WO2009118920A1 - 真空装置用異常放電抑制装置 - Google Patents

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WO2009118920A1
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power
control
abnormal discharge
interruption
handling
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PCT/JP2008/062666
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逸男 譲原
敦 高柳
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株式会社京三製作所
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    • H05H1/00Generating plasma; Handling plasma
    • H05H1/24Generating plasma
    • H05H1/46Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
    • HELECTRICITY
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    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32917Plasma diagnostics
    • H01J37/32935Monitoring and controlling tubes by information coming from the object and/or discharge
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    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32917Plasma diagnostics
    • H01J37/3299Feedback systems
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    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/02Details
    • H01J2237/0203Protection arrangements
    • H01J2237/0206Extinguishing, preventing or controlling unwanted discharges

Definitions

  • the present invention relates to a vacuum abnormal discharge suppressing device, and more particularly to an abnormal discharge suppressing device for a vacuum device that cuts off the output of a high frequency power source in order to suppress abnormal discharge that occurs in plasma generation using a high frequency power source.
  • an abnormal discharge suppressing device for a vacuum device that cuts off the output of a high frequency power source in order to suppress abnormal discharge that occurs in plasma generation using a high frequency power source.
  • a minority arc is generated, and then energy concentrates to raise the temperature of the minority arc part, and the transition to the most abnormal discharge (majority arc) occurs.
  • the target material evaporates due to the positive feedback of the movement of high-energy electrons, the increase of the target surface temperature, the abnormal distribution of gas pressure, and the local plasma density increases. It triggers a large arc called a track arc.
  • the majority arc and the racetrack arc there is an influence such as a pinhole being generated in the memory and the optical surface during the film formation due to the fragments.
  • one of the factors affecting the substrate processing is the electron density in the plasma. Since the plasma state changes depending on the high-frequency power, the pressure in the vacuum chamber, and the like, even if the impedance is adjusted by the matching unit, the reflected wave that is reflected by the plasma and returns to the high-frequency power source increases depending on the plasma state.
  • a device for monitoring the electron density in the plasma by detecting the reflection coefficient has been proposed. (See Patent Document 2)
  • the occurrence of abnormal discharges such as arcs may damage glass substrates and silicon wafers.
  • the generation of the arc is detected by detecting the reflected wave power, and the output of the high frequency generator is reduced or temporarily (several tens of times) by the control circuit receiving the detection signal. The arc is extinguished by stopping at msec).
  • a plasma CVD apparatus having an operation function called an arc cut function that suppresses the occurrence of abnormal discharge has been proposed in order to suppress instantaneous abnormal discharge generated in the film-forming electrode.
  • This arc cut function detects a sign that an instantaneous abnormal discharge is generated by a current in the matching box and the like, and stops application of high-frequency power or reduces applied power for a short time. (See Patent Document 4)
  • the occurrence of abnormal discharge is detected by a sudden increase in reflected wave power, but this reflected wave power may increase even in cases other than when abnormal discharge occurs.
  • the high frequency power supply is cut off despite the abnormal discharge.
  • the reflected wave power increases at the time of ignition in which the high frequency power source is activated and high frequency power is supplied to the load side. Therefore, even when abnormal discharge has not occurred, it is determined that abnormal discharge has occurred by detecting this increase in reflected wave power, and control is performed to cut off the output of high-frequency power from the high-frequency power source to the load. Done.
  • the output from the high-frequency power source is cut off in this way, no power is supplied, so that plasma is not formed, and the film forming process is hindered.
  • the high frequency power supply normally has a drooping characteristic protection function that lowers the output voltage to protect against overcurrent, it is sufficiently higher than the drooping level (for example, 15%) of the reflected wave power. It is necessary to set a detection level (for example, 20% to 50%). As described above, when the detection level for detecting abnormal discharge is set high, it is difficult to detect abnormal discharge in the initial stage, and there is a problem that good abnormal discharge cannot be detected.
  • ions remain when the detection level for detecting abnormal discharge is lowered during steady plasma operation. When the remaining ions are accumulated, it becomes a factor for generating an abnormal arc, the frequency of occurrence of abnormal discharge is increased, and there is a problem that it is difficult to supply power to stable plasma.
  • an object of the present invention is to solve the above-described conventional problems and to stably supply power to plasma.
  • the purpose is to suppress the growth of arcs and eliminate the accumulation of ions that generate abnormal arcs.
  • an object is to suppress erroneous detection without setting a detection level for detecting abnormal discharge high at the time of ignition or restart.
  • the abnormal discharge suppression device for a vacuum device of the present invention is a device that suppresses the occurrence of abnormal discharge in order to stably supply power to plasma, and includes two modes as modes for suppressing the occurrence of abnormal discharge.
  • the first mode for suppressing the abnormal discharge is the first first that enables restart in a state in which ions in the plasma remain by changing the time width of the shut-off time for shutting off the output of the high-frequency power supply. This is a mode in which two interruption controls of the handling interruption control and the second second handling interruption control for performing the restart in a state where the abnormal arc ions are eliminated are properly used.
  • the second mode suppresses malfunctions due to erroneous detection of abnormal discharge by prohibiting the shut-off operation in sections where the feedback signal is likely to fluctuate, such as when ignition is restarted after fast handling is interrupted after fast handling is interrupted. It is an aspect to do. Both the first aspect and the second aspect enable stable power supply to the plasma.
  • arc growth is suppressed by the first first handling cutoff control that enables restart in a state where ions in the plasma remain, and restart is performed in a state where abnormal arc ions have disappeared.
  • the accumulation of ions that generate an abnormal arc is eliminated by the second second handling cutoff control.
  • the interruption operation is prohibited even when an abnormal discharge is detected in the section such as at the time of ignition or restart after interruption of the first handling.
  • a first aspect of the present invention is an apparatus that suppresses abnormal discharge in a vacuum device that generates plasma by supplying electric power from a high-frequency power source into a plasma reaction chamber, and performs processing such as film formation and etching using the plasma.
  • a power control unit that controls the high-frequency power source based on a deviation between the power command value and the power feedback value, and a reflection that occurs at least during the abnormal discharge in the plasma reaction chamber and during the transition process to the abnormal discharge
  • a shut-off control unit that shuts off power supply from the high-frequency power source to the plasma reaction chamber based on detection of wave power or reflected wave voltage.
  • the cutoff control unit performs first first handling cutoff control and second second handling cutoff control with different cutoff times.
  • first fast handling cutoff control ions can remain in the plasma reaction chamber, and the high frequency power source is controlled to be cut off within a time width in which the arcing element of the minority arc that is a cause of abnormal discharge disappears.
  • second second handling cutoff control the high frequency power supply is controlled to be cut off within a time range in which the ions of the multi-wave arc during the abnormal discharge disappear.
  • the duration of the cutoff time is set to a short duration of 1 ⁇ s to 100 ⁇ s, and the cutoff control is terminated with ions remaining in the plasma reaction chamber. Since the arcing element of the minority arc disappears by this short interruption, the abnormal discharge is eliminated. Moreover, since the ions in the plasma reaction chamber remain in the cutoff time width by the first first handling cutoff control, the power supply can be quickly and quickly started up after restarting after the cutoff. Can do. As a result, normal discharge can be instantaneously restored.
  • the duration is 1 ms to 100 ms, and the cutoff control is terminated in a state where the abnormal arc ions of the multi-wave arc have disappeared. Accordingly, it is possible to eliminate the accumulation of ions that generate an abnormal arc and cut off the arcing.
  • This second handling interruption is also referred to as an arc ion refresh operation because it eliminates abnormal arc ions.
  • the power control unit restarts at a high speed after shutting off the output of the high-frequency power source by the first first handling cutoff control, and the traveling wave power value with respect to the power command value or the voltage command value
  • the traveling wave voltage value is feedback-controlled so that the output of the high frequency power supply becomes a power command value or a voltage command value.
  • the high-speed start-up performed after the first first handling cutoff control is performed by using a ramp-like power or voltage from zero to the power command power value or voltage command value in the same time order as the cutoff time of the first first handling cutoff control. It is a high-speed start-up that outputs in time width. Therefore, the time width required for this high-speed startup can be determined based on the cutoff time of the first first handling cutoff control.
  • the time width of this high-speed startup can be set to 1 ⁇ s to 100 ⁇ s, for example.
  • the power control unit performs restart by soft start after shutting off the output of the high frequency power supply by the second second handling shutoff control, and the traveling wave power value or the traveling wave voltage value with respect to the power command value or the voltage command value. Is controlled so that the output of the high-frequency power source becomes a power command value or a voltage command value.
  • the soft start performed after the second second handling cutoff control is performed by using a matching box in which a ramp-like power output or voltage output from zero to a power command value or voltage command value is arranged between the high-frequency power source and the plasma reaction chamber. It is performed at a matching speed that the matching circuit can sufficiently cope with. Therefore, the time width required for this soft start can be determined depending on the magnitude of the power command value or voltage command value, the matching characteristics of the matching circuit of the matching box, and the like. The time width of this soft start can be set to 1 ms to 10 s, for example.
  • the second second handling cutoff control is intended to eliminate the accumulation of ions that generate an abnormal arc, which is a multi-wave arc, and cut off the arcing. Therefore, it is executed when ions that generate an abnormal arc in the plasma have accumulated. It is effective to do.
  • the present invention determines the accumulation state of ions that generate this abnormal arc based on the cumulative number of executions of the first fast handling cutoff control that occurs within a predetermined unit time (for example, 10 ms), and performs the first fast handling.
  • a predetermined unit time for example, 10 ms
  • the shut-off control prohibiting unit counts the number of times the first handling shut-off control is executed within the first predetermined time, and when the count value obtained by this count reaches a preset number of times, the second second Execute handling cutoff control.
  • the second second handling cutoff control is executed and the count value is cleared, the count of the number of executions of the first first handling cutoff control is restarted, and this count value reaches the set number again within a predetermined time. Then, the second second handling cutoff control is executed again.
  • the second aspect of the present invention prohibits the interruption operation even when abnormal discharge is detected in the ignition mode section, the high speed rising section after the first handling interruption, the reignition mode section after the second handling interruption, etc. By doing so, interruption due to erroneous detection of abnormal discharge is suppressed, and the power supply to the plasma is stabilized.
  • the reflected wave power increases due to the inability to match the plasma load.
  • reflected wave power droop control is performed. At this time, the reflected wave power is increased because of a misalignment and not caused by an abnormal discharge arc, so that it is not necessary to perform a blocking operation. Therefore, in such a case, the shutoff operation is prohibited and the power supply to the plasma is stabilized.
  • the configuration of the second aspect of the present invention is an apparatus that suppresses abnormal discharge of a vacuum apparatus that performs film formation or etching using plasma generated by supplying electric power to a plasma reaction chamber, and supplies electric power.
  • the high-frequency power source includes a power control unit that controls the high-frequency power source based on a deviation between a power command value and a power feedback value, and at least one of the time of abnormal discharge in the plasma reaction chamber and the transition process to abnormal discharge And a cutoff control unit that detects the reflected wave power or the reflected wave voltage generated in step S1 and shuts off the power supply from the high-frequency power source to the plasma reaction chamber.
  • the interruption control unit includes an arcing detection / interruption unit that detects abnormal discharge, and an interruption control prohibition unit that prohibits interruption control of power supply by the arcing detection / interruption unit.
  • the interruption control prohibiting unit provided in the second aspect of the present invention prohibits the electric power supply interruption control by the interruption control unit within the section determined as the arc interruption prohibition period, and the interruption control unit performs control to interrupt the electric power supply. Even if it is performed, this interruption control is prohibited and the power supply is continued.
  • the power control unit uses the traveling wave power value as the power feedback value, and controls the output power so that the deviation between the power command value and the traveling wave power value decreases.
  • the cutoff control unit performs cutoff control in two forms.
  • the first form is fast handling cutoff control that suppresses minority arcs, and detects abnormal discharge by comparing the reflected wave power or reflected wave voltage with a low level threshold, and based on the detection of this abnormal discharge. Shut off the power supply.
  • the second form is a second handling cutoff control that suppresses the multi-wave arc, and detects an increase in the reflected wave power by comparing the reflected wave power or reflected wave voltage with a high level threshold value. The power supply is cut off based on the detection of the increase.
  • the first handling cutoff control and the second handling cutoff control have different threshold sizes compared to the reflected wave power Pr.
  • a low level value is used as a threshold value to detect an initial stage of increase in reflected wave power or reflected wave voltage.
  • an increase in reflected wave power accompanying the occurrence of abnormal discharge is detected.
  • the second handling cutoff control uses a high-level value larger than the low-level value used in the first handling cutoff control as the threshold value, and the energy is concentrated and a large number of waves that have shifted to most abnormal discharges. Detects and shuts off arc conditions.
  • the blocking control prohibiting unit of the present invention performs the prohibiting control for prohibiting the blocking control for the first handling blocking control, and does not perform the prohibiting control for the second handling blocking control.
  • First handling cutoff control causes plasma ions to remain and extinguishes arcing elements of minority arc.
  • Second handling cutoff control eliminates majority arc ions during abnormal discharge, thereby suppressing abnormal discharge. It is intended.
  • the cutoff control prohibiting unit applies the prohibition control only to the first handling cutoff control so that erroneous cutoff control by erroneously detecting abnormal discharge is not performed.
  • the arc cut-off prohibition section is a section where inconsistency with the plasma load of the high-frequency power supply occurs, the ignition mode section when the high-frequency power supply is started, the high-speed start-up section after the first handling is cut off when the high-frequency power supply is restarted, the second Each section includes a reignition mode section after handling interruption and a traveling wave power transient section which is a section until the traveling wave reaches a predetermined level.
  • the plasma is in an unstable state, and the matching circuit is not sufficiently matched with the plasma load, so the reflected wave power may increase.
  • the increase in reflected wave power at this time is not caused by abnormal discharge.
  • the high-frequency power supply performs reflected wave power droop control as a protection operation, and therefore it is not necessary to perform cut-off control in the arc cut-off prohibition section.
  • the ignition mode section and the ignition mode section are sections in which the plasma can be regarded as ignited, and are sections from when the traveling wave power starts to output power until it exceeds the drooping level of the reflected wave power.
  • the traveling wave power or the load power to the plasma deviates significantly from the power command value of the output power of the high-frequency power source, it receives excessive reflected wave power. Droop control is performed, and overvoltage and overcurrent are protected by drooping characteristics. Since the output power of the high frequency power supply is reduced by this drooping characteristic, it is not necessary to stop the power supply by the cutoff control.
  • the first handling cutoff control erroneously detects an increase in reflected wave power as an abnormal discharge, and the power supply is cut off based on this erroneous detection.
  • this section continues as an arc cut-off prohibition section without cutting off power supply.
  • the droop level can be determined by L ⁇ Cs100% obtained by multiplying the rated power command value Cs100% by the reflection droop coefficient L.
  • the reflection droop coefficient L can be determined within a range of 0.1 to 0.3.
  • the traveling wave power increases later than the power command value Cs, and gradually approaches the power command value Cs by feedback control.
  • the traveling wave power is in a transient state, the detected increase in reflected wave power is detected as abnormal discharge, and the power supply is cut off based on this detection. In contrast, power cannot be supplied. Therefore, this traveling wave power transient period continues without interrupting the power supply as an arc interruption prohibition section.
  • the traveling wave power transient section is a section where the difference (Cs ⁇ Pf) between the traveling wave power Pf and the power command value Cs is sufficiently large, with the power command value Cs as the upper limit, and from the power command value Cs to the rated power command value Cs100.
  • the traveling wave power Pf is outside this level range, it can be determined by the level range with the lower limit (Cs ⁇ K ⁇ Cs100%) obtained by multiplying% by a predetermined coefficient K and subtracting K ⁇ Cs100%.
  • the electric power supply is continued without being cut off as an arc cut-off prohibition section.
  • the coefficient K is set within a range of 0.01 to 0.2, for example, and may be 0.03, for example.
  • the abnormal discharge suppressing device for a vacuum device of the present invention it is possible to stably supply power to plasma.
  • the abnormal discharge suppressing device for a vacuum apparatus of the present invention it is possible to suppress the growth of the arc and eliminate the accumulation of ions that generate the abnormal arc, thereby stably supplying power to the plasma. be able to.
  • the abnormal discharge suppressing device for a vacuum apparatus of the present invention it is possible to reduce erroneous detection of abnormal discharge, and thereby to stably supply power to plasma.
  • the abnormal discharge suppressing device for a vacuum device of the present invention it is possible to suppress erroneous detection without setting a detection level for detecting abnormal discharge high at the time of ignition or restart. It is possible to stably supply power to the plasma.
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a power supply system for a vacuum device and an abnormal discharge suppression device for a vacuum device.
  • the power supply system includes a high frequency power supply 10 including a power control unit 1, an oscillator 6, and a sensor 9.
  • the power control unit 1 uses the traveling wave power Pf detected by the sensor 9 as a feedback signal, and controls the output power based on the difference from the power command value Cs.
  • the high frequency power supply 10 supplies power to the plasma load 12 via the matching circuit 11.
  • the plasma load 12 is an electrical load when the plasma formed in the plasma reaction chamber provided in the vacuum apparatus is viewed from the power supply side.
  • the power control unit 1 receives the traveling wave power Pf from the sensor 9 as a feedback signal, performs feedback control based on the deviation between the input feedback signal and the power command value Cs, and outputs power from the high frequency power supply 10. Is controlled to become the power command value Cs.
  • the control by the power control unit 1 can be performed by controlling the output power with respect to the voltage command value in addition to controlling the output power with respect to the power command value Cs. Below, the case where output electric power is controlled with respect to electric power command value Cs is demonstrated.
  • the sensor 9 detects the traveling wave power Pf sent from the high frequency power supply 10 to the plasma load 12 and the reflected wave power Pr directed from the plasma load 12 to the high frequency power supply 10.
  • a detection signal of the traveling wave power Pf is fed back to the power control unit 1, and a detection signal of the reflected wave power Pr is sent to an arcing detection / cutoff unit 4 included in the cutoff control unit 3, which will be described later. Is transmitted with a detection signal of traveling wave power Pf.
