WO2001086685A1 - Film mince a emission d'electrons, ecran a plasma comportant un tel film et procede de fabrication dudit film et dudit ecran - Google Patents

Film mince a emission d'electrons, ecran a plasma comportant un tel film et procede de fabrication dudit film et dudit ecran Download PDF

Info

Publication number
WO2001086685A1
WO2001086685A1 PCT/JP2001/003938 JP0103938W WO0186685A1 WO 2001086685 A1 WO2001086685 A1 WO 2001086685A1 JP 0103938 W JP0103938 W JP 0103938W WO 0186685 A1 WO0186685 A1 WO 0186685A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
thin film
electron
protective layer
columnar crystal
display panel
Prior art date
Application number
PCT/JP2001/003938
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Koichi Kotera
Yoshinao Ooe
Hiroki Kono
Hiroyosi Tanaka
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. filed Critical Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Priority to US10/275,795 priority Critical patent/US7161297B2/en
Priority to AT01930063T priority patent/ATE472168T1/de
Priority to EP01930063A priority patent/EP1298694B1/en
Priority to DE60142436T priority patent/DE60142436D1/de
Publication of WO2001086685A1 publication Critical patent/WO2001086685A1/ja
Priority to US11/604,625 priority patent/US7911142B2/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J11/00Gas-filled discharge tubes with alternating current induction of the discharge, e.g. alternating current plasma display panels [AC-PDP]; Gas-filled discharge tubes without any main electrode inside the vessel; Gas-filled discharge tubes with at least one main electrode outside the vessel
    • H01J11/20Constructional details
    • H01J11/34Vessels, containers or parts thereof, e.g. substrates
    • H01J11/38Dielectric or insulating layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J11/00Gas-filled discharge tubes with alternating current induction of the discharge, e.g. alternating current plasma display panels [AC-PDP]; Gas-filled discharge tubes without any main electrode inside the vessel; Gas-filled discharge tubes with at least one main electrode outside the vessel
    • H01J11/20Constructional details
    • H01J11/34Vessels, containers or parts thereof, e.g. substrates
    • H01J11/40Layers for protecting or enhancing the electron emission, e.g. MgO layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J11/00Gas-filled discharge tubes with alternating current induction of the discharge, e.g. alternating current plasma display panels [AC-PDP]; Gas-filled discharge tubes without any main electrode inside the vessel; Gas-filled discharge tubes with at least one main electrode outside the vessel
    • H01J11/10AC-PDPs with at least one main electrode being out of contact with the plasma
    • H01J11/12AC-PDPs with at least one main electrode being out of contact with the plasma with main electrodes provided on both sides of the discharge space
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02Manufacture of electrodes or electrode systems

