WO2013108414A1 - 銅張積層板用表面処理銅箔及びそれを用いた銅張積層板 - Google Patents

銅張積層板用表面処理銅箔及びそれを用いた銅張積層板 Download PDF

Info

Publication number
WO2013108414A1
WO2013108414A1 PCT/JP2012/055592 JP2012055592W WO2013108414A1 WO 2013108414 A1 WO2013108414 A1 WO 2013108414A1 JP 2012055592 W JP2012055592 W JP 2012055592W WO 2013108414 A1 WO2013108414 A1 WO 2013108414A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
copper foil
copper
clad laminate
resin
treated
Prior art date
Application number
PCT/JP2012/055592
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
新井 英太
敦史 三木
Original Assignee
Jx日鉱日石金属株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jx日鉱日石金属株式会社 filed Critical Jx日鉱日石金属株式会社
Priority to CN201280066269.9A priority Critical patent/CN104040036B/zh
Priority to KR1020157022482A priority patent/KR102066316B1/ko
Priority to KR1020147015231A priority patent/KR20140084333A/ko
Publication of WO2013108414A1 publication Critical patent/WO2013108414A1/ja

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D7/00Electroplating characterised by the article coated
    • C25D7/06Wires; Strips; Foils
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B15/00Layered products comprising a layer of metal
    • B32B15/04Layered products comprising a layer of metal comprising metal as the main or only constituent of a layer, which is next to another layer of the same or of a different material
    • B32B15/08Layered products comprising a layer of metal comprising metal as the main or only constituent of a layer, which is next to another layer of the same or of a different material of synthetic resin
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B15/00Layered products comprising a layer of metal
    • B32B15/20Layered products comprising a layer of metal comprising aluminium or copper
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B27/00Layered products comprising a layer of synthetic resin
    • B32B27/28Layered products comprising a layer of synthetic resin comprising synthetic resins not wholly covered by any one of the sub-groups B32B27/30 - B32B27/42
    • B32B27/281Layered products comprising a layer of synthetic resin comprising synthetic resins not wholly covered by any one of the sub-groups B32B27/30 - B32B27/42 comprising polyimides
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B7/00Layered products characterised by the relation between layers; Layered products characterised by the relative orientation of features between layers, or by the relative values of a measurable parameter between layers, i.e. products comprising layers having different physical, chemical or physicochemical properties; Layered products characterised by the interconnection of layers
    • B32B7/04Interconnection of layers
    • B32B7/12Interconnection of layers using interposed adhesives or interposed materials with bonding properties
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/56Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/02Electroplating of selected surface areas
    • C25D5/028Electroplating of selected surface areas one side electroplating, e.g. substrate conveyed in a bath with inhibited background plating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/60Electroplating characterised by the structure or texture of the layers
    • C25D5/605Surface topography of the layers, e.g. rough, dendritic or nodular layers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/627Electroplating characterised by the visual appearance of the layers, e.g. colour, brightness or mat appearance
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D7/00Electroplating characterised by the article coated
    • C25D7/06Wires; Strips; Foils
    • C25D7/0614Strips or foils
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
    • H05K3/382Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by special treatment of the metal
    • H05K3/384Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by special treatment of the metal by plating
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2250/00Layers arrangement
    • B32B2250/033 layers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2250/00Layers arrangement
    • B32B2250/40Symmetrical or sandwich layers, e.g. ABA, ABCBA, ABCCBA
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2307/00Properties of the layers or laminate
    • B32B2307/40Properties of the layers or laminate having particular optical properties
    • B32B2307/408Matt, dull surface
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2307/00Properties of the layers or laminate
    • B32B2307/40Properties of the layers or laminate having particular optical properties
    • B32B2307/412Transparent
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2307/00Properties of the layers or laminate
    • B32B2307/50Properties of the layers or laminate having particular mechanical properties
    • B32B2307/538Roughness
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2457/00Electrical equipment
    • B32B2457/08PCBs, i.e. printed circuit boards
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/22Electroplating: Baths therefor from solutions of zinc
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/38Electroplating: Baths therefor from solutions of copper
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/56Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys
    • C25D3/562Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys containing more than 50% by weight of iron or nickel or cobalt
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/56Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys
    • C25D3/58Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys containing more than 50% by weight of copper
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/10Electroplating with more than one layer of the same or of different metals
    • C25D5/12Electroplating with more than one layer of the same or of different metals at least one layer being of nickel or chromium
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/10Electroplating with more than one layer of the same or of different metals
    • C25D5/12Electroplating with more than one layer of the same or of different metals at least one layer being of nickel or chromium
    • C25D5/14Electroplating with more than one layer of the same or of different metals at least one layer being of nickel or chromium two or more layers being of nickel or chromium, e.g. duplex or triplex layers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/01Dielectrics
    • H05K2201/0104Properties and characteristics in general
    • H05K2201/0108Transparent
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/01Dielectrics
    • H05K2201/0137Materials
    • H05K2201/0154Polyimide

