TWI820546B - 試驗裝置、試驗方法及電腦可讀取記憶媒體 - Google Patents

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Abstract

本發明的問題是在使成為檢查對象的一對LED(發光二極體)的其中一方發光，並由另一方來接收光，而使用因光電效應而輸出之電流的電流值來檢查LED的光学特性的方法中，不能一併檢查複數個LED的光學特性。本發明的解決手段提供一種試驗裝置，具備：電連接部，其電連接至發光元件面板，該發光元件面板具有複數個單體，該等複數個單體被配列於行方向和列方向上且分別包含發光元件；光源部，其對複數個單體一併照射光；讀出部，其對發光元件面板的各行讀出電訊號，該電訊號是在被配列於列方向的2個以上之單體的各者中，光藉由發光元件經由光電轉換而成；測量部，其對自複數個單體的各者讀出的電訊號進行測量；及判定部，其基於測量部的測量結果，判定複數個單體的各者的良好與否。

Description

試驗裝置、試驗方法及電腦可讀取記憶媒體
本發明關於試驗裝置、試驗方法及電腦可讀取記憶媒體。
已知有一種對LED(發光二極體)的光學特性進行檢查的方法，是使成為檢查對象的一對LED的其中一方發光，並由另一方來接收光，而使用因光電效應而輸出之電流的電流值來進行檢查(例如參照專利文獻1、2)。
[先前技術文獻] (專利文獻)
專利文獻1：日本特表2019-507953號公報。
專利文獻2：日本特開2010-230568號公報。
然而，上述方法中需要依序使各LED發光來進行檢查，不能一併檢查複數個LED的光學特性。
本發明的一態樣中，提供一種試驗裝置。試驗裝置，可具備：電連接部，其電連接至發光元件面板，該發光元件面板具有複數個單體，該等複數個單體被配列於行方向和列方向上且分別包含發光元件。試驗裝置，可具備：光源部，其對複數個單體一併照射光。試驗裝置，可具備：讀出部，其對發光元件面板的各行讀出電訊號，該電訊號是在被配列於列方向的2個以上之單體的各者中，前述光藉由發光元件經由光電轉換而成。試驗裝置，可具備：測量部，其對自複數個單體的各者讀出的電訊號進行測量。試驗裝置，可具備：判定部，其基於測量部的測量結果，判定複數個單體的各者的良好與否。
讀出部，可在光被照射到發光元件的期間，自被配列於列方向的2個以上之單體的各者讀出電訊號。
判定部，可將複數個單體中，包含被測量到的電訊號在正常範圍外的至少1個發光元件之至少1個單體，判定成不良品。
判定部，可使用以統計量作為基準的範圍來作為正常範圍，該統計量對應於複數個發光元件分別輸出的電訊號。
判定部，可對發光元件的各個發光色使用不同的正常範圍。
在被配列於列方向的複數個單體中，彼此發出相同顏色的複數個同色的發光元件可互相連接。判定部，可 使用對彼此連接的複數個同色的發光元件加以測量之電訊號的平均電流量和標準差。
在被配列於列方向的複數個單體中，彼此發出相同顏色的複數個同色的發光元件可互相連接。判定部，可使用對複數個同色單元的各者加以測量之電訊號的平均電流量和標準差，該等複數個同色單元是將彼此連接的複數個同色的發光元件以2個以上的發光元件為單位加以劃分出的。
本發明的一態樣中，提供一種試驗方法。試驗方法，可具備：電連接階段，將電連接部電連接至發光元件面板，該發光元件面板具有複數個單體，該等複數個單體被配列於行方向和列方向上且分別包含發光元件。試驗方法，可具備：照射階段，對複數個單體一併照射光。試驗方法，可具備：讀出階段，對發光元件面板的各行讀出電訊號，該電訊號是在被配列於列方向的2個以上之單體的各者中，光藉由發光元件經由光電轉換而成。試驗方法，可具備：測量階段，對自複數個單體的各者讀出的電訊號進行測量。試驗方法，可具備：判定階段，基於測量階段的測量結果，判定複數個單體的各者的良好與否。
本發明的一態樣中，提供一種電腦可讀取記憶媒體，其記憶有程式，該程式由對發光元件面板進行試驗的試驗裝置所執行，該發光元件面板具有複數個單體，該等複數個單體分別包含發光元件，且該程式使試驗裝置執行上述試驗方法。
根據本發明，能夠一併檢查複數個LED的光學特性。
此外，上述發明內容並未列舉出本發明的全部必要特徵。又，該等特徵群的子組合也能成為發明。
10:LED
11:配線
11r:行線
11c:列線
12:單體
15:LED面板
20:基板
100:試驗裝置
110:電連接部
115:讀出部
