WO2016051628A1 - 太陽電池及びその製造方法 - Google Patents

太陽電池及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2016051628A1
WO2016051628A1 PCT/JP2015/003326 JP2015003326W WO2016051628A1 WO 2016051628 A1 WO2016051628 A1 WO 2016051628A1 JP 2015003326 W JP2015003326 W JP 2015003326W WO 2016051628 A1 WO2016051628 A1 WO 2016051628A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
bus bar
solar cell
bar electrode
electrode
conductivity type
Prior art date
Application number
PCT/JP2015/003326
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
陽子 松尾
渡部 武紀
大塚 寛之
Original Assignee
信越化学工業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 信越化学工業株式会社 filed Critical 信越化学工業株式会社
Priority to US15/503,894 priority Critical patent/US10115840B2/en
Priority to SG11201701356WA priority patent/SG11201701356WA/en
Priority to CN201580044813.3A priority patent/CN106575679B/zh
Priority to RU2017105090A priority patent/RU2017105090A/ru
Priority to BR112017003016A priority patent/BR112017003016A2/pt
Priority to KR1020177003897A priority patent/KR102366908B1/ko
Priority to ES15846154T priority patent/ES2767530T3/es
Priority to EP15846154.1A priority patent/EP3203530B1/en
Publication of WO2016051628A1 publication Critical patent/WO2016051628A1/ja
Priority to PH12017500341A priority patent/PH12017500341A1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/02002Arrangements for conducting electric current to or from the device in operations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/02002Arrangements for conducting electric current to or from the device in operations
    • H01L31/02005Arrangements for conducting electric current to or from the device in operations for device characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02008Arrangements for conducting electric current to or from the device in operations for device characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells or solar cell modules
    • H01L31/0201Arrangements for conducting electric current to or from the device in operations for device characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells or solar cell modules comprising specially adapted module bus-bar structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02167Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • H01L31/022433Particular geometry of the grid contacts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • H01L31/022441Electrode arrangements specially adapted for back-contact solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L31/068Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L31/068Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
    • H01L31/0682Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells back-junction, i.e. rearside emitter, solar cells, e.g. interdigitated base-emitter regions back-junction cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells

Definitions

  • the present invention relates to a solar cell and a manufacturing method thereof.
  • FIG. 14 is a cross-sectional view schematically showing a conventional back electrode type solar cell.
  • a back electrode type solar cell 210 manufactured using a conventional technique will be described with reference to FIG.
  • An uneven shape 214 is formed on the light-receiving surface side of the N-type silicon substrate 213, and an FSF (Front Surface Field) layer 215 that is an N-type diffusion layer is formed.
  • a dielectric passivation layer (surface passivation layer) 217 containing silicon dioxide and an antireflection film 216 containing silicon nitride are formed from the N-type silicon substrate 213 side.
  • N-type doped N-type diffusion layers 220 and P-type doped P-type diffusion layers 221 are alternately formed on the back surface side of the N-type silicon substrate 213. Further, an oxide layer (first back surface passivation film) 219 is formed on the back surface of the N-type silicon substrate 213. An N-type contact electrode 211 is formed on the N-type diffusion layer 220, and a P-type contact electrode 212 is formed on the P-type diffusion layer 221. The contact electrodes directly coupled to these substrates themselves can also function as current collecting finger electrodes.
  • FIG. 15 is a plan view schematically showing the appearance of the back surface of a conventional back electrode type solar cell.
  • a pair of bus bar electrodes (N type bus bar electrode 222) for collecting current from finger electrodes (N type contact electrode 211, P type contact electrode 212) is provided at the substrate end. , P-type bus bar electrode 223).
  • the finger electrode closest to the outer periphery of the substrate is an N-type contact electrode, but it may be a P-type contact electrode or a metal electrode of a different type from the P-type and N-type, respectively.
  • the area ratio of the P-type diffusion layer and the N-type diffusion layer is preferably 80:20 to 90:10, and it is desirable to form a wide P-type diffusion layer region.
  • the contact area between the substrate and the contact electrode (hereinafter also referred to as the contact area) is made as small as possible to increase the passivation region, an increase in open-circuit voltage can be expected. Therefore, the contact electrode has a thin line or dot shape. Therefore, it is desirable to design the contact region as small as possible.
  • Patent Document 1 a contact electrode is formed, an insulating film other than the contact electrode is covered, and a wiring electrode is formed, so that the contact area between the electrode and the substrate is minimized, and the back electrode type with a large passivation region is formed.
  • a solar cell is disclosed.
  • FIG. 17 is a plan view schematically showing the appearance of the back surface of the conventional back electrode type solar cell disclosed in Patent Document 1.
  • FIG. 17 only one pair of bus bar electrodes (N-type bus bar electrode 222, P-type bus bar electrode 223) is formed on the outer periphery of the substrate (see FIG. 17).
  • the wiring resistance becomes very large, causing a reduction in the fill factor.
  • This wiring resistance increases in proportion to the length of the wiring. It is considered that this problem can be solved by increasing the cross-sectional area of the wiring electrode (finger electrode) or designing the finger length to be short.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and provides a solar cell having a wide passivation region, low wiring resistance, high parallel resistance, and high conversion efficiency, and such a solar cell. It aims at providing the manufacturing method of the solar cell which can be manufactured at low cost.
  • the present invention includes a first conductivity type semiconductor substrate having one main surface as a light receiving surface and the other main surface as a back surface, A solar cell having a region of a first conductivity type and a region of a second conductivity type that is a conductivity type opposite to the first conductivity type; A first finger electrode comprising a first contact portion joined to the first conductivity type region, and a first current collector formed on the first contact portion; A second finger electrode comprising a second contact portion joined to the second conductivity type region and a second current collector formed on the second contact portion; A first bus bar electrode electrically joined to the first current collector, and A second bus bar electrode electrically joined to the second current collector, An insulating film is provided at least in the entire region immediately below the first bus bar electrode and the second bus bar electrode, and on the insulating film, the first current collector, the first bus bar electrode, and the second bus bar electrode are provided. The electrical connection of the current collector and the second bus bar electrode is made,
  • the solar cell is characterized in that the
  • an insulating film is provided and the bus bar electrode and the finger electrode have a three-dimensional structure, thereby increasing the number of bus bar electrodes and shortening the length of the finger electrodes.
  • Current can be collected from the finger electrodes.
  • the wiring resistance can be reduced and the fill factor can be increased.
  • the bus bar electrodes and finger electrodes for different conductivity types are not easily in contact with the insulating film, and the bus bar electrodes are not in direct contact with the substrate, so that they are not easily shunted.
  • the region where the bus bar electrode is formed is flat, it is difficult for bleeding to occur when the bus bar electrode is formed. As a result, a solar cell with high parallel resistance can be obtained.
  • the contact portions are continuous in a line shape immediately below the insulating film, the three-dimensional structure of the bus bar electrode and the finger electrode can be formed without increasing the number of steps during manufacturing.
  • the shunt here means that the parallel resistance is reduced. This is because the P-type finger electrode and the N-type finger electrode are connected via the bus bar electrode or the same conductive type diffusion layer (N-type diffusion layer or P-type diffusion layer) (ie, , Short circuit). “Shunt” means to cause such a condition.
  • a bus-bar electrode refers to the current collection electrode electrically joined with the current collection part of a finger electrode.
  • the bus bar electrode is usually formed at a position substantially orthogonal to the finger electrode.
  • first bus bar electrode and the second bus bar electrode are continuous in a line shape, and the insulating film is continuous in a line shape.
  • Such a solar cell can further improve the reliability when modularized.
  • the total number of the first bus bar electrodes and the second bus bar electrodes is 4 or more and 10 or less.
  • Such a solar cell can further reduce the wiring resistance of the finger electrode without increasing the thickness of the finger electrode. For example, when the total number of bus bar electrodes is 6, the wiring resistance can be reduced to 1/6 when the number is 6, and when the number is 10, the wiring resistance can be reduced to 1/10.
  • the insulating film is a resin selected from one or more of silicone resin, polyimide resin, polyamideimide resin, fluorine resin, phenol resin, melamine resin, urea resin, polyurethane, epoxy resin, acrylic resin, polyester resin, and poval resin. It is preferable that it consists of a material containing.
  • An insulating film made of such a material has excellent heat resistance. Therefore, such an insulating film is preferable when heat treatment is performed in forming the electrode.
  • the thickness of the insulating film is preferably 1 to 60 ⁇ m.
  • Such a solar cell can further improve insulation. Moreover, since an insulating film is not excessively formed, a desired solar cell can be manufactured at a lower cost.
  • first current collector, the second current collector, the first bus bar electrode, and the second bus bar electrode are made of Ag, Cu, Au, Al, Zn, In, Sn, Bi, Pb. 1 or more types of conductive substances selected from the above, and further comprising a material containing one or more types of resins selected from epoxy resins, acrylic resins, polyester resins, phenol resins, and silicone resins preferable.
  • the electrode material is not directly bonded to a semiconductor substrate such as a silicon substrate during heating to form an electrode, and an increase in contact area is suppressed.
  • the present invention includes a first conductivity type semiconductor substrate in which one main surface is a light receiving surface and the other main surface is a back surface, and the first conductivity type region is formed on the back surface of the semiconductor substrate.
  • a method of manufacturing a solar cell having a region of a second conductivity type that is a conductivity type opposite to the first conductivity type, Forming the first conductivity type region and the second conductivity type region on the back surface; The first contact part joined to the first conductivity type region and the second contact part joined to the second conductivity type region are formed so as to have at least a part of a continuous line shape.
  • a method for manufacturing a solar cell is provided.
  • Such a solar cell manufacturing method can produce a back electrode type solar cell having a wide passivation region, low wiring resistance, high parallel resistance, and high conversion efficiency at low cost and high productivity.
  • a semiconductor substrate in particular, an electrode forming a contact with the first conductivity type region and the second conductivity type region is defined as a contact portion.
  • An electrode connecting the bus bar electrode and the contact portion is defined as a current collecting portion.
  • the current collecting part and the contact part are collectively called finger electrodes.
  • the current collector can also be referred to as a “line part”.
  • the solar cell of the present invention is provided with an insulating film and the bus bar electrodes and finger electrodes have a three-dimensional structure, thereby increasing the number of bus bar electrodes and shortening the length of the finger electrodes. Current can be collected from. As a result, the wiring resistance can be reduced and the fill factor can be increased. Further, by forming the current collecting portion on the contact portion, the cross-sectional area of the finger electrode can be increased, the wiring resistance can be reduced, and the open circuit voltage can be improved while reducing the contact area. Further, since the bus bar electrode is not in direct contact with the substrate, the solar cell is difficult to shunt.
  • the method for manufacturing a solar cell of the present invention can manufacture such a solar cell without increasing the number of manufacturing steps.
  • FIG. It is a top view which shows typically the external appearance of the back surface of the conventional back surface electrode type solar cell disclosed by patent document 1.
  • FIG. It is the enlarged view which expanded a part of solar cell of this invention, and is the enlarged view which shows what changed the shape of the current collection part with respect to the solar cell shown in FIG.
  • the enlarged view which expanded a part of solar cell of this invention and is the enlarged view which shows what changed the shape of the current collection part with respect to the solar cell shown in FIG.
  • It is an upper surface schematic diagram which shows an example of the solar cell of this invention, and is a schematic diagram which shows what changed the shape of the current collection part with respect to the solar cell shown in FIG.
  • FIG. 9 is a schematic top view showing an example of a solar cell studied by the present inventors.
  • 10 and 11 are enlarged schematic cross-sectional views of a part of the solar cell studied by the present inventors.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view taken along the line 1-1 ′ of the solar cell shown in FIG.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view of the solar cell shown in FIG. 9 taken along the line 2-2 ′.
  • a plurality of first bus bar electrodes 137 and second bus bar electrodes 138 are provided, and the wiring resistance is reduced by making the length of the finger electrodes as short as possible.
  • insulating films 124 and 125 are provided only in regions where finger electrodes and bus bar electrodes for different conductivity types intersect (hereinafter also referred to as insulating regions). . Thereby, the three-dimensional structure is simply formed. Further, in this solar cell, the shape of the first contact portion 126 and the second contact portion 127 other than directly below the insulating film can be changed to a dot shape or the like, so that the contact area can be reduced.
  • the first contact portion 126 is joined to the first conductivity type region 120 formed on the back surface of the first conductivity type semiconductor substrate 113, and an upper portion thereof is shown in FIG. As shown in FIG. 9, a first current collector 135 is formed.
  • the second contact portion 127 is joined to the second conductivity type region 121, and a second current collecting portion 136 is formed thereon as shown in FIG.
  • the first current collector 135 is electrically connected to the first bus bar electrode 137
  • the second current collector 136 is electrically connected to the second bus bar electrode 138, respectively.
  • the other structure is basically the same as that of the solar cell shown in FIG.
  • 12 and 16 are plan views showing the steps of forming the electrodes of the solar cell studied by the present inventors.
  • the first contact portion 126 and the second contact portion 127 are formed (FIG. 12 (1)), and the insulating films 124 and 125 are formed only in the insulating region (FIG. 12 (2)).
  • the first bus bar electrode 137 and the second bus bar electrode 138 are formed, the second current collector 136 and the first current collector 135 can be formed simultaneously (FIG. 12 (3)).
  • the cross-sectional area of the finger electrode can be increased without increasing the number of steps, and the wiring resistance can be reduced.
  • FIG. 13 is a schematic top view of the back surface showing an example of a defect occurring in the solar cell studied by the present inventors.
  • the inventors further studied to solve the above problems.
  • a solar cell provided with an insulating film directly below the bus bar electrode and having the bus bar electrode and the finger electrode in a three-dimensional structure can solve the above-mentioned problems, and has completed the solar cell of the present invention.
  • the solar cell manufacturing method in which the bus bar electrode is formed only on the insulating film and the three-dimensional structure of the bus bar electrode and the finger electrode is formed can solve the above problems, and the solar cell manufacturing method of the present invention is completed. I let you.
  • the solar cell of the present invention will be specifically described with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto.
  • the description will focus on the case where the first conductivity type semiconductor substrate is an N type silicon substrate (that is, the first conductivity type is N type and the second conductivity type is P type). Even if the semiconductor substrate is a P-type silicon substrate, an impurity source such as boron or phosphorus may be used in reverse, and the present invention can be similarly applied.
  • FIG. 1 is a schematic top view showing an example of the solar cell of the present invention.
  • FIG. 2 is an enlarged view of a part of the solar cell of the present invention.
  • 3 to 5 are schematic cross-sectional views enlarging a part of the solar cell of the present invention.
  • 3 is a sectional view taken along the line aa ′ of the solar cell shown in FIG. 1
  • FIG. 4 is a sectional view taken along the line bb ′ of the solar cell shown in FIG. 1
  • a solar cell 10 of the present invention includes a first conductivity type semiconductor substrate 13 having one main surface as a light receiving surface and the other main surface as a back surface.
  • the semiconductor substrate has a first conductivity type region (N-type diffusion layer) 20 on the back surface and a second conductivity type opposite to the first conductivity type.
  • N-type diffusion layer N-type diffusion layer
  • P-type diffusion layer P-type diffusion layer
  • the solar cell 10 includes a first contact portion 26 joined to the first conductivity type region 20 and a first assembly formed on the first contact portion 26.
  • a first finger electrode including the electric part 35 is provided.
  • a second finger electrode including a second contact portion 27 joined to the second conductivity type region 21 and a second current collecting portion 36 formed on the second contact portion 27 is provided.
  • a first bus bar electrode 37 electrically connected to the first current collector 35 is provided.
  • a second bus bar electrode 38 electrically connected to the second current collector 36 is provided.
  • first current collector 35 and the second current collector 36 are connected to the first contact part 26 and the second contact part 27, respectively, and collect current from the contact part to the bus bar electrode. Can do.
  • this solar cell 10 can form a concavo-convex shape 14 and an FSF layer (N-type diffusion layer) 15 on the light receiving surface side of the first conductivity type semiconductor substrate 13. Further, an antireflection film 16 containing silicon nitride or the like can be formed on the uneven shape 14. A dielectric passivation layer (not shown) may be formed between the FSF layer 15 and the antireflection film 16.
  • first back surface passivation film 19 can be formed on the back surface of the first conductivity type semiconductor substrate 13.
  • a second back surface passivation film 18 can also be formed on the oxide layer 19.
  • the passivation film is preferably made of at least one selected from a silicon oxide film, a silicon nitride film, and an aluminum oxide film.
  • the solar cell 10 includes insulating films 24 and 25 at least in the entire region immediately below the first bus bar electrode 37 and the second bus bar electrode 38.
  • the first current collector 35 and the first bus bar electrode 37 are electrically joined.
  • the second current collector 36 and the second bus bar electrode 38 are electrically joined.
  • the insulating films 24 and 25 usually cover the upper and side portions of the first contact portion 26 and the second contact portion 27 on the contact portions immediately below the first bus bar electrode 37 and the second bus bar electrode 38. It is formed with the thickness which can be.
  • the first contact portion 26 and the second contact portion 27 are continuous in a line shape at least immediately below the insulating films 24 and 25.
  • bus bar electrodes and finger electrodes for different conductivity types can be physically joined via insulating films 24 and 25. That is, the bus bar electrodes for different conductivity types and the current collector are not electrically joined (separated).
  • the insulating films 24 and 25 are sandwiched between the contact part and the current collecting part. ing.
  • bus bar electrodes for the same conductivity type and the current collector are electrically joined on the insulating film.
  • reference numeral 37 (35) in FIG. 5 denotes a portion where the first bus bar electrode 37 and the first current collector 35 overlap (electrically joined).
  • the bus bar electrode and the finger electrode can have a three-dimensional structure by providing an insulating film.
  • the number of bus-bar electrodes can be increased and the length of a finger electrode can be shortened.
  • the bus bar electrode does not directly contact the silicon substrate, no shunt is generated.
  • the insulating film is formed in the entire region immediately below the bus bar electrode, the first finger electrode and the second bus bar electrode are more reliably insulated without causing a process failure when forming the bus bar electrode.
  • the second finger electrode and the first bus bar electrode can be more reliably insulated. Thereby, it can be set as a solar cell with high parallel resistance and high conversion efficiency.
  • contact portions that are directly coupled to the substrate itself are continuously formed in a line shape immediately below the insulating film. Therefore, one step for connecting the contact portions as shown in FIG. 16B can be reduced, and a solar cell with high yield and low cost can be manufactured.
  • the semiconductor substrate that can be used in the present invention is not particularly limited.
  • an N-type silicon substrate can be used.
  • the thickness of the substrate can be set to 100 to 200 ⁇ m, for example.
  • the shape and area of the main surface of the substrate are not particularly limited.
  • a material for the first contact portion and the second contact portion for example, a fluid paste (hereinafter also referred to as a sintered paste) in which silver powder and glass frit are mixed with an organic binder can be used. .
  • the contact portion directly coupled to the substrate itself is formed directly in a line form immediately below the insulating film, but the shape of the contact portion is not particularly limited in other places.
  • the shape of the contact portion at a place other than the place where the insulating film is formed is any of a dot shape, a line shape, or a combination of these shapes.
  • the contact area can be further reduced. Thereby, the passivation region can be widened and the open circuit voltage can be increased.
  • the width and length of the insulating film formed immediately below the bus bar electrode is larger than that of the bus bar electrode.
  • the insulating film is formed at least over the entire region immediately below the bus bar electrode.
  • the number and shape of the insulating film are not particularly limited. As shown in FIG. 1, the insulating film is preferably continuous in a line shape. Another example of the shape of the insulating film is the shape shown in FIG.
  • FIG. 8 is a schematic top view showing an example of the solar cell of the present invention. In FIG. 8, the insulating film 25 'is formed large, and the insulating film 24 (insulating film immediately below the first bus bar electrode 37) and the insulating film 25 (insulating film immediately below the second bus bar electrode 38) in FIG. The mode which forms integrally is shown.
  • the insulating film 25 ' is opened as shown in FIG. If the insulating film has the shape shown in FIG. 8, the heights of the contact portion and the other portions are equalized, so that it is possible to avoid misalignment when forming the current collecting portion in the next process.
  • the insulating film shown in FIGS. 1 and 8 prevents the bus bar electrode from coming into direct contact with the substrate, and reduces the unevenness of the area where the bus bar electrode is formed, so that bleeding occurs when the bus bar electrode is formed and the shunt To prevent.
  • the insulating film is usually formed so as to cover the side portion and the upper portion of the contact portion immediately below the bus bar electrode.
  • the insulating film is preferably larger than the width and length of the bus bar electrode.
  • the thickness of the insulating film is preferably 1 to 60 ⁇ m. More preferably, it is about 5 to 40 ⁇ m, particularly preferably 10 to 30 ⁇ m. By setting it as such thickness, insulation can be improved more. Moreover, since an insulating film is not excessively formed, a desired solar cell can be manufactured at a lower cost.
