WO2003079447A1 - Procede de production de plaquettes par collage - Google Patents

Procede de production de plaquettes par collage Download PDF

Info

Publication number
WO2003079447A1
WO2003079447A1 PCT/JP2003/003354 JP0303354W WO03079447A1 WO 2003079447 A1 WO2003079447 A1 WO 2003079447A1 JP 0303354 W JP0303354 W JP 0303354W WO 03079447 A1 WO03079447 A1 WO 03079447A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
wafer
heat treatment
peeling
ion
bond
Prior art date
Application number
PCT/JP2003/003354
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Yasuaki Nakazato
Hiroji Aga
Kiyoshi Mitani
Original Assignee
Shin-Etsu Handotai Co.,Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shin-Etsu Handotai Co.,Ltd. filed Critical Shin-Etsu Handotai Co.,Ltd.
Publication of WO2003079447A1 publication Critical patent/WO2003079447A1/ja

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/76Making of isolation regions between components
    • H01L21/762Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers
    • H01L21/7624Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers using semiconductor on insulator [SOI] technology
    • H01L21/76251Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers using semiconductor on insulator [SOI] technology using bonding techniques
    • H01L21/76254Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers using semiconductor on insulator [SOI] technology using bonding techniques with separation/delamination along an ion implanted layer, e.g. Smart-cut, Unibond

