WO2010067641A1 - 走査信号線駆動回路、シフトレジスタ、およびシフトレジスタの駆動方法 - Google Patents

走査信号線駆動回路、シフトレジスタ、およびシフトレジスタの駆動方法 Download PDF

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WO2010067641A1
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泰章 岩瀬
真由子 坂本
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シャープ株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a driving circuit and a driving method for an active matrix display device, and more specifically, a shift register in a scanning signal line driving circuit for driving a scanning signal line disposed in a display unit of the active matrix display device, and It relates to the driving method.
  • a liquid crystal display device using a thin film transistor (hereinafter referred to as “a-Si TFT”) using amorphous silicon (a-Si) as a driving element is known.
  • a-Si TFT thin film transistor
  • a-Si amorphous silicon
  • ⁇ c-Si microcrystalline silicon
  • Development of a liquid crystal display device using a conventional thin film transistor (hereinafter referred to as “ ⁇ c-SiTFT”) as a driving element is in progress.
  • the mobility of microcrystalline silicon is larger than that of amorphous silicon, and the ⁇ c-Si TFT is formed in the same process as the a-Si TFT.
  • the use of ⁇ c-Si TFTs as drive elements is expected to reduce the frame area, reduce the number of chips of the driver IC, improve the mounting yield, and increase the size of the display device.
  • the ⁇ c-Si TFT has a feature that the threshold shift (the threshold voltage varies) when a voltage is applied to the gate electrode for a long time is smaller than that of the a-Si TFT. That is, the ⁇ c-Si TFT is more reliable than the a-Si TFT in that it is less likely to deteriorate.
  • the display portion of the active matrix type liquid crystal display device includes a plurality of source bus lines (video signal lines), a plurality of gate bus lines (scanning signal lines), the plurality of source bus lines, and a plurality of source bus lines.
  • a plurality of pixel forming portions provided corresponding to the intersections with the gate bus lines are included. These pixel forming portions are arranged in a matrix to form a pixel array.
  • Each pixel formation unit holds a pixel value or a thin film transistor that is a switching element in which a gate terminal is connected to a gate bus line passing through a corresponding intersection and a source terminal is connected to a source bus line passing through the intersection.
  • the pixel capacity is included.
  • the active matrix liquid crystal display device also includes a source driver (video signal line driving circuit) for driving the plurality of source bus lines and a gate driver (scanning signal line) for driving the plurality of gate bus lines. Drive circuit).
  • a video signal indicating a pixel value is transmitted by a source bus line, but each source bus line cannot transmit a video signal indicating a pixel value for a plurality of rows at a time (simultaneously). For this reason, the writing of the video signal to the pixel capacitors in the pixel formation portions arranged in the above-described matrix is sequentially performed row by row. Therefore, the gate driver is constituted by a shift register having a plurality of stages so that a plurality of gate bus lines are sequentially selected for a predetermined period.
  • each gate bus line only needs to be selected once during one frame period (one horizontal scanning period). Therefore, the scanning signal applied to each gate bus line is a period during which each gate bus line is to be selected. It is preferable that the potential is set to a high level only (hereinafter referred to as “selection period”) and is fixed at a low level potential during other periods (hereinafter referred to as “non-selection period”). However, the potential of the scanning signal may fluctuate in the positive direction from the low-level potential during the non-selection period due to the influence of the parasitic capacitance formed in the circuit constituting the shift register. Japanese Patent Laid-Open Publication No.
  • FIG. 15 is a circuit diagram showing the configuration of one stage of the shift register disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2006-351171. According to this circuit, the gate bus line is not floated during the non-selection period, and a gate-off voltage is always applied to the gate bus line. Thereby, it is said that the influence by the parasitic capacitance can be reduced.
  • a parasitic capacitance is also formed between the gate and source of the thin film transistor denoted by reference numeral T1 in FIG. Therefore, when the potential of the clock LCLK1 changes from the low level to the high level, the potential of the gate terminal of the thin film transistor T1 rises through the parasitic capacitance. As a result, a leak current flows through the thin film transistor T1, and the potential of the scanning signal varies.
  • the clock LCLK1 is set to a high level in a predetermined cycle even during the non-selection period, the potential of the scanning signal varies in a predetermined cycle.
  • the above-described ⁇ c-Si TFT has a larger off-leakage (leakage current generated in the off state) than the a-Si TFT. For this reason, when the ⁇ c-Si TFT is used in the circuit constituting the shift register, unnecessary power consumption due to the leakage current is larger than when the a-Si TFT is used.
  • a first aspect of the present invention is a scanning signal line driving circuit of a display device for driving a plurality of scanning signal lines arranged in a display unit,
  • a plurality of bistable circuits having a first state and a second state and connected in series to each other, the first, second, third, and fourth clocks input from the outside to each bistable circuit
  • a plurality of bistable circuits are sequentially set to a first state on the basis of the four-phase clock signal which is a four-phase clock signal given as a signal and periodically repeats a high-level potential and a low-level potential.
  • a shift register Each bistable circuit is The first clock signal is supplied to the second electrode, and is a node for outputting a state signal that should represent either the first state or the second state, and is connected to the scanning signal line
  • An output node charging unit including a first switching element having a third electrode connected to an output node, which is a connected node, for changing the state represented by the state signal to the first state;
  • An output node discharging unit for setting the state represented by the state signal to the second state;
  • a first node charging unit for charging a first node connected to the first electrode of the first switching element based on a predetermined set signal;
  • a first first node discharging unit for discharging the first node, the second switching element including a second switching element connected to the second node and having a predetermined low potential applied to the third electrode;
  • a second node charging unit for charging a second node connected to the first electrode of the second switching element based on the third clock signal;
  • a first second node discharge unit for dischar
  • the second node charging unit includes a third switching element in which the third clock signal is supplied to a first electrode and a second electrode, and a third electrode is connected to the second node, In the first second node discharge section, a fourth clock signal is applied to a first electrode, a second electrode is connected to the second node, and a predetermined low potential is applied to a third electrode. Switching elements
  • the first node charging unit includes a fifth switching element in which the set signal is applied to a first electrode and a third electrode, and a second electrode is connected to the first node.
  • Each bistable circuit is A charging voltage of the first node, including a sixth switching element having a first electrode connected to the first node, a second electrode connected to the second node, and a predetermined low potential applied to the third electrode.
  • a second second-node discharge unit for discharging the second node based on: A predetermined reset signal applied to the first electrode; a second electrode connected to the first node; and a seventh switching element applied with a predetermined low potential to the third electrode.
  • a second first node discharge unit for discharging the first node.
  • the four-phase clock signals include a first clock signal group composed of two-phase clock signals supplied to the bistable circuits as the first and second clock signals, and the third and fourth clock signals to each bistable circuit. And a second clock signal group composed of two-phase clock signals given as clock signals of When two bistable circuits adjacent to each other are used as the first and second bistable circuits, The first bistable circuit is supplied with one of the two-phase clock signals included in the first clock signal group as the first clock signal, and the two-phase included in the first clock signal group. The other clock signal is provided as the second clock signal, and one of the two-phase clock signals included in the second clock signal group is provided as the third clock signal.
  • the other of the two-phase clock signals included in the clock signal group is provided as the fourth clock signal, and the state signal output from the second bistable circuit is provided as the reset signal.
  • the second bistable circuit is supplied with the signal supplied as the second clock signal to the first bistable circuit as the first clock signal, and is supplied to the first bistable circuit with the first bistable circuit.
  • a signal given as one clock signal is given as the second clock signal
  • a signal given as the fourth clock signal to the first bistable circuit is given as the third clock signal
  • a signal given as the third clock signal to the first bistable circuit is given as the fourth clock signal
  • a status signal output from the first bistable circuit is given as the set signal. It is characterized by that.
  • the width of the signal line for transmitting the first clock signal group is larger than the width of the signal line for transmitting the second clock signal group.
  • the four-phase clock signal is composed of a first set clock signal and a second set clock signal that have the same set of two-phase clock signals that are 180 degrees out of phase with each other,
  • a bistable circuit in the previous stage of a certain bistable circuit is a first bistable circuit
  • a bistable circuit in the next stage of the certain bistable circuit is a second bistable circuit.
  • the first bistable circuit is supplied with one of the two-phase clock signals included in the first set clock signal as the first clock signal, and the two-phase included in the first set clock signal.
  • the other clock signal is provided as the second clock signal, and one of the two-phase clock signals included in the second set clock signal is provided as the third clock signal.
  • the other of the two-phase clock signals included in the set clock signal is provided as the fourth clock signal, and the state signal output from the second bistable circuit is provided as the reset signal.
  • the second bistable circuit is supplied with the signal supplied as the second clock signal to the first bistable circuit as the first clock signal, and is supplied to the first bistable circuit with the first bistable circuit.
  • a signal given as one clock signal is given as the second clock signal
  • a signal given as the fourth clock signal to the first bistable circuit is given as the third clock signal
  • a signal given as the third clock signal to the first bistable circuit is given as the fourth clock signal
  • a status signal output from the first bistable circuit is given as the set signal. It is characterized by that.
  • the output node discharge unit includes:
  • the state represented by the state signal includes an eighth switching element in which the reset signal is applied to the first electrode, the second electrode is connected to the output node, and a predetermined low potential is applied to the third electrode.
  • the state represented by the state signal includes a ninth switching element in which the second clock signal is applied to the first electrode, the second electrode is connected to the output node, and a predetermined low potential is applied to the third electrode.
  • a second output node discharging section for setting the second state to the second state based on the second clock signal.
  • the output node discharge unit includes a tenth switching element connected to the first electrode at the second node, connected to the second electrode at the output node, and applied with a predetermined low potential to the third electrode, It further has a third output node discharging section for setting the state represented by the state signal to the second state based on the charging voltage of the second node.
  • Each bistable circuit further includes a capacitor having one end connected to the first node and the other end connected to the output node.
  • the phase of the third clock signal is advanced 90 degrees from the phase of the first clock signal.
  • a first scanning signal line driving circuit for supplying the state signal from one end side to the other end side of the plurality of scanning signal lines, and a first scanning signal line driving circuit for supplying the state signal from the other end side to the one end side of the plurality of scanning signal lines. 2 scanning signal line drive circuits.
  • a twelfth aspect of the present invention is the eleventh aspect of the present invention,
  • the first scanning signal line driving circuit gives the state signal to one of the scanning signal lines in the odd-numbered row or the even-numbered row among the plurality of scanning signal lines
  • the second scanning signal line driving circuit supplies the state signal to the other scanning signal line of the odd-numbered row or the even-numbered row among the plurality of scanning signal lines.
  • a thirteenth aspect of the present invention is the eleventh aspect of the present invention.
  • Each scanning signal line is supplied with the state signal from both the first scanning signal line driving circuit and the second scanning signal line driving circuit.
  • each bistable circuit is a thin film transistor made of microcrystalline silicon.
  • each bistable circuit is a thin film transistor made of amorphous silicon.
  • At least one of the switching elements having a second electrode connected to the first node is a thin film transistor having a multi-channel structure.
  • a seventeenth aspect of the present invention is a display device comprising a display unit and a scanning signal line driving circuit that drives a plurality of scanning signal lines arranged in the display unit,
  • the scanning signal line driving circuit includes: A plurality of bistable circuits having a first state and a second state and connected in series to each other, the first, second, third, and fourth clocks input from the outside to each bistable circuit
  • a plurality of bistable circuits are sequentially set to a first state on the basis of the four-phase clock signal which is a four-phase clock signal given as a signal and periodically repeats a high-level potential and a low-level potential.
  • a shift register Each bistable circuit is The first clock signal is supplied to the second electrode, and is a node for outputting a state signal that should represent either the first state or the second state, and is connected to the scanning signal line
  • An output node charging unit including a first switching element having a third electrode connected to an output node, which is a connected node, for changing the state represented by the state signal to the first state;
  • An output node discharging unit for setting the state represented by the state signal to the second state;
  • a first node charging unit for charging a first node connected to the first electrode of the first switching element based on a predetermined set signal;
  • a first first node discharging unit for discharging the first node, the second switching element including a second switching element connected to the second node and having a predetermined low potential applied to the third electrode;
  • a second node charging unit for charging a second node connected to the first electrode of the second switching element based on the third clock signal;
  • a first second node discharge unit for dischar
  • the display unit and the scanning signal line driving circuit are driver monolithic type formed on the same substrate.
  • a nineteenth aspect of the present invention includes a plurality of bistable circuits having a first state and a second state and connected in series to each other.
  • a plurality of bistables based on the four-phase clock signal which is a four-phase clock signal provided as the third, fourth and fourth clock signals and periodically repeats a high-level potential and a low-level potential.
  • a shift register for driving a plurality of scanning signal lines disposed in a display unit of a display device, wherein the circuit is sequentially set to a first state,
  • Each bistable circuit is The first clock signal is supplied to the second electrode, and is a node for outputting a state signal that should represent either the first state or the second state, and is connected to the scanning signal line
  • An output node charging unit including a first switching element having a third electrode connected to an output node, which is a connected node, for changing the state represented by the state signal to the first state;
  • An output node discharging unit for setting the state represented by the state signal to the second state;
  • a first node charging unit for charging a first node connected to the first electrode of the first switching element based on a predetermined set signal;
  • a first first node discharging unit for discharging the first node, the second switching element including a second switching element connected to the second node and having a predetermined low potential applied to the third electrode;
  • a twentieth aspect of the present invention includes a plurality of bistable circuits that have a first state and a second state and are connected in series to each other, and are input from the outside to the first and second bistable circuits.
  • a plurality of bistables based on the four-phase clock signal which is a four-phase clock signal provided as the third, fourth and fourth clock signals and periodically repeats a high-level potential and a low-level potential.
  • Each bistable circuit is A third switching element in which the third clock signal is applied to the first electrode and the second electrode, and the third electrode is connected to the second node;
  • the second node charging step the second node is charged by turning on the third switching element based on the third clock signal
  • the first second node discharging step the second node is discharged by turning on the fourth switching element based on the fourth clock signal
  • the first node charging step the first node is charged by turning on the fifth switching element based on the set signal.
  • the first driving step includes A second second node discharging step of discharging the second node based on a charging voltage of the first node; A second first node discharging step of discharging the first node based on the reset signal;
  • Each bistable circuit is A sixth switching element having a first electrode connected to the first node, a second electrode connected to the second node, and a predetermined low potential applied to the third electrode;
  • the second node discharging step the second node is discharged by turning on the sixth switching element based on the charging voltage of the first node
  • the first node is discharged by turning on the seventh switching element based on the reset signal.
  • the four-phase clock signals include a first clock signal group composed of two-phase clock signals supplied to the bistable circuits as the first and second clock signals, and the third and fourth clock signals to each bistable circuit. And a second clock signal group composed of two-phase clock signals given as clock signals of When two bistable circuits adjacent to each other are used as the first and second bistable circuits, The first bistable circuit is supplied with one of the two-phase clock signals included in the first clock signal group as the first clock signal, and the two-phase included in the first clock signal group. The other clock signal is provided as the second clock signal, and one of the two-phase clock signals included in the second clock signal group is provided as the third clock signal.
  • the other of the two-phase clock signals included in the clock signal group is provided as the fourth clock signal, and the state signal output from the second bistable circuit is provided as the reset signal.
  • the second bistable circuit is supplied with the signal supplied as the second clock signal to the first bistable circuit as the first clock signal, and is supplied to the first bistable circuit with the first bistable circuit.
  • a signal given as one clock signal is given as the second clock signal
  • a signal given as the fourth clock signal to the first bistable circuit is given as the third clock signal
  • a signal given as the third clock signal to the first bistable circuit is given as the fourth clock signal
  • a status signal output from the first bistable circuit is given as the set signal. It is characterized by that.
  • the twenty-fourth aspect of the present invention is the twentieth aspect of the present invention, in which
  • the four-phase clock signal is composed of a first set clock signal and a second set clock signal that have the same set of two-phase clock signals that are 180 degrees out of phase with each other,
  • a bistable circuit in the previous stage of a certain bistable circuit is a first bistable circuit
  • a bistable circuit in the next stage of the certain bistable circuit is a second bistable circuit.
  • the first bistable circuit is supplied with one of the two-phase clock signals included in the first set clock signal as the first clock signal, and the two-phase included in the first set clock signal.
  • the other clock signal is provided as the second clock signal, and one of the two-phase clock signals included in the second set clock signal is provided as the third clock signal.
  • the other of the two-phase clock signals included in the set clock signal is provided as the fourth clock signal, and the state signal output from the second bistable circuit is provided as the reset signal.
  • the second bistable circuit is supplied with the signal supplied as the second clock signal to the first bistable circuit as the first clock signal, and is supplied to the first bistable circuit with the first bistable circuit.
  • a signal given as one clock signal is given as the second clock signal
  • a signal given as the fourth clock signal to the first bistable circuit is given as the third clock signal
  • a signal given as the third clock signal to the first bistable circuit is given as the fourth clock signal
  • a status signal output from the first bistable circuit is given as the set signal. It is characterized by that.
  • phase of the third clock signal is advanced 90 degrees from the phase of the first clock signal.
  • Each bistable circuit is An eighth switching element in which the reset signal is applied to the first electrode, the second electrode is connected to the output node, and a predetermined low potential is applied to the third electrode;
  • a ninth switching element wherein the second clock signal is applied to the first electrode, the second electrode is connected to the output node, and a predetermined low potential is applied to the third electrode;
  • a second output that maintains the state represented by the state signal in the second state by applying the second clock signal to the ninth switching element.
  • a node discharging step In the first output node discharging step, the state represented by the state signal changes from the first state to the second state by turning on the eighth switching element based on the reset signal. And In the second output node discharging step, the state represented by the state signal is maintained in the second state by turning on the ninth switching element based on the second clock signal. It is characterized by.
  • Each bistable circuit further includes a tenth switching element connected to the first electrode at the second node, connected to the second electrode at the output node, and given a predetermined low potential to the third electrode;
  • the first driving step and the second driving step further include a third output node discharging step for maintaining the state represented by the state signal in the second state based on the charging voltage of the second node, In the third output node charging step, the state represented by the state signal is maintained in the second state by turning on the tenth switching element based on the charging voltage of the second node. It is characterized by that.
  • the first electrode of the first switching element is connected to the first node.
  • the first clock signal is applied to the second electrode, and the third electrode is connected to the output node.
  • the first clock signal changes from the low level to the high level after the potential of the first node rises based on the predetermined set signal, it is between the first electrode and the second electrode of the first switching element. Due to the parasitic capacitance, the potential of the first node further rises and the first switching element is turned on. As a result, the potential of the output node rises, and a state signal representing the first state is output from the output node.
  • the output node discharging unit changes the state represented by the state signal to the second state.
  • the first clock signal changes from the low level to the high level when the first node is not charged, it is caused by the parasitic capacitance between the first electrode and the second electrode of the first switching element.
  • the potential at the first node rises slightly.
  • Each bistable circuit is provided with a first first node discharge portion for discharging the first node, and the first electrode of the second switching element included in the first first node discharge portion.
  • the second node connected to is charged based on the third clock signal and discharged based on the fourth clock signal.
  • the phase of the third clock signal is advanced from the phase of the first clock signal.
  • the second switching element included in the first first node discharge unit is It is already on. Therefore, during the non-selection period, even if the potential of the first node increases, the potential decreases rapidly. As a result, the leakage current in the switching element connected to the output node becomes smaller than that in the conventional case, and an unnecessary current is suppressed from flowing through the scanning signal line, thereby reducing power consumption.
  • the potential of the first node is lowered to a potential lower than the potential of the (negative) power supply voltage.
  • the timing at which the fourth clock signal changes from the low level to the high level is earlier than the timing at which the first clock signal changes from the high level to the low level.
