JP5510722B2 - プラズマ光源とプラズマ光発生方法 - Google Patents

プラズマ光源とプラズマ光発生方法 Download PDF

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Description

本発明は、EUV放射のためのプラズマ光源とプラズマ光発生方法に関する。
次世代半導体の微細加工のために極端紫外光源を用いるリソグラフィが期待されている。リソグラフィとは回路パターンの描かれたマスクを通して光やビームをシリコン基盤上に縮小投影し、レジスト材料を感光させることで電子回路を形成する技術である。光リソグラフィで形成される回路の最小加工寸法は基本的には光源の波長に依存している。従って、次世代の半導体開発には光源の短波長化が必須であり、この光源開発に向けた研究が進められている。
次世代リソグラフィ光源として最も有力視されているのが、極端紫外光源(EUV:Extreme Ultra Violet)であり、およそ1〜100nmの波長領域の光を意味する。この領域の光はあらゆる物質に対し吸収率が高く、レンズ等の透過型光学系を利用することができないので、反射型光学系を用いることになる。また極端紫外光領域の光学系は非常に開発が困難で、限られた波長にしか反射特性を示さない。
現在、13.5nmに感度を有するMo/Si多層膜反射鏡が開発されており、この波長の光と反射鏡を組み合わせたリソグラフィ技術が開発されれば30nm以下の加工寸法を実現できると予測されている。さらなる微細加工技術の実現のために、波長13.5nmのリソグラフィ光源の開発が急務であり、高エネルギー密度プラズマからの輻射光が注目されている。
光源プラズマ生成はレーザー照射方式(LPP:Laser Produced Plasma)とパルスパワー技術によって駆動されるガス放電方式(DPP:Discharge Produced Plasma)に大別できる。DPPは、投入した電力が直接プラズマエネルギーに変換されるので、LPPに比べて変換効率で優位であるうえに、装置が小型で低コストという利点がある。
プラズマから有効波長領域(in−band)の放射光への変換効率(Plasma Conversion E.ciency:P.C.E)は次式(1)のように表される。
P.C.E=(Pinband×τ)/E・・・(1)
ここで、Pinbandは有効波長領域のEUV放射光出力、τは放射持続時間、Eはプラズマに投入されたエネルギーである。
有効波長領域に放射スペクトルを持つ元素としては、Xe,Sn,Li等が代表的であり、実験の容易さ、取り扱いやすさから開発初期はXeを中心に研究が進められてきた。しかし、近年では高出力、高効率を理由にSnが注目を浴び研究が進められている。また、有効波長領域にちょうどLyman−α共鳴線を有する水素様Liイオン(Li2+)に対する期待も高まってきている。
高温高密度プラズマからの放射スペクトルは、基本的にはターゲット物質の温度と密度によって決まり、プラズマの原子過程を計算した結果によると、EUV放射領域のプラズマにするにはXe,Snの場合で電子温度、電子密度がそれぞれ数10eV、1018cm−3程度,Liの場合で20eV、1018cm−3程度が最適とされている。
なお、上述したプラズマ光源は、非特許文献1,2および特許文献1,2に開示されている。
佐藤弘人、他、「リソグラフィ用放電プラズマEUV光源」、OQD−08−28 Jeroen Jonkers,"High power extreme ultra−violet(EUV) light sources for future lithography",Plasma Sources Science and Technology, 15(2006) S8−S16
特表2000−509190号公報、「X線放射線または極紫外線放射線を発生するための方法および装置」 特開2004−226244号公報、「極端紫外光源および半導体露光装置」