Definitions

  • a heat treatment is performed on the two pieces of ⁇ : ⁇ which are brought into close contact with each other by gradually increasing the temperature in a horizontal furnace at about 10 ° C / min and holding at a set temperature for a predetermined time.
  • the bond wafer is peeled off by using the ion-implanted layer as a cleavage plane to form an adhesive layer.
  • a high-temperature heat treatment bonding heat treatment
  • the SOI layer and the base wafer that have been peeled off from the bond box are removed.
  • the SOI wafer after peeling is subjected to a heat treatment in an oxidizing atmosphere to form an oxide film on the surface of the SOI layer.
  • a method of removing the damage layer by performing a so-called sacrificial oxidation to remove the film has been proposed.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-224214 discloses that a SOI wafer obtained by an ion implantation delamination method is heat-treated in a reducing atmosphere.
  • a method for improving the surface roughness without polishing the peeled surface According to this method, the surface roughness of the SOI layer surface can be improved while maintaining the thickness uniformity of the SOI layer.
  • the present invention has been made to solve such a problem, and reduces the damage and the surface roughness after laminating the wafer by the ion implantation peeling method. And the subsequent flattening process can be carried out easily, and the bonding and the manufacturing method of the wafer which can simplify the manufacturing process of the wafer can be simplified.
  • the present invention provides at least a hydrogen ion, a rare gas ion or a rare gas ion from the surface of a bond wafer. Forming an ion-implanted layer inside the wafer by ion-implanting the mixed gas of the above, and forming the ion-implanted surface of the bond wafer and the surface of the base wafer.
  • the bond is separated from the ion-implanted layer to form a bonded bond.
  • the heat treatment for peeling the bond wafer is performed at a heating rate of 5 ° C nosec or more using a rapid heating device and a rapid cooling device.
  • a bonding machine characterized in that the bonding is performed under at least one of the conditions and the conditions in which the bonded wafers are arranged in the lateral direction. Provide a method. When the bond is peeled off, the surface immediately after peeling can be obtained by using a rapid heating / cooling device at a heating rate of 5 ° C or more as described above. Roughness can be reduced.
  • the peeled surface can be easily flattened by a flattening process performed thereafter.
  • the peeling heat treatment can be performed by rapid heating and rapid cooling, the residence time is almost unnecessary, and the treatment time can be greatly reduced.
  • the heat treatment for peeling off the bond and the wafer can be achieved by disposing the bonded wafer in the horizontal direction.
  • the surface roughness can be reduced, and thereafter, the peeled surface can be easily flattened.
  • the surface roughness after peeling can be further reduced by raising the temperature at a higher speed and peeling.
  • the peeling heat treatment is performed using a vertical furnace.
  • a vertical furnace a large number of wafers can be held side by side in the furnace in a vertical or horizontal state in a state where they are horizontal or almost horizontal.
  • the heat treatment can be performed extremely efficiently by arranging in the directions, and low cost can be achieved.
  • the bonded wafer formed by the peeling heat treatment is heat-treated in an inert gas, a hydrogen gas, or a mixed gas atmosphere thereof. It is preferable that the method further includes a step of flattening the peeled surface and / or a step of polishing the peeled surface with an allowance of 70 nm or less.
  • the SOI layer after the stripping heat treatment according to the present invention is subjected to a heat treatment for flattening (a flattening heat treatment) in such a gas atmosphere, silicon atoms on the surface are reduced. By causing reflow, the SOI layer can be easily flattened without deteriorating the uniformity of the thickness of the SOI layer.
  • a heat treatment for flattening a flattening heat treatment
  • the uniformity of the thickness of the SOI layer is further deteriorated because the margin is smaller than before. It can be easily flattened.
  • a temperature of about 500 ° C has been selected as the set temperature for the peeling heat treatment, and a patch-type heat treatment furnace (horizontal type) that can process a large number of sheets at once using a resistance heating method Furnace).
  • the temperature of the heat treatment furnace was initially set to about 350 ° C, and the wafers were brought into close contact at room temperature.
  • the temperature is raised at a rate of 10 ° CZ to the target temperature of about 500 ° C, and maintained at 500 ° C for about 30 minutes.
  • the heating rate was 1 even with an epi furnace.
  • the number of LPDs is very large at a low speed of about / sec, but when the heating rate is about 5 ° CZ seconds or more, the number of LPDs decreases sharply and is lower than when a horizontal furnace is used. It is clear that the force S is also decreasing.
  • the LPD when the peeling heat treatment is performed in a horizontal furnace so that the principal surface of the wafer is substantially vertical (placed vertically), the LPD is in-plane as shown in Fig. 3 (B).
  • the density was extremely high (approximately 1,700,000 pieces), and the heat treatment was performed by placing the wafer horizontally in a vertical furnace.
  • the LPD did not concentrate near the periphery of the surface, and the density in the entire plane was low (about 600 pieces Z ⁇ ).
  • the heating rate is increased to 5 ° CZ seconds or more.
  • the LPD of the peeled surface can be reduced in this way, the pits formed on the peeled surface will be reduced, and the subsequent flattening will be performed. It is easy to flatten the peeled surface by the treatment, and for example, in the case of a minute amount of polishing, the polishing allowance can be reduced. Also, polishing alternatives and In the case of performing the flattening heat treatment, even if the amount of silicon atoms reflowing is small, the flattening can be sufficiently performed. Can be realized. The present invention has been completed based on these findings.
  • FIG. 1 is a flow chart showing an example of a process for producing two silicon wafers by the method of the present invention.
  • the heat treatment for peeling off the bond air is carried out at a heating rate of 5 ° CZ seconds or more using a rapid heating / cooling device.
  • the main feature is that, under the above-mentioned conditions, and at least one of the conditions in which the adhered wafer is arranged in the lateral direction, at least one of the conditions is performed.
  • explanations will be given in order from the preparation ability of the company to the completion of the SOI company.
  • an oxide film 3 is formed as an insulating film on at least one of the two layers of the anode.
  • an oxide film 3 is formed on the surface of the bond wafer 2.
  • the thickness of the oxide film 3 is not particularly limited, an oxide film having a thickness of about 0.1 to 2.0 ⁇ m may be formed by thermal oxidation.
  • a hydrogen ion, a rare gas ion, or a mixed gas ion thereof is ion-implanted from the surface of the bond wafer 2 having the oxide film 3 formed on the surface.
  • -An ion implantation layer is formed inside the nozzle.
  • a hydrogen ion H + is implanted, and the surface is exposed at the average penetration depth of the ion.
  • An ion injection layer (microbubble layer) 4 is formed in parallel with.
  • the ion-implanted surface of the bond wafer 2 and the surface of the base wafer 1 are brought into close contact with each other via an insulating film (oxide film) 3.
  • the bonded nano-heat is subjected to a heat treatment, so that the ion-implanted layer 4 is used to peel off the bond and the wafer 2 and bond them.
  • the conditions for performing the heat treatment peeling heat treatment for peeling off the bond wafer at a heating rate of 5 ° C./sec or more using a rapid heating / rapid cooling device are described.
  • at least one of the conditions for arranging the ⁇ and ⁇ in the horizontal direction is performed.
  • the upper limit of the heating rate is not particularly limited, in a general lamp heating type RTA apparatus, 50 ° C / sec, 100 ° CZsec or more is used. Since the temperature can be raised at a high speed, it can be suitably used in the present invention.
  • the set temperature is a temperature at which the ion implantation layer can be peeled off, for example, 400 to 600 ° C, or higher, or preferably 500 ° C.
  • the temperature may be raised to about 5 ° C / sec or more up to the set temperature to cause peeling.
  • Such heat treatment allows the ion implantation layer 4 to be peeled off as a boundary, so that the wafer 5 and the SOI wafer 6 can be separated without staying at the set temperature. It can be separated.
  • the heating rate is not less than 1.0 ° C nosec, more preferably not less than 15 ° C / sec, The surface roughness can be further reduced.
  • the peeling heat treatment is performed under the condition that the adhered wafer is arranged in the lateral direction regardless of the heating rate.
  • arranging the adhered wafers in the lateral direction means that the wafers are arranged such that the main surface of the wafer is horizontal or substantially horizontal. . In this way, if the wafer is arranged in the lateral direction and the peeling heat treatment is performed, the load and temperature distribution in the wafer surface become uniform during the peeling heat treatment, and the LPD does not concentrate. The density as a whole can be kept low.
  • the wafer When such a peeling heat treatment is performed, the wafer should be placed so that the main surface of the wafer is horizontal to make the load and temperature distribution in the wafer plane uniform. And are particularly preferred, but to the extent that the delamination phenomenon is not biased, for example, from horizontal Even if the peeling heat treatment is performed at an angle of about 5 °, the peeling phenomenon is not biased, and the surface roughness of the peeled surface can be significantly reduced.
  • the heating rate is the same as in the conventional case where the peeling heat treatment is performed by setting up the wafer in a horizontal furnace, for example, about 10 ° C Z minute. Even if the temperature is increased, the high-density LPD can be prevented by arranging the wafer in the horizontal direction.
  • the type of the furnace is not particularly limited. However, if a vertical furnace is used, a large number of furnaces may be used such that the main surface of the wafer is horizontal or substantially horizontal. The wafers can be held side by side in the furnace in the vertical direction. Therefore, the heat treatment can be performed very efficiently, particularly when the adhered wafers are arranged in the lateral direction to perform the heat treatment for peeling.
  • the peeling heat treatment can be performed at a heating rate of 5 ° C or more, or the ⁇ -noise is placed in the horizontal direction. It goes without saying that such a horizontal furnace can be used if it can be used.
  • the peeling heat treatment according to the present invention is performed by using a rapid heating / rapid cooling apparatus at a heating rate of 5 ° C. seconds or more, and a condition that the adhered wafer is adhered. If the peeling heat treatment is performed in at least one of the conditions in which the device is placed sideways, the LPD can be reduced as compared with the conventional condition, but both conditions are satisfied. It is even more desirable to do so. In other words, if the adhered wafer is placed sideways in the furnace using a rapid heating / cooling device and subjected to a peeling heat treatment at a heating rate of 5 ° CZ seconds or more, the peeling phenomenon will occur. And the surface roughness immediately after peeling can be further reduced. After the peeling heat treatment, a bonding heat treatment is performed in step (f).
  • the SOI layer and the base wafer are bonded with a certain bonding force by the adhesion step (d) and the peeling heat treatment step (e). Since it is weak for use in the device process, high-temperature heat treatment is applied to the SOI layer 6 as the bonding heat treatment to ensure sufficient bonding strength.
  • This heat treatment is preferably performed, for example, in an inert gas atmosphere at a temperature of 100 to 130 ° C. for 30 minutes and for 2 hours. However, in the present invention, this bonding heat treatment may be omitted, and the process may proceed to the next step (g) as shown by f 1 in FIG. 1, and the step (g) also serves as the bonding heat treatment. You can do that too.
  • the step (g) is a step of flattening the surface of the SOI layer 7 of the bonding anode 6.
  • the LPD of the peeled surface can be reduced by the peeling heat treatment. Removal of the dilayer 8 can be achieved.
  • the ratio of hydrogen gas is large as the heat treatment atmosphere, erosion of the bonding interface is likely to occur, and hydrogen may be reduced due to safety issues.
  • the gas content should be below the explosion limit (4%).
  • the inert gas the most inexpensive and highly versatile argon gas is preferred.
  • the appropriate heat treatment temperature is 110 ° C to 135 ° C. If the temperature is lower than 110 ° C., the improvement of the surface roughness becomes insufficient or an extremely long time is required. If the temperature exceeds 135 ° C, contamination by heavy metal impurities and durability of the heat treatment furnace may occur.
  • the heat treatment time depends on the heat treatment temperature, but a range of 10 minutes to 8 hours is appropriate. If the time is shorter than this, the surface roughness tends to be insufficiently improved, and if the time is longer, the productivity may be reduced.
  • the flattening heat treatment as described above can be performed using a rapid heating / rapid cooling device as in the case of the delamination heat treatment.
  • a rapid heating / rapid cooling device for example, only the bond wafer (peeling nozzle) 5 that has been peeled off by the peeling heat treatment is taken out from the apparatus, and the SOI layer 6 is supported by the wafer support of the apparatus.
  • the heat treatment may be performed at a predetermined temperature.
  • heat treatment and micro-polishing can be used together (step (h)).
  • the heat treatment is not limited to performing the minute polishing after the heat treatment, and the heat treatment may be performed after the minute polishing.
  • the flattening heat treatment in the step (g) may be omitted and the flattening may be performed by minute polishing.
  • the polishing allowance when performing a small amount of polishing is significantly larger than the conventional polishing allowance of about 100 nm.
  • the removal can be reduced, and the planarized surface can be sufficiently flattened by polishing the peeled surface with an allowance of 70 nm or less.
  • the polishing allowance can be further reduced. Therefore, even if the polishing is performed, it is possible to minimize the deterioration of the uniformity of the thickness of the SOI layer.
  • the polishing allowance is preferably set to 50 nm or less.
  • the peeling heat treatment is performed using a ramp-heated epitaxy growth apparatus (“Centura” manufactured by Applied Materials) at a temperature rise rate of 150 ° CZ seconds to 500 ° C. The temperature was raised to C, and heat treatment was performed in a 100% hydrogen atmosphere for 10 minutes.
  • a ramp-heated epitaxy growth apparatus (“Centura” manufactured by Applied Materials) at a temperature rise rate of 150 ° CZ seconds to 500 ° C. The temperature was raised to C, and heat treatment was performed in a 100% hydrogen atmosphere for 10 minutes.
  • the surface was slightly polished (polishing allowance: 70 nm). Later, the LPD was measured again, and as a result, the LPD was reduced to 50 pieces / cm2 or less.
  • LPDs having a size of 0.32 ⁇ or more were observed at a density of about 600 particles / wafer, and the SOI ⁇ After heat-treating the wafer under Ar 100% atmosphere at 1200 ° C for 1 hour, further polishing the surface slightly (polishing allowance: 50 nm), and then measure LPD again As a result, the LPD was reduced to 40 pieces / cm 2 or less.
  • a wafer that was brought into close contact with a heater-heated horizontal furnace that had been stanched at 350 ° C. was introduced, and the temperature was 10 ° C./min (approximately 0.1 The temperature was raised to 500 ° C at a heating rate of 7 ° C / second, and after a heat treatment for 30 minutes in an Ar 100% atmosphere, the temperature was increased to 1.5 ° C / sec. The temperature was lowered to 350C at a speed of one minute and the SOI ⁇ ⁇ was removed.
  • the surface was slightly polished (polishing allowance: 100 nm), and the LPD was measured again. As a result, 500 or more LZPs remained.
  • the present invention is not limited to the above embodiment.
  • the above embodiments are merely examples, and those having substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention and exhibiting the same operation and effect are described below. Anything is included in the technical scope of the present invention.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Element Separation (AREA)