  • the threshold shift of the first switching element becomes smaller than that of the prior art. Therefore, the size of the first switching element can be made smaller than before, and the display device can be miniaturized.
  • the fourth clock signal changes from the low level to the high level during the selection period, and the second node is discharged.
  • the second node is connected to the first electrode of the second switching element in which the second electrode is connected to the first node.
  • the period during which the second switching element is turned off during the selection period is longer than the conventional period, a decrease in the potential of the first node during the selection period is suppressed. If the potential of the first node is reduced during the selection period, the fall of the scanning signal is delayed when the selection period changes to the non-selection period.
  • the scanning signal falls quickly when changing from the selection period to the non-selection period. For this reason, it is possible to suppress the occurrence of display defects due to the slow falling of the scanning signal.
  • the second aspect of the present invention in the configuration including the switching element in the second node discharging unit, the first second node discharging unit, and the first node charging unit, the same as the first aspect of the present invention. The effect is obtained.
  • the second node since the second node is discharged during the selection period, the potential of the first node during the selection period is prevented from being lowered.
  • the first node after the selection period ends generation of a leakage current in the first switching element after the selection period ends is suppressed.
  • a relatively thick signal line is used as a signal line for transmitting a clock signal that directly contributes to changing the state represented by the state signal to the first state.
  • a relatively thin signal line is used as a signal line for transmitting a clock signal for controlling the node. Therefore, the circuit area can be reduced while the operation of the shift register is kept normal.
  • the same effect as the third aspect of the present invention is obtained.
  • the obtained scanning signal line driving circuit is realized.
  • the state represented by the state signal is set to the second state based on the reset signal and the second clock signal. For this reason, the state represented by the state signal can be changed to the second state at any time.
  • the state represented by the state signal is further set to the second state based on the charging voltage of the second node. For this reason, the state represented by the state signal in the non-selection period can be reliably maintained in the second state.
  • the potential of the first node is maintained at a high level during the selection period. For this reason, a decrease in the potential of the scanning signal in the selection period is suppressed.
  • the first to fourth clock signals are generated relatively easily.
  • a scanning signal line driving circuit capable of obtaining the same effect as in the first aspect of the present invention is realized.
  • the fourteenth aspect of the present invention since the thin film transistor made of microcrystalline silicon that is relatively difficult to deteriorate is employed as the switching element, the reliability of the operation of the shift register can be improved.
  • the leakage current in the first switching element becomes smaller, and unnecessary power consumption is suppressed.
  • the switching elements (second switching element, seventh switching element) for discharging the first node are formed of multi-channel thin film transistors, When the potential rises, a decrease in the potential of the first node due to leakage current generated in those switching elements is prevented.
  • a display device including a scanning signal line driving circuit capable of obtaining the same effect as in the first aspect of the present invention is realized.
  • a display device that achieves the same effects as in the seventeenth aspect of the present invention while reducing the size of the device is realized.
  • FIG. 6 is a signal waveform diagram showing waveforms of first to fourth gate clock signals in the embodiment.
  • it is a signal waveform diagram which shows the waveform of a scanning signal.
  • it is a wave form diagram for demonstrating operation
  • FIG. 4 is a circuit diagram in consideration of a parasitic capacitance between a gate and a source of a thin film transistor T1 in the embodiment.
  • FIG. . A is a waveform diagram showing a simulation result by the configuration according to the embodiment.
  • B is a waveform diagram showing a simulation result by a configuration according to a conventional example. It is the elements on larger scale of the said simulation result. It is the elements on larger scale of the said simulation result.
  • AC is a diagram for explaining a multi-channel TFT. It is a circuit diagram which constituted the bistable circuit concerning the above-mentioned embodiment using multichannel TFT. It is a circuit diagram which shows the structural example for 1 step
  • the gate terminal (gate electrode) of the thin film transistor corresponds to the first electrode
  • the source terminal (source electrode) corresponds to the second electrode
  • the drain terminal (drain electrode) corresponds to the third electrode.
  • FIG. 2 is a block diagram showing the overall configuration of an active matrix liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
  • the liquid crystal display device includes a power supply 100, a DC / DC converter 110, a display control circuit 200, a source driver (video signal line driving circuit) 300, and a first gate driver (first scanning signal line).
  • the display unit 600 and the first and second gate drivers 401 and 402 that are driving circuits are formed on the same substrate, that is, monolithically.
  • the display unit 600 includes a plurality (j) of source bus lines (video signal lines) SL1 to SLj, a plurality (i) of gate bus lines (scanning signal lines) GL1 to GLi, and their source buses.
  • a plurality of (i ⁇ j) pixel forming portions provided corresponding to the intersections of the lines SL1 to SLj and the gate bus lines GL1 to GLi are included.
  • the i gate bus lines GL1 to GLi odd-numbered gate bus lines GL1, GL3,..., GLi-1 are arranged so as to extend from the first gate driver 401, and even-numbered rows.
  • the gate bus lines GL 2, GL 4,..., GLi are arranged to extend from the second gate driver 402.
  • the plurality of pixel forming portions are arranged in a matrix to form a pixel array.
  • Each pixel forming portion includes a thin film transistor (TFT) 60 which is a switching element having a gate terminal connected to a gate bus line passing through a corresponding intersection and a source terminal connected to a source bus line passing through the intersection.
  • a pixel electrode connected to the drain terminal of the thin film transistor 60, a common electrode Ec which is a common electrode provided in the plurality of pixel formation portions, and a pixel provided in common in the plurality of pixel formation portions
  • the liquid crystal layer is sandwiched between the electrode and the common electrode Ec.
  • a pixel capacitor Cp is constituted by a liquid crystal capacitor formed by the pixel electrode and the common electrode Ec.
  • an auxiliary capacitor is provided in parallel with the liquid crystal capacitor in order to reliably hold the voltage in the pixel capacitor Cp.
  • the auxiliary capacitor is not directly related to the present invention, its description and illustration are omitted.
  • the power supply 100 supplies a predetermined power supply voltage to the DC / DC converter 110, the display control circuit 200, and the common electrode drive circuit 500.
  • the DC / DC converter 110 generates a predetermined DC voltage for operating the source driver 300, the first gate driver 401, and the second gate driver 402 from the power supply voltage.
  • the first gate driver 401 and the second gate driver 402 are supplied.
  • the common electrode drive circuit 500 gives a predetermined potential Vcom to the common electrode Ec.
  • the display control circuit 200 receives an image signal DAT and a timing signal group TG such as a horizontal synchronization signal and a vertical synchronization signal sent from the outside, and receives a digital video signal DV and a source start pulse for controlling image display on the display unit 600.
  • Signal SSP, source clock signal SCK, latch strobe signal LS, first gate start pulse signal GSP1, first gate end pulse signal GEP1, second gate start pulse signal GSP2, second gate end pulse signal GEP2, and A gate clock signal GCK is output.
  • the source driver 300 receives the digital video signal DV, the source start pulse signal SSP, the source clock signal SCK, and the latch strobe signal LS output from the display control circuit 200, and drives the video signal S for driving to the source bus lines SL1 to SLj. (1) to S (j) are applied.
  • the gate driver includes a first gate driver 401 that drives the odd-numbered gate bus lines GL1, GL3,..., GLi-1, and even-numbered gate bus lines GL2, GL4,. ... Divided into a second gate driver 402 for driving GLi.
  • the first gate driver 401 generates an active scanning signal Gout (1) based on the first gate start pulse signal GSP1, the first gate end pulse signal GEP1, and the gate clock signal GCK output from the display control circuit 200.
  • Gout (3),..., Gout (i-1) are repeatedly applied to the odd-numbered gate bus lines GL1, GL3,.
  • the second gate driver 402 generates an active scanning signal based on the second gate start pulse signal GSP2, the second gate end pulse signal GEP2, and the gate clock signal GCK output from the display control circuit 200.
  • Gout (2), Gout (4), ..., Gout (i) to the even-numbered gate bus lines GL2, GL4, ..., GLi is repeated with one vertical scanning period as a cycle. A detailed description of these gate drivers will be given later.
  • the driving video signals S (1) to S (j) are applied to the source bus lines SL1 to SLj, and the scanning signals Gout (1) to Gout (i) are applied to the gate bus lines GL1 to GLi. Is applied, an image based on the image signal DAT sent from the outside is displayed on the display unit 600.
  • the first gate driver 401 includes a plurality of stages of shift registers 410
  • the second gate driver 402 includes a plurality of stages of shift registers 420.
  • a pixel matrix of i rows ⁇ j columns is formed in the display unit 600.
  • Each stage of the shift register 410 is provided in a one-to-one correspondence with each odd-numbered row of the pixel matrix
  • each stage in the shift register 420 is provided in a one-to-one correspondence with each even-numbered row in the pixel matrix. Is provided.
  • Each stage of the shift registers 410 and 420 is in one of two states (first state and second state) at each time point, and a signal (hereinafter referred to as “state”) representing the state. It is a bistable circuit that outputs a signal.
  • the shift register 410 includes (i / 2) bistable circuits 41 (1) to 41 (i / 2)
  • the shift register 420 includes (i / 2) bistable circuits 42 (1 ) To 42 (i / 2).
  • a high level (H level) state signal is output from the bistable circuit
  • the bistable circuit is in the second state. If so, a low level (L level) state signal is output from the bistable circuit.
  • FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the shift registers 410 and 420 in the gate driver.
  • the shift register 410 includes (i / 2) bistable circuits 41 (1) to 41 (i / 2)
  • the shift register 420 includes (i / 2) bistable circuits 42 ( 1) to 42 (i / 2).
  • Each bistable circuit includes four clock signals CKA (hereinafter referred to as “first clock”), CKB (hereinafter referred to as “second clock”), CCK (hereinafter referred to as “third clock”), and CKD (hereinafter referred to as “third clock”). (Hereinafter referred to as “fourth clock”), an input terminal for receiving the set signal S, an input terminal for receiving the reset signal R, and an output terminal for outputting the status signal Q Is provided.
  • first clock hereinafter referred to as “first clock”
  • CKB hereinafter referred to as “second clock”
  • CCK hereinafter referred to as “third clock”
  • CKD hereinafter
  • the shift register 410 in the first gate driver 401 has four clock signals GCK1 (hereinafter referred to as “first gate clock signal”) and GCK2 (hereinafter referred to as “second gate clock signal”) as the gate clock signal GCK. ), GCK3 (hereinafter referred to as “third gate clock signal”), GCK4 (hereinafter referred to as “fourth gate clock signal”), a first gate start pulse signal GSP1, and a first gate end pulse signal GEP1.
  • the shift register 420 in the second gate driver 402 includes a first gate clock signal GCK1, a second gate clock signal GCK2, a third gate clock signal GCK3, a fourth gate clock signal GCK4, and a second gate start pulse.
  • a signal GSP2 and a second gate end pulse signal GEP2 are supplied from the display control circuit 200.
  • the first gate clock signal GCK1 and the second gate clock signal GCK2 are 180 degrees out of phase (a period corresponding to one horizontal scanning period), and the third gate clock signal GCK3 and the fourth gate It is 180 degrees out of phase with the clock signal GCK4.
  • the phase of the third gate clock signal GCK3 is advanced by 90 degrees with respect to the first gate clock signal GCK1.
  • the first to fourth gate clock signals GCK1 to GCK4 are in a high level (H level) every one horizontal scanning period.
  • signals given to the input terminals of each stage (each bistable circuit) of the shift register 410 are as follows.
  • the first gate clock signal GCK1 is given as the first clock CKA
  • the second gate clock signal GCK2 is given as the second clock CKB
  • the third gate clock signal GCK3 is the third clock.
  • the fourth gate clock signal GCK4 is supplied as the fourth clock CKD.
  • the second gate clock signal GCK2 is given as the first clock CKA
  • the first gate clock signal GCK1 is given as the second clock CKB
  • the fourth gate clock signal GCK4 is the third clock.
  • the third gate clock signal GCK3 is supplied as the fourth clock CKD.
  • the same configuration as the configuration from the first stage to the second stage is repeated two stages.
  • the first gate start pulse signal GSP1 is given as the set signal S to the first stage 41 (1).
  • the state signal Q of the previous stage is given as the set signal S.
  • the status signal Q of the next stage is given as the reset signal R in the 1st to (i / 2-1) th stages.
  • the first gate end pulse signal GEP1 is given as the reset signal R.
  • each stage (each bistable circuit) of the shift register 420 is as follows.
  • the fourth gate clock signal GCK4 is given as the first clock CKA
  • the third gate clock signal GCK3 is given as the second clock CKB
  • the first gate clock signal GCK1 is the third clock.
  • the second gate clock signal GCK2 is supplied as the fourth clock CKD.
  • the third gate clock signal GCK3 is given as the first clock CKA
  • the fourth gate clock signal GCK4 is given as the second clock CKB
  • the second gate clock signal GCK2 is the third clock.
  • the first gate clock signal GCK1 is supplied as the fourth clock CKD.
  • the same configuration as the configuration from the first stage to the second stage is repeated two stages.
  • the second gate start pulse signal GSP2 is supplied as the set signal S to the first stage 42 (1).
  • the previous stage status signal Q is given as the set signal S.
  • the status signal Q of the next stage is given as the reset signal R in the 1st to (i / 2-1) th stages.
  • the second gate end pulse signal GEP2 is given as the reset signal R.
  • the first gate start pulse signal GSP1 as the set signal S is supplied to the first stage 41 (1) of the shift register 410, the first gate start is based on the first to fourth gate clock signals GCK1 to GCK4. Pulses included in the pulse signal GSP1 (this pulse is included in the status signal Q output from each stage) are sequentially shifted from the first stage 41 (1) to the (i / 2) stage 41 (i / 2). Transferred. In response to this pulse transfer, the status signals Q output from the respective stages 41 (1) to (i / 2) are sequentially set to the high level. Then, the state signal Q output from each of the stages 41 (1) to (i / 2) is provided as a scanning signal to each of the odd-numbered gate bus lines GL1, GL3,.
  • the second gate start pulse signal GSP2 as the set signal S is given to the first stage 42 (1) of the shift register 420, the second gate start is based on the first to fourth gate clock signals GCK1 to GCK4. Pulses included in the pulse signal GSP2 are sequentially transferred from the first stage 42 (1) to the (i / 2) stage 42 (i / 2). In response to this pulse transfer, the status signal Q output from each of the stages 42 (1) to (i / 2) sequentially becomes a high level. Then, the state signal Q output from each of the stages 42 (1) to (i / 2) is supplied as the scanning signal to the gate bus lines GL2, GL4,. . . , GLi.
  • a scanning signal that sequentially becomes a high level for each horizontal scanning period is supplied to the gate bus line in the display unit 600.
  • a relatively thick signal line is used as the signal line that transmits the first gate clock signal GCK1 and the signal line that transmits the second gate clock signal GCK2.
  • a relatively thin signal line is used as the signal line for transmitting the gate clock signal GCK3 and the signal line for transmitting the fourth gate clock signal GCK4.
  • relatively thick signal lines are used for the signal line for transmitting the third gate clock signal GCK3 and the signal line for transmitting the fourth gate clock signal GCK4.
  • a relatively thin signal line is used for the signal line for transmitting the gate clock signal GCK1 and the signal line for transmitting the second gate clock signal GCK2.
  • a relatively thick signal line is used as a signal line for transmitting a clock signal that directly contributes to an increase in the potential of the scanning signal, and a clock for controlling the operation of a thin film transistor (described later) included in each bistable circuit.
  • a relatively thin signal line is used as a signal line for transmitting a signal.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of the bistable circuit included in the shift registers 410 and 420 described above (the configuration of one stage of the shift registers 410 and 420).
  • this bistable circuit includes ten thin film transistors T1 (first switching element), T2 (second switching element), T3 (third switching element), and T4 (fourth switching element). Element), T5 (fifth switching element), T6 (sixth switching element), T7 (seventh switching element), T8 (eighth switching element), T9 (ninth switching element), and T10 (Tenth switching element) and a capacitor Cap.
  • this bistable circuit has six input terminals 43 to 48 and one output terminal (output node) 49.
  • the input terminal that receives the set signal S is denoted by reference numeral 43
  • the input terminal that receives the reset signal R is denoted by reference numeral 44
  • the input terminal that receives the first clock CKA is denoted by reference numeral 45
  • the second terminal The input terminal that receives the clock CKB is denoted by reference numeral 46
  • the input terminal that receives the third clock CCK is denoted by reference numeral 47
  • the input terminal that receives the fourth clock CKD is denoted by reference numeral 48
  • the status signal Q is given.
  • the output terminal for output is denoted by reference numeral 49.
  • the gate terminal of the thin film transistor T1, the source terminal of the thin film transistor T2, the source terminal of the thin film transistor T5, the gate terminal of the thin film transistor T6, and the source terminal of the thin film transistor T7 are connected to each other.
  • a region (wiring) in which these are connected to each other is referred to as “netA” (first node) for convenience.
  • the gate terminal of the thin film transistor T2, the drain terminal of the thin film transistor T3, the source terminal of the thin film transistor T4, the source terminal of the thin film transistor T6, and the gate terminal of the thin film transistor T10 are connected to each other.
  • a region (wiring) in which these are connected to each other is referred to as “netB” (second node) for convenience.
  • the gate terminal is connected to netA, the source terminal is connected to the input terminal 45, and the drain terminal is connected to the output terminal 49.
  • the gate terminal is connected to netB, the source terminal is connected to netA, and the drain terminal is connected to the power supply voltage Vss.
  • the gate terminal and the source terminal are connected to the input terminal 47, and the drain terminal is connected to netB.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 48, the source terminal is connected to netB, and the drain terminal is connected to the power supply voltage Vss.
  • the gate terminal and the drain terminal are connected to the input terminal 43 (that is, diode connection), and the source terminal is connected to netA.
  • the gate terminal is connected to netA, the source terminal is connected to netB, and the drain terminal is connected to the power supply voltage Vss.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 44, the source terminal is connected to netA, and the drain terminal is connected to the power supply voltage Vss.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 44, the source terminal is connected to the output terminal 49, and the drain terminal is connected to the power supply voltage Vss.
  • the gate terminal is connected to the input terminal 46, the source terminal is connected to the output terminal 49, and the drain terminal is connected to the power supply voltage Vss.
  • the gate terminal is connected to netB
  • the source terminal is connected to the output terminal 49
  • the drain terminal is connected to the power supply voltage Vss.
  • the capacitor Cap has one end connected to the netA and the other end connected to the output terminal 49.
  • the thin film transistor T1 applies the potential of the first clock CKA to the output terminal 49 when the potential of netA is at a high level.
  • the thin film transistor T2 sets the potential of netA to a low level when the potential of netB is at a high level.
  • the thin film transistor T3 sets the potential of netB to a high level when the third clock CKC is at a high level.
  • the thin film transistor T4 sets the potential of netB to the low level when the fourth clock CKD is at the high level. Note that the bias voltage is prevented from being applied to the thin film transistors T2 and T10 for a long period of time when the thin film transistor T4 sets the potential of netB to the low level. This prevents the thin film transistor from functioning as a switch due to an increase in the threshold voltage of the thin film transistors T2 and T10.
  • the thin film transistor T5 raises the potential of netA when the high level set signal S is input.
  • the thin film transistor T6 sets the potential of netB to a low level when the potential of netA is at a high level.
  • the thin film transistor T7 sets the potential of netA to low level when the high level reset signal R is input.
  • the thin film transistor T8 sets the potential of the state signal Q to the low level when the high level reset signal R is input.
  • the thin film transistor T9 sets the potential of the state signal Q to a low level when the second clock CKB is at a high level.
  • the thin film transistor T10 sets the potential of the state signal Q to a low level when the potential of netB is at a high level.
