WO2011027737A1 - プラズマ光源 - Google Patents

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一 桑原
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株式会社Ihi
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    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
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    • G03F7/70008—Production of exposure light, i.e. light sources
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    • H05G2/006—X-ray radiation generated from plasma being produced from a liquid or gas details of the ejection system, e.g. constructional details of the nozzle

Definitions

  • the present invention relates to a plasma light source for EUV radiation.
  • Lithography using an extreme ultraviolet light source is expected for microfabrication of next-generation semiconductors.
  • Lithography is a technique for forming an electronic circuit by irradiating a resist material by reducing and projecting light or a beam onto a silicon substrate through a mask on which a circuit pattern is drawn.
  • the minimum processing dimension of a circuit formed by photolithography basically depends on the wavelength of the light source. Therefore, it is essential to shorten the wavelength of the light source for next-generation semiconductor development, and research for this light source development is underway.
  • EUV extreme ultra violet
  • the most promising next generation lithography light source is an extreme ultra violet (EUV) light source, which means light in the wavelength region of about 1 to 100 nm.
  • the light in this region has a high absorptance with respect to all substances, and a transmissive optical system such as a lens cannot be used. Therefore, a reflective optical system is used.
  • the optical system in the extreme ultraviolet region is very difficult to develop, and exhibits a reflection characteristic only at a limited wavelength.
  • the light source plasma generation can be broadly classified into light source plasma generation (LPP: Laser Produced Plasma) by laser irradiation method and light source plasma generation (DPP: Discharge Produced Plasma) by gas discharge method driven by pulse power technology.
  • LPP Light Source Plasma generation
  • DPP Discharge Produced Plasma
  • the radiation spectrum from a high-temperature and high-density plasma by the gas discharge method is basically determined by the temperature and density of the target material. According to the calculation result of the atomic process of the plasma, Xe, Sn can be used to make the plasma in the EUV radiation region.
  • the electron temperature and the electron density are optimum to be several tens of eV and about 10 18 cm ⁇ 3 respectively, and in the case of Li, about 20 eV and about 10 18 cm ⁇ 3 are optimum.
  • Non-Patent Documents 1 and 2 and Patent Document 1 The plasma light source described above is disclosed in Non-Patent Documents 1 and 2 and Patent Document 1.
  • EUV lithography light sources are required to have a high average output, a small light source size, and a small amount of scattered particles (debris).
  • the EUV emission amount is extremely low with respect to the required output, and increasing the output is one of the major issues.
  • the input energy is increased for increasing the output, the damage caused by the thermal load will be affected by the plasma generator and The lifetime of the optical system is reduced. Therefore, high energy conversion efficiency is indispensable to satisfy both high EUV output and low heat load.
  • Room-temperature solid media such as Sn and Li have high spectral conversion efficiency, but the plasma generation is accompanied by phase changes such as melting and evaporation, so the effect of contamination inside the device due to debris (derived from discharge) such as neutral particles becomes larger. Therefore, the target supply and recovery system must be strengthened as well.
  • the conventional capillary discharge has a drawback that the effective solid solid angle is small because the plasma is confined in the capillary.
  • an object of the present invention is to generate plasma light for EUV radiation stably for a long time (on the order of ⁇ sec), and the damage caused by the thermal load of the component equipment is small, and effective radiation of the generated plasma light is achieved.
  • An object of the present invention is to provide a plasma light source capable of increasing the solid angle.
  • a pair of coaxial electrodes arranged opposite to each other, and a discharge for maintaining the plasma medium in the coaxial electrodes at a temperature and pressure suitable for plasma generation.
  • a plasma light source that includes an environment holding device and a voltage applying device that applies a discharge voltage whose polarity is reversed to each coaxial electrode, and forms a tubular discharge between a pair of coaxial electrodes to contain plasma in the axial direction. Because
  • Each of the coaxial electrodes includes a bar-shaped center electrode extending on a single axis, a guide electrode that surrounds the opposite ends of the center electrode at a predetermined interval, and an insulation between the center electrode and the guide electrode.
  • the insulating member is a partially porous ceramic composed of an insulating dense portion through which the liquefied plasma medium cannot continuously penetrate and a porous portion through which the liquefied plasma medium continuously penetrates,
  • the insulating dense portion has a reservoir that holds a plasma medium therein, and the porous portion communicates between the inner surface of the reservoir, the center electrode, and the guide electrode through the inside of the insulating dense portion.
  • a plasma light source is provided.
  • the plasma light source further includes a temperature-adjustable heating device that heats the insulating member and liquefies the plasma medium therein.
  • the plasma light source includes a gas supply device that supplies an inert gas into the reservoir, and a pressure adjustment device that adjusts the supply pressure of the inert gas.
  • a pair of coaxial electrodes arranged opposite to each other, and a discharge for maintaining the plasma medium in the coaxial electrodes at a temperature and pressure suitable for plasma generation.
  • a plasma light source that includes an environment holding device and a voltage applying device that applies a discharge voltage whose polarity is reversed to each coaxial electrode, and forms a tubular discharge between a pair of coaxial electrodes to contain plasma in the axial direction. Because Each of the coaxial electrodes includes a bar-shaped center electrode extending on a single axis, a guide electrode that surrounds the opposite ends of the center electrode at a predetermined interval, and an insulation between the center electrode and the guide electrode.
  • An insulating member that The insulating member is made of a porous ceramic having a front surface located on the tip side of the center electrode and a back surface on the opposite side, Furthermore, a hollow reservoir that opens in the back of the insulating member and holds the plasma medium inside,
  • a gas supply device for supplying an inert gas into the reservoir;
  • a pressure adjusting device for adjusting a supply pressure of the inert gas;
  • a plasma light source comprising a temperature-adjustable heating device that heats and liquefies the plasma medium in the reservoir.
  • the voltage application device includes a positive voltage source for applying a positive discharge voltage higher than the guide electrode to the center electrode of one coaxial electrode, and the other A negative voltage source for applying a negative discharge voltage lower than the guide electrode to the central electrode of the coaxial electrode, and a trigger switch for simultaneously applying the positive voltage source and the negative voltage source to the respective coaxial electrodes.
  • a pair of coaxial electrodes arranged opposite to each other are provided, and a pair of coaxial electrodes are caused to generate planar discharge currents (planar discharges), respectively.
  • the planar discharge forms a single plasma at the opposite intermediate position of each coaxial electrode, and then switches the planar discharge to a tubular discharge between a pair of coaxial electrodes to contain the plasma. Therefore, plasma light for EUV radiation can be stably generated for a long time (on the order of ⁇ sec).
  • a single plasma is formed at the opposite intermediate position of a pair of coaxial electrodes, and the energy conversion efficiency can be greatly improved.
