TW201528867A - Led測試方法及系統 - Google Patents

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TW201528867A
TW201528867A TW102144903A TW102144903A TW201528867A TW 201528867 A TW201528867 A TW 201528867A TW 102144903 A TW102144903 A TW 102144903A TW 102144903 A TW102144903 A TW 102144903A TW 201528867 A TW201528867 A TW 201528867A
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Taiwan
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led
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TW102144903A
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Bi-Hui Tan
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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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Abstract

一種LED測試方法，包括以下步驟：連接一測試裝置與一待測LED；連接一感應器至所述測試裝置上；吸附所述感應器之一探測頭至所述待測LED上；感應所述待測LED之狀態；根據所述感應器感應到之待測LED之狀態來分析所述待測LED是否正常。本發明還進一步提供了一種LED測試系統。

Description

LED測試方法及系統
本發明涉及一種方法及系統，特別是指一種用於測試LED之測試方法及系統。
市場上兜售之產品於進入市場之前，均會對其進行大量之測試，以保障產品之品質。如，一LED，於進入市場前，測試人員藉由會將LED插接於一電路板上，然後根據LED閃爍或正常亮燈之情況來認為之判斷所述LED是否正常。然而，人為之判斷使得測試結果往往不夠準確，且人為之判斷效率低下，人力成本亦極其高。
鑒於以上內容，有必要提供一種可方便測試LED之測試方法及系統。
一種LED測試方法，包括以下步驟：連接一測試裝置與一待測LED；連接一感應器至所述測試裝置上；吸附所述感應器之一探測頭至所述待測LED上；感應所述待測LED之狀態；根據所述感應器感應到之待測LED之狀態來分析所述待測LED是否正常。
一種LED測試系統，包括：一測試裝置與一待測LED連接；一感應器與所述測試裝置連接；所述感應器之一探測頭吸附至所述待測LED上；所述感應器感應所述待測LED之狀態；所述測試裝置中之一分析模組根據所述感應器感應到之待測LED之狀態來分析所述待測LED是否正常。
相較於習知技術，於上述LED測試方法及LED測試系統中，所述感應器感應到所述待測LED之狀態後將其發送至測試裝置之分析模組中，所述分析模組即可分析出所述待測LED是否正常。無需人工對待測LED進行判斷，方便快捷又節約成本。
圖1是本發明LED測試系統之一較佳實施方式之一結構示意圖。
圖2是本發明LED測試方法之一較佳實施方式之一流程圖。
請參閱圖1-2，於本發明之一較佳實施方式中，一LED測試系統包括一複數待測LED 10（圖中僅示一個）、一感應器20、及一測試裝置30。每一待測LED 10藉由一第一連接器40連接所述測試裝置30。於一實施方式中，所述測試裝置30亦可為一單片機及一顯示器之組合，所述待測LED 10可藉由所述連接器40插接於所述單片機上。
所述感應器20包括有一吸附於所述待測LED 10之探測頭21。於一實施方式中，所述感應器20與所述測試裝置30連接，即，所述感應器20藉由一第二連接器50插接於所述測試裝置30之單片機上。所述感應器20用於感應所述待測LED 10之狀態，並將所述待測LED 10之狀態發送至所述待測裝置30。於一實施方式中，所述感應器20為一光敏感應器。
所述測試裝置30包括有一接收模組31、一存儲模組32、一分析模組33、一記錄模組34、及一顯示模組35。所述接收模組31用於接收所述感應器20感應到之待測LED 10之狀態資訊，並於接收到該狀態資訊後發送至所述分析模組33。所述存儲模組32內存儲有所述待測LED之一預設閃爍次數值。所述分析模組33用於分析所述待測LED 10之狀態資訊。所述狀態資訊可為待測LED 10閃爍或待測LED 10常亮。所述記錄模組34用在於所述待測LED 10閃爍時記錄所述待測LED 10閃爍之次數。所述分析模組33用在於所述記錄模組記錄到之待測LED 10閃爍之次數超過所述存儲模組32存儲之預設閃爍次數值時分析出所述待測LED 10不正常。所述分析模組33還用在於所述待測LED 10為常亮時分析出所述待測LED 10正常，所述記錄模組34於所述待測LED 10正常時記錄所述待測LED 10之波長資訊。所述顯示模組35用於顯示所述待測LED 10之測試結果。即，於所述LED 10不正常時顯示不正常；於所述LED 10正常時顯示正常，並同時顯示正常之待測LED 10之波長資訊。
請參閱圖3，圖3是本發明LED測試方法之一較佳實施方式之流程圖。所述方法包括以下步驟：
S1：將所述預設閃爍次數值存入所述測試裝置30之存儲模組32中。
S2：連接所述待測LED 10與所述測試裝置30，並將所述感應器20吸附於所述待測LED 10上。
S3：開啟待測LED 10，所述感應器20感應所述待測LED 10之狀態，並將其發送至所述測試裝置30之接收模組31中。
S4：所述接收模組31將其所述待測LED 10之狀態資訊發送至記錄模組34與所述分析模組33中，而由所述分析模組33分析所述待測LED 10是否正常，當所述待測LED 10閃爍時則進行步驟S5；當所述待測LED 10正常時則進行步驟S6。
S5：當所述待測LED 10閃爍時，所述記錄模組34記錄所述待測LED 10閃爍之次數，並將其發送至所述分析模組33，所述分析模組33於所述述記錄模組記錄到之待測LED 10閃爍之次數超過所述存儲模組32存儲之預設閃爍次數值時分析出所述待測LED 10不正常，所述顯示模組35顯示所述待測LED 10不正常。
S6：當所述待測LED 10正常時，所述分析模組33分析出所述待測LED 10正常，同時所述記錄模組34於所述待測LED 10正常時記錄所述待測LED 10之波長資訊。所述顯示模組35顯示待測LED 10正常，並同時顯示正常之待測LED 10之波長資訊。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之請求項。舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下請求項內。
10‧‧‧待測LED
20‧‧‧感應器
21‧‧‧探測頭
30‧‧‧測試裝置
31‧‧‧接收模組
32‧‧‧存儲模組
33‧‧‧分析模組
34‧‧‧記錄模組
35‧‧‧顯示模組
40‧‧‧第一連接器
50‧‧‧第二連接器
無