Definitions

  • the present invention relates to a surface-treated copper foil for a copper-clad laminate and a copper-clad laminate using the same, and in particular, a copper-clad laminate suitable for a field where transparency of the remaining resin after etching the copper foil is required.
  • the present invention relates to a surface-treated copper foil for plates and a copper-clad laminate using the same.
  • FPCs flexible printed wiring boards
  • the signal transmission speed has been increased, and impedance matching has become an important factor in FPC.
  • a resin insulation layer for example, polyimide
  • the FPC is processed such as bonding to a liquid crystal substrate and mounting of an IC chip. The alignment at this time is visible through the resin insulation layer remaining after etching the copper foil of the copper clad laminate. Therefore, the visibility of the resin insulating layer is important.
  • a copper clad laminated board can also be manufactured even if it uses the rolled copper foil by which the roughening plating was given to the surface.
  • This rolled copper foil usually uses tough pitch copper (oxygen content of 100 to 500 ppm by weight) or oxygen free copper (oxygen content of 10 ppm by weight or less) as a raw material, and after hot rolling these ingots, It is manufactured by repeating cold rolling and annealing to a thickness.
  • Patent Document 1 proposes to use a low-roughness electrolytic foil having a high surface glossiness as a conductor layer.
  • Patent Document 2 proposes a rolled copper foil having an oil pit depth of 2.0 ⁇ m or less on the surface formed by a cold rolling process under conditions such as oil film control as a copper foil having excellent flexibility. ing.
  • Patent Document 1 a low-roughness copper foil obtained by improving adhesion with an organic treatment agent after blackening treatment or plating treatment is broken due to fatigue in applications where flexibility is required for a copper-clad laminate. May be inferior in resin transparency. Further, even if a rolled copper foil having an oil pit state as described in Patent Document 2 is used, sufficient transparency of the resin cannot be obtained. Thus, in the prior art, the resin transparency after removing the rolled copper foil by etching was low, and the chip alignment could not be performed smoothly.
  • the present invention provides a copper foil for a copper-clad laminate, which adheres well to a resin and is excellent in resin transparency after the copper foil is removed by etching.
  • the present inventors have found that the surface average roughness Rz of the copper foil bonded to the resin substrate affects the resin transparency after the copper foil is removed by etching. . That is, it has been found that as the surface average roughness Rz on the side of the copper foil bonded to the resin substrate is larger, the resin transparency after the copper foil is removed by etching becomes poorer.
  • roughened particles are formed on the surface of the copper foil by roughening, and the average roughness Rz of the roughened surface is 0.5 to 1.3 ⁇ m.
  • Glossiness of the roughened surface is 0.5 to 68, and the ratio A between the surface area A of the roughened particles and the area B obtained when the roughened particles are planarly viewed from the copper foil surface side.
  • / B is a surface-treated copper foil for copper-clad laminates having 2.00 to 2.45.
  • the average roughness Rz is 0.5 to 1.1 ⁇ m.
  • the average roughness Rz is 0.6 to 0.9 ⁇ m.
  • the glossiness is 1.0 to 40.
  • the glossiness is 4.8 to 35.
  • the A / B is 2.00 to 2.30.
  • the A / B is 2.00 to 2.15.
  • the light transmittance of the resin substrate becomes 30% or more.
  • the present invention is a copper clad laminate comprising the surface-treated copper foil and a resin substrate laminated.
  • a surface-treated copper foil for a copper clad laminated substrate that is excellently bonded to a resin and excellent in transparency of the resin after the copper foil is removed by etching.
  • the copper foil used in the present invention may be either an electrolytic copper foil or a rolled copper foil.
  • the surface of the copper foil that adheres to the resin base material, that is, the roughened surface has a fist-like shape on the surface of the copper foil after degreasing for the purpose of improving the peel strength of the copper foil after lamination.
  • a roughening process for electrodeposition is performed.
  • the electrolytic copper foil has irregularities at the time of manufacture, the irregularities are further increased by enhancing the convex portions of the electrolytic copper foil by roughening treatment. In the present invention, this roughening treatment can be performed by copper-cobalt-nickel alloy plating.
  • Ordinary copper plating or the like may be performed as a pretreatment before roughening, and ordinary copper plating or the like may be performed as a finishing treatment after roughening in order to prevent electrodeposits from dropping off.
  • the content of treatment may be somewhat different between the rolled copper foil and the electrolytic copper foil.
  • known treatments related to copper foil roughening are included as necessary, and are collectively referred to as roughening treatment.
  • the ternary alloy layer can be formed as follows. If the amount of deposited Co is less than 100 ⁇ g / dm 2 , the heat resistance may deteriorate and the etching property may deteriorate.
  • the amount of Co deposition exceeds 3000 ⁇ g / dm 2 , it is not preferable when the influence of magnetism must be taken into account, etching spots may occur, and acid resistance and chemical resistance may deteriorate. If the Ni adhesion amount is less than 100 ⁇ g / dm 2 , the heat resistance may deteriorate. On the other hand, when the Ni adhesion amount exceeds 900 ⁇ g / dm 2 , the etching residue increases.
  • a preferable Co adhesion amount is 1000 to 2000 ⁇ g / dm 2 , and a preferable nickel adhesion amount is 200 to 400 ⁇ g / dm 2 .
  • the etching stain means that Co remains without being dissolved when etched with copper chloride
  • the etching residue means that Ni remains without being dissolved when alkaline etching is performed with ammonium chloride. It means that.
  • Plating bath composition Cu 10-20 g / L, Co 1-10 g / L, Ni 1-10 g / L pH: 1 to 4 Temperature: 40-50 ° C Current density D k : 20 to 30 A / dm 2 Plating time: 1-5 seconds
  • cobalt nickel cobalt -100 ⁇ 700 ⁇ g / dm 2 weight deposited on the roughened surface is 200 ⁇ 3000 ⁇ g / dm 2 - can form a nickel alloy plating layer.
  • This treatment can be regarded as a kind of rust prevention treatment in a broad sense.
  • This cobalt-nickel alloy plating layer needs to be performed to such an extent that the adhesive strength between the copper foil and the substrate is not substantially lowered. If the amount of cobalt adhesion is less than 200 ⁇ g / dm 2 , the heat-resistant peel strength is lowered, and the oxidation resistance and chemical resistance may be deteriorated.
  • the treated surface becomes reddish, which is not preferable.
  • the amount of cobalt deposition exceeds 3000 ⁇ g / dm 2 , it is not preferable when the influence of magnetism must be taken into account, etching spots occur, and deterioration of acid resistance and chemical resistance is considered.