  • This insulating film contains a resin selected from one or more of silicone resin, polyimide resin, polyamideimide resin, fluororesin, phenol resin, melamine resin, urea resin, polyurethane, epoxy resin, acrylic resin, polyester resin, and poval resin. It is preferable that it is made of a material (hereinafter also referred to as an insulating material).
  • an insulating material a material (hereinafter also referred to as an insulating material).
  • a heat resistant resin when heat treatment is performed.
  • a siloxane bond which is the main chain of a silicone resin, is superior in heat resistance and weather resistance because it has a large bond energy and is stable compared to an organic polymer material whose main chain is a carbon skeleton.
  • other resins also have high heat resistance by providing an aromatic ring in the molecular chain.
  • the current collector and the bus bar electrode contain one or more kinds of conductive substances selected from Ag, Cu, Au, Al, Zn, In, Sn, Bi, and Pb, and further, epoxy resin, acrylic resin, polyester resin, It is preferably made of a material containing one or more kinds of resins selected from phenol resins and silicone resins. Since it is not necessary to include glass frit as long as it is made of such an electrode material, the electrode material is not directly bonded to a semiconductor substrate such as a silicon substrate during heating, and an increase in contact area is suppressed.
  • the number of bus bar electrodes is not particularly limited, but the total is preferably 4 or more and 10 or less. Thereby, the wiring resistance of a finger electrode can be reduced and conversion efficiency can be improved.
  • the shape of the bus bar electrode is not particularly limited.
  • the shape of the bus bar electrode can be a discontinuous shape divided in the longitudinal direction of the bus bar electrode.
  • the bus bar electrode is preferably continuous in a line shape. Such a shape can be easily manufactured.
  • the current collector and the bus bar electrode can be formed so as to intersect at a right angle.
  • the first finger electrode is usually formed in a direction along the longitudinal direction of the first conductivity type region.
  • the second finger electrode is usually formed in a direction along the longitudinal direction of the second conductivity type region.
  • a plurality of finger electrodes are usually formed.
  • FIG. 6 is a flowchart showing an example of a method for manufacturing a solar cell according to the present invention.
  • a method for manufacturing a back electrode type solar cell of the present invention will be described with reference to schematic cross-sectional views shown in FIGS.
  • the case of an N-type silicon substrate will be described as an example.
  • the first conductivity type region is also referred to as an N-type diffusion layer
  • the second conductivity type region is also referred to as a P-type diffusion layer.
  • the method described below is a typical example, and the present invention is not limited to this.
  • an N-type silicon substrate 13 having a thickness of, for example, 100 to 200 ⁇ m is prepared as a first conductivity type semiconductor substrate in which one main surface serves as a light receiving surface and the other main surface serves as a back surface.
  • One main surface of the N-type silicon substrate 13 is a light receiving surface, and the other main surface is a back surface.
  • the back surface (hereinafter referred to as “the light receiving surface of the N-type silicon substrate”) opposite to the surface serving as the light receiving surface of the N-type silicon substrate 13 (hereinafter referred to as “light-receiving surface of the N-type silicon substrate”).
  • a texture mask 31 such as a silicon nitride film is formed on the back surface of the N-type silicon substrate by CVD, sputtering, or the like.
  • an uneven shape 14 having a texture structure is formed on the light receiving surface of the N-type silicon substrate 13 by etching.
  • Etching is performed, for example, with a solution in which isopropyl alcohol is added to an alkaline aqueous solution such as sodium hydroxide or potassium hydroxide and heated to 60 ° C. or higher and 80 ° C. or lower.
  • diffusion masks 32 and 33 such as silicon oxide films are formed on the light-receiving surface and the back surface of the N-type silicon substrate 13.
  • An etching paste is applied to the portion where the N-type diffusion layer is formed by screen printing or the like, and the diffusion mask 32 where the N-type diffusion layer is formed is removed by heat treatment, and the substrate is exposed.
  • the etching paste subjected to the patterning process is ultrasonically cleaned and removed by acid treatment.
  • This etching paste includes, for example, at least one selected from the group consisting of phosphoric acid, hydrogen fluoride, ammonium fluoride, and ammonium hydrogen fluoride as an etching component, and includes water, an organic solvent, and a thickener. This treatment may be performed using a photolithography method.
  • N-type diffusion layer 20 phosphorus, which is an N-type impurity, is diffused in the exposed portion of the back surface of the N-type silicon substrate 13 by vapor phase diffusion using POCl 3 to form the N-type diffusion layer 20.
  • the N-type diffusion layer can also be formed by spin-coating a solution in which an N-type impurity such as phosphoric acid is dissolved in alcohol or water and thermally diffusing.
  • the diffusion mask 32 and diffusion mask 33 formed on the N-type silicon substrate 13 and the glass layer formed by diffusing phosphorus in the diffusion masks 32 and 33 are formed with hydrogen fluoride. After removal by acid treatment, thermal oxidation is performed in an oxygen or water vapor atmosphere to form a silicon oxide film 34.
  • an etching paste is applied by screen printing or the like to the portion where the P-type diffusion layer on the back surface of the N-type silicon substrate 13 is formed, and the P-type diffusion layer is subjected to heat treatment.
  • the diffusion mask 34 at the place where the is formed is removed, and the substrate is exposed.
  • the etching paste subjected to the patterning process is ultrasonically cleaned and removed by acid treatment.
  • This etching paste includes, for example, at least one selected from the group consisting of phosphoric acid, hydrogen fluoride, ammonium fluoride, and ammonium hydrogen fluoride as an etching component, and includes water, an organic solvent, and a thickener.
  • a solution obtained by dissolving a P-type impurity source such as boric acid in alcohol or water is spin-coated on the back surface of the N-type silicon substrate 13, and after drying, the N-type silicon substrate is subjected to heat treatment.
  • P-type diffusion layer 21 is formed by diffusing boron, which is a P-type impurity, in the exposed portion of the back surface of 13.
  • the P-type diffusion layer 21 can also be formed by a vapor phase diffusion method such as BBr 3 .
  • the silicon oxide film 34 formed on the N-type silicon substrate 13 and the glass layer formed by diffusing boron in the silicon oxide film 34 are removed by hydrofluoric acid treatment. Thereafter, a first back surface passivation film 19, which also serves as a diffusion mask such as a silicon oxide film, is formed on the back surface of the N-type silicon substrate 13 by CVD or SOG (spin on glass) coating and baking.
  • n ⁇ layer FSF layer 15
  • FSF layer 15 which is the light-receiving surface diffusion layer
  • a second back surface passivation film 18 made of a nitride film or the like is formed on the back surface of the N-type silicon substrate 13 by CVD or sputtering. Further, a nitride film may be formed on the surface as the antireflection film 16 by CVD or sputtering.
  • the method of forming the first conductivity type region (N type diffusion layer) 20 and the second conductivity type region (P type diffusion layer) 21 on the back surface of the N type silicon substrate is shown in FIG. ) To (i), the method is not limited and can be changed as appropriate.
  • electrodes are formed on the N-type diffusion layer 20 and the P-type diffusion layer 21 formed on the back surface side of the N-type silicon substrate 13.
  • FIG. 7 is a plan view showing the process of forming the electrode of the solar cell of the present invention.
  • the first contact portion 26 and the second contact portion 27 are electrodes that form a contact with the silicon substrate.
  • the electrode pattern of these contact portions must be a continuous pattern at least in a region where the contact portion and the bus bar electrode intersect, but in other places, it may be a discontinuous shape such as an ellipse, a rectangle, or a dot. It may be good or a line. Moreover, you may mix these shapes.
  • the shape of the contact portion in any other location is not limited to the first bus bar electrode 37, for example.
  • the current generated in the two-conductivity type region 21 can also be collected.
  • the ratio of the area of the first contact portion and the second contact portion to the substrate area is about 1% to 6%, respectively.
  • the line width is 14 ⁇ m to 90 ⁇ m. This is because by increasing the contact area of the back electrode (contact portion) as much as possible, the passivation region increases and an increase in open circuit voltage can be expected.
  • the contact portion can be formed by screen printing using, for example, a screen plate having an opening having a line-like pattern as described above. Besides, it is also possible to form by using offset printing, ink jet printing, dispenser, vapor deposition method or the like.
  • the above-mentioned sintered paste is used as a material for the contact portion, and the sintered paste is formed on the N-type diffusion layer 20 or the P-type diffusion layer 21 by the printing method as described above.
  • the sintered paste can be baked at a temperature of 700 to 800 ° C. for 5 to 30 minutes to form the first contact portion 26 or the second contact portion 27.
  • the first contact portion 26 joined to the first conductivity type region 20 and the second contact portion 27 joined to the second conductivity type region 21 are at least partially continuous in a line shape. (FIG. 7 (1)).
  • the contact portion and the bus bar electrode intersect at a portion having a continuous shape in this line shape.
  • the glass frit is melted at the time of firing, and the second back surface passivation film 18 and the first back surface passivation film 19 are also melted simultaneously, penetrating these films.
  • the electrodes are bonded so that they are directly bonded to the substrate itself. Note that the n + electrode and the p + electrode (first contact portion and second contact portion) may be printed at the same time and fired at the same time, or may be printed and fired sequentially.
  • FIG. 6K is a cross-sectional view of a P-type bus bar electrode (second bus bar electrode), and FIG. 6L is a cross-sectional view of an N-type bus bar electrode (first bus bar electrode).
  • FIG. 2 shows an a-a ′ sectional view and a b-b ′ sectional view of the solar cell shown in FIG. 1, respectively.
  • the insulating films 24 and 25 are formed so as to cover the upper and side portions of the first contact portion 26 and the second contact portion 27 that have a continuous line shape (FIG. 7B).
  • a material (insulating material) made of a material containing a resin such as the above-described silicone resin can be used.
  • a paste (insulating paste) in which a solvent is added to impart fluidity If it has fluidity, offset printing, screen printing, a dispenser, or the like can be used.
  • a screen plate making having an opening having the same shape as this pattern can be used.
  • the insulating paste is applied to a predetermined position of the N-type silicon substrate 13 by screen printing, and the insulating paste is cured by heat treatment at 350 ° C. or lower for 5 to 30 minutes to form an insulating film. (FIG. 7 (2)).
  • the insulating film may be formed at a desired position by using a method of performing etching processing and pattern processing using photolithography.
  • the bus bar electrode is shunted by directly touching the substrate, or bleeding occurs when the bus bar electrode is formed due to the unevenness of the substrate surface by partially forming the insulating film. (FIG. 13), it may protrude from the insulating film, and electrodes of different conductivity types may be connected. When such a malfunction occurs, there is a problem that the parallel resistance of the solar cell is lowered and the conversion efficiency is lowered.
  • the first bus bar electrode 37 and the second bus bar electrode 38 are formed only on the insulating films 24 and 25 in this step.
  • the insulating film is formed as a single rectangle. That is, the insulating film is formed immediately below the bus bar electrode. Thereby, the unevenness
  • the bus bar electrode is not in direct contact with the N-type silicon substrate 13 and the contact portion, and an insulating film is inserted between them. When the area of the insulating film is reduced, the insulating film and the bus bar electrode have the same shape.
  • the width and length of the insulating film are preferably larger than the bus bar electrode.
  • substrate are isolated more reliably.
  • unevenness in the region where the bus bar electrode is formed is reduced, it is possible to suppress bleeding when the bus bar electrode is formed.
  • the bus bar electrode is formed by screen printing, it is desirable that the printing direction and the longitudinal direction of the bus bar electrode be substantially parallel in order to suppress bleeding in the width direction as much as possible.
  • the first current collecting part 35 electrically connected to the first bus bar electrode 37 is formed on the first contact part 26, and the first current collecting part 35 is formed on the second contact part 27.
  • a second current collector 36 electrically connected to the second bus bar electrode 38 is formed (FIG. 7C).
  • the step of forming the first bus bar electrode and the second bus bar electrode and the step of forming the first current collector and the second current collector it is preferable to simultaneously perform the step of forming the first bus bar electrode and the second bus bar electrode and the step of forming the first current collector and the second current collector.
  • the number of steps can be further reduced, and a solar cell with higher conversion efficiency can be manufactured at a lower cost.
  • the shape (pattern) of a current collection part shall be a shape as shown in FIGS. 18 to 21 assume that the current collector is printed from right to left. Generally, at the end of printing (for example, the broken line portion in FIGS. 2 and 8), the printed material tends to be thick.
  • the shape of the current collecting part is as shown in FIGS. 18 to 21, the end of printing of the current collecting part does not exist on the contact part, but only on the insulating film. Become.
  • 18 and 19 are enlarged views in which a part of the solar cell of the present invention is enlarged, and are enlarged views showing the solar cell shown in FIG. 2 in which the shape of the current collector is changed.
  • 20 and 21 are schematic top views showing an example of the solar cell of the present invention, and are schematic diagrams showing the solar cell shown in FIG.
  • the solar cell is sealed between glass and a sealing material and exposed to the outdoors. Is modularized so that the output can be maintained. Therefore, the bus bar electrode may be continuous or discontinuous as long as it has an adhesive force with the tab wire.
  • the material for forming the current collector and bus bar electrode contains one or more kinds of conductive substances selected from the above-mentioned Ag, Cu, Au, Al, Zn, In, Sn, Bi, and Pb, It is desirable to use a thermosetting paste containing one or more kinds of resins selected from epoxy resins, acrylic resins, polyester resins, phenol resins, and silicone resins. With such a thermosetting paste, the heat treatment for electrode formation can be performed at a temperature of less than 400 ° C. at which the insulating material containing an organic material that is suitably used as the insulating film material does not decompose. is there.
  • thermosetting paste with a solvent added to a predetermined place by screen printing
  • it is dried and heated at 350 ° C. or lower for 5 to 30 minutes to be cured.
  • the thermosetting paste does not contain glass frit unlike the sintered paste that is the material of the contact portion
  • the electrode material does not directly bond to the silicon substrate during heating, and the contact area The increase of is suppressed.
  • the heat treatment may be performed after the tab wire and the bus bar portion are brought into contact with each other. In this way, the tab wire and the bus bar portion can be bonded without soldering.
  • Examples and Comparative Examples In order to confirm the effectiveness of the present invention, the following steps were performed for 100 semiconductor substrates (50 for each of Example 1 and Comparative Example 1) to produce 100 solar cells. Three sets of bus bar electrodes were provided.
  • a 200 nm silicon nitride film was formed by CVD on the back surface of a 15 cm square, 200 ⁇ m thick N-type silicon substrate 13 to form a texture mask 31 (FIG. 6A).
  • a texture structure (concave / convex shape) 14 was formed on the light-receiving surface of the N-type silicon substrate 13 with a potassium hydroxide solution to which isopropyl alcohol was added (FIG. 6B).
  • silicon oxide films were formed on the light-receiving surface and back surface of the N-type silicon substrate 13 as diffusion masks 32 and 33 by thermal oxidation.
  • An etching paste mainly composed of phosphoric acid is applied by screen printing to a place where the N-type diffusion layer is formed, and the diffusion mask 32 where the N-type diffusion layer is formed is removed by heat treatment to expose the substrate. (FIG. 6C).
  • the etching paste subjected to the patterning treatment was ultrasonically cleaned and removed by acid treatment.
  • N-type diffusion layer 20 (FIG. 6C).
  • the diffusion mask 32 and the diffusion mask 33 formed on the N-type silicon substrate 13 and the glass layer formed by diffusing phosphorus in the diffusion masks 32 and 33 are removed by hydrofluoric acid treatment, and then heated by oxygen. Oxidation was performed to form a silicon oxide film 34 (FIG. 6D). Next, the silicon oxide film 34 where the P-type diffusion layer 21 on the back surface is formed was removed by etching (FIG. 6E).
  • an aqueous solution containing boric acid is spin-coated on the back surface of the N-type silicon substrate 13, and after drying, P-type impurities such as boron are diffused into exposed portions of the back surface of the N-type silicon substrate 13 by heat treatment.
  • a mold diffusion layer 21 was formed (FIG. 6F).
  • a silicon oxide film 34 formed on the N-type silicon substrate 13 and a glass layer formed by diffusing boron into the silicon oxide film 34 are formed with hydrogen fluoride.
  • a silicon nitride film was formed as a passivation film on the front and back surfaces by CVD. The steps so far were performed in common in Example 1 and Comparative Example 1. Subsequently, an electrode was formed.
  • Example 1 In Example 1, a contact part, an insulating film, a current collecting part, and a bus bar electrode having a pattern as shown in FIGS. 2 and 7 were formed (FIGS. 6 (j) to (l)).
  • a contact portion having a linear pattern with a width of 100 ⁇ m was formed.
  • a conductive paste sintered paste
  • a conductive paste made of Ag particles, glass frit, binder, and solvent is applied to a predetermined location on the diffusion layer by screen printing, dried, and baked at 700 ° C. for 5 minutes.
  • the first contact portion 26 and the second contact portion 27 were formed.
  • an insulating film having a width of 3 mm (finger electrode longitudinal direction) and a length of 150 mm (bus bar electrode longitudinal direction) was formed immediately below the bus bar electrode so as to be orthogonal to the finger electrode (contact part).
  • a polyimide paste was used as a material for the insulating film, and this paste was applied to a predetermined location by screen printing and cured by heating at 150 ° C. for 20 minutes to form an insulating film.
  • thermosetting paste made of Ag particles and a thermosetting resin was used as a material for the current collector and the bus bar electrode. This thermosetting paste is applied by screen printing, dried, and cured by heating at 200 ° C. for 30 minutes, so that the first current collector 35, the second current collector 36, the first bus bar electrode 37, and the second The bus bar electrodes 38 were simultaneously formed.
  • Comparative Example 1 In Comparative Example 1, a contact portion, an insulating film, a current collector portion, and a bus bar electrode having a pattern as shown in FIGS. 9 and 12 were formed.
  • a contact portion having a linear pattern with a width of 100 ⁇ m was formed.
  • a conductive paste sintered paste
  • a conductive paste made of Ag particles, glass frit, binder, and solvent is applied to a predetermined location on the diffusion layer by screen printing, dried, and baked at 700 ° C. for 5 minutes.
  • First contact portion 126 and second contact portion 127 were formed.
  • an insulating film having a length of 3 mm (finger electrode longitudinal direction) and a width of 500 ⁇ m (bus bar electrode longitudinal direction) was formed only in an insulating region (a region where finger electrodes and bus bar electrodes for different conductivity types intersect).
  • a polyimide paste was used as a material for the insulating film, and this paste was applied to a predetermined location by screen printing and cured by heating at 150 ° C. for 20 minutes to form an insulating film.
  • a current collector having a width of 100 ⁇ m and a bus bar electrode having a width of 1.2 mm and a length of 148 mm were simultaneously formed.
  • a conductive paste (thermosetting paste) made of Ag particles and a thermosetting resin was used as a material for the current collector and the bus bar electrode. This thermosetting paste is applied by screen printing, dried, heated and cured at 200 ° C. for 30 minutes, and the first current collector 135, the second current collector 136, the first bus bar electrode 137, and the second The bus bar electrodes 138 were simultaneously formed.
  • Table 1 is a table showing the experimental results of Example 1 and Comparative Example 1.
  • Comparative Example 1 the parallel resistance was much less than 1000 ⁇ cm 2 and the conversion efficiency was greatly reduced.
  • Example 1 the parallel resistance was sufficiently high, and a solar cell with high conversion efficiency was obtained. Obtained. This is because the bus bar electrode and the substrate are not in direct contact with each other because the insulating film is formed in the entire region immediately below the bus bar electrode. Further, the surface of the insulating film (region where the bus bar electrode is formed) becomes flat, and bleeding at the time of forming the bus bar electrode can be suppressed. As a result, the first finger electrode, the second bus bar electrode, the second finger electrode, and the second finger electrode This is because one bus bar electrode is not in contact with each other.
  • the present invention is not limited to the above embodiment.
  • the above-described embodiment is an exemplification, and the present invention has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention, and any device that exhibits the same function and effect is the present invention. It is included in the technical scope of the invention.

