WO2013125716A1 - スパッタリングターゲット及びその製造方法 - Google Patents
スパッタリングターゲット及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- WO2013125716A1 WO2013125716A1 PCT/JP2013/054637 JP2013054637W WO2013125716A1 WO 2013125716 A1 WO2013125716 A1 WO 2013125716A1 JP 2013054637 W JP2013054637 W JP 2013054637W WO 2013125716 A1 WO2013125716 A1 WO 2013125716A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- sputtering target
- target
- powder
- compound
- sputtering
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3411—Constructional aspects of the reactor
- H01J37/3414—Targets
- H01J37/3426—Material
- H01J37/3429—Plural materials
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F3/00—Manufacture of workpieces or articles from metallic powder characterised by the manner of compacting or sintering; Apparatus specially adapted therefor ; Presses and furnaces
- B22F3/10—Sintering only
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C1/00—Making non-ferrous alloys
- C22C1/04—Making non-ferrous alloys by powder metallurgy
- C22C1/0425—Copper-based alloys
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C32/00—Non-ferrous alloys containing at least 5% by weight but less than 50% by weight of oxides, carbides, borides, nitrides, silicides or other metal compounds, e.g. oxynitrides, sulfides, whether added as such or formed in situ
- C22C32/0089—Non-ferrous alloys containing at least 5% by weight but less than 50% by weight of oxides, carbides, borides, nitrides, silicides or other metal compounds, e.g. oxynitrides, sulfides, whether added as such or formed in situ with other, not previously mentioned inorganic compounds as the main non-metallic constituent, e.g. sulfides, glass
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/0623—Sulfides, selenides or tellurides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/08—Oxides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/08—Oxides
- C23C14/087—Oxides of copper or solid solutions thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
- C23C14/3414—Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/35—Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F2201/00—Treatment under specific atmosphere
- B22F2201/20—Use of vacuum
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F2301/00—Metallic composition of the powder or its coating
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F2999/00—Aspects linked to processes or compositions used in powder metallurgy
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
Description
このため、例えば、特許文献1では、ポリマーフィルム上に形成されたフレキシブルCIGS太陽電池の光電変換特性向上のため、塩化ナトリウムによるリフトオフ層を設けて、このリフトオフ層から光吸収層へとNaを拡散させることを提案している。
