WO2010061857A1 - コンタクトプローブ、プローブユニットおよびプローブユニットの組立方法 - Google Patents

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WO2010061857A1
WO2010061857A1 PCT/JP2009/069883 JP2009069883W WO2010061857A1 WO 2010061857 A1 WO2010061857 A1 WO 2010061857A1 JP 2009069883 W JP2009069883 W JP 2009069883W WO 2010061857 A1 WO2010061857 A1 WO 2010061857A1
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WO
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contact
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probe
width
arm
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PCT/JP2009/069883
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浩嗣 石川
潤 冨永
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日本発條株式会社
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    • G01R1/067Measuring probes
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    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07357Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with flexible bodies, e.g. buckling beams

Definitions

  • the present invention relates to a contact probe, a probe unit, and a probe unit for transmitting and receiving an electrical signal in contact with an electrode or terminal of an electronic component when conducting a conduction state inspection or an operation characteristic inspection in an electronic component such as a semiconductor integrated circuit or a liquid crystal panel.
  • the present invention relates to a method for assembling a probe unit.
  • an electrical connection is made between the inspection target and a signal processing device that outputs an inspection signal.
  • a probe unit that accommodates a plurality of conductive contact probes is used.
  • the probe unit can be applied to highly integrated and miniaturized inspection objects by narrowing the pitch between contact probes with the progress of high integration and miniaturization of semiconductor integrated circuits and liquid crystal panels in recent years. Possible technologies are progressing.
  • Wire-type contact probes can be easily reduced in diameter compared to pin-type contact probes using springs.
  • the direction of bending is not uniform when a load is applied from the outside, adjacent contact probes May come into contact with each other or the contact with the contacted object may vary. For this reason, in the wire-type contact probe, various contrivances are made for uniformly aligning the direction of bending due to the load (see, for example, Patent Documents 1 to 4).
  • Patent Documents 1 and 2 disclose a technique for making a probe into a curved shape.
  • Patent Document 3 discloses a technique for making the shape of the probe bent into a dogleg shape.
  • Patent Document 4 both ends of a linear contact probe are inserted into through holes of two different plates, respectively, and then one plate is shifted in a direction perpendicular to the extending direction of the contact probe.
  • a technique for aligning the deflection direction of the contact probe by forcibly applying initial deflection to the contact is disclosed.
  • Patent Documents 1 to 3 described above have a problem that it takes time to attach the contact probe to the probe holder because the contact probe is bent or bent from the beginning.
  • the present invention has been made in view of the above, and can control the direction in which bending occurs due to a load from the outside, can be easily assembled when unitized, and after being unitized
  • An object of the present invention is to provide a contact probe, a probe unit, and a method for assembling the probe unit that can efficiently perform maintenance.
  • a contact probe according to the present invention is in contact with two different circuit structures at both ends, and electrically connects the two circuit structures.
  • a first contact portion having a columnar shape with one end sharpened, and a substantially columnar shape extending from the other end of the first contact portion along the longitudinal direction of the first contact portion, and a direction orthogonal to the extending direction. While the width in at least one of the directions changes along the extending direction, the width in the direction perpendicular to the one direction is constant along the extending direction, and elastic buckling occurs due to an external load.
  • a second contact portion that protrudes in a direction to be sharpened and has a sharpened tip, and passes through a sharpened end of the first contact portion and is parallel to the extending direction, and the elastic seat in the one direction.
  • the width of the bent portion is different from a plane parallel to the extending direction through the midpoint of the width having the largest difference from the maximum width of the first contact portion in the direction.
  • the contact probe according to the present invention is characterized in that, in the above-mentioned invention, the elastic buckling portion has a width smaller than the maximum width of the first contact portion in the one direction everywhere.
  • the elastic buckling portion may have a shape in which a cross section including the width in the one direction is recessed on the side where the arm portion extends.
  • the contact probe according to the present invention is characterized in that, in the above-mentioned invention, the elastic buckling portion has a width larger than the maximum width of the first contact portion in the one direction everywhere.
  • the elastic buckling portion has a shape in which a cross section including a width in the one direction protrudes on a side where the arm portion extends.
  • the second contact portion is provided near a terminal end of the arm portion when a boundary between the arm portion and the connection portion is a starting end.
  • the second contact portion is provided near a terminal end of the arm portion when a boundary between the arm portion and the connection portion is a starting end, and the arm portion Is formed in a taper shape in which the end surface closest to the sharpened one end of the first contact portion is cut out near the terminal end, and the elastic buckling portion has a cross section including a width in the one direction, It is characterized by having a hollow shape on the side where the part extends.
  • a probe unit includes a plurality of contact probes according to any one of the above inventions, and a first holder having a plurality of first holding holes, each of which is inserted through the connecting portion and accommodates the arm portion. , Each having a second holder having a plurality of second holding holes through which the first contact portion is inserted.
  • the first holder is a large-diameter holder in which the large-diameter portion is formed, and a small-diameter holder in which the small-diameter portion is formed by being stacked on the large-diameter holder. It is characterized by having.
  • the probe unit assembly method according to the present invention is a probe unit assembly method according to the above invention, wherein the first and second holders are connected so that the first and second holding holes corresponding to each other communicate with each other.
  • a holder stacking step for stacking, and the contact probe starting from the first contact portion from each opening surface of the plurality of first holding holes of the first holder stacked on the second holder in the holder stacking step A contact probe penetrating step for inserting and penetrating the first and second holding holes and accommodating the arm portion in the first holding hole; and the contact probe penetrating step for penetrating the plurality of contact probes, respectively.
  • the first holder and the second holder are separated from each other, and the first and second holders are aligned with each other and fixed to a predetermined holder fixing member. And having a dust position fixing step.
  • the width in a predetermined direction of the elastic buckling portion elastically buckled by an external load is changed along the longitudinal direction of the elastic buckling portion, and the first contact is performed along the longitudinal direction of the elastic buckling portion.
  • the plane that passes through the load application point of the part is offset so that it does not pass through the midpoint of the width at the location where the change in the width of the elastic buckling part in the predetermined direction is large. It can be bent along the changing direction.
  • an arm portion extending in a plate shape in a direction orthogonal to the columnar portion including the elastic buckling portion is provided, a horizontally long holding hole is formed on the holder side to accommodate the arm portion.
  • the alignment direction of the contact probes can be easily aligned, and the contact probe can be easily attached to the probe holder.
  • the removal is easy. Therefore, it is possible to control the direction in which the deflection is caused by the load from the outside, and it is possible to easily perform assembly when unitizing, and to efficiently perform maintenance after unitization.
  • FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a probe unit according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a perspective view showing the configuration of the contact probe according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing the configuration of the main part of the probe unit according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 4 is a plan view showing the configuration of the upper surface of the probe holder.
  • FIG. 5 is a diagram showing a state at the time of inspection of the main part of the probe unit according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 6 is a diagram showing the load deflection characteristics of the contact probe according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a probe unit according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a perspective view showing the configuration of the contact probe according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 3 is
  • FIG. 7 is a diagram showing an outline of the process of inserting the probe into the probe holder stack in the probe unit assembling method according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a diagram showing a state in which the probe is inserted into the stack of probe holders in the probe unit assembling method according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 9 is a diagram showing an outline of a process of separating the first holder and the second holder in the probe unit assembling method according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a diagram showing a configuration of a contact probe according to a first modification of the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 11 is a diagram showing a configuration of a contact probe according to a second modification of the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 12 is a diagram showing a configuration of a contact probe according to a third modification of the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 13 is a diagram showing a configuration of a contact probe according to Embodiment 2 of the present invention.