Abstract

 本発明は、受光面とは反対の裏面に第1導電型の領域と第2導電型の領域とを有する第1導電型の半導体基板の裏面に、第1のコンタクト部と第1の集電部とからなる第1のフィンガー電極、第2のコンタクト部と、第2の集電部とからなる第2のフィンガー電極、第1のバスバー電極、及び、第2のバスバー電極を備え、少なくとも第1のバスバー電極及び第2のバスバー電極の直下の全域に絶縁膜を備え、絶縁膜上において、第1の集電部及び第1のバスバー電極、並びに第2の集電部及び第2のバスバー電極の電気的な接合がされたものであり、少なくとも絶縁膜の直下において、第1のコンタクト部及び第2のコンタクト部がライン状に連続したものである太陽電池である。これにより、パッシベーション領域が広く、配線抵抗が低く、並列抵抗が高く、変換効率の高い太陽電池が提供され、及びそのような太陽電池を低コストで製造することができる太陽電池の製造方法が提供される。

Description

太陽電池及びその製造方法
 本発明は、太陽電池及びその製造方法に関する。
 図14は、従来の裏面電極型太陽電池を模式的に示す断面図である。従来の技術を用いて作製された裏面電極型太陽電池210について、図14を参照して説明する。N型シリコン基板213の受光面側には凹凸形状214が形成され、N型拡散層であるFSF(Front Surface Field)層215が形成されている。そして、凹凸形状214上には、N型シリコン基板213側から二酸化ケイ素を含む誘電性パッシベーション層(表面パッシベーション層)217、窒化シリコンを含む反射防止膜216が形成されている。
 また、N型シリコン基板213の裏面側にはN型ドープされたN型拡散層220とP型ドープされたP型拡散層221とが交互に形成されている。さらに、N型シリコン基板213の裏面には酸化物層(第1裏面パッシベーション膜)219が形成されている。そして、N型拡散層220にはN型コンタクト電極211が形成されており、P型拡散層221にはP型コンタクト電極212が形成されている。これらの基板自体と直接結合するコンタクト電極は、集電用のフィンガー電極として機能させることもできる。
 図15は、従来の裏面電極型太陽電池の裏面の外観を模式的に示す平面図である。図15に示すように、裏面電極型太陽電池には、フィンガー電極(N型コンタクト電極211、P型コンタクト電極212)から集電するためのバスバー電極が基板端に1対(N型バスバー電極222、P型バスバー電極223)設けられている。図15では基板外周に最も近いフィンガー電極がN型コンタクト電極となっているが、P型コンタクト電極でも良いし、それぞれP型、N型と異なる型の金属電極でも良い。
 裏面電極型太陽電池を高効率化するために、発電層であるP型拡散層をできる限り広くすると短絡電流の増加が期待できる。このため、P型拡散層とN型拡散層の面積割合は80:20~90:10とP型拡散層の領域を広く形成することが望ましい。また、基板とコンタクト電極の接触面積(以下、コンタクト面積とも記載する。)をできるだけ小さくしてパッシベーション領域を広くすると開放電圧の増加が期待できるため、コンタクト電極の形状を、細いラインや、ドット状とすることによりコンタクト領域をできるだけ小さく設計することが望ましい。
 特許文献1ではコンタクト電極を形成し、コンタクト電極以外を絶縁膜で覆い、配線電極を形成するという3工程により、電極と基板のコンタクト面積を必要最低限に抑え、パッシベーション領域を大きくした裏面電極型太陽電池が開示されている。
 図17は、特許文献1で開示された従来の裏面電極型太陽電池の裏面の外観を模式的に示す平面図である。しかしながら特許文献1の太陽電池はバスバー電極(N型バスバー電極222、P型バスバー電極223)が基板外周に1対形成されているのみである(図17参照)。この配置の場合、フィンガー電極の長さが長いため、配線抵抗が非常に大きくなり、曲線因子低下の原因となってしまう。この配線抵抗は配線の長さに比例して大きくなる。この問題は、配線電極(フィンガー電極)の断面積を大きくする、もしくはフィンガー長さを短く設計することにより解決できると考えられる。
特許第5317209号公報
 上述のように、コンタクト面積を減少させつつ、フィンガー電極の断面積を大きくし、フィンガー電極の長さを短くすることができる太陽電池が要求されている。このため裏面電極型太陽電池において電極構造を立体構造とすること等が検討されている。しかしながら、これまで、電極構造を立体構造とすると並列抵抗が低くなりやすいなどの問題があった。
 本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであって、パッシベーション領域が広く、配線抵抗が低く、並列抵抗が高く、変換効率の高い太陽電池を提供すること、及びそのような太陽電池を低コストで製造することができる太陽電池の製造方法を提供することを目的とする。
 上記目的を達成するために、本発明では、一方の主表面を受光面とし、もう一方の主表面を裏面とする第1導電型の半導体基板を備え、該半導体基板が、前記裏面において、前記第1導電型の領域と、前記第1導電型と反対の導電型である第2導電型の領域とを有するものである太陽電池であって、
 前記第1導電型の領域に接合された第1のコンタクト部と、該第1のコンタクト部上に形成された第1の集電部とからなる第1のフィンガー電極、
 前記第2導電型の領域に接合された第2のコンタクト部と、該第2のコンタクト部上に形成された第2の集電部とからなる第2のフィンガー電極、
 前記第1の集電部と電気的に接合された第1のバスバー電極、及び、
 前記第2の集電部と電気的に接合された第2のバスバー電極
 を備え、
 少なくとも前記第1のバスバー電極及び前記第2のバスバー電極の直下の全域に絶縁膜を備え、該絶縁膜上において、前記第1の集電部及び前記第1のバスバー電極、並びに前記第2の集電部及び前記第2のバスバー電極の前記電気的な接合がされたものであり、
 少なくとも前記絶縁膜の直下において、前記第1のコンタクト部及び前記第2のコンタクト部がライン状に連続したものであることを特徴とする太陽電池を提供する。
 このような太陽電池であれば、絶縁膜を設け、バスバー電極とフィンガー電極を立体構造とすることにより、バスバー電極の本数を増やし、フィンガー電極の長さを短くすることができ、バスバー電極両側のフィンガー電極から集電することができる。その結果、配線抵抗を減少させることができ、曲線因子を増加させることができる。更に、異なる導電型用のバスバー電極とフィンガー電極とを絶縁膜により接しにくくするだけでなく、バスバー電極が直接基板と接しないため、シャントしにくい。また、バスバー電極が形成された領域が平坦であるため、そのバスバー電極の形成時に滲みを発生させにくくなる。その結果、並列抵抗の高い太陽電池とすることができる。更には、絶縁膜の直下において、コンタクト部がライン状に連続したものであるため、製造時に工程数を増やすことなくバスバー電極とフィンガー電極の立体構造を形成することができる。
 なお、ここでいうシャントとは、並列抵抗が小さくなることを意味する。これは、P型用のフィンガー電極とN型用のフィンガー電極が、バスバー電極を介して、又は同じ導電型の拡散層(N型拡散層若しくはP型拡散層)を介して接続される(すなわち、短絡する)ことにより発生すると考えられる。「シャントする」とは、そのような状態を生じることを意味する。
 また、前述のように、パッシベーション領域をできるだけ大きくするために、コンタクト部を小さくした場合にも、集電部が存在することによりフィンガー電極の断面積が大きくなり、配線抵抗を小さくすることができる。このような太陽電池であれば、安価で、配線抵抗が低く、変換効率が高い太陽電池とすることができる。
 なお、バスバー電極とは、フィンガー電極の集電部と電気的に接合された集電用電極のことを指す。バスバー電極は、通常、フィンガー電極に略直交する位置に形成されている。
 また、前記第1のバスバー電極及び前記第2のバスバー電極がライン状に連続したものであり、前記絶縁膜がライン状に連続したものであることが好ましい。
 このような太陽電池であれば、モジュール化した際の信頼性をより高めることができる。
 また、前記第1のバスバー電極及び前記第2のバスバー電極の本数の合計が4本以上、10本以下であることが好ましい。
 このような太陽電池であれば、フィンガー電極の厚みを増加させることなくフィンガー電極の配線抵抗をより減少させることができる。例えばバスバー電極の本数の合計が2本のときに比べて6本のときは配線抵抗を6分の1に、10本のときは配線抵抗を10分の1に低減することができる。
 また、前記絶縁膜が、シリコーン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、フッ素樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、ユリア樹脂、ポリウレタン、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂及びポバール樹脂から一つ以上選択された樹脂を含有する材料からなるものであることが好ましい。
 このような材料からなる絶縁膜であれば、耐熱性に優れる。従って、電極形成において熱処理を実施する場合に、このような絶縁膜とすることが好ましい。
 また、前記絶縁膜の厚みが1~60μmであることが好ましい。
 このような太陽電池であれば、絶縁性をより向上させることができる。また、過度に絶縁膜を形成することもないため、所望の太陽電池をより低コストで製造することができる。
 また、前記第1の集電部、前記第2の集電部、前記第1のバスバー電極及び前記第2のバスバー電極が、Ag、Cu、Au、Al、Zn、In、Sn、Bi、Pbから選択される1種類以上の導電性物質を含有し、さらにエポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、フェノール樹脂、シリコーン樹脂から選択される1種類以上の樹脂を含有する材料からなるものであることが好ましい。
 このような電極材料からなるものであれば、電極を形成するために行う加熱時にこの電極材料がシリコン基板等の半導体基板と直接結合することがなく、コンタクト面積の増加が抑制される。
 更に本発明では、一方の主表面が受光面であり、もう一方の主表面が裏面である第1導電型の半導体基板を備え、該半導体基板の前記裏面において、前記第1導電型の領域と、前記第1導電型と反対の導電型である第2導電型の領域とを有する太陽電池を製造する方法であって、
 前記裏面に、前記第1導電型の領域及び前記第2導電型の領域を形成する工程と、
 前記第1導電型の領域に接合された第1のコンタクト部及び前記第2導電型の領域に接合された第2のコンタクト部を、少なくとも一部にライン状に連続した形状を有するように形成する工程と、
 前記第1のコンタクト部及び前記第2のコンタクト部における前記ライン状に連続した形状を有する部分の上部と側部を覆うように絶縁膜を形成する工程と、
 前記絶縁膜上のみにおいて第1のバスバー電極及び第2のバスバー電極を形成する工程と、
 前記第1のコンタクト部上に、前記第1のバスバー電極と電気的に接合された第1の集電部を形成し、前記第2のコンタクト部上に、前記第2のバスバー電極と電気的に接合された第2の集電部を形成する工程と
を有することを特徴とする太陽電池の製造方法を提供する。
 このような太陽電池の製造方法であればパッシベーション領域が広く、配線抵抗が低く、並列抵抗が高く、変換効率の高い裏面電極型太陽電池を低コストで生産性よく製造することができる。
 なお、本明細書では半導体基板、特に、第1導電型の領域及び第2導電型の領域とコンタクトを形成している電極のことをコンタクト部と定義する。また、バスバー電極とコンタクト部を接続している電極のことを集電部と定義する。また集電部とコンタクト部を総称してフィンガー電極と呼ぶ。集電部は、「ライン部」とも呼ぶことができる。
 また、前記第1のバスバー電極及び第2のバスバー電極を形成する工程と、前記第1の集電部及び第2の集電部を形成する工程とを同時に行うことが好ましい。
 このようにすれば、工程数を更に削減することができ、より低コストで変換効率の高い太陽電池を製造することができる。
 本発明の太陽電池は、絶縁膜を設け、バスバー電極とフィンガー電極を立体構造とすることにより、バスバー電極の本数を増やし、フィンガー電極の長さを短くすることができ、バスバー電極両側のフィンガー電極から集電することができる。その結果、配線抵抗を減少させることができ、曲線因子を増加させることができる。また、コンタクト部上に集電部を形成することで、コンタクト面積を減少しつつ、フィンガー電極の断面積を大きくし、配線抵抗を小さくすることができ、開放電圧を向上させることができる。また、バスバー電極が基板と直接接触していないため、シャントしにくい太陽電池となる。更にはバスバー電極を形成する領域を平坦化することにより、バスバー電極形成時の滲みを抑制できるため、歩留りを向上させることができる。更に、本発明の太陽電池の製造方法は、製造工程数を増やすことなく、そのような太陽電池を製造することができる。
本発明の太陽電池の一例を示す上面模式図である。 本発明の太陽電池の一部分を拡大した拡大図である。 本発明の太陽電池の一部分を拡大した断面模式図である。 本発明の太陽電池の一部分を拡大した断面模式図である。 本発明の太陽電池の一部分を拡大した断面模式図である。 本発明の太陽電池の製造方法の一例を示すフロー図である。 本発明の太陽電池の電極の形成工程を示す平面図である。 本発明の太陽電池の一例を示す上面模式図である。 本発明者らが検討した太陽電池の一例を示す上面模式図である。 本発明者らが検討した太陽電池の一部分を拡大した断面模式図である。 本発明者らが検討した太陽電池の一部分を拡大した断面模式図である。 本発明者らが検討した太陽電池の電極の形成工程を示す平面図である。 本発明者らが検討した太陽電池に発生した不具合の一例を示す裏面の上面模式図である。 従来の裏面電極型太陽電池を模式的に示す断面図である。 従来の裏面電極型太陽電池の裏面の外観を模式的に示す平面図である。 本発明者らが検討した太陽電池の電極の形成工程を示す平面図である。 特許文献1で開示された従来の裏面電極型太陽電池の裏面の外観を模式的に示す平面図である。 本発明の太陽電池の一部分を拡大した拡大図であり、図2に示す太陽電池に対して、集電部の形状を変更したものを示す拡大図である。 本発明の太陽電池の一部分を拡大した拡大図であり、図2に示す太陽電池に対して、集電部の形状を変更したものを示す拡大図である。 本発明の太陽電池の一例を示す上面模式図であり、図8に示す太陽電池に対して、集電部の形状を変更したものを示す模式図である。 本発明の太陽電池の一例を示す上面模式図であり、図8に示す太陽電池に対して、集電部の形状を変更したものを示す模式図である。
 上記のように、パッシベーション領域が広く、配線抵抗が低く、並列抵抗が高く、変換効率の高い太陽電池を提供することが求められている。また、パッシベーション領域が広く、配線抵抗が低く、並列抵抗が高く、変換効率の高い太陽電池を低コストで製造することができる太陽電池の製造方法を提供することが求められている。
 本発明者らは、このような要求を満たす太陽電池を得るために検討を行った。その結果、まず、バスバー電極を従来よりも内側に配置し、異なる導電型用のフィンガー電極とバスバー電極が接しないように絶縁膜を配置し、バスバー電極、及びコンタクト部と集電部とからなるフィンガー電極を立体構造とする太陽電池を検討した。このような太陽電池の一例を図9~11に示す。図9は、本発明者らが検討した太陽電池の一例を示す上面模式図である。図10、11は、本発明者らが検討した太陽電池の一部分を拡大した断面模式図である。なお、図10は、図9に示す太陽電池の1-1’断面図である。また、図11は、図9に示す太陽電池の2-2’断面図である。
 図9に示す太陽電池110では、第1のバスバー電極137、第2のバスバー電極138を複数本設け、フィンガー電極の長さをできるだけ短くすることにより配線抵抗を低減している。この太陽電池には、バスバーを複数本設けるために、異なる導電型用のフィンガー電極とバスバー電極が交差する領域(以下、絶縁領域とも記載する。)のみに絶縁膜124、125が設けられている。これにより、立体構造を簡便に形成している。また、この太陽電池では、絶縁膜の直下以外で第1のコンタクト部126、第2のコンタクト部127の形状を、ドット状等とすることができるので、コンタクト面積を減少させることができる。
 ここで、図10、11に示すように、第1のコンタクト部126は、第1導電型の半導体基板113の裏面に形成された第1導電型の領域120に接合され、その上部には図9に示すように、第1の集電部135が形成されている。一方、第2のコンタクト部127は、第2導電型の領域121に接合され、その上部には図9に示すように、第2の集電部136が形成されている。第1の集電部135は第1のバスバー電極137と、第2の集電部136は、第2のバスバー電極138とそれぞれ電気的に接合されている。その他の構造は、基本的に図14に示す太陽電池と同様であり、受光面側に、凹凸形状114、FSF層115及び反射防止膜116を有し、裏面側に、第1裏面パッシベーション膜119及び第2裏面パッシベーション膜118を有する。
 ここで、図12、16を参照して、バスバー電極とフィンガー電極を立体構造とする太陽電池の製造方法について説明する。図12、図16は、本発明者らが検討した太陽電池の電極の形成工程を示す平面図である。
 図16に示す方法では、コンタクト電極128をドット状に不連続に形成したのち(図16(1))、これらの電極を繋ぐ別の配線電極129を形成し(図16(2))、絶縁領域のみに絶縁膜125´を設け(図16(3))、バスバー電極130を形成する(図16(4))。この場合、上記のように配線電極129を形成する工程が必要となるため、工程が増え、コストが高くなるなどの問題があった。
 図12に示す方法では、第1のコンタクト部126及び第2のコンタクト部127を形成し(図12(1))、絶縁領域のみに絶縁膜124、125を形成した後(図12(2))、第1のバスバー電極137、第2のバスバー電極138の形成時に第2の集電部136、第1の集電部135も同時に形成することができる(図12(3))。これにより、図16に示す方法に比べて、工程数を増加させることなくフィンガー電極の断面積を大きくすることができ、配線抵抗を低減することができる。
 図9に示す太陽電池では、絶縁領域のみに部分的に絶縁膜124、125が形成されている。この結果、バスバー電極を形成する箇所には絶縁膜の形成・非形成部が存在することとなる。この場合、バスバー電極が基板と直接接する領域が多く、シャントしやすくなってしまう。また、絶縁膜は、通常、1~60μmの厚みを有するため、絶縁膜の上部にバスバー電極を形成しようとすると吐出量が不均一となり、図13の破線部に示すように滲みが発生してしまう。ここで、図13は、本発明者らが検討した太陽電池に発生した不具合の一例を示す裏面の上面模式図である。これにより、例えば、P型用のフィンガー電極とN型用のバスバー電極が接することで太陽電池の並列抵抗が減少してしまい、変換効率が大幅に減少してしまうという問題があった。
 本発明者らは、上記問題点を解決するために、更に検討を行った。その結果、バスバー電極の直下の全域に絶縁膜を備え、バスバー電極とフィンガー電極を立体構造とする太陽電池が、上記問題点を解決できることを見出し、本発明の太陽電池を完成させた。また、絶縁膜上のみにおいてバスバー電極を形成し、バスバー電極とフィンガー電極の立体構造を形成する太陽電池の製造方法が、上記問題点を解決できることを見出し、本発明の太陽電池の製造方法を完成させた。
 以下、本発明の太陽電池について図面を参照して具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。なお、以下、第1導電型の半導体基板がN型シリコン基板である場合(すなわち、第1導電型がN型、第2導電型がP型)を中心に説明するが、第1導電型の半導体基板がP型シリコン基板であっても、ボロン、リン等の不純物源を逆に使用すればよく、同様に本発明を適用できる。
[太陽電池(裏面電極型太陽電池セル)]
 図1は、本発明の太陽電池の一例を示す上面模式図である。図2は、本発明の太陽電池の一部分を拡大した拡大図である。また、図3~5は、本発明の太陽電池の一部分を拡大した断面模式図である。なお、図3は、図1に示す太陽電池のa-a’断面図、図4は、図1に示す太陽電池のb-b’断面図、図5は図1に示す太陽電池のc-c’断面図である。
 本発明の太陽電池10は、図1に示すように、一方の主表面を受光面とし、もう一方の主表面を裏面とする第1導電型の半導体基板13を備える。太陽電池10は、図3~5に示すように、この半導体基板が、裏面において、第1導電型の領域(N型拡散層)20と、第1導電型と反対の導電型である第2導電型の領域(P型拡散層)21とを有するものである太陽電池、いわゆる裏面電極型太陽電池である。
 更に、図2~5に示すように、太陽電池10は、第1導電型の領域20に接合された第1のコンタクト部26と、第1のコンタクト部26上に形成された第1の集電部35とからなる第1のフィンガー電極を備える。また、第2導電型の領域21に接合された第2のコンタクト部27と、第2のコンタクト部27上に形成された第2の集電部36とからなる第2のフィンガー電極を備える。また、第1の集電部35と電気的に接合された第1のバスバー電極37を備える。また、第2の集電部36と電気的に接合された第2のバスバー電極38を備える。
 このように、第1の集電部35、第2の集電部36は、それぞれ第1のコンタクト部26、第2のコンタクト部27に接続され、コンタクト部からバスバー電極へ電流を収集することができる。
 この太陽電池10は、図3~5に示すように、第1導電型の半導体基板13の受光面側に凹凸形状14や、FSF層(N型拡散層)15を形成することができる。また、凹凸形状14上には、窒化シリコン等を含む反射防止膜16を形成することができる。FSF層15と反射防止膜16の間に、誘電性パッシベーション層(不図示)を形成することもできる。
 また、第1導電型の半導体基板13の裏面には酸化物層(第1裏面パッシベーション膜)19を形成することができる。酸化物層19上に、第2裏面パッシベーション膜18を形成することもできる。このように受光面及び裏面のそれぞれが、保護膜(パッシベーション膜)で覆われていることが好ましい。パッシベーション膜は、酸化珪素膜、窒化珪素膜及び酸化アルミニウム膜から選択される少なくとも1つ以上からなるものであることが好ましい。
 更に、太陽電池10は、図2に示すように、少なくとも第1のバスバー電極37及び第2のバスバー電極38の直下の全域に絶縁膜24、25を備える。また、絶縁膜24上において、第1の集電部35及び第1のバスバー電極37が電気的に接合されている。また、絶縁膜25上において、第2の集電部36及び第2のバスバー電極38が電気的に接合されている。
 絶縁膜24、25は、通常、第1のバスバー電極37、第2のバスバー電極38の直下のコンタクト部上においては、第1コンタクト部26、第2コンタクト部27の上部及び側部を覆うことができる厚みで形成されている。
 更に、図2~5に示すように、太陽電池10は、少なくとも絶縁膜24、25の直下において、第1のコンタクト部26及び第2のコンタクト部27がライン状に連続したものである。図5に示すように、太陽電池10において、異なる導電型用のバスバー電極とフィンガー電極は絶縁膜24、25を介して物理的に接合することができる。すなわち、異なる導電型用のバスバー電極と集電部は電気的に接合されていない(離間している。)。一方、図5に示すように、同じ導電型用のバスバー電極とフィンガー電極が交差する領域(最隣接部)においては、絶縁膜24、25は、コンタクト部と集電部との間に挟まれている。すなわち、同じ導電型用のバスバー電極と集電部は、絶縁膜上において電気的に接合されている。なお、図5における37(35)は、第1のバスバー電極37と第1の集電部35とが重なり合う(電気的に接合されている)部分を示す。
 