特許文献2には、Mo電極層にNaFを添加し、Mo電極層から光吸収層へとNaを拡散させることが提案されている。しかし、Mo電極層にNaFを添加すると、Mo電極層と基板との間にNaが大量に集中し、Mo電極層と基板との界面に剥がれが発生するおそれがある。
また、ガラス基板等からのNaの拡散量は制御が困難であるため、拡散によらずにNaを添加する方法として、光吸収層に直接Na化合物を添加する方法が提案されている。例えば、特許文献3では、ガラス基板と吸収層の間に拡散遮断層を配置してガラス基板からのNaの拡散を遮断しつつ、光吸収層にNa2S、Na2Seを添加し、光吸収層に対するNaの含有量を制御することが提案されている。
光吸収層に直接Na化合物を添加するため、特許文献4には、Na:0.05~1at%を含有し、NaがNaF化合物の状態で含有されているCu−Gaスパッタリングターゲットが提案されている。
ここで、非特許文献3には、2%のNaを添加したCIGS膜が開示されており、従来検討されていなかった高濃度のNaの添加においても、良好な発電効率を有するCIGS太陽電池が得られうることがわかっている。
本発明者らの検討により特許文献4に記載の製造方法によってスパッタリングターゲットを製造する場合、高濃度のNaを添加することができないことがわかった。
まず、Na化合物の添加量が増えるとターゲットが変色する。すなわち、Na化合物が環境中の水分を吸着しやすく、これによってターゲット表面に変色や斑点が多発し、最終的にこのターゲットによって製造した太陽電池の特性が著しく不安定になる不都合があった。
また、大量のNa化合物の添加によって、スパッタ時に異常放電が多くなり、さらには機械強度が低く、割れやすいという不都合があった。すなわち、導電性が無く且つ焼結し難いと共に機械強度が低いNa化合物の大量の添加により、ターゲットの機械強度が低下し、機械加工中の欠陥発生率が上がってスパッタ中にNa化合物に起因する異常放電が発生しやすくなる。
上記のようにターゲットの密度を十分確保することと、抗折強度及び電気抵抗の確保と、上記凝集体の抑制とにより、高濃度のNaを含有しつつも変色、斑点の発生や異常放電が抑制され、さらには高強度を有して割れ難いスパッタリングターゲットを実現できる。
Na(at%):Na/(Na+Cu+Ga)×100%
Ga(at%):Ga/(Na+Cu+Ga)×100%
一方、ターゲットの密度が高くNa化合物を大量に含有するターゲットにおいては、脆性が増える傾向が強い。これに対し、本発明ではターゲットの抗折強度を100N/mm2以上とし、ターゲット製造における加工プロセスやスパッタ中に割れが発生すること防止している。
さらに、導電性のないNa化合物が大量添加されると、スパッタ中において異常放電が発生しやすくなるのに対し、本発明ではターゲットのバルク比抵抗を1mΩ・cm以下にすることで異常放電を回避している。
ここでの平均粒径とは、投影面積円相当径である。
高濃度Na化合物を含有するターゲットは、絶縁体のNa化合物を大量に含有するため、通常の製造方法では、Na化合物相の分散が困難である。上記本発明ターゲットのように、表面の1cm2面積内に含まれる0.05mm2以上のNa化合物凝集体を平均1個以下に制限することで、ターゲット表面に空洞状放電痕を残すような著しい異常放電を防止することができるが、Na化合物相のマイクロ分散が適正に行わないと、直流スパッタ(DCスパッタ)を行う際、マイクロ・アークと呼ばれる異常放電が発生しやすい。マイクロ・アークは程度によるが、ターゲットに大きなダメージを与えないものの、得られた膜の膜質に悪い影響を及ぼす。本発明者らは、Na化合物の平均粒径が10μm以下になるとNa化合物によるマイクロ・アーク異常放電が顕著に低減できることを突き止めた。また、表層に位置するNa化合物は、外気との接触は不可避であり、その平均粒径が10μmを超えると、吸湿量が大きくなってターゲット表面の変色の原因になる。
すなわち、このスパッタリングターゲットでは、酸素含有量が200~2000ppmであるので、高い吸湿性を有するNaOの発生を防ぎ、より変色や機械強度の低下を抑制することができる。
Na化合物を添加したCuGaターゲット中に酸素が存在すると、酸素とNa化合物とが徐々に反応し、高い吸湿性を持つNaOが形成され、変色や機械強度の低下を発生させる。特に、酸素含有量が2000ppmを超えると、ターゲットの変色、機械強度の低下を引き起こす可能性が高いため、酸素含有量を2000ppm以下とした。一方、ターゲット中の酸素濃度を事実上200ppm未満にすることは非常に困難であるため、ターゲット中の酸素濃度の下限を200ppmとした。
このスパッタリングターゲットでは、ターゲット素地中の金属相の平均粒径が20μm以下であるので、理論密度比が90%以上で、かつ上記高濃度のNa化合物を含有していても、ターゲットの靭性を良好に維持することができる。すなわち、上述したように、ターゲットの吸湿を最小限にするために、ターゲットの理論密度比を90%以上にする必要があるが、ターゲット密度が向上することで、Na化合物を大量に含有する本発明のターゲットにおいては、ターゲットの脆性が増える傾向が強い。そのため、ターゲットの靭性を保つために、金属相の平均結晶粒径を20μm以下にすることが有効である。なお、平均粒径が20μmを超えると、ターゲットの機械加工時に欠陥が出やすくなる。
Na化合物が大量に添加される際に、細かい金属粉と細かいNa化合物粉とを混ぜると、却って金属粉のネットワークが形成できなくなる。得られたターゲットの機械強度が低下し、導電性が低下する場合もあるため、Cu−Ga粉末の平均粒径を1μm以上とした。