  • the thermal load on each electrode is reduced, and the damage caused by the thermal load on the component equipment can be greatly reduced.
  • plasma that is a light emission source of plasma light is formed at an intermediate position between the pair of coaxial electrodes, an effective solid angle of radiation of the generated plasma light can be increased.
  • FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of a plasma light source according to the present invention.
  • the plasma light source according to the first embodiment of the present invention includes a pair of coaxial electrodes 10, a discharge environment holding device 20, a voltage application device 30, and a heating device 40.
  • the pair of coaxial electrodes 10 are disposed opposite to each other with the symmetry plane 1 as the center.
  • Each coaxial electrode 10 includes a rod-shaped center electrode 12, a guide electrode 14, and an insulating member 16.
  • the rod-shaped center electrode 12 is a conductive electrode extending on a single axis ZZ.
  • the end face of the center electrode 12 facing the symmetry plane 1 is arcuate. This configuration is not essential, and a concave hole may be provided on the end surface to stabilize the planar discharge current 2 and the tubular discharge 4 described later, or a flat surface.
  • the guide electrode 14 surrounds the opposite end portions of the center electrode 12 with a certain interval, and holds a plasma medium therebetween.
  • the guide electrode 14 includes a small-diameter hollow cylindrical portion 14a located on the side of the symmetry plane 1 and a large-diameter hollow portion 14b located on the opposite side and having a larger diameter than the small-diameter hollow cylindrical portion 14a.
  • the end surface of the small-diameter hollow cylindrical portion 14a facing the symmetry plane 1 of the guide electrode 14 is an arc shape in this example, but may be a flat surface.
  • the plasma medium may be a solid plasma medium such as Sn or Li at room temperature.
  • the insulating member 16 is a hollow cylindrical electric insulator positioned between the center electrode 12 and the guide electrode 14, and electrically insulates between the center electrode 12 and the guide electrode 14.
  • the insulating member 16 is made of a porous ceramic having a front surface located on the distal end side of the center electrode 12 and a back surface on the opposite side.
  • the insulating member 16 includes a small-diameter portion that fits inside the small-diameter hollow cylindrical portion 14a and a large-diameter portion that fits inside the large-diameter hollow portion 14b.
  • the large diameter portion is integrally connected to the guide electrode 14 by a bolt 17 (see FIG. 2).
  • the center electrodes 12 are positioned on the same axis ZZ and are symmetrically spaced apart from each other.
  • the discharge environment holding device 20 holds the coaxial electrode 10 at a temperature and pressure suitable for plasma generation of the plasma medium in the coaxial electrode 10.
  • the discharge environment holding device 20 can be constituted by, for example, a vacuum chamber, a temperature controller, a vacuum device, and a plasma medium supply device. This configuration is not essential, and other configurations may be used.
  • the voltage application device 30 applies a discharge voltage with the polarity reversed to each coaxial electrode 10.
  • the voltage application device 30 includes a positive voltage source 32, a negative voltage source 34, and a trigger switch 36.
  • the positive voltage source 32 applies a positive discharge voltage higher than that of the guide electrode 14 to the center electrode 12 of the coaxial electrode 10 on one side (left side in this example).
  • the negative voltage source 34 applies a negative discharge voltage lower than that of the guide electrode 14 to the center electrode 12 of the other coaxial electrode 10 (right side in this example).
  • the trigger switch 36 operates the positive voltage source 32 and the negative voltage source 34 at the same time, and simultaneously applies positive and negative discharge voltages to the respective coaxial electrodes 10.
  • the plasma light source according to the first embodiment of the present invention forms a tubular discharge (described later) between the pair of coaxial electrodes 10 to contain the plasma in the axial direction.
  • the heating device 40 includes an electric heater 42 that heats the insulating member 16 and a heating power supply device 44 that supplies electric power for heating to the electric heater 42.
  • the heating device 40 heats the insulating member 16 and liquefies the plasma medium therein. It has become.
  • the heating device 40 heats the insulating member 16 to heat and liquefy a plasma medium in a reservoir 18 described later.
  • the electric heater 42 is disposed in a groove provided on the outer periphery of the large-diameter portion of the insulating member 16, and is supplied from the heating power supply device 44 via a power supply line that penetrates the large-diameter hollow portion 14 b of the guide electrode 14. Power is supplied.
  • a temperature sensor (not shown) is provided, and the insulating member 16 is heated to a predetermined temperature to hold the temperature.
  • FIG. 2 is an enlarged view of the coaxial electrode of FIG.
  • an insulating member 16 is a partially porous ceramic in which an insulating dense portion 16a into which a liquefied plasma medium cannot continuously penetrate and a porous portion 16b into which a liquefied plasma medium continuously penetrates are integrally formed. is there.
  • the insulating dense portion 16 a insulates between the center electrode 12 and the guide electrode 14.
  • the porous portion 16b is continuous from the back surface to the front surface of the insulating member 16 through the inside of the insulating dense portion 16a.
  • the ceramic constituting the dense insulating portion 16a and the porous portion 16b is an insulating ceramic such as alumina (Al 2 O 3 ), aluminum nitride (AlN), zirconia (ZrO), silicon carbide (SiC), or the like. preferable.
  • the particle size and firing temperature of the insulating dense portion 16a are set so that the liquefied plasma medium cannot continuously penetrate. Further, the particle size and the firing temperature of the porous portion 16b are set so that the liquefied plasma medium continuously permeates.
  • the insulating dense portion 16a has a reservoir 18 that holds a plasma medium therein.
  • the reservoir 18 is a hollow cylindrical cavity that is provided inside the insulating dense portion 16a and that is centered on the axis ZZ.
  • the reservoir 18 opens to the back surface of the insulating member 16, and the back surface (left side in the drawing) of the reservoir 18 is closed by the closing plate 15.
  • the closing plate 15 is detachably fixed by a nut 13 that is screwed with a screw shaft 12 a provided on the back side of the center electrode 12.
  • the closing plate 15 may be a refractory metal plate or a refractory ceramic that can withstand the temperature of the liquefied plasma medium. With this configuration, the plasma medium can be appropriately supplied to the reservoir 18 by attaching and detaching the closing plate 15.
  • the plasma medium in the reservoir 18 is Sn, Li, etc. in this example, and is liquefied by the heating device 40.
  • the plasma light source of FIG. 1 further includes a gas supply device 50 and a pressure adjustment device 52.
  • the gas supply device 50 supplies an inert gas into the reservoir 18.
  • the inert gas is preferably a rare gas such as argon or xenon.
  • the pressure adjustment device 52 is provided in the middle of the gas supply line of the gas supply device 50 and adjusts the supply pressure of the inert gas. In the first embodiment, the gas supply device 50 and the pressure adjustment device 52 may be omitted.