 このような太陽電池であれば、絶縁膜を設けることによって、バスバー電極とフィンガー電極を立体構造とすることができる。これにより、バスバー電極の本数を増やし、フィンガー電極の長さを短くすることができる。また、バスバー電極が直接シリコン基板と接触することがないため、シャントが発生しない。さらに、バスバー電極の直下の全域に絶縁膜が形成されていることにより、バスバー電極形成時の工程不良を発生させることなく、第1のフィンガー電極と第2のバスバー電極をより確実に絶縁し、第2のフィンガー電極と第1のバスバー電極をより確実に絶縁することができる。これにより、並列抵抗が高く、変換効率が高い太陽電池とすることができる。さらに、本発明の太陽電池は、絶縁膜の直下において、基板自体と直接結合するコンタクト部がライン状に連続して形成されたものである。そのため、図16(2)に示すような、コンタクト部同士を接続するための1工程を削減することができ、歩留りが高く安価な太陽電池を製造することができる。
 以下、本発明の太陽電池の各構成についてより詳細に説明する。
[第1導電型の半導体基板]
 本発明に用いることができる半導体基板は特に限定されない。例えば、N型シリコン基板を用いることができる。この場合、基板の厚さは、例えば、100~200μm厚とすることができる。基板の主面の形状及び面積は特に限定されない。
[コンタクト部]
 第1のコンタクト部及び第2のコンタクト部の材料としては、例えば、銀粉末とガラスフリットを有機物バインダで混合した流動性のあるペースト(以下、焼結ペーストとも記載する。)を用いることができる。
 上述のように、絶縁膜の直下において、基板自体と直接結合するコンタクト部がライン状に連続して形成されたものである必要があるが、その他の箇所において、コンタクト部の形状は特に限定されない。例えば、絶縁膜が形成された箇所以外の箇所におけるコンタクト部の形状が、ドット状、ライン状、又はこれらの形状の組み合わせのいずれかであることが好ましい。例えば、当該箇所におけるコンタクト部の形状がドット状であれば、コンタクト面積をより小さくすることができる。これにより、パッシベーション領域を広くし、開放電圧を増加させることができる。
 また、バスバー電極の直下に形成された絶縁膜の幅と長さがバスバー電極よりも大きいことが好ましい。このように設計することで、第1のバスバー電極と第2のコンタクト部を十分に離間することができ、第2のバスバー電極と第1のコンタクト部を十分に離間することができる。また、このような設計により、絶縁膜がコンタクト部の側面を十分に覆うことができる。従って、異なる導電型用の電極間の絶縁を確実に達成することができる。
[絶縁膜]
 絶縁膜は、少なくともバスバー電極の直下の全域に形成されている。絶縁膜の数及び形状等は特に限定されない。図1に示すように、絶縁膜はライン状に連続したものであることが好ましい。絶縁膜の形状の他の一例として、図8に示す形状を挙げることができる。ここで、図8は、本発明の太陽電池の一例を示す上面模式図である。図8では、絶縁膜25´を大きく形成し、図1における絶縁膜24(第1のバスバー電極37の直下の絶縁膜)と絶縁膜25(第2のバスバー電極38の直下の絶縁膜)とを一体化して形成する態様を示している。ただし、電極構造を立体構造とし、同じ導電型用のバスバー電極とフィンガー電極を接触させるため、絶縁膜25´の一部は図8に示したように開口されている。絶縁膜を図8の形状とすれば、コンタクト部とそれ以外の部分の高さが均等となるため、次工程の集電部を印刷で形成する際に位置ずれを回避することができる。図1、図8に示される絶縁膜はバスバー電極が基板と直接接触することを防止し、かつ、バスバー電極を形成する領域の凹凸を減少させることによりバスバー電極の形成時に滲みが発生してシャントすることを防止する。
 なお、絶縁膜は、通常、バスバー電極直下のコンタクト部の側部と上部を覆うように形成されている。絶縁膜は、バスバー電極の幅と長さよりも大きいことが好ましい。
 絶縁膜の厚みは、1~60μmであることが好ましい。より好ましくは5~40μm程度、特に好ましくは10~30μmである。このような厚みとすることにより、絶縁性をより向上させることができる。また、過度に絶縁膜を形成することもないため、所望の太陽電池をより低コストで製造することができる。
 この絶縁膜は、シリコーン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、フッ素樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、ユリア樹脂、ポリウレタン、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂及びポバール樹脂から一つ以上選択された樹脂を含有する材料からなるもの(以下、絶縁材料とも記載する。)であることが好ましい。特に、集電部及びバスバー電極を形成する際、熱処理を実施する場合には、耐熱性樹脂を選択することが望ましい。例えば、シリコーン樹脂の主鎖であるシロキサン結合は、主鎖が炭素骨格からなる有機高分子材料と比較して、結合エネルギーが大きく、安定しているため耐熱性や耐候性に優れている。また、他の樹脂も分子鎖に芳香環を設けることにより高耐熱性を有した材料となる。
[集電部、バスバー電極]
 集電部及びバスバー電極は、Ag、Cu、Au、Al、Zn、In、Sn、Bi、Pbから選択される1種類以上の導電性物質を含有し、さらにエポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、フェノール樹脂、シリコーン樹脂から選択される1種類以上の樹脂を含有する材料からなるものであることが好ましい。このような電極材料からなるものであれば、ガラスフリットを含む必要がないので、加熱時に電極材料がシリコン基板等の半導体基板と直接結合することがなく、コンタクト面積の増加が抑制される。
 バスバー電極の本数は特に限定されないが、その合計が4本以上、10本以下であることが好ましい。これにより、フィンガー電極の配線抵抗を減少し、変換効率を向上することができる。なお、バスバー電極の形状は特に限定されない。例えば、バスバー電極の形状は、バスバー電極の長手方向に分断された不連続の形状とすることができる。バスバー電極の形状としては、ライン状に連続したものであることが好ましい。このような形状であれば、容易に作製することができる。
 また、図1等に示すように、集電部とバスバー電極は直角に交わるように形成することができる。
 なお、第1のフィンガー電極は、通常、第1導電型の領域の長手方向に沿った方向に形成されている。第2のフィンガー電極は、通常、第2導電型の領域の長手方向に沿った方向に形成されている。フィンガー電極は、通常、複数形成されている。
[太陽電池の製造方法]
 図6は、本発明の太陽電池の製造方法の一例を示すフロー図である。以下、図6の(a)~(l)に示す模式的断面図を参照して、本発明の裏面電極型太陽電池の製造方法の一例について説明する。特に、N型シリコン基板の場合を例にとって説明する。また、以下では、第1導電型の領域をN型拡散層、第2導電型の領域をP型拡散層とも記載する。以下で説明する方法は典型例であり、本発明はこれに限定されない。
 まず、一方の主表面が受光面となり、もう一方の主表面が裏面となる第1導電型の半導体基板として、例えば100~200μmの厚さを有するN型シリコン基板13を用意する。このN型シリコン基板13の一方の主表面が受光面となり、もう一方の主表面が裏面となる。次に、図6(a)に示すように、このN型シリコン基板13の受光面となる面(以下「N型シリコン基板の受光面」という。)の反対側の面である裏面(以下「N型シリコン基板の裏面」という。)に、窒化シリコン膜等のテクスチャマスク31をCVD法、またはスパッタ法等で形成する。
 その後、図6(b)に示すように、N型シリコン基板13の受光面にテクスチャ構造である凹凸形状14をエッチングにより形成する。エッチングは、たとえば、水酸化ナトリウムまたは水酸化カリウムなどのアルカリ水溶液にイソプロピルアルコールを添加し、60℃以上80℃以下に加熱した溶液により行われる。
 次に、図6(c)を用いて次工程を説明する。図6(c)に示すように、N型シリコン基板13の裏面に形成したテクスチャマスク31を除去後、N型シリコン基板13の受光面と裏面に酸化シリコン膜等の拡散マスク32、33を形成する。N型拡散層が形成される箇所に、エッチングペーストをスクリーン印刷法などで塗布し、加熱処理によりN型拡散層が形成される箇所の拡散マスク32が除去され、基板が露出する。パターニング処理を行ったエッチングペーストは超音波洗浄し酸処理により除去する。このエッチングペーストは、例えば、エッチング成分としてリン酸、フッ化水素、フッ化アンモニウムおよびフッ化水素アンモニウムからなる群から選択された少なくとも1種を含み、水、有機溶媒および増粘剤を含むものである。この処理は、フォトリソグラフィ法を用いて行ってもよい。
 その後、POClを用いた気相拡散によって、N型シリコン基板13の裏面の露出した箇所に、N型不純物であるリンが拡散してN型拡散層20が形成される。N型拡散層はリン酸などのN型不純物をアルコールや水に溶解させた溶液をスピン塗布し、熱拡散することでも形成が可能である。
 次に、図6(d)に示すように、N型シリコン基板13に形成した拡散マスク32及び拡散マスク33、並びに拡散マスク32、33にリンが拡散して形成されたガラス層をフッ化水素酸処理により除去した後、酸素または水蒸気雰囲気中で熱酸化を行い、酸化シリコン膜34を形成する。
 次に、図6(e)に示すように、N型シリコン基板13の裏面のP型拡散層が形成される箇所に、エッチングペーストをスクリーン印刷法などで塗布し、加熱処理によりP型拡散層が形成される箇所の拡散マスク34が除去され、基板が露出する。パターニング処理を行ったエッチングペーストは超音波洗浄し酸処理により除去する。このエッチングペーストは、例えば、エッチング成分としてリン酸、フッ化水素、フッ化アンモニウムおよびフッ化水素アンモニウムからなる群から選択された少なくとも1種を含み、水、有機溶媒および増粘剤を含むものである。
 図6(f)に示すように、N型シリコン基板13の裏面に、ホウ酸などのP型不純物源をアルコールや水に溶解させた溶液をスピン塗布し、乾燥後、熱処理によりN型シリコン基板13の裏面の露出した箇所にP型不純物であるボロンが拡散してP型拡散層21が形成される。この際、P型拡散層21はBBrなどの気相拡散法によっても形成することができる。
 次に、図6(g)を用いて次工程を説明する。図6(g)に示すように、N型シリコン基板13に形成した酸化シリコン膜34、および酸化シリコン膜34にボロンが拡散して形成されたガラス層をフッ化水素酸処理により除去する。その後、N型シリコン基板13の裏面に酸化シリコン膜等の拡散マスクを兼ねた第1裏面パッシベーション膜19をCVD法、またはSOG(スピンオングラス)の塗布、焼成により形成する。
 その後、図6(h)に示すように、N型シリコン基板13の受光面にリン酸などのN型不純物をアルコールや水に溶解させた溶液をスピン塗布し、熱拡散する手法か、POClによる気相拡散法などにより、受光面拡散層であるn層(FSF層15)を形成してもよい。
 次に、図6(i)に示すように、N型シリコン基板13の裏面に窒化膜等による第2裏面パッシベーション膜18をCVDまたはスパッタ法で形成する。また、表面にも反射防止膜16として、CVDまたはスパッタ法により窒化膜を形成してもよい。
 なお、本発明では、N型シリコン基板の裏面に第1導電型の領域(N型拡散層)20及び第2導電型の領域(P型拡散層)21を形成する方法は、図6(a)~(i)に示す方法に限定されず、適宜変更可能である。
 次に、図6(j)に示すように、N型シリコン基板13の裏面側に形成されたN型拡散層20、P型拡散層21に電極を形成する。
 図7は、本発明の太陽電池の電極の形成工程を示す平面図である。図7に示すように、第1のコンタクト部26、第2のコンタクト部27はシリコン基板とコンタクトを形成する電極である。これらのコンタクト部の電極パターンは、少なくともコンタクト部とバスバー電極が交差する領域において、ライン状に連続したパターンとする必要があるが、その他の箇所では楕円、矩形、ドットなどの不連続な形状でも良いし、ライン状でも良い。また、これらの形状を混在させてもよい。コンタクト部とバスバー電極が交差する領域においてコンタクト部をライン状に形成しておくことにより、その他の箇所において、コンタクト部がどんな形状であっても、例えば、第1のバスバー電極37の直下の第2導電型の領域21で発電した電流も収集することができる。
 また、基板面積に対する第1のコンタクト部、第2のコンタクト部の面積の割合を、それぞれ、1%~6%程度にすることが望ましい。例えば、フィンガー電極間の距離が1.5mmピッチのときは、線幅は14μm~90μmとなる。裏面電極(コンタクト部)のコンタクト面積をできるだけ小さくすることにより、パッシベーション領域が増加し、開放電圧の上昇が見込めるためである。
 このコンタクト部は、例えば、上記のようなライン状等のパターンを有する開口を持ったスクリーン製版を用いて、スクリーン印刷で形成することができる。他にもオフセット印刷や、インクジェット印刷、ディスペンサ、蒸着法などを用いて形成することも可能である。