  • a preferable cobalt adhesion amount is 500 to 3000 ⁇ g / dm 2 .
  • the nickel adhesion amount is less than 100 ⁇ g / dm 2 , the heat-resistant peel strength is lowered and the oxidation resistance and chemical resistance are deteriorated.
  • nickel exceeds 700 ⁇ g / dm 2 the alkali etching property is deteriorated.
  • a preferable nickel adhesion amount is 200 to 600 ⁇ g / dm 2 .
  • Plating bath composition Co 1-20 g / L, Ni 1-20 g / L pH: 1.5-3.5 Temperature: 30-80 ° C Current density D k : 1.0 to 20.0 A / dm 2 Plating time: 0.5-4 seconds
  • a zinc plating layer having an adhesion amount of 10 to 80 ⁇ g / dm 2 is further formed on the cobalt-nickel alloy plating. If the zinc adhesion amount is less than 10 ⁇ g / dm 2 , the heat deterioration rate improving effect may be lost. On the other hand, when the zinc adhesion amount exceeds 80 ⁇ g / dm 2 , the hydrochloric acid resistance deterioration rate may be extremely deteriorated.
  • the zinc adhesion amount is 20 to 60 ⁇ g / dm 2 , more preferably 30 to 50 ⁇ g / dm 2 .
  • Plating bath composition Zn 100 to 300 g / L pH: 3-4 Temperature: 50-60 ° C Current density D k : 0.1 to 0.5 A / dm 2 Plating time: 1 to 3 seconds
  • a zinc alloy plating layer such as zinc-nickel alloy plating may be formed in place of the zinc plating layer, and a rust prevention layer may be formed on the outermost surface by chromate treatment or application of a silane coupling agent. Good.
  • the surface-treated copper foil of the present invention is a ternary composed of copper, cobalt, and nickel on the primary particle layer after forming a primary particle layer of copper on the surface of the copper foil in advance as a roughening treatment.
  • an example of plating conditions for the primary particles of copper is as follows: Plating bath composition: Cu 10-25 g / L, sulfuric acid 50-100 g / L Temperature: 25-50 ° C Current density D k : 10 to 70 A / dm 2 Plating time: 5 to 25 seconds Coulomb amount 50 to 500 As / dm 2
  • Secondary particle plating conditions is as follows: Plating bath composition: Cu 10-20 g / L, nickel 5-15 g / L, cobalt 5-15 g / L pH: 2-3 Temperature: 30-50 ° C Current density D k : 20 to 60 A / dm 2 Plating time: 1-5 seconds Coulomb amount 30-70 As / dm 2
  • the average roughness Rz of the roughened surface is preferably 0.5 to 1.1 ⁇ m, more preferably 0.6 to 0.9 ⁇ m.
  • the surface-treated copper foil of the present invention has a light transmittance of the resin substrate in a portion where the copper foil is removed after being bonded to the resin substrate. Becomes better. Specifically, when the surface-treated copper foil of the present invention is bonded to both surfaces of a 50 ⁇ m thick resin substrate from the surface of the roughened surface, the light transmittance of the resin substrate is removed when the copper foil is removed by etching. May be 30% or more, preferably 50% or more.
  • the surface-treated copper foil of the present invention has a glossiness of the roughened surface of 0.5 to 68, preferably 1.0 to 40, and more preferably 4.8 to 35.
  • the ratio A / B between the surface area A of the roughened particles and the area B obtained when the roughened particles are viewed in plan from the copper foil surface side greatly affects the light transmittance of the resin. That is, if the surface roughness Rz is the same, the smaller the ratio A / B, the better the transmittance of the resin described above. Therefore, in the surface-treated copper foil of the present invention, the ratio A / B is 2.00 to 2.45, preferably 2.00 to 2.30, and preferably 2.00 to 2.15. Is more preferable.
  • the form and formation density of the particles are determined, and the surface roughness Rz, glossiness, and particle area ratio A / B can be controlled.
  • the copper-clad laminate can be manufactured by bonding the surface-treated copper foil of the present invention to the resin substrate from the roughened surface side.
  • the resin substrate is not particularly limited as long as it has characteristics applicable to a printed wiring board or the like.
  • a paper base phenol resin, a paper base epoxy resin, a synthetic fiber cloth base epoxy resin for rigid PWB Glass cloth / paper composite base material epoxy resin, glass cloth / glass nonwoven fabric composite base material epoxy resin, glass cloth base material epoxy resin, etc. can be used, and polyester film, polyimide film, etc. can be used for FPC.
  • a prepreg in which a base material such as glass cloth is impregnated with a resin and the resin is cured to a semi-cured state is prepared. It can be carried out by superposing a copper foil on the prepreg from the opposite surface of the coating layer and heating and pressing.
  • the copper-clad laminate of the present invention can be used for various printed wiring boards (PWB), and is not particularly limited. It can be applied to (three or more layers), and can be applied to rigid PWB, flexible PWB (FPC), and rigid flex PWB from the viewpoint of the type of insulating substrate material.
  • PWB printed wiring boards
  • Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 8 copper foils were prepared, and one surface was plated under the conditions described in Tables 1 to 4 as a roughening treatment.
  • copper foils of Examples 1 to 12 and Comparative Examples 2 to 6 and 8 rolled copper foils of tough pitch copper (JIS H3100 C1100R) manufactured by JX Nippon Mining & Metals were used.
  • electrolytic copper foil HLPLC foil manufactured by JX Nippon Mining & Metals was used as copper foils of Examples 13 to 15 and Comparative Examples 1 and 7
  • the copper foil was bonded to both surfaces of a polyimide film with a thermosetting adhesive for lamination (thickness 50 ⁇ m), and the copper foil was removed by etching (ferric chloride aqueous solution) to prepare a sample film.
  • the light transmittance of the obtained resin layer was measured using a spectrophotometer V-660 manufactured by JASCO Corporation with a slit of 10 mm and a wavelength of 620 nm.
  • Peel strength (adhesive strength); Based on PC-TM-650, the normal peel strength was measured with a tensile tester Autograph 100, and the normal peel strength of 0.7 N / mm or more could be used for a copper clad laminated substrate. Table 5 shows the conditions and evaluation of each test.
  • Examples 1 to 15 all had good transmittance, visibility and peel strength.
  • Comparative Examples 1, 2, and 5 since the average roughness Rz of the roughened surface was more than 1.3 ⁇ m, the transmittance was poor.
  • Comparative Example 4 since the area ratio A / B was less than 2.00, the peel strength was poor.
  • Comparative Example 6 since the average roughness Rz of the roughened surface was less than 0.5 ⁇ m, the peel strength was poor.
  • the comparative example 7 had a glossiness of less than 0.5, the transmittance was poor.
  • Comparative Example 8 since the area ratio A / B was more than 2.45, the transmittance was poor.
  • FIG. 1 shows the printed matter of (a) Comparative Example 1, (b) Example 1, (c) Example 2, (d) Example 7, and (e) Example 3 in the above-described visibility evaluation. Each photo is shown.
  • FIG. 2 shows (a) Comparative Example 1, (b) Example 1, (c) Example 2, (d) Example 7, and (e) Example 3 of the copper foil surface in the above Rz evaluation. SEM observation photographs are shown respectively.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