EUVリソグラフィ光源には、高い平均出力、微小な光源サイズ、飛散粒子(デブリ)が少ないこと等が要求される。現状では、EUV発光量が要求出力に対して極めて低く、高出力化が大きな課題の一つであるが、一方で高出力化のために入力エネルギーを大きくすると熱負荷によるダメージがプラズマ生成装置や光学系の寿命の低下を招いてしまう。従って、高EUV出力と低い熱負荷の双方を満たすためには、高いエネルギー変換効率が必要不可欠である。
プラズマ形成初期には加熱や電離に多くのエネルギーを消費するうえに、EUVを放射するような高温高密度状態のプラズマは一般的に急速に膨張してしまうため、放射持続時間τが極端に短い。従って、変換効率を改善するためには、プラズマをEUV放射のために適した高温高密度状態で長時間(μsecオーダーで)維持することが重要になる。
SnやLi等の常温固体の媒体はスペクトル変換効率が高い反面、プラズマ生成に溶融、蒸発等の相変化を伴うため、中性粒子等のデブリ(放電に伴う派生物)による装置内汚染の影響が大きくなる。そのため、ターゲット供給、回収システム強化も同様に要求される。
現在の一般的なEUVプラズマ光源の放射時間は100nsec程度であり出力が極端に足りない。産業応用のため高変換効率と高平均出力を両立させる為には1ショットで数μsecのEUV放射時間を達成する必要がある。つまり、高い変換効率を持つプラズマ光源を開発するためには、それぞれのターゲットに適した温度密度状態のプラズマを数μsec(少なくとも1μsec以上)拘束し、安定したEUV放射を達成する必要がある。
また、発生したプラズマ光の放射立体角が大きい場合に、プラズマ光(EUV光)の利用効率が低いという問題点もあった。
本発明は、これらの問題点を解決するために創案されたものである。すなわち、本発明の目的は、EUV放射のためのプラズマ光を長時間(μsecオーダーで)安定して発生させることができ、有効波長領域(13.5nm近傍)のEUV光を発する励起準位の輻射冷却時間を短縮して、入力パワーをより短時間でEUV光として放射させることができ、かつEUV光の利用効率を高めることができるプラズマ光源とプラズマ光発生方法を提供することにある。
本発明によれば、対向配置された1対の同軸状電極と、該同軸状電極内にプラズマ媒体を供給しかつプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持する放電環境保持装置と、各同軸状電極に極性を反転させた放電電圧を印加する電圧印加装置と、を備え、
前記1対の同軸状電極間に管状放電を形成してプラズマを軸方向に封じ込め、該プラズマの発光エネルギーに相当するエネルギーを前記電圧印加装置から供給し、同軸状電極間にプラズマ光を発生させるプラズマ光源において、
前記同軸状電極間に形成されるプラズマ光の一部を該プラズマ光の発生位置に反射してプラズマ光を誘導放出させる増幅ミラーを備え
前記各同軸状電極は、矩形断面を有し単一の軸線上に延びる棒状の矩形中心電極と、該矩形中心電極を所定の間隔を隔てて囲む矩形管状の矩形ガイド電極と、矩形中心電極と矩形ガイド電極の間に位置しその間を絶縁する矩形リング状の矩形絶縁体とからなり、
前記矩形中心電極の矩形断面は、厚さhに対する幅bの比率(b/h)が2〜20であり、
1対の同軸状電極の各矩形中心電極は、同一の軸線上に位置し、かつ互いに一定の間隔を隔てて対称に位置しており、
前記増幅ミラーは、前記同軸状電極間に形成される細長いプラズマの外側に位置し、その軸線に対して直交する平面ミラー又は凹面ミラーである、ことを特徴とするプラズマ光源が提供される。
本発明の実施形態によれば、前記同軸状電極間に形成された前記プラズマ光を反射して所定の集光点に集光する集光ミラーを有する。
また、本発明の実施形態によれば、前記増幅ミラーは、前記同軸状電極間に形成されるプラズマ光を中心とする球面ミラーである。
