WO2006120994A1 - 複合圧電基板 - Google Patents

複合圧電基板 Download PDF

Info

Publication number
WO2006120994A1
WO2006120994A1 PCT/JP2006/309232 JP2006309232W WO2006120994A1 WO 2006120994 A1 WO2006120994 A1 WO 2006120994A1 JP 2006309232 W JP2006309232 W JP 2006309232W WO 2006120994 A1 WO2006120994 A1 WO 2006120994A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
substrate
piezoelectric substrate
composite piezoelectric
thickness
composite
Prior art date
Application number
PCT/JP2006/309232
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Masayuki Tanno
Original Assignee
Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. filed Critical Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
Publication of WO2006120994A1 publication Critical patent/WO2006120994A1/ja

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02535Details of surface acoustic wave devices
    • H03H9/02543Characteristics of substrate, e.g. cutting angles
    • H03H9/02574Characteristics of substrate, e.g. cutting angles of combined substrates, multilayered substrates, piezoelectrical layers on not-piezoelectrical substrate

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)

Abstract

 圧電基板と支持基板とを貼り合せて形成された複合圧電基板であって、前記圧電基板の表面には弾性表面波を励振するための金属電極が形成されており、該金属電極の厚さは、漏洩弾性表面波の波長で規格化した値で0.04以上であり、前記支持基板と前記圧電基板とは接着剤を介して又は直接的に接合されたものであることを特徴とする複合圧電基板。これにより、電気機械結合係数が大きく、周波数温度特性が良いとともに、特に耐電力性が高く、大きな電力を印加しても電極が劣化しない複合圧電基板が提供される。