Definitions

  • the present invention relates to an electron-emitting thin film used for a protective layer of a plasma display panel, and more particularly, to an electron-emitting property of the thin film. Improving technology. Background art
  • PDP Plasma Display Panel
  • LCD panels are attracting attention as display devices that can realize thin panels.
  • PDPs have excellent features such as high-speed response and high viewing angles. For this reason, companies and research institutes are actively engaged in development to spread the technology.
  • a front glass substrate and a rear glass substrate on each of which a plurality of line-shaped electrodes are arranged in line, are opposed to each other via a gap material so that the electrodes of each substrate are orthogonal to each other.
  • the discharge gas is sealed in the space between the substrates.
  • a dielectric layer covering each electrode is coated on the surface facing the rear glass substrate, and a protective layer made of an electron-emitting thin film is coated on the dielectric layer.
  • a charge is formed on the surface of the protective layer of the cell to be lit by sequentially performing address discharge between the electrodes of the front glass substrate and the back glass substrate, and the front glass substrate in the cell where the charge is formed is formed. Sustain discharge is performed between adjacent electrodes.
  • the protective layer in which charges are formed by the address discharge, protects the dielectric layer and the electrodes from ion bombardment (sputtering) generated during the address discharge. And a so-called memory function that retains the charge by emitting secondary electrons during the discharge. Therefore, for the protective layer, magnesium oxide (MgO), which is excellent in spatter resistance and secondary electron emission, is generally used.
  • MgO magnesium oxide
  • the present invention is suitable for a plasma display panel that has a superior secondary electron emission ⁇ of a protective layer and is less likely to cause lighting failure as compared with the related art, a method of manufacturing the same, and such a plasma display panel. It is an object of the present invention to provide an electron-emitting thin film and a method for producing the same.
  • an electron-emitting thin film according to the present invention is an electron-emitting thin film in which a plurality of columnar crystals each having an electron-emitting substance as a composition component are extended from a substrate. At least in part, the exposed end face on the thin film surface side has a flat surface inclined with respect to the thin film surface.
  • the amount of secondary electron emission is superior to that of the prior art.
  • the reason is considered to be that the columnar crystals constituting the thin film have higher single crystallinity than the conventional columnar crystals.
  • the secondary electron emission of the columnar crystal is increased as compared with the conventional case, and It is preferable because the secondary electron emission property is improved.
  • the extension direction of the columnar crystal corresponds to a direction equivalent to the ⁇ 211> direction of the crystal.
  • the width of the columnar crystal is 100 to 500 nm, it is considered that the single crystallinity of the columnar crystal is increased and the secondary electron emission property is improved.
  • the columnar crystal is made of magnesium oxide, a thin film having excellent secondary electron emission properties and excellent spatter resistance can be obtained.
  • a thin film having excellent secondary electron emission properties as described above should be deposited such that the angle at which the substance forming the thin film is incident on the substrate is only in the range of 30 to 80 °. Can be manufactured. According to this method, an electron-emitting thin film composed of columnar crystals having excellent single crystallinity can be formed, so that the amount of secondary electrons emitted from the electron-emitting thin film is improved.
  • magnesium oxide can be used as a material for forming the thin film.
  • the method for forming the electron-emitting thin film is a vacuum deposition method, a thin film having an excellent secondary electron emission amount can be formed in a short time.
  • a plasma display panel includes a first panel provided with a first electrode and a dielectric glass layer covering the electrode, and a second panel provided with a second electrode. Are arranged in a state where the dielectric glass layer and the second electrode face each other via a gap material, and an address discharge is performed by performing an address discharge between the first electrode and the second electrode.
  • the end face exposed on the surface side of the protective layer has a flat surface inclined with respect to the surface of the protective layer.
  • the protective layer since the protective layer has an excellent secondary electron emission property, even if the addressing time is shortened due to the higher definition, a lighting device accompanying an address discharge miss is provided. Can reduce the occurrence of heat.
  • the secondary electron emission property is lower than that of other crystal orientation planes such as the (110) plane. Increase.
  • the extension direction of the columnar crystal corresponds to a direction equivalent to the 211> direction without the crystal.
  • the width of the columnar crystal is 100 to 500 nm
  • the single crystallinity of the columnar crystal is considered to be more excellent, so that the secondary electron emission in the protective layer is improved.
  • magnesium oxide is used as the material for forming the protective layer, the secondary electron emission property is excellent and the spatter resistance during address discharge is also excellent.
  • the method of manufacturing a plasma display panel according to the present invention is a method of manufacturing a plasma display panel having a protective layer forming step of forming a protective layer on a dielectric glass layer formed on a substrate,
  • the protective layer is formed on the substrate by vapor deposition under a reduced pressure atmosphere so that the angle of incidence of the substance serving as the composition of the protective layer on the substrate is only 30 to 80 °. It is characterized by doing.
  • the protective layer since the protective layer has excellent secondary electron emission properties, it is possible to manufacture a plasma display panel in which the occurrence of lighting misses due to the address discharge misses is suppressed. Further, when the material forming the protective layer in the protective layer forming step is magnesium oxide, a plasma display panel having excellent secondary electron emission properties and excellent spatter resistance during address discharge is manufactured. Can be.
  • a vacuum evaporation method is used as a method for forming the protective layer in the protective layer forming step, a protective layer having excellent secondary electron emission properties can be formed in a short time.
  • FIG. 1 is a partial schematic cross-sectional perspective view of a PDP according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of a part of the PDP in FIG. 1 when viewed from the X-axis direction.
  • FIG. 3 is a bb ′ cross-sectional view of the PDP in FIG.
  • FIG. 4 (a) is a scanning electron micrograph of the cross section of the protective layer in PDP.
  • FIG. 4 (b) is a scanning electron micrograph of the plane of the protective layer in the PDP.
  • FIG. 5 (a) is a diagram schematically illustrating the columnar crystal in FIG. 4 (a).
  • FIG. 5 (b) is a schematic diagram of the columnar crystal in FIG. 4 (b).
  • FIG. 5 (c) is a schematic diagram of a columnar crystal manufactured using a conventional manufacturing method.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a state in which a protective layer is formed on a dielectric layer of a front glass substrate using a vacuum evaporation apparatus.
  • FIG. 7 is a graph plotting the ratio of the amount of secondary electrons emitted from the formed protective layer to the angle at which the material for forming the protective layer is incident on the substrate.
  • FIG. 8 is a graph in which the secondary electron emission ratio of the protective layer is plotted against the angle formed by the flat surface of the columnar crystal in the protective layer and the surface of the protective layer.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional perspective view of a main part of an AC surface discharge type PDP as one application example of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the PDP in FIG. 1 as viewed from the y-axis direction.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of the PDP along the line bb ′ in FIG.
  • the z-axis direction corresponds to the thickness direction of the PDP
  • the X-y plane corresponds to a plane parallel to the panel surface of the PDP.
  • the PDP is configured such that a front panel 10 and a knock panel 20 face each other.
  • the front panel 10 includes a front glass substrate 11, display electrodes 12, 13, a dielectric layer 14, and a protective layer 15. As shown in FIG. 3, the front panel 10 faces the front glass substrate 11. A plurality of pairs of display electrodes 12.13 are alternately arranged in a row, and a dielectric layer 14 and a protective layer 15 are sequentially coated so as to cover the surface of each electrode 12.13. It is configured.
  • the front glass substrate 11 is a flat substrate made of a borosilicate glass material and is disposed on the display direction side.
  • Each of the display electrodes 12 and 13 is a display electrode having a thickness of about 2 m having a three-layer structure in which a chromium layer, a copper layer, and a chromium layer are laminated.
  • a metal such as silver, gold, nickel, or platinum can be used.
  • I TO Indium Tin Oxide
  • S n O 2, Z n O , etc. in a small width on a wide transparent electrode made of a conductive metal oxides
  • a combination electrode in which silver electrodes are stacked can also be used.
  • the dielectric layer 14 is formed so as to cover the display electrodes 12 and 13 (about 20 m thick), and is made of, for example, a mixture of lead oxide, boron oxide, silicon oxide, and aluminum oxide.
  • Lead oxide glass, bismuth oxide, oxidation It is composed of a low-melting glass component such as bismuth oxide glass made of a mixture of zinc, boron oxide, silicon oxide, and calcium oxide, and has a function of insulating display electrodes 12 and 13.
  • the protective layer 15 is formed so as to cover the surface of the dielectric layer 14, and is a layer in which columnar crystals made of magnesium oxide (MgO) are densely microscopically. The configuration of the protective layer 15 will be described later.
  • the knock panel 20 includes a rear glass substrate 21, an address electrode 22, a dielectric layer 23, a partition 24, and phosphor layers 25 R, G, and B.
  • the rear glass substrate 21 is a flat substrate made of a borosilicate sodium glass material, like the front glass substrate 11.
  • address electrodes 22 are arranged in a stripe shape as shown in FIG.
  • the address electrode 22 is an electrode in which a chromium layer, a copper layer, and a chromium layer are laminated similarly to the display electrode 12.13 described above, and the dielectric layer 23 is coated so as to cover the electrode. .
  • the dielectric layer 23 is a dielectric glass layer containing the same glass component as that constituting the dielectric layer 14 in the front panel 10, and insulates the address electrode 22.
  • the partition wall 24 is arranged in parallel with the address electrode 22 on the surface of the dielectric layer 23.
  • the phosphor layers 25 R, G, and B that emit red, green, and blue light are arranged in order between the partition walls 24.
  • the phosphor layers 25 R and GB are layers to which phosphor particles emitting red (R), green (G), and blue (B), respectively, are bound.
  • the PDP is bonded so that the above-mentioned front panel 10 and the back panel 20 face each other, and the periphery of each panel is sealed with a sealing seal layer made of a not-shown flip glass, and the PDP is formed therebetween.
  • Discharge gas eg, 95 vol% of neon and 5 vol. Of xenon
  • a predetermined pressure for example, about 66.5 kPa to 106 kPa.
  • FIG. 4 () is a scanning electron micrograph of the protective layer 15 viewed from the side of the front panel 10
  • FIG. 4 (b) is a top view of the protective layer 15 of FIG. 4 (a).
  • 19 is a scanning electron micrograph taken.
  • the X, Y, and Z axis directions are shown in each photograph, and the dielectric layer 14 is formed in the negative direction of the Y axis.
  • the axis indicated by the black point at each axis intersection is from the back of the paper to the front. Is shown.
  • the protective layer 15 is a layer in which a plurality of MgO columnar crystals extend in one direction and are dense, and one end of the columnar crystals is exposed.
  • This columnar crystal looks like a substantially triangular shape in plan view, as shown in FIG. 4 (b).
  • FIG. 5 (a) is a diagram schematically illustrating the columnar crystal in the protective layer of FIG. 4 (a)
  • FIG. 5 (b) is a diagram schematically illustrating the planar shape of the columnar crystal of FIG. 4 (b).
  • FIG. 5 (c) is a diagram schematically illustrating a columnar crystal of a conventional protective layer.
  • a plurality of columnar crystals 31 extend from the dielectric layer 14 of the front panel 10, and the protection layer 15 is formed by a plane including the exposed end face of each columnar crystal. Of the surface 33.
  • the exposed side of the columnar crystal 31 has one flat surface 32 having an angle ⁇ with respect to the surface 33.
  • this flat surface 32 had a plane equivalent to the crystal orientation plane of the (100) plane. It is considered that single crystallinity is high.