  • the capacitor Cap functions as a compensation capacitor for maintaining the potential of netA at a high level during the selection period.
  • the output node charging unit is realized by the thin film transistor T1
  • the first output node discharging unit is realized by the thin film transistor T8
  • the second output node discharging unit is realized by the thin film transistor T9
  • the thin film transistor T10 A third output node discharge unit is realized.
  • the first node charging unit is realized by the thin film transistor T5, the first first node discharging unit is realized by the thin film transistor T2, and the second first node discharging unit is realized by the thin film transistor T7.
  • the thin film transistor T3 implements a second node charging unit
  • the thin film transistor T4 implements a first second node discharging unit
  • the thin film transistor T6 implements a second second node discharging unit.
  • bistable circuit> ⁇ 4.1 Outline of operation> The outline of the operation of the bistable circuit in this embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 7. Here, since an outline of the operation will be described, slight fluctuations in the potentials of netA, netB, and state signal Q are ignored. 7 is assumed to be a period (selection period) in which the gate bus line connected to the output terminal 49 of the bistable circuit is to be selected. Further, the driving by the first driving step is performed in the period from the time point t0 to the time point t6 in FIG. 7, and the driving by the second driving step is performed in the other period.
  • the first clock CKA, the second clock CKB, the third clock CKC, and the fourth clock CKD having waveforms as shown in FIG. 7 are applied to the input terminals 45 to 48 of the bistable circuit, respectively. .
  • a pulse of the set signal S is given to the input terminal 43. Since the thin film transistor T5 is diode-connected to the input terminal 43, the potential of the netA is increased by the pulse of the set signal S. Since the set signal S is maintained in a high level state until time t2, netA is precharged during the period from t0 to t2. Since the gate terminal of the thin film transistor T6 is connected to netA, the thin film transistor T6 is maintained in the ON state during this period. Accordingly, the thin film transistor T2 is maintained in the off state during the period from t0 to t2. Further, during this period, since the reset signal R is maintained at a low level, the thin film transistor T7 is maintained in an off state. Therefore, the potential of netA that has been raised by precharging does not fall during this period.
  • the third clock CKC changes from the low level to the high level.
  • the thin film transistor T3 is diode-connected to the input terminal 47, the potential of netB tends to rise.
  • the thin film transistor T6 is maintained in the ON state during the period from the time point t0 to t2. For this reason, the potential of netB is maintained at the low level even after time t1.
  • the first clock CKA changes from the low level to the high level.
  • the source terminal of the thin film transistor T1 is connected to the input terminal 45, and a parasitic capacitance Cgs is formed between the gate and source of the thin film transistor T1 as shown in FIG.
  • the potential of netA increases (netA is bootstrapped).
  • the thin film transistor T1 is turned on. Since the state in which the first clock CKA is set to the high level is maintained until the time point t4, the state signal Q is set to the high level during the period from t2 to t4.
  • the gate bus line connected to the bistable circuit that outputs the high-level state signal Q is selected, and the video signal is written to the pixel capacitor Cp in the pixel formation portion in the row corresponding to the gate bus line. Is done. Note that since the thin film transistor T6 is maintained in the on state during the period from t2 to t4, the potential of netB is maintained at the low level, and the thin film transistor T2 is maintained in the off state. Further, since the reset signal R is maintained at the low level during the period from t2 to t4, the thin film transistors T7 and T8 are maintained in the off state. For this reason, the potential of netA and the potential of the status signal Q (output terminal 49) are not lowered during this period.
  • the fourth clock CKD changes from the low level to the high level.
  • the state in which the fourth clock CKD is set to the high level is maintained until time t5. Accordingly, during the period from t3 to t5, the thin film transistor T4 is turned on, and the potential of netB is maintained at a low level.
  • the first clock CKA changes from the high level to the low level.
  • the reset signal R changes from a low level to a high level.
  • the thin film transistors T7 and T8 are turned on.
  • the potential of netA is lowered when the thin film transistor T7 is turned on, and the potential of the state signal Q (output terminal 49) is lowered when the thin film transistor T8 is turned on. Since the state in which the reset signal R is set to the high level is maintained until the time point t6, the potentials of the netA and the state signal Q that have decreased at the time point t4 are maintained at the low level during the period from t4 to t6. .
  • the third clock CKC changes from the low level to the high level.
  • the fourth clock CKD changes from the high level to the low level.
  • the thin film transistor T4 is turned off.
  • the potential of netA is low and the thin film transistor T6 is off. Therefore, the potential of netB rises due to the third clock CKC changing to high level. Since the state in which the third clock CKC is set to the high level is maintained until time t7, the thin film transistors T2 and T10 are turned on during the period from t5 to t7. Accordingly, during this period, the potential of netA and the potential of the state signal Q are maintained at a low level.
  • the reset signal R changes from high level to low level. Further, the first clock CKA changes from the low level to the high level. At this time, the potential of netA tends to increase due to the parasitic capacitance Cgs described above, but the potential of netA is maintained at a low level because the thin film transistor T2 is in the ON state as described above.
  • the third clock CKC changes from the high level to the low level.
  • the fourth clock CKD changes from the low level to the high level. Accordingly, the thin film transistor T3 is turned off, the thin film transistor T4 is turned on, and the potential of netB is lowered. Since the state in which the fourth clock CKD is set to the high level is maintained until time t9, the potential of netB is maintained at the low level during the period from t7 to t9.
  • the first clock CKA and the set signal S are maintained at the low level, so that the potentials of the netA and the state signal Q are maintained at the low level.
  • the fourth clock CKD changes from the high level to the low level and the third clock CKC changes from the low level to the high level, whereby the potential of netB rises.
  • the thin film transistors T2 and T10 are turned on. Therefore, during the period from t9 to t10, the potentials of the netA and the state signal Q are reliably maintained at a low level.
  • the first clock CKA changes from the low level to the high level.
  • the potential of netA tends to rise due to the parasitic capacitance Cgs described above, but the potential of netA is maintained at a low level because the thin film transistor T2 is in the on state as described above.
  • the third clock CKC changes from the high level to the low level.
  • the fourth clock CKD changes from the low level to the high level. Accordingly, the thin film transistor T3 is turned off, the thin film transistor T4 is turned on, and the potential of netB is lowered.
  • the same operation as in the period from t8 to t12 is repeated until the next pulse of the set signal S is applied to the input terminal 43.
  • FIG. 9A is a waveform diagram showing a simulation result by the configuration according to the present embodiment
  • FIG. 9B is a waveform according to the conventional example (T10 and T12 from the configuration shown in FIG. 15). It is a wave form diagram which shows the simulation result by the (deleted structure).
  • FIG. 10 is an enlarged view of a portion indicated by reference numeral 61 in FIG. 9A, an enlarged view of a portion indicated by reference numeral 62 in FIG. 9B, a waveform of the first clock CKA, and a waveform of the second clock CKB.
  • FIG. 11 shows an enlarged view of the portion indicated by reference numeral 63 in FIG. 9A, an enlarged view of the portion indicated by reference numeral 64 in FIG. 9B, the waveform of the first clock CKA, and the second clock CKB.
  • the waveform, the waveform of the third clock CKC, and the waveform of the fourth clock CKD are shown.
  • the thick solid line indicates the change in the potential of netA
  • the thick dotted line indicates the change in the potential of netB
  • the thin solid line indicates the change in the potential of the state signal Q.
  • the fourth clock CKD changes from the high level to the low level.
  • the thin film transistor T4 is turned off.
  • the third clock CKC changes from the low level to the high level.
  • the thin film transistor T3 is turned on.
  • the thin film transistor T6 is in an off state as described above. As described above, the potential of netB rises slightly later (delayed) than the timing at which the third clock CKC changes from low level to high level, and the thin film transistor T2 is turned on as the potential of netB rises.
  • the first clock CKA changes from the low level to the high level.
  • the potential of netA rises as indicated by reference numeral 611 in FIG. 10 due to the parasitic capacitance Cgs between the gate and the source of the thin film transistor T1 described above.
  • the thin film transistor T2 is in the ON state during the period from t5 to t7.
  • the potential of netA quickly decreases to a potential equal to the potential of Vss, as indicated by reference numeral 612 in FIG.
  • the potential of netA rises as indicated by reference numeral 621 in FIG.
  • the netA potential gradually decreases according to the configuration according to the conventional example.
  • the potential of netA is rapidly reduced.
  • the clock signal that contributes to the increase in the potential of netA and the clock signal that contributes to the decrease in the potential of netA change at the same timing, whereas in the present embodiment, the clock signal of netA changes.
  • the clock signal (specifically, the first clock CKC for turning on the thin film transistor T2) contributing to the decrease in potential contributes to the increase in the potential of the netA (specifically, the first clock CKC for turning on the thin film transistor T2). This is because it is earlier than the timing at which 1 clock CKA) changes.
  • the third clock CKC changes from high level to low level
  • the fourth clock CKD changes from low level to high level.
  • the potential of netB decreases. Due to the parasitic capacitance between the gate and source of the thin film transistor T2, the potential of netA decreases to a potential slightly lower than the potential of Vss, as indicated by reference numeral 613 in FIG. To do.
  • the first clock CKA changes from the high level to the low level.
  • the potential of netA greatly decreases as indicated by reference numeral 614 in FIG.
  • the thin film transistor T2 is in an off state (netA is in a floating state), and the potential of netA does not quickly rise to the potential of Vss. That is, as indicated by reference numeral 615 in FIG. 10, the potential of netA rises gently during the period from t8 to t9.
  • the potential of netA greatly decreases as indicated by reference numeral 624 in FIG. 10 and then rapidly increases as indicated by reference numeral 625 in FIG. .
  • the potential of netA rises gently. In the conventional example, it takes some period from the time when the potential of netA is lowered to a potential lower than the potential of Vss until the potential of netB is sufficiently lowered to a low level potential.
  • the thin film transistor for setting the potential of netA equal to the potential of Vss is on, whereas in this embodiment, the potential of netA is lowered to a potential lower than the potential of Vss. This is because the thin film transistor T2 for making the potential of netA equal to the potential of Vss has already been turned off.
  • the fourth clock CKD changes from the high level to the low level
  • the third clock CKC changes from the low level to the high level, so the potential of netB rises. Accordingly, since the thin film transistor T2 is turned on, the potential of netA rises to a potential equal to the potential of Vss, as indicated by reference numeral 616 in FIG.
  • the fourth clock CKD changes from the high level to the low level
  • the third clock CKC changes from the low level to the high level. Accordingly, the thin film transistor T4 is turned off and the thin film transistor T3 is turned on.
  • the thin film transistor T6 is in an ON state. As described above, as indicated by reference numeral 631 in FIG. 11, the potential of netB slightly increases.
  • the first clock CKA changes from the low level to the high level, and the potential of netA rises as described above.
  • the on-resistance of the thin film transistor T6 is lowered, and the potential of netB is lowered to the potential indicated by reference numeral 632 in FIG.
  • the third clock CKC changes from high level to low level
  • the fourth clock CKD changes from low level to high level.
  • the thin film transistor T3 is turned off and the thin film transistor T4 is turned on.
  • the potential of netB is reduced to a potential equal to the potential of Vss.
  • the potential of netB is maintained at a potential slightly higher than the potential of Vss during the period from t2 to t4. .
  • the potential of netB is maintained at a slightly higher potential than the potential of Vss.
  • the potential of netB is slightly higher than the potential of Vss during the period from t2 to t3, and is equal to the potential of Vss during the period from t3 to t4. It has become.
  • the control of netB is performed by the third clock CKC and the fourth clock CKD that are 90 degrees out of phase with the first clock CKA that contributes to the fluctuation in the potential of netA.
  • the potential of netB is increased based on the third clock CCK whose phase is 90 degrees ahead of the first clock CKA, and based on the fourth clock CKD whose phase is 90 degrees behind the first clock CKA.
  • the potential of netB is set equal to the potential of Vss. For this reason, at a timing earlier than the timing at which the first clock CKA changes from the low level to the high level, the thin film transistor T2 for setting the potential of the netA to the low level is turned on.
  • the potential of netA rises due to the change of the first clock CKA from the low level to the high level during the non-selection period, the potential of netA quickly decreases to a potential equal to the potential of Vss. .
  • the leakage current in the thin film transistor T1 having the drain terminal connected to the output terminal 49 becomes smaller than in the conventional case, and an unnecessary current is prevented from flowing through the gate bus line. Thereby, unnecessary power consumption due to the leakage current in the thin film transistor is suppressed.
  • the potential of the netA is lowered to a potential lower than the potential of Vss.
  • the potential of netA rapidly rises to the potential of Vss.
  • the potential of netA gradually rises to the potential of Vss.
  • a negative bias voltage is applied to the gate terminal of the thin film transistor T1 for a longer period than before.
  • a positive bias voltage but also a negative bias voltage is sufficiently applied to the gate terminal of the thin film transistor T1 throughout the period during which the display device is operating.
  • the threshold shift of the thin film transistor T1 becomes smaller than that of the conventional one. For this reason, the size of the thin film transistor T1 can be made smaller than before, and the display device can be miniaturized.
  • the period in which the potential of netB is slightly higher than the potential of Vss is almost half of the conventional period.
  • the thin film transistor T2 approaches the ON state, so that the potential of netA slightly decreases.
  • the gate voltage of the thin film transistor T1 is reduced, so that the fall of the scanning signal is delayed when changing from the selection period to the non-selection period (from gate-on voltage to gate-off voltage). The longer it takes to change).
  • the scanning signal since the decrease in the potential of netA during the selection period is suppressed, the scanning signal quickly falls when changing from the selection period to the non-selection period. For this reason, it is possible to suppress the occurrence of display defects due to the slow falling of the scanning signal.
  • a clock signal that directly contributes to an increase in the potential of the scanning signal (in the shift register 410, the first gate clock signal GCK1 and the second gate clock signal GCK2)
  • a relatively thick signal line is used as a signal line for transmitting the third gate clock signal GCK3 and the fourth gate clock signal GCK4), and a clock signal (shift) for controlling the operation of the thin film transistor included in each bistable circuit.
  • the third gate clock signal GCK3 and the fourth gate clock signal GCK4 are used, and in the shift register 420, the first gate clock signal GCK1 and the second gate clock signal GCK2) are used. ing. For this reason, an increase in the circuit area of the scanning signal line driving circuit is suppressed while the operations of the shift registers 410 and 420 are kept normal.
  • the diode-connected thin film transistor T3 is provided between the input terminal 47 that receives the third clock CKC and the netB.
  • a structure may be provided that includes a capacitor instead of the thin film transistor T3.
  • the thin film transistor T10 may be omitted from the components shown in FIG.
  • FIG. 12 shows a shift register in the first gate driver 401 and the second gate driver 402 when all the gate bus lines are driven by the first gate driver 401 and the second gate driver 402. It is a block diagram which shows the structure of 810 and 820.
  • the shift register 810 includes i bistable circuits 81 (1) to 81 (i)
  • the shift register 820 includes i bistable circuits 82 (1) to 82 (i).
  • Each bistable circuit includes an input terminal for receiving the first clock CKA, the second clock CKB, the third clock CCK, and the fourth clock CKD, and an input terminal for receiving the set signal S, as in the above embodiment. And an input terminal for receiving the reset signal R and an output terminal for outputting the status signal Q.
  • the shift register 810 in the first gate driver 401 includes a first gate clock signal GCK1, a second gate clock signal GCK2, a third gate clock signal GCK3, and a fourth gate clock signal GCK4 as the gate clock signal GCK.
  • the first and second gate start pulse signals GSP1 and GSP2 and the first and second gate end pulse signals GEP1 and GEP2 are supplied from the display control circuit 200.
  • a signal similar to the signal supplied to the shift register 810 in the first gate driver 401 is supplied to the shift register 820 in the second gate driver 402.
  • the signals given to the input terminals of each stage (each bistable circuit) of the shift register 810 are as follows.
  • the first gate clock signal GCK1 is given as the first clock CKA
  • the second gate clock signal GCK2 is given as the second clock CKB
  • the third gate clock signal GCK3 is the third clock.
  • the fourth gate clock signal GCK4 is supplied as the fourth clock CKD.
  • the fourth gate clock signal GCK4 is given as the first clock CKA
  • the third gate clock signal GCK3 is given as the second clock CKB
  • the first gate clock signal GCK1 is the third clock.
  • the second gate clock signal GCK2 is supplied as the fourth clock CKD.
  • the second gate clock signal GCK2 is given as the first clock CKA
  • the first gate clock signal GCK1 is given as the second clock CKB
  • the fourth gate clock signal GCK4 is the third clock.
  • the third gate clock signal GCK3 is supplied as the fourth clock CKD.
  • the fourth stage 81 (4) the third gate clock signal GCK3 is given as the first clock CKA
  • the fourth gate clock signal GCK4 is given as the second clock CKB
  • the second gate clock signal GCK2 is the third clock.
  • the first gate clock signal GCK1 is supplied as the fourth clock CKD.
  • the same structure as the structure from the first stage to the fourth stage is repeated by four stages.
  • the first stage 81 (1) is supplied with the first gate start pulse signal GSP1 as the set signal S
  • the second stage 81 (2) is supplied with the second gate start pulse signal GSP2 as the set signal S.
  • the state signal Q two stages before is supplied as the set signal S.
  • the state signal Q of the previous stage is given as the reset signal R to the 1st to (i-2) th stages.
  • the first gate end pulse signal GEP1 is given as the reset signal R
  • the second gate end pulse signal GEP2 is given as the reset signal R.
  • a signal supplied to an input terminal of each stage (each bistable circuit) of the shift register 820 is the same as that of the shift register 810, and thus description thereof is omitted.
  • each bistable circuit in the shift registers 810 and 820 performs the same operation as the bistable circuit in the above embodiment.
  • FIG. 13A is a plan view of a multi-channel TFT
  • FIG. 13B is a cross-sectional view along the line AA ′ in FIG. 13A
  • FIG. 13C is a multi-channel TFT. It is an equivalent circuit diagram of TFT.
  • the multi-channel TFT 70 has a dual gate structure (double gate structure), and has a structure equivalent to two TFTs electrically connected in series as shown in FIG.
  • the multi-channel TFT 70 has an active layer 74 supported on a substrate (for example, a glass substrate) 71.
  • the active layer 74 is a semiconductor layer and includes a microcrystalline silicon ( ⁇ c-Si) film.
  • the active layer 74 has channel regions 74c1 and 74c2, a source region 74s, a drain region 74d, and an intermediate region 74m formed between the two channel regions 74c1 and 74c2.
  • the multi-channel TFT 70 is further in contact with the source contact region 76s, a contact layer 76s having a source contact region 76s in contact with the source region 74s, a drain contact region 76d in contact with the drain region 74d, and an intermediate contact region 76m in contact with the intermediate region 74m.
  • the multi-channel TFT 70 further includes a protective film 79 that covers them.
  • the intermediate electrode 78m is in a floating state.
  • the channel region 74c1 is formed between the source region 74s and the intermediate region 74m, and the channel region 74c2 is formed between the drain region 74d and the intermediate region 74m.
  • the two channel regions 74c1 and 74c2, the source region 74s, the drain region 74d, and the intermediate region 74m are formed in one continuous active layer 74.
  • the entire portion of the intermediate electrode 78m existing between the channel region 74c1 and the channel region 74c2 overlaps the gate electrode 72 with the intermediate region 74m and the gate insulating film 73 interposed therebetween.
  • the active layer 74 of the multi-channel TFT 70 is formed of a microcrystalline silicon film or a laminated film of a microcrystalline silicon film and an amorphous silicon film, and is manufactured using a conventional a-Si TFT manufacturing process. can do.
