WO2014024338A1 - 部品実装基板の製造方法及び製造システム - Google Patents

部品実装基板の製造方法及び製造システム Download PDF

Info

Publication number
WO2014024338A1
WO2014024338A1 PCT/JP2013/001108 JP2013001108W WO2014024338A1 WO 2014024338 A1 WO2014024338 A1 WO 2014024338A1 JP 2013001108 W JP2013001108 W JP 2013001108W WO 2014024338 A1 WO2014024338 A1 WO 2014024338A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
solder
electronic component
thermosetting resin
space
resist
Prior art date
Application number
PCT/JP2013/001108
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
本村　耕治
新 岸
弘樹 圓尾
康寛 鈴木
宏典 宗像
Original Assignee
パナソニック株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by パナソニック株式会社 filed Critical パナソニック株式会社
Priority to JP2013552044A priority Critical patent/JP5899517B2/ja
Priority to CN201380001276.5A priority patent/CN103797901B/zh
Priority to US14/119,148 priority patent/US9237686B2/en
Publication of WO2014024338A1 publication Critical patent/WO2014024338A1/ja

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04—Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/046—Surface mounting
    • H05K13/0465—Surface mounting by soldering
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341—Surface mounted components
    • H05K3/3431—Leadless components
    • H05K3/3442—Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L24/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L24/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/98—Methods for disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3452—Solder masks
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3463—Solder compositions in relation to features of the printed circuit board or the mounting process
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814—Conductive parts
    • H01L21/4846—Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
    • H01L21/4867—Applying pastes or inks, e.g. screen printing
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/0401—Bonding areas specifically adapted for bump connectors, e.g. under bump metallisation [UBM]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554—External layer
    • H01L2224/05541—Structure
    • H01L2224/05548—Bonding area integrally formed with a redistribution layer on the semiconductor or solid-state body
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554—External layer
    • H01L2224/0556—Disposition
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • H01L2224/061—Disposition
    • H01L2224/0618—Disposition being disposed on at least two different sides of the body, e.g. dual array
    • H01L2224/06181—On opposite sides of the body
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • H01L2224/061—Disposition
    • H01L2224/0618—Disposition being disposed on at least two different sides of the body, e.g. dual array
    • H01L2224/06183—On contiguous sides of the body
    • H01L2224/06187—On contiguous sides of the body with specially adapted redistribution layers [RDL]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161—Disposition
    • H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/16235—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a via metallisation of the item
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/29001—Core members of the layer connector
    • H01L2224/29099—Material
    • H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
    • H01L2224/29199—Material of the matrix
    • H01L2224/2929—Material of the matrix with a principal constituent of the material being a polymer, e.g. polyester, phenolic based polymer, epoxy
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/29001—Core members of the layer connector
    • H01L2224/29099—Material
    • H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
    • H01L2224/29298—Fillers
    • H01L2224/29299—Base material
    • H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805—Shape
    • H01L2224/4809—Loop shape
    • H01L2224/48091—Arched
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481—Disposition
    • H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732—Location after the connecting process
    • H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73257—Bump and wire connectors
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/8119—Arrangement of the bump connectors prior to mounting
    • H01L2224/81192—Arrangement of the bump connectors prior to mounting wherein the bump connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/8138—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
    • H01L2224/81399—Material
    • H01L2224/81498—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
    • H01L2224/81499—Material of the matrix
    • H01L2224/8159—Material of the matrix with a principal constituent of the material being a polymer, e.g. polyester, phenolic based polymer, epoxy
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/8138—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
    • H01L2224/81399—Material
    • H01L2224/81498—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
    • H01L2224/81598—Fillers
    • H01L2224/81599—Base material
    • H01L2224/816—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/818—Bonding techniques
    • H01L2224/81801—Soldering or alloying
    • H01L2224/81815—Reflow soldering
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/818—Bonding techniques
    • H01L2224/8185—Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
    • H01L2224/81855—Hardening the adhesive by curing, i.e. thermosetting
    • H01L2224/81862—Heat curing
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/818—Bonding techniques
    • H01L2224/8185—Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
    • H01L2224/81885—Combinations of two or more hardening methods provided for in at least two different groups from H01L2224/81855 - H01L2224/8188, e.g. for hybrid thermoplastic-thermosetting adhesives
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838—Bonding techniques
    • H01L2224/83886—Involving a self-assembly process, e.g. self-agglomeration of a material dispersed in a fluid
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013—Alloys
    • H01L2924/0132—Binary Alloys
    • H01L2924/01322—Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09—Shape and layout
    • H05K2201/09818—Shape or layout details not covered by a single group of H05K2201/09009 - H05K2201/09809
    • H05K2201/099—Coating over pads, e.g. solder resist partly over pads
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10954—Other details of electrical connections
    • H05K2201/10977—Encapsulated connections
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Definitions