一方、Cu−Ga粉末の粒径が大きすぎると、Na化合物の分散が不十分になる。また、大きなNa化合物の凝集体が形成され、変色、機械強度の低下、異常放電の原因になる。また、大きい粒径のCu−Ga粉末を用いて製造したターゲットでは、Na化合物が金属相の粒界に集中しやすい。これもターゲットの変色、機械強度の低下、異常放電の原因になる。これに対し、Cu−Ga粉末の平均粒径を45μm以下とし、かつ、粒径30μm以下の粒子がCu−Ga粉末の粉末全重量の半分以上とすることで、適切な粒子径分布範囲となり、ターゲットの変色、機械強度の低下、異常放電を防止することができる。
また、本発明に係るスパッタリングターゲットの製造方法は、前記混合粉末を、70℃以上の温度で乾燥させる工程を有することが好ましい。
これらのスパッタリングターゲットの製造方法では、Na化合物粉末を混合粉末とする前に70℃以上の温度で乾燥させる工程を有する、又は混合粉末を、70℃以上の温度で乾燥させる工程を有するので、Na化合物の粒子の分散性を維持しつつ、酸素含有量の低減を図ると共に原料粉末の混合後における再凝集を抑制することができる。
すなわち、このスパッタリングターゲットの製造方法では、混合粉末を非酸化性雰囲気又は真空中で焼結するので、より酸素含有量を低減することができる。
すなわち、本発明に係るスパッタリングターゲット及びその製造方法によれば、Naが上記Na化合物の状態で、かつ上記範囲の高濃度で含有され、理論密度比が90%以上、抗折強度が100N/mm2以上、バルク比抵抗が1mΩ・cm以下であり、ターゲット表面の1cm2面積内に、0.05mm2以上の上記Na化合物の凝集体が平均1個以下であるので、高濃度のNaを含有しつつも吸湿変色や異常放電が抑制され、さらには高強度を有して割れ難い。したがって、本発明のスパッタリングターゲットを用いてスパッタ法によりCIGS薄膜型太陽電池の光吸収層を成膜することで、高い量産性を有して光吸収層へ高濃度のNaを添加することができ、発電効率の高い太陽電池を製造することが可能となる。
本実施形態のスパッタリングターゲットは、スパッタリングターゲットのF,S,Seを除く金属成分として、Ga:10~40at%、Na:1.0~15at%を含有し、残部がCu及び不可避不純物からなる成分組成を有し、Naがフッ化ナトリウム、硫化ナトリウム及びセレン化ナトリウムのうち少なくとも1種からなるNa化合物の状態で含有され、理論密度比が90%以上、抗折強度が100N/mm2以上、バルク比抵抗が1mΩ・cm以下であり、ターゲット表面の1cm2面積内に、0.05mm2以上のNa化合物の凝集体が平均1個以下である。
さらに、酸素含有量が200~2000ppmであることが好ましいと共に、ターゲット素地中の金属相の平均粒径が20μm以下であることが好ましい。
ターゲットの理論密度比の測定は、重量/寸法で計算する。
すなわち、理論密度比については、実際のCu/Ga割合および投入原料の種類、焼結条件により、気孔のない素地の密度(理論密度)が変わるため、以下のように計算する。
まず、本実施形態のターゲット中のCu/Ga比と同様な割合で、Cu−Ga金属混合物を1200度で溶解し、それを鋳造し、徐冷で得られた10cm×10cm×10cmの無欠陥の鋳塊の密度を測定し、これを上記割合のCu−Ga合金の理論密度とする。
Na化合物、例えばNaFの理論密度を2.79g/cm3、Na2Sを1.86g/cm3、Na2Seを2.65g/cm3とする。以上のCu−Ga合金の理論密度及びNa化合物の理論密度と、本実施形態のターゲット中のCu,Gaの含有量及びNa化合物含有量とを用いて、ターゲットの理論密度を計算する。
したがって、理論密度比は、「(重量/寸法で得られたターゲット密度)/ターゲットの理論密度×100%」となる。
抗折強度については、焼結したターゲットをJIS R1601に従って加工し、曲げ強さ(抗折強度)を測定する。すなわち、ターゲットを、長さ40mm×幅4mm×厚み3mmの棒状に加工し、抗折強度を測定する。
電気抵抗については、4探針法を用いて測定する。
<凝集体について>
凝集体のサイズ測定については、10倍光学顕微鏡でターゲット表面100cm2面積を観察し、写真撮影する(例えば、図1参照)。そして、この写真によって凝集体サイズを計算し、0.05mm2以上のNa化合物凝集体の数をカウントする。さらに、凝集体はNa化合物であることをSEMのEDX機能で確認する。また、ターゲット表面1cm2面積内に存在する0.05mm2以上のNa化合物凝集体の平均個数は、ターゲット表面100cm2面積内の平均で計算する。
次に、ターゲット素地中のNa化合物相の平均粒径については、測定を行うために以下のように観察用サンプルを作製し、粒径の計算を行う。
まず、焼結したスパッタリングターゲットの任意部位を切断し、約5×10×3mmのブロック状サンプルを作成する。次に、該サンプルを表面粗さRa:0.5μm以下まで研磨し、観察面を作製する。さらに、観察面をSEMにて100倍で写真撮影をし、1000μm×1000μm視野中のNa化合物相の断面積を計算し、投影面積円相当径に換算したのち、上記視野中の粒子の平均粒径を計算する。
上記金属相の平均粒径を測定するための観察用サンプルの作製方法および平均粒径の計算は、以下の通りである。
まず、上記ブロック状サンプルの観察面を、純水50ml、過酸化水素水5ml及びアンモニア水45mlからなるエッチング液に5秒間浸漬してエッチングする。
次に、エッチング面を250倍の光学顕微鏡で、合金組織を撮影する。このとき、500μm×1000μm視野中の結晶の断面積を計算し、投影面積円相当径に換算したのち、上記視野中の粒子の平均粒径を計算する。
次に、上記本実施形態のスパッタリングターゲットを製造する方法について説明する。
本実施形態のスパッタリングターゲットの製造方法は、Na化合物粉末とCu−Ga粉末との混合粉末を焼結する工程を有し、Cu−Ga粉末は、Cu−Ga合金粉末又はCu−Ga合金粉末とCu粉末からなり、平均粒径が1~45μmであって、粒径30μm以下の粒子が、Cu−Ga粉末の粉末全重量の半分以上を占めることを特徴とする。さらに、Cu−Ga合金粉末の酸素含有量を低減させるため、平均半径が10~40μmであることが好ましい。