  • the insulating member 16 is heated and maintained at a temperature at which the vapor pressure of the plasma medium 6 (Sn, Li, etc.) becomes a pressure suitable for plasma generation (Torr order). 12 and the guide electrode 14) is set to a vapor atmosphere of the plasma medium 6 in the Torr order. Further, the electrode conductors (the center electrode 12 and the guide electrode 14) are maintained at a high temperature at which the vapor of the plasma medium 6 does not aggregate.
  • the plasma medium 6 can be leached in a liquid metal state from the surface (end surface) of the porous portion 16b of the insulating member 16.
  • the plasma medium 6 may be supplied as a metal vapor gas from the surface (end surface) of the porous portion 16b of the insulating member 16 into the coaxial electrode 10 (between the center electrode 12 and the guide electrode 14).
  • the heating device 40 liquefies the plasma medium 6 in the reservoir 18 and further vaporizes the liquefied plasma medium 6 to form a metal vapor gas.
  • the insulating dense portion 16b is preferably formed so as not to pass gas. .
  • the shape of the insulating dense portion 16a and the porous portion 16b is not limited to this example, and may be other shapes as long as the center electrode 12 and the guide electrode 14 are electrically insulated.
  • FIG. 3A to 3D are operation explanatory views of the plasma light source of FIG.
  • FIG. 3A shows the occurrence of a sheet discharge
  • FIG. 3B shows the movement of the sheet discharge
  • FIG. 3C shows the plasma formation
  • FIG. 3D shows the plasma confinement magnetic field formation.
  • the pair of coaxial electrodes 10 described above are arranged to face each other, a plasma medium is supplied into the coaxial electrode 10 by the discharge environment holding device 20, and the temperature is suitable for plasma generation. And the discharge voltage which reversed the polarity to each coaxial electrode 10 with the voltage application apparatus 30 is hold
  • planar discharge 2 is a planar discharge current that spreads two-dimensionally, and is hereinafter also referred to as a “current sheet”.
  • the center electrode 12 of the left coaxial electrode 10 is applied with a positive voltage (+)
  • the guide electrode 14 is applied with a negative voltage ( ⁇ )
  • the center electrode 12 of the right coaxial electrode 10 is applied with a negative voltage ( ⁇ ).
  • the guide electrode 14 is applied to a positive voltage (+).
  • both guide electrodes 14 may be grounded and held at 0 V
  • one center electrode 12 may be applied to a positive voltage (+)
  • the other center electrode 12 may be applied to a negative voltage ( ⁇ ).
  • the planar discharge 2 moves in a direction (direction toward the center in the drawing) discharged from the electrode by the self magnetic field.
  • the pair of opposed center electrodes 12 have a positive voltage (+) and a negative voltage ( ⁇ ), and similarly, the pair of guide electrodes 14 opposed to each other also has a positive voltage (+) and a negative voltage.
  • ( ⁇ ) as shown in FIG. 3D, the planar discharge 2 is switched to the tubular discharge 4 that discharges between the pair of opposed center electrodes 12 and between the pair of opposed guide electrodes 14.
  • the tubular discharge 4 means a hollow cylindrical discharge current surrounding the axis ZZ.
  • a plasma confinement magnetic field (magnetic bin) indicated by reference numeral 5 in the figure is formed, and the plasma 3 can be sealed in the radial direction and the axial direction.
  • the central portion of the magnetic bin 5 is large due to the pressure of the plasma 3 and both sides thereof are small, and a magnetic pressure gradient in the axial direction toward the plasma 3 is formed. Furthermore, the plasma 3 is compressed (Z pinch) in the center direction by the self-magnetic field of the plasma current, and the restraint by the self-magnetic field also acts in the radial direction. In this state, if the energy corresponding to the light emission energy of the plasma 3 is continuously supplied from the voltage application device 30, the plasma light 8 (EUV) can be stably generated for a long time with high energy conversion efficiency.
  • EUV plasma light 8
  • FIG. 4 is a view showing a second embodiment of the plasma light source according to the present invention
  • FIG. 5 is an enlarged view of the coaxial electrode of FIG.
  • the center electrode 12B, guide electrode 14B, insulating member 16B, reservoir 18B and An electric heater 42B is provided.
  • each coaxial electrode 10 includes a rod-shaped center electrode 12B, a tubular guide electrode 14B, and a ring-shaped insulating member 16B.
  • the ring-shaped insulating member 16B is a hollow cylindrical electric insulator positioned between the center electrode 12B and the guide electrode 14B, and electrically insulates between the center electrode 12B and the guide electrode 14B.
  • the ring-shaped insulating member 16B is a porous ceramic.
  • the plasma light source of FIG. 4 further includes a hollow reservoir 18B that opens to the back surface of the insulating member 16B and holds a plasma medium therein.
  • the heating device 40 includes an electric heater 42B that heats the reservoir 18B and a heating power supply device 44 that supplies electric power for heating to the electric heater 42B, and heats and liquefies the plasma medium in the reservoir 18B. It has become.
  • Other configurations in the second embodiment are the same as those in the first embodiment. However, in the second embodiment, the gas supply device 50 and the pressure adjustment device 52 are not omitted.
  • each pair of coaxial electrodes 10 arranged opposite to each other are provided, and each pair of coaxial electrodes 10 has a planar discharge current (surface).
  • a planar discharge 2) is generated, and a single plasma 3 is formed by the planar discharge 2 at the opposite intermediate position of each coaxial electrode 10, and then the planar discharge 2 is converted into a tubular discharge 4 between a pair of coaxial electrodes 10 Since the plasma confinement magnetic field 5 (magnetic bin 5) for confining the plasma 3 is formed, the plasma light for EUV radiation can be stably generated for a long time (on the order of ⁇ sec).
  • a single plasma 3 is formed at an intermediate position where a pair of coaxial electrodes 10 face each other, and the energy conversion efficiency is greatly improved (10 times or more).
  • the thermal load on each electrode during plasma formation is reduced, and the damage caused by the thermal load on the components can be greatly reduced.
  • the plasma 3 which is a light source of plasma light is formed at an intermediate position where the pair of coaxial electrodes 10 face each other, the effective radiation solid angle of the generated plasma light can be increased.
  • the insulating member 16 is a partially porous ceramic in which the insulating dense portion 16a and the porous portion 16b are integrally molded, and the insulating dense portion 16a has a plasma medium therein. Since the porous portion 16b communicates between the inner surface of the reservoir 18, the center electrode 12 and the guide electrode 14 through the inside of the insulating dense portion 16a, the presence of the insulating dense portion 16a Even if a liquid metal that is a plasma medium flows through the porous portion 16b, insulation between the coaxial electrodes can be maintained, and the plasma medium can be continuously supplied between the center electrode 12 and the guide electrode.