Description

複合圧電基板
技術分野
本発明は、複合圧電基板に関するものであり、特に弾性表面波デバイス等に用い られる複合圧電基板に関するものである。
背景技術
[0002] 携帯電話やローカルエリアネットワーク (LAN)、パーソナルエリアネットワーク(PAN )等の高周波通信において用いられる周波数調整 ·選択用の部品として、例えば圧 電基板上に弾性表面波を励振するための櫛形電極が形成された弾性表面波 (Surf ace Acoustic Wave、 SAW)デバイスが用いられる。これに用いられる圧電基板 材料は、電気信号から機械的振動への変換効率 (以下電気機械結合係数と記す)が 極めて大きいこと、また櫛形電極の電極間隔と弾性波の音速により決まるフィルタ等 の中心周波数が温度により変動しないことが求められる(以下、周波数温度特性と記 す)。
すなわち、大きな電気機械結合係数と小さな周波数温度係数を兼ね備えた圧電基 板が有れば好ましい。こうした特性を実現する圧電基板の一例として、圧電基板と他 の基板を接合した複合圧電基板がある。
[0003] このような複合圧電基板の一例として、圧電材料の表面に弾性波を励振'検出する ための電極が設けられており、前記圧電材料裏面に複合積層体を接合したことを特 徴とする温度安定化表面波装置が開示されている。この表面波装置は、制御された 応力変化を前記圧電材料に誘起させることにより、前記圧電材料において温度補正 がなされるというものである(特開昭 51— 25951号公報 参照)。
この例では、「複合積層体に LiNbO (ニオブ酸リチウム)基板を強固に結合するこ
3
とにより、前述したように基板上に圧縮力が生じ、この圧縮力は温度が増大するに従 つて増大する。力べして、遅延時間およびフィルタ中心周波数に対する温度の影響を 補正する手段を得ることができる。」とされている。これは、支持基板となる複合積層 体の膨張係数は圧電材料である LiNbO基板の弾性表面波伝播方向のそれよりも
3
小さいことを意味し、これにより温度変化に応じて圧電基板に応力が発生して SAW デバイスの遅延時間およびフィルタ中心周波数に対する温度の影響を補正できると いうことを意味する。
[0004] また、接着剤を使用して剛板と圧電板とを貼り合せて一体の基板とし、前記圧電板 表面に電極を設けた機能素子を、ノ^ケージに収納した電気部品が開示されて ヽる (特開平 2— 62108号公報 参照)。
すなわち、圧電材料とこれより小さな膨張係数を有する基板とを貼り合せた複合圧 電基板を用いた弾性表面波素子は周波数温度特性が改善されること、接着剤を用 いて剛板と圧電板を貼り合せて一体の基板とすることは公知の技術である。
[0005] また、「圧電材料.デバイスシンポジウム予稿集 2005、 ρρ.153-158」には、表面に Aほたは Cuの電極を形成しその上に SiO膜を形成した 5° 回転 Yカット LiNbO基
2 3 板は、電気機械結合係数が 25%程度と大きく 1次の温度特性がほぼ零であることが 示されている。
ここでは、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した電極厚が 0. 035である例が示され ている。
しかし、このような基板では、 SiO膜を厚くすると電気機械結合係数が小さくなる。
2
また、例えば送信段で用いる無線通信部品では、大きな電力が力かると、電極が劣 化するという問題があった。
また、「 Yamanouchi et al., Proc. 1999 IEEE Ultrasonics Symp., pp.239- 242」に は 64° 回転 Yカット LiNbO基板と石英基板を貼合せた複合圧電基板が開示されて
3
いる。しかし、 ΓΚ. Yamanouchi et al., Proc. 1999 IEEE Ultrasonics Symp., pp.239- 24 2Jでは電極材料の厚みにつ!、ては検討されて 、な!/、。 発明の開示
[0006] 本発明は、電気機械結合係数が大きぐ周波数温度特性が良いとともに、特に耐 電力性が高ぐ大きな電力を印力 tlしても電極が劣化しない複合圧電基板を提供する ことを目的とする。 [0007] 上記課題を解決するために、本発明は、圧電基板と支持基板とを貼り合せて形成 された複合圧電基板であって、前記圧電基板の表面には弾性表面波を励振するた めの金属電極が形成されており、該金属電極の厚さは、漏洩弾性表面波の波長で 規格化した値で 0. 04以上であり、前記支持基板と前記圧電基板とは接着剤を介し て又は直接的に接合されたものであることを特徴とする複合圧電基板を提供する。
[0008] このように、複合圧電基板の圧電基板表面に形成された金属電極の厚さが、圧電 基板表面を伝播する漏洩弾性表面波の波長で規格化した値で 0. 04以上であれば 、耐電力性が高ぐ大きな電力を印加しても電極が劣化しないものとできる。また、支 持基板と圧電基板が接着剤を介して接合されたものであれば、比較的安価なものと できるし、直接的に接合して、強固に接合したものとでき、特性が良好な複合圧電基 板とすることができる。
[0009] この場合、前記支持基板は Si基板、石英基板、ある!/、はセラミックスを主成分とする 基板であることが好ましい。
このように、支持基板が、圧電基板よりも膨張係数が小さくでき、しかも半導体デバ イス作製用として最も実用化されている Si基板、または量産性の高い石英基板、ある いはパッケージ材料として汎用されて ヽるセラミックスを主成分とする基板であれば、 安価で周波数温度特性が改善された高性能な複合圧電基板とできる。
[0010] また、前記圧電基板は 35° ± 35° 回転 Yカット LiNbO基板又は LiTaO基板で
3 3 あることことが好ましい。
このように、圧電基板が 35° ± 35° 回転 Yカット LiNbO基板又は LiTaO基板で
3 3 あれば、周波数温度特性、伝播ロス特性、電気機械結合係数が良好な複合圧電基 板とでさる。
[0011] また、前記圧電基板の表面に前記金属電極を覆うように SiO N層(但し 0. 01 < Xく 0. 5)が形成されており、該 SiO N層の厚さは、漏洩弾性表面波の波長で規 格化した値で 0. 1以下であるものとすることが好ましい。
このように、圧電基板の表面に金属電極を覆うように SiO N層が形成されていれ ば、基板表面の電極の保護と周波数温度特性の調整ができ、また漏洩弾性表面波 及び弾性表面波が混在する場合、結合が小さい弾性表面波はこの膜により減衰し不 要モード (スプリアスモード)を抑圧する効果がある。またその厚さが漏洩弾性表面波 の波長で規格ィ匕した値で 0. 1以下、特には 0. 05程度であれば、漏洩弾性表面波の 音速の低下と結合係数の低下が発生しないようにできる。また、 Xが 0. 01以下では、
SiO N層の弹性的性質が経時的に変化してしまい、 Xが 0. 5以上では膜質が劣 化する可能性がある。 Xは好ましくは 0. 1程度であれば、 Nを含まない場合に比べ層 自身の耐電力性が向上し好ましい。
[0012] また、前記支持基板と圧電基板とは、波長 200nm以下の短波 UV光及びオゾンに より処理した後、直接的に接合されたものであることが好ましい。