  • FIG. 14 is a diagram showing a state at the time of inspection of the main part of the probe unit according to Embodiment 2 of the present invention.
  • FIG. 15 is a diagram showing a configuration of a main part of a probe holder that forms a part of a probe unit according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a probe unit according to Embodiment 1 of the present invention.
  • the probe unit 1 shown in the figure performs a continuity test for inspecting the presence or absence of a short circuit or disconnection in a wiring pattern to be inspected such as a semiconductor integrated circuit or a liquid crystal panel, and an operation characteristic inspection when a signal is input to the inspection target.
  • This is an apparatus for electrical connection between an inspection object and a signal processing apparatus that generates and outputs an inspection signal.
  • the probe unit 1 accommodates a plurality of conductive contact probes 2 that contact at both ends with electrodes or terminals provided on the inspection object side and the signal processing device side, respectively, and a plurality of contact probes 2.
  • maintain is provided.
  • FIG. 2 is a perspective view showing the configuration of the contact probe 2.
  • FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing configurations of main parts of the contact probe 2 and the probe holder 3.
  • the contact probe 2 has a first contact portion 21 having a prismatic shape with one end sharpened, and a substantially prismatic shape along the z-axis direction that is the longitudinal direction of the first contact portion 21 from the other end of the first contact portion 21.
  • the width in the x-axis direction which is at least one of the directions orthogonal to the z-axis direction that extends, changes along the z-axis direction, while the width in the y-axis direction that is orthogonal to the x-axis direction.
  • the width is constant along the extending direction, and is an elastic buckling portion 22 that is elastically buckled by a load from the outside, and an end portion in the z-axis direction in which the elastic buckling portion 22 extends to the first contact portion 21.
  • a connecting portion 23 extending in a prismatic shape along the z-axis direction from an end portion different from the continuous end portion, an arm portion 24 extending in a plate shape from the connecting portion 23 along the x-axis direction, and an arm portion 24
  • the farthest end of the first contact portion 21 with respect to the sharpened one end Protrudes from the end surface to a direction perpendicular to the end face, a second contact portion 25 which the tip is sharpened comprises a has a substantially L-shaped external shape.
  • the elastic buckling portion 22 has a shape in which the cross section including the width in the x-axis direction is recessed in an arc shape on the side where the arm portion 24 extends. As shown in FIG. 3, the smallest width of the elastic buckling portion 22 in the x-axis direction (the width having the largest difference from the maximum width R of the columnar portion of the first contact portion 21 in the x-axis direction).
  • the plane P 1 passing through the middle point M and parallel to the z axis is different from the plane P 2 passing through the sharpened tip T of the first contact portion 21 and parallel to the z axis, and the plane P 1 is It is located farther from the arm portion 24 than the plane P 2 .
  • the contact probe 2 having the above configuration is formed by electroforming nickel alloy. Note that when the contact probe 2 is formed, it may be formed by etching, pressing, or a combination thereof. Alternatively, the contact probe 2 may be formed using copper, iron (stainless steel), tungsten, a beryllium-based alloy, or the like.
  • the plate width of the contact probe 2 is about 50 ⁇ m.
  • the length of the contact probe 2 in the longitudinal direction is about 5 mm.
  • the width of the arm portion 24 and the width in the direction parallel to the longitudinal direction of the elastic buckling portion 22 is about 200 ⁇ m.
  • the protruding position of the second contact portion 25 is provided in the vicinity of the terminal end of the arm portion 24 when the boundary between the arm portion 24 and the connection portion 23 is the starting end.
  • the protruding position of the second contact portion 25 is not limited to this, and can be arbitrarily set as long as it is the upper end surface of the arm portion 24.
  • the probe holder 3 is provided with a plate-like first holder 31 that passes through the connection portion 23 of the contact probe 2 and holds the arm portion 24, and is spaced apart from the first holder 31, and the first contact portion of the contact probe 2.
  • Plate-like 2nd holder 32 holding 21, and two holder fixing members 33 and 34 which pinch and fix the 1st holder 31 and the 2nd holder 32, respectively.
  • the first holder 31 and the second holder 32 are parallel.
  • FIG. 4 is a plan view of the probe holder 3 as viewed from above the first holder 31.
  • Each of the first holders 31 has an L-shaped cross section, and has a plurality of first holding holes 311 that pass through the connection portion 23 and accommodate the arm portion 24.
  • the first holding hole 311 has an L-shaped cross section, and has a large-diameter portion 311 a that mounts and accommodates the arm portion 24, and a small-diameter portion 311 b that passes through the connection portion 23.
  • the through hole that becomes the small diameter portion 311 b is formed by drilling or the like, and then the large diameter portion 311 a is formed by performing counterboring according to the shape of the arm portion 24.
  • the plurality of first holding holes 311 are arranged in rows along the short direction in such a manner that the longitudinal directions of the large diameter portions 311a are parallel to each other.
  • the pitch of the first holding holes 311 is about 50 to 150 ⁇ m.
  • the second holder 32 has a plurality of second holding holes 321 each having a columnar shape through which the first contact portion 21 is inserted.
  • the diameter of the second holding hole 321 is equal to the diameter of the small diameter portion 311 b of the first holding hole 311.
  • the plurality of second holding holes 321 are formed in a line so as to correspond to the positions of the small diameter portions 311 b of the plurality of first holding holes 311. In this way, the plurality of first holding holes 311 (the small-diameter portion 311b) communicate with any one of the plurality of second holding holes 321 in the vertical direction.
  • a set of holding holes 321 holds the contact probe 2.
  • the holder fixing members 33 and 34 sandwich the end surfaces of the first holder 31 and the second holder 32 in a direction orthogonal to the direction in which the first holding holes 311 and the second holding holes 321 are arranged in a row.
  • the supported end face is fixed and supported.
  • the probe holder 3 having the above configuration is formed using an insulating material such as ceramics such as alumina (Al 2 O 3 ) or silicon nitride (Si 3 N 4 ), or a plastic resin.
  • insulating material such as ceramics such as alumina (Al 2 O 3 ) or silicon nitride (Si 3 N 4 ), or a plastic resin.
  • the arrangement pattern of the contact probe 2 shown in FIGS. 1 and 4 is merely an example. That is, the wiring pattern of the probe holder 3 is determined according to the wiring pattern of the electrode or terminal to be inspected, and the design can be changed as appropriate.
  • FIG. 5 is a diagram showing a state at the time of inspection using the probe unit 1 having the above configuration.
  • the first contact portion 21 is in contact with the electrode 101 of the semiconductor integrated circuit 100
  • the second contact portion 25 is in contact with the electrode 201 of the wiring board 200 that establishes electrical connection with the signal processing circuit.
  • the wiring substrate 200 has a large number of wirings and connection electrodes made of nickel or the like formed on one surface of a sheet-like base material made of polyimide or the like.
  • the wiring board 200 is positioned so as to be in contact with the second contact portion 25, and is then sandwiched between the fixing member 300 made of the same material as the probe holder 3 and the first holder 31, and is fixed by screwing or the like. In addition, you may make it provide a spacer suitably between the wiring board 200 and the 1st holder 31.