Description

明 細 書 貼り合わせゥユーハの製造方法 技術分野
本発明 は、 イ オン注入剥離法を用 いた貼 り 合わせゥ ユ ーハ の製造 方法に関 し、 典型的には、 水素イ オ ン等 を注入 したシ リ コ ン ゥ エ ー ハを支持基板 と な る他の ゥ エ ー ノヽ と 密着 させた後 に剥離 して S O I ゥ ユ ーハを製造する方法に関する。 背景技術
最近、 S O I ゥ エ ーハ の製造方法 と して、 イ オ ン注入した ゥ エ ー ハを密着 さ せた後に剥離 して S O I ゥ エ ーハ を製造す る 方法 (「ィ オ ン注入剥離法」 あ る いは 「スマー ト カ ッ ト 法 (登録商標)」 と 呼 ばれ る) が注 目 さ れている 。 こ の方法では、 例えば、 2枚の シ リ コ ン ゥ ユ ーハの う ち 、 少な く と も 一方に酸化膜を形成する と 共に、 一 方の シ リ コ ン ゥ エ ー ノヽ (ボ ン ド ゥ エ一ノヽ ) の上面力 ら水素イ オンま たは希ガスイ オ ンを注入 し、 該 ゥ エ ー ハ内部にイ オン注入層 (「微 小気泡層」 と も い う ) を形成 させる。 次いで、 イ オンを注入 した方 の面 を酸ィ匕膜 を介 し て他方 の シ リ コ ン ゥ エ ー ノヽ (ベー ス ウ ェ ーハ) の表面に密着 させる。 こ の密着 させた 2 枚の ゥ : —ハに対 し、 横型 炉内 で 1 0 °C /分程度でゆ つ く り 昇温さ せて設定温度で所定時間滞 留 さ せる熱処理を行な う こ と に よ り 、 イ オン注入層 を劈開面 と して ボン ド ウ ヱーハ を剥離 させて貼 り 合わせ ゥ エ ー ノ、 を形成する。 さ ら に、 こ の貼 り 合わせ ゥ ユ ーハに高温熱処理 (結合熱処理) を加 え る こ と に よ り 、 ボ ン ド ゥ エ一ノヽカ ら剥離 さ れた S O I 層 とベー ス ゥ ェ ーハ を強固に結合 し、 S O I ゥ エ ー ノ、 と する (特開平 5 — 2 1 1 1 2 8 号参照)。 こ の方法に よ れば、 S O I 層 の膜厚の均一性が高い S O I ゥ エ ーノヽを得る こ と ができ る。
し力 し、 上記の よ う なイ オン注入剥離法に よ り S O I ゥ ェ一ハ を 製造する場合、 剥離後の S O I ゥ ヱーハ表面にイ オン注入に よ る ダ メ ー ジ層が存在 し、 ま た、 表面粗さ は、 通常のシ リ コ ンゥ エ ーハの 鏡面に比べて大き な も の と な る。 したがっ て、 イ オン注入剥離法で は、 こ の よ う な ダメ ージ層 の除去や表面粗さ の改善のための平坦化 処理が必要 と な る。
従来、 こ の ダメ ー ジ層等を除去する た めに、 結合熱処理後の最終 工程において、 タ ツ チポ リ ツ シュ と 呼ばれる 取 り 代 (研磨代) の極 めて少ない (研磨代 1 0 0 n m程度) 鏡面研磨 (以下 「微量研磨」 と い う ) が行われていた。
しカゝし、 S O I 層 に機械加工であ る研磨を行 う と 、 研磨代が面内 で均一でないた め に、 イ オン注入 と 剥離に よ っ て達成 された S O I 層の膜厚均一性が悪化 して しま う と い う 問題が生 じる。 ま た、 結合 熱処理後に鏡面研磨を行 う と な る と 、 工程が煩雑 と な り 、 コ ス ト 的 にも不利 と な る と い う 問題も あ る。
研磨に よ らずダメ ージ層 を除去す る方法 と して、 剥離後の S O I ゥ エ ーハに酸化性雰囲気下で熱処理を行い、 S O I 層 の表面に酸化 膜を形成 した後、 該酸化膜を除去す る 、 いわゆ る犠牲酸化を行な う こ と に よ り ダメ ージ層を除去する方法が提案 されている。
しか し、 こ の犠牲酸化のみでは S O I 層表面の表面粗さ を十分に 改善する こ と は困難であ る 。 従っ て、 表面粗 さ を十分に改善 させ る には、 結局機械研磨が必要 と な り 、 S O I 層 の膜厚均一性を劣化 さ せて しま う こ と にな る。 ま た、 酸化性雰囲気下の熱処理を行な う と 、 S O I 層表面の ダメ ージに起因 して O S F (酸化誘起積層欠陥) が発生する と い う 問題も あ る。
そ こ で、 特開平 1 0 — 2 4 2 1 5 4 号公報では、 イ オン注入剥離 法で得 られた S O I ゥ エ ーハを還元性雰囲気で熱処理する こ と に よ り 、 剥離面を研磨する こ と な く 表面粗さ を改善す る方法が提案 さ れ てい る 。 こ の方法に よれば、 S O I 層の膜厚均一性を維持 し たま ま S O I 層表面の面粗 さ を改善す る こ と ができ る と されている。
しカゝ しなが ら 、 剥離直後の表面に存在する 面粗 さ を こ の よ う な還 元性雰囲気の熱処理のみでほぼ完全に除去す る た めには、 高温、 長 時間の熱処理が必要であ り 、 その よ う な熱処理を行な っ て も 十分平 坦化でき ない場合も あっ た。
こ の よ う に、 剥離後の S O I ゥ エ ーハのダメ ー ジ層 の除去や表面 粗さ の改善を行 う 方法 と して従来様々 な提案がな されてい る が、 表 面粗 さ が十分改善されない場合があ る ほか、 S O I 層 の膜厚均一性 の劣化を招いた り 、 長時間 の熱処理が必要であ る な ど他の問題を生 じ させて しまい、 剥離後の平坦化を容易 に達成す る こ と はでき な か つ た。 発明 の 開示
本発明 はこ の よ う な問題点を解決する ため にな されたも の であ り 、 イ オン注入剥離法に よ る貼 り 合わせゥ エーハの剥離後のダメ ー ジ や表面粗 さ を低減 させ、 その後 の平坦化処理 を容易に行 う こ と がで き 、 ひいては、 貼 り 合わせ ゥ エ ーハの製造工程を簡略化する こ と が でき る 貼 り 合わせゥ エ ーハの製造方法を提供する こ と を 目 的 と する 上記 目 的を達成する ため、 本発明 では、 少な く と も 、 ボ ン ド ゥ エ ーハの表面カゝ ら水素イ オン、 希ガスイ オンあ るいはこれ ら の混合ガ スィ オンをイ オン注入 して ゥ エ ーハ内部にィ オン注入層 を形成する 工程 と 、 前記ボ ン ド ゥ エーハのイ オン注入 し た表面 と ベース ウ ェー ハの表面 と を直接あ る いは絶縁膜を介 して密着 させる工程 と 、 該密 着 さ せた ゥ ヱーノヽに熱処理を行な う こ と に よ り 、 前記イ オン注入層 でボ ン ド ゥ エー ノ、を剥離 さ せて貼 り 合わせゥ エ ー ノヽを形成する工程 と を含む貼 り 合わせゥ ヱーハの製造方法において、 前記ボ ン ド ゥ エ ーハ を剥離 させる熱処理を、 急速加熱 . 急速冷却装置を用 いて 5 °C ノ秒以上の昇温速度で行な う 条件 と 、 前記密着 さ せた ゥ ーハ を横 向き 方向 に配置して行な う 条件の う ち、 少な く と も 一方の条件で行 う こ と を特徴とする貼 り 合わせ ゥ エーハの製造方法を提供す る。 ボ ン ド ゥ エーハを剥離 さ せる 際、 上記の よ う に急速加熱 · 急速冷 却装置を用 いて 5 °Cノ秒以上の昇温速度で行 う こ と に よ り 、 剥離直 後の表面粗 さ を低減 させる こ と ができ る 。 そ して、 こ の よ う に表面 粗さ が低減 された貼 り 合わせゥ エ ーハを形成 させれば、 その後に行 われる平坦化処理に よ り 剥離面を容易に平坦化 さ せる こ と ができ る ま た、 急速加熱 · 急速冷却で剥離熱処理を行 う こ と がで き る ため 、 滞留時間がほ と ん ど不要 と な り 、 処理時間 を大幅に低減 させる こ と ができ る。
一方、 昇温速度にかかわ らず、 ボ ン ド ゥ エーハ を剥離 させる熱処 理を、 密着 させた ゥ ユ ーハ を横向 き 方向 に配置して行な う こ と に よ つ て も 剥離面の表面粗 さ を低減 させる こ と ができ 、 その後、 剥離面 を容易 に平坦化 させる こ と ができ る。
前記急速加熱 · 急速冷却装置を用 いた剥離熱処理を行 う 場合、 1 0 °C Z秒以上の昇温速度で行な う こ と が好ま しい。
こ の よ う に、 よ り 高速で昇温 させて剥離させる こ と に よ り 、 剥離 後の表面粗さ を一層低減させる こ と ができ る。