  • the conventional protective layer is usually manufactured using a vacuum evaporation method so that the angle of incidence of Mg ⁇ on the substrate is mainly 90 °, and the film formed in this way is shown in Fig. 5 (c As shown in (), a flat shape is not clearly observed on the exposed end face 42 of the columnar crystal 41. This is because the columnar crystals 41 are composed of polycrystals instead of single crystals, and the orientation planes are oriented in various directions. It is considered to be.
  • the reason why the columnar crystal 41 composed of polycrystals is inferior in secondary electron emission property is that the columnar crystal 41 has low single crystallinity and many defects, and is ejected when primary electrons are incident. It is considered that the valence electrons in the columnar crystal 41 are less susceptible to Bragg reflection by the crystal lattice.
  • columnar crystal 31 in the present embodiment is composed of a single crystal, it is considered that flat surface 32 equivalent to the (100) plane is formed.
  • the columnar crystal 31 composed of a single crystal is considered to have high crystallinity and a well-defined crystal lattice, and the valence electrons in the columnar crystal 31 that are ejected when primary electrons enter the crystal It is thought that the amount of secondary electrons emitted from the columnar crystal 31 due to the Bragg reflection is likely to increase as compared with the conventional case.
  • the flat surface 32 of the columnar crystal 31 can form the (110) plane and the (100) plane by changing the substrate temperature and the vapor pressure during the vapor deposition, and particularly the (100) plane. Has experimentally confirmed that the secondary electron emission is the highest. Although the (111) plane can be formed, the flat surface 32 is not flat, and the secondary electron emission is inferior to the (111) plane.
  • the angle ⁇ between the flat surface 32 and the surface 33 is preferably set to an angle of 5 to 70 °, because the amount of secondary electron emission increases as compared with the conventional case, and more preferably 5 to 55 °. It is more desirable to have an angle in the range of 10 to 40 °. If the angle ⁇ is in the range of 5 to 70 °, the cause is unknown, but from the experimental results of the example, the secondary electron emission increases compared with the conventional case, and the angle increases by 5 to 55 °, and 10 to 4 °. If the angle is in the range of 0 °, the amount of secondary electron emission increases significantly.
  • the columnar crystal 31 is preferably larger, and the width w (see FIG. 5 (b)) at the widest part of the columnar crystal 31 is preferably in the range of 100 to 500 nm. .
  • the width w is less than 100 nm, the single crystallinity is poor and the amount of secondary electron emission decreases, while the columnar shape exceeds 500 nm. This is because crystals are difficult to produce.
  • the protective layer 15 made of the columnar crystal as described above is a thin film having excellent secondary electron emission properties. Therefore, in the PDP, even if the address time is short, the address discharge is performed favorably, and the generation of the lighting miss is suppressed.
  • the PDP is manufactured by forming the front panel 10 and the back panel 20 and then bonding them together.
  • the front panel 10 has display electrodes 12 and 13 formed on a front glass substrate 11, is coated with a dielectric layer 14, and a protective layer 15 is formed on the surface of the dielectric layer 14. It is made by forming.
  • the display electrode 12.13 is an electrode having a three-layer structure of chromium layer-copper layer-chromium layer, and is formed continuously by sputtering in the order of chromium-copper-chromium.
  • Dielectric layer 1 for example, 70 wt% of lead oxide (P b O), 1 4 wt% of boron oxide (B 2 ⁇ 3), 1 0 wt% of silicon oxide (S i ⁇ 2) and 5 Weight paste of aluminum oxide and an organic binder (a solution of 10% ethyl cellulose in ⁇ -turbineol) was applied by a screen printing method. By baking at 520: for 20 minutes, a film thickness of about 20 m is formed.
  • the protective layer 15 is made of magnesium oxide (MgO) and can be formed by a sputtering method.
  • the protective layer 15 is formed by a vacuum deposition method using MgO as a target. The method for forming the protective layer 15 will be described later in detail.
  • chromium, copper, and chromium are continuously formed in the same manner as the display electrodes 12, 13 to form the address electrodes 22.
  • a paste containing a lead-based glass material is applied by using a screen printing method, and then fired to form the dielectric layer 23.
  • TiO 2 particles may be mixed and applied to a lead-based glass material paste.
  • the partition 24 is formed by repeatedly applying a paste for a partition containing a glass material by using a screen printing method, and then firing the paste.
  • the phosphor layer is applied to all the grooves between the partition walls 24 by using, for example, an ink jet method to form the phosphor layers 25R, GB.
  • the periphery of the front panel 10 and the knock panel 20 manufactured in this way are bonded together using a glass for a sealing layer, and the inside of the discharge space 26 partitioned by the partition wall 24 is formed.
  • a high vacuum e.g. 8 X 1 0 ⁇ 7 ⁇ 0 rr
  • a discharge gas e.g. H e- X e system. N e- X e based inert gas
  • a predetermined pressure e.g., 6 6 Make PDP by encapsulating at 5 kPa to 106 kPa).
  • a drive circuit (not shown) is mounted on each of the electrodes 1 2. 1 3 2 1, and an electrode is connected between the display electrode 12 (13) and the address electrode 21 in the cell to be lit. After a wall discharge is formed by performing a dress discharge, a sustain discharge is performed by applying a pulse voltage between the display electrodes 12 and 13 to drive the display.
  • the protective layer 15 is formed by evaporating Mg using a vacuum evaporation method that allows a film to be formed at a high speed and can be relatively easily deposited even on a large substrate.
  • FIG. 6 is a diagram showing a schematic configuration of the vacuum evaporation apparatus 50.
  • the vacuum deposition apparatus 50 is composed of a chamber 51, which is a closed vessel, a vacuum pump for reducing the pressure in the chamber 51, and MgO. It comprises a heater for heating the target 52 and a heater for heating the front glass substrate 53 (both not shown).
  • a front glass substrate 53 on which a dielectric layer 14 is formed and a target made of Mg0 are fixed by a support (not shown), and the dielectric of the front glass substrate 53 is fixed.
  • the body layer 14 is left so as to have a predetermined angle with respect to the target 52.
  • a protective layer made of a single crystal columnar crystal as described above can be formed.
  • the center point of the target 52 is defined as a point P 0
  • the center point on the dielectric layer 54 of the front glass substrate 53 is defined as a point P 1
  • the points at both ends are defined as points P 2 and P 3.
  • each angle 31 1 to j 33 It is preferable that the target is allowed to stand completely so that it is entirely within the range of 30 to 80 °, and that the target substance never enters at angles outside this range. In this way, the angle formed by the flat surface 32 and the surface 33 can be set in the range of 5 to 70 °, as described above, although it depends on the temperature condition. Each angle) 3 1 ⁇ ! If the angle of 33 is more preferably 45 to 80 °, and even more preferably 50 to 70 °, the cause is unknown, but it is thought that single crystallinity is improved. As a result, the secondary electron emission of the protective layer is significantly improved. By performing vapor deposition at such an angle, a protective layer 15 having excellent secondary electron emission properties can be obtained.
  • 1 X 1 0- 2 are decompressed by P a vacuum pump to about, by heating the target 5 2 2 0 0 0 ° C or higher by the heater
  • the protective layer is formed by depositing Mg on the dielectric layer 54 of the front glass substrate 53.
  • the temperature of front glass substrate 53 is preferably heated to about 150 to 300 ° C., preferably about 200 ° C. It has been experimentally confirmed that the columnar crystals formed have lower single crystallinity in other temperature ranges. You. When the front glass substrate 53 is small or when the distance between the target 52 and the front glass substrate 53 is large, the angles / 31 to / 33 can be regarded as substantially the same value.
  • the protective layer obtained by such a method is a protective layer in which columnar crystals having excellent single crystallinity are densely packed, each columnar crystal has high single crystallinity, and the exposed end face of the columnar crystal is Since the flat surface equivalent to the (100) surface is formed so as to have a predetermined angle with respect to the surface of the protective layer, the secondary electron emission property is remarkably improved as compared with the conventional protective layer. .
  • a protective layer made of Mg 2 O 3 was formed on a glass substrate by using the vacuum evaporation method described in the above embodiment.
  • the angle / 31/1 between the straight line connecting the center of the target (MgO) during vacuum evaporation and the center of the glass substrate and the glass substrate is 80 °, 70 °, 60 °. , 40 °, and 30 °.
  • a protective layer made of Mg 2 O 3 was formed on a glass substrate by using the vacuum evaporation method described in the above embodiment. At this time, by changing the angle of the glass substrate with respect to the target (MgO) at the time of vacuum deposition, the angle between the flat surface of the columnar crystal and the surface of the protective layer was 5.10 °, respectively. Glass substrates were provided with protective layers at 20 °, 30 °, 40 °, 50 °, 60 °, and 70 °.
  • a protective layer was formed on a glass substrate using the same method as in the example samples S1 to S6. However, the difference is that the angle 01 during vacuum deposition was set to 90 °.
  • a protective layer was formed on a glass substrate by using the same method as in the example samples S7 to S14. However, the difference is that a protective layer having an angle ⁇ of 0 ° was formed by adjusting the angle of the glass substrate with respect to the target during the deposition of the protective layer.
  • the pressure in the vacuum deposition apparatus was set to 1 XI 0 to 2 Pa, and the glass substrate was heated to 200 to perform deposition. .
  • the amount of secondary electron emission was measured, and the angle of incidence of the target substance on the glass substrate
  • Ne ions were accelerated and irradiated to the protective layer, and the amount of secondary electrons emitted from the protective layer was detected by a collector.
  • FIG. 7 shows the results of the sample samples S1 to S6 and the sample sample R1 of the comparative example, and shows the ratio of secondary electron emission to the angle 31 at which the target substance enters the glass substrate.
  • the ratio of the secondary electron emission indicates the ratio of the secondary electron emission of each sample to the secondary electron emission of the comparative sample R1.
  • the secondary electron emission amount of the protective layer was reduced by 90% from the comparative sample R1 (90 ° ) Is improved.
  • the incident angle 31 is in the range of 45 ° to 80 °, it can be seen that the amount of secondary electron emission is more than doubled as compared with the conventional case.
  • the angle is in the range of 50 to 70 °, the amount of secondary electron emission is improved by about 2.2 times or more, which is the most preferable in terms of increasing the amount of secondary electron emission.
  • FIG. 8 shows the results of Example Samples S7 to S14 and Comparative Example Sample R2, in which the ratio of the secondary electron emission to the angle ⁇ formed by the flat surface and the protective layer surface in the columnar crystal is shown. Is shown.
  • the ratio of the amount of secondary electron emission refers to the ratio of the amount of secondary electron emission of each sample to the amount of secondary electron emission of Comparative Sample R2.
  • the secondary electron emission amount is improved as compared with the comparative sample R2.
  • the inclination angle is in the range of 5 to 55 °
  • the secondary electron emission amount is more than twice as large as that of the comparative sample R2.
  • the range of the inclination angle of 10 to 40 ° is the most preferable range in which the amount of secondary electron emission is improved by more than 2.3 times.
  • a protective layer made of Mg ⁇ is used.
  • the same effects as those of the present invention can be obtained by forming a film having a face-centered cubic lattice crystal structure, such as beryllium oxide, calcium oxide, strontium oxide, and barrier oxide. it is conceivable that.
  • the protective layer is formed by using the vacuum evaporation method.
  • the vacuum evaporation method the EB evaporation method can be applied.
  • the same effects as in the above embodiment can be obtained by applying a sputtering method instead of the vacuum evaporation method.
  • a thin film having an excellent secondary electron emission property is applied to the protective layer of the PDP.
  • the present invention is not limited to this.
  • a cathode or other electronic device in a field-emission display panel may be used.
  • the present invention can be applied to a thin film requiring release properties.
  • a display panel such as a PDP manufactured using the electron-emitting thin film of the present invention is effective for a display panel used for a computer, a television, or the like, and particularly for a display panel requiring high definition.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)
  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)