  • the microcrystalline silicon film can be formed using, for example, a plasma CVD method similar to the method for forming an amorphous silicon film, using silane gas diluted with hydrogen gas as a source gas.
  • a thin film transistor in which a drain electrode or a source electrode is connected to netA is constituted by, for example, multi-channel TFTs (MT2 and MT7) as shown in FIG.
  • TFTs multi-channel TFTs
  • the thin film transistor T5 may also be formed of a multi-channel TFT.
  • liquid crystal display device has been described as an example, but the present invention is not limited to this.
  • the present invention can also be applied to other display devices such as organic EL (Electro Luminescnet).
  • Display control circuit 300 Source driver (video signal line drive circuit) 401... First gate driver (first scanning signal line driving circuit) 402: Second gate driver (second scanning signal line driving circuit) 410, 420, 810, 820 ... shift register 600 ... display part Cap ... capacitor GL1-GLi ... gate bus line SL1-SLj ... source bus line T1-T10 ... thin film transistor GEP1 ... first gate end pulse signal GEP2 ...
  • GSP1 first gate start pulse signal
  • GSP2 second gate start pulse signal
  • GCK gate clock signal
  • CKA, CKB, CKC, CKD first clock, second clock, third clock, fourth clock S ... Set signal R ... Reset signal Q ... Status signal

Abstract

 比較的オフリークの大きな薄膜トランジスタを用いてシフトレジスタ内の回路が構成された場合でも当該薄膜トランジスタにおけるリーク電流に起因する不必要な電力消費を抑制することのできる(表示装置の)走査信号線駆動回路を実現する。  シフトレジスタを構成する各双安定回路は、出力端子(49)の電位を第1クロックに基づいて上昇させるための薄膜トランジスタ(T1)と、薄膜トランジスタ(T1)のゲート端子に接続された領域netAと、領域netAの電位を低下させるための薄膜トランジスタ(T2)と、薄膜トランジスタ(T2)のゲート端子に接続された領域netBとを備える。このような構成において、領域netBの電位を、第1クロックよりも位相が90度進んだ第3クロックに基づいて上昇させ、第1クロックよりも位相が90度遅れた第4クロックに基づいて低下させる。

Description

走査信号線駆動回路、シフトレジスタ、およびシフトレジスタの駆動方法
 本発明は、アクティブマトリクス型表示装置の駆動回路および駆動方法に関し、更に詳しくは、アクティブマトリクス型表示装置の表示部に配設された走査信号線を駆動する走査信号線駆動回路内のシフトレジスタおよびその駆動方法に関する。
 従来よりアモルファスシリコン(a-Si)を用いた薄膜トランジスタ(以下「a-SiTFT」という)を駆動素子として使用する液晶表示装置が知られているが、近年、微結晶シリコン(μc-Si)を用いた薄膜トランジスタ(以下「μc-SiTFT」という)を駆動素子として使用する液晶表示装置の開発が進められている。微結晶シリコンの移動度はアモルファスシリコンの移動度よりも大きく、かつ、μc-SiTFTはa-SiTFTと同様の工程で形成される。このため、駆動素子にμc-SiTFTを採用することにより、額縁面積の縮小やドライバICのチップ数の削減などによるコストの低減,実装歩留まりの向上,表示装置の大型化の実現などが期待される。また、μc-SiTFTについては、ゲート電極に長時間電圧が印加された際の閾値シフト(閾値電圧が変動すること)がa-SiTFTよりも小さいという特徴もある。すなわち、a-SiTFTと比較すると、μc-SiTFTは劣化しにくいという点で信頼性が高くなっている。
 ところで、アクティブマトリクス型の液晶表示装置の表示部には、複数本のソースバスライン(映像信号線)と、複数本のゲートバスライン(走査信号線)と、それら複数本のソースバスラインと複数本のゲートバスラインとの交差点にそれぞれ対応して設けられた複数個の画素形成部とが含まれている。これらの画素形成部はマトリクス状に配置されて画素アレイを構成する。各画素形成部は、対応する交差点を通過するゲートバスラインにゲート端子が接続されるとともに当該交差点を通過するソースバスラインにソース端子が接続されたスイッチング素子である薄膜トランジスタや、画素値を保持するための画素容量などを含んでいる。アクティブマトリクス型の液晶表示装置には、また、上述の複数本のソースバスラインを駆動するソースドライバ(映像信号線駆動回路)と上述の複数本のゲートバスラインを駆動するゲートドライバ(走査信号線駆動回路)とが設けられている。
 画素値を示す映像信号はソースバスラインによって伝達されるが、各ソースバスラインは複数行分の画素値を示す映像信号を一時(同時)に伝達することができない。このため、上述のマトリクス状に配置された画素形成部内の画素容量への映像信号の書き込みは1行ずつ順次に行われる。そこで、複数本のゲートバスラインが所定期間ずつ順次に選択されるように、ゲートドライバは複数段からなるシフトレジスタによって構成されている。
 各ゲートバスラインは1フレーム期間中に一度(1水平走査期間)だけ選択状態となれば良いので、各ゲートバスラインに印加される走査信号は当該各ゲートバスラインが選択状態とされるべき期間(以下、「選択期間」という。)だけハイレベルの電位にされ、それ以外の期間(以下、「非選択期間」という。)にはローレベルの電位で固定されることが好ましい。ところが、シフトレジスタを構成する回路に形成される寄生容量の影響を受けて、非選択期間に走査信号の電位がローレベルの電位からプラス方向に変動することがある。そこで、日本の特開2006-351171号公報には、寄生容量による影響を従来よりも低減させることのできるシフトレジスタの発明が開示されている。図15は、日本の特開2006-351171号公報に開示されているシフトレジスタの1段分の構成を示す回路図である。この回路によれば、非選択期間中、ゲートバスラインは浮遊(フローティング)状態とはならず、ゲートバスラインには常にゲートオフ電圧が与えられる。これにより、寄生容量による影響を小さくすることができるとされている。
日本の特開2006-351171号公報
 ところが、上述の構成によっても、図16(日本の特開2006-351171号公報の図9)において符号cで示すように、非選択期間において、走査信号の電位は寄生容量の影響を受けてローレベルの電位からプラス方向に変動している。この理由については以下のようなことが考えられる。上記日本の特開2006-351171号公報においてはゲートバスラインと共通電極との間の寄生容量に着目されているが、シフトレジスタを構成する回路内の薄膜トランジスタの各電極間にも寄生容量は形成される。例えば、図15で符号T1で示す薄膜トランジスタのゲート-ソース間にも寄生容量は形成されている。このため、クロックLCLK1の電位がローレベルからハイレベルに変化すると、その寄生容量を介して薄膜トランジスタT1のゲート端子の電位が上昇する。これにより、薄膜トランジスタT1にリーク電流が流れ、走査信号の電位に変動が生じる。ここで、上記クロックLCLK1は非選択期間にも所定の周期でハイレベルの状態にされるので、所定の周期で走査信号の電位に変動が生じることになる。
 上述のように、非選択期間における走査信号の電位に変動が生じると、当該走査信号を伝達するゲートバスラインに不必要な電流が流れることになる。例えば、WXGAパネルを使用する表示装置であれば、各時点において、768本のゲートバスラインのうち1本だけが選択状態とされ、残りの767本のゲートバスラインは非選択状態とされなければならない。すなわち、当該767本のゲートバスラインに印加されるべき走査信号はローレベルで固定されなければならない。ところが、シフトレジスタの各段において上述のようなリーク電流が生じると、表示装置全体ではゲートバスライン767本分の不必要な電流が流れることになる。その結果、不必要に電力が消費される。
 また、上述のμc-SiTFTについては、a-SiTFTよりもオフリーク(オフ状態で生じるリーク電流)が大きい。このため、シフトレジスタを構成する回路にμc-SiTFTを用いた場合には、a-SiTFTを用いたときと比較して、リーク電流に起因する不必要な電力消費が大きくなる。
 そこで本発明は、比較的オフリークの大きな薄膜トランジスタを用いてシフトレジスタ内の回路が構成された場合でも当該薄膜トランジスタにおけるリーク電流に起因する不必要な電力消費を抑制することのできる(表示装置の)走査信号線駆動回路を実現することを目的とする。
 本発明の第1の局面は、表示部に配設された複数の走査信号線を駆動する、表示装置の走査信号線駆動回路であって、
 第1の状態と第2の状態とを有し互いに直列に接続された複数の双安定回路を含む、外部から入力され各双安定回路に第1,第2,第3,および第4のクロック信号として与えられる4相のクロック信号であってハイレベルの電位とローレベルの電位とを周期的に繰り返す前記4相のクロック信号に基づいて前記複数の双安定回路を順次に第1の状態とするシフトレジスタを備え、
 各双安定回路は、
  第2電極に前記第1のクロック信号が与えられ、前記第1の状態または前記第2の状態のいずれかの状態を表すべき状態信号を出力するためのノードであって前記走査信号線に接続されたノードである出力ノードに第3電極が接続された第1のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記第1の状態にするための出力ノード充電部と、
  前記状態信号の表す状態を前記第2の状態にするための出力ノード放電部と、
  前記第1のスイッチング素子の第1電極に接続された第1ノードを所定のセット信号に基づいて充電するための第1ノード充電部と、
  前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第2のスイッチング素子を含む、前記第1ノードを放電するための第1の第1ノード放電部と、
  前記第2のスイッチング素子の第1電極に接続された第2ノードを前記第3のクロック信号に基づいて充電するための第2ノード充電部と、
  前記第4のクロック信号に基づいて前記第2ノードを放電するための第1の第2ノード放電部と
を有し、
 前記4相のクロック信号についてのハイレベルの電位とローレベルの電位とを繰り返す周期に対するハイレベルの電位が維持される期間の割合であるデューティ比は2分の1にされ、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号と前記第4のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも進められていることを特徴とする。
 本発明の第2の局面は、本発明の第1の局面において、
 各双安定回路において、
  前記第2ノード充電部は、第1電極および第2電極に前記第3のクロック信号が与えられ、前記第2ノードに第3電極が接続された第3のスイッチング素子を含み、
  前記第1の第2ノード放電部は、第1電極に前記第4のクロック信号が与えられ、前記第2ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第4のスイッチング素子を含み、
  前記第1ノード充電部は、第1電極および第3電極に前記セット信号が与えられ、前記第1ノードに第2電極が接続された第5のスイッチング素子を含むことを特徴とする。
 本発明の第3の局面は、本発明の第1の局面において、
 各双安定回路は、
  前記第1ノードに第1電極が接続され、前記第2ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第6のスイッチング素子を含む、前記第1ノードの充電電圧に基づいて前記第2ノードを放電するための第2の第2ノード放電部と、
  第1電極に所定のリセット信号が与えられ、前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第7のスイッチング素子を含む、前記リセット信号に基づいて前記第1ノードを放電するための第2の第1ノード放電部と
を更に有することを特徴とする。
 本発明の第4の局面は、本発明の第3の局面において、
 前記4相のクロック信号は、各双安定回路に前記第1および第2のクロック信号として与えられる2相のクロック信号からなる第1クロック信号群と、各双安定回路に前記第3および第4のクロック信号として与えられる2相のクロック信号からなる第2クロック信号群とによって構成され、
 互いに隣接する2つの双安定回路を第1および第2の双安定回路としたときに、
  前記第1の双安定回路には、前記第1クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第2クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第2クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第2の双安定回路から出力される状態信号が前記リセット信号として与えられ、
  前記第2の双安定回路には、前記第1の双安定回路に前記第2のクロック信号として与えられた信号が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第1のクロック信号として与えられた信号が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第4のクロック信号として与えられた信号が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第3のクロック信号として与えられた信号が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路から出力される状態信号が前記セット信号として与えられることを特徴とする。
 本発明の第5の局面は、本発明の第4の局面において、
 前記第1クロック信号群を伝達する信号線の幅は、前記第2クロック信号群を伝達する信号線の幅よりも大きいことを特徴とする。
 本発明の第6の局面は、本発明の第3の局面において、
 前記4相のクロック信号は、互いに位相が180度ずれた2相のクロック信号を同じ組とする第1組クロック信号および第2組クロック信号によって構成され、
 前記複数の双安定回路のうちの或る双安定回路の前段の双安定回路を第1の双安定回路とし、当該或る双安定回路の次段の双安定回路を第2の双安定回路としたときに、
  前記第1の双安定回路には、前記第1組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第2組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第2組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第2の双安定回路から出力される状態信号が前記リセット信号として与えられ、
  前記第2の双安定回路には、前記第1の双安定回路に前記第2のクロック信号として与えられた信号が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第1のクロック信号として与えられた信号が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第4のクロック信号として与えられた信号が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第3のクロック信号として与えられた信号が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路から出力される状態信号が前記セット信号として与えられることを特徴とする。
 本発明の第7の局面は、本発明の第1の局面において、
 前記出力ノード放電部は、
  第1電極に前記リセット信号が与えられ、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第8のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記リセット信号に基づいて前記第2の状態にするための第1の出力ノード放電部と、
  第1電極に前記第2のクロック信号が与えられ、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第9のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記第2のクロック信号に基づいて前記第2の状態にするための第2の出力ノード放電部と
を有することを特徴とする。
 本発明の第8の局面は、本発明の第7の局面において、
 前記出力ノード放電部は、前記第2ノードに第1電極に接続され、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第10のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記第2ノードの充電電圧に基づいて前記第2の状態にするための第3の出力ノード放電部を更に有することを特徴とする。
 本発明の第9の局面は、本発明の第1の局面において、
 各双安定回路は、前記第1ノードに一端が接続され、前記出力ノードに他端が接続されたキャパシタを更に有することを特徴とする。
 本発明の第10の局面は、本発明の第1の局面において、
 前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも90度進められていることを特徴とする。
 本発明の第11の局面は、本発明の第1の局面において、
 前記状態信号を前記複数の走査信号線の一端側から他端側へと与える第1の走査信号線駆動回路と前記状態信号を前記複数の走査信号線の他端側から一端側へと与える第2の走査信号線駆動回路とからなることを特徴とする。
 本発明の第12の局面は、本発明の第11の局面において、
 前記第1の走査信号線駆動回路は、前記複数の走査信号線のうち奇数行目または偶数行目の一方の走査信号線に前記状態信号を与え、
 前記第2の走査信号線駆動回路は、前記複数の走査信号線のうち奇数行目または偶数行目の他方の走査信号線に前記状態信号を与えることを特徴とする。
 本発明の第13の局面は、本発明の第11の局面において、
 各走査信号線は前記第1の走査信号線駆動回路および前記第2の走査信号線駆動回路の双方から前記状態信号が与えられることを特徴とする。
 本発明の第14の局面は、本発明の第1の局面において、
 各双安定回路に含まれるスイッチング素子は、微結晶シリコンからなる薄膜トランジスタであることを特徴とする。
 本発明の第15の局面は、本発明の第1の局面において、
 各双安定回路に含まれるスイッチング素子は、アモルファスシリコンからなる薄膜トランジスタであることを特徴とする。
 本発明の第16の局面は、本発明の第1の局面において、
 前記第1ノードに第2電極が接続されたスイッチング素子の少なくとも1つは、マルチチャネル構造を有する薄膜トランジスタであることを特徴とする。
 本発明の第17の局面は、表示部と前記表示部に配設された複数の走査信号線を駆動する走査信号線駆動回路とを備えた表示装置であって、
 前記走査信号線駆動回路は、
  第1の状態と第2の状態とを有し互いに直列に接続された複数の双安定回路を含む、外部から入力され各双安定回路に第1,第2,第3,および第4のクロック信号として与えられる4相のクロック信号であってハイレベルの電位とローレベルの電位とを周期的に繰り返す前記4相のクロック信号に基づいて前記複数の双安定回路を順次に第1の状態とするシフトレジスタを備え、
 各双安定回路は、
  第2電極に前記第1のクロック信号が与えられ、前記第1の状態または前記第2の状態のいずれかの状態を表すべき状態信号を出力するためのノードであって前記走査信号線に接続されたノードである出力ノードに第3電極が接続された第1のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記第1の状態にするための出力ノード充電部と、
  前記状態信号の表す状態を前記第2の状態にするための出力ノード放電部と、
  前記第1のスイッチング素子の第1電極に接続された第1ノードを所定のセット信号に基づいて充電するための第1ノード充電部と、
  前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第2のスイッチング素子を含む、前記第1ノードを放電するための第1の第1ノード放電部と、
  前記第2のスイッチング素子の第1電極に接続された第2ノードを前記第3のクロック信号に基づいて充電するための第2ノード充電部と、
  前記第4のクロック信号に基づいて前記第2ノードを放電するための第1の第2ノード放電部と
を有し、
 前記4相のクロック信号についてのハイレベルの電位とローレベルの電位とを繰り返す周期に対するハイレベルの電位が維持される期間の割合であるデューティ比は2分の1にされ、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号と前記第4のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも進められていることを特徴とする。
 本発明の第18の局面は、本発明の第17の局面において、
 前記表示部と前記走査信号線駆動回路とが同一の基板上に形成されたドライバモノリシック型であることを特徴とする。
 本発明の第19の局面は、第1の状態と第2の状態とを有し互いに直列に接続された複数の双安定回路を含み、外部から入力され各双安定回路に第1,第2,第3,および第4のクロック信号として与えられる4相のクロック信号であってハイレベルの電位とローレベルの電位とを周期的に繰り返す前記4相のクロック信号に基づいて前記複数の双安定回路を順次に第1の状態とする、表示装置の表示部に配設された複数の走査信号線を駆動するためのシフトレジスタであって、
 各双安定回路は、
  第2電極に前記第1のクロック信号が与えられ、前記第1の状態または前記第2の状態のいずれかの状態を表すべき状態信号を出力するためのノードであって前記走査信号線に接続されたノードである出力ノードに第3電極が接続された第1のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記第1の状態にするための出力ノード充電部と、
  前記状態信号の表す状態を前記第2の状態にするための出力ノード放電部と、
  前記第1のスイッチング素子の第1電極に接続された第1ノードを所定のセット信号に基づいて充電するための第1ノード充電部と、