 図6(j)、図7を参照して、コンタクト部等の具体的な形成方法を説明する。まず、コンタクト部の材料として、上述の焼結ペーストを用い、上記のような印刷法でN型拡散層20上又はP型拡散層21上に焼結ペーストを形成する。次に、この焼結ペーストを5~30分間、700~800℃の温度で焼成して、第1のコンタクト部26又は第2のコンタクト部27を形成することができる。この際、第1導電型の領域20に接合された第1のコンタクト部26及び第2導電型の領域21に接合された第2のコンタクト部27を、少なくとも一部にライン状に連続した形状を有するように形成する(図7(1))。後述のように、このライン状に連続した形状を有する部分において、コンタクト部とバスバー電極が交差する。
 このように、ガラスフリットを含有した焼結ペーストを用いることによって、焼成時にガラスフリットが溶融し、第2裏面パッシベーション膜18及び第1裏面パッシベーション膜19も同時に溶融し、これらの膜を貫通して電極が基板自体と直接結合するように接着する。なお、n電極、p電極(第1のコンタクト部、第2のコンタクト部)は同時に印刷し、同時に焼成してもよいし、印刷、焼成を順次行ってもよい。
 次に絶縁膜の形成について説明する。図6(k)はP型用のバスバー電極(第2のバスバー電極)の断面図、図6(l)はN型用のバスバー電極(第1のバスバー電極)の断面図である。それぞれ、図1に示す太陽電池のa-a’断面図と、b-b’断面図を示している。
 絶縁膜24、25は、第1のコンタクト部26及び第2のコンタクト部27におけるライン状に連続した形状を有する部分の上部と側部を覆うように形成する(図7(2))。
 絶縁膜の材料としては、上述したシリコーン樹脂等の樹脂を含有する材料からなるもの(絶縁材料)を用いることができる。この材料を太陽電池基板上に形成するため、溶剤を添加し流動性を付与したペースト状態のもの(絶縁ペースト)を使用すると良い。流動性があればオフセット印刷やスクリーン印刷、およびディスペンサなどを用いることができる。
 例えば、図7に示すような絶縁膜のパターンを形成するために、このパターンと同様の形状の開口を持ったスクリーン製版を用いることができる。このスクリーン製版を用い、スクリーン印刷により、N型シリコン基板13の所定の位置に絶縁ペーストを塗布し、350℃以下で5分~30分熱処理を行うことで絶縁ペーストを硬化し、絶縁膜を形成することができる(図7(2))。また、絶縁膜を全面に形成したのち、フォトリソグラフィを用いてエッチング処理およびパターン処理を行う方法を用いて、所望の位置に絶縁膜を形成してもよい。
 次に、第1のバスバー電極及び第2のバスバー電極の形成方法について説明する。前述のように、図12に示す作製方法では、バスバー電極が基板に直接触れてシャントしたり、絶縁膜を部分的に形成することによる基板表面の凹凸により、バスバー電極の形成時に滲みが発生して(図13)、絶縁膜からはみ出てしまい、異なる導電型用の電極同士が接続されるなどのおそれがあった。このような不具合が生じると、太陽電池の並列抵抗が低下して変換効率が低下するという問題があった。
 このため、本発明ではこの工程で、絶縁膜24、25上のみにおいて第1のバスバー電極37及び第2のバスバー電極38を形成する。特に、バスバー電極の形状を、図7に示すように、ひとつなぎの長方形とする場合、絶縁膜をひとつなぎの長方形で形成する。すなわち、絶縁膜をバスバー電極の直下に形成する。これにより、バスバー電極を形成する領域の凹凸が小さくなる。本発明では、バスバー電極は、N型シリコン基板13及びコンタクト部とは直接接触せず、両者の間には絶縁膜が挿入されている構造となる。絶縁膜の面積を小さくするとき、絶縁膜とバスバー電極とは同一形状となるが、本発明においては、絶縁膜の幅と長さはバスバー電極よりも大きくすることが好ましい。これにより、バスバー電極と基板はより確実に隔離される。また、バスバー電極を形成する領域の凹凸が減少するため、バスバー電極形成時の滲みを抑制することが可能である。なお、バスバー電極をスクリーン印刷で形成する際、幅方向の滲みを極力抑制するために、印刷方向とバスバー電極の長手方向を略並行にすることが望ましい。
 次に、第1の集電部及び第2の集電部の形成方法について説明する。本発明ではこの工程で、第1のコンタクト部26上に、第1のバスバー電極37と電気的に接合された第1の集電部35を形成し、第2のコンタクト部27上に、第2のバスバー電極38と電気的に接合された第2の集電部36を形成する(図7(3))。
 この際、第1のバスバー電極及び第2のバスバー電極を形成する工程と、第1の集電部及び第2の集電部を形成する工程とを同時に行うことが好ましい。これにより工程数を更に削減することができ、より低コストで変換効率の高い太陽電池を製造することができる。
 なお、スクリーン印刷等の印刷法を用いて集電部を形成する場合、集電部の形状(パターン)は、図18~21に示すような形状とすることが好ましい。図18~21では、集電部を右から左へ印刷することを想定している。一般に、印刷の刷り終わり(例えば、図2及び図8の破線部)は、印刷物が太りやすい。ここで、集電部の形状が、図18~21に示すような形状であれば、集電部の印刷の刷り終わりがコンタクト部上には存在せず、絶縁膜上にのみ存在することとなる。従って、これらの形状であれば、コンタクト部上において、集電部を形成するための印刷物が太るのを防ぎ、集電部線幅がコンタクト部線幅より広がるのを防ぐことができる。その結果、シャントしにくい太陽電池を容易に作製することができる。なお、図18、19は、本発明の太陽電池の一部分を拡大した拡大図であり、図2に示す太陽電池に対して、集電部の形状を変更したものを示す拡大図である。図20、21は、本発明の太陽電池の一例を示す上面模式図であり、図8に示す太陽電池に対して、集電部の形状を変更したものを示す模式図である。
 ここで、バスバー電極の上部にはタブ線と呼ばれるPb-SnなどでコーティングされたCu配線をハンダ付けした後、太陽電池はガラスと封止材の間に封止され、屋外曝露されたときにも出力が維持できるよう、モジュール化される。このためバスバー電極はタブ線との接着力を有していれば、連続していても不連続であっても良い。
 集電部及びバスバー電極を形成するための材料としては、上述のAg、Cu、Au、Al、Zn、In、Sn、Bi、Pbから選択される1種類以上の導電性物質を含有し、さらにエポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、フェノール樹脂、シリコーン樹脂から選択される1種類以上の樹脂を含有する熱硬化ペーストを用いることが望ましい。このような熱硬化ペーストであれば、絶縁膜の材料として好適に用いられる有機物を含む絶縁材料が分解することのない400℃未満の温度で、電極形成のための熱処理を行うことができるためである。
 例えば、スクリーン印刷法で所定の場所に溶剤を添加した熱硬化ペーストを塗布したのち、乾燥させ、350℃以下で5~30分加熱し、硬化させる。この方法では、熱硬化ペーストが、コンタクト部の材料である焼結ペーストのようにガラスフリットを含まないため、加熱時に電極材料(熱硬化ペースト)がシリコン基板と直接結合することがなく、コンタクト面積の増加が抑制される。このような熱硬化樹脂のペーストを用いて、タブ線とバスバー部を接触させてから熱処理を行ってもよい。このようにするとハンダ付けなしでタブ線とバスバー部を接着することができる。
 以下、実施例及び比較例を示して本発明をより具体的に説明するが、本発明はこの実施例に限定されるものではない。
(実施例及び比較例)
 本発明の有効性を確認するため、以下の工程を半導体基板100枚(実施例1、比較例1について50枚ずつ)について行い、太陽電池100枚を作製した。バスバー電極は3組設けた。
 図6に示すように、まず、15cm角、200μm厚のN型シリコン基板13の裏面に、CVD法により窒化シリコン膜を200nm形成し、テクスチャマスク31とした(図6(a))。その後、N型シリコン基板13の受光面にイソプロピルアルコールを添加した水酸化カリウム溶液によりテクスチャ構造(凹凸形状)14を形成した(図6(b))。
 次にN型シリコン基板13の裏面に形成したテクスチャマスク31をフッ酸溶液で除去した後、N型シリコン基板13の受光面と裏面に拡散マスク32、33として酸化シリコン膜を熱酸化により形成した。N型拡散層が形成される箇所に、リン酸を主成分としたエッチングペーストをスクリーン印刷で塗布し、加熱処理によりN型拡散層が形成される箇所の拡散マスク32が除去され、基板を露出させた(図6(c))。パターニング処理を行ったエッチングペーストは超音波洗浄し酸処理により除去した。その後、POClを用いた気相拡散によって、N型シリコン基板13の裏面の露出した箇所に、N型不純物であるリンを拡散させてN型拡散層20を形成した(図6(c))。
 次に、N型シリコン基板13に形成した拡散マスク32及び拡散マスク33、並びに拡散マスク32、33にリンが拡散して形成されたガラス層をフッ化水素酸処理により除去した後、酸素による熱酸化を行い、酸化シリコン膜34を形成した(図6(d))。次に裏面のP型拡散層21が形成される箇所の酸化シリコン膜34をエッチングにより除去した(図6(e))。
 さらに、N型シリコン基板13の裏面に、ホウ酸を含有した水溶液をスピン塗布し、乾燥後、熱処理によりN型シリコン基板13の裏面の露出した箇所にP型不純物であるボロンを拡散してP型拡散層21を形成した(図6(f))。
 次に、図6(g)~(i)に相当する工程として、N型シリコン基板13に形成した酸化シリコン膜34および酸化シリコン膜34にボロンが拡散して形成されたガラス層をフッ化水素酸処理により除去し、続いてCVD法により表面と裏面にパッシベーション膜として窒化シリコン膜を形成した。ここまでの工程は、実施例1及び比較例1で共通して行った。続いて、電極の形成を行った。
[実施例1]
 実施例1では、図2、7に示すようなパターンのコンタクト部、絶縁膜、集電部及びバスバー電極を形成した(図6(j)~(l))。
 まず、幅100μmのライン状のパターンのコンタクト部を形成した。具体的には、拡散層上の所定の箇所にAg粒子、ガラスフリット、バインダー、溶剤からなる導電性ペースト(焼結ペースト)をスクリーン印刷により塗布し、乾燥、700℃、5分の焼成を行い、第1のコンタクト部26及び第2のコンタクト部27を形成した。次に、バスバー電極直下に、上記フィンガー電極(コンタクト部)と直交するように、幅3mm(フィンガー電極長手方向)、長さ150mm(バスバー電極長手方向)の絶縁膜を形成した。絶縁膜の材料として、ポリイミドペーストを用い、このペーストをスクリーン印刷により所定の箇所に塗布し、150℃で、20分加熱し硬化させ、絶縁膜を形成した。
 次に、幅100μmの集電部と、1.2mm幅で長さが148mmのバスバー電極を同時に形成した。集電部とバスバー電極の材料としては、Ag粒子と、熱硬化樹脂からなる導電性ペースト(熱硬化ペースト)を用いた。この熱硬化ペーストをスクリーン印刷により塗布し、乾燥し、200℃で30分間加熱して硬化させ、第1の集電部35、第2の集電部36、第1のバスバー電極37及び第2のバスバー電極38を同時に形成した。
[比較例1]
 比較例1では、図9、12に示すようなパターンのコンタクト部、絶縁膜、集電部及びバスバー電極を形成した。
 まず、幅100μmのライン状のパターンのコンタクト部を形成した。具体的には、拡散層上の所定の箇所にAg粒子、ガラスフリット、バインダー、溶剤からなる導電性ペースト(焼結ペースト)をスクリーン印刷により塗布し、乾燥、700℃、5分の焼成を行い、第1のコンタクト部126及び第2のコンタクト部127を形成した。次に、絶縁領域(異なる導電型用のフィンガー電極とバスバー電極が交差する領域)のみに長さ3mm(フィンガー電極長手方向)、幅500μm(バスバー電極長手方向)の絶縁膜を形成した。絶縁膜の材料として、ポリイミドペーストを用い、このペーストをスクリーン印刷により所定の箇所に塗布し、150℃で、20分加熱し硬化させ、絶縁膜を形成した。
 次に、幅100μmの集電部と、1.2mm幅で長さが148mmのバスバー電極を同時に形成した。集電部とバスバー電極の材料としては、Ag粒子と、熱硬化樹脂からなる導電性ペースト(熱硬化ペースト)を用いた。この熱硬化ペーストをスクリーン印刷により塗布し、乾燥し、200℃で30分間加熱して硬化させ、第1の集電部135、第2の集電部136、第1のバスバー電極137及び第2のバスバー電極138を同時に形成した。
 このようにして作製した太陽電池100枚について、ソーラーシミュレーター(25℃の雰囲気の中、照射強度:1kW/m、スペクトル:AM1.5グローバル)による評価を行った。また、太陽電池の並列抵抗を測定した。結果を表1に示す。表1中には、並列抵抗が1000Ωcmを超えた基板の比率を示した。表1中の変換効率は、実施例1、比較例1それぞれの太陽電池50枚ずつの平均を示すものである。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 表1は、実施例1及び比較例1の実験結果を示す表である。表1に示すように、比較例1では並列抵抗が1000Ωcm以下の割合が多く、変換効率が大きく低下していたが、実施例1では、並列抵抗は十分高く、高い変換効率の太陽電池が得られた。これは、バスバー電極の直下の全域に絶縁膜が形成されているため、バスバー電極と基板が直接接することがなくなったためである。また、絶縁膜表面(バスバー電極を形成する領域)が平坦となり、バスバー電極形成時の滲みを抑制でき、その結果、第1のフィンガー電極及び第2のバスバー電極、並びに第2のフィンガー電極及び第1のバスバー電極がそれぞれ接触しなくなったためである。
 なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。