Description

明細書
電子放出性薄膜およびこれを用いたプラズマディ スプレイパネルな らびにこれらの製造方法 技術分野 本発明は、 プラズマディ スプレイパネルの保護層などに 用いられる電子放出性薄膜に関し、 特に、 その電子放出特性を改善する 技術に関する。 背景技術
近年、 コンピュータやテレビなどの画像表示に用いられているカラー 表示デバイ スにおいて、 フ ィ ール ドエミ ッ シ ヨ ンディ スプレイパネルや プラズマディ スプレイパネル (P l asma D i sp l ay Pane l 、 以下、 「 P D P」 という。) などのディ スプレイパネルは、薄型のパネルを実現することの できる表示デバイスと して注目されており、 特に P D Pにおいては高速 応答性や高視野角などの優れた特徴を備えるため、 各企業や研究機関に おいてその普及に向けた開発が活発に行われている。
このような P D Pにおいては、 複数のライ ン状の電極が列設される前 面ガラス基板および背面ガラス基板とがギヤ ップ材を介して各基板の電 極が直交するように対向配置され、 各基板間の空間に放電ガスが封入さ れている。 前面ガラス基板には、 その背面ガラス基板と対向する側の面 に各電極を覆う誘電体層が被膜されており、 さらにこの誘電体層の上に 電子放出性薄膜からなる保護層が被覆されている。
P D Pの駆動時には、 前面ガラス基板と背面ガラス基板の電極間で順 にァ ドレス放電を行う ことにより点灯したいセルの保護層表面に電荷を 形成し、 その電荷の形成されたセルにおける前面ガラス基板の隣接する 電極間で維持放電を行っている。
ァ ドレス放電によつて電荷が形成される保護層は、 ァ ドレス放電時に 生じるイオン衝撃 (スパッ タ リ ング) から誘電体層および電極を保護す る役割と、 その放電時に 2次電子を放出し電荷を保持するいわゆるメモ リ機能の役割を果たす。 そのため保護層は、 耐スパッタ性と 2次電子放 出性に優れる酸化マグネシウム (M g O ) が一般的に用いられている。 ところで、 近年の表示デバイスの分野においては、 画面の高精細化へ の要求が高まってきており、 この要求に対応するため、 各基板における 単位面積あたりの電極本数を増やすことによってセル数を増加させて高 精細化を実現している。
しかしながら、 セル数の増加によつて電極本数が多く なるほど 1つの セルに費やすことができるア ドレス時間も短縮されるので、 ア ド レス放 電時における保護層からの 2次電子放出量が低下し、 メモリ機能が不十 分となる結果、 P D Pはア ドレス放電ミ スの発生に伴なう点灯不良を起 こ しゃすく なる。 このような背景のもとで、 M g O薄膜においても 2次 電子放出特性を向上させる技術が望まれている。
発明の開示
本発明は、 上記課題に鑑み、 従来に比べて保護層の 2次電子放出悬が 優れ、 点灯不良を起こ しにくいプラズマディ ス レイパネルおよびその製 造方法、 ならびにそのようなプラズマディ スプレイパネルに好適した電 子放出性薄膜およびその製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、 本発明に係る電子放出性薄膜は、 電子放出 性物質を組成成分とする複数の柱状結晶が基板から伸張されてなる電子 放出性薄膜であって、 前記柱状結晶の少なく とも一部において、 その 薄膜表面側における露出端面は、 薄膜表面に対して傾いた平坦面を有す ることを特徴とする。
このような電子放出性薄膜によれば、 従来に比べて 2次電子放出量に 優れる。 その理由は、 薄膜を構成する柱状結晶の単結晶性が従来の柱状 結晶よりも高いためと考えられる。
特に、 前記柱状結晶の平坦面が、 薄膜表面に対して 5〜 7 0 ° 傾斜し ていれば、 柱状結晶の 2次電子放出性が従来に比べて高まり、 薄膜の 2 次電子放出性が向上するので好ま しい。
また、 前記柱状結晶の平担面は、 ( 1 0 0 ) 面と等価な結晶方位面であ れば、 ( 1 1 0 )面など他の結晶方位面である場合に比べて 2次電子放出 量が高い。
また、 前記柱状結晶の伸張方向は、 結晶の 〈2 1 1 > 方向と等価な方 向に相当する。
前記柱状結晶の幅が、 1 0 0〜 5 0 0 n mであれば、 柱状結晶の単結 晶性が高く なり、 2次電子放出性が向上すると考えられる。
具体的には、 前記柱状結晶が酸化マグネシゥムから構成されるものを 用いれば、 2次電子放出性に優れるとともに耐スパッタ性にも優れる薄 膜となる。
上記のような 2次電子放出性の優れた薄膜は、 蒸着時において、 薄膜 を形成する物質が基板に対して入射する角度が 3 0〜 8 0 ° のみの範囲 となるように蒸着させることによつて作製できる。 この方法によれば、 単結晶性に優れた柱状結晶からなる電子放出性薄膜を形成できるので、 電子放出性薄膜の 2次電子放出量が向上する。
具体的には、 前記薄膜を形成する物質と して酸化マグネシウムを用い ることができる。
前記電子放出性薄膜を形成する方法は、 真空蒸着法であれば、 2次電 子放出量に優れる薄膜を短時間に形成することができる。
また、 本発明に係るプラズマディ スプレイパネルは、 第 1 の電極およ び当該電極を被覆する誘電体ガラス層が配設された第 1パネルと、 第 2 の電極が配設された第 2パネルとが、 ギヤ ップ材を介して前記誘電体ガ ラス層および第 2の電極を対向させた状態で配され、 第 1 の電極および 第 2の電極の間でァ ドレス放電を行うことによりア ドレツシングが行わ れるプラズマディ スプレイパネルであって、 前記誘電体ガラスは、 ァ ドレス放電時のスパッタ リ ングに対するための保護層により被膜されて おり、 当該保護層は、 電子放出性物質を組成とする複数の柱状結晶であ り、 その保護層表面側に露出する端面は、 保護層表面に対して傾いた平 坦面を有することを特徴とする。
このようなプラズマディ スプレイパネルによれば、 保護層が 2次電子 放出性に優れるので、 高精細化にともなつてア ドレス時間が短縮された としてもア ドレス放電ミ スに伴なう点灯ミ スの発生を抑制することがで ぎる。
特に、 前記柱状結晶の平坦面が、 保護層表面に対して 5〜 7 0 ° 傾斜 していれば、 柱状結晶の 2次電子放出性が高まり、 保護層の 2次電子放 出性が向上するので好ま しい。
こ こで、 前記柱状結晶の平担面は、 ( 1 0 0 ) 面と等価な結晶方位面で あれば、 ( 1 1 0 )面など他の結晶方位面に比べて 2次電子放出性が高ま る。
具体的には、 前記柱状結晶の伸張方向が、 結晶の く 2 1 1〉 方向と等 価な方向に相当するようになっている。
また、 前記柱状結晶の幅が、 1 0 0〜 5 0 0 n mであれば、 柱状結晶 の単結晶性がさらに優れると考えられるので、 保護層における 2次電子 放出性が向上する。
前記保護層を形成する物質に酸化マグネシゥムを用いれば、 2次電子 放出性に優れるとともにア ド レス放電時の耐スパッタ性にも優れる。
また、 本発明に係るプラズマディ スプレイパネルの製造方法は、 基板 上に形成された誘電体ガラス層上に保護層を形成する保護層形成ステッ プを有するプラズマディ スプレイパネルの製造方法であって、 前記保護 層形成ステップは、 減圧雰囲気下において、 保護層の組成となる物質が 基板に入射する角度を 3 0〜 8 0 ° のみの範囲となるように蒸着させる ことにより基板上に保護層を形成することを特徴とする。
この製造方法によれば、 保護層の 2次電子放出性が優れるので、 ア ド レス放電ミ スに伴なう点灯ミ スの発生が抑制されるプラズマディ スプレ ィパネルを製造することができる。 また、 前記保護層形成ステップにおいて保護層を形成する物質を、 酸 化マグネシウムとすれば、 2次電子放出性に優れるとともに、 ア ドレス 放電時の耐スパッタ性に優れるプラズマデイ スプレイパネルを製造する ことができる。
また、 前記保護層形成ステップにおいて保護層を形成する方法に、 真 空蒸着法を用いるようにすれば、 2次電子放出性に優れる保護層を短時 間に形成することができる。
図面の簡単な説明
図 1 は、 本発明の実施の形態に係る P D Pの一部概略断面斜視図であ る。
図 2は、 図 1 における P D Pを X軸方向から見たときの一部を拡大し た断面図である。
図 3は、 図 2における P D Pの b— b '断面図である。
図 4 ( a ) は、 P D Pにおける保護層断面の走査型電子顕微鏡写真で ある。
図 4 ( b ) は、 P D Pにおける保護層平面の走査型電子顕微鏡写真で ある。
図 5 ( a ) は、 図 4 ( a ) における柱状結晶を模式化した図である。 図 5 ( b ) は、 図 4 ( b ) における柱状結晶を模式化した図である。 図 5 ( c ) は、 従来の製造方法を用いて作製した柱状結晶を模式化し た図である。
図 6は、 真空蒸着装置を用いて前面ガラス基板の誘電体層上に保護層 を形成する様子を示す図である。
図 7は、 保護層形成物質が基板に入射する角度に対して、 形成された 保護層の 2次電子放出量比をプロッ ト したグラフである。
図 8は、 保護層における柱状結晶の平坦面が保護層表面となす角度に 対して、 保護層の 2次電子放出量比をプロッ ト したグラフである。 発明を実施するための最良の形態 以下、 本発明が適用された P D Pについて図面を参照しながら説明す る。
く P D Pの全体構成 >
図 1 は、 本発明の一適用例と しての交流面放電型 P D Pの要部概略断 面斜視図である。 図 2は、 図 1 における P D Pを y軸方向から見た断面 図である。 図 3は、 図 2の b— b '線における P D Pの断面図である。 各図において、 z軸方向が P D Pの厚み方向に相当し、 X — y平面が P D Pのパネル面と平行な平面に相当する。
図 1 に示すよう に、 P D Pは、 フロン ト パネル 1 0とノ ッ クパネル 2 0とが対向した状態に配されて構成されている。
