JP2001217675A - フィルタ構成、その製造方法、これを用いた移動電話機、受信機、送信機、データ伝送システム - Google Patents

フィルタ構成、その製造方法、これを用いた移動電話機、受信機、送信機、データ伝送システム

Info

Publication number
JP2001217675A
JP2001217675A JP2000391285A JP2000391285A JP2001217675A JP 2001217675 A JP2001217675 A JP 2001217675A JP 2000391285 A JP2000391285 A JP 2000391285A JP 2000391285 A JP2000391285 A JP 2000391285A JP 2001217675 A JP2001217675 A JP 2001217675A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
filter
layer
electrode
resonator
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000391285A
Other languages
English (en)
Inventor
Mareike C Klee
マライケ、カタリーネ、クレー
Hans-Peter Loebl
ハンス、ペーター、レーブル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips Electronics NV
Publication of JP2001217675A publication Critical patent/JP2001217675A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/46Filters
    • H03H9/54Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material
    • H03H9/58Multiple crystal filters
    • H03H9/60Electric coupling means therefor
    • H03H9/605Electric coupling means therefor consisting of a ladder configuration
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
    • H03H3/007Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
    • H03H3/02Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02007Details of bulk acoustic wave devices
    • H03H9/02086Means for compensation or elimination of undesirable effects
    • H03H9/02094Means for compensation or elimination of undesirable effects of adherence
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02007Details of bulk acoustic wave devices
    • H03H9/02086Means for compensation or elimination of undesirable effects
    • H03H9/02149Means for compensation or elimination of undesirable effects of ageing changes of characteristics, e.g. electro-acousto-migration
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/46Filters
    • H03H9/54Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material
    • H03H9/542Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material including passive elements
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/46Filters
    • H03H9/54Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material
    • H03H9/58Multiple crystal filters
    • H03H9/581Multiple crystal filters comprising ceramic piezoelectric layers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
  • Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
  • Filters And Equalizers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 帯域フィルタとノッチフィルタを有するフィ
ルタ構成を改良する。 【解決手段】 キャパシタとインダクタンスを有するノ
ッチフィルタの、共振器を有する帯域フィルタへの接続
は帯域外での良好な抑制を達成する。2つのフィルタは
基板(1)上に小さいスペースで薄膜技術を用いて製造
できる。さらに、このようなフィルタ構成を有する送信
機、受信機、移動電話機器、無線データ伝送システム、
このフィルタ構成の製造方法と同様に開示される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はフィルタの構成に関
する。本発明はさらにフィルタ構成を有する送信器、受
信器、移動電話器、および無線データ送信システム、さ
らにフィルタ構成を製造する方法にも関する。
【0002】
【従来の技術】移動電話技術の分野の非常に急速な発展
およびコードレス電話装置の絶え間のない小型化によ
り、個々の構成要素に課せられる要求は増加して来てい
る。他のシステムからの干渉信号の数の増加に対して受
信機を保護するために、高周波数領域での高い選択性が
必要になっている。これは、例えば、限られた帯域の周
波数のみを通過させ、その帯域よりも上あるいは下のす
べての周波数を抑制する帯域フィルタにより達成され
る。
【0003】現在、この目的のために使用されている素
子として、セラミック電磁共振器を備えたフィルタがあ
る。しかし、これらのフィルタの小型化は、電磁波長に
よって制限されている。いわゆる表面音響波(SAW)
フィルタにより、より小さい設計が達成されている。こ
れは、音響波長が電磁波長よりも4〜5桁小さいためで
ある。しかしながら、短所は、表面音響波フィルタは、
多くの場合に構造が複雑で、複雑なハウジングで保護し
なけれならないことである。代わりの物がバルク音響波
(BAW)フィルタで作られる。バルク音響波フィルタ
は、その大きさ、パワー、およびIC適合性に関しては
有利である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際、
このフィルタは通過帯域より外にある周波数を完全に除
くことはできず、一定の割合で残る。これは例えば移動
電話や基地局の高周波部分における信号フィルタリング
などの特定の用途には不十分である。
【0005】本発明の目的は通過帯域の外側での改良さ
れた抑制を示す帯域フィルタリング機能を有するフィル