前記増幅ミラーは、さらに、前記細長いプラズマの軸線を中心とする円弧ミラーを有する。
また本発明によれば、対向配置された1対の同軸状電極と、該同軸状電極内にプラズマ媒体を供給しかつプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持する放電環境保持装置と、各同軸状電極に極性を反転させた放電電圧を印加する電圧印加装置と、を備え、
各同軸状電極が、矩形断面を有し単一の軸線上に延びる棒状の矩形中心電極と、該矩形中心電極を所定の間隔を隔てて囲む矩形管状の矩形ガイド電極と、矩形中心電極と矩形ガイド電極の間に位置しその間を絶縁する矩形リング状の矩形絶縁体とからなり、
前記矩形中心電極の矩形断面は、厚さhに対する幅bの比率(b/h)が2〜20であり、
1対の同軸状電極の各矩形中心電極は、同一の軸線上に位置し、かつ互いに一定の間隔を隔てて対称に位置しており、
増幅ミラーが、前記同軸状電極間に形成される細長いプラズマの外側に位置し、その軸線に対して直交する平面ミラー又は凹面ミラーであり、
(A) 前記1対の同軸状電極内にプラズマ媒体を供給しかつプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持し、
(B) 各同軸状電極に極性を反転させた放電電圧を印加して、1対の同軸状電極にそれぞれ面状放電を発生させ、該面状放電により各同軸状電極の対向する中間位置に単一のプラズマを形成し、
(C) 次いで前記面状放電を1対の同軸状電極間の管状放電に繋ぎ換えて前記プラズマを軸方向に封じ込め、
(D) プラズマの発光エネルギーに相当するエネルギーを各同軸状電極から供給して同軸状電極間にプラズマ光を発生させ、
(E) 前記プラズマ光の一部を該プラズマ光の発生位置に反射してプラズマ光を誘導放出させる、ことを特徴とするプラズマ光発生方法が提供される。
上記本発明の装置と方法によれば、対向配置された1対の同軸状電極を備え、1対の同軸状電極にそれぞれ面状の放電電流(面状放電)を発生させ、該面状放電により各同軸状電極の対向する中間位置に単一のプラズマを形成し、次いで前記面状放電を1対の同軸状電極間の管状放電に繋ぎ換えて前記プラズマを封じ込める磁場(磁気ビン)を形成するので、EUV放射のためのプラズマ光を長時間(μsecオーダーで)安定して発生させることができる。
また、同軸状電極間に形成されるプラズマ光の一部をプラズマ光の発生位置に反射してプラズマ光を誘導放出させる増幅ミラーを備えるので、反射、再集束されたプラズマ光により誘導放出が増大し、これにより励起準位の輻射冷却時間が短縮されるので、入力パワーをより短時間でEUV光として放射させることが可能となる。
特に、各同軸状電極が矩形中心電極、矩形ガイド電極、及び矩形絶縁体からなり、増幅ミラーが、同軸状電極間に形成される細長いプラズマ光の外側に位置し、その軸線に対して直交する平面ミラー又は凹面ミラーである構成により、発光プラズマの軸方向サイズが拡大されるので、背面放射光の反射、再通過により誘導放出が増大し、これにより励起準位の輻射冷却時間が短縮され、入力パワーをより短時間でEUV光として放射させる事が可能となる。
また、反射光の存在により、反射、再照射光と同方向への放射割合が増加するので、プラズマから放出されるプラズマ光が完全な等方性から非対称性を持つようになり、EUV光の利用効率も改善される。
本発明によるプラズマ光源の原理図である。 図1のプラズマ光源の作動説明図である。 EUV放射領域における加熱エネルギーと放射エネルギーの比較図である。 本発明によるプラズマ光源の第1実施形態図である。 本発明によるプラズマ光源の第2実施形態図である。
以下、本発明の好ましい実施形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、各図において共通する部分には同一の符号を付し、重複した説明を省略する。
図1は、本発明によるプラズマ光源の原理図である。