  • the present invention relates to a component mounting board manufacturing method and manufacturing system, and more particularly to a technique for mounting electronic components on a wiring board.
  • solder for bonding has been formed in a fillet shape in order to increase the bonding strength between the wiring board and the electronic component.
  • the solder formed in a fillet shape is called a solder fillet.
  • the solder fillet alone is not sufficient for improving the bonding strength.
  • solder paste containing a low melting point solder and a thermosetting resin as a bonding material (see, for example, Patent Document 1).
  • a solder fillet is formed during mounting using this solder paste, a cured resin film 104 is formed on the solder fillet 103 as shown in FIG. 9 (see, for example, Patent Document 2).
  • the solder paste is heated to melt the solder and soften the thermosetting resin.
  • solder and the thermosetting resin are separated, whereby the solder having a large specific gravity moves downward to form the solder fillet 103, and the thermosetting resin having a small specific gravity moves upward to move the resin cured film. 104 is formed. Therefore, the solder fillet 103 is reinforced by the resin cured film 104, and as a result, the bonding strength is improved.
  • the repair process is a process of removing the mounted electronic component from the wiring board and then mounting a new electronic component on the wiring board again.
  • the removal of the electronic component is performed using an apparatus such as a suction nozzle in a state where the solder fillet is melted and the resin cured film is softened while heating the joining portion (solder fillet and resin cured film).
  • the solder 105 and the thermosetting material are formed on the surface of the wiring board 101 as shown in FIG.
  • the resin 106 remains in contact with each other.
  • the solder 105 and the thermosetting resin 106 remain mixed on the surface of the wiring board 101.
  • the thermosetting resin is mixed in the newly formed solder fillet, and as a result, there is a bonding failure between the wiring board 101 and the new electronic component. There was a risk of it occurring.
  • an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a component mounting board that has a high bonding strength between a wiring board and an electronic component and that hardly causes a bonding failure between the wiring board and the electronic component when a repair process is performed. Is to provide a system.
  • the manufacturing method and the manufacturing system according to the present invention are a method and a system for manufacturing a component mounting board in which an electronic component is mounted on a wiring board, respectively.
  • the wiring substrate includes an insulating substrate, a wiring layer formed on the surface of the insulating substrate, and a resist that covers the wiring layer.
  • the resist is formed with an opening that exposes a bonding surface where the terminals of the electronic component are electrically bonded in the surface of the wiring layer.
  • the manufacturing method includes an applying step for applying a solder paste, a mounting step for mounting an electronic component, and a heating step for heating the solder paste.
  • a solder paste containing solder and a thermosetting resin is applied to the joint surface.
  • the electronic component is mounted on the wiring board so that the terminal of the electronic component covers the entire opening and contacts the solder paste applied to the joint surface.
  • the solder paste applied to the joint surfaces is heated to melt the solder and soften the thermosetting resin, and then cure the thermosetting resin.
  • the electronic component comes close to the surface of the resist and the solder and the thermosetting resin are separated.
  • the solder collects in the first space in the opening closed by the wiring layer and the electronic component
  • the thermosetting resin collects in the second space formed by the upper surface of the resist and the side surface of the electronic component.
  • the manufacturing system includes an applying device for applying a solder paste, a mounting device for mounting an electronic component, and a heating device for heating the solder paste.
  • the applying device applies a solder paste containing solder and a thermosetting resin to the joint surface.
  • the mounting device mounts the electronic component on the wiring board so that the terminal of the electronic component covers the entire opening and contacts the solder paste applied to the joint surface.
  • the heating device heats the solder paste applied to the joint surface, thereby melting the solder and softening the thermosetting resin, and then curing the thermosetting resin. Due to the melting of the solder and the softening of the thermosetting resin by the heating device, the electronic component comes close to the surface of the resist and the solder and the thermosetting resin are separated. As a result, the solder collects in the first space in the opening closed by the wiring layer and the electronic component, and the thermosetting resin collects in the second space formed by the upper surface of the resist and the side surface of the electronic component.
  • the bonding strength between the wiring board and the electronic component is high, and when a repair process is performed, a bonding failure occurs between the wiring board and the electronic component. Difficult component mounting boards can be manufactured.
  • FIG. 3 is an enlarged view of a region III shown in FIG. 2. It is the block diagram which showed the manufacturing line which comprises the manufacturing system which concerns on one Embodiment of this invention. It is sectional drawing which showed the specific structure of the manufacturing line. It is sectional drawing for demonstrating the position (mounting position) on the wiring board in which an electronic component is mounted by the mounting apparatus with which a manufacturing line is provided.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view for explaining a state of a wiring board when an electronic component is removed in a repair process for the component mounting board shown in FIG. 1. It is sectional drawing which showed the conventional component mounting board
  • the manufactured component mounting board includes a wiring board and electronic components mounted on the wiring board.
  • the wiring substrate includes an insulating substrate, a wiring layer formed on the surface of the insulating substrate, and a resist that covers the wiring layer. An opening is formed in the resist, and the opening exposes the bonding surface of the surface of the wiring layer where the terminal of the electronic component is electrically bonded from the resist, while the entire opening is covered with the terminal.
  • the first space in the opening closed by the wiring layer and the electronic component is filled with solder, and the terminal and the joint surface are electrically joined to each other by the solder.
  • no thermosetting resin is present in the first space.
  • the amount is about 5 vol%.
  • a cured product of the thermosetting resin mechanically joins the resist and the electronic component to each other.
  • no solder is present in the second space.
  • the amount is about 5 vol%.
  • thermosetting resin mechanically joins the resist and the electronic component to each other.
  • solder there is no solder in the third space.
  • the amount is about 5 vol%.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a component mounting board.
  • the component mounting board 10 includes a wiring board 1 and an electronic component 2 mounted on the wiring board 1.
  • the wiring substrate 1 includes an insulating substrate 11, a wiring layer 12 (wiring pattern) formed on the surface 11 a of the insulating substrate 11, and a solder resist 13 that covers the wiring layer 12.
  • the electronic component 2 has a component main body 20 composed of passive elements such as capacitor elements, and two electrode layers 21 formed at both ends of the component main body 20 (the right end portion and the left end portion in FIG. 1). is doing. A part of each electrode layer 21 extends on the lower surface of the component body 20. Therefore, in the electronic component 2, two terminals exposed on the lower surface of the electronic component 2 are configured by the electrode layer 21.
  • the solder resist 13 has two openings 14 corresponding to the electrode layers 21 one by one.
  • the opening 14 exposes, from the solder resist 13, the bonding surface 12 a to which the electrode layer 21 is electrically bonded in the surface of the first wiring layer 12.
  • each opening 14 is entirely covered with an electrode layer 21 corresponding to the opening 14.
  • the space in the opening 14 is a space (first space 31) closed by the wiring layer 12 and the electronic component 2.
  • the first space 31 is filled with the solder 41, and the electrode layer 21 and the joint surface 12 a are electrically joined to each other by the solder 41.
  • no thermosetting resin is present in the first space 31.
  • the amount is about 5 vol%.
  • solder 41 for example, Sn—Bi or Sn—Bi—Ag low melting point solder is used.
  • a cured product 42 of a thermosetting resin exists in the second space 32 formed by the upper surface of the solder resist 13 and the side surface of the electronic component 2.
  • no solder is present in the second space 32.
  • the amount thereof is about 5 vol%.
  • the cured product 42 fills a corner formed by the solder resist 13 and the electronic component 2 in the second space 32 and spreads in a fillet shape around the corner.
  • the cured product 42 mechanically joins the solder resist 13 and the electronic component 2 to each other in the second space 32.
  • an epoxy resin is used as the thermosetting resin constituting the cured product 42.
  • a cured product 43 of a thermosetting resin exists in the third space 33 formed by the upper surface of the solder resist 13 and the lower surface of the component main body 20. Therefore, the cured product 43 is interposed between the upper surface of the solder resist 13 and the lower surface of the component main body 20.
  • no solder is present in the third space 33.
  • the amount thereof is about 5 vol%.
  • the cured product 43 mechanically joins the solder resist 13 and the electronic component 2 to each other in the third space 33.
  • the third space 33 is formed between the two electrode layers 21.
  • the thermosetting resin that constitutes the cured product 43 is the same resin as the thermosetting resin that constitutes the cured product 42.
  • the entire opening 14 is covered with the electrode layer 21 corresponding to the opening 14. Therefore, the size of each opening 14 is smaller than the size of the opening 107 (see FIG. 9) of the conventional component mounting board corresponding to the opening 14. Specifically, the ratio of the area of each opening 14 to the area of the lower surface of the electrode layer 21 corresponding to the opening 14 is 50 to 100%. As shown in FIG. 9, in the conventional component mounting substrate, a part of each opening 107 is only covered with the electronic component 102.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing another example of a component mounting board.
  • FIG. 3 is an enlarged view of region III shown in FIG.
  • the component mounting board 310 includes a wiring board 301 and a land grid array (LGA) type electronic component 302 mounted on the wiring board 301.
  • the electronic component 302 includes a substrate 320, a semiconductor element 321 mounted on the substrate 320, and an exterior body 322 that covers the semiconductor element 321 on the substrate 320.
  • LGA land grid array
  • the substrate 320 has a plurality of first planar electrodes 323 (lands) formed on the upper surface and a plurality of second planar electrodes 324 (lands) formed on the lower surface.
  • the second planar electrodes 324 are arranged in a grid.
  • a terminal (not shown) of the semiconductor element 321 is electrically connected to the first planar electrode 323.
  • each first planar electrode 323 and the corresponding second planar electrode 324 are electrically connected to each other by a conductive via 325 that penetrates the substrate 320 from its upper surface to its lower surface. Yes.
  • the second planar electrode 324 constitutes a plurality of terminals exposed on the lower surface of the electronic component 302.
  • the wiring substrate 301 includes an insulating substrate 311, a wiring layer 312 formed on the surface 311 a of the insulating substrate 311, and a solder resist 313 covering the wiring layer 312.
  • a plurality of openings 314 corresponding to the second planar electrodes 324 one by one are formed.
  • the opening 314 exposes, from the solder resist 313, the bonding surface 312 a to which the second planar electrode 324 is electrically bonded in the surface of the wiring layer 312.
  • each opening 314 is entirely covered with a second planar electrode 324 corresponding to the opening 314.
  • the space in the opening 314 is a space (first space 331) closed by the wiring layer 312 and the electronic component 302.
  • the first space 331 is filled with the solder 341, and the second flat electrode 324 and the joint surface 312a are electrically joined to each other by the solder 341.
  • no thermosetting resin is present in the first space 331.
  • the amount is about 5 vol%.
  • solder 341 for example, Sn-Bi-based or Sn-Bi-Ag-based low melting point solder is used.
  • a cured product 342 of a thermosetting resin exists in the second space 332 formed by the upper surface of the solder resist 313 and the side surface of the electronic component 302.
  • no solder is present in the second space 332.
  • the amount thereof is about 5 vol%.
  • the cured product 342 fills the corner formed by the solder resist 313 and the electronic component 302 in the second space 332 and spreads in a fillet shape around the corner.
  • the cured product 342 mechanically joins the solder resist 313 and the electronic component 302 to each other in the second space 332.
  • an epoxy resin is used as the thermosetting resin constituting the cured product 342.
  • thermosetting resin constituting the cured product 343 is the same resin as the thermosetting resin constituting the cured product 342.
  • each opening 314 is smaller than the size of the opening of a conventional component mounting board having an LGA type electronic component. Specifically, the ratio of the area of each opening 314 to the area of the lower surface of the second planar electrode 324 corresponding to the opening 314 is 50 to 100%.
  • the manufacturing method and the manufacturing system according to the present invention are a method and a system for manufacturing a component mounting board in which an electronic component is mounted on a wiring board, respectively.
  • the wiring substrate includes an insulating substrate, a wiring layer formed on the surface of the insulating substrate, and a resist that covers the wiring layer.
  • the resist is formed with an opening that exposes a bonding surface where the terminals of the electronic component are electrically bonded in the surface of the wiring layer.
  • the manufacturing method includes an applying step for applying a solder paste, a mounting step for mounting an electronic component, and a heating step for heating the solder paste.
  • a solder paste containing solder and a thermosetting resin is applied to the joint surface.
  • the electronic component is mounted on the wiring board so that the terminal of the electronic component covers the entire opening and contacts the solder paste applied to the joint surface.