  • the insulating member 16 is preferably formed by integrally molding the insulating dense portion 16a and the porous portion 16b in terms of the device structure, the insulating dense portion 16a and the porous portion 16b are joined (bonded, brazed, etc.).
  • a sealing structure may be provided so that the plasma medium does not leak from the gap between the insulating dense portion 16a and the porous portion 16b.
  • a hollow reservoir 18 or 18B that opens on the back surface of the insulating member 16 or 16B and holds the plasma medium therein, and an inert gas in the reservoir 18 or 18B.
  • a gas supply device 50 for supplying the pressure a pressure adjustment device 52 for adjusting the supply pressure of the inert gas, and a temperature-adjustable heating device 40 for heating and liquefying the plasma medium in the reservoir 18 or 18B.
  • the temperature of the device 40 By adjusting the temperature of the device 40, the vapor pressure of the plasma medium on the front surface of the insulating member 16 or 16B can be controlled.
  • the gas supply device 50 and the pressure adjustment device 52 can control the supply amount of the plasma medium (liquid metal) by adjusting the pressure of the inert gas supplied into the reservoir 18 or 18B. Therefore, the plasma medium can be continuously supplied, the plasma medium can be supplied at a sufficient supply speed, and the supply amount of the plasma medium and the vapor pressure can be controlled independently.

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Abstract

　対向配置された１対の同軸状電極１０と放電環境保持装置２０と電圧印加装置３０とを備える。各同軸状電極１０は、中心電極１２と、中心電極の対向する先端部を囲むガイド電極１４と、中心電極とガイド電極の間を絶縁する絶縁部材１６とからなる。絶縁部材１６は、絶縁性緻密部分１６ａと多孔質部分１６ｂとからなる部分多孔体セラミックである。また絶縁性緻密部分１６ａは、プラズマ媒体を内部に保有するリザーバー１８を有し、多孔質部分１６ｂは、絶縁性緻密部分１６ａの内部を通してリザーバー１８の内面と中心電極１２とガイド電極１４の間とを連通する。

Description

プラズマ光源
　本発明は、ＥＵＶ放射のためのプラズマ光源に関する。
　次世代半導体の微細加工のために極端紫外光源を用いるリソグラフィが期待されている。リソグラフィとは回路パターンの描かれたマスクを通して光やビームをシリコン基板上に縮小投影し、レジスト材料を感光させることで電子回路を形成する技術である。光リソグラフィで形成される回路の最小加工寸法は基本的には光源の波長に依存している。従って、次世代の半導体開発には光源の短波長化が必須であり、この光源開発に向けた研究が進められている。
　次世代リソグラフィ光源として最も有力視されているのが、極端紫外（ＥＵＶ：Ｅｘｔｒｅｍｅ　Ｕｌｔｒａ　Ｖｉｏｌｅｔ）光源であり、およそ１～１００ｎｍの波長領域の光を意味する。この領域の光はあらゆる物質に対し吸収率が高く、レンズ等の透過型光学系を利用することができないので、反射型光学系を用いることになる。また極端紫外光領域の光学系は非常に開発が困難で、限られた波長にしか反射特性を示さない。
　現在、１３．５ｎｍに感度を有するＭｏ／Ｓｉ多層膜反射鏡が開発されており、この波長の光と反射鏡を組み合わせたリソグラフィ技術が開発されれば３０ｎｍ以下の加工寸法を実現できると予測されている。さらなる微細加工技術の実現のために、波長１３．５ｎｍのリソグラフィ光源の開発が急務であり、高エネルギー密度プラズマからの輻射光が注目されている。
　光源プラズマ生成はレーザー照射方式による光源プラズマ生成（ＬＰＰ：Ｌａｓｅｒ　Ｐｒｏｄｕｃｅｄ　Ｐｌａｓｍａ）とパルスパワー技術によって駆動されるガス放電方式による光源プラズマ生成（ＤＰＰ：Ｄｉｓｃｈａｒｇｅ　Ｐｒｏｄｕｃｅｄ　Ｐｌａｓｍａ）に大別できる。ＤＰＰは、投入した電力が直接プラズマエネルギーに変換されるので、ＬＰＰに比べて変換効率で優位であるうえに、装置が小型で低コストという利点がある。
　ガス放電方式による高温高密度プラズマからの放射スペクトルは、基本的にはターゲット物質の温度と密度によって決まり、プラズマの原子過程を計算した結果によると、ＥＵＶ放射領域のプラズマにするにはＸｅ，Ｓｎの場合で電子温度、電子密度がそれぞれ数１０ｅＶ、１０１８ｃｍ－３程度，Ｌｉの場合で２０ｅＶ、１０１８ｃｍ－３程度が最適とされている。
　なお、上述したプラズマ光源は、非特許文献１，２および特許文献１に開示されている。