  • the elastic buckling portion 22 has a plane P 1 parallel to the z-axis direction and passing through the midpoint M of the minimum width in the x-axis direction in the x-axis direction at the tip (load application point) T of the first contact portion 21. Since it is located farther from the arm portion 24 than the plane P 2 that passes through the center, elastic buckling occurs due to the load received by the first contact portion 21, and it is deformed into a shape that is further recessed in the negative x-axis direction. Yes. Thus, since the contact probe 2 has a property of bending only in one direction (the x-axis direction in FIG. 5), it is easy to align the bending directions of the plurality of contact probes 2.
  • the elastic buckling portion 22 As the elastic buckling portion 22 is deformed in response to an external load, the first contact portion 21 slides the electrode 101 of the semiconductor integrated circuit 100 in the x-axis direction. Therefore, when the electrode 101 is covered with an oxide film or dirt is attached to the surface of the electrode 101, the oxide film or dirt can be scraped off.
  • FIG. 6 is a diagram schematically showing the load-deflection characteristics due to the elastic buckling deformation of the contact probe 2.
  • the load-deflection characteristic of the contact probe 2 has non-linearity, and the change in load decreases as the deflection increases.
  • the contact probe 2 is adjusted so that the inspection can be performed in the region S where the load does not change greatly regardless of the deflection. Specifically, for example, it is adjusted so as to generate a stroke of about 500 ⁇ m with respect to a load of 5 g.
  • the first holder 31 and the second holder 32 are laminated in the thickness direction so that the first holding hole 311 and the second holding hole 321 corresponding to each other communicate with each other.
  • the contact probe 2 is inserted from each opening surface of the plurality of first holding holes 321 with the first contact portion 21 at the head to penetrate the first holding hole 311 and the second holding hole 321, and the arm portion 24 has a large diameter. It is embedded in the part 311a.
  • the contact probe 2 passes through the first holding hole 311 and the second holding hole 321, and the arm part 24 is placed on the large diameter part 311a.
  • the second holder 32 is separated from the first holder 31. Thereafter, the first holder 31 and the second holder 32 are aligned with each other and fixed by the holder fixing members 33 and 34, whereby the probe unit 1 is completed.
  • FIG. 9 shows the case where the second holder 32 is moved, the first holder 31 may be moved away from the second holder 32.
  • the width in a predetermined direction of the elastic buckling portion 22 elastically buckled by an external load is changed along the longitudinal direction of the elastic buckling portion 22, thereby elastic buckling. Offset so that the plane passing through the load application point T of the first contact portion 21 along the longitudinal direction of the portion 22 does not pass through the midpoint M of the width at the location where the change in the width in the predetermined direction of the elastic buckling portion 22 is large. Therefore, when a load is applied from the outside, it can be bent along the direction in which the width changes.
  • an arm portion 24 extending in a plate shape in a direction orthogonal to the columnar portion including the elastic buckling portion 22 is provided, a horizontally long first holding is provided on the probe holder 3 side to accommodate the arm portion 24.
  • the holes 311 are formed, so that the alignment direction of the contact probes 2 can be easily aligned and the attachment of the contact probes 2 to the probe holder 3 is facilitated.
  • the removal is also easy. Therefore, it is possible to control the direction in which the deflection is caused by the load from the outside, and it is possible to easily perform assembly when unitizing, and to efficiently perform maintenance after unitization.
  • a contact probe having a desired load-deflection characteristic can be realized by adjusting the shape and width of the elastic buckling portion 22 and the shape of the arm portion 24. Can do.
  • FIG. 10 is a diagram showing the configuration of the contact probe according to the first modification of the first embodiment.
  • the contact probe 4 shown in the figure includes a first contact part 41, an elastic buckling part 42, a connection part 43, an arm part 44, and a second contact part 45.
  • the elastic buckling portion 42 is recessed on the side where the arm portion 44 extends in the x-axis direction, and has a uniform width in the vicinity of the central portion where the width decreases in the x-axis direction.
  • the configuration of the contact probe 4 excluding the elastic buckling portion 42 described here is the same as the configuration of the contact probe 2.
  • the plane P 3 that passes through the middle point M 1 of the smallest width of the elastic buckling portion 42 in the x-axis direction and is parallel to the z-axis is a sharpened tip of the first contact portion 41.
  • the plane P 3 is different from the plane P 4 passing through T 1 and parallel to the z axis, and the plane P 3 is located farther from the arm portion 44 than the plane P 4 .
  • FIG. 11 is a diagram illustrating a configuration of a contact probe according to a second modification of the first embodiment.
  • the contact probe 5 shown in the figure includes a first contact part 51, an elastic buckling part 52, a connection part 53, an arm part 54, and a second contact part 55.
  • the elastic buckling portion 52 has an arcuate recess on the side opposite to the side on which the arm portion 54 extends in the x-axis direction. Therefore, in the case of the contact probe 5, when a load is applied from the outside, the central portion in the longitudinal direction of the elastic buckling portion 52 is bent in the positive x-axis direction in FIG.
  • the configuration of the contact probe 5 excluding the elastic buckling portion 52 described here is the same as the configuration of the contact probe 2.
  • a plane P 5 that passes through the middle point M 2 of the smallest width of the elastic buckling portion 52 in the x-axis direction and is parallel to the z-axis is sharpened by the first contact portion 51.
  • the plane P 5 is located farther from the arm portion 54 than the plane P 6 .
  • FIG. 12 is a diagram showing a configuration of a contact probe according to a third modification of the present embodiment.
  • the contact probe 6 shown in the figure includes a first contact part 61, an elastic buckling part 62, a connection part 63, an arm part 64, and a second contact part 65.
  • the elastic buckling portion 62 protrudes from the side where the arm portion 64 extends in the x-axis direction, and the width of the central portion in the longitudinal direction is larger than the maximum width of the first contact portion 61.
  • a plane P 7 that passes through the middle point M 3 of the largest width of the elastic buckling portion 62 in the x-axis direction and is parallel to the z-axis is a sharpened tip T 3 of the first contact portion 61.
  • the plane P 7 is different from the plane P 8 that passes through and parallel to the z axis, and the plane P 7 is located closer to the arm portion 24 than the plane P 8 . Therefore, when a load is applied to the contact probe 6 from the outside, the elastic buckling portion 62 bends in the positive x-axis direction.
  • the diameter of the first holding hole 351 of the first holder 35 of the probe holder 3a and the diameter of the second holding hole 361 of the second holder 36 are larger than the maximum diameter of the elastic buckling portion 62. .
  • the direction in which bending is caused by an external load can be controlled. Assembling can be performed easily, and maintenance after unitization can be performed efficiently.
  • FIG. 13 is a diagram showing a configuration of a contact probe according to Embodiment 2 of the present invention.
  • the contact probe 7 shown in the figure includes a first contact portion 71, an elastic buckling portion 72, a connection portion 73, an arm portion 74, and a second contact portion 75, and has a substantially L-shaped appearance.
  • the configuration of the contact probe 7 excluding the arm portion 74 is the same as that of the contact probe 2 described in the first embodiment.
  • the arm portion 74 has a slope portion 74a in which the end surface closest to the tip of the first contact portion 71, that is, the bottom surface of FIG. I am doing.
  • the second contact portion 75 is provided at the end of the upper end surface of the arm portion 74 (the end surface farthest from the tip of the first contact portion 71).
  • a plane P 9 that passes through the middle point M 4 of the smallest width of the elastic buckling portion 72 in the x-axis direction and is parallel to the z-axis is sharpened by the first contact portion 71.