116:行驅動部
117:列驅動部
120:光源部
121:光源
122:平行光
123:透鏡單元
124:濾光片保持部
125:溫度抑制濾光片
126:溫度控制部
130:測量部
140:控制部
145:存放部
150:載置部
160:遮蔽部
1200:電腦
1201:DVD-ROM
1210:主機控制器
1212:CPU
1214:RAM
1216:圖形控制器
1218:顯示設備
1220:輸入輸出控制器
1222:通訊介面
1224:硬碟驅動器
1226:DVD-ROM驅動器
1230:ROM
1240:輸入輸出晶片
1242:鍵盤
第1圖是表示對LED面板15進行試驗的試驗裝置100的概要之全體圖的一例。
第2圖是處於連接至試驗裝置100的狀態之LED面板15的側面圖之一例(A)和平面圖的一例(B)。
第3圖是用來說明LED面板15連接於試驗裝置100的狀態之說明圖的一例。
第4圖是說明由試驗裝置100來進行的試驗方法之流程的流程圖之一例。
第5圖表示是可將本發明的複數個態樣可全體或部分地具體化之電腦1200的一例的圖。
以下，透過發明的實施型態來說明本發明，但以下的實施方式並非限定申請專利範圍的發明。又，在發明的解決手段中並不一定需要實施型態中所說明的特徵的全部組合。此外，在圖式中針對相同或類似的部分有時會標註相同的參考符號並省略重複說明。
第1圖是表示對LED面板15進行試驗的試驗裝置100的概要之全體圖的一例。第2圖是處於連接至試驗裝置 100的狀態之LED面板15的側面圖之一例(A)和平面圖的一例(B)。又，第3圖是用來說明LED面板15連接於試驗裝置100的狀態之說明圖的一例。此外，本案說明書中定義為「電連接」的情況，是意指藉由接觸來電連接的情形，或是以非接觸的方式來電連接的情形。
在第1圖中表示成X軸、Z軸與Y軸彼此正交，其中X軸是以朝向紙面左方為+X方向，Z軸是以朝向紙面上方為+Z方向，Y軸是以朝向眼前突出紙面的方向為+Y方向。以後有時會使用該等3軸來進行說明。
本實施型態中LED面板15，如第2圖所示具備複數個單體(cell)12，該等單體12形成在設有配線11且具有大約方形外形的玻璃基底等的面板(PLP)上。複數個單體12，在LED面板15中，被配列在行方向(圖中X方向)和列方向(圖中Y方向)。各單體12，可對應於LED面板15的像素。此外，在第2圖中，為了圖示LED面板15的內部中的一部分LED 10和配線11，而以波浪線來區分LED面板15的一部分。又，在第3圖中，為了說明LED面板15連接至試驗裝置100的狀態，而圖示出LED面板15的內部中的LED 10和配線11。此外，第2圖和第3圖所示的LED 10等的構成僅為一例，亦可採用其他構成或數量。
複數個單體12的各者，具有1個或2個以上的LED 10。本實施型態中，各單體12如第2圖和第3圖中的虛線框所示，作為一例而具有與RGB(紅綠藍)3色對應的3個LED 10。
本實施型態中的LED面板15，作為一例是藉由被動矩陣驅動來加以驅動。LED面板15所具有的複數個LED 10，如第2圖所示，是以藉由配線11彼此電連接的狀態被配列在行方向和列方向。如第3圖所示，在各行中，被配列在行方向的數個LED 10的陽極電連接至與該行對應的行線11r。在各列中，被配列在列方向的數個LED 10的陰極電連接至與該列對應的列線11c。
此處，本實施型態中，在配列於列方向的複數個單體12中，有彼此發出相同顏色的複數個同色LED 10相互連接。在配列於列方向的複數個單體12中，紅色LED 10以1條列線11c相互連接。同樣的，在該等複數個單體12中，綠色LED 10以1條列線11c相互連接，藍色LED 10以1條列線11c相互連接。
本實施型態中的LED 10，是尺寸在100μm以下的微LED。此外，作為微LED的替代方案，LED 10亦可為尺寸大於100μm且在200μm以下的迷你LED，或是尺寸大於200μm的LED，另外亦可為LD(雷射二極體)等其他發光元件。例如，LED面板15，可為使用有機發光二極體來作為複數個LED 10的各者之有機顯示面板。
試驗裝置100，利用LED面板15中的各LED 10的光電效應，基於自被照射了光的LED 10所輸出的電訊號，對各自包含LED 10的複數個單體12的光學特性一併進行試驗。本實施型態中的試驗裝置100具備：基板20、電連接部110、光源部120、溫度控制部126、讀出部115、 測量部130、控制部140、存放部145、載置部150、遮蔽部160)。