この図において、本発明のプラズマ光源10は、1対の同軸状電極11、放電環境保持装置20、及び電圧印加装置30を備える。
1対の同軸状電極11は、対称面1を中心として対向配置されている。
各同軸状電極11は、棒状の中心電極12、管状のガイド電極14及びリング状の絶縁体16からなる。
棒状の中心電極12は、単一の軸線Z−Z上に延びる導電性の電極である。
この例において、中心電極12の対称面1に対向する端面に凹穴12aが設けられ、後述する面状放電電流2と管状放電4を安定化させるようになっている。なお、この構成は必須ではなく、中心電極12の対称面1に対向する端面は、円弧状でも平面でもよい。
管状のガイド電極14は、中心電極12を一定の間隔を隔てて囲み、その間にプラズマ媒体を保有するようになっている。プラズマ媒体は、Xe,Sn,Li等のガスであることが好ましい。また、ガイド電極14の対称面1に対向する端面は、円弧状でも平面でもよい。
リング状の絶縁体16は、中心電極12とガイド電極14の間に位置する中空円筒形状の電気的絶縁体であり、中心電極12とガイド電極14の間を電気的に絶縁する。
なお、絶縁体16の形状はこの例に限定されず、中心電極12とガイド電極14の間を電気的に絶縁する限りで、その他の形状であってもよい。
上述した1対の同軸状電極11は、各中心電極12が同一の軸線Z−Z上に位置し、かつ互いに一定の間隔を隔てて対称に位置する。
放電環境保持装置20は、同軸状電極11内にプラズマ媒体を供給し、かつプラズマ発生に適した温度及び圧力に同軸状電極11を保持する。
放電環境保持装置20は、例えば、真空チャンバー、温度調節器、真空装置、及びプラズマ媒体供給装置により構成することができる。なおこの構成は必須ではなく、その他の構成であってもよい。
電圧印加装置30は、各同軸状電極11に極性を反転させた放電電圧を印加する。
電圧印加装置30は、この例では、正電圧源32、負電圧源34及びトリガスイッチ36からなる。
正電圧源32は、一方(この例では左側)の同軸状電極11の中心電極12にそのガイド電極14より高い正の放電電圧を印加する。
負電圧源34は、他方(この例では右側)の同軸状電極11の中心電極12にそのガイド電極14より低い負の放電電圧を印加する。
トリガスイッチ36は、正電圧源32と負電圧源34を同時に作動させて、それぞれの同軸状電極12に同時に正負の放電電圧を印加する。
この構成により、本発明のプラズマ光源は、1対の同軸状電極11間に管状放電(後述する)を形成してプラズマを軸方向に封じ込めるようになっている。
図2は、図1のプラズマ光源の作動説明図である。この図において、(A)は面状放電の発生時、(B)は面状放電の移動中、(C)はプラズマの形成時、(D)はプラズマ封込み磁場の形成時を示している。
以下、この図を参照して、本発明のプラズマ光発生方法を説明する。
本発明のプラズマ光発生方法では、上述した1対の同軸状電極11を対向配置し、放電環境保持装置20により同軸状電極11内にプラズマ媒体を供給しかつプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持し、電圧印加装置30により各同軸状電極11に極性を反転させた放電電圧を印加する。
図2(A)に示すように、この電圧印加により、1対の同軸状電極11に絶縁体16の表面でそれぞれ面状の放電電流(以下、面状放電2と呼ぶ)が発生する。面状放電2は、2次元的に広がる面状の放電電流であり、後述する実施例では「電流シート」と呼ぶ。
なおこの際、左側の同軸状電極11の中心電極12は正電圧(+)、ガイド電極14は負電圧(−)に印加され、右側の同軸状電極11の中心電極12は負電圧(−)、そのガイド電極14は正電圧(+)に印加されている。
なお、両方のガイド電極14を接地させて0Vに保持し、一方の中心電極12を正電圧(+)に印加し、他方の中心電極12を負電圧(−)に印加してもよい。
図2(B)に示すように、面状放電2は、自己磁場によって電極から排出される方向(図で中心に向かう方向)に移動する。