ま た、 前記急速加熱 · 急速冷却装置と して、 赤外線ラ ンプ加熱方 式の装置を用い る こ と が好ま しい。
赤外線ラ ンプ加熱方式の装置を用 いれば、 5 °C Z秒以上、 1 0 °C 秒以上の昇温速度 を容易 に達成す る こ と ができ 、 急速加熱 · 急速 冷却装置を用いた剥離熱処理を好適に行 う こ と ができ る。
ま た、 前記剥離熱処理を、 縦型炉を用いて行 う こ と が好ま しい。 縦型炉であれば、 多数の ゥ ハ を水平あ るいは略水平に した状 態で炉内 の縦方向 に並べて保持する こ と ができ る の で 、 簡単かつ多 数の ゥ ハ を横向 き 方向 に配置して剥離熱処理を極めて効率的 に 行な う こ と ができ 、 低コ ス トイ匕を図 る こ と ができ る。
さ ら に、 前記剥離熱処理に よ り 形成 さ れた貼 り 合わせゥ ハ に 対 して、 不活性ガス、 水素ガス、 あ るいはこ れ ら の混合ガス雰囲気 下で熱処理する こ と に よ り 剥離面 を平坦化 さ せる 工程及び/又は 7 0 n m以下の取り 代で剥離面を研磨する工程を さ ら に含む こ と が好ま しい。
例 えば本発明に よ る剥離熱処理後の S O I ゥ ヽに対 し、 こ の よ う なガス雰囲気下で平坦化の ため の熱処理 (平坦化熱処理) を行 えば、 表面の シ リ コ ン原子が リ フ ロ ー を生 じ、 S O I 層の膜厚均一 性を悪ィ匕させる こ と な く 容易に平坦ィ匕 させる こ と ができ る。
ま た、 剥離面に対し、 取り 代が 7 0 n m以下の微量研磨を行な う こ と でも取り代が従来よ り少ないので S O I 層 の膜厚均一性をそれほ ど悪 化 させる こ と な く 容易に平坦化 させる こ と ができ る。
前記ボ ン ド ゥ エ お よ びべ ス ウ ェーハ と して、 シ リ コ ン単結 晶 ゥ ハを用いる こ と が好ま しい。
シ リ コ ン単結晶 ゥ (単に 「 シ リ コ ン ゥ と も い う ) であれば、 汎用性が高 く 、 比較的安価であ り 、 大 口径化も 容易 であ る。 従っ て、 シ リ コ ンゥ ハ を用 いて本発明に よ り S O I ゥ ハを製造すれば、 極めて高平坦度な大 口 径の s O I ゥ ハを安価 に提供する こ と ができ る。
以上の よ う に、 ボン ド ゥ エーハを剥離 させる際、 急速加熱 ' 急速 冷却装置を用 いて 5 °C Z秒以上の昇温速度で行な う 条件 と 、 前記密 着 させた ゥ ハを横向き に配置 し て熱処理を行な う 条件の う ち 、 少な く と も 一方の条件で行 う こ と に よ り 、 剥離直後の表面粗さ を低 減さ せる こ と ができ る。 そ して、 こ の よ う に表面粗さ が低減 された 03 03354
6
貼 り 合わせ ゥ エ ーハを形成 させれば、 その後、 不活性ガス、 水素ガ ス、 あ る いは これ ら の混合ガス雰囲気下で熱処理 した り 、 7 0 n m 以下の取 り 代で剥離面を研磨して平坦化処理をす る こ と に よ り 、 容易 に平坦化 さ せる こ と ができ 、 貼 り 合わせ ゥ エ ーハの品質を向上 させ る こ と ができ る と と も に、 貼 り 合わせゥ エ ーハの製造工程の簡略化 もする こ と 力 Sでき る。 図面の簡単な説明
図 1 は、 本発明 に係 る貼 り 合わせ ゥ エ ーハの製造工程の一例 を示 すフ ロ ー図であ る。
図 2 は、 ェ ピタ キシ ャル成長装置 と横型炉 を用 いて剥離熱処理を 行っ た場合の昇温速度 と 剥離面の L P D数の 関係を示すグラ フ であ る
図 3 は、 剥離熱処理後の L P Dの面内分布 を示す図であ る。
( A ) 縦型炉を使用 した場合 (ゥエーハ水平置き -横置き )
( B ) 横型炉を使用 した場合 (ゥエーハたて置き)
図 4 ( A ) ( B ) は、 横型炉 を用 い て剥離熱処理を行な っ た場合 の L P D の面内分布を示す図であ る。
発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明 につき 更に詳し く 説明する。
従来、 剥離熱処理の設定温度 と しては 5 0 0 °C程度の温度が選択 され、 熱処理装置 と しては抵抗'加熱式で多数枚を一度に処理可能な パ ッ チ式熱処理炉 (横型炉) が用い られていた。 具体的には、 熱処 理炉の温度 を 3 5 0 °C程度に初期設定し、 室温で密着 させた ゥ エ ー ハ対を数十組か ら 百数十組程度熱処理ボー ト 上にセ ッ ト して不活性 ガス雰囲気下で熱処理炉に投入する 。 投入後、 目 標の 5 0 0 °C程度 の温度ま で 1 0 °C Z分の速度で昇温 し、 5 0 0 °Cで 3 0 分程度保持 03354
7
した後、 2 °C Z分程度の速度で 3 5 0 °Cまで降温 して取 り 出 さ れ る 。 こ の よ う な熱処理をカ卩えた場合で も 、 結晶 の再配列 と 気泡の凝集 と に よ っ て剥離 ゥ エ ー ノヽ と S O I ゥ エ ー ノヽに分離 される。 し力 し、 こ の よ う な剥離熱処理後に得られた貼 り 合わせゥエ ー ノヽの表面は、 前記 した よ う にダメ ージが存在 し、 表面粗 さ が大き いな どの問題が あつ 7こ 。
そ こ で 、 本発明者 ら は、 表面 にシ リ コ ン酸化膜を形成した シ リ コ ンゥ エーノ、に水素イ オンを注入 してベー ス ゥ ェ一ノヽ (シ リ コ ン ゥ ェ ーハ) と 密着 させ、 上記の横型炉を用 いて剥離熱処理に よ り S O I ゥ エ ー ノヽ (直径 2 0 0 m m ) を作製 し、 その剥離面を光学式表面検 查装置に よ り 観察 してみた。 その結果、 直径 0 . 3 2 μ πι以上 の L P D ( Light Point Defect) が約 1 7 0 0 0 個 /ゥエーノヽの密度で 観察 された。 さ ら に、 その L P D を A F M (原子間カ顕微鏡) に よ り 詳細に観察 した と こ ろ、 これ ら は深 さ 5 0 ~ l O O n m の ピ ッ ト である こ と 力 Sゎカゝつ た。
そ して、 本発明者 ら は、 こ の よ う な ピ ッ ト はイ オン注入 された水 素が熱処理に よ り ガス化す る際に発生する も のであ る と 考え、 剥離 熱処理を急速に行な えば、 水素のガ ス化が急激に発生する こ と に よ つて水素ガ ス の急膨張に よ り 剥離が一気に生 じて ピ ッ ト が発生 し難 く な る のではない力 と 発想 した。 そ こ で、 ェ ピタ キシ ャ ル成長装置 (ェ ピ炉) を用い、 剥離熱処理の昇温速度 と 剥離面の L P D の個数 と の関係を求め る 実験を行っ た と こ ろ、 図 2 に示 される結果が得 ら れた。
図 2 に示 さ れる よ う に、 ェ ピ炉を用 いて も 昇温速度が 1 。 /秒程 度の低速であ る と L P D の数が非常に多いが、 昇温速度が約 5 °C Z 秒以上にな る と L P D の数が急減に減少 し、 横型炉を用いた場合よ り も減少 してい る こ と 力 Sわかる。
一方、 横型炉と同等にゆつ く り と した昇降温速度であるが、 炉内でゥ を横向き方向に配置 (水平置き -横置き) して熱処理が行なわれる縦 型炉を使用し、 横型炉と同一条件で剥離熱処理を行い、 L P Dの密度と面 内分布を調査する実験を行なったと ころ、 横型炉を用いた場合とは異なる 結果が得られた。
すなわち、 横型炉でゥ ハの主面が略垂直となるよ う にゥ ハを立 てて (たて置き) 剥離熱処理を行なった場合、 図 3 ( B ) に示される様に L P Dが面内の特定位置に密集して発生し、 その密度が非常に大き く (約 1 7 0 0 0 個ノ ウ ハ) なったのに対し、 縦型炉でゥ ハを 水平置き して剥離熱処理を行なった場合には、 図 3 ( A ) に示される様に L P Dはゥ ハの周辺付近で密集せず、 面内全体での密度も低く (約 6 0 0 0 個 Z ゥ 抑えられていた。