基板20，對LED面板15加以保持。基板20，被載置於載置部150上。此外，試驗裝置100，亦可不具備基板20。
電連接部110，電連接至LED面板15。更具體而言，本實施型態中的電連接部110，電連接至各列的列線11c。作為一例，如第3圖所示，電連接部110在基板20上與LED面板15的一側面對向，並在LED面板15的該一側面中藉由接觸各列線11c的端子而進行電連接。藉此，電連接部110，經由該端子連接至各列線11c的一端，而電連接至複數個LED 10。
電連接部110，亦電連接至測量部130。電連接部110，如第3圖所示，被構成為使複數條列線11c的各者獨立並經由電連接部110連接至測量部130。
本實施型態中的電連接部110，是藉由與連接複數個LED 10的列線11c接觸來進行電連接，但亦可藉由例如電磁感應或近場無線通訊而以非接觸的方式進行電連接。
光源部120，對複數個單體12一併照射光。本實施型態中的光源部120，對複數個單體12的複數個LED 10照射複數個單體12的複數個LED 10的反應波長頻帶的光。本實施型態中的光源部120具有：光源121與透鏡單元123。
光源121，發出複數個LED 10的反應波長頻帶的光。光源121，例如可為如氙光源這樣發出廣波長頻帶之光的光源，亦可為如雷射光源這樣發出窄波長頻帶之光的光源。光源121，亦可包含波長彼此不同的複數個雷射光源。此外，當LED 10的反應波長與發光波長相異時，即便對LED 10照射該LED 10的發光波長的光，也會因為該相異性而不會適當進行光電轉換。
透鏡單元123，包含一或複數個透鏡，與光源121的照射部鄰接設置，且使自光源121照射出來的擴散光成為平行光122。在第1圖中，以斜線來表示平行光122。該平行光122在XY平面中的投影面，至少覆蓋LED面板15的複數個單體12。此外，在第2圖和第3圖中省略光源部120的圖示。
溫度控制部126，對複數個LED 10因為被光照射而昇溫的情形加以抑制。本實施型態中的溫度控制部126具有：溫度抑制濾光片125與濾光片保持部124。溫度抑制濾光片125具有高的光透過率，而將入射光的熱線加以吸收。濾光片保持部124，與透鏡單元123鄰接設置並保持溫度抑制濾光片125。此外，溫度控制部126亦可更具有冷卻器，該冷卻器對溫度抑制濾光片125所吸收的熱進行冷卻。
溫度控制部126，為了使複數個LED 10的溫度保持恆定，可代替該構成或在該構成之外更具有：對複數個LED 10的溫度進行調整的溫度施加裝置，或是朝向複 數個LED 10吹風的送風機構等。在使用送風機構的情況下，溫度控制部126亦可更具有：靜電除去部，其抑止複數個LED 10因為被送風機構吹風而帶有靜電的情形。靜電除去部，例如可為離子化器(ionizer)。上述溫度施加裝置，亦能夠以接觸LED面板15的態樣而設於基板20等。又，上述送風機構，亦能夠以不接觸LED面板15的態樣而設於載置部150的側面。此外，試驗裝置100亦可不具備溫度控制部126。此外，在第2圖和第3圖中省略溫度控制部126的圖示。
本實施型態中的讀出部115，具有行驅動部116和列驅動部117。行驅動部116，經由行線11r電連接至LED 10的陽極，列驅動部117，經由列線11c電連接至LED 10的陰極。
讀出部115，對LED面板15的各行讀出電訊號，該電訊號是在被配列於列方向的2個以上的單體12的各者之中，光藉由LED 10經過光電轉換而成的電訊號。本實施型態中的讀出部115，藉由將正值的基準電壓施加到成為要讀出電訊號的對象之單體12的3個LED 10所連接的1條行線11r，來讀出該3個LED 10對光進行光電轉換而輸出的電訊號，其中該基準電壓高於例如為接地電位的該3個LED 10所連接的3條列線11c的電位。此外，如第3圖所示，在該行線11r上亦連接有其他的複數個單體12。
本實施型態中的讀出部115，在光被照射到LED面板15的期間，自被配列在列方向的2個以上的單體12的 各者讀出電訊號。讀出部115，作為一例，在光源121對LED面板15的複數個單體12一併照射光的期間，自第3圖中的Y軸負側朝向Y軸正側，對複數條行線11r的各者依序施加該基準電壓，藉此自被配列在列方向的複數個單體12的各者讀出電訊號。在本實施型態中，自各LED 10流到列線11c的電訊號，經由電連接部110而被供給至測量部130。此外，第2圖中為了圖示讀出部115的內部中的配線11，而以波浪線來區分讀出部115的一部分。