このように、支持基板と圧電基板とが、波長 200nm以下の短波 UV光及びオゾンに より処理した後、直接的に接合されたものであれば、処理により OH基が増加して活 性ィ匕した表面が水素結合で強固に接合されたものとできる。
[0013] 本発明に従う複合圧電基板であれば、耐電力性が高ぐ大きな電力を印加しても電 極が劣化しないものとでき、電気機械結合係数や周波数温度特性等の諸特性も良 好な複合圧電基板とできる。 図面の簡単な説明
[0014] [図 1]本発明に係る複合圧電基板の実施形態の一例を示す断面概略図である。
[図 2]本発明の複合圧電基板の周波数温度特性をシミュレーションにより求めたもの を示すグラフである。
[図 3]図 2に示した複合圧電基板と同様のものについて、漏洩弾性表面波の波長で 規格化した金属電極の厚さをパラメータとした場合の漏洩弾性表面波の伝播ロスの 計算値を示すグラフである。
[図 4]図 2に示した複合圧電基板と同様のものについて、結合係数 (k2)の計算値を 示すグラフである。
発明を実施するための最良の形態
[0015] 以下では、本発明の実施形態について具体的に説明するが、本発明はこれらに限 定されるものではない。
本発明者は、例えば送信段の無線通信部品に用 ヽる SAWデバイスには大きな電 力がかかることから、この SAWデバイスの圧電基板の表面に形成される弾性表面波 を励振するための金属電極が劣化しにくいように、厚い電極材料を圧電基板上に形 成する必要があり、電極材料の膜厚が十分厚くなければ、良好な耐電力性は期待で きないと考えた。これまで、電極材料の厚さについては十分な検討がされていなかつ たが、本発明者は、金属電極の厚さが、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0 . 04以上であれば、耐電力性が十分に高いものとできることに想到し、本発明を完成 させた。
[0016] 図 1は本発明に係る複合圧電基板の実施形態の一例を示す断面概略図である。
この複合圧電基板 1は、圧電基板 2と支持基板 3とを貼り合せて形成されたものであ つて、圧電基板 2の表面には弾性表面波を励振するための金属電極 4が形成されて おり、該金属電極 4の厚さは、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0. 04以上 、すなわち、例えば漏洩弾性表面波の波長が 2 mであれば電極の厚さは 0. 08 m以上であり、支持基板 3と圧電基板 2とは接着剤 5を介して又は直接的に接合され たものであることを特徴とする。
[0017] 複合圧電基板 1は、このような構成を有することにより、耐電力性が高ぐ大きな電 力を印カロしても電極が劣化しないものとできる。また、接着剤 5を介して接合されたも のであれば、接合表面の平坦ィ匕ゃ洗浄を簡易なものとでき、比較的安価なものとで きるし、直接的に接合して、強固に接合したものともできる。
[0018] また、複合圧電基板 1は、圧電基板 2とこれよりも小さい膨張係数を有する支持基板 3とを貼り合せて形成したものであることが好ましい。
このような構成であれば、温度変化に応じて圧電基板 2に応力が発生し、周波数温 度特性を改善することができる。
[0019] このような複合圧電基板 1は、例えば圧電基板 2及び支持基板 3の一方又は両方に 接着剤を塗布し、真空下で貼り合わせ強固に接合することにより作製することができ る。接着面に異物が混入しないように貼り合わせ前に各基板の表面を洗浄することが 好ましぐまた、表面をアンモニア 過酸化水素水溶液等で親水化処理をしたり、ま たはプラズマ処理をしたり、例えば基板を 100°Cに加熱して波長 200nm以下の短波 UV光及びオゾン (好ましくは高濃度オゾン)により前処理することにより接着力を高め てもよい。
複合圧電基板の大きさは特に限られず、例えば直径 100mmのものとできるがそれ 以上でもそれ以下でもよい。
[0020] また、圧電基板 2と支持基板 3の接合面を各々鏡面加工し、例えば 100°Cに加熱し ながらその片面もしくは両面を波長 200nm以下の短波 UV光及びオゾン (好ましくは 高濃度オゾン)により前処理した後、減圧下において室温で貼り合せて直接的に接 合しても良い。このようにすれば、上記処理により OH基が増加して活性ィ匕した表面 が水素結合で強固に接合されたものとできる。
[0021] この場合、上記の方法で作製した貼り合わせ基板 2枚をほぼ対称構造となるように 対向させエポキシ接着剤を介して接着し 250°Cまで加熱し、その後、室温まで冷却し 、硫酸にて接着層を剥がし、複合圧電基板母材を形成しても良い。
そして、この複合圧電基板を面取り加工した後、圧電基板の表面側を研削及びラッ プにより削り落とし、さらにポリッシュにより圧電基板の厚さが例えば 10 m程度にな るようにすればよい。
[0022] 本発明では、圧電基板 2は、厚さが 5〜: LOO μ mであって、圧電基板 2の接着面が 粗面に加工されたものであってもよい。このように、圧電基板 2の厚さが 5〜: LOO m 、好ましくは 5〜30 μ mであれば、加熱による反りが少なく割れのないものとなる。圧 電基板 2の厚さが 5 mより薄いと、圧電基板 2を上記の厚さに加工する際にクラック が生じることがあるので好ましくない。また、 100 /z mより厚いと、複合圧電基板 1を 25 0°C程度に加熱した場合に、圧電基板 2が割れてしまうことがあることから好ましくない 。圧電基板 2の厚さを上記範囲内の所望の値とするには、例えば複合圧電基板 1を 形成後、圧電基板 2を研削もしくはラップ、ポリッシュ (研磨)加工すればよい。
[0023] また、圧電基板 2は、 35° ± 35° 回転 Yカット LiNbO基板または LiTaO基板で
3 3 あることが好ましい。これらは電気機械結合係数が大きい結晶材料であるので、周波 数選択フィルタとしての帯域幅が広く、挿入損失が小さ ヽ SAWデバイスが製造可能 な複合圧電基板とできる。また後述するように、伝播ロス特性、周波数温度特性も良 好なものとできる。この圧電結晶材料からなる圧電基板は、例えばチヨクラルスキー法 でこれらの単結晶棒を育成し、これを所望の厚さにスライスすることによって高品質な ものが得られる。
[0024] また、支持基板 3は Si基板、石英基板、あるいはセラミックスを主成分とする基板で あることが好ましい。これらの基板を用いれば、支持基板 3が、圧電基板よりも膨張係 数が小さくでき、しかも半導体デバイス作製用として最も実用化されている Si基板、ま たは量産性の高 、石英基板、あるいはパッケージ材料として汎用されて 、るセラミツ タスを主成分とする基板であれば、安価で周波数温度特性が改善された高性能な複 合圧電基板とできる。また、支持基板 3が Si基板の場合、支持基板 3の両表面層を 0 . 1〜40 ;ζ ΐηの厚さだけ酸化し、 Si酸化膜を形成すれば、複合圧電基板 1の反りを低 減し、かつ S艘ィ匕膜及び接着剤層により絶縁性を確保可能とし、電気的特性も向上 できる。
