TWI665449B - 測試探針以及支撐該測試探針的測試插座 - Google Patents

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Abstract

本發明揭露一種測試探針，用於包括具有彎曲表面的桶 狀接觸端子的物件。所述測試探針包括：第一接觸構件，被配置成包括接觸部分以及延伸部分，所述接觸部分具有一對排列成「V」形且分別在彼此間隔開的點處與所述待測試接觸端子接觸的接觸表面，且所述延伸部分自所述接觸部分沿縱向方向向後一體延伸。因此，所述測試探針能有效地與待測試物件(例如，用於智慧型電話的超小型照相機模組)的部分彎曲桶形狀接觸端子接觸。

Description

測試探針以及支撐該測試探針的測試插座
本發明是有關於一種測試探針以及使用該測試探針的測試插座，所述測試探針對具有待測試彎曲端子的物件(如應用於例如智慧型電話等小型行動裝置的超小型照相機模組)進行檢查。
照相機模組10包括待測試接觸端子12，所述待測試接觸端子12具有如圖9所示的部分彎曲的桶形狀。在照相機模組10中，待測試的接觸端子12是藉由將金屬條彎曲成部分彎曲的桶形式而形成。為測試照相機模組10，一般彈簧引腳20的活塞22與待測試接觸端子12接觸。彈簧引腳20的活塞22包括單個或多個尖端24以在測試期間指向鉛塊端子。在測試期間，活塞22的尖銳尖端24與待測試的部分彎曲的桶狀接觸端子12接觸。
在照相機模組10中，待測試接觸端子12通常是由與鉛塊端子不同的剛性金屬製成。因此，活塞22的尖端24在與待測試的凸出接觸端子12接觸時會滑動。此種滑動會導致接觸誤差並因此造成測試誤差。除此之外，各種公差、對準誤差等亦會導致更多的測試誤差。此外，諸多重複的測試可導致雜質轉移，且因 此可將正常的照相機模組判斷為存在缺陷的照相機模組。探針與照相機模組的端子之間的此種不穩定的接觸導致設備停運、清潔工作、測試誤差等，藉此對大量生產良率產生不利影響。
設想本發明來解決上述問題，且本發明的一個態樣是提供一種適用於對具有待測試的部分彎曲桶狀接觸端子的照相機模組或類似物件進行穩定檢查的測試探針及測試插座。
根據本發明的實施例，提供一種用於包括具有待測試彎曲表面的接觸端子的物件的測試探針。所述測試探針包括：第一接觸構件，被配置成包括接觸部分以及延伸部分，所述接觸部分具有一對排列成「V」形且分別在彼此間隔開的點處與所述待測試接觸端子接觸的接觸表面，且所述延伸部分自所述接觸部分沿縱向方向向後一體延伸。因此，測試探針在環繞並接觸待測試的彎曲桶狀端子的同時在兩個點處接觸，因此不僅可避免接觸誤差，而且可防止接觸電阻因由異物導致的污染而增大。
所述測試探針可更包括：第二接觸構件，被配置成與測試電路的接觸點接觸；以及彈性體，排列在所述第一接觸構件與所述第二接觸構件之間，且使所述第一接觸構件與所述第二接觸構件中的至少一者彈性偏置。
所述測試探針可更包括：探針，所述探針包括：第二接觸構件，被配置成與測試電路的接觸點接觸；第三接觸構件，被配置成與所述第一接觸構件的下端接觸；以及彈性體，排列在所 述第二接觸構件與所述第三接觸構件之間，且使所述第二接觸構件與所述第三接觸構件中的至少一者彈性偏置。
根據本發明的實施例，提供一種支撐測試探針的測試插座，所述測試探針用於包括具有待測試彎曲表面的接觸端子的物件，所述探針插座包括：接觸構件支撐體，被配置成支撐第一接觸構件，所述第一接觸構件包括一對排列成「V」形且分別在彼此間隔開的點處與所述待測試接觸端子接觸的接觸表面；以及探針支撐體，被配置成支撐探針，所述探針包括：第二接觸構件，被配置成與測試電路的接觸點接觸；第三接觸構件，被配置成與所述第一接觸構件的下端接觸；以及彈性體，排列在所述第二接觸構件與所述第三接觸構件之間，且使所述第二接觸構件與所述第三接觸構件中的至少一者彈性偏置。
所述接觸構件支撐體可可拆卸地支撐在所述探針支撐體上，藉此有效地處理例如污染、清潔、測試誤差等所需的維護等工作。
1‧‧‧測試插座/探針插座
10‧‧‧照相機模組/待測試物件
12‧‧‧端子
20‧‧‧彈簧引腳
22‧‧‧活塞