  • the electronic component is usually mounted on the wiring board with its lower surface being separated from the resist surface.
  • the solder paste applied to the joint surfaces is heated to melt the solder and soften the thermosetting resin, and then cure the thermosetting resin.
  • coating process mentioned above, a mounting process, and a heating process are processes performed by the application
  • the manufacturing system includes an applying device for applying a solder paste, a mounting device for mounting an electronic component, and a heating device for heating the solder paste.
  • the applying device applies a solder paste containing solder and a thermosetting resin to the joint surface.
  • the mounting device mounts the electronic component on the wiring board so that the terminal of the electronic component covers the entire opening and contacts the solder paste applied to the joint surface.
  • the mounting apparatus normally mounts the electronic component on the wiring board in a state where the lower surface thereof is separated from the surface of the resist.
  • the heating device heats the solder paste applied to the joint surface, thereby melting the solder and softening the thermosetting resin, and then curing the thermosetting resin.
  • the electronic component comes close to the surface of the resist and the solder and the thermosetting resin are separated due to melting of the solder by heating to the solder paste and softening of the thermosetting resin.
  • the solder collects in the first space in the opening closed by the wiring layer and the electronic component
  • the thermosetting resin collects in the second space formed by the upper surface of the resist and the side surface of the electronic component.
  • the thermosetting resin collects in a third space formed by the upper surface of the resist and the lower surface of the electronic component.
  • thermosetting resin is cured by further heating to the solder paste. Thereafter, the solder is solidified in the cooling process. As a result, the wiring board and the electronic component are electrically joined to each other in the first space by the solidified solder. Moreover, when the thermosetting resin is cured, a cured product is formed in the second space and the third space. And with this hardened
  • the first space and the second space, and the first space and the third space are blocked by the electronic components.
  • the second space and the third space are formed at positions separated from the first space along the upper surface of the resist. Therefore, the cured product in the second space and the cured product in the third space do not come into contact with the solder in the first space.
  • thermosetting resin hardly mixes in the solder. Therefore, even when a repair process is performed on the component mounting board, defective bonding is unlikely to occur between the wiring board and the new electronic component.
  • the wiring board and the electronic component are joined to each other in the first space by solder.
  • the wiring board and the electronic component are joined to each other by a cured product of a thermosetting resin in the second space and the third space. Therefore, in the component mounting board, the bonding strength between the wiring board and the electronic component is high.
  • the solder paste is applied to the bonding surface so that the total volume of the solder contained in the solder paste on the bonding surface is substantially the same as the volume of the first space ( Application step and application device).
  • the ratio of the total solder volume to the volume of the first space is preferably 95 to 100%. This prevents the thermosetting resin from being mixed into the solder in the first space, and as a result, the occurrence of poor bonding is prevented.
  • the solder is prevented from overflowing from the opening and mixed into the cured product in the second space, and as a result, a decrease in bonding strength is prevented.
  • FIG. 1 a manufacturing system for manufacturing the component mounting board 10 shown in FIG. 1 will be specifically described with reference to the drawings.
  • the manufacturing system described below can also be applied to the manufacture of the component mounting board 310 shown in FIG.
  • FIG. 4 is a block diagram showing a production line constituting the production system according to the present embodiment.
  • the production line includes a substrate supply device 201 for supplying the wiring substrate 1, a solder paste applying device 202, a mounting device 203 for mounting the electronic component 2 on the wiring substrate 1, a heating device 204, A recovery device 205 that recovers the manufactured component mounting board 10 and a transfer device 206 that transfers the wiring board 1 between these devices are provided.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing a specific configuration of the production line.
  • the transport device 206 is configured by a conveyor having the transport belt 6.
  • the transport device 206 is not limited to a conveyor, and various devices having a transport function can be used.
  • the wiring substrate 1 supplied from the substrate supply device 201 is placed on the transport belt 6.
  • a magazine type substrate loader is used for the substrate supply device 201.
  • the solder paste applying device 202 applies a solder paste 4 containing solder and a thermosetting resin to the wiring board 1. Specifically, the solder paste applying device 202 supplies the solder paste 4 to the bonding surface 12 a by supplying the solder paste 4 to the opening 14. At this time, the solder paste application device 202 has the total volume of solder contained in the solder paste 4 on each joint surface 12a substantially equal to the volume of the first space 31 (see FIG. 1) corresponding to the joint surface 12a. Thus, the solder paste 4 is supplied to the opening 14.
  • the ratio of the total solder volume to the volume of the first space 31 is preferably 95 to 100%.
  • the size of the opening 14 is smaller than the size of the opening 107 (see FIG. 9) of the conventional component mounting board. Therefore, if the thickness of the solder resist 13 is the same as the thickness of the solder resist 110 (see FIG. 9) of the conventional component mounting board, the following problem occurs. That is, when the same amount of solder paste 4 applied to each opening 107 in the manufacturing process of the conventional component mounting substrate is applied to each opening 14, the solder contained in the applied solder paste 4 Is larger than the volume of the first space 31 corresponding to the opening 14. For this reason, in the component mounting board to be manufactured, the solder overflows from the first space 31, and the solder and the thermosetting resin come into contact with each other.
  • the thickness of the solder resist 13 is set large so that the volume of each first space 31 matches the total volume of the solder. Specifically, this thickness is 30 to 70 ⁇ m.
  • the amount of solder paste 4 applied to each opening 14 is adjusted to be small by the solder paste applying device 202 so that the total volume of the solder matches the volume of each first space 31.
  • the solder paste 4 may be prepared so that the solder content in the solder paste 4 is reduced so that the total volume of the solder matches the volume of each first space 31.
  • solder and the thermosetting resin constituting the solder paste 4 for example, Sn-Bi or Sn-Bi-Ag low melting point solder and epoxy resin are used, respectively.
  • the solder paste 4 may contain an activator or a thixotropic agent as necessary.
  • the solder and the thermosetting resin are not limited to these materials.
  • the epoxy resin is suitable as a thermosetting resin to be used because it is easy to handle, the strength of the cured product is high, and the curing characteristics are good.
  • a screen printing device is used as the solder paste applying device 202.
  • FIG. 5 shows a mask 7 for screen printing.
  • the solder paste applying device 202 may be a printing device (for example, an ink jet printer) having a printing nozzle or a coating device having a coating head (needle or nozzle) and a dispenser.
  • the mounting device 203 mounts the electronic component 2 at a mounting position on the wiring board 1. As shown in FIG. 6, each electrode layer 21 of the electronic component 2 covers the entire opening 14 corresponding to the electrode layer 21 and is attached to the bonding surface 12 a corresponding to the electrode layer 21 as shown in FIG. 6. The position is such that it contacts the solder paste 4.
  • the mounting device 203 mounts the electronic component 2 on the wiring board 1 in a state where the lower surface of the electrode layer 21 is separated from the surface of the solder resist 13 by a predetermined distance L.
  • the mounting device 203 includes an electronic component supply device and a chip mounter that places the electronic component 2 supplied from the electronic component supply device at the mounting position. Devices such as a tape feeder, a bulk feeder, and a tray feeder can be used as the electronic component supply device. In addition, a device such as a suction nozzle can be used for the chip mounter.
  • the heating device 204 heats the solder paste 4 applied to the bonding surface 12a, thereby melting the solder 41 in the solder paste 4 and softening the thermosetting resin 44 (see FIG. 6) in the solder paste 4.
  • the solder resist 13 has a property that the molten solder 41 hardly adheres to the surface, in other words, a property that it is easy to play the molten solder 41. Therefore, as shown in FIG. 7, the melted solder 41 moves through the gap 8 to a place where the solder resist 13 does not exist (specifically, in the opening 14). In FIG. 7, the movement of the solder 41 is indicated by solid arrows.
  • the solder 41 has a higher specific gravity than the thermosetting resin 44. Accordingly, as shown in FIG. 7, the solder 41 moves downward in the opening 14, whereby the solder 41 is accumulated on the joint surface 12 a. On the other hand, as the solder 41 moves into the opening 14, the thermosetting resin 44 in the opening 14 is driven out of the opening 14. Then, the thermosetting resin 44 moves onto the solder resist 13 through the gap 8. In FIG. 7, the movement of the thermosetting resin 44 is indicated by broken line arrows.
  • the electronic component 2 comes close to the surface of the solder resist 13.
  • Each opening 14 is closed by the electrode layer 21 corresponding to the opening 14, thereby forming a first space 31 (see FIG. 1). Accordingly, a second space 32 and a third space 33 (see FIG. 1) are formed on the solder resist 13. Accordingly, the electronic component 2 blocks the space between the first space 31 and the second space 32 and the space between the first space 31 and the third space 33.
  • the solder 41 is collected in the first space 31, but the thermosetting resin 44 is not included.
  • the amount is about 5 vol%.
  • the thermosetting resin 44 collects in the second space 32 and the third space 33 while the solder 41 is not included. Or even if the solder 41 is contained in the second space 32 and the third space 33, the amount thereof is about 5 vol%.
  • the heating device 204 further heats the solder paste 4 to cure the thermosetting resin 44.
  • the solder 41 is solidified in the cooling process.
  • the wiring board 1 and the electronic component 2 are electrically joined to each other in the first space 31 by the solidified solder 41.
  • the thermosetting resin 44 is cured, whereby cured products 42 and 43 are formed in the second space 32 and the third space 33, respectively.
  • the wiring boards 1 and the electronic component 2 are mechanically joined to each other in the second space 32 and the third space 33 by the cured products 42 and 43.
  • the collection device 205 collects the manufactured component mounting board 10 from the conveyor belt 6.
  • a magazine-type substrate unloader is used for the collection device 205.
  • the electronic component 2 blocks the space between the first space 31 and the second space 32 and the space between the first space 31 and the third space 33. For this reason, the second space 32 and the third space 33 are formed at positions separated from the first space 31 along the upper surface of the solder resist 13. Therefore, the cured product 42 in the second space 32 and the cured product 43 in the third space 33 do not contact the solder 41 in the first space 31.
  • thermosetting resin 44 in the repair process for the component mounting board 10, when the electronic component 2 is removed from the wiring board 1 as shown in FIG. 8, the solder 41 and the thermosetting resin 44 remain on the wiring board 1, but the solder 41 Is located in the first opening 14, and the thermosetting resin 44 is located on the upper surface of the solder resist 13 without contacting the solder 41. For this reason, even when a new electronic component 2 is remounted, the thermosetting resin hardly mixes in the solder. Therefore, even when a repair process is performed on the component mounting board 10, it is difficult for a bonding failure to occur between the wiring board 1 and the new electronic component 2.
  • the wiring board 1 and the electronic component 2 are joined to each other in the first space 31 by the solder 41.
  • the wiring board 1 and the electronic component 2 are joined to each other by the cured product 42 in the second space 32 and are joined to each other by the cured product 43 in the third space 33. Therefore, in the component mounting board 10, the bonding strength between the wiring board 1 and the electronic component 2 is high.
  • the opening 107 exposes the bonding surface 109 on the surface of the wiring layer 108 to which the electronic component 102 is electrically bonded from the solder resist 110.
  • the electronic component 102 is electrically bonded to the bonding surface 109 via the solder fillet 103 with both ends thereof floating from the bonding surface 109. Therefore, when applying the solder paste for forming the solder fillet 103 to the two joint surfaces 109 in the manufacturing process of the conventional component mounting board, the amount of solder paste applied to the two joint surfaces 109 is different from each other. The following phenomenon is likely to occur.
  • both ends of the electronic component 2 are located on the surface of the solder resist 13. Therefore, even if one end of the electronic component 2 is pulled downward, the downward movement of the one end is blocked by the solder resist 13. Therefore, the electronic component 2 is difficult to tilt.
  • each part structure of this invention is not restricted to the said embodiment, A various deformation
  • the substrate supply device 201, the solder paste applying device 202, the mounting device 203, the heating device 204, and the recovery device 205 are configured separately and independently.
  • the present invention is not limited to this.
  • a composite device having these functions may be used.
  • the above-described manufacturing method and manufacturing system can also be applied to the case where a ball grid array (BGA) type electronic component is mounted on a wiring board. Further, the above-described manufacturing method and manufacturing system can also be used to manufacture various component mounting boards that are not limited to the component mounting board 10 shown in FIG. 1 and the component mounting board 310 including the LGA type electronic components shown in FIG. It can be applied.
  • BGA ball grid array
  • the manufacturing system and the manufacturing method according to the present invention can be applied to manufacture of a component mounting board provided in an electronic device such as a liquid crystal display module.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)