フロ ン トパネル 1 0は、 前面ガラス基板 1 1、 表示電極 1 2, 1 3、 誘電体層 1 4、 保護層 1 5とを備え、 図 3に示すように前面ガラス基板 1 1の対向面上に複数対の表示電極 1 2. 1 3が交互に列設されるとと もに、 誘電体層 1 4および保護層 1 5が各電極 1 2. 1 3表面上を覆う ように順に被膜されて構成されている。
前面ガラス基板 1 1 は、 硼硅素ナ ト リ ゥム系ガラス材料からなる平板 状の基板であり、 表示方向側に配されている。
表示電極 1 2, 1 3は、 ともにク ロム層一銅層一クロム層と積層され た 3層構造を有する厚み約 2 mの表示電極である。この表示電極には、 銀、 金、 ニッケル、 白金などの金属を用いることもできる。 さらに、 セ ル内の放電面積を広く確保するために、 I TO (Indium Tin Oxide), S n O 2、 Z n Oなどの導電性金属酸化物からなる幅広の透明電極の上 に幅細の銀電極を積層させた組み合わせ電極を用いることもできる。 誘電体層 1 4は、 表示電極 1 2, 1 3を被覆するように形成され (厚 み約 2 0 m)、 例えば、 酸化鉛、 酸化ホウ素、 酸化ケィ素、 および酸化 アルミ ニウムの混合物からなる酸化鉛系ガラスや、 酸化ビスマス、 酸化 亜鉛、 酸化ホウ素、 酸化ケィ素、 および酸化カルシウムの混合物からな る酸化ビスマス系ガラスなどの低融点ガラス成分から構成され、 表示電 極 1 2, 1 3を絶縁する働きを有する。
保護層 1 5は、 誘電体層 1 4表面を覆うように形成されており、 微視 的には酸化マグネシウム (Mg O) からなる柱状結晶が密集した層であ る。 この保護層 1 5の構成については後述する。
図 1 に戻り、 ノくックパネル 20は、 背面ガラス基板 2 1、 ア ド レス電 極 22、 誘電体層 23、 隔壁 24、 蛍光体層 2 5 R, G, Bを備えてい る。
背面ガラス基板 2 1 は、 前面ガラス基板 1 1 と同様、 硼硅素ナ ト リ ウ ム系ガラス材料からなる平板状の基板である。 この背面ガラス基板 2 1 の対向面上には、 図 2に示すようにア ド レス電極 22がス ト ライプ状に 列設されている。
ァ ド レス電極 22は、 上記表示電極 1 2. 1 3と同様、 ク ロム層—銅 層—クロム層が積層された電極であり、 この電極を覆うように誘電体層 23が被膜されている。
誘電体層 23は、 上記フロン トパネル 1 0における誘電体層 1 4を構 成するガラス成分と同じものを含む誘電体ガラス層であり、 ア ド レス電 極 22を絶縁する。
隔壁 24は、 誘電体層 23の表面上において、 ア ド レス電極 2 2と平 行に列設されている。 隔壁 24どう しの間には、 赤色、 緑色、 青色を発 光する各蛍光体層 2 5 R, G, Bが順に配されている。
蛍光体層 25 R, G. Bは、 それぞれ赤色 (R)、 緑色 (G)、 青色 (B) を発光する蛍光体粒子が結着した層である。
P D Pは、 上記フ πン トパネル 1 0とバックパネル 20とが対向する ように貼り合わされるとともにその各パネル周囲が図示しないフ リ ッ ト ガラスからなる封着シール層により封着され、 その間に形成される放電 空間 2 6内に放電ガス (例えば、 ネオン 95 v o l %とキセノ ン 5 v o 1 %の混合ガス) が所定の圧力 (例えば、 6 6. 5 k P a〜 1 0 6 k P a程度) で封入された構成となっている。
<保護層 1 5の構成〉
図 4 ( ) は、 保護層 1 5をフ ロン トパネル 1 0の側面から見た走査 型電子顕微鏡写真であり、 図 4 (b) は、 図 4 (a) の保護層 1 5の上 から見た走査型電子顕微鏡写真である。 なお、 便宜上、 各写真に X, Y, Z軸方向を示しており、 Y軸の負方向に誘電体層 1 4が形成されており、 各軸交点の黒点で示す軸は紙面奥から手前方向を示す。
図 4 (a ) に示すように、 保護層 1 5は、 複数の Mg 0柱状結晶が一 方向に伸張して密集した層であり、 柱状結晶の一端が露出されている。 この柱状結晶は、 図 4 ( b ) に示すように平面視略三角形のように見え る。
図 5 (a ) は、 図 4 (a) の保護層における柱状結晶を模式化した図 であり、 図 5 ( b ) は、 図 4 ( b ) の柱状結晶の平面視形状を模式化し た図であり、 図 5 ( c ) は、 従来の保護層の柱状結晶を模式化した図で ある。
図 5 ( a ) に示すように、 柱状結晶 3 1 は、 フロン トパネル 1 0の誘 電体層 1 4から複数本伸張し、 各柱状結晶の露出端面を含む平面によつ て保護層 1 5の表面 33を構成している。
柱状結晶 3 1の露出側には、 表面 33に対して角度 αを有する一つの 平坦面 32を有している。 この平坦面 32は、 X線回折法による結晶方 位の解析を行った結果、 ( 1 0 0 )面の結晶方位面と等価な面を有してい ることが判明し、 柱状結晶 3 1 は単結晶性が高いと考えられる。
従来の保護層は、 通常、 真空蒸着法を用いて Mg Οが基板へ入射する 角度が 90 ° を主体とするように作製されており、 このよう に成膜され たものは、 図 5 ( c ) に示すように柱状結晶 4 1の露出側の端面 42に おいて平坦な形状が明瞭に観察されない。 これは、 柱状結晶 4 1が単結 晶ではなく多結晶から構成され、 配向面が種々の方向に向いているため であると考えられる。
このように多結晶から構成された柱状結晶 4 1が 2次電子放出性に劣 る理由は、 柱状結晶 4 1は単結晶性が低く欠陥も多いので、 1次電子が 入射するときにはじき出される柱状結晶 4 1 内の価電子は、 結晶格子に よるブラッグ反射を受けにくいためと考えられる。
しかし、 本実施の形態における柱状結晶 3 1 は、 単結晶から構成され ているために ( 1 00) 面と等価な平坦面 3 2が形成されていると考え られる。 単結晶から構成される柱状結晶 3 1 は、 その結晶性も高く結晶 格子が整っていると考えられ、 1次電子が入射するときにはじき出され る柱状結晶 3 1 内の価電子は、結晶格子によるブラッグ反射を受け易く、 ブラッグ反射を受けて柱状結晶 3 1から飛び出す 2次電子の放出量は従 来に比べて増加すると考えられる。
この柱状結晶 3 1の平坦面 3 2は、 蒸着時に基板温度や蒸着圧力を変 更することによって ( 1 1 0) 面、 ( 1 00) 面を形成することができ、 特に ( 1 00 ) 面が最も 2次電子放出性が高いことを実験的に確認して いる。 なお、 ( 1 1 1 ) 面を形成することもできるが、 平坦面 32の部分 が平坦ではなく、 2次電子放出性も ( 1 1 0) 面より劣る。
平坦面 3 2と表面 33とがなす角度 αは、 5〜 70° の角度を有する ようにすれば 2次電子放出量が従来に比べ増加するので好ま しく、 より 好ま しくは 5〜 5 5 ° 、 さらに好ま しく は 1 0〜4 0° の範囲の角度を 有することが望ま しい。 角度 αが 5〜 7 0° の範囲の角度であれば、 原 因はわからないが実施例の実験結果から従来に比べて 2次電子放出量が 増加し、 5〜 55 ° さらには 1 0〜4 0 ° の範囲の角度であれば、 2次 電子放出量が著しく増加するためである。
さらに、 柱状結晶 3 1 は大きい方が好ま しく、 柱状結晶 3 1の一番広 い部分における幅 w (図 5 ( b ) 参照) は、 1 0 0〜 500 nmの範囲 であることが好ま しい。 その幅 wが 1 O O nm未満であると単結晶性が 乏しく 2次電子放出量が低下する一方、 50 0 nmを越えるような柱状 結晶はその製造が困難であるからである。
上述したような柱状結晶からなる保護層 1 5は、 2次電子放出性に優 れた薄膜となる。 そのため、 P D Pにおいてはア ドレス時間が短く ても ア ド レス放電が良好に行われ、 点灯ミ スの発生も抑制される。
< P D Pの作製方法 >
次に P D Pを作製する方法について説明する。 P D Pは、 フロ ン トパ ネル 1 0とバックパネル 20を形成した後、 これらを張り合わせること により作製する。
①フロン トパネル 1 0の作製
フロン トパネル 1 0は、 前面ガラス基板 1 1上に表示電極 1 2, 1 3 を形成し、 その上を誘電体層 1 4で被膜し、 更に誘電体層 1 4の表面に 保護層 1 5を形成するこ とによって作製される。
表示電極 1 2. 1 3は、 クロム層—銅層—クロム層の 3層構造を有す る電極であって、 ク ロム一銅一クロムと順にスパッタすることにより連 続成膜する。
誘電体層 1 4は、 例えば、 70重量%の酸化鉛 ( P b O), 1 4重量% の酸化硼素 (B23), 1 0重量%の酸化硅素 ( S i 〇2) 及び 5重量% の酸化アルミ ニウムと有機バイ ンダー (α—タービネオールに 1 0%の ェチルセルローズを溶解したもの)とが混合された組成物のペース 卜を、 スク リ ーン印刷法で塗布した後、 520 :で 2 0分間焼成するこ とによ つて膜厚約 20 mに形成される。
保護層 1 5は、 酸化マグネシウム (Mg O) からなるものであって、 スパッタ リ ング法によって形成することもできるが、 ここではターゲッ 卜 に Mg Oを用いた真空蒸着法により形成する。 この保護層 1 5の形成 方法については後で詳述する。
②バックパネル 20の作製
背面ガラス基板 2 1上に、 表示電極 1 2, 1 3と同様にク ロム、 銅、 クロムを連続成膜して、 ア ドレス電極 22を形成する。 次に、 誘電体層 1 4 と同様に鉛系のガラス材料を含むペース トをスク リーン印刷法を用いて塗布した後、 焼成することによつて誘電体層 2 3 を形成する。 ここで、 蛍光体層 2 5 R . G , Bにおいて発光する可視光 を反射させるために、 鉛系のガラス材料のペース 卜に T i O 2粒子を混 合して塗布してもよい。
隔壁 2 4は、 スク リーン印刷法を用いてガラス材料を含む隔壁用ぺー ス トを繰返し塗布した後、 焼成することによって形成される。
次に、 隔壁 2 4の間の溝すべてに蛍光体ィ ンクを例えばィ ンクジエツ ト法を用いて塗布することにより蛍光体層 2 5 R, G . Bを形成する。 ③パネル貼り合わせによる P D Pの作製 :