測量部130，對自複數個單體12的各者讀出且經由電連接部110供給而來的電訊號進行測量。本實施型態中的測量部130，如第3圖所示，經由電連接部110而與複數條列線11c的各者連接，並個別測量自各列線11c供給而來之電流的電流值。此外，測量部130，亦可測量與該電流值對應的電壓值來代替該電流值。此外，在第2圖中省略測量部130的圖示。
控制部140，對試驗裝置100的各構成進行控制。本實施型態中的控制部140，藉由控制光源部120的光源121，來控制對複數個單體12一併照射的平行光122的照射時間、波長及強度。本實施型態中的控制部140，並藉由控制載置部150，而以使得經由基板20載置於載置部150上的LED面板15的至少複數個單體12能夠在遮蔽部160內接收到來自光源部120的光之方式，來驅動載置部150。此外，控制部140亦可藉由參照存放部145的參照資 料，來掌握遮蔽部160的空間內的位置座標，以及遮蔽部160與載置部150上的LED面板15的相對位置。
控制部140更控制讀出部115，使其針對LED面板15的各行，讀出來自被配列在列方向的2個以上的單體12的各者之電訊號。控制部140，更供給用來驅動讀出部115的行驅動部116和列驅動部117的電壓。
控制部140，更基於測量部130的測量結果，來判定複數個單體12的各者的良好與否。更具體而言，本實施型態中的控制部140，將複數個單體12中，包含被測量到的電訊號在正常範圍外的至少1個LED 10之至少1個單體12，判定成不良品。控制部140，藉由參照存放部145，來對上述說明過的試驗裝置100中的複數個構成進行時序控制。此外，控制部140，作為判定部的一例而發揮功能。此外，在第2圖中省略控制部140的圖示。
存放部145存放：測量結果、用來判定複數個單體12的各者的良好與否之參照資料、判定結果、用來移動載置部150之參照資料、用來控制試驗裝置100中的各構成之時序或程式。存放部145，是由控制部140來參照。此外，在第2圖中省略存放部145的圖示。
載置部150，載置有基板20，該基板20保持LED面板15。圖示的例子中的載置部150在平面視圖中有大約方形的外形，但亦可為其他外形。載置部150，具有真空卡盤、靜電卡盤等的保持功能，並對被載置的基板20加以保持。又，載置部150，藉由控制部140進行驅動控制，而 藉此在XY平面內進行二維移動且在Z軸方向昇降。此外，第1圖和第2圖(A)中省略載置部150的Z軸負方向的圖示。又，第1圖和第2圖中以空心箭頭表示載置部150的移動方向。在之後的圖中也是同樣表示。此外，試驗裝置100亦可不具備載置部150。此外，在第3圖中省略載置部150的圖示。
遮蔽部160，遮蔽來自光源部120的光以外的光。本實施型態中的遮蔽部160，表面被全部塗黑，防止光在表面散射。又，如第1圖所示，本實施型態中的遮蔽部160，被設置成與光源121的外周和LED面板15的外周的各者密接，藉由該構成遮蔽來自光源部120的光以外的光。此外，試驗裝置100亦可不具備遮蔽部160。此外，在第2圖和第3圖中省略遮蔽部160的圖示。
第4圖是說明由試驗裝置100來進行的試驗方法之流程的流程圖之一例。該流程是在保持有LED面板15的基板20被載置於載置部150上的狀態下，例如藉由使用者對試驗裝置100進行用來開始該LED面板15的試驗之輸入而開始。
試驗裝置100執行電連接階段，該電連接階段將電連接部110電連接至LED面板15(步驟S101)。作為具體的一例，試驗裝置100對搬運LED面板15的搬運裝置等輸出指令，來將LED面板15配置於基板20上，使得LED面板15在基板20上成為連接至讀出部115和電連接部110的狀態。
試驗裝置100執行照射階段，該照射階段對複數個單體12一併照射光(步驟S103)。作為具體的一例，控制部140對載置部150輸出指令，以使LED面板15與遮蔽部160密接的方式來移動載置部150，更對光源部120輸出指令，來使其將平行光122照射至LED面板15的複數個單體12。此外，本實施型態中是將平行光122一併照射至LED面板15的複數個單體12中所含的全部LED 10，但亦可每次依序照射全部LED 10中的一部分的LED 10的每個，來代替上述方法。