図2(C)に示すように、面状放電2が1対の同軸状電極11の先端に達すると、1対の面状放電2の間に挟まれたプラズマ媒体6が高密度、高温となり、各同軸状電極11の対向する中間位置(中心電極12の対称面1)に単一のプラズマ3が形成される。
さらに、この状態において、対向する1対の中心電極12は、正電圧(+)と負電圧(−)であり、同様に対向する1対のガイド電極14も、正電圧(+)と負電圧(−)であるので、図2(D)に示すように、面状放電2は対向する1対の中心電極12同士、及び対向する1対のガイド電極14の間で放電する管状放電4に繋ぎ換えられる。ここで、管状放電4とは、軸線Z−Zを囲む中空円筒状の放電電流を意味する。
この管状放電4が形成されると、図に符号5で示すプラズマ封込み磁場(磁気ビン)が形成され、プラズマ3を半径方向及び軸方向に封じ込むことができる。
すなわち、磁気ビン5はプラズマ3の圧力により中央部は大きくその両側が小さくなり、プラズマ3に向かう軸方向の磁気圧勾配が形成され、この磁気圧勾配によりプラズマ3は中間位置に拘束される。さらにプラズマ電流の自己磁場によって中心方向にプラズマ3は圧縮(Zピンチ)され、半径方向にも自己磁場による拘束が働く。
この状態において、プラズマ3の発光エネルギーに相当するエネルギーを電圧印加装置30から供給し続ければ、高いエネルギー変換効率で、プラズマ光8(EUV)を長時間安定して発生させることができる。
図3は、EUV放射領域における加熱エネルギーと放射エネルギーの比較図である。
図3(A)(B)において、横軸はプラズマ電子温度(eV)、縦軸はプラズマ密度(/cm)である。この図に示すプラズマ電子温度が5〜30(eV)、プラズマ密度が1017〜1020(/cm)の範囲でEUV放射が可能であるといえる。
図3(A)は、半径0.4mm、長さ4mmの円筒プラズマを仮定して、前記EUV放射領域において、プラズマ圧力と磁気圧力の平衡に必要なアーク電流によるプラズマのジュール加熱量を試算した結果である。図中の各曲線は加熱量の同一線であり、図中の数値は、加熱量(W)の対数表示である。すなわち、例えば図中の7.0は、10Wを意味している。
図3(B)は、図1(A)と同一条件において、前記EUV放射領域において、プラズマからの放射エネルギーを試算した結果である。図中の各曲線は加熱量の同一線であり、図中の数値は、加熱量(W)の対数表示である。すなわち、例えば図中の5.081は、105.081Wを意味している。
図3(A)(B)の比較から、EUV放射領域の同一点において、必要な加熱エネルギーが放射エネルギーより大幅に上回っており、高出力化が困難であることがわかる。
すなわち、図3(A)(B)のあるEUV放射領域において、例えば入熱が10W、出熱が10Wであるとすると、入熱と出熱がバランスしないことから、プラズマが加熱されて図中で右方に移動していまい、所望のEUV放射領域でのEUV発光が得られないことになる。
図4は、本発明によるプラズマ光源の第1実施形態図である。
この図において、本発明のプラズマ光源10は、上述した1対の同軸状電極11、放電環境保持装置20及び電圧印加装置30(図示せず、図1参照)を備える。なお、図4は、図1の棒状の中心電極12の軸線Z−Z上から見た図であり、プラズマ光8(EUV)の発光位置は、軸線Z−Z上に位置する。
本発明のプラズマ光源10は、さらに、増幅ミラー40と集光ミラー50を備える。
増幅ミラー40は、同軸状電極11間に形成されるプラズマ光8の一部をプラズマ光8の発生位置に反射してプラズマ光を誘導放出させる機能を有する。増幅ミラー40で反射するプラズマ光8の比率は高い方がよく、好ましくは30〜90%の範囲であるのがよい。
この例において、増幅ミラー40は、同軸状電極11間に形成されるプラズマ光8を中心とする球面ミラー42である。球面ミラー42の反射内面の中心に対する頂角は、π/2以上であり、好ましくはπから2πの範囲であるのがよい。
