circular motion with the radius r 1 around the first portion 82.
  • the second supply speed of the second liquid 78 may be larger than the first supply speed of the first liquid 73.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be 10 times or more the first supply rate of the first liquid 73, or 20 times or more.
  • the laser processing method of the present embodiment may include stopping the circular motion of the workpiece 2 and stopping the movement of the second nozzle 76. Specifically, the control unit 80 stops the fourth motor 95 and stops the movement of the second nozzle 76. The control unit 80 may stop the movement of the second nozzle 76 at the same time as stopping the circular motion of the workpiece 2.
  • the laser processing apparatus 1d of the present embodiment has the following effects in addition to the effects of the laser processing apparatus 1b of the second embodiment.
  • the laser processing apparatus 1d further includes a second nozzle 76 configured to supply the second liquid 78 to the main surface (first main surface 3).
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be greater than the first supply rate of the first liquid 73.
  • the second liquid 78 can continue to be supplied to the same portion 93 of the main surface (the first main surface 3) different from the first portion 82 while the work piece 2 is rotating.
  • the nozzle 76 is configured to be movable with respect to the holding unit 10.
  • the second liquid 78 continues to be supplied to the same portion 93 of the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2 while the workpiece 2 is rotating, the thickness of the liquid layer 79 is increased. Distribution can be maintained. Therefore, it is possible to prevent the laser light 62 from being diffused and attenuated by the liquid layer 79 and to prevent the main surface (first main surface 3) from being exposed from the liquid layer 79.
  • the workpiece 2 can be processed efficiently and stably, and debris generated from the workpiece 2 during laser processing of the workpiece 2 is processed. 2 can be reliably prevented from adhering to the main surface (first main surface 3).
  • the laser processing method of the present embodiment has the following effects in addition to the effects of the laser processing method of the second embodiment.
  • the second liquid 78 is supplied from the second nozzle 76 to the main surface (first main surface 3) before the first portion 82 is irradiated with the laser light 62. It is further provided.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be greater than the first supply rate of the first liquid 73.
  • the second liquid 78 is continuously supplied to the same portion 93 of the main surface (first main surface 3) different from the first portion 82 while the work piece 2 is rotating. The nozzle 76 moves.
  • the second liquid 78 continues to be supplied to the same portion 93 of the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2 while the workpiece 2 is rotating, the thickness of the liquid layer 79 is increased. Distribution can be maintained. Therefore, it is possible to prevent the laser light 62 from being diffused and attenuated by the liquid layer 79 and to prevent the main surface (first main surface 3) from being exposed from the liquid layer 79.
  • the workpiece 2 can be processed efficiently and stably, and debris generated from the workpiece 2 during laser processing of the workpiece 2 is caused by the workpiece 2. It can be reliably prevented from adhering to the main surface (first main surface 3).
  • Embodiment 5 FIG. With reference to FIG. 23, the laser processing apparatus 1e which concerns on Embodiment 5 is demonstrated.
  • the laser processing apparatus 1e according to the present embodiment has the same configuration as the laser processing apparatus 1d according to the fourth embodiment, but mainly differs in the following points.
  • the laser processing apparatus 1e is configured such that the first liquid 73 can be supplied from the first nozzle 54 as in the laser processing apparatus 1d, and the first liquid 73 is supplied to the first nozzle 54e. It is comprised so that it can supply from.
  • the laser processing apparatus 1 e includes a first nozzle 54 e configured to be able to supply the first liquid 73 toward the first portion 82.
  • the first liquid 73 is supplied not from the first nozzle 54 but from the first nozzle 54e.
  • the first nozzle 54 functions only as an emission port for the laser light 62.
  • the 1st nozzle 54e is not specifically limited, You may attach to the head part 50 via the 4th arm 77e.
  • the first nozzle 54 e is connected to the liquid reservoir 70.
  • the first nozzle 54 e may be connected to the liquid reservoir 70 via the first pipe 71 and the first pump 72.
  • the head unit 50 is not connected to the liquid reservoir 70.
  • the laser beam 62 does not propagate through the liquid column (73).
  • the laser processing method of the present embodiment includes the same steps as the laser processing method of Embodiment 4, but is mainly different in the following points.
  • the first liquid 73 is supplied not from the first nozzle 54 but from the first nozzle 54e.
  • the laser beam 62 does not propagate through the liquid column (73).
  • the laser processing apparatus 1e and the laser processing method of the present embodiment have the same effects as the laser processing apparatus 1d and the laser processing method of the fourth embodiment.
  • the first liquid 73 instead of supplying the first liquid 73 from the first nozzle 54, the first liquid 73 may be supplied from the first nozzle 54e. Good.
  • Embodiment 6 FIG. With reference to FIGS. 24 to 26, a laser processing apparatus 1f according to Embodiment 6 will be described.
  • the laser processing apparatus 1f of the present embodiment has the same configuration as the laser processing apparatus 1b of the second embodiment, but is mainly different in the following points.
  • the drive unit 29 can rotate the workpiece 2 around the central axis 2f of the workpiece 2 while the workpiece 2 is rotating. It is configured.
  • the central axis 2 f passes through the center 2 c of the first main surface 3 and is perpendicular to the first main surface 3.
  • the second angular velocity of the rotational motion of the workpiece 2 is smaller than the first angular velocity of the circular motion of the workpiece 2.
  • the drive unit 29 of the present embodiment has the same configuration as the drive unit 29 of the first embodiment, but the case 31p, the fifth motor 31q, and the third ball screw 31r. And a base plate 31m.
  • the first base 31 of the present embodiment has a configuration similar to that of the first base 31 of the first embodiment, but the first base 31 is a hollow member.
  • the case 31p is disposed in the first base 31.
  • the case 31p extends in the first direction (y direction).
  • the case 31p accommodates a part of the first ball screw 33.
  • the fifth motor 31q is disposed in the first base 31.
  • the fifth motor 31q is disposed on the outer surface of the case 31p.
  • the fifth motor 31q is disposed at a distance from the first ball screw 33 by the case 31p.
  • the fifth motor 31q is electrically connected to the control unit 80.
  • One end of the third ball screw 31r is rotatably connected to the fifth motor 31q.
  • the third ball screw 31r extends through the hole 31n of the case 31p.
  • the other end of the third ball screw 31r is fixed to the base plate 31m.
  • the holding part 10 is fixed to the base plate 31m.
  • the fifth motor 31q rotates the third ball screw 31r to rotate the base plate 31m and the holding unit 10.
  • the workpiece 2 is rotated about the central axis 2f of the workpiece 2 by the first motor 32, the second motor 37, and the fifth motor 31q (changes the orientation of the workpiece 2).
  • the laser beam 62 can move around the optical axis 25.
  • the central axis 2 f passes through the center 2 c of the first main surface 3 and is perpendicular to the first main surface 3.
  • the second angular velocity of the rotational motion of the workpiece 2 is smaller than the first angular velocity of the circular motion of the workpiece 2.
  • the control unit 80 of the present embodiment has the same configuration as the control unit 80 of the first embodiment, but is further connected to the fifth motor 31q.
  • the control unit 80 rotates the workpiece 2 (changing the direction of the workpiece 2), and the workpiece 2 rotates around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82. It is comprised so that the drive part 29 can be controlled so that it can do.
  • the control unit 80 controls the first motor 32, the second motor 37, and the fifth motor 31q.
  • the control unit 80 controls the first motor 32 and the second motor 37 while controlling the fifth motor 31q to rotate the holding unit 10 about the central axis 2f of the workpiece 2.
  • the holding unit 10 is rotated around the optical axis 25 of the laser beam 62.
  • the controller 80 controls the drive unit 29 (the first motor 32, the second motor 2) so that the second angular velocity of the rotational motion of the workpiece 2 is smaller than the first angular velocity of the circular motion of the workpiece 2.
  • the motor 37 and the fifth motor 31q) may be controlled. Therefore, the liquid layer 79 can continue to have the minimum thickness stably in the first portion 82 while the workpiece 2 is in a circular motion.
  • the second angular velocity of the rotational motion of the workpiece 2 may be, for example, 1 ⁇ 2 or less of the first angular velocity of the circumferential motion of the workpiece 2, and is 1 of the angular velocity of the circumferential motion of the workpiece 2.
  • / 3 or less may be 1/4 or less of the angular velocity of the circular motion of the workpiece 2, may be 1/6 or less of the angular velocity of the circular motion of the workpiece 2, The angular velocity of the circular motion of the workpiece 2 may be 1/8 or less.
  • control unit 80 is configured so that the sum of the first rotational angle of the circular motion of the workpiece 2 and the second rotational angle of the rotational motion of the workpiece 2 is an integral multiple of 360 °.
  • the drive unit 29 (the first motor 32, the second motor 37, and the fifth motor 31q) may be controlled.
  • the first rotation angle of the circular motion of the workpiece 2 may be 270 °
  • the second rotation angle of the rotational motion of the workpiece 2 may be 90 °. . Therefore, the processing end position of the workpiece 2 can be matched with the processing start position of the workpiece 2.
  • the laser processing method of this embodiment includes the same steps as the laser processing method of Embodiment 2, but differs in the following points.
  • the workpiece 2 is rotating around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82, the workpiece 2 is centered on the central axis 2 f of the workpiece 2. The workpiece 2 is rotated.
  • the control unit 80 controls the fifth motor 31q.
  • the first motor 32 and the second motor 37 while rotating the workpiece 2 (holding portion 10) about the central axis 2f of the workpiece 2 (while changing the orientation of the workpiece 2).
  • the workpiece 2 (holding portion 10) may be rotated around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82.
  • the control unit 80 controls the fifth motor 31q to process the workpiece.
  • the first motor 32 and the second motor 37 are controlled while rotating the workpiece 2 (holding portion 10) about the central axis 2f of the workpiece 2 (changing the direction of the workpiece 2). Then, the workpiece 2 (holding unit 10) may be rotated around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82.
  • the control unit 80 rotates the workpiece 2 (holding portion 10) about the central axis 2f of the workpiece 2 (the workpiece). While changing the direction of 2), the workpiece 2 (holding portion 10) is continuously moved around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82. While the first portion 82 is irradiated with the laser light 62, the liquid layer 79 has a minimum thickness in the first portion 82, and the thickness of the liquid layer 79 increases as the distance from the first portion 82 increases. To increase. Therefore, it can be suppressed that the laser light 62 is diffused and attenuated by the liquid layer 79. Further, the first main surface 3 of the workpiece 2 is prevented from being exposed from the liquid layer 79. The liquid layer 79 is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece 2 with the laser beam 62.
  • the circular motion and rotation of the workpiece 2 (holding unit 10). Exercise may be stopped. Specifically, the control unit 80 stops the first motor 32, the second motor 37, and the fifth motor 31q to stop the circular motion and the rotational motion of the workpiece 2 (holding unit 10). Let Specifically, as shown in FIG. 26, the sum of the first rotational angle of the circular motion of the workpiece 2 and the second rotational angle of the rotational motion of the workpiece 2 is an integral multiple of 360 °. At this time, the circular motion and the rotational motion of the workpiece 2 (holding portion 10) may be stopped.
  • the laser processing apparatus 1f of the present embodiment has the same effects as the laser processing apparatus 1b of the second embodiment.
  • the laser processing method of the present embodiment has the same effects as the laser processing method of the second embodiment.
  • the workpiece 2 may be rotated about the central axis 2f of the workpiece 2 while the workpiece 2 is rotating.
  • Embodiment 7 FIG. With reference to FIG.28 and FIG.29, the laser processing apparatus 1g which concerns on Embodiment 7 is demonstrated.
  • the laser processing apparatus 1g according to the present embodiment has the same configuration as the laser processing apparatus 1e according to the fifth embodiment, but differs mainly in the following points.
  • the laser processing apparatus 1g of the present embodiment supplies the first liquid 73 from the first nozzle 54 to the first main surface 3 of the workpiece 2 like the laser processing apparatus 1e of the fifth embodiment.
  • the gas 73b can be supplied from the gas nozzle 76g to the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • the laser processing apparatus 1g of the present embodiment replaces the first nozzle 54e, the first pipe 71, and the first pump 72 of the laser processing apparatus 1e of the fifth embodiment with a gas nozzle 76g, gas A supply unit 70b and a gas pipe 74b are provided.
  • the gas nozzle 76g is in fluid communication with the gas supply unit 70b through the gas pipe 74b.
  • the gas supply unit 70b is electrically connected to the control unit 80.
  • the control unit 80 is configured to control the gas supply unit 70b so that the gas 73b can be supplied from the gas supply unit 70b to the gas nozzle 76g through the gas pipe 74b.
  • the gas supply unit 70b may include a gas pump (not shown) configured to send the gas 73b toward the gas nozzle 76g.
  • the gas nozzle 76g is configured to be able to blow the gas 73b to the first portion 82. Since the gas 73b is blown onto the liquid layer 79 formed by the second liquid 78, the liquid layer 79 has a minimum thickness in the first portion 82, and the thickness of the liquid layer 79 is the first portion. Increasing away from 82. Therefore, it can be suppressed that the laser light 62 is diffused and attenuated by the liquid layer 79. The first main surface 3 of the workpiece 2 is prevented from being exposed from the liquid layer 79. The liquid layer 79 is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece 2 with the laser beam 62.
  • the control unit 80 is configured to control the gas supply unit 70b so that the gas 73b is continuously blown to the first part 82 while the first part 82 is irradiated with the laser light 62.
  • the controller 80 continues to blow the gas 73b to the first portion 82 before starting the irradiation of the laser beam 62 onto the workpiece 2 or simultaneously with starting the irradiation of the laser beam 62 onto the workpiece 2.
  • the gas supply unit 70b can be controlled.
  • the control unit 80 may be configured to control the gas supply unit 70b so that the gas 73b is blown to the first portion 82 while the workpiece 2 (holding unit 10) is rotating.
  • the laser processing method using the laser processing apparatus 1g of the present embodiment includes the same steps as the laser processing method using the laser processing apparatus 1e of the fifth embodiment, but differs in the following points.