佐藤弘人、他、「リソグラフィ用放電プラズマＥＵＶ光源」、ＯＱＤ－０８－２８ Ｊｅｒｏｅｎ　Ｊｏｎｋｅｒｓ，"Ｈｉｇｈ　ｐｏｗｅｒ　ｅｘｔｒｅｍｅ　ｕｌｔｒａ－ｖｉｏｌｅｔ（ＥＵＶ）　ｌｉｇｈｔ　ｓｏｕｒｃｅｓ　ｆｏｒ　ｆｕｔｕｒｅ　ｌｉｔｈｏｇｒａｐｈｙ"，Ｐｌａｓｍａ　Ｓｏｕｒｃｅｓ　Ｓｃｉｅｎｃｅ　ａｎｄ　Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，　１５（２００６）　Ｓ８－Ｓ１６
特開２００４－２２６２４４号公報、「極端紫外光源および半導体露光装置」
　ＥＵＶリソグラフィ光源には、高い平均出力、微小な光源サイズ、飛散粒子（デブリ）が少ないこと等が要求される。現状では、ＥＵＶ発光量が要求出力に対して極めて低く、高出力化が大きな課題の一つであるが、一方で高出力化のために入力エネルギーを大きくすると熱負荷によるダメージがプラズマ生成装置や光学系の寿命の低下を招いてしまう。従って、高ＥＵＶ出力と低い熱負荷の双方を満たすためには、高いエネルギー変換効率が必要不可欠である。
　プラズマ形成初期には加熱や電離に多くのエネルギーを消費するうえに、ＥＵＶを放射するような高温高密度状態のプラズマは一般的に急速に膨張してしまうため、放射持続時間τが極端に短い。従って、変換効率を改善するためには、プラズマをＥＵＶ放射のために適した高温高密度状態で長時間（μｓｅｃオーダーで）維持することが重要になる。
　ＳｎやＬｉ等の常温固体の媒体はスペクトル変換効率が高い反面、プラズマ生成に溶融、蒸発等の相変化を伴うため、中性粒子等のデブリ（放電に伴う派生物）による装置内汚染の影響が大きくなる。そのため、ターゲット供給、回収システム強化も同様に要求される。
　現在の一般的なＥＵＶプラズマ光源の放射時間は１００ｎｓｅｃ程度であり出力が極端に足りない。産業応用のため高変換効率と高平均出力を両立させる為には１ショットで数μｓｅｃのＥＵＶ放射時間を達成する必要がある。つまり、高い変換効率を持つプラズマ光源を開発するためには、それぞれのターゲットに適した温度密度状態のプラズマを数μｓｅｃ（少なくとも１μｓｅｃ以上）拘束し、安定したＥＵＶ放射を達成する必要がある。
　さらに、従来のキャピラリー放電では、プラズマがキャピラリー内に閉じ込められてしまうため、有効な放射立体角が小さいという欠点もあった。
　そこで、本発明の目的は、ＥＵＶ放射のためのプラズマ光を長時間（μｓｅｃオーダーで）安定して発生させることができ、構成機器の熱負荷によるダメージが小さく、発生したプラズマ光の有効な放射立体角を大きくできるプラズマ光源を提供することにある。
　上述の目的を達成するため、第１の本発明によれば、対向配置された１対の同軸状電極と、該同軸状電極内のプラズマ媒体をプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持する放電環境保持装置と、各同軸状電極に極性を反転させた放電電圧を印加する電圧印加装置と、を備え、１対の同軸状電極間に管状放電を形成してプラズマを軸方向に封じ込めるプラズマ光源であって、
　前記各同軸状電極は、単一の軸線上に延びる棒状の中心電極と、該中心電極の対向する先端部を一定の間隔を隔てて囲むガイド電極と、前記中心電極とガイド電極の間を絶縁する絶縁部材とからなり、
　該絶縁部材は、液化したプラズマ媒体が連続して浸透できない絶縁性緻密部分と、液化したプラズマ媒体が連続して浸透する多孔質部分とからなる部分多孔体セラミックであり、
　前記絶縁性緻密部分は、プラズマ媒体を内部に保有するリザーバーを有し、前記多孔質部分は、絶縁性緻密部分の内部を通して前記リザーバーの内面と中心電極とガイド電極の間とを連通する、ことを特徴とするプラズマ光源が提供される。
　第１の本発明の好ましい実施形態によれば、プラズマ光源は、さらに、前記絶縁部材を加熱しその内部のプラズマ媒体を液化する温度調整可能な加熱装置を備える。
　第１の本発明の好ましい実施形態によれば、プラズマ光源は、前記リザーバー内に不活性ガスを供給するガス供給装置と、前記不活性ガスの供給圧力を調整する圧力調整装置と、を備える。
　上述の目的を達成するため、第２の本発明によれば、対向配置された１対の同軸状電極と、該同軸状電極内のプラズマ媒体をプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持する放電環境保持装置と、各同軸状電極に極性を反転させた放電電圧を印加する電圧印加装置と、を備え、１対の同軸状電極間に管状放電を形成してプラズマを軸方向に封じ込めるプラズマ光源であって、
　前記各同軸状電極は、単一の軸線上に延びる棒状の中心電極と、該中心電極の対向する先端部を一定の間隔を隔てて囲むガイド電極と、前記中心電極とガイド電極の間を絶縁する絶縁部材とからなり、
　該絶縁部材は、中心電極の前記先端部側に位置する前面とその反対側の背面とを有する多孔体セラミックからなり、
　さらに絶縁部材の背面に開口しプラズマ媒体を内部に保有する中空のリザーバーと、
　該リザーバー内に不活性ガスを供給するガス供給装置と、
　前記不活性ガスの供給圧力を調整する圧力調整装置と、
前記リザーバー内のプラズマ媒体を加熱し液化する温度調整可能な加熱装置と、を備えることを特徴とするプラズマ光源が提供される。
　第１または第２の本発明の好ましい実施形態によれば、前記電圧印加装置は、一方の同軸状電極の中心電極にそのガイド電極より高い正の放電電圧を印加する正電圧源と、他方の同軸状電極の中心電極にそのガイド電極より低い負の放電電圧を印加する負電圧源と、前記正電圧源と負電圧源をそれぞれの同軸状電極に同時に印加するトリガスイッチとを有する。
　上記第１および第２の本発明の装置によれば、対向配置された１対の同軸状電極を備え、１対の同軸状電極にそれぞれ面状の放電電流（面状放電）を発生させ、該面状放電により各同軸状電極の対向する中間位置に単一のプラズマを形成し、次いで前記面状放電を１対の同軸状電極間の管状放電に繋ぎ換えて前記プラズマを封じ込める磁場（磁気ビン）を形成するので、ＥＵＶ放射のためのプラズマ光を長時間（μｓｅｃオーダーで）安定して発生させることができる。
　また、従来のキャピラリー放電や真空放電金属プラズマと比較すると、１対の同軸状電極の対向する中間位置に単一のプラズマが形成され、かつエネルギー変換効率を大幅に改善できるので、プラズマ形成中における各電極の熱負荷が小さくなり、構成機器の熱負荷によるダメージを大幅に低減できる。
　また、１対の同軸状電極の対向する中間位置にプラズマ光の発光源であるプラズマが形成されるので、発生したプラズマ光の有効な放射立体角を大きくできる。
 