Claims (8)

  1.  一方の主表面を受光面とし、もう一方の主表面を裏面とする第1導電型の半導体基板を備え、該半導体基板が、前記裏面において、前記第1導電型の領域と、前記第1導電型と反対の導電型である第2導電型の領域とを有するものである太陽電池であって、
     前記第1導電型の領域に接合された第1のコンタクト部と、該第1のコンタクト部上に形成された第1の集電部とからなる第1のフィンガー電極、
     前記第2導電型の領域に接合された第2のコンタクト部と、該第2のコンタクト部上に形成された第2の集電部とからなる第2のフィンガー電極、
     前記第1の集電部と電気的に接合された第1のバスバー電極、及び、
     前記第2の集電部と電気的に接合された第2のバスバー電極
     を備え、
     少なくとも前記第1のバスバー電極及び前記第2のバスバー電極の直下の全域に絶縁膜を備え、該絶縁膜上において、前記第1の集電部及び前記第1のバスバー電極、並びに前記第2の集電部及び前記第2のバスバー電極の前記電気的な接合がされたものであり、
     少なくとも前記絶縁膜の直下において、前記第1のコンタクト部及び前記第2のコンタクト部がライン状に連続したものであることを特徴とする太陽電池。
  2.  前記第1のバスバー電極及び前記第2のバスバー電極がライン状に連続したものであり、前記絶縁膜がライン状に連続したものであることを特徴とする請求項1に記載の太陽電池。
  3.  前記第1のバスバー電極及び前記第2のバスバー電極の本数の合計が4本以上、10本以下であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の太陽電池。
  4.  前記絶縁膜が、シリコーン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、フッ素樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、ユリア樹脂、ポリウレタン、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂及びポバール樹脂から一つ以上選択された樹脂を含有する材料からなるものであることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の太陽電池。
  5.  前記絶縁膜の厚みが1~60μmであることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の太陽電池。
  6.  前記第1の集電部、前記第2の集電部、前記第1のバスバー電極及び前記第2のバスバー電極が、Ag、Cu、Au、Al、Zn、In、Sn、Bi、Pbから選択される1種類以上の導電性物質を含有し、さらにエポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、フェノール樹脂、シリコーン樹脂から選択される1種類以上の樹脂を含有する材料からなるものであることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の太陽電池。
  7.  一方の主表面が受光面であり、もう一方の主表面が裏面である第1導電型の半導体基板を備え、該半導体基板の前記裏面において、前記第1導電型の領域と、前記第1導電型と反対の導電型である第2導電型の領域とを有する太陽電池を製造する方法であって、
     前記裏面に、前記第1導電型の領域及び前記第2導電型の領域を形成する工程と、
     前記第1導電型の領域に接合された第1のコンタクト部及び前記第2導電型の領域に接合された第2のコンタクト部を、少なくとも一部にライン状に連続した形状を有するように形成する工程と、
     前記第1のコンタクト部及び前記第2のコンタクト部における前記ライン状に連続した形状を有する部分の上部と側部を覆うように絶縁膜を形成する工程と、
     前記絶縁膜上のみにおいて第1のバスバー電極及び第2のバスバー電極を形成する工程と、
     前記第1のコンタクト部上に、前記第1のバスバー電極と電気的に接合された第1の集電部を形成し、前記第2のコンタクト部上に、前記第2のバスバー電極と電気的に接合された第2の集電部を形成する工程と
    を有することを特徴とする太陽電池の製造方法。
  8.  前記第1のバスバー電極及び第2のバスバー電極を形成する工程と、前記第1の集電部及び第2の集電部を形成する工程とを同時に行うことを特徴とする請求項7に記載の太陽電池の製造方法。
PCT/JP2015/003326 2014-09-30 2015-07-02 太陽電池及びその製造方法 WO2016051628A1 (ja)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/503,894 US10115840B2 (en) 2014-09-30 2015-07-02 Solar cell and method for producing thereof
SG11201701356WA SG11201701356WA (en) 2014-09-30 2015-07-02 Solar cell and method for producing thereof
CN201580044813.3A CN106575679B (zh) 2014-09-30 2015-07-02 太阳能电池及其制造方法
RU2017105090A RU2017105090A (ru) 2014-09-30 2015-07-02 Солнечный элемент и способ его изготовления
BR112017003016A BR112017003016A2 (pt) 2014-09-30 2015-07-02 célula solar e método para produção da mesma
KR1020177003897A KR102366908B1 (ko) 2014-09-30 2015-07-02 태양전지 및 그 제조 방법
ES15846154T ES2767530T3 (es) 2014-09-30 2015-07-02 Célula solar y método de producción de la misma
EP15846154.1A EP3203530B1 (en) 2014-09-30 2015-07-02 Solar cell and method for producing thereof
PH12017500341A PH12017500341A1 (en) 2014-09-30 2017-02-24 Solar cell and method for producing thereof