24‧‧‧尖端
100‧‧‧接觸構件支撐體
110‧‧‧接觸構件
111‧‧‧接觸部分
112‧‧‧接觸表面
113‧‧‧延伸部分
114‧‧‧接觸表面
115‧‧‧第一板部分
116‧‧‧第二板部分
120‧‧‧第一接觸構件支撐體
122‧‧‧第一開口
130‧‧‧第二接觸構件支撐體
132‧‧‧第二開口
200‧‧‧探針/第一探針
210‧‧‧第一活塞
210’‧‧‧第一活塞
211‧‧‧接觸部分
212‧‧‧接觸表面
213‧‧‧擴大部分
214‧‧‧接觸表面
215‧‧‧第一板部分
216‧‧‧延伸部分
220‧‧‧桶
230‧‧‧第二活塞
240‧‧‧彈簧
300‧‧‧殼體
302‧‧‧第一容置部分
320‧‧‧彈簧
330‧‧‧第三開口
400‧‧‧探針支撐體
410‧‧‧耦合引腳
430‧‧‧第四開口
510‧‧‧接觸構件
511‧‧‧主體
512‧‧‧凸緣
513‧‧‧第二板部分
514‧‧‧第一板部分
515‧‧‧平坦部分
516‧‧‧接觸表面
610‧‧‧接觸構件
611‧‧‧主體
612‧‧‧凸緣
613‧‧‧第二板部分
614‧‧‧第一板部分
616‧‧‧接觸表面
710‧‧‧接觸構件
711‧‧‧主體
712‧‧‧凸緣
713‧‧‧第二板部分
714‧‧‧第一板部分
716‧‧‧接觸表面
800‧‧‧第二探針
P1‧‧‧點
P2‧‧‧點
圖1是根據本發明實施例的測試插座的立體圖。
圖2是根據本發明實施例的測試插座的立體分解圖。
圖3是根據本發明實施例的測試插座的局部剖視圖。
圖4是根據本發明另一實施例的測試插座的局部剖視圖。
圖5至圖7是接觸構件的各種形狀的立體圖。
圖8是根據本發明另一實施例的測試插座的局部剖視圖。
圖9是傳統測試探針插座的局部剖視圖。
以下，將參照附圖來闡述本發明的實施例。
圖1至圖3是根據本發明實施例的測試插座1的立體圖、立體分解圖以及局部剖視圖。如圖所示，探針插座1包括：接觸構件支撐體100，容置並支撐多個接觸構件110；殼體300，容置並支撐待浮置的接觸構件支撐體100；以及探針支撐體400，容置並支撐在殼體300的下部中並支撐排列在與多個接觸構件110對應的位置處的多個探針200。
待測試物件10(例如，照相機模組)包括待測試端子12，且端子12被成型為類似於藉由將金屬板部分彎曲成「U」形而形成的桶。
如圖1及圖3所示，接觸構件110包括：接觸部分111，具有一對排列成「V」形的接觸表面112及114；以及延伸部分113，自接觸部分111向後沿徑向擴張及延伸。在接收並接觸被成型為類似於例如以「U」形部分彎曲的桶的待測試的端子12的同時，所述一對接觸表面112及114在分隔開的點P1及P2處與端子12接觸。結果，即使對準容差或公差導致兩個接觸點P1與P2的位置誤差，亦能夠可靠地達成接觸構件110與待測試端子12之間的接觸。此外，即使例如錫等異物藉由重複的測試而被轉移至接觸表面112及114，在接觸期間所轉移的異物亦不會累積在接觸點P1及P2處，而是沿傾斜的表面向下移動至V形槽並累積在所述 V形槽內。接觸構件110可為探針的活塞本身。通常，待測試物件10包括以極窄的節距排列的多個端子。因此，接觸部分111包括：第一板部分115，考量到待測試的多個端子12的節距而被形成為具有窄的寬度；以及第二板部分116，具有大於第一板部分115的寬度以提高強度。接觸構件110可被製造成類似於整體具有相同厚度的板。然而，接觸構件110的強度及耐用性低，因此其一部分被製造成足夠長以避免與相鄰的待測試端子接觸的第一板部分115，且其另一部分被製造成較第一板部分115寬的第二板部分116或延伸部分113。
接觸構件支撐體100包括：第一接觸構件支撐體120，接觸部分111插入其中並自其中部分地突出；以及第二接觸構件支撐體130，排列在第一接觸構件支撐體120之下。第一接觸構件支撐體120包括第一開口122，接觸部分111經由第一開口122插入。第二接觸構件支撐體130包括第二開口132，延伸部分113經由第二開口132插入。接觸構件支撐體100由四個彈簧320支撐以浮置在殼體300的第一容置部分302內。第一接觸構件支撐體120及第二接觸構件支撐體130可被製造為一體。