  • the gas 73b is sprayed onto the first portion 82 of the workpiece 2 from the gas nozzle 76g. While the first portion 82 is irradiated with the laser beam 62, the gas 73b is continuously blown from the gas nozzle 76g to the first portion 82 of the workpiece 2. The gas 73b may be sprayed onto the first portion 82 after the second liquid 78 has started to be supplied to the second portion of the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • the second liquid 78 is started to be supplied from the second nozzle 76 to the second portion of the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • the second liquid 78 may be supplied to the second portion of the first main surface 3 of the workpiece 2 at the same time.
  • the circular motion of the workpiece 2 (holding unit 10) and the gas are stopped.
  • the spraying of 73b may be stopped.
  • the control unit 80 stops the first motor 32 and the second motor 37 to stop the circular motion of the workpiece 2 (holding unit 10) and the operation of the gas supply unit 70b. May be stopped to stop the blowing of the gas 73b.
  • the laser processing apparatus 1g of the present embodiment has the following effects similar to those of the laser processing apparatus 1e of the fifth embodiment.
  • the laser processing apparatus 1g of the present embodiment includes a holding unit 10, a head unit 50, a gas nozzle 76g, a second nozzle 76, and a driving unit 29.
  • the holding unit 10 is configured to hold the workpiece 2.
  • the head unit 50 is configured to irradiate the first portion 82 of the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2 with the laser beam 62.
  • the gas nozzle 76g is configured to be able to blow the gas 73b to the first portion 82.
  • the second nozzle 76 is configured to be able to supply the second liquid 78 to a second portion having a main surface different from that of the first portion 82.
  • the drive unit 29 is configured to drive the holding unit 10 so that the workpiece 2 can rotate around the optical axis 25 of the laser beam 62 in the first portion 82.
  • the gas 73b is blown onto the first portion 82 of the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2, and the main surface different from the first portion 82 is used.
  • the second liquid 78 is supplied from the second nozzle 76 to the second portion, and the first workpiece 82 is moved around the optical axis 25 of the laser light 62 in the first portion 82 while moving around the workpiece 2. Irradiating the portion 82 with the laser beam 62.
  • the gas nozzle 76g applies the first portion 82 of the workpiece 2 to the first portion 82.
  • the gas 73b is continuously blown.
  • the liquid layer 79 has a minimum thickness in the first portion 82, and the thickness of the liquid layer 79 increases as the distance from the first portion 82 increases. To increase. Therefore, it can be suppressed that the laser light 62 is diffused and attenuated by the liquid layer 79. Further, the first main surface 3 of the workpiece 2 is prevented from being exposed from the liquid layer 79.
  • the liquid layer 79 is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece 2 with the laser beam 62.
  • the workpiece 2 can be efficiently processed and is generated from the workpiece 2 during laser processing of the workpiece 2. Debris can be prevented from adhering to the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2.
  • the gas nozzle 76g instead of supplying the first liquid 73 from the first nozzle 54 to the first main surface 3 of the workpiece 2, the gas nozzle 76g supplies the first liquid 73.
  • the gas 73b may be supplied to the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • Embodiment 8 FIG. With reference to FIGS. 31 to 33, a laser processing apparatus 1h according to Embodiment 8 will be described.
  • the laser processing apparatus 1h according to the present embodiment has the same configuration as the laser processing apparatus 1f according to the sixth embodiment, but mainly differs in the following points.
  • the holding unit 10 is configured to hold the workpiece 2 such that the first main surface 3 of the workpiece 2 is inclined with respect to the horizontal plane (xy plane).
  • the first portion 82 is at a position higher than the second portion of the first main surface 3 and the center 2c.
  • the second portion to which the second liquid 78 is supplied may be at a position higher than the center 2c of the first main surface 3.
  • the inclination angle ⁇ 1 of the first main surface 3 with respect to the horizontal plane (xy plane) is not particularly limited, but may be 45 ° or less, 30 ° or less, or 15 ° or less. It may be 10 ° or less.
  • the inclination angle ⁇ 1 of the first main surface 3 with respect to the horizontal plane (xy plane) is not particularly limited, but may be 1 ° or more, 3 ° or more, or 5 ° or more. .
  • the laser processing apparatus 1h includes a second nozzle 76h instead of the second nozzle 76 according to the sixth embodiment.
  • the second nozzle 76 h is configured to be able to supply the second liquid 78 to a second portion of the first main surface 3 different from the first portion 82.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be greater than the first supply rate of the first liquid 73.
  • the second nozzle 76 h has a width W equal to or greater than the maximum length of the workpiece 2 in plan view of the first main surface 3.
  • the maximum length of the workpiece 2 in the plan view of the first main surface 3 is the diameter of the first main surface 3. D.
  • the first main surface 3 of the workpiece 2 is inclined with respect to the horizontal plane (xy plane).
  • the first liquid 73 supplied to the first portion 82 flows down from the first main surface 3 without spreading on the first main surface 3 due to the gravity acting on the first liquid 73.
  • the second nozzle 76 h has a width W equal to or greater than the maximum length of the workpiece 2 in plan view of the first main surface 3. Therefore, even if the first main surface 3 of the workpiece 2 is inclined with respect to the horizontal plane (xy plane), most of the first main surface 3 is caused by the first liquid 73 and the second liquid 78. Exposure from the formed liquid layer 79 can be prevented, and debris generated by processing the workpiece 2 with the laser light 62 can be cooled and washed away by the liquid layer 79.
  • the angle ⁇ 2 between and may be 90 ° or more, or 100 ° or more.
  • a portion of the second liquid 78 can flow from the second portion toward the first portion 82 against gravity.
  • the thickness of the liquid layer 79 can be gradually reduced from the center 2c toward the first portion 82. It can be prevented that most of the first main surface 3 is exposed from the liquid layer 79 formed by the first liquid 73 and the second liquid 78, and the workpiece 2 is processed by the laser light 62.
  • the liquid layer 79 can cool and wash away the debris generated by this.
  • the second tilt angle ⁇ 2 is not particularly limited, but may be 135 ° or less or 120 ° or less.
  • the driving unit 29 is configured to be able to drive the holding unit 10 so that the workpiece 2 can rotate around the central axis 2f of the workpiece 2.
  • the control unit 80 is configured to control the drive unit 29 (fifth motor 31q) so that the workpiece 2 can be rotated about the central axis 2f of the workpiece 2. ing. While the first portion 82 is irradiated with the laser beam 62, the workpiece 2 rotates about the central axis 2 f of the workpiece 2. The rotational motion of the workpiece 2 causes the centrifugal force 27 to act on the liquid layer 79 on the first main surface 3. Due to the centrifugal force 27, the thickness of the liquid layer 79 formed by the first liquid 73 and the second liquid 78 is gradually reduced from the center 2c of the first main surface 3 toward the first portion 82. Can be reduced.
  • the first nozzle 54 may be provided in the head unit 50, similarly to the laser processing apparatus 1f according to the sixth embodiment.
  • the laser beam 62 may be emitted from the first nozzle 54.
  • the laser beam 62 may propagate through the liquid column (73) formed between the first nozzle 54 and the first portion 82 by the first liquid 73.
  • the laser processing method using the laser processing apparatus 1h according to the present embodiment includes the same steps as the laser processing method using the laser processing apparatus 1f according to the sixth embodiment, but differs in the following points.
  • the first nozzle 54 is connected to the first portion 82 of the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2 that is inclined with respect to the horizontal plane (xy plane). Supplying the first liquid 73, and supplying the second liquid 78 from the second nozzle 76 h to the second portion of the main surface (first main surface 3) different from the first portion 82. Is provided.
  • the second nozzle 76 h has a width W that is equal to or greater than the maximum length of the workpiece 2 in plan view of the first main surface 3.
  • the second supply rate of the second liquid 78 may be greater than the first supply rate of the first liquid 73.
  • the laser processing method of the present embodiment further includes irradiating the first portion 82 with the laser light 62 while rotating the workpiece 2 around the central axis 2f of the workpiece 2.
  • the first portion 82 is located higher than the second portion and the center 2c.
  • the control unit 80 controls the fifth motor 31q.
  • the workpiece 2 (holding portion 10) may be rotated about the central axis 2f of the workpiece 2.
  • the control unit 80 controls the fifth motor 31q to process the workpiece.
  • the workpiece 2 (holding portion 10) may be rotated about the central axis 2f of the workpiece 2.
  • the control unit 80 continues to rotate the workpiece 2 (holding unit 10) about the central axis 2 f of the workpiece 2, and the first portion 82.
  • the liquid 73 and the second liquid 78 are continuously supplied to the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • the rotational motion of the workpiece 2 causes the centrifugal force 27 to act on the liquid layer 79 on the first main surface 3.
  • the first portion 82 is irradiated with the laser light 62, due to the centrifugal force 27, the first portion 73 is formed by the first liquid 73 and the second liquid 78 from the center 2 c toward the first portion 82.
  • the thickness of the liquid layer 79 can be gradually reduced.
  • the second nozzle 76h has a width W that is equal to or greater than the maximum length of the workpiece 2 in plan view of the first main surface 3, and therefore the first main surface 3 of the workpiece 2 is Exposure from the liquid layer 79 is prevented.
  • the liquid layer 79 is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece 2 with the laser beam 62.
  • the control unit 80 While the first portion 82 is irradiated with the laser beam 62, the control unit 80 does not have to rotate the workpiece 2 around the optical axis 25, or the workpiece about the optical axis 25. 2 may be circulated. After stopping the irradiation of the laser beam 62 on the workpiece 2 or simultaneously with stopping the irradiation of the laser beam 62 on the workpiece 2, the rotational motion of the workpiece 2 (holding unit 10) is stopped. You may let them. Specifically, the control unit 80 stops the fifth motor 31q to stop the rotational motion of the workpiece 2 (holding unit 10).
  • the laser beam 62 may be emitted from the first nozzle 54 as in the laser processing method of the sixth embodiment.
  • the laser beam 62 may propagate through the liquid column (73) formed between the first nozzle 54 and the first portion 82 by the first liquid 73.
  • the laser processing apparatus 1h of the present embodiment and the laser processing method of the present embodiment have the following effects similar to those of the laser processing apparatus 1f of the sixth embodiment and the laser processing method of the sixth embodiment.
  • the laser processing apparatus 1h includes a holding unit 10, a head unit 50, a first nozzle 54, a second nozzle 76h, and a driving unit 29.
  • the holding unit 10 is configured to hold the workpiece 2 such that the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2 is inclined with respect to the horizontal plane (xy plane).
  • the head unit 50 is configured to irradiate the first portion 82 of the main surface (first main surface 3) with the laser light 62.
  • the first nozzle 54 is configured to supply the first liquid 73 to the first portion 82.
  • the second nozzle 76 h is configured to be able to supply the second liquid 78 to a second portion of the main surface (first main surface 3) different from the first portion 82.
  • the second nozzle 76h has a width W equal to or greater than the maximum length of the workpiece 2 in plan view of the main surface (first main surface 3).
  • the drive unit 29 is configured to drive the holding unit 10 so that the workpiece 2 can rotate around the central axis 2 f of the workpiece 2.
  • the central axis 2f passes through the center 2c of the main surface (first main surface 3) and is perpendicular to the main surface (first main surface 3).
  • the first portion 82 is located higher than the second portion and the center 2c.
  • the first nozzle 54 is connected to the first portion 82 of the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2 that is inclined with respect to the horizontal plane (xy plane). Supplying the first liquid 73, and supplying the second liquid 78 from the second nozzle 76 h to the second portion of the main surface (first main surface 3) different from the first portion 82. Is provided.
  • the second nozzle 76h has a width W equal to or greater than the maximum length of the workpiece 2 in plan view of the main surface (first main surface 3).
  • the laser processing method of the present embodiment further includes irradiating the first portion 82 with the laser beam 62 while rotating the workpiece 2 around the central axis 2f of the workpiece 2.
  • the central axis 2f passes through the center 2c of the main surface (first main surface 3) and is perpendicular to the main surface (first main surface 3).
  • the first portion 82 is located higher than the second portion and the center 2c.
  • the control unit 80 moves the central axis 2f of the workpiece 2 while the first portion 82 is irradiated with the laser light 62.
  • the workpiece 2 (holding unit 10) is continuously rotated about the center, and the first liquid 73 and the second liquid 78 are continuously supplied to the first main surface 3 of the workpiece 2.
  • the rotational motion of the workpiece 2 causes the centrifugal force 27 to act on the liquid layer 79 on the first main surface 3.
  • the thickness of the liquid layer 79 gradually decreases from the center 2 c of the first main surface 3 toward the first portion 82 due to the centrifugal force 27. Can be reduced.
  • the second nozzle 76h has a width W that is equal to or greater than the maximum length of the workpiece 2 in plan view of the first main surface 3, and therefore the first main surface 3 of the workpiece 2 is Exposure from the liquid layer 79 is prevented.
  • the liquid layer 79 is immediately cooled and washed away with debris generated by processing the workpiece 2 with the laser beam 62.
  • the workpiece 2 can be efficiently processed and is generated from the workpiece 2 during the laser processing of the workpiece 2.
  • Debris can be prevented from adhering to the main surface (first main surface 3) of the workpiece 2.
  • the workpiece instead of rotating the workpiece 2 around the optical axis 25 of the laser beam 62, the workpiece is centered on the central axis 2f of the workpiece 2. 2 may be rotated.
  • Embodiment 9 A method for manufacturing a semiconductor device according to the ninth embodiment will be described with reference to FIGS.
  • the manufacturing method of the semiconductor device uses any one laser processing apparatus according to any of the first to eighth embodiments or any one laser processing method according to any of the first to eighth embodiments.
  • the plurality of semiconductor elements may be, for example, insulated gate bipolar transistors (IGBTs) or metal oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).
  • a plurality of semiconductor elements are formed in the inner peripheral region 5 of the workpiece 2 ( S2).
  • a plurality of semiconductor elements are formed in the inner peripheral region 5 of the workpiece 2 (S2 )
  • a part of the plurality of semiconductor elements is formed in the inner peripheral area 5 of the work piece 2.
  • the manufacturing method of the semiconductor device of the present embodiment has the same effects as the laser processing apparatuses 1, 1b, 1c, 1d, 1e, 1f, 1g, 1h and the laser processing method of the first to eighth embodiments. .