さ らに、 本発明者らは、 横型炉を用い、 2組の密着されたゥ ハのノ ツチ位置を 9 0 ° ずら した状態でゥ ハボー トに载置 (たて置き) して 同時に剥離熱処理を行ない、 剥離後の L P Dの面内分布を調査したと ころ 図 4 ( A ) ( B ) に示すよ う に、 いずれのゥヱーハも横型炉内の上方向に 相当する位置に L P Dが三日月状に密集しているこ とがわかった。 すなわ ち、 横型炉を用いてゥ ハを略垂直に立てて剥離熱処理を行な う と、 そ れによって生ずるゥ ハ面内の荷重や温度分布に起因し、 剥離現象が偏 つて生ずるこ とによ り L P Dの密集 (偏り ) が発生するものと考えられる 以上の図 2〜図 4 に示される実験結果から、 剥離熱処理を行な う際、 昇 温速度を 5 °C Z秒以上の高速にするこ と と、 ゥヱーハを横向き方向に配置 するこ との 2つの条件の う ち、 少なく と も一方を実施するこ とによ り 、 横 型炉を用いた従来の剥離熱処理に比べ、 剥離面に発生する L P Dを大幅に 低減するこ とができ るこ とがわかった。
こ の よ う に、 剥離面の L P D を低減す る こ と ができ れば、 剥離面 に形成 された ピ ッ ト が低減 された こ と に な る の で 、 その後に行な わ れる平坦化処理で剥離面を平坦化す る の が容易 と な り 、 例えば微量 研磨ではその研磨代を低減する こ と ができ る 。 ま た、 研磨の代替 と して平坦化熱処理を行 う 場合には、 シ リ コ ン原子の リ フ ロ ーする 量 が少な く て も 十分に平坦化する こ と ができ る ので、 平坦化熱処理 を 短時間化、 低温化する こ と が可能にな る 。 本発明 は、 これ ら の知見 に基づき完成 さ れた も のであ る。
以下、 本発明 の具体的な実施の形態を図面 を参照 しなが ら説明す るが、 本発明 は これに限定 される も の ではない。 こ こ では、 好適な 態様 と して、 2 枚のシ リ コ ン ゥ エ ー ノヽ力 ら S O I ゥ エ ーハ を製造す る場合について説明する。
図 1 は、 本発明の方法に よ り 2枚の シ リ コ ンゥ エ ーハカ、 ら S O I ゥ エーハを製造する工程の一例 を示すフ ロ ー図であ る。 本発明 は、 貼 り 合わせゥ エ ーハの製造において、 ボ ン ド ゥ エ一 ノヽを剥離 さ せる 熱処理を、 急速加熱 · 急速冷却装置を用 いて 5 °C Z秒以上の昇温速 度で行な う 条件 と 、 前記密着 さ せた ゥ エ ーハ を横向 き 方向 に配置 し た状態で行な う 条件の う ち 、 少な く と も 一方の条件で行 う こ と を主 な特徴と する が、 ゥ エ ー ノヽ の準備力 ら S O I ゥ エ ー ノヽを完成 させ る ま で順に説明す る。
まず、 工程 ( a ) では、 2 枚のシ リ コ ン鏡面 ゥ エ ーハを準備す る 。 デバイ スの仕様に合っ た支持基板 と な るベース ウ ェーハ 1 と 、 一 部が S O I 層 と な る ボン ド ゥ エー ハ 2 を準備する。
次に工程 ( b ) では、 2 枚の ゥ エ ー ノヽの う ち の少な く と も一方の ゥ ヱーハに絶縁膜 と しての酸化膜 3 を形成す る。 こ こ では、 ボ ン ド ゥ エ ーハ 2 の表面に酸化膜 3 を形成 している 。 酸化膜 3 の厚 さ等は 特に限定 される も の ではないが、 熱酸化に よ り 約 0 · 1 〜 2 . 0 μ mの厚 さ の酸化膜を形成 させれば良い。
工程 ( c ) では、 表面に酸化膜 3 を形成 したボン ド ゥ エー ハ 2 の 表面か ら水素イ オン、 希ガスイ オンあ る いは これ ら の混合ガスィ ォ ンをイ オン注入 して ゥ エ ー ノヽ内部にイ オン注入層 を形成する。 こ こ では水素イ オン H + を注入 し、 イ オンの平均進入深 さ において表面 に平行なイ オン注入層 (微小気泡層) 4 を形成 させている。
工程 ( d ) では、 ボ ン ド ゥ エー ハ 2 のイ オ ン注入 した表面 と ベー ス ウ ェーハ 1 の表面 と を絶縁膜 (酸化膜) 3 を介 して密着 させる 。
こ こ では、 水素イ オ ンを注入 したボン ドゥ エー ノヽ 2 の水素イ オ ン 注入面 と ベース ウ ェーハ 1 の表面を重ね合せて密着 させている。 こ の よ う に 2 枚の ゥ エ ー ノヽ 1 , 2 の鏡面同士を常温の清浄な雰囲気下 で接触 させる こ と に よ り 、 接着剤等を用 いる こ と な く ゥ エ ー ハ同士 が接着する。
次に、 工程 ( e ) では、 密着 させた ゥ エ ー ノ、に熱処理を行な う こ と に よ り 、 前記イ オン注入層 4 でボ ン ド ゥ エー ハ 2 を剥離 させて貼 り 合わせゥ エ ーハ 6 を形成する。 本発明では、 こ のボン ド ゥ エー ハ を剥離 させる熱処理 (剥離熱処理) を、 急速加熱 ' 急速冷却装置を 用いて 5 °C /秒以上の昇温速度で行な う 条件 と 、 前記密着 させた ゥ エ ー ノ、 を横向き方向 に配置 して行な う 条件の う ち 、 少な く と も 一方 の条件で行 う 。 これに よ り 剥離 ゥ エ ー ノヽ 5 と S O I ゥ エ ー ノ、 6 ( S O I 層 7 +埋め込み酸化膜 3 + ベ ース ウ ェーノヽ 1 ) に分離 される と と も に、 剥離直後の S O I 層 7 の表面粗 さ を大幅に低減さ せる こ と 力 Sでき る。
本発明で行 う 剥離熱処理に関 して さ ら に具体的に説明する。
まず、 急速加熱 · 急速冷却装置を用いて 5 °C /秒以上の昇温速度 で行な う には、 密着 さ せた ゥ エ ーハを、 例え ば赤外線ラ ンプ加熱方 式を採用 してい る R T A ( Rapid Thermal Annealing) 装置ゃェ ピタ キ シ ャ ル成長装置な どの急速加熱 · 急速冷却装置に投入 し、 5 °C /秒以上の昇温速度で設定温度ま で昇温 し てィ オン注入層でボ ン ド ウ ユ ーハを剥離 さ せる。 例え ば、 水素イ オンを注入 した場合、 上 記の よ う に急速加熱を行 う こ と でイ オン注入層の水素が急膨張さ れ 、 イ オン注入層で一気に剥離 さ せる こ と ができ る 。 これに よ り 剥離 面の L P D を低減す る こ と ができ る。 こ こ で 、 本発明 でい う 急速加 熱 · 急速冷却装置 と は、 5 °C /秒以上の急速昇温が可能な全ての熱 処理炉を示すも の であ り 、 特にその加熱方式等が限定 される も の で はない。
ま た、 昇温速度の上限は特に限定 される も の ではないが、 一般的 な ラ ンプ加熱式の R T A装置では、 5 0 °C /秒や 1 0 0 °C Z秒、 あ るいはそれ以上の高速昇温が可能で あ り 、 本発明 に好適に用 いる こ と ができ る。
設定温度 と しては、 イ オ ン注入層 での剥離が可能な温度、 例え ば 4 0 0 〜 6 0 0 °C、 あ る いはそれ以上の温度、 好ま し く は 5 0 0 °C 程度に設定し、 その設定温度ま で 5 °C /秒以上で昇温 して剥離を生 じ させれば良い。 こ の よ う な熱処理に よ り イ オ ン注入層 4 を境界 と して剥離する こ と に よ っ て、 設定温度で滞留 させずに剥離 ゥ ェー ハ 5 と S O I ゥ エ ーハ 6 に分離させる こ と カ でき る。
なお、 先に説明 した図 2 に示 されてい る よ う に、 昇温速度 を 1 · 0 °Cノ秒以上、 よ り 好ま し く は 1 5 °C /秒以上 と すれば、 剥離直後の 表面粗 さ を よ り 一層低減させる こ と ができ る。
ま た、 本発明では、 剥離熱処理を、 昇温速度にかかわ らず、 密着 させた ゥ エ ーハを横向 き方向に配置 した状態で行な う 条件で行な う のが好ま し く 、 これに よ り 剥離直後 の特定方向 に生 じ る表面粗 さ を 低減さ せる こ と ができ る。 こ こ で、 密着 させた ゥ ヱーハを横向き 方 向 に配置する と は、 換言すれば ゥ ェ一ハの主面が水平あ る いは略水 平 と な る よ う に配置 した状態を意味する。 この よ う にゥエ ーハを横向 き方向に配置して剥離熱処理を行なえば、 剥離熱処理中、 ゥエ ーハ面内の 荷重や温度分布が均一とな り 、 L P Dが密集せず、 しかも全体と してその 密度も低く抑えるこ とができ る。
なお、 このよ う な剥離熱処理を行な う場合、 ゥエ ーハ面内の荷重や温度 分布を均一にするためにゥ エ ーハの主面が水平 と な る よ う に配置す る こ と が特に好ま しいが、 剥離現象が偏らない程度、 例えば、 水平か ら 5 ° 程度傾けて剥離熱処理を行なっ て も 、 剥離現象が偏らず、 剥離面 の表面粗 さ を大幅に低減さ せる こ と が で き る 。