  前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第2のスイッチング素子を含む、前記第1ノードを放電するための第1の第1ノード放電部と、
  前記第2のスイッチング素子の第1電極に接続された第2ノードを前記第3のクロック信号に基づいて充電するための第2ノード充電部と、
  前記第4のクロック信号に基づいて前記第2ノードを放電するための第1の第2ノード放電部と
を有し、
 前記4相のクロック信号についてのハイレベルの電位とローレベルの電位とを繰り返す周期に対するハイレベルの電位が維持される期間の割合であるデューティ比は2分の1にされ、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号と前記第4のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも進められていることを特徴とする。
 本発明の第20の局面は、第1の状態と第2の状態とを有し互いに直列に接続された複数の双安定回路を含み、外部から入力され各双安定回路に第1,第2,第3,および第4のクロック信号として与えられる4相のクロック信号であってハイレベルの電位とローレベルの電位とを周期的に繰り返す前記4相のクロック信号に基づいて前記複数の双安定回路を順次に第1の状態とする、表示装置の表示部に配設された複数の走査信号線を駆動するためのシフトレジスタの駆動方法であって、
 各双安定回路を前記第2の状態から前記第1の状態に変化させ所定期間だけ前記第1の状態で維持した後に前記第2の状態に変化させる第1駆動ステップと、
 各双安定回路を前記第2の状態で維持する第2駆動ステップと
を含み、
 各双安定回路は、
  前記第1の状態または前記第2の状態のいずれかの状態を表すべき状態信号を出力するためのノードであって前記走査信号線に接続されたノードである出力ノードと、
  第2電極に前記第1のクロック信号が与えられ、前記出力ノードに第3電極が接続された第1のスイッチング素子と、
  前記第1のスイッチング素子の第1電極に接続された第1ノードと、
  前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第2のスイッチング素子と、
  前記第2のスイッチング素子の第1電極に接続された第2ノードと
を有し、
 前記第1駆動ステップは、
  各双安定回路に所定のセット信号を与えることによって前記第1ノードを充電する第1ノード充電ステップと、
  前記第1のクロック信号の電位をローレベルからハイレベルに変化させることによって、前記状態信号の表す状態を前記第2の状態から前記第1の状態に変化させる出力ノード充電ステップと、
  各双安定回路に所定のリセット信号を与えることによって、前記状態信号の表す状態を前記第1の状態から前記第2の状態に変化させる第1の出力ノード放電ステップと
を含み、
 前記第2駆動ステップは、
  前記第3のクロック信号の電位をローレベルからハイレベルに変化させることによって前記第2ノードを充電する第2ノード充電ステップと、
  前記第4のクロック信号の電位をローレベルからハイレベルに変化させることによって前記第2ノードを放電する第1の第2ノード放電ステップと
を含み、
 前記4相のクロック信号についてのハイレベルの電位とローレベルの電位とを繰り返す周期に対するハイレベルの電位が維持される期間の割合であるデューティ比は2分の1にされ、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号と前記第4のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも進められていることを特徴とする。
 本発明の第21の局面は、本発明の第20の局面において、
 各双安定回路は、
  第1電極および第2電極に前記第3のクロック信号が与えられ、前記第2ノードに第3電極が接続された第3のスイッチング素子と、
  第1電極に前記第4のクロック信号が与えられ、前記第2ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第4のスイッチング素子と、
  第1電極および第3電極に前記セット信号が与えられ、前記第1ノードに第2電極が接続された第5のスイッチング素子と
を更に有し、
 前記第2ノード充電ステップでは、前記第3のクロック信号に基づき前記第3のスイッチング素子がオン状態とされることによって前記第2ノードが充電され、
 前記第1の第2ノード放電ステップでは、前記第4のクロック信号に基づき前記第4のスイッチング素子がオン状態とされることによって前記第2ノードが放電され、
 前記第1ノード充電ステップでは、前記セット信号に基づき前記第5のスイッチング素子がオン状態とされることによって前記第1ノードが充電されることを特徴とする。
 本発明の第22の局面は、本発明の第20の局面において、
 前記第1駆動ステップは、
  前記第1ノードの充電電圧に基づいて前記第2ノードを放電する第2の第2ノード放電ステップと、
  前記リセット信号に基づいて前記第1ノードを放電する第2の第1ノード放電ステップと
を更に含み、
 各双安定回路は、
  前記第1ノードに第1電極が接続され、前記第2ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第6のスイッチング素子と、
  第1電極に前記リセット信号が与えられ、前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第7のスイッチング素子と
を更に有し、
  前記第2の第2ノード放電ステップでは、前記第1ノードの充電電圧に基づき前記第6のスイッチング素子がオン状態とされることによって前記第2ノードが放電され、
  前記第2の第1ノード放電ステップでは、前記リセット信号に基づき前記第7のスイッチング素子がオン状態とされることによって前記第1ノードが放電されることを特徴とする。
 本発明の第23の局面は、本発明の第20の局面において、
 前記4相のクロック信号は、各双安定回路に前記第1および第2のクロック信号として与えられる2相のクロック信号からなる第1クロック信号群と、各双安定回路に前記第3および第4のクロック信号として与えられる2相のクロック信号からなる第2クロック信号群とによって構成され、
 互いに隣接する2つの双安定回路を第1および第2の双安定回路としたときに、
  前記第1の双安定回路には、前記第1クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第2クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第2クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第2の双安定回路から出力される状態信号が前記リセット信号として与えられ、
  前記第2の双安定回路には、前記第1の双安定回路に前記第2のクロック信号として与えられた信号が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第1のクロック信号として与えられた信号が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第4のクロック信号として与えられた信号が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第3のクロック信号として与えられた信号が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路から出力される状態信号が前記セット信号として与えられることを特徴とする。
 本発明の第24の局面は、本発明の第20の局面において、
 前記4相のクロック信号は、互いに位相が180度ずれた2相のクロック信号を同じ組とする第1組クロック信号および第2組クロック信号によって構成され、
 前記複数の双安定回路のうちの或る双安定回路の前段の双安定回路を第1の双安定回路とし、当該或る双安定回路の次段の双安定回路を第2の双安定回路としたときに、
  前記第1の双安定回路には、前記第1組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第2組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第2組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第2の双安定回路から出力される状態信号が前記リセット信号として与えられ、
  前記第2の双安定回路には、前記第1の双安定回路に前記第2のクロック信号として与えられた信号が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第1のクロック信号として与えられた信号が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第4のクロック信号として与えられた信号が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第3のクロック信号として与えられた信号が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路から出力される状態信号が前記セット信号として与えられることを特徴とする。
 本発明の第25の局面は、本発明の第20の局面において、
 前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも90度進められていることを特徴とする。
 本発明の第26の局面は、本発明の第20の局面において、
 各双安定回路は、
  第1電極に前記リセット信号が与えられ、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第8のスイッチング素子と、
  第1電極に前記第2のクロック信号が与えられ、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第9のスイッチング素子と
を更に有し、
 前記第1駆動ステップおよび前記第2駆動ステップは、前記第9のスイッチング素子に前記第2のクロック信号を与えることによって、前記状態信号の表す状態を前記第2の状態で維持する第2の出力ノード放電ステップを更に含み、
 前記第1の出力ノード放電ステップでは、前記リセット信号に基づき前記第8のスイッチング素子がオン状態とされることによって、前記状態信号の表す状態が前記第1の状態から前記第2の状態に変化し、
 前記第2の出力ノード放電ステップでは、前記第2のクロック信号に基づき前記第9のスイッチング素子がオン状態とされることによって、前記状態信号の表す状態が前記第2の状態で維持されることを特徴とする。
 本発明の第27の局面は、本発明の第26の局面において、
 各双安定回路は、前記第2ノードに第1電極に接続され、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第10のスイッチング素子を更に有し、
 前記第1駆動ステップおよび前記第2駆動ステップは、前記第2ノードの充電電圧に基づき、前記状態信号の表す状態を前記第2の状態で維持する第3の出力ノード放電ステップを更に含み、
 前記第3の出力ノード充電ステップでは、前記第2ノードの充電電圧に基づき前記第10のスイッチング素子がオン状態とされることによって、前記状態信号の表す状態が前記第2の状態で維持されることを特徴とする。
 本発明の第1の局面によれば、表示装置の走査信号線駆動回路内のシフトレジスタを構成する各双安定回路において、第1のスイッチング素子については、第1電極は第1ノードに接続され、第2電極には第1のクロック信号が与えられ、第3電極は出力ノードに接続された構成となっている。このため、所定のセット信号に基づいて第1ノードの電位が上昇した後に第1のクロック信号がローレベルからハイレベルに変化すると、第1のスイッチング素子の第1電極と第2電極との間の寄生容量に起因して第1ノードの電位は更に上昇して第1のスイッチング素子はオン状態となる。これにより、出力ノードの電位は上昇し、出力ノードからは第1の状態を表す状態信号が出力される。出力ノード放電部は、その状態信号の表す状態を第2の状態にする。一方、第1ノードが充電されていないときに第1のクロック信号がローレベルからハイレベルに変化すると、第1のスイッチング素子の第1電極と第2電極との間の寄生容量に起因して第1ノードの電位はやや上昇する。各双安定回路には第1ノードを放電するための第1の第1ノード放電部が設けられているところ、その第1の第1ノード放電部に含まれる第2のスイッチング素子の第1電極に接続された第2ノードは、第3のクロック信号に基づいて充電され第4のクロック信号に基づいて放電される。ここで、第3のクロック信号の位相は第1のクロック信号の位相よりも進められている。このため、非選択期間に第1のクロック信号がローレベルからハイレベルに変化して第1ノードの電位がやや上昇した時には、第1の第1ノード放電部に含まれる第2のスイッチング素子は既にオン状態となっている。従って、非選択期間には、第1ノードの電位が上昇しても当該電位は速やかに低下する。その結果、出力ノードに接続されたスイッチング素子におけるリーク電流が従来よりも小さくなり、走査信号線に不必要な電流が流れることが抑制され、消費電力が低減される。
 また、非選択期間に第1のクロック信号がハイレベルからローレベルに変化すると、第1ノードの電位は(負の)電源電圧の電位よりも低い電位にまで低下する。ここで、第1のクロック信号がハイレベルからローレベルに変化するタイミングよりも第4のクロック信号がローレベルからハイレベルに変化するタイミングの方が早くなっているので、第1ノードの電位が電源電圧の電位よりも低い電位にまで低下した時点において、第2ノードは放電された状態となっており、第2のスイッチング素子はオフ状態となっている。このため、第1ノードの電位は、電源電圧の電位にまで速やかに上昇することはなく、緩やかに電源電圧の電位にまで上昇する。これにより、表示装置が動作している期間を通じて、第1のスイッチング素子の第1電極には、プラスのバイアス電圧が印加されるだけでなく、マイナスのバイアス電圧も充分に印加される。その結果、第1のスイッチング素子の閾値シフトが従来よりも小さくなる。従って、第1のスイッチング素子のサイズを従来よりも小さくすることができ、表示装置の小型化が可能となる。
 さらに、第4のクロック信号の位相は第1のクロック信号の位相よりも遅れているので、選択期間中に第4のクロック信号がローレベルからハイレベルに変化して第2ノードが放電される。ここで、第2ノードは、第1ノードに第2電極が接続された第2のスイッチング素子の第1電極と接続されている。以上より、選択期間中に第2のスイッチング素子がオフ状態とされる期間が従来よりも長くなるので、選択期間中における第1ノードの電位の低下が抑制される。選択期間中に第1ノードの電位が低下していると選択期間から非選択期間に変化した際に走査信号の立ち下がりが遅くなるが、本発明の第1の局面によれば、選択期間中における第1ノードの電位の低下が抑制されるので、選択期間から非選択期間に変化する際に走査信号は速やかに立ち下がる。このため、走査信号の立ち下がりが遅くなることに起因する表示不良の発生が抑制される。
 本発明の第2の局面によれば、第2ノード放電部,第1の第2ノード放電部,および第1ノード充電部にスイッチング素子を含めた構成において、本発明の第1の局面と同様の効果が得られる。
 本発明の第3の局面によれば、選択期間中に第2ノードが放電されるので選択期間中における第1ノードの電位の低下が防止される。また、選択期間終了後に第1ノードを放電することにより、選択期間終了後における第1のスイッチング素子でのリーク電流の発生が抑制される。
 本発明の第4の局面によれば、各双安定回路から出力される状態信号を前段のリセット信号および次段のセット信号とする構成において、本発明の第3の局面と同様の効果が得られる走査信号線駆動回路が実現される。
 本発明の第5の局面によれば、状態信号の表す状態を第1の状態にすることに直接的に寄与するクロック信号を伝達する信号線には比較的太い信号線が用いられ、第2ノードを制御するためのクロック信号を伝達する信号線には比較的細い信号線が用いられる。このため、シフトレジスタの動作を正常に保ちつつ、回路面積の縮小を図ることができる。
 本発明の第6の局面によれば、各双安定回路から出力される状態信号を前々のリセット信号および次々段のセット信号とする構成において、本発明の第3の局面と同様の効果が得られる走査信号線駆動回路が実現される。
 本発明の第7の局面によれば、状態信号の表す状態は、リセット信号および第2のクロック信号に基づいて第2の状態とされる。このため、状態信号の表す状態を随時第2の状態にすることができる。
 本発明の第8の局面によれば、状態信号の表す状態は、更に第2ノードの充電電圧に基づいて第2の状態とされる。このため、非選択期間における状態信号の表す状態を確実に第2の状態で維持することができる。
 本発明の第9の局面によれば、選択期間中に第1ノードの電位がハイレベルで維持される。このため、選択期間における走査信号の電位の低下が抑制される。
 本発明の第10の局面によれば、第1~第4のクロック信号が比較的容易に生成される。
 本発明の第11の局面によれば、2つの走査信号線駆動回路を備える構成において、本発明の第1の局面と同様の効果が得られる走査信号線駆動回路が実現される。
 本発明の第12の局面によれば、奇数行目の走査信号線と偶数行目の走査信号線とを異なる走査信号線駆動回路で駆動する構成において、本発明の第11の局面と同様の効果が得られる。
 本発明の第13の局面によれば、各走査信号線を2つの走査信号線駆動回路によって駆動する構成において、本発明の第11の局面と同様の効果が得られる。
 本発明の第14の局面によれば、比較的劣化しにくい微結晶シリコンからなる薄膜トランジスタがスイッチング素子として採用されているので、シフトレジスタの動作の信頼性を高めることができる。
 本発明の第15の局面によれば、アモルファスシリコンからなる薄膜トランジスタがスイッチング素子として採用されている構成において、第1のスイッチング素子でのリーク電流がより小さくなり、不必要な電力消費が抑制される。
 本発明の第16の局面によれば、第1ノードを放電するためのスイッチング素子(第2のスイッチング素子,第7のスイッチング素子)がマルチチャネル構造の薄膜トランジスタで構成されるので、第1ノードの電位が上昇したときに、それらのスイッチング素子でリーク電流が生じることによる第1ノードの電位の低下が防止される。
 本発明の第17の局面によれば、本発明の第1の局面と同様の効果が得られる走査信号線駆動回路を備えた表示装置が実現される。
 本発明の第18の局面によれば、装置サイズの小型化を図りつつ、本発明の第17の局面と同様の効果が得られる表示装置が実現される。
 本発明の第19の局面によれば、本発明の第1の局面と同様の効果が得られるシフトレジスタが実現される。
本発明の一実施形態に係る液晶表示装置のゲートドライバ内のシフトレジスタに含まれる双安定回路の構成を示す回路図である。 上記実施形態に係る液晶表示装置の全体構成を示すブロック図である。 上記実施形態において、ゲートドライバの構成を説明するためのブロック図である。 上記実施形態において、ゲートドライバ内のシフトレジスタの構成を示すブロック図である。 上記実施形態において、第1~第4ゲートクロック信号の波形を示す信号波形図である。 上記実施形態において、走査信号の波形を示す信号波形図である。 上記実施形態において、双安定回路の動作について説明するための波形図である。 上記実施形態において、薄膜トランジスタT1のゲート-ソース間の寄生容量を考慮した回路図である。。 Aは、上記実施形態に係る構成によるシミュレーション結果を示す波形図である。Bは、従来例に係る構成によるシミュレーション結果を示す波形図である。 上記シミュレーション結果の部分拡大図である。 上記シミュレーション結果の部分拡大図である。 上記実施形態の変形例におけるゲートドライバ内のシフトレジスタの構成を示すブロック図である。 A-Cは、マルチチャネルTFTについて説明するための図である。 上記実施形態に係る双安定回路をマルチチャネルTFTを用いて構成した回路図である。 従来のゲートドライバに含まれているシフトレジスタの1段分の構成例を示す回路図である。 従来例における動作を示す波形図である。
 以下、添付図面を参照して本発明の一実施形態について説明する。なお、以下の説明においては、薄膜トランジスタのゲート端子(ゲート電極)は第1電極に相当し、ソース端子(ソース電極)は第2電極に相当し、ドレイン端子(ドレイン電極)は第3電極に相当する。
<1.全体構成および動作>
 図2は、本発明の一実施形態に係るアクティブマトリクス型の液晶表示装置の全体構成を示すブロック図である。図2に示すように、この液晶表示装置は、電源100とDC/DCコンバータ110と表示制御回路200とソースドライバ(映像信号線駆動回路)300と第1のゲートドライバ(第1の走査信号線駆動回路)401と第2のゲートドライバ(第2の走査信号線駆動回路)402と共通電極駆動回路500と表示部600とを備えている。なお、典型的には、表示部600と駆動回路である第1および第2のゲートドライバ401,402とは同一基板上すなわちモノリシックに形成される。
 表示部600には、複数本(j本)のソースバスライン(映像信号線)SL1~SLjと、複数本(i本)のゲートバスライン(走査信号線)GL1~GLiと、それらのソースバスラインSL1~SLjとゲートバスラインGL1~GLiとの交差点にそれぞれ対応して設けられた複数個(i×j個)の画素形成部とが含まれている。なお、i本のゲートバスラインGL1~GLiのうち奇数行目のゲートバスラインGL1,GL3,・・・,GLi-1については第1のゲートドライバ401から延びるように配設され、偶数行目のゲートバスラインGL2,GL4,・・・,GLiについては第2のゲートドライバ402から延びるように配設されている。
 上記複数個の画素形成部はマトリクス状に配置されて画素アレイを構成する。各画素形成部は、対応する交差点を通過するゲートバスラインにゲート端子が接続されると共に当該交差点を通過するソースバスラインにソース端子が接続されたスイッチング素子である薄膜トランジスタ(TFT)60と、その薄膜トランジスタ60のドレイン端子に接続された画素電極と、上記複数個の画素形成部に共通的に設けられた対向電極である共通電極Ecと、上記複数個の画素形成部に共通的に設けられ画素電極と共通電極Ecとの間に挟持された液晶層とからなる。そして、画素電極と共通電極Ecとにより形成される液晶容量により、画素容量Cpが構成される。なお通常、画素容量Cpに確実に電圧を保持すべく、液晶容量に並列に補助容量が設けられるが、補助容量は本発明には直接に関係しないのでその説明および図示を省略する。
 電源100は、DC/DCコンバータ110と表示制御回路200と共通電極駆動回路500とに所定の電源電圧を供給する。DC/DCコンバータ110は、ソースドライバ300,第1のゲートドライバ401,および第2のゲートドライバ402を動作させるための所定の直流電圧を電源電圧から生成し、その直流電圧をソースドライバ300,第1のゲートドライバ401,および第2のゲートドライバ402に供給する。共通電極駆動回路500は、共通電極Ecに所定の電位Vcomを与える。
 表示制御回路200は、外部から送られる画像信号DATおよび水平同期信号や垂直同期信号などのタイミング信号群TGを受け取り、デジタル映像信号DVと、表示部600における画像表示を制御するためのソーススタートパルス信号SSP,ソースクロック信号SCK,ラッチストローブ信号LS,第1のゲートスタートパルス信号GSP1,第1のゲートエンドパルス信号GEP1,第2のゲートスタートパルス信号GSP2,第2のゲートエンドパルス信号GEP2,およびゲートクロック信号GCKとを出力する。
 ソースドライバ300は、表示制御回路200から出力されるデジタル映像信号DV,ソーススタートパルス信号SSP,ソースクロック信号SCK,およびラッチストローブ信号LSを受け取り、各ソースバスラインSL1~SLjに駆動用映像信号S(1)~S(j)を印加する。