  • Embodiment 1-9 disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. As long as there is no contradiction, at least two of Embodiments 1-9 disclosed this time may be combined.
  • the scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

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Abstract

レーザ加工装置(1)は、被加工物(2)を保持し得るように構成された保持部(10)と、ヘッド部(50)と、第1のノズル(54)と、駆動部(29)とを備える。ヘッド部(50)は、被加工物(2)の主面(3)の第1の部分(82)にレーザ光(62)を照射させ得るように構成されている。第1のノズル(54)は、第1の部分(82)に第1の液体(73)を供給し得るように構成されている。駆動部(29)は、第1の部分(82)におけるレーザ光(62)の光軸(25)を中心に被加工物(2)が周回運動し得るように保持部(10)を駆動し得るように構成される。そのため、被加工物(2)が効率的に加工され得るとともに、被加工物(2)のデブリが被加工物(2)の主面(3)に付着することが防止され得る。

Description

レーザ加工装置、レーザ加工方法及び半導体装置の製造方法
 本発明は、レーザ加工装置、レーザ加工方法及び半導体装置の製造方法に関する。
 特開2015-115538号公報(特許文献1)は、液柱によって誘導されたレーザ光を半導体ウエハに照射することにより、半導体ウエハに溝を形成するレーザ加工装置及びレーザ加工方法を開示している。
特開2015-115538号公報
 本発明の目的は、被加工物が効率的に加工され得るとともに、被加工物のレーザ加工中に被加工物から生じるデブリが被加工物の主面に付着することが防止され得るレーザ加工装置、レーザ加工方法及び半導体装置の製造方法を提供することである。
 本発明のレーザ加工装置は、保持部と、ヘッド部と、第1のノズルと、駆動部とを備える。保持部は、被加工物を保持し得るように構成されている。ヘッド部は、被加工物の主面の第1の部分にレーザ光を照射させ得るように構成されている。第1のノズルは、第1の部分に第1の液体を供給し得るように構成されている。駆動部は、第1の部分におけるレーザ光の光軸を中心に被加工物が周回運動し得るように保持部を駆動し得るように構成されている。
 本発明のレーザ加工方法は、第1のノズルから被加工物の主面の第1の部分に第1の液体を供給することと、第1の部分におけるレーザ光の光軸を中心に被加工物を周回運動させながら、第1の部分にレーザ光を照射することとを備える。
 本発明の半導体装置の製造方法は、本発明のレーザ加工装置を用いて、被加工物を被加工物の内周領域と被加工物の外周領域とに分離することと、被加工物を分離する前に、被加工物の内周領域に半導体素子を形成することとを備える。
 本発明のレーザ加工装置では、被加工物の周回運動は、第1の液体を主面上に供給することによって主面上に形成される液体層に遠心力を作用させる。この遠心力のため、液体層は第1の部分おいて最小の厚さを有するとともに、液体層の厚さは第1の部分から離れるにつれて増加する。そのため、レーザ光が液体層によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得る。また、主面が液体層から露出することが防止される。レーザ光により被加工物を加工することによって発生するデブリを、液体層は直ちに冷却して洗い流す。本発明のレーザ加工装置によれば、被加工物は効率的に加工され得るとともに、被加工物のレーザ加工中に被加工物から生じるデブリが被加工物の主面に付着することが防止され得る。
 本発明のレーザ加工方法では、被加工物の周回運動は、第1の液体を主面上に供給することによって主面上に形成される液体層に遠心力を作用させる。この遠心力のため、液体層は第1の部分おいて最小の厚さを有するとともに、液体層の厚さは第1の部分から離れるにつれて増加する。そのため、レーザ光が液体層によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得る。また、主面が液体層から露出することが防止される。レーザ光により被加工物を加工することによって発生するデブリを、液体層は直ちに冷却して洗い流す。本発明のレーザ加工方法によれば、被加工物は効率的に加工され得るとともに、被加工物のレーザ加工中に被加工物から生じるデブリが被加工物の主面に付着することが防止され得る。
 本発明の半導体装置の製造方法によれば、被加工物は効率的に加工され得るとともに、被加工物のレーザ加工中に被加工物から生じるデブリが被加工物の主面に付着することが防止され得る。
本発明の実施の形態1に係るレーザ加工装置の概略斜視図である。 本発明の実施の形態1に係るレーザ加工装置の概略平面図である。 本発明の実施の形態1に係るレーザ加工装置を用いて加工される被加工物の概略側面図である。 本発明の実施の形態1に係るレーザ加工装置に含まれる保持部の概略部分拡大断面図である。 本発明の実施の形態1に係るレーザ加工装置の、図2に示される断面線V-Vにおける概略断面図である。 本発明の実施の形態1に係るレーザ加工装置に含まれる第3の駆動部の概略部分拡大断面図である。 本発明の実施の形態1に係るレーザ加工装置に含まれるレーザ光源部の概略部分拡大図である。 本発明の実施の形態1に係るレーザ加工装置の概略部分拡大断面図である。 本発明の実施の形態1に係るレーザ加工装置の、図2に示される断面線IX-IXにおける概略断面図である。 本発明の実施の形態1に係るレーザ加工装置における被加工物の周回運動を示す平面図である。 本発明の実施の形態1に係るレーザ加工方法のタイミングチャートを示す図である。 本発明の実施の形態2に係るレーザ加工装置の概略斜視図である。 本発明の実施の形態2に係るレーザ加工装置の概略断面図である。 本発明の実施の形態2に係るレーザ加工方法のタイミングチャートを示す図である。 本発明の実施の形態3に係るレーザ加工装置の概略斜視図である。 本発明の実施の形態3に係るレーザ加工装置における被加工物の周回運動と第2のノズルの配置とを示す平面図である。 本発明の実施の形態3に係るレーザ加工装置における制御回路ブロック図である。 本発明の実施の形態3に係るレーザ加工方法のタイミングチャートを示す図である。 本発明の実施の形態4に係るレーザ加工装置の概略斜視図である。 本発明の実施の形態4に係るレーザ加工装置の概略断面図である。 本発明の実施の形態4に係るレーザ加工装置における被加工物の周回運動と第2のノズルの移動とを示す平面図である。 本発明の実施の形態4に係るレーザ加工方法のタイミングチャートを示す図である。 本発明の実施の形態5に係るレーザ加工装置の概略断面図である。 本発明の実施の形態6に係るレーザ加工装置の概略斜視図である。 本発明の実施の形態6に係るレーザ加工装置の概略断面図である。 本発明の実施の形態6に係るレーザ加工装置における被加工物の周回運動及び回転運動を示す平面図である。 本発明の実施の形態6に係るレーザ加工方法のタイミングチャートを示す図である。 本発明の実施の形態7に係るレーザ加工装置の概略斜視図である。 本発明の実施の形態7に係るレーザ加工装置の概略断面図である。 本発明の実施の形態7に係るレーザ加工方法のタイミングチャートを示す図である。 本発明の実施の形態8に係るレーザ加工装置の概略斜視図である。 本発明の実施の形態8に係るレーザ加工装置の概略断面図である。 本発明の実施の形態8に係るレーザ加工装置の部分拡大平面図である。 本発明の実施の形態8に係るレーザ加工方法のタイミングチャートを示す図である。 本発明の実施の形態9に係る半導体装置の製造方法のフローチャートを示す図である。
 以下、本発明の実施の形態を説明する。なお、同一の構成には同一の参照番号を付し、その説明は繰り返さない。
 実施の形態1.
 図1から図11を参照して、実施の形態1に係るレーザ加工装置1を説明する。レーザ加工装置1は、保持部10と、ヘッド部50と、第1のノズル54と、駆動部29とを主に備える。レーザ加工装置1は、制御部80をさらに備えてもよい。
 保持部10は、被加工物2を保持し得るように構成されている。図3を参照して、被加工物2の一例を説明する。被加工物2は、シリコンウエハまたは炭化ケイ素ウエハのような半導体ウエハであってもよい。被加工物2は、第1の主面3と、第1の主面3と反対側の第2の主面4とを有する。被加工物2の第1の主面3上に、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT)または金属酸化物半導体電界効果トランジスタ(MOSFET)のような半導体素子が形成されてもよい。被加工物2は、内周領域5と外周領域6とを含んでもよい。内周領域5は、外周領域6よりも薄くてもよい。図10を参照して、被加工物は、第1の主面3上にノッチ7が形成されてもよい。ノッチ7は、被加工物の向きの指標として機能し得る。
 図1に示されるように、保持部10は、第1保持部分11と、複数の第2保持部分12と、複数の第1のアーム13とを含んでもよい。第1保持部分11は、第2保持部分12よりも広い面積で、被加工物2を保持してもよい。第1保持部分11は、被加工物2の内周領域5を保持し得るように構成されてもよい。第2保持部分12は、第1保持部分11の周囲に配置されてもよい。第2保持部分12は、被加工物2の外周領域6を複数の箇所で保持し得るように構成されてもよい。複数の第1のアーム13は、第1の基台31と第2保持部分12とに接続されている。複数の第1のアーム13は、その長さが変化し得るように構成されている。複数の第1のアーム13は、被加工物2の形状に応じて、第2保持部分12の高さを変化させることができる。
 図4を参照して、第1保持部分11は、第1吸着孔14を有している。第1保持部分11は、空洞15と、噴出口16とをさらに有してもよい。第1吸着孔14は、第1の流路17を介して空洞15に連通している。噴出口16は、第2の流路18を介して空洞15に連通している。第1の流路17は、第2の流路18よりも狭い断面積を有している。例えば、第1の流路17の幅w1は、第2の流路18の幅w2よりも狭くてもよい。空洞15は、加圧気体供給部20に連通している。加圧気体供給部20から空洞15に加圧気体が供給されると、加圧気体は、空洞15及び第2の流路18を経て、噴出口16から第1保持部分11の外部に放出される。第1の流路17は第2の流路18よりも狭い断面積を有するため、ベンチュリ効果によって、第1の流路17に負圧が発生する。この負圧によって、被加工物2の内周領域5は第1保持部分11に吸着される。こうして、被加工物2の内周領域5は第1保持部分11に保持される。
 第2保持部分12は、第2吸着孔22を有している。第2吸着孔22は排気ポンプ23に連通している。排気ポンプ23を作動させることによって、被加工物2の外周領域6は第2保持部分12に吸着される。こうして、被加工物2の外周領域6は第2保持部分12に保持される。
 図5から図8を参照して、ヘッド部50は、被加工物2の第1の主面3の第1の部分82にレーザ光62を照射させ得るように構成されている。第1の部分82は、内周領域5と外周領域6との間の境界部分のような、被加工物2においてレーザ加工される部分である。ヘッド部50は、ミラー51と、レンズ52と、透明窓53とを含んでもよい。ミラー51は、レーザ光62を被加工物2に向けて反射する。レンズ52は、レーザ光62を集光してもよい。透明窓53は、レーザ光62を透過させるとともに、ヘッド部50内の空間を仕切る。
 レーザ光源部60は、ヘッド部50に接続される。特定的には、レーザ光源部60は、光ファイバのようなライトガイド66を介して、ヘッド部50に接続されてもよい。図7を参照して、レーザ光源部60は、レーザ光源61を含む。レーザ光源61は、レーザ光62を出力する。レーザ光源61は、特に限定されないが、Nd:YAGレーザ、Nd:YLFレーザ、Nd:YVO4レーザまたはチタンサファイヤレーザであってもよい。被加工物2が炭化ケイ素である場合、レーザ光62の波長は532nmより短いことが望ましい。図8に示されるように、レーザ光源61から出射されたレーザ光62は、ミラー51で反射され、レンズ52で集光され、透明窓53を透過して、被加工物2の第1の主面3の第1の部分82に出射する。
 図7に示されるように、レーザ光源部60は、シャッタ63と、周波数調整器64と、パワー測定器65とをさらに含んでもよい。シャッタ63は、レーザ光62を透過させる第1の状態と、レーザ光62を遮断する第2の状態との間で切り換え可能に動作し得るように構成されている。周波数調整器64は、レーザ光源61の発振周波数を調整する。パワー測定器65は、レーザ光源61から出射されるレーザ光62のパワーを測定し、測定されたレーザ光62のパワーに基づいて、レーザ光源61から出射されるレーザ光62のパワーが調整され得る。
 図1及び図2を参照して、ヘッド部50は、第3の基台40に取り付けられている。特定的には、ヘッド部50は、高さ方向(z方向)に移動可能に第3の基台40に取り付けられてもよい。具体的には、ヘッド部50は、支持部42と、第3の駆動部44とを介して、第3の基台40に取り付けられてもよい。第3の駆動部44は、第3のモータ45と、第3のボールねじ46と、第4の基台47と、ヘッド部50が固定される第5の基台48を含んでもよい。
 支持部42は、その一端が第3の基台40に取り付けられ、その他端が第4の基台47に取り付けられてもよい。第3のモータ45は、第4の基台47に取り付けられてもよい。第3の駆動部44は、ヘッド部50を高さ方向(z方向)に動かし得るように構成されている。具体的には、第3のボールねじ46は、第5の基台48に螺合している。第3のボールねじ46は、高さ方向(z方向)に延在している。第3のモータ45は、第3のボールねじ46を回転させる。こうして、ヘッド部50は、第3のボールねじ46が延在する高さ方向(z方向)に移動することができる。
 第1のノズル54は、被加工物2の第1の主面3の第1の部分82に第1の液体73を供給し得るように構成されている。特定的には、第1のノズル54は、第1の部分82に第1の液体73を供給しかつレーザ光62を出射させ得るように構成されてもよい。第1のノズル54は、レーザ光62が第1のノズル54から出射されて、第1の液体73によって第1のノズル54と第1の部分82との間に形成される液柱(73)の中をレーザ光62が伝搬し得るようにヘッド部50に設けられてもよい。レーザ光62は、液柱(73)の表面で全反射されながら、液柱(73)の中を伝搬してもよい。
 図6を参照して、第2の伸縮可能な保護カバー49が、第4の基台47とヘッド部50との間の隙間を覆ってもよい。第2の伸縮可能な保護カバー49は、レーザ加工時に使用する第1の液体73及びレーザ加工中に発生するデブリが第3のモータ45及び第3のボールねじ46に付着することを防止する。
 図5及び図8を参照して、液溜め部70は、ヘッド部50に接続される。特定的には、液溜め部70は、第1の配管71及び第1のポンプ72を介して、ヘッド部50に接続されてもよい。第1のポンプ72は、液溜め部70からヘッド部50に第1の液体73を供給する第3の状態と、液溜め部70からの第1の液体73を遮断する第4の状態との間で切り換え可能に動作し得るように構成されている。透明窓53は、第1の液体73がミラー51及びレンズ52に浸入することを防ぐ。液溜め部70からヘッド部50に供給された第1の液体73は、第1のノズル54から被加工物2の第1の主面3の第1の部分82に供給される。被加工物2の第1の主面3の第1の部分82に第1の液体73を供給することにより、第1のノズル54と第1の部分82との間に液柱(73)が形成される。第1の部分82に第1の液体73を供給することにより、第1の液体73が第1の主面3上に拡がって、第1の主面3上に液体層79が形成される。