Na化合物粉末は、純度3N以上で、酸素含有量の上昇を抑えると共にCu−Ga粉末との混合性を考慮して、一次粒子径が0.01~1.0μmのものが好ましい。
また、ターゲット中の酸素含有量を2000ppm以下にするために、Na化合物中の吸着水分を、混合する前に予め70℃の乾燥環境で取り除くことが好ましい。例えば、真空乾燥機中で真空環境にて120℃、10時間の乾燥が有効である。
なお、Na化合物は、吸湿性が強く且つ水に溶解されるので、水を使う湿式の粉砕混合装置の使用は不適である。
Na化合物粉末とCu−Ga粉末との混合粉末を用意するには、粉砕混合装置(例えば、ボールミル、ジェットミル、ヘンシェルミキサー、アトライター等)を用いた解砕方法や、混合方法の異なる、以下の(1)~(3)の方法が利用できる。
(1)Na化合物粉末の解砕と、Cu−Ga粉末との混合とを別個に実施する場合
解砕によって得られるNa化合物の平均二次粒子径は1~5μmが好ましい。解砕工程は湿度RH:40%以下の乾燥した環境で行うことが好ましい。こうして得られた解砕後のNa化合物粉末は、上述の通り、混合前に70℃以上で乾燥することが好ましい。
次に、このNa化合物粉末とターゲット組成に調製したCu−Ga粉末とを、乾式混合装置を用いて相対湿度RH:40%以下の乾燥した環境にて混合し、混合粉末とする。なお、混合は還元性雰囲気中で行うことがさらに好ましい。
乾燥済みNa化合物粉末とターゲット組成に調製したCu−Ga粉末とを、同時に粉砕混合装置に充填し、混合とNa化合物粉末の解砕とを同時に行い、Na化合物粉末の平均二次粒子径が5μm以下になる時点で解砕を終了する。なお、上記混合は、湿度RH:40%以下の乾燥した環境にて行うことが好ましく、還元性雰囲気中で行うことがさらに好ましい。
まず、ターゲット組成のCu/Gaの割合よりもGaの含有量の多いCu−Ga合金粉末(高Ga粉末とする)と、ターゲット組成のCu/Gaの割合よりもGaの含有量の少ないCu−Ga合金粉末またはCu粉(低Ga粉末とする)を用意する。
高Ga粉末を乾燥済みのNa化合物粉末と混合してから、さらに低Ga粉末を追加し、均一になるように混合して混合粉末とする。
以上の混合はすべて上記(1)および(2)のような低湿度環境で行う。なお、還元性雰囲気中で行うことがさらに好ましい。
次に、このように上記(1)~(3)のいずれかの方法で混合した原料粉末を、湿度RH:30%以下の乾燥環境でプラスチック樹脂性の袋に封入し保管する。これは、Na化合物の吸湿や吸湿による凝集を防止するためである。
Cu−Ga粉末の焼結中の酸化防止のため、焼結工程は、非酸化性の還元性雰囲気中、真空中または不活性ガス雰囲気中で行うことが好ましい。
上記混合粉末を焼結する方法としては、例えば、以下の3つの方法が適用できる。
1.上記混合粉末を金型に充填し、冷間にてプレス成形した成形体あるいは成形モールドに充填、タッピングして一定のかさ密度を有する成形体を形成し、それを真空中、不活性ガス中または還元性雰囲気中において焼結する。
2.上記混合粉末を真空または不活性ガス雰囲気中でホットプレスする。
3.上記混合粉末をHIP法(熱間静水圧プレス法)で焼結する。
次に、上記焼結工程で得たCu−Ga−Na化合物焼結体は、通常放電加工、切削加工または研削加工を用いて、ターゲットの指定形状に加工することで本実施形態のスパッタリングターゲットが作製される。このとき、Na化合物は水に溶解するため、加工の際、冷却液を使わない乾式法または水を含まない冷却液を使用する湿式法が好ましい。また、湿式法で予め加工した後、さらに乾式法で表面を精密加工する方法もある。
なお、加工済みのターゲットを保管する際には、酸化、吸湿を防止するため、ターゲット全体を真空パックまたは不活性ガス置換したパックを施すことが好ましい。
このように作製したスパッタリングターゲットは、ArガスをスパッタガスとしてDCマグネトロンスパッタに供する。このとき、パルス電圧を付加するパルスDC電源を用いることが好ましいが、Na化合物含有量によっては、パルスなしのDC電源でもスパッタ可能である。また、スパッタ時の投入電力は1~10W/cm2が好ましい。
このように、本実施形態のスパッタリングターゲットでは、理論密度比が90%以上、抗折強度が100N/mm2以上、バルク比抵抗が1mΩ・cm以下であり、ターゲット表面の1cm2面積内に、0.05mm2以上のNa化合物の凝集体が平均1個以下であるので、ターゲットの密度を十分確保することと、抗折強度及び電気抵抗の確保と、上記凝集体の抑制とにより、高濃度のNaを含有しつつも変色、斑点の発生や異常放電が抑制され、さらには高強度を有して割れ難いスパッタリングターゲットを実現できる。
さらに、酸素含有量が200~2000ppmであるので、高い吸湿性を有するNaOの発生を防ぎ、より変色や機械強度の低下を抑制することができる。
また、ターゲット素地中の金属相の平均粒径が20μm以下であるので、理論密度比が90%以上で、かつ高濃度のNa化合物を含有していても、ターゲットの靭性を良好に維持することができる。
さらに、Na化合物粉末を混合粉末とする前に70℃以上の温度で乾燥させる工程を有する、又は混合粉末を70℃以上の温度で乾燥させる工程を有するので、Na化合物の粒子の分散性を維持しつつ、酸素含有量の低減を図ると共に原料粉末の混合後における再凝集を抑制することができる。
まず、表1に示される成分組成および粒径を有するCu−Ga合金粉末と、Cu粉末(純度4N)と、純度3Nで一次平均粒子径が1μmのNa化合物粉末とを、表1に示される量になるように配合し、実施例1~24の混合粉末とした。これらの混合粉末を、上述した所定の真空環境にて乾燥させた。その後、乾燥させた上記原料粉末を、容積10Lのポリエチレン製ポットに入れ、さらに80℃、10時間乾燥した直径2mmのジルコニアボールを入れて、ボールミルで指定された時間で混合した。この混合は窒素雰囲気で行った。なお、直径2mmのジルコニアボールは重量が軽く、Cu粉末やCu−Ga合金粉末をつぶさずに分散混合させる効果を有する。また、ボール対粉末の重量割合は、ボール:粉末=2:1が最も分散効果が良い。