 本実施形態においては、ゲートドライバは、奇数行目のゲートバスラインGL1,GL3,・・・,GLi-1を駆動する第1のゲートドライバ401と偶数行目のゲートバスラインGL2,GL4,・・・,GLiを駆動する第2のゲートドライバ402とに分けられている。第1のゲートドライバ401は、表示制御回路200から出力される第1のゲートスタートパルス信号GSP1と第1のゲートエンドパルス信号GEP1とゲートクロック信号GCKとに基づいて、アクティブな走査信号Gout(1),Gout(3),・・・,Gout(i-1)の奇数行目のゲートバスラインGL1,GL3,・・・,GLi-1への印加を1垂直走査期間を周期として繰り返す。同様に、第2のゲートドライバ402は、表示制御回路200から出力される第2のゲートスタートパルス信号GSP2と第2のゲートエンドパルス信号GEP2とゲートクロック信号GCKとに基づいて、アクティブな走査信号Gout(2),Gout(4),・・・,Gout(i)の偶数行目のゲートバスラインGL2,GL4,・・・,GLiへの印加を1垂直走査期間を周期として繰り返す。なお、これらゲートドライバについての詳しい説明は後述する。
 以上のようにして、各ソースバスラインSL1~SLjに駆動用映像信号S(1)~S(j)が印加され、各ゲートバスラインGL1~GLiに走査信号Gout(1)~Gout(i)が印加されることにより、外部から送られた画像信号DATに基づく画像が表示部600に表示される。
<2.ゲートドライバの構成および動作>
 次に、図3~図6を参照しつつ、本実施形態におけるゲートドライバの構成および動作の概要について説明する。図3に示すように、第1のゲートドライバ401は複数段のシフトレジスタ410によって構成され、第2のゲートドライバ402は複数段のシフトレジスタ420によって構成されている。表示部600には、i行×j列の画素マトリクスが形成されている。画素マトリクスの奇数行目の各行と1対1で対応するようにシフトレジスタ410の各段が設けられ、画素マトリクスの偶数行目の各行と1対1で対応するようにシフトレジスタ420の各段が設けられている。また、シフトレジスタ410および420の各段は、各時点において2つの状態(第1の状態および第2の状態)のうちのいずれか一方の状態となっていて当該状態を表す信号(以下「状態信号」という。)を出力する双安定回路となっている。このように、シフトレジスタ410は(i/2)個の双安定回路41(1)~41(i/2)で構成され、シフトレジスタ420は(i/2)個の双安定回路42(1)~42(i/2)で構成されている。なお、本実施形態においては、双安定回路が第1の状態となっていれば、当該双安定回路からはハイレベル(Hレベル)の状態信号が出力され、双安定回路が第2の状態となっていれば、当該双安定回路からはローレベル(Lレベル)の状態信号が出力される。
 図4は、ゲートドライバ内のシフトレジスタ410および420の構成を示すブロック図である。上述のように、シフトレジスタ410は(i/2)個の双安定回路41(1)~41(i/2)で構成され、シフトレジスタ420は(i/2)個の双安定回路42(1)~42(i/2)で構成されている。各双安定回路には、4つのクロック信号CKA(以下「第1クロック」という。),CKB(以下「第2クロック」という。),CKC(以下「第3クロック」という。),およびCKD(以下「第4クロック」という。)を受け取るための入力端子と、セット信号Sを受け取るための入力端子と、リセット信号Rを受け取るための入力端子と、状態信号Qを出力するための出力端子とが設けられている。
 第1のゲートドライバ401内のシフトレジスタ410には、ゲートクロック信号GCKとしての4つのクロック信号GCK1(以下「第1ゲートクロック信号」という。),GCK2(以下「第2ゲートクロック信号」という。),GCK3(以下「第3ゲートクロック信号」という。),およびGCK4(以下「第4ゲートクロック信号」という。)と、第1のゲートスタートパルス信号GSP1と、第1のゲートエンドパルス信号GEP1とが表示制御回路200から与えられる。第2のゲートドライバ402内のシフトレジスタ420には、第1ゲートクロック信号GCK1,第2ゲートクロック信号GCK2,第3ゲートクロック信号GCK3,および第4ゲートクロック信号GCK4と、第2のゲートスタートパルス信号GSP2と、第2のゲートエンドパルス信号GEP2とが表示制御回路200から与えられる。
 図5に示すように、第1ゲートクロック信号GCK1と第2ゲートクロック信号GCK2とは180度(1水平走査期間に相当する期間)位相がずれており、第3ゲートクロック信号GCK3と第4ゲートクロック信号GCK4とは180度位相がずれている。第3ゲートクロック信号GCK3については、第1ゲートクロック信号GCK1よりも位相が90度進んでいる。これら第1~第4ゲートクロック信号GCK1~4については、いずれも1水平走査期間おきにハイレベル(Hレベル)の状態となる。
 本実施形態においては、シフトレジスタ410の各段(各双安定回路)の入力端子に与えられる信号は次のようになっている。1段目41(1)については、第1ゲートクロック信号GCK1が第1クロックCKAとして与えられ、第2ゲートクロック信号GCK2が第2クロックCKBとして与えられ、第3ゲートクロック信号GCK3が第3クロックCKCとして与えられ、第4ゲートクロック信号GCK4が第4クロックCKDとして与えられる。2段目41(2)については、第2ゲートクロック信号GCK2が第1クロックCKAとして与えられ、第1ゲートクロック信号GCK1が第2クロックCKBとして与えられ、第4ゲートクロック信号GCK4が第3クロックCKCとして与えられ、第3ゲートクロック信号GCK3が第4クロックCKDとして与えられる。3段目以降については、1段目から2段目までの構成と同様の構成が2段ずつ繰り返される。また、1段目41(1)には、第1のゲートスタートパルス信号GSP1がセット信号Sとして与えられる。2段目41(2)以降については、前段の状態信号Qがセット信号Sとして与えられる。さらに、1~(i/2-1)段目には、次段の状態信号Qがリセット信号Rとして与えられる。(i/2)段目については、第1のゲートエンドパルス信号GEP1がリセット信号Rとして与えられる。
 シフトレジスタ420の各段(各双安定回路)の入力端子に与えられる信号は次のようになっている。1段目42(1)については、第4ゲートクロック信号GCK4が第1クロックCKAとして与えられ、第3ゲートクロック信号GCK3が第2クロックCKBとして与えられ、第1ゲートクロック信号GCK1が第3クロックCKCとして与えられ、第2ゲートクロック信号GCK2が第4クロックCKDとして与えられる。2段目42(2)については、第3ゲートクロック信号GCK3が第1クロックCKAとして与えられ、第4ゲートクロック信号GCK4が第2クロックCKBとして与えられ、第2ゲートクロック信号GCK2が第3クロックCKCとして与えられ、第1ゲートクロック信号GCK1が第4クロックCKDとして与えられる。3段目以降については、1段目から2段目までの構成と同様の構成が2段ずつ繰り返される。また、1段目42(1)には、第2のゲートスタートパルス信号GSP2がセット信号Sとして与えられる。2段目42(2)以降については、前段の状態信号Qがセット信号Sとして与えられる。さらに、1~(i/2-1)段目には、次段の状態信号Qがリセット信号Rとして与えられる。(i/2)段目については、第2のゲートエンドパルス信号GEP2がリセット信号Rとして与えられる。
 シフトレジスタ410の1段目41(1)にセット信号Sとしての第1のゲートスタートパルス信号GSP1が与えられると、第1~第4ゲートクロック信号GCK1~4に基づいて、第1のゲートスタートパルス信号GSP1に含まれるパルス(このパルスは各段から出力される状態信号Qに含まれる)が1段目41(1)から(i/2)段目41(i/2)へと順次に転送される。そして、このパルスの転送に応じて、各段41(1)~(i/2)から出力される状態信号Qが順次にハイレベルとなる。そして、それら各段41(1)~(i/2)から出力される状態信号Qは、走査信号として奇数行目の各ゲートバスラインGL1,GL3,・・・,GLi-1に与えられる。
 シフトレジスタ420の1段目42(1)にセット信号Sとしての第2のゲートスタートパルス信号GSP2が与えられると、第1~第4ゲートクロック信号GCK1~4に基づいて、第2のゲートスタートパルス信号GSP2に含まれるパルスが1段目42(1)から(i/2)段目42(i/2)へと順次に転送される。そして、このパルスの転送に応じて、各段42(1)~(i/2)から出力される状態信号Qが順次にハイレベルとなる。そして、それら各段42(1)~(i/2)から出力される状態信号Qは、走査信号として偶数行目の各ゲートバスラインGL2,GL4,...,GLiに与えられる。
 以上のようにして、図6に示すように、1水平走査期間ずつ順次にハイレベルとなる走査信号が表示部600内のゲートバスラインに与えられる。
 なお、図4に示したシフトレジスタ410の構成に関し、第1ゲートクロック信号GCK1を伝達する信号線および第2ゲートクロック信号GCK2を伝達する信号線には比較的太い信号線が用いられ、第3ゲートクロック信号GCK3を伝達する信号線および第4ゲートクロック信号GCK4を伝達する信号線には比較的細い信号線が用いられている。また、図4に示したシフトレジスタ420の構成に関し、第3ゲートクロック信号GCK3を伝達する信号線および第4ゲートクロック信号GCK4を伝達する信号線には比較的太い信号線が用いられ、第1ゲートクロック信号GCK1を伝達する信号線および第2ゲートクロック信号GCK2を伝達する信号線には比較的細い信号線が用いられている。すなわち、走査信号の電位の上昇に直接的に寄与するクロック信号を伝達する信号線には比較的太い信号線が用いられ、各双安定回路に含まれる後述の薄膜トランジスタの動作を制御するためのクロック信号を伝達する信号線には比較的細い信号線が用いられている。
<3.双安定回路の構成>
 図1は、上述したシフトレジスタ410および420に含まれている双安定回路の構成(シフトレジスタ410および420の1段分の構成)を示す回路図である。図1に示すように、この双安定回路は、10個の薄膜トランジスタT1(第1のスイッチング素子),T2(第2のスイッチング素子),T3(第3のスイッチング素子),T4(第4のスイッチング素子),T5(第5のスイッチング素子),T6(第6のスイッチング素子),T7(第7のスイッチング素子),T8(第8のスイッチング素子),T9(第9のスイッチング素子),およびT10(第10のスイッチング素子)と、キャパシタCapとを備えている。また、この双安定回路は、6個の入力端子43~48と1個の出力端子(出力ノード)49とを有している。なお、セット信号Sを受け取る入力端子には符号43を付し、リセット信号Rを受け取る入力端子には符号44を付し、第1クロックCKAを受け取る入力端子には符号45を付し、第2クロックCKBを受け取る入力端子には符号46を付し、第3クロックCKCを受け取る入力端子には符号47を付し、第4クロックCKDを受け取る入力端子には符号48を付し、状態信号Qを出力する出力端子には符号49を付している。以下、この双安定回路内における構成要素間の接続関係について説明する。
 薄膜トランジスタT1のゲート端子と薄膜トランジスタT2のソース端子と薄膜トランジスタT5のソース端子と薄膜トランジスタT6のゲート端子と薄膜トランジスタT7のソース端子とは互いに接続されている。なお、これらが互いに接続されている領域(配線)のことを便宜上「netA」(第1ノード)という。
 薄膜トランジスタT2のゲート端子と薄膜トランジスタT3のドレイン端子と薄膜トランジスタT4のソース端子と薄膜トランジスタT6のソース端子と薄膜トランジスタT10のゲート端子とは互いに接続されている。なお、これらが互いに接続されている領域(配線)のことを便宜上「netB」(第2ノード)という。
 薄膜トランジスタT1については、ゲート端子はnetAに接続され、ソース端子は入力端子45に接続され、ドレイン端子は出力端子49に接続されている。薄膜トランジスタT2については、ゲート端子はnetBに接続され、ソース端子はnetAに接続され、ドレイン端子は電源電圧Vssに接続されている。薄膜トランジスタT3については、ゲート端子およびソース端子は入力端子47に接続され、ドレイン端子はnetBに接続されている。薄膜トランジスタT4については、ゲート端子は入力端子48に接続され、ソース端子はnetBに接続され、ドレイン端子は電源電圧Vssに接続されている。薄膜トランジスタT5については、ゲート端子およびドレイン端子は入力端子43に接続され(すなわち、ダイオード接続となっている)、ソース端子はnetAに接続されている。
 薄膜トランジスタT6については、ゲート端子はnetAに接続され、ソース端子はnetBに接続され、ドレイン端子は電源電圧Vssに接続されている。薄膜トランジスタT7については、ゲート端子は入力端子44に接続され、ソース端子はnetAに接続され、ドレイン端子は電源電圧Vssに接続されている。薄膜トランジスタT8については、ゲート端子は入力端子44に接続され、ソース端子は出力端子49に接続され、ドレイン端子は電源電圧Vssに接続されている。薄膜トランジスタT9については、ゲート端子は入力端子46に接続され、ソース端子は出力端子49に接続され、ドレイン端子は電源電圧Vssに接続されている。薄膜トランジスタT10については、ゲート端子はnetBに接続され、ソース端子は出力端子49に接続され、ドレイン端子は電源電圧Vssに接続されている。キャパシタCapについては、一端はnetAに接続され、他端は出力端子49に接続されている。
 次に、各構成要素のこの双安定回路における機能について説明する。薄膜トランジスタT1は、netAの電位がハイレベルになっているときに、第1クロックCKAの電位を出力端子49に与える。薄膜トランジスタT2は、netBの電位がハイレベルになっているときに、netAの電位をローレベルにする。薄膜トランジスタT3は、第3クロックCKCがハイレベルになっているときに、netBの電位をハイレベルにする。薄膜トランジスタT4は、第4クロックCKDがハイレベルになっているときに、netBの電位をローレベルにする。なお、この薄膜トランジスタT4がnetBの電位をローレベルにすることによって、薄膜トランジスタT2およびT10にバイアス電圧が長期間印加されることが防止される。これにより、薄膜トランジスタT2およびT10の閾値電圧の上昇に起因して当該薄膜トランジスタがスイッチとして機能しなくなることが防止される。薄膜トランジスタT5は、ハイレベルのセット信号Sが入力されたときに、netAの電位を上昇させる。
 薄膜トランジスタT6は、netAの電位がハイレベルになっているときに、netBの電位をローレベルにする。薄膜トランジスタT7は、ハイレベルのリセット信号Rが入力されたときに、netAの電位をローレベルにする。薄膜トランジスタT8は、ハイレベルのリセット信号Rが入力されたときに、状態信号Qの電位をローレベルにする。薄膜トランジスタT9は、第2クロックCKBがハイレベルになっているときに、状態信号Qの電位をローレベルにする。薄膜トランジスタT10は、netBの電位がハイレベルになっているときに、状態信号Qの電位をローレベルにする。キャパシタCapは、選択期間中にnetAの電位をハイレベルに維持するための補償容量として機能する。
 なお、本実施形態においては、薄膜トランジスタT1によって出力ノード充電部が実現され、薄膜トランジスタT8によって第1の出力ノード放電部が実現され、薄膜トランジスタT9によって第2の出力ノード放電部が実現され、薄膜トランジスタT10によって第3の出力ノード放電部が実現されている。また、薄膜トランジスタT5によって第1ノード充電部が実現され、薄膜トランジスタT2によって第1の第1ノード放電部が実現され、薄膜トランジスタT7によって第2の第1ノード放電部が実現されている。また、薄膜トランジスタT3によって第2ノード充電部が実現され、薄膜トランジスタT4によって第1の第2ノード放電部が実現され、薄膜トランジスタT6によって第2の第2ノード放電部が実現されている。
<4.双安定回路の動作>
<4.1 動作の概要>
 図1および図7を参照しつつ、本実施形態における双安定回路の動作の概要について説明する。ここでは動作の概要について説明するので、netA,netB,および状態信号Qの電位についての微少な変動については無視している。なお、図7の時点t2から時点t4までの期間が、双安定回路の出力端子49に接続されているゲートバスラインが選択状態とされるべき期間(選択期間)であるものと仮定する。また、図7の時点t0から時点t6までの期間に第1駆動ステップによる駆動が行われ、それ以外の期間に第2駆動ステップによる駆動が行われる。
 液晶表示装置の動作中、双安定回路の入力端子45~48にはそれぞれ図7に示すような波形の第1クロックCKA,第2クロックCKB,第3クロックCKC,および第4クロックCKDが与えられる。
 時点t0になると、入力端子43にセット信号Sのパルスが与えられる。薄膜トランジスタT5はその入力端子43にダイオード接続された構成となっているので、このセット信号SのパルスによってnetAの電位は上昇する。セット信号Sは時点t2までハイレベルの状態で維持されるので、t0~t2の期間中にnetAはプリチャージされる。薄膜トランジスタT6のゲート端子はnetAに接続されているので、この期間中、薄膜トランジスタT6はオン状態で維持される。これにより、t0~t2の期間中、薄膜トランジスタT2はオフ状態で維持される。また、この期間中、リセット信号Rはローレベルで維持されているので、薄膜トランジスタT7はオフ状態で維持される。従って、プリチャージによって上昇したnetAの電位がこの期間中に低下することはない。
 時点t1になると、第3クロックCKCがローレベルからハイレベルに変化する。ここで、薄膜トランジスタT3は入力端子47にダイオード接続された構成となっているので、netBの電位は上昇しようとする。ところが、上述のように、時点t0~t2の期間中、薄膜トランジスタT6はオン状態で維持される。このため、時点t1後もnetBの電位はローレベルで維持される。
 時点t2になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。ここで、薄膜トランジスタT1のソース端子は入力端子45に接続されており、また、薄膜トランジスタT1のゲート-ソース間には図8に示すように寄生容量Cgsが形成されている。このため、薄膜トランジスタT1のソース電位の上昇に従って、netAの電位も上昇する(netAがブートストラップされる)。その結果、薄膜トランジスタT1はオン状態となる。第1クロックCKAがハイレベルにされた状態は時点t4まで維持されるので、t2~t4の期間中、状態信号Qはハイレベルとなる。これにより、このハイレベルの状態信号Qを出力する双安定回路に接続されたゲートバスラインが選択状態となり、当該ゲートバスラインに対応する行の画素形成部において画素容量Cpへの映像信号の書き込みが行われる。なお、t2~t4の期間中、薄膜トランジスタT6はオン状態で維持されるので、netBの電位はローレベルで維持され、薄膜トランジスタT2はオフ状態で維持される。また、t2~t4の期間中、リセット信号Rはローレベルで維持されているので、薄膜トランジスタT7およびT8はオフ状態で維持される。このため、この期間中にnetAの電位や状態信号Q(出力端子49)の電位が低下することもない。
 時点t3になると、第4クロックCKDがローレベルからハイレベルに変化する。この第4クロックCKDがハイレベルにされた状態は、時点t5まで維持される。これにより、t3~t5の期間中、薄膜トランジスタT4はオン状態となり、netBの電位はローレベルで維持される。
 時点t4になると、第1クロックCKAはハイレベルからローレベルに変化する。また、リセット信号Rはローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタT7およびT8はオン状態となる。薄膜トランジスタT7がオン状態となったことによりnetAの電位は低下し、薄膜トランジスタT8がオン状態となったことにより状態信号Q(出力端子49)の電位は低下する。なお、リセット信号Rがハイレベルにされた状態は時点t6まで維持されるので、時点t4になって低下したnetAおよび状態信号Qの電位は、t4~t6の期間中、ローレベルで維持される。
 時点t5になると、第3クロックCKCはローレベルからハイレベルに変化する。また、第4クロックCKDはハイレベルからローレベルに変化する。このため、薄膜トランジスタT4はオフ状態となる。また、時点t5には、netAの電位はローレベルとなっていて薄膜トランジスタT6はオフ状態となっているので、第3クロックCKCがハイレベルに変化したことによってnetBの電位は上昇する。第3クロックCKCがハイレベルにされた状態は時点t7まで維持されるので、t5~t7の期間中、薄膜トランジスタT2およびT10はオン状態となる。従って、この期間中、netAの電位および状態信号Qの電位はローレベルで維持される。
 時点t6になると、リセット信号Rはハイレベルからローレベルに変化する。また、第1クロックCKAはローレベルからハイレベルに変化する。この時、上述した寄生容量Cgsに起因してnetAの電位は上昇しようとするが、上述のように薄膜トランジスタT2がオン状態となっているので、netAの電位はローレベルで維持される。
 時点t7になると、第3クロックCKCはハイレベルからローレベルに変化する。また、第4クロックCKDはローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタT3はオフ状態、薄膜トランジスタT4はオン状態となり、netBの電位は低下する。第4クロックCKDがハイレベルにされた状態は時点t9まで維持されるので、t7~t9の期間中、netBの電位はローレベルで維持される。
 t8~t10の期間には、第1クロックCKAおよびセット信号Sはローレベルで維持されるので、netAおよび状態信号Qの電位はローレベルで維持される。なお、時点t9には、第4クロックCKDがハイレベルからローレベルに変化して第3クロックCKCがローレベルからハイレベルに変化することによって、netBの電位が上昇する。これにより、薄膜トランジスタT2およびT10がオン状態となる。このため、t9~t10の期間には、netAおよび状態信号Qの電位は確実にローレベルで維持される。
 時点t10になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。この時、上述した寄生容量Cgsに起因してnetAの電位は上昇しようとするが、上述のように薄膜トランジスタT2がオン状態となっていることにより、netAの電位はローレベルで維持される。
 時点t11になると、第3クロックCKCはハイレベルからローレベルに変化する。また、第4クロックCKDはローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタT3はオフ状態、薄膜トランジスタT4はオン状態となり、netBの電位は低下する。時点t12以降の期間については、次にセット信号Sのパルスが入力端子43に与えられるまで、t8~t12の期間と同様の動作が繰り返される。
<4.2 動作の詳細>
 図1および図9~図11を参照しつつ、本実施形態における双安定回路の動作の詳細について説明する。なお、図9(A)は、本実施形態に係る構成によるシミュレーション結果を示す波形図であり、図9(B)は、従来例に係る構成(図15に示した構成からT10とT12とを削除した構成)によるシミュレーション結果を示す波形図である。また、図10には、図9(A)で符号61で示す部分の拡大図、図9(B)で符号62で示す部分の拡大図、第1クロックCKAの波形、第2クロックCKBの波形、第3クロックCKCの波形、および第4クロックCKDの波形を示している。また、図11には、図9(A)で符号63で示す部分の拡大図、、図9(B)で符号64で示す部分の拡大図、第1クロックCKAの波形、第2クロックCKBの波形、第3クロックCKCの波形、および第4クロックCKDの波形を示している。なお、図9~図11において、太実線はnetAの電位の変化を示し、太点線はnetBの電位の変化を示し、細実線は状態信号Qの電位の変化を示している。