 図1、図2、図5及び図8から図10を参照して、駆動部29は、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2が周回運動し得るように保持部10を駆動し得るように構成されている。第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に保持部10が周回運動し得るように駆動部29が保持部10を駆動することによって、被加工物2は、被加工物2の中心の軌跡26に沿って周回運動する。本明細書において、被加工物2の周回運動は、被加工物2の第1の部分82を中心とする被加工物2の円運動または楕円運動を意味する。特定的には、被加工物2は、第1の部分82を中心に半径r1で円運動してもよい。被加工物2の周回運動の速度は、一定であってもよいし、変化してもよい。駆動部29は、被加工物2が周回運動している間、被加工物2の向きを維持し得るように構成されてもよい。
 駆動部29の構成は特に限定されないが、駆動部29は、第1の駆動部30と第2の駆動部35とを含んでもよい。第1の駆動部30は、保持部10を第1の方向(y方向)に移動させ得るように構成されている。具体的には、第1の駆動部30は、第1の基台31と、第1のモータ32と、第1のボールねじ33と、第1のガイドレール34とを含んでもよい。保持部10は、第1の基台31に固定されている。第1のボールねじ33と第1のガイドレール34とは、第1の方向(y方向)に延在している。第1のガイドレール34は、第2の基台36に固定されている。第1のボールねじ33は、第1の基台31に螺合している。第1のモータ32は第1のボールねじ33を回転させる。そのため、第1の基台31は、第1のボールねじ33と第1のガイドレール34とが延在する第1の方向(y方向)に移動することができる。
 第2の駆動部35は、保持部10を、第1の方向(y方向)に交差する第2の方向(x方向)に移動させ得るように構成されている。具体的には、第2の駆動部35は、第2の基台36と、第2のモータ37と、第2のボールねじ38と、第2のガイドレール39とを含んでもよい。第2のガイドレール39は、第3の基台40に固定されている。第2のボールねじ38と第2のガイドレール39とは、第2の方向(x方向)に延在している。第2のボールねじ38は、第2の基台36に螺合している。第2のモータ37は第2のボールねじ38を回転させる。そのため、第2の基台36は、第2のボールねじ38と第2のガイドレール39とが延在する第2の方向(x方向)に移動することができる。
 図5を参照して、第1の伸縮可能な保護カバー41が、第1の基台31と第3の基台40との間の隙間を覆ってもよい。第1の伸縮可能な保護カバー41は、レーザ加工時に使用する第1の液体73及びレーザ加工中に発生するデブリが第1のモータ32、第1のボールねじ33、第1のガイドレール34、第2のモータ37、第2のボールねじ38及び第2のガイドレール39に付着することを防止する。
 図5及び図8を参照して、制御部80は、レーザ光源部60と、第1のポンプ72とに接続されている。制御部80は、レーザ光源部60の動作を制御する。例えば、制御部80は、レーザ光源部60に含まれるシャッタ63の動作を、レーザ光62を透過させる第1の状態と、レーザ光62を遮断する第2の状態との間で切り換える。制御部80は、第1のポンプ72の動作を制御する。例えば、制御部80は、第1のポンプ72を、液溜め部70からヘッド部50に第1の液体73を供給する第3の状態と、液溜め部70からの第1の液体73を遮断する第4の状態との間で切り換える。
 制御部80は、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2が周回運動し得るように駆動部29を制御し得るように構成されている。特定的には、制御部80は、被加工物2がレーザ光62の光軸25を中心に周回運動している間、被加工物2の向きが維持されるように駆動部29を制御し得るように構成されてもよい。具体的には、制御部80は、第1のモータ32と、第2のモータ37とに接続されている。制御部80は、レーザ光62の光軸25を中心に保持部10が周回運動し得るように、第1のモータ32と第2のモータ37とを制御する。特定的には、制御部80は、被加工物2がレーザ光62の光軸25を中心に周回運動している間、被加工物2の向きが維持されるように第1のモータ32と第2のモータ37とを制御してもよい。制御部80は、第3のモータ45にさらに接続されている。制御部80は、第3のモータ45を制御して、被加工物2または保持部10に対するヘッド部50の高さ方向(z方向)の位置を調整する。
 図5、図8、図10及び図11を主に参照して、本実施の形態のレーザ加工装置1を用いたレーザ加工方法を説明する。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、第1のノズル54から被加工物2の第1の主面3の第1の部分82に第1の液体73を供給することを備える。具体的には、制御部80が、第1のポンプ72を、液溜め部70からヘッド部50に第1の液体73を供給する第3の状態に切り換えて、液溜め部70からヘッド部50に第1の液体73が供給される。ヘッド部50に供給された第1の液体73は、第1のノズル54から被加工物2の第1の主面3の第1の部分82に供給される。第1の液体73を供給することは、第1のノズル54と第1の部分82との間に液柱(73)を形成することと、被加工物2の第1の主面3上に液体層79を形成することとを含む。第1の主面3の第1の部分82にレーザ光62が照射される前に、第1の主面3の第1の部分82に第1の液体73が供給されてもよい。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2を周回運動させながら、第1の部分82にレーザ光62を照射することをさらに備える。具体的には、制御部80が、シャッタ63を、レーザ光62を透過させる第1の状態に切り換えて、レーザ光62が被加工物2の第1の部分82に照射される。制御部80は、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2及び保持部10が周回運動し得るように、第1のモータ32と第2のモータ37とを制御する。特定的には、レーザ光62の光軸25を中心に被加工物2を周回運動させている間、被加工物2の向きは維持されてもよい。レーザ光62は、液柱(73)の中を伝搬して、第1の部分82に照射されてもよい。
 第1の部分82にレーザ光62を照射する前から、第1の液体73は第1の部分82に供給され続けてもよい。第1の部分82にレーザ光62を照射し始めると同時に、被加工物2及び保持部10は周回運動を開始してもよい。第1の部分82にレーザ光62を照射し始める前から、被加工物2及び保持部10は周回運動し続けてもよい。被加工物2及び保持部10が周回運動を開始すると同時に、第1の液体73は第1の部分82に供給され始めてもよい。被加工物2及び保持部10が周回運動を開始する前から、第1の液体73は第1の部分82に供給され続けてもよい。
 第1の部分82にレーザ光62が照射されるとき、被加工物2は、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に周回運動している。被加工物2の周回運動は、第1の主面3上の液体層79に遠心力27を作用させる。この遠心力27のため、液体層79は第1の部分82おいて最小の厚さを有するとともに、液体層79の厚さは第1の部分82から離れるにつれて増加する。そのため、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得る。被加工物2の第1の主面3が液体層79から露出することが防止される。レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを、液体層79は直ちに冷却して洗い流す。デブリは、例えば、被加工物2の溶融物である。レーザ光62の光軸25を中心に被加工物2が周回運動する間、被加工物2の向きが維持される場合、レーザ光62の光軸25を中心に被加工物2が周回運動している間、液体層79の厚さの分布が安定的に維持され得る。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、被加工物2へのレーザ光62の照射を停止させるとともに、被加工物2の周回運動を停止させることをさらに備えてもよい。具体的には、制御部80が、シャッタ63を、レーザ光62を遮断する第2の状態に切り換えて、被加工物2へのレーザ光62の照射が停止される。制御部80は、第1のモータ32と第2のモータ37とを停止させて、被加工物2及び保持部10の周回運動を停止させる。レーザ光62の照射を停止させると同時に被加工物2及び保持部10の周回運動を停止させてもよい。レーザ光62の照射を停止した後に被加工物2及び保持部10の周回運動を停止させてもよい。
 本実施の形態のレーザ加工装置1及びレーザ加工方法の効果を説明する。
 本実施の形態のレーザ加工装置1は、保持部10と、ヘッド部50と、第1のノズル54と、駆動部29とを備える。保持部10は、被加工物2を保持し得るように構成されている。ヘッド部50は、被加工物2の主面(第1の主面3)の第1の部分82にレーザ光62を照射させ得るように構成されている。第1のノズル54は、被加工物2の主面(第1の主面3)の第1の部分82に第1の液体73を供給し得るように構成されている。駆動部29は、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2が周回運動し得るように保持部10を駆動し得るように構成されている。
 被加工物2の周回運動は、第1の液体73を主面(第1の主面3)上に供給することによって主面(第1の主面3)上に形成される液体層79に遠心力27を作用させる。この遠心力27のため、液体層79は第1の部分82おいて最小の厚さを有するとともに、液体層79の厚さは第1の部分82から離れるにつれて増加する。そのため、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得る。また、主面(第1の主面3)が液体層79から露出することが防止される。レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを、液体層79は直ちに冷却して洗い流す。本実施の形態のレーザ加工装置1によれば、被加工物2は効率的に加工され得るとともに、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが防止され得る。
 本実施の形態のレーザ加工装置1では、第1の液体73は第1のノズル54のみから被加工物2の第1の主面3上に供給される。本実施の形態のレーザ加工装置1によれば、第1の部分82おいて最小の厚さを有するとともに第1の部分82から離れるにつれて増加するという液体層79の厚さの分布を形成するために必要な第1の液体73の使用量が減少され得る。さらに、本実施の形態のレーザ加工装置1によれば、このような液体層79の厚さの分布を形成するために必要な第1の配管71及び第1のポンプ72のような液体供給設備が簡素化され得る。
 本実施の形態のレーザ加工装置1では、第1のノズル54は、レーザ光62が第1のノズル54から出射されて、第1の液体73によって第1のノズル54と第1の部分82との間に形成される液柱(73)の中をレーザ光62が伝搬し得るようにヘッド部50に設けられてもよい。そのため、レーザ光62は、液柱(73)を介して被加工物2の第1の部分82に安定的に導かれる。また、レーザー加工時に第1の部分82で発生する熱が、第1の液体73によって冷却される。本実施の形態のレーザ加工装置1によれば、レーザ加工後の被加工物2の品質を向上させることができる。
 本実施の形態のレーザ加工装置1では、駆動部29は、被加工物2が周回運動している間、被加工物2の向きを維持し得るように構成されてもよい。そのため、被加工物2が周回運動する間、液体層79の厚さの分布が安定的に維持され得る。本実施の形態のレーザ加工装置1によれば、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得るとともに、被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが防止され得る。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、第1のノズル54から被加工物2の主面(第1の主面3)の第1の部分82に第1の液体73を供給することと、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2を周回運動させながら、第1の部分82にレーザ光62を照射することとを備える。
 被加工物2の周回運動は、第1の液体73を主面(第1の主面3)上に供給することによって主面(第1の主面3)上に形成される液体層79に遠心力27を作用させる。この遠心力27のため、液体層79は第1の部分82おいて最小の厚さを有するとともに、液体層79の厚さは第1の部分82から離れるにつれて増加する。そのため、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得る。また、主面(第1の主面3)が液体層79から露出することが防止される。レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを、液体層79は直ちに冷却して洗い流す。本実施の形態のレーザ加工方法によれば、被加工物2は効率的に加工され得るとともに、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面に付着することが防止され得る。
 本実施の形態のレーザ加工方法では、第1の液体73は第1のノズル54のみから被加工物2の第1の主面3上に供給される。本実施の形態のレーザ加工方法によれば、第1の部分82おいて最小の厚さを有するとともに第1の部分82から離れるにつれて増加するという液体層79の厚さの分布を形成するために必要な第1の液体73の使用量が減少され得る。さらに、本実施の形態のレーザ加工方法によれば、このような液体層79の厚さの分布を形成するために必要な第1の配管71及び第1のポンプ72のような液体供給設備が簡素化され得る。
 本実施の形態のレーザ加工方法では、レーザ光が第1のノズルから出射されて、第1の液体によって第1のノズルと第1の部分との間に形成される液柱の中をレーザ光が伝搬してもよい。そのため、レーザ光62は、液柱(73)を介して被加工物2の第1の部分82に安定的に導かれる。また、レーザー加工時に第1の部分82で発生する熱が、第1の液体73によって冷却される。本実施の形態のレーザ加工方法によれば、レーザ加工後の被加工物2の品質を向上させることができる。
 本実施の形態のレーザ加工方法では、第1の部分82にレーザ光62を照射する前から、第1の液体73を第1の部分82に供給し続けてもよい。第1の部分82にレーザ光62を照射する前に第1の主面3上に液体層79が形成されるため、レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを、液体層79は直ちに冷却して洗い流す。本実施の形態のレーザ加工方法によれば、被加工物2は効率的に加工され得るとともに、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面に付着することが防止され得る。
 本実施の形態のレーザ加工方法では、被加工物を周回運動させている間、被加工物の向きを維持させてもよい。そのため、被加工物2が周回運動する間、液体層79の厚さの分布が安定的に維持され得る。本実施の形態のレーザ加工方法によれば、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得るとともに、被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが防止され得る。
 実施の形態2.