  • the plane P 9 is different from the plane P 10 passing through the tip T 4 and parallel to the z axis, and the plane P 9 is located farther from the arm portion 74 than the plane P 10 .
  • FIG. 14 is a diagram showing a state at the time of inspection using the contact probe 7 having the above configuration.
  • the elastic buckling portion 72 is deformed by receiving a load from the wiring substrate 200 in addition to a load from the semiconductor integrated circuit 100. Specifically, when a load due to the contact with the electrode 201 of the wiring board 200 is applied to the second contact portion 75, the arm portion 74 rotates clockwise in FIG. 14, and the bottom surface of the slope portion 74a is the large diameter portion 311a. Approach the bottom. For this reason, the elastic buckling portion 72 is elastically buckled by the load received by the first contact portion 71 and the second contact portion 75, and is deformed into a shape further recessed in the negative x-axis direction.
  • the contact probe 7 not only receives the load received by the first contact portion 71 but also causes elastic buckling deformation due to the load received by the second contact portion 75. Therefore, the contact probe 7 receives the same load as that of the first embodiment described above. When added, a larger elastic buckling deformation will occur.
  • the arm portion 74 since the arm portion 74 has a tapered shape, a moment is generated when the second contact portion 75 receives a load from the outside, and the elastic buckling portion 72 is generated. Can be deformed. Therefore, in addition to the same effects as those in the first embodiment, the stroke when a load is applied can be further increased.
  • the shape of the elastic buckling portion can be changed as appropriate.
  • FIG. 15 is a diagram showing a configuration of a main part of a probe holder constituting a probe unit according to another embodiment of the present invention.
  • the probe holder 8 shown in the figure is provided with a plate-shaped first holder 81 that passes through the connection portion 23 of the contact probe 2 and holds the arm portion 24, and is separated from the first holder 81.
  • a plate-like second holder 82 that holds the first contact portion 21.
  • the first holder 81 and the second holder 82 are fixed by two holder fixing members 33 and 34 (see FIG. 1).
  • the first holder 81 is formed by laminating a third holder 83 and a fourth holder 84 each having a plate shape in the thickness direction.
  • the first holder 81 has an L-shaped cross-sectional shape, and has a first holding hole 811 that passes through the connection portion 23 of the contact probe 2 and accommodates the arm portion 24 thereof.
  • Each of the first holding holes 811 penetrates in the thickness direction of the third holder 83, and has a plurality of large-diameter portions 831 that accommodate the arm portions 24, and each penetrates in the thickness direction of the fourth holder 84.
  • the plurality of first holding holes 811 are formed in a row like the plurality of first holding holes 311 (see FIG. 4).
  • the second holder 82 has a plurality of second holding holes 821 each having a columnar shape through which the first contact portion 21 is inserted.
  • the diameter of the second holding hole 821 is equal to the diameter of the small diameter portion 841.
  • the plurality of second holding holes 821 are formed in a line so as to correspond to the positions of the plurality of small diameter portions 841.
  • the probe holder 8 having the above configuration is applied, the same effect as described above can be obtained.
  • the first holding hole 811 having an L-shaped cross section is configured by two straight holes (a large diameter portion 831 and a small diameter portion 841), the hole processing is facilitated.