本発明によるプラズマ光源の第１実施形態を示す図である。 図１の同軸状電極の拡大図である。 本発明の第１実施形態によるプラズマ光源の作動説明図であり、面状放電の発生時を示す。 本発明の第１実施形態によるプラズマ光源の作動説明図であり、面状放電の移動中を示す。 本発明の第１実施形態によるプラズマ光源の作動説明図であり、プラズマの形成時を示す。 本発明の第１実施形態によるプラズマ光源の作動説明図であり、プラズマ閉込め磁場の形成時を示す。 本発明によるプラズマ光源の第２実施形態を示す図である。 図４の同軸状電極の拡大図である。
　以下、本発明の好ましい実施形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、各図において共通する部分には同一の符号を付し、重複した説明を省略する。
　図１は、本発明によるプラズマ光源の第１実施形態を示す図である。
　この図において、本発明の第１実施形態によるプラズマ光源は、１対の同軸状電極１０、放電環境保持装置２０、電圧印加装置３０、及び加熱装置４０を備える。
　１対の同軸状電極１０は、対称面１を中心として対向配置されている。
　各同軸状電極１０は、棒状の中心電極１２、ガイド電極１４及び絶縁部材１６からなる。
　棒状の中心電極１２は、単一の軸線Ｚ－Ｚ上に延びる導電性の電極である。
　この例において、中心電極１２の対称面１に対向する端面は円弧状になっている。なお、この構成は必須ではなく、端面に凹穴を設け、後述する面状放電電流２と管状放電４を安定化させるようにしてもよく、或いは平面でもよい。
　ガイド電極１４は、中心電極１２の対向する先端部を一定の間隔を隔てて囲み、その間にプラズマ媒体を保有するようになっている。ガイド電極１４は、この例では、対称面１側に位置する小径中空円筒部分１４ａと、その反対側に位置し小径中空円筒部分１４ａより大径の大径中空部分１４ｂとからなる。また、ガイド電極１４の対称面１に対向する小径中空円筒部分１４ａの端面は、この例では円弧状であるが平面でもよい。
　プラズマ媒体は、この例ではＳｎ，Ｌｉ等の常温で固体のプラズマ媒体であるのがよい。
　絶縁部材１６は、中心電極１２とガイド電極１４の間に位置する中空円筒形状の電気的絶縁体であり、中心電極１２とガイド電極１４の間を電気的に絶縁する。絶縁部材１６は、中心電極１２の先端部側に位置する前面と、その反対側の背面とを有する多孔体セラミックからなる。
　絶縁部材１６は、この例では、小径中空円筒部分１４ａの内側に嵌合する小径部分と、大径中空部分１４ｂの内側に嵌合する大径部分とからなる。大径部分は、ボルト１７（図２参照）により、ガイド電極１４に一体的に連結されている。
　上述した１対の同軸状電極１０は、各中心電極１２が同一の軸線Ｚ－Ｚ上に位置し、かつ互いに一定の間隔を隔てて対称に位置する。
　放電環境保持装置２０は、同軸状電極１０内のプラズマ媒体をプラズマ発生に適した温度及び圧力に同軸状電極１０を保持する。
　放電環境保持装置２０は、例えば、真空チャンバー、温度調節器、真空装置、及びプラズマ媒体供給装置により構成することができる。なおこの構成は必須ではなく、その他の構成であってもよい。
　電圧印加装置３０は、各同軸状電極１０に極性を反転させた放電電圧を印加する。
　電圧印加装置３０は、この例では、正電圧源３２、負電圧源３４及びトリガスイッチ３６からなる。
　正電圧源３２は、一方（この例では左側）の同軸状電極１０の中心電極１２にそのガイド電極１４より高い正の放電電圧を印加する。
　負電圧源３４は、他方（この例では右側）の同軸状電極１０の中心電極１２にそのガイド電極１４より低い負の放電電圧を印加する。
　トリガスイッチ３６は、正電圧源３２と負電圧源３４を同時に作動させて、それぞれの同軸状電極１０に同時に正負の放電電圧を印加する。
　この構成により、本発明の第１実施形態によるプラズマ光源は、１対の同軸状電極１０間に管状放電（後述する）を形成してプラズマを軸方向に封じ込めるようになっている。
　加熱装置４０は、絶縁部材１６を加熱する電気ヒータ４２と、電気ヒータ４２に加熱用の電力を供給する加熱電源装置４４とからなり、絶縁部材１６を加熱しその内部のプラズマ媒体を液化するようになっている。特に、加熱装置４０は、絶縁部材１６を加熱し後述するリザーバー１８内のプラズマ媒体を加熱し液化するようになっている。
　この例において、電気ヒータ４２は、絶縁部材１６の大径部分の外周に設けられた溝内に配置され、ガイド電極１４の大径中空部分１４ｂを貫通する電源ラインを介して加熱電源装置４４から電力が供給される。また、図示しない温度センサを備え、絶縁部材１６を所定の温度に加熱し温度保持するようになっている。
　図２は、図１の同軸状電極の拡大図である。
　この図において、絶縁部材１６は、液化したプラズマ媒体が連続して浸透できない絶縁性緻密部分１６ａと、液化したプラズマ媒体が連続して浸透する多孔質部分１６ｂとを一体成型した部分多孔体セラミックである。
　絶縁性緻密部分１６ａは、中心電極１２とガイド電極１４の間を絶縁している。
　また、この例において、多孔質部分１６ｂは、絶縁性緻密部分１６ａの内部を通して絶縁部材１６の背面から前面まで連続している。
　絶縁性緻密部分１６ａと多孔質部分１６ｂを構成するセラミックは、アルミナ（Ａｌ２Ｏ３）、窒化アルミ（ＡｌＮ）、ジルコニア（ＺｒＯ）、シリコンカーバイド（ＳｉＣ）、等の絶縁性セラミックであるのが好ましい。
　また絶縁性緻密部分１６ａの粒径及び焼成温度は、液化したプラズマ媒体が連続して浸透できないように設定する。さらに多孔質部分１６ｂの粒径及び焼成温度は、液化したプラズマ媒体が連続して浸透するように設定する。
　また、絶縁性緻密部分１６ａは、プラズマ媒体を内部に保有するリザーバー１８を有する。この例において、リザーバー１８は、絶縁性緻密部分１６ａの内部に設けられ、軸線Ｚ－Ｚを中心とする中空円筒形の空洞である。
　なおこの例では、リザーバー１８は、絶縁部材１６の背面に開口し、リザーバー１８の背面（図で左側）は、閉鎖板１５で閉じられる。この閉鎖板１５は、中心電極１２の背面側に設けられたネジ軸１２ａと螺合するナット１３により、着脱可能に固定されている。閉鎖板１５は液化したプラズマ媒体の温度に耐える耐熱金属板又は耐熱セラミックであるのがよい。
　この構成により、閉鎖板１５の着脱により、リザーバー１８にプラズマ媒体を適宜補給することができる。また、リザーバー１８内部のプラズマ媒体は、この例ではＳｎ，Ｌｉ等であり、加熱装置４０により液化されるようになっている。
　図１のプラズマ光源は、さらに、ガス供給装置５０及び圧力調整装置５２を備える。