また、金属電極 4は Al、 Cu、及びその合金など力 なるものが好ましい。この金属 電極は、複合圧電基板の上に蒸着ゃスパッタ、 CVDなどの方法により上記金属材料 の膜を形成し、エッチングなどによりパタニングすることにより形成することが出来る。
[0025] また、圧電基板 2の表面に金属電極 4を覆うように SiO N層 6 (但し 0. 01 <x< 0 . 5)が形成されており、 SiO N層 6の厚さは、漏洩弾性表面波の波長で規格化し た値で 0. 1以下であることが好ましい。
このように SiO N層 6が形成されて ヽれば、基板表面の金属電極 4の保護と周 波数温度特性の調整ができ、また漏洩弾性表面波及び弾性表面波が混在する場合 、結合力 、さい弾性表面波はこの膜により減衰し不要モードを抑圧する効果がある。
[0026] また、 SiO N層 6の厚さが漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0. 1以下、 特には 0. 05程度であれば、漏洩弾性表面波の音速の低下と結合係数の低下が発 生しないようにできる。また、 Xが 0. 01以下では、 SiO N層 6の弹性的性質が経 時的に変化してしまい、 Xが 0. 5以上では膜質が劣化する可能性がある。 Xは好まし くは 0. 1程度であれば、 Nを含まない場合に比べ層自身の耐電力性が向上し好まし い。
[0027] 図 2は本発明の複合圧電基板の周波数温度特性をシミュレーションにより求めたも のを示すグラフである。横軸は圧電基板の Yカット回転角、縦軸は周波数温度特性( TCF)である。圧電基板は LiNbO基板で厚みが 20 /ζ πι、支持基板は Si基板であり 、複合圧電基板の全厚みは 0. 2mmの場合である。また、弾性表面波 (漏洩弾性表 面波)の波長で規格化した電極厚みは 0. 06である。また、電極材料は A1と Cuの合 金の場合で Al: Cuの割合が 2 : 1である。比較として同図中に LiNbO基板単体の場
3
合の計算値も示した。周波数温度特性は共振周波数及び反共振周波数につ!ヽて示 した。本発明の複合圧電基板では圧電基板単体の場合と比較して広!ヽ Yカット回転 角にわたり周波数温度特性が— 20ppmZ°Cから— 40ppmZ°C程度へ大きく改善さ れている。 Yカット回転角としては 35° ± 35° が好ましぐ 20° 〜70° であれば特 に好ましい。
[0028] 図 3は、図 2に示した複合圧電基板と同様のものについて、漏洩弾性表面波の波長 で規格化した金属電極の厚さをパラメータとした場合の漏洩弾性表面波の伝播ロス の計算値を示すグラフである。横軸は Yカット回転角を示し、縦軸は伝播ロス (減衰定 数)を示す。
伝播ロスは 0. 15dBZ波長未満が好ましぐ 0. OldBZ波長未満が特に好ましい。 この場合、 Yカット回転角としては 35° ± 35° が好ましぐ 20° 〜70° であれば特 に好ましい。このような Yカット回転角の間で金属電極の厚さが漏洩弾性表面波の波 長で規格ィヒした値で 0. 04以上であれば、伝播ロスを 0. 15dBZ波長未満とすること ができる。なお、 Yカット回転角によっては金属電極の厚さが厚いと伝播ロスが増加 する場合があるので、伝播ロスの点からは、金属電極の厚さは漏洩弾性表面波の波 長で規格ィ匕した値で 0. 1以下が好ましい。
[0029] 図 4は、図 2に示した複合圧電基板と同様のものについて、結合係数 (k2)の計算値 を示すグラフである。図 4より、 LiNbOでの Yカット回転角は 35° ± 35° で結合が
3
大きぐさらに Yカット回転角は 0° 〜40° であればより好ましい。
以上の点から、本発明で用いられる LiNbO基板の Yカット回転角は 35° ± 35°
3
が好ましぐ 20° 〜40° が特に好ましい。
[0030] 以下に本発明の実施例および比較例をあげてさらに具体的に説明する力 本発明 はこれらに限定されるものではない。
(実施例 1) 直径 4インチ(100mm)で厚さが 180 μ mである片側が鏡面カ卩ェされた Si基板を用 意した。なお、 Si基板は抵抗率が 4500 Ω 'cmのものを用いた。次に直径 4インチ(1 00mm)の 25° 回転 Yカット LiNbO基板を厚さが 0. 15πιπι (150 ;ζ m)となるよう両
3
面研磨により仕上げた。このとき LiNbO基板として焦電性が無いものを用いた。前
3
記基板を各々 100°Cに加熱しながら波長 200nm以下の短波 UV光及び高濃度ォゾ ンにより前処理した。
次にこの LiNbO基板と Si基板を圧力 1 X 10_4mbarの真空下で室温で貼り合せた
3
[0031] 次に、このような方法で作製した LiNbO基板と Si基板を貼り合わせた複合圧電基
3
板 2枚を LiNbO基板側で対向させエポキシ接着剤を介して接着し、 250°Cまでカロ
3
熱した。その後、室温まで冷却し、硫酸にて接着層を剥がし、複合圧電基板母材を 形成した。
そして、この複合圧電基板を面取り加工した後、 LiNbO基板の表面側を研削及び
3
ラップにより 110 m削り落とし、さらにポリッシュにより LiNbO基板の厚さが 20 m
3
になるよつにした。
[0032] 次に、この複合圧電基板の LiNbO基板の表面側にスパッタ法により Al、 Cuの合
3
金を 0. 12 mの厚みで堆積させた。このとき Al: Cuの比が 2 : 1となるようターゲット 組成を選定した。
次に表面の金属材料の一部をプラズマエッチングにより溶かし、ノタニングして金 属電極とし、 1ポートの漏洩弾性表面波共振子 (波長 m)を作製した。すなわち、 金属電極の厚さを、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0. 06とした。
[0033] この複合圧電基板をウェハプローバにのせ、 2GHzでの共振子特性を評価したとこ ろ、比帯域幅((fa— fr) Zfa、 faは反共振周波数、 frは共振周波数)は 11%と広帯 域であった。
[0034] また、この複合圧電基板を真空チヤッキングし、プローバステージ温度を変化させ て周波数温度特性を求めたところ、反共振周波数については— 23ppmZ°C、共振 周波数は― 38ppmZ°Cと!、う小さ 、温度係数であった。
さらに、この複合圧電基板からなる共振子に 2GHz、 1Wの電力を投入し続けたとこ ろ 2000時間でも共振特性の劣化は無ぐ耐電力性が高いことが確認された。
[0035] (実施例 2)
LiNbO基板のカット角を 41° 回転 Yカットとした以外は、実施例 1と同じ手順で複
3
合圧電基板 (0. 2mm厚)を作製した。 LiNbO基板の厚さは 20 mとした。
3
[0036] 次に、この複合圧電基板の LiNbO基板の表面側にスパッタ法により Al、 Cuの合
3
金を 0. 125 mの厚みで堆積させた。このとき Al: Cuの比が 2 : 1となるようターゲット 組成を選定した。
次に表面の金属材料の一部をプラズマエッチングにより溶かし、パタニングし金属 電極とし、 1ポートの漏洩弾性表面波共振子 (波長 2.: L m)を作製した。すなわち、 金属電極の厚さを、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0. 06とした。