  • Sensor 9 detects traveling wave power Pf and reflected wave power Pr, and sends a detection signal of traveling wave power Pf and a detection signal of reflected wave power Pr to power control unit 1.
  • the power control unit 1 causes the output power of the high-frequency power supply 10 to follow the target value by feedback control using the detection signal of the traveling wave power Pf.
  • the feedback control by the power control unit 1 generates a difference signal between the power command value Cs and the traveling wave power Pf as a command signal for controlling the output power and inputs it to one terminal of the operational amplifier 7.
  • a reference high frequency signal is input to the other terminal of the operational amplifier 7.
  • the operational amplifier 7 controls the amplitude of the high frequency signal based on the command signal from the power control unit 1.
  • the high-frequency signal can be formed by the oscillator 6, and the frequency of the high-frequency signal can be determined according to the high frequency supplied to the plasma load, for example, a 13.56 MHz frequency signal.
  • the AC output signal of the operational amplifier 7 is controlled so that the power supplied to the plasma load 12 becomes the power command value Cs.
  • the output signal of the operational amplifier 7 is set to a predetermined power by the power amplifier 8 and then sent to the plasma load 12 through the matching circuit 11.
  • an inverter can be used instead of the operational amplifier 7, and the voltage of the AC power can be controlled by a PWM control signal that controls the switching interval of the switching elements.
  • the power control unit 1 detects an increase in the reflected wave power Pr using the detection signal of the reflected wave power Pr.
  • the power control unit 1 performs the droop control, and the reflected wave power Pr Protects the power supply by suppressing overcurrent and overvoltage that accompany the increase.
  • the matching circuit 11 is a circuit that performs impedance matching between the high-frequency power source 10 side and the plasma load 12, and can be configured by, for example, an inductance and a capacitor.
  • FIG. 2 is a block diagram showing a control system of the power supply control unit.
  • Cs is a power command value corresponding to the target value of the output power of the high-frequency power supply 10
  • Pf traveling wave power toward the plasma load 12.
  • feedback control is performed so that traveling wave power Pf, which is output power, matches target value Cs, which is a power command value.
  • S1 is a summing point at which a difference between the power command value Cs and the traveling wave power detection signal Pfb fed back from the sensor 9 via the transfer function ⁇ is calculated and output as a power control deviation ⁇ .
  • G is a transfer function for generating the current command signal I according to the power control deviation ⁇ , and has a proportional characteristic and an integral characteristic.
  • the traveling wave power Pf is supplied to the plasma load 12 and fed back to the summing point S via the transfer function ⁇ .
  • is a transfer function when the traveling wave power Pf is fed back to the summing point S, and here corresponds to the transfer function of the sensor 9 that detects the traveling wave power Pf.
  • the power control unit 1 also includes soft start control that increases power in a ramp shape from a zero output state to a predetermined power value at the time of start-up or restart after shut-off.
  • the high frequency power supply 10 is provided with a mechanism that temporarily cuts off the electric power output toward the plasma load 12 when the abnormal discharge is detected.
  • the shut-off mechanism has a shut-off control unit 3 that controls the shut-off operation of output power.
  • the shut-off control unit 3 detects arcing and controls the shut-off operation.
  • a blocking control prohibiting unit 5 that prohibits the operation of the arcing detection / blocking unit 4 and continues power supply, and a blocking interrupt unit 2 that interrupts a blocking operation by the blocking control unit 3 with respect to normal power control.
  • the interruption interrupt unit 2 stops the operation of the oscillator 6 under the interruption control of the interruption control unit 3. By stopping the operation of the oscillator 6, the power supply from the high frequency power supply 10 to the plasma load 12 is temporarily stopped.
  • the cutoff control may be a control for reducing the amount of power to be supplied in addition to stopping the power supply to the plasma load 12, and suppressing the output power by the power control unit 1 instead of stopping the operation of the oscillator 6. May be.
  • the arcing detection / cut-off unit 4 of the cut-off control unit 3 receives the detection signal of the reflected wave power Pr detected by the sensor 9 and compares the detection signal of the reflected wave power Pr with a cut-off threshold value. When the magnitude of the detection signal of the electric power Pr exceeds this threshold value, it is determined that an abnormal discharge has occurred in the plasma load 12, and a cutoff command is output to the cutoff interrupt unit 2.
  • the cutoff interrupting unit 2 stops the oscillation operation of the oscillator 6, thereby temporarily stopping the power supply from the high frequency power source 10 to the plasma load 12 and causing abnormal discharge. Suppresses the occurrence.
  • the suppression of the abnormal discharge performed by the interruption control unit 3 includes the first fast handling interruption control that enables the restart in a state where ions in the plasma remain, and the restart in a state where the abnormal arc ions have disappeared.
  • This can be performed by two cutoff controls including the second second handling cutoff control to be performed. These two shut-off controls can be selected by changing the duration of the shut-off time for shutting off the output of the high-frequency power supply.
  • blocking control suppresses arc growth by performing interruption
  • blocking control eliminates the accumulation
  • the arcing detection / blocking unit 4 of the blocking control unit 3 performs the first first handling blocking control and the second second handling blocking control with different blocking times.
  • the first first handling cutoff control enables ions to remain in the plasma reaction chamber and controls the cutoff of the high frequency power source within a time width during which the arcing element disappears.
  • the second second handling cutoff control the high frequency power source is controlled to be cut off within a time range in which abnormal arc ions disappear.
  • the duration of the cutoff time is set to a short duration of 1 ⁇ s to 100 ⁇ s, and the cutoff control is terminated with ions remaining in the plasma reaction chamber.
  • the arcing element that is the cause of the abnormal discharge disappears by this short interruption, and the abnormal discharge is eliminated.
  • ions in the plasma reaction chamber remain. Therefore, in the restart after the interruption, the power supply can be quickly started up in a short time, so that the normal discharge can be instantaneously restored.
  • the interruption control is terminated in a state where the abnormal arc ions are extinguished with a time width longer than that of the first first handling interruption control of 1 ms to 100 ms. Accordingly, it is possible to eliminate the accumulation of ions that generate an abnormal arc and cut off the arcing.
  • the cutoff operation by the first fast handling cutoff control stops the power supply when the reflected wave power reaches a low level threshold (first handling level) to eliminate the abnormal discharge. Further, in the shut-off operation by the second second handling shut-off control, when the reflected wave power reaches a high level threshold (second handling level), the power supply is stopped and the abnormal arc ions are extinguished.
  • This second handling cutoff control is also referred to as an arc ion refresh operation.
  • the first interruption control is referred to as first handling
  • the second interruption control is referred to as second handling
  • the first handling level is the second handling level. Set to a lower level than the handling level.
  • the power control unit 1 shuts off the output of the high-frequency power source 10 by the first first handling cutoff control and then restarts it at a high-speed startup, and feedback-controls the traveling wave power value Pf with respect to the power command value Cs. Control is performed so that the output of the power supply becomes the power command value Cs.
  • the restart performed after the first cutoff control is a fast rise, and the ramp-like power from the zero output state to the power command value is output in the same time order as the cutoff time of the first first handling cutoff control.
  • the time width required for this high-speed startup can be determined according to the cutoff time of the first first handling cutoff control. This time width can be set to 1 ⁇ s to 100 ⁇ s, for example.
  • the power control unit 1 performs restart by soft start after shutting off the output of the high frequency power supply 10 by the second second handling shutoff control, and feedback-controls the traveling wave power value Pf with respect to the power command value Cs. Control is performed so that the output of the high frequency power supply becomes the power command value Cs.
  • the restart soft start performed after the second second handling cutoff control performs ramp-like power output from the zero output state to the power command value Cs at a matching speed that the matching circuit 11 can sufficiently cope with. As a result, an increase in reflected wave power Pr due to poor alignment can be suppressed.
  • the time width required for the soft start of the restart by the second second handling cutoff control can be determined depending on the magnitude of the power command value Cs, the matching characteristics of the matching circuit 11, and the like.
  • the time width of this soft start can be set to 1 ms to 10 s, for example.
  • the second second handling cutoff control is intended to eliminate the accumulation of ions that generate an abnormal arc and cut off the arcing. Therefore, it is effective to execute when the ions that generate an abnormal arc are accumulated in the plasma. It is.
  • the second second handling cutoff control is based on the cumulative number of executions of the first first handling cutoff control that occurs within a predetermined time, and determines the accumulation state of ions that generate an abnormal arc, and the first first handling cutoff control This is executed by determining that the point at which the cumulative number of executions reaches a preset number is the stage where ions that generate an abnormal arc in the plasma are accumulated. Therefore, the arcing detection / blocking unit 4 included in the blocking control unit 3 counts the number of times of execution of the first first handling blocking control together with the blocking control prohibiting unit 5, and the count value obtained by this count is set in advance. When the number of times is reached, the second second handling cutoff control is executed.
  • the second second handling cutoff control is executed and the count value is cleared, the count of the first first handling cutoff control execution count is restarted, and again when the count value within a predetermined time reaches the set count.
  • the second second handling cutoff control is executed.
  • shutoff control unit 3 can perform the shutoff control in two forms: first handling shutoff control and second handling shutoff control.
  • Each interruption control can be performed based on the detected abnormal discharge by detecting an abnormal discharge by comparing the absolute value level of the reflected wave power with a threshold value, for example.
  • the first handling cutoff control detects abnormal discharge by comparing reflected wave power with a low level threshold value. The power supply is cut off based on the detection of the abnormal discharge.
  • the second handling cutoff control detects an increase in reflected wave power by comparing the reflected wave power with a high level threshold, and cuts off the power supply based on the detection of the increase in reflected wave power.
  • the first handling cutoff control and the second handling cutoff control are selected by changing the threshold value to be compared with the reflected wave power Pr.
  • a low level value is used as a threshold value to detect an initial stage of increase in reflected wave power.
  • an increase in reflected wave power accompanying the occurrence of abnormal discharge can be detected.
  • abnormal discharge during plasma deposition and etching can be blocked in the state of a minority arc.
  • a high level value larger than the low level value used in the first handling cutoff control is used as a threshold value to detect an increase in reflected wave power after the initial stage. This detects and shuts off the state of the multi-wave arc that has concentrated energy and has shifted to most abnormal discharges.
  • the interruption control prohibiting unit 5 prohibits the power supply interruption control by the arcing detection / interruption unit 4 in the section determined as the arc interruption prohibiting section, and the interruption control prohibiting unit 5 performs control to interrupt the power supply. Even if it is a case, this interruption
  • This arc cut-off prohibition section is a section defined to prevent the power supply from being misidentified as abnormal discharge when the increase in reflected wave power is caused by a factor other than abnormal discharge.
  • the arc cut-off prohibition section includes the ignition mode section at the start of the high frequency power supply, the high speed start-up section after the first handling cut-off control, the ignition mode section after the second handling cut-off control, and the feedback value (traveling wave power).
  • the traveling wave power transient section can be made asymptotically close to the power command value and within the predetermined fluctuation range.
  • the ignition mode section and the ignition mode section are sections until it can be considered that the plasma has ignited, and are sections from the time when the traveling wave power starts to output power to the drop level of the reflected wave power.
  • the high frequency power supply performs the reflected wave power drooping control as a protection operation, and therefore it is not necessary to perform the first handling cutoff control.
  • the second handling cutoff control executes a cutoff operation regardless of the arc cutoff prohibited section for protection.
  • the power supply is cut off based on this erroneous detection, and no abnormal discharge has occurred. Nevertheless, power cannot be supplied to the plasma. Therefore, in the present invention, the electric power supply is continued without being cut off in the arc cut-off prohibition section.
  • the arc cut-off prohibition section can be determined at the droop level.
  • the droop level can be determined by L ⁇ Cs100% obtained by multiplying the rated power command value Cs100% by the reflection droop coefficient L.
  • the reflection droop coefficient L can be determined within a range of 0.1 to 0.3.
  • the traveling wave power increases later than the power command value Cs, and gradually approaches the power command value Cs by feedback control.
  • the traveling wave power is in a transient state, the detected increase in reflected wave power is detected as abnormal discharge, and the power supply is cut off based on this detection. In contrast, power cannot be supplied. Therefore, this traveling wave power transient period continues without interrupting the power supply as an arc interruption prohibition section.
  • the traveling wave power transient section can be defined as a section where the power feedback value (traveling wave power) exceeds a predetermined fluctuation range with respect to the power command value.
  • the traveling wave power transient section includes the traveling wave power Pf and the power command value.
  • the difference between Cs (Cs – Pf) is a sufficiently large section, with power command value Cs as the upper limit, and K ⁇ Cs100% obtained by multiplying power command value Cs by rated power command value Cs100% by a predetermined coefficient K is subtracted. If the traveling wave power Pf is outside this level range, it will continue without interrupting the power supply as an arc cut-off prohibition section.
  • the coefficient K can be set within a range of 0.01 to 0.2, for example.
  • the arc cut-off prohibition section can be set by the power range with the power command value Cs as the upper limit and the lower limit of (Cs ⁇ 0.03 ⁇ Cs100%). Is outside this range, the shut-off control is prohibited and the power supply is continued without stopping.
  • FIG. 4 and FIG. 6 show a blocking process for blocking the second handling when multiple first handling blocking occurs.
  • FIG. 3 shows the case where the high-frequency power supply 10 is powered up by soft start control and the case where high-speed power rise is performed after the first handling is cut off.
  • FIG. This shows the case of performing high-speed startup and soft start after the second handling is interrupted.
  • a thin broken line indicates a power level that defines an arc interruption prohibition section, and includes a drooping level of reflected wave power and a level range that varies according to the power command value Cs.
  • the ignition mode section and reignition mode section determined by the droop level, and the section where the reflected wave power falls below the level range are designated as arc cut-off prohibition sections, and this section indicates the range in which arc cut-off operation is prohibited. Yes.
  • the soft start control gradually increases the power from zero power to the target power with a ramp-like increase characteristic over a predetermined time.
  • the ignition mode section is an initial period after the application of power to the plasma load.
  • the section is from the increase of traveling wave power to the state where the matching is matched and the ignition point is reached. .
  • This ignition mode section can be determined by the state where the traveling wave power is below the drooping level.
  • This traveling wave power transient section is a transient period in which the traveling wave power Pf increases toward the power command value Cs and gradually approaches the difference caused by the traveling wave power Pf being delayed from the power command value Cs.
  • the difference (Cs ⁇ Pf) between the traveling wave power Pf and the power command value Cs is sufficiently large.
  • This traveling wave power transient section has the power command value Cs as the upper limit, and is obtained by subtracting K ⁇ Cs100%, which is obtained by multiplying the power command value Cs by the rated power command value Cs100% and a predetermined coefficient K (Cs ⁇ K ⁇ Cs100%). ) As a lower limit.
  • the reflected wave power Pr may increase due to a mismatch in the plasma load. Therefore, when an abnormal discharge is detected using an increase in reflected wave power Pr as an index, an increase in reflected wave power Pr in this section may be erroneously detected as an abnormal discharge. Therefore, in the present invention, even if an increase in the reflected wave power Pr is detected in the ignition mode section and the traveling wave power transient section, the power supply is continued without being cut off.
  • the range of the arc cut-off prohibition section is a range in which the traveling wave power Pf largely fluctuates with respect to the power command value Cs, and suppresses power supply cut-off due to an increase in the reflected wave power Pr not caused by abnormal discharge. In this range, the power supply is continued. The increase in the reflected wave power Pr not caused by the abnormal discharge is reduced by the drooping characteristic that protects the power supply.
  • the matching section in the figure is a section from when the application of power is started until the traveling wave power Pf becomes stable in tracking control to the power command value Cs, and after this section, the traveling wave power Pf is obtained by feedback control. Is controlled following the power command value Cs.
  • the power command value Cs is normally commanded to a constant value so that stable power is supplied to the plasma load, and the traveling wave power Pf follows the power command value Cs by feedback control. It is stable at the rated power command value Cs100%.
  • the oscillation of the oscillator 6 is stopped by an interrupt from the cutoff interrupt circuit 2.
  • the power supply is stopped, and the power supply from the high frequency power supply 10 to the plasma load 12 is temporarily interrupted.
  • the cutoff time for stopping the oscillation of the oscillator 6 by the cutoff interrupt circuit 2 is performed at a time interval of 1 ⁇ sec to 3 ⁇ sec, for example.
  • the range of the interruption time for this temporary interruption is the shortest time range in which ions in the plasma chamber can remain and arcing elements disappear. For example, it is set to 1 ⁇ sec to 100 ⁇ sec.
  • control state of the plasma is maintained even during temporary shutoff, the hold state is released when control is resumed after the temporary shutoff, and the control operation can be continued quickly without performing initial processing for control. Can do.
  • this start-up control is referred to as high-speed start-up control.
  • the traveling wave power Pf greatly increases from a substantially zero state, and the reflected wave power Pr also increases from a substantially zero state.
  • the cut-off control unit 3 detects the increase in the reflected wave power Pr and performs control to cut off the power supply by interruption by the cut-off interrupt circuit 2. However, when the shut-off control of the shut-off control unit 3 is executed, the power supply is shut down and high-speed start-up control becomes impossible. Therefore, by setting this section as an arc cutoff prohibition section, the cutoff control of the cutoff control unit 3 is prohibited so that the power supply is not stopped.
  • This arc cut-off prohibition section is set as described above, in which the traveling wave power Pf is below the drooping level of the reflected wave power, and the traveling wave power Pf is rated from the power command value Cs with the power command value Cs as the upper limit.
  • the interruption control prohibiting section 5 sets the ignition mode section, the ignition mode section, and the traveling wave power transient section as an arc cutoff prohibiting section, and prohibits the cutoff control by the arcing detection / cutting section 4 in this section to supply power.
  • FIG. 3 (b) and 4 (b) show the arc cut-off prohibition section
  • FIG. 3 (c) and FIG. 4 (c) show detection states by the first handling cut-off control
  • FIG. 3 (d) and FIG. FIG. 3 (e) and FIG. 4 (e) show the detection and blocking states by the second handling blocking control.
  • the power control unit 1 starts soft start control (S1).