次に、 このよう に作製したフロ ン トノ ネル 1 0 とノ ッ クパネル 2 0 と の周囲を封着シール層用ガラスを用いて貼り合せると共に、 隔壁 2 4で 仕切られた放電空間 2 6内を高真空 (例えば 8 X 1 0 ·7Τ 0 r r ) に排 気した後、 放電ガス (例えば H e— X e系. N e— X e系の不活性ガス) を所定の圧力 (例えば 6 6 . 5 k P a〜 1 0 6 k P a ) で封入すること によって P D Pを作製する。
P D Pを駆動表示する際には、 図示しない駆動回路を各電極 1 2 . 1 3 . 2 1 に実装して、 点灯したいセルにおける表示電極 1 2 ( 1 3 ) と ァ ドレス電極 2 1 間でァ ド レス放電を行い壁電荷を形成した後、 表示電 極 1 2 , 1 3間にパルス電圧を印加することにより維持放電を行い表示 駆動を行う。
④保護層 1 5形成方法 :
保護層 1 5は、 膜形成速度が早く、 大きな基板に対しても比較的容易 に蒸着することができる真空蒸着法を用いて M g〇を蒸着することによ り形成される。
図 6は、 真空蒸着装置 5 0の概略構成を示す図である。
同図に示すように、 真空蒸着装置 5 0は、 密閉容器であるチャ ンバ一 5 1 と、 チヤンバー 5 1 内を減圧する真空ポンプ、 M g Oからなるター ゲッ ト 5 2を加熱するヒータ、 および前面ガラス基板 5 3を加熱するた めのヒータ (いずれも不図示) などから構成される。
チャ ンバ一 5 1 内には、 誘電体層 1 4が形成された前面ガラス基板 5 3と、 M g 0からなるターゲッ トが図示しない支持台により固定されて おり、 前面ガラス基板 5 3の誘電体層 1 4側がターゲッ ト 5 2に対して 所定の角度を有するよう静置されている。
この角度を以下に示す所定の範囲にすることによって、 上述したよう な単結晶の柱状結晶からなる保護層を形成することができる。
タ一ゲッ ト 5 2の中心点を点 P 0、 前面ガラス基板 5 3の誘電体層 5 4上における中心点を点 P 1 , 両端の点を点 P 2 , P 3とする。
点 P 0と各点 P I , P 2. P 3を結ぶ直線と、 誘電体層 5 4の表面と がなす角度をそれぞれ 3 1 , β 2 , /3 3 とすると、 各角度 3 1 〜 j3 3全 てが 3 0 ~ 8 0° の範囲のみに入るように静置し、 この範囲外の角度で は一度もターゲッ ト物質が入射しないすることが好ま しい。 このように すれば、 温度条件にもよるが通常上記のように平坦面 3 2 と表面 3 3と のなす角度を 5〜 7 0 ° の範囲に入れることができる。 各角度)3 1 〜! 3 3の角度がよ り好ま し く は 4 5〜 8 0 ° 、 さらに好ま し く は 5 0〜 7 0° の範囲の角度とすれば、 原因は不明であるが単結晶性が向上すると 考えられ、 保護層の 2次電子放出性が著しく 向上する。 このような角度 で蒸着を行うことによって、 2次電子放出性に優れる保護層 1 5を得る ことができる。
なお、 蒸着時においてチャ ンバ一 5 1 内は、 1 X 1 0— 2 P a程度まで 真空ポンプにより減圧されており、 ターゲッ ト 5 2をヒータによって 2 0 0 0 °C以上に加熱することにより、 前面ガラス基板 5 3の誘電体層 5 4上に Mg〇が蒸着して保護層は形成される。 また、 前面ガラス基板 5 3の温度は、 1 5 0〜 3 0 0 °C程度、 好ましく は 2 0 0 程度の温度に 加熱することが好ま しい。 これ以外の温度範囲では、 形成される柱状結 晶において単結晶性が低く なることが実験的に確認されているからであ る。 また、 前面ガラス基板 53が小さい場合やターゲッ ト 52と前面ガ ラス基板 53の距離が大きい場合には角度 /3 1〜 /3 3は略同一値とみな すことができる。
<効果について〉
以上述べたように、 基板に対して所定の角度を有して蒸着される物質 が入射するように真空蒸着することによって、 比較的短時間 (5分程度) のうちに 2次電子放出性に優れた保護層を得ることができる。
すなわち、 このような方法で得られた保護層は、 単結晶性に優れた柱 状結晶が密集した保護層であり、 各柱状結晶の単結晶性が高いこと、 お よび柱状結晶の露出端面が ( 1 00) 面と等価な面に相当する平坦面が 保護層表面に対して所定の角度を有するように形成されていることから, 従来の保護層に比べて 2次電子放出性が著しく高まる。
したがって、 このような保護層を有する P D Pにおいては、 ア ドレス 時間が短くてもア ド レス放電が良好に行われ、 点灯ミ スの発生が従来に 比べて抑制される。
ぐ実施例〉
( 1 ) 実施例サンプル
〔実施例サンプル S 1〜 S 6〕
ガラス基板上に上記実施の形態で説明した真空蒸着法を用いて Mg O からなる保護層を形成した。 このとき、 真空蒸着時のターゲッ ト (Mg O) の中心とガラス基板の中心とを結ぶ直線とガラス基板とがなす角度 /3 1 をそれぞれ 80 ° , 7 0 ° , 6 0 ° . 5 0 ° , 4 0° , 30 ° とな るように設定した。
〔実施例サンプル S 7〜 S 1 4〕
ガラス基板上に上記実施の形態で説明した真空蒸着法を用いて Mg O からなる保護層を形成した。 このとき、 真空蒸着時におけるガラス基板 のターゲッ ト (Mg O) に対する角度を種々変更することにより、 柱状 結晶における平坦面と保護層表面との角度 がそれぞれ 5° . 1 0° , 20 ° , 30 ° . 40° . 5 0 ° , 6 0° , 7 0 ° となる保護層を備え るガラス基板を作製した。
(2 ) 比較例サンプル
〔比較例サンプル R 1〕
実施例サンプル S 1〜S 6と同様の方法を用いてガラス基板上に保護 層を形成した。 ただし、 真空蒸着時の角度 0 1 を 90° となるように設 定した点が異なる。
〔比較例サンプル R 2〕
実施例サンプル S 7〜 S 1 4と同様の方法を用いてガラス基板上に保 護層を形成した。 ただし、 保護層蒸着時のガラス基板のターゲッ トに対 する角度を調整するこ とによ り、 角度 αが 0 ° を有する保護層を形成し た点が異なる。
なお、 上記各実施例サンプルおよび比較例サンプルの保護層蒸着時に おいては、 真空蒸着装置内の圧力を 1 X I 0—2 P aと し、 ガラス基板を 200でに加熱して蒸着を行った。
(3) 実験
①実験方法
上記各実施例サンプルおよび比較例サンプルにおいて、 2次電子放出 量を測定し、 ターゲッ ト物質がガラス基板に入射する角度 |3 1 および柱 状結晶における平坦面と保護層表面とがなす角度 αに対する 2次電子放 '出量を比較検討した。
②実験条件
照射ィオン : N eイ オン
加速電圧 : 500 V
上記加速電圧を印加することによって、 N eイオンを加速して保護層 に照射し、 保護層から放出された 2次電子の放出量をコ レクタによって 検出した。
(4) 結果と考察 : 実験結果を図 7および図 8に示す。
図 7は、 実施例サンプル S 1〜 S 6および比較例サンプル R 1の結果 を示したものあり、 ターゲッ ト物質がガラス基板に入射する角度 3 1 に 対する 2次電子放出量比を示す。 なお、 2次電子放出量比とは、 比較例 サンプル R 1 の 2次電子放出量に対する各サンプルの 2次電子放出量の 比を示す。
同図に示すように、 真空蒸着時の入射角度 β 1 を 3 0 ° 〜 80° 傾け ることにより、 保護層の 2次電子放出量が従来技術に相当する比較例サ ンプル R 1 ( 90° ) に比べて向上していることが分かる。 特に、 入射 角度 3 1が 4 5 ° 〜 80 ° の範囲においては、 2次電子放出量が従来に 比べ 2倍以上に向上していることが分かる。 さらに、 その角度が 50〜 70° の範囲においては、 2次電子放出量が約 2. 2倍以上向上してお り、 2次電子放出量を増加させる意味で最も好ま しい。
図 8は、 実施例サンプル S 7 ~ S 1 4および比較例サンプル R 2の結 果を示したものであり、 柱状結晶における平坦面と保護層表面とがなす 角度 αに対する 2次電子放出量比を示す。 なお、 2次電子放出量比とは、 比較例サンプル R 2の 2次電子放出量に対する各サンプルの 2次電子放 出量の比を示す。
同図に示すように、 柱状結晶の平坦面が保護層表面に対して 5〜 7 0 ° 傾く ことにより、 2次電子放出量が比較例サンプル R 2に比べて向 上していることが分かる。 特に、 その傾斜角度が 5〜 55° の範囲にお いては、 2次電子放出量が比較例サンプル R 2に比べて 2倍以上に向上 していることが分かる。 さらに、 傾斜角度が 1 0〜 40 ° の範囲は、 2 次電子放出量が 2. 3倍以上に向上する最も好ま しい範囲となる。
なお、 各実施例サンプルおよび比較例サンプルにおける耐スパッタ性 にはあまり違いは見られなかった。
ぐ本実施の形態に係る変形例 >
①上記実施の形態においては、 保護層に Mg〇を製膜したものを用い ていたが、 酸化べリ リ ウム、 酸化カルシウム、 酸化ス ト ロンチウム、 酸 化バリ ゥムなどの面心立方格子の結晶構造を有する物質を製膜しても本 発明と同様の効果が得られると考えられる。
②上記実施の形態においては、 真空蒸着法を用いて保護層を形成して いたが、 この真空蒸着法と しては、 E B蒸着法を適用することができる。 さらに、 真空蒸着法の代わりにスパッタ リ ング法を適用しても上記実施 の形態と同様の効果が得られる。
③上記実施の形態においては、 2次電子放出性に優れる薄膜を P D P の保護層に適用したが、 これに限定されるものではなく、 フ ィール ドェ ミ ッシヨンディ スプレイパネルにおけるカソ一 ドなどの電子放出性が求 められる薄膜においても本発明を適用することができる。 産業上の利用可能性
本発明の電子放出性薄膜を用いて製造される P D Pなどのディ スプレ ィパネルは、 コンピュータやテ レビなどに使用されるディ スプレイパネ ルにおいて、特に高精細を要求されるディ スプレイパネルに有効である。