[0037] この複合圧電基板をウェハプローバにのせ、 2GHzでの共振子特性を評価したとこ ろ、比帯域幅は 9%と広帯域であった。
また、この複合圧電基板を真空チヤッキングし、プローバステージ温度を変化させ て周波数温度特性を求めたところ、反共振周波数については— 20ppmZ°C、共振 周波数は― 35ppmZ°Cと!、う小さ 、温度係数であった。
さらに、この複合圧電基板からなる共振子に 2GHz、 1Wの電力を投入し続けたとこ ろ 2000時間でも共振特性の劣化は無ぐ耐電力性が高いことが確認された。
[0038] (実施例 3)
実施例 1の LiNbO基板のカット角を 5° 回転 Yカットとし、支持基板に合成石英基
3
板を用いた以外は実施例 1と同じ手順にて複合圧電基板 (0. 2mm厚)を作製した。
[0039] 次に、この複合圧電基板の LiNbO基板の表面側にスパッタ法により Al、 Cuの合
3
金を 0. 18 mの厚みで堆積させた。このとき Al: Cuの比が 2 : 1となるようターゲット 組成を選定した。
次に表面の金属材料の一部をプラズマエッチングにより溶かし、パタニングし金属 電極とし、 1ポートの漏洩弾性表面波共振子 (波長 1. を作製した。すなわち、 金属電極の厚さを、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0. 1とした。 [0040] 次にこの金属電極が形成された複合圧電基板にプラズマ CVDにより SiO N の
1. 8 0. 2 保護膜を 0. 1 IX mの厚さで堆積させた。すなわち、保護膜の厚さを、漏洩弾性表面 波の波長で規格化した値で 0. 06とした。
[0041] この複合圧電基板に形成された共振子の電極取り出し部の SiO N の保護膜
1. 8 0. 2 の部分のみをドライエッチングしたのち、この複合圧電基板ウェハプローバにのせ、 2 GHzでの共振子特性を評価したところ、比帯域幅は 12%と広帯域であった。
また、このときスプリアスモードである弾性表面波の応答は観測されな力つた。
また、この複合圧電基板を真空チヤッキングし、プローバステージ温度を変化させ て周波数温度特性を求めたところ、保護膜の効果により、反共振周波数については — 2ppmZ°C、共振周波数は— 15ppmZ°Cという極めて小さい温度係数であった。 さらに、この複合圧電基板からなる共振子に 2GHz、 1Wの電力を投入し続けたとこ ろ 2000時間でも共振特性の劣化は無ぐ耐電力性が高いことが確認された。
[0042] (実施例 4)
直径 4インチ(100mm)、厚さが 190 μ m、抵抗値が 5, 000 Ω 'cmである Si基板の 両面の表面層を常圧酸ィ匕法により 3 mの厚さで酸ィ匕した。次に直径 4インチ(100 mm)で厚さが 0. 15mm (150 /z m)の 41° 回転 Yカット LiNbO基板を両面ラップに
3
より表面の Raが 0. 12 /z mとなる様カ卩ェした。
次いで、前記酸ィ匕膜付き Si基板の表面を洗浄し、さらに 100°Cに加熱しながら波長 200nm以下の短波 UV光及び高濃度オゾンにより前処理し、片側表面上にェポキ シメタタリレートを主成分とする紫外線硬化接着剤をスピンコートして均一に塗布した 。次いで、前記 LiNbO基板の裏面を洗浄し、前記接着剤を同様に塗布し、前記酸
3
化膜付き Si基板の接着剤塗布面と前記 LiNbO基板の接着剤塗布面を圧力 1 X 10
3
_3mbarの真空下で貼り合せた。
[0043] 次に、この貼り合わせた複合圧電基板に、照度 50mWZcm2の紫外線を 10分間 照射し、接着剤を硬化させた。このとき基板面内で接着層は一様に 5 /z mの厚さだつ た。そして、この複合圧電基板を面取り加工した後、 LiNbO基板の表面側をラップ
3
及び研削により 120 /z m削り落とし、さらにポリッシュにより LiNbO基板の厚さが 10 μ mになるようにした。
この複合基板を 170°Cで加熱したところ、反りは 2mmと小さかった。また、この複合 基板を 290°Cで加熱してもウェハは割れな力つた。
[0044] 次に、この複合圧電基板の LiNbO基板の表面側にスパッタ法により Al、 Cuの合
3
金を 0. 12 mの厚みで堆積させた。このとき Al: Cuの比が 2 : 1となるようターゲット 組成を選定した。
次に表面の金属材料の一部をプラズマエッチングにより溶かし、パタニングし金属 電極とし、 1ポートの漏洩弾性表面波共振子 (波長 2.: L m)を作製した。すなわち、 金属電極の厚さを、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0. 06とした。
[0045] この複合圧電基板をウェハプローバにのせ、 2GHzでの共振子特性を評価したとこ ろ、比帯域幅は 9%と広帯域であった。
また、この複合圧電基板を真空チヤッキングし、プローバステージ温度を変化させ て周波数温度特性を求めたところ、反共振周波数については— 20ppmZ°C、共振 周波数は― 35ppmZ°Cと!、う小さ 、温度係数であった。
さらに、この複合圧電基板からなる共振子に 2GHz、 1Wの電力を投入し続けたとこ ろ 2000時間でも共振特性の劣化は無ぐ耐電力性が高いことが確認された。
[0046] (実施例 5)
直径 4インチ(100mm)で厚さが 190 μ mである低膨張セラミックス基板 (膨張係数 5. 5ppmZ°C)を準備し、次に直径 4インチ(100mm)で厚さが 0. 15mm(150 m )の 15° 回転 Yカット LiNbO基板を両面ラップにより表面の Raが 0. 12 /z mとなる様
3
加工した。
[0047] 次いで、前記セラミックス基板の表面を洗浄し、さらに 100°Cに加熱しながら波長 2 OOnm以下の短波 UV光及び高濃度オゾンにより前処理し、片側表面上にエポキシ メタタリレートを主成分とする紫外線硬化接着剤をスピンコートし均一に塗布した。次 いで、前記 LiNbO基板の裏面を洗浄し、前記接着剤を同様に塗布し、前記セラミツ
3
タス基板の接着剤塗布面と前記 LiNbO基板の接着剤塗布面を圧力 1 X 10"3mbar
3
の真空下で貼り合せた。 [0048] 次に、この貼り合わせた複合圧電基板に、照度 50mWZcm2の紫外線を 10分間 照射し、接着剤を硬化させた。このとき基板面内で接着層は一様に 5 /z mの厚さだつ た。そして、この複合圧電基板を面取り加工した後、 LiNbO基板の表面側をラップ
3
及び研削により 120 /z m削り落とし、さらにポリッシュにより LiNbO基板の厚さが 10
3
μ mになるよつにした。
[0049] 次に、この複合圧電基板の LiNbO基板の表面側にスパッタ法により Al、 Cuの合
3
金を 0. 2 mの厚みで堆積させた。このとき Al: Cuの比が 2 : 1となるようターゲット組 成を選定した。