  • the present invention can include various embodiments and the like not described herein, and various design changes and the like can be made without departing from the technical idea specified by the claims. It is possible to apply.
  • the present invention is useful when conducting a conduction state inspection and an operation characteristic inspection in an electronic component such as a semiconductor integrated circuit or a liquid crystal panel.

Abstract

 外部からの荷重によって撓みを生じる方向を制御し、ユニット化する際の組立を容易に行い、ユニット化した後のメインテナンスを効率よく行うことを可能にする。外部からの荷重によって弾性座屈する弾性座屈部22の所定方向における幅を弾性座屈部22の長手方向に沿って変化させ、弾性座屈部22の長手方向に沿って第1接触部21の荷重作用点Tを通過する平面が弾性座屈部22の所定方向における幅の変化が大きい箇所における幅の中点Mを通過しないようにオフセットしている。また、弾性座屈部22を含む柱状部分と直交する方向へ板状に延びた腕部24を設ける。

Description

コンタクトプローブ、プローブユニットおよびプローブユニットの組立方法
 本発明は、半導体集積回路や液晶パネルなどの電子部品における導通状態検査や動作特性検査を行う際に、その電子部品の電極や端子に接触して電気信号の送受信を行うコンタクトプローブ、プローブユニットおよびプローブユニットの組立方法に関する。
 従来、半導体集積回路や液晶パネルなどの検査対象の導通状態検査や動作特性検査を行う際には、検査対象と検査用信号を出力する信号処理装置との間の電気的な接続を図るために、導電性のコンタクトプローブを複数収容するプローブユニットが用いられる。プローブユニットにおいては、近年の半導体集積回路や液晶パネルの高集積化、微細化の進展に伴い、コンタクトプローブ間のピッチを狭小化することにより、高集積化、微細化された検査対象にも適用可能な技術が進歩してきている。
 コンタクトプローブ間のピッチを狭小化する技術として、例えば外部からの荷重に応じて屈曲可能な弾性を備えたワイヤー型のコンタクトプローブに関する技術が知られている。ワイヤー型のコンタクトプローブは、バネを用いたピン型のコンタクトプローブと比較して細径化が容易であるが、外部から荷重が加わった時に撓む方向が揃っていないと、隣接するコンタクトプローブ同士が接触したり被接触体との接触にバラツキが生じたりしてしまう恐れがある。このため、ワイヤー型のコンタクトプローブにおいては、荷重によって撓む方向を一様に揃えるための様々な工夫が施されている(例えば、特許文献1~4を参照)。
 このうち、特許文献1、2では、プローブの形状を湾曲した形状とする技術が開示されている。また、特許文献3では、プローブの形状をくの字状に屈曲した形状とする技術が開示されている。また、特許文献4では、直線状のコンタクトプローブの両端部を異なる2つのプレートの貫通孔へそれぞれ挿通した後、一方のプレートをコンタクトプローブの延在方向と直交する方向にシフトし、コンタクトプローブに対して初期撓みを強制的に加えることによってコンタクトプローブの撓み方向を揃える技術が開示されている。
特開昭52-155388号公報 特開2007-113972号公報 特開平8-304460号公報 特開2001-50982号公報
 しかしながら、上述した特許文献1~3に記載の従来技術では、コンタクトプローブが初めから湾曲または屈曲しているため、コンタクトプローブをプローブホルダへ取り付けるのに手間がかかるという問題があった。加えて、コンタクトプローブを交換するリペア作業を行うのも容易ではなく、メインテナンスを効率よく行うことができなかった。
 また、上述した特許文献4に記載の従来技術では、コンタクトプローブに初期撓みを加える際にシフトするプレートの位置合わせを高い精度で行わなければならず、プローブユニットの組立に時間がかかるという問題があった。さらに、リペア作業を行う場合にはプローブユニットを分解しなければならないため、メインテナンスの効率が悪かった。
 本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、外部からの荷重によって撓みを生じる方向を制御することができ、ユニット化する際の組立を容易に行うことができ、ユニット化した後のメインテナンスを効率よく行うことができるコンタクトプローブ、プローブユニットおよびプローブユニットの組立方法を提供することを目的とする。
 上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係るコンタクトプローブは、両端で異なる2つの回路構造とそれぞれ接触し、該2つの回路構造を電気的に接続する導電性のコンタクトプローブにおいて、一端が先鋭化した柱状をなす第1接触部と、前記第1接触部の他端から前記第1接触部の長手方向に沿って略柱状をなして延び、この延びる方向と直交する方向のうち少なくとも一つの方向の幅は前記延びる方向に沿って変化する一方、前記一つの方向と直交する方向の幅は前記延びる方向に沿って一定であり、外部からの荷重によって弾性座屈を生じる弾性座屈部と、前記弾性座屈部が延びる方向の端部であって前記第1接触部に連なる端部とは異なる端部から前記延びる方向に沿って柱状をなして延びる接続部と、前記接続部から前記一つの方向に沿って板状をなして延びる腕部と、前記腕部の端面のうち前記第1接触部の先鋭化した一端に対して最も遠くに位置する端面から該端面と直交する方向へ突出し、先端が先鋭化した第2接触部と、を備え、前記第1接触部の先鋭化した一端を通過して前記延びる方向に平行な平面と、前記一つの方向における前記弾性座屈部の幅のうち当該方向における前記第1接触部の最大幅との差が最も大きい幅の中点を通過して前記延びる方向に平行な平面とは異なることを特徴とする。
 また、本発明に係るコンタクトプローブは、上記発明において、前記弾性座屈部は、前記一つの方向の幅がいたるところで当該方向における前記第1接触部の最大幅より小さいことを特徴とする。
 また、本発明に係るコンタクトプローブは、上記発明において、前記弾性座屈部は、前記一つの方向の幅を含む断面が、前記腕部が延びている側でくぼんだ形状をなしていることを特徴とする。
 また、本発明に係るコンタクトプローブは、上記発明において、前記弾性座屈部は、前記一つの方向の幅がいたるところで当該方向における前記第1接触部の最大幅より大きいことを特徴とする。
 また、本発明に係るコンタクトプローブは、上記発明において、前記弾性座屈部は、前記一つの方向の幅を含む断面が、前記腕部が延びている側で突出した形状をなしていることを特徴とする。
 また、本発明に係るコンタクトプローブは、上記発明において、前記第2接触部は、前記腕部における前記接続部との境界を始端とするときの前記腕部の終端付近に設けられたことを特徴とする。
 また、本発明に係るコンタクトプローブは、上記発明において、前記第2接触部は、前記腕部における前記接続部との境界を始端とするときの前記腕部の終端付近に設けられ、前記腕部は、前記終端付近で前記第1接触部の先鋭化した一端に最も近い端面が切り欠かれたテーパ状をなし、前記弾性座屈部は、前記一つの方向の幅を含む断面が、前記腕部が延びている側でくぼんだ形状をなしていることを特徴とする。
 また、本発明に係るプローブユニットは、上記いずれかの発明に係る複数のコンタクトプローブと、各々が前記接続部を挿通するとともに前記腕部を収容する複数の第1保持孔を有する第1ホルダと、各々が前記第1接触部を挿通する複数の第2保持孔を有する第2ホルダと、を備えたことを特徴とする。
 また、本発明に係るプローブユニットは、上記発明において、前記第1ホルダは、前記大径部が形成された大径ホルダと、前記大径ホルダに積層され、前記小径部が形成された小径ホルダと、を有することを特徴とする。
 また、本発明に係るプローブユニットの組立方法は、上記発明に係るプローブユニットの組立方法であって、互いに対応する前記第1および第2保持孔が連通するように前記第1および第2ホルダを積層するホルダ積層工程と、前記ホルダ積層工程で前記第2ホルダに積層された前記第1ホルダが有する前記複数の第1保持孔の各開口面から前記第1接触部を先頭に前記コンタクトプローブを挿入して前記第1および第2保持孔を貫通させ、前記腕部を前記第1保持孔に収容するコンタクトプローブ貫通工程と、前記コンタクトプローブ貫通工程で前記複数のコンタクトプローブをそれぞれ貫通させた前記第1ホルダと前記第2ホルダとを離間し、前記第1および第2ホルダの相互の位置合わせを行って所定のホルダ固定部材へ固定するホルダ位置固定工程と、を有することを特徴とする。
