CN110249229A - 测试探针以及使用该测试探针的测试插座 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种测试探针，用于包括具有弯曲表面的桶状接触端子的物件。所述测试探针包括：第一接触构件，被配置成包括接触部分以及延伸部分，所述接触部分具有一对排列成“V”形且分别在彼此间隔开的点处与所述待测试接触端子接触的接触表面，且所述延伸部分自所述接触部分沿纵向方向向后一体延伸。因此，所述测试探针能有效地与例如用于智能电话的超小型照相机模块的待测试物件的部分弯曲桶形状接触端子接触。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试探针以及使用该测试探针的测试插座，所述测试探针对具有待测试弯曲端子的物件(如应用于例如智能电话等小型移动装置的超小型照相机模块)进行检查。
背景技术
照相机模块10包括待测试接触端子12，所述待测试接触端子12具有如图9所示的部分弯曲的桶形状。在照相机模块10中，待测试的接触端子12是通过将金属条弯曲成部分弯曲的桶形式而形成。为测试照相机模块10，一般弹簧引脚20的活塞22与待测试接触端子12接触。弹簧引脚20的活塞22包括单个或多个尖端24以在测试期间指向铅块端子。在测试期间，活塞22的尖锐尖端24与待测试的部分弯曲的桶状接触端子12接触。
在照相机模块10中，待测试接触端子12通常是由与铅块端子不同的刚性金属制成。因此，活塞22的尖端24在与待测试的凸出接触端子12接触时会滑动。此种滑动会导致接触误差并因此造成测试误差。除此之外，各种公差、对准误差等亦会导致更多的测试误差。此外，诸多重复的测试可导致杂质转移，且因此可将正常的照相机模块判断为存在缺陷的照相机模块。探针与照相机模块的端子之间的此种不稳定的接触导致设备停运、清洁工作、测试误差等，藉此对大量生产良率产生不利影响。
发明内容
技术问题
设想本发明来解决上述问题，且本发明的一个实施例是提供一种适用于对具有待测试的部分弯曲桶状接触端子的照相机模块或类似物件进行稳定检查的测试探针及测试插座。
技术方案
根据本发明的实施例，提供一种用于包括具有待测试弯曲表面的接触端子的物件的测试探针。所述测试探针包括：第一接触构件，被配置成包括接触部分以及延伸部分，所述接触部分具有一对排列成“V”形且分别在彼此间隔开的点处与所述待测试接触端子接触的接触表面，且所述延伸部分自所述接触部分沿纵向方向向后一体延伸。因此，测试探针在环绕并接触待测试的弯曲桶状端子的同时在两个点处接触，因此不仅可避免接触误差，而且可防止接触电阻因由异物导致的污染而增大。
所述测试探针可还包括：第二接触构件，被配置成与测试电路的接触点接触；以及弹性体，排列在所述第一接触构件与所述第二接触构件之间，且使所述第一接触构件与所述第二接触构件中的至少一者弹性偏置。
所述测试探针可还包括：探针，所述探针包括：第二接触构件，被配置成与测试电路的接触点接触；第三接触构件，被配置成与所述第一接触构件的下端接触；以及弹性体，排列在所述第二接触构件与所述第三接触构件之间，且使所述第二接触构件与所述第三接触构件中的至少一者弹性偏置。
根据本发明的实施例，提供一种支撑测试探针的测试插座，所述测试探针用于包括具有待测试弯曲表面的接触端子的物件，所述探针插座包括：接触构件支撑体，被配置成支撑第一接触构件，所述第一接触构件包括一对排列成“V”形且分别在彼此间隔开的点处与所述待测试接触端子接触的接触表面；以及探针支撑体，被配置成支撑探针，所述探针包括：第二接触构件，被配置成与测试电路的接触点接触；第三接触构件，被配置成与所述第一接触构件的下端接触；以及弹性体，排列在所述第二接触构件与所述第三接触构件之间，且使所述第二接触构件与所述第三接触构件中的至少一者弹性偏置。
所述接触构件支撑体可可拆卸地支撑在所述探针支撑体上，藉此有效地处理例如污染、清洁、测试误差等所需的维护等工作。
发明有利功效
根据本发明的实施例的测试探针和测试插座，可以对具有部分弯曲桶状接触端子的照相机模块或类似物件进行稳定检查，藉此有效地处理例如污染、清洁、测试误差等所需的维护等工作。
附图说明
图1是根据本发明实施例的测试插座的立体图。
图2是根据本发明实施例的测试插座的立体分解图。
图3是根据本发明实施例的测试插座的局部剖视图。
图4是根据本发明另一实施例的测试插座的局部剖视图。
图5至图7是接触构件的各种形状的立体图。
图8是根据本发明另一实施例的测试插座的局部剖视图。
图9是传统测试探针插座的局部剖视图。
具体实施方式
以下，将参照附图来阐述本发明的实施例。
图1至图3是根据本发明实施例的测试插座1的立体图、立体分解图以及局部剖视图。如图所示，探针插座1包括：接触构件支撑体100，容置并支撑多个接触构件110；壳体300，容置并支撑待浮置的接触构件支撑体100；以及探针支撑体400，容置并支撑在壳体300的下部中并支撑排列在与多个接触构件110对应的位置处的多个探针200。