 樹脂と良好に接着し、且つ、銅箔をエッチングで除去した後の樹脂の透明性に優れた銅張積層基板用表面処理銅箔を提供する。銅張積層板用表面処理銅箔は、銅箔表面に粗化処理により粗化粒子が形成され、粗化処理表面の平均粗さRzが0.5~1.3μmであり、粗化処理表面の光沢度が0.5~68であり、前記粗化粒子の表面積Aと、前記粗化粒子を前記銅箔表面側から平面視したときに得られる面積Bとの比A/Bが2.00~2.45である。

Description

銅張積層板用表面処理銅箔及びそれを用いた銅張積層板
 本発明は、銅張積層板用表面処理銅箔及びそれを用いた銅張積層板に関し、特に、銅箔をエッチングした後の残部の樹脂の透明性が要求される分野に好適な銅張積層板用表面処理銅箔及びそれを用いた銅張積層板に関する。
 スマートフォンやタブレットPCといった小型電子機器には、配線の容易性や軽量性からフレキシブルプリント配線板(以下、FPC)が採用されている。近年、これら電子機器の高機能化により信号伝送速度の高速化が進み、FPCにおいてもインピーダンス整合が重要な要素となっている。信号容量の増加に対するインピーダンス整合の方策として、FPCのベースとなる樹脂絶縁層(例えば、ポリイミド)の厚層化が進んでいる。一方、FPCは液晶基材への接合やICチップの搭載などの加工が施されるが、この際の位置合わせは銅張積層板の銅箔をエッチングした後に残る樹脂絶縁層を透過して視認される位置決めパターンを介して行われるため、樹脂絶縁層の視認性が重要となる。
 また、銅張積層板は、表面に粗化めっきが施された圧延銅箔を使用しても製造できる。この圧延銅箔は、通常タフピッチ銅(酸素含有量100~500重量ppm)又は無酸素銅(酸素含有量10重量ppm以下)を素材として使用し、これらのインゴットを熱間圧延した後、所定の厚さまで冷間圧延と焼鈍とを繰り返して製造される。特許文献1には表面の光沢度が高い低粗度電解箔を導体層として用いることが提案されている。
 一方、特許文献2では屈曲性に優れる銅箔として、油膜制御等の条件下の冷間圧延工程で形成された表面上のオイルピットの深さが2.0μm以下である圧延銅箔が提案されている。
特開2004-98659号公報 特開2001-58203号公報
 特許文献1において、黒化処理又はめっき処理後の有機処理剤により接着性が改良処理されて得られる低粗度銅箔は、銅張積層板に屈曲性が要求される用途では、疲労によって断線することがあり、樹脂透視性に劣る場合がある。又、特許文献2に記載された程度のオイルピット状態を有する圧延銅箔を使用しても樹脂の充分な透明性は得られない。このように従来技術では圧延銅箔をエッチングで除去した後の樹脂透視性が低く、チップの位置合わせを円滑に行うことができなかった。
 本発明は、樹脂と良好に接着し、且つ、銅箔をエッチングで除去した後の樹脂の透明性に優れた銅張積層基板用銅箔を提供する。
 本発明者らは鋭意研究を重ねた結果、銅箔の樹脂基板に接着している側の表面平均粗さRzが、銅箔をエッチング除去した後の樹脂透明性に影響を及ぼすことを見出した。すなわち、銅箔の樹脂基板に接着している側の表面平均粗さRzが大きいほど銅箔をエッチング除去した後の樹脂透明性が不良となることを見出した。
 以上の知見を基礎として完成された本発明は一側面において、銅箔表面に粗化処理により粗化粒子が形成され、粗化処理表面の平均粗さRzが0.5~1.3μmであり、粗化処理表面の光沢度が0.5~68であり、前記粗化粒子の表面積Aと、前記粗化粒子を前記銅箔表面側から平面視したときに得られる面積Bとの比A/Bが2.00~2.45である銅張積層板用表面処理銅箔である。
 本発明に係る銅張積層板用表面処理銅箔の一実施形態においては、前記平均粗さRzが0.5~1.1μmである。
 本発明に係る銅張積層板用表面処理銅箔の別の実施形態においては、前記平均粗さRzが0.6~0.9μmである。
 本発明に係る銅張積層板用表面処理銅箔の更に別の実施形態においては、前記光沢度が1.0~40である。
 本発明に係る銅張積層板用表面処理銅箔の更に別の実施形態においては、前記光沢度が4.8~35である。
 本発明に係る銅張積層板用表面処理銅箔の更に別の実施形態においては、前記A/Bが2.00~2.30である。
 本発明に係る銅張積層板用表面処理銅箔の更に別の実施形態においては、前記A/Bが2.00~2.15である。
 前記銅箔を、粗化処理表面側から厚さ50μmの樹脂基板の両面に貼り合わせた後、エッチングで前記銅箔を除去したとき、前記樹脂基板の光透過率が30%以上となる。
 本発明は別の側面において、前記表面処理銅箔と樹脂基板とを積層して構成した銅張積層板である。
 本発明によれば、樹脂と良好に接着し、且つ、銅箔をエッチングで除去した後の樹脂の透明性に優れた銅張積層基板用表面処理銅箔を提供できる。
視認性評価の際の、(a)比較例1、(b)実施例1、(c)実施例2、(d)実施例7、(e)実施例3の印刷物の観察写真である。 Rz評価の際の、(a)比較例1、(b)実施例1、(c)実施例2、(d)実施例7、(e)実施例3の銅箔表面のSEM観察写真である。
 〔表面処理銅箔の形態及び製造方法〕
 本発明において使用する銅箔は、電解銅箔或いは圧延銅箔いずれでも良い。通常、銅箔の、樹脂基材と接着する面、即ち粗化面には積層後の銅箔の引き剥し強さを向上させることを目的として、脱脂後の銅箔の表面にふしこぶ状の電着を行う粗化処理が施される。電解銅箔は製造時点で凹凸を有しているが、粗化処理により電解銅箔の凸部を増強して凹凸を一層大きくする。本発明においては、この粗化処理は銅-コバルト-ニッケル合金めっきにより行なうことができる。粗化前の前処理として通常の銅めっき等が行われることがあり、粗化後の仕上げ処理として電着物の脱落を防止するために通常の銅めっき等が行なわれることもある。圧延銅箔と電解銅箔とでは処理の内容を幾分異にすることもある。本発明においては、こうした前処理及び仕上げ処理をも含め、銅箔粗化と関連する公知の処理を必要に応じて含め、総称して粗化処理と云うものとする。
 本発明における粗化処理としての銅-コバルト-ニッケル合金めっきは、電解めっきにより、付着量が15~40mg/dm2の銅-100~3000μg/dm2のコバルト-100~900μg/dm2のニッケルであるような3元系合金層を形成するように実施することができる。Co付着量が100μg/dm2未満では、耐熱性が悪化し、エッチング性が悪くなることがある。Co付着量が3000μg/dm2 を超えると、磁性の影響を考慮せねばならない場合には好ましくなく、エッチングシミが生じ、また、耐酸性及び耐薬品性の悪化がすることがある。Ni付着量が100μg/dm2未満であると、耐熱性が悪くなることがある。他方、Ni付着量が900μg/dm2を超えると、エッチング残が多くなる。好ましいCo付着量は1000~2000μg/dm2であり、好ましいニッケル付着量は200~400μg/dm2である。ここで、エッチングシミとは、塩化銅でエッチングした場合、Coが溶解せずに残ってしまうことを意味しそしてエッチング残とは塩化アンモニウムでアルカリエッチングした場合、Niが溶解せずに残ってしまうことを意味するものである。
 このような3元系銅-コバルト-ニッケル合金めっきを形成するための一般的浴及びめっき条件の一例は次の通りである:
 めっき浴組成:Cu10~20g/L、Co1~10g/L、Ni1~10g/L
 pH:1~4
 温度:40~50℃
 電流密度Dk:20~30A/dm2
 めっき時間:1~5秒
 粗化処理後、粗化面上に付着量が200~3000μg/dm2のコバルト-100~700μg/dm2のニッケルのコバルト-ニッケル合金めっき層を形成することができる。この処理は広い意味で一種の防錆処理とみることができる。このコバルト-ニッケル合金めっき層は、銅箔と基板の接着強度を実質的に低下させない程度に行う必要がある。コバルト付着量が200μg/dm2 未満では、耐熱剥離強度が低下し、耐酸化性及び耐薬品性が悪化することがある。また、もう一つの理由として、コバルト量が少ないと処理表面が赤っぽくなってしまうので好ましくない。コバルト付着量が3000μg/dm2を超えると、磁性の影響を考慮せねばならない場合には好ましくなく、エッチングシミが生じ、また、耐酸性及び耐薬品性の悪化が考慮される。好ましいコバルト付着量は500~3000μg/dm2である。一方、ニッケル付着量が100μg/dm2 未満では耐熱剥離強度が低下し耐酸化性及び耐薬品性が悪化する。ニッケルが700μg/dm2を超えると、アルカリエッチング性が悪くなる。好ましいニッケル付着量は200~600μg/dm2である。
 また、コバルト-ニッケル合金めっきの条件の一例は次の通りである:
 めっき浴組成:Co1~20g/L、Ni1~20g/L
 pH:1.5~3.5
 温度:30~80℃
 電流密度Dk:1.0~20.0A/dm2
 めっき時間:0.5~4秒