 本発明によれば、外部からの荷重によって弾性座屈する弾性座屈部の所定方向における幅を弾性座屈部の長手方向に沿って変化させ、弾性座屈部の長手方向に沿って第1接触部の荷重作用点を通過する平面が弾性座屈部の所定方向における幅の変化が大きい箇所における幅の中点を通過しないようにオフセットしているため、外部から荷重が加わった時、幅が変化する方向に沿って撓ませることができる。また、弾性座屈部を含む柱状部分と直交する方向へ板状に延びた腕部を設けているため、この腕部を収容するためにホルダ側には横長の保持孔が形成されることとなり、コンタクトプローブの整列方向を容易に揃えることができるとともに、コンタクトプローブのプローブホルダへの取り付けが容易となる。加えて、コンタクトプローブを取り外す際にプローブホルダを分解する必要がないため、取り外しも容易である。したがって、外部からの荷重によってたわみを生じる方向を制御することができ、ユニット化する際の組立を容易に行うことができ、ユニット化した後のメインテナンスを効率よく行うことができる。
図1は、本発明の実施の形態1に係るプローブユニットの構成を示す斜視図である。 図2は、本発明の実施の形態1に係るコンタクトプローブの構成を示す斜視図である。 図3は、図本発明の実施の形態1に係るプローブユニットの要部の構成を示す部分断面図である。 図4は、プローブホルダの上面の構成を示す平面図である。 図5は、本発明の実施の形態1に係るプローブユニットの要部の検査時の状態を示す図である。 図6は、本発明の実施の形態1に係るコンタクトプローブの荷重撓み特性を示す図である。 図7は、本発明の実施の形態1に係るプローブユニットの組立方法において、プローブをプローブホルダ積層体へ挿入する工程の概要を示す図である。 図8は、本発明の実施の形態1に係るプローブユニット組立方法において、プローブをプローブホルダの積層体へ挿入した状態を示す図である。 図9は、本発明の実施の形態1に係るプローブユニットの組立方法において、第1ホルダと第2ホルダを離間する工程の概要を示す図である。 図10は、本発明の実施の形態1の第1変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。 図11は、本発明の実施の形態1の第2変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。 図12は、本発明の実施の形態1の第3変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。 図13は、本発明の実施の形態2に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。 図14は、本発明の実施の形態2に係るプローブユニットの要部の検査時の状態を示す図である。 図15は、本発明の別な実施の形態に係るプローブユニットの一部をなすプローブホルダの要部の構成を示す図である。
 以下、添付図面を参照して本発明を実施するための最良の形態(以後、「実施の形態」と称する)を説明する。なお、図面は模式的なものであって、各部分の厚みと幅との関係、それぞれの部分の厚みの比率などは現実のものとは異なる場合もあることに留意すべきであり、図面の相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれる場合があることは勿論である。
(実施の形態1)
 図1は、本発明の実施の形態1に係るプローブユニットの構成を示す斜視図である。同図に示すプローブユニット1は、半導体集積回路や液晶パネル等の検査対象の配線パターンにおける短絡や断線の有無を検査する導通検査や検査対象に信号を入力したときの動作特性検査を行う際、検査対象と検査用の信号を生成出力する信号処理装置との電気的な接続を図る装置である。具体的には、プローブユニット1は、検査対象側および信号処理装置側にそれぞれ設けられた電極または端子と両端で接触する複数の導電性のコンタクトプローブ2と、複数のコンタクトプローブ2を収容して保持するプローブホルダ3とを備える。
 図2は、コンタクトプローブ2の構成を示す斜視図である。図3は、コンタクトプローブ2およびプローブホルダ3の要部の構成を示す部分断面図である。コンタクトプローブ2は、一端が先鋭化した角柱状をなす第1接触部21と、第1接触部21の他端から第1接触部21の長手方向であるz軸方向に沿って略角柱状をなして延び、この延びる方向であるz軸方向と直交する方向のうち少なくとも一つの方向であるx軸方向の幅はz軸方向に沿って変化する一方、x軸方向と直交するy軸方向の幅は延びる方向に沿って一定であり、外部からの荷重によって弾性座屈を生じる弾性座屈部22と、弾性座屈部22が延びるz軸方向の端部であって第1接触部21に連なる端部とは異なる端部からz軸方向に沿って角柱状をなして延びる接続部23と、接続部23からx軸方向に沿って板状をなして延びる腕部24と、腕部24の端面のうち第1接触部21の先鋭化した一端に対して最も遠くに位置する端面から該端面と直交する方向へ突出し、先端が先鋭化した第2接触部25と、を備え、略L字状の外観形状を有する。
 弾性座屈部22は、x軸方向の幅を含む断面が、腕部24が延びている側で円弧状にくぼんだ形状をなしている。また、図3に示すように、弾性座屈部22のx軸方向の幅のうち最も小さい幅(第1接触部21の柱状部分のx軸方向における最大幅Rとの差が最も大きい幅)の中点Mを通過してz軸と平行な平面P1は、第1接触部21の先鋭化した先端Tを通過してz軸と平行な平面P2と異なっており、平面P1は平面P2よりも腕部24から遠くに位置している。
 以上の構成を有するコンタクトプローブ2は、ニッケル合金の電気鋳造によって形成されている。なお、コンタクトプローブ2を形成する際には、エッチング、プレス加工およびそれらの組み合わせによって形成しても構わない。また、コンタクトプローブ2の材質として、銅、鉄(ステンレス)、タングステン、ベリリウム系の合金などを用いて形成してもよい。
 コンタクトプローブ2の板幅は50μm程度である。また、コンタクトプローブ2の長手方向の長さは、5mm程度である。また、腕部24の幅であって弾性座屈部22の長手方向と平行な方向の幅は200μm程度である。
 なお、図2および図3において、第2接触部25の突出位置は、腕部24における接続部23との境界を始端とするときの腕部24の終端付近に設けられているが、本実施の形態1において、第2接触部25の突出位置はこれに限定されるものではなく、腕部24の上端面であれば任意に設定することが可能である。
 プローブホルダ3は、コンタクトプローブ2の接続部23を挿通するとともに腕部24を保持する板状の第1ホルダ31と、第1ホルダ31と離間して設けられ、コンタクトプローブ2の第1接触部21を保持する板状の第2ホルダ32と、第1ホルダ31および第2ホルダ32をそれぞれ挟持して固定する二つのホルダ固定部材33、34と、を有する。第1ホルダ31と第2ホルダ32とは平行である。
 図4は、プローブホルダ3を第1ホルダ31の上方から見た平面図である。第1ホルダ31は、各々がL字断面形状を有し、接続部23を挿通するとともに腕部24を収容する複数の第1保持孔311を有する。第1保持孔311は、L字状の断面を有し、腕部24を載置して収容する大径部311aと、接続部23を挿通する小径部311bとを有する。第1保持孔311を形成する際には、ドリル加工等によって小径部311bとなる貫通孔を形成した後、腕部24の形状に合わせてザグリ加工を施すことによって大径部311aを形成する。複数の第1保持孔311は、大径部311aの長手方向が互いに平行な態様で各々の短手方向に沿って列をなしている。第1保持孔311のピッチは、50~150μm程度である。
 第2ホルダ32は、各々が第1接触部21を挿通する円柱状をなす複数の第2保持孔321を有する。第2保持孔321の径は第1保持孔311の小径部311bの径と等しい。複数の第2保持孔321は、複数の第1保持孔311の小径部311bの位置と対応するように、一列に並べて形成される。このようにして、複数の第1保持孔311(の小径部311b)が複数の第2保持孔321のいずれかと上下方向に連通することとなり、この連通している第1保持孔311と第2保持孔321の組がコンタクトプローブ2を保持する。
 ホルダ固定部材33、34は、第1保持孔311および第2保持孔321が列をなして並んでいる方向と直交する方向の第1ホルダ31および第2ホルダ32の端面を挟持し、この挟持した端面を固定して支持する。
 以上の構成を有するプローブホルダ3は、アルミナ(Al23)や窒化珪素(Si34)等のセラミックス、プラスチック樹脂等の絶縁性材料を用いて形成される。なお、プローブホルダ3を、金属等の導電性材料の表面を絶縁被膜によってコーティングしたものによって実現してもよい。