Abstract

　配線基板と電子部品との接合強度が高く、且つリペア処理を行った場合に配線基板と電子部品との間に接合不良が生じ難い部品実装基板を製造する方法及びシステムを提供する。電子部品２が実装される配線基板１において、レジスト１３には、配線層１２の表面のうち電子部品２の端子２１が接合される接合面１２ａを露出させる開口１４が形成されている。電子部品２の搭載工程では、端子２１が、開口１４の全体を覆うと共に接合面１２ａに付与された半田ペーストに当着する様に、電子部品２を配線基板１に搭載する。次に、加熱工程において、接合面１２ａに付与された半田ペーストを加熱し、半田を溶融させると共に熱硬化性樹脂を軟化させる。これにより、配線層１２と電子部品２とで閉じられた開口１４内の第１空間３１に半田が集まると共に、レジスト１３の上面と電子部品２の側面とで形成された第２空間３２に熱硬化性樹脂が集まる。

Description

部品実装基板の製造方法及び製造システム
　本発明は、部品実装基板の製造方法及び製造システムに関し、特に配線基板に対して電子部品を実装する技術に関する。
　配線基板に電子部品を電気的に接合するための接合材料として、従来から低融点半田が用いられている。従来、配線基板と電子部品との接合強度を高めるべく、接合を担う半田がフィレット状に形成されていた。尚、フィレット状に形成された半田は、半田フィレットと呼ばれている。しかし、接合強度の向上には半田フィレットだけでは不十分であり、部品実装基板が外部から衝撃を受けた場合、配線基板と電子部品との電気的な接合が破壊されることがある。
　そこで、接合強度を更に向上させるべく、接合材料として、低融点半田と熱硬化性樹脂とを含む半田ペーストを用いることが提案されている（例えば、特許文献１参照）。この半田ペーストを用いて、実装時に半田フィレットを形成した場合、図９に示す様に半田フィレット１０３上に樹脂硬化膜１０４が形成される（例えば、特許文献２参照）。具体的には、電子部品１０２と配線基板１０１との接合面に半田ペーストを付与した後、半田ペーストを加熱することにより、半田を溶融させると共に熱硬化性樹脂を軟化させる。その結果、半田と熱硬化性樹脂とが分離し、これにより、比重の大きい半田は下方に移動して半田フィレット１０３を形成し、比重の小さい熱硬化性樹脂は上方に移動して樹脂硬化膜１０４を形成する。よって、半田フィレット１０３が樹脂硬化膜１０４によって補強され、その結果、接合強度が向上する。
　作製された部品実装基板において、電子部品の実装不良（例えば接合不良）や電子部品自体の不良が判明した場合、部品実装基板に対してリペア処理が施される。ここで、リペア処理は、実装されている電子部品を配線基板から取り外し、その後、新たな電子部品を配線基板に実装し直すという処理である。電子部品の取り外しは、接合部分（半田フィレット及び樹脂硬化膜）を加熱しながら、半田フィレットが溶融すると共に樹脂硬化膜が軟化した状態で、例えば吸着ノズル等の装置を用いて行われる。
特開２０１１－５６５２７号公報 特開２００６－２８７０６０号公報
　しかし、図９に示される従来の部品実装基板に対するリペア処理において、配線基板１０１から電子部品１０２が取り外された場合、図１０に示す様に、配線基板１０１の表面に、半田１０５と熱硬化性樹脂１０６とが互いに接した状態で残存することになる。或いは、配線基板１０１の表面に、半田１０５と熱硬化性樹脂１０６とが互いに混じり合った状態で残存することになる。このため、新たな電子部品が実装し直された場合、新たに形成される半田フィレット内に熱硬化性樹脂が混入し、その結果、配線基板１０１と新たな電子部品との間に接合不良が生じる虞があった。
　そこで、本発明の目的は、配線基板と電子部品との接合強度が高く、且つリペア処理を行った場合に配線基板と電子部品との間に接合不良が生じ難い部品実装基板を製造する方法及びシステムを提供することである。
　本発明に係る製造方法及び製造システムはそれぞれ、配線基板に電子部品が実装された部品実装基板を製造する方法及びシステムである。ここで、配線基板は、絶縁基板と、絶縁基板の表面に形成された配線層と、配線層を覆うレジストとを備えている。そして、レジストには、配線層の表面のうち電子部品の端子が電気的に接合されることとなる接合面を露出させる開口が形成されている。
　本発明に係る製造方法は、半田ペーストを付与する付与工程と、電子部品を搭載する搭載工程と、半田ペーストを加熱する加熱工程とを有している。付与工程では、接合面に、半田と熱硬化性樹脂とを含む半田ペーストを付与する。搭載工程では、電子部品の端子が、開口の全体を覆うと共に接合面に付与された半田ペーストに当着する様に、電子部品を配線基板に搭載する。搭載工程の実行後、加熱工程において、接合面に付与された半田ペーストを加熱することにより、半田を溶融させると共に熱硬化性樹脂を軟化させ、その後、熱硬化性樹脂を硬化させる。加熱工程では、半田の溶融及び熱硬化性樹脂の軟化により、電子部品がレジストの表面に近接すると共に半田と熱硬化性樹脂とが分離する。これにより、配線層と電子部品とで閉じられた開口内の第１空間に半田が集まると共に、レジストの上面と電子部品の側面とで形成された第２空間に熱硬化性樹脂が集まる。
　本発明に係る製造システムは、半田ペーストを付与する付与装置と、電子部品を搭載する搭載装置と、半田ペーストを加熱する加熱装置とを備えている。付与装置は、接合面に、半田と熱硬化性樹脂とを含む半田ペーストを付与する。搭載装置は、電子部品の端子が、開口の全体を覆うと共に接合面に付与された半田ペーストに当着する様に、電子部品を配線基板に搭載する。加熱装置は、接合面に付与された半田ペーストを加熱することにより、半田を溶融させると共に熱硬化性樹脂を軟化させ、その後、熱硬化性樹脂を硬化させる。加熱装置による半田の溶融及び熱硬化性樹脂の軟化により、電子部品がレジストの表面に近接すると共に半田と熱硬化性樹脂とが分離する。これにより、配線層と電子部品とで閉じられた開口内の第１空間に半田が集まると共に、レジストの上面と電子部品の側面とで形成された第２空間に熱硬化性樹脂が集まる。
　本発明に係る部品実装基板の製造方法及び製造システムによれば、配線基板と電子部品との接合強度が高く、且つリペア処理を行った場合に配線基板と電子部品との間に接合不良が生じ難い部品実装基板を製造することが出来る。
　本発明の新規な特徴を添付の特許請求の範囲に記述するが、本発明は、構成及び内容の両方に関し、本発明の他の目的及び特徴と併せ、図面を照合した以下の詳細な説明により更によく理解されるであろう。
本発明に係る製造方法及び製造システムにより作製される部品実装基板の一例を示した断面図である。 本発明に係る製造方法及び製造システムにより作製される部品実装基板の他の例を示した断面図である。 図２に示されるIII領域の拡大図である。 本発明の一実施形態に係る製造システムを構成する製造ラインを示したブロック図である。 製造ラインの具体的構成を示した断面図である。 製造ラインが備える搭載装置により電子部品が搭載される配線基板上の位置（搭載位置）を説明するための断面図である。 製造ラインが備える加熱装置により半田ペーストを加熱したときの、該半田ペーストの状態を説明するための断面図である。 図１に示される部品実装基板に対するリペア処理において、電子部品が取り外されたときの配線基板の状態を説明するための断面図である。 従来の部品実装基板を示した断面図である。 従来の部品実装基板に対するリペア処理において、電子部品が取り外されたときの配線基板の状態を説明するための断面図である。
　先ず、本発明に係る製造方法及び製造システムにより作製される部品実装基板について説明する。
　作製される部品実装基板は、配線基板と、配線基板に実装される電子部品とを備えている。配線基板は、絶縁基板と、絶縁基板の表面に形成された配線層と、配線層を覆うレジストとを備えている。レジストには開口が形成され、その開口は、配線層の表面のうち電子部品の端子が電気的に接合される接合面をレジストから露出させる一方、開口の全体が端子によって覆われている。
　そして、配線層と電子部品とで閉じられた開口内の第１空間が半田によって満たされ、その半田により、端子と接合面とが互いに電気的に接合されている。その一方で、第１空間には熱硬化性樹脂が存在していない。或いは、第１空間に熱硬化性樹脂が存在していたとしても、その量は５ｖｏｌ％程度である。又、レジストの上面と電子部品の側面とで形成された第２空間において、熱硬化性樹脂の硬化物が、レジストと電子部品とを互いに機械的に接合している。その一方で、第２空間には半田が存在していない。或いは、第２空間に半田が存在していたとしても、その量は５ｖｏｌ％程度である。
　更に、レジストの上面と電子部品の下面とで形成された第３空間において、熱硬化性樹脂の硬化物が、レジストと電子部品とを互いに機械的に接合している。その一方で、第３空間には半田が存在していない。或いは、第３空間に半田が存在していたとしても、その量は５ｖｏｌ％程度である。
　以下、上記部品実装基板の具体例について、図面に沿って説明する。
　図１は、部品実装基板の一例を示した断面図である。図１に示す様に、部品実装基板１０は、配線基板１と、配線基板１に実装された電子部品２とを備えている。配線基板１は、絶縁基板１１と、絶縁基板１１の表面１１ａに形成された配線層１２（配線パターン）と、配線層１２を覆うソルダーレジスト１３とを備えている。
　電子部品２は、コンデンサ素子等の受動素子から構成された部品本体２０と、部品本体２０の両端部（図１の紙面において右端部及び左端部）に形成された２つの電極層２１とを有している。各電極層２１は、その一部が部品本体２０の下面に拡がっている。従って、電子部品２においては、電極層２１により、電子部品２の下面に露出した２つの端子が構成されている。
　図１に示す様に、ソルダーレジスト１３には、電極層２１に１つずつ対応する２つの開口１４が形成されている。開口１４は、第１配線層１２の表面のうち電極層２１が電気的に接合される接合面１２ａを、ソルダーレジスト１３から露出させている。一方、各開口１４の全体が、その開口１４に対応する電極層２１により覆われている。これにより、開口１４内の空間は、配線層１２と電子部品２とで閉じられた空間（第１空間３１）となっている。
　そして、第１空間３１が半田４１によって満たされており、該半田４１により、電極層２１と接合面１２ａとが互いに電気的に接合されている。その一方で、第１空間３１には、熱硬化性樹脂が存在していない。或いは、第１空間３１に熱硬化性樹脂が存在していたとしても、その量は５ｖｏｌ％程度である。尚、半田４１には、例えばＳｎ－Ｂｉ系やＳｎ－Ｂｉ－Ａｇ系の低融点半田が用いられている。
　又、図１に示す様に、ソルダーレジスト１３の上面と電子部品２の側面とで形成された第２空間３２に、熱硬化性樹脂の硬化物４２が存在している。その一方で、第２空間３２には、半田が存在していない。或いは、第２空間３２に半田が存在していたとしても、その量は５ｖｏｌ％程度である。具体的には、硬化物４２は、第２空間３２において、ソルダーレジスト１３と電子部品２とで形成された隅を埋めると共に、その隅の周囲へフィレット状に拡がっている。斯くして、硬化物４２は、第２空間３２において、ソルダーレジスト１３と電子部品２とを互いに機械的に接合している。尚、硬化物４２を構成する熱硬化性樹脂には、例えばエポキシ樹脂が用いられている。