 本発明に従えば、コバルト-ニッケル合金めっき上に更に付着量の10~80μg/dm2の亜鉛めっき層が形成される。亜鉛付着量が10μg/dm2未満では耐熱劣化率改善効果が無くなることがある。他方、亜鉛付着量が80μg/dm2を超えると耐塩酸劣化率が極端に悪くなることがある。好ましくは、亜鉛付着量は20~60μg/dm2であり、より好ましくは30~50μg/dm2である。
 上記亜鉛めっきの条件の一例は次の通りである:
 めっき浴組成:Zn100~300g/L
 pH:3~4
 温度:50~60℃
 電流密度Dk:0.1~0.5A/dm2
 めっき時間:1~3秒
 なお、亜鉛めっき層の代わりに亜鉛-ニッケル合金めっき等の亜鉛合金めっき層を形成してもよく、さらに最表面にはクロメート処理やシランカップリング剤の塗布等によって防錆層を形成してもよい。
 また、本発明の表面処理銅箔は、粗化処理として、銅箔の表面に、事前に銅の一次粒子層を形成した後、一次粒子層の上に、銅、コバルト及びニッケルからなる三元系合金からなる二次粒子層を形成してもよい。この場合、銅の一次粒子のめっき条件の一例は以下の通りである:
 めっき浴組成:Cu10~25g/L、硫酸50~100g/L
 温度:25~50℃
 電流密度Dk:10~70A/dm2
 めっき時間:5~25秒
 クーロン量50~500As/dm2
 二次粒子のめっき条件の一例は以下の通りである:
 めっき浴組成:Cu10~20g/L、ニッケル5~15g/L、コバルト5~15g/L
 pH:2~3
 温度:30~50℃
 電流密度Dk:20~60A/dm2
 めっき時間:1~5秒
 クーロン量30~70As/dm2
 〔表面粗さRz〕
 本発明の表面処理銅箔は、銅箔表面に粗化処理により粗化粒子が形成され、且つ、粗化処理表面の平均粗さRzが0.5~1.3μmである。このような構成により、ピール強度が高くなって樹脂と良好に接着し、且つ、銅箔をエッチングで除去した後の樹脂の光透過性が良好となる。その結果、当該樹脂を透過して視認される位置決めパターンを介して行うICチップ搭載時の位置合わせ等が容易となる。平均粗さRzが0.5μm未満であると、銅箔表面の粗化処理が不十分であり、樹脂と十分に接着できない。一方、平均粗さRzが1.3μm超であると、銅箔をエッチングで除去した後の樹脂表面の凹凸が大きくなり、その結果樹脂の光透過性が不良となる。粗化処理表面の平均粗さRzは、0.5~1.1μmが好ましく、0.6~0.9μmがより好ましい。
 〔光透過率〕
 本発明の表面処理銅箔は、上述のように粗化処理表面の平均粗さRzが制御されているため、樹脂基板に貼り合わせた後、銅箔を除去した部分の樹脂基板の光透過率が良好となる。具体的には、本発明の表面処理銅箔は、粗化処理表面側から厚さ50μmの樹脂基板の両面に貼り合わせた後、エッチングで当該銅箔を除去したとき、樹脂基板の光透過率が30%以上、好ましくは50%以上であってもよい。
 〔光沢度〕
 表面処理銅箔の粗化面の光沢度は、上述の樹脂の光透過率に大いに影響を及ぼす。すなわち、粗化面の光沢度が大きい銅箔ほど、上述の樹脂の透過率が良好となる。このため、本発明の表面処理銅箔は、粗化面の光沢度が0.5~68であり、1.0~40であるのが好ましく、4.8~35であるのがより好ましい。
 〔粒子の表面積〕
 粗化粒子の表面積Aと、粗化粒子を銅箔表面側から平面視したときに得られる面積Bとの比A/Bは、上述の樹脂の光透過率に大いに影響を及ぼす。すなわち、表面粗さRzが同じであれば、比A/Bが小さい銅箔ほど、上述の樹脂の透過率が良好となる。このため、本発明の表面処理銅箔は、当該比A/Bが2.00~2.45であり、2.00~2.30であるのが好ましく、2.00~2.15であるのがより好ましい。
 粒子形成時の電流密度とメッキ時間とを制御することで、粒子の形態や形成密度が決まり、上記表面粗さRz、光沢度及び粒子の面積比A/Bを制御することができる。
 本発明の表面処理銅箔を、粗化処理面側から樹脂基板に貼り合わせて銅張積層体を製造することができる。樹脂基板はプリント配線板等に適用可能な特性を有するものであれば特に制限を受けないが、例えば、リジッドPWB用に紙基材フェノール樹脂、紙基材エポキシ樹脂、合成繊維布基材エポキシ樹脂、ガラス布・紙複合基材エポキシ樹脂、ガラス布・ガラス不織布複合基材エポキシ樹脂及びガラス布基材エポキシ樹脂等を使用し、FPC用にポリエステルフィルムやポリイミドフィルム等を使用する事ができる。
 貼り合わせの方法は、リジッドPWB用の場合、ガラス布などの基材に樹脂を含浸させ、樹脂を半硬化状態まで硬化させたプリプレグを用意する。銅箔を被覆層の反対側の面からプリプレグに重ねて加熱加圧させることにより行うことができる。
 本発明の銅張積層体は各種のプリント配線板(PWB)に使用可能であり、特に制限されるものではないが、例えば、導体パターンの層数の観点からは片面PWB、両面PWB、多層PWB(3層以上)に適用可能であり、絶縁基板材料の種類の観点からはリジッドPWB、フレキシブルPWB(FPC)、リジッド・フレックスPWBに適用可能である。
 実施例1~15及び比較例1~8として、銅箔を準備し、一方の表面に、粗化処理として表1~4に記載の条件にてめっき処理を行った。ここで、実施例1~12、比較例2~6、8の銅箔としてJX日鉱日石金属社製タフピッチ銅(JIS H3100 C1100R)の圧延銅箔を用いた。また、実施例13~15、比較例1、7の銅箔として、JX日鉱日石金属社製電解銅箔HLPLC箔を用いた。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
 上述のようにして作製した実施例及び比較例の各サンプルについて、各種評価を下記の通り行った。
(1)表面粗さ(Rz)の測定;
 株式会社小阪研究所製接触粗さ計SP-11を使用してJIS B0601-1994に準拠して十点平均粗さを粗化面について測定した。測定基準長さ0.8mm、評価長さ4mm、カットオフ値0.8mm、送り速さ0.1mm/秒の条件で圧延方向と平行に測定位置を変えて10回行い、10回の測定での値を求めた。
(2)粒子の面積比(A/B);
 粗化粒子の表面積はレーザー顕微鏡による測定法を使用した。株式会社キーエンス製レーザーマイクロスコープVK8500を用いて粗化処理面の100×100μm相当面積(実データでは9924.4μm2)における三次元表面積Aを測定して、三次元表面積A÷二次元表面積B=面積比(A/B)とする手法により設定を行った。
(3)光沢度;
 JIS Z8741に準拠した日本電色株式会社製光沢度計ハンディーグロスメーターPG-1を使用し、圧延方向に直角な方向の入射角60度で粗化面について測定した。
(4)光透過率;
 銅箔をラミネート用熱硬化性接着剤付きポリイミドフィルム(厚み50μm)の両面に貼り合せ、銅箔をエッチング(塩化第二鉄水溶液)で除去してサンプルフィルムを作成した。得られた樹脂層に対し、日本分光株式会社製分光光度計V-660を用いて、スリット10mmで、波長620nmの設定により光透過率を測定した。
(5)視認性(樹脂透明性);
 銅箔をラミネート用熱硬化性接着剤付きポリイミドフィルム(厚み50μm)の両面に貼り合わせ、銅箔をエッチング(塩化第二鉄水溶液)で除去してサンプルフィルムを作成した。得られた樹脂層の一面に印刷物を貼り付け、反対面から樹脂層越しに印刷物の視認性を判定した。印刷物の輪郭がはっきりしたものを「○」(合格)、輪郭が崩れたものを「×」(不合格)と評価した。
(6)ピール強度(接着強度);
 PC-TM-650に準拠し、引張り試験機オートグラフ100で常態ピール強度を測定し、上記常態ピール強度が0.7N/mm以上を銅張積層基板用途に使用できるものとした。
 上記各試験の条件及び評価を表5に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000005
 (評価結果)
 実施例1~15は、いずれも透過率、視認性及びピール強度が良好であった。
 比較例1、2、5は、粗化処理表面の平均粗さRzが1.3μm超であったため、透過率が不良であった。
 比較例3は、光沢度が68超であったため、ピール強度が不良であった。
 比較例4は、面積比A/Bが2.00未満であったため、ピール強度が不良であった。
 比較例6は、粗化処理表面の平均粗さRzが0.5μm未満であったため、ピール強度が不良であった。
 比較例7は、光沢度が0.5未満であったため、透過率が不良であった。
 比較例8は、面積比A/Bが2.45超であったため、透過率が不良であった。
 図1に、上記視認性評価の際の、(a)比較例1、(b)実施例1、(c)実施例2、(d)実施例7、(e)実施例3の印刷物の観察写真をそれぞれ示す。
 図2に、上記Rz評価の際の、(a)比較例1、(b)実施例1、(c)実施例2、(d)実施例7、(e)実施例3の銅箔表面のSEM観察写真をそれぞれ示す。