試驗裝置100執行讀出階段，該讀出階段對LED面板15的各行讀出電訊號，該電訊號是在被配列於列方向的2個以上的單體12的各者之中，光藉由LED 10經過光電轉換而成的電訊號(步驟S105)。作為具體的一例，控制部140對讀出部115發出指令，在光源121對LED面板15的複數個單體12一併照射光的期間，針對各行，以對應於讀出對象的行之行線11r作為基準電壓，將對應於讀出對象以外的行之行線11r設成與列線11c的電位相同的電壓或是更低的電壓，藉此依序讀出自被配列在列方向的複數個單體12的各者輸出到各列線11c上的電訊號。該基準電壓是正值電壓，且高於例如為接地電位的成為要讀出電訊號的對象之單體12所連接的列線11c的電位。當列線11c的電位是接地電位時，亦可將與非讀出對象的行對應之行線11r設成接地電位或負電壓。
試驗裝置100執行測量階段，該測量階段經由電連接部110來測量自複數個單體12的各者所讀出的電訊號(步驟S107)。作為具體一例，控制部140對測量部130發出指令，針對各行，對經由電連接部110而自各列線11c個別供給而來之電流的電流值進行測量，並將每個包含複數個LED 10的單體12之測量結果輸出至控制部140。控制部140，將複數個單體12的各測量結果存放至存放部145。此外，測量部130，針對各行，對於自各列線11c個別供給而來之電流的電流值，可一邊依序切換各列一邊個別進行測量，亦能夠以單體12為單位來進行測量。所謂以單體12為單位來進行測量，例如可一併測量自3條鄰接列線11c供給而來之電流的電流值，該等3條鄰接列線11c上連接有單體12中所含的發出RGB各色之3個LED 10。
試驗裝置100執行判定階段，該判定階段基於上述測量階段的測量結果，判定複數個單體12的各者的良好與否(步驟S109)，並結束該流程。作為具體的一例，控制部140參照存放部145的測量結果和參照資料，當存放有LED面板15的全部單體12的測量結果時，便基於該測量結果，判定複數個單體12的各者的良好與否。
本實施型態中的控制部140，如上述將複數個單體12中，包含被測量到的電訊號在正常範圍外的至少1個LED 10之至少1個單體12，判定成不良品。控制部140，可使用以統計量作為基準的範圍來作為該正常範圍，其中該統計量對應於複數個LED 10分別輸出的電訊號。作為 該統計量的一例，可使用該電訊號的平均值±1 σ以內的範圍，該平均值±2 σ以內的範圍或該平均值±3 σ以內的範圍。
更具體而言，控制部140，亦可對LED 10的各發光色使用不同的正常範圍。控制部140，亦可更使用對複數個同色LED 10測量到的電訊號的平均電流量和標準差，其中該等複數個同色LED 10是藉由各列線11c彼此連接。
在此情況下，控制部140，基於存放於存放部145中且自每個列線11c的同色LED 10流過之電流的電流值，或是基於對連接有同色LED 10的複數條列線11c所測量到的電流值，算出該平均值與標準差σ。又，當該電流值有複數個峰值時，亦可不使用標準差，而是使用可對應複數個峰值的統計處理來算出該電流值的統計量。
又，在使用平均和標準差的統計處理之外，亦可使用任意的統計處理，例如為了對應電訊號的統計值有複數個峰值或峰值偏離的情況，可使標準差的數學式有所不同，亦可採用其他演算法或演算法的組合，該等方法可根據LED 10的特性而分別使用。作為其他演算法的一例，可為GDNB(Good Die Bad Neighberhood，良品劣鄰法)、叢集偵測等。
此外，控制部140，作為上述平均電流值和標準差的替代方案，亦可使用對複數個同色單元的各者加以測量之電訊號的平均電流量和標準差，該等複數個同色單元 是將彼此連接的複數個同色的LED 10以2個以上的LED為單位加以劃分出的。
控制部140，當被選擇出的LED 10發出的光的亮度在正常範圍外時，可將該被選擇出的LED 10判定成不良品。控制部140，可使用以統計量作為基準的範圍，作為該正常範圍，該統計量對應於成為發光處理的對象之至少1個LED 10所發出之光的亮度。
作為根據本實施型態的試驗裝置100的試驗方法的比較例，例如可想到以下的LED的光學特性的試驗方法：依序使被配列於晶圓上的複數個LED逐個點亮，並藉由影像感測器、分光亮度計等接收光，且判斷是否正確發光。