　更に、ソルダーレジスト１３の上面と部品本体２０の下面とで形成された第３空間３３に、熱硬化性樹脂の硬化物４３が存在している。従って、硬化物４３は、ソルダーレジスト１３の上面と部品本体２０の下面との間に介在している。その一方で、第３空間３３には、半田が存在していない。或いは、第３空間３３に半田が存在していたとしても、その量は５ｖｏｌ％程度である。斯くして、硬化物４３は、第３空間３３において、ソルダーレジスト１３と電子部品２とを互いに機械的に接合している。尚、本実施形態においては、第３空間３３は、２つの電極層２１の間に形成されている。又、硬化物４３を構成する熱硬化性樹脂は、硬化物４２を構成する熱硬化性樹脂と同じ樹脂である。
　上記部品実装基板１０においては、各開口１４の全体が、その開口１４に対応する電極層２１により覆われている。従って、各開口１４の大きさは、その開口１４に相当する従来の部品実装基板の開口１０７（図９参照）の大きさに比べて小さい。具体的には、各開口１４の面積の、その開口１４に対応する電極層２１の下面の面積に対する割合は、５０～１００％である。尚、図９に示す様に、従来の部品実装基板においては、各開口１０７の一部が電子部品１０２によって覆われているに過ぎない。
　図２は、部品実装基板の他の例を示した断面図である。図３は、図２に示されるIII領域の拡大図である。図２に示す様に、部品実装基板３１０は、配線基板３０１と、配線基板３０１に実装されたランドグリッドアレイ（ＬＧＡ）型の電子部品３０２とを備えている。電子部品３０２は、基板３２０と、基板３２０上に搭載された半導体素子３２１と、基板３２０上にて半導体素子３２１を被覆する外装体３２２とを有している。
　基板３２０には、上面に複数の第１平面電極３２３（ランド）が形成されると共に、下面に複数の第２平面電極３２４（ランド）が形成されている。尚、第２平面電極３２４は、格子（グリッド）状に配列されている。そして、第１平面電極３２３には、半導体素子３２１の端子（図示せず）が電気的に接続されている。又、図３に示す様に、各第１平面電極３２３と、これに対応する第２平面電極３２４とは、基板３２０をその上面から下面まで貫通する導電ビア３２５により互いに電気的に接続されている。斯くして、電子部品３０２においては、第２平面電極３２４により、電子部品３０２の下面に露出した複数の端子が構成されている。
　図２及び図３に示す様に、配線基板３０１は、絶縁基板３１１と、絶縁基板３１１の表面３１１ａに形成された配線層３１２と、配線層３１２を覆うソルダーレジスト３１３とを備えている。ソルダーレジスト３１３には、第２平面電極３２４に１つずつ対応する複数の開口３１４が形成されている。図３に示す様に、開口３１４は、配線層３１２の表面のうち第２平面電極３２４が電気的に接合される接合面３１２ａを、ソルダーレジスト３１３から露出させている。一方、各開口３１４の全体が、その開口３１４に対応する第２平面電極３２４により覆われている。これにより、開口３１４内の空間は、配線層３１２と電子部品３０２とで閉じられた空間（第１空間３３１）となっている。
　そして、第１空間３３１が半田３４１によって満たされ、該半田３４１により、第２平面電極３２４と接合面３１２ａとが互いに電気的に接合されている。その一方で、第１空間３３１には、熱硬化性樹脂が存在していない。或いは、第１空間３３１に熱硬化性樹脂が存在していたとしても、その量は５ｖｏｌ％程度である。尚、半田３４１には、例えばＳｎ－Ｂｉ系やＳｎ－Ｂｉ－Ａｇ系の低融点半田が用いられている。
　又、図３に示す様に、ソルダーレジスト３１３の上面と電子部品３０２の側面とで形成された第２空間３３２に、熱硬化性樹脂の硬化物３４２が存在している。その一方で、第２空間３３２には、半田が存在していない。或いは、第２空間３３２に半田が存在していたとしても、その量は５ｖｏｌ％程度である。具体的には、硬化物３４２は、第２空間３３２において、ソルダーレジスト３１３と電子部品３０２とで形成された隅を埋めると共に、その隅の周囲へフィレット状に拡がっている。斯くして、硬化物３４２は、第２空間３３２において、ソルダーレジスト３１３と電子部品３０２とを互いに機械的に接合している。尚、硬化物３４２を構成する熱硬化性樹脂には、例えばエポキシ樹脂が用いられている。
　更に、ソルダーレジスト３１３の上面と基板３２０の下面とで形成された第３空間３３３に、熱硬化性樹脂の硬化物３４３が存在している。従って、硬化物３４３は、ソルダーレジスト３１３の上面と電子部品３０２の下面との間に介在している。その一方で、第３空間３３３には、半田が存在していない。或いは、第３空間３３３に半田が存在していたとしても、その量は５ｖｏｌ％程度である。斯くして、硬化物３４３は、第３空間３３３において、ソルダーレジスト３１３と電子部品３０２とを互いに機械的に接合している。尚、硬化物３４３を構成する熱硬化性樹脂は、硬化物３４２を構成する熱硬化性樹脂と同じ樹脂である。
　部品実装基板１０と同様、上記部品実装基板３１０においても、各開口３１４の全体が、その開口３１４に対応する第２平面電極３２４により覆われている。従って、ＬＧＡ型の電子部品を備える従来の部品実装基板の開口の大きさに比べて、各開口３１４の大きさは小さい。具体的には、各開口３１４の面積の、その開口３１４に対応する第２平面電極３２４の下面の面積に対する割合は、５０～１００％である。
　次に、本発明に係る部品実装基板の製造方法及び製造システムについて説明する。
　本発明に係る製造方法及び製造システムはそれぞれ、配線基板に電子部品が実装された部品実装基板を製造する方法及びシステムである。ここで、配線基板は、絶縁基板と、絶縁基板の表面に形成された配線層と、配線層を覆うレジストとを備えている。そして、レジストには、配線層の表面のうち電子部品の端子が電気的に接合されることとなる接合面を露出させる開口が形成されている。
　本発明に係る製造方法は、半田ペーストを付与する付与工程と、電子部品を搭載する搭載工程と、半田ペーストを加熱する加熱工程とを有している。付与工程では、接合面に、半田と熱硬化性樹脂とを含む半田ペーストを付与する。搭載工程では、電子部品の端子が、開口の全体を覆うと共に接合面に付与された半田ペーストに当着する様に、電子部品を配線基板に搭載する。このとき、電子部品を、通常、その下面をレジストの表面から離間させた状態で配線基板に搭載する。搭載工程の実行後、加熱工程において、接合面に付与された半田ペーストを加熱することにより、半田を溶融させると共に熱硬化性樹脂を軟化させ、その後、熱硬化性樹脂を硬化させる。
　尚、上述した付与工程、搭載工程、及び加熱工程はそれぞれ、以下に説明する製造システムが備える付与装置、搭載装置、及び加熱装置により実行される工程である。
　本発明に係る製造システムは、半田ペーストを付与する付与装置と、電子部品を搭載する搭載装置と、半田ペーストを加熱する加熱装置とを備えている。付与装置は、接合面に、半田と熱硬化性樹脂とを含む半田ペーストを付与する。搭載装置は、電子部品の端子が、開口の全体を覆うと共に接合面に付与された半田ペーストに当着する様に、電子部品を配線基板に搭載する。このとき、搭載装置は、電子部品を、通常、その下面をレジストの表面から離間させた状態で配線基板に搭載する。加熱装置は、接合面に付与された半田ペーストを加熱することにより、半田を溶融させると共に熱硬化性樹脂を軟化させ、その後、熱硬化性樹脂を硬化させる。
　上記製造方法及び製造システムによれば、半田ペーストへの加熱による半田の溶融及び熱硬化性樹脂の軟化により、電子部品がレジストの表面に近接すると共に半田と熱硬化性樹脂とが分離する。これにより、配線層と電子部品とで閉じられた開口内の第１空間に半田が集まると共に、レジストの上面と電子部品の側面とで形成された第２空間に熱硬化性樹脂が集まる。更には、レジストの上面と電子部品の下面とで形成された第３空間に熱硬化性樹脂が集まる。
　その後、半田ペーストへの更なる加熱により、熱硬化性樹脂が硬化する。更にその後、冷却過程において、半田が固化する。その結果、固化した半田により、配線基板と電子部品とが、第１空間において互いに電気的に接合される。又、熱硬化性樹脂が硬化することにより、第２空間及び第３空間に硬化物が形成される。そして、この硬化物により、配線基板と電子部品とが、第２空間及び第３空間において互い機械的に接合される。
　この様にして製造された部品実装基板においては、第１空間と第２空間との間、並びに第１空間と第３空間との間が、電子部品によって遮られる。このため、第２空間及び第３空間は、レジストの上面に沿って第１空間から離間した位置に形成される。従って、第２空間内の硬化物及び第３空間内の硬化物は、第１空間内の半田に接することがない。
　よって、部品実装基板に対するリペア処理において、配線基板から電子部品が取り外された場合、配線基板上に半田及び熱硬化性樹脂が残存するものの、半田は開口内に位置し、且つ熱硬化性樹脂は、半田に接することなくレジストの上面に位置することになる。このため、新たな電子部品が実装し直された場合でも、熱硬化性樹脂は半田内に殆ど混入することがない。従って、部品実装基板に対してリペア処理が施された場合でも、配線基板と新たな電子部品との間に接合不良が生じ難い。
　又、上記部品実装基板においては、半田により、配線基板と電子部品とが、第１空間において互いに接合されている。これに加えて、配線基板と電子部品とは、第２空間及び第３空間において熱硬化性樹脂の硬化物により互いに接合されている。従って、上記部品実装基板においては、配線基板と電子部品との接合強度が高い。
　上記製造方法及び製造システムの好ましい具体的構成において、接合面上の半田ペーストに含まれる半田の総体積が第１空間の容積と略同一となる様に、半田ペーストが接合面に付与される（付与工程及び付与装置）。尚、第１空間の容積に対する半田の総体積の割合は、９５～１００％であることが好ましい。これにより、第１空間内の半田に熱硬化性樹脂が混入することが防止され、その結果、接合不良の発生が防止される。又、半田が開口から溢れて第２空間内の硬化物に半田が混入することが防止され、その結果、接合強度の低下が防止される。
　以下、本発明の一実施形態として、図１に示される部品実装基板１０を製造する製造システムについて、図面に沿って具体的に説明する。尚、以下に説明する製造システムは、図２に示される部品実装基板３１０の製造にも適用することが出来る。
　図４は、本実施形態に係る製造システムを構成する製造ラインを示したブロック図である。図４に示す様に、製造ラインは、配線基板１を供給する基板供給装置２０１と、半田ペースト付与装置２０２と、電子部品２を配線基板１に搭載する搭載装置２０３と、加熱装置２０４と、製造された部品実装基板１０を回収する回収装置２０５と、これらの装置の間で配線基板１を搬送する搬送装置２０６とを備えている。
　図５は、上記製造ラインの具体的構成を示した断面図である。図５に示す様に、搬送装置２０６は、搬送ベルト６を有するコンベアによって構成されている。尚、搬送装置２０６には、コンベアに限らず、搬送機能を有する種々の装置を用いることが出来る。そして、搬送ベルト６には、基板供給装置２０１から供給される配線基板１が載せられる。基板供給装置２０１には、例えばマガジン式の基板ローダが用いられる。