次に表面の金属材料の一部をプラズマエッチングにより溶かし、ノタニングして金 属電極とし、 1ポートの漏洩弾性表面波共振子 (波長 1. 8 /z m)を作製した。すなわ ち、金属電極の厚さを、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0. 11とした。
[0050] この複合圧電基板をウェハプローバにのせ、 2GHzでの共振子特性を評価したとこ ろ、比帯域幅は 12%と広帯域であった。
また、この複合圧電基板を真空チヤッキングし、プローバステージ温度を変化させ て周波数温度特性を求めたところ、反共振周波数については— 30ppmZ°C、共振 周波数は— 42ppmZ°Cと!、う小さ 、温度係数であった。
さらに、この複合圧電基板からなる共振子に 2GHz、 1Wの電力を投入し続けたとこ ろ 2000時間でも共振特性の劣化は無ぐ耐電力性が高いことが確認された。
[0051] (実施例 6)
直径 4インチ(100mm)で厚さが 180 μ mである片側が鏡面カ卩ェされた Si基板を用 意した。なお、 Si基板は抵抗率が 4500 Ω 'cmのものを用いた。次に直径 4インチ(1 00mm)の 36° 回転 Yカット LiTaO基板を厚さが 0. 15πιπι (150 ;ζ m)となるよう両
3
面研磨により仕上げた。このとき LiTaO基板は焦電性が無いものを用いた。前記基
3
板を各々 100°Cに加熱しながら波長 200nm以下の短波 UV光及び高濃度オゾンに より前処理した。
次に LiTaO基板と Si基板を圧力 1 X 10_4mbarの真空下で室温で貼り合せた。
3
[0052] 次に、このような方法で作製した LiTaO基板と Si基板を貼り合わせた複合圧電基 板 2枚を LiTaO基板側で対向させエポキシ接着剤を介して接着し、 250°Cまで加熱
3
した。その後、室温まで冷却し、硫酸にて接着層を剥がし、複合圧電基板母材を形 成した。
そして、この複合圧電基板を面取り加工した後、 LiTaO基板の表面側を研削及び
3
ラップにより 110 m削り落とし、さらにポリッシュにより LiTaO基板の厚さが 20 m
3
になるよつにした。
[0053] 次に、この複合圧電基板の LiTaO基板の表面側にスパッタ法により Al、 Cuの合
3
金を 0. 2mの厚みで堆積させた。このとき Al: Cuの比が 2 : 1となるようターゲット組成 を選定した。
次に表面の金属材料の一部をプラズマエッチングにより溶かし、ノタニングして金 属電極とし、 1ポートの漏洩弾性表面波共振子 (波長 m)を作製した。すなわち、 金属電極の厚さを、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0. 1とした。
[0054] この複合圧電基板をウェハプローバにのせ、 2GHzでの共振子特性を評価したとこ ろ、比帯域幅は 3%と比較的広帯域であった。
[0055] また、この複合圧電基板を真空チヤッキングし、プローバステージ温度を変化させ て周波数温度特性を求めたところ、反共振周波数については— 22ppmZ°C、共振 周波数は 12ppmZ°Cと!ヽぅ小さ 、温度係数であった。
さらに、この複合圧電基板からなる共振子に 2GHz、 1Wの電力を投入し続けたとこ ろ 2000時間でも共振特性の劣化は無ぐ耐電力性が高いことが確認された。
[0056] (比較例 1)
実施例 1と同様な方法で複合圧電基板を作製し、この複合圧電基板の LiNbO基
3 板の表面側にスパッタ法により Al、 Cuの合金を 0. 06 mの厚みで堆積させた。この とき A1: Cuの比が 2: 1となるようターゲット組成を選定した。
次に表面の金属材料の一部をプラズマエッチングにより溶かし、ノタニングして金 属電極とし、 1ポートの漏洩弾性表面波共振子 (波長 m)を作製した。すなわち、 金属電極の厚さを、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0. 03とした。
この複合圧電基板からなる共振子に 2GHz、 1Wの電力を投入し続けたところ、約 1 0時間で金属電極が劣化した。 [0057] (比較例 2)
直径 4インチ(100mm)の 25° 回転 Yカット LiNbO基板を厚さが 0. 15mm(150
3
^ m)となるように仕上げた。
この LiNbO基板の表面にスパッタ法により Al、 Cuの合金を 0. 06 mの厚みで堆
3
積させた。このとき Al: Cuの比が 2 : 1となるようターゲット組成を選定した。
次に表面の金属材料の一部をプラズマエッチングにより溶かし、パタニングし金属 電極とし、 1ポートの漏洩弾性表面波共振子 (波長 2 m)を作製した。すなわち、金 属電極の厚さを、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0. 03とした。
[0058] この複合圧電基板を真空チヤッキングし、プローバステージ温度を変化させて周波 数温度特性を求めたところ、反共振周波数については— 60pmZ°C、共振周波数は 83ppmZ°Cと!ヽぅ大き 、温度係数であった。
さらに、この複合圧電基板からなる共振子に 2GHz、 1Wの電力を投入し続けたとこ ろ、約 10時間で金属電極が劣化した。
[0059] (比較例 3)
直径 4インチ(100mm)の 25° 回転 Yカット LiNbO基板を厚さが 0. 15mm(150
3
^ m)となるように仕上げた。
この LiNbO基板の表面にスパッタ法により Al、 Cuの合金を 0. 06 mの厚みで堆
3
積させた。このとき Al: Cuの比が 2 : 1となるようターゲット組成を選定した。
次に表面の金属材料の一部をプラズマエッチングにより溶かし、パタニングし金属 電極とし、 1ポートの漏洩弾性表面波共振子 (波長 2 m)を作製した。すなわち、金 属電極の厚さを、漏洩弾性表面波の波長で規格ィ匕した値で 0. 03とした。
次にこの金属電極が形成された複合圧電基板にプラズマ CVDにより SiO N
1. 8 0. 2 保護膜を 0. 2 mの厚さで堆積させた。
[0060] この複合圧電基板を真空チヤッキングしてプローバステージ温度を変化させて周波 数温度特性を求めたところ、反共振周波数については— 50pmZ°C、共振周波数は 70ppmZ°Cと!ヽぅ大き 、温度係数であった。
さらに、この複合圧電基板からなる共振子に 2GHz、 1Wの電力を投入し続けたとこ ろ、約 10時間で金属電極が劣化した。
[0061] なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は単な る例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一 な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技 術的範囲に包含される。
[0062] 例えば、実施例では圧電基板として LiNbO基板や LiTaO基板を用いた力 他の
3 3
圧電基板を用いてもよい。また、これらの圧電基板は、焦電性による表面電荷の蓄積 をなくしたものであってもよい。

Claims

請求の範囲
[1] 圧電基板と支持基板とを貼り合せて形成された複合圧電基板であって、前記圧電 基板の表面には弾性表面波を励振するための金属電極が形成されており、該金属 電極の厚さは、漏洩弾性表面波の波長で規格ィヒした値で 0. 04以上であり、前記支 持基板と前記圧電基板とは接着剤を介して又は直接的に接合されたものであること を特徴とする複合圧電基板。
[2] 請求項 1に記載の複合圧電基板にお!ヽて、前記支持基板は Si基板、石英基板、あ るいはセラミックスを主成分とする基板であることを特徴とする複合圧電基板。
[3] 請求項 1又は請求項 2に記載の複合圧電基板において、前記圧電基板は 35° 士 35° 回転 Yカット LiNbO基板又は LiTaO基板であることを特徴とする複合圧電基
3 3
板。
[4] 請求項 1乃至請求項 3の ヽずれか一項に記載の複合圧電基板にお!ヽて、前記圧 電基板の表面に前記金属電極を覆うように SiO N層(但し 0. 01 <x< 0. 5)が形 成されており、該 SiO N層の厚さは、漏洩弾性表面波の波長で規格化した値で 0 . 1以下であることを特徴とする複合圧電基板。
[5] 請求項 1乃至請求項 4の 、ずれか一項に記載の複合圧電基板にお!、て、前記支 持基板と圧電基板とは、波長 200nm以下の短波 UV光及びオゾンにより処理した後 、直接的に接合されたものであることを特徴とする複合圧電基板。
PCT/JP2006/309232 2005-05-12 2006-05-08 複合圧電基板 WO2006120994A1 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005-140378 2005-05-12
JP2005140378A JP4657002B2 (ja) 2005-05-12 2005-05-12 複合圧電基板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2006120994A1 true WO2006120994A1 (ja) 2006-11-16

Family

ID=37396502

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2006/309232 WO2006120994A1 (ja) 2005-05-12 2006-05-08 複合圧電基板

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP4657002B2 (ja)
WO (1) WO2006120994A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011019043A (ja) * 2009-07-08 2011-01-27 Ngk Insulators Ltd 複合基板及び複合基板の製造方法
CN102166884A (zh) * 2009-11-26 2011-08-31 精工爱普生株式会社 致动器、喷液头以及喷液装置
US20190267967A1 (en) * 2016-08-10 2019-08-29 The Japan Steel Works, Ltd. Bonded substrate, surface acoustic wave element, surface acoustic wave device, and method of manufacturing bonded substrate
TWI747050B (zh) * 2018-09-25 2021-11-21 日商京瓷股份有限公司 複合基板、壓電元件及複合基板的製造方法
US11777469B2 (en) 2017-06-14 2023-10-03 The Japan Steel Works, Ltd. Bonded substrate, surface acoustic wave element, surface acoustic wave element device, and bonded substrate manufacturing method