  • the arcing detection / cutoff unit 4 compares the reflected wave power Pr with the second handling cutoff level, and generates an arc by the second handling. If it is detected (S3), a second handling blocking process is performed (S10). Also, in the ignition mode section, arcs due to second handling are not detected, but when arcs due to first handling are detected (S4), this section is an arc cut-off prohibition section, so power that will perform cut-off processing. Supply control is continued (S5).
  • the arcing detection / cutoff unit 4 compares the reflected wave power Pr with the second handling cutoff level, and the second handling When an arc due to the above is detected (S6), a second handling interruption process is performed (S11). In addition, when the arc due to the second handling is not detected but the arc due to the first handling is detected (S7), when the traveling wave power transient section (S8), the traveling wave power transient section is the arc interruption prohibition section, Control of power supply is continued without performing the shut-off process (S9).
  • steps S6 to S12 are performed at the time of high speed startup after the first handling interruption or the soft start after the second handling interruption in the arc interruption prohibition section in FIGS. 3 (b) and 4 (b). (S13).
  • FIGS. 3 (d) and 4 (d) show cutoff control. The cutoff signal by the first handling after a prohibition process is shown.
  • the interruption signals shown in FIGS. 3 (d) and 4 (d) are the arc interruption inhibition of FIGS. 3 (b) and 4 (b) among the detection signals of FIGS. 3 (c) and 4 (c). Blocking processing is prohibited for the arcing detection signal in the section, and only the blocking signal outside the section for blocking control is extracted, thereby performing the first handling blocking control.
  • FIGS. 3 (e) and 4 (e) show a cutoff signal obtained by comparing the reflected wave power with the second handling cutoff level.
  • the interruption signal obtained at this second handling interruption level performs unconditional interruption control regardless of the interruption control prohibition section.
  • the second handling interruption shown in FIGS. 3 (e) and 4 (e) is performed in preference to the first handling interruption at the same point shown in FIGS. 3 (d) and 4 (d).
  • first handling blocking with a short time width within a predetermined time (for example, 10 msec) is executed a predetermined number of times, and then temporary blocking is performed by second handling blocking with a relatively long time width (for example, 1 msec to 100 msec). To do.
  • the second handling is temporarily interrupted with a time width longer than the interruption time width by the first handling interruption (for example, a time width of 1 ms to 100 ms).
  • the high-frequency power supply 10 is turned on by soft start control.
  • this soft start control similarly to the above-described soft start control at the time of ignition, the time from zero power to the target power is gradually increased with a ramp-like increase characteristic over a predetermined time.
  • the broken line in FIG. 4 indicates the power command value Cs, the dark solid line indicates traveling wave power Pf, and the thin solid line indicates reflected wave power Pr.
  • FIG. 6 is a flow chart for explaining the procedure for executing the temporary interruption by the second handling interruption.
  • the counter value C is compared with a preset number of times N (S24), and when the counter value C exceeds the preset number of times N, temporary shutoff is started (S25) and the power supply is stopped (S26). When the counter value C does not reach the preset number of times N, the second handling is not interrupted and only the first handling is interrupted.
  • Steps S21 to S28 are repeated until the film formation process using plasma is completed (S29).
  • FIG. 4 (b) shows an arc cutoff prohibition section between a reignition mode section and a traveling wave power transient section
  • FIG. 4 (c) shows an arcing detection signal detected by comparing the reflected wave power with the first handling level.
  • FIG. 4D shows a first handling cutoff signal.
  • the interruption signal shown in FIG. 4 (d) the arcing detection signal in the arc interruption inhibition section is prohibited from interruption, and only the interruption signal outside the interruption control inhibition section is extracted, thereby performing the first handling interruption control.
  • FIG. 4E shows a cutoff signal obtained by comparing the reflected wave power and the second handling cutoff level.
  • the interruption signal obtained at this second handling interruption level performs unconditional interruption control regardless of the interruption control prohibition section.
  • FIG. 7 shows a configuration example of the embodiment of the present invention
  • FIGS. 8 and 9 show flowcharts for explaining an operation example
  • FIG. 10 shows an output state of the shut-off control unit using the comparison circuit.
  • whether or not to cut off is determined based on the power level of the reflected wave power, and the ignition mode section, the ignition mode section, and the traveling wave power transient section are arc suppression sections.
  • FIG. 7 is a diagram showing a configuration example of the interruption control unit 3 including the power control unit 1, the arcing detection / interruption unit 4, and the interruption control prohibition unit 5 according to the present invention.
  • the arcing detection / blocking unit 4 will be described.
  • the arcing detection / blocking unit 4 includes two blocking control systems, a first handling blocking control system 4A and a second handling blocking control system 4B.
  • the cutoff operation due to abnormal discharge and the cutoff operation due to factors other than abnormal discharge are distinguished and detected, and the cutoff operation is performed.
  • a control signal for performing the operation is output.
  • the control signal temporarily stops the transmission operation of the oscillator 6 via the interruption interrupt circuit 2.
  • the first handling cutoff control system 4A detects abnormal discharge by comparing the reflected wave power with a low level (first handling level) threshold, and cuts off the power supply based on the detection of the abnormal discharge.
  • the second handling cutoff control system 4B detects an increase in reflected wave power by comparing the reflected wave power with a high level threshold (second handling level), and increases the reflected wave power due to factors other than abnormal discharge. Based on this detection, the power supply is cut off.
  • the first handling cutoff control system 4A and the second handling cutoff control system 4B are selected by differentiating the threshold value to be compared with the reflected wave power Pr.
  • the first handling cutoff control system 4A detects the initial stage of increase in reflected wave power by using a low level first handling level value as a threshold value. Thereby, the state of the minority arc can be detected and interrupted.
  • the second handling cutoff control system 4B detects an increase in reflected wave power at the stage past the initial stage by using a high level value larger than the low level value used in the first handling cutoff control as a threshold value. To do. As a result, energy is concentrated and the state of the multi-wave arc that has shifted to most abnormal discharge is detected and cut off.
  • the first handling cutoff control system 4A detects abnormal discharge by comparing the reflected wave power Pr with the first handling cutoff level PA and outputs a control signal.
  • the interruption interrupt circuit 2 temporarily interrupts the supply of output power from the high frequency power supply 10 to the plasma load 12 by temporarily stopping the oscillation of the oscillator 6 in response to this control signal.
  • the first handling cutoff control system 4A compares the detection signal of the reflected wave power Pr detected by the sensor 9 with the first handling cutoff level generated by the power setting unit 4Aa in the first comparison circuit 4Ab, and detects the reflected wave power Pr.
  • a control signal is output when the signal exceeds the first handling cutoff level.
  • the interruption interrupt circuit 2 temporarily stops the oscillation of the oscillator 6 and performs an interruption operation.
  • the second handling cutoff control system 4B detects the increase in the reflected wave power Pr due to a factor other than abnormal discharge by comparing the reflected wave power Pr with the second handling cutoff level, and forms a control signal. Send to.
  • the interruption interrupt circuit 2 receives this control signal, temporarily interrupts the oscillation of the oscillator 6 and performs an interruption operation, thereby temporarily interrupting the supply of output power from the high frequency power supply 10 to the plasma load 12.
  • the second handling cutoff control system 4B compares the detection signal of the reflected wave power Pr detected by the sensor 9 with the second handling cutoff level generated by the power setting unit 4Ba in the second comparison circuit 4Bb, and detects the detection signal of the reflected wave power Pr. Outputs a control signal when exceeds the second handling cutoff level.
  • the interruption interrupt circuit 2 receives this control signal and performs an interruption operation.
  • the first handling cutoff level is a low level threshold
  • the second handling cutoff level is a high level threshold. Therefore, when the reflected wave power Pr increases, the reflected wave power Pr first exceeds the first handling cutoff level and exceeds the next second handling cutoff level.
  • the interruption interrupt circuit 2 temporarily stops the oscillation operation of the oscillator 6 and cuts off the supply of output power based on the control signal of the arcing detection / interruption unit 4 without depending on the operation of the interruption control prohibition unit 5. .
  • FIG. 10 is a diagram illustrating an output state of the shut-off control unit 3 using the comparison circuit.
  • the control signal SA (FIG. 10 (b)) is output, and the control is performed at the time TB when the reflected signal power Pr exceeds the second handling cutoff level PB.
  • a signal SB (FIG. 10B) is output.
  • the shut-off control prohibiting unit 5 determines whether the ignition state, reignition state, or traveling wave power fluctuates beyond a predetermined range (Cs to (Cs ⁇ K ⁇ Cs100%)) with respect to the power command value Cs. When the condition is satisfied, the control signal from the arcing detection / shut-off unit 4 is prohibited. When the predetermined condition is not satisfied, the control signal from the arcing detection / shut-off unit 4 is sent to the cutoff interrupt circuit 2. This control signal operates as an arc interruption signal for interrupting the arc by stopping power supply, and is sent from the interruption interrupt circuit 2 to the oscillator 6 to temporarily stop the oscillator 6.
  • the cutoff control prohibiting section 5 includes a first switch circuit 5a and a third comparison circuit 5b as a configuration for prohibiting the control signal in the ignition state, and the traveling wave power Pf is predetermined with respect to the power set value.
  • the second switch circuit 5c and the determination circuit 5d are provided as a configuration for prohibiting the control signal when it fluctuates beyond this range.
  • the configuration of the first switch circuit 5a and the third comparison circuit 5b controls whether or not the control signal generated by the arcing detection / cut-off unit 4 is sent to the cut-off interrupt circuit 2, and the high-frequency power supply 10 is in the ignition state. In this case, transmission of the control signal to the interruption interrupt circuit 2 is stopped and the control signal is prohibited. When the high frequency power supply 10 is not in the ignition state, transmission of the control signal to the interruption interrupt circuit 2 is permitted and controlled. Enable the signal.
  • the third comparison circuit 5b determines the ignition mode section by comparing the traveling wave power Pf with the drooping level of the reflected wave power.
  • the third comparison circuit 5b turns on the first switch circuit 5a when the traveling wave power Pf exceeds the drooping level.
  • the droop level can be set by L ⁇ Cs100% obtained by multiplying the rated power command value Cs100% by the reflection droop coefficient L.
  • the reflection droop coefficient L can be determined in the range of 0.1 to 0.3.
  • the ignition state may be monitored by counting the elapsed time of the ignition by a counter circuit.
  • the counter circuit starts to measure the ignition time in response to a signal informing that the power supply has started from the soft start control unit 1b, and after the preset ignition time has elapsed, the first switch circuit 5a is turned on. To do.
  • the first switch circuit 5a inputs an abnormal discharge detection signal detected by the first handling cutoff control system 4A of the arcing detection / shut-off unit 4.
  • the first switch circuit 5a stops the transmission of the input detection signal to the second switch circuit 5c during the ignition time interval and prohibits the control signal, and outside the ignition time interval, the first switch circuit 5a
  • the control signal is made valid by permitting transmission to the two-switch circuit 5c.
  • the second switch circuit 5c and the determination circuit 5d are configured to detect arcing when the traveling wave power fluctuates beyond a predetermined range (Cs to (Cs-K ⁇ Cs100%)) with respect to the power command value Cs. Controls whether or not the control signal generated by the cutoff unit 4 is sent to the cutoff interrupt circuit 2, and stops transmission of the control signal to the cutoff interrupt circuit 2 when the traveling wave power fluctuates beyond a predetermined range. When the control signal is prohibited and the fluctuation of the traveling wave power is within the predetermined range, the control signal is permitted to be transmitted to the interruption interrupt circuit 2 and the control signal is validated. More specifically, the second switch circuit 5c controls transmission of the output signal of the first switch circuit 5a to the interruption interrupt circuit 2.
  • the determination circuit 5d receives the detection signal of the traveling wave power Pf from the sensor 9, and compares the detection signal of the traveling wave power Pf with a threshold value to determine whether the traveling wave power Pf has fluctuated beyond a predetermined range. Alternatively, it is determined whether or not the fluctuation of the traveling wave power Pf is within a predetermined range.
  • the fluctuation range for determining the fluctuation state of the traveling wave power Pf has the power command value Cs as the upper limit, and the power command value Cs is reduced by K ⁇ Cs100% obtained by multiplying the rated power command value Cs100% by a predetermined coefficient K.
  • the level range with the value (Cs-K x Cs100%) as the lower limit is set.
  • the predetermined coefficient K can be determined in the range of 0.01 to 0.2.
  • the determination circuit 5d sends an arc cut-off prohibiting signal to the second switch circuit 5c, and the cut-off interrupt circuit 2 prohibits the cut-off operation by stopping the power supply. To do.
  • the second switch circuit 5c controls transmission of the control signal input from the first switch circuit 4a to the interruption interrupt circuit 2 based on the determination signal from the determination circuit 5d.
  • the above-described configuration of the shut-off control prohibiting unit 5 is an example, and is not limited to this configuration.
  • the signal states in this embodiment can be represented in FIGS.
  • the soft start control unit 1b starts soft start control (S31). After starting the soft start, the traveling wave power Pf is compared with the drooping level (eg, L x Cs 100%) to monitor whether it is in the ignition mode section (S32), and the second handling is cut off in the ignition mode section. Only the processing is performed, and the first handling cutoff processing is prohibited (S33).
  • the drooping level eg, L x Cs 100%
  • the second comparison circuit 4Bb when the reflected wave power Pr exceeds the second handling cutoff level (S34), the second handling arc is detected and the second handling cutoff processing is performed (S50). In the second handling cutoff processing, the oscillation of the oscillator 6 is stopped and the power output is stopped (S51). After a predetermined time elapses (S52), the oscillation of the oscillator 6 is resumed and the power output is restored (S53). ).
  • the traveling wave power Pf After leaving the ignition mode section (S35), the traveling wave power Pf is compared with (Cs ⁇ K ⁇ Cs100%) to determine the fluctuation state of the traveling wave power Pf.
  • the traveling wave power Pf is outside the range of Cs and (Cs ⁇ K ⁇ Cs100%) (S36), an arc interruption prohibition section is set and interruption processing is prohibited (S37).
  • the power supply output is stopped after a predetermined period (1 ⁇ sec to 100 ⁇ sec) has elapsed (S46), and then the power supply output is restored at a high speed (S47).
  • the processing from S34 to S42 is continued until the end (S48).
  • 11 is a configuration example that realizes an ion refresh function that eliminates abnormal arc ions accumulated in plasma.
  • the shut-off control (first handling shut-off) of the shut-off control prohibition unit described above enables ions to remain in the plasma reaction chamber, and shuts off the high-frequency power source within the time width during which the arcing element disappears.
  • the interruption control of the configuration shown in FIG. 11 extinguishes abnormal arc ions by extending the interruption time.
  • the interrupting control is terminated in a state where the time width is 1 ms to 100 ms and abnormal arc ions disappear. This eliminates the accumulation of ions that generate an abnormal arc and cuts off arcing.
  • the interruption control prohibiting unit 5 determines the accumulation state of ions that generate the abnormal arc based on the cumulative number of executions of the first interruption control, and the cumulative number of executions of the first interruption control has reached a preset number of times. Cut-off control is executed by determining that the point in time is a stage in which ions that generate an abnormal arc are accumulated in the plasma. The first cutoff control is cutoff control by the first switch circuit 5a, the third comparison circuit 5b, and the second switch circuit 5c.
  • the cutoff control prohibiting unit 5 includes a counter circuit 5e that counts the number of times of execution of the first cutoff control.
  • the counter circuit 5e counts the control signal of the second switch circuit 5c, and executes the cutoff control on the cutoff interrupt circuit 2 when the count value obtained by this count reaches a preset number of times. Send a control signal.
  • the counter circuit 5e sends a control signal for shut-off control, clears the count value, re-counts the number of executions of the first shut-off control, and performs the second shut-off control again when the count value reaches the set number. Execute. By repeating this predetermined number of times of the first interruption control and then the second interruption control, it is possible to effectively suppress arc growth and eliminate abnormal arc ions.
  • the soft start control unit 1b performs the restart by the soft start after shutting off the output of the high frequency power supply by the second shutoff control, and feedback controls the traveling wave power value with respect to the power command value or the voltage command value. Control is performed so that the output of the high frequency power supply becomes the voltage command value.
  • the soft start performed after the second shut-off control is to perform ramp-like power output from zero to the power command value at a matching speed that the matching circuit of the matching box can sufficiently cope with.
  • the output is performed in a time width in which impedance matching is performed without detecting electric power as abnormal discharge. Therefore, the time width required for this soft start can be determined depending on the magnitude of the power command value, the matching characteristics of the matching circuit of the matching box, and the like.
  • the time width of this soft start can be set to 1 ms to 10 s, for example.
  • FIG. 12 shows an arc interruption prohibition section at the time of soft start at the time of starting
  • FIG. 13 shows an arc interruption prohibition section at the time of high speed rising after the first handling interruption
  • FIG. 14 shows an arc interruption at the soft start after the second handling interruption. The prohibited section is shown.
  • the arc cut-off prohibition section includes an ignition mode section and a traveling wave power transient section.
  • the ignition mode section is a range in which the traveling wave power Pf is not more than the drooping level of the reflected wave power.
  • the droop level can be set as L ⁇ Cs100% obtained by multiplying the rated power command value Cs100% by the reflection droop coefficient L.
  • the traveling wave power transient section is a section from which the traveling wave power Pf reaches the predetermined level range defined for the power command value Cs from the drooping level.
  • the predetermined level range has the power command value Cs as the upper limit, and the value obtained by subtracting K ⁇ Cs100% obtained by multiplying the power command value Cs by the specified coefficient K by the rated power command value Cs100% (Cs ⁇ K ⁇ Cs100%) is the lower limit.
  • the level range can be determined. Further, in FIG. 12, the period until the reflected wave power Pr decreases is set as the matching section.
  • the arc interrupting prohibition section includes a section due to the droop level and a traveling wave power transient section.
  • the arc cut-off prohibited section is set by the ignition mode section. Since the second handling interruption is an interruption process for eliminating the abnormal arc ions, the traveling wave power gradually approaches the power command value without passing through the traveling wave power transient section after the reignition mode section.