當使用該比較例的試驗方法，來一併測量上述複數個LED的光學特性時，鄰接的複數個LED的各者所發出的光會彼此干涉，而不能正確找出光學特性相對惡化的不良LED，並且若要對廣範圍進行高精準度的影像識別，影像感測器等會變得非常昂貴。特別是要對複數個微LED進行試驗時，該問題變得顯著。
相對於此，若根據本實施型態的試驗裝置100，是將電連接部110電連接至LED面板15，對LED面板15具有的複數個單體12一併照射光，針對LED面板15的各行，讀出在被配列於列方向的2個以上單體12的各者中，光藉由LED 10經過光電轉換而成的電訊號。根據試驗裝置100，更測量自複數個單體12讀出的電訊號，並基於該 測量結果判定複數個單體12的各者的良好與否。藉此，試驗裝置100，不僅能夠藉由同時測量複數個單體12的電訊號而縮短處理時間，還能夠藉由使用在未受到其他單體12的光學特性之測量造成的影響之情形下所測量到的電訊號，來判定單體12的良好與否，而正確找出光學特性惡化的不良單體12。又，根據試驗裝置100，能夠輕易擴張同時測量的單體12的數量。
又，根據本實施型態的試驗裝置100，除了光源部120、溫度控制部126、讀出部115、基板20及遮蔽部160以外的其他構成，亦即電連接部110、測量部130、控制部140、存放部145及載置部150，能夠沿用在如LED面板15的光學設備以外的設備試驗中所使用的構成。
本發明的各種實施方式，可參照流程圖及方塊圖來記載，於此處，方塊可表示：(1)操作所執行之製程的階段、或(2)具有執行操作的作用之裝置的部件。特定的階段及部件，可藉由專用電路、與儲存於電腦可讀取媒體上之電腦可讀取指令一同供給之可程式電路、及/或與儲存於電腦可讀取媒體上之電腦可讀取指令一同供給之處理器來構裝。專用電路可包括數位及/或類比硬體電路，可包括積體電路(integrated circuits；IC)及/或分立電路(discreet circuit)。可程式電路可包括可重構之硬體電路，所述可重構之硬體電路包括：邏輯AND、邏輯OR、邏輯XOR、邏輯NAND、邏輯NOR、及其他邏輯操作；及，正反器(flip-flop)、電阻器、場可程式閘陣列(Field Programmable Gate Array；FPGA)及可程式邏輯陣列(programmable logic array；PLA)等之記憶體元件(memory elements)等。
電腦可讀取媒體可包含能夠儲存藉由適當設備所執行的指令之任意有形的元件(device)，其結果為，具有儲存於此處之指令之電腦可讀取媒體具備一產品，所述產品包括下述指令，所述指令可作成用於執行流程圖或方塊圖所指定的操作之手段並執行。作為電腦可讀取媒體的一例，可包括電子記憶媒體、磁記憶媒體、光記憶媒體、電磁記憶媒體及半導體記憶媒體等。作為電腦可讀取媒體的更具體的一例，亦可包括：軟性(註冊商標)磁碟(floppy disk)、磁片、硬碟、隨機存取記憶體(random-access memory；RAM)、唯讀記憶體(read-only memory；ROM)、可抹除可程式唯讀記憶體(erasable programmable read only memory；EPROM或快閃記憶體)、電子可抹除可程式唯讀記憶體(electrically erasable programmable read only memory；EEPROM)、靜態隨機存取記憶體(static random-access memory；SRAM)、光碟唯讀記憶體(compact disc read-only memory；CD-ROM)、數位多用途光碟(digital video disc；DVD)、藍光(RTM)磁碟、記憶棒(memory stick)、積體電路卡等。
電腦可讀取指令可包含一或複數個程式語言之任意組合所記述之原始碼或目標碼中的任一個，包括組譯器 指令、指令集架構(instruction set architecture；ISA)指令、機器指令、機器相關指令、微指令、韌體指令、狀態設定資料、或Smalltalk、JAVA(註冊商標)、C++等物件導向程式語言、及「C」程式語言或同樣的程式語言般之以往的程序型程式語言。
電腦可讀取指令可對通用電腦、特殊目的之電腦、或者其他可程式資料處理裝置之處理器、或可程式電路，於本地或經由區域網路(local area network；LAN)、網際網路等廣域網(wide area network；WAN)提供，執行電腦可讀取指令，以作成用於執行流程圖或方塊圖所指定之操作之手段。作為處理器的一例，包括電腦處理器、處理單元、微處理器、數位訊號處理器、控制器及微控制器等。