また、 上記のよ う にゥエ ーハを横向き に配置するこ と で、 たと え昇温 速度を高速にせず と も 、 特定方向に高密度に発生する L P D を確実 に低減させる こ と ができ る 。 従っ て、 従来の よ う に横型炉内 で ゥ ェ ーハ を立て て剥離熱処理を行な う 場合 と 同様の昇温速度であ る 、 例 えば 1 0 °c Z分程度でゆ つ く り 昇温 さ せる場合で あっ て も 、 水平方 向に ゥ エ ーハを配置すれば、 高密度 L P D の発生を防止する こ と が で き る 。
本発明で剥離熱処理を行な う場合、 炉の形式は特に限定 されないが、 縦型炉を用 いれば、 ゥ エ ーハの主面が水平あ る いは略水平 と な る よ う に多数の ゥ ェ一ハを炉内の縦方向 に並べて保持する こ と ができ る。 従っ て、 特に、 密着 させた ゥ ヱ ーハ を横向き 方向 に配置 して剥離熱 処理を行な う 場合には、 非常に効率的に熱処理を行な う こ と ができ る。
ただ し、 横型炉であっ て も 、 剥離熱処理を、 5 °Cノ秒以上の昇温 速度で行な う こ と ができ る も の、 あ るいはゥ エ ー ノヽを横向 き 方向 に 配置 して行な う こ と ができ る も のであれば、 その よ う な横型炉を使 用でき る こ と は言 う までも ない。
上記のよ う に、 本発明に係る剥離熱処理は、 急速加熱 · 急速冷却装 置を用いて 5 °C Z秒以上の昇温速度で行な う 条件 と 、 前記密着 さ せ た ゥ ユ ーハを横向 き に配置 した状態で行な う 条件の う ち、 少な く と も一方の条件で剥離熱処理を行な え ば従来よ り L P D を減少 させる こ と ができ る が、 両方の条件を満た して行な う の が一層望ま しい。 すなわち、 密着 させた ゥ エ ーハを、 急速加熱 · 急速冷却装置を用い、 炉内に横向 き方向に配置 し、 5 °C Z秒以上の昇温速度で剥離熱処理 を行な え ば、 剥離現象が偏らず、 剥離直後の表面粗 さ を よ り 一層低 減させる こ と ができ る。 剥離熱処理後、 工程 ( f ) で結合熱処理を行な う 。
前記密着工程 ( d ) お よ び剥離熱処理工程 ( e ) に よ り 、 S O I 層 と ベー ス ゥ ユ ーハはあ る程度の結合力で結合 さ れる が、 こ の結合 力では、 その ま まデバ イ ス工程で使用する に は弱 いの で 、 結合熱処 理 と して S O I ゥ ヱー ノヽ 6 に高温の熱処理を施し結合強度を十分な も の と す る。 こ の熱処理は例え ば不活性ガス雰囲気下、 1 0 0 0 〜 1 3 0 0 °Cで 3 0 分力、 ら 2 時間の範囲で行な う こ と が好ま しい。 ただ し、 本発明 において は、 こ の結合熱処理を省略 し、 図 1 の f 一 で示 され る よ う に次工程 ( g ) に進んで も よ く 、 工程 ( g ) で結 合熱処理を兼ねる こ と も でき る。
工程 ( g ) は、 貼 り 合わせゥ エ ー ノヽ 6 の S O I 層 7 の表面 を平坦 ィ匕さ せる 工程であ る。 本発明では、 剥離熱処理に よ り 剥離面の L P D を低減す る こ と ができ る ので、 従来に比べて短時間の平坦化熱処 理等で S O I 層表面の表面粗さ の改善と ダメ ージ層 8 の除去 を達成 する こ と カ でき る。
具体的に は、 剥離熱処理後 (また は結合熱処理後) の S O I ゥ ェ ー ノヽ 6 に対 して、 不活性ガス、 水素ガス 、 あ る い はこれ ら の混合ガ ス雰囲気下、 通常の ヒ ー タ 加熱式の熱処理炉 (バ ッ チ炉) を使用 し て熱処理 (平坦化熱処理) を行い、 S O I 層 の表面粗 さ の改善 と ダ メ ージの除去に よ り 平坦化 させる。
前記 した よ う に、 従来、 剥離直後に存在す る表面粗さ を還元性雰 囲気の熱処理のみで完全に除去する ため には、 高温、 長時間の熱処 理が必要 と され、 場合に よ っ ては、 その よ う な熱処理を行な っ て も 完全に平坦化でき ない場合があ っ た。 しかし、 本発明では、 剥離熱 処理後の表面粗さ が低減さ れている ため、 上記の よ う な雰囲気下で の熱処理に よ り 従来に比べ平坦度を向上する こ と ができ る。
熱処理雰囲気 と して、 水素ガ ス の割合が多い と 貼 り 合わせ界面へ の侵食が発生 しやす く な る こ と 、 お よ び、 安全上の問題か ら 、 水素 ガス は爆発限界 ( 4 % ) 以下の含有量と する こ と が好ま しい。 不活 性ガス と して は、 最も安価で汎用性が高いァルゴ ンガス が好適で あ る。
こ こ で の熱処理温度は 1 1 0 0 °C 〜 1 3 5 0 °Cが適切であ る。 1 1 0 0 °C未満であ る と 、 表面粗 さ の改善が不十分 と な る か、 極めて 長時間が必要 と な る。 ま た、 1 3 5 0 °Cを超 え る 温度では重金属不 純物に よ る 汚染や熱処理炉の耐久性に問題が発生する。
ま た、 熱処理時間は熱処理温度に も依存す るが 1 0 分〜 8 時間の 範囲が適切であ る。 これよ り 短時間 では表面粗さ の改善が不十分に な り やす く 、 これ,よ り 長時間では生産性が低下 して しま う おそれも あ る。
なお、 本発明 においては、 上記の よ う な平坦化熱処理 と して、 剥 離熱処理 と 同様に急速加熱 · 急速冷却装置を用いて行 う こ と も でき る。 例えば、 剥離熱処理に よ り 剥離 したボン ド ゥ エー ハ (剥離 ゥ ェ 一 ノヽ ) 5 のみを装置力、 ら取 り 出 し、 S O I ゥ エ ー ノヽ 6 は装置の ゥ ェ ー ハ支持具に支持したま ま所定の温度で熱処理を行えばよい。
こ れに よ り 、 剥離熱処理工程後、 ゥ ユーハの洗浄等 を行 う こ と な く 、 平坦化熱処理工程 ( g ) を行 う こ と がで き 、 S O I ゥ エ ーノヽ の 製造工程を さ ら に簡略化する こ と ができ る。
ま た、 熱処理 と微量研磨を併用す る こ と も でき る (工程 ( h ) )。 なお、 併用する場合には、 図 1 の フ ロ ー の よ う に、 熱処理後 に微量 研磨を行な う こ と に限 らず、 微量研磨後 に熱処理 を行な っ て も 良い あ る いは、 で示 され る よ う に、 工程 ( f ) の結合熱処理後、 ( g ) 工程の平坦化熱処理を省略し て微量研磨に よ る平坦化を行つ て も 良い。
本発明'では、 剥離面の L P D が低減 さ れている の で、 微量研磨を 行な う 際、 研磨代 (取 り 代) を従来の約 1 0 0 n mに比べて大幅に 低減す る こ と ができ 、 7 0 n m 以下 の取 り 代で剥離面を研磨する こ と で十分平坦化する こ と が でき る。 特に、 前述の よ う に熱処理 と 微 量研磨を併用する場合には、 更 に研磨代 を低減す る こ と ができ る 。 従っ て、 研磨を行っ た と し て も S O I 層 の膜厚均一性の悪化を最小 限に防 ぐ こ と ができ る。 なお、 膜厚均一性の悪化を極力抑制する と い う 観点か らすれば、 前記研磨代を 5 0 n m以下 と する こ と が好ま しい。
以下、 実施例及び比較例 を示 して本発明 を よ り 具体的に説明す る が、 本発明 は これ ら に限定 され る も の ではない。
(実施例 1 )
チ ヨ ク ラ ルス キー法に よ り 作製 さ れた結晶方位 〈 1 0 0 〉 で、 導 電型が p 型で、 抵抗率が 1 0 Ω · c mの シ リ コ ン単結晶イ ン ゴ ッ ト 力 ら 、 直径 2 0 0 m m の シ リ コ ン鏡面 ゥ エーノ、を作製 した。 これ ら をボ ン ド ゥ エー ノヽ 2 と べ— ス ゥ ェ— ノヽ 1 に分け、 図 1 の ( a ) 〜 ( e ) に した力 Sい S O I ゥ エ ーハ 6 を作製 した。 こ の時、 ボ ン ド ゥ エ ーハ 2 に形成 した埋め込み酸化膜 3 の厚 さ は 4 0 0 n m と し、 注入 イ オ ン は H + イ オ ン、 注入エ ネ ル ギー 9 0 k e V 、 注入線量 6 . 5 X 1 0 1 6ノ c m 2 と した。