殼體300形成有：第一容置部分302，用於在上側容置接觸構件支撐體100；以及第二容置部分，用於在下側容置探針支撐體400。在第一容置部分302與第二容置部分之間，排列有第三開口330以容置稍後將闡述的探針200的第一活塞210。
探針200包括：桶220，具有圓柱形；第一活塞210，具 有部分容置在桶220的第一側中的第一端、以及與接觸構件110的下端接觸的第二端；第二活塞230，部分插入在桶220的第二側中；以及彈簧240，在桶220內夾置在第一活塞210與第二活塞230之間，並沿一定方向偏置第一活塞210及第二活塞230以使其遠離彼此舒展。
探針支撐體400固定地插入在設置於殼體300的底部上的第二容置部分(圖中未示出)中，且具有用於容置探針200的第四開口430以使得第二活塞230可部分向外突出。探針支撐體400藉由耦合引腳410耦合至殼體300的下部。
如圖2所示，用於支撐接觸構件110的接觸構件支撐體100可拆卸地插入並支撐在殼體300的第一容置部分302中。結果，若發現接觸構件110存在缺陷或達到其壽命末期，則可輕易地僅替換接觸構件110而不包括探針200。
圖3示出待測試物件10被按壓進行測試且彈簧240被壓縮。若測試完成且停止對待測試物件10的按壓，則彈簧240驅使第一活塞210向上突出並向上推動接觸構件110。結果，在測試結束時，接觸構件110的接觸部分111自第一接觸構件支撐體120暴露至外部。
圖4是根據本發明另一實施例的探針插座1的局部剖視圖。如圖所示，第一活塞210’部分地插入在桶220的第一側中。第一活塞210’包括：接觸部分211，具有呈「V」形的一對接觸表面212及214；以及擴大部分213，自接觸部分211擴大及延伸。 所述一對接觸表面212及214在接收待測試的部分彎曲的桶狀端子12的同時與分隔開的點P1及P2接觸。接觸部分211包括：第一板部分215，考量到待測試的多個端子12的節距而被形成為具有窄的寬度；以及延伸部分216，沿徑向擴大並自第一板部分215向後延伸以提高強度。第一活塞210’可被製造成整體具有相同厚度的板。但期望將第一板部分215製造成具有足以避免與相鄰的待測試端子接觸的窄的寬度的板，並為了強度及耐用性目的將延伸部分216製造成自第一板部分215沿徑向擴大的圓棒。第二活塞230部分插入在桶220的第二側中。第二活塞230與測試電路的墊端子(圖中未示出)接觸。在桶220內，彈簧240夾置在第一活塞210’與第二活塞230之間。彈簧240彈性偏置第一活塞210’及第二活塞230以使所述兩者移動遠離彼此。
圖5示出根據本發明第二實施例的接觸構件510。接觸構件510單獨製造在探針200的邊線上並接觸如圖3所示探針200的第一活塞210。接觸構件510可用作如圖4所示的第一活塞210’的一部分。接觸構件510包括主體511、自主體511沿徑向延伸的凸緣512、具有呈「V」形的接觸表面516的第一板部分514、以及設置在第一板部分514與主體511之間且寬於第一板部分514的第二板部分513。主體511具有圓柱形狀，且包括在縱向上具有平坦表面的至少一個平坦部分515。在排列多個接觸構件510時，平坦部分515用以使多個第一板部分514規則地平行排列。第一板部分514形成為具有窄的寬度的板狀，以避免窄節距的相鄰待 測試端子12之間的干擾。
可省略凸緣512。主體511可由第二板部分513替換。同樣，第二板部分513可由第一板部分514替換。亦即，第一板部分514可自凸緣512或主體511直接延伸。由於具有窄的寬度的第一板部分514可因其長度增加而在耐用性方面劣化或發生形變，因此第一板部分514可有效地僅應用至寬節距的待測試端子。
圖6示出根據本發明第三實施例的接觸構件610。在此實施例中，接觸構件610單獨製造在探針200的邊線上並接觸如圖3所示探針200的第一活塞210。接觸構件610可用作如圖4所示的第一活塞210’的一部分。接觸構件610包括具有圓柱形狀的主體611、自主體611沿徑向延伸的凸緣612、具有呈「V」形的接觸表面616的第一板部分614、以及設置在第一板部分614與主體611之間且寬於第一板部分614的第二板部分613。