 図12及び図13を参照して、実施の形態2に係るレーザ加工装置1bを説明する。本実施の形態のレーザ加工装置1bは、実施の形態1のレーザ加工装置1と同様の構成を備えるが、主に以下の点で異なる。
 レーザ加工装置1bは、第1の部分82とは異なる第1の主面3の第2の部分に第2の液体78を供給し得るように構成された第2のノズル76をさらに備える。第2のノズル76は、特に限定されないが、第2のアーム77を介してヘッド部50に取り付けられてもよい。第2のノズル76は、液溜め部70に接続される。特定的には、第2のノズル76は、第2の配管74及び第2のポンプ75を介して、液溜め部70に接続されてもよい。第2のポンプ75は、液溜め部70から第2のノズル76に第2の液体78を供給する第5の状態と、液溜め部70からの第2の液体78を遮断する第6の状態との間で切り換え可能に動作し得るように構成されている。第2の液体78の材料は、第1の液体73の材料と同じであってもよい。
 第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度より大きくてもよい。例えば、第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度の10倍以上であってもよいし、20倍以上であってもよい。第2のノズル76は、第1のノズル54よりも大きな開口部の面積を有してもよい。例えば、第2のノズル76の開口部の面積は、第1のノズル54の開口部の面積の10倍以上であってもよいし、20倍以上であってもよい。
 図13を参照して、制御部80は、第2のポンプ75に接続されている。制御部80は、第2のポンプ75の動作を制御する。例えば、制御部80は、第2のポンプ75を、液溜め部70から第2のノズル76に第2の液体78を供給する第5の状態と、液溜め部70から供給される第2の液体78を遮断する第6の状態との間で切り換え得るように構成されている。
 図13及び図14を参照して、実施の形態2に係るレーザ加工方法を説明する。本実施の形態のレーザ加工方法は、実施の形態1のレーザ加工方法と同様の工程を備えるが、主に以下の点で異なる。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、第1の部分82にレーザ光62を照射する前に、第2のノズル76から第1の部分82とは異なる第1の主面3の第2の部分に第2の液体78を供給することをさらに備える。具体的には、制御部80が、第2のポンプ75を、液溜め部70から第2のノズル76に第2の液体78を供給する第5の状態に切り換えて、液溜め部70から第2のノズル76に第2の液体78が供給される。第2のノズル76に供給された第2の液体78は、第2のノズル76から第1の部分82とは異なる第1の主面3の第2の部分に供給される。第1の液体73が第1の部分82に供給され始めた後かつ第1の主面3の第1の部分82にレーザ光62が照射される前に、第2の液体78は第1の部分82とは異なる第1の主面3の第2の部分に供給され始めてもよい。
 第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度より大きくてもよい。例えば、第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度の10倍以上であってもよいし、20倍以上であってもよい。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、被加工物2へのレーザ光62の照射を停止させるとともに、第2のノズル76から第1の部分82とは異なる第1の主面3の第2の部分への第2の液体78の供給を停止させることを備えてもよい。具体的には、制御部80が、シャッタ63を、レーザ光62を遮断する第2の状態に切り換えて、被加工物2へのレーザ光62の照射が停止される。制御部80は、第2のポンプ75を、液溜め部70から供給される第2の液体78を遮断する第6の状態に切り換えて、第2のノズル76から第1の主面3への第2の液体78の供給を停止させる。レーザ光62の照射を停止させると同時に第2のノズル76からの第2の液体78の供給を停止させてもよい。レーザ光62の照射を停止した後に第2のノズル76からの第2の液体78の供給を停止させてもよい。
 本実施の形態のレーザ加工装置1bは、実施の形態1のレーザ加工装置1の効果に加えて、以下の効果を奏する。本実施の形態のレーザ加工装置1bは、第1の部分82とは異なる主面(第1の主面3)の第2の部分に第2の液体78を供給し得るように構成された第2のノズル76をさらに備える。第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度より大きい。液体層79は第1のノズル54からの第1の液体73と第2のノズル76からの第2の液体78とによって形成されるため、被加工物2の第1の主面3上に液体層79を形成するための時間が短縮され得る。第1の主面3の第1の部分82にレーザ光62を照射するまでの時間Tが短縮され得る。本実施の形態のレーザ加工装置1bによれば、被加工物2が効率的に加工され得る。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、実施の形態1のレーザ加工方法の効果に加えて、以下の効果を奏する。本実施の形態のレーザ加工方法は、第1の部分82にレーザ光62を照射する前に、第2のノズル76から第1の部分82とは異なる主面(第1の主面3)の第2の部分に第2の液体78を供給することをさらに備える。第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度より大きくてもよい。液体層79は第1のノズル54からの第1の液体73と第2のノズル76からの第2の液体78とによって形成されるため、被加工物2の第1の主面3上に液体層79を形成するための時間が短縮され得る。第1の主面3の第1の部分82にレーザ光62を照射するまでの時間Tが短縮され得る。本実施の形態のレーザ加工方法によれば、被加工物2が効率的に加工され得る。
 実施の形態3.
 図15から図17を参照して、実施の形態3に係るレーザ加工装置1cを説明する。本実施の形態のレーザ加工装置1cは、実施の形態2のレーザ加工装置1bと同様の構成を備えるが、主に以下の点で異なる。
 レーザ加工装置1cは、第1の部分82を除く第1の主面3に向けて第2の液体78を供給し得るように構成された複数の第2のノズル76,90をさらに備える。複数の第2のノズル76,90の数は2つに限られず、3つ以上であってもよい。
 第2のノズル76は、特に限定されないが、第2のアーム77を介してヘッド部50に取り付けられてもよい。第2のノズル90は、特に限定されないが、第3のアーム91を介してヘッド部50に取り付けられてもよい。複数の第2のノズル76,90は、液溜め部70(図示せず)に接続される。複数の第2のノズル76,90は、第1の部分82を除く第1の主面3に向けて第2の液体78を供給する第7の状態と、第2の液体78を遮断する第8の状態との間で切り換え可能に動作し得るように構成されている。第2のアーム77は、被加工物2の周回運動に応じて第2のアーム77の長さが変化し得るように構成されてもよい。第3のアーム91は、被加工物2の周回運動に応じて第3のアーム91の長さが変化し得るように構成されてもよい。
 第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度よりも大きくてもよい。例えば、第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度の10倍以上であってもよいし、20倍以上であってもよい。
 被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が第1の部分82を除く主面(第1の主面3)に向けて供給され続け得るように、複数の第2のノズル76,90は配置されている。特定的には、複数の第2のノズル76,90は、第1の主面3の平面視において、閉ループ28上に配置されてもよい。さらに特定的には、複数の第2のノズル76,90は、第1の主面3の平面視において、第1の部分82を中心とする閉ループ28上に等間隔に配置されてもよい。閉ループ28は、第1の主面3の平面視における交点92の列によって構成される。交点92は、周回運動における第1の位置にある被加工物2の第1の外縁と、第1の位置から180°だけ周回運動した第2の位置にある被加工物2の第2の外縁とが交わる点である。第1の位置は、被加工物2の周回運動における任意の位置である。被加工物2が一周周回運動することによって、交点92の列は形成される。被加工物2が周回運動している間、複数の第2のノズル76,90の一部は、第1の部分82を除く第1の主面3に面し続ける。
 特定的には、被加工物2の周回運動は第1の部分82を中心とする円運動であり、閉ループ28は円周(28)であり、複数の第2のノズル76,90は、第1の主面3の平面視において、第1の部分82を中心とする円周(28)上に配置されてもよい。さらに特定的には、複数の第2のノズル76,90は、第1の主面3の平面視において、第1の部分82を中心とする円周(28)上に等間隔に配置されてもよい。円周(28)の半径r2は、第1の主面3の平面視における、交点92と第1の部分82との間の距離に等しい。
 制御部80は、複数の第2のノズル76,90の各々の開閉状態を制御する。制御部80は、複数の第2のノズル76,90の各々を、第2の液体を通過させる第7の状態と、第2の液体を遮断する第8の状態との間で切り換え得るように構成されている。制御部80は、被加工物2が周回運動している間中、複数の第2のノズル76,90の一部から第2の液体78を供給させるとともに、複数の第2のノズル76,90の残りからの第2の液体78の供給を停止させ得るように構成されてもよい。制御部80は、被加工物2の周回運動に応じて、第2のアーム77の長さ及び第3のアーム91の長さを変化させ得るように構成されてもよい。
 図15から図18を参照して、実施の形態3に係るレーザ加工方法を説明する。本実施の形態のレーザ加工方法は、実施の形態2のレーザ加工方法と同様の工程を備えるが、主に以下の点で異なる。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、第1の部分82にレーザ光62を照射する前に、複数の第2のノズル76,90から第1の部分82を除く第1の主面3に向けて第2の液体78を供給することを備える。具体的には、制御部80は、第2のポンプ75を、液溜め部70から複数の第2のノズル76,90に第2の液体78を供給する第5の状態に切り換えて、液溜め部70から複数の第2のノズル76,90に第2の液体78が供給される。制御部80は、複数の第2のノズル76,90を、第1の部分82を除く第1の主面3に向けて第2の液体78を供給する第7の状態に切り換えて、複数の第2のノズル76,90から第1の部分82を除く第1の主面3に向けて第2の液体78が供給される。
 第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度より大きくてもよい。例えば、第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度の10倍以上であってもよいし、20倍以上であってもよい。
 被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が第1の部分82を除く第1の主面3に向けて供給され続け得るように、複数の第2のノズル76,90は配置されている。特定的には、複数の第2のノズル76,90は、第1の主面3の平面視において、閉ループ28上に配置されてもよい。さらに特定的には、複数の第2のノズル76,90は、第1の主面3の平面視において、第1の部分82を中心とする閉ループ28上に等間隔に配置されてもよい。閉ループ28は、第1の主面3の平面視における交点92の列によって構成される。交点92は、周回運動における第1の位置にある被加工物2の第1の外縁と、第1の位置から180°だけ周回運動した第2の位置にある被加工物2の第2の外縁とが交わる点である。第1の位置は、被加工物2の周回運動における任意の位置である。被加工物2が一周周回運動することによって、交点92の列は形成される。被加工物2が周回運動している間、複数の第2のノズル76,90の一部は、第1の部分82を除く第1の主面3に面し続ける。
 特定的には、被加工物2の周回運動は第1の部分82を中心とする円運動であり、閉ループ28は円周(28)であり、複数の第2のノズル76,90は、第1の主面3の平面視において、第1の部分82を中心とする円周(28)上に配置されてもよい。さらに特定的には、複数の第2のノズル76,90は、第1の主面3の平面視において、第1の部分82を中心とする円周(28)上に等間隔に配置されてもよい。円周(28)の半径r2は、第1の主面3の平面視における、交点92と第1の部分82との間の距離に等しい。
 本実施の形態のレーザ加工方法では、第2の液体78を供給することは、被加工物2が周回運動している間中、複数の第2のノズル76,90の一部から第2の液体78を供給させるとともに、複数の第2のノズル76,90の残りからの第2の液体78の供給を停止させることを含んでもよい。例えば、図18に示されるように、被加工物2が周回運動している中、第2の液体78は、第2のノズル76と第2のノズル76とから交互に第1の部分82を除く第1の主面3に向けて供給される。被加工物2が周回運動している間、複数の第2のノズル76,90の1つ以上は、第1の部分82を除く主面(第1の主面3)に面し続けるため、第2の液体78は、複数の第2のノズル76,90の一部から第1の部分82を除く第1の主面3に向けて供給され続ける。
 本実施の形態のレーザ加工装置1cは、実施の形態2のレーザ加工装置1bの効果に加えて、以下の効果を奏する。
 本実施の形態のレーザ加工装置1cは、第1の部分82を除く主面(第1の主面3)に向けて第2の液体78を供給し得るように構成された複数の第2のノズル76,90をさらに備える。第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度よりも大きい。被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が第1の部分82を除く主面(第1の主面3)に向けて供給され続け得るように、複数の第2のノズル76,90は配置される。そのため、主面(第1の主面3)が液体層79から露出することが防止される。レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを、液体層79は直ちに冷却して洗い流す。本実施の形態のレーザ加工装置1cによれば、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが確実に防止され得る。
 本実施の形態のレーザ加工装置1cでは、複数の第2のノズル76,90は、主面(第1の主面3)の平面視において、閉ループ28上に配置されてもよい。閉ループ28は、交点92の列によって構成される。交点92は、被加工物2の周回運動における第1の位置にある被加工物2の第1の外縁と、第1の位置から180°だけ周回運動した第2の位置にある被加工物2の第2の外縁とが交わる点である。被加工物2が一周周回運動することによって、交点92の列は形成される。そのため、被加工物2が周回運動している間、複数の第2のノズル76,90の一部から第2の液体78が第1の部分82を除く主面(第1の主面3)に向けて供給され続ける。本実施の形態のレーザ加工装置1cによれば、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが確実に防止され得る。
 本実施の形態のレーザ加工装置1cは、制御部80をさらに備える。制御部80は、被加工物2が周回運動している間中、複数の第2のノズル76,90の一部から第2の液体78を供給させるとともに、複数の第2のノズル76,90の残りからの第2の液体78の供給を停止させ得るように構成されている。本実施の形態のレーザ加工装置1cによれば、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが確実に防止され得るとともに、第2の液体78の使用量が減少され得る。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、実施の形態2のレーザ加工方法の効果に加えて、以下の効果を奏するが、以下の点で主に異なる。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、第1の部分82にレーザ光62を照射する前に、複数の第2のノズル76,90から第1の部分82を除く主面(第1の主面3)に向けて第2の液体78を供給することをさらに備える。第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度より大きくてもよい。被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が第1の部分82を除く主面(第1の主面3)に向けて供給され続け得るように、複数の第2のノズル76,90は配置される。そのため、主面(第1の主面3)が液体層79から露出することが防止される。レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを、液体層79は直ちに冷却して洗い流す。本実施の形態のレーザ加工方法によれば、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが確実に防止され得る。
 本実施の形態のレーザ加工方法では、第2の液体78を供給することは、被加工物2が周回運動している間中、複数の第2のノズル76,90の一部から第2の液体78を供給させるとともに、複数の第2のノズル76,90の残りからの第2の液体78の供給を停止させることを含む。本実施の形態のレーザ加工方法によれば、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが確実に防止され得るとともに、第2の液体78の使用量が減少され得る。
 実施の形態4.