また、集光ミラー50は、この例では、同軸状電極11の図で右側に位置し、同軸状電極11間に形成されたプラズマ光8を反射して集光点51に集光するようになっている。集光点51に集光されたプラズマ光8は、次世代リソグラフィ光源として用いることができる。
上述した構成により、同軸状電極11間に形成されたプラズマ光8のうち、球面ミラー42の反射内面に向かうプラズマ光8は、反射内面で反射されて再び同軸状電極11間のプラズマ光8の発生位置のプラズマ3に入射するので、プラズマ3に吸収されて、プラズマ光8の誘導放出に寄与する。
従って、反射、再集束されたプラズマ光8により誘導放出が増大し、これにより励起準位の輻射冷却時間が短縮されるので、入力パワーをより短時間でEUV光として放射させることが可能となる。
また、反射光の存在により、反射、再照射光と同方向への放射割合が増加するので、プラズマ3が完全な等方性から非対称性を持つようになり、プラズマ3から放出されるプラズマ光8(EUV光)の利用効率も改善される。
図5は、本発明によるプラズマ光源の第2実施形態図である。この図において、(A)は平面図、(B)はB−B線における断面図である。
図5(A)(B)において、各同軸状電極11は、矩形中心電極12A、矩形ガイド電極14A、及び矩形絶縁体16Aからなる。
矩形中心電極12Aは、矩形断面を有し単一の軸線Z−Z上に延びる棒状の電極である。矩形断面は、厚さhに対する幅bの比率(b/h)が2〜20程度である。この比率は、プラズマ封じ込み磁場5(磁気ビン)が安定して形成できる限りで自由に設定する。その他の構成は、上述した中心電極12と同様である。
矩形ガイド電極14Aは、矩形中心電極12Aを所定の間隔を隔てて囲む矩形管状の電極である。所定の間隔は、一定でも、厚さ方向と幅方向とで異なってもよい。その他の構成は、上述したガイド電極14と同様である。
矩形絶縁体16Aは、矩形中心電極12Aと矩形ガイド電極14Aの間に位置し、その間を絶縁する矩形リング状の絶縁体である。その他の構成は、上述した絶縁体16と同様である。
上述した1対の同軸状電極11の各矩形中心電極12Aは、前記同一の軸線Z−Z上に位置し、かつ互いに一定の間隔を隔てて対称に位置している。
この例において、図5(A)に示すように、増幅ミラー40は平面ミラー44(又は凹面ミラー)であり、同軸状電極11間に形成される細長いプラズマ3の外側(図5(A)で上側)に位置し、その軸線に対して直交する。
また、図5(A)に示すように、増幅ミラー40は、さらに、細長いプラズマ3の軸線を中心とする円弧ミラー46を有する。円弧ミラー46の反射内面の中心に対する頂角は、π/2以上であるのがよい。
上述した構成により、同軸状電極11間に形成されたプラズマ光8のうち、円弧ミラー46の反射内面に向かうプラズマ光8は、反射内面で反射されて再び同軸状電極11間のプラズマ光8の発生位置のプラズマ3に入射するので、プラズマ3に吸収されて、プラズマ光8の誘導放出に寄与する。
また、細長いプラズマ3の背面(図5(A)で上側)に向かうプラズマ光8も、平面ミラー44(又は凹面ミラー)の反射面で反射されて再び同軸状電極11間のプラズマ光8の発生位置のプラズマ3に入射するので、プラズマ3に吸収されて、プラズマ光8の誘導放出に寄与する。
従って、この構成では、発光プラズマ3の軸方向サイズが拡大されるので、背面放射光の反射、再通過により誘導放出が増大し、これにより励起準位の輻射冷却時間が短縮され、入力パワーをより短時間でEUV光として放射させる事が可能となる。
また、反射光の存在により、反射、再照射光と同方向への放射割合が増加するので、プラズマ3が完全な等方性から非対称性を持つようになり、プラズマ3から放出されるプラズマ光8(EUV光)の利用効率も改善される。
上述した装置を用い、本発明の方法では、図2に示したように、