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4686342B2 (ja) * 2005-11-30 2011-05-25 株式会社日立メディアエレクトロニクス 弾性表面波装置及びこれを搭載した通信端末。
JP4984868B2 (ja) * 2006-12-13 2012-07-25 パナソニック株式会社 弾性表面波共振子
JP4316632B2 (ja) 2007-04-16 2009-08-19 富士通メディアデバイス株式会社 弾性表面波装置及び分波器
JP2011087079A (ja) * 2009-10-14 2011-04-28 Ngk Insulators Ltd 弾性表面波素子
JP5234780B2 (ja) * 2008-12-24 2013-07-10 日本碍子株式会社 複合基板の製造方法及び複合基板
JP5384313B2 (ja) * 2008-12-24 2014-01-08 日本碍子株式会社 複合基板の製造方法及び複合基板
JP5381188B2 (ja) * 2009-03-16 2014-01-08 株式会社村田製作所 弾性表面波素子
JP2010251978A (ja) * 2009-04-14 2010-11-04 Shin-Etsu Chemical Co Ltd 複合化された圧電基板の製造方法および複合化された圧電基板
JP5591240B2 (ja) * 2009-07-30 2014-09-17 日本碍子株式会社 複合基板及びその製造方法
KR20110020741A (ko) 2009-08-24 2011-03-03 엔지케이 인슐레이터 엘티디 복합 기판의 제조 방법
EP2482451A4 (en) * 2009-09-25 2017-06-21 Murata Manufacturing Co., Ltd. Surface acoustic wave device
JP5354020B2 (ja) * 2009-10-13 2013-11-27 株式会社村田製作所 弾性表面波装置
JP5301413B2 (ja) * 2009-10-22 2013-09-25 日本碍子株式会社 複合基板の製造方法
JP5814774B2 (ja) 2010-12-22 2015-11-17 日本碍子株式会社 複合基板及び複合基板の製造方法
WO2013187410A1 (ja) 2012-06-13 2013-12-19 日本碍子株式会社 複合基板
WO2014192597A1 (ja) 2013-05-31 2014-12-04 日本碍子株式会社 複合基板用支持基板および複合基板
JP6567970B2 (ja) 2013-07-25 2019-08-28 日本碍子株式会社 複合基板の製法
JP2015122566A (ja) * 2013-12-20 2015-07-02 株式会社村田製作所 弾性波装置
WO2015198904A1 (ja) 2014-06-26 2015-12-30 株式会社村田製作所 縦結合共振子型弾性表面波フィルタ
CN107078714B (zh) * 2014-10-17 2021-04-20 株式会社村田制作所 压电器件、压电器件的制造方法
DE112015005349B4 (de) * 2014-11-28 2023-05-04 Murata Manufacturing Co., Ltd. Vorrichtung für elastische Wellen
JP6481999B2 (ja) * 2015-03-09 2019-03-13 日本無線株式会社 表面弾性波センサ及び溶液物性測定方法
US10381998B2 (en) 2015-07-28 2019-08-13 Qorvo Us, Inc. Methods for fabrication of bonded wafers and surface acoustic wave devices using same
US10084427B2 (en) * 2016-01-28 2018-09-25 Qorvo Us, Inc. Surface acoustic wave device having a piezoelectric layer on a quartz substrate and methods of manufacturing thereof
US10128814B2 (en) 2016-01-28 2018-11-13 Qorvo Us, Inc. Guided surface acoustic wave device providing spurious mode rejection
US11336254B2 (en) 2016-05-30 2022-05-17 Kyocera Corporation Composite substrate and acoustic wave element using same
WO2018151147A1 (ja) 2017-02-14 2018-08-23 京セラ株式会社 弾性波素子
WO2019022006A1 (ja) 2017-07-27 2019-01-31 京セラ株式会社 弾性波素子
US11206007B2 (en) 2017-10-23 2021-12-21 Qorvo Us, Inc. Quartz orientation for guided SAW devices
WO2019142483A1 (ja) * 2018-01-22 2019-07-25 日本碍子株式会社 圧電性材料基板と支持基板との接合体およびその製造方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10303681A (ja) * 1997-04-24 1998-11-13 Kyocera Corp 弾性表面波装置
JPH1155070A (ja) * 1997-06-02 1999-02-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 弾性表面波素子とその製造方法
JP2001217675A (ja) * 1999-12-22 2001-08-10 Koninkl Philips Electronics Nv フィルタ構成、その製造方法、これを用いた移動電話機、受信機、送信機、データ伝送システム
JP2004040636A (ja) * 2002-07-05 2004-02-05 Murata Mfg Co Ltd 表面波装置
JP2004325158A (ja) * 2003-04-23 2004-11-18 Ushio Inc 接合方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09167936A (ja) * 1995-10-13 1997-06-24 Fujitsu Ltd 弾性表面波装置
JPH1188100A (ja) * 1997-09-03 1999-03-30 Toyo Commun Equip Co Ltd 弾性表面波デバイス
JP3225906B2 (ja) * 1997-11-14 2001-11-05 日本電気株式会社 表面弾性波素子の実装構造および実装方法
JP3114710B2 (ja) * 1998-11-30 2000-12-04 日本電気株式会社 強誘電体メモリ及びその製造方法
JP2000196410A (ja) * 1998-12-31 2000-07-14 Kazuhiko Yamanouchi 高安定高結合弾性表面波基板とそれを用いた弾性表面波フィルタ及び弾性表面波機能素子
JP3391309B2 (ja) * 1999-09-02 2003-03-31 株式会社村田製作所 表面波装置及び通信機装置
JP2002016468A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Kyocera Corp 弾性表面波装置
JP2003078388A (ja) * 2001-08-30 2003-03-14 Kyocera Corp 弾性波装置及びその製造方法
JP2003198323A (ja) * 2001-12-28 2003-07-11 Murata Mfg Co Ltd 弾性表面波装置
JP3841053B2 (ja) * 2002-07-24 2006-11-01 株式会社村田製作所 弾性表面波装置及びその製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10303681A (ja) * 1997-04-24 1998-11-13 Kyocera Corp 弾性表面波装置
JPH1155070A (ja) * 1997-06-02 1999-02-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 弾性表面波素子とその製造方法
JP2001217675A (ja) * 1999-12-22 2001-08-10 Koninkl Philips Electronics Nv フィルタ構成、その製造方法、これを用いた移動電話機、受信機、送信機、データ伝送システム
JP2004040636A (ja) * 2002-07-05 2004-02-05 Murata Mfg Co Ltd 表面波装置
JP2004325158A (ja) * 2003-04-23 2004-11-18 Ushio Inc 接合方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011019043A (ja) * 2009-07-08 2011-01-27 Ngk Insulators Ltd 複合基板及び複合基板の製造方法
CN102166884A (zh) * 2009-11-26 2011-08-31 精工爱普生株式会社 致动器、喷液头以及喷液装置
US20190267967A1 (en) * 2016-08-10 2019-08-29 The Japan Steel Works, Ltd. Bonded substrate, surface acoustic wave element, surface acoustic wave device, and method of manufacturing bonded substrate
US11502665B2 (en) * 2016-08-10 2022-11-15 The Japan Steel Works, Ltd. Method of manufacturing bonded substrate
US11777469B2 (en) 2017-06-14 2023-10-03 The Japan Steel Works, Ltd. Bonded substrate, surface acoustic wave element, surface acoustic wave element device, and bonded substrate manufacturing method
TWI747050B (zh) * 2018-09-25 2021-11-21 日商京瓷股份有限公司 複合基板、壓電元件及複合基板的製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4657002B2 (ja) 2011-03-23
JP2006319679A (ja) 2006-11-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4657002B2 (ja) 複合圧電基板
US11863152B2 (en) Elastic wave device and method for manufacturing the same
KR101972728B1 (ko) 접합체 및 탄성파 소자
JP3774782B2 (ja) 弾性表面波素子の製造方法
US7224101B2 (en) Elastic boundary wave device and method of manufacturing the same
JP4723207B2 (ja) 複合圧電基板
US7105980B2 (en) Saw filter device and method employing normal temperature bonding for producing desirable filter production and performance characteristics
CN203851109U (zh) 复合基板
JP6756843B2 (ja) 複合基板の製造方法
JP2010166592A (ja) 弾性境界波装置の製造方法及び弾性境界波装置
JP2005229455A (ja) 複合圧電基板
JP2007134889A (ja) 複合圧電基板
JP2007214902A (ja) 弾性表面波素子
KR102410318B1 (ko) 표면 음향파 디바이스용 하이브리드 구조체
TW202044757A (zh) 高次模式彈性表面波裝置
JP2023080110A (ja) 圧電性材料基板と支持基板との接合体、その製造方法および弾性波素子
JP2006304206A (ja) 弾性表面波素子及び複合圧電チップ並びにその製造方法
JP6605184B1 (ja) 接合体および弾性波素子
JPH10335974A (ja) 弾性境界波素子
KR20210141345A (ko) 표면 탄성파 디바이스용 복합 기판 및 그 제조 방법
JP2007228120A (ja) 弾性表面波素子
WO2019130895A1 (ja) 圧電性材料基板と支持基板との接合体および弾性波素子
JP2002026684A (ja) 弾性表面波素子
Geshi et al. Wafer bonding of polycrystalline spinel with LiNbO 3/LiTaO 3 for temperature compensation of RF surface acoustic wave devices
JP2020043403A (ja) 弾性波共振器、フィルタおよびマルチプレクサ

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: RU

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 06746064

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1