 図19から図21を参照して、実施の形態4に係るレーザ加工装置1dを説明する。本実施の形態のレーザ加工装置1dは、実施の形態2のレーザ加工装置1bと同様の構成を備えるが、主に以下の点で異なる。
 レーザ加工装置1dは、第1の主面3に第2の液体78を供給し得るように構成された第2のノズル76をさらに備える。被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が第1の部分82とは異なる第1の主面3の同一箇所93に供給され続け得るように、第2のノズル76は保持部10に対して移動可能に構成されている。特定的には、第1の主面3の平面視において第2のノズル76が被加工物2と同様に周回運動するように、第2のノズル76は保持部10に対して移動可能に構成されてもよい。第1の主面3の同一箇所93は、特に限定されないが、第1の主面3の中心であってもよい。
 具体的には、第4の駆動部(95)は、第4のモータ95を含んでもよい。第4の駆動部(95)は、第1の基台31の内部に取り付けられてもよい。第2のノズル76は、第2のアーム77を介して第4のモータ95に接続されてもよい。第1の基台31は、保持部10を囲むように形成されたギャップ96を有してもよい。ギャップ96は、特に限定されないが、円の形状を有してもよい。第2のアーム77はギャップ96を貫通して延在している。
 第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度よりも大きくてもよい。例えば、第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度の10倍以上であってもよいし、20倍以上であってもよい。
 図20を参照して、制御部80は、第4のモータ95にさらに接続されている。制御部80は、第4のモータ95を制御して、第2のノズル76を移動させる。被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が第1の部分82とは異なる第1の主面3の同一箇所93に供給され続け得るように、第2のノズル76を移動させ得るように、制御部80は構成されている。被加工物2が周回運動している間、第1の主面3の平面視において第2のノズル76を被加工物2と同様に周回運動させ得るように、制御部80は構成されてもよい。例えば、第1の主面3の平面視において被加工物2が第1の部分82を中心に半径r1で円運動するとき、第1の主面3の平面視において第2のノズル76を第1の部分82を中心に半径r1で円運動させ得るように、制御部80は構成されてもよい。
 図20から図22を参照して、実施の形態4に係るレーザ加工方法を説明する。本実施の形態のレーザ加工方法は、実施の形態2のレーザ加工方法と同様の工程を備えるが、主に以下の点で異なる。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、第1の部分82にレーザ光62を照射する前に、第2のノズル76から第1の主面3に第2の液体78を供給することを備える。被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が第1の部分82とは異なる第1の主面3の同一箇所93に供給され続けるように、第2のノズル76は移動する。特定的には、被加工物2が周回運動している間、第1の主面3の平面視において第2のノズル76が被加工物2と同様に周回運動するように、第2のノズル76は保持部10に対して移動してもよい。第1の主面3の同一箇所93は、特に限定されないが、第1の主面3の中心であってもよい。
 被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が第1の部分82とは異なる第1の主面3の同一箇所93に供給され続けるように、制御部80は、第4のモータ95を制御して、第2のノズル76を移動させる。特定的には、被加工物2が周回運動している間、第1の主面3の平面視において第2のノズル76が被加工物2と同様に周回運動するように、制御部80は第4のモータ95を制御してもよい。例えば、第1の主面3の平面視において被加工物2が第1の部分82を中心に半径r1で円運動するとき、第1の主面3の平面視において第2のノズル76も第1の部分82を中心に半径r1で円運動するように、制御部80は、第4のモータ95を制御してもよい。
 第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度よりも大きくてもよい。例えば、第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度の10倍以上であってもよいし、20倍以上であってもよい。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、被加工物2の周回運動を停止させるとともに、第2のノズル76の移動を停止させることを備えてもよい。具体的には、制御部80は、第4のモータ95を停止させて、第2のノズル76の移動を停止させる。制御部80は、被加工物2の周回運動を停止させると同時に第2のノズル76の移動を停止させてもよい。
 本実施の形態のレーザ加工装置1dは、実施の形態2のレーザ加工装置1bの効果に加えて、以下の効果を奏する。
 本実施の形態のレーザ加工装置1dは、主面(第1の主面3)に第2の液体78を供給し得るように構成された第2のノズル76をさらに備える。第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度よりも大きくてもよい。被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が第1の部分82とは異なる主面(第1の主面3)の同一箇所93に供給され続け得るように、第2のノズル76は保持部10に対して移動可能に構成されている。
 被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が被加工物2の主面(第1の主面3)の同一箇所93に供給され続けるため、液体層79の厚さの分布が維持され得る。そのため、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得るとともに、主面(第1の主面3)が液体層79から露出することが防止される。本実施の形態のレーザ加工装置1dによれば、被加工物2は効率的にかつ安定的に加工され得るとともに、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが確実に防止され得る。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、実施の形態2のレーザ加工方法の効果に加えて、以下の効果を奏する。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、第1の部分82にレーザ光62を照射する前に、第2のノズル76から主面(第1の主面3)に第2の液体78を供給することをさらに備える。第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度よりも大きくてもよい。被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が第1の部分82とは異なる主面(第1の主面3)の同一箇所93に供給され続けるように、第2のノズル76は移動する。
 被加工物2が周回運動している間、第2の液体78が被加工物2の主面(第1の主面3)の同一箇所93に供給され続けるため、液体層79の厚さの分布が維持され得る。そのため、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得るとともに、主面(第1の主面3)が液体層79から露出することが防止される。本実施の形態のレーザ加工方法によれば、被加工物2は効率的にかつ安定的に加工され得るとともに、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが確実に防止され得る。
 実施の形態5.
 図23を参照して、実施の形態5に係るレーザ加工装置1eを説明する。本実施の形態のレーザ加工装置1eは、実施の形態4のレーザ加工装置1dと同様の構成を備えるが、主に以下の点で異なる。
 レーザ加工装置1eは、レーザ加工装置1dのように第1の液体73を第1のノズル54から供給し得るように構成されていることに代えて、第1の液体73を第1のノズル54eから供給し得るように構成されている。具体的には、レーザ加工装置1eは、第1の部分82に向けて第1の液体73を供給し得るように構成された第1のノズル54eを備える。第1の液体73は、第1のノズル54からではなく、第1のノズル54eから供給される。第1のノズル54は、レーザ光62の出射口としてだけ機能する。第1のノズル54eは、特に限定されないが、第4のアーム77eを介してヘッド部50に取り付けられてもよい。第1のノズル54eは、液溜め部70に接続される。特定的には、第1のノズル54eは、第1の配管71及び第1のポンプ72を介して、液溜め部70に接続されてもよい。ヘッド部50は、液溜め部70に接続されていない。レーザ光62は、液柱(73)の中を伝搬しない。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、実施の形態4のレーザ加工方法と同様の工程を備えているが、以下の点で主に異なる。本実施の形態では、第1の液体73は、第1のノズル54からではなく、第1のノズル54eから供給されている。レーザ光62は、液柱(73)の中を伝搬しない。
 本実施の形態のレーザ加工装置1e及びレーザ加工方法は、実施の形態4のレーザ加工装置1d及びレーザ加工方法と同様の効果を奏する。なお、実施の形態1-3,6,8においても、第1の液体73を第1のノズル54から供給することに代えて、第1の液体73を第1のノズル54eから供給してもよい。
 実施の形態6.
 図24から図26を参照して、実施の形態6に係るレーザ加工装置1fを説明する。本実施の形態のレーザ加工装置1fは、実施の形態2のレーザ加工装置1bと同様の構成を備えるが、主に以下の点で異なる。
 本実施の形態のレーザ加工装置1fでは、駆動部29は、被加工物2が周回運動している間、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2を回転運動させ得るように構成されている。中心軸2fは、第1の主面3の中心2cを通り、かつ、第1の主面3に垂直である。被加工物2の回転運動の第2の角速度は、被加工物2の周回運動の第1の角速度よりも小さい。
 具体的には、本実施の形態の駆動部29は、実施の形態1の駆動部29と同様の構成を有しているが、ケース31pと、第5のモータ31qと、第3のボールネジ31rと、ベース板31mとをさらに含んでいる。本実施の形態の第1の基台31は実施の形態1の第1の基台31と同様の構成を有しているが、第1の基台31は中空部材である。ケース31pは、第1の基台31内に配置されている。ケース31pは、第1の方向(y方向)に延在している。ケース31pは、第1のボールねじ33の一部を収容している。
 第5のモータ31qは、第1の基台31内に配置されている。第5のモータ31qは、ケース31pの外表面上に配置されている。第5のモータ31qは、ケース31pによって第1のボールねじ33から間隔を空けて配置されている。第5のモータ31qは、制御部80に電気的に接続されている。第3のボールネジ31rの一端は、第5のモータ31qに回転可能に接続されている。第3のボールネジ31rは、ケース31pの孔31nを通り抜けて延在している。第3のボールネジ31rの他端は、ベース板31mに固定されている。保持部10は、ベース板31mに固定されている。
 第5のモータ31qは、第3のボールネジ31rを回転させて、ベース板31m及び保持部10を回転させる。第1のモータ32と第2のモータ37と第5のモータ31qとにより、被加工物2は、被加工物2の中心軸2fを中心に回転運動しながら(被加工物2の向きを変化させながら)、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に周回運動し得る。中心軸2fは、第1の主面3の中心2cを通り、かつ、第1の主面3に垂直である。被加工物2の回転運動の第2の角速度は、被加工物2の周回運動の第1の角速度よりも小さい。
 本実施の形態の制御部80は、実施の形態1の制御部80と同様の構成を有しているが、第5のモータ31qにさらに接続されている。制御部80は、被加工物2を回転運動させながら(被加工物2の向きを変化させながら)、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2が周回運動し得るように駆動部29を制御し得るように構成されている。具体的には、制御部80は、第1のモータ32と、第2のモータ37と、第5のモータ31qとを制御する。制御部80は、第5のモータ31qを制御して、被加工物2の中心軸2fを中心に保持部10を回転運動させながら、第1のモータ32と第2のモータ37とを制御して、レーザ光62の光軸25を中心に保持部10が周回運動させる。
 制御部80は、被加工物2の回転運動の第2の角速度が、被加工物2の周回運動の第1の角速度よりも小さくなるように、駆動部29(第1のモータ32、第2のモータ37及び第5のモータ31q)を制御し得るように構成されてもよい。そのため、被加工物2が周回運動している間、液体層79は第1の部分82おいて最小の厚さを安定的に有し続けることができる。被加工物2の回転運動の第2の角速度は、例えば、被加工物2の周回運動の第1の角速度の1/2以下であってもよく、被加工物2の周回運動の角速度の1/3以下であってもよく、被加工物2の周回運動の角速度の1/4以下であってもよく、被加工物2の周回運動の角速度の1/6以下であってもよく、被加工物2の周回運動の角速度の1/8以下であってもよい。
 特定的には、制御部80は、被加工物2の周回運動の第1の回転角と被加工物2の回転運動の第2の回転角との和が360°の整数倍となるように、駆動部29(第1のモータ32、第2のモータ37及び第5のモータ31q)を制御し得るように構成されてもよい。例えば、図26に示されるように、被加工物2の周回運動の第1の回転角は270°であり、被加工物2の回転運動の第2の回転角は90°であってもよい。そのため、被加工物2の加工終了位置を被加工物2の加工開始位置に一致させることができる。
 図27を参照して、本実施の形態のレーザ加工装置1fを用いたレーザ加工方法を説明する。本実施の形態のレーザ加工方法は、実施の形態2のレーザ加工方法と同様の工程を備えるが、以下の点で異なる。本実施の形態のレーザ加工方法では、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2が周回運動している間、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2を回転運動させている。
 具体的には、第1の液体73と第2の液体78とを被加工物2の第1の主面3に供給し始めた後に、制御部80は、第5のモータ31qを制御して、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2(保持部10)を回転運動させながら(被加工物2の向きを変化させながら)、第1のモータ32と第2のモータ37とを制御して、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2(保持部10)を周回運動させてもよい。あるいは、第1の液体73と第2の液体78とを被加工物2の第1の主面3に供給し始めると同時に、制御部80は、第5のモータ31qを制御して、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2(保持部10)を回転運動させながら(被加工物2の向きを変化させながら)、第1のモータ32と第2のモータ37とを制御して、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2(保持部10)を周回運動させてもよい。
 第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、制御部80は、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2(保持部10)を回転運動させながら(被加工物2の向きを変化させながら)、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2(保持部10)を周回運動させ続ける。第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、液体層79は第1の部分82おいて最小の厚さを有するとともに、液体層79の厚さは第1の部分82から離れるにつれて増加する。そのため、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得る。また、被加工物2の第1の主面3が液体層79から露出することが防止される。レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを、液体層79は直ちに冷却して洗い流す。
 被加工物2へのレーザ光62の照射を停止させた後、または、被加工物2へのレーザ光62の照射を停止させると同時に、被加工物2(保持部10)の周回運動及び回転運動を停止させてもよい。具体的には、制御部80は、第1のモータ32と第2のモータ37と第5のモータ31qとを停止させて、被加工物2(保持部10)の周回運動及び回転運動を停止させる。特定的には、図26に示されるように、被加工物2の周回運動の第1の回転角と被加工物2の回転運動の第2の回転角との和が360°の整数倍となるときに、被加工物2(保持部10)の周回運動及び回転運動を停止させてもよい。
 本実施の形態のレーザ加工装置1fは、実施の形態2のレーザ加工装置1bと同様の効果を奏する。本実施の形態のレーザ加工方法は、実施の形態2のレーザ加工方法と同様の効果を奏する。なお、実施の形態1,3-7においても、被加工物2が周回運動している間、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2を回転運動させてもよい。
 実施の形態7.