　半田ペースト付与装置２０２は、配線基板１に対して、半田と熱硬化性樹脂とを含む半田ペースト４を付与する。具体的には、半田ペースト付与装置２０２は、開口１４に対して半田ペースト４を供給することにより、接合面１２ａに半田ペースト４を付与する。このとき、半田ペースト付与装置２０２は、各接合面１２ａ上の半田ペースト４に含まれる半田の総体積が、その接合面１２ａに対応する第１空間３１（図１参照）の容積と略同一となる様に、開口１４に対して半田ペースト４を供給する。尚、第１空間３１の容積に対する半田の総体積の割合は、９５～１００％であることが好ましい。
　本実施形態においては、上述した様に、開口１４の大きさが、従来の部品実装基板の開口１０７（図９参照）の大きさに比べて小さい。従って、ソルダーレジスト１３の厚さが、従来の部品実装基板のソルダーレジスト１１０（図９参照）の厚さと同じであるとすれば、次の様な問題が発生する。即ち、従来の部品実装基板の製造過程において各開口１０７に付与していた量と同じ量の半田ペースト４を、各開口１４に対して付与した場合、付与された半田ペースト４中に含まれる半田の総体積が、該開口１４に対応する第１空間３１の容積より大きくなる。このため、製造される部品実装基板において、半田が第１空間３１から溢れ出し、半田と熱硬化性樹脂とが接することになる。
　従って、本実施形態においては、各第１空間３１の容積を上記半田の総体積に一致させるべく、ソルダーレジスト１３の厚さが大きく設定されている。具体的には、この厚さは、３０～７０μｍである。或いは、上記半田の総体積を各第１空間３１の容積に一致させるべく、半田ペースト付与装置２０２により、各開口１４への半田ペースト４の付与量が小さく調整される。尚、上記半田の総体積を各第１空間３１の容積に一致させるべく、半田ペースト４中の半田の含有率が小さくなる様に、半田ペースト４が調製されてもよい。
　半田ペースト４を構成する半田及び熱硬化性樹脂にはそれぞれ、例えばＳｎ－Ｂｉ系やＳｎ－Ｂｉ－Ａｇ系の低融点半田及びエポキシ樹脂が用いられる。又、半田ペースト４には、必要に応じて、活性剤やチキソ剤を含ませてもよい。尚、半田及び熱硬化性樹脂は、これらの材料に限定されるものではない。但し、エポキシ樹脂は、取り扱いが容易であること、硬化物の強度が高いこと、及び硬化特性が良好であることから、使用する熱硬化性樹脂として適している。
　本実施形態においては、半田ペースト付与装置２０２として、スクリーン印刷装置が用いられている。図５には、スクリーン印刷用のマスク７が示されている。半田ペースト付与装置２０２においては、配線基板１の位置及び姿勢に基づいてマスク７の位置が調整され、これにより半田ペースト４を付与する位置が調整される。尚、半田ペースト付与装置２０２には、印刷用のノズルを持った印刷装置（例えば、インクジェットプリンタ等）や、塗布ヘッド（ニードル又はノズル）とディスペンサとを持った塗布装置を用いてもよい。
　搭載装置２０３は、配線基板１上の搭載位置に電子部品２を搭載する。図６に示す様に、搭載位置は、電子部品２の各電極層２１が、この電極層２１に対応する開口１４の全体を覆うと共に、その電極層２１に対応する接合面１２ａに付与された半田ペースト４に当着する様な位置である。又、搭載装置２０３は、電極層２１の下面をソルダーレジスト１３の表面から所定の距離Ｌだけ離間させた状態で、配線基板１に電子部品２を搭載する。一例として、搭載装置２０３は、電子部品供給装置と、該電子部品供給装置から供給される電子部品２を上記搭載位置に配置するチップマウンタとを有している。電子部品供給装置には、テープフィーダ、バルクフィーダ、及びトレイフィーダ等の装置を用いることができる。又、チップマウンタには、吸着ノズル等の装置を用いることができる。
　図６に示す様に、配線基板１上の搭載位置に電子部品２が搭載された直後においては、半田ペースト４全体に半田４１が分散している。又、電極層２１とソルダーレジスト１３との間には隙間８が存在している。
　加熱装置２０４は、接合面１２ａに付与された半田ペースト４を加熱することにより、半田ペースト４中の半田４１を溶融させると共に、半田ペースト４中の熱硬化性樹脂４４（図６参照）を軟化させる。ここで、ソルダーレジスト１３は、溶融した半田４１が表面に付着し難いという性質、換言すれば溶融した半田４１を弾き易いという性質を有している。従って、溶融した半田４１は、図７に示す様に、隙間８を通って、ソルダーレジスト１３が存在しない箇所（具体的には開口１４内）へ移動する。尚、図７では、半田４１が移動する様子を実線矢印により示している。
　又、半田４１は、熱硬化性樹脂４４に比べて比重が大きい。従って、図７に示す様に、半田４１は開口１４内を下方へ移動し、これにより半田４１は接合面１２ａに蓄積される。一方、開口１４内への半田４１の移動に伴って、開口１４内の熱硬化性樹脂４４は、開口１４外へ追い出される。そして、熱硬化性樹脂４４は、隙間８を通ってソルダーレジスト１３上へ移動する。尚、図７では、熱硬化性樹脂４４が移動する様子を破線矢印により示している。
　そして、半田４１及び熱硬化性樹脂４４の移動と共に、電子部品２がソルダーレジスト１３の表面に近接する。そして、各開口１４が、この開口１４に対応する電極層２１によって塞がれ、これにより第１空間３１（図１参照）が形成される。これに伴って、ソルダーレジスト１３上に第２空間３２及び第３空間３３（図１参照）が形成される。従って、第１空間３１と第２空間３２との間、並びに第１空間３１と第３空間３３との間が、電子部品２によって遮られる。
　斯くして、第１空間３１には、半田４１が集まる一方、熱硬化性樹脂４４が含まれなくなる。或いは、第１空間３１に熱硬化性樹脂４４が含まれていたとしても、その量は５ｖｏｌ％程度である。又、第２空間３２及び第３空間３３には、熱硬化性樹脂４４が集まる一方、半田４１が含まれなくなる。或いは、第２空間３２及び第３空間３３に半田４１が含まれていたとしても、その量は５ｖｏｌ％程度である。
　その後、加熱装置２０４は、半田ペースト４を更に加熱することにより、熱硬化性樹脂４４を硬化させる。更にその後、冷却過程において、半田４１が固化する。その結果、固化した半田４１により、配線基板１と電子部品２とが、第１空間３１において互いに電気的に接合される。又、熱硬化性樹脂４４が硬化することにより、第２空間３２及び第３空間３３に硬化物４２及び４３がそれぞれ形成される。そして、硬化物４２及び４３により、配線基板１と電子部品２とが、第２空間３２及び第３空間３３において互いに機械的に接合される。
　この様にして、図１に示される部品実装基板１０が作製される。
　回収装置２０５は、作製された部品実装基板１０を搬送ベルト６から回収する。尚、回収装置２０５には、例えばマガジン式の基板アンローダが用いられる。
　上記部品実装基板１０においては、第１空間３１と第２空間３２との間、並びに第１空間３１と第３空間３３との間が、電子部品２によって遮られている。このため、第２空間３２及び第３空間３３は、ソルダーレジスト１３の上面に沿って第１空間３１から離間した位置に形成されている。従って、第２空間３２内の硬化物４２及び第３空間３３内の硬化物４３は、第１空間３１内の半田４１に接することがない。
　よって、部品実装基板１０に対するリペア処理において、図８に示す様に配線基板１から電子部品２が取り外された場合、配線基板１上に半田４１及び熱硬化性樹脂４４が残存するものの、半田４１は第１開口１４内に位置し、且つ熱硬化性樹脂４４は、半田４１に接することなくソルダーレジスト１３の上面に位置することになる。このため、新たな電子部品２が実装し直された場合でも、熱硬化性樹脂は半田内に殆ど混入することがない。従って、部品実装基板１０に対してリペア処理が施された場合でも、配線基板１と新たな電子部品２との間に接合不良が生じ難い。
　又、上記部品実装基板１０においては、半田４１により、配線基板１と電子部品２とが、第１空間３１において互いに接合されている。これに加えて、配線基板１と電子部品２とは、第２空間３２において硬化物４２により互いに接合されると共に、第３空間３３において硬化物４３により互いに接合されている。従って、上記部品実装基板１０においては、配線基板１と電子部品２との接合強度が高い。
　図９に示される従来の部品実装基板において、開口１０７は、配線層１０８の表面のうち電子部品１０２が電気的に接合される接合面１０９を、ソルダーレジスト１１０から露出させている。そして、電子部品１０２は、その両端が接合面１０９から浮いた状態で、半田フィレット１０３を介して接合面１０９に電気的に接合されている。従って、従来の部品実装基板の製造過程において、半田フィレット１０３を形成するための半田ペーストを２つの接合面１０９に付与する際に、２つの接合面１０９への半田ペーストの付与量が互いに異なると、次の様な現象が発生し易くなる。即ち、半田ペーストへの加熱により半田が溶融した後、半田が固化する際に、付与量の違いが原因となって生じる固化速度の違いにより、電子部品１０２の一端が接合面１０９の方へ引っ張られ、その結果、電子部品１０２が傾く。
　一方、上記部品実装基板１０においては、電子部品２の両端は、ソルダーレジスト１３の表面上に位置している。従って、電子部品２の一端が下方へ引っ張られたとしても、該一端の下方への移動がソルダーレジスト１３によって阻止される。よって、電子部品２は傾き難い。
　尚、本発明の各部構成は上記実施形態に限らず、特許請求の範囲に記載の技術的範囲内で種々の変形が可能である。上記実施形態においては、基板供給装置２０１、半田ペースト付与装置２０２、搭載装置２０３、加熱装置２０４、及び回収装置２０５が、別個独立に構成されていた。しかし、本発明は、これに限定されるものでない。例えば、これらの装置の幾つか又は全てに代えて、それらの機能を有する複合型の装置を用いてもよい。
　又、上述した製造方法及び製造システムは、ボールグリッドアレイ（ＢＧＡ）型の電子部品を配線基板に実装する場合にも適用することが出来る。更に、上述した製造方法及び製造システムは、図１に示される部品実装基板１０や図２に示されるＬＧＡ型の電子部品を備えた部品実装基板３１０に限定されない種々の部品実装基板の製造にも適用することが出来る。
　本発明を現時点での好ましい実施態様に関して説明したが、そのような開示を限定的に解釈してはならない。種々の変形および改変は、上記開示を読むことによって本発明に属する技術分野における当業者には間違いなく明らかになるであろう。したがって、添付の特許請求の範囲は、本発明の真の精神および範囲から逸脱することなく、すべての変形及び改変を包含する、と解釈されるべきものである。
　本発明に係る製造システム及び製造方法は、液晶表示モジュール等の電子機器が備える部品実装基板の製造に応用することができる。
１　配線基板
２　電子部品
４　半田ペースト
１０　部品実装基板
１１　絶縁基板
１１ａ　表面
１２　配線層
１２ａ　接合面
１３　ソルダーレジスト
１４　開口
２１　電極層（端子）
３１　第１空間
３２　第２空間
３３　第３空間
４１　半田
４２，４３　硬化物
４４　熱硬化性樹脂
２０１　基板供給装置
２０２　半田ペースト付与装置
２０３　搭載装置
２０４　加熱装置
２０５　回収装置
３０１　配線基板
３０２　電子部品
３１０　部品実装基板
３１１　絶縁基板
３１１ａ　表面
３１２　配線層
３１２ａ　接合面
３１３　ソルダーレジスト
３１４　開口
３２４　第２平面電極（端子）
３３１　第１空間
３３２　第２空間
３３３　第３空間
３４１　半田
３４２，３４３　硬化物
Ｌ　所定の距離