第5圖示出本發明的複數個態樣可全體或部分地具體化之電腦1200的一例。安裝於電腦1200之程式，可使電腦1200作為與本發明的實施方式的裝置相關聯的操作或該裝置的一或複數個「部分」發揮功能、或執行該操作或該一或複數個「部分」、及/或可使電腦1200執行本發明的實施方式的製程或該製程的階段。這些程式可藉由CPU 1212執行，以使電腦1200執行與本說明書所述之流程圖及方塊圖中的一些或全部方塊相關聯的特定操作。
依據本實施方式之電腦1200，包括CPU 1212、RAM 1214、圖形控制器(graphic controller)1216、及顯示設備1218，這些藉由主機控制器1210相互連接。 電腦1200進而包括通訊介面1222、硬碟驅動器(hard disk drive)1224、DVD-ROM驅動器1226、及IC卡驅動器般的輸入輸出單元，這些經由輸入輸出控制器1220連接至主機控制器1210。電腦進而包括ROM 1230及鍵盤1242般的傳統的輸入輸出單元，經由這些輸入輸出晶片1240連接至輸入輸出控制器1220。
CPU 1212依據儲存於ROM 1230及RAM 1214內之程式而動作，並藉此控制各單元。圖形控制器1216，於提供至RAM 1214內之碼框緩衝器等或該圖形控制器1216本身之中，獲得CPU 1212所生成之影像資料，並使影像資料顯示於顯示設備1218上。
通訊介面1222經由網路與其他電子設備進行通訊。硬碟驅動器1224儲存電腦1200內的CPU 1212所使用之程式及資料。DVD-ROM驅動器1226自DVD-ROM 1201讀取程式或資料，並經由RAM 1214將程式或資料提供至硬碟驅動器1224。IC卡驅動器自IC卡讀取程式及資料、及/或將程式及資料寫入IC卡。
ROM 1230，於內部儲存啟動時電腦1200所執行的啟動程式(boot program)等、及/或與電腦1200的硬體相關之程式。輸入輸出晶片1240進而可經由平行埠、串聯埠、鍵盤埠、及滑鼠埠等，將各種輸入輸出單元連接至輸入輸出控制器1220。
程式是藉由DVD-ROM 1201或IC卡般的電腦可讀取記憶媒體所提供。程式自電腦可讀取記憶媒體中讀 取出來，安裝於亦為電腦可讀取記憶媒體的一例之硬碟驅動器1224、RAM 1214、或ROM 1230中，並由CPU 1212所執行。這些程式內所述之資訊處理，被讀取至電腦1200，使程式與上述各種類型的硬體資源之間協作。裝置或方法可藉由隨著電腦1200的使用以實現資訊的操作或處理而構成。
例如，當在電腦1200及外部設備之間執行通訊時，CPU 1212可執行被載入至RAM 1214中的通訊程式，並基於通訊程式所記述之處理，對通訊介面1222指令通訊處理。通訊介面1222，於CPU 1212之控制下，讀取已儲存於RAM 1214、硬碟驅動器1224、DVD-ROM 1201、或IC卡般的記錄媒體內所提供的發送緩衝區域內之發送資料，並將所讀取的發送資料發送至網路、或將自網路上接收的接收資料寫入記錄媒體上所提供的接收緩衝區域等。
又，CPU 1212可對RAM 1214上的資料執行各種類型的處理，以使儲存於硬碟驅動器1224、DVD-ROM驅動器1226(DVD-ROM 1201)、IC卡等外部記錄媒體中之檔案或資料庫的全部或所需部分被讀取至RAM 1214。CPU 1212可繼而將處理後的資料回寫至外部記錄媒體。
各種類型的程式、資料、表格、及資料庫般的各種類型的資訊可儲存於記錄媒體，以進行資訊處理。CPU 1212可對自RAM 1214讀取出的資料，執行本揭示隨處 記載之各種類型的處理，包括程式的指令序列所指定之各種類型的操作、資訊處理、條件判斷、條件分岐、無條件分岐、資訊之檢索/替換等，並將結果回寫至RAM 1214。又，CPU 1212可檢索記錄媒體內的檔案、資料庫等之中的資訊。例如，當分別具有與第二屬性的屬性值相關聯的第一屬性的屬性值之複數個入口被儲存於記錄媒體內時，CPU 1212可自該複數個入口之中，檢索與指定第一屬性的屬性值的條件一致之入口，並讀取被儲存於該入口內之第二屬性的屬性值，藉此，獲得與滿足預定條件之第一屬性相關聯之第二屬性的屬性值。