 図28及び図29を参照して、実施の形態7に係るレーザ加工装置1gを説明する。本実施の形態のレーザ加工装置1gは、実施の形態5のレーザ加工装置1eと同様の構成を備えるが、主に以下の点で異なる。本実施の形態のレーザ加工装置1gは、実施の形態5のレーザ加工装置1eのように、第1のノズル54から被加工物2の第1の主面3に第1の液体73を供給し得るように構成されていることに代えて、ガスノズル76gから被加工物2の第1の主面3にガス73bを供給し得るように構成されている。
 具体的には、本実施の形態のレーザ加工装置1gは、実施の形態5レーザ加工装置1eの第1のノズル54e、第1の配管71及び第1のポンプ72に代えて、ガスノズル76g、ガス供給部70b及びガス配管74bとを備えている。ガスノズル76gは、ガス配管74bを通してガス供給部70bに流体的に連通している。ガス供給部70bは、制御部80に電気的に接続されている。制御部80はガス供給部70bを制御して、ガス供給部70bからガス配管74bを通してガスノズル76gにガス73bを供給し得るように構成されている。ガス供給部70bは、ガス73bをガスノズル76gに向けて送出し得るように構成されたガスポンプ(図示せず)を含んでもよい。
 ガスノズル76gは、第1の部分82にガス73bを吹き付けることができるように構成されている。ガス73bが第2の液体78によって形成される液体層79に吹き付けられるため、液体層79は第1の部分82おいて最小の厚さを有するとともに、液体層79の厚さは第1の部分82から離れるにつれて増加する。そのため、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得る。被加工物2の第1の主面3が液体層79から露出することが防止される。レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを、液体層79は直ちに冷却して洗い流す。
 制御部80は、第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、第1の部分82にガス73bを吹き付け続けるようにガス供給部70bを制御し得るように構成されている。制御部80は、被加工物2へのレーザ光62の照射を開始する前、または、被加工物2へのレーザ光62の照射を開始すると同時に、第1の部分82にガス73bを吹き付け続けるようにガス供給部70bを制御し得るように構成されている。制御部80は、被加工物2(保持部10)が周回運動している間、第1の部分82にガス73bを吹き付けるようにガス供給部70bを制御し得るように構成されてもよい。
 図30を参照して、本実施の形態のレーザ加工装置1gを用いたレーザ加工方法を説明する。本実施の形態のレーザ加工装置1gを用いたレーザ加工方法は、実施の形態5のレーザ加工装置1eを用いたレーザ加工方法と同様の工程を備えるが、以下の点で異なる。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、実施の形態5のレーザ加工方法のように第1のノズル54から被加工物2の第1の部分82に第1の液体73を供給することに代えて、ガスノズル76gから被加工物2の第1の部分82にガス73bを吹き付けることを備える。第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、ガスノズル76gから被加工物2の第1の部分82にガス73bが吹き付け続けられている。第1の部分82にガス73bを吹き付けることは、第2の液体78を被加工物2の第1の主面3の第2の部分に供給し始めた後であってもよい。第1の部分82にガス73bを吹き付けることは、第2のノズル76から第2の液体78を被加工物2の第1の主面3の第2の部分に供給し始める前であってもよいし、第2の液体78を被加工物2の第1の主面3の第2の部分に供給すると同時であってもよい。
 被加工物2へのレーザ光62の照射を停止させた後、または、被加工物2へのレーザ光62の照射を停止させると同時に、被加工物2(保持部10)の周回運動とガス73bの吹き付けとを停止させてもよい。具体的には、制御部80は、第1のモータ32と第2のモータ37とを停止させて、被加工物2(保持部10)の周回運動を停止させるとともに、ガス供給部70bの動作を停止させて、ガス73bの吹き付けを停止させてもよい。
 本実施の形態のレーザ加工装置1gは、実施の形態5のレーザ加工装置1eと同様の以下の効果を奏する。
 本実施の形態のレーザ加工装置1gは、保持部10と、ヘッド部50と、ガスノズル76gと、第2のノズル76と、駆動部29とを備える。保持部10は、被加工物2を保持し得るように構成されている。ヘッド部50は、被加工物2の主面(第1の主面3)の第1の部分82にレーザ光62を照射させ得るように構成されている。ガスノズル76gは、第1の部分82にガス73bを吹き付けることができるように構成されている。第2のノズル76は、第1の部分82とは異なる主面の第2の部分に第2の液体78を供給し得るように構成されている。駆動部29は、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2が周回運動し得るように保持部10を駆動し得るように構成されている。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、被加工物2の主面(第1の主面3)の第1の部分82にガス73bを吹き付けることと、第1の部分82とは異なる主面の第2の部分に第2のノズル76から第2の液体78を供給することと、第1の部分82におけるレーザ光62の光軸25を中心に被加工物2を周回運動させながら、第1の部分82にレーザ光62を照射することとを備える。
 本実施の形態のレーザ加工装置1g及び本実施の形態のレーザ加工方法では、第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、ガスノズル76gから被加工物2の第1の部分82にガス73bが吹き付け続けられている。第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、液体層79は第1の部分82おいて最小の厚さを有するとともに、液体層79の厚さは第1の部分82から離れるにつれて増加する。そのため、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得る。また、被加工物2の第1の主面3が液体層79から露出することが防止される。レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを、液体層79は直ちに冷却して洗い流す。本実施の形態のレーザ加工装置1g及び本実施の形態のレーザ加工方法によれば、被加工物2は効率的に加工され得るとともに、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが防止され得る。なお、実施の形態1-4,6,8においても、第1のノズル54から被加工物2の第1の主面3に第1の液体73を供給することに代えて、ガスノズル76gから被加工物2の第1の主面3にガス73bを供給してもよい。
 実施の形態8.
 図31から図33を参照して、実施の形態8に係るレーザ加工装置1hを説明する。本実施の形態のレーザ加工装置1hは、実施の形態6のレーザ加工装置1fと同様の構成を備えるが、主に以下の点で異なる。
 レーザ加工装置1hでは、保持部10は、被加工物2の第1の主面3が水平面(xy面)に対して傾くように被加工物2を保持し得るように構成されている。第1の部分82は、第1の主面3の第2の部分及び中心2cよりも高い位置にある。第2の液体78が供給される第2の部分は、第1の主面3の中心2cよりも高い位置にあってもよい。水平面(xy面)に対する第1の主面3の傾き角θ1は、特に限定されないが、45°以下であってもよく、30°以下であってもよく、15°以下であってもよく、10°以下であってもよい。水平面(xy面)に対する第1の主面3の傾き角θ1は、特に限定されないが、1°以上であってもよく、3°以上であってもよく、5°以上であってもよい。
 本実施の形態のレーザ加工装置1hは、実施の形態6の第2のノズル76に代えて、第2のノズル76hを備えている。第2のノズル76hは、第1の部分82とは異なる第1の主面3の第2の部分に第2の液体78を供給し得るように構成されている。第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度よりも大きくてもよい。図33に示されるように、第2のノズル76hは、第1の主面3の平面視における被加工物2の最大長さ以上の幅Wを有している。被加工物2の第1の主面3が円の形状を有している場合、第1の主面3の平面視における被加工物2の最大長さは、第1の主面3の直径Dである。
 被加工物2の第1の主面3は水平面(xy面)に対して傾いている。第1の液体73に作用する重力により、第1の部分82に供給された第1の液体73は、第1の主面3上に拡がることなく、第1の主面3から流れ落ちる。しかし、第2のノズル76hは、第1の主面3の平面視における被加工物2の最大長さ以上の幅Wを有している。そのため、被加工物2の第1の主面3が水平面(xy面)に対して傾いていても、第1の主面3の大部分が第1の液体73と第2の液体78とによって形成される液体層79から露出することが防止され得るとともに、レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを液体層79は冷却して洗い流すことができる。
 第1の主面3の中心2cから第1の部分82に向かう第3の方向と第2のノズル76hから第1の主面3に対して第2の液体78が吐出される第4の方向との間の角度θ2は、90°以上であってもよく、100°以上であってもよい。そのため、第2の液体78の一部は、重力に抗って、第2の部分から第1の部分82に向けて流れ得る。中心2cから第1の部分82に向かうにつれて、液体層79の厚さを緩やかに減少させることができる。第1の主面3の大部分が第1の液体73と第2の液体78とによって形成される液体層79から露出することが防止され得るとともに、レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを液体層79は冷却して洗い流すことができる。第2の傾き角θ2は、特に限定されないが、135°以下であってもよく、120°以下であってもよい。
 駆動部29は、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2が回転運動し得るように保持部10を駆動し得るように構成されている。具体的には、制御部80は、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2を回転運動させ得るように駆動部29(第5のモータ31q)を制御し得るように構成されている。第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2が回転運動する。被加工物2の回転運動は、第1の主面3上の液体層79に遠心力27を作用させる。この遠心力27のため、第1の主面3の中心2cから第1の部分82に向かうにつれて、第1の液体73と第2の液体78とによって形成される液体層79の厚さを緩やかに減少させることができる。
 本実施の形態のレーザ加工装置1hでは、実施の形態6のレーザ加工装置1fと同様に、第1のノズル54は、ヘッド部50に設けられてもよい。レーザ光62は、第1のノズル54から出射されてもよい。第1の液体73によって第1のノズル54と第1の部分82との間に形成される液柱(73)の中を、レーザ光62が伝搬してもよい。
 図34を参照して、本実施の形態のレーザ加工装置1hを用いたレーザ加工方法を説明する。本実施の形態のレーザ加工装置1hを用いたレーザ加工方法は、実施の形態6のレーザ加工装置1fを用いたレーザ加工方法と同様の工程を備えるが、以下の点で異なる。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、水平面(xy面)に対して傾いている被加工物2の主面(第1の主面3)の第1の部分82に第1のノズル54から第1の液体73を供給することと、第1の部分82とは異なる主面(第1の主面3)の第2の部分に第2のノズル76hから第2の液体78を供給することとを備える。第2のノズル76hは、第1の主面3の平面視における被加工物2の最大長さ以上の幅Wを有している。第2の液体78の第2の供給速度は、第1の液体73の第1の供給速度よりも大きくてもよい。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2を回転運動させながら、第1の部分82にレーザ光62を照射することをさらに備える。第1の部分82は、第2の部分及び中心2cよりも高い位置にある。具体的には、第1の液体73と第2の液体78とを被加工物2の第1の主面3に供給し始めた後に、制御部80は、第5のモータ31qを制御して、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2(保持部10)を回転運動させてもよい。あるいは、第1の液体73と第2の液体78とを被加工物2の第1の主面3に供給し始めると同時に、制御部80は、第5のモータ31qを制御して、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2(保持部10)を回転運動させてもよい。
 第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、制御部80は、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2(保持部10)を回転運動させ続けるとともに、第1の液体73と第2の液体78とを被加工物2の第1の主面3に供給し続ける。被加工物2の回転運動は、第1の主面3上の液体層79に遠心力27を作用させる。第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、この遠心力27のため、中心2cから第1の部分82に向かうにつれて、第1の液体73と第2の液体78とによって形成される液体層79の厚さを次第に減少させることができる。そのため、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得る。また、第2のノズル76hは、第1の主面3の平面視における被加工物2の最大長さ以上の幅Wを有しているため、被加工物2の第1の主面3が液体層79から露出することが防止される。レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを、液体層79は直ちに冷却して洗い流す。
 第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、制御部80は、光軸25を中心に被加工物2を周回運動させなくてもよいし、光軸25を中心に被加工物2を周回運動させてもよい。被加工物2へのレーザ光62の照射を停止させた後、または、被加工物2へのレーザ光62の照射を停止させると同時に、被加工物2(保持部10)の回転運動を停止させてもよい。具体的には、制御部80は、第5のモータ31qとを停止させて、被加工物2(保持部10)の回転運動を停止させる。
 本実施の形態のレーザ加工方法では、実施の形態6のレーザ加工方法と同様に、レーザ光62は、第1のノズル54から出射されてもよい。第1の液体73によって第1のノズル54と第1の部分82との間に形成される液柱(73)の中を、レーザ光62が伝搬してもよい。
 本実施の形態のレーザ加工装置1h及び本実施の形態のレーザ加工方法は、実施の形態6のレーザ加工装置1f及び実施の形態6のレーザ加工方法と同様の以下の効果を奏する。
 本実施の形態のレーザ加工装置1hは、保持部10と、ヘッド部50と、第1のノズル54と、第2のノズル76hと、駆動部29とを備える。保持部10は、被加工物2の主面(第1の主面3)が水平面(xy面)に対して傾くように被加工物2を保持し得るように構成されている。ヘッド部50は、主面(第1の主面3)の第1の部分82にレーザ光62を照射させ得るように構成されている。第1のノズル54は、第1の部分82に第1の液体73を供給し得るように構成されている。第2のノズル76hは、第1の部分82とは異なる主面(第1の主面3)の第2の部分に第2の液体78を供給し得るように構成されている。第2のノズル76hは、主面(第1の主面3)の平面視における被加工物2の最大長さ以上の幅Wを有している。駆動部29は、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2が回転運動し得るように保持部10を駆動し得るように構成されている。中心軸2fは、主面(第1の主面3)の中心2cを通り、かつ、主面(第1の主面3)に垂直である。第1の部分82は、第2の部分及び中心2cよりも高い位置にある。
 本実施の形態のレーザ加工方法は、水平面(xy面)に対して傾いている被加工物2の主面(第1の主面3)の第1の部分82に第1のノズル54から第1の液体73を供給することと、第1の部分82とは異なる主面(第1の主面3)の第2の部分に第2のノズル76hから第2の液体78を供給することとを備える。第2のノズル76hは、主面(第1の主面3)の平面視における被加工物2の最大長さ以上の幅Wを有している。本実施の形態のレーザ加工方法は、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2を回転運動させながら、第1の部分82にレーザ光62を照射することをさらに備える。中心軸2fは、主面(第1の主面3)の中心2cを通り、かつ、主面(第1の主面3)に垂直である。第1の部分82は、第2の部分及び中心2cよりも高い位置にある。
 本実施の形態のレーザ加工装置1h及び本実施の形態のレーザ加工方法では、第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、制御部80は、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2(保持部10)を回転運動させ続けるとともに、第1の液体73と第2の液体78とを被加工物2の第1の主面3に供給し続ける。被加工物2の回転運動は、第1の主面3上の液体層79に遠心力27を作用させる。第1の部分82にレーザ光62が照射されている間、この遠心力27のため、第1の主面3の中心2cから第1の部分82に向かうにつれて、液体層79の厚さを緩やかに減少させることができる。
 そのため、レーザ光62が液体層79によって拡散すること及び減衰されることが抑制され得る。また、第2のノズル76hは、第1の主面3の平面視における被加工物2の最大長さ以上の幅Wを有しているため、被加工物2の第1の主面3が液体層79から露出することが防止される。レーザ光62により被加工物2を加工することによって発生するデブリを、液体層79は直ちに冷却して洗い流す。本実施の形態のレーザ加工装置1h及び本実施の形態のレーザ加工方法によれば、被加工物2は効率的に加工され得るとともに、被加工物2のレーザ加工中に被加工物2から生じるデブリが被加工物2の主面(第1の主面3)に付着することが防止され得る。なお、実施の形態1-5,7においても、レーザ光62の光軸25を中心に被加工物2を周回運動させることに代えて、被加工物2の中心軸2fを中心に被加工物2を回転運動させてもよい。
 実施の形態9.