Claims (6)

  1. 　配線基板に電子部品が実装された部品実装基板を製造する方法であって、前記配線基板は、絶縁基板と、前記絶縁基板の表面に形成された配線層と、前記配線層を覆うレジストとを備え、前記レジストには、前記配線層の表面のうち前記電子部品の端子が電気的に接合されることとなる接合面を露出させる開口が形成されており、
    　（ａ）前記接合面に、半田と熱硬化性樹脂とを含む半田ペーストを付与する工程と、
    　（ｂ）前記電子部品の端子が、前記開口の全体を覆うと共に前記接合面に付与された半田ペーストに当着する様に、前記電子部品を前記配線基板に搭載する工程と、
    　（ｃ）前記工程（ｂ）の実行後、前記接合面に付与された半田ペーストを加熱することにより、前記半田を溶融させると共に前記熱硬化性樹脂を軟化させ、その後、前記熱硬化性樹脂を硬化させる工程と
    を有し、前記工程（ｃ）では、前記半田の溶融及び前記熱硬化性樹脂の軟化により、前記電子部品が前記レジストの表面に近接すると共に前記半田と前記熱硬化性樹脂とが分離し、これにより、前記配線層と前記電子部品とで閉じられた前記開口内の第１空間に前記半田が集まると共に、前記レジストの上面と前記電子部品の側面とで形成された第２空間に前記熱硬化性樹脂が集まる、部品実装基板の製造方法。
  2. 　前記工程（ａ）では、前記接合面上の前記半田ペーストに含まれる半田の総体積が前記第１空間の容積と略同一となる様に、前記半田ペーストを付与する、請求項１に記載の部品実装基板の製造方法。
  3. 　前記工程（ｂ）では、前記電子部品を、その下面を前記レジストの表面から離間させた状態で前記配線基板に搭載する、請求項１又は請求項２に記載の部品実装基板の製造方法。
  4. 　配線基板に電子部品が実装された部品実装基板を製造するシステムであって、前記配線基板は、絶縁基板と、前記絶縁基板の表面に形成された配線層と、前記配線層を覆うレジストとを備え、前記レジストには、前記配線層の表面のうち前記電子部品の端子が電気的に接合されることとなる接合面を露出させる開口が形成されており、
    　前記接合面に、半田と熱硬化性樹脂とを含む半田ペーストを付与する付与装置と、
    　前記電子部品の端子が、前記開口の全体を覆うと共に前記接合面に付与された半田ペーストに当着する様に、前記電子部品を前記配線基板に搭載する搭載装置と、
    　前記接合面に付与された半田ペーストを加熱することにより、前記半田を溶融させると共に前記熱硬化性樹脂を軟化させ、その後、前記熱硬化性樹脂を硬化させる加熱装置と
    を備え、前記加熱装置による前記半田の溶融及び前記熱硬化性樹脂の軟化により、前記電子部品が前記レジストの表面に近接すると共に前記半田と前記熱硬化性樹脂とが分離し、これにより、前記配線層と前記電子部品とで閉じられた前記開口内の第１空間に前記半田が集まると共に、前記レジストの上面と前記電子部品の側面とで形成された第２空間に前記熱硬化性樹脂が集まる、部品実装基板の製造システム。
  5. 　前記付与装置は、前記接合面上の前記半田ペーストに含まれる半田の総体積が前記第１空間の容積と略同一となる様に、前記半田ペーストを付与する、請求項４に記載の部品実装基板の製造システム。
  6. 　前記搭載装置は、前記電子部品を、その下面を前記レジストの表面から離間させた状態で前記配線基板に搭載する、請求項４又は請求項５に記載の部品実装基板の製造システム。
PCT/JP2013/001108 2012-08-10 2013-02-26 部品実装基板の製造方法及び製造システム WO2014024338A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013552044A JP5899517B2 (ja) 2012-08-10 2013-02-26 部品実装基板の製造方法及び製造システム
CN201380001276.5A CN103797901B (zh) 2012-08-10 2013-02-26 部件安装基板的制造方法及制造系统
US14/119,148 US9237686B2 (en) 2012-08-10 2013-02-26 Method and system for producing component mounting board