Claims (10)

  1. 一種LED測試方法，包括以下步驟：
    連接一測試裝置與一待測LED；
    連接一感應器至所述測試裝置上；
    吸附所述感應器之一探測頭至所述待測LED上；
    感應所述待測LED之狀態；
    根據所述感應器感應到之待測LED之狀態來分析所述待測LED是否正常。
  2. 如請求項第1項所述之LED測試方法，其中所述測試裝置與所述待測LED藉由一連接器連接。
  3. 如請求項第1項所述之LED測試方法，其中所述感應器為一光敏感應器。
  4. 如請求項第1項所述之LED測試方法，其中於步驟根據所述感應器感應到之待測LED之狀態來分析所述待測LED是否正常之後，還包括步驟：根據所述感應器感應到之待測LED之狀態為閃爍時記錄待測LED閃爍之次數，並於記錄到之待測LED閃爍之次數超過一預設閃爍次數值時分析出所述待測LED不正常。
  5. 如請求項第4項所述之LED測試系統，其中步驟根據所述感應器感應到之待測LED之狀態來分析所述待測LED是否正常之後，還包括步驟：根據所述感應器感應到之待測LED之狀態為常亮時分析出所述待測LED正常，並於所述待測LED正常時記錄所述待測LED之波長資訊。
  6. 一種LED測試系統，包括：
    一測試裝置與一待測LED連接；
    一感應器與所述測試裝置連接；
    所述感應器之一探測頭吸附至所述待測LED上；所述感應器感應所述待測LED之狀態；
    所述測試裝置中之一分析模組根據所述感應器感應到之待測LED之狀態來分析所述待測LED是否正常。
  7. 如請求項第6項所述之LED測試系統，其中所述測試裝置與所述待測LED藉由一連接器連接。
  8. 如請求項第6項所述之LED測試系統，其中所述感應器為一光敏感應器。
  9. 如請求項第6項所述之LED測試系統，其中所述測試裝置中之一記錄模組根據所述感應器感應到之待測LED之狀態為閃爍時記錄待測LED閃爍之次數，所述分析模組於所述記錄模組記錄到之待測LED閃爍之次數超過一預設閃爍次數值時分析出所述待測LED不正常。
  10. 如請求項第9項所述之LED測試系統，其中所述分析模組根據所述感應器感應到之待測LED之狀態為常亮時分析出所述待測LED正常，所述記錄模組於所述分析模組分析出所述待測LED正常時記錄所述待測LED之波長資訊。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11788885B2 (en) 2021-02-26 2023-10-17 Advantest Corporation Test apparatus, test method, and computer-readable storage medium
US11800619B2 (en) 2021-01-21 2023-10-24 Advantest Corporation Test apparatus, test method, and computer-readable storage medium

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