  • ions in the plasma chamber can remain, and the first handling cutoff that cuts off the power supply in the shortest time range (1 ⁇ sec to 100 ⁇ sec) required to extinguish the arcing element, and abnormal arc ions Temporary shutoff can be performed to shut off the power supply in the time range (1 msec to 100 msec) required for disappearance.
  • the first handling is interrupted, ions remain, so that the rise time after the interruption can be shortened and normal discharge can be generated.
  • ions remain, so that the rise time after the interruption can be shortened and normal discharge can be generated.
  • by performing a temporary interruption with a relatively long interruption time it is possible to eliminate abnormal arc ions, cut arcing, and supply power to a stable plasma.
  • the embodiment of the present invention it is possible to prevent erroneous interruption of power supply due to an increase in the reflected wave power Pr not accompanied by abnormal discharge by setting a section in which the blocking operation is prohibited in the matching section.
  • a blocking operation for suppressing abnormal discharge and a blocking operation (second handling blocking operation) for suppressing an increase in reflected wave power not caused by abnormal discharge are blocked. It can be done according to the purpose.
  • the abnormal discharge suppressing device for a vacuum apparatus of the present invention is not limited to a film forming apparatus, but can be applied to a processing apparatus field using plasma such as a sputtering apparatus or an ashing apparatus.

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Abstract

高周波電源からプラズマ反応室内に電力を供給して成膜処理を行う真空装置の異常放電を抑制する装置であって、電力指令値と電力フィードバック値との偏差に基づいて高周波電源を制御する電力制御部と、プラズマ反応室内の異常放電の検出に基づいて高周波電源からプラズマ反応室への電力供給を遮断する遮断制御部とを備える。遮断制御部は、遮断時間を異にする第1のファーストハンドリング遮断制御と第2のセカンドハンドリング遮断制御を行う。第1のファーストハンドリング遮断制御は、プラズマ反応室内のイオンの残存を可能とし、アーキング要素が消滅する時間幅内で高周波電源を遮断制御する。一方、第2のセカンドハンドリング遮断制御は、異常アークイオンが消滅する時間範囲内で高周波電源を遮断制御する。これによりプラズマに電力を安定して供給する。

Description

真空装置用異常放電抑制装置
 本発明は、真空異常放電抑制装置に関し、特に、高周波電源を用いて行うプラズマ生成において発生する異常放電を抑制するために、高周波電源の出力を遮断する真空装置用異常放電抑制装置に関し、この異常放電の抑制によって、プラズマを用いた基板の成膜あるいは基板のエッチングにおいて、異常放電による損傷から基板を保護するものである。
 半導体デバイス、液晶パネル、ディスク等の製造工程において、これらの基板にプラズマを用いて処理を行う工程がある。このプラズマ処理の工程を行う装置では、高周波電源から高周波電力を供給して処理ガスをプラズマ化し、このプラズマによって基板の表面に成膜あるいはエッチング処理を行っている。この真空装置において、高周波電源と負荷との間に整合器を設け、整合器からプラズマに至るインピーダンスと整合器から高周波電源に至るインピーダンスとを調整することによって、プラズマからの反射波電力を抑制する制御が行われている。
 成膜やエッチング等のプラズマを用いた処理では、マグネット部分の配置、カソード表面の状態、絶縁部分の製造方法、ターゲットの品質・製造方法・エッジ部分の形状・エロージョン・表面腐食状態・表面活性化の均一性・温度制御方法、スパッタガスの種類・圧力制御・流し方など、さまざまな要因によって、異常放電が発生する。
 異常放電は、はじめに少数派アークが発生し、次に少数派アーク部分の昇温のためにエネルギーが集中し、大部分の異常放電(多数派アーク)へと移行する。この多数派アークが発生すると、高エネルギー電子の移動、ターゲット表面温度の上昇、ガス圧の異常分布などが正帰還することによって、ターゲット材料の蒸発が起こり、局所的プラズマ密度の上昇が起こり、レーストラックアークと呼ばれるような大きなアークの引き金となる。少数派アーク、多数派アーク及びレーストラックアークによって、ターゲットが物理的に破壊されるという影響の他に、破片によって成膜中のメモリーや光学的表面にピンホールが発生する等の影響がある。
 破壊によってターゲット上に小さな酸化部分が発生すると、その部分の電子密度が高まり、プラズマ自身の蓄積エネルギーと高周波電源や直流電源より供給されるエネルギーの吸収によって、酸化部分の付近のインピーダンスが急激に低くなり、その吸収されたエネルギーが熱に変換する。この熱がターゲットの材料を蒸発させて部分的な圧力を上げたり電子密度を高めたりする。そのため、上記のような大きな異常放電が起きた場合には、ターゲットやサンプル付近の熱を逃がし、ガスを発散させた後に、電源を再投入するという必要がある。(特許文献1参照)
 また、基板処理に影響を与える要因の一つとしてプラズマ中の電子密度がある。プラズマ状態は高周波電力や真空室内の圧力等によって変化するため、整合器でインピーダンスを調整した場合であっても、プラズマ状態によっては、プラズマで反射して高周波電源に戻る反射波が増加する。このプラズマ中の電子密度を反射係数の検出で監視するものが提案されている。(特許文献2参照)
 また、アーク等の異常放電の発生によって、ガラス基板やシリコンウェハなどにダメージを与える場合がある。高周波発生装置において、プラズマ発生室でアークが発生した場合に、反射波電力の検出によってアークの発生を検出し、検出信号を受けた制御回路によって高周波発生装置の出力を低下あるいは一時的(数十msec)に停止させることで、アークを消弧することが行われている。(例えば、特許文献3参照)
 また、成膜電極に発生する瞬間的な異常放電を抑制するために、異常放電の発生を抑えるアークカット機能と呼ばれる動作機能を備えたプラズマCVD装置が提案されている。このアークカット機能は、マッチングボックス内の電流等によって、瞬間的な異常放電の発生する前兆を検出し、短時間だけ高周波電力の印加を停止、あるいは印加電力を低下させるものである。(特許文献4参照)
 また、この特許文献3では、アークカット動作の動作回数をカウントし、成膜処理中におけるアークカット動作回数を記録することも提案されている。
特許第2733454号公報 特開2000-299198号公報 特開平06-119997号公報 特開2001-102196号公報
 真空装置において、反射波電力が急増することによって異常放電の発生を検出することが行われているが、この反射波電力は異常放電が発生する以外の場合であっても増加する場合があるため、異常放電でないにも係わらず高周波電源が遮断されるという問題がある。例えば、高周波電源を起動して高周波電力を負荷側に供給するイグニッション時には反射波電力が増加する。そのため、異常放電が発生していない場合であっても、この反射波電力の増加を検出することで異常放電が発生したと判断し、高周波電源から負荷への高周波電力の出力を遮断する制御が行われる。このように高周波電源からの出力が遮断されると、電力供給が行われないためプラズマが形成されず、成膜処理に支障が生じることになる。
 また、上記したイグニッション時の他にも、異常放電を検出して高周波電力の出力を遮断した後、高周波電源を再起動させる際においても同様の問題があり、インピーダンスの不整合等によって反射波電力が増加するため、異常放電が発生していない場合であっても、この反射波電力の増加を異常放電の発生と誤検出し、遮断動作が再度行われ、再起動に支障が生じる場合がある。
 このイグニッション時や再起動時において、異常放電として検出する検出レベルを高く設定することによって誤検出を抑制することが考えられる。しかしながら、高周波電源は、通常、過電流を保護するために出力電圧を低下させる垂下特性の保護機能を有しているため、この反射波電力の垂下レベル(例えば、15%)よりも十分に高い検出レベル(例えば、20%~50%)を設定する必要がある。このように、異常放電を検出する検出レベルを高く設定すると、初期段階の異常放電を検出することが困難となり、良好な異常放電検出を行うことができないという問題がある。
 また、定常のプラズマ動作中において、異常放電を検出する検出レベルを低くした場合にはイオンが残存する。この残存するイオンが蓄積されると、異常アークを発生させる要因となって異常放電の発生頻度が高まり、安定したプラズマへの電力供給が困難となるという問題がある。
 そこで、本発明は前記した従来の問題点を解決し、プラズマに安定して電力を供給することを目的とする。
 プラズマへの電力の安定供給を行うために、アークの成長抑制と、異常アークを発生させるイオンの蓄積の解消とを行うことを目的とする。
 また、プラズマへの電力の安定供給を行うために、異常放電の誤検出を低減することを目的とする。
 また、プラズマへの電力の安定供給を行うために、イグニッション時や再起動時において、異常放電を検出する検出レベルを高く設定することなく、誤検出を抑制することを目的とする。
 本発明の真空装置用異常放電抑制装置は、プラズマに安定して電力を供給するために、異常放電の発生を抑制する装置であり、異常放電の発生を抑制する態様として2つの態様を備える。
 異常放電を抑制する第1の態様は、高周波電源の出力を遮断する遮断時間の時間幅を異ならせることによって、プラズマ中のイオンを残存させた状態での再起動を可能とする第1のファーストハンドリング遮断制御と、異常アークイオンを消失させた状態で再起動を行う第2のセカンドハンドリング遮断制御との2つの遮断制御を使い分ける態様である。
 第2の態様は、イグニッション時や、ファーストハンドリング遮断後に行う高速立ち上げによる再起動時などのフィードバック信号が変動し易い区間では、遮断動作を禁止することによって、異常放電の誤検出による誤動作を抑制する態様である。第1の態様と第2態様は、共にプラズマへの安定した電力供給を可能とするものである。
 第1の態様では、プラズマ中のイオンを残存させた状態での再起動を可能とする第1のファーストハンドリング遮断制御によってアークの成長を抑制し、異常アークイオンを消失させた状態で再起動を行う第2のセカンドハンドリング遮断制御によって異常アークを発生させるイオンの蓄積を解消する。
 また、第2の態様は、イグニッション時やファーストハンドリング遮断後の再起動時等の区間内においては、異常放電を検出した場合であっても遮断動作を禁止する。
 本発明の第1の態様は、高周波電源からプラズマ反応室内に電力を供給してプラズマを生成し、このプラズマによって成膜やエッチング等の処理を行う真空装置の異常放電を抑制する装置であって、電力指令値と電力フィードバック値との偏差に基づいて高周波電源を制御する電力制御部と、プラズマ反応室内の異常放電時、および異常放電への移行過程時の少なくとも何れかの時期で発生する反射波電力または反射波電圧の検出に基づいて高周波電源からプラズマ反応室への電力供給を遮断する遮断制御部とを備える。
 遮断制御部は、遮断時間を異にする第1のファーストハンドリング遮断制御と第2のセカンドハンドリング遮断制御を行う。第1のファーストハンドリング遮断制御は、プラズマ反応室内のイオンの残存を可能とし、異常放電の要因である少数派アークのアーキング要素が消滅する時間幅内で高周波電源を遮断制御する。一方、第2のセカンドハンドリング遮断制御は、異常放電時の多数波アークのイオンが消滅する時間範囲内で高周波電源を遮断制御する。
 第1のファーストハンドリング遮断制御では、例えば、遮断時間の時間幅を1μsから100μsの短時間幅とし、プラズマ反応室内のイオンが残存した状態で遮断制御を終了する。少数派アークのアーキング要素は、この短時間の遮断によって消滅するため、異常放電は解消される。また、第1のファーストハンドリング遮断制御による遮断時間幅では、プラズマ反応室内のイオンが残存した状態であるため、遮断後に行う再起動を行った際に、電力供給の立ち上がりを素早く短時間で行うことができる。これにより、瞬時に正常放電に復帰させることができる。
 第2のセカンドハンドリング遮断制御では、例えば、1msから100msの時間幅とし、多数波アークの異常アークイオンが消滅した状態で遮断制御を終了する。これよって、異常アークを発生させるイオンの蓄積を解消させ、アーキングを断ち切ることができる。
 このセカンドハンドリング遮断は、異常アークイオンを消滅させることから、アークイオンリフレッシュ動作とも称する。
 第1の態様において、電力制御部は、第1のファーストハンドリング遮断制御によって高周波電源の出力を遮断した後に高速で立ち上げる再起動を行い、電力指令値あるいは電圧指令値に対して進行波電力値あるいは進行波電圧値をフィードバック制御して、高周波電源の出力が電力指令値あるいは電圧指令値となるように制御する。
 この第1のファーストハンドリング遮断制御後に行う高速立ち上げは、零から電力指令電力値あるいは電圧指令値までのランプ状の電力あるいは電圧を、第1のファーストハンドリング遮断制御の遮断時間と同じ時間オーダーの時間幅で出力する高速立ち上げである。したがって、この高速立ち上げに要する時間幅は、第1のファーストハンドリング遮断制御の遮断時間に基づいて定めることができる。この高速立ち上げの時間幅は、例えば、1μsから100μsとすることができる。
 また、電力制御部は、第2のセカンドハンドリング遮断制御によって高周波電源の出力を遮断した後にソフトスタートによる再起動を行い、電力指令値あるいは電圧指令値に対して進行波電力値あるいは進行波電圧値をフィードバック制御して、高周波電源の出力が電力指令値あるいは電圧指令値となるように制御する。
 この第2のセカンドハンドリング遮断制御後に行うソフトスタートは、零から電力指令値又は電圧指令値までのランプ状の電力出力又は電圧出力を、高周波電源とプラズマ反応室との間に配したマッチングボックスの整合回路が十分に対応することができる整合速度で行う。したがって、このソフトスタートに要する時間幅は、電力指令値あるいは電圧指令値の大きさ、マッチングボックスの整合回路の整合特性等に依存して定めることができる。このソフトスタートの時間幅は、例えば、1msから10sとすることができる。
 第2のセカンドハンドリング遮断制御は、多数波アークである異常アークを発生させるイオンの蓄積を解消させ、アーキングを断ち切ることを目的としているため、プラズマに異常アークを発生させるイオンが蓄積した段階で実行することが効果的である。
 本発明は、この異常アークを発生させるイオンの蓄積状況を、所定の単位時間(例えば、10ms)以内に生じる第1のファーストハンドリング遮断制御の累積実行回数に基づいて判断し、第1のファーストハンドリング遮断制御の累積実行回数が予め設定した回数に達した時点を、プラズマに異常アークを発生させるイオンが蓄積した段階であると判断して第2のセカンドハンドリング遮断制御を実行する。遮断制御禁止部は、第1の所定の時間内において、ファーストハンドリング遮断制御の実行回数を計数し、この計数で得られた計数値が予め設定された設定回数に達した時点で第2のセカンドハンドリング遮断制御を実行する。
 また、第2のセカンドハンドリング遮断制御を実行すると共に計数値をクリアし、第1のファーストハンドリング遮断制御の実行回数の計数を再開し、再度、所定時間内において、この計数値が設定回数に達した時点で再度第2のセカンドハンドリング遮断制御を実行する。この所定回数の第1のファーストハンドリング遮断制御と、その後に行う第2のセカンドハンドリング遮断制御とを繰り返すことで、アークの成長抑制と異常アークイオンの解消を効果的に行うことができる。
 本発明の第2の態様は、イグニッション・モード区間、ファーストハンドリング遮断後の高速立ち上がり区間、セカンドハンドリング遮断後のリイグニッション・モード区間等において、異常放電を検出した場合であっても遮断動作を禁止することで、異常放電の誤検出による遮断を抑制して、プラズマに対する電力供給を安定なものとする。イグニッション時や遮断後の再起動時では、プラズマ負荷に対して整合がとれないことによって反射波電力が増大する。この反射波電力の増大による過電圧や過電流を抑制するために、反射波電力垂下制御が行われる。この際、反射波電力が増大するのは、整合不調を要因とするものであって、異常放電のアークを原因とするものではないため、遮断動作を行う必要がない。そこで、このような場合には、遮断動作を禁止してプラズマに対する電力供給を安定なものとする。
 本発明の第2の態様の構成は、プラズマ反応室内に電力を供給して生成されるプラズマを用いて成膜やエッチング処理を行う真空装置の異常放電を抑制する装置であって、電力を供給する高周波電源を有する。この高周波電源は、電力指令値と電力フィードバック値との偏差に基づいて高周波電源を制御する電力制御部と、プラズマ反応室内の異常放電時、および異常放電への移行過程時の少なくとも何れかの時期で発生する反射波電力または反射波電圧を検出し、高周波電源からプラズマ反応室への電力供給を遮断する遮断制御部とを備える。遮断制御部は異常放電を検出するアーキング検出・遮断部と、このアーキング検出・遮断部による電力供給の遮断制御を禁止する遮断制御禁止部とを備える。
 本発明の第2の態様が備える遮断制御禁止部は、アーク遮断禁止区間として定めた区間内において、遮断制御部による電力供給の遮断制御を禁止し、遮断制御部が電力供給を遮断する制御を行ったとしても、この遮断制御を禁止して電力供給を継続する。 
 電力制御部は、電力フィードバック値として進行波電力値を用い、電力指令値と進行波電力値との偏差が減少するように出力電力を制御する。
 また、遮断制御部は、2つの形態で遮断制御を行う。第1の形態は少数派アークを抑制するファーストハンドリング遮断制御であり、反射波電力または反射波電圧と低レベルのしきい値との比較によって異常放電を検出し、この異常放電の検出に基づいて電力供給を遮断する。第2の形態は多数波アークを抑制するセカンドハンドリング遮断制御であり、反射波電力または反射波電圧と高レベルのしきい値との比較によって反射波電力の増加を検出し、この反射波電力の増加の検出に基づいて電力供給を遮断する。
 ファーストハンドリング遮断制御とセカンドハンドリング遮断制御は、反射波電力Prと比較するしきい値の大きさを異ならせる。ファーストハンドリング遮断制御はしきい値として低レベルの値を用いて、反射波電力または反射波電圧の増加の初期段階を検出する。これによって、異常放電の発生に伴う反射波電力の増加を検出する。