タを提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この目的は、基板上に互
いに接続された帯域フィルタおよびノッチフィルタが設
けられるフィルタ構成により達成される。
【0007】ノッチフィルタは、帯域フィルタの入力と
接地間、あるいは帯域フィルタの出力と接地間に接続さ
れることが有利である。
【0008】帯域フィルタとノッチフィルタの接続は、
所望の周波数で帯域フィルタの遮断帯域におけるより良
い抑制を得ることが可能となる。
【0009】帯域フィルタおよびノッチフィルタは薄膜
フィルタであることが好ましい。
【0010】基板上に薄膜技術によって2つのフィルタ
を実現することは、このようなフィルタ構成が小さい寸
法の中に収まることを意味する。
【0011】帯域フィルタは共振器のフィルタ構成を有
していることが特に好ましい。
【0012】フィルタ構成はバルク音響波共振器、表面
音響波共振器、またはセラミック電磁共振器を有してい
ることがさらに好ましい。
【0013】共振器のフィルタ構成からなる帯域フィル
タは通過帯域においてより低い損失を示す。これは、例
えば、LCフィルタよりも良い品質係数Qを有するから
である。さらに、共振器を有する帯域フィルタは比較対
象のLCの組み合わせよりも通過帯域の端部においてよ
り急峻な傾きを示す。
【0014】バルク音響波共振器は共振器ユニットと、
この共振器ユニットと基板間に配置された反射要素を有
している。
【0015】このようなバルク音響波フィルタは薄膜技
術を用いて単純に、とりわけ小さなスペースで製造する
ことができる。さらに、このようなバルク音響波共振器
は、も単結晶共振器、膜を備えた共振器またはエアギャ
ップを有する共振器などの他形式のバルク音響波共振器
よりも明らかに強靱である。
【0016】ノッチフィルタはキャパシタとインダクタ
ンスを備えることがさらに有利である。
【0017】そのようなノッチフィルタは薄膜技術を用
いて帯域フィルタと同一基板上に単純に、安価に、小さ
なスペースで製造することができる。
【0018】本発明はさらに、基板と、その上に設けら
れたバルク音響波フィルタおよびノッチフィルタを有す
るフィルタ構成を製造する方法に関するもので、この方
法は、−第2の電極であるピエゾ電気層および第1の電
極がキャリア層の上に設けられ、少なくとも1つの共振
器ユニット、キャパシタ、およびインダクタンスが形成
されるように構成され、−共振器ユニットに属する第1
の電極の部分に反射要素が堆積され、−基板は全体の組
み立てに固定され、キャリア層は除去される。
【0019】本発明は、基板およびその上に設けられ、
互いに接続された帯域フィルタおよびノッチフィルタを
有するフィルタ構成を有する、送信機、受信機、移動電
話機器、無線データ伝送システムにも関する。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明は3つの添付図面と3つの
実施例から明らかになる。
【0021】図1において、帯域フィルタおよびノッチ
フィルタを有するフィルタ構成は、例えば、セラミック
材料、ガラス平坦化層を有するセラミック材料、ガラス
−セラミック材料、ガラス材料、シリコン、GaAsま
たはサファイアで作られたキャリア基板1を含む。シリ
コンまたはGaAsがキャリア基板1として使用される
場合には、例えばSiOまたはガラスの保護層(パッ
シベーション層)がさらに形成される。重合体および多
孔質物質を含むグループからの音響反射物質の層である
第1の反射要素2が、キャリア基板1上に存在する。使
用される可能性のある音響反射物質は、例えば、エーロ
ゲル、キセロゲル、ガラス発泡体、発泡型接着剤、発泡
合成樹脂または低密度の合成樹脂である。使用される可
能性のあるエーロゲルは、例えば、シリカゲルまたは多
孔質SiO構造体で作られた無機エーロゲル、または
例えば、レゾシノール−ホルムアルデヒドエーロゲル、
メラミン−ホルムアルデヒドエーロゲルまたはフェノー
ル−ホルムアルデヒドエーロゲルのような有機エーロゲ
ルである。使用される可能性のあるキセロゲルは、例え
ば、高濃縮ポリ珪酸のような無機キセロゲル、接着剤ま
たは寒天のような有機キセロゲルである。使用される可
能性のある発泡物質は、例えば、ポリスチロール、ポリ
カーボネート、ポリ塩化ビニル、ポリウレタン、ポリイ
ソシアネート、ポリイソシアヌレート、ポリカルボジイ
ミド、ポリメタクリルイミド、ポリアクリルイミド、ア
クリル−ブタジエン−スチロール共重合体、ポリプロピ
レンまたはポリエステルのような化学的に発泡された重
合体または物理的に発泡された重合体である。さらに、
例えば、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂またはフラ
ン樹脂のような発泡合成樹脂が使用される可能性があ
り、これらは炭化により高い多孔度を持つ。使用される
可能性のある低密度の合成樹脂は、例えば、架橋ポリビ
ニルエーテル、架橋ポリアリールエーテル、ポリテトラ
フルオロエチレン、ポリ(p−キシリレン)、ポリ(2
−クロロ−p−キシリレン)、ポリ(ジクロロ−p−キ
シリレン)、ポリベンゾシクロブテン、スチロール−ブ
タジエン共重合体、エチレン−酢酸ビニル重合体または
有機シロキサン共重合体である。
【0022】共振器ユニットは第1の電極3、圧電層
4、および第2の電極5を反射要素2の上に有する。電
極3と5は、低音響減衰の良導電性材料で作られるのが
好ましく、例えば、Ag1−xPt(01),
Pt(50nm〜1μm),Ti(1〜20nm)/P
t(20〜600nm),Ti(1〜20nm)/Pt
(20〜600nm)/Ti(1〜20nm),Al,
数パーセントのCuがドープされたAl,数パーセント
のSiがドープされたAl,数パーセントのMgがドー
プされたAl,W,Ni,Mo,Au,Cu,Ti/P
t/Al,Ti/Ag,Ti/Ag/Ti,Ti/Ag
/Ir,Ti/Ir,Ti/Pd,Ti/Ag1−x
(01),Ti/Ag1−xPd(0
1),Ti/Pt1−xAl(01),Pt
1−xAl(01),Ti/Ag/Pt1−x
Al(01),Ti/Ag/Ru,Ti/Ag
/Ir/IrO(02),Ti/Ag/Ru/
RuO(02),Ti/Ag/Ru/Ru
1−x(01),Ti/Ag/Ru/Ru
1−x/RuO(01,02),Ti
/Ag/Ru/RuO /RuPt1−y(0
2,01),Ti/Ag/RuPt −x(0
1),Ti/Ag/PtAl1−x(0
1),PtAl1−x/Ag/PtAl1−y(0
1,01),Ti/Ag/Pt(RhO
1−y(02,01),Ti/Ag/
Rh/RhO(02),Ti/Ag/Pt
1−x(01),Rh,Rh/RhO,Ti
/Ag/Pt(RhO1−y/PtRh1−z
(02,01,01),Ti/Ag
Pt1−x/Ir(01),Ti/AgPt
1−x/Ir/IrO(01,02),
Ti/AgPt1−x/PtAl1−y(0
1,01),Ti/AgPt1−x/Ru(0
1),Ti/AgPt1−x/Ru/RuO
(01,02),Ti/Ag/Cr,Ti
/Ag/Ti/ITO,Ti/Ag/Cr/ITO,T
i/Ag/ITO,Ti/Ni/ITO,Ti/Ni/
Al/ITO,Ti/Ni,Ti/W/Ti,WTi
1−x(01),WTi1−x/Al(Cu)
(01),WTi1− /Al(Si)(0
1),WTi1−x/Al(01),また
はTi/Cuを含む可能性がある。
【0023】圧電層4に使用される材料は、例えば、A
lN、ZnO、La、Mn、Fe、Sb、Sr、Niま
たはこれらのドーパントの組み合わせを含むまたは含ま
ないPbTi1−xZr(0≦x≦1)、LiN
bO、LiTaO、PbNb、Pb(Zn
1/3Nb2/3)O−PbTiO,Pb(Mg
/3Nb2/3)O−PbTiO,Pb(Ni
1/3Nb2/3)O−PbTiO,Pb(Sc
1/3Nb2/3)O−PbTiO,Pb(Zn
/3Nb2/31−x−y(Mn1/2Nb1/2
Ti(01,01),Pb(In
1/2Nb1/2)O−PbTiO,SrTaG
Si14,K(Sr1−xBaNb
15(01),Na(Sr1−xBaNb
15(01),BaTiO,(K 1−x