Claims

請求の範囲
1 . 電子放出性物質を組成成分とする複数の柱状結晶が基板から 伸張されてなる電子放出性薄膜であって、
前記柱状結晶の少なく とも一部において、 その薄膜表面側における露 出端面は、 薄膜表面に対して傾いた平坦面を有する
ことを特徴とする電子放出性薄膜。
2 . 前記柱状結晶の平坦面は、 薄膜表面に対して 5〜 7 0 ° 傾斜 していることを特徴とする請求項 1 に記載の電子放出性薄膜。
3 . 前記柱状結晶の平担面は、 ( 1 0 0 ) 面と等価な結晶方位面で あることを特徴とする請求項 1 に記載の電子放出性薄膜。
4 : 前記柱状結晶の伸張方向は、 結晶の く2 1 1〉 方向と等価な 方向に相当することを特徴とする請求項 1 に記載の電子放出性薄膜。
5 . 前記柱状結晶の幅は、 1 0 0〜 5 0 0 n mであることを特徴 とする請求項 1 に記載の電子放出性薄膜。
6 . 前記柱状結晶は、 酸化マグネシウムから構成されるこ とを特 徴とする請求項 1 に記載の電子放出性薄膜。
7 . 減圧雰囲気下において基板に薄膜となる組成の物質を蒸着さ せるこ とにより基板上に電子放出性薄膜を形成する方法であって、 前記蒸着時において、 薄膜となる組成の物質が基板に対して入射する 角度が 3 0〜 8 0 ° のみの範囲となるように蒸着させる
ことを特徴とする電子放出性薄膜の形成方法。
8 . 前記薄膜を形成する物質は、 酸化マグネシウムであることを 特徴とする請求項 7記載の電子放出性薄膜の形成方法。
9 . 前記電子放出性薄膜を形成する方法は、 真空蒸着法であるこ とを特徴とする請求項 7記載の電子放出性薄膜の形成方法。
1 0 . 第 1 の電極および当該電極を被覆する誘電体ガラス層が配 設された第 1 パネルと、 第 2の電極が配設された第 2パネルとが、 ギヤ ップ材を介して前記誘電体ガラス層および第 2の電極を対向させた状態 で配され、 第 1 の電極および第 2の電極の間でァ ド レス放電を行うこと によりァ ド レッシングが行われるプラズマディ スプレイパネルであって 前記誘電体ガラスは、 ア ドレス放電時のスパッタ リ ングに対するため の保護層により被膜されており、 当該保護層は、 電子放出性物質を組成 とする複数の柱状結晶であり、 その保護層表面側に露出する端面は、 保 護層表面に対して傾いた平坦面を有する
ことを特徴とするプラズマディ スプレイパネル。
1 1 . 前記柱状結晶の平坦面は、 保護層表面に対して 5〜 7 0 ° 傾 斜していることを特徴とする請求項 1 0に記載のプラズマデイ スプレイ パネル。
1 2 . 前記柱状結晶の平担面は、 ( 1 0 0 ) 面と等価な結晶方位面で あることを特徴とする請求項 1 0に記載のプラズマディ スプレイパネル c
1 3 . 前記柱状結晶の伸張方向は、 結晶の 〈 2 1 1〉 方向と等価な 方向に相当することを特徴とする請求項 1 0に記載のプラズマデイ スプ レィパネル。
1 4 . 前記柱状結晶の幅は、 1 0 0〜 5 0 0 n mであることを特徴 とする請求項 1 0に記載のプラズマディ スプレイパネル。
1 5 . 前記保護層を形成する物質は、 酸化マグネシウムであること を特徴とする請求項 1 0に記載のプラズマデイ スプレイパネル。
1 6 . 基板上に形成された誘電体ガラス層上に保護層を形成する保 護層形成ステップを有するプラズマディ スプレイパネルの製造方法であ つて、
前記保護層形成ステップは、 減圧雰囲気下において、 保護層の組成と なる物質が基板に入射する角度を 3 0〜 8 0 ° のみの範囲となるように 蒸着させて基板上に保護層を形成する
ことを特徴とするプラズマディ スプレイパネルの製造方法。
1 7 . 前記保護層の組成となる物質は、 酸化マグネシウムであるこ とを特徴とする請求項 1 6に記載のプラズマディ スプレイパネルの製造 方法。
1 8 . 前記保護層形成ステップにおいて保護層を形成する方法は、 真空蒸着法を用いることを特徴とする請求項 1 6に記載のプラズマディ スプレイパネルの製造方法。
補正書の請求の範囲
[200 1年 1 0月 1 5日 (1 5. 1 0. 0 1 ) 国際事務局受理:出願当初の請求の
範囲 1は補正された;他の請求の範囲は変更なし。 ( 1頁) ]
請求の範囲
1. (補正後) 電子放出性物質を組成成分とする複数の柱状結晶 が基板から伸張されてなる電子放出性薄膜であって、
前記柱状桔晶の少なく とも一部において 1 、 その薄膜表面側における 露出端面が薄膜表面に対して傾いた一平坦面からなる
ことを特徴とする電子放出性薄膜。
2. 前記柱状結晶の平坦面は、 薄膜表面に対して 5〜 70 · 傾斜 していることを特徴とする請求項 1に記載の ¾子放出性薄膜。
3. 前記柱状結晶の平担面は、 ( 1 00)面と等価な結晶方位面で あることを特徴とする a?求項 1に記載の《子放出性薄膜。
4. 前記柱状結晶の伸張方向は、 結晶の 〈2 1 1 > 方向と等価な 方向に相当することを特徴とする 59求項 1に記載の電子放出性薄接。
5. 前記柱状結晶の幅は、 1 00〜 500 nmであることを特徴 とする蹐求項 1 に記載の電子放出性薄膜。 6. 前記柱状結晶は、 酸化マグネシウムから構成されることを特 徴とする請求項 1に記載の電子放出性薄膜。
7. 減圧雰囲気下において基板に薄膜となる組成の物質を蒸着さ せることにより基板上に電子放出性薄膜を形成する方法であって、 前記蒸着時において、 薄 Kとなる組成の物質が基板に対して入射する 角度が 30〜80· のみの範囲となるように蒸着させる
ことを特徴とする電子放出性薄膜の形成方法。
20
捕正された用紙 (条約第 19条)
PCT/JP2001/003938 2000-05-11 2001-05-11 Film mince a emission d'electrons, ecran a plasma comportant un tel film et procede de fabrication dudit film et dudit ecran WO2001086685A1 (fr)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/275,795 US7161297B2 (en) 2000-05-11 2001-05-11 Electron emission thin-film, plasma display panel comprising it and method of manufacturing them
AT01930063T ATE472168T1 (de) 2000-05-11 2001-05-11 Elektronenemissions-dünnfilm, plasma-display- tafel damit und verfahren zu ihrer herstellung
EP01930063A EP1298694B1 (en) 2000-05-11 2001-05-11 Electron emission thin film, plasma display panel comprising it and method of manufacturing them
DE60142436T DE60142436D1 (de) 2000-05-11 2001-05-11 Elektronenemissions-dünnfilm, plasma-display-tafel damit und verfahren zu ihrer herstellung
US11/604,625 US7911142B2 (en) 2000-05-11 2006-11-27 Electron emission thin-film, plasma display panel and methods for manufacturing

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000138644 2000-05-11
JP2000-138644 2000-11-05

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US11/604,625 Division US7911142B2 (en) 2000-05-11 2006-11-27 Electron emission thin-film, plasma display panel and methods for manufacturing

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2001086685A1 true WO2001086685A1 (fr) 2001-11-15

Family

ID=18646229

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2001/003938 WO2001086685A1 (fr) 2000-05-11 2001-05-11 Film mince a emission d'electrons, ecran a plasma comportant un tel film et procede de fabrication dudit film et dudit ecran

Country Status (8)