凸緣612自主體611沿徑向延伸並彼此相對。凸緣612具有矩形桿。在排列多個接觸構件610時，凸緣612用以使多個第一板部分614規則地平行排列。第一板部分614形成為具有窄的寬度的板狀，以避免窄節距的相鄰待測試端子12之間的干擾。
圖7示出根據本發明第四實施例的接觸構件。在本實施例中，接觸構件710單獨製造在探針200的邊線上並接觸如圖3所示探針200的第一活塞210。接觸構件710可用作如圖4所示的第一活塞210’的一部分。接觸構件710包括具有矩形桿狀的主體711、自主體711擴大的凸緣712、具有呈「V」形的接觸表面716 的第一板部分714、以及設置在第一板部分714與主體711之間且寬於第一板部分714的第二板部分713。
凸緣712自主體711擴大並彼此相對。凸緣712具有矩形桿。在排列多個接觸構件710時，凸緣712用以使多個第一板部分714規則地平行排列。第一板部分714形成為具有窄的寬度的板狀，以避免窄節距的相鄰待測試端子12之間的干擾。
圖8是根據本發明另一實施例的測試插座的局部剖視圖。如圖所示，除用於接觸待測試端子12的部分彎曲的桶狀部分的第一探針200及接觸構件110以外，亦提供用於接觸待測試端子12的平坦部分的第二探針800。第二探針800可以彈簧引腳的形式達成，對此無限制。如此，接觸構件110、第一探針200及第二探針800皆可用以提高測試的可靠性。
儘管已示出並闡述了若干示例性實施例，但熟習此項技術者將理解，在不背離本發明的原則及精神的條件下，可在該些示例性實施例中作出各種變化。
因此，本發明的範圍不應受限於上述示例性實施例，而應在隨附申請專利範圍及其等效範圍中進行界定。

Claims (5)

  1. 一種測試探針，用於包括具有彎曲表面的接觸端子的物件，所述測試探針包括：第一接觸構件，被配置成包括接觸部分以及延伸部分，所述接觸部分具有一對排列成V形且分別在彼此間隔開的點處與所述接觸端子接觸的接觸表面，且所述延伸部分自所述接觸部分沿縱向方向向後一體延伸；其中所述延伸部分包括沿所述縱向方向的平坦表面；其中所述接觸端子被所述接觸表面容納並接觸所述一對接觸表面，而不與所述接觸部分的尖端接觸。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的測試探針，更包括：第二接觸構件，被配置成與測試電路的接觸點接觸；以及彈性體，排列在所述第一接觸構件與所述第二接觸構件之間，且使所述第一接觸構件與所述第二接觸構件中的至少一者彈性偏置。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的測試探針，更包括探針，所述探針包括：第二接觸構件，被配置成與測試電路的接觸點接觸；第三接觸構件，被配置成與所述第一接觸構件的下端接觸；以及彈性體，排列在所述第二接觸構件與所述第三接觸構件之間，且使所述第二接觸構件與所述第三接觸構件中的至少一者彈性偏置。
  4. 一種支撐測試探針的測試插座，所述測試探針用於包括具有彎曲表面的接觸端子的物件，所述探針插座包括：接觸構件支撐體，被配置成支撐第一接觸構件，所述第一接觸構件包括一對排列成V形且分別在彼此間隔開的點處與所述接觸端子接觸的接觸表面；以及探針支撐體，被配置成支撐探針，所述探針包括：第二接觸構件，被配置成與測試電路的接觸點接觸；第三接觸構件，被配置成與所述第一接觸構件的下端接觸；以及彈性體，排列在所述第二接觸構件與所述第三接觸構件之間，且使所述第二接觸構件與所述第三接觸構件中的至少一者彈性偏置；其中所述第一接觸構件包括沿縱向方向的平坦表面；其中所述接觸端子被所述接觸表面容納並接觸所述一對接觸表面，而不與所述第一接觸構件的尖端接觸。
  5. 如申請專利範圍第4項所述的測試插座，其中所述接觸構件支撐體可拆卸地支撐在所述探針支撐體上。
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