<4.2.1 非選択期間の動作>
 まず、非選択期間の動作について、図1および図10を参照しつつ説明する。なお、図10のt5~t10の期間は、図7のt5~t10の期間に対応している。
 時点t5になると、第4クロックCKDがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタT4はオフ状態となる。また、第3クロックCKCがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタT3はオン状態となる。また、時点t5には、上述のように薄膜トランジスタT6はオフ状態となっている。以上より、第3クロックCKCがローレベルからハイレベルに変化したタイミングよりやや遅れて(遅延して)netBの電位が上昇し、そのnetBの電位の上昇に伴って薄膜トランジスタT2がオン状態となる。
 時点t6になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。この時、上述した薄膜トランジスタT1のゲート-ソース間の寄生容量Cgsに起因してnetAの電位は図10において符号611で示すように上昇する。ところが、上述のように、t5~t7の期間中、薄膜トランジスタT2はオン状態となっている。このため、netAの電位は、図10において符号612で示すように、Vssの電位に等しい電位にまで速やかに低下する。ここで、従来例に係る構成でのシミュレーション結果に着目すると、netAの電位は、図10において符号621で示すように上昇した後、図10において符号622で示すように、Vssの電位に等しい電位にまで緩やかに低下している。以上のように、第1クロックCKAについてのローレベルからハイレベルへの変化に起因してnetAの電位が上昇した後、従来例に係る構成によればnetAの電位は緩やかに低下しているが、本実施形態に係る構成によればnetAの電位は速やかに低下している。これは、従来例においては、netAの電位の上昇に寄与するクロック信号とnetAの電位の低下に寄与するクロック信号とが同じタイミングで変化していたのに対し、本実施形態においては、netAの電位の低下に寄与するクロック信号(具体的には、薄膜トランジスタT2をオン状態にするための第3クロックCKC)の変化するタイミングがnetAの電位の上昇に寄与するクロック信号(具体的には、第1クロックCKA)の変化するタイミングよりも早められているからである。
 時点t7になると、第3クロックCKCはハイレベルからローレベルに変化し、第4クロックCKDはローレベルからハイレベルに変化する。これによりnetBの電位が低下するところ、薄膜トランジスタT2のゲート-ソース間の寄生容量に起因して、図10において符号613で示すように、netAの電位がVssの電位よりもやや低い電位にまで低下する。
 時点t8になると、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。この時、薄膜トランジスタT1のゲート-ソース間の寄生容量Cgsに起因して、図10において符号614で示すようにnetAの電位は大きく低下する。ここで、上述のように、t7~t9の期間中、netBの電位はローレベルで維持されている。このため、薄膜トランジスタT2はオフ状態となっており(netAはフローティング状態となっている)、netAの電位が速やかにVssの電位にまで上昇することはない。すなわち、図10において符号615で示すように、netAの電位はt8~t9の期間に緩やかに上昇する。ここで、従来例に係る構成でのシミュレーション結果に着目すると、netAの電位は、図10において符号624で示すように大きく低下した後、図10において符号625で示すように速やかに上昇している。以上のように、第1クロックCKAについてのハイレベルからローレベルへの変化に起因してnetAの電位がVssの電位よりも低い電位にまで低下した後、従来例に係る構成によればnetAの電位は速やかに上昇しているが、本実施形態に係る構成によればnetAの電位は緩やかに上昇している。これは、従来例においては、netAの電位がVssの電位よりも低い電位にまで低下してからnetBの電位が充分にローレベルの電位に低下するまでにいくらかの期間を要し、当該期間にはnetAの電位をVssの電位に等しい電位にするための薄膜トランジスタがオン状態になっているのに対し、本実施形態においては、netAの電位がVssの電位よりも低い電位にまで低下した時点において、netAの電位をVssの電位に等しい電位にするための薄膜トランジスタT2が既にオフ状態となっているからである。
 時点t9になると、第4クロックCKDはハイレベルからローレベルに変化し、第3クロックCKCはローレベルからハイレベルに変化するので、netBの電位が上昇する。これにより薄膜トランジスタT2がオン状態となるので、図10において符号616で示すように、netAの電位はVssの電位に等しい電位にまで上昇する。
<4.2.2 選択期間およびその前後の期間の動作>
 次に、選択期間の動作について、図1および図11を参照しつつ説明する。なお、図11のt0~t4の期間は、図7のt0~t4の期間に対応している。
 時点t0になると、入力端子43にセット信号Sのパルスが与えられる。これにより、netAはプリチャージされ、薄膜トランジスタT6はオン状態となる。また、t0~t1の期間中、第3クロックCKCはローレベルとなっているので、この期間中、薄膜トランジスタT3はオフ状態で維持される。以上より、t0~t1の期間中、netBの電位はVssの電位に等しい電位で維持される。
 時点t1になると、第4クロックCKDはハイレベルからローレベルに変化し、第3クロックCKCはローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタT4はオフ状態となり、薄膜トランジスタT3はオン状態となる。このとき、netAはプリチャージされているので、薄膜トランジスタT6はオン状態となっている。以上より、図11において符号631で示すように、netBの電位はやや上昇する。
 時点t2になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化し、上述のようにnetAの電位が上昇する。これにより、薄膜トランジスタT6のオン抵抗が下がり、netBの電位は図11において符号632で示す電位にまで低下する。
 時点t3になると、第3クロックCKCはハイレベルからローレベルに変化し、第4クロックCKDはローレベルからハイレベルに変化する。これにより、薄膜トランジスタT3はオフ状態となり、薄膜トランジスタT4はオン状態となる。その結果、図11において符号633で示すように、netBの電位はVssの電位に等しい電位にまで低下する。ここで、従来例に係る構成でのシミュレーション結果に着目すると、図11において符号642で示すように、t2~t4の期間中、netBの電位はVssの電位よりもやや高い電位で維持されている。以上のように、t2~t4の期間に着目すると、従来例に係る構成によれば、netBの電位はVssの電位よりもやや高い電位で維持されている。一方、本実施形態に係る構成によれば、netBの電位は、t2~t3の期間にはVssの電位よりもやや高い電位となっており、t3~t4の期間にはVssの電位に等しい電位となっている。
<5.効果>
 以上のように、本実施形態によれば、netAの電位の変動に寄与する第1クロックCKAとは位相が90度ずれている第3クロックCKCおよび第4クロックCKDによってnetBの制御が行われる。詳しくは、第1クロックCKAよりも位相が90度進んでいる第3クロックCKCに基づいてnetBの電位が高められ、第1クロックCKAよりも位相が90度遅れている第4クロックCKDに基づいてnetBの電位がVssの電位に等しい電位にされる。このため、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化するタイミングよりも早いタイミングで、netAの電位をローレベルにするための薄膜トランジスタT2がオン状態となる。これにより、非選択期間に第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化したことに起因してnetAの電位が上昇した際に、netAの電位が速やかにVssの電位に等しい電位にまで低下する。その結果、出力端子49にドレイン端子が接続された薄膜トランジスタT1におけるリーク電流が従来よりも小さくなり、ゲートバスラインに不必要な電流が流れることが抑制される。これにより、薄膜トランジスタにおけるリーク電流に起因する不必要な電力消費が抑制される。また、微結晶シリコンを用いた薄膜トランジスタ(μc-SiTFT)のように比較的オフリークの大きい薄膜トランジスタが駆動素子として採用されていても、当該薄膜トランジスタにおけるリーク電流が従来よりも低減される。このため、μc-SiTFTの利点を活かしつつ、不必要な電力消費を抑制することができる。
 また、非選択期間に第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化すると、netAの電位はVssの電位よりも低い電位にまで低下する。このとき、従来例においては、netAの電位はVssの電位にまで速やかに上昇していたが、本実施形態においては、netAの電位はVssの電位にまで緩やかに上昇する。ここで、a-SiTFTやμc-SiTFTについては、ゲート端子にプラスのバイアス電圧が印加されると閾値電圧が上昇し(電流が流れにくくなる)、ゲート端子にマイナスのバイアス電圧が印加されると閾値電圧が低下する(電流が流れやすくなる)。本実施形態によれば、薄膜トランジスタT1のゲート端子に従来よりも長い期間、マイナスのバイアス電圧が印加されることになる。これにより、表示装置が動作している期間を通じて、薄膜トランジスタT1のゲート端子には、プラスのバイアス電圧が印加されるだけでなく、マイナスのバイアス電圧も充分に印加される。その結果、薄膜トランジスタT1の閾値シフトが従来よりも小さくなる。このため、薄膜トランジスタT1のサイズを従来よりも小さくすることができ、表示装置の小型化が可能となる。
 さらに、本実施形態においては、選択期間において、netBの電位がVssの電位よりもやや高い電位になっている期間が従来のほぼ半分の期間となる。ところで、netBの電位がVssの電位よりもやや高い電位になると、薄膜トランジスタT2がオン状態に近づくので、netAの電位がやや低下する。選択期間中にnetAの電位が低下していると、薄膜トランジスタT1のゲート電圧が低下するので、選択期間から非選択期間に変化した際に走査信号の立ち下がりが遅くなる(ゲートオン電圧からゲートオフ電圧への変化に要する期間が長くなる)。この点、本実施形態によれば、選択期間中におけるnetAの電位の低下が抑制されるので、選択期間から非選択期間に変化する際に走査信号は速やかに立ち下がる。このため、走査信号の立ち下がりが遅くなることに起因する表示不良の発生が抑制される。
 さらにまた、本実施形態では、シフトレジスタ410および420内において、走査信号の電位の上昇に直接的に寄与するクロック信号(シフトレジスタ410では第1ゲートクロック信号GCK1および第2ゲートクロック信号GCK2、シフトレジスタ420では第3ゲートクロック信号GCK3および第4ゲートクロック信号GCK4)を伝達する信号線には比較的太い信号線が用いられ、各双安定回路に含まれる薄膜トランジスタの動作を制御するクロック信号(シフトレジスタ410では第3ゲートクロック信号GCK3および第4ゲートクロック信号GCK4、シフトレジスタ420では第1ゲートクロック信号GCK1および第2ゲートクロック信号GCK2)を伝達する信号線には比較的細い信号線が用いられている。このため、シフトレジスタ410および420の動作を正常に保ちつつ、走査信号線駆動回路の回路面積の増大が抑制される。
<6.変形例>
<6.1 双安定回路内の構成の変形例>
 上記実施形態においては、第3クロックCKCを受け取る入力端子47とnetBとの間にダイオード接続の薄膜トランジスタT3を備える構成となっているが、薄膜トランジスタT3に代えてキャパシタを備える構成にしても良い。また、図1に示した構成要素から薄膜トランジスタT10を削除した構成にしても良い。
<6.2 ゲートドライバの構成の変形例>
 上記実施形態においては、奇数本目のゲートバスラインは第1のゲートドライバ401によって駆動され、偶数本目のゲートバスラインは第2のゲートドライバ402によって駆動される構成としているが、本発明はこれに限定されない。全てのゲートバスラインが第1のゲートドライバ401と第2のゲートドライバ402とによって駆動される構成としても良い。図12は、全てのゲートバスラインが第1のゲートドライバ401と第2のゲートドライバ402とによって駆動される構成としたときの第1のゲートドライバ401および第2のゲートドライバ402内のシフトレジスタ810および820の構成を示すブロック図である。図12に示すように、シフトレジスタ810はi個の双安定回路81(1)~81(i)で構成され、シフトレジスタ820はi個の双安定回路82(1)~82(i)で構成されている。各双安定回路には、上記実施形態と同様、第1クロックCKA,第2クロックCKB,第3クロックCKC,および第4クロックCKDを受け取るための入力端子と、セット信号Sを受け取るための入力端子と、リセット信号Rを受け取るための入力端子と、状態信号Qを出力するための出力端子とが設けられている。
 第1のゲートドライバ401内のシフトレジスタ810には、ゲートクロック信号GCKとしての第1ゲートクロック信号GCK1,第2ゲートクロック信号GCK2,第3ゲートクロック信号GCK3,および第4ゲートクロック信号GCK4と、第1および第2のゲートスタートパルス信号GSP1,GSP2と、第1および第2のゲートエンドパルス信号GEP1,GEP2とが表示制御回路200から与えられる。第2のゲートドライバ402内のシフトレジスタ820には、第1のゲートドライバ401内のシフトレジスタ810に与えられる信号と同様の信号が与えられる。
 本変形例においては、シフトレジスタ810の各段(各双安定回路)の入力端子に与えられる信号は次のようになっている。1段目81(1)については、第1ゲートクロック信号GCK1が第1クロックCKAとして与えられ、第2ゲートクロック信号GCK2が第2クロックCKBとして与えられ、第3ゲートクロック信号GCK3が第3クロックCKCとして与えられ、第4ゲートクロック信号GCK4が第4クロックCKDとして与えられる。2段目81(2)については、第4ゲートクロック信号GCK4が第1クロックCKAとして与えられ、第3ゲートクロック信号GCK3が第2クロックCKBとして与えられ、第1ゲートクロック信号GCK1が第3クロックCKCとして与えられ、第2ゲートクロック信号GCK2が第4クロックCKDとして与えられる。3段目81(3)については、第2ゲートクロック信号GCK2が第1クロックCKAとして与えられ、第1ゲートクロック信号GCK1が第2クロックCKBとして与えられ、第4ゲートクロック信号GCK4が第3クロックCKCとして与えられ、第3ゲートクロック信号GCK3が第4クロックCKDとして与えられる。4段目81(4)については、第3ゲートクロック信号GCK3が第1クロックCKAとして与えられ、第4ゲートクロック信号GCK4が第2クロックCKBとして与えられ、第2ゲートクロック信号GCK2が第3クロックCKCとして与えられ、第1ゲートクロック信号GCK1が第4クロックCKDとして与えられる。5段目以降については、1段目から4段目までの構成と同様の構成が4段ずつ繰り返される。また、1段目81(1)には、第1のゲートスタートパルス信号GSP1がセット信号Sとして与えられ、2段目81(2)には、第2のゲートスタートパルス信号GSP2がセット信号Sとして与えられる。3段目81(3)以降については、2段前の状態信号Qがセット信号Sとして与えられる。さらに、1~(i-2)段目には、前段の状態信号Qがリセット信号Rとして与えられる。(i-1)段目については、第1のゲートエンドパルス信号GEP1がリセット信号Rとして与えられ、i段目については、第2のゲートエンドパルス信号GEP2がリセット信号Rとして与えられる。なお、シフトレジスタ820の各段(各双安定回路)の入力端子に与えられる信号については、シフトレジスタ810と同様であるので説明を省略する。
 以上のような構成により、シフトレジスタ810および820内の各双安定回路では、上記実施形態における双安定回路と同様の動作が行われる。
<6.3 マルチチャネルTFTを用いた構成>
 上記実施形態においては、t2~t4の期間(図7参照)にnetAの電位が上昇した際、薄膜トランジスタT2およびT7(図1参照)のソース-ドレイン間に高電圧が与えられる。そこで、その高電圧に起因して薄膜トランジスタT2およびT7にリーク電流が生じることのないよう、当該薄膜トランジスタT2およびT7をマルチチャネルTFTで構成することができる。以下、図13を参照しつつ、マルチチャネルTFTについて説明する。なお、図13(A)は、マルチチャネルTFTの平面図であり、図13(B)は、図13(A)のA-A’線断面図であり、図13(C)は、マルチチャネルTFTの等価回路図である。
 マルチチャネルTFT70は、デュアルゲート構造(ダブルゲート構造)を有し、図13(C)に示すように、電気的には直列に接続された2つのTFTと等価な構造を有している。マルチチャネルTFT70は、基板(例えばガラス基板)71に支持された活性層74を有している。活性層74は、半導体層であり、微結晶シリコン(μc-Si)膜を含んでいる。活性層74は、チャネル領域74c1および74c2と、ソース領域74sと、ドレイン領域74dと、2つのチャネル領域74c1および74c2の間に形成された中間領域74mとを有している。マルチチャネルTFT70は、さらに、ソース領域74sに接するソースコンタクト領域76s,ドレイン領域74dに接するドレインコンタクト領域76d,および中間領域74mに接する中間コンタクト領域76mを有するコンタクト層76と、ソースコンタクト領域76sに接するソース電極78s,ドレインコンタクト領域76dに接するドレイン電極78d,および中間コンタクト領域76mに接する中間電極78mと、2つのチャネル領域74c1,74c2および中間領域74mにゲート絶縁膜73を介して対向するゲート電極72とを有している。また、マルチチャネルTFT70は、これらを覆う保護膜79を更に有している。なお、中間電極78mはフローティング状態となっている。
 チャネル領域74c1は、ソース領域74sと中間領域74mとの間に形成されており、チャネル領域74c2は、ドレイン領域74dと中間領域74mとの間に形成されている。2つのチャネル領域74c1,74c2,ソース領域74s,ドレイン領域74d,および中間領域74mは、1つの連続した活性層74に形成されている。また、中間電極78mの、チャネル領域74c1とチャネル領域74c2との間に存在する部分の全体が、中間領域74mおよびゲート絶縁膜73を介してゲート電極72と重なっている。
 なお、このマルチチャネルTFT70の活性層74は、微結晶シリコン膜、または、微結晶シリコン膜とアモルファスシリコン膜との積層膜とから形成されており、従来のa-SiTFTの製造プロセスを用いて製造することができる。微結晶シリコン膜は、例えば、水素ガスで希釈したシランガスを原料ガスとして、アモルファスシリコン膜の作製方法と同様のプラズマCVD法を用いて形成できる。
 以上のようにして、netAにドレイン電極またはソース電極が接続された薄膜トランジスタを例えば図14に示すようにマルチチャネルTFT(MT2,MT7)で構成することにより、netAの電位がブートストラップによって上昇しても、ソース-ドレイン間の高電圧によって薄膜トランジスタでリーク電流が生じることによるnetAの電位の低下を防止することができる。なお、薄膜トランジスタT5についても、マルチチャネルTFTで構成しても良い。
<7.その他>
 上記各実施形態においては液晶表示装置を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されない。有機EL(Electro Luminescnet)等の他の表示装置にも本発明を適用することができる。
 41(1)~41(i/2)…(第1のゲートドライバ内の)双安定回路
 42(1)~42(i/2)…(第2のゲートドライバ内の)双安定回路
 43~48…(双安定回路の)入力端子
 49…(双安定回路の)出力端子
 70…マルチチャネルTFT
 200…表示制御回路
 300…ソースドライバ(映像信号線駆動回路)
 401…第1のゲートドライバ(第1の走査信号線駆動回路)
 402…第2のゲートドライバ(第2の走査信号線駆動回路)
 410,420,810,820…シフトレジスタ
 600…表示部
 Cap…キャパシタ
 GL1~GLi…ゲートバスライン
 SL1~SLj…ソースバスライン
 T1~T10…薄膜トランジスタ
 GEP1…第1のゲートエンドパルス信号
 GEP2…第2のゲートエンドパルス信号
 GSP1…第1のゲートスタートパルス信号
 GSP2…第2のゲートスタートパルス信号
 GCK…ゲートクロック信号
 CKA,CKB,CKC,CKD…第1クロック,第2クロック,第3クロック,第4クロック
 S…セット信号
 R…リセット信号
 Q…状態信号

Claims (27)

  1.  表示部に配設された複数の走査信号線を駆動する、表示装置の走査信号線駆動回路であって、
     第1の状態と第2の状態とを有し互いに直列に接続された複数の双安定回路を含む、外部から入力され各双安定回路に第1,第2,第3,および第4のクロック信号として与えられる4相のクロック信号であってハイレベルの電位とローレベルの電位とを周期的に繰り返す前記4相のクロック信号に基づいて前記複数の双安定回路を順次に第1の状態とするシフトレジスタを備え、
     各双安定回路は、
      第2電極に前記第1のクロック信号が与えられ、前記第1の状態または前記第2の状態のいずれかの状態を表すべき状態信号を出力するためのノードであって前記走査信号線に接続されたノードである出力ノードに第3電極が接続された第1のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記第1の状態にするための出力ノード充電部と、
      前記状態信号の表す状態を前記第2の状態にするための出力ノード放電部と、
      前記第1のスイッチング素子の第1電極に接続された第1ノードを所定のセット信号に基づいて充電するための第1ノード充電部と、
      前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第2のスイッチング素子を含む、前記第1ノードを放電するための第1の第1ノード放電部と、
      前記第2のスイッチング素子の第1電極に接続された第2ノードを前記第3のクロック信号に基づいて充電するための第2ノード充電部と、
      前記第4のクロック信号に基づいて前記第2ノードを放電するための第1の第2ノード放電部と
    を有し、
     前記4相のクロック信号についてのハイレベルの電位とローレベルの電位とを繰り返す周期に対するハイレベルの電位が維持される期間の割合であるデューティ比は2分の1にされ、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号と前記第4のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも進められていることを特徴とする、走査信号線駆動回路。
  2.  各双安定回路において、
      前記第2ノード充電部は、第1電極および第2電極に前記第3のクロック信号が与えられ、前記第2ノードに第3電極が接続された第3のスイッチング素子を含み、
      前記第1の第2ノード放電部は、第1電極に前記第4のクロック信号が与えられ、前記第2ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第4のスイッチング素子を含み、