Country Link
US (2) US7161297B2 (ja)
EP (1) EP1298694B1 (ja)
KR (1) KR100769414B1 (ja)
CN (1) CN1253913C (ja)
AT (1) ATE472168T1 (ja)
DE (1) DE60142436D1 (ja)
TW (1) TW498382B (ja)
WO (1) WO2001086685A1 (ja)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001086685A1 (fr) * 2000-05-11 2001-11-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Film mince a emission d'electrons, ecran a plasma comportant un tel film et procede de fabrication dudit film et dudit ecran
US7348729B2 (en) * 2000-08-29 2008-03-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Plasma display panel and production method thereof and plasma display panel display unit
EP2369611A1 (en) * 2003-09-26 2011-09-28 Panasonic Corporation Plasma display and method of manufacturing same
WO2005041240A1 (ja) * 2003-09-26 2005-05-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. プラズマディスプレイパネル
KR100599704B1 (ko) * 2003-10-21 2006-07-12 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널
KR100570675B1 (ko) * 2003-10-21 2006-04-12 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널 보호막용 MgO 펠렛 및 이를이용한 플라즈마 디스플레이 패널
JP4541832B2 (ja) 2004-03-19 2010-09-08 パナソニック株式会社 プラズマディスプレイパネル
JP4541108B2 (ja) 2004-04-26 2010-09-08 パナソニック株式会社 プラズマディスプレイ装置
JP4636857B2 (ja) 2004-05-06 2011-02-23 パナソニック株式会社 プラズマディスプレイ装置
JP4481131B2 (ja) 2004-05-25 2010-06-16 パナソニック株式会社 プラズマディスプレイ装置
KR100615245B1 (ko) * 2004-08-20 2006-08-25 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널 보호막 및 그 제조방법
JP4650824B2 (ja) * 2004-09-10 2011-03-16 パナソニック株式会社 プラズマディスプレイパネル
JP4683547B2 (ja) * 2004-09-16 2011-05-18 パナソニック株式会社 プラズマディスプレイパネル
EP1640946A3 (en) * 2004-09-24 2008-05-14 Pioneer Corporation Plasma display apparatus
JP4870362B2 (ja) * 2005-01-19 2012-02-08 パナソニック株式会社 プラズマディスプレイ装置
JP4650829B2 (ja) * 2005-03-22 2011-03-16 パナソニック株式会社 プラズマディスプレイパネルおよびその製造方法
KR20070048017A (ko) * 2005-11-03 2007-05-08 엘지전자 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널의 보호막
KR20080043540A (ko) * 2006-11-14 2008-05-19 삼성에스디아이 주식회사 전자 방출 디바이스, 발광 장치 및 표시 장치
KR100889775B1 (ko) * 2007-06-07 2009-03-24 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널
KR20090017266A (ko) * 2007-08-14 2009-02-18 엘지전자 주식회사 MgO 보호막 및 이를 포함한 플라즈마 디스플레이 패널용상부패널
JP2009099436A (ja) * 2007-10-18 2009-05-07 Hitachi Ltd プラズマディスプレイパネルおよびその製造方法
CN102714121A (zh) * 2010-01-22 2012-10-03 松下电器产业株式会社 等离子体显示面板以及等离子体显示装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58155619A (ja) * 1982-02-18 1983-09-16 エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン 熱電子陰極およびその製造方法
JPH07335116A (ja) * 1994-06-14 1995-12-22 Toshiba Corp 電子放出素子
JPH08138531A (ja) * 1994-09-17 1996-05-31 Toppan Printing Co Ltd 電子放出素子及びその製造方法
JPH10125237A (ja) * 1995-12-15 1998-05-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd プラズマディスプレイパネル及びその製造方法
JPH10149760A (ja) * 1996-09-18 1998-06-02 Toshiba Corp 電界放出型冷陰極装置、その製造方法及び真空マイクロ装置
JPH11176325A (ja) * 1997-12-15 1999-07-02 Fujitsu Ltd プラズマディスプレイパネルの保護層及び保護層形成方法
JP2000123745A (ja) * 1998-10-20 2000-04-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd プラズマディスプレイパネル及びその製造方法
JP2001118518A (ja) * 1999-10-19 2001-04-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd プラズマディスプレイパネル及びその製造方法
JP2001135238A (ja) * 1999-11-02 2001-05-18 Display Kenkyusho:Kk Ac型プラズマディスプレイパネル

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58144619A (ja) 1982-02-23 1983-08-29 Toyota Motor Corp デイ−ゼル機関の微粒子トラツプ再生方法
IT1190721B (it) * 1982-03-09 1988-02-24 Lepetit Spa Derivati 3-azetidiniletil-1-fenil-2-imidazolidinici ad attivita' neurolettica,procedimento per la loro preparazione e loro impiego
JPS63205031A (ja) 1987-02-19 1988-08-24 Fujitsu Ltd ガス放電パネル
US5537000A (en) * 1994-04-29 1996-07-16 The Regents, University Of California Electroluminescent devices formed using semiconductor nanocrystals as an electron transport media and method of making such electroluminescent devices
US5903092A (en) * 1994-05-18 1999-05-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Device for emitting electrons
WO1996032520A1 (en) 1995-04-14 1996-10-17 Spectra-Physics Lasers, Inc. Method for producing dielectric coatings
KR100365444B1 (ko) 1996-09-18 2004-01-24 가부시끼가이샤 도시바 진공마이크로장치와이를이용한화상표시장치
JPH10330193A (ja) * 1997-03-31 1998-12-15 Nec Corp 酸化物超電導膜の製造方法
JP3425063B2 (ja) * 1997-06-09 2003-07-07 松下電器産業株式会社 プラズマディスプレイパネル及びその製造方法
CN1161815C (zh) * 1997-08-14 2004-08-11 松下电器产业株式会社 气体放电板及包括该气体放电板的显示装置
JP3906536B2 (ja) 1997-11-14 2007-04-18 松下電器産業株式会社 プラズマディスプレイパネルの製造方法
JP2000001771A (ja) * 1998-06-18 2000-01-07 Hitachi Ltd 誘電体保護層の製造方法とその製造装置、並びにそれを用いたプラズマディスプレイパネルと画像表示装置
WO2001086685A1 (fr) * 2000-05-11 2001-11-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Film mince a emission d'electrons, ecran a plasma comportant un tel film et procede de fabrication dudit film et dudit ecran
JP2002235238A (ja) 2001-02-07 2002-08-23 Negoro Sangyo Co 高性能な再生ポリエステル繊維及びその製造方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58155619A (ja) * 1982-02-18 1983-09-16 エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン 熱電子陰極およびその製造方法
JPH07335116A (ja) * 1994-06-14 1995-12-22 Toshiba Corp 電子放出素子
JPH08138531A (ja) * 1994-09-17 1996-05-31 Toppan Printing Co Ltd 電子放出素子及びその製造方法
JPH10125237A (ja) * 1995-12-15 1998-05-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd プラズマディスプレイパネル及びその製造方法
JPH10149760A (ja) * 1996-09-18 1998-06-02 Toshiba Corp 電界放出型冷陰極装置、その製造方法及び真空マイクロ装置
JPH11176325A (ja) * 1997-12-15 1999-07-02 Fujitsu Ltd プラズマディスプレイパネルの保護層及び保護層形成方法
JP2000123745A (ja) * 1998-10-20 2000-04-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd プラズマディスプレイパネル及びその製造方法
JP2001118518A (ja) * 1999-10-19 2001-04-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd プラズマディスプレイパネル及びその製造方法
JP2001135238A (ja) * 1999-11-02 2001-05-18 Display Kenkyusho:Kk Ac型プラズマディスプレイパネル

Also Published As

Publication number Publication date
EP1298694B1 (en) 2010-06-23
US7161297B2 (en) 2007-01-09
US7911142B2 (en) 2011-03-22
ATE472168T1 (de) 2010-07-15
TW498382B (en) 2002-08-11
KR20020094034A (ko) 2002-12-16
EP1298694A1 (en) 2003-04-02
US20040056594A1 (en) 2004-03-25
EP1298694A4 (en) 2007-06-06
CN1441957A (zh) 2003-09-10
CN1253913C (zh) 2006-04-26
US20070069649A1 (en) 2007-03-29
DE60142436D1 (de) 2010-08-05
KR100769414B1 (ko) 2007-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7911142B2 (en) Electron emission thin-film, plasma display panel and methods for manufacturing
EP2214193B1 (en) Plasma display panel
JP4532718B2 (ja) カーボンナノチューブを採用した2次電子増幅構造体及びこれを用いたプラズマ表示パネル及びバックライト
KR101153084B1 (ko) 플라즈마 디스플레이 패널 및 그 제조 방법
KR101056222B1 (ko) 플라즈마 디스플레이 패널
JP4468239B2 (ja) プラズマディスプレイパネル
JP3677571B2 (ja) プラズマディスプレイパネル及びその製造方法
JP3442059B2 (ja) 電子放出性薄膜およびこれを用いたプラズマディスプレイパネルならびにこれらの製造方法
US20100133974A1 (en) Plasma display panel
JP2003022755A (ja) プラズマディスプレイパネル用基板、その製造方法、その保護膜成膜装置、およびプラズマディスプレイパネル
JPH10302644A (ja) プラズマディスプレイパネル
US20070114669A1 (en) Plasma display panel
JP3007117B2 (ja) ガス放電表示装置およびその製造方法
EP2099049A1 (en) Method for manufacturing plasma display panel
JP2004247211A (ja) 厚膜シート電極の製造方法
JPH0877931A (ja) ガス放電パネルの保護膜及びその形成方法
JP2006139999A (ja) プラズマディスプレイパネル用保護膜およびその形成方法並びにプラズマディスプレイパネル
KR100814855B1 (ko) 산화 마그네슘 소결체, 및 이를 이용하여 제조된 플라즈마디스플레이 패널
US8058805B2 (en) Plasma display panel
KR100839423B1 (ko) 산화 마그네슘 소결체, 및 이를 이용하여 제조된 플라즈마디스플레이 패널
JPH10326563A (ja) プラズマディスプレイパネルの製造方法
JP2002304950A (ja) プラズマディスプレイパネルおよびその製造方法
JP2000011892A (ja) ガス放電型表示パネルおよびそれを用いた表示装置
US20070013310A1 (en) Plasma display panel and method of manufacturing the same
KR20070056655A (ko) 플라즈마 디스플레이 패널

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): CN KR US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE TR

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
DFPE Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1020027015081

Country of ref document: KR

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2001930063

Country of ref document: EP

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 1020027015081

Country of ref document: KR

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 018126871

Country of ref document: CN

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 2001930063

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 10275795

Country of ref document: US