 一方、セカンドハンドリング遮断制御はしきい値として、ファーストハンドリング遮断制御で用いた低レベルの値よりも大きな高レベルの値を用いて、エネルギーが集中し、大部分の異常放電へと移行した多数波アークの状態を検出し遮断する。
 本発明の遮断制御禁止部は、遮断制御を禁止する禁止制御を、ファーストハンドリング遮断制御に対して実効し、セカンドハンドリング遮断制御に対しては禁止制御を行わない。ファーストハンドリング遮断制御は、プラズマイオンを残存させると共に、少数派アークのアーキング要素を消滅させ、セカンドハンドリング遮断制御は、異常放電時の多数派アークイオンを消滅させ、これによって、異常放電を抑制することを目的とするものである。
 異常放電を要因とするセカンドハンドリング遮断制御に対して、遮断制御を禁止する禁止制御を適用した場合には、セカンドハンドリング遮断制御の効果を低減させることになる。そこで、遮断制御禁止部は、ファーストハンドリング遮断制御に対してのみ禁止制御を適用し、誤って異常放電と検出することによる誤遮断制御が行われないようにする。
 アーク遮断禁止区間は、高周波電源のプラズマ負荷に対する不整合が生じる区間であり、高周波電源の起動時のイグニッション・モード区間、高周波電源の再起動時における、ファーストハンドリング遮断後の高速立ち上げ区間、セカンドハンドリング遮断後のリイグニッション・モード区間、および、進行波が所定レベルに達するまでの区間である進行波電力過渡区間の各区間を含んでいる。
 上記したアーク遮断禁止区間ではプラズマが不安定な状態にあり、プラズマ負荷に対する整合回路の整合が不十分であるため、反射波電力が増加する場合がある。このときの反射波電力の増加は、異常放電を要因とするものではない。この反射波電力の増加に対して、高周波電源は保護動作として反射波電力垂下制御を行っているため、上記したアーク遮断禁止区間では遮断制御を行う必要はない。イグニッション・モード区間およびリイグニッション・モード区間は、プラズマが着火したと見なせる区間であり、進行波電力が電力出力を開始する時点から反射波電力の垂下レベルを越えるまでの区間である。
 イグニッション・モード区間およびリイグニッション・モード区間において、高周波電源の出力電力の電力指令値に対して、進行波電力あるいはプラズマへの負荷電力が大きく外れた場合には、過大な反射波電力を受けて垂下制御が行われ、過電圧、過電流は垂下特性で保護される。高周波電源の出力電力は、この垂下特性によって低下するため、遮断制御により電力供給を停止させる必要はない。
 このイグニッション・モード区間、リイグニッション・モード区間、高速立ち上がり区間において、ファーストハンドリング遮断制御は、反射波電力の増加検出を異常放電として誤検出し、この誤検出に基づいて電力供給を遮断されることになり、異常放電が発生していないにもかかわらず、プラズマに対して電力を供給することができなくなる。そこで、この区間ではアーク遮断禁止区間として、電力供給を遮断することなく継続する。
 イグニッション・モード区間、リイグニッション・モード区間、高速立ち上がり区間において、垂下レベルは、定格電力指令値Cs100%に反射垂下係数Lを乗じたL×Cs100%で定めることができる。ここで、反射垂下係数Lは0.1~0.3の範囲内で定めることができる。
 また、起動時や再起動時において、進行波電力は電力指令値Csよりも遅れて増加し、フィードバック制御によって電力指令値Csに向かって漸近していく。この進行波電力が過渡状態にある区間において、反射波電力の増加検出を異常放電として検出し、この検出に基づいて電力供給を遮断すると、異常放電が発生していないにもかかわらず、プラズマに対して電力を供給することができなくなる。そこで、この進行波電力過渡期間は、アーク遮断禁止区間として電力供給を遮断することなく継続する。
 進行波電力過渡区間は、進行波電力Pfと電力指令値Csとの差分(Cs-Pf)が充分に大きな区間であり、電力指令値Csを上限とし、電力指令値Csから定格電力指令値Cs100%に所定の係数Kを乗じたK×Cs100%を減じた値(Cs-K×Cs100%)を下限とするレベル範囲により定めることができ、進行波電力Pfがこのレベル範囲外にあるときは、アーク遮断禁止区間として電力供給を遮断することなく継続する。ここで、係数Kは例えば0.01~0.2の範囲内で設定し、例えば、0.03とすることができる。
 以上説明したように、本発明の真空装置用異常放電抑制装置によれば、プラズマに安定して電力を供給することができる。
 また、本発明の真空装置用異常放電抑制装置によれば、アークの成長を抑制し、異常アークを発生させるイオンの蓄積を解消することができ、これによって、プラズマへの電力の安定供給を行うことができる。
 また、本発明の真空装置用異常放電抑制装置によれば、異常放電の誤検出を低減することができ、これによって、プラズマへの電力の安定供給を行うことができる。
 また、本発明の真空装置用異常放電抑制装置によれば、イグニッション時や再起動時において、異常放電を検出する検出レベルを高く設定することなく、誤検出を抑制することができ、これによって、プラズマへの電力の安定供給を行うことができる。
本発明の真空装置の電源システムおよび真空装置用異常放電抑制装置の概略構成図である。 本発明の電源制御部の制御系を示すブロック線図である。 本発明の遮断処理および遮断禁止処理を説明するための信号図である。 本発明の遮断処理および遮断禁止処理を説明するための信号図である。 本発明の遮断処理および遮断禁止処理を説明するためのフローチャートである。 本発明の遮断処理および遮断禁止処理を説明するためのフローチャートである。 本発明の真空装置用異常放電抑制装置の実施形態の構成例を説明するための図である。 本発明の真空装置用異常放電抑制装置の実施形態の遮断処理および遮断禁止処理を説明するためのフローチャートである。 本発明の真空装置用異常放電抑制装置のセカンドハンドリング遮断を説明するためのフローチャートである。 比較回路を用いた遮断制御部の出力状態を示す図である。 本発明の遮断制御禁止部の別の構成例を示す図である。 本発明の始動時点のソフトスタート時におけるアーク遮断禁止区間を示す図である。 本発明のファーストハンドリング遮断後の高速立ち上がり時におけるアーク遮断禁止区間を示す図である。 本発明のセカンドハンドリング遮断後のソフトスタート時におけるアーク遮断禁止区間を示す図である。
符号の説明
 1…電力制御部
 1a…電力設定部
 1b…ソフトスタート制御部
 1c,1d…伝達関数
 1e…電力設定部
 1f,1g…電力設定部
 2…遮断割り込み回路
 3…遮断制御部
 4…アーキング検出・遮断部
 4A…ファーストハンドリング遮断系
 4Aa…電力設定部
 4Ab…第1比較回路
 4Ac…第1制御信号生成回路
 4B…セカンドハンドリング遮断系
 4Ba…電力設定部
 4Bb…第2比較回路
 4Bc…第2制御信号生成回路
 5…遮断制御禁止部
 5a…第1スイッチ回路
 5b…第3比較回路
 5c…第2スイッチ回路
 5d…判定回路
 5e…カウンタ回路
 6…発振器
 7…演算増幅器
 8…電力増幅器
 9…センサ
 10…高周波電源
 11…整合回路
 12…プラズマ負荷
 以下、本発明の実施の形態について、図を参照しながら詳細に説明する。
 以下、本発明の真空装置用異常放電抑制装置の構成例について、図1を用いて説明する。
 図1は、真空装置の電源システムおよび真空装置用異常放電抑制装置の概略構成図である。同図において、電源システムは電力制御部1,発振器6,センサ9と含む高周波電源10を備える。電力制御部1は、センサ9で検出した進行波電力Pfをフィードバック信号とし、電力指令値Csとの差分に基づいて出力電力を制御する。高周波電源10は、整合回路11を介してプラズマ負荷12に電力を供給する。ここで、プラズマ負荷12は、真空装置が備えるプラズマ反応室内で形成されるプラズマを電源側から見たときの電気的な負荷である。
 電源システムにおいて、電力制御部1は、センサ9から進行波電力Pfをフィードバック信号として入力し、入力したフィードバック信号と電力指令値Csとの偏差に基づいて帰還制御を行い、高周波電源10の出力電力が電力指令値Csとなるように制御する。電力制御部1による制御は、電力指令値Csに対して出力電力を制御する他、電圧指令値に対して出力電圧を制御することで行うことができる。以下では、電力指令値Csに対して出力電力を制御する場合について説明する。
 センサ9は、高周波電源10からプラズマ負荷12に送られる進行波電力Pf、およびプラズマ負荷12から高周波電源10に向かう反射波電力Prを検出する。電力制御部1には、進行波電力Pfの検出信号が帰還され、後述する遮断制御部3が有するアーキング検出・遮断部4には反射波電力Prの検出信号が送られ、遮断制御禁止部5には進行波電力Pfの検出信号が送られる。
 センサ9は進行波電力Pfおよび反射波電力Prを検出し、進行波電力Pfの検出信号および反射波電力Prの検出信号を電力制御部1に送る。電力制御部1は、進行波電力Pfの検出信号を用いたフィードバック制御によって高周波電源10の出力電力を目標値に追従させる。
 電力制御部1によるフィードバック制御は、電力指令値Csと進行波電力Pfとの差分信号を、出力電力を制御する指令信号として生成し、演算増幅器7の一方の端子に入力する。一方、演算増幅器7の他方の端子には基準となる高周波信号を入力する。演算増幅器7は、電力制御部1の指令信号に基づいて高周波信号の振幅を制御する。高周波信号は発振器6によって形成することができ、この高周波信号の周波数は、プラズマ負荷に供給する高周波に応じて定めることができ、例えば13.56MHzの周波数信号とする。
 これによって、演算増幅器7の交流の出力信号は、プラズマ負荷12に供給する電力が電力指令値Csとなるように制御される。演算増幅器7の出力信号は、電力増幅器8によって所定電力とした後、整合回路11を通してプラズマ負荷12に送られる。
 フィードバック制御は、演算増幅器7を用いて行う他に、演算増幅器7に換えてインバータを用いることができ、スイッチング素子のスイッチング間隔を制御するPWM制御信号によって交流電力の電圧を制御することもできる。
 また、電力制御部1は、反射波電力Prの検出信号を用いて反射波電力Prの増加を検出し、反射波電力Prの増加を検出した場合には垂下制御を行い、反射波電力Prの増加に伴う過電流や過電圧を抑制して電源を保護する。
 整合回路11は、高周波電源10側とプラズマ負荷12との間のインピーダンス整合を行う回路であって、例えば、インダクタンスとコンデンサによって構成することができる。
 図2は、電源制御部の制御系を示すブロック線図である。
 図2において、Csは高周波電源10の出力電力の目標値に対応する電力指令値であり、Pfはプラズマ負荷12に向かう進行波電力である。この制御系では、出力電力である進行波電力Pfが電力指令値である目標値Csに一致するようにフィードバック制御を行う。
 電力制御部1において、S1は、電力指令値Csと、伝達関数βを経てセンサ9からフィードバックされた進行波電力の検出信号Pfbとの差分を算出し、電力の制御偏差εとして出力するサミング点である。Gは、電力の制御偏差εに応じて電流指令信号Iを生成する際の伝達関数であり、比例特性及び積分特性を持つ。進行波電力Pfは、プラズマ負荷12に供給されるとともに、伝達関数βを経てサミング点Sまでフィードバックされる。βは進行波電力Pfをサミング点Sまでフィードバックする際の伝達関数であり、ここでは進行波電力Pfを検出するセンサ9の伝達関数に相当する。
 また、電力制御部1は、起動時や遮断後の再起動時において、零出力状態から所定電力値までランプ状に電力を増加させるソフトスタート制御を含んでいる。
 また、本発明の真空装置用異常放電抑制装置において、高周波電源10は、異常放電を検出した際に、プラズマ負荷12に向けて出力する電力を一時的に遮断する機構を備える。この遮断機構は、出力電力の遮断動作を制御する遮断制御部3を有し、この遮断制御部3は、アーキングを検出し遮断動作を制御するアーキング検出・遮断部4、異常放電以外の場合にアーキング検出・遮断部4の動作を禁止して電力供給を続行させる遮断制御禁止部5、および、通常の電力制御に対して遮断制御部3による遮断動作の割り込みを行う遮断割り込み部2を含む。
 遮断割り込み部2は、遮断制御部3の遮断制御を受けて発振器6の動作を停止させる。この発振器6の動作を停止させることによって、高周波電源10からプラズマ負荷12へ電力供給は一時的に停止する。なお、遮断制御は、プラズマ負荷12への電力供給を停止する他、供給する電力量を低減させる制御としてもよく、発振器6の動作停止に代えて電力制御部1によって出力電力を抑制するようにしてもよい。
 遮断制御部3のアーキング検出・遮断部4は、センサ9で検出した反射波電力Prの検出信号を入力し、この反射波電力Prの検出信号と遮断用のしきい値と比較し、反射波電力Prの検出信号の大きさがこのしきい値を越えたとき、プラズマ負荷12において異常放電が発生したと判断して遮断割り込み部2に遮断指令を出力する。遮断割り込み部2は、遮断制御部3からの遮断指令を受けると発振器6の発振動作を停止し、これによって、高周波電源10からプラズマ負荷12への電力供給を一時的に停止し、異常放電の発生を抑制する。
 遮断制御部3が行う異常放電の抑制は、プラズマ中のイオンを残存させた状態での再起動を可能とする第1のファーストハンドリング遮断制御と、異常アークイオンを消失させた状態で再起動を行う第2のセカンドハンドリング遮断制御との2つの遮断制御によって行うことができる。この2つの遮断制御は、高周波電源の出力を遮断する遮断時間の時間幅を異ならせることによって選択することができる。
 第1のファーストハンドリング遮断制御は、プラズマ中のイオンを残存させた状態での再起動を可能とした状態で遮断制御を行ってアークの成長を抑制する。一方、第2のセカンドハンドリング遮断制御は、異常アークイオンを消失させることで、異常アークを発生させるイオンの蓄積を解消する。
 遮断制御部3のアーキング検出・遮断部4は、遮断時間を異にする第1のファーストハンドリング遮断制御と第2のセカンドハンドリング遮断制御を行う。第1のファーストハンドリング遮断制御は、プラズマ反応室内のイオンの残存を可能とし、アーキング要素が消滅する時間幅内で高周波電源を遮断制御する。一方、第2のセカンドハンドリング遮断制御は、異常アークイオンが消滅する時間範囲内で高周波電源を遮断制御する。
 第1のファーストハンドリング遮断制御では、例えば、遮断時間の時間幅を1μsから100μsの短い時間幅とし、プラズマ反応室内のイオンが残存した状態で遮断制御を終了する。これにより、異常放電の要因であるアーキング要素は、この短時間の遮断によって消滅し、異常放電は解消される。また、第1のファーストハンドリング遮断制御による遮断時間幅では、プラズマ反応室内のイオンが残存した状態である。そのため、遮断後の再起動では、電力供給の立ち上がりを素早く短時間で行うことができるため、瞬時に正常放電に復帰させることができる。
 第2のセカンドハンドリング遮断制御では、例えば、1msから100msの第1のファーストハンドリング遮断制御よりも長い時間幅とし、異常アークイオンが消滅した状態で遮断制御を終了する。これよって、異常アークを発生させるイオンの蓄積を解消させ、アーキングを断ち切ることができる。
 本発明では、第1のファーストハンドリング遮断制御による遮断動作は、反射波電力が低レベルのしきい値(ファーストハンドリングレベル)に達した時点で電力供給を停止して異常放電を解消させる。また、第2のセカンドハンドリング遮断制御による遮断動作は、反射波電力が高レベルのしきい値(セカンドハンドリングレベル)に達した時点で電力供給を停止して異常アークイオンを消滅させる。このセカンドハンドリング遮断制御は、アークイオンリフレッシュ動作とも称する。
 第1の遮断制御による遮断動作は第2の遮断制御による遮断動作に先だって行われるため、第1の遮断制御をファーストハンドリングと称し、第2の遮断制御をセカンドハンドリングと称し、ファーストハンドリングレベルはセカンドハンドリングレベルよりも低レベルに設定する。
 電力制御部1は、第1のファーストハンドリング遮断制御によって高周波電源10の出力を遮断した後に高速立ち上げで再起動させ、電力指令値Csに対して進行波電力値Pfをフィードバック制御して、高周波電源の出力が電力指令値Csとなるように制御する。
 この第1の遮断制御後に行う再起動は高速立ち上がりであり、零出力状態から電力指令値までのランプ状の電力を、第1のファーストハンドリング遮断制御の遮断時間と同じ時間オーダーの時間幅で出力することで行う。したがって、この高速立ち上げに要する時間幅は、第1のファーストハンドリング遮断制御の遮断時間に応じて定めることができる。この時間幅は、例えば、1μsから100μsとすることができる。
 また、電力制御部1は、第2のセカンドハンドリング遮断制御によって高周波電源10の出力を遮断した後にソフトスタートによる再起動を行い、電力指令値Csに対して進行波電力値Pfをフィードバック制御して、高周波電源の出力が電力指令値Csとなるように制御する。
 この第2のセカンドハンドリング遮断制御後に行う再起動のソフトスタートは、零出力状態から電力指令値Csまでのランプ状の電力出力を、整合回路11が十分に対応することができる整合速度で行う。これによって、整合不良による反射波電力Prの増加を抑制することができる。
 したがって、この第2のセカンドハンドリング遮断制御による再起動のソフトスタートに要する時間幅は、電力指令値Csの大きさ、整合回路11の整合特性等に依存して定めることができる。このソフトスタートの時間幅は、例えば、1msから10sとすることができる。
 第2のセカンドハンドリング遮断制御は、異常アークを発生させるイオンの蓄積を解消させ、アーキングを断ち切ることを目的としているため、プラズマに異常アークを発生させるイオンが蓄積した段階で実行することが効果的である。
 第2のセカンドハンドリング遮断制御は、所定時間内で発生する第1のファーストハンドリング遮断制御の累積実行回数に基づいて、異常アークを発生させるイオンの蓄積状況を判断し、第1のファーストハンドリング遮断制御の累積実行回数が予め設定した回数に達した時点を、プラズマに異常アークを発生させるイオンが蓄積した段階であると判断することで実行する。そこで、遮断制御部3が備えるアーキング検出・遮断部4は遮断制御禁止部5と共に、第1のファーストハンドリング遮断制御の実行回数を計数し、この計数で得られた計数値が予め設定された設定回数に達した時点で第2のセカンドハンドリング遮断制御を実行する。
 また、第2のセカンドハンドリング遮断制御を実行すると共に計数値をクリアし、第1のファーストハンドリング遮断制御の実行回数の計数を再開し、所定時間内の計数値が設定回数に達した時点で再度第2のセカンドハンドリング遮断制御を実行する。この所定回数の第1の遮断制御と、その後に第2の遮断制御とを繰り返すことで、アークの成長抑制と異常アークイオンの解消を効果的に行うことができる。
 また、遮断制御部3は、ファーストハンドリング遮断制御とセカンドハンドリング遮断制御の2つの形態で遮断制御を行うことができる。
 各遮断制御は、例えば、反射波電力の絶対値レベルとしきい値との比較によって異常放電を検出し、検出した異常放電に基づいて行うことができる。
 反射波電力の絶対値レベルとしきい値とを比較することによって異常放電を検出する場合において、ファーストハンドリング遮断制御は、反射波電力を低レベルのしきい値と比較することによって異常放電を検出し、この異常放電の検出に基づいて電力供給を遮断する。一方、セカンドハンドリング遮断制御は、反射波電力を高レベルのしきい値と比較することによって反射波電力の増加を検出し、この反射波電力の増加の検出に基づいて電力供給を遮断する。
 ファーストハンドリング遮断制御とセカンドハンドリング遮断制御は、反射波電力Prと比較するしきい値の大きさを異ならせることで選択する。ファーストハンドリング遮断制御はしきい値として低レベルの値を用いて、反射波電力の増加の初期段階を検出する。これによって、異常放電の発生に伴う反射波電力の増加を検出することができる。その結果、プラズマの成膜時およびエッチング時の異常放電を少数派アークの状態で遮断することができる。
 一方、セカンドハンドリング遮断制御はしきい値として、ファーストハンドリング遮断制御で用いた低レベルの値よりも大きな高レベルの値を用いて、初期段階を過ぎた段階の反射波電力の増加を検出する。これによって、エネルギーが集中し、大部分の異常放電へと移行した多数波アークの状態を検出し、遮断する。