　ガス供給装置５０は、リザーバー１８内に不活性ガスを供給する。不活性ガスは、アルゴン、キセノン等の希ガスであるのが好ましい。
　圧力調整装置５２は、ガス供給装置５０のガス供給ラインの途中に設けられ、不活性ガスの供給圧力を調整する。
　なお、第１実施形態において、ガス供給装置５０及び圧力調整装置５２を省略してもよい。
　上述したプラズマ光源を用い、絶縁部材１６をプラズマ媒体６（Ｓｎ，Ｌｉ等）の蒸気圧がプラズマ発生に適した圧力（Ｔｏｒｒオーダー）となる温度に加熱維持し、同軸状電極１０内（中心電極１２とガイド電極１４の間）をＴｏｒｒオーダーのプラズマ媒体６の蒸気雰囲気にする。
　また、電極導体（中心電極１２とガイド電極１４）をプラズマ媒体６の蒸気が凝集しない高温に維持する。
　同軸状電極１０内（中心電極１２とガイド電極１４の間）に、絶縁部材１６の多孔質部分１６ｂ表面（端面）からプラズマ媒体６を液体金属状態で浸み出させることができる。
　代わりに、同軸状電極１０内（中心電極１２とガイド電極１４の間）に、絶縁部材１６の多孔質部分１６ｂ表面（端面）からプラズマ媒体６を金属蒸気ガスとして供給してもよい。この場合、加熱装置４０は、リザーバー１８内のプラズマ媒体６を液化し、さらに、液化した当該プラズマ媒体６を気化させて金属蒸気ガスにする。なお、同軸状電極１０内に、多孔質部分１６ｂ表面（端面）からプラズマ媒体６を金属蒸気ガスとして供給するために、絶縁性緻密部分１６ｂは、気体を通さないように形成されるのがよい。
　なお、絶縁性緻密部分１６ａと多孔質部分１６ｂの形状はこの例に限定されず、中心電極１２とガイド電極１４の間を電気的に絶縁する限りで、その他の形状であってもよい。
　図３Ａ～図３Ｄは、図１のプラズマ光源の作動説明図である。図３Ａは面状放電の発生時、図３Ｂは面状放電の移動中、図３Ｃはプラズマの形成時、図３Ｄはプラズマ閉込め磁場の形成時を示している。
　以下、これらの図を参照して、本発明の第１実施形態の装置によるプラズマ光発生方法を説明する。
　本発明の第１実施形態によるプラズマ光源は、上述した１対の同軸状電極１０を対向配置し、放電環境保持装置２０により同軸状電極１０内にプラズマ媒体を供給しかつプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持し、電圧印加装置３０により各同軸状電極１０に極性を反転させた放電電圧を印加する。
　図３Ａに示すように、この電圧印加により、１対の同軸状電極１０に絶縁部材１６の表面でそれぞれ面状の放電電流（以下、面状放電２と呼ぶ）が発生する。面状放電２は、２次元的に広がる面状の放電電流であり、以下「電流シート」とも呼ぶ。
　なおこの際、左側の同軸状電極１０の中心電極１２は正電圧（＋）、ガイド電極１４は負電圧（－）に印加され、右側の同軸状電極１０の中心電極１２は負電圧（－）、そのガイド電極１４は正電圧（＋）に印加されている。
　なお、両方のガイド電極１４を接地させて０Ｖに保持し、一方の中心電極１２を正電圧（＋）に印加し、他方の中心電極１２を負電圧（－）に印加してもよい。
　図３Ｂに示すように、面状放電２は、自己磁場によって電極から排出される方向（図で中心に向かう方向）に移動する。
　図３Ｃに示すように、面状放電２が１対の同軸状電極１０の先端に達すると、１対の面状放電２の間に挟まれたプラズマ媒体６が高密度、高温となり、各同軸状電極１０の対向する中間位置（中心電極１２の対称面１）に単一のプラズマ３が形成される。
　さらに、この状態において、対向する１対の中心電極１２は、正電圧（＋）と負電圧（－）であり、同様に対向する１対のガイド電極１４も、正電圧（＋）と負電圧（－）であるので、図３Ｄに示すように、面状放電２は対向する１対の中心電極１２同士、及び対向する１対のガイド電極１４の間で放電する管状放電４に繋ぎ換えられる。ここで、管状放電４とは、軸線Ｚ－Ｚを囲む中空円筒状の放電電流を意味する。
　この管状放電４が形成されると、図に符号５で示すプラズマ閉込め磁場（磁気ビン）が形成され、プラズマ３を半径方向及び軸方向に封じ込むことができる。
　すなわち、磁気ビン５はプラズマ３の圧力により中央部は大きくその両側が小さくなり、プラズマ３に向かう軸方向の磁気圧勾配が形成され、この磁気圧勾配によりプラズマ３は中間位置に拘束される。さらにプラズマ電流の自己磁場によって中心方向にプラズマ３は圧縮（Ｚピンチ）され、半径方向にも自己磁場による拘束が働く。
　この状態において、プラズマ３の発光エネルギーに相当するエネルギーを電圧印加装置３０から供給し続ければ、高いエネルギー変換効率で、プラズマ光８（ＥＵＶ）を長時間安定して発生させることができる。
　図４は、本発明によるプラズマ光源の第２実施形態を示す図であり、図５は、図４の同軸状電極の拡大図である。
　第２実施形態では、第１実施形態の中心電極１２、ガイド電極１４、絶縁部材１６、リザーバー１８及び電気ヒータ４２の代わりに、それぞれ、中心電極１２Ｂ、ガイド電極１４Ｂ、絶縁部材１６Ｂ、リザーバー１８Ｂ及び電気ヒータ４２Ｂが設けられる。
　図４、図５において、各同軸状電極１０は、棒状の中心電極１２Ｂ、管状のガイド電極１４Ｂ及びリング状の絶縁部材１６Ｂからなる。
　リング状の絶縁部材１６Ｂは、中心電極１２Ｂとガイド電極１４Ｂの間に位置する中空円筒形状の電気的絶縁体であり、中心電極１２Ｂとガイド電極１４Ｂの間を電気的に絶縁する。この例において、リング状の絶縁部材１６Ｂは、多孔質セラミックである。
　また、図４のプラズマ光源は、さらに絶縁部材１６Ｂの背面に開口し、プラズマ媒体を内部に保有する中空のリザーバー１８Ｂを備える。
　さらに加熱装置４０は、この例ではリザーバー１８Ｂを加熱する電気ヒータ４２Ｂと、電気ヒータ４２Ｂに加熱用の電力を供給する加熱電源装置４４とからなり、リザーバー１８Ｂ内のプラズマ媒体を加熱し液化するようになっている。
　第２実施形態におけるその他の構成は、第１実施形態と同じである。ただし、第２実施形態では、ガス供給装置５０及び圧力調整装置５２を省略しない。
　上述した本発明の第１実施形態または第２実施形態の装置によれば、対向配置された１対の同軸状電極１０を備え、１対の同軸状電極１０にそれぞれ面状の放電電流（面状放電２）を発生させ、面状放電２により各同軸状電極１０の対向する中間位置に単一のプラズマ３を形成し、次いで面状放電２を１対の同軸状電極間の管状放電４に繋ぎ換えてプラズマ３を封じ込めるプラズマ閉込め磁場５（磁気ビン５）を形成するので、ＥＵＶ放射のためのプラズマ光を長時間（μｓｅｃオーダーで）安定して発生させることができる。