常圧焼結する場合、まず混合粉末を金属製金型に充填し、1500kgf/cm2の圧力にて常温加圧して、成形体を作った。この成形体を、窒素と3%水素との混合雰囲気において焼成し、高密度の焼結体を得た。
ホットプレス(HP)の場合、原料粉末を黒鉛モールドに充填して真空ホットプレスを行った。HIPの場合、常圧焼結と同様に成形体を作成し、この成形体を0.5mm厚みのステンレス容器に装入した後、真空脱気を経て封入し、HIP処理した。
また、比較のため、表4及び表5に示すように、本発明の範囲から外れた条件で比較例1~16のターゲットを作製した。
本発明の実施例1~24について、切削加工時におけるターゲットの欠け発生の有無を記録し、さらに分析用焼結体の小片について非分散赤外線吸収法にて酸素濃度分析を行った。なお、焼結体の理論密度比は上述の方法で計算した。また、抗折強度は、JIS R1601に従い、変形速度0.5mm/minで三点曲げ試験で行った。さらに、加工後のターゲット表面100cm2を観察し、0.05mm2以上のNa化合物凝集体の数を計測し、その1cm2面積当たりの平均値を計算した。Na化合物相の平均粒径、金属相の平均粒径を上記の方法で測定した。また、作製したターゲット中のGaとNaとの含有量を、ICP法(高周波誘導結合プラズマ法)を用いて定量分析を行った。さらに、ターゲットを25℃、湿度60%に8時間放置し、目視によって表面の変色を確認した。
また、上記得られた膜を剥がし、ICP法を用いてNa、Gaの定量測定を行った。
これらの評価について、上記の各実施例及び各比較例における結果を、表2,3及び表5,6に示す。
また、実施例では、表3に示すように、切削加工時の割れや欠けは、いずれも発生していないのに対し、比較例1,3~5,7,8,12,14,15では、表6に示すように、切削加工時の割れや欠けが発生している。なお、比較例3では、金属相の結晶粒が大きくなったため、チッピングが発生した。
さらに、本実施例では、表3に示すように、スパッタ時のマイクロ・アーク異常放電回数がいずれも300回未満であるのに対し、比較例では、いずれも500回を超えて多発している。
さらに、本実施例では、表3に示すように、スパッタ時の著しい異常放電回数がいずれも0回であるのに対し、比較例では、比較例13を除き、いずれも1回またはそれを超えて多発している。
さらに、図5に、比較例1のターゲットを使用後、スパッタ面に見える著しい異常放電の痕跡を示している。
また、本発明の技術範囲は上記実施形態及び上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
Claims (8)
- スパッタリングターゲットのF,S,Seを除く金属成分として、Ga:10~40at%、Na:1.0~15at%を含有し、残部がCu及び不可避不純物からなる成分組成を有し、
Naがフッ化ナトリウム、硫化ナトリウム及びセレン化ナトリウムのうち少なくとも1種からなるNa化合物の状態で含有され、
理論密度比が90%以上、抗折強度が100N/mm2以上、バルク比抵抗が1mΩ・cm以下であり、
ターゲット表面の1cm2面積内に、0.05mm2以上のNa化合物の凝集体が平均1個以下であることを特徴とするスパッタリングターゲット。 - 請求項1に記載のスパッタリングターゲットにおいて、
ターゲット素地中にNa化合物相が分散している組織を有し、前記Na化合物相の平均粒径が10μm以下であることを特徴とするスパッタリングターゲット。 - 請求項1に記載のスパッタリングターゲットにおいて、
酸素含有量が200~2000ppmであることを特徴とするスパッタリングターゲット。 - 請求項1に記載のスパッタリングターゲットにおいて、
ターゲット素地中の金属相の平均粒径が20μm以下であることを特徴とするスパッタリングターゲット。 - 請求項1に記載のスパッタリングターゲットを製造する方法であって、
Na化合物粉末とCu−Ga粉末との混合粉末を焼結する工程を有し、
前記Cu−Ga粉末は、Cu−Ga合金粉末又はCu−Ga合金粉末とCu粉末からなり、平均粒径が1~45μmであって、
粒径30μm以下の粒子が、前記Cu−Ga粉末の粉末全重量の半分以上を占めることを特徴とするスパッタリングターゲットの製造方法。 - 請求項5に記載のスパッタリングターゲットの製造方法において、
前記Na化合物粉末を、前記混合粉末とする前に70℃以上の温度で乾燥させる工程を有することを特徴とするスパッタリングターゲットの製造方法。 - 請求項5に記載のスパッタリングターゲットの製造方法において、
前記混合粉末を、70℃以上の温度で乾燥させる工程を有することを特徴とするスパッタリングターゲットの製造方法。 - 請求項5に記載のスパッタリングターゲットの製造方法において、
前記混合粉末を焼結する工程で、前記混合粉末を非酸化性雰囲気又は真空中で焼結することを特徴とするスパッタリングターゲットの製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP13752289.2A EP2818574B1 (en) | 2012-02-24 | 2013-02-15 | Sputtering target and method for producing same |
US14/380,610 US9607812B2 (en) | 2012-02-24 | 2013-02-15 | Sputtering target and method for producing same |
KR1020147022951A KR20140129028A (ko) | 2012-02-24 | 2013-02-15 | 스퍼터링 타깃 및 그 제조 방법 |