 図3及び図35を参照して、実施の形態9に係る半導体装置の製造方法を説明する。
 本実施の形態の半導体装置の製造方法は、実施の形態1から実施の形態8のいずれか1つのレーザ加工装置または実施の形態1から実施の形態8のいずれか1つのレーザ加工方法を用いて、被加工物2を被加工物2の内周領域5と被加工物2の外周領域6とに分離すること(S1)と、被加工物2の内周領域5に複数の半導体素子を形成すること(S2)とを備える。複数の半導体素子は、例えば、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT)または金属酸化物半導体電界効果トランジスタ(MOSFET)であってもよい。
 被加工物2を被加工物2の内周領域5と被加工物2の外周領域6とに分離する(S1)前に、被加工物2の内周領域5に複数の半導体素子を形成(S2)してもよい。被加工物2を被加工物2の内周領域5と被加工物2の外周領域6とに分離した(S1)後に、被加工物2の内周領域5に複数の半導体素子を形成(S2)してもよい。被加工物2を被加工物2の内周領域5と被加工物2の外周領域6とに分離する(S1)前に、被加工物2の内周領域5に複数の半導体素子の一部を形成(S2)し、被加工物2を被加工物2の内周領域5と被加工物2の外周領域6とに分離した(S1)後に、被加工物2の内周領域5に複数の半導体素子の残りを形成(S2)してもよい。
 本実施の形態の半導体装置の製造方法は、実施の形態1から実施の形態8のレーザ加工装置1,1b,1c,1d,1e,1f,1g,1h及びレーザ加工方法と同様の効果を奏する。
 今回開示された実施の形態1-9はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。矛盾のない限り、今回開示された実施の形態1-9の少なくとも2つを組み合わせてもよい。本発明の範囲は、上記した説明ではなく請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることを意図される。
 1,1b,1c,1d,1e,1f,1g,1h レーザ加工装置、2 被加工物、2c 中心、2f 中心軸、3 第1の主面、4 第2の主面、5 内周領域、6 外周領域、7 ノッチ、10 保持部、11 第1保持部分、12 第2保持部分、13 第1のアーム、14 第1吸着孔、15 空洞、16 噴出口、17 第1の流路、18 第2の流路、20 加圧気体供給部、22 第2吸着孔、23 排気ポンプ、25 光軸、26 被加工物の中心の軌跡、27 遠心力、28 閉ループ、29 駆動部、30 第1の駆動部、31 第1の基台、31m ベース板、31n 孔、31p ケース、31q 第5のモータ、31r 第3のボールネジ、32 第1のモータ、33 第1のボールねじ、34 第1のガイドレール、35 第2の駆動部、36 第2の基台、37 第2のモータ、38 第2のボールねじ、39 第2のガイドレール、40 第3の基台、41 第1の伸縮可能な保護カバー、42 支持部、44 第3の駆動部、45 第3のモータ、46 第3のボールねじ、47 第4の基台、48 第5の基台、49 第2の伸縮可能な保護カバー、50 ヘッド部、51 ミラー、52 レンズ、53 透明窓、54,54e 第1のノズル、60 レーザ光源部、61 レーザ光源、62 レーザ光、63 シャッタ、64 周波数調整器、65 パワー測定器、66 ライトガイド、70 液溜め部、70b ガス供給部、71 第1の配管、72 第1のポンプ、73 第1の液体、73b ガス、74 第2の配管、74b ガス配管、75 第2のポンプ、76,76h,90 第2のノズル、76g ガスノズル、77 第2のアーム、77e 第4のアーム、78 第2の液体、79 液体層、80 制御部、82 第1の部分、91 第3のアーム、92 交点、93 同一箇所、95 第4のモータ、96 ギャップ。

Claims (28)

  1.  被加工物を保持し得るように構成された保持部と、
     前記被加工物の主面の第1の部分にレーザ光を照射させ得るように構成されたヘッド部と、
     前記第1の部分に第1の液体を供給し得るように構成された第1のノズルと、
     前記第1の部分における前記レーザ光の光軸を中心に前記被加工物が周回運動し得るように前記保持部を駆動し得るように構成された駆動部とを備える、レーザ加工装置。
  2.  前記第1のノズルは、前記レーザ光が前記第1のノズルから出射されて、前記第1の液体によって前記第1のノズルと前記第1の部分との間に形成される液柱の中を前記レーザ光が伝搬し得るように前記ヘッド部に設けられている、請求項1に記載のレーザ加工装置。
  3.  前記第1の部分とは異なる前記主面の第2の部分に第2の液体を供給し得るように構成された第2のノズルをさらに備え、
     前記第2の液体の第2の供給速度は、前記第1の液体の第1の供給速度よりも大きい、請求項1または請求項2に記載のレーザ加工装置。
  4.  前記第1の部分とは異なる前記主面の第2の部分に第2の液体を供給し得るように構成された複数の第2のノズルをさらに備え、
     前記第2の液体の第2の供給速度は、前記第1の液体の第1の供給速度よりも大きく、
     前記被加工物が周回運動している間、前記第2の液体が前記第2の部分に供給され続け得るように、前記複数の第2のノズルは配置されている、請求項1または請求項2に記載のレーザ加工装置。
  5.  前記複数の第2のノズルは、前記主面の平面視において、閉ループ上に配置され、
     前記閉ループは、交点の列によって構成され、
     前記交点は、前記被加工物の周回運動における第1の位置にある前記被加工物の第1の外縁と、前記第1の位置から180°だけ周回運動した第2の位置にある前記被加工物の第2の外縁とが交わる点である、請求項4に記載のレーザ加工装置。
  6.  制御部をさらに備え、
     前記制御部は、前記被加工物が周回運動している間、前記複数の第2のノズルの一部から前記第2の液体を供給させるとともに、前記複数の第2のノズルの残りからの前記第2の液体の供給を停止させ得るように構成されている、請求項4または請求項5に記載のレーザ加工装置。
  7.  前記主面に第2の液体を供給し得るように構成された第2のノズルをさらに備え、
     前記第2の液体の第2の供給速度は、前記第1の液体の第1の供給速度よりも大きく、
     前記被加工物が周回運動している間、前記第2の液体が前記第1の部分とは異なる前記主面の同一箇所に供給され続け得るように、前記第2のノズルは前記保持部に対して移動可能に構成されている、請求項1または請求項2に記載のレーザ加工装置。
  8.  被加工物を保持し得るように構成された保持部と、
     前記被加工物の主面の第1の部分にレーザ光を照射させ得るように構成されたヘッド部と、
     前記第1の部分にガスを吹き付けることができるように構成されているガスノズルと、
     前記第1の部分とは異なる前記主面の第2の部分に第2の液体を供給し得るように構成された第2のノズルと、
     前記第1の部分における前記レーザ光の光軸を中心に前記被加工物が周回運動し得るように前記保持部を駆動し得るように構成された駆動部とを備える、レーザ加工装置。
  9.  前記駆動部は、前記被加工物が周回運動している間、前記被加工物の向きを維持し得るように構成されている、請求項1から請求項8のいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
  10.  前記駆動部は、前記被加工物が周回運動している間、前記被加工物の中心軸を中心に前記被加工物を回転運動させ得るように構成されており、
     前記中心軸は、前記主面の中心を通り、かつ、前記主面に垂直であり、
     前記被加工物の回転運動の第2の角速度は、前記被加工物の周回運動の第1の角速度よりも小さい、請求項1から請求項9のいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
  11.  被加工物の主面が水平面に対して傾くように前記被加工物を保持し得るように構成された保持部と、
     前記主面の第1の部分にレーザ光を照射させ得るように構成されたヘッド部と、
     前記第1の部分に第1の液体を供給し得るように構成された第1のノズルと、
     前記第1の部分とは異なる前記主面の第2の部分に第2の液体を供給し得るように構成された第2のノズルとを備え、前記第2のノズルは、前記主面の平面視における前記被加工物の最大長さ以上の幅を有し、さらに、
     前記被加工物の中心軸を中心に前記被加工物が回転運動し得るように前記保持部を駆動し得るように構成された駆動部を備え、前記中心軸は、前記主面の中心を通り、かつ、前記主面に垂直であり、
     前記第1の部分は、前記第2の部分及び前記中心よりも高い位置にある、レーザ加工装置。
  12.  前記第1のノズルは、前記レーザ光が前記第1のノズルから出射されて、前記第1の液体によって前記第1のノズルと前記第1の部分との間に形成される液柱の中を前記レーザ光が伝搬し得るように前記ヘッド部に設けられている、請求項11に記載のレーザ加工装置。
  13.  前記第2の液体の第2の供給速度は、前記第1の液体の第1の供給速度よりも大きい、請求項11または請求項12に記載のレーザ加工装置。
  14.  第1のノズルから被加工物の主面の第1の部分に第1の液体を供給することと、
     前記第1の部分におけるレーザ光の光軸を中心に前記被加工物を周回運動させながら、前記第1の部分に前記レーザ光を照射することとを備える、レーザ加工方法。
  15.  前記レーザ光が前記第1のノズルから出射されて、前記第1の液体によって前記第1のノズルと前記第1の部分との間に形成される液柱の中を前記レーザ光が伝搬する、請求項14に記載のレーザ加工方法。
  16.  前記第1の部分に前記レーザ光を照射する前から、前記第1の液体を前記第1の部分に供給し続ける、請求項14または請求項15に記載のレーザ加工方法。
  17.  前記第1の部分に前記レーザ光を照射する前に、前記第1の部分とは異なる前記主面の第2の部分に第2のノズルから第2の液体を供給することをさらに備え、
     前記第2の液体の第2の供給速度は、前記第1の液体の第1の供給速度よりも大きい、請求項14から請求項16のいずれか1項に記載のレーザ加工方法。
  18.  前記第1の部分に前記レーザ光を照射する前に、前記第1の部分とは異なる前記主面の第2の部分に複数の第2のノズルから第2の液体を供給することをさらに備え、
     前記第2の液体の第2の供給速度は、前記第1の液体の第1の供給速度よりも大きく、
     前記被加工物が周回運動している間、前記第2の部分に供給され続け得るように、前記複数の第2のノズルは配置されている、請求項14から請求項16のいずれか1項に記載のレーザ加工方法。
  19.  前記第2の液体を供給することは、前記被加工物が周回運動している間中、前記複数の第2のノズルの一部から前記第2の液体を供給させるとともに、前記複数の第2のノズルの残りからの前記第2の液体の供給を停止させることを含む、請求項18に記載のレーザ加工方法。
  20.  前記第1の部分に前記レーザ光を照射する前に、第2のノズルから前記主面に第2の液体を供給することをさらに備え、
     前記第2の液体の第2の供給速度は、前記第1の液体の第1の供給速度よりも大きく、
     前記被加工物が周回運動している間、前記第2の液体が前記第1の部分とは異なる前記主面の同一箇所に供給され続けるように、前記第2のノズルは移動する、請求項14から請求項16のいずれか1項に記載のレーザ加工方法。
  21. 被加工物の主面の第1の部分にガスを吹き付けることと、
     前記第1の部分とは異なる前記主面の第2の部分に第2のノズルから第2の液体を供給することと、
     前記第1の部分におけるレーザ光の光軸を中心に前記被加工物を周回運動させながら、前記第1の部分に前記レーザ光を照射することとを備える、レーザ加工方法。
  22.  前記被加工物を周回運動させている間、前記被加工物の向きは維持されている、請求項14から請求項21のいずれか1項に記載のレーザ加工方法。
  23.  前記被加工物を周回運動させている間、前記被加工物の中心軸を中心に前記被加工物を回転運動させており、
     前記中心軸は、前記主面の中心を通り、かつ、前記主面に垂直であり、
     前記被加工物の回転運動の第2の角速度は、前記被加工物の周回運動の第1の角速度よりも小さい、請求項14から請求項21のいずれか1項に記載のレーザ加工方法。
  24.  水平面に対して傾いている被加工物の主面の第1の部分に第1のノズルから第1の液体を供給することと、
     前記第1の部分とは異なる前記主面の第2の部分に第2のノズルから第2の液体を供給することとを備え、前記第2のノズルは、前記主面の平面視における前記被加工物の最大長さ以上の幅を有し、さらに、
     前記被加工物の中心軸を中心に前記被加工物を回転運動させながら、前記第1の部分にレーザ光を照射することを備え、前記中心軸は、前記主面の中心を通り、かつ、前記主面に垂直であり、
     前記第1の部分は、前記第2の部分及び前記中心よりも高い位置にある、レーザ加工方法。
  25.  前記レーザ光が前記第1のノズルから出射されて、前記第1の液体によって前記第1のノズルと前記第1の部分との間に形成される液柱の中を前記レーザ光が伝搬する、請求項24に記載のレーザ加工方法。
  26.  前記第2の液体の第2の供給速度は、前記第1の液体の第1の供給速度よりも大きい、請求項24または請求項25に記載のレーザ加工方法。
  27.  請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の前記レーザ加工装置を用いて、前記被加工物を前記被加工物の内周領域と前記被加工物の外周領域とに分離することと、
     前記被加工物の前記内周領域に複数の半導体素子を形成することとを備える、半導体装置の製造方法。
  28.  請求項14から請求項26のいずれか1項に記載の前記レーザ加工方法を用いて、前記被加工物を前記被加工物の内周領域と前記被加工物の外周領域とに分離することと、
     前記被加工物の前記内周領域に複数の半導体素子を形成することとを備える、半導体装置の製造方法。
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