待测试物件10(例如，照相机模块)包括待测试端子12，且端子12被成型为类似于通过将金属板部分弯曲成“U”形而形成的桶。
如图1及图3所示，接触构件110包括：接触部分111，具有一对排列成“V”形的接触表面112及114；以及延伸部分113，自接触部分111向后沿径向扩张及延伸。在接收并接触被成型为类似于例如以“U”形部分弯曲的桶的待测试的端子12的同时，所述一对接触表面112及114在分隔开的点P1及P2处与端子12接触。结果，即使对准容差或公差导致两个接触点P1与P2的位置误差，亦能够可靠地达成接触构件110与待测试端子12之间的接触。此外，即使例如锡等异物通过重复的测试而被转移至接触表面112及114，在接触期间所转移的异物亦不会累积在接触点P1及P2处，而是沿倾斜的表面向下移动至V形槽并累积在所述V形槽内。接触构件110可为探针的活塞本身。通常，待测试物件10包括以极窄的节距排列的多个端子。因此，接触部分111包括：第一板部分115，考量到待测试的多个端子12的节距而被形成为具有窄的宽度；以及第二板部分116，具有大于第一板部分115的宽度以提高强度。接触构件110可被制造成类似于整体具有相同厚度的板。然而，接触构件110的强度及耐用性低，因此其一部分被制造成足够长以避免与相邻的待测试端子接触的第一板部分115，且其另一部分被制造成较第一板部分115宽的第二板部分116或延伸部分113。
接触构件支撑体100包括：第一接触构件支撑体120，接触部分111插入其中并自其中部分地突出；以及第二接触构件支撑体130，排列在第一接触构件支撑体120之下。第一接触构件支撑体120包括第一开口122，接触部分111经由第一开口122插入。第二接触构件支撑体130包括第二开口132，延伸部分113经由第二开口132插入。接触构件支撑体100由四个弹簧320支撑以浮置在壳体300的第一容置部分302内。第一接触构件支撑体120及第二接触构件支撑体130可被制造为一体。
壳体300形成有：第一容置部分302，用于在上侧容置接触构件支撑体100；以及第二容置部分，用于在下侧容置探针支撑体400。在第一容置部分302与第二容置部分之间，排列有第三开口330以容置稍后将阐述的探针200的第一活塞210。
探针200包括：桶220，具有圆柱形；第一活塞210，具有部分容置在桶220的第一侧中的第一端、以及与接触构件110的下端接触的第二端；第二活塞230，部分插入在桶220的第二侧中；以及弹簧240，在桶220内夹置在第一活塞210与第二活塞230之间，并沿一定方向偏置第一活塞210及第二活塞230以使其远离彼此舒展。
探针支撑体400固定地插入在设置于壳体300的底部上的第二容置部分(图中未示出)中，且具有用于容置探针200的第四开口430以使得第二活塞230可部分向外突出。探针支撑体400通过耦合引脚410耦合至壳体300的下部。
如图2所示，用于支撑接触构件110的接触构件支撑体100可拆卸地插入并支撑在壳体300的第一容置部分302中。结果，若发现接触构件110存在缺陷或达到其寿命末期，则可轻易地仅替换接触构件110而不包括探针200。
图3示出待测试物件10被按压进行测试且弹簧240被压缩。若测试完成且停止对待测试物件10的按压，则弹簧240驱使第一活塞210向上突出并向上推动接触构件110。结果，在测试结束时，接触构件110的接触部分111自第一接触构件支撑体120暴露至外部。
图4是根据本发明另一实施例的探针插座1的局部剖视图。如图所示，第一活塞210’部分地插入在桶220的第一侧中。第一活塞210’包括：接触部分211，具有呈“V”形的一对接触表面212及214；以及扩大部分213，自接触部分211扩大及延伸。所述一对接触表面212及214在接收待测试的部分弯曲的桶状端子12的同时与分隔开的点P1及P2接触。接触部分211包括：第一板部分215，考量到待测试的多个端子12的节距而被形成为具有窄的宽度；以及延伸部分216，沿径向扩大并自第一板部分215向后延伸以提高强度。第一活塞210’可被制造成整体具有相同厚度的板。但期望将第一板部分215制造成具有足以避免与相邻的待测试端子接触的窄的宽度的板，并为了强度及耐用性目的将延伸部分216制造成自第一板部分215沿径向扩大的圆棒。第二活塞230部分插入在桶220的第二侧中。第二活塞230与测试电路的垫端子(图中未示出)接触。在桶220内，弹簧240夹置在第一活塞210’与第二活塞230之间。弹簧240弹性偏置第一活塞210’及第二活塞230以使所述两者移动远离彼此。