CN201380004675.7A CN104024470B (zh) | 2012-02-24 | 2013-02-15 | 溅射靶及其制造方法 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012039042 | 2012-02-24 | ||
JP2012-039042 | 2012-02-24 | ||
JP2013-005369 | 2013-01-16 | ||
JP2013005369A JP5999357B2 (ja) | 2012-02-24 | 2013-01-16 | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2013125716A1 true WO2013125716A1 (ja) | 2013-08-29 |
Family
ID=49005890
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2013/054637 WO2013125716A1 (ja) | 2012-02-24 | 2013-02-15 | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9607812B2 (ja) |
EP (2) | EP2818574B1 (ja) |
JP (1) | JP5999357B2 (ja) |
KR (1) | KR20140129028A (ja) |
CN (1) | CN104024470B (ja) |
TW (1) | TWI600777B (ja) |
WO (1) | WO2013125716A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6311912B2 (ja) | 2012-10-17 | 2018-04-18 | 三菱マテリアル株式会社 | Cu−Ga二元系スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
JP6365922B2 (ja) | 2013-04-15 | 2018-08-01 | 三菱マテリアル株式会社 | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
JP6028714B2 (ja) * | 2013-10-30 | 2016-11-16 | 住友金属鉱山株式会社 | Cu−Ga合金スパッタリングターゲットの製造方法 |
JP6665428B2 (ja) * | 2014-07-08 | 2020-03-13 | 三菱マテリアル株式会社 | Cu−Ga合金スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
JP5973041B2 (ja) * | 2014-08-28 | 2016-08-17 | 三菱マテリアル株式会社 | Cu−Gaスパッタリングターゲット及びCu−Gaスパッタリングターゲットの製造方法 |
JP6634750B2 (ja) * | 2014-09-22 | 2020-01-22 | 三菱マテリアル株式会社 | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
CN107406965A (zh) * | 2015-01-12 | 2017-11-28 | 纽升股份有限公司 | 可用于制造硫属化物半导体的含碱金属的前体膜的高速溅射沉积 |
JP6794850B2 (ja) * | 2016-02-08 | 2020-12-02 | 三菱マテリアル株式会社 | スパッタリングターゲット及びスパッタリングターゲットの製造方法 |
CN116121716B (zh) * | 2023-04-14 | 2023-07-04 | 广州市尤特新材料有限公司 | 一种防变色陶瓷膜用靶材及其制备方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007266626A (ja) | 1994-12-01 | 2007-10-11 | Shell Solar Gmbh | 基板上に太陽電池を製造する方法及びカルコパイライト吸収層を有する太陽電池 |
JP2009049389A (ja) | 2007-07-20 | 2009-03-05 | Japan Aerospace Exploration Agency | 太陽電池の製造方法 |
JP2010265544A (ja) * | 2009-04-14 | 2010-11-25 | Kobelco Kaken:Kk | Cu−Ga合金スパッタリングターゲットおよびその製造方法 |
WO2011010529A1 (ja) * | 2009-07-23 | 2011-01-27 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Cu-Ga合金焼結体スパッタリングターゲット、同ターゲットの製造方法、Cu-Ga合金焼結体ターゲットから作製された光吸収層及び同光吸収層を用いたCIGS系太陽電池 |
JP2011074418A (ja) | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Hitachi Metals Ltd | Mo系スパッタリングターゲット |
JP2011117077A (ja) | 2009-11-06 | 2011-06-16 | Mitsubishi Materials Corp | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