Claims (9)

  1.  銅箔表面に粗化処理により粗化粒子が形成され、粗化処理表面の平均粗さRzが0.5~1.3μmであり、粗化処理表面の光沢度が0.5~68であり、
     前記粗化粒子の表面積Aと、前記粗化粒子を前記銅箔表面側から平面視したときに得られる面積Bとの比A/Bが2.00~2.45である銅張積層板用表面処理銅箔。
  2.  前記平均粗さRzが0.5~1.1μmである請求項1に記載の銅張積層板用表面処理銅箔。
  3.  前記平均粗さRzが0.6~0.9μmである請求項2に記載の銅張積層板用表面処理銅箔。
  4.  前記光沢度が1.0~40である請求項1~3のいずれかに記載の銅張積層板用表面処理銅箔。
  5.  前記光沢度が4.8~35である請求項4に記載の銅張積層板用表面処理銅箔。
  6.  前記A/Bが2.00~2.30である請求項1~5のいずれかに記載の銅張積層板用表面処理銅箔。
  7.  前記A/Bが2.00~2.15である請求項6に記載の銅張積層板用表面処理銅箔。
  8.  前記銅箔を、粗化処理表面側から厚さ50μmの樹脂基板の両面に貼り合わせた後、エッチングで前記銅箔を除去したとき、前記樹脂基板の光透過率が30%以上となる請求項1~7のいずれかに記載の銅張積層板用表面処理銅箔。
  9.  請求項1~8のいずれかに記載の表面処理銅箔と樹脂基板とを積層して構成した銅張積層板。
PCT/JP2012/055592 2012-01-18 2012-03-05 銅張積層板用表面処理銅箔及びそれを用いた銅張積層板 WO2013108414A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201280066269.9A CN104040036B (zh) 2012-01-18 2012-03-05 覆铜板用表面处理铜箔及使用了该铜箔的覆铜板
KR1020157022482A KR102066316B1 (ko) 2012-01-18 2012-03-05 표면 처리 구리박 및 그것을 사용한 구리 피복 적층판, 프린트 배선판, 전자 기기
KR1020147015231A KR20140084333A (ko) 2012-01-18 2012-03-05 표면 처리 구리박 및 그것을 사용한 구리 피복 적층판, 프린트 배선판, 전자 기기

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012-007578 2012-01-18
JP2012007578A JP5497808B2 (ja) 2012-01-18 2012-01-18 表面処理銅箔及びそれを用いた銅張積層板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2013108414A1 true WO2013108414A1 (ja) 2013-07-25

Family

ID=48798858

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2012/055592 WO2013108414A1 (ja) 2012-01-18 2012-03-05 銅張積層板用表面処理銅箔及びそれを用いた銅張積層板