 なお、図1や図4に示すコンタクトプローブ2の配置パターンはあくまでも一例に過ぎない。すなわち、プローブホルダ3の配線パターンは検査対象の電極または端子の配線パターンに応じて定められるものであり、適宜設計変更を施すことが可能である。
 図5は、以上の構成を有するプローブユニット1を用いた検査時の状態を示す図である。図5に示すように、第1接触部21は半導体集積回路100の電極101と接触する一方、第2接触部25は信号処理回路との電気的な接続を確立する配線基板200の電極201と接触する。配線基板200は、ポリイミドなどからなるシート状の基材の一方の表面に、ニッケル等からなる多数の配線および接続用の電極が形成されている。配線基板200は、第2接触部25と接触するように位置決めされた後、プローブホルダ3と同様の材料からなる固定部材300および第1ホルダ31によって挟持され、ネジ止め等によって固定されている。なお、配線基板200と第1ホルダ31との間に適宜スペーサを設けるようにしてもよい。
 弾性座屈部22は、z軸方向に平行でありかつx軸方向の最小幅の中点Mを通過する平面P1が第1接触部21の先端(荷重作用点)Tのx軸方向の中心を通過する平面P2よりも腕部24から遠くに位置しているため、第1接触部21が受ける荷重によって弾性座屈を生じ、x軸負の方向にさらにくぼんだ形状に変形している。このように、コンタクトプローブ2は一方向(図5のx軸方向)にのみ撓む性質を有しているため、複数のコンタクトプローブ2の撓み方向を揃えるのが容易である。
 図5において、弾性座屈部22が外部からの荷重に応じて変形するのに伴い、第1接触部21は半導体集積回路100の電極101をx軸方向に摺動する。したがって、電極101が酸化膜で覆われていたり、電極101の表面に汚れが付着したりしている場合には、これらの酸化膜または汚れを削り取ることができる。
 図6は、コンタクトプローブ2の弾性座屈変形による荷重-撓み特性を模式的に示す図である。図6において、コンタクトプローブ2の荷重-撓み特性は非線形性を有しており、撓みが大きくなるにつれて荷重の変化が少なくなる。本実施の形態1では、撓みによらず荷重が大きく変化しない領域Sで検査を行うことができるようにコンタクトプローブ2を調整する。具体的には、例えば荷重5gに対して500μm程度のストロークを生じるように調整される。
 次に、図7~図9を参照してプローブユニット1の組立方法の概要を説明する。まず、図7に示すように、互いに対応する第1保持孔311と第2保持孔321が連通するように第1ホルダ31と第2ホルダ32を厚さ方向に積層する。その後、複数の第1保持孔321の各開口面から第1接触部21を先頭にコンタクトプローブ2を挿入して第1保持孔311および第2保持孔321を貫通させ、腕部24を大径部311aに埋め込んで収容する。この結果、図8に示すように、コンタクトプローブ2が第1保持孔311および第2保持孔321を貫通し、腕部24が大径部311aに載置された状態となる。
 続いて、図9に示すように、第2ホルダ32を第1ホルダ31から離間させる。その後、第1ホルダ31および第2ホルダ32の相互の位置合わせを行い、ホルダ固定部材33、34によって固定することにより、プローブユニット1が完成する。なお、図9では第2ホルダ32を動かした場合を示しているが、第1ホルダ31の方を動かすことによって第2ホルダ32から離間させるようにしてもよい。
 以上説明した本発明の実施の形態1によれば、外部からの荷重によって弾性座屈する弾性座屈部22の所定方向における幅を弾性座屈部22の長手方向に沿って変化させ、弾性座屈部22の長手方向に沿って第1接触部21の荷重作用点Tを通過する平面が弾性座屈部22の所定方向における幅の変化が大きい箇所における幅の中点Mを通過しないようにオフセットしているため、外部から荷重が加わった時、幅が変化する方向に沿って撓ませることができる。また、弾性座屈部22を含む柱状部分と直交する方向へ板状に延びた腕部24を設けているため、この腕部24を収容するためにプローブホルダ3側には横長の第1保持孔311が形成されることとなり、コンタクトプローブ2の整列方向を容易に揃えることができるとともに、コンタクトプローブ2のプローブホルダ3への取り付けが容易となる。加えて、コンタクトプローブ2を取り外す際にプローブホルダ3を分解する必要がないため、取り外しも容易である。したがって、外部からの荷重によってたわみを生じる方向を制御することができ、ユニット化する際の組立を容易に行うことができ、ユニット化した後のメインテナンスを効率よく行うことができる。
 また、本実施の形態1によれば、弾性座屈部22の形状や幅の変化、および腕部24の形状などを調整することにより、所望の荷重-撓み特性を有するコンタクトプローブを実現することができる。
(実施の形態1の変形例)
 図10は、本実施の形態1の第1変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。同図に示すコンタクトプローブ4は、第1接触部41、弾性座屈部42、接続部43、腕部44、第2接触部45を備える。このうち、弾性座屈部42は、x軸方向において腕部44が延びている側がくぼんでおり、このx軸方向で幅が小さくなる中央部付近は、均一な幅を有している。ここで説明した弾性座屈部42を除くコンタクトプローブ4の構成は、コンタクトプローブ2の構成と同じである。コンタクトプローブ4において、弾性座屈部42のx軸方向の幅のうちもっとも小さい幅の中点M1を通過してz軸と平行な平面P3は、第1接触部41の先鋭化した先端T1を通過してz軸と平行な平面P4と異なっており、平面P3は平面P4よりも腕部44から遠くに位置している。
 図11は、本実施の形態1の第2変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。同図に示すコンタクトプローブ5は、第1接触部51、弾性座屈部52、接続部53、腕部54、第2接触部55を備える。このうち、弾性座屈部52は、x軸方向において腕部54が延びている側と反対側が円弧状にくぼんでいる。したがって、コンタクトプローブ5の場合、外部から荷重が加わると、弾性座屈部52の長手方向の中心部が図11でx軸正の方向へ撓むこととなる。ここで説明した弾性座屈部52を除くコンタクトプローブ5の構成は、コンタクトプローブ2の構成と同じである。コンタクトプローブ5においては、弾性座屈部52のx軸方向の幅のうちもっとも小さい幅の中点M2を通過してz軸と平行な平面P5は、第1接触部51の先鋭化した先端T2を通過してz軸と平行な平面P6と異なっており、平面P5は平面P6よりも腕部54から遠くに位置している。
 図12は、本実施の形態の第3変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。同図に示すコンタクトプローブ6は、第1接触部61、弾性座屈部62、接続部63、腕部64、第2接触部65を備える。このうち、弾性座屈部62は、x軸方向において腕部64が延びている側が突出して長手方向の中心部の幅が第1接触部61の最大幅よりも大きくなっている。この場合、弾性座屈部62のx軸方向の幅のうちもっとも大きい幅の中点M3を通過してz軸と平行な平面P7は、第1接触部61の先鋭化した先端T3を通過してz軸と平行な平面P8と異なっており、平面P7は平面P8よりも腕部24から近くに位置している。したがって、コンタクトプローブ6に外部から荷重が加わると、弾性座屈部62はx軸正の方向へ撓む。なお、図12に示す場合、プローブホルダ3aの第1ホルダ35の第1保持孔351の径と第2ホルダ36の第2保持孔361の径は、弾性座屈部62の最大径よりも大きい。
 以上説明した本実施の形態1の第1~第3変形例によれば、上述した実施の形態1と同様、外部からの荷重によって撓みを生じる方向を制御することができ、ユニット化する際の組立を容易に行うことができ、ユニット化した後のメインテナンスを効率よく行うことができる。
(実施の形態2)
 図13は、本発明の実施の形態2に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。同図に示すコンタクトプローブ7は、第1接触部71、弾性座屈部72、接続部73、腕部74、第2接触部75を備え、略L字状の外観形状を有する。腕部74を除くコンタクトプローブ7の構成は、上記実施の形態1で説明したコンタクトプローブ2の構成と同じである。
 腕部74は、接続部73との境界を始端とするときの終端付近で第1接触部71の先端に最も近い端面すなわち図13の底面が切り欠かれた斜面部74aを有し、テーパ状をなしている。第2接触部75は、腕部74の上端面(第1接触部71の先端から最も遠い端面)の終端に設けられる。
 コンタクトプローブ7においては、弾性座屈部72のx軸方向の幅のうちもっとも小さい幅の中点M4を通過してz軸と平行な平面P9は、第1接触部71の先鋭化した先端T4を通過してz軸と平行な平面P10と異なっており、平面P9は平面P10よりも腕部74から遠くに位置している。