      前記第1ノード充電部は、第1電極および第3電極に前記セット信号が与えられ、前記第1ノードに第2電極が接続された第5のスイッチング素子を含むことを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  3.  各双安定回路は、
      前記第1ノードに第1電極が接続され、前記第2ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第6のスイッチング素子を含む、前記第1ノードの充電電圧に基づいて前記第2ノードを放電するための第2の第2ノード放電部と、
      第1電極に所定のリセット信号が与えられ、前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第7のスイッチング素子を含む、前記リセット信号に基づいて前記第1ノードを放電するための第2の第1ノード放電部と
    を更に有することを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  4.  前記4相のクロック信号は、各双安定回路に前記第1および第2のクロック信号として与えられる2相のクロック信号からなる第1クロック信号群と、各双安定回路に前記第3および第4のクロック信号として与えられる2相のクロック信号からなる第2クロック信号群とによって構成され、
     互いに隣接する2つの双安定回路を第1および第2の双安定回路としたときに、
      前記第1の双安定回路には、前記第1クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第2クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第2クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第2の双安定回路から出力される状態信号が前記リセット信号として与えられ、
      前記第2の双安定回路には、前記第1の双安定回路に前記第2のクロック信号として与えられた信号が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第1のクロック信号として与えられた信号が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第4のクロック信号として与えられた信号が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第3のクロック信号として与えられた信号が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路から出力される状態信号が前記セット信号として与えられることを特徴とする、請求項3に記載の走査信号線駆動回路。
  5.  前記第1クロック信号群を伝達する信号線の幅は、前記第2クロック信号群を伝達する信号線の幅よりも大きいことを特徴とする、請求項4に記載の走査信号線駆動回路。
  6.  前記4相のクロック信号は、互いに位相が180度ずれた2相のクロック信号を同じ組とする第1組クロック信号および第2組クロック信号によって構成され、
     前記複数の双安定回路のうちの或る双安定回路の前段の双安定回路を第1の双安定回路とし、当該或る双安定回路の次段の双安定回路を第2の双安定回路としたときに、
      前記第1の双安定回路には、前記第1組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第2組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第2組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第2の双安定回路から出力される状態信号が前記リセット信号として与えられ、
      前記第2の双安定回路には、前記第1の双安定回路に前記第2のクロック信号として与えられた信号が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第1のクロック信号として与えられた信号が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第4のクロック信号として与えられた信号が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第3のクロック信号として与えられた信号が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路から出力される状態信号が前記セット信号として与えられることを特徴とする、請求項3に記載の走査信号線駆動回路。
  7.  前記出力ノード放電部は、
      第1電極に前記リセット信号が与えられ、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第8のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記リセット信号に基づいて前記第2の状態にするための第1の出力ノード放電部と、
      第1電極に前記第2のクロック信号が与えられ、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第9のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記第2のクロック信号に基づいて前記第2の状態にするための第2の出力ノード放電部と
    を有することを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  8.  前記出力ノード放電部は、前記第2ノードに第1電極に接続され、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第10のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記第2ノードの充電電圧に基づいて前記第2の状態にするための第3の出力ノード放電部を更に有することを特徴とする、請求項7に記載の走査信号線駆動回路。
  9.  各双安定回路は、前記第1ノードに一端が接続され、前記出力ノードに他端が接続されたキャパシタを更に有することを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  10.  前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも90度進められていることを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  11.  前記状態信号を前記複数の走査信号線の一端側から他端側へと与える第1の走査信号線駆動回路と前記状態信号を前記複数の走査信号線の他端側から一端側へと与える第2の走査信号線駆動回路とからなることを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  12.  前記第1の走査信号線駆動回路は、前記複数の走査信号線のうち奇数行目または偶数行目の一方の走査信号線に前記状態信号を与え、
     前記第2の走査信号線駆動回路は、前記複数の走査信号線のうち奇数行目または偶数行目の他方の走査信号線に前記状態信号を与えることを特徴とする、請求項11に記載の走査信号線駆動回路。
  13.  各走査信号線は前記第1の走査信号線駆動回路および前記第2の走査信号線駆動回路の双方から前記状態信号が与えられることを特徴とする、請求項11に記載の走査信号線駆動回路。
  14.  各双安定回路に含まれるスイッチング素子は、微結晶シリコンからなる薄膜トランジスタであることを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  15.  各双安定回路に含まれるスイッチング素子は、アモルファスシリコンからなる薄膜トランジスタであることを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  16.  前記第1ノードに第2電極が接続されたスイッチング素子の少なくとも1つは、マルチチャネル構造を有する薄膜トランジスタであることを特徴とする、請求項1に記載の走査信号線駆動回路。
  17.  表示部と前記表示部に配設された複数の走査信号線を駆動する走査信号線駆動回路とを備えた表示装置であって、
     前記走査信号線駆動回路は、
      第1の状態と第2の状態とを有し互いに直列に接続された複数の双安定回路を含む、外部から入力され各双安定回路に第1,第2,第3,および第4のクロック信号として与えられる4相のクロック信号であってハイレベルの電位とローレベルの電位とを周期的に繰り返す前記4相のクロック信号に基づいて前記複数の双安定回路を順次に第1の状態とするシフトレジスタを備え、
     各双安定回路は、
      第2電極に前記第1のクロック信号が与えられ、前記第1の状態または前記第2の状態のいずれかの状態を表すべき状態信号を出力するためのノードであって前記走査信号線に接続されたノードである出力ノードに第3電極が接続された第1のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記第1の状態にするための出力ノード充電部と、
      前記状態信号の表す状態を前記第2の状態にするための出力ノード放電部と、
      前記第1のスイッチング素子の第1電極に接続された第1ノードを所定のセット信号に基づいて充電するための第1ノード充電部と、
      前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第2のスイッチング素子を含む、前記第1ノードを放電するための第1の第1ノード放電部と、
      前記第2のスイッチング素子の第1電極に接続された第2ノードを前記第3のクロック信号に基づいて充電するための第2ノード充電部と、
      前記第4のクロック信号に基づいて前記第2ノードを放電するための第1の第2ノード放電部と
    を有し、
     前記4相のクロック信号についてのハイレベルの電位とローレベルの電位とを繰り返す周期に対するハイレベルの電位が維持される期間の割合であるデューティ比は2分の1にされ、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号と前記第4のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも進められていることを特徴とする、表示装置。
  18.  前記表示装置は、前記表示部と前記走査信号線駆動回路とが同一の基板上に形成されたドライバモノリシック型であることを特徴とする、請求項17に記載の表示装置。
  19.  第1の状態と第2の状態とを有し互いに直列に接続された複数の双安定回路を含み、外部から入力され各双安定回路に第1,第2,第3,および第4のクロック信号として与えられる4相のクロック信号であってハイレベルの電位とローレベルの電位とを周期的に繰り返す前記4相のクロック信号に基づいて前記複数の双安定回路を順次に第1の状態とする、表示装置の表示部に配設された複数の走査信号線を駆動するためのシフトレジスタであって、
     各双安定回路は、
      第2電極に前記第1のクロック信号が与えられ、前記第1の状態または前記第2の状態のいずれかの状態を表すべき状態信号を出力するためのノードであって前記走査信号線に接続されたノードである出力ノードに第3電極が接続された第1のスイッチング素子を含む、前記状態信号の表す状態を前記第1の状態にするための出力ノード充電部と、
      前記状態信号の表す状態を前記第2の状態にするための出力ノード放電部と、
      前記第1のスイッチング素子の第1電極に接続された第1ノードを所定のセット信号に基づいて充電するための第1ノード充電部と、
      前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第2のスイッチング素子を含む、前記第1ノードを放電するための第1の第1ノード放電部と、
      前記第2のスイッチング素子の第1電極に接続された第2ノードを前記第3のクロック信号に基づいて充電するための第2ノード充電部と、
      前記第4のクロック信号に基づいて前記第2ノードを放電するための第1の第2ノード放電部と
    を有し、
     前記4相のクロック信号についてのハイレベルの電位とローレベルの電位とを繰り返す周期に対するハイレベルの電位が維持される期間の割合であるデューティ比は2分の1にされ、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号と前記第4のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも進められていることを特徴とする、シフトレジスタ。
  20.  第1の状態と第2の状態とを有し互いに直列に接続された複数の双安定回路を含み、外部から入力され各双安定回路に第1,第2,第3,および第4のクロック信号として与えられる4相のクロック信号であってハイレベルの電位とローレベルの電位とを周期的に繰り返す前記4相のクロック信号に基づいて前記複数の双安定回路を順次に第1の状態とする、表示装置の表示部に配設された複数の走査信号線を駆動するためのシフトレジスタの駆動方法であって、
     各双安定回路を前記第2の状態から前記第1の状態に変化させ所定期間だけ前記第1の状態で維持した後に前記第2の状態に変化させる第1駆動ステップと、
     各双安定回路を前記第2の状態で維持する第2駆動ステップと
    を含み、
     各双安定回路は、
      前記第1の状態または前記第2の状態のいずれかの状態を表すべき状態信号を出力するためのノードであって前記走査信号線に接続されたノードである出力ノードと、
      第2電極に前記第1のクロック信号が与えられ、前記出力ノードに第3電極が接続された第1のスイッチング素子と、
      前記第1のスイッチング素子の第1電極に接続された第1ノードと、
      前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第2のスイッチング素子と、
      前記第2のスイッチング素子の第1電極に接続された第2ノードと
    を有し、
     前記第1駆動ステップは、
      各双安定回路に所定のセット信号を与えることによって前記第1ノードを充電する第1ノード充電ステップと、
      前記第1のクロック信号の電位をローレベルからハイレベルに変化させることによって、前記状態信号の表す状態を前記第2の状態から前記第1の状態に変化させる出力ノード充電ステップと、
      各双安定回路に所定のリセット信号を与えることによって、前記状態信号の表す状態を前記第1の状態から前記第2の状態に変化させる第1の出力ノード放電ステップと
    を含み、
     前記第2駆動ステップは、
      前記第3のクロック信号の電位をローレベルからハイレベルに変化させることによって前記第2ノードを充電する第2ノード充電ステップと、
      前記第4のクロック信号の電位をローレベルからハイレベルに変化させることによって前記第2ノードを放電する第1の第2ノード放電ステップと
    を含み、
     前記4相のクロック信号についてのハイレベルの電位とローレベルの電位とを繰り返す周期に対するハイレベルの電位が維持される期間の割合であるデューティ比は2分の1にされ、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号と前記第4のクロック信号とは位相が180度ずらされ、前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも進められていることを特徴とする、駆動方法。
  21.  各双安定回路は、
      第1電極および第2電極に前記第3のクロック信号が与えられ、前記第2ノードに第3電極が接続された第3のスイッチング素子と、
      第1電極に前記第4のクロック信号が与えられ、前記第2ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第4のスイッチング素子と、
      第1電極および第3電極に前記セット信号が与えられ、前記第1ノードに第2電極が接続された第5のスイッチング素子と
    を更に有し、
     前記第2ノード充電ステップでは、前記第3のクロック信号に基づき前記第3のスイッチング素子がオン状態とされることによって前記第2ノードが充電され、
     前記第1の第2ノード放電ステップでは、前記第4のクロック信号に基づき前記第4のスイッチング素子がオン状態とされることによって前記第2ノードが放電され、
     前記第1ノード充電ステップでは、前記セット信号に基づき前記第5のスイッチング素子がオン状態とされることによって前記第1ノードが充電されることを特徴とする、請求項20に記載の駆動方法。
  22.  前記第1駆動ステップは、
      前記第1ノードの充電電圧に基づいて前記第2ノードを放電する第2の第2ノード放電ステップと、
      前記リセット信号に基づいて前記第1ノードを放電する第2の第1ノード放電ステップと
    を更に含み、
     各双安定回路は、
      前記第1ノードに第1電極が接続され、前記第2ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第6のスイッチング素子と、
      第1電極に前記リセット信号が与えられ、前記第1ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第7のスイッチング素子と
    を更に有し、
      前記第2の第2ノード放電ステップでは、前記第1ノードの充電電圧に基づき前記第6のスイッチング素子がオン状態とされることによって前記第2ノードが放電され、
      前記第2の第1ノード放電ステップでは、前記リセット信号に基づき前記第7のスイッチング素子がオン状態とされることによって前記第1ノードが放電されることを特徴とする、請求項20に記載の駆動方法。
  23.  前記4相のクロック信号は、各双安定回路に前記第1および第2のクロック信号として与えられる2相のクロック信号からなる第1クロック信号群と、各双安定回路に前記第3および第4のクロック信号として与えられる2相のクロック信号からなる第2クロック信号群とによって構成され、
     互いに隣接する2つの双安定回路を第1および第2の双安定回路としたときに、
      前記第1の双安定回路には、前記第1クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第2クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第2クロック信号群に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第2の双安定回路から出力される状態信号が前記リセット信号として与えられ、
      前記第2の双安定回路には、前記第1の双安定回路に前記第2のクロック信号として与えられた信号が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第1のクロック信号として与えられた信号が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第4のクロック信号として与えられた信号が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第3のクロック信号として与えられた信号が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路から出力される状態信号が前記セット信号として与えられることを特徴とする、請求項20に記載の駆動方法。
  24.  前記4相のクロック信号は、互いに位相が180度ずれた2相のクロック信号を同じ組とする第1組クロック信号および第2組クロック信号によって構成され、
     前記複数の双安定回路のうちの或る双安定回路の前段の双安定回路を第1の双安定回路とし、当該或る双安定回路の次段の双安定回路を第2の双安定回路としたときに、
      前記第1の双安定回路には、前記第1組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第2組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの一方が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第2組クロック信号に含まれる2相のクロック信号のうちの他方が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第2の双安定回路から出力される状態信号が前記リセット信号として与えられ、
      前記第2の双安定回路には、前記第1の双安定回路に前記第2のクロック信号として与えられた信号が前記第1のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第1のクロック信号として与えられた信号が前記第2のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第4のクロック信号として与えられた信号が前記第3のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路に前記第3のクロック信号として与えられた信号が前記第4のクロック信号として与えられ、前記第1の双安定回路から出力される状態信号が前記セット信号として与えられることを特徴とする、請求項20に記載の駆動方法。
  25.  前記第3のクロック信号の位相は前記第1のクロック信号の位相よりも90度進められていることを特徴とする、請求項20に記載の駆動方法。
  26.  各双安定回路は、
      第1電極に前記リセット信号が与えられ、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第8のスイッチング素子と、
      第1電極に前記第2のクロック信号が与えられ、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第9のスイッチング素子と
    を更に有し、
     前記第1駆動ステップおよび前記第2駆動ステップは、前記第9のスイッチング素子に前記第2のクロック信号を与えることによって、前記状態信号の表す状態を前記第2の状態で維持する第2の出力ノード放電ステップを更に含み、
     前記第1の出力ノード放電ステップでは、前記リセット信号に基づき前記第8のスイッチング素子がオン状態とされることによって、前記状態信号の表す状態が前記第1の状態から前記第2の状態に変化し、
     前記第2の出力ノード放電ステップでは、前記第2のクロック信号に基づき前記第9のスイッチング素子がオン状態とされることによって、前記状態信号の表す状態が前記第2の状態で維持されることを特徴とする、請求項20に記載の駆動方法。
  27.  各双安定回路は、前記第2ノードに第1電極に接続され、前記出力ノードに第2電極が接続され、第3電極に所定の低電位が与えられる第10のスイッチング素子を更に有し、
     前記第1駆動ステップおよび前記第2駆動ステップは、前記第2ノードの充電電圧に基づき、前記状態信号の表す状態を前記第2の状態で維持する第3の出力ノード放電ステップを更に含み、
     前記第3の出力ノード充電ステップでは、前記第2ノードの充電電圧に基づき前記第10のスイッチング素子がオン状態とされることによって、前記状態信号の表す状態が前記第2の状態で維持されることを特徴とする、請求項26に記載の駆動方法。
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