)NbO(01),(Bi,Na,K,P
b,Ba)TiO,(Bi,Na)TiO,Bi
TiNbO21,(K1−xNa)NbO−(B
i,Na,K,Pb,Ba)TiO(01),
a(Bi Na1−x)TiO3−b(KNb
3−c)1/2(Bi−Sc )(0
1,a+b+c=1),(BaSrCa)Ti
Zr1− ,(01,a+b+c=1),
(BaSrLa)BiTi 15(a+b+
c=1),BiTi12,LaGa5.5Nb
0. 14,LaGaSiO14,LaGa
5.5Ta0.514またはポリフッ化ビニリデン
(PVDF)である可能性がある。
【0024】電極3および5および圧電層4は一方で
は、バルク音響波共振器の構成を含む帯域フィルタが構
成され、他方ではインダクタンスとキャパシタとを含む
ノッチフィルタが異なる場所で帯域フィルタに隣接する
ように構成される。ノッチフィルタは帯域フィルタの入
力または出力と接地間に接続される。キャパシタは圧電
層4から構成される誘電体、および2つの電極を有して
いる。インダクタンスは第1の電極または第2の電極の
適当なデザインによりキャパシタに直列に形成される。
【0025】代わりに、キャパシタの誘電体は圧電層4
により構成せず、2ε300の低い誘電率を有する
他の誘電体、例えばSiO2、Si、Si
(0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)、Ta
,Ta−Al ,Ta−Nb
,Ta−TiO,or TiO.で構成さ
れても良い。
【0026】同様に、キャパシタの電極は別々の導電層
から形成されても良い。
【0027】有機または無機材料またはこれらの材料の
組み合わせからなる保護膜6がフィルタ構成の全面に設
けられる。使用される有機材料は、例えば、ポリベンゾ
シクロブテンまたはポリイミドである可能性があり、お
よび使用される無機材料は、例えばSiO、Si
、Si(0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z
≦1)である可能性がある。
【0028】もしくは、反射要素2は、交互に高インピ
ーダンスと低インピーダンスであるいくつかの層で構成
することができる。その時に、低インピーダンスの材料
は、例えば、有機または無機のエーロゲル、有機または
無機のキセロゲル、ガラス発泡体、発泡型接着剤、発泡
合成樹脂または低密度の合成樹脂である可能性がある。
高音響インピーダンスの材料は、例えば、HfO、M
o、Au、Ni、Cu、W、Ti/W/Ti、WTi
1−x(0≦x≦1)、ダイアモンド、Ta、P
t、Ti/Pt、または例えば高密度ポリエチレン(H
DPE)のような高密度の合成樹脂である可能性があ
る。
【0029】例えば、単結晶共振器、膜を備えた共振器
またはエアギャップを有する共振器などをバルク音響波
共振器の代わりに用いることができる。
【0030】バルク音響波フィルタを離れて、表面音響
波フィルタやセラミック電磁共振器も用いることができ
る。
【0031】さらに、本発明の他の実施の形態では、第
2の反射要素を上部電極5の上に設けることができる。
【0032】他の方法では、例えばアクリル酸接着剤ま
たはエポキシ接着剤で作られた追加の接着層を、反射要
素2とキャリア基板1の間に形成する。アクリル酸接着
剤は、例えば、接着工程中に重合するアクリルまたはメ
タクリル単量体を含むことができる。
【0033】さらに、層の厚さが30から300nmの
間であるSiOの層を、多孔質SiOで作られた反
射要素2の上および/または下に形成することができ
る。これらのSiOの層、反射要素2,第2の反射要
素は基板1の全体領域上に設けられる。
【0034】さらに、フィルタ構成に、少なくとも1つ
の第1および少なくとも1つの第2の電流供給用コンタ
クトを設けることができる。例えば、Cr/Cu、Ni
/SnまたはCr/Cu、Cu/Ni/SnまたはCr
/Ni、Pb/Snの電気メッキSMDエンドコンタク
トまたはバンプエンドコンタクト、またはコンタクトパ
ッドが、電流供給用コンタクトとして使用できる。
【0035】構成および集積に関する代替実施例は当業
者に知られている。
【0036】そのようなフィルタ構成は、信号のフィル
タリングが必要とされる、移動電話の分野および他のあ
らゆる無線通信(例えば、DECTまたはCTコードレ
ス電話、無線中継装置、ポケットベル(登録商標))の
分野で用いられる。
【0037】図2は帯域フィルタおよびノッチフィルタ
を有するフィルタ構成を有する回路を示す。入力7およ
び出力8の間には、例えば図5に示される回路を有する
帯域フィルタBが存在する。直列接続されたインダクタ
ンスIとキャパシタCを有するノッチフィルタは帯域フ
ィルタBの出力と接地間に配置される。キャパシタCの
第2の端子は接地電位に接続される。
【0038】代わりに、この回路は2つあるいはそれ以
上の、帯域フィルタBの入力と接地間、あるいは帯域フ
ィルタの出力と接地間、あるいは帯域フィルタの入力と
接地間に接続されたノッチフィルタを有することができ
る。
【0039】図3は帯域フィルタおよびノッチフィルタ
を有するフィルタ構成の回路図である。帯域フィルタB
は入力7と出力8との間に接続され、例えば、図5に示
された回路構成を有している。インダクタンスLとキャ
パシタCが並列接続されたノッチフィルタは帯域フィル
タの出力と出力8との間に存在する。
【0040】図4は帯域フィルタと2つのノッチフィル
タを有するフィルタ構成を示す回路図である。並列接続
されたインダクタンスL1およびキャパシタCは、入力
7と、例えば図5に示される回路構成を有する帯域フィ
ルタBの入力との間に配置されている。並列接続された
インダクタンスL2およびキャパシタC2を備えた第2
のノッチフィルタは帯域フィルタBの出力と出力との間
に存在する。
【0041】帯域フィルタBとノッチフィルタが直列接
続されたこれらの回路構成においては、インダクタンス
LはnHのレンジに、キャパシタCはpFのレンジにあ
るようにできる。寄生ラインインダクタンスはインダク
タンスLを実現するのに用いることができる。
【0042】図5は総計9個の共振器ユニットM1〜M
5およびN1〜N4のフィルタ構成を示す。5個の共振
器ユニットM1からM5は、入力9と出力10の間に直
列に接続されている。4個の別の共振器ユニットN1か
らN4は、並列に前記5個の共振器ユニットM1からM
5に接続されている。4個の共振器ユニットN1からN
4の各々の1つの端子は、接地電位に接続されている。
共振器ユニットN1の他の端子は、共振器ユニットM1
とM2の間に接続されている。共振器ユニットN2の他
の端子は、共振器ユニットM2とM3の間に接続されて
いる。共振器ユニットN3の他の端子は、共振器ユニッ
トM3とM4の間に接続され、最後に、共振器ユニット
N4の他の端子は、共振器ユニットM4とM5の間に接
続されている。
【0043】帯域フィルタおよびノッチフィルタを有す
るフィルタ構成を形成する可能性は、第1のステップで
キャリア層の上に共振器ユニットを堆積させることであ
る。この共振器ユニットは逆の順で第2の電極5,圧電
層4、および第1の電極を含む。キャリア層は、例え
ば、セラミック材料、ガラス平坦化層を有するセラミッ
ク材料、ガラス−セラミック材料、シリコン、GaAs
またはサファイアを含む。シリコンまたはGaAsがキ
ャリア基板1として使用される場合は、例えば、SiO
またはガラスの追加の保護層が設けられる。
【0044】電極3と5は、低音響減衰の良導電性材料
で作るのが好ましく、例えばAg −xPt(0
1),Pt(50nm〜1μm),Ti(1〜20n
m)/Pt(20〜600nm),Ti(1〜20n
m)/Pt(20〜600nm)/Ti(1〜20n
m),Al,数パーセントのCuがドープされたAl,
数パーセントのSiがドープされたAl,数パーセント
のMgがドープされたAl,W,Ni,Mo,Au,C
u,Ti/Pt/Al,Ti/Ag,Ti/Ag/T
i,Ti/Ag/Ir,Ti/Ir,Ti/Pd,Ti
/Ag1−xPt(01),Ti/Ag1−x
Pd(01),Ti/Pt1−xAl (0
1),Pt1−xAl(01),Ti/A