以上所說明之程式或軟體模組，可儲存於電腦1200上或電腦1200附近的電腦可讀取記憶媒體。又，連接至專用通訊網路或網際網路上之伺服器系統內所提供之硬碟或RAM般的記錄媒體，可作為電腦可讀取記憶媒體來使用，藉此，經由網路將程式提供至電腦1200。
以上，使用實施方式來說明本發明，但是本發明的技術範圍並非限定於上述實施方式所述之範圍。該發明所屬之技術領域中具有通常知識者清楚，可對上述實施方式施加各種更改或改善。又，在技術上不矛盾的範圍內，可將針對特定的實施方式說明之事項，應用於其他實施方式。又，各構造要素，亦可具有與名稱相同且參照符號不同的其他構造要素同樣的特徵。由申請專利範圍的記載可了解，施加該種更改或改善的方式亦可包含於本發明的技術範圍。
應注意，申請專利範圍、說明書、及圖式中所示之裝置、系統、程式及方法中的動作、次序、步驟及階段等各處理的執行順序，只要未特別明示「在……之前」、「事先」等，並且，只要未將前一處理的輸出用於後續處理，能以任意的順序實現。關於申請專利範圍、說明書及圖式中的動作流程，即便為方便起見而使用「首先，」、「繼而，」等加以說明，並非意指必須以該順序實施。
15:LED面板
20:基板
100:試驗裝置
110:電連接部
115:讀出部
120:光源部
121:光源
122:平行光
123:透鏡單元
124:濾光片保持部
125:溫度抑制濾光片
126:溫度控制部
130:測量部
140:控制部
145:存放部
150:載置部
160:遮蔽部

Claims (9)

  1. 一種試驗裝置，具備：電連接部，其電連接至發光元件面板中的各個發光元件，該發光元件面板具有複數個單體，該等複數個單體被配列於行方向和列方向上且分別包含發光元件；光源部，其對全部的前述複數個單體一併照射光；讀出部，其對前述發光元件面板的各行讀出電訊號，該電訊號是在被配列於前述列方向的2個以上之前述單體的各者中，藉由前述發光元件對前述光進行光電轉換而得到；測量部，其對自前述複數個單體的各者讀出的電訊號進行測量；及判定部，其基於前述測量部的測量結果，判定前述複數個單體的各者的良好與否；並且，前述發光元件為發光二極體。
  2. 如請求項1所述之試驗裝置，其中：前述讀出部，在前述光被照射到前述發光元件的期間，自被配列於前述列方向的前述2個以上之單體的各者讀出電訊號。
  3. 如請求項1或2所述之試驗裝置，其中：前述判定部，將前述複數個單體中，包含被測量到的前述電訊號在正常範圍外的至少1個發光元件之至少1個單體，判定成不良品。
  4. 如請求項3所述之試驗裝置，其中： 前述判定部，使用以統計量作為基準的範圍來作為前述正常範圍，該統計量對應於複數個前述發光元件分別輸出的前述電訊號。
  5. 如請求項4所述之試驗裝置，其中：前述判定部，對前述發光元件的各個發光色使用不同的前述正常範圍。
  6. 如請求項5所述之試驗裝置，其中：在被配列於前述列方向的前述複數個單體中，彼此發出相同顏色的複數個同色的發光元件互相連接；前述判定部，使用對彼此連接的前述複數個同色的發光元件加以測量之前述電訊號的平均電流量和標準差。
  7. 如請求項5所述之試驗裝置，其中：在被配列於前述列方向的前述複數個單體中，彼此發出相同顏色的複數個同色的發光元件互相連接；前述判定部，使用對複數個同色單元的各者加以測量之前述電訊號的平均電流量和標準差，該等複數個同色單元是將彼此連接的前述複數個同色的發光元件以2個以上的發光元件為單位加以劃分出的。
  8. 一種試驗方法，具備以下階段：電連接階段，將電連接部電連接至發光元件面板中的各個發光元件，該發光元件面板具有複數個單體，該等複數個單體被配列於行方向和列方向上且分別包含發光元件；照射階段，對全部的前述複數個單體一併照射光； 讀出階段，對前述發光元件面板的各行讀出電訊號，該電訊號是在被配列於前述列方向的2個以上之前述單體的各者中，藉由前述發光元件對前述光進行光電轉換而得到；測量階段，對自前述複數個單體的各者讀出的電訊號進行測量；及判定階段，基於前述測量階段的測量結果，判定前述複數個單體的各者的良好與否；並且，前述發光元件為發光二極體。
  9. 一種電腦可讀取記憶媒體，其記憶有程式，該程式由對發光元件面板進行試驗的試驗裝置所執行，該發光元件面板具有複數個單體，該等複數個單體分別包含發光元件，且該程式使前述試驗裝置執行請求項8所述的試驗方法。
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