WO2011083647A1 (ja) * | 2010-01-07 | 2011-07-14 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Cu-Ga系スパッタリングターゲット、同ターゲットの製造方法、光吸収層及び該光吸収層を用いた太陽電池 |
WO2011114657A1 (ja) * | 2010-03-18 | 2011-09-22 | 三菱マテリアル株式会社 | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
WO2012147985A1 (ja) * | 2011-04-29 | 2012-11-01 | 三菱マテリアル株式会社 | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4696175B2 (ja) | 2010-05-06 | 2011-06-08 | 株式会社 ヤマシタワークス | 薬剤プレススルーパック包装体と該包装体からの薬剤取出方法 |
US7935558B1 (en) | 2010-10-19 | 2011-05-03 | Miasole | Sodium salt containing CIG targets, methods of making and methods of use thereof |
-
2013
- 2013-01-16 JP JP2013005369A patent/JP5999357B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-02-15 EP EP13752289.2A patent/EP2818574B1/en active Active
- 2013-02-15 EP EP16172411.7A patent/EP3141630B1/en not_active Not-in-force
- 2013-02-15 US US14/380,610 patent/US9607812B2/en active Active
- 2013-02-15 WO PCT/JP2013/054637 patent/WO2013125716A1/ja active Application Filing
- 2013-02-15 CN CN201380004675.7A patent/CN104024470B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2013-02-15 KR KR1020147022951A patent/KR20140129028A/ko not_active Application Discontinuation
- 2013-02-22 TW TW102106207A patent/TWI600777B/zh active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007266626A (ja) | 1994-12-01 | 2007-10-11 | Shell Solar Gmbh | 基板上に太陽電池を製造する方法及びカルコパイライト吸収層を有する太陽電池 |
JP2009049389A (ja) | 2007-07-20 | 2009-03-05 | Japan Aerospace Exploration Agency | 太陽電池の製造方法 |
JP2010265544A (ja) * | 2009-04-14 | 2010-11-25 | Kobelco Kaken:Kk | Cu−Ga合金スパッタリングターゲットおよびその製造方法 |
WO2011010529A1 (ja) * | 2009-07-23 | 2011-01-27 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Cu-Ga合金焼結体スパッタリングターゲット、同ターゲットの製造方法、Cu-Ga合金焼結体ターゲットから作製された光吸収層及び同光吸収層を用いたCIGS系太陽電池 |
JP2011074418A (ja) | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Hitachi Metals Ltd | Mo系スパッタリングターゲット |
JP2011117077A (ja) | 2009-11-06 | 2011-06-16 | Mitsubishi Materials Corp | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
WO2011083647A1 (ja) * | 2010-01-07 | 2011-07-14 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Cu-Ga系スパッタリングターゲット、同ターゲットの製造方法、光吸収層及び該光吸収層を用いた太陽電池 |
WO2011114657A1 (ja) * | 2010-03-18 | 2011-09-22 | 三菱マテリアル株式会社 | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
WO2012147985A1 (ja) * | 2011-04-29 | 2012-11-01 | 三菱マテリアル株式会社 | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
Non-Patent Citations (5)
Title |
---|
D. RUDMANN ET AL.: "Effect of NaF coevaporation on structural properties of Cu(In, Ga)Se2 thin films", THIN SOLID FILMS, 2003, pages 37 - 40, XP004428602, DOI: doi:10.1016/S0040-6090(03)00246-3 |