(A) 対向配置した1対の同軸状電極11内にプラズマ媒体6を供給しかつプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持し、
(B) 各同軸状電極11に極性を反転させた放電電圧を印加して、1対の同軸状電極11にそれぞれ面状放電2を発生させ、この面状放電2により各同軸状電極の対向する中間位置に単一のプラズマ3を形成し、
(C) 次いで面状放電2を1対の同軸状電極11間の管状放電4に繋ぎ換えてプラズマ3を軸方向(Z−Z方向)に封じ込め、
(D) プラズマ3の発光エネルギーに相当するエネルギーを各同軸状電極11から供給して同軸状電極間にプラズマ光8を発生させ、
(E) プラズマ光8の一部を増幅ミラー40(図4,5参照)によりプラズマ光8の発生位置に反射してプラズマ光8を誘導放出させる。
上述した本発明の装置と方法によれば、対向配置された1対の同軸状電極11を備え、1対の同軸状電極11にそれぞれ面状の放電電流(面状放電2)を発生させ、面状放電2により各同軸状電極11の対向する中間位置に単一のプラズマ3を形成し、次いで面状放電2を1対の同軸状電極間の管状放電4に繋ぎ換えてプラズマ3を封じ込めるプラズマ封込み磁場5(磁気ビン5)を形成するので、EUV放射のためのプラズマ光を長時間(μsecオーダーで)安定して発生させることができる。
また、従来のキャピラリー放電や真空放電金属プラズマと比較すると、1対の同軸状電極11の対向する中間位置に単一のプラズマ3が形成され、かつエネルギー変換効率を大幅(10倍以上)に改善できるので、プラズマ形成中における各電極の熱負荷が小さくなり、構成機器の熱負荷によるダメージを大幅に低減できる。
さらに、上述した実施形態1,2の構成により、有効波長領域(13.5nm近傍)のEUV光を発する励起準位の輻射冷却時間を短縮して、入力パワーをより短時間でEUV光として放射させることができ、かつEUV光の利用効率を高めることができる。
なお、本発明は上述した実施形態に限定されず、特許請求の範囲の記載によって示され、さらに特許請求の範囲の記載と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含むものである。
1 対称面、2 面状放電(電流シート)、3 プラズマ、
4 管状放電、5 プラズマ封込み磁場、6 プラズマ媒体、
7 レーザー光、8 プラズマ光(EUV光)、
10 プラズマ光源、
11 同軸状電極、11A 矩形同軸状電極、
12 中心電極、12A 矩形中心電極、12a 凹穴、
14 ガイド電極、14A 矩形ガイド電極、
16 絶縁体(多孔質セラミック)、
18 プラズマ媒体供給装置、20 放電環境保持装置、
30 電圧印加装置、
32 正電圧源、34 負電圧源、36 トリガスイッチ、
40 増幅ミラー、42 球面ミラー、
44 平面ミラー(又は凹面ミラー)、46 円弧ミラー、
50 集光ミラー、51 集光点

Claims (5)

  1. 対向配置された1対の同軸状電極と、該同軸状電極内にプラズマ媒体を供給しかつプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持する放電環境保持装置と、各同軸状電極に極性を反転させた放電電圧を印加する電圧印加装置と、を備え、
    前記1対の同軸状電極間に管状放電を形成してプラズマを軸方向に封じ込め、該プラズマの発光エネルギーに相当するエネルギーを前記電圧印加装置から供給し、同軸状電極間にプラズマ光を発生させるプラズマ光源において、
    前記同軸状電極間に形成されるプラズマ光の一部を該プラズマ光の発生位置に反射してプラズマ光を誘導放出させる増幅ミラーを備え
    前記各同軸状電極は、矩形断面を有し単一の軸線上に延びる棒状の矩形中心電極と、該矩形中心電極を所定の間隔を隔てて囲む矩形管状の矩形ガイド電極と、矩形中心電極と矩形ガイド電極の間に位置しその間を絶縁する矩形リング状の矩形絶縁体とからなり、
    前記矩形中心電極の矩形断面は、厚さhに対する幅bの比率(b/h)が2〜20であり、