g/Pt1−xAl(01),Ti/Ag/R
u,Ti/Ag/Ir/IrO(02),Ti
/Ag/Ru/RuO(02),Ti/Ag/
Ru/RuPt1−x(01),Ti/Ag/
Ru/RuPt1−x/RuO (01,0
2),Ti/Ag/Ru/RuO/RuPt
1− (02,01),Ti/Ag/Ru
Pt1−x(01),Ti/Ag/PtAl
1−x(01),PtAl1−x/Ag/Pt
Al1−y(01,01),Ti/Ag
/Pt(RhO 1−y(02,0
1),Ti/Ag/Rh/RhO(02),T
i/Ag/PtRh1−x(01),Rh,R
h/RhO,Ti/Ag/Pt(RhO1−y
/PtRh1−z(02,01,0
1),Ti/AgPt1−x/Ir(0
1),Ti/AgPt1−x/Ir/IrO(0
1,02),Ti/AgPt1−x/Pt
Al1−y(01,01),Ti/Ag
Pt −x/Ru(01),Ti/AgPt
1−x/Ru/RuO(01,02),
Ti/Ag/Cr,Ti/Ag/Ti/ITO,Ti/
Ag/Cr/ITO,Ti/Ag/ITO,Ti/Ni
/ITO,Ti/Ni/Al/ITO,Ti/Ni,T
i/W/Ti,WTi1−x(01),W
1−x/Al(Cu)(01),WTi
1−x/Al(Si)(01),WTi1−x
/Al(01),またはTi/Cuを含む可能性
がある。圧電層4に使用される材料は、例えば、Al
N,ZnO,La、Mn、Fe、Sb、Sr、Niのド
ーパントまたはこれらの組み合わせを含むか含まないP
bZrTi1−x(01),LiNb
,LiTaO ,PbNb,Pb(Zn
1/3Nb2/3)O−PbTiO,Pb(Mg
1/3Nb2/3)O−PbTiO,Pb(Ni
1/3Nb2/3)O−PbTiO,Pb(Sc
1/3Nb2/3)O−PbTiO,Pb(Zn
1/3Nb2/31−x−y(Mn1/2
1/2Ti(01,01),
Pb(In1/2Nb1/2)O−PbTiO,S
TaGaSi14,K(Sr1−xBa
Nb15(01),Na(Sr1−xBa
Nb15(01),BaTiO
(K1−xNa)NbO(01),(Bi,
Na,K,Pb,Ba)TiO,(Bi,Na)Ti
,BiTiNbO21,(K −xNa)N
bO−(Bi,Na,K,Pb,Ba)TiO(0
1),a(BiNa1−x)TiO3−b(K
NbO3−c)1/2(Bi −Sc)(0
1,a+b+c=1),(BaSrCa
TiZr1−x,(01,a+b+c=
1),(BaSrLa)BiTi15(a
+b+c=1),BiTi12,LaGa
.5Nb0.514,LaGaSiO14,La
Ga5.5Ta0.514またはポリフッ化ビニリ
デン(PVDF)でありうる。
【0045】圧電層4および電極3および5は一方で
は、バルク音響波共振器の構成を含む帯域フィルタが形
成されるように堆積および構成され、他方では2つの電
極3および5と圧電層4が、圧電層4から構成される誘
電体および2つの電極3および5を有するキャパシタが
帯域フィルタに隣接するようにキャリアの異なる場所で
構成される。インダクタンスは第1の電極3または第2
の電極5の適当なデザインによりキャパシタに直列に形
成される。
【0046】重合体および多孔質物質のグループに属す
る音響反射面を有する反射要素2はバルク音響波共振器
ユニットが存在する領域で第1の電極上に設けられる。
音響反射物質は、エーロゲル、キセロゲル、ガラス発泡
体、発泡型接着剤、発泡合成樹脂または低密度の合成樹
脂であることが好ましい。
【0047】エーロゲルは、例えば、シリカゲルまたは
多孔質SiO構造体で作られた無機エーロゲル、また
は例えば、レゾシノール−ホルムアルデヒドエーロゲ
ル、メラミン−ホルムアルデヒドエーロゲルまたはフェ
ノール−ホルムアルデヒドエーロゲルのような有機エー
ロゲルである可能性がある。使用されるキセロゲルは、
例えば、高濃縮ポリ珪酸のような無機キセロゲル、また
は接着剤または寒天のような有機キセロゲルである可能
性がある。発泡合成樹脂は、例えば、ポリスチロール、
ポリカーボネート、ポリ塩化ビニル、ポリウレタン、ポ
リイソシアネート、ポリイソシアヌレート、ポリカルボ
ジイミド、ポリメタクリルイミド、ポリアクリルイミ
ド、アクリル−ブタジエン−スチロール共重合体、ポリ
プロピレンまたはポリエステルのような化学的または物
理的に発泡された重合体である可能性がある。さらに、
例えば、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂またはフラ
ン樹脂のような発泡合成樹脂が使用される可能性があ
り、これらは、炭化により高い多孔度を持つ。使用され
る低密度の合成樹脂は、例えば、架橋ポリビニルエーテ
ル、架橋ポリアリールエーテル、ポリテトラフルオロエ
チレン、ポリ(p−キシリレン)、ポリ(2−クロロ−
p−キシリレン)、ポリ(ジクロロ−p−キシリレ
ン)、ポリベンゾシクロブテン、スチロール−ブタジエ
ン共重合体、エチレン−酢酸ビニル重合体または有機シ
ロキサン重合体である可能性がある。ガラス、ガラス−
セラミック材料、ガラス平坦化層を有するガラス−セラ
ミック材料、ガラス材料、シリコン、GaAsまたはサ
ファイアで作られたキャリア基板1を、使用される材料
の接着特性を使用して、または例えば、アクリル酸接着
剤またはエポキシド接着剤の追加の接着層を使用して、
この反射要素2に固定する。キャリア基板1に、シリコ
ンまたはGaAsが使用される場合は、例えばSiO
またはガラスで作られた追加の保護層を形成する。次
に、基板13を、機械的または化学的に取り除く。
【0048】LaまたはMnのドーパントを含むまたは
含まないPbTi1−xZr(0≦x≦1)を圧
電材料4の材料として使用する場合は、TiO、Al
またはZrOの反射防止層を基板層13と第1
の電極3の間に形成することができる。
【0049】本発明による電子構成要素を製造する他の
方法では、反射要素2を所望のキャリア基板1上に直接
に堆積する。その後で、第1の電極3、第2の電極5お
よび圧電層4で構成される共振器ユニットを形成する。
あるいは、反射要素2は、交互に高インピーダンスと低
インピーダンスであるいくつかの層を含むことができ
る。
【0050】代わりに、キャパシタの誘電体は圧電層4
により構成されず、2ε300の低い誘電率を有す
る他の誘電体、例えばSiO2、Si、Si
(0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)、Ta
,Ta−Al,Ta−Nb
,Ta−TiO,or TiO.が製造
方法に応じて第1の電極あるいは第2の電極の適当な部
分に設けられる。
【0051】同様に、キャパシタの電極は別々の導電層
の堆積により形成されても良い。
【0052】すべての場合において、有機および/また
は無機材料の保護層を、構成要素全体の上に形成するこ
とができる。使用される有機材料は、例えば、ポリベン
ゾシクロブテンまたはポリイミドである可能性があり、
および使用される無機材料は、例えば、Si、S
iOまたはSi(0≦x≦1、0≦y≦
1、0≦z≦1)である可能性がある。
【0053】代わりに、反射要素6をフィルタ構成の共
振器ユニットの下または上に形成することができる。こ
の追加反射要素は、非常に低い音響インピーダンスの材
料の層かまたは交互に高インピーダンスと低インピーダ
ンスである複数層を含む。
【0054】さらに、層厚さが30から300nmの間
のSiOの層を、多孔性の反射要素2あるいは追加の
反射要素の上および下に形成することができる。これら
のSiOの層、反射要素2,および第2の反射要素は
基板1の全領域上に形成することができる。
【0055】少なくとも1つの第1および少なくとも1
つの第2の電流供給用コンタクトをフィルタ構成の反対
面に設けることができる。可能な電流供給用コンタクト
は、例えば、Cr/Cu、Ni/SnまたはCr/C
u、Cu/Ni/SnまたはCr/Ni、Pb/Snの
電気メッキSMDエンドコンタクトまたはバンプエンド
コンタクト、またはコンタクトパッドである。
【0056】以下に本発明が実際にどのように実施され
るかを示す実施例が以下に詳細に説明される。
【0057】実施例1 帯域フィルタとノッチフィルタのフィルタ構成は300
nm厚でガラス基板1上に濃いSiO層が堆積され、
次に反射要素2としてのエーロゲルの形態の多孔性Si
層を接着工程で形成された。それぞれ第1の電極
3,圧電層4,および第2の電極5を有する9つの共振
器ユニットがこの反射要素2の上に設けられた。
【0058】第1の電極3はPtよりなっていた。第2
の電極5はTi接着層とPt層を含んでいた。圧電層4
はPbZr0.35Ti0.65の構成を有してい
た。圧電層4および2つの電極3および5は一方で全部
で9つのバルク音響波共振器を有する帯域フィルタが形
成されるように堆積され、構成された。他方では、2つ
の電極3および5および圧電層4はバルク音響波共振器
の構成の近くに、圧電層4と2つの電極3および5によ
り形成される誘電体により構成されるキャパシタを構成
するように構成された。下側の電極3は接地に接続され
た。同時に、第1の電極3と第2の電極5の設計と対応
長さによりキャパシタに直列にインダクタが形成され
た。構成要素全体にSiOの保護層6が堆積された。
続いて、第1の電極3および第2の電極5にコンタクト
するためのコンタクト孔がエッチングされ、バンプエン
ドコンタクトがそこに成長された。
【0059】このようなフィルタ構成は移動電話の高周
波部分における信号フィルタリングに用いられた。
【0060】実施例2 帯域フィルタおよびノッチフィルタを有するフィルタ構
成を製造するために、まず、薄いチタン接着層およびP
t層を有する第2の電極5がシリコンのキャリア層の上
に設けられ、SiOの保護層6を伴った。AlNの圧
電層4がこの第2の電極5上に設けられた。続いて、P
tを含む第1の電極が圧電層4の上に設けられた。9つ
の共振器ユニットおよびAlNの誘電体と電極3,5を
有する1つのキャパシタが形成され、インダクタンスも
形成された。下の電極3は接地に接続された。30nm
厚で濃いSiO層、その上の反射要素2としてのエー
ロゲルの形態の多孔性SiO層、そしてこの反射要素
の上に300nmの厚さのSiO層が共振器が存在し
ている場所において第1の電極上に堆積された。ガラス
基板1は全体の組立にアクリレート接着剤で固定され
た。次に、キャリア層のシリコン層がエッチング除去さ
れた。残りのSiO層に第1の電極3および第2の電
極5にコンタクトするためのコンタクト孔がエッチング
された。Cr/Cuのバンプエンドコンタクトがコンタ
クト孔内に成長された。
【0061】このようなフィルタ構成は移動電話の高周
波部分における信号フィルタリングに用いられた。
【0062】実施例3 帯域フィルタおよびノッチフィルタを有するフィルタ構
成を製造するために、まず、薄いチタン接着層およびP
t層を有する第2の電極5がシリコンのキャリア層の上
に設けられ、SiOの保護層6を伴った。PbZr
0.35Ti0. 65の圧電層4がこの第2の電極
5の上に設けられた。続いて、Ptの第1の電極が圧電
層4の上に設けられた。これらの3つの層は一方で9つ
の共振器ユニットが形成されるように構成された。第2
の電極5は共振器ユニットの横の場所でエッチングによ
り露出された。第2の電極5はキャパシタの電極である
と同時にその設計と長さによるインダクタンスとして作
用する。0.5μm厚のSi 層が全体の構成上に
体積され、キャパシタの場所のみにおいて誘電体として
作用すべく残存するように構成された。別に、Cuがド
ープされた導電性アルミニウムが、Si層上に設
けられ、キャパシタの第2の電極をなすように構成され
る。この追加の導電性層は接地される。30nm厚の濃
いSiO層はシステム全体の上に設けられ、このSi
層にエーロゲルの形態でその上に300nmのSi
層が堆積された多孔性SiO層の反射要素2が設
けられる。ガラスの基板はアクリレート接着剤で全体の
組み立て体に固定された。続いてキャリア層のシリコン
層はエッチング除去された。第2の電極5とCuがドー
プされたAlの追加導電層とをコンタクトするコンタク
トホールが層内にエッチング形成された。そして、Cr
/Cuのバンプエンドコンタクトがコンタクト孔内に成
長された。
【0063】このようなフィルタ構成は移動電話の高周
波部分における信号フィルタリングに用いられた。
【0064】実施例4 帯域フィルタおよびノッチフィルタを有するフィルタ構
成を製造するために、まず、CuがドープされたAlの
導電層がSiOの保護層6を伴ったシリコンのキャリ
ア層の上に堆積された。このCuがドープされたAlの
導電層は接地された。0.5μm厚のSi層がC
uがドープされたAlの導電層上に堆積された。続い
て、CuがドープされたAlの第2の電極を、共振器ユ
ニット中の第2の電極、インダクタンス、およびキャパ
シタの第2の電極としても作用するように設け、構成し
た。AlNの圧電層4がこの第2の電極5の上に設けら
れた。続いて、CuをドープしたAlの第1の電極が圧
電層4の上に設けられた。これらの3つの層は一方で9
つの共振器ユニットが形成されるように構成された。全
体のシステムは30nm厚の厚いSiO層の上に設け
られた。エーロゲルの形態の多孔性SiO層は反射要
素2としてのSiO層の上に設けられ、この反射要素
2の上に300nmのSiO層が堆積された。基板1
はアクリレート接着剤で全体の組み立て体に固定され
た。続いてキャリア層のシリコン層はエッチング除去さ
れた。第2の電極5とCuがドープされたAlの追加導
電層とをコンタクトするコンタクトホールが層内にエッ
チング形成された。そして、Cr/Cuのバンプエンド
コンタクトがコンタクト孔内に成長された。
【0065】このようなフィルタ構成は移動電話の高周
波部分における信号フィルタリングに用いられた。
【0066】実施例5 図3に示される帯域フィルタとノッチフィルタのフィル
タ構成は、300nm厚の厚く濃いSiO層がガラス
基板上に堆積され、次に反射要素2としてのエーロゲル
の形態の多孔性SiO層が接着工程で形成された。そ
れぞれ第1の電極3,圧電層4,および第2の電極5を
有する9つの共振器ユニットがこの反射要素2の上に設
けられた。第1の電極3はPtよりなっていた。第2の
電極5はTi接着層とPt層を含んでいた。圧電層4は
KNbOの構成を有していた。圧電層4および2つの
電極3および5は一方で全部で9つのバルク音響波共振
器を有する帯域フィルタが形成されるように堆積され、
構成された。他方では、2つの電極3および5および圧
電層4はバルク音響波共振器の構成の近くに、圧電層4
と2つの電極3および5により形成される誘電体により
構成されるキャパシタを構成するように構成された。同
時に、第1の電極3と第2の電極5の設計と対応長さに
よりキャパシタに直列にインダクタが形成された。下の
電極3と上の電極5はフィルタ出力8を構成するように
電気的に内部接続された。構成要素全体にSiOの保
護層6が堆積された。続いて、第1の電極3および第2
の電極5にコンタクトするためのコンタクト孔がエッチ
ングされ、バンプエンドコンタクトがそこに成長され
た。このようなフィルタ構成は移動電話の高周波部分に
おける信号フィルタリングに用いられた。
【図面の簡単な説明】
【図1】フィルタ構成の帯域フィルタおよびノッチフィ
ルタのバルク音響波共振器の構成の断面図である。
【図2】帯域フィルタと、1つまたは2つのノッチフィ
ルタを有するフィルタ構成の回路図を示す。
【図3】帯域フィルタと、1つまたは2つのノッチフィ
ルタを有するフィルタ構成の回路図を示す。
【図4】帯域フィルタと、1つまたは2つのノッチフィ
ルタを有するフィルタ構成の回路図を示す。
【図5】共振器を有する帯域フィルタの回路図を示す。
【符号の説明】
1 基板 2 反射要素 3 第1の電極 4 圧電層 5 第2の電極 6 保護層 7 入力 8 出力
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 590000248 Groenewoudseweg 1, 5621 BA Eindhoven, Th e Netherlands (72)発明者 ハンス、ペーター、レーブル ドイツ連邦共和国モンシャウ‐インゲンブ ロイヒ、マティアス、オーフェルマンシュ トラーセ、22

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】互いに接続された帯域フィルタとノッチフ
    ィルタがその上に設けられた基板を有するフィルタ構
    成。
  2. 【請求項2】請求項1に記載のフィルタ構成において、
    前記ノッチフィルタは前記帯域フィルタの入力と接地
    間、あるいは前記帯域フィルタの出力と接地間に接続さ
    れたことを特徴とするフィルタ構成。
  3. 【請求項3】請求項1に記載のフィルタ構成において、
    前記帯域フィルタおよび前記ノッチフィルタは薄膜フィ
    ルタであることを特徴とするフィルタ構成。
  4. 【請求項4】請求項1に記載のフィルタ構成において、
    前記帯域フィルタは共振器のフィルタ構成を含むことを
    特徴とするフィルタ構成。
  5. 【請求項5】請求項3に記載のフィルタ構成において、
    前記フィルタ構成はバルク音響波共振器、表面音響波共
    振器、セラミック電磁共振器を含むことを特徴とするフ
    ィルタ構成。
  6. 【請求項6】請求項4に記載のフィルタ構成において、
    前記バルク音響波共振器は、共振器ユニットと、前記基
    板と前記音響波共振器の間に配置された反射要素を備え
    たことを特徴とするフィルタ構成。
  7. 【請求項7】請求項1に記載のフィルタ構成において、
    前記ノッチフィルタはキャパシタおよびインダクタンス
    を備えたことを特徴とするフィルタ構成。
  8. 【請求項8】基板およびその上に設けられたバルク音響
    波共振器を含む帯域フィルタとノッチフィルタを備えた
    フィルタ構成の製造方法であって、 第1の電極、圧電層、第2の電極をキャリア層上に少な
    くとも1つの共振器ユニットとキャパシタとインダクタ
    ンスが形成されるように設け、 反射要素を積共振器ユニットに属する第1の電極の部分
    に堆積し、 前記基板を全体の組み立てに固定して、前記キャリア層
    を除去する過程を含むフィルタ構成の製造方法。
  9. 【請求項9】互いに接続された帯域フィルタとノッチフ
    ィルタがその上に設けられた基板を有するフィルタ構成
    を備えた移動電話器。
  10. 【請求項10】互いに接続された帯域フィルタとノッチ
    フィルタがその上に設けられた基板を有するフィルタ構
    成を備えた受信機。
  11. 【請求項11】互いに接続された帯域フィルタとノッチ
    フィルタがその上に設けられた基板を有するフィルタ構
    成を備えた送信機。
  12. 【請求項12】互いに接続された帯域フィルタとノッチ
    フィルタがその上に設けられた基板を有するフィルタ構
    成を備えた無線データ送信システム。
JP2000391285A 1999-12-22 2000-12-22 フィルタ構成、その製造方法、これを用いた移動電話機、受信機、送信機、データ伝送システム Pending JP2001217675A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19962028.8 1999-12-22
DE19962028A DE19962028A1 (de) 1999-12-22 1999-12-22 Filteranordnung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001217675A true JP2001217675A (ja) 2001-08-10