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014201269A JP6199839B2 (ja) 2014-09-30 2014-09-30 太陽電池及びその製造方法
JP2014-201269 2014-09-30

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2016051628A1 true WO2016051628A1 (ja) 2016-04-07

Family

ID=55629708

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2015/003326 WO2016051628A1 (ja) 2014-09-30 2015-07-02 太陽電池及びその製造方法

Country Status (13)

Country Link
US (1) US10115840B2 (ja)
EP (1) EP3203530B1 (ja)
JP (1) JP6199839B2 (ja)
KR (1) KR102366908B1 (ja)
CN (1) CN106575679B (ja)
BR (1) BR112017003016A2 (ja)
ES (1) ES2767530T3 (ja)
MY (1) MY180307A (ja)
PH (1) PH12017500341A1 (ja)
RU (1) RU2017105090A (ja)
SG (1) SG11201701356WA (ja)
TW (1) TWI673885B (ja)
WO (1) WO2016051628A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018083722A1 (ja) * 2016-11-07 2018-05-11 信越化学工業株式会社 高光電変換効率太陽電池及び高光電変換効率太陽電池の製造方法
EP3343643A4 (en) * 2016-11-07 2019-01-23 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd METHOD FOR MANUFACTURING HIGHLY EFFICIENT SOLAR CELL

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USD754597S1 (en) * 2013-04-26 2016-04-26 Soliculture, Inc. Solar module
WO2017146214A1 (ja) * 2016-02-26 2017-08-31 京セラ株式会社 太陽電池素子
USD815028S1 (en) * 2016-08-12 2018-04-10 Solaria Corporation Solar cell article
USD810676S1 (en) * 2016-08-12 2018-02-20 Solaria Corporation Solar cell article
USD817264S1 (en) * 2016-08-12 2018-05-08 Solaria Corporation Solar cell article
USD810675S1 (en) * 2016-08-12 2018-02-20 Solaria Corporation Solar cell article
USD815029S1 (en) * 2016-08-12 2018-04-10 Solaria Corporation Solar cell article
JPWO2018078669A1 (ja) 2016-10-25 2018-10-25 信越化学工業株式会社 高光電変換効率太陽電池及び高光電変換効率太陽電池の製造方法
JPWO2018092172A1 (ja) 2016-11-15 2018-11-15 信越化学工業株式会社 高効率太陽電池及び高効率太陽電池の製造方法
CN110024136B (zh) * 2016-12-01 2022-10-04 信越化学工业株式会社 高光电变换效率太阳能电池胞及高光电变换效率太阳能电池胞的制造方法
JP6986726B2 (ja) * 2017-02-28 2021-12-22 アートビーム有限会社 太陽電池および太陽電池の製造方法
JP6875252B2 (ja) * 2017-10-26 2021-05-19 信越化学工業株式会社 ポリイミドペーストの乾燥方法及び高光電変換効率太陽電池の製造方法
JPWO2021020465A1 (ja) * 2019-07-31 2021-02-04
CN111477698A (zh) * 2019-10-22 2020-07-31 国家电投集团西安太阳能电力有限公司 一种ibc太阳能电池的电极制备方法
KR20210103850A (ko) * 2020-02-14 2021-08-24 엘지전자 주식회사 태양 전지, 그리고 태양 전지 패널 및 이의 제조 방법
GB2623679A (en) * 2022-12-06 2024-04-24 Jinko Solar Haining Co Ltd Solar Cell and Photovoltaic Module

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011003724A (ja) * 2009-06-18 2011-01-06 Sanyo Electric Co Ltd 太陽電池モジュール
JP2011134999A (ja) * 2009-12-25 2011-07-07 Kyocera Corp 太陽電池モジュール
JP2012109626A (ja) * 2007-11-22 2012-06-07 Sharp Corp 素子間配線部材およびこれを用いた光電変換素子接続体ならびに光電変換モジュール
JP5093821B2 (ja) * 2007-08-23 2012-12-12 シャープ株式会社 配線基板付き裏面接合型太陽電池、太陽電池ストリングおよび太陽電池モジュール

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5168010A (en) 1974-12-10 1976-06-12 Niigata Engineering Co Ltd Sharyono shudensochi
US20050115602A1 (en) * 2003-11-28 2005-06-02 Kyocera Corporation Photo-electric conversion cell and array, and photo-electric generation system
US20060130891A1 (en) 2004-10-29 2006-06-22 Carlson David E Back-contact photovoltaic cells
US8049099B2 (en) 2006-03-01 2011-11-01 Sanyo Electric Co., Ltd. Solar cell and solar cell module including the same
JP4697194B2 (ja) 2006-10-13 2011-06-08 日立化成工業株式会社 太陽電池セルの接続方法及び太陽電池モジュール
DE102007003682A1 (de) * 2007-01-25 2008-08-07 Institut Für Solarenergieforschung Gmbh Verschaltung von Rückseitenkontaktsolarzellen mit Lötstoplack und Metalldrähten
US7804022B2 (en) 2007-03-16 2010-09-28 Sunpower Corporation Solar cell contact fingers and solder pad arrangement for enhanced efficiency
JP2008282926A (ja) * 2007-05-09 2008-11-20 Sanyo Electric Co Ltd 太陽電池モジュール
JP5252472B2 (ja) * 2007-09-28 2013-07-31 シャープ株式会社 太陽電池、太陽電池の製造方法、太陽電池モジュールの製造方法および太陽電池モジュール
DE102007059486A1 (de) 2007-12-11 2009-06-18 Institut Für Solarenergieforschung Gmbh Rückkontaktsolarzelle mit länglichen, ineinander verschachtelten Emitter- und Basisbereichen an der Rückseite und Herstellungsverfahren hierfür
JP2009206366A (ja) * 2008-02-28 2009-09-10 Sanyo Electric Co Ltd 太陽電池モジュール
KR100974221B1 (ko) 2008-04-17 2010-08-06 엘지전자 주식회사 레이저 어닐링을 이용한 태양전지의 선택적 에미터형성방법 및 이를 이용한 태양전지의 제조방법
CN102742013B (zh) * 2008-08-04 2014-12-17 松下电器产业株式会社 柔性半导体装置的制造方法
JP5289291B2 (ja) 2009-12-01 2013-09-11 デクセリアルズ株式会社 電子部品の製造方法、電子部品および導電性フィルム
JP5214755B2 (ja) 2011-03-03 2013-06-19 シャープ株式会社 裏面電極型太陽電池セル、裏面電極型太陽電池サブセルおよび太陽電池モジュール
KR101103501B1 (ko) 2011-05-30 2012-01-09 한화케미칼 주식회사 태양전지 및 이의 제조방법
US20140352753A1 (en) * 2011-09-29 2014-12-04 Dow Global Technologies Llc Photovoltaic cell interconnect
US10383207B2 (en) * 2011-10-31 2019-08-13 Cellink Corporation Interdigitated foil interconnect for rear-contact solar cells
US20130160825A1 (en) 2011-12-22 2013-06-27 E I Du Pont De Nemours And Company Back contact photovoltaic module with glass back-sheet
JP6065009B2 (ja) 2012-06-29 2017-01-25 パナソニックIpマネジメント株式会社 太陽電池モジュール
JP2014075532A (ja) 2012-10-05 2014-04-24 Panasonic Corp 太陽電池モジュール
KR102124520B1 (ko) * 2013-10-29 2020-06-18 엘지전자 주식회사 태양 전지 모듈 및 그 제조 방법
KR102175893B1 (ko) 2014-02-24 2020-11-06 엘지전자 주식회사 태양 전지 모듈의 제조 방법
CN104064609A (zh) * 2014-05-30 2014-09-24 晶澳(扬州)太阳能科技有限公司 一种背接触太阳能电池组件及其制备方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5093821B2 (ja) * 2007-08-23 2012-12-12 シャープ株式会社 配線基板付き裏面接合型太陽電池、太陽電池ストリングおよび太陽電池モジュール
JP2012109626A (ja) * 2007-11-22 2012-06-07 Sharp Corp 素子間配線部材およびこれを用いた光電変換素子接続体ならびに光電変換モジュール
JP2011003724A (ja) * 2009-06-18 2011-01-06 Sanyo Electric Co Ltd 太陽電池モジュール
JP2011134999A (ja) * 2009-12-25 2011-07-07 Kyocera Corp 太陽電池モジュール

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018083722A1 (ja) * 2016-11-07 2018-05-11 信越化学工業株式会社 高光電変換効率太陽電池及び高光電変換効率太陽電池の製造方法
JP6330108B1 (ja) * 2016-11-07 2018-05-23 信越化学工業株式会社 高光電変換効率太陽電池及び高光電変換効率太陽電池の製造方法
EP3343643A4 (en) * 2016-11-07 2019-01-23 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd METHOD FOR MANUFACTURING HIGHLY EFFICIENT SOLAR CELL
US10236397B2 (en) 2016-11-07 2019-03-19 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Method for producing high-efficiency solar cell
KR20190076975A (ko) * 2016-11-07 2019-07-02 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 고효율 태양전지의 제조 방법
CN110073498A (zh) * 2016-11-07 2019-07-30 信越化学工业株式会社 高光电变换效率太阳能电池及高光电变换效率太阳能电池的制造方法
US11631779B2 (en) 2016-11-07 2023-04-18 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Solar cell with high photoelectric conversion efficiency and method for manufacturing solar cell with high photoelectric conversion efficiency
KR102556599B1 (ko) 2016-11-07 2023-07-17 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 고효율 태양전지의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
CN106575679A (zh) 2017-04-19
CN106575679B (zh) 2018-08-31
TWI673885B (zh) 2019-10-01
EP3203530A1 (en) 2017-08-09
JP6199839B2 (ja) 2017-09-20
RU2017105090A (ru) 2018-11-02
TW201626584A (zh) 2016-07-16
BR112017003016A2 (pt) 2017-12-12
MY180307A (en) 2020-11-28
KR102366908B1 (ko) 2022-02-23
PH12017500341A1 (en) 2017-07-17
ES2767530T3 (es) 2020-06-17
JP2016072467A (ja) 2016-05-09
EP3203530B1 (en) 2019-12-04
KR20170057231A (ko) 2017-05-24
US10115840B2 (en) 2018-10-30
US20170170338A1 (en) 2017-06-15
EP3203530A4 (en) 2018-04-18
SG11201701356WA (en) 2017-03-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6199839B2 (ja) 太陽電池及びその製造方法
JP6220063B2 (ja) 太陽電池及び太陽電池の製造方法
JP6189971B2 (ja) 太陽電池セルおよび太陽電池モジュール
EP2184787A1 (en) Rear surface bonding type solar cell, rear surface bonding type solar cell having wiring board, solar cell string and soar cell module
WO2014098016A1 (ja) 太陽電池セル及びその製造方法
JP6126219B2 (ja) バックコンタクト型太陽電池セル
JP2009253096A (ja) 太陽電池セルの製造方法および太陽電池モジュールの製造方法ならびに太陽電池モジュール
JP2005252108A (ja) 太陽電池モジュール
JP2015159276A (ja) 太陽電池素子および太陽電池モジュール
JP2013048146A (ja) 太陽電池モジュール
WO2012128284A1 (ja) 裏面電極型太陽電池、裏面電極型太陽電池の製造方法及び太陽電池モジュール
WO2013094556A1 (ja) 配線シート付き太陽電池セル、太陽電池モジュールおよび太陽電池セルの製造方法
JP2017139351A (ja) 太陽電池素子の製造方法および太陽電池素子
JPWO2015072241A1 (ja) 光電変換素子モジュール及び光電変換素子モジュールの製造方法
JP6455099B2 (ja) 太陽電池ユニット及び太陽電池ユニットの製造方法
WO2018083721A1 (ja) 高効率太陽電池の製造方法
JP2000058895A (ja) 光起電力素子及びモジュ―ル
JP5920130B2 (ja) 太陽電池の製造方法
KR20130055195A (ko) 태양전지 모듈 및 이의 제조방법
CN106784104B (zh) 一种背接触太阳能电池串及其制备方法和组件、系统
JP2014220462A (ja) 太陽電池の製造方法
JP2011165805A (ja) 太陽電池の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 15846154

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20177003897

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 15503894

Country of ref document: US

REEP Request for entry into the european phase

Ref document number: 2015846154

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2015846154

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 12017500341

Country of ref document: PH

REG Reference to national code

Ref country code: BR

Ref legal event code: B01A

Ref document number: 112017003016

Country of ref document: BR

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2017105090

Country of ref document: RU

Kind code of ref document: A

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 112017003016

Country of ref document: BR

Kind code of ref document: A2

Effective date: 20170215