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP5497808B2 (ja)
KR (2) KR102066316B1 (ja)
CN (1) CN104040036B (ja)
TW (1) TWI460068B (ja)
WO (1) WO2013108414A1 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104349582A (zh) * 2013-07-30 2015-02-11 古河电气工业株式会社 线路板用铜箔及线路板
CN104427757A (zh) * 2013-08-20 2015-03-18 Jx日矿日石金属株式会社 表面处理铜箔、附载体铜箔、积层板、印刷布线板、电子机器、以及印刷布线板的制造方法
CN105765110A (zh) * 2013-11-27 2016-07-13 Jx金属株式会社 附载体铜箔、积层体、印刷配线板、及印刷配线板的制造方法
US20180160546A1 (en) * 2016-12-06 2018-06-07 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Surface Treated Copper Foil, Copper Foil With Carrier, Laminate, Method for Manufacturing Printed Wiring Board, and Method for Manufacturing Electronic Device
US20180288884A1 (en) * 2017-03-31 2018-10-04 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Surface Treated Copper Foil, Surface Treated Copper Foil With Resin Layer, Copper Foil With Carrier, Laminate, Method For Manufacturing Printed Wiring Board, Heat Dissipation Substrate, And Method For Manufacturing Electronic Device
US20180288881A1 (en) * 2017-03-31 2018-10-04 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Surface Treated Copper Foil, Surface Treated Copper Foil With Resin Layer, Copper Foil With Carrier, Laminate, Method For Manufacturing Printed Wiring Board, And Method For Manufacturing Electronic Device

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6205269B2 (ja) * 2011-11-04 2017-09-27 Jx金属株式会社 印刷回路用銅箔、銅張積層板、プリント配線板、印刷回路板及び電子機器
JP6166614B2 (ja) * 2013-07-23 2017-07-19 Jx金属株式会社 表面処理銅箔、キャリア付銅箔、基材、プリント配線板、プリント回路板、銅張積層板及びプリント配線板の製造方法
JP6335449B2 (ja) * 2013-07-24 2018-05-30 Jx金属株式会社 キャリア付銅箔、銅張積層板の製造方法及びプリント配線板の製造方法
JP5885791B2 (ja) * 2013-08-20 2016-03-15 Jx金属株式会社 表面処理銅箔及びそれを用いた積層板、キャリア付銅箔、銅箔、プリント配線板、電子機器、電子機器の製造方法、並びに、プリント配線板の製造方法
JP6343205B2 (ja) * 2013-08-21 2018-06-13 Jx金属株式会社 キャリア付銅箔及びそれを用いた積層板の製造方法、プリント配線板、電子機器、プリント配線板の製造方法、並びに、電子機器の製造方法
JP5756547B1 (ja) 2014-04-28 2015-07-29 株式会社Shカッパープロダクツ 表面処理銅箔及び積層板
JP6297011B2 (ja) * 2014-08-28 2018-03-20 株式会社有沢製作所 3層フレキシブル金属張積層板及び両面3層フレキシブル金属張積層板
JP5728118B1 (ja) * 2014-09-22 2015-06-03 株式会社Shカッパープロダクツ 表面処理銅箔、該表面処理銅箔の製造方法、および該表面処理銅箔を用いた銅張積層板
JP2016121394A (ja) * 2014-12-23 2016-07-07 エル エス エムトロン リミテッドLS Mtron Ltd. 電解銅箔、これを含むfccl及びccl
KR101897474B1 (ko) * 2015-06-26 2018-09-12 케이씨에프테크놀로지스 주식회사 리튬 이차전지용 전해동박 및 이를 포함하는 리튬 이차전지
JP6782561B2 (ja) * 2015-07-16 2020-11-11 Jx金属株式会社 キャリア付銅箔、積層体、積層体の製造方法、プリント配線板の製造方法及び電子機器の製造方法
WO2017026500A1 (ja) 2015-08-12 2017-02-16 古河電気工業株式会社 表面処理銅箔及びこれを用いて製造される銅張積層板又はプリント配線板
KR20170038969A (ko) * 2015-09-30 2017-04-10 일진머티리얼즈 주식회사 표면처리동박 및 그의 제조방법
JP6182584B2 (ja) 2015-12-09 2017-08-16 古河電気工業株式会社 プリント配線板用表面処理銅箔、プリント配線板用銅張積層板及びプリント配線板
WO2017138338A1 (ja) 2016-02-10 2017-08-17 古河電気工業株式会社 表面処理銅箔及びこれを用いて製造される銅張積層板
WO2018047933A1 (ja) * 2016-09-12 2018-03-15 古河電気工業株式会社 銅箔およびこれを有する銅張積層板
CN108696987B (zh) * 2017-03-31 2021-11-30 Jx金属株式会社 表面处理铜箔、附有载体的铜箔、积层体、印刷布线板的制造方法及电子机器的制造方法
KR20240030268A (ko) * 2022-08-30 2024-03-07 롯데에너지머티리얼즈 주식회사 기둥형 노듈 구조를 갖는 표면처리동박,이를 포함하는 동박적층판 및 프린트 배선판

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02292894A (ja) * 1989-05-02 1990-12-04 Nikko Guurudo Fuoiru Kk 印刷回路用銅箔の処理方法
JPH0987889A (ja) * 1995-09-28 1997-03-31 Nikko Gould Foil Kk 印刷回路用銅箔の処理方法
JPH1018075A (ja) * 1996-06-28 1998-01-20 Nikko Gould Foil Kk 電解銅箔
JP2003023046A (ja) * 2001-07-11 2003-01-24 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd Cof用積層フィルム及びcofフィルムキャリアテープ
JP2008118163A (ja) * 2002-05-13 2008-05-22 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 電解銅箔
JP2009105286A (ja) * 2007-10-24 2009-05-14 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 表面処理銅箔
WO2010061736A1 (ja) * 2008-11-25 2010-06-03 日鉱金属株式会社 印刷回路用銅箔
WO2011138876A1 (ja) * 2010-05-07 2011-11-10 Jx日鉱日石金属株式会社 印刷回路用銅箔