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012-178188 2012-08-10
JP2012178188 2012-08-10

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2014024338A1 true WO2014024338A1 (ja) 2014-02-13

Family

ID=50067611

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2013/001108 WO2014024338A1 (ja) 2012-08-10 2013-02-26 部品実装基板の製造方法及び製造システム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9237686B2 (ja)
JP (1) JP5899517B2 (ja)
CN (1) CN103797901B (ja)
WO (1) WO2014024338A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017005037A (ja) * 2015-06-08 2017-01-05 三菱電機株式会社 電力用半導体装置
US10980160B2 (en) 2018-09-26 2021-04-13 Canon Kabushiki Kaisha Image pickup module, method for manufacturing image pickup module, and electronic device
US11632886B2 (en) 2019-11-06 2023-04-18 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing electronic module, electronic module, and electronic device

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5945697B2 (ja) * 2012-11-19 2016-07-05 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 電子部品実装システムおよび電子部品実装方法
CN104996005B (zh) * 2012-11-19 2018-08-10 松下知识产权经营株式会社 电子元件安装系统及电子元件安装方法
CN104798457B (zh) * 2012-11-19 2017-10-24 松下知识产权经营株式会社 电子元件安装系统及电子元件安装方法
US9791470B2 (en) * 2013-12-27 2017-10-17 Intel Corporation Magnet placement for integrated sensor packages
JP6570728B2 (ja) * 2016-02-18 2019-09-04 三菱電機株式会社 電子装置およびその製造方法
JP6726070B2 (ja) * 2016-09-28 2020-07-22 エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド 電子部品の実装方法、電子部品の接合構造、基板装置、ディスプレイ装置、ディスプレイシステム
JP6956475B2 (ja) 2016-09-28 2021-11-02 エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド 電子部品の実装方法、電子部品の接合構造、基板装置、ディスプレイ装置、ディスプレイシステム
JP2018098302A (ja) * 2016-12-09 2018-06-21 株式会社デンソー 電子装置
US20220030721A1 (en) * 2021-07-02 2022-01-27 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Mounting method and mounting structure formed by the same

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006186011A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品実装方法および電子部品実装構造
JP2007134404A (ja) * 2005-11-08 2007-05-31 Alps Electric Co Ltd 電子部品実装構造
JP2008293820A (ja) * 2007-05-25 2008-12-04 Panasonic Corp 導電性ペーストおよび基板

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3152834B2 (ja) * 1993-06-24 2001-04-03 株式会社東芝 電子回路装置
US6316735B1 (en) * 1996-11-08 2001-11-13 Ricoh Company, Ltd. Semiconductor chip mounting board and a semiconductor device using same board
JPH10163261A (ja) * 1996-11-29 1998-06-19 Kyocera Corp 電子部品搭載用配線基板の製造方法
DE19750073A1 (de) * 1997-11-12 1999-05-20 Bosch Gmbh Robert Schaltungsträgerplatte
US6326239B1 (en) * 1998-04-07 2001-12-04 Denso Corporation Mounting structure of electronic parts and mounting method of electronic parts
DE19839760A1 (de) * 1998-09-01 2000-03-02 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Verbindung von elektronischen Bauelementen mit einem Trägersubstrat sowie Verfahren zur Überprüfung einer derartigen Verbindung
EP1219693B1 (en) * 2000-02-29 2006-05-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Conductive adhesive, apparatus for mounting electronic component, and method for mounting the same
JP4105409B2 (ja) * 2001-06-22 2008-06-25 株式会社ルネサステクノロジ マルチチップモジュールの製造方法
JP3595283B2 (ja) * 2001-06-27 2004-12-02 日本特殊陶業株式会社 配線基板及びその製造方法
TW523857B (en) * 2001-12-06 2003-03-11 Siliconware Precision Industries Co Ltd Chip carrier configurable with passive components
US6742247B2 (en) * 2002-03-14 2004-06-01 General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. Process for manufacturing laminated high layer count printed circuit boards
JP4350366B2 (ja) * 2002-12-24 2009-10-21 パナソニック株式会社 電子部品内蔵モジュール
KR100559937B1 (ko) * 2003-01-08 2006-03-13 엘에스전선 주식회사 미세회로의 접속방법 및 그에 의한 접속 구조체
WO2005005088A2 (en) * 2003-07-01 2005-01-20 Chippac, Inc. Method and apparatus for flip chip attachment by post-collapse re-melt and re-solidification of bumps
US8216930B2 (en) * 2006-12-14 2012-07-10 Stats Chippac, Ltd. Solder joint flip chip interconnection having relief structure
JP4605155B2 (ja) * 2004-03-29 2011-01-05 日本電気株式会社 半導体装置及びその製造方法
US7420282B2 (en) * 2004-10-18 2008-09-02 Sharp Kabushiki Kaisha Connection structure for connecting semiconductor element and wiring board, and semiconductor device
JP4401411B2 (ja) * 2005-03-17 2010-01-20 パナソニック株式会社 半導体チップを備えた実装体およびその製造方法
JP2006287060A (ja) 2005-04-01 2006-10-19 Sony Corp 回路基板、およびチップ部品の半田付け構造
JP4522939B2 (ja) * 2005-10-31 2010-08-11 アルプス電気株式会社 基板と部品間の接合構造及びその製造方法
KR100718169B1 (ko) * 2006-01-12 2007-05-15 한국과학기술원 니켈 표면 처리된 전자부품과 무전해 니켈 표면 처리된전자부품의 접합방법
TWI286830B (en) * 2006-01-16 2007-09-11 Siliconware Precision Industries Co Ltd Electronic carrier board
US7537961B2 (en) * 2006-03-17 2009-05-26 Panasonic Corporation Conductive resin composition, connection method between electrodes using the same, and electric connection method between electronic component and circuit substrate using the same
JP5243735B2 (ja) * 2007-06-18 2013-07-24 ローム株式会社 回路基板及び半導体装置
JP2009272529A (ja) * 2008-05-09 2009-11-19 Ngk Spark Plug Co Ltd 半田ボール搭載装置及び配線基板の製造方法
EP2157841A4 (en) * 2008-05-30 2011-11-02 Ibiden Co Ltd MOUNTING DEVICE FOR A SOLDERING BALL
JP5698447B2 (ja) 2009-09-08 2015-04-08 株式会社タムラ製作所 はんだ接合剤組成物
JP5619439B2 (ja) * 2010-03-16 2014-11-05 株式会社ジャパンディスプレイ 実装構造体、電気光学装置、実装部品および実装構造体の製造方法
JP5559023B2 (ja) * 2010-12-15 2014-07-23 日本特殊陶業株式会社 配線基板及びその製造方法
JP5382010B2 (ja) * 2011-01-24 2014-01-08 ブラザー工業株式会社 配線基板、及び、配線基板の製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006186011A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品実装方法および電子部品実装構造
JP2007134404A (ja) * 2005-11-08 2007-05-31 Alps Electric Co Ltd 電子部品実装構造
JP2008293820A (ja) * 2007-05-25 2008-12-04 Panasonic Corp 導電性ペーストおよび基板

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017005037A (ja) * 2015-06-08 2017-01-05 三菱電機株式会社 電力用半導体装置
US10980160B2 (en) 2018-09-26 2021-04-13 Canon Kabushiki Kaisha Image pickup module, method for manufacturing image pickup module, and electronic device
US11632886B2 (en) 2019-11-06 2023-04-18 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing electronic module, electronic module, and electronic device

Also Published As

Publication number Publication date
CN103797901B (zh) 2017-04-12
US20140158751A1 (en) 2014-06-12
US9237686B2 (en) 2016-01-12
JPWO2014024338A1 (ja) 2016-07-25
CN103797901A (zh) 2014-05-14
JP5899517B2 (ja) 2016-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5899517B2 (ja) 部品実装基板の製造方法及び製造システム
JP5519866B2 (ja) 電子部品実装ライン及び電子部品実装方法
JP6057224B2 (ja) 部品実装構造体
US9125329B2 (en) Electronic component mounting line and electronic component mounting method
JP2008300538A (ja) プリント回路板、プリント回路板の製造方法および電子機器
US9439335B2 (en) Electronic component mounting line and electronic component mounting method
JP2018056234A (ja) プリント回路板、電子機器及びプリント回路板の製造方法
KR20120033973A (ko) 전자 장치의 제조 방법 및 전자 장치
JP5569676B2 (ja) 電子部品の実装方法
JP2005039206A (ja) 半導体チップ表面実装方法
JP2014045152A (ja) 部品実装基板
KR101596074B1 (ko) 전자부품 실장용 배선기판의 제조방법, 전자부품 실장용 배선기판, 및 전자부품을 가진 배선기판의 제조방법
JP2013191620A (ja) 部品内蔵基板の製造方法および部品内蔵基板
JP4381795B2 (ja) 電子部品実装方法
JP2014033084A (ja) 積層パッケージ構造体の製造方法、組み立て装置、および製造システム
JP6094871B2 (ja) 電子部品実装方法
JP2015002235A (ja) 電子部品実装方法
JP2014049646A (ja) 部品実装方法および部品実装システム
JP2024502563A (ja) 半導体パッケージおよびその製造方法
JP2006093178A (ja) 電子機器の製造方法
JP2012195397A (ja) 部品内蔵基板の製造方法
JP2014033083A (ja) 積層パッケージ構造体
JP2010103568A (ja) 積層型半導体装置及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2013552044

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 14119148

Country of ref document: US

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 13827525

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 13827525

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1