图5示出根据本发明第二实施例的接触构件510。接触构件510单独制造在探针200的边线上并接触如图3所示探针200的第一活塞210。接触构件510可用作如图4所示的第一活塞210’的一部分。接触构件510包括主体511、自主体511沿径向延伸的凸缘512、具有呈“V”形的接触表面516的第一板部分514、以及设置在第一板部分514与主体511之间且宽于第一板部分514的第二板部分513。主体511具有圆柱形状，且包括在纵向上具有平坦表面的至少一个平坦部分515。在排列多个接触构件510时，平坦部分515用以使多个第一板部分514规则地平行排列。第一板部分514形成为具有窄的宽度的板状，以避免窄节距的相邻待测试端子12之间的干扰。
可省略凸缘512。主体511可由第二板部分513替换。同样，第二板部分513可由第一板部分514替换。亦即，第一板部分514可自凸缘512或主体511直接延伸。由于具有窄的宽度的第一板部分514可因其长度增加而在耐用性方面劣化或发生形变，因此第一板部分514可有效地仅应用至宽节距的待测试端子。
图6示出根据本发明第三实施例的接触构件610。在此实施例中，
接触构件610单独制造在探针200的边线上并接触如图3所示探针200的第一活塞210。接触构件610可用作如图4所示的第一活塞210’的一部分。接触构件610包括具有圆柱形状的主体611、自主体611沿径向延伸的凸缘612、具有呈“V”形的接触表面616的第一板部分614、以及设置在第一板部分614与主体611之间且宽于第一板部分614的第二板部分613。
凸缘612自主体611沿径向延伸并彼此相对。凸缘612具有矩形杆。在排列多个接触构件610时，凸缘612用以使多个第一板部分614规则地平行排列。第一板部分614形成为具有窄的宽度的板状，以避免窄节距的相邻待测试端子12之间的干扰。
图7示出根据本发明第四实施例的接触构件。在本实施例中，接触构件710单独制造在探针200的边线上并接触如图3所示探针200的第一活塞210。接触构件710可用作如图4所示的第一活塞210’的一部分。接触构件710包括具有矩形杆状的主体711、自主体711扩大的凸缘712、具有呈“V”形的接触表面716的第一板部分714、以及设置在第一板部分714与主体711之间且宽于第一板部分714的第二板部分713。
凸缘712自主体711扩大并彼此相对。凸缘712具有矩形杆。在排列多个接触构件710时，凸缘712用以使多个第一板部分714规则地平行排列。第一板部分714形成为具有窄的宽度的板状，以避免窄节距的相邻待测试端子12之间的干扰。
图8是根据本发明另一实施例的测试插座的局部剖视图。如图所示，除用于接触待测试端子12的部分弯曲的桶状部分的第一探针200及接触构件110以外，亦提供用于接触待测试端子12的平坦部分的第二探针800。第二探针800可以弹簧引脚的形式达成，对此无限制。如此，接触构件110、第一探针200及第二探针800皆可用以提高测试的可靠性。
尽管已示出并阐述了若干示例性实施例，但本领域技术人员将理解，在不背离本发明的原则及精神的条件下，可在该些示例性实施例中作出各种变化。
因此，本发明的范围不应受限于上述示例性实施例，而应在随附权利要求及其等效范围中进行界定。
Claims (5)
1.一种测试探针，用于包括具有弯曲表面的接触端子的物件，所述测试探针包括：
第一接触构件，被配置成包括接触部分以及延伸部分，所述接触部分具有一对排列成“V”形且分别在彼此间隔开的点处与所述接触端子接触的接触表面，且所述延伸部分自所述接触部分沿纵向方向向后一体延伸。
2.根据权利要求1所述的测试探针，还包括：
第二接触构件，被配置成与测试电路的接触点接触；以及
弹性体，排列在所述第一接触构件与所述第二接触构件之间，且使所述第一接触构件与所述第二接触构件中的至少一者弹性偏置。
3.根据权利要求1所述的测试探针，还包括探针，所述探针包括：第二接触构件，被配置成与测试电路的接触点接触；第三接触构件，被配置成与所述第一接触构件的下端接触；以及弹性体，排列在所述第二接触构件与所述第三接触构件之间，且使所述第二接触构件与所述第三接触构件中的至少一者弹性偏置。
4.一种支撑测试探针的测试插座，所述测试探针用于包括具有弯曲表面的接触端子的物件，所述探针插座包括：
接触构件支撑体，被配置成支撑第一接触构件，所述第一接触构件包括一对排列成“V”形且分别在彼此间隔开的点处与所述接触端子接触的接触表面；以及
探针支撑体，被配置成支撑探针，所述探针包括：第二接触构件，被配置成与测试电路的接触点接触；第三接触构件，被配置成与所述第一接触构件的下端接触；以及弹性体，排列在所述第二接触构件与所述第三接触构件之间，且使所述第二接触构件与所述第三接触构件中的至少一者弹性偏置。
5.根据权利要求4所述的测试插座，其中所述接触构件支撑体可拆卸地支撑在所述探针支撑体上。
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