剥離熱処理は、 ラ ンプ加熱式のェ ピタ キシャ ル成長装置 (ァプラ イ ド ' マ テ リ ア ル社製 「 Centura」) を用 い , 1 5 °C Z秒の昇温速 度で 5 0 0 °Cま で昇温 し、 水素 1 0 0 %雰囲気下、 1 0 分間の熱処 理を行なっ た。
剥離 したま ま の S O I ゥ エ ー ノヽの表面 (剥離面) を K L A — テ ン コ ール社製の表面検査装置 「 S P — 1 」 に よ り 測定 した結果、 0 . 3 2 /x m以上の大き さ を有する L P D が約 4 0 0 0 個 / ゥ エ ー ノ、 の 密度で観察 された。
さ ら に、 その表面 (剥離面) を微量研磨 (研磨代 7 0 n m ) した 後、 再度 L P D を測定 した結果、 L P D は 5 0 個 / ゥ ハ以下に 低減した。
(実施例 2 )
剥離熱処理と して縦型炉を用いた以外は実施例 1 と同一の条件で S 〇 I ゥ ハを作製した。 剥離熱処理は、 密着させたゥ ハを 3 5 0 °Cでス タ ンバイ したヒータ加熱式の縦型炉に投入し (ゥ ハは水平置き)、 1 0 °C Z分 (約 0 . 1 7 °Cノ秒) の昇温速度で 5 0 0 °Cまで昇温し、 A r 雰 囲気下、 3 0分の熱処理を行なった後、 1 . 5 °〇/分の速度で 3 5 0 °〇ま で降温して S O I ゥ ハを取り 出した。
剥離したままの S O I ゥ ハの表面 (剥離面) には、 0 . 3 2 μ πι以 上の大き さを有する L P Dが約 6 0 0 0個/ゥヱーハの密度で観察された, そして、 その S O I ゥ ハを A r 1 0 0 %雰囲気下、 1 2 0 0 °C 1 時間の熱処理を行った後、 さ らに、 その表面を微量研磨 (研磨代 5 0 n m ) した後、 再度 L P Dを測定した結果、 L P Dは 4 0個/ゥ ハ以下 に低減した。
(実施例 3 )
ラ ンプ加熱式の R T A装置を用い、 密着 させた ゥ ハ を横向 き (水平置き ) に配置 した状態で 2 5 °C Z秒の昇温速度で 5 0 0 °Cま で昇温 し、 A r 雰囲気下、 2 分間の熱処理を行な っ た。
剥離 したま ま の S O I ゥ ヽの表面 (剥離面) には、 0 . 3 2 μ ιη以上の大き さ を有する L P D が約 3 0 0 0 個 /ゥ ハの密度 で観察 され、 さ ら に、 その表面 を微量研磨 (研磨代 6 0 n m ) した 後、 再度 L P D を測定 した結果、 L P D は 6 0 個 Zゥ 以下に 低減した。
(比較例) 図 1 の ( a ) ( d ) ま で、 実施例 と 同様の条件でボ ン ド ゥ エ ハ と ベース ゥ ェ一ノヽを密着 させた。
次に、 剥離熱処理 と して、 3 5 0 °Cでス タ ンノ ィ し た ヒ ータ 加熱 式の横型炉に密着 させた ゥ ハを投入 し、 1 0 °C /分 (約 0 . 1 7 °C /秒) の昇温速度で 5 0 0 °Cま'で昇温し、 A r 1 0 0 %雰囲気 下、 3 0 分間の熱処理を行な っ た後、 1 . 5 °C /分の速度で 3 5 0Cま で降温 して S O I ゥ ヽ を取 り 出 した。
剥離 したま ま の S O I ゥ エーハの表面 (剥離面) には、 0 . 3 2 m以上の大き さ を有する L P D が約 1 7 0 0 0 個 Zゥ ハの密 度で観察 さ れた。
さ ら に、 その表面を微量研磨 (研磨代 1 0 0 n m ) した後、 再度 L P D を測定 した結果、 5 0 0 個 Zゥ 以上の L P D が残存 し てい た。 なお、 本発明 は、 上記実施形態に限定 される も の ではない。 上記 実施形態は単な る例示であ り 、 本発明の特許請求の範囲に記載 さ れ た技術的思想 と 実質的に同一な構成を有 し、 同様な作用効果を奏す る も の は、 ヽカ な る も の で あっ て も 本発明の技術的範囲に包含 さ れ る。
ま た、 上記実施態様では 2 枚の シ リ コ ン ゥ ハを結合 して S O I ゥ ハを製造する場合を 中心に説明 したが、 本発明 は、 こ の 場合に限定 される も の ではな く 、 シ リ コ ンゥ (ボ ン ド ゥ エ ハ) にイ オン注入 した後、 絶緣性ゥ (ベース ウ ェー と 直 接密着 させて結合 し、 シ リ コ ン ゥ ヽ を剥離 して S O I ゥ ハ を製造する場合や、 イ オン注入する ゥ ハ と して G a A s 等の化 合物半導体 ゥ ハを用 い る場合に も 当然に適用可能であ る。
ま た、 本発明 の貼 り 合わせゥ ハの製造工程も 、 図 1 に示 した も の に限定 される も の ではな く 、 こ の工程に は、 洗浄、 熱処理等の 他の 工程が付力 Π さ れ る こ と も あ る し 、 あ る い は一部工程順 の入れ替 え、 省略等 が 目 的 に応 じ て適宜行な う こ と が でき る も の で あ る 。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 少な く と も 、 ボ ン ド ゥ エーハの表面カゝ ら水素イ オン、 希ガス イ オ ン あ る い は こ れ ら の 混合ガ ス イ オ ン をイ オン注入 し て ゥ エーハ 内部にイ オ ン注入層 を形成する 工程 と 、 前記ボン ド ゥ エーハのィ ォ ン注入 し た表面 と ベース ウ ェーハの表面 と を直接あ る いは絶縁膜を 介 して密着 させる工程と 、 該密着 さ せた ゥ エーハに熱処理を行な う こ と に よ り 、 前記イ オン注入層 でボ ン ド ゥ エーハ を剥離 さ せて貼 り 合わせ ゥ ェ一ハを形成する 工程 と を含む貼 り 合わせゥ エ ーハ の製造 方法において、 前記ボン ド ゥ エーハ を剥離 させる熱処理を、 急速加 熱 · 急速冷却装置を用いて 5 °C Z秒以上の昇温速度で行な う 条件 と 、 前記密着 さ せた ゥ : —ハ を横向 き 方向 に配置して行な う 条件の う ち、 少な く と も一方の条件で行 う こ と を特徴 とする貼 り 合わせ ゥ ェ ーハの製造方法。
2 . 前記急速加熱 · 急速冷却装置を用 いた剥離熱処理を、 1 0 °C /秒以上の昇温速度で行な う こ と を特徴 と する請求項 1 に記載 され た貼 り 合わせ ゥ ユ ーハの製造方法。
3 . 前記急速加熱 · 急速冷却装置 と し て、 赤外線ラ ンプ加熱方式 の装置を用 い る こ と を特徴 と す る請求項 1 ま たは請求項 2 に記載 さ れた貼 り 合わせゥ エ ーハの製造方法。
4 . 前記剥離熱処理を、 縦型炉を用いて行 う こ と を特徴 と する 請 求項 1 ない し請求項 3 の いずれか一項に記載 された貼 り 合わせゥ ェ ーハの製造方法。
5 . 前記剥離熱処理に よ り 形成 さ れた貼 り 合わせ ゥ ーハに対 し て、 不活性ガス、 水素ガス 、 あ るい はこ れ ら の混合ガス雰囲気下で 熱処理す る こ と に よ り 剥離面を平坦化 さ せる 工程及び /又は 7 O n m以下の取り 代で剥離面を研磨する工程を さ ら に含む こ と を特徴 と す る請求項 1 ない し請求項 4 のいずれか一項に記載 された貼 り 合わせ ゥ ーハの製造方法。
6 . 前記ボ ン ド ゥ エー ノヽお よ びべ一ス ウ ェ ーノヽ と して、 シ リ コ ン 単結晶 ゥ エ ーハを用いる こ と を特徴 と す る請求項 1 ない し請求項 5 の いずれか一項に記載された貼 り 合わせ ゥ エ ーハ の製造方法。
PCT/JP2003/003354 2002-03-20 2003-03-19 Procede de production de plaquettes par collage WO2003079447A1 (fr)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002077788 2002-03-20
JP2002-77788 2002-03-20
JP2002-151016 2002-05-24
JP2002151016A JP2003347176A (ja) 2002-03-20 2002-05-24 貼り合わせウェーハの製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2003079447A1 true WO2003079447A1 (fr) 2003-09-25