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001058203A (ja) 1999-08-19 2001-03-06 Nippon Mining & Metals Co Ltd 屈曲性に優れた圧延銅箔
JP4090467B2 (ja) * 2002-05-13 2008-05-28 三井金属鉱業株式会社 チップオンフィルム用フレキシブルプリント配線板
JP2004098659A (ja) 2002-07-19 2004-04-02 Ube Ind Ltd 銅張積層板及びその製造方法
TW200718347A (en) * 2005-07-14 2007-05-01 Mitsui Mining & Smelting Co Blackening surface treated copper foil and electromagnetic wave shielding conductive mesh for front panel of plasma display using the blackening surface treated copper foil
KR20080063159A (ko) * 2006-12-28 2008-07-03 미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤 가요성 프린트 배선 기판 및 반도체 장치
JP5129642B2 (ja) * 2007-04-19 2013-01-30 三井金属鉱業株式会社 表面処理銅箔及びその表面処理銅箔を用いて得られる銅張積層板並びにその銅張積層板を用いて得られるプリント配線板
WO2011052207A1 (ja) * 2009-10-30 2011-05-05 パナソニック電工株式会社 回路基板、及び前記回路基板の製造方法
JP5242710B2 (ja) * 2010-01-22 2013-07-24 古河電気工業株式会社 粗化処理銅箔、銅張積層板及びプリント配線板
JP4927963B2 (ja) * 2010-01-22 2012-05-09 古河電気工業株式会社 表面処理銅箔、その製造方法及び銅張積層基板
KR101344176B1 (ko) * 2010-02-24 2013-12-20 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 인쇄 회로 기판용 동박 및 인쇄 회로 기판용 동장 적층판

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02292894A (ja) * 1989-05-02 1990-12-04 Nikko Guurudo Fuoiru Kk 印刷回路用銅箔の処理方法
JPH0987889A (ja) * 1995-09-28 1997-03-31 Nikko Gould Foil Kk 印刷回路用銅箔の処理方法
JPH1018075A (ja) * 1996-06-28 1998-01-20 Nikko Gould Foil Kk 電解銅箔
JP2003023046A (ja) * 2001-07-11 2003-01-24 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd Cof用積層フィルム及びcofフィルムキャリアテープ
JP2008118163A (ja) * 2002-05-13 2008-05-22 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 電解銅箔
JP2009105286A (ja) * 2007-10-24 2009-05-14 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 表面処理銅箔
WO2010061736A1 (ja) * 2008-11-25 2010-06-03 日鉱金属株式会社 印刷回路用銅箔
WO2011138876A1 (ja) * 2010-05-07 2011-11-10 Jx日鉱日石金属株式会社 印刷回路用銅箔

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104349582A (zh) * 2013-07-30 2015-02-11 古河电气工业株式会社 线路板用铜箔及线路板
JP5706026B1 (ja) * 2013-07-30 2015-04-22 古河電気工業株式会社 配線板用銅箔及び配線板
CN104349582B (zh) * 2013-07-30 2018-11-13 古河电气工业株式会社 线路板用铜箔及线路板
CN104427757A (zh) * 2013-08-20 2015-03-18 Jx日矿日石金属株式会社 表面处理铜箔、附载体铜箔、积层板、印刷布线板、电子机器、以及印刷布线板的制造方法
CN105765110A (zh) * 2013-11-27 2016-07-13 Jx金属株式会社 附载体铜箔、积层体、印刷配线板、及印刷配线板的制造方法
US10201092B2 (en) 2013-11-27 2019-02-05 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Carrier-attached copper foil, laminate, printed-wiring board and method for manufacturing the printed wiring board
US20180160546A1 (en) * 2016-12-06 2018-06-07 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Surface Treated Copper Foil, Copper Foil With Carrier, Laminate, Method for Manufacturing Printed Wiring Board, and Method for Manufacturing Electronic Device
US10791631B2 (en) * 2016-12-06 2020-09-29 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Surface treated copper foil, copper foil with carrier, laminate, method for manufacturing printed wiring board, and method for manufacturing electronic device
US20180288884A1 (en) * 2017-03-31 2018-10-04 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Surface Treated Copper Foil, Surface Treated Copper Foil With Resin Layer, Copper Foil With Carrier, Laminate, Method For Manufacturing Printed Wiring Board, Heat Dissipation Substrate, And Method For Manufacturing Electronic Device
US20180288881A1 (en) * 2017-03-31 2018-10-04 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Surface Treated Copper Foil, Surface Treated Copper Foil With Resin Layer, Copper Foil With Carrier, Laminate, Method For Manufacturing Printed Wiring Board, And Method For Manufacturing Electronic Device
US10925171B2 (en) * 2017-03-31 2021-02-16 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Surface treated copper foil, surface treated copper foil with resin layer, copper foil with carrier, laminate, method for manufacturing printed wiring board, heat dissipation substrate, and method for manufacturing electronic device
US10925170B2 (en) * 2017-03-31 2021-02-16 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Surface treated copper foil, surface treated copper foil with resin layer, copper foil with carrier, laminate, method for manufacturing printed wiring board, and method for manufacturing electronic device

Also Published As

Publication number Publication date
CN104040036A (zh) 2014-09-10
TW201343381A (zh) 2013-11-01
JP2013147688A (ja) 2013-08-01
JP5497808B2 (ja) 2014-05-21
KR20140084333A (ko) 2014-07-04
CN104040036B (zh) 2017-04-12
KR102066316B1 (ko) 2020-01-14
KR20150103306A (ko) 2015-09-09
TWI460068B (zh) 2014-11-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5497808B2 (ja) 表面処理銅箔及びそれを用いた銅張積層板
JP5919303B2 (ja) 表面処理銅箔及びそれを用いた銅張積層板
JP5475897B1 (ja) 表面処理銅箔及びそれを用いた積層板、銅箔、プリント配線板、電子機器、並びに、プリント配線板の製造方法
JP5417538B1 (ja) 表面処理銅箔及びそれを用いた積層板、プリント配線板、電子機器、並びに、プリント配線板の製造方法
JP5362924B1 (ja) 表面処理銅箔及びそれを用いた積層板
WO2014073692A1 (ja) 表面処理銅箔及びそれを用いた積層板、プリント配線板並びに銅張積層板
KR20160129916A (ko) 표면 처리 동박 및 그것을 사용한 적층판, 동박, 프린트 배선판, 전자 기기, 그리고 프린트 배선판의 제조 방법
JP5855244B2 (ja) 表面処理銅箔及びそれを用いた積層板、プリント配線板、電子機器及びプリント配線板を製造する方法
JP5432357B1 (ja) 表面処理銅箔及びそれを用いた積層板、銅張積層板、プリント配線板並びに電子機器
JP2014141736A (ja) 表面処理銅箔及びそれを用いた積層板
JP2014065974A (ja) 表面処理銅箔及びそれを用いた積層板、銅張積層板、プリント配線板並びに電子機器
JP5922169B2 (ja) 電子機器の製造方法
JP6081883B2 (ja) 銅箔及びそれを用いた積層板、電子機器の製造方法、並びに、プリント配線板の製造方法
JP6364162B2 (ja) プリント配線板の製造方法
JP2014148747A (ja) 表面処理銅箔及びそれを用いた積層板、プリント配線板、電子機器、並びに、プリント配線板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 12866012

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20147015231

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 12866012

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1