Family

ID=7933824

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000391285A Pending JP2001217675A (ja) 1999-12-22 2000-12-22 フィルタ構成、その製造方法、これを用いた移動電話機、受信機、送信機、データ伝送システム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6768396B2 (ja)
EP (1) EP1111780A3 (ja)
JP (1) JP2001217675A (ja)
DE (1) DE19962028A1 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6787280B2 (en) 2001-11-02 2004-09-07 Ricoh Company, Ltd. Electrophotographic toner and method of producing same
US6948710B2 (en) 2002-02-08 2005-09-27 Ricoh Company, Ltd. Method and apparatus for sheet feeding and image forming apparatus incorporating the same
JP2005538643A (ja) * 2002-09-12 2005-12-15 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ バルク弾性波フィルタにおける通過帯域リップルを抑制する手段を有するバルク弾性波共振器
JP2006109431A (ja) * 2004-09-10 2006-04-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 圧電共振器を用いたフィルタモジュール、共用器及び通信機器並びにその製造方法
US7084718B2 (en) 2002-09-10 2006-08-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Band elimination filter, filter device, antenna duplexer and communication apparatus
WO2006120994A1 (ja) * 2005-05-12 2006-11-16 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. 複合圧電基板
JP2007529165A (ja) * 2003-10-30 2007-10-18 アバゴ・テクノロジーズ・ジェネラル・アイピー(シンガポール)プライベート・リミテッド コモンモード除去が増大された薄膜音響結合変成器
JP2009538005A (ja) * 2006-05-15 2009-10-29 エプコス アクチエンゲゼルシャフト 電気的素子
JP2014519234A (ja) * 2011-05-04 2014-08-07 エプコス アクチエンゲゼルシャフト 音響体積波で動作するbawフィルタ
WO2024029061A1 (ja) * 2022-08-05 2024-02-08 日本電信電話株式会社 音響共振器、変調器、および音響光学変調器

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10296803B4 (de) * 2001-05-11 2008-04-10 Ube Industries, Ltd., Ube Duplexer mit FBAR-Abgleichresonator
DE10155927A1 (de) * 2001-11-14 2003-06-05 Infineon Technologies Ag Passivierter BAW-Resonator und BAW-Filter
DE20221966U1 (de) 2002-06-06 2010-02-25 Epcos Ag Mit akustischen Wellen arbeitendes Bauelement mit einem Anpaßnetzwerk
DE10234685A1 (de) * 2002-07-30 2004-02-19 Infineon Technologies Ag Filterschaltung
DE10239317A1 (de) * 2002-08-27 2004-03-11 Epcos Ag Resonator und Bauelement mit hermetischer Verkapselung
KR100517841B1 (ko) * 2003-02-22 2005-09-30 주식회사 엠에스솔루션 체적탄성파 공진기 밴드 패스 필터, 이를 포함하는듀플렉서 및 그 제조 방법
US7994877B1 (en) * 2008-11-10 2011-08-09 Hrl Laboratories, Llc MEMS-based quartz hybrid filters and a method of making the same
US8766745B1 (en) 2007-07-25 2014-07-01 Hrl Laboratories, Llc Quartz-based disk resonator gyro with ultra-thin conductive outer electrodes and method of making same
KR100565799B1 (ko) * 2003-12-22 2006-03-29 삼성전자주식회사 일체화된 FBAR 및 Isolation부를 사용하여제조된 듀플렉서 및 그 제조 방법
DE60316457T2 (de) * 2003-12-22 2008-06-19 Infineon Technologies Ag Dünnfilmresonator-Abzweigfilter und Verfahren zur Erdung dieser Filter
KR100635268B1 (ko) * 2004-05-17 2006-10-19 삼성전자주식회사 인덕터가 내장된 필터, 듀플렉서 및 그 제조방법
KR100750736B1 (ko) * 2004-11-10 2007-08-22 삼성전자주식회사 하나의 트리밍 인덕터를 사용하는 필터
KR100666693B1 (ko) * 2004-11-23 2007-01-11 삼성전자주식회사 모놀리식 듀플렉서
JP2006311372A (ja) * 2005-04-28 2006-11-09 Hitachi Ltd 無線icタグ
US7185695B1 (en) * 2005-09-01 2007-03-06 United Technologies Corporation Investment casting pattern manufacture
US7675388B2 (en) * 2006-03-07 2010-03-09 Agile Rf, Inc. Switchable tunable acoustic resonator using BST material
US20070228876A1 (en) * 2006-03-31 2007-10-04 Chien-Min Sung Diamond Frequency Control Devices and Associated Methods
DE102007028290B4 (de) * 2007-06-20 2009-05-14 Epcos Ag Bandpassfilter
US10266398B1 (en) 2007-07-25 2019-04-23 Hrl Laboratories, Llc ALD metal coatings for high Q MEMS structures
US8581674B2 (en) * 2007-12-26 2013-11-12 Kyocera Corporation Filter and communications apparatus
US8151640B1 (en) 2008-02-05 2012-04-10 Hrl Laboratories, Llc MEMS on-chip inertial navigation system with error correction
US7802356B1 (en) 2008-02-21 2010-09-28 Hrl Laboratories, Llc Method of fabricating an ultra thin quartz resonator component
US8264298B2 (en) * 2009-10-01 2012-09-11 Unidyne, Inc. Filtering device and a method for filtering a signal
US8339216B2 (en) * 2009-10-01 2012-12-25 Ubidyne, Inc. Duplexer and method for separating a transmit signal and a receive signal
US8421554B2 (en) * 2009-10-01 2013-04-16 Ubidyne, Inc. Filtering device for filtering RF signals and method for filtering RF signals
US8176607B1 (en) 2009-10-08 2012-05-15 Hrl Laboratories, Llc Method of fabricating quartz resonators
US8912711B1 (en) 2010-06-22 2014-12-16 Hrl Laboratories, Llc Thermal stress resistant resonator, and a method for fabricating same
WO2013180003A1 (ja) * 2012-06-01 2013-12-05 株式会社村田製作所 高周波モジュール
FR2996061B1 (fr) * 2012-09-27 2015-12-25 Commissariat Energie Atomique Structure acoustique comportant au moins un resonateur et au moins une capacite cointegree dans une meme couche piezoelectrique ou ferroelectrique
US9599470B1 (en) 2013-09-11 2017-03-21 Hrl Laboratories, Llc Dielectric high Q MEMS shell gyroscope structure
US9977097B1 (en) 2014-02-21 2018-05-22 Hrl Laboratories, Llc Micro-scale piezoelectric resonating magnetometer
US9991863B1 (en) 2014-04-08 2018-06-05 Hrl Laboratories, Llc Rounded and curved integrated tethers for quartz resonators
US10308505B1 (en) 2014-08-11 2019-06-04 Hrl Laboratories, Llc Method and apparatus for the monolithic encapsulation of a micro-scale inertial navigation sensor suite
US10031191B1 (en) 2015-01-16 2018-07-24 Hrl Laboratories, Llc Piezoelectric magnetometer capable of sensing a magnetic field in multiple vectors
US10069474B2 (en) * 2015-11-17 2018-09-04 Qualcomm Incorporated Encapsulation of acoustic resonator devices
US10175307B1 (en) 2016-01-15 2019-01-08 Hrl Laboratories, Llc FM demodulation system for quartz MEMS magnetometer
DE102018102014A1 (de) * 2018-01-30 2019-08-01 RF360 Europe GmbH Filterschaltung mit verbesserter Isolation und dieselbe enthaltendes Frontendmodul
DE102018107489B4 (de) * 2018-03-28 2019-12-05 RF360 Europe GmbH BAW-Resonator mit verbesserter Kopplung, HF-Filter, das einen BAW-Resonator umfasst, und Verfahren zum Herstellen eines BAW-Resonators
US10840884B2 (en) * 2018-05-24 2020-11-17 Qualcomm Incorporated Bulk acoustic wave (BAW) and passive-on-glass (POG) filter co-integration
US11955950B2 (en) 2020-04-26 2024-04-09 Shenzhen Sunway Communication Co., Ltd. Formation method of filter device
CN111541436A (zh) * 2020-04-26 2020-08-14 深圳市信维通信股份有限公司 一种滤波装置的形成方法
US12047744B2 (en) * 2021-04-26 2024-07-23 Rf360 Singapore Pte. Ltd. Etch stop and protection layer for capacitor processing in electroacoustic devices

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4285001A (en) * 1978-12-26 1981-08-18 Board Of Trustees Of Leland Stanford Jr. University Monolithic distributed resistor-capacitor device and circuit utilizing polycrystalline semiconductor material
US5185803A (en) * 1991-12-23 1993-02-09 Ford Motor Company Communication system for passenger vehicle
US5166646A (en) * 1992-02-07 1992-11-24 Motorola, Inc. Integrated tunable resonators for use in oscillators and filters
AU5869994A (en) * 1992-12-11 1994-07-04 Regents Of The University Of California, The Microelectromechanical signal processors
CA2125468C (en) * 1993-06-28 1998-04-21 Danny Thomas Pinckley Method of selectively reducing spectral components in a wideband radio frequency signal
US5594394A (en) * 1993-08-31 1997-01-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Antenna diversity switching device with switching circuits between the receiver terminal and each antenna
KR100213372B1 (ko) * 1996-05-10 1999-08-02 이형도 모노리틱 쏘 듀플렉서
US5760663A (en) * 1996-08-23 1998-06-02 Motorola, Inc. Elliptic baw resonator filter and method of making the same
US5714917A (en) * 1996-10-02 1998-02-03 Nokia Mobile Phones Limited Device incorporating a tunable thin film bulk acoustic resonator for performing amplitude and phase modulation
US5910756A (en) * 1997-05-21 1999-06-08 Nokia Mobile Phones Limited Filters and duplexers utilizing thin film stacked crystal filter structures and thin film bulk acoustic wave resonators
US5883575A (en) * 1997-08-12 1999-03-16 Hewlett-Packard Company RF-tags utilizing thin film bulk wave acoustic resonators
JPH11136002A (ja) * 1997-10-30 1999-05-21 Philips Japan Ltd 誘電体フィルタ及び誘電体フィルタの通過帯域特性を調整する方法
US6021192A (en) * 1998-02-09 2000-02-01 Ag Communication Systems Corporation Tone detector
US6081171A (en) * 1998-04-08 2000-06-27 Nokia Mobile Phones Limited Monolithic filters utilizing thin film bulk acoustic wave devices and minimum passive components for controlling the shape and width of a passband response
US6255714B1 (en) * 1999-06-22 2001-07-03 Agere Systems Guardian Corporation Integrated circuit having a micromagnetic device including a ferromagnetic core and method of manufacture therefor

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6787280B2 (en) 2001-11-02 2004-09-07 Ricoh Company, Ltd. Electrophotographic toner and method of producing same
US6948710B2 (en) 2002-02-08 2005-09-27 Ricoh Company, Ltd. Method and apparatus for sheet feeding and image forming apparatus incorporating the same
US7084718B2 (en) 2002-09-10 2006-08-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Band elimination filter, filter device, antenna duplexer and communication apparatus
JP2005538643A (ja) * 2002-09-12 2005-12-15 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ バルク弾性波フィルタにおける通過帯域リップルを抑制する手段を有するバルク弾性波共振器
JP2007529165A (ja) * 2003-10-30 2007-10-18 アバゴ・テクノロジーズ・ジェネラル・アイピー(シンガポール)プライベート・リミテッド コモンモード除去が増大された薄膜音響結合変成器
JP4796501B2 (ja) * 2003-10-30 2011-10-19 アバゴ・テクノロジーズ・ジェネラル・アイピー(シンガポール)プライベート・リミテッド コモンモード除去が増大された薄膜音響結合変成器
JP2006109431A (ja) * 2004-09-10 2006-04-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 圧電共振器を用いたフィルタモジュール、共用器及び通信機器並びにその製造方法
JP2006319679A (ja) * 2005-05-12 2006-11-24 Shin Etsu Chem Co Ltd 複合圧電基板
JP4657002B2 (ja) * 2005-05-12 2011-03-23 信越化学工業株式会社 複合圧電基板
WO2006120994A1 (ja) * 2005-05-12 2006-11-16 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. 複合圧電基板
JP2009538005A (ja) * 2006-05-15 2009-10-29 エプコス アクチエンゲゼルシャフト 電気的素子
JP2014519234A (ja) * 2011-05-04 2014-08-07 エプコス アクチエンゲゼルシャフト 音響体積波で動作するbawフィルタ
US9859868B2 (en) 2011-05-04 2018-01-02 Snaptrack, Inc. BAW-filter operating using bulk acoustic waves and passive components forming a balun
WO2024029061A1 (ja) * 2022-08-05 2024-02-08 日本電信電話株式会社 音響共振器、変調器、および音響光学変調器

Also Published As

Publication number Publication date
EP1111780A2 (de) 2001-06-27
DE19962028A1 (de) 2001-06-28
EP1111780A3 (de) 2001-07-04
US20020021192A1 (en) 2002-02-21
US6768396B2 (en) 2004-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001217675A (ja) フィルタ構成、その製造方法、これを用いた移動電話機、受信機、送信機、データ伝送システム
JP5175016B2 (ja) チューニング可能なフィルタ構成
US6583688B2 (en) Tunable filter arrangement comprising resonators with reflection layers
US6466105B1 (en) Bulk acoustic wave filter
JP3996379B2 (ja) 圧電共振子を含むフィルタ構造および構成
JP5296282B2 (ja) バルク音響波装置
EP1482638B1 (en) Film bulk acoustic resonator having supports and manufacturing method therefor
US8902020B2 (en) Resonator filter with multiple cross-couplings
KR100809120B1 (ko) 사다리형 필터, 무선 주파수 대역 통과 필터, 무선 주파수수신기 및/또는 송신기 장치
US20080169885A1 (en) Piezoelectric thin-film resonator, acoustic wave device and method for fabricating the acoustic wave device
JP2011072047A (ja) フィルタ構造
CN108173528A (zh) 滤波器
WO2007066608A1 (ja) 複合フィルタ
JP4216717B2 (ja) バルク音響波共振器を用いるフィルタ装置
JP2009182368A (ja) 送受切換器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071220

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20080522

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101108

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101112

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110426