　また、従来のキャピラリー放電や真空放電金属プラズマと比較すると、１対の同軸状電極１０の対向する中間位置に単一のプラズマ３が形成され、かつエネルギー変換効率を大幅（１０倍以上）に改善できるので、プラズマ形成中における各電極の熱負荷が小さくなり、構成機器の熱負荷によるダメージを大幅に低減できる。
　また、１対の同軸状電極１０の対向する中間位置にプラズマ光の発光源であるプラズマ３が形成されるので、発生したプラズマ光の有効な放射立体角を大きくできる。
　さらに、本発明の第１実施形態では、絶縁部材１６が絶縁性緻密部分１６ａと多孔質部分１６ｂとを一体成型した部分多孔体セラミックであり、絶縁性緻密部分１６ａに、プラズマ媒体を内部に保有するリザーバー１８を有し、多孔質部分１６ｂは、絶縁性緻密部分１６ａの内部を通してリザーバー１８の内面と中心電極１２とガイド電極１４の間とを連通するので、絶縁性緻密部分１６ａの存在により、多孔質部分１６ｂを通してプラズマ媒質である液体金属を流しても、同軸電極間の絶縁が維持でき、プラズマ媒体を連続して中心電極１２とガイド電極１４の間に供給することができる。
　なお、装置構造上、絶縁部材１６は絶縁性緻密部分１６ａと多孔質部分１６ｂが一体成型されたものが望ましいが、絶縁性緻密部分１６ａと多孔質部分１６ｂを接合（接着、ロー付け等）したもの、あるいは絶縁性緻密部分１６ａと多孔質部分１６ｂの隙間からプラズマ媒質が漏れないようにシール構造を設けたものであってもよい。
　さらに、本発明の第１実施形態または第２実施形態では、絶縁部材１６または１６Ｂの背面に開口しプラズマ媒体を内部に保有する中空のリザーバー１８または１８Ｂと、リザーバー１８または１８Ｂ内に不活性ガスを供給するガス供給装置５０と、不活性ガスの供給圧力を調整する圧力調整装置５２と、リザーバー１８または１８Ｂ内のプラズマ媒体を加熱し液化する温度調整可能な加熱装置４０とを備えるので、加熱装置４０の温度調整により絶縁部材１６または１６Ｂの前面におけるプラズマ媒体の蒸気圧力を制御できる。また同時に、ガス供給装置５０と圧力調整装置５２により、リザーバー１８または１８Ｂ内に供給する不活性ガスの圧力を調整してプラズマ媒質（液体金属）の供給量を制御することができる。
　従って、プラズマ媒体を連続して供給することができ、かつ十分な供給速度でプラズマ媒体を供給でき、かつプラズマ媒体の供給量と蒸気圧を独立に制御することができる。
　なお、本発明は上述した実施形態に限定されず、特許請求の範囲の記載によって示され、さらに特許請求の範囲の記載と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含むものである。
１　対称面、２　面状放電（電流シート）、３　プラズマ、
４　管状放電、５　プラズマ閉込め磁場、６　プラズマ媒体、
８　プラズマ光（ＥＵＶ）、１０　同軸状電極、
１２、１２Ｂ　中心電極、１２ａ　ネジ軸、１３　ナット、
１４、１４Ｂ　ガイド電極、１５　閉鎖板、
１６、１６Ｂ　絶縁部材（部分多孔体セラミック）、
１６ａ　絶縁性緻密部分、１６ｂ　多孔質部分、
１８、１８Ｂ　リザーバー、２０　放電環境保持装置、
３０　電圧印加装置、３２　正電圧源、
３４　負電圧源、３６　トリガスイッチ、
４０　加熱装置、４２、４２Ｂ　電気ヒータ、
４４　加熱電源装置
 
 

Claims (5)

  1. 　対向配置された１対の同軸状電極と、該同軸状電極内のプラズマ媒体をプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持する放電環境保持装置と、各同軸状電極に極性を反転させた放電電圧を印加する電圧印加装置と、を備え、１対の同軸状電極間に管状放電を形成してプラズマを軸方向に封じ込めるプラズマ光源であって、
    　前記各同軸状電極は、単一の軸線上に延びる棒状の中心電極と、該中心電極の対向する先端部を一定の間隔を隔てて囲むガイド電極と、前記中心電極とガイド電極の間を絶縁する絶縁部材とからなり、
    　該絶縁部材は、液化したプラズマ媒体が連続して浸透できない絶縁性緻密部分と、液化したプラズマ媒体が連続して浸透する多孔質部分とからなる部分多孔体セラミックであり、
    　前記絶縁性緻密部分は、プラズマ媒体を内部に保有するリザーバーを有し、前記多孔質部分は、絶縁性緻密部分の内部を通して前記リザーバーの内面と中心電極とガイド電極の間とを連通する、ことを特徴とするプラズマ光源。
  2. 　さらに、前記絶縁部材を加熱しその内部のプラズマ媒体を液化する温度調整可能な加熱装置を備える、ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマ光源。
  3. 　前記リザーバー内に不活性ガスを供給するガス供給装置と、
    　前記不活性ガスの供給圧力を調整する圧力調整装置と、を備えることを特徴とする請求項１または２に記載のプラズマ光源。
  4. 　対向配置された１対の同軸状電極と、該同軸状電極内のプラズマ媒体をプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持する放電環境保持装置と、各同軸状電極に極性を反転させた放電電圧を印加する電圧印加装置と、を備え、１対の同軸状電極間に管状放電を形成してプラズマを軸方向に封じ込めるプラズマ光源であって、
    　前記各同軸状電極は、単一の軸線上に延びる棒状の中心電極と、該中心電極の対向する先端部を一定の間隔を隔てて囲むガイド電極と、前記中心電極とガイド電極の間を絶縁する絶縁部材とからなり、
    　該絶縁部材は、中心電極の前記先端部側に位置する前面とその反対側の背面とを有する多孔体セラミックからなり、
    　さらに絶縁部材の背面に開口しプラズマ媒体を内部に保有する中空のリザーバーと、
    　該リザーバー内に不活性ガスを供給するガス供給装置と、
    　前記不活性ガスの供給圧力を調整する圧力調整装置と、
    　前記リザーバー内のプラズマ媒体を加熱し液化する温度調整可能な加熱装置と、を備えることを特徴とするプラズマ光源。
  5. 　前記電圧印加装置は、一方の同軸状電極の中心電極にそのガイド電極より高い正の放電電圧を印加する正電圧源と、他方の同軸状電極の中心電極にそのガイド電極より低い負の放電電圧を印加する負電圧源と、前記正電圧源と負電圧源をそれぞれの同軸状電極に同時に印加するトリガスイッチとを有する、ことを特徴とする請求項１または４に記載のプラズマ光源。
     
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