    1対の同軸状電極の各矩形中心電極は、同一の軸線上に位置し、かつ互いに一定の間隔を隔てて対称に位置しており、
    前記増幅ミラーは、前記同軸状電極間に形成される細長いプラズマの外側に位置し、その軸線に対して直交する平面ミラー又は凹面ミラーである、ことを特徴とするプラズマ光源。
  2. 前記同軸状電極間に形成された前記プラズマ光を反射して所定の集光点に集光する集光ミラーを有する、ことを特徴とする請求項1に記載のプラズマ光源。
  3. 前記増幅ミラーは、前記同軸状電極間に形成されるプラズマ光を中心とする球面ミラーである、ことを特徴とする請求項1に記載のプラズマ光源。
  4. 前記増幅ミラーは、さらに、前記細長いプラズマの軸線を中心とする円弧ミラーを有する、ことを特徴とする請求項に記載のプラズマ光源。
  5. 対向配置された1対の同軸状電極と、該同軸状電極内にプラズマ媒体を供給しかつプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持する放電環境保持装置と、各同軸状電極に極性を反転させた放電電圧を印加する電圧印加装置と、を備え、
    各同軸状電極が、矩形断面を有し単一の軸線上に延びる棒状の矩形中心電極と、該矩形中心電極を所定の間隔を隔てて囲む矩形管状の矩形ガイド電極と、矩形中心電極と矩形ガイド電極の間に位置しその間を絶縁する矩形リング状の矩形絶縁体とからなり、
    前記矩形中心電極の矩形断面は、厚さhに対する幅bの比率(b/h)が2〜20であり、
    1対の同軸状電極の各矩形中心電極は、同一の軸線上に位置し、かつ互いに一定の間隔を隔てて対称に位置しており、
    増幅ミラーが、前記同軸状電極間に形成される細長いプラズマの外側に位置し、その軸線に対して直交する平面ミラー又は凹面ミラーであり、
    (A) 前記1対の同軸状電極内にプラズマ媒体を供給しかつプラズマ発生に適した温度及び圧力に保持し、
    (B) 各同軸状電極に極性を反転させた放電電圧を印加して、1対の同軸状電極にそれぞれ面状放電を発生させ、該面状放電により各同軸状電極の対向する中間位置に単一のプラズマを形成し、
    (C) 次いで前記面状放電を1対の同軸状電極間の管状放電に繋ぎ換えて前記プラズマを軸方向に封じ込め、
    (D) プラズマの発光エネルギーに相当するエネルギーを各同軸状電極から供給して同軸状電極間にプラズマ光を発生させ、
    (E) 前記プラズマ光の一部を該プラズマ光の発生位置に反射してプラズマ光を誘導放出させる、ことを特徴とするプラズマ光発生方法。
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US6566667B1 (en) * 1997-05-12 2003-05-20 Cymer, Inc. Plasma focus light source with improved pulse power system
US7105837B2 (en) * 2004-05-13 2006-09-12 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, device manufacturing method and radiation system
US7115887B1 (en) * 2005-03-15 2006-10-03 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Method for generating extreme ultraviolet with mather-type plasma accelerators for use in Extreme Ultraviolet Lithography
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