 また、遮断制御禁止部5は、アーク遮断禁止区間として定めた区間内において、アーキング検出・遮断部4による電力供給の遮断制御を禁止し、遮断制御禁止部5が電力供給を遮断する制御を行う場合であっても、この遮断制御を禁止して電力供給を継続する。このアーク遮断禁止区間は、反射波電力の増加が異常放電以外の要因で生じる場合に、異常放電と誤認して電力供給を停止することを防ぐために定める区間である。このアーク遮断禁止区間内において、アーキング検出・遮断部4が反射波電力の増加を検出して遮断指令を出力した場合には、この遮断指令を禁止して遮断制御を実行しない。
 ここで、アーク遮断禁止区間は、高周波電源の起動時のイグニッション・モード区間、ファーストハンドリング遮断制御後の高速立ち上げ区間、セカンドハンドリング遮断制御後のイグニッション・モード区間、フィードバック値(進行波電力)が電力指令値に漸近して所定の変動範囲内となるまでの進行波電力過渡区間とすることができる。
 イグニッション・モード区間およびリイグニッション・モード区間は、プラズマが着火したと見なせるまでの区間であり、進行波電力が電力出力を開始する時点から反射波電力の垂下レベルを越えるまでの区間である。この区間において反射波電力が増加した場合には、高周波電源は保護動作として反射波電力垂下制御を行うため、ファーストハンドリング遮断制御を行う必要はない。なお、セカンドハンドリング遮断制御は、保護のためにアーク遮断禁止区間に係わらず遮断動作を実行する。
 アーク遮断禁止区間において、ファーストハンドリング遮断制御によって反射波電力の増加が検出され異常放電として誤検出されると、この誤検出に基づいて電力供給が遮断されることなり、異常放電が発生していないにもかかわらず、プラズマに対して電力を供給することができなくなる。そこで、本発明では、このアーク遮断禁止区間では、電力供給を遮断することなく継続する。
 イグニッション・モード区間あるいはリイグニッション・モード区間において、アーク遮断禁止区間は垂下レベルで定めることができる。垂下レベルは、定格電力指令値Cs100%に反射垂下係数Lを乗じたL×Cs100%で定めることができる。ここで、反射垂下係数Lは0.1~0.3の範囲内で定めることができる。
 また、起動時や再起動時において、進行波電力は電力指令値Csよりも遅れて増加し、フィードバック制御によって電力指令値Csに向かって漸近していく。この進行波電力が過渡状態にある区間において、反射波電力の増加検出を異常放電として検出し、この検出に基づいて電力供給を遮断すると、異常放電が発生していないにもかかわらず、プラズマに対して電力を供給することができなくなる。そこで、この進行波電力過渡期間は、アーク遮断禁止区間として電力供給を遮断することなく継続する。
 この進行波電力過渡区間は、電力フィードバック値(進行波電力)が電力指令値に対して所定の変動範囲を超える区間として定めることができる進行波電力過渡区間は、進行波電力Pfと電力指令値Csとの差分(Cs-Pf)が充分に大きな区間であり、電力指令値Csを上限とし、電力指令値Csから定格電力指令値Cs100%に所定の係数Kを乗じたK×Cs100%を減じた値(Cs-K×Cs100%)を下限とするレベル範囲により定めることができ、進行波電力Pfがこのレベル範囲外にあるときは、アーク遮断禁止区間として電力供給を遮断することなく継続する。ここで、係数Kは例えば0.01~0.2の範囲内で設定することができる。
 例えば、係数Kとして0.03を設定した場合には、アーク遮断禁止区間は、電力指令値Csを上限とし、(Cs-0.03×Cs100%)を下限する電力範囲によって設定することができ、進行波電力がこの範囲外でるときには遮断制御を禁止し、電力供給を停止することなく続ける。
 次に、図3、図4の信号図、および図5,6のフローチャートを用いて、遮断処理および遮断禁止処理について説明する。なお、ここでは、異常放電を検出して行うファーストハンドリング遮断処理と、このファーストハンドリング処理をイグニッション・モード区間、リイグニッション・モード区間、および進行波電力過渡区間のアーク断禁止区間で禁止する動作について説明する。なお、図4、図6は、複数回のファーストハンドリング遮断が発生した際に、セカンドハンドリング遮断を行う遮断処理について示している。
 図3の信号図は、高周波電源10をソフトスタート制御によって電力の立ち上げを行う場合、およびファーストハンドリング遮断後に行う電力の高速立ち上げを行う場合を示し、図4はファーストハンドリング遮断後の電力の高速立ち上げ、およびセカンドハンドリング遮断後のソフトスタートを行う場合を示している。
 図3、図4中の破線は電力指令値Csを示し、濃い実線は進行波電力Pfを示し、薄い実線は反射波電力Prを示している。また、図3、図4中において薄い破線は、アーク遮断禁止区間を定める電力レベルを示し、反射波電力の垂下レベルと、電力指令値Csに応じて変動するレベル範囲とを含むものである。この垂下レベルで定まるイグニッション・モード区間およびリイグニッション・モード区間、並びに、反射波電力がレベル範囲を下回る区間をアーク遮断禁止区間とし、この区間はアーク遮断動作を禁止する範囲であることを示している。
 はじめに、ソフトスタート制御によって、零電力から目標電力までの間を所定の時間を掛けてランプ状の増加特性で徐徐に増加させる。
 このソフトスタートにおいてイグニッション・モード区間を定める。イグニッション・モード区間は、電力をプラズマ負荷に印加を開始してからの初期期間であり、ここでは、進行波電力が増加してからマッチングが整合されて着火ポイントに至った状態までの区間とする。このイグニッション・モード区間は、進行波電力が垂下レベル以下の状態により定めることができる。
 イグニッション・モード区間に続いて、進行波電力が所定のレベル範囲を下回る区間を、アーク遮断禁止区間として設定する。この進行波電力過渡区間は、進行波電力Pfが電力指令値Csから遅れることによって生じる差分について、進行波電力Pfが電力指令値Csに向かって増加して漸近する際の過渡期間であり、この区間では、進行波電力Pfと電力指令値Csとの差分(Cs-Pf)は充分に大きい。この進行波電力過渡区間は、電力指令値Csを上限とし、電力指令値Csから定格電力指令値Cs100%に所定の係数Kを乗じたK×Cs100%を減じた値(Cs-K×Cs100%)を下限とするレベル範囲により定めることができる。
 このイグニッション・モード区間および進行波電力過渡区間では、プラズマ負荷に対する整合不調によって反射波電力Prが増大する可能性がある。そのため、反射波電力Prの増大を指標として異常放電を検出する場合には、この区間における反射波電力Prの増大を異常放電として誤検出するおそれがある。そこで、本発明では、このイグニッション・モード区間および進行波電力過渡区間において、反射波電力Prの増大を検出した場合であっても、電力の供給を遮断することなく継続する。
 したがって、反射波電力が垂下レベル以下であるイグニッション・モード区間、および進行波電力Pfが電力指令値に基づいて設定した進行波電力過渡区間のレベル範囲内にある場合には、これら区間をアーク遮断禁止区間として電力供給を遮断することなく継続する。
 したがって、アーク遮断禁止区間の範囲は、電力指令値Csに対して進行波電力Pfが大きく変動する範囲であって、異常放電に因らない反射波電力Prの増加による電力の供給遮断を抑制して、電力供給を継続する範囲である。この異常放電に因らない反射波電力Prの増加は、電源を保護する垂下特性によって低減される。
 また、図中のマッチング区間は、電力の印加を開始してから進行波電力Pfが電力指令値Csへの追従制御が安定するまでの区間であり、この区間以降ではフィードバック制御によって進行波電力Pfは電力指令値Csに追従して制御される。
 ソフトスタート区間が終了した後は、通常、電力指令値Csは安定した電力がプラズマ負荷に供給されるように一定値が指令され、進行波電力Pfはフィードバック制御によって電力指令値Csに追従していき、定格電力指令値Cs100%で安定する。
 この状態において反射波電力Prが増加しファーストハンドリング遮断レベルを超えた場合には、アーキングが発生して異常放電が生じたと判定し、遮断割り込み回路2からの割り込みによって発振器6の発振を停止させて電力供給を停止し、高周波電源10からプラズマ負荷12への電力供給を一時遮断する。遮断割り込み回路2によって発振器6の発振を停止させる遮断時間は、例えば1μsec~3μsecの時間間隔で行う。この一時遮断の遮断時間の範囲は、プラズマ室内のイオンが残存可能であって、かつ、アーキング要素が消滅する最短時間範囲とする。例えば1μsec~100μsecとする。イオンを残存させることによって、一時遮断の後の再立ち上がりにおいて、迅速に正常放電させることができる。図中ではこの一時遮断区間をファーストハンドリングアーク(1stハンドリングアーク)遮断と記載している。
 また、一時遮断中であってもプラズマの制御状態を保持させておき、一時遮断後の制御再開時において保持状態を解除し、制御のための初期処理を行うことなく制御動作を迅速に続けることができる。
 ファーストハンドリング遮断の一時遮断区間が経過した後、遮断処理を止め、進行波電力Pfを電力指令値Csとなるように立ち上げ制御を行う。ここでは、この立ち上げ制御を高速立ち上げ制御と称する。この高速立ち上げ制御では、進行波電力Pfがほぼ零の状態から大きく増加すると共に、反射波電力Prもほぼ零の状態から増加する。
 遮断制御部3は、この反射波電力Prの増加を検出して、遮断割り込み回路2による割り込みによって電力供給を遮断する制御を行うことになる。しかしながら、この遮断制御部3の遮断制御が実行されると、電力供給が遮断されて高速立ち上げ制御が不能となる。そこで、この区間はアーク遮断禁止区間とすることによって、遮断制御部3の遮断制御を禁止し、電力供給が停止されないようにする。このアーク遮断禁止区間の設定は、前記した、進行波電力Pfが反射波電力の垂下レベル以下である範囲、および、進行波電力Pfが、電力指令値Csを上限とし、電力指令値Csから定格電力指令値Cs100%に所定係数Kを乗じた値k・Csを減じた値(Cs-K・Cs100%)を下限とする範囲内にあるか否かの判定によって行うことができる。
 遮断制御禁止部5は、イグニッション・モード区間、リイグニッション・モード区間、および進行波電力過渡区間をアーク遮断禁止区間とし、この区間においてアーキング検出・遮断部4による遮断制御を禁止して、電力供給を続行する。図3(b)、図4(b)はアーク遮断禁止区間を示し、図3(c)、図4(c)はファーストハンドリング遮断制御による検出状態を示し、図3(d)、図4(d)はファーストハンドリング遮断制御による遮断状態を示し、図3(e)、図4(e)はセカンドハンドリング遮断制御による検出および遮断状態を示している。
 図5のフローチャートにおいて、はじめに電力制御部1はソフトスタート制御を開始する(S1)。ソフトスタートを開始した後、進行波がイグニッション・モード区間にあるとき(S2)には、アーキング検出・遮断部4は、反射波電力Prとセカンドハンドリング遮断レベルとを比較し、セカンドハンドリングによるアークを検出した場合には(S3)、セカンドハンドリング遮断処理を行う(S10)。また、イグニッション・モード区間内において、セカンドハンドリングによるアークは検出しないが、ファーストハンドリングによるアークを検出した場合には(S4)、この区間はアーク遮断禁止区間であるため、遮断処理を行うことなる電力供給の制御を続行する(S5)。
 進行波電力が、反射波電力の垂下レベルを超えてイグニッション・モード区間を脱した後(S2)、アーキング検出・遮断部4は、反射波電力Prとセカンドハンドリング遮断レベルとを比較し、セカンドハンドリングによるアークを検出した場合には(S6)、セカンドハンドリング遮断処理を行う(S11)。また、セカンドハンドリングによるアークは検出しないがファーストハンドリングによるアークを検出した場合には(S7)、進行波電力過渡区間であるときには(S8)、進行波電力過渡区間がアーク遮断禁止区間であるため、遮断処理を行うことなく電力供給の制御を続行する(S9)。
 一方、アーク遮断禁止区間でない場合には(S8)、ファーストハンドリング遮断処理を行う(S12)。
 上記したS1~S12の工程は、図3(b)中のイグニッション・モード区間および進行波電力過渡区間のアーク遮断禁止区間において適用される。
 また、上記したS6~S12の工程は、図3(b)および図4(b)中のアーク遮断禁止区間において、ファーストハンドリング遮断後に行う高速立ち上げ、あるいはセカンドハンドリング遮断後の行うソフトスタートの際に適用することができる(S13)。
 図3(c)、図4(c)は、反射波電力とファーストハンドリングレベルとを比較して検出するファーストハンドリングによるアーキング検出信号を示し、図3(d)、図4(d)は遮断制御禁止処理後のファーストハンドリングによる遮断信号を示している。
 図3(d)、図4(d)に示す遮断信号は、図3(c)、図4(c)の検出信号の内で、図3(b)、図4(b)のアーク遮断禁止区間内にあるアーキング検出信号は遮断処理が禁止され、遮断制御禁止区間外の遮断信号のみが抽出され、これによってファーストハンドリング遮断制御を行う。
 図3(e)、図4(e)は、反射波電力とセカンドハンドリング遮断レベルとを比較して得られる遮断信号を示している。このセカンドハンドリング遮断レベルで得られる遮断信号は、遮断制御禁止区間に係わらず無条件で遮断制御を行う。
 また、ファーストハンドリングとセカンドハンドリングで同時に検出が行われた場合には、セカンドハンドリングを優先する。例えば、図3(e)、図4(e)示すセカンドハンドリング遮断は、図3(d)、図4(d)で示す同時点でのファーストハンドリング遮断に優先して行う。
 次に、図4の信号図、および図6のフローチャートを用いて、複数回のファーストハンドリング遮断が生じたときに行う遮断処理および遮断禁止処理について説明する。
 遮断処理は、所定の時間内(例えば、10msec)間で短い時間幅のファーストハンドリング遮断を所定回数実行した後、比較的長い時間幅(例えば、1msec~100msec)でセカンドハンドリング遮断によって一時遮断を実行する。
 図4の信号図において、ファーストハンドリング遮断を複数回行った後、ファーストハンドリング遮断による遮断時間幅よりも長い時間幅(例えば1msから100msの時間幅)でセカンドハンドリング遮断によって一時遮断を行う。セカンドハンドリング遮断の後は、高周波電源10をソフトスタート制御によって電力を立ち上げる。このソフトスタート制御では、前記したイグニッション時のソフトスタート制御と同様に、零電力から目標電力までの間を所定の時間を掛けてランプ状の増加特性で徐徐に増加させる。図4中の破線は電力指令値Csを示し、濃い実線は進行波電力Pfを示し、薄い実線は反射波電力Prを示している。
 なお、遮断を禁止する処理、および遮断後の再立ち上げの処理については、前記した処理と同様とすることができる。
 図6はセカンドハンドリング遮断によって一時遮断を実行する手順を説明するためのフローチャートである。
 カウンタ回路は、カウンタ値Cを零とし(C=1)(S21)、ファーストハンドリング遮断が実行される毎に(S22)、カウンタ値Cに“1”を加算する(C=C+1)。カウンタ値Cの加算は、ファーストハンドリング遮断の制御信号に応じて行う(S23)。
 カウンタ値Cが予め設定した設定回数Nと比較し(S24)、カウンタ値Cが設定回数Nを越えた時点で、一時遮断を開始(S25)、電源を停止する(S26)。なお、カウンタ値Cが予め設定した設定回数Nに至らない場合にはセカンドハンドリング遮断を行わず、ファーストハンドリング遮断のみを繰り返す。
 セカンドハンドリング遮断は、所定の所定時間が経過した後(S27)、電源をソフトスタートによって再立ち上げを行う(S18)。S21~S28の工程を、プラズマによる成膜処理が終了するまで繰り返す(S29)。
 図4(b)は、リイグニッション・モード区間と進行波電力過渡区間のアーク遮断禁止区間を示し、図4(c)は、反射波電力とファーストハンドリングレベルとを比較して検出するアーキング検出信号を示し、図4(d)はファーストハンドリングの遮断信号を示している。図4(d)に示す遮断信号はアーク遮断禁止区間内にあるアーキング検出信号は遮断禁止され、遮断制御禁止区間外の遮断信号のみが抽出され、これによってファーストハンドリング遮断制御を行う。
 図4(e)は、反射波電力とセカンドハンドリング遮断レベルとを比較して得られる遮断信号を示している。このセカンドハンドリング遮断レベルで得られる遮断信号は、遮断制御禁止区間に係わらず無条件で遮断制御を行う。
 以下、本発明の真空装置用異常放電抑制装置の実施形態について、図7~図10を用いて説明する。図7は、本発明の実施形態の構成例を示し、図8、図9は動作例を説明するフローチャートを示し、図10は比較回路を用いた遮断制御部の出力状態を示している。
 この実施形態は、反射波電力の電力レベルによって遮断の可否を判定すると共に、イグニッション・モード区間、リイグニッション・モード区間、および進行波電力過渡区間をアーク抑制区間とする形態である。
 図7は本発明の電力制御部1、アーキング検出・遮断部4、遮断制御禁止部5を含む遮断制御部3の構成例を示す図である。
 アーキング検出・遮断部4について説明する。アーキング検出・遮断部4は、ファーストハンドリング遮断制御系4Aとセカンドハンドリング遮断制御系4Bの2つの遮断制御系を備える。
 この実施形態では、反射波電力Prをファーストハンドリング遮断レベルおよびセカンドハンドリング遮断レベルと比較することで、異常放電による遮断動作と、異常放電以外の要因による遮断動作とを峻別して検出し、遮断動作を行わせる制御信号を出力する。制御信号は遮断割り込み回路2を介して発振器6の発信動作を一時的に停止する。
 ファーストハンドリング遮断制御系4Aは、反射波電力を低レベル(ファーストハンドリングレベル)のしきい値と比較することによって異常放電を検出し、この異常放電の検出に基づいて電力供給を遮断する。一方、セカンドハンドリング遮断制御系4Bは、反射波電力を高レベルのしきい値(セカンドハンドリングレベル)と比較することによって反射波電力の増加を検出し、異常放電以外の要因による反射波電力の増加の検出に基づいて電力供給を遮断する。
 ファーストハンドリング遮断制御系4Aとセカンドハンドリング遮断制御系4Bは、反射波電力Prと比較するしきい値の大きさを異ならせることで選択する。ファーストハンドリング遮断制御系4Aはしきい値として低レベルのファーストハンドリングレベル値を用いて、反射波電力の増加の初期段階を検出する。これによって、少数派アークの状態を検出し遮断することができる。
 一方、セカンドハンドリング遮断制御系4Bはしきい値として、ファーストハンドリング遮断制御で用いた低レベルの値よりも大きな高レベルの値を用いて、初期段階を過ぎた段階の反射波電力の増加を検出する。これによって、エネルギーが集中し、大部分の異常放電へと移行した多数波アークの状態を検出し遮断する。
 ファーストハンドリング遮断制御系4Aは、反射波電力Prをファーストハンドリング遮断レベルPAと比較することによって異常放電を検出して制御信号を出力する。遮断割り込み回路2は、この制御信号を受けて発振器6の発振を一時停止することによって、高周波電源10からプラズマ負荷12への出力電力の供給を一時的に遮断する。
 ファーストハンドリング遮断制御系4Aは、第1の比較回路4Abにおいて、センサ9で検出した反射波電力Prの検出信号を電力設定部4Aaで生成したファーストハンドリング遮断レベルと比較し、反射波電力Prの検出信号がファーストハンドリング遮断レベルを越えた時点で制御信号を出力する。遮断割り込み回路2は、この制御信号を受けて発振器6の発振を一時停止して遮断動作を行う。
 一方、セカンドハンドリング遮断制御系4Bは、反射波電力Prをセカンドハンドリング遮断レベルと比較することによって異常放電以外の要因による反射波電力Prの増加を検出して制御信号を形成し、遮断割り込み回路2に送る。遮断割り込み回路2は、この制御信号を受け、発振器6の発振を一時停止して遮断動作を行うことによって、高周波電源10からプラズマ負荷12への出力電力の供給を一時的に遮断する。
 セカンドハンドリング遮断制御系4Bは、第2比較回路4Bbにおいて、センサ9で検出した反射波電力Prの検出信号を電力設定部4Baで生成したセカンドハンドリング遮断レベルと比較し、反射波電力Prの検出信号がセカンドハンドリング遮断レベルを越えた時点で制御信号を出力する。遮断割り込み回路2は、この制御信号を受けて遮断動作を行う。
 ファーストハンドリング遮断レベルは低レベルのしきい値であり、セカンドハンドリング遮断レベルは高レベルのしきい値である。したがって、反射波電力Prが増加した場合には、反射波電力Prは、はじめにファーストハンドリング遮断レベルを越え、次のセカンドハンドリング遮断レベルを越えることになる。
 なお、ファーストハンドリング遮断制御系4Aで得られた、遮断制御禁止部5を通して遮断割り込み回路2に送られる。このとき、遮断制御禁止部5が動作した場合には、制御信号は遮断割り込み回路2に送られないため、発振器6の発振動作は継続し、出力電力の供給遮断動作は行われず、プラズマ負荷に対する電力供給は維持される。
 一方、セカンドハンドリング遮断制御系4Bで得られた制御信号は、遮断制御禁止部5を通すことなく遮断割り込み回路2に送られる。そのため、遮断制御禁止部5の動作に依存されることなく、アーキング検出・遮断部4の制御信号に基づいて遮断割り込み回路2は発振器6の発振動作を一時停止して出力電力の供給を遮断する。
 図10は、比較回路を用いた遮断制御部3の出力状態を示す図である。反射波電力Prが増加し、反射波電力Prがファーストハンドリング遮断レベルPAを越えた時点TAで制御信号SA(図10(b))が出力され、セカンドハンドリング遮断レベルPBを越えた時点TBで制御信号SB(図10(b))が出力される。
 遮断制御禁止部5は、イグニッション状態、リイグニッション状態、進行波電力が電力指令値Csに対して所定の範囲(Cs~(Cs-K・Cs100%))を超えて変動した場合等の所定の条件を満たした場合に、アーキング検出・遮断部4からの制御信号を禁止し、所定の条件を満たさない場合には、アーキング検出・遮断部4からの制御信号を遮断割り込み回路2に送る。この制御信号は、電力供給を停止してアークを遮断させるためのアーク遮断信号として動作し、遮断割り込み回路2から発振器6に送られて、発振器6を一時的に停止する。
 図7において、遮断制御禁止部5は、イグニッション状態における制御信号を禁止する構成として、第1のスイッチ回路5aと第3の比較回路5bを備え、進行波電力Pfが電力設定値に対して所定の範囲を超えて変動した場合に制御信号を禁止する構成として、第2のスイッチ回路5cと判定回路5dを備える。
 第1のスイッチ回路5aと第3の比較回路5bの構成は、アーキング検出・遮断部4で生成した制御信号を遮断割り込み回路2に送るか否かを制御し、高周波電源10がイグニッション状態にある場合には、制御信号の遮断割り込み回路2への送信を停止して制御信号を禁止し、高周波電源10がイグニッション状態にない場合には、制御信号の遮断割り込み回路2への送信を許容し制御信号を有効とする。
 第3の比較回路5bは、進行波電力Pfを反射波電力の垂下レベルと比較することで、イグニッション・モード区間を判定する。第3の比較回路5bは、進行波電力Pfが垂下レベルを越えると第1のスイッチ回路5aをオン状態とする。垂下レベルは、定格電力指令値Cs100%に反射垂下係数Lを乗じたL×Cs100%によって設定することができる。反射垂下係数Lは0.1~0.3の範囲で定めることができる。
 また、イグニッション・モード区間の時間間隔が知られている場合には、カウンタ回路によってイグニッションの経過時間を計時しイグニッション状態を監視してもよい。カウンタ回路は、ソフトスタート制御部1bから電力供給の開始したことを知らせる信号を受けてイグニッション時間の計時を始め、予め設定されたイグニッション時間が経過した後に、第1のスイッチ回路5aをオン状態とする。
 第1スイッチ回路5aは、アーキング検出・遮断部4のファーストハンドリング遮断制御系4Aで検出した異常放電の検出信号を入力する。第1スイッチ回路5aは、イグニッション時間の区間内では、入力した検出信号の第2スイッチ回路5cへの送信を停止して制御信号を禁止し、イグニッション時間の区間外では、入力した検出信号の第2スイッチ回路5cへの送信を許容して制御信号を有効とする。
 第2スイッチ回路5cと判定回路5dの構成は、進行波電力が電力指令値Csに対して所定の範囲(Cs~(Cs-K・Cs100%))を超えて変動した場合に、アーキング検出・遮断部4で生成した制御信号を遮断割り込み回路2に送るか否かを制御し、進行波電力が所定範囲を越えて変動した場合には、制御信号の遮断割り込み回路2への送信を停止して制御信号を禁止し、進行波電力の変動が所定範囲内である場合には、制御信号の遮断割り込み回路2への送信を許容して制御信号を有効とする。より詳細には、第2のスイッチ回路5cは、第1スイッチ回路5aの出力信号について遮断割り込み回路2への送信を制御する。
 判定回路5dは、センサ9から進行波電力Pfの検出信号を入力し、この進行波電力Pfの検出信号をしきい値と比較することによって、進行波電力Pfが所定範囲を越えて変動したか、あるいは進行波電力Pfの変動が所定範囲内であるかを判定する。
 ここで、進行波電力Pfの変動状態を判定する変動範囲は、電力指令値Csを上限とし、電力指令値Csから定格電力指令値Cs100%に所定係数Kを乗じたK×Cs100%を減じた値(Cs-K×Cs100%)を下限とするレベル範囲とする。所定係数Kは0.01~0.2の範囲で定めることができる。
 判定回路5dは、進行波電力Pfの検出信号が所定範囲を越えて変動した場合にアーク遮断禁止信号を第2スイッチ回路5cに送って、遮断割り込み回路2により電力供給の停止による遮断動作を禁止する。これによって、イグニッション状態と同様に、過大な反射波電力Prや過電圧、過電流を保護するために行われる垂下制御によって進行波電力Pfが大きく変動した場合に、異常放電と誤認することによる遮断動作を防ぐことができる。第2スイッチ回路5cは、判定回路5dからの判定信号に基づいて、第1スイッチ回路4aから入力した制御信号について遮断割り込み回路2への送信を制御する。なお、上記した遮断制御禁止部5の構成は一例であって、この構成に限られるものではない。この実施形態における信号状態は図3,4で表すことができる。
 図8のフローチャートにおいて、はじめにソフトスタート制御部1bがソフトスタート制御を開始する(S31)。ソフトスタートを開始した後、進行波電力Pfを垂下レベル(例えば、L×Cs100%)と比較してイグニッション・モード区間であるか否かを監視し(S32)、イグニッション・モード区間ではセカンドハンドリング遮断処理のみを行い、ファーストハンドリング遮断処理は禁止する(S33)。
 第2比較回路4Bbにおいて、反射波電力Prがセカンドハンドリング遮断レベルを越える場合には(S34)、セカンドハンドリングアークを検出してセカンドハンドリング遮断処理を行う(S50)。セカンドハンドリング遮断処理では、発振器6の発振を停止して電源出力を止めた後(S51)、所定時間の経過を待って(S52)、発振器6の発振を再開して電源出力を復帰させる(S53)。
 イグニッション・モード区間を外れた後(S35)、進行波電力Pfと(Cs-K×Cs100%)とを比較することで進行波電力Pfの変動状態を判定する。進行波電力PfがCsと(Cs-K×Cs100%)の範囲外である場合には(S36)、アーク遮断禁止区間を設定し遮断処理を禁止する(S37)。
 アーク遮断禁止区間内では、第1比較回路4Abにおいて反射波電力Prがファーストハンドリング遮断レベルを越えた場合(S38)であっても、遮断処理が禁止されているため、電力供給を継続する(S39)。
 その後進行波電力Pfが増加し、進行波電力PfがCsと(Cs-K×Cs100%)の範囲内となった場合には(S40)、アーク遮断禁止区間を解除する(S41)。反射波電力Prがセカンドハンドリングレベルを越える場合には、セカンドハンドリング遮断処理を行う(S42)。S36において、進行波電力PfがCsと(Cs-K×Cs100%)の範囲内である場合には、アーク遮断禁止区間を設定しないため、第1比較回路4Abにおいて反射波電力Prがファーストハンドリング遮断レベルを越えた場合(S43)には、ファーストハンドリング遮断制御によって(S44)、電源出力を停止する(S45)。電源出力の停止は所定期間(1μsec~100μsec)が経過した後(S46)、電源出力を高速復帰させる(S47)。S34~S42の処理を終了まで続行する(S48)。
 次に、遮断制御禁止部5の別の構成について図11を用いて説明する。
 図11に示す遮断制御禁止部5の構成は、プラズマ中に蓄積された異常アークイオンを消滅させるイオンリフレッシュ機能を実現する構成例である。
 前記した遮断制御禁止部の遮断制御(ファーストハンドリング遮断)は、プラズマ反応室内のイオンの残存を可能とし、アーキング要素が消滅する時間幅内で高周波電源を遮断制御する。一方、図11に示す構成の遮断制御は、遮断時間を延ばすことによって異常アークイオンを消滅させる。
 この遮断制御では、例えば、1msから100msの時間幅とし、異常アークイオンが消滅した状態で遮断制御を終了する。これよって、異常アークを発生させるイオンの蓄積を解消させ、アーキングを断ち切る。
 遮断制御禁止部5は、この異常アークを発生させるイオンの蓄積状況を第1の遮断制御の累積実行回数に基づいて判断し、第1の遮断制御の累積実行回数が予め設定した回数に達した時点を、プラズマに異常アークを発生させるイオンが蓄積した段階と判断して遮断制御を実行する。なお、第1の遮断制御は、第1スイッチ回路5a,第3比較回路5b,第2スイッチ回路5cによる遮断制御である。
 そこで、遮断制御禁止部5は、第1の遮断制御の実行回数を計数するカウンタ回路5eを備える。カウンタ回路5eは、第2スイッチ回路5cの制御信号を計数し、この計数で得られた計数値が予め設定された設定回数に達した時点で、遮断割り込み回路2に対して遮断制御を実行する制御信号を送る。
 カウンタ回路5eは、遮断制御の制御信号を送ると共に計数値をクリアし、第1の遮断制御の実行回数の再計数し、この計数値が設定回数に達した時点で再び第2の遮断制御を実行する。この所定回数の第1の遮断制御と、その後に第2の遮断制御とを繰り返すことで、アークの成長抑制と異常アークイオンの解消を効果的に行う。
 また、ソフトスタート制御部1bは、第2の遮断制御によって高周波電源の出力を遮断した後にソフトスタートによる再起動を行い、電力指令値あるいは電圧指令値に対して進行波電力値をフィードバック制御して、高周波電源の出力が電圧指令値となるように制御する。
 この第2の遮断制御後に行うソフトスタートは、零から電力指令値までのランプ状の電力出力を、マッチングボックスの整合回路が十分に対応することができる整合速度で行い、遮断制御部が反射波電力を異常放電として検出することなくインピーダンス整合が行われる時間幅で出力する。したがって、このソフトスタートに要する時間幅は、電力指令値の大きさ、マッチングボックスの整合回路の整合特性等に依存して定めることができる。このソフトスタートの時間幅は、例えば、1msから10sとすることができる。
 以下、図12~図14を用いてアーク遮断禁止区間について説明する。図12は始動時点のソフトスタート時におけるアーク遮断禁止区間を示し、図13はファーストハンドリング遮断後の高速立ち上がり時におけるアーク遮断禁止区間を示し、図14はセカンドハンドリング遮断後のソフトスタート時におけるアーク遮断禁止区間を示している。
 図12において、始動時点のソフトスタート時では、アーク遮断禁止区間はイグニッション・モード区間と進行波電力過渡区間を含んでいる。イグニッション・モード区間は、進行波電力Pfが反射波電力の垂下レベル以下の範囲である。垂下レベルは、定格電力指令値Cs100%に対して反射垂下係数Lを乗じたL×Cs100%で設定することができる。
 また、進行波電力過渡区間は進行波電力Pfが垂下レベルから電力指令値Csに対して定めた所定レベル範囲内に達するまでの区間である。所定レベル範囲は、電力指令値Csを上限とし、電力指令値Csから定格電力指令値Cs100%に所定係数Kを乗じたK×Cs100%を減じた値(Cs-K×Cs100%)を下限とするレベル範囲で定めることができる。また、図12において、反射波電力Prが低下するまでの間をマッチング区間としている。
 図13において、ファーストハンドリング遮断後の高速立ち上がり時には、アーク遮断禁止区間は、垂下レベルによる区間と進行波電力過渡区間を含んでいる。
 図14において、セカンドハンドリング遮断後のソフトスタート時には、アーク遮断禁止区間はリイグニッション・モード区間によって設定される。セカンドハンドリング遮断は異常アークイオンを消滅させる遮断処理であるため、リイグニッション・モード区間を過ぎた後は、進行波電力過渡区間を経ることなく進行波電力は電力指令値に漸近する。
 本発明の実施例によれば、プラズマ室内のイオンを残存可能とし、かつ、アーキング要素を消滅するに要する最短時間範囲(1μsec~100μsec)で電力供給を遮断するファーストハンドリング遮断と、異常アークイオンを消失するに要する時間範囲(1msec~100msec)で電力供給を遮断する一時遮断とを行うことができる。
 本発明の実施例によれば、ファーストハンドリング遮断を行うことで、イオンが残存しているため、遮断後の立ち上がり時間を短縮させ正常放電を生成することができる。また、遮断時間が比較的長い一時遮断を行うことで、異常アークイオンを消失させてアーキングを断ち、安定したプラズマへの電力供給を行うことができる。
 本発明の実施例によれば、マッチング区間において、遮断動作を禁止する区間を設定することで、異常放電に伴わない反射波電力Prの増加による電力供給の誤遮断を防ぐことができる。
 本発明の実施例によれば、異常放電を抑制する遮断動作(ファーストハンドリング遮断動作)と、異常放電に因らない反射波電力の増加を抑制する遮断動作(セカンドハンドリング遮断動作)とを、遮断の目的に応じて行うことができる。
 なお、本発明は前記各実施の形態に限定されるものではない。本発明の趣旨に基づいて種々変形することが可能であり、これらを本発明の範囲から排除するものではない。
 本発明の真空装置用異常放電抑制装置は、成膜装置に限らず、スパッタリング装置やアッシング装置等のプラズマを用いる処理装置分野に適用することができる。

Claims (16)

  1.  高周波電源からプラズマ反応室内に電力を供給してプラズマを生成する真空装置の異常放電を抑制する装置であって、
     電力指令値と電力フィードバック値との偏差に基づいて前記高周波電源を制御する電力制御部と、
     プラズマ反応室内の異常放電時、および異常放電への移行過程時の少なくとも何れかの時期で発生する反射波電力または反射波電圧を検出して前記高周波電源からプラズマ反応室への電力供給を遮断する遮断制御部とを備え、
     前記遮断制御部は、遮断時間の時間幅を異にする第1のファーストハンドリング遮断制御と第2のセカンドハンドリング遮断制御を含み、
     前記第1のファーストハンドリング遮断制御は、プラズマ反応室内のイオンの残存を可能とし、少数派アークのアーキング要素が消滅する時間幅内で高周波電源を遮断制御し、
     前記第2のセカンドハンドリング遮断制御は、異常放電時の多数波アークのイオンが消滅する時間幅内で高周波電源を遮断制御することを特徴とする、真空装置用異常放電抑制装置。
  2.  前記第1の遮断制御による遮断時間の時間幅は1μsから100μsであり、前記第2の遮断制御による遮断時間の時間幅は1msから100msであることを特徴とする、請求項1に記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  3.  前記電力制御部は、
     前記第1の遮断制御によって高周波電源の出力を遮断した後にソフトスタートにより再起動を行い、
     当該ソフトスタートは、零から電力指令値までのランプ出力を、前記第1の遮断制御の遮断時間と同じ時間オーダーの時間幅で出力することを特徴とする、請求項1に記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  4.  前記ソフトスタートの時間幅は1μsから100μsであることを特徴とする、請求項3に記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  5.  前記電力制御部は、
     前記第2の遮断制御によって高周波電源の出力を遮断した後にソフトスタートにより再起動を行い、
     当該ソフトスタートは、零から電力指令値までのランプ出力を、高周波電源とプラズマ反応室との間の整合回路の整合速度に応じた時間幅で出力することを特徴とする、請求項1に記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  6.  前記ソフトスタートの時間幅は1msから10sであることを特徴とする、請求項5に記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  7.  前記遮断制御部は、第1の遮断制御の実行回数を計数し、当該計数値が予め設定された設定回数に達した時点で前記第2の遮断制御を実行することを特徴とする、請求項1から6の何れか一つに記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  8.  前記第2の遮断制御を実行すると共に前記計数値をクリアし、前記第1の遮断制御の実行回数を再計数することを特徴とする、請求項7に記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  9.  プラズマ反応室内に電力を供給して成膜処理を行うプラズマを生成する真空装置の異常放電を抑制する装置であって、
     前記電力を供給する高周波電源を有し、
     前記高周波電源は、電力指令値と電力フィードバック値との偏差に基づいて前記出力電力を制御する電力制御部と、
     プラズマ反応室内の異常放電時、および異常放電への移行過程時の少なくとも何れかの時期で発生する反射波電力または反射波電圧を検出し前記高周波電源からプラズマ反応室への電力供給を遮断する遮断制御部とを備え、
     前記遮断制御部は、前記異常放電を検出するアーキング検出・遮断部と、
     前記アーキング検出・遮断部による電力供給の遮断制御を禁止する遮断制御禁止部とを備え、
     前記遮断制御禁止部は、
     アーク遮断禁止区間において、前記アーキング検出・遮断部に基づく電力供給の遮断制御を禁止し、電力供給を継続することを特徴とする、真空装置用異常放電抑制装置。
  10.  前記遮断制御部による電力供給の遮断制御を禁止する遮断制御禁止部を備え、
     前記遮断制御禁止部は、
     アーク遮断禁止区間において、前記遮断制御部による電力供給の遮断制御を禁止し、電力供給を継続することを特徴とする、請求項1から8のいずれか一つに記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  11.  前記電力制御部は、前記電力フィードバック値として進行波電力値を用い、電力指令値と進行波電力値との偏差が減少するように出力電力を制御し、
     前記遮断制御部は、
     反射波電力と低レベルのしきい値との比較によって異常放電を検出し、当該異常放電の検出に基づいて電力供給を遮断し、少数派アークを抑制するファーストハンドリング遮断制御と、
     反射波電力と高レベルのしきい値との比較によって異常放電を検出し、当該異常放電の検出に基づいて電力供給を遮断し、多数波アークを抑制するセカンドハンドリング遮断制御との遮断制御を有し、
     前記遮断制御禁止部は、
     アーク遮断禁止区間において前記ファーストハンドリング遮断制御の遮断制御を禁止することを特徴とする、請求項9又は10に記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  12.  前記アーク遮断禁止区間は、プラズマが着火するまでのイグニッション・モード区間、および進行波電力の電力指令値に向けて増加する進行波電力過渡区間を含むことを特徴とする、請求項9から11のいずれか一つに記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  13.  前記イグニッション・モード区間は、進行波電力が電力出力を開始する時点から反射波電力の垂下レベルを超えるまでの区間であることを特徴とする、請求項12に記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  14.  前記垂下レベルは、定格電力指令値Cs100%に反射垂下係数Lを乗じたL×Cs100%であることを特徴とする、請求項13に記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  15.  前記進行波電力過渡区間は、進行波電力が電力指令値に基づいて定まる所定レベル範囲外である区間であることを特徴とする、請求項12に記載の真空装置用異常放電抑制装置。
  16.  前記所定レベル範囲は、定格電力指令値Cs100%を上限とし、電力指令値Csから定格電力指令値Cs100%に所定係数Kを乗じたK×Cs100%を減じた値(Cs-K×Cs100%)を下限とするレベル範囲であることを特徴とする、請求項15に記載の真空装置用異常放電抑制装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2410075A3 (en) * 2010-06-30 2012-04-18 PrimeStar Solar, Inc Methods and apparatus of arc prevention during RF sputtering of a thin film on a substrate
CN102687597A (zh) * 2009-12-10 2012-09-19 株式会社新川 等离子体点火装置,等离子体点火方法及等离子体发生装置
WO2013190987A1 (ja) * 2012-06-18 2013-12-27 株式会社京三製作所 高周波電力供給装置、及び反射波電力制御方法
JP2014165437A (ja) * 2013-02-27 2014-09-08 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2018073558A (ja) * 2016-10-26 2018-05-10 イマジニアリング株式会社 昇降圧回路を含む電磁波発振装置
JP2018532878A (ja) * 2015-08-24 2018-11-08 エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド マイクロ波発生器および合成ダイヤモンド材料の製造

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010031568B4 (de) 2010-07-20 2014-12-11 TRUMPF Hüttinger GmbH + Co. KG Arclöschanordnung und Verfahren zum Löschen von Arcs
US8552665B2 (en) 2010-08-20 2013-10-08 Advanced Energy Industries, Inc. Proactive arc management of a plasma load
JP6029302B2 (ja) * 2012-03-29 2016-11-24 株式会社ダイヘン マイクロ波電力供給装置
DE202013012714U1 (de) * 2012-12-18 2018-10-15 TRUMPF Hüttinger GmbH + Co. KG Leistungsversorgungssystem mit einem Leistungswandler
JP6144917B2 (ja) * 2013-01-17 2017-06-07 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置及びプラズマ処理装置の運転方法
JP5850581B2 (ja) * 2013-11-29 2016-02-03 株式会社京三製作所 プラズマ未着火状態判別装置およびプラズマ未着火判別方法
EP3054472A1 (en) 2015-02-03 2016-08-10 TRUMPF Huettinger Sp. Z o. o. Arc treatment device and method therefor
DE102018204585A1 (de) * 2017-03-31 2018-10-04 centrotherm international AG Plasmagenerator, Plasma-Behandlungsvorrichtung und Verfahren zum gepulsten Bereitstellen von elektrischer Leistung
EP3718129B8 (en) 2017-11-29 2023-07-19 Comet Technologies USA, Inc Retuning for impedance matching network control
JP7202972B2 (ja) * 2018-06-29 2023-01-12 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置、プラズマ状態検出方法およびプラズマ状態検出プログラム
CN109814006B (zh) * 2018-12-20 2020-08-21 北京北方华创微电子装备有限公司 一种蚀刻系统放电异常检测方法和装置
US11114279B2 (en) 2019-06-28 2021-09-07 COMET Technologies USA, Inc. Arc suppression device for plasma processing equipment
US11527385B2 (en) 2021-04-29 2022-12-13 COMET Technologies USA, Inc. Systems and methods for calibrating capacitors of matching networks
US11596309B2 (en) 2019-07-09 2023-03-07 COMET Technologies USA, Inc. Hybrid matching network topology
US11107661B2 (en) 2019-07-09 2021-08-31 COMET Technologies USA, Inc. Hybrid matching network topology
KR102277822B1 (ko) * 2019-07-09 2021-07-14 세메스 주식회사 기판 처리 장치
KR20210006682A (ko) 2019-07-09 2021-01-19 세메스 주식회사 기판 처리 장치
US12002611B2 (en) 2019-08-28 2024-06-04 COMET Technologies USA, Inc. High power low frequency coils
KR102223876B1 (ko) 2019-10-28 2021-03-05 주식회사 뉴파워 프라즈마 불안정 매칭 현상을 해소하기 위한 다중 전압 제어 방법 및 다중 전압 제어 방식의 고주파 전원 장치
KR102223874B1 (ko) 2019-10-28 2021-03-05 주식회사 뉴파워 프라즈마 이그니션 동작과 관련된 고주파 전원 장치의 보호 리미트 변경 제어 방법
JP7293535B2 (ja) * 2019-12-25 2023-06-20 株式会社ダイヘン アーク検出装置、および、高周波電源装置
JP7293536B2 (ja) * 2019-12-25 2023-06-20 株式会社ダイヘン アーク検出装置、および、高周波電源装置
US11887820B2 (en) 2020-01-10 2024-01-30 COMET Technologies USA, Inc. Sector shunts for plasma-based wafer processing systems
US12027351B2 (en) 2020-01-10 2024-07-02 COMET Technologies USA, Inc. Plasma non-uniformity detection
US11521832B2 (en) 2020-01-10 2022-12-06 COMET Technologies USA, Inc. Uniformity control for radio frequency plasma processing systems
US11670488B2 (en) 2020-01-10 2023-06-06 COMET Technologies USA, Inc. Fast arc detecting match network
US11830708B2 (en) 2020-01-10 2023-11-28 COMET Technologies USA, Inc. Inductive broad-band sensors for electromagnetic waves
US11961711B2 (en) 2020-01-20 2024-04-16 COMET Technologies USA, Inc. Radio frequency match network and generator
US11605527B2 (en) 2020-01-20 2023-03-14 COMET Technologies USA, Inc. Pulsing control match network
US11373844B2 (en) 2020-09-28 2022-06-28 COMET Technologies USA, Inc. Systems and methods for repetitive tuning of matching networks
KR102511063B1 (ko) 2021-04-23 2023-03-16 주식회사 뉴파워 프라즈마 출력 안정화 장치를 구비한 플라즈마 발생용 고주파 전력 공급 장치
US11923175B2 (en) 2021-07-28 2024-03-05 COMET Technologies USA, Inc. Systems and methods for variable gain tuning of matching networks
US12040139B2 (en) 2022-05-09 2024-07-16 COMET Technologies USA, Inc. Variable capacitor with linear impedance and high voltage breakdown
US11657980B1 (en) 2022-05-09 2023-05-23 COMET Technologies USA, Inc. Dielectric fluid variable capacitor

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55145171A (en) * 1979-04-28 1980-11-12 Tokuda Seisakusho Ltd Arc-breaking method of glow discharge device using high frequency electric supply source and its apparatus
JPH08167500A (ja) * 1994-12-15 1996-06-25 Jeol Ltd 高周波プラズマ発生装置用電源
JPH11323529A (ja) * 1998-05-13 1999-11-26 Pascal Kk グロー放電処理用アーク放電発生前兆検出方法、グロー放電処理用アーク放電前知予測抑制方法及びグロー放電処理装置
JP2004006147A (ja) * 2002-05-31 2004-01-08 Shibaura Mechatronics Corp アーク遮断回路、スパッタ用電源及びスパッタ装置
WO2005057993A1 (ja) * 2003-11-27 2005-06-23 Daihen Corporation 高周波電力供給システム
JP2007503096A (ja) * 2003-08-18 2007-02-15 エム ケー エス インストルメンツ インコーポレーテッド スパッタ処理システムにおけるプラズマ遷移の制御
JP2007149596A (ja) * 2005-11-30 2007-06-14 Daihen Corp プラズマ処理システムのアーク検出装置
JP2008047292A (ja) * 2006-08-10 2008-02-28 Nippon Reliance Kk アーク放電抑止装置および方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01198478A (ja) * 1988-02-01 1989-08-10 Canon Inc マイクロ波プラズマcvd装置
JPH0732077B2 (ja) 1992-10-07 1995-04-10 株式会社京三製作所 高周波発生装置
DE4441206C2 (de) * 1994-11-19 1996-09-26 Leybold Ag Einrichtung für die Unterdrückung von Überschlägen in Kathoden-Zerstäubungseinrichtungen
JP2733454B2 (ja) 1995-02-16 1998-03-30 株式会社京三製作所 成膜装置用異常放電抑制装置
US6184687B1 (en) * 1997-10-20 2001-02-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Plasma process end point determination method and apparatus, and plasma evaluation method and apparatus
JP2000133412A (ja) * 1998-10-30 2000-05-12 Shibaura Mechatronics Corp グロー放電装置の放電制御方法および放電制御装置
JP2000299198A (ja) 1999-02-10 2000-10-24 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2001102196A (ja) 1999-09-29 2001-04-13 Hitachi Kokusai Electric Inc プラズマ処理装置
US6841124B2 (en) * 2000-10-02 2005-01-11 Ethicon, Inc. Sterilization system with a plasma generator controlled by a digital signal processor
JP2003064477A (ja) * 2001-08-20 2003-03-05 Sony Corp 電源制御装置および電源制御方法
KR100626192B1 (ko) * 2001-09-27 2006-09-21 동경 엘렉트론 주식회사 전자계 공급 장치 및 플라즈마 처리 장치
JP4500048B2 (ja) * 2001-10-22 2010-07-14 芝浦メカトロニクス株式会社 グロー放電装置のアーク判定方法及び高周波アーク放電抑制装置
US20060252283A1 (en) * 2003-08-07 2006-11-09 Hitachi Kokusai Electric Inc. Substrate processing apparatus and sustrate processing method
US7292045B2 (en) * 2004-09-04 2007-11-06 Applied Materials, Inc. Detection and suppression of electrical arcing
US7305311B2 (en) * 2005-04-22 2007-12-04 Advanced Energy Industries, Inc. Arc detection and handling in radio frequency power applications
KR101416250B1 (ko) * 2007-10-09 2014-07-07 삼성전자 주식회사 영상처리장치 및 그 제어방법

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55145171A (en) * 1979-04-28 1980-11-12 Tokuda Seisakusho Ltd Arc-breaking method of glow discharge device using high frequency electric supply source and its apparatus
JPH08167500A (ja) * 1994-12-15 1996-06-25 Jeol Ltd 高周波プラズマ発生装置用電源
JPH11323529A (ja) * 1998-05-13 1999-11-26 Pascal Kk グロー放電処理用アーク放電発生前兆検出方法、グロー放電処理用アーク放電前知予測抑制方法及びグロー放電処理装置
JP2004006147A (ja) * 2002-05-31 2004-01-08 Shibaura Mechatronics Corp アーク遮断回路、スパッタ用電源及びスパッタ装置
JP2007503096A (ja) * 2003-08-18 2007-02-15 エム ケー エス インストルメンツ インコーポレーテッド スパッタ処理システムにおけるプラズマ遷移の制御
WO2005057993A1 (ja) * 2003-11-27 2005-06-23 Daihen Corporation 高周波電力供給システム
JP2007149596A (ja) * 2005-11-30 2007-06-14 Daihen Corp プラズマ処理システムのアーク検出装置
JP2008047292A (ja) * 2006-08-10 2008-02-28 Nippon Reliance Kk アーク放電抑止装置および方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP2259662A4 *

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102687597A (zh) * 2009-12-10 2012-09-19 株式会社新川 等离子体点火装置,等离子体点火方法及等离子体发生装置
CN104735894A (zh) * 2009-12-10 2015-06-24 株式会社新川 等离子体点火装置,等离子体点火方法及等离子体发生装置
EP2410075A3 (en) * 2010-06-30 2012-04-18 PrimeStar Solar, Inc Methods and apparatus of arc prevention during RF sputtering of a thin film on a substrate
WO2013190987A1 (ja) * 2012-06-18 2013-12-27 株式会社京三製作所 高周波電力供給装置、及び反射波電力制御方法
JP2014002898A (ja) * 2012-06-18 2014-01-09 Kyosan Electric Mfg Co Ltd 高周波電力供給装置、及び反射波電力制御方法
KR101523484B1 (ko) * 2012-06-18 2015-05-27 가부시끼가이샤교산세이사꾸쇼 고주파 전력 공급 장치, 및 반사파 전력 제어방법
US9070537B2 (en) 2012-06-18 2015-06-30 Kyosan Electric Mfg. Co., Ltd. High-frequency power supply device and reflected wave power control method
JP2014165437A (ja) * 2013-02-27 2014-09-08 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2018532878A (ja) * 2015-08-24 2018-11-08 エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド マイクロ波発生器および合成ダイヤモンド材料の製造
JP2018073558A (ja) * 2016-10-26 2018-05-10 イマジニアリング株式会社 昇降圧回路を含む電磁波発振装置

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