Family

ID=28043790

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2003/003354 WO2003079447A1 (fr) 2002-03-20 2003-03-19 Procede de production de plaquettes par collage

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2003347176A (ja)
WO (1) WO2003079447A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006030699A1 (ja) * 2004-09-13 2006-03-23 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Soiウェーハの製造方法及びsoiウェーハ
JP2006080461A (ja) * 2004-09-13 2006-03-23 Shin Etsu Handotai Co Ltd Soiウェーハの製造方法及びsoiウェーハ
JP2006086305A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Shin Etsu Handotai Co Ltd Soiウェーハの製造方法

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4879737B2 (ja) * 2004-01-29 2012-02-22 ソワテク 半導体層の分離方法
FR2914495B1 (fr) * 2007-03-29 2009-10-02 Soitec Silicon On Insulator Amelioration de la qualite d'une couche mince par recuit thermique haute temperature.
JP5119742B2 (ja) * 2007-05-25 2013-01-16 信越半導体株式会社 貼り合わせウエーハの製造方法
JP5190669B2 (ja) * 2008-01-16 2013-04-24 信越半導体株式会社 貼り合わせウェーハの製造方法
JP4636110B2 (ja) 2008-04-10 2011-02-23 信越半導体株式会社 Soi基板の製造方法
JP5493343B2 (ja) 2008-12-04 2014-05-14 信越半導体株式会社 貼り合わせウェーハの製造方法
JP5389627B2 (ja) * 2008-12-11 2014-01-15 信越化学工業株式会社 ワイドバンドギャップ半導体を積層した複合基板の製造方法
JP2011193010A (ja) * 2011-04-28 2011-09-29 Hitachi Cable Ltd 半導体ウェハ及び高周波電子デバイス用半導体ウェハ
FR2993095B1 (fr) * 2012-07-03 2014-08-08 Commissariat Energie Atomique Detachement d’une couche autoportee de silicium <100>
JP5780234B2 (ja) * 2012-12-14 2015-09-16 信越半導体株式会社 Soiウェーハの製造方法
JP6213046B2 (ja) 2013-08-21 2017-10-18 信越半導体株式会社 貼り合わせウェーハの製造方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5921773A (en) * 1996-02-22 1999-07-13 Samsung Electonics Co., Ltd. Wafer boat for a vertical furnace
EP0961312A2 (en) * 1998-05-15 1999-12-01 Canon Kabushiki Kaisha SOI Substrate formed by bonding
US6303468B1 (en) * 1997-08-12 2001-10-16 Commissariat A L'energie Atomique Method for making a thin film of solid material

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5921773A (en) * 1996-02-22 1999-07-13 Samsung Electonics Co., Ltd. Wafer boat for a vertical furnace
US6303468B1 (en) * 1997-08-12 2001-10-16 Commissariat A L'energie Atomique Method for making a thin film of solid material
EP0961312A2 (en) * 1998-05-15 1999-12-01 Canon Kabushiki Kaisha SOI Substrate formed by bonding

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
TYSCHENKO I.E. ET AL.: "Raman and photoluminescence investigations of the H+ ion implanted silicon-on-insulator structure formed by hydrogen ion cut", NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH B, vol. 186, January 2002 (2002-01-01), pages 329 - 333, XP004330067 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006030699A1 (ja) * 2004-09-13 2006-03-23 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Soiウェーハの製造方法及びsoiウェーハ
JP2006080461A (ja) * 2004-09-13 2006-03-23 Shin Etsu Handotai Co Ltd Soiウェーハの製造方法及びsoiウェーハ
US7902042B2 (en) 2004-09-13 2011-03-08 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Method of manufacturing SOI wafer and thus-manufactured SOI wafer
JP2006086305A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Shin Etsu Handotai Co Ltd Soiウェーハの製造方法
JP4696510B2 (ja) * 2004-09-15 2011-06-08 信越半導体株式会社 Soiウェーハの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003347176A (ja) 2003-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4103391B2 (ja) Soiウエーハの製造方法及びsoiウエーハ
US6372609B1 (en) Method of Fabricating SOI wafer by hydrogen ION delamination method and SOI wafer fabricated by the method
JPH11307472A (ja) 水素イオン剥離法によってsoiウエーハを製造する方法およびこの方法で製造されたsoiウエーハ
US20130089968A1 (en) Method for finishing silicon on insulator substrates
JPH11307413A (ja) 剥離ウエーハを再利用する方法および再利用に供されるシリコンウエーハ
JP2007220782A (ja) Soi基板およびsoi基板の製造方法
WO2007074550A1 (ja) Soiウェーハの製造方法及びsoiウェーハ
KR101846931B1 (ko) 접합 soi 웨이퍼의 제조방법
WO2007072632A1 (ja) Soi基板およびsoi基板の製造方法
JP2006210899A (ja) Soiウエーハの製造方法及びsoiウェーハ
WO2001073848A1 (fr) Procede de production de plaquettes de liaison et plaquettes de liaison ainsi produites
WO2003079447A1 (fr) Procede de production de plaquettes par collage
WO2013102968A1 (ja) 貼り合わせsoiウェーハの製造方法
JP2006210898A (ja) Soiウエーハの製造方法及びsoiウェーハ
JP5249511B2 (ja) Soq基板およびsoq基板の製造方法
US7186628B2 (en) Method of manufacturing an SOI wafer where COP&#39;s are eliminated within the base wafer
TWI355711B (en) Method of producing simox wafer
WO2004055871A1 (ja) Soiウエーハの製造方法
JP4624812B2 (ja) Soiウエーハの製造方法
JP4228419B2 (ja) Soiウエーハの製造方法およびsoiウエーハ
JP2010098167A (ja) 貼り合わせウェーハの製造方法
WO2009141954A1 (ja) 貼り合わせウェーハの製造方法及び貼り合わせウェーハ
KR102022504B1 (ko) 접합 웨이퍼의 제조방법
WO2016059748A1 (ja) 貼り合わせウェーハの製造方法
JP5339785B2 (ja) 貼り合わせウェーハの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): CN KR US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LU MC NL PT RO SE SI SK TR

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
122 Ep: pct application non-entry in european phase