 図14は、以上の構成を有するコンタクトプローブ7を用いた検査時の状態を示す図である。図14において、弾性座屈部72は半導体集積回路100からの荷重に加えて、配線基板200からの荷重を受けて変形する。具体的には、第2接触部75に配線基板200の電極201との接触による荷重が加わると、腕部74が図14で時計周りに回転し、斜面部74aの底面が大径部311aの底面に近づいていく。このため、弾性座屈部72は、第1接触部71および第2接触部75が受ける荷重によって弾性座屈を生じ、x軸負の方向にさらにくぼんだ形状に変形している。このように、コンタクトプローブ7は、第1接触部71が受ける荷重のみならず、第2接触部75が受ける荷重に起因した弾性座屈変形も生じるため、上述した実施の形態1と同じ荷重を加える場合、より大きな弾性座屈変形を生じることとなる。
 以上説明した本発明の実施の形態2によれば、腕部74がテーパ形状をなしているため、第2接触部75が外部から荷重を受けた場合にモーメントが発生し、弾性座屈部72を変形させることができる。したがって、上述した実施の形態1と同様の効果に加え、荷重が加わった時のストロークを一段と大きくすることができる。
 なお、本実施の形態2においても、弾性座屈部の形状を適宜変更することができる。ただし、本実施の形態2においては、腕部74の形状に鑑みて、荷重が加わった時に弾性座屈部が腕部74から遠ざかる方向に撓むような構成とすることが望ましい。
 ここまで、本発明を実施するための最良の形態として、実施の形態1、2を詳述してきたが、本発明は上述した2つの実施の形態によって限定されるべきものではない。
 図15は、本発明の別な実施の形態に係るプローブユニットを構成するプローブホルダの要部の構成を示す図である。同図に示すプローブホルダ8は、コンタクトプローブ2の接続部23を挿通するとともに腕部24を保持する板状の第1ホルダ81と、第1ホルダ81と離間して設けられ、コンタクトプローブ2の第1接触部21を保持する板状の第2ホルダ82とを備える。第1ホルダ81および第2ホルダ82は、二つのホルダ固定部材33、34(図1を参照)によって固定されている。
 第1ホルダ81は、各々が板状をなす第3ホルダ83と第4ホルダ84が厚さ方向に積層されてなる。第1ホルダ81は、L字断面形状を有し、コンタクトプローブ2の接続部23を挿通するとともにその腕部24を収容する第1保持孔811を有する。第1保持孔811は、各々が第3ホルダ83の厚さ方向に貫通し、腕部24を収容する複数の大径部831と、各々が第4ホルダ84の厚さ方向に貫通し、大径部831よりも径が小さく、複数の大径部831のいずれかと連通し、接続部23を挿通する複数の小径部841とからなる。複数の第1保持孔811は、複数の第1保持孔311と同様に列状をなして形成されている(図4を参照)。
 第2ホルダ82は、各々が第1接触部21を挿通する円柱状をなす複数の第2保持孔821を有する。第2保持孔821の径は、小径部841の径と等しい。複数の第2保持孔821は、複数の小径部841の位置と対応するように、一列に並べて形成される。
 以上の構成を有するプローブホルダ8を適用した場合にも、上記同様の効果を得ることができる。加えて、L字断面形状をなす第1保持孔811が二つのストレート孔(大径部831、小径部841)によって構成されるため、孔加工が容易になる。
 このように、本発明は、ここでは記載していない様々な実施の形態等を含みうるものであり、特許請求の範囲により特定される技術的思想を逸脱しない範囲内において種々の設計変更等を施すことが可能である。
 本発明は、半導体集積回路や液晶パネルなどの電子部品における導通状態検査や動作特性検査を行う際に有用である。
 1 プローブユニット
 2、4、5、6、7 コンタクトプローブ
 3、3a、8 プローブホルダ
 21、41、51、61、71 第1接触部
 22、42、52、62、72 弾性座屈部
 23、43、53、63、73 接続部
 24、44、54、64、74 腕部
 25、45、55、65、75 第2接触部
 31、35、81 第1ホルダ
 32、36、82 第2ホルダ
 83 第3ホルダ
 84 第4ホルダ
 33、34 ホルダ固定部材
 74a 斜面部
 100 半導体集積回路
 101、201 電極
 200 配線基板
 300 固定部材
 311、351、811 第1保持孔
 311a、831 大径部
 311b、841 小径部
 321、361、821 第2保持孔

Claims (10)

  1.  両端で異なる2つの回路構造とそれぞれ接触し、該2つの回路構造を電気的に接続する導電性のコンタクトプローブにおいて、
     一端が先鋭化した柱状をなす第1接触部と、
     前記第1接触部の他端から前記第1接触部の長手方向に沿って略柱状をなして延び、この延びる方向と直交する方向のうち少なくとも一つの方向の幅は前記延びる方向に沿って変化する一方、前記一つの方向と直交する方向の幅は前記延びる方向に沿って一定であり、外部からの荷重によって弾性座屈を生じる弾性座屈部と、
     前記弾性座屈部が延びる方向の端部であって前記第1接触部に連なる端部とは異なる端部から前記延びる方向に沿って柱状をなして延びる接続部と、
     前記接続部から前記一つの方向に沿って板状をなして延びる腕部と、
     前記腕部の端面のうち前記第1接触部の先鋭化した一端に対して最も遠くに位置する端面から該端面と直交する方向へ突出し、先端が先鋭化した第2接触部と、
     を備え、
     前記第1接触部の先鋭化した一端を通過して前記延びる方向に平行な平面と、前記一つの方向における前記弾性座屈部の幅のうち当該方向における前記第1接触部の最大幅との差が最も大きい幅の中点を通過して前記延びる方向に平行な平面とは異なることを特徴とするコンタクトプローブ。
  2.  前記弾性座屈部は、
     前記一つの方向の幅がいたるところで当該方向における前記第1接触部の最大幅より小さいことを特徴とする請求項1記載のコンタクトプローブ。
  3.  前記弾性座屈部は、
     前記一つの方向の幅を含む断面が、前記腕部が延びている側でくぼんだ形状をなしていることを特徴とする請求項2記載のコンタクトプローブ。
  4.  前記弾性座屈部は、
     前記一つの方向の幅がいたるところで当該方向における前記第1接触部の最大幅より大きいことを特徴とする請求項1記載のコンタクトプローブ。
  5.  前記弾性座屈部は、
     前記一つの方向の幅を含む断面が、前記腕部が延びている側で突出した形状をなしていることを特徴とする請求項4記載のコンタクトプローブ。
  6.  前記第2接触部は、
     前記腕部における前記接続部との境界を始端とするときの前記腕部の終端付近に設けられたことを特徴とする請求項1~5のいずれか一項記載のコンタクトプローブ。
  7.  前記第2接触部は、
     前記腕部における前記接続部との境界を始端とするときの前記腕部の終端付近に設けられ、
     前記腕部は、
     前記終端付近で前記第1接触部の先鋭化した一端に最も近い端面が切り欠かれたテーパ状をなし、
     前記弾性座屈部は、
     前記一つの方向の幅を含む断面が、前記腕部が延びている側でくぼんだ形状をなしていることを特徴とする請求項1記載のコンタクトプローブ。
  8.  請求項1~7のいずれか一項記載の複数のコンタクトプローブと、
     各々が前記接続部を挿通する小径部と、前記腕部を収容する大径部とからなる複数の第1保持孔を有する第1ホルダと、
     各々が前記第1接触部を挿通する複数の第2保持孔を有する第2ホルダと、
     を備えたことを特徴とするプローブユニット。
  9.  前記第1ホルダは、
     前記大径部が形成された大径ホルダと、
     前記大径ホルダに積層され、前記小径部が形成された小径ホルダと、
     を有することを特徴とする請求項8記載のプローブユニット。
  10.  請求項8または9記載のプローブユニットの組立方法であって、
     互いに対応する前記第1および第2保持孔が連通するように前記第1および第2ホルダを積層するホルダ積層工程と、
     前記ホルダ積層工程で前記第2ホルダに積層された前記第1ホルダが有する前記複数の第1保持孔の各開口面から前記第1接触部を先頭に前記コンタクトプローブを挿入して前記第1および第2保持孔を貫通させ、前記腕部を前記第1保持孔に収容するコンタクトプローブ貫通工程と、
     前記コンタクトプローブ貫通工程で前記複数のコンタクトプローブをそれぞれ貫通させた前記第1ホルダと前記第2ホルダとを離間し、前記第1および第2ホルダの相互の位置合わせを行って所定のホルダ固定部材へ固定するホルダ位置固定工程と、
     を有することを特徴とするプローブユニットの組立方法。
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