ISHIZUKA ET AL.: "Na-induced variations in the structural, optical, and electrical properties of Cu(In, Ga)Se thin films", JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, vol. 106, 2009, pages 034908 |
ISHIZUKA ET AL.: "The current and future trends on the development of chalcopyrite thin film solar cells", JOURNAL OF THE VACUUM SOCIETY OF JAPAN, vol. 53, no. 1, 2010, pages 25 |
TOORU TANAKA ET AL.: "Characterization of Cu(InxGa1-x)2Se3.5 thin films prepared by rf sputtering", SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS, vol. 50, 1998, pages 13 - 18, XP004102485 * |
TOORU TANAKA ET AL.: "Preparation of Cu(In,Ga) 2Se3.5 thin films by radio frequency sputtering from stoichiometric Cu(In,Ga)Se2 and Na2Se mixture target", J.APPL.PHYS., vol. 81, no. 11, 1997, pages 7619 - 7622, XP000658376 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5999357B2 (ja) | 2016-09-28 |
CN104024470A (zh) | 2014-09-03 |
KR20140129028A (ko) | 2014-11-06 |
US20150014156A1 (en) | 2015-01-15 |
EP3141630A1 (en) | 2017-03-15 |
EP2818574A4 (en) | 2015-11-11 |
EP2818574B1 (en) | 2019-06-05 |
US9607812B2 (en) | 2017-03-28 |
EP3141630B1 (en) | 2018-05-09 |
CN104024470B (zh) | 2016-08-24 |
JP2013199704A (ja) | 2013-10-03 |
EP2818574A1 (en) | 2014-12-31 |
TWI600777B (zh) | 2017-10-01 |
TW201346045A (zh) | 2013-11-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5999357B2 (ja) | スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
JP5725610B2 (ja) | スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
JP4831258B2 (ja) | スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
JP4793504B2 (ja) | スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
JP5919738B2 (ja) | スパッタリングターゲットおよびその製造方法 | |
WO2015016153A1 (ja) | Cu-Ga合金スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
JP6365922B2 (ja) | スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
WO2014024975A1 (ja) | スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
JP2012246574A (ja) | スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
JP6436006B2 (ja) | スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
JP5776902B2 (ja) | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 13752289 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 20147022951 Country of ref document: KR Kind code of ref document: A |
|
WWE | Wipo information: entry into national phase |
Ref document number: 2013752289 Country of ref document: EP |
|
WWE | Wipo information: entry into national phase |
Ref document number: 14380610 Country of ref document: US |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |