TWI328811B - Optical system, optical pickup apparatus, and optical disk apparatus - Google Patents

Description

1328811 (.1) · 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明有關一種光學系統，一種光學拾取裝置，及一 種光碟裝置’且更特別地有關一種用以自光束提取信號光 線分量之光學系統，一種包含該光學系統之光學拾取裝置 ’以及一種包含該光學拾取裝置之光碟裝置。 【先前技術】 近年來且正持續的是，由於數位科技中之進步以及資 料壓縮技術中之改善，用作記錄電腦程式，聲頻資訊，視 頻資訊（下文稱爲“內容”）之光碟（例如CD(小型光碟）及 DVD(數位多功能光碟）正吸引極大的注意。因此，當光碟 變得較不昂貴時，則用以讀出光碟中所記錄之資訊的光碟 裝置會成長而呈現廣泛地被使用。 即將記錄於光碟中之資訊的數量正逐年地成長，因此 ’期盼能進一步增加單一光碟之記錄容量。至於正在發展 供增加光碟記錄容量用的方法，則存在有例如增加記錄層 之數目。因此，有力的硏究正進行於具有複數個記錄層之 光碟（下文中稱爲多層光碟）及存取該等多層光碟之光碟裝 置上。 在多層光碟中，若記錄層之間的間隔太大時，則將存 在有來自目標記錄層的信號會受到球面像差之不利影響的 可能，因此，有著降低該等記錄層間之間隔的趨勢。然而 ，降低該等記錄層之間的間隔將產生串音（cross-talk)於記 (2) (2)1328811 錄層之間（所謂“層間串音”）。因而，折返（反射）自多層光 碟之光束不僅含有反射自目標記錄層之所企望的光束（下 文中稱爲“信號光線”），而且會含有反射自除了該目標記 錄層外之諸記錄層之大量所不企望的光束（下文爲“漫射光 線”）。此將導致再生信號之S/N比的降低。 例如第50 A及50B圖係示意圖，用以描繪自雙層記錄媒 體讀出資訊之操作。第50A圖係光線圖，顯示讀取第一記 錄層L’O中所記錄之資訊的例子，以及第50B圖係光線圖， 顯示讀取第二記錄層L’l中所記錄之資訊的例子（亦請參閱 第2圖）。 在第50A圖中，物鏡104係定位遠離基板表面而形成細 尖之光束光點於第一層L50上。在第50B圖中，物鏡104係 定位較接近該基板表面而形成細尖之光束光點於第二層 L’l上。如第5 0A及50B圖中所示，當反射自第一及第二層 L’O、L’l之信號光束透過穿過物鏡104時，則該等信號光 線會改變爲平行光線，且若聚光透鏡106係設置於固定位 置時，則將聚集及偵測於相同的光線接收表面1 08。 第51圖顯示減少雙層DVD光碟之第一層與第二層MB 0 及MB1間的中間層厚度時所觀察之再生自第一層ΜΒ0之抖 動劣化的結果。 若從第一層ΜΒ0讀出資訊時，漫射光線會產生自第二 層MB1，如藉由第51A圖中之點線所示。若從第二層MB1 讀出資訊時，漫射光線會產生自第一記錄層ΜΒ0，如藉由 第51B圖中之點線所示。而一部分之漫射光線會與反射自 -5- (3) 1328811 目標記錄層之光束重疊且偵測於光學偵測器1 0 8。 大致地，此漫射信號係偵測爲不同信號之偏差（更詳 細地描述於Shintani等人之“用於雙層相改變光碟之驅動器 及碟片之設計的分析”，第281至283頁）。 而且，若降低中間層之厚度時’干擾會在信號光線及 • 漫射光線到達光學偵測單元1 08之前存在於信號光線與漫 射光線之間，此千擾將產生焦點誤差信號，軌誤差信號， φ 及碟片再生信號（抖動）之雜訊分量。例如，在觀察從第一 記錄層MB0所再生之信號的抖動中，第52圖顯示當中間層 以小於30微米（μιη)之厚度來形成時，抖動會受到不利地影 響。典型地，此現象係稱爲串音。因此，若降低雙層記錄 媒體之中間層厚度時，所企望的是，消除或減少漫射光線 於光學拾取裝置中。 例如在一相關技藝實例中，由漫射光線所造成之偏差 可藉由提供繞射光柵於光學偵測系統中以供劃分信號光線 • 及漫射光線爲主要光線及次要光線，藉由不同的光學偵測 . 器來偵測來自複數個層之漫射光線，以及計算信號光線與 ^ 漫射光線間之差異而予以消除（參閱日本公開專利申請案 • 第200 1 -273640號）。然而，藉由此相關技藝實例，不僅該 ' 漫射光線會受到繞射光柵所繞射，而且信號光線亦將遭受 繞射。此將造成反射自光碟之光束中所包含之信號光線分 量的損失，而且此相關技藝無法消除信號光線及漫射光線 抵達光學偵測表面之前在信號光線與漫射光線間之干擾所 造成之光量改變，因而使信號光線的強度變化。 (4) (4)1328811 在另一相關技藝實例中，漫射光線之效應可藉由提供 聚光透鏡及針孔於光學偵測系統中來予以減少（參閱曰本 公開專利申請案第2003-323736號）。然而，藉由此相關技 藝實例，漫射光線之最強分量會通過針孔且由光學偵測器 所偵測，因此，無法充分地防止漫射光線之偵測。而且， 因爲物鏡典型地係驅動於循軌方向中，所以光軸之偏差可 能會發生。在此一例子中，由於針孔之位置可能阻斷信號 光線，因而導致信號光線強度中的改變。 例如另一相關技藝實例，日本註冊之專利號碼第 2 6 2425 5號提出一種用於當讀出自多層碟片時降低層間串 音之裝置。 此裝置需要進一步地減少其偵測器之針孔的直徑以供 降低入射於偵測器上之漫射光線分量用。然而，減少針孔 之直徑亦將導致入射於偵測器上之信號光線分量的損失。 【發明內容】 本發明之大致目的在於提供一種光學系統，一種光學 拾取裝置’及一種光碟裝置’其實質地排除由先前技術之 限制及缺點所造成的一或更多個問題。 本發明之特性及優點將陳述於下文說明中，且部分地 將從說明及附圖而呈明顯，或可根據該說明中所提供之教 示，藉由本發明之實行來加以習得。本發明之目的以及特 性和優點可藉由說明書中以有關使一般熟習於本項技藝之 人士能實行本發明之該等充分、清楚、簡潔、及正確用語 (5) 1328811 所定指出之光學系統，光學拾取裝置，及光碟裝置來實現 及獲得。 爲了要達成該等及其他優點以及根據本發明之目的， 如此處實施及所廣泛描述地，本發明提供一種光學系統， * 用以自包含信號光線分量及漫射光線分量之一光束提取信 * 號光線分量，該光學系統包含：一聚光光學元件，係置於 該光束之一光學路徑上，用以聚集該光束；一偏極化改變 φ 單元，用以改變透射穿過該聚光光學元件之入射光束中所 包含的該等信號光線分量及該等漫射光線分量之其中至少 之一的偏極化狀態；以及一提取元件，用以提取透射穿過 該偏極化改變單元之該光束中所包含的該等信號光線分量 〇 再者，一種光學系統，用以自包含信號光線分量及漫 射光線分量之光束來提取信號光線分量，該光學系統包含 :一聚光光學元件，係置於該光束之一光學路徑上，用以 # 聚集該光束；一偏極化改變單元，包含一偏極化改變元件 • 及一反射部件的組合，用以改變透射穿過該聚光光學元件 . 之入射光束中所包含的該等信號光線分量及該等漫射光線 分量之其中至少之一的偏極化狀態；以及一提取元件，用 ' 以提取透射穿過該偏極化改變單元之該光束中所包含的該 等信號光線分量。 而且’本發明提供一種光學拾取裝置，包含：一光源 ’用以照射一光束；一光學系統，包含一物鏡，用以聚集 該光束至具有複數個記錄層之一光碟的一目標記錄層；根 -8- (6) · 1328811 據本發明實施例之光學系統；以及一光學偵測系統，用以 根據所提取之信號光線分量的光線量來產生信號。 此外，本發明提供一種光碟裝置，包含：根據本發明 實施例之光學拾取裝置；以及一處理裝置，用以根據藉由 該光學偵測系統所產生之該等信號來讀出光碟中所記錄之 - 資訊。 再者，本發明提供一種光學系統，用以自包含信號光 0 線分量及漫射光線分量之一光束來提取信號光線分量，該 光學系統包含：一聚光光學元件，係置於該光束之一光學 路徑上，用以聚集該光束，該聚光光學元件聚集該等信號 光線分量於一第一焦點及聚集該等漫射光線分量於一第二 焦點；一第一偏極化改變元件，係定位於該聚光光學元件 與該第二焦點之間，該第二焦點係置於比該第一焦點更接 近該聚光光學元件，該第一偏極化改變元件包含第一及第 二區域，該第一及第二區域係藉由與該聚光光學元件之光 φ 軸垂直交叉的線所劃分，該第一偏極化改變元件具有將入 - 射於該第一區域上之該光束的偏極化方向改變至90度之角 _ 度的光學特性；一第一分離元件，係定位於該第一與第二 ' 焦點之間，該第一分離元件係可操作來反射或吸收比該第 '一焦點更朝向該聚光光學元件所聚集之該等漫射光線分量 :一第二分離元件，係定位於該第一焦點與一第三焦點之 間，透射穿過第一分離元件之該等漫射光線分量係聚集於 該第三焦點，該第二分離元件係可操作來反射或吸收透射 穿過該第一分離元件之該等漫射光線分量；以及一第二偏 -9- (7) 1328811 極化改變元件，包含第一及第二區域，該第一及第二區域 係藉由與該聚光光學元件之光軸垂直交叉的線所劃分，該 第二偏極化改變元件具有將入射於該第二偏極化改變元件 的該第一區域及該第二區域之其中之一上的該光束之偏極 '化方向改變至90度之角度的光學特性。 ' 而且，本發明提供一種光學拾取裝置，包含：一光源 ’用以照射一光束；一光學系統，包含一物鏡，用以聚集 φ 該光束至具有複數個記錄層之一光碟的一目標記錄層，及 根據本發明實施例之光學系統；以及一光學偵測系統，用 以根據所提取之信號光線分量的光線量來產生信號。 此外，本發明提供一種光碟裝置，包含：根據本發明 實施例之光學拾取裝置；以及一處理裝置，用以根據藉由 該光學偵測系統所產生之該等信號來讀出光碟中所記錄之 資訊。 再者，本發明提供一種光學拾取裝置，係配置有一光 # 源，一準直透鏡，一偵測器及分離部件，一物鏡，一光學 •偵測系統，及一光學偵測器，用以記錄資訊至一具有複數 . 個層之光碟及自具有複數個層之光碟讀出資訊，該光學拾 取裝置包含：一聚光光學元件，用以聚集反射自該光碟之 ' 複數個層的一光束，該光束包含反射自該複數個層之一第 m層的一信號光束Lm，反射自該複數個層之一第m+Ι層的 —第一漫射光束Lm+1 ’及反射自該複數個層之—第m-Ι層 的一第二漫射光束Lm-1，該信號光束Lm係聚集於一第一 焦點fm，該第一漫射光束Lm+1係聚集於一第二焦點fm+1 -10- (8) 1328811 ’及該第二漫射光束Lm-1係聚集於一第三焦點fm-i ; —前 屏蔽部件’係定位於該第一焦點f m與該第二焦點fm + 1之間 ，用以屏蔽定向至一第一區域之該光束；以及一後屏蔽部 件，係定位於該第一焦點fm與該第三焦點fm-丨之間，用以 | 屏蔽定向至一第二區域之該光束；其中該第一及第二區域 、 係藉由該聚光光學元件之一光軸來予以劃分。 而且，本發明提供一種光學拾取裝置，配置有一光源 φ ，一準直透鏡，一偵測器及分離部件，一物鏡，一光學偵 測系統，及一光學偵測器，用以記錄資訊至一具有複數個 層之光碟及自具有複數個層之光碟讀出資訊，該光學拾取 裝置包含：一聚光光學元件，用以聚集反射自該光碟之複 數個層的一光束，該光束包含反射自該複數個層之一第m 層的一信號光束Lm，反射自該複數個層之一第m+1層的一 第一漫射光束Lm+1，及反射自該複數個層之一第m-Ι層的 一第二漫射光束Lm-1，該信號光束Lm係聚集於一第一焦 • 點fm，該第一漫射光束Lm+1係聚集於一第二焦點fm+1， -及該第二漫射光束Lm-1係聚集於一第三焦點fm-1 ;—光束 _ 分光部件，係定位比該第二焦點fm+ 1更接近該聚光部件， 用以將該光束分光至藉由該聚光光學元件之一光軸所劃分 之第一及第二區域之內；一前屏蔽部件，係定位於該第一 區域側之該第一焦點fm與該第二焦點fm+ 1之間，用以屏蔽 該第一漫射光束Lm + 1 ;以及一後屏蔽部件，係定位於該 第二區域側之該第一焦點fm與該第三焦點fm-1之間’用以 屏蔽該第二漫射光束Lm-Ι。 -11 - (9) 1328811 再者，本發明提供一種光學拾取裝置，配置有一光源 ，一準直透鏡，一偵測器及分離部件，一物鏡，一光學偵 測系統，及一光學偵測器，用以記錄資訊至一具有複數個 層之光碟及自具有複數個層之光碟讀出資訊，該光學拾取 _ 裝置包含：一聚光光學元件，用以聚集反射自該光碟之複 * 數個層的一光束，該光束包含反射自該複數個層之一第m 層的一信號光束Lm，反射自該複數個層之一第m+l層的一 φ 第一漫射光束Lm+1，及反射自該複數個層之一第m-i層的 一第二漫射光束Lm-1，該信號光束Lm係聚集於一第一焦 點fm’該第一漫射光束Lm+1係聚集於一第二焦點fm+i， 及該第二漫射光束Lm-1係聚集於一第三焦點fm-l ;—光束 分光部件，係定位於該第一焦點fm與該第二焦點fm+ 1之間 ’用以將該光束分光至藉由該聚光光學元件之一光軸所劃 分之第一及第一區域之內；以及一屏蔽部件，係定位於該 第一焦點fm與該第三焦點fm-Ι之間，用以屏蔽該第一漫射 # 光束Lm+1及第二漫射光束Lm-1。 此外，本發明提供一種光學記錄裝置，包含：根據本 . 發明實施例之光學拾取裝置。 再者’本發明提供一種光學再生裝置，包含：根據本 ' 發明實施例之光學拾取裝置。 而且，本發明提供一種光學記錄及再生裝置，包含： 根據本發明實施例之光學拾取裝置。 【實施方式】 -12- 1328811 (ίο) · 本發明將依據圖式中所描繪之實施例來加以詳細地描 述。 第1圖係示意圖，顯示根據本發明實施例之光碟裝置 20 〇 * 該光碟裝置20包含例如心軸馬達22，用作一用以驅動 '光碟1 5轉動之馬達；光學拾取裝置23 ;搜尋馬達2 1，用於 以滑行方向來驅動光學拾取裝置23 ;雷射控制電路24 ;編 φ 碼器25 ;驅動控制電路26(例如包含馬達驅動器27及伺服 控制器33);再生信號處理電路28 ;緩衝器RAM 34 ;緩衝 管理器37;界面38;快閃記憶體（或ROM)39; CPU 40;以 及RAM 41。第1圖中所描繪之箭頭指示信號及資訊之典型 流程’且並未指不所描繪之組件（區塊）間之所有連接’而 且，根據本發明實施例之光碟裝置20可應用於多層碟片， 再者，該光碟裝置20包含一專用以記錄資訊於光碟中之裝 置（光碟裝置），一專用以讀出資訊自光碟之裝置（光學再生 # 裝置），以及一專用以記錄/再生資訊至/自光碟之裝置。 •如第2圖中所示，光碟15包含例如第一基板M0，第一 、記錄層L0，中間記錄層ML，第二記錄層L1，及第二基板

Ml，其係以此順序來疊層自光碟15之光線入射方向（第2圖 ' )中之箭頭方向。此外，例如由金屬材料（例如銀、鋁）或介 電材料（例如矽）所形成之半透明膜ΜΒ0係配置於第一記錄 層L0與中間層ML之間。而且，例如由金屬材料（例如銀、 鋁）所形成之反射膜MB1係配置於第二記錄層L1與第二基 板Ml之間。該中間層ML包含UV硬化樹脂材料，其具有相 -13- 1328811 (1.1) · 似於該等基板之折射率的折射率，也就是說，光碟15係單 面之雙層碟片，各個記錄層具有以螺旋或同心導槽所形成 之一或多個軌。該光碟15係以第一記錄層L0係置於比第二 記錄層L1更接近於光碟裝置20之方式來予以設定，因此， 入射於光碟15上之一部分光帶將反射於該半透明膜ΜΒ0， * 而剩餘部分之光帶則將透射穿過該半透明膜ΜΒ0，然後， 透射穿過該半透明膜ΜΒ0之光帶將由反射膜MB 1來予以反 φ 射。在此實施例中，該光碟15係DVD類型之資訊記錄媒體 〇 該光學拾取裝置23係用以照射雷射光束至光碟15之兩 記錄層其中之一上（將搜尋接達於其之記錄層，下文中稱 爲“目標記錄層”）以及用以接收反射自光碟1 5之光線。如 第3 A圖中所示，如光學拾取裝置23包含光源單元51，耦合 透鏡52，偏極化光束分光器54，1/4波板55，物鏡60，光 學系統7〇(亦稱爲光學偏極化系統），聚光透鏡（偵測透鏡 • )58 ’用作PD(亦稱光學偵測器）之光學偵測單元，以及驅 • 動系統，該驅動系統包含聚焦致動器AC及循軌致動器（未 . 圖示），用以驅動物鏡60» 該光源單元51包含例如半導體雷射LD，用作光源以供 * 照射一具有與光碟15相符之波長（在此實例中，大約660奈 米（nm))的雷射光束。在本發明之此實施例中，從光源單 元51所照射之最大強度之雷射光束的方向係在+X方向中， 而且，光源單元51將照射例如一集束之偏極化光線，該偏 極化光線係平行於偏極化光束分光器54之入射面（P偏極化 -14 - 1328811 (t2) 光）。 其係定位於光源單元51之+X側的耦合透鏡52將使照射 自光源單元51之光束成爲實質平行的光線。 該偏極化光束分光器54係定位於耦合透鏡52之+X側， . 該偏極化光束分光器54之反射比係依據入射光帶之偏極化 • 狀態而變化。在此實例中，該偏極化光束分光器54係設定 具有相對於P偏極化波之漸減的反射比以及相對於S偏極化 φ 波之漸增的反射比。也就是說，從光源單元51所照射之大 部分的光束可透射穿過該偏極化光束分光器54。1/4波板 係定位於該偏極化光束分光器54之+X側。 1/4波板55提供相對於入射在該1/4波板55上之光束之 1/4波長的相位差。其係定位於1/4波板55之+X側的物鏡60 將聚集透射穿過該1/4波板之光束至靶標記錄層之上。 其係定位於偏極化光束分光器54之-Z側的光學系統70 將選擇性地允許反射自該目標記錄層之一部分反射光束（ • 經由偏極化光束分光器54)透射穿過該處。該光學系統70 • 之架構將詳細地說明如下。 . 其係定位於光學系統70之-Z側的聚光透鏡58將聚集透 射穿過該光學系統70之該反射光束到光學偵測單元PD之光 ' 學偵測表面上。該光學偵測單元PD具有複數個光學偵測器 (或光學偵測區域），用以產生信號（光電轉換信號），該等 PD係最佳地用以偵測例如RF信號，擺動信號，及伺服信 號於再生信號處理電路28中。 該聚焦致動器AC係用於精確地以焦點方向，亦即，物 -15- (13) (13)1328811 鏡60之光軸方向來驅動（移動）物鏡60。爲便利性之緣故， 在其中目標記錄層係第一記錄層L0的例子中，相對於該焦 點方向之物鏡60的最佳位置係稱爲“第一透鏡位置”，以及 在其中目標記錄層係第二記錄層L 1的例子中，相對於焦點 方向之物鏡60的最佳位置係稱爲“第二透鏡位置”。當比較 於其中物鏡60係在第一透鏡位置的例子時，若其中該物鏡 60係在第二透鏡位置時，則物鏡60與光碟15間之距離會更 短（參閱第4A及4B圖）。 循軌致動器（未圖示）係用以精確地驅動（移動）物鏡60 於循軌方向中。 接著，將參照第4A及4B圖來說明從光碟15所反射之光 束。 如第4A圖中所示，若其中該目標記錄層係第一記錄層 L0時，則物鏡60之位置係界定爲第一透鏡位置。因此，該 物鏡60將聚集照射自光源單元51之光束至第一記錄層L0之 上’然後，該光束之一部分將反射自半透明膜ΜΒ0且入射 於該物鏡60之上，而反射自半透明膜ΜΒ0之此部分光束包 含信號光線分量（信號光），同時，該光束的剩餘部分會透 射穿過半透明膜ΜΒ0’反射自反射膜MB1，及入射於物鏡 60上，而反射自該反射膜MB 1之該剩餘部分的光束包含漫 射光線分量（漫射光）。 也就是說，不論該目標記錄層是否爲第一記錄層L0或 第二記錄層L1 ’反射自光碟15之光束包含反射自半透明膜 MB 0之光束（下文中稱爲“第一反射光線”）以及反射自反射 -16- (14) 1328811 膜MB1之集束光線（下文中稱爲“第二反射光線”）。在此實 例中，若其中目標記錄層係第一記錄層L 0時，則第一反射 光線包含信號光線分量（信號光）以及第二反射光線包含漫 射光線分量（漫射光）。同時，若其中靶標記錄層係第二記 ' 錄層L1時，則第二反射光線包含信號光線分量（信號光）以 • 及第一反射光線包含漫射光線分量（漫射光）。當偵測種種 信號再生信號處理電路28之中時，因爲漫射光線分量會造 φ 成S/N比劣化，故企望於提取信號光線分量自光碟15所反 射之光束。 接著’將說明根據本發明另一實施例之光學系統70。 在此實施例中，第3B圖中所示之光學系統70包含透鏡（聚 光光學元件）61，兩個1/4波板（62、63)，及偏極化光學元 件（提取元件）64。 其係置於偏極化光束分光器54之-Z側的透鏡61將聚集 反射自該偏極化光束分光器54之折返光束，因爲半透明膜 φ ΜΒ0及反射膜MB1係彼此分離於焦點方向中，故第一反射 - 光線的焦點與第二反射光線的焦點並不匹配，也就是說， . 第一反射光線的焦點與第二反射光線的焦點係彼此分離於 透鏡61的光軸方向中。 ' 例如，如第5A圖中所示，若其中該目標記錄層係第一 記錄層L0時，則設定透射穿過透鏡61之第二反射光線的焦 點爲“f+1 ”以及設定透射穿過透鏡61之第一反射光線的焦點 爲“f〇”。而且，如第5B圖中所示，若其中該目標記錄層係 第二記錄層L1時，則設定透射穿過透鏡61之第二反射光線 -17- (15) (15)1328811 的焦點爲“f〇”以及設定透射穿過透鏡61之第一反射光線的 焦點爲。也就是說，信號光線之焦點（第一焦點）係設 定爲“fG”，同時，從記錄層所反射之漫射光線的焦點（第二 焦點）係設定爲“f+ Γ，其中相較於目標記錄層，該記錄層 係置於更遠離物鏡60 ;而從相較於目標記錄層’其係置於 更接近物鏡60之記錄層所反射之漫射光線的焦點（第三焦 點）則將設定爲“f-i”。此外，該透鏡61之光軸的+X側在下 文中亦稱爲“區域1”，以及該透鏡61之光軸的·Χ側在下文 中亦稱爲“區域2”（參閱第5Α及5Β圖）。 1/4波板（第一偏極化改變元件）62係定位於透鏡61之-Ζ 側之上，且係置於第二焦點f+1與第一焦點fo之間（參閱第 5 A圖）。例如，如第6A圖中所示，該1/4波板62係藉由一延 伸於Y方向中之劃分線62d來劃分爲兩區域（62a、62b)。於 此實例中，在相對於劃分線6 2 d之+ X側上的區域係指示爲 區域62a，以及在相對於劃分線62d之-X側上的區域係指示 爲區域62b。區域62a提供相對於入射在1/4波板上之光束 之+1 /4波長的相位差，應注意的是，根據本發明實施例之 “+1/4波長”包含“+l/4x(2n+l)波長”，其中“η”係自然數》 區域62b提供相對於入射在1/4波板62上之光束之-1/4波長 的相位差’應注意的是，根據本發明實施例之“ -1 /4波長” 包含“_1Μχ(2η+1)波長”，其中“n”係自然數。若其中物鏡 6〇以循軌方向來偏移時，則入射在1/4波板62上之折返光 束將偏移至一對應於該循軌方向的方向（在此實例中，γ方 向）。 -18- (16) (16)1328811 1/4波板63(第二偏極化改變元件）係定位於1/4波板62 之-Z方向中且係置於第一焦點fc與第三焦點f.,之間（參閱第 5B圖）。例如，如第7A圖中所示， 該1/4波板63係藉由一延伸於Y方向中之劃分線63 d來劃分 爲兩區域（63a、63b) »於此實例中，在相對於劃分線63d之 + X側上的區域係指示爲區域63a，以及在相對於劃分線63d 之-X側上的區域係指示爲區域63b。區域63 a提供相對於入 射在1M波板63上之光束之+1/4波長的相位差，區域63b提 供相對於入射在1/4波板63上之光束之-1/4波長的相位差。 換言之，1/4波板63具有相同於1/4波板62的光學特性，而 且，在此例子中，當物鏡60以循軌方向來偏移時，則入射 在1/4波板63上之折返光束將偏移至一對應於該循軌方向 的方向（在此實例中，Y方向）。 例如可使用扭轉向列液晶，子波長線柵，或光子晶體 來當作1/4波板62、63。 其係定位於1/4波板63之側的偏極化光學元件64僅 允許來自該1/4波板63之光束中所含的S偏極化分量透射穿 過該處。 接著，將參照第5Α、5Β '及8Α圖來說明上述光學拾 取裝置23之操作。在第8 Α圖中所示之圖表中以及根據本發 明實施例之下文圖式中的該等圖表之中，字母“S”指示“S 偏極化光線”，字母“P”指示“P偏極化光線”，字母“R”指 示“右旋偏極化光線”，以及字母“L”指示“左旋偏極化光線 ”。而且，在第8A圖中所示之圖表中以及根據本發明實施 -19- (17) (17)1328811 例之下文圖式中的該等圖表之中’應注意的是’相對於透 鏡61的光軸方向，透鏡61與第二焦點f+1之間的光學路徑係 稱爲“光學路徑A，’ ’第二焦點f+ι與1/4波板62之間的光學路 徑係稱爲“光學路徑B”，1/4波板62與第一焦點f〇之間的光 學路徑係稱爲“光學路徑C”，第一焦點f〇與1M波板63之間 的光學路徑係稱爲“光學路徑D” ’ 1/4波板63與第三焦點f-i 之間的光學路徑係稱爲“光學路徑E”，第三焦點f-i與偏極 化光學元件64之間的光學路徑係稱爲“光學路徑F”，以及 偏極化光學元件64與聚光透鏡58之間的光學路徑係稱爲“ 光學路徑G”（參閱第5A及5B圖）。 從光源單元51所照射之直接偏極化光線（在此實例中 ，P偏極化光線）係藉由耦合透鏡52來變成集束之實質平行 光線；然後，該平行光線呈入射於偏極化光束分光器54之 上。該光束之大部分係維持其平行狀態來透射穿過該偏極 化光束分光器54，係藉由1/4波板55來予以迴旋地偏極化 ，以及經由物鏡60來聚集爲細尖的光束光點於光碟15之目 標記錄層之上》從光碟15所反射之光束（包含信號光線分 量及漫射光線分量）以相反的旋轉方向來呈現迴旋偏極化（ 相對於照射至光碟15之迴旋偏極化光線的旋轉方向）且再 藉由物鏡60來變成爲實質平行的光線。然後，使所反射之 集束的平行光線變成與1M波板55處之所照射光線的方向 垂直交叉的線性偏極化光線（在此實例中，S偏極化光線） 。然後，所反射之光束呈入射於偏極化光束分光器54之上 ，而藉由該偏極化光束分光器54以方向所反射之光束將 -20- (18) 1328811 聚集於物鏡6 1處。 接著，透射穿過該物鏡61之該反射光束將呈現入射於 1/4波板62之上，包含於該反射光束中之信號光線及漫射 光線均係S偏極化光線於透鏡61與1/4波板62間之光學路徑 • A、B處（參閱第5A及5B圖）。該1/4波板62提供相對於入射 - 在區域62a上之光束的+1/4波長相位差以及提供相對於入 射在區域62b上之光束的-1/4波長相位差（參閱第6A圖）。因 φ 此，該信號光線及漫射光線均係以順時鐘方向所迴旋偏極 化之光線（右旋偏極化光線）於光學路徑C之區域1中，以及 均係以順時鐘方向所迴旋偏極化之光線（右旋偏極化光線） 於光學路徑C之區域2中。此外，在光學路徑D之區域1中， 雖然該漫射光線維持爲以順時鐘方向所迴旋偏極化之光線 (右旋偏極化光線），但信號光線會呈現爲以逆時鐘方向所 迴旋偏極化之光線（右旋偏極化光線）。再者，在光學路徑 D之區域2中，雖然該漫射光線維持爲以逆時鐘方向所迴旋 φ 偏極化之光線（左旋偏極化光線），但信號光線會呈現爲順 - 時鐘方向所迴旋偏極化之光線（右旋偏極化光線）。 _ 然後，透射穿過1/4波板62之該反射光束將呈現入射 於1M波板63之上。該1/4波板63提供相對於入射在區域63a * 上之光束的+1/4波長相位差以及提供相對於入射在區域 63b上之光束的_1/4波長相位差（參閱第7A圖）。在1/4波板 63與偏極化光學元件64間之光學路徑（光學路徑E及F)中， 該信號光線爲S偏極化光線，以及該漫射光線爲P偏極化光 線。 -21 - (19) 1328811 然後，透射穿過1/4波板63之該反射光束將呈現入射 於偏極化光學元件64之上，該偏極化光學元件64僅允許來 自1/4波板63之光束中所包含的S偏極化分量透射穿過該處 。因此，在光學路徑G之光束將僅包含信號光線分量’換 * 言之，將提取該反射光束中所包含的信號光線分量。 • 然後，透射穿過該偏極化光學元件64之該反射光束將 經由聚光透鏡58而藉由光學偵測單元PD來加以接收。光電 φ 轉換過程係在光學偵測單元P D中之各個光學偵測器（或光 學偵測區域）處來予以執行於該反射光束之上。然後，該 光學偵測單元PD輸出光電所轉換之信號到再生信號處理電 路28。因爲僅只該反射光束中所包含之信號光線分量（信 號光）將接收於光學偵測單元PD，所以該光學偵測單元PD 可輸出具有高S/N比之光電所轉換之信號。 接著，將說明根據本發明修正實施例之光學系統70。 在本發明之此修正實施例中，第3B圖中所示之光學系統70 • 包含透鏡（聚光光學元件）61，兩個1/2波板（62a、62b)，及 - 兩個偏極化光學元件（64a、64b)。 ^ 置於偏極化光束分光器54之-Z側的透鏡61將聚集從偏 « 極化光束分光器54所反射之折返光束，因爲半透明膜MB 0 * 及反射膜MB 1係彼此分離於焦點方向中，故第一反射光線 的焦點與第二反射光線的焦點並不匹配，也就是說，第一 反射光線的焦點與第二反射光線的焦點係彼此分離於透鏡 61的光軸方向中。 例如，如第5C圖中所示，若其中該目標記錄層係第二 -22- (20) (20)1328811 記錄層L1時，則設定透射穿過透鏡61之第一反射光線的焦 點爲“f+1”以及設定透射穿過透鏡61之第一反射光線的焦點 爲“f〇”。而且，如第5D圖中所示，若其中該目標記錄層係 第一記錄層L0時，則設定透射穿過透鏡61之第一反射光線 焦點爲“fG”以及設定透射穿過透鏡61之第二反射光線焦點 爲“f·!”。也就是說，信號光線之焦點係設定爲“f〇”，同時 ，從記錄層所反射之漫射光線的焦點係設定爲“f+1”，其中 相較於目標記錄層，該記錄層係置於更接近於物鏡60，而 從相較於目標記錄層，其係置於更遠離物鏡60之記錄層所 反射之漫射光線的焦點則將設定爲“f^”。此外，該透鏡61 之光軸的+X側在下文中亦稱爲“區域1”，以及該透鏡61之 光軸的-X側在下文中亦稱爲“區域2”（參閱第5C及5D圖）。 1/2波板（第一偏極化改變元件）62a係定位於透鏡61之-Z側之上，且係置於透鏡61與焦點f+1之間（參閱第5C圖）。 例如，如第6B圖中所示，該1/2波板62 a係藉由一延伸於Y 方向中之劃分線623來劃分爲兩區域（621、622)。於此實例 中，在相對於劃分線623之+X側上的區域係指示爲區域621 ，以及在相對於劃分線623之-X側上的區域係指示爲區域 622。區域621允許入射光線照原狀地透射穿過該處。區域 62 2提供相對於入射在1/2波板62a上之光束之1/2波長（+W2 波長）的相位差，應注意的是，“+1/2波長”包含 “+1/2χ(2η+1)波長”，其中“η”係自然數。若其中物鏡60以 循軌方向來偏移時，則入射在1/2波板62a上之折返光束將 偏移至一對應於該循軌方向的方向（在此實例中，Y方向） -23- (21) 1328811 偏極化光學元件64a(第一分離元件）係定位於焦點f+1 與焦點f〇之間（參閱第5B圖）。例如，如第7B圖中所示，該 偏極化光學元件64 a係藉由一延伸於Y方向中之劃分線643 來劃分爲兩區域（641、642)。於此實例中，在相對於劃分 • 線643之+X側上的區域係指示爲區域641，以及在相對於劃 分線64 3之-X側上的區域係指示爲區域642。該區域64 1允 φ 許S偏極化光線透射穿過該處，以及反射或吸收P偏極化光 線；區域642允許P偏極化光線透射穿過該處，以及反射或 吸收S偏極化光線。若其中物鏡60以循軌方向來偏移時， 則入射於該偏極化光學元件64a上之折返光束將偏移至一 對應於該循軌方向的方向》 偏極化光學元件64b(第二分離元件）係定位於焦點f〇與 焦點f·!之間（參閱第5C圖）。例如，如第7C圖中所示，偏極 化光學元件64b係藉由一延伸於Y方向中之劃分線64 7來劃 # 分爲兩區域（645、646)。於此實例中，在相對於劃分線647 •之+X側上的區域係指示爲區域645，以及在相對於劃分線 . 647之-X側上的區域係指示爲區域646。該區域645允許P偏 極化光線透射穿過該處，以及反射或吸收S偏極化光線； ' 區域646允許S偏極化光線透射穿過該處，以及反射或吸收 P偏極化光線。若其中物鏡6〇以循軌方向來偏移時，則入 射於該偏極化光學元件6 4b上之折返光束將偏移至一對應 於該循軌方向的方向。 1/2波板（第二偏極化改變元件）62b係置於偏極化光學 -24- (22) (22)1328811 元件64b與聚光透鏡58之間（參閱第5D圖）。例如，如第6C 圖中所示，該1/2波板62b係藉由一延伸於Y方向中之劃分 線627來劃分爲兩區域（625、626)。於此實例中，在相對於 劃分線627之+ X側上的區域係指示爲區域625，以及在相對 於劃分線627之-X側上的區域係指示爲區域626。區域625 提供相對於入射在1/2波板62b上之光束之1/2波長的相位差 ，區域626允許入射光線透射穿過該處。若其中物鏡60以 循軌方向來偏移時，則入射在1/2波板62b上之折反光束將 偏移至一對應於該循軌方向的方向。 例如可使用扭轉向列液晶、子波長線柵、或光子晶體 來當作1/2波板62a、62b。 接著，將參照第5C、5D圖及第8B圖來說明根據本發 明修正實施例之上述光學拾取裝置。此處，相對於透鏡61 之光軸方向，在透鏡61與1/2波板62a間之光學路徑係稱爲“ 光學路徑A”，在1/2波板62a與焦點f+1間之光學路徑係稱爲 “光學路徑B”，在焦點f+1與偏極化光學元件64a間之光學路 徑係稱爲“光學路徑C”，在偏極化光學元件64a與焦點f〇間 之光學路徑係稱爲“光學路徑D”，在焦點心與偏極化光學 元件64b間之光學路徑係稱爲“光學路徑E”，在偏極化光學 元件64b與1/2波板62b間之光學路徑係稱爲“光學路徑F”， 以及在1/2波板62b與聚光透鏡58間之光學路徑係稱爲“光 學路徑G”（參閱第5C及5D圖）。 從光源單元51所照射之直接偏極化光線（在此實例中 ，P偏極化光線係藉由耦合透鏡52來變成集束之實質平行 -25- (23) 1328811 光線；然後，該平行光線呈入射於偏極化光束分光器54之 上，該光束之大部分係維持其平行狀態來透射穿過該偏極 化光束分光器54，係藉由1/4波板55來予以迴旋地偏極化 ，以及經由物鏡60來聚集爲細尖的光束光點於光碟15之目 • 標記錄層之上。從光碟15所反射之光束（包含信號光線分 • 量及漫射光線分量）以相反的旋轉方向來呈現迴旋地偏極 化（相對於照射至光碟15之迴旋偏極化光線的旋轉方向）且 φ 再藉由物鏡60來變成爲實質平行的光線。然後，使所反射 之集束的平行光線變成與1/4波板55處之所照射光線的方 向垂直交叉的線性偏極化光線（在此實例中，S偏極化光線 )。然後，所反射之光束將變成入射於偏極化光束分光器 54之上，而藉由該偏極化光束分光器54以-Z方向所反射之 光束將聚焦於透鏡61處。 [在其中目標記錄層係L0的例子中] · • 接著，透射穿過該物鏡61之該反射光束將呈現入射於 - 1/2波板62a之上，包含於該反射光束中之信號光線及漫射 光線均係S偏極化光線於該透鏡61與1/2波板62 a間之光學 路徑A處（參閱第5D圖）。該1/2波板62a允許入射在區域621 ' 上之光束透射穿過該處，以及提供相對於入射在區域622 上之光束的1/2波長相位差。因此，該信號光線及漫射光 線均係S偏極化光線於光學路徑B之區域1中，以及均係P偏 極化光線於光學路徑B之區域2中。此外，信號光線及漫射 光線均維持爲S偏極化光線於光學路徑C之區域1中，且該 -26- (24) 1328811 信號光線及漫射光線均維持爲P偏極化光線於光學路徑C之 區域1中。 然後，透射穿過1/2波板62a之該反射光束將呈現入射 在偏極化光學元件64a上。因爲入射在區域641上之信號光 * 線及漫射光線均係S偏極化光線，故該等光線之各個光線 • 將透射穿過區域641;因爲入射在區域642上之信號光線及 漫射光線均係P偏極化光線，故該等光線之各個光線將透 φ 射穿過區域642。因此，信號光線及漫射光線均維持爲S偏 極化光線於光學路徑D之區域1中，以及信號光線及漫射光 線均維持爲P偏極化光線於光學路徑D之區域2中。此外， 雖然漫射光線維持爲S偏極化光線於光學路徑E之區域1中 ，但信號光線將變成P偏極化光線於光學路徑E之區域1中 ;再者，雖然漫射光線維持爲P偏極化光線於光學路徑E之 區域2中，但信號光線變成S偏極化光線於光學路徑E之區 域2中》 • 接著，透射穿過偏極化光學元件64a之該反射光束呈 -入射在偏極化光學元件64b之上。因爲入射在區域645上之 漫射光線係S偏極化光線，故所入射之漫射光線會反射或 吸收於區域645 ;因爲入射在區域645上之信號光線係P偏 * 極化光線，故所入射之信號光線會透射穿過區域以5。因 爲入射在區域646上之信號光線係S偏極化光線，故所入射 之信號光線會透射穿過區域646。因此，入射在光學路徑F 之區域1上之該反射光束僅包含P偏極化信號光線，以及入 射在光學路徑F之區域2上之該反射光束僅包含S偏極化信 -27- (25) 1328811 號光線。換言之，提取出該反射光束中所包含之信號光線 (信號光線分量）以及漫射光線（漫射光線分量）。 接著，透射穿過偏極化光學元件64b之該反射光束係 入射在1/2波板62b之上。該1/2波板62b提供相對於入射在 '區域625上之光束的1/2波長相位差，且允許入射在區域 - 626上之光束透射穿過該處。因此，信號光線會變成S偏極 化光線於光學路徑G之區域1之中’且該信號光線會維持爲 φ S偏極化光線於光學路徑G之區域2之中。 [在其中目標記錄層係L1的例子中] 接著，透射穿過透鏡61之該反射光束將呈現入射於 1/2波板62 a之上，包含於該反射光束中之信號光線及漫射 光線均係S偏極化光線於該透鏡61與1/2波板62a間之光學 •路徑A處（參閱第5C圖）》該I/2波板62a允許入射在區域621 上之光束透射穿過該處，以及提供相對於入射在區域62 2 # 上之光束的1/2波長相位差。因此，該信號光線及漫射光 - 線均係S偏極化光線於光學路徑B之區域1中，以及均係P偏 ，極化光線於光學路徑B之區域2中。此外，信號光線及漫射 光線均維持爲S偏極化光線於光學路徑C之區域1中，且該 信號光線及漫射光線均維持爲P偏極化光線於光學路徑C之 區域1中。 然後，透射穿過1/2波板62a之該反射光束將呈現入射 在偏極化光學元件64a上。因爲入射在區域641上之信號光 線係S偏極化光線，所以該信號光線會將透射穿過區域642 -28- (26) 1328811 。另一方面，因爲入射在區域641上之漫射光線係P偏極化 光線，所以該漫射光線會反射或吸收於區域64 1。因爲入 射在區域642上之信號光線係P偏極化光線’所以該信號光 線會透射穿過區域64 2。另一方面，因爲入射在區域6 42上 • 之漫射光線係S偏極化光線，所以該漫射光線會反射或吸 • 收於區域642。因此，該反射光束僅包含S偏極化之信號光 線於光學路徑D之區域1中，以及該反射光束僅包含P偏極 φ 化之信號光線於光學路徑D之區域2中。所以，在光學路徑 D之光束僅包含信號光線（信號光線分量）。也就是說，可 提取出該反射光束中所包含的信號光線及漫射光線。 該信號光線變成P偏極化光線於光學路徑E之區域1中 ，而且在該光學路徑E之區域2中的信號光線會變成S偏極 化光線。 接著，透射穿過偏極化光學元件64a之該反射光束變 成入射於偏極化光學元件64b之上。因爲入射在區域645上 • 之信號光線係P偏極化光線，故所入射之信號光線將透射 • 穿過區域645 ;因爲入射在區域646上之信號光線係S偏極 . 化光線，故所入射之信號光線將透射穿過區域646。 接著，透射穿過偏極化光學元件64b之該反射光束會 • 入射於1/2波板62b上’該1/2波板62b提供相對於入射在區 域625上之光束的1/2波長相位差且允許入射在區域626上 之光束透射穿過該處。因此，該信號光線變成S偏極化光 線於光學路徑G之區域1中，以及該信號光線維持爲S偏極 化光線於光學路徑G之區域2中。 -29- (27) 1328811 然後，透射穿過W2波板62b之反射光束將經由聚光透 鏡5 8而藉由光學偵測單元PD來加以接收。光電轉換過程係 執行於光學偵測單元PD中之各個光學偵測器（或光學偵測 區域）處之該反射光束上。然後，光學偵測單元PD輸出經 ' 光電轉換之信號至再生信號處理電路28，因爲僅接收該反 • 射光束中所包含之信號光線分量（信號光線）於光學偵測單 元PD，所以光學偵測單元PD可輸出具有高S/N比之經光電 φ 轉換之信號。 接著，請翻閱第1圖，根據本發明實施例之再生信號 處理電路28將依據自光學偵測單元PD所輸出之信號（經光 電_轉換之信號）來取得例如伺服信號（例如包含焦點誤差信 號及軌誤差信號），位址資訊，同步信號，及RF信號。因 爲自光學偵測單元PD所輸出之經光電轉換之信號具有高 S/N比，所以再生信號處理電路28可準確地獲得伺服信號 ，位址資訊，同步資訊（同步信號），及RF信號。例如，如 • 第9A圖中所示，相較於習知實例，該焦點誤差信號的線性 • 部分會更長（第10A圖中所示），此將使焦點之偏差量（位置 、 性偏差）可準確地偵測。在第9A圖中之垂直軸係標準化， 例如若其中光學偵測單元PD係藉由一延伸在對應於循軌方 ' 向之方向中的劃分線來予以劃分爲兩個光學偵測區域時， 則第9A圖之垂直軸可表式爲（Sa-Sb)/(Sa+Sb)，其中從個別 劃分區域所輸出之信號爲Sa < Sb。而且，如第9B圖中所示 ，相較於習知實例（顯示於第10B圖中），包含RF信號之總 信號（添加經光電轉換之信號的總和）亦係穩定，故可準確 -30- (28) 1328811 地獲得RF信號。在第9B圖中之垂直軸係常態化’其中該總 信號之最大値係設定爲1。第9A及9B圖係以其中中間層ML 之厚度約爲9微米（μπι)，物鏡之ΝΑ(數値孔徑）約爲0.65 ’ 以及雷射光束之波長約爲6 60奈米（nm)之例子中的資料爲 基礎。 • 例如所獲得之伺服信號係輸出至驅動控制電路26 ’所 獲得之位址資訊係輸出至CPU 40，以及同步信號係輸出至 φ 編碼器25或驅動控制電路26。而且，該再生信號處理電路 2 8將執行解碼過程及誤差偵測過程於RF信號上。若偵測出 誤差時，則執行誤差校正過程於RF信號之上；然後，該等 所修正之信號將經由緩衝管理器37來予以儲存於緩衝器 RAM 34中當作再生資料。包含於再生資料中之位址資料 係輸出至CPU 40。 驅動控制電路26依據來自再生信號處理電路28之軌誤 差信號來產生循軌致動器之驅動信號以供相對於循軌方向 • 而校正物鏡60之位置性偏差用。而且，該驅動控制電路26 • 會依據來自再生信號處理電路28之焦點誤差信號來產生聚 _ 焦致動器AC之驅動信號以供校正物鏡60之焦點偏差用。該 等致動器之各個的驅動信號係輸出至光學拾取裝置23，以 ‘執行循軌控制及聚焦控制。此外，該驅動控制電路2 6將依 據來自CPU 40之指令來產生用以驅動搜尋馬達21之驅動信 號及用以驅動心軸馬達22之驅動信號，各個馬達之驅動信 號將分別輸出至搜尋馬達2 1及心軸馬達22。 緩衝器RAM 34暫時地儲存即將記錄於光碟15中之資 -31 - (29) 1328811 料（記錄資料）以及即將再生自光碟15之資料（再生資料）。 緩衝管理器37則管理針對緩衝器RAM 34之資料的輸入/輸 出。 編碼器25依據來自CPU 40之指令經由緩衝管理器37來 提取緩衝器RAM 34中所儲存之記錄資料。該編碼器25執 ' 行資料調變以及誤差校正碼之添加於所提取之記錄資料， 藉以產生用以寫入資料至光碟15上之信號（寫入信號）。所 φ 產生之寫入信號係輸出至雷射控制電路24。 雷射控制電路24控制半導體雷射LD之照射功率，例如 在記錄資料於光碟15中，該雷射控制電路24將依據寫入信 號，記錄條件，及半導體雷射LD之照射特性來產生用以驅 動半導體雷射LD之驅動信號。 界面38用作執行與諸如個人電腦之上層裝置（或主機 )90之雙向通訊的界面，該界面38遵照諸如ATAPI(AT附件 訊包界面），SCSI(小型電腦系統界面），以及USB(通用串 • 聯匯流排）之界面標準。 . 快閃記憶體（R〇M)39儲存例如以可讀取供CPU 40用之 碼所寫的種種程式，記錄條件（例如記錄功率，記錄策略 * 資訊），以及半導體雷射LD之照射特性》 ‘ CPU 40根據快閃記憶體39中所儲存之種種程式來控制 不同的部件，以及儲存使用於控制之資料於RAM 4 1及緩 衝器RAM 34之中。 接著，請參閱第11圖，將以其中光碟裝置20接收來自 上層裝置90之存取請求的例子來說明根據本發明實施例之 -32- (30) (30)1328811 光碟裝置20的操作。 第11圖之流程圖顯示包含藉由CPU 40所執行之一序列 之步驟的算式。 當接收到來自上層裝置90之記錄命令或再生命令（下 文中稱爲“請求命令”）時，CPU 40之操作係藉由設定對應 於第11圖中所示之流程圖的頭標位址於CPU 40的程式計數 器而起始。 在步驟S401中，CPU 40指示驅動控制電路26來旋轉光 碟15於預定的線速度或角速度。該CPU 40亦報告來自上層 裝置90之請求命令的接收至再生信號處理電路28。 然後，在步驟S403中，CPU 40自請求命令提取所指定 之位址，且依據所指定之位址來識別目標記錄層（是否爲 第一記錄層L0或第二記錄層L1) » 接著，在步驟S405中，CPU 40報告有關所識別之目標 記錄層的資訊至例如驅動控制電路26 » 然後，在步驟S409中，CPU 40指示該驅動控制電路26 形成光束光點於對應於所指定位址之目標位置的近區處， 藉以執行搜尋操作。若無需執行捜尋操作時，可跨越步驟 S4〇9中之過程。 然後，在步驟S411中，CPU 4〇允許根該請求命令之資 料的記錄或資料的再生。 接著，在步驟S413中，CPU 4〇決定該記錄過程或再生 過程是否完成。若該記錄過程或該再生過程並未完成時， 貝IJCPU 40決定該記錄過程或該再生過程之完成爲否定，且 -33- (31) 1328811 在一預定時間過去之後再嘗試該決定。若該記錄過程或該 再生過程完成時，則CPU 40決定該記錄過程或再生過程之 完成爲肯定，且藉此結束操作。 在根據本發明實施例之光碟裝置20中，該再生信號處 理電路28 ’ CPU 40，以及藉由CPU 40所執行之程式係包含 * 於根據本發明實施例之處理裝置中。此外，藉由CPU 40所 執行之方法（步驟）亦可部分地或全部地利用其他附加之硬 φ 體來予以執行。 藉由根據本發明實施例之上述光學拾取裝置23，從光 源單元51所照射之集束的線性偏極化光線（在此實例中，P 偏極化光線）將經由耦合透鏡52，偏極化光束分光器54， 1/4波板55，及物鏡60而聚集形成細尖之光束光點於光碟 15的目標記錄層之上。從光碟15所反射之反射光束（包含 信號光線及漫射光線）將變成與照射自光源單元51之光線 方向垂直交叉的線性偏極化光線（在此實例中，S偏極化光 # 線）且入射在該偏極化光束分光器54之上。在該偏極化光 - 束分光器54中以-Z方向所反射之光束變成聚集之光線於透 鏡61(聚光光學元件）且入射於1/4波板62(第一偏極化改變 元件）之上。該1/4波板62提供相對於入射在區域62a上之光 束的+1/4波長相位差，且提供相對於入射在區域62b上之 光束的-1M波長相位差。透射穿過該1/4波板62之該反射光 束係入射於1/4波板63 (第二偏極化改變元件）之上，該1/4 波板63提供相對於入射在區域63a上之光束的+1/4波長相 位差，且提供相對於入射在區域63b上之光束的_1/4波長相 -34 - (32) 1328811 位差。因此，透射穿過1/4波板63之信號光線變成S偏極化 光線，以及透射穿過1/4波板63之漫射光線變成P偏極化光 線。透射穿過1/4波板63之該反射光束係入射於偏極化光 學元件64(提取元件）之上，該偏極化光學元件64僅允許該 ' 反射光束中之信號光線透射穿過該處，換言之，該偏極化 光學元件64將自該反射光束提取信號光線。透射穿過偏極 化光學元件64之該反射光束係經由聚光透鏡58而由光學偵 φ 測單元PD所接收，因爲藉由光學偵測單元PD所接收之該 反射光束僅包含信號光線（信號光線分量），所以可輸出具 有高S/N比之經光電轉換的信號。因此，可準確地自具有 複數個記錄層之光碟15獲得預定的信號。 再者，因爲1/4波板62及1/4波板63之劃分線匹配對應 於循軌方向之方向，所以信號光線及漫射光線可精確地予 以分離，即使是在其中物鏡60偏移於循軌方向的例子中》 此外，因爲具有高S/N比之經光電轉換的信號係輸出 # 自光學拾取裝置23，所以可精確地及穩定地執行對於具有 # 複數個記錄層之光碟的存取。因此，資訊可精確地再生自 具有複數個記錄層之光碟》 # 在一實例中，如第12圖中所示，1/4波板62及1/4波板 ' 63亦可經由具有折射率大於1之透明構件TB來形成爲聯合 體，此允許劃分線62d及劃分線63d在製造過程期間易於彼 此面向，所以可易於定位各個偏極化光學構件的位置，換 言之，可簡化組合過程及位置調整過程。在此例子中，因 爲偏極化光學構件將安裝於透明構件TB之上，所以較佳的 -35- (33) (33)1328811 是使用子波長線柵或光子晶體，因爲該子波長線柵或光子 晶體可相當容易地形成。 在根據本發明修正實施例之另一實例中，如第1 3 B圖 中所示，除了經由具有折射率大於1之透明構件TB來形成 偏極化光學元件爲聯合體之外，該透明構件TB亦可分別地 配置於焦點f+1與偏極化光學元件60之間，以及配置於偏 極化光學元件64b與焦點f-!之間。由於相較於本發明之上 述實施例，焦點f+1與焦點間之距離以及焦點fo與焦點fd 間之距離的各個距離會變得更大，故此將擴大入射在各個 偏極化光學元件上之該反射光束的光束直徑。因此，即使 是在其中光碟15之中間層ML係薄的例子中，可增加在匹 配1/4波板62、63之劃分線中的可允許誤差，換言之，可 簡化組合過程及位置調整過程。光束直徑與中間層ML之 厚度間的關係係以一其中透明構件TB具有1 .46之折射率的 代表性例子來顯示於第1 4圖之中。 在另一實例中，如第15A圖中所示，1/4波板62，1/4 波板63，及偏極化光學元件64可形成爲聯合體。在此例子 中，該1/4波板62，1/4波板63，及偏極化光學元件64係藉 由配置例如具有折射率大於1之透明構件TB在該1/4波板62 與1/4波板63與偏極化光學元件64之間’且亦在焦點f+1與 1/4波板62之間而形成爲聯合體。因此，可簡化組合過程 及位置調整過程。 在另一實例中，該等1M波板62、63以及該偏極化光 學元件64之各個可形成爲稜鏡。如第16A圖中所示，該等 -36- (34) 1328811 稜鏡可形成爲聯合體，在此例子中，1/4波板62、63及偏 極化光學元件64可藉由使用例如多層介電膜來形成爲稜鏡 〇 * 在另一實例中，如第17A圖中所示，1/4波板62、63可 • 予以傾斜，此將提供散光性於透射穿過該等1/4波板62、 • 63之該反射光束。因此，若採用散光性方法以供執行焦點 誤差偵測用時，將不需要用以提供散光性之透鏡（例如柱 φ 面透鏡），也就是說，可減少組件之數目。 在另一實例中，如第18A圖中所示，除了使該等1/4波 板62、63傾斜之外，該等1/4波板亦可經由透明構件TB來 形成爲聯合體。 如第19圖中所示，偏極化分離光學元件66(分離光學 元件）可配置於透鏡61與1/4波板62之間，使得從光源單元 5 1所照射之光束可藉由偏極化分離光學元件66所反射，藉 由透鏡61來變成實質平行的光線，以及入射於1/4波板55 φ 之上，因此，將無需耦合透鏡52及偏極化光束分光器54, - 所以可達成光學拾取裝置之大小減少及成本降低。 藉由根據本發明修正實施例之上述光學拾取裝置23， 從光源單元51所照射之集束的線性偏極化光線（在此實例 ' 中，P偏極化光線）將經由耦合透鏡52，偏極化光束分光器 54，1/4波板55，及物鏡60而聚集形成細尖之光束光點於 光碟15的目標記錄層之上。從光碟15所反射之反射光束（ 包含信號光線及漫射光線）將變成與照射自光源單元51之 光線方向垂直交叉的線性偏極化光線（在此實例中，S偏極 -37- (35) 1328811 化光線）且入射在偏極化光束分光器54之上。在該偏極化 光束分光器54中以-Z方向所反射之光束變成聚集之光線於 透鏡61(聚光光學元件）且入射於1/2波板62a(第一偏極化改 變元件）之上。該1/2波板62a允許入射在區域621上之光束 ' 透射穿過該處以及提供相對於入射在區域622上之光束的 • 1/2波長相位差。透射穿過1/2波板62a之該反射光束係入射 於偏極化光學元件64a(第一分離光學元件）之上，該偏極化 φ 光學元件64a允許S偏極化光線透射穿過區域641以及允許P 偏極化光線透射穿過區域642。透射穿過偏極化光學元件 64a之該反射光束係入射於偏極化光學元件64b(第二分離 光學元件）之上，該偏極化光學元件64b允許P偏極化光線 透射穿過區域6M以及允許S偏極化光線透射穿過區域646 。透射穿過偏極化光學元件64b之光束係入射於1/2波板 62b(第二偏極化改變元件）之上，該1/2波板62b提供相對於 入射在區域625上之光束的1/2波長相位差且允許入射在區 # 域626上的光束透射穿過該處。因此，透射穿過1/2波板 - 62b之該反射光束僅包含信號光線，換言之，可提取該反 . 射光束中所包含之信號光線及漫射光線。透射穿過該1/2 波板62b之該反射光束係經由聚光透鏡58而由光學偵測單 元PD所接收，因爲藉由該光學偵測單元PD所接收之該反 射光束僅包含信號光線（信號光線分量），所以可輸出具有 高S/N比之經光電轉換之信號。因此，可準確地從具有複 數個記錄層之光碟15獲得預定的信號。 再者，因爲各個1/2波板及各個偏極化光學元件之劃 -38- (36) (36)1328811 分線匹配對應於循軌方向之方向，所以信號光線及漫射光 線可精確地予以分離，即使是在其中物鏡60偏移於循軌方 向的例子中。 此外，因爲具有高S/N比之經光電轉換之RF信號係輸 出自光學拾取裝置23,所以可精確地及穩定地執行對於具 有複數個記錄層之光碟的存取。 根據本發明之上述修正實施例，該偏極化光學元件 64b係描繪爲允許P偏極化光線透射穿過區域645以及允許S 偏極化光線反射或吸收於區域645，而允許S偏極化光線透 射穿過區域64 6以及允許P偏極化光線反射或吸收於區域 646 ;該偏極化光學元件646亦可允許S偏極化光線透射穿 過區域645以及允許P偏極化光線反射或吸收於區域645， 而允許P偏極化光線透射穿過區域646以及允許S偏極化光 線反射或吸收於區域646。在此例子中，藉由光學偵測單 元PD所接收之光束係P偏極化光線。 在根據本發明修正實施例之另一實例中，在區域1及2 之各個1/2波板及各個偏極化光學元件之特性可相對於本 發明上述修正實施例而相反，也就是說，信號光線及漫射 光線係藉由改變信號光線及漫射光線之偏極化狀態的其中 至少之一使得該信號光線之偏極化狀態與漫射光線之偏極 化狀態彼此不同而予以提取。 在根據本發明修正實施例之另一實例中，如第12B圖 中所示，偏極化光學元件64 a及偏極化光學元件64b亦可經 由具有折射率大於1之透明構件TB來形成爲聯合體。此允 -39- (37) 1328811 許劃分線643及劃分線64 7在製造過程之期間易於定位以彼 此面向，因此，可易於界定1/4波板62及1/4波板63之位置 ，換言之，可簡化組合過程及位置調整過程。在此例子中 ，因爲1/4波板62及1/4波板63係將要安裝在透明構件TB之 ‘上，所以較佳地使用子波長線柵或光子晶體，因爲該子波 • 長線柵或光子晶體可相當容易地予以形成。 在另一實例中，如第1 3 A圖中所示，除了經由具有折 φ 射率大於1之透明構件TB來形成1/4波板62及1/4波板63爲 聯合體之外，該透明構件TB亦可分別地配置於焦點f+!與 1/4波板62之間，以及配置於1/4波板63與焦點f.,之間。由 於相較於本發明之上述修正實施例，焦點i與焦點間之 距離以及焦點f〇與焦點fd間之距離的各個距離會變得更大 ，故此將擴大入射在1/4波板62、63上之該反射光束的光 束直徑。 因此，即使是在其中光碟15之中間層ML係薄的例子 • 中，可增加在匹配各個偏極化光學元件之劃分線的可允許 . 誤差，換言之，可簡化組合過程及位置調整過程。光束直 _ 徑與中間層ML之厚度間的關係係以一其中透明構件TB具 有1.46之折射率的代表性例子來顯示於第14圖之中。 _ 在根據本發明修正實施例之另一實例中，如第15B圖 中所示，個別的1 /2波板及個別的偏極化光學元件可形成 爲聯合體。因此，可簡化組合過程及位置調整過程。 在根據本發明修正實施例之另一實例中，個別之1 /2 波板及個別之偏極化光學元件可形成爲稜鏡。如第i6B圖 -40- (38) (38)1328811 中示，該等稜鏡可形成爲聯合體。因此，可簡化組合過程 及位置調整過程。在此例子中，個別之1/2波板及個別之 偏極化光學元件可藉由使用例如多層介電膜來形成爲稜鏡 〇 在根據本發明修正實施例之另一實例中，如第17B圖 中所示，該等偏極化光學元件可予以傾斜，此將提供散光 性於透射穿過偏極化光學元件之該反射光束。因此，若採 用散光性方法以供執行焦點誤差偵測用時，將不需要用以 提供散光性之透鏡（例如柱面透鏡），也就是說，可減少組 件之數目。 在根據本發明修正實施例之另一實例中，如第18B圖 中所示，該等偏極化光學元件亦可經由透明構件TB而形成 爲聯合體，藉此，可簡化組合過程及位置調整過程。 [倒轉之1/4波板] 在根據本發明實施例之另一實例中，光學系統70之 1/4波板63可定位使得光軸旋轉180度，也就是說，區域 63 a可爲相對於劃分線63 d之-X側中的區域，以及區域63b 可爲相對於劃分線63 d之+X側中的區域。在此例子中，透 射穿過1/4波板63之信號光線變成P偏極化光線，以及透射 穿過1/4波板63之漫射光線變成S偏極化光線。因此，變成 必須改變透射比軸90度使得P偏極化光線分量透射穿過該 偏極化光學元件64 ° 接著，將參照第20圖來說明光學系統70之操作。 -41 - (39) 1328811 藉由偏極化光束分光器54在-Z方向中所反射之光束係 聚集於透鏡6 1。 然後，透射穿過透鏡61之該反射光束變成入射於1/4 波板62之上，包含於該反射光束中之信號光線及漫射光線

• 均係S偏極化光線於透鏡61與1/4波板62間之光學路徑A、B • 處（參閱第5A及5B圖）。該1/4波板62提供相對於入射在區 域62a上之光束的+1/4波長相位差以及提供相對於入射在 φ 區域62b上之光束的-1/4波長相位差（參閱第6A圖）。因此， 信號光線及漫射光線均係以順時鐘方向所迴旋偏極化之光 線於光學路徑C之區域1中，以及均係以順時鐘方向所迴旋 偏極化之光線於光學路徑C之區域2中。此外，在光學路徑 D之區域1中，雖然漫射光線維持爲以順時鐘方向所迴旋偏 極化之光線，但信號光線會變成以逆時鐘方向所迴旋偏極 化之光線；而且，在光學路徑D之區域2中，雖然漫射光線 維持爲以逆時鐘方向所迴旋偏極化之光線，但信號光線會 • 變成以順時鐘方向所迴旋偏極化之光線。 -接著，透射穿過1/4波板62之該反射光束會變成入射 _ 在1/4波板63之上。1/4波板63提供相對於入射在區域63a上 之光束的+1/4波長相位差以及提供相對於入射在區域63 b '上之光束的-W4波長相位差（參閱第7A圖）。在1/4波板63與 偏極化光學元件64間之光學路徑（光學路徑E及F)中，信號 光線係S偏極化光線以及漫射光線係P偏極化光線。 然後，透射穿過1/4波板63之該反射光束將變成入射 在偏極化光學元件64之上。該偏極化光學元件64僅允許來 -42 - (40) (40)1328811 自1/4波板63之光束中所包含的S偏極化分量透射穿過該處 ，因此，在光學路徑G之光束僅包含信號光線分量。換言 之，可提取該反射光束中所包含之信號光線分量。因此， 可得到本發明上述實施例之效應。 [1/4波板^ 1/2波板] 選擇性地，光學系統7〇之1/4波板62可以藉由1/2波板（ 下文中稱爲“1/2波板172”）來予以置換，以及1/4波板63可 以藉由另一1/2波板（下文中稱爲“1/2波板173”）來加以置換 〇 例如，如第21圖中所示，1/2波板172係藉由延伸於Y 方向中之劃分線172d來劃分爲兩區域（172a、172b)。在此 實例中，在相對於劃分線172 d之+X側上之區域係指示爲區 域172a，以及在相對於劃分線172d之-X側上之區域係指示 爲區域172b。該區域172a提供相對於入射在1/2波板172上 之光束的1/2波長相位差，該區域172b允許入射在1/2波板 172上之光束透射穿過該處。若其中物鏡60偏移於循軌方 向之中時，則入射在1/2波板172上之折返光束將偏移至一 對應於該循軌方向之方向（在此實例中，Υ方向）。 例如，如第22圖中所示，1/2波板173係藉由延伸於Υ 方向中之劃分線173d來劃分爲兩區域（173a、173b)。在此 實例中，在相對於劃分線173 d之+X側上之區域係指示爲區 域173a，以及在相對於劃分線173d之-X側上之區域係指示 爲區域173b。該區域173a允許入射在1/2波板173上之光束 -43- (41) 1328811 透射穿過該處，該區域173b提供相對於入射在W2波板173 上之光束的1/2波長相位差，也就是說，1/2波板173之區域 173a具有相同於1/2波板172之區域172b的光學特性，以及 1/2波板173之區域173b具有相同於1/2波板172之區域172a ’ 的光學特性。若其中物鏡60以循軌方向來偏移時，則入射 • 在1/2波板173上之折返光束將偏移至一對應於該循軌方向 之方向（在此實例中，Y方向）。 φ 在此實例中之該光學系統70的結果係顯示於第23圖之 中〇 藉由偏極化光束分光器54在-Z方向中所反射之光束係 聚集於透鏡61。 然後，透射穿過透鏡61之該反射光束變成入射於1/2 波板172之上。如第23圖中所示，包含於該反射光束中之 信號光線及漫射光線均係S偏極化光線於透鏡61與1/2波板 172間之光學路徑A、B處，該1/2波板172提供相對於僅入 # 射在區域172a上之光束的1/2波長相位差。因此，信號光 - 線及漫射光線均係P偏極化光線於光學路徑C之區域1中， . 以及均係S偏極化光線於光學路徑C之區域2中。此外，在 光學路徑D之區域1中，雖然漫射光線維持爲P偏極化光線 ' ，但信號光線會變成S偏極化光線；而且，在光學路徑D之 區域2中，雖然漫射光線維持爲S偏極化光線，但信號光線 會變成P偏極化光線。 接著，透射穿過1/2波板172之該反射光束將入射於1/2 波板173之上。該1/2波板173提供相對於僅入射在區域 -44- (42) 1328811 173b上之光束的1/2波長相位差。因此，在1/2波板173與偏 極化光學元件64間的光學路徑（光學路徑E及F)中，該信號 光線變成S偏極化光線，以及該漫射光線變成P偏極化光線 〇 然後，透射穿過1/2波板173之該反射光束將入射於偏 極化光學元件64之上。該偏極化光學元件64僅允許來自該 1/2波板173之光束中所包含的S偏極化分量透射穿過該處 ，因此，在光學路徑G之光束僅包含信號光線分量。換言 之，可提取該反射光束中所包含之信號光線分量。因此， 可得到本發明之上述實施例的效應。 [倒轉之1/2波板] 在根據本發明實施例之另一實例中，1/2波板173可定 位使得光軸旋轉180度，也就是說，區域173a可爲相對於 劃分線173d之-X側中的區域，以及區域173b可爲相對於劃 # 分線173d之+X側中的區域。在此例子中，透射穿過1/2波 -板173之信號光線變成P偏極化光線，以及透射穿過1/2波 . 板173之漫射光線變成S偏極化光線。因此，變成必須改變 透射比軸90度使得P偏極化光線分量透射穿過該偏極化光 學元件64。 在此實例中之光學系統7〇的結果係顯示於第24圖之中 〇 藉由偏極化光束分光器5 4在-Z方向中所反射之光束係 聚集於透鏡61 -45- (43) 1328811 接著，透射穿過透鏡61之該反射光束呈現入射於1/2 波板172之上。如第24圖中所示，包含於該反射光束中之 信號光線及漫射光線均係S偏極化光線於透鏡61與1/2波板 172間之光學路徑A、B處。該1/2波板172提供相對於僅入 ' 射在區域172a上之光束的+1/2波長相位差。因此，信號光 • 線及漫射光線均係P偏極化光線於光學路徑C之區域1中， 以及均係S偏極化光線於光學路徑C之區域2中。此外，在 φ 光學路徑D之區域1中，雖然漫射光線維持爲P偏極化光線 ，但信號光線會變成S偏極化光線：而且，在光學路徑D之 區域2中，雖然漫射光線維持爲S偏極化光線，但信號光線 會變成P偏極化光線。 接著，透射穿過1/2波板172之該反射光束將入射於1/2 波板173之上。該1/2波板173提供相對於僅入射於區域 173a上之光束的1/2波長相位差。因此，在1/2波板173與偏 極化光學元件64間的光學路徑（光學路徑E及F)中，該信號 # 光線變成P偏極化光線，以及該漫射光線變成S偏極化光線 在其中使用子波長線柵或光子晶體爲1/2波板的例子 中，該1/2波板可更容易地製造，而更多的有效區域將變 得更窄。因此，1/2波板172、173可例如配置有一具有實 質相等於信號光線之有效光束直徑之直徑的有效區域，以 及可具有一形成爲包圍該有效區域之外區域的透明構件。 在此例子中，雖然偏差自有效區域之漫射光線可照現狀地 透射穿過1/2波板172、173，但在1/2波板173與偏極化光學 -46- (44) 1328811 元件64間的光學路徑（光學路徑E及F)中，該漫射光線係S 偏極化光線，亦即，相同於透射穿過該有效區域之S偏極 化光線的漫射光線。 接著，透射穿過1/2波板173之該反射光束變成入射在 ' 偏極化光學元件64之上。該偏極化光學元件64僅允許來自 • 該W2波板173之光束中所包含的P偏極化分量透射穿過該 處，因此，在光學路徑G之光束僅包含信號光線分量。換 φ 言之，可提取該反射光束中所包含之信號光線分量。因此 ，可得到本發明之上述實施例的效應。 [1/4波板—旋轉器] 選擇性地，光學系統70之1/4波板62可以藉由旋轉器（ 下文中稱爲“旋轉器182”）來予以置換，以及1/4波板63可以 藉由另一旋轉器（下文中稱爲“旋轉器183”）來加以置換。 例如，如第25圖中所示，旋轉器182係藉由延伸於Υ方 Φ 向中之劃分線182d來劃分爲兩區域（182a、182 b)»在此實 • 例中，在相對於劃分線1 82d之+X側上之區域係指示爲區域 一 182a，以及在相對於劃分線182d之-X側上之區域係指示爲 區域182b。該區域182a旋轉入射光束之偏極化方向至+45 ' 度的角度，以及該區域182b旋轉入射光束之偏極化方向 至-4 5度的角度。若其中物鏡60偏移於循軌方向之中時， 則入射在該旋轉器182上之折返光束將偏移至一對應於該 循軌方向之方向（在此實例中，Y方向）。 例如，如第26圖中所示，旋轉器183係藉由延伸於Y方 -47- (45) 1328811 向中之劃分線183d來劃分爲兩區域（183a、183b)。在此實 例中，在相對於劃分線183d之+X側上之區域係指示爲區域 183a，以及在相對於劃分線183d之-X側上之區域係指示爲 區域183b。該區域183a旋轉入射光束之偏極化方向至+4 5 * 度的角度，以及該區域183b旋轉入射光束之偏極化方向 • 至_4 5度的角度。也就是說，旋轉器183具有相同於旋轉器 182的光學特性。若其中物鏡60偏移於循軌方向之中時， φ 則入射在該旋轉器183上之折返光束將偏移至一對應於該 循軌方向之方向（在此實例中，Y方向）。 在此實例中之該光學系統70之結果係顯示於第27圖之 中。此處，爲便利性之緣故，該偏極化方向之角度係依據 S偏極化光線之偏極化方向來予以描述。因此，若其中線 性偏極化光線具有+90度或-90度之偏極化方向時，則該線 性偏極化光線爲P偏極化光線。 藉由偏極化光束分光器54在-Z方向中所反射之光束係 # 聚焦於透鏡6 1。 • 然後，透射穿過透鏡61之該反射光束變成入射於旋轉 . 器182之上。如第27圖中所示，包含於該反射光束中之信 號光線及漫射光線均係S偏極化光線於透鏡61與旋轉器182 ' 間之光學路徑A、B處。該旋轉器182相對於入射在區域 18 2a上之光束來旋轉偏極化方向至+45度的角度，以及相 對於入射在區域18 2b上之光束來旋轉偏極化方向至-4 5度 的角度。因此，該信號光線及漫射光線均係具有+45度之 偏極化角度的線性偏極化光線於光學路徑C之區域1中，以 -48- (46) 1328811 及均係具有-4 5度之偏極化角度的線性偏極化光線於光學 路徑C之區域2中。此外，在光學路徑D之區域1中，雖然漫 射光線維持爲具有+45度之偏極化角度的線性偏極化光線 ，但信號光線會變成具有-4 5度之偏極化角度的線性偏極 ' 化光線：而且，在光學路徑D之區域2中，雖然漫射光線維 • 持爲具有-45度之偏極化角度的線性偏極化光線，但信號 光線會變成具有+45度之偏極化角度的線性偏極化光線。 φ 接著，透射穿過旋轉器182之該反射光束變成入射於 旋轉器183之上。該旋轉器183相對於入射在區域183a上之 光束來旋轉偏極化方向至+45度的角度，以及相對於入射 在區域183b上之光束來旋轉偏極化方向至-45度的角度。 因此，在旋轉器183與偏極化光學元件64間之光學路徑（光 學路徑E及F)中，信號光線將變成具有0度之偏極化角度的 線性偏極化光線（亦即，S偏極化光線），以及漫射光線將 變成具有+90度或-90度之偏極化角度的線性偏極化光線（ • 亦即，P偏極化光線）。 • 然後，透射穿過旋轉器183之該反射光束將入射於偏 . 極化光學元件64之上。該偏極化光學元件64僅允許來自該 ， 之 處 ^一目 該換 過。 穿量 射分 透線 量光 分號 化信 極含 偏包 S 的僅 含束 包光 所之 戶G 0徑 束路 J學 之电 3 ^ 18在 器’ 轉此 旋因 可 此 因 〇 量 分 線 光 號 信。 之應 含效 包的 所例 中施 束實 光述 射 上 反之 該明 取發 提本 可到 ’ 得 [倒轉之旋轉器] -49- (47) 1328811 在根據本發明實施例之另一實例中，該旋轉器1 8 3可 定位使得光軸旋轉180度，也就是說，區域18 3a可爲相對 於劃分線183d之-X側中的區域，以及區域183b可爲相對於 劃分線183 d之+X側中的區域。在此例子中，透射穿過該旋 '轉器183之信號光線變成P偏極化光線，以及透射穿過該旋 • 轉器183之漫射光線變成S偏極化光線。因此，變成必須改 變透射比軸90度使得P偏極化光線分量透射穿過偏極化光 φ 學元件64。 在此實例中之光學系統70的結果係顯示於第28圖之中 〇 藉由偏極化光束分光器54在-Z方向中所反射之光束係 聚集於透鏡6 1。 接著，透射穿過透鏡61之該反射光束呈現入射於旋轉 器182之上。如第28圖中所示，包含於該反射光束中之信 號光線及漫射光線均係S偏極化光線（亦即，具有90度之偏 # 極化角度的線性偏極化光線）於透鏡6 1與旋轉器1 82間之光 •學路徑A、B處。該旋轉器182相對於入射在區域182a上之 > 光束來旋轉偏極化方向至+4 5度的角度’以及相對於入射 在區域182b上之光束來旋轉偏極化方向至-45度的角度。 * 因此，該信號光線及漫射光線均係具有+4 5度之偏極化角 度的線性偏極化光線於光學路徑C之區域1中，以及均係具 有-45度之偏極化角度的線性偏極化光線於光學路徑C之區 域2中。此外，在光學路徑D之區域1中，雖然漫射光線維 持爲具有+45度之偏極化角度的線性偏極化光線’但信號 -50- (48) 1328811 光線會變成具有-4 5度之偏極化角度的線性偏極化光線； 而且，在光學路徑D之區域2中，雖然漫射光線維持爲具有 有-4 5度之偏極化角度的線性偏極化光線，但信號光線會 變成具有+45度之偏極化角度的線性偏極化光線。 * 接著，透射穿過旋轉器182之該反射光束變成入射於 • 旋轉器183之上。該旋轉器183相對於入射在區域183a上之 光束來旋轉偏極化方向至-4 5度的角度，以及相對於入射 φ 在區域183b上之光束來旋轉偏極化方向至+4 5度的角度。 因此，在旋轉器183與偏極化光學元件64間之光學路徑（光 學路徑E及F)中，信號光線將變成具有+90度或-90度之偏 極化角度的線性偏極化光線（亦即，P偏極化光線），以及 漫射光線將變成具有〇度之偏極化角度的線性偏極化光線（ 亦即，S偏極化光線）。 在其中使用子波長線柵或光子晶體爲旋轉器的例子中 ，該旋轉器可更容易地製造，而更多的有效製造將變得更 Φ 窄。因此，旋轉器182、183可例如配置有一具有實質相等 - 於信號光線之有效光束直徑之直徑的有效區域，以及可具 . 有形成爲包圍該有效區域之外區域的透明構件。在此例子 ♦ 中，雖然偏差自有效區域之漫射光線可照現狀地透射穿過 ' .旋轉器182、183，但在旋轉器183與偏極化光學元件64間 的光學路徑（光學路徑E及F)中，該漫射光線係S偏極化光 線（亦即，相同於透射穿過該有效區域之S偏極化光線的漫 射光線）。 接著，透射穿過旋轉器183之該反射光束變成入射在 -51 - (49) 1328811 偏極化光學元件64之上。該偏極化光學元件64僅允許來自 該旋轉器183之光束中所包含的P偏極化分量透射穿過該處 ，因此，在光學路徑G之光束僅包含信號光線分量。換言 之，可提取該反射光束中所包含之信號光線分量。因此， ' 可得到本發明之上述實施例的效應。 • 第29圖顯示根據本發明實施例之光學拾取裝置23的另 一實例。在第29圖中所示之光學拾取裝置23中，聚光透鏡 φ (偵測透鏡）5 8及光學偵測單元PD係配置於偏極化光學元件 64之+Z側處，而上述1/4波板62、63以及偏極化光學元件 64係藉利用1/2波板67及反射鏡65來予以置換。在此例子 中，該光學系統70包含偏極化光束分光器54、透鏡61、 1/2波板67、及反射鏡65。 1/2波板67係定位於透鏡61之-Z側且置於焦點f+1與焦 點f〇之間，例如，如第30圖中所示，該1/2波板67係藉由延 伸於Y方向中之劃分線67d來劃分爲兩區域（67a、67b)。在 • 此實例中，在相對於劃分線67d之+X側上的區域係指示爲 • 區域67a，以及在相對於劃分線67d之-X側上的區域係指示 . 爲區域67b。該區域67a提供相對於入射在1/2波板67上之 光束的+1/2波長相位差，該區域67b不提供相對於入射在 ^ 1/2波板67上之光束的相位差。若其中物鏡60偏移於循軌 方向之中時，則入射在1/2波板67上之折返光束將偏移至 對應於循軌方向之方向（在此實例中，Y方向）。 例如扭轉向列液晶、子波長線柵、或光子晶體可予以 使用作1/2波板67。 -52- (50) 1328811 參閱第31圖，反射鏡65係置於焦點f〇，該反射鏡65反 射來自1/2波板67之區域67a的光束到1/2波板67之區域67b ，以及反射來自1/2波板67之區域67b的光束到1/2波板67之 區域6 7 a。 * 接著，將參照第31及32圖來描述根據本發明實施例之 * 上述光學系統的操作。此處，相對於透鏡61之光軸方向， 從偏極化光束分光器54前進至焦點f+1的光學路徑稱爲“光 • 學路徑A”，從焦點f+1前進至1/2波板67的光學路徑稱爲“光 學路徑B”，從1/2波板67前進至焦點fG的光學路徑稱爲“光 學路徑C”，從焦點fQ前進至1/4波板67的光學路徑稱爲“光 學路徑D”，從1/4波板67前進至焦點f+1的光學路徑稱爲“光 學路徑E”，從焦點f+1前進至偏極化光束分光器5 4的光學路 徑稱爲“光學路徑F”，以及從偏極化光束分光器54前進至 聚光透鏡58的光學路徑稱爲“光學路徑G”（參閱第31及32圖 )° • 藉由偏極化光束分光器54在-Z方向中所反射之光束係 * 聚集於透鏡61，然後，透射穿過透鏡61之反射光束變成入 . 射於1/2波板67之上。如第32圖中所示，在該反射光束中 嘩 所包含之信號光線及漫射光線均係S偏極化光線於光學路 • 徑A、B處，該1/2波板67提供相對於入射在區域67a上之光 束的+1/2波長相位差以及不提供相對於入射在區域67b上 之光束的相位差。因此，信號光線及漫射光線均係P偏極 化光線於光學路徑C的區域1中，以及均係S偏極化光線於 光學路徑C的區域2中。 -53- (51) 1328811 接著，來自1/2波板67之光束變成入射於1/2波板67之 上。反射鏡65反射來自1/2波板67之區域67a的光束至1/2波 板67之區域67b，以及反射來自1/2波板67之區域6 7b的光 束至1/2波板67之區域67a »因此，在光學路徑D之區域1中

* ，雖然漫射光線維持爲P偏極化光線，但信號光線會變成S • 偏極化光線。而且，在光學路徑D之區域2中，雖然漫射光 線維持爲S偏極化光線，但信號光線將變成P偏極化光線。 φ 接著，從反射鏡65所反射之光束變成入射於1/2波板 67之上，該1/2波板67提供相對於入射在區域67a上之光束 的+1/2波長相位差以及不提供相對於入射在區域67b上之 光束的相位差。因此，在光學路徑E及F中，信號光線變成 P偏極化光線以及漫射光線變成S偏極化光線。 然後，來自1/2波板63之光束經由透鏡61而呈入射於 偏極化光束分光器54之上，該偏極化光束分光器5 4僅允許 P偏極化分量透射穿過該處以及入射於聚光透鏡58之上。 # 所以在光學路徑G之光束僅包含信號光線分量，因此，可 • 得到本發明上述實施例之效應。因而，可減少該光學拾取 _ 裝置之組件的數目以及大小。 選擇性地，耦合透鏡52可配置於偏極化光束分光器54 ' 之+X處，如第33圖中所示。在此例子中，該耦合透鏡52提 供相同於透鏡61相對於該反射光束的功能，也就是說，在 此例子中之光學系統70包含偏極化光束分光器54，耦合透 鏡52，1/2波板67，及反射鏡65。如第34及35圖中所示， 在此例子中之光學系統70可達到相同於第29圖中所示光學 -54- (52) 1328811 系統70的效應。因此，可進一步減少該光學拾取裝置之組 件的數目以及大小。 此外，因爲1/2波板67之劃分線匹配於對應循軌方向 之方向，所以信號光線及漫射光線可精確地予以分離，即 • 使是在其中物鏡60偏移於該循軌方向的例子中。 • 在第29及/或33圖中所示的光學系統70中，1/2波板67 及反射鏡65可選擇性地形成爲聯合體。在此例子中，1/2 φ 波板67及反射鏡65可經由具有折射率大於1之透明構件TB 來形成爲聯合體。因此，可簡化組合過程及位置性調整過 程。 此外，在第29及/或33圖中所示的光學系統70中，具 有折射率大於1之透明構件TB可配置於焦點…與fe之間。 因此，可簡化組合過程及位置性調整過程。 雖然在第29及33圖中所示的光學系統70使用反射鏡65 來當作反射部件，但亦可選擇性地使用棱鏡，也就是說， φ 可採用其他的反射部件，只要該反射部件可從1/2波板67 • 之區域67a反射光束至1/2波板67之區域67b，以及從1/2波 _ 板67之區域67b反射光束至1/2波板67之區域67a即可。 雖然本發明之上述實施例描繪該物鏡爲無焦系統（無 • 限系統），但該物鏡亦可爲聚焦系統（有限系統）。甚至在此 例子中，可得到本發明之上述實施例的效應。 雖然根據本發明實施例之光碟裝置20係描繪爲一可記 錄資訊至光碟15及再生資訊自光碟15之裝置於上文，但該 光碟裝置20將包含其他光學裝置，只要該光學裝置至少可 -55- (53) 1328811 再生光碟之資訊即可。 而且’雖然該光碟15係描繪爲具有兩層，但該光碟15 並未受限於具有兩層，該光碟15可選擇性地具有三層或更 多層。在此例子中，當目標記錄層係置於兩記錄層之間時 ’該反射光束包含：第一漫射光線（第一漫射光線分量）， 其聚集於一接近於信號光線之焦點的位置；以及第二漫射 光線（第二漫射光線分量），其聚集於一遠離於信號光線之 φ 焦點的位置。 再者，根據本發明實施例之光碟15不僅包含DVD類型 之光碟，而且包含CD類型之光碟以及對應於具有約405奈 米（nm)之波長的光束之下一代資訊記錄媒體。 此外，雖然該光學拾取裝置23係利用單一的半導體雷 射之實例來予以描述，但亦可採用複數個雷射。例如可利 用發出不同波長之光束的多重半導體雷射，在此一例子中 ，一半導體雷射可發出具有約405奈米之波長的光束，另 # —半導體雷射可發出具有約660奈米之波長的光束，以及 ‘又一半導體雷射可發出具有約780奈米之波長的光束。換 . 言之，根據本發明實施例之光碟裝置20包含可與不同標準 之種種光碟相容之光碟裝置，其中該等光碟之一可爲具有 ‘複數個層之光碟。 第36圖係示意圖，顯示根據本發明又一實施例之光學 拾取裝置23中所包含之光學偵測系統200的代表性架構。 將注意的是，相同於本發明上述實施例之組件係以相同的 參考符號來予以表示且將進一步地加以解說。 -56- (54) 1328811 在第36圖中，參考符號ill表示前屏蔽部件，以及參 考符號112表示後屏蔽部件。第36圖係從光碟15之循軌方 向所觀視之例子中的橫剖面視圖，光學偵測系統200係用 以分離及偵測反射自光碟1 5之信號光線及漫射光線。 • 在其中包含反射自光碟20之信號光線集束（下文中稱 • 爲“信號光束”）及漫射光線集束（下文中稱爲“漫射光束”）的 光束係入射於聚光透鏡106上之例子中，該光束之放大率 • 將依據反射該光束之層（表面）的位置而不同，也就是說， 在聚光透鏡106上所入射的光束中，反射自目標記錄層之 信號光束Lm具有不同於反射自光碟20之其他層（除了該目 標記錄層之外）的漫射光束Lm±n的放大率，其中“m”係設定 爲從目標記錄層之頂部表面所計數之層，“m”係整數，其 中其最大値爲記錄媒體1 5之諸層的總數，以及“η”係一給 定之整數（只有在滿足ng 1及m>n之關係的條件之下），因 此，透射穿過該聚光透鏡106各個集束之焦點會有所不同 • 。在此實例中，焦點fm對應於信號光束Lm，以及焦點 • fm±n對應於漫射光束Lm±n。在本發明之此實施例中，爲 . 便利起見，η係設定滿足n=l之關係。將注意的是，當m=l 時，並沒有漫射光線於負（_)側，另一方面，當m爲最大値 時*並沒有漫射光線於正（+ )側。 如上述，參閱第50A及50B圖，由於信號光束Lm係設 定呈平行相對於聚光透鏡之光軸，故焦點fm之位置係定位 於光學偵測系統中之固定位置而不管m之値爲何。而且， 除非在接受記錄/再生之光碟的中間層厚度中存在有重大 -57- (55) 1328811 的差異，否則在個別焦點fm+ 1、fm '及fm-1間的間隔（距 離）可涵蓋於可預測之範圍內，因爲焦點fm+ 1及fm· 1的位 置係根據光碟15之中間層厚度來予以界定。換言之，可稱 該等焦點係實質固定之點而與m之値無關。 ， 從相較於光束所聚集的目標記錄層之置於更遠離物鏡 • 104的層所反射之漫射光束Lm + n(參閱第51A及51B圖）將形 成一置比信號光束Lm之焦點fm更接近聚光透鏡106的焦點 φ fm + n，而置於最接近焦點fm之正側的焦點爲fm+1。另一 方面，從相較於光束所聚集的目標記錄層之置於更接近物 鏡104的層所反射之漫射光束Lm-n(參閱第51A及51B圖）將 形成一置於比信號光束Lm之焦點fm更接近光學偵測器1 08 的焦點fm_n，而置於最接近焦點fm之負側的焦點爲fm-Ι。 參閱第36及37圖，相對於光束之傳播方向的中心軸C( 聚光透鏡106之光軸）的上半部區域係稱爲“區域A”，以及 相對於該光束之傳播方向的中心軸C的下半部區域係稱爲“ # 區域B ”。根據本發明實施例之前屏蔽部件1 1 1係定位於焦 -點fm + l與焦點fm之間，用以屏蔽透射穿過聚光透鏡106之 . 光束於區域A之中。再者’後屏蔽部件112係定位於焦點fm 與焦點fm -1之間，用以屏蔽透射穿過聚光透鏡1 0 6之光束 於區域B之中。 透射穿過聚光透鏡1〇6之部分區域A之光束中所包含的 信號光束Lm及漫射光束Lm-n係藉由前屏蔽部件1 1 1來加以 屏蔽。因爲漫射光束Lm + n係聚集於（收斂於）抵達前屏蔽部 件111之前，故漫射光束Lm + n的位置會倒轉至區域B。因 -58- (56) 1328811 此，漫射光束Lm + n係屏蔽於後屏蔽部件1 12。 透射穿過聚光透鏡106之部分區域B之光束中所包含之 漫射光束Lm-n係屏蔽於後屏蔽部件112。因爲漫射光束 Lm + n係聚集於（收斂於）抵達前屏蔽部件1 1 1之前，故漫射 ^ 光束Lm + n之位置會倒轉至區域A。因此，該漫射光束Lm + n # 係屏蔽於前屏蔽部件111。信號光束Lm之焦點係結合於前 屏蔽部件1 1 1與後屏蔽部件1 12間之點，因此，信號光束Lm 9 的位置會倒轉至區域A，所以僅信號光束Lm將透射穿過前 屏蔽部件1 1 1及後屏蔽部件1 1 2，且偵測於光學偵測器i 08 〇 雖然在上述說明中之前屏蔽部件1 1 1係定位於區域A側 ，但透射穿過聚光透鏡106之部分區域A的信號光束Lm可 藉由定位前屏蔽部件1 1 1於區域B側及定位後屏蔽部件1 ! 2 於區域A側而由光學偵測器1 0 8加以偵測。 根據本發明實施例之上述光學偵測系統亦可應用於一 # 用以記錄及讀出資訊自諸如雙層光碟的光碟之光學系統。 - 此處’其係置於更接近物鏡104之光碟20(在此實例中 . ，雙層光碟）的層係稱爲第一層L0，以及其係置於更遠離 物鏡104之雙層光碟的層係稱爲第二層L1。在其中光束光 # 點係形成於第一記錄層L0上之例子中，反射自光碟15之光 束包含第一記錄層L0之信號光束Lm及第二記錄層L1之漫 射光束Lm+1。因爲信號光束Lm係聚集於前屏蔽部件1 1 1與 後屏蔽部件1 1 2間之點，所以該信號光束Lm可到達光學偵 測器108。同時’因爲漫射光束Lm+1係藉由後屏蔽部件 -59- (57) 1328811 及前屏蔽部件111來予以屏蔽，所以該漫射光束Lm+1 無法到達光學偵測器1 08。因此，可獲得令人滿意的信號 〇 在其中光束光點係形成於第二記錄層L1上之例子中， 反射自光碟15之光束包含第二記錄層L1之信號光束Lm及 * 第一記錄層L1之漫射光束Lm-Ι。因爲信號光束Lm係聚集 於前屏蔽部件U 1與後屏蔽部件1 1 2間之點，所以信號光束 # Lm可到達光學偵測器1 08。同時，因爲漫射光束Lm-Ι係藉 由前屏蔽部件111及後屏蔽部件112來予以屏蔽，所以該漫 射光束Lm-Ι無法到達光學偵測器108。 因此，根據本發明以上實施例之上述架構可合適地應 用於雙層光碟以供去除漫射光線（漫射光線分量）用。然而 ，應注意的是’根據本發明又一實施例之架構可應用於其 他多層的記錄媒體。而且，雖然在圖式中之後屏蔽部件係 描述及繪製爲分離自光學偵測器之組件，但該後屏蔽部件 # 及光學偵測器可形成爲聯合體。再者，相同的效應可藉由 * 使屏蔽側上之一部分光學偵測器變成無法偵測出入射在該 . 部分上之光束而取得（例如僅提供光學偵測區域於相對於 於其中設置後屏蔽部件之區域的區域處）。 ' 第37圖係根據本發明又一實施例之用以防止光量（光 線數量）中之損失的另一架構示意圖。在第37圖中，參考 符號113表示用以分光光束之光束分光部件，第37圖顯示 用以分離及偵測信號光線及漫射光線之光學偵測系統2〇〇 的另一實例。 -60- (58) 1328811 在此實例中，光學偵測系統200具有光束分光部件113 ，配置於聚光透鏡106與前屏蔽部件1 12之間，用以分光入 射光束於兩區域（區域A、區域B)內。在此實例中，該光束 分光部件1 13係反射單元。在此實例中，如第37圖中所示 ‘ ，區域A係置於相對於向上反射光束之折彎中心軸C的右側 * ，且係置於相對於向下反射光束之折彎中心軸C的左側， 此亦可應用於下文所述圖式第38至47A圖中之表示。此外 φ ，將注意的是，置於該光束分光部件下方之光學系統及組 件係藉由添加一上標點“，”於其參考符號來予以表示。 相對於中心軸之上半部區域（區域A)之架構係實質地 相同於第37圖中所示之架構，除了用於前屏蔽部件111及 後屏蔽部件Π 2之對應區域交換其位置之外。 如第37圖中所示，透射穿過聚光透鏡106之部分區域A 的光束係藉由光束分光部件1 13來反射至光學偵測器1〇8 ’ 前屏蔽部件1 1 1係定位於焦點fm+ 1與焦點fm間以供屏蔽區 # 域B用，後屏蔽部件1 1 2係定位於焦點fm與焦點fm-1之間以

-供屏蔽區域A用。因爲漫射光束Lm + n係聚集於抵達前屏蔽 . 部件1 1 1之前，故該漫射光束Lm + n之位置會倒轉至區域B ，因此，該漫射光束Lm + n將屏蔽於前屏蔽部件1 1 1處’而 '漫射光束Lm-η則將屏蔽於後屏蔽部件11 2處。信號光束Lm 之焦點係結合於前屏蔽部件1與後屏蔽部件112間之一點 ，因此，信號光束Lm之位置將倒轉至區域B，所以僅信號 光束Lm將透射穿過前屏蔽部件1 1 1及後屏蔽部件1 1 2且偵測 於光學偵測器1〇8。 -61 - (59) 1328811

透射穿過聚光透鏡106之部分區域B之光束係藉由光束 分光部件1 1 3來反射至光學偵測器1 〇 8 ’，前屏蔽部件1 11 ’係 定位於焦點fm+Ι與焦點fm之間以供屏蔽區域A用，後屏蔽 部件112’係定位於焦點fm與焦點fm-1之間以供屏蔽區域B ' 用。因爲漫射光束Lm + n係聚集於抵達前屏蔽部件1 1 1 ’之前 • ，故該漫射光束Lm + n之位置會倒轉至區域A，因此，該漫 射光束Lm + n將屏蔽於前屏蔽部件111’處，而漫射光束Lm- φ η則將屏蔽於後屏蔽部件1 12’處。信號光束Lm之焦點係結 合於前屏蔽部件11 1 ’與後屏蔽部件11 2 ’間之一點，因此， 信號光束Lm之位置將倒轉至區域A，所以僅信號光束Lm將 透射穿過前屏蔽部件111’及後屏蔽部件112’且偵測於光學 偵測器108’。 因爲透射穿過聚光透鏡106之部分區域A的信號光束 Lm可偵測於光學偵測器108，以及透射穿過聚光透鏡106之 部分區域B的信號光束Lm可偵測於光學偵測器1 0 8 5，故可 • 充分地偵測光束中所包含之信號光束。 • 雖然在第37圖中之該光束分光部件113係描繪爲具有 . 兩外部面的直角稜鏡，但光束分光部件113亦可爲兩個扁 平反射鏡之組合，其中該兩扁平反射鏡之交叉角度並未受 + 限於直角。換言之，在該光束分光部件113中，可選擇性 地採用諸如兩個扁平反射鏡之組合的其他反射器，只要該 兩扁平反射鏡的交叉位置匹配中心軸C且其組件（例如屏蔽 部件）係定位使該等組件不會接觸或妨礙其他組件即可。 第38圖係根據本發明又一實施例之另一架構的示意圖 -62- (60) 1328811 。在第38圖中，參考符號114表示用以屏蔽光束之屏蔽部 件’第38圖顯示用以分離及偵測信號光線及漫射光線之光 學偵測系統2 0 0的另一實例》 在此架構中，光束分光部件113之位置係定位遠離聚 光透鏡106，使得該光束分光部件113置於焦點fm+ 1與焦點 • f m之間。 因而，相對於在向上方向中藉由光束分光部件113所 ® 反射之光束，漫射光束Lm+1及Lm-1均係位於區域A之中。 同時’信號光束Lm係在通過焦點fm之後位於區域B之中。 因此，屏蔽部件11 4係定位於一相對於聚光透鏡106而超過 該焦點fm之位置以供屏蔽區域a用，因此，僅信號光束Lm 能到達光學偵測器108。 此將應用於以向下方向所反射之光束，其中屏蔽部件 1 1 4 ’係定位於一相對於聚光透鏡i 〇 6而超過該焦點fm之位 置以供屏蔽區域B用，因此，僅信號光束Lm能到達光學偵 ® 測器1 0 8 ’。 • 因爲屏蔽部件114、114’提供相同於第36及37圖中所 : 示之後屏蔽部件112、112’之功能，故該等屏蔽部件114、 114’可分別地形成爲具有光學偵測部件1〇8、1〇8’之聯合體 〇 第39圖係根據本發明又一實施例之另一架構的示意圖 。在第39圖中，參考符號115表示用以屏蔽光束之另一光 束分光部件’第39圖顯示用以分離及偵測信號光線及漫射 光線之光學偵測系統200的另一實例。 -63- (61) 1328811 光束分光部件1 1 5係定位於焦點fm+ 1與焦點fm之間以 供分光光束於兩區域（區域A、區域B)內。如第39圖中所示 ，該光束分光部件Π5包含一對光學楔形物，其中該等光 學楔形物之較薄側係匹配使得該等光學楔形物相對於中心 . 軸（聚光透鏡106之光軸）係彼此對稱的。 • 在其中透射穿過聚光透鏡106之部分區域A的光束並未 在到達光束分光部件115之前聚集（收斂）的例子中，光束將 • 藉由該光束分光部件1 1 5來予以折射及導向至光學偵測器 108。屏蔽部件1 14係定位於焦點fm與焦點fm-1之間以供屏 敝區域A用。 在其中透射穿過聚光透鏡106之部分區域B的光束並未 在到達光束分光部件1 15之前聚集（收斂）的例子中，光束將 藉由該光束分光部件115來予以折射及導向至光學偵測器 108’。 屏蔽部件1 14’則定位於焦點fm與焦點fm-Ι之間以 供屏蔽區域B用。 • 因爲透射穿過聚光透鏡106之部分區域A之漫射光束 • Lm + ri係聚集於抵達光束分光部件1 15之前，所以該漫射光 . 束Lm + n之位置會倒轉至區域B，因此，漫射光束Lm + n係屏 蔽於屏蔽部件1 14’，漫射光束Lm-n係屏蔽於屏蔽部件114 。信號光束Lm之焦點係結合於光束分光部件115與屏蔽部 件114間之點，因此，信號光束Lm之位置會倒轉至區域B 。所以，僅信號光束Lm將透射穿過屏蔽部件114及偵測於 光學偵測器108。 因爲透射穿過聚光透鏡106之部分區域B之漫射光束 • 64 · (62) 1328811

Lm + n係聚集於抵達光束分光部件1 1 5之前，所以該漫射光 束Lm + n之位置會倒轉至區域A，因此，漫射光束Lrn + n係屏 蔽於屏蔽部件114，漫射光束Lm-n係屏蔽於屏蔽部件114’ 。信號光束Lm之焦點係結合於光束分光部件115與屏蔽部 件1 14間之點，因此，信號光束Lm之位置會倒轉至區域A * 。所以，僅信號光束Lm將透射穿過屏蔽部件1 1 4 ’及偵測於 光學偵測器108’。 φ 因爲透射穿過聚光透鏡1〇6之部分區域A之信號光束

Lm可偵測於光學偵測器108，且透射穿過聚光透鏡106之部 分區域B之信號光束Lm可偵測於光學偵測器108’，所以可 充分地偵測光束中所包含之信號光束。而且，該光學偵測 系統之架構可予以簡化，因爲所有的漫射光束Lm±n可實質 地藉由製備兩個相同的屏蔽部件114、114’來予以屏蔽。 選擇性地，光束分光部件115可置於比焦點fm+l更接 近聚光透鏡106。在此例子中，原理係實質地相同於第37 * 圖中所示之架構，其中前屏蔽部件及後屏蔽部件將對應於 * 個別之所分光光束來予以配置。在此例子中，對應於個別 . 之所分光光束的該等後屏蔽部件可形成爲聯合體，因爲它 們係彼此接近地定位。 第40圖係根據本發明又一實施例之另一架構的示意圖 。在第40圖中，參考符號116表示用作光束分光部件之繞 射光柵’第40圖顯示用以分離及偵測信號光線及漫射光線 之光學偵測系統200的另一實例。 在此實例中所使用之繞射光柵1 1 6係閃耀光柵。 -65- (63) 1328811 該閃耀光柵利用布拉格（Bragg)繞射條件來增強既定階 之繞射效率。雖然以下所述之光柵係解說爲設定用於第一 階（-1階、+1階）繞射之閃耀光柵’但亦可應用其他階之繞 射。而且，較佳地係採用可在既定週期中滿足相對於入射 光束之所有布拉格條件，而僅非在傾斜之固定週期之一中 . 滿足。 在此實例中之繞射光柵116藉由產生一相對於區域A之 • 光束而表現強烈的+1階繞射的繞射光線及產生一相對於區 域B之光束而表現強烈的-1階繞射的繞射光線來提供相對 於各個區域的不同繞射。 該光束分光部件（亦即’繞射光柵）1 1 6係定位於焦點 fm+l與焦點fm之間以供分光光束至兩區域（區域A、區域B) 之內。 在其中透射穿過聚光透鏡1〇6之部分區域A的光束並未 在抵達光束分光部件1 16之前聚集（收斂）的例子中’該光束 • 係藉由光束分光部件116來予以繞射及導向至光學偵測器 • 1 0 8。屏蔽部件1 1 4係定位於焦點fm與焦點fm-1之間以供屏 . 蔽區域A用。 在其中透射穿過聚光透鏡106之部分區域B的光束並未 在抵達光束分光部件1 16之前聚集（收斂）的例子中’該光束 係藉由光束分光部件116來予以繞射及導向至光學偵測器 1 〇 8，。屏蔽部件1 1 4，係定位於焦點fm與焦點fm-1之間以供 屏蔽區域B用。 因爲透射穿過聚光透鏡106之部分區域A之漫射光束 -66- (64) 1328811

Lrn + n係聚集於抵達光束分光部件116之前，所以該漫射光 束Lm + n之位置會倒轉至區域B，因此，漫射光束Lm + ri係屏 蔽於屏蔽部件114’，漫射光束Lm-n係屏蔽於屏蔽部件114 。信號光束Lm之焦點係結合於光束分光部件116與屏蔽部 件1 14間之點，因此，信號光束Lm之位置會倒轉至區域B • 。所以，僅信號光束Lm將透射穿過屏蔽部件1 14及偵測於 光學偵測器108。 # 因爲透射穿過聚光透鏡106之部分區域B之漫射光束 Lm + n係聚集於抵達光束分光部件116之前，所以該漫射光 束Lm + n之位置會倒轉至區域A，因此，漫射光束Lm + n係屏 蔽於屏蔽部件1 14，漫射光束Lm-n係屏蔽於屏蔽部件1 14’ 。信號光束Lm之焦點係結合於光束分光部件116與屏蔽部 件114間之點，因此，信號光束Lm之位置會倒轉至區域A 。所以，僅信號光束Lm將透射穿過屏蔽部件11 4’及偵測於 光學偵測器108’。 ® 因爲透射穿過聚光透鏡106之部分區域A之信號光束

Lm可偵測於光學偵測器108，且透射穿過聚光透鏡106之部 ·· 分區域B之信號光束Lm可偵測於光學偵測器108’，所以可 充分地偵測光束中所包含之信號光束。而且，該光學偵測 系統之架構可予以簡化，因爲所有的漫射光束Lm±n可實 質地藉由製備兩個相同的屏蔽部件114、114’來予以屏蔽 。此外，該光學偵測系統之架構的大小可減少，因爲該閃 耀光柵具有扁平結構。 選擇性地，光束分光部件116可置於比焦點fm+1更接 -67- (65) 1328811 近聚光透鏡106。在此例子中，原理係實質地相同於第39 圖中所示之架構’其中前屏蔽部件及後屏蔽部件將對應於 個別之所分光光束來予以配置。 第41圖係第40圖中所示架構之修正實例。在第41圖中 ’參考符號117表示另一繞射光栅，以及參考符號118表示 • 另一屏蔽部件。第41圖顯示用以分離及偵測信號光線及漫 射光線之光學偵測系統2 0 0的另一實例。 • 在此修正實例中之繞射光柵117藉由產生一相對於區 域A之光束而表現強烈的_1階繞射的繞射光線及產生一相 對於區域B之光束而表現強烈的+1階繞射的繞射光線來提 供相對於各個區域的不同繞射。因此，繞射於繞射光柵（ 閃耀光柵）117之各個信號光束會在抵達屏蔽部件118之前 交叉。 該光束分光部件（亦即，繞射光柵）1 17係定位於焦點 fm + 1與焦點fm之間以供分光光束至兩區域（區域A、區域B) 籲之內。 • 在其中透射穿過聚光透鏡106之部分區域A的光束並未 - 在抵達光束分光部件117之前聚集（收斂）的例子中，該光束 係藉由光束分光部件117來予以繞射及導向至光學偵測器 108’。 屏蔽部件1 1 8係定位於焦點fm與焦點fm-1之間’其 中該屏蔽部件118之下方部件118 a將屏蔽區域A。 在其中透射穿過聚光透鏡106之部分區域B的光束並未 在抵達光束分光部件117之前聚集（收斂）的例子中’該光束 係藉由光束分光部件117來予以繞射及導向至光學偵測器 -68- (66) 1328811 108 »屏蔽部件1 18係定位於焦點fm與焦點fm-1之間’其中 上方部件1 18b屏蔽區域B。 雖然屏蔽部件118之上方及下方部件118a、118b可配 置爲分離組件，但該上方部件及下方部件11 8b將形 ' 成爲聯合體，因爲它們係彼此接近地設置。 • 因爲透射穿過聚光透鏡106之部分區域A之漫射光束 Lm + ri係聚集於抵達光束分光部件117之前，所以該漫射光 # 束Lm + n之位置會倒轉至區域B，因此，漫射光束Lm + n係屏 蔽於屏蔽部件1 18，漫射光束Lm_n係屏蔽於屏蔽部件1 18。 信號光束Lm之焦點係結合於光束分光部件117與屏蔽部件 118之間的點，因此，信號光束Lm之位置會倒轉至區域B 。所以僅信號光束Lm將透射穿過屏蔽部件1 1 8及偵測於光 學偵測器108’。 因爲透射穿過聚光透鏡106之部分區域B之漫射光束 Lm + n係聚集於抵達光束分光部件1 17之前，所以該漫射光 ® 束Lm + n之位置會倒轉至區域A，因此，漫射光束Lm + n係屏 •蔽於屏蔽部件1 18，漫射光束Lm-n係屏蔽於屏蔽部件118。 - 信號光束Lm之焦點係結合於光束分光部件1 17與屏蔽部件 118之間的點，因此，信號光束Lm之位置會倒轉至區域A 。所以僅信號光束Lm將透射穿過屏蔽部件1 18及偵測於光 學偵測器108。 因爲透射穿過聚光透鏡106之部分區域A之信號光束 Lm可偵測於光學偵測器1〇8’，且透射穿過聚光透鏡106之 部分區域B之信號光束Lm可偵測於光學偵測器108，所以 -69- (67) 1328811 可充分地偵測光束中所包含之信號光束。而且，該光學偵 測系統之架構可予以簡化，因爲所有的漫射光束Lm±ii可 實質地藉由製備單一的屏蔽部件118來予以屏蔽。此外， 該光學偵測系統之架構的大小可減少，因爲該閃耀光柵具 ' 有扁平結構。 * 選擇性地，相似於使用光束分光部件118上述架構的 光學路徑可藉由使用相似於使用含有一對光學楔形物之光 # 束分光部件115之架構（參閱第39圖）的架構來取得。然而， 在此例子中，該等光學楔形物之較厚側係匹配使得光學楔 形物相對於中心軸（聚光透鏡106之光軸）係彼此對稱的。因 此，光束之折射方向將變成相反於第39圖中所示之方向， 藉以允許使用單一的屏蔽部件。 第42 A及4 2B圖係其中光束分光部件及屏蔽部件形成爲 聯合體之架構的示意圖，第42A圖對應於第40圖，以及第 42B圖對應於第41圖。在第42A及42B圖中，參考符號119 ® 及120表示光束分光單元。第42A及42B圖顯示用以分離及 - 偵測信號光線及漫射光線之光學偵測系統200的另一實例 〇 在此實例中，藉由採用繞射光柵1 19a、120a來當作光 束分光部件，則繞射光柵119a、120a及屏蔽部件119b、 119b’、120可安裝以形成聯合體。因此，該光束分光單元 119、12 0可配置爲單一組件。 第43圖顯示用以分離及偵測信號光線及漫射光線之光 學偵測系統200的另一實例。 -70- (68) 1328811 在此實例中，係使用第40圖中所示之架構》如第43圖 中所示，光源1 〇 1係定位於屏蔽部件1 1 4、114 ’之間。而且 ，此實例中所使用之光束分光部件1 1 6係閃耀型偏極化光 柵。該光束分光部件116允許以偏極化方向自光源101所發 ' 出之集束光線無繞射地透射穿過該處，以及繞射以一垂直 • 交叉於偏極化方向之方向自光源101所發出的集束光束。 從光源101所發出之光束係不受光柵116所影響地導向 • 至聚光透鏡106。接著，將描述光束透射穿過聚光透鏡106 後之操作（雖未顯示於圖式中）。首先，其係藉由聚光透鏡 106來改變爲平行光線之光束係藉由λ/4波板來予以迴旋偏 極化且聚集至物鏡104，藉此照射至光碟15之上。自光碟 15所反射之信號光束呈平行光線於物鏡。藉由通過λ/4波 板，該平行光線變成與來自光源101所照射之光束的偏極 化方向垂直交叉的線性偏極化光線，該線性偏極化光線透 射穿過聚光透鏡106而藉由光束分光部件116的繞射光柵來 ® 加以分光及繞射。所繞射之光線則藉由光學偵測器1 0 8、 • 1〇8’來予以偵測。 - 如上述地，反射自光碟15之漫射光束可藉由屏蔽部件 1 Μ來予以屏蔽，使得僅信號光束可偵測於光學偵測器108 、108、 光源101，光束分光部件（繞射光柵）116，屏蔽部件114 ，及光學偵測器108、108’可形成爲聯合體，因此可獲得 小尺寸的光學拾取裝置。 第44圖顯示用以分離及偵測信號光線及漫射光線之光 -71 - (69) 1328811 學偵測系統2 Ο 0的另一實例。 在第44圖中，參考符號in表示第二聚光透鏡，參考 符號122表示分割之光學偵測器，參考字符s表示接收自光 學偵測器之輸出信號。第44圖顯示用以分離及偵測信號光 線及漫射光線且亦用以取得焦點誤差信號之光學偵測系統 • 200的另一實例。 在此實例中’第二聚光透鏡121係定位於後屏蔽部件 # 1 1 2與分割之光學偵測器之間，信號光束Lm係偵測於設置 在信號光束Lm之焦點的分割光學偵測器122處。 接著，將說明用以取得根據本發明實施例之焦點誤差 信號的方法（原理）。 若其中透射穿過物鏡104之光束係聚集於光碟15之上 時，自光碟1 5所反射之信號光束Lm將聚焦於分割之光學偵 測器122的光學偵測器部件122a與光學偵測器部件122b之 間，在光學偵測器部件122a之輸出（Sa)與光學偵測器部件 # 122b之輸出（Sb)間的差異（Sa-Sb)爲0。同時，若其中該物 * 鏡104係定位遠離光碟15時，則聚集於第二聚光透鏡121之 . 光束會在抵達分割之光學偵測器122之前聚集，使得半球 面形之光束呈入射於光學偵測器122b之上（以點線描繪於 • 第44圖中之第二聚光透鏡121的右側），也就是說，輸出之 差異變成小於〇(Sa-Sb<0)。相反地，若其中該物鏡1 〇4係定 位接近光碟15時，則聚集於第二聚光透鏡121之光束會聚 集於分割之光學偵測器122之後（超過分割之光學偵測器 122)，使得半球面形之光束（在變成聚集之前）呈入射於光 -72- (70) 1328811 學偵測器122a之上（以斷線描繪於第44圖中之第二聚光透 鏡121的右側），也就是說，輸出之差異變成大於〇(Sa_ Sb>0)。因此’藉由5十算輸出之差異（Sa-Sb)’可取得指示 相對於光碟15之物鏡104焦點的信號（焦點誤差信號）。在此 ‘ 例子中，信號光束可藉由S a+ S b來取得。偵測焦點誤差信 • 號之架構不僅可應用於第36圖中所示之架構而且可應用於 第37至42圖中所示之架構。 # 在此實例中，因爲第二聚光透鏡121係定位於後屏蔽 部件1 1 2與分割之光學偵測器部件1 22之間，所以後屏蔽部 件1 12及分割之光學偵測器部件122無法形成爲聯合體。然 而，可形成該第二聚光透鏡121及後屏蔽部件112爲聯合體 。在第二聚光透鏡121之入射側，該第二聚光透鏡121至少 可具有透鏡功能於相對於光軸之一側。該第二聚光透鏡可 以以不同的形狀來形成，只要光束不會透射至相對於光軸 之另一側即可。 ® 第45A至45C圖係示意圖，用以說明根據本發明實施例 ' 之光束’屏蔽部件，及光束分光部件之位置性關係。第 45 A圖顯示前及後屏蔽部件與光束間之關係。第45B圖顯示 光束分光部件與光束間之關係，以及第45C圖顯示其中相 對於第45 A及45B圖之光軸偏差於循軌方向中的例子。 在第45A至45C圖中，參考符號124表示光束光點，參 考符號125表示劃分線，以及參考符號126表示光束分光線 。第45 A至45C圖用作描述用以分離及偵測信號光線及漫射 光線之光學偵測系統200的另一實例，其中信號光束之絕 -73- (71) 1328811 對數量並不會改變，即使是在其中物鏡之光軸偏移於循軌 方向之中時。 反射自光碟15之光束係繞射於光碟15之凹槽，藉以形 成如第45B圖中所示之相似於棒球形狀的圖案（軌圖案）。 在藉由第45B圖中之曲線所描畫之區域中，中心區域係獲 ' 得自光碟15之軌區域所反射之光線的圖案，以及側邊區域 係獲得自藉由該軌區域之兩側上所配置的階梯（陸地）區域 # 所繞射之光線的圖案。典型地，該等側邊區域具有比中心 區域更大的光量。下文係以側邊區域具有比中心區域更大 的光量之前提下作描述。 在此實例中，用以劃分用於前及後屏蔽部件111、112 之光束的劃分線125(參閱第45A圖）以及用以分光該光束分 光部件之光束的分光線126(參閱第45B圖）係定向於信號光 束之循軌方向中。如第45 C圖中所示，若其中光軌偏差於 循軌方向之中時，光束將朝向相對於光學系統之劃分線 ® 125或分光線126的方向移動。因此，即使在其中物鏡104 - 在循軌方向中偏移以及光軸之偏差發生於信號光束時，在 - 劃分線125及分光線126之上方及下方的光束分佈並不會改 變。因此，信號可令人滿意地偵測而無任何改變於抵達光 " 學偵測器122之信號光束的光量中。 第46A及4 6B圖係用以描繪取得軌誤差信號之操作的圖 式。第46A圖係光線圖以及第46B圖係根據本發明實施例之 光學偵測器的平面視圖。第46 A至4 6B圖用作描繪用以分離 及偵測信號光線及漫射光線且亦用以取得軌誤差信號之光 -74- (72) 1328811 學偵測系統2 Ο 0的另一實例。 在此實例中，另一分割之光學偵測器1 22( 1 22c、122d) 將偵測信號光束Lm，該分割之光學偵測器1 22係藉由劃分 線125或一與該分光線126垂直交叉的線，沿著資料記錄方 向（Y方向）而劃分爲至少兩區域。 ' 接著，將描述根據本發明實施例之用以取得軌誤差信 號的方法（原理）。 • 透射穿過屏蔽部件之信號光束變成半球面形之發散光 束且係偵測於分割之光學偵測器1 2 2。 若其中光束光點係形成於光碟15之凹槽中心之上時， 軌圖案會變成對稱於其左側及右側，因此，光學偵測器部 件122c之輸出（Sc)與光學偵測器部件122d(Sd)之輸出（Sd) 間的差異（Sc-Sd)爲0。若其中光束光點偏差自凹槽中心時 ，則軌圖案將變成非對稱於其左側及右側，如第45C圖中 所示，因此該差異Sc-Sd將呈大於0(Sc-Sd>0)或小於〇(Sc- ® Sd<0)。所以藉由計算輸出之差異（Sc-Sd)，可取得指示循 * 軌於光碟15上之光束光點位置的信號（軌誤差信號）。在此 - 實例中，信號光束可藉由Sc + Sd來予以取得。 _ 第47A及47B圖係用以描繪取得焦點誤差信號及軌誤差 信號兩者之操作的示意圖。第47 A至47B圖用作描繪用以分 離及偵測信號光線及漫射光線且亦用以取得焦點誤差信號 及軌誤差信號之光學偵測系統200的另一實例。 在此實例中，光束分光部件113係定位於聚光透鏡1〇6 與前屏蔽部件111之間，用以劃分光束至兩區域（區域A及 -75- (73) 1328811 區域B)之內，此部分係實質地相同於第37圖中所示之架構 。該聚光透鏡係定位於後屏蔽部件1 12與光學偵測器之 間，用以接收透射穿過聚光透鏡1〇6之部分區域A的信號光 束。因此，在信號光束Lm之焦點處，信號光束Lm係偵測 . 於分割之光學偵測器1 23 ( 1 23a ' 123b)。而且，透射穿過聚 • 光透鏡106之部分區域B之信號光束Lm係偵測於分割之光 學偵測器123’（123’c、123’d)，該光學偵測器123’係沿著資 # 料記錄方向（第47B圖中之Y方向）而分割爲至少兩部件。 因此，個別的信號可不具有漫射光束地取得，其中焦 點誤差信號係藉由Sa-Sb來取得’軌誤差信號係藉由Sc-Sd 來取得，以及再生信號係藉由Sa + Sb + Sc + Sd來取得。 例如另一實例，第53A及53B圖顯示於第39圖中所示架 構之修正實例，其中光束分光部件及屏蔽部件係形成爲聯 合體。 在第53A及53B圖中，參考符號124及125表示含有稜鏡 ® (124a、125a)及屏蔽部件（124b、125b)之光束分光單元。 * 因爲第53A及53B圖中所示架構之操作係實質地相同於第 - 42A及42B圖中所示之操作，故將省略其進一步之解說。在 第53A圖中所示之架構中，雖然該光束分光單元124之稜鏡 124a的厚度可變大，但會截止一部分之有效光束（例如參 閱第53 A圖中之點虛線）。而且，應注意的是，雖然光束甚 至在透射穿過光束分光單元之後會折射，但所折射之光束 係省略於圖式中。 第48圖係示意圖，顯示根據本發明又一實施例之光學 -76- (74) 1328811 拾取裝置之總架構。在第48圖中，參考符號1〇1表示光源 ’參考符號102表示耦合透鏡，參考符號1〇3表示偵測器及 分離部件，參考符號104表示物鏡，參考符號1〇5表示光碟 ’參考符號106表示偵測透鏡，參考符號1〇7表示繞射光柵 ’以及參考符號1 08表示光學偵測器。 參閱第48圖，根據本發明實施例之光學拾取器，例如 包含：光源1 0 1 ’用以照射供讀出及記錄資訊自及至光碟 ® 105之光線；耦合透鏡102，用於使來自光源101之發散光 束變成實質平行的光束；偵測器及分離部件103，用以分 離從光源101照射至光碟105之光束及從光碟105所反射之 光束；物鏡1 04，用以聚集入射光束至/自光碟丨〇5 ;偵測 透鏡1 06，用以聚集反射自信號層（記錄層）之光束至光學偵 測器108 ;繞射光柵107，用以產生焦點誤差信號及循軌誤 差信號以用於維持預定位置於循軌方向中；以及光學偵測 器108，用以取得信號資訊自光碟105»在此實例中之物鏡 ® 104係藉由致動器來予以驅動於光軸方向中以供聚焦光束 ' 爲光點於光碟105之信號資訊表面（記錄表面）之上。 : 從光源101所照射之光束係在耦合透鏡103變成實質平 行之光線且係透射穿過偵測器及分離部件1 03，藉此形成 細尖之光束光點於光碟105的資訊記錄表面（記錄表面）上。 從光碟105所反射之光束係藉由物鏡104來再變成實質平行 的光線，然後藉由偵測器及分離部件10 3來皮射，接著聚 焦於聚焦透鏡106，且然後藉由繞射光柵107來予以繞射， 而藉由光學偵測器108之光學偵測表面來予以偵測。 -77- (75) (75)1328811 在上述實例中，其中從光源101照射至光碟105之光束 的光學路徑（光學系統）可稱爲照射路徑（光學照射系統）或 前進路徑。同時，其中從光碟105所反射之光束的光學路 徑（光學系統）可稱爲偵測路徑（光學偵測系統）或折返路徑 〇 包含例如光源1 ο 1、繞射光柵1 07、及光學偵測器之光 學單元的實施例係顯示於第49圖中。在此實例中，從光源 101所照射之發散光線將透射穿過繞射光柵107，前進至光 學拾取器中所配置之耦合透鏡（未顯示）以及前進至光碟（未 顯示）。從光碟所反射之光束會再透射穿過耦合透鏡以及 以聚集光線之形式入射於繞射光柵107之上》該繞射光柵 10 7係相對於入射光束而劃分（分離）爲複數個區域，對應於 所分割區域之所劃分（所分離）的光束係藉由光學偵測器（分 割之光學偵測器）1 0 8來予以接收。在一實例中，如第5 0圖 中所示，該繞射光柵1 07係劃分爲三個部件，藉由偵測繞 射於區域AB之光線（藉由使用刀口繞射），將取得焦點誤差 信號，以及藉由接收光線於個別的區域C及D，將取得循軌 誤差信號。 進一步地，本發明並未受限於該等實施例，而是諸變 化及修正可予以完成而不會背離本發明之範疇。 本申請案係以日本專利局之日本優先權申請案第 2005-056976號、第 2005-070366號、第 2005-074031號、第 2005-103441號、第 2005-135509號、以及第 2005-248548號 (分別於2005年3月2日、3月14日、3月15日、3月31日、5 -78- (76) i3288li 月9日、及8月30日所申請）爲基礎，該等申請案之全部內 容係結合於本文供參考）。 . 【圖式簡單說明】 第1圖係示意圖’顯示根據本發明實施例之光碟裝置 的代表性架構； 第2圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之光碟 •的架構； 第3Α圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之光學 系統及包含該光學系統的光學拾取裝置； 第3Β圖係示意圖，用以描繪根據本發明另一實施例之 光學系統及包含該光學系統的光學拾取裝置； 第4 Α及4Β圖係示意圖，用以描繪信號光線（信號光線 分量）及漫射光線（漫射光線分量）； 第5A及5B圖係示意圖，用以描繪第3A圖中所示之光 I學系統的代表性操作； ' 第5C及5D圖係示意圖，用以描繪第3B圖中所示之光 - 學系統的代表性操作； 第6 A圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之1 /4 波板； 第6B及6C圖係示意圖，用以描繪根據本發明另一實施 例之1/2波板； 第7A圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之另一 1 /4波板； -79- (77) 1328811 第7B及7C圖係示意圖，用以描繪根據本發明另一實施 例之光學偏極化元件； 第8 A圖係圖表，顯示根據本發明實施例之第3 A圖中 所示光學系統的操作（效應）； 第8B圖係圖表，顯示根據本發明實施例之第3B圖中所 ' 示光學系統的操作（效應）； 第9A及9B圖係圖形，用以描繪根據本發明實施例之藉 • 由第1圖中所示之再生信號處理電路所獲得的焦點誤差信 號及總信號； 第10A及10B圖係圖形，用以描繪根據習知實例所獲得 的焦點誤差信號及總信號； 第11圖係流程圖，用以描繪在接收來自上方階層裝置 之接達請求的例子中，根據本發明實施例之光碟裝置的過 程（操作）； 第12A圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之第 ® 3A圖中所示光學系統的第一修正實例； • 第12B圖係示意圖，用以描繪根據本發明另一實施例 • 之第3B圖中所示光學系統的第一修正實例； 第13A圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之第 3A圖中所示光學系統的第二修正實例； 第13B圖係示意圖，用以描繪根據本發明另—實施例 之第3B圖中所示光學系統的第二修正實例； 第14圖係圖形’用以描繪根據第13A及13B圖中所示光 學系統之光束直徑與光碟中間層之間的關係； -80- (78) (78)1328811 第15A圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之第 3A圖中所示光學系統的第三修正實例； 第15B圖係示意圖，用以描繪根據本發明另一實施例 之第3B圖中所示光學系統的第三修正實例： 第16A圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之第 3A圖中所示光學系統的第四修正實例； 第16B圖係示意圖，用以描繪根據本發明另一實施例 之第3B圖中所示光學系統的第四修正實例； 第17A圖係不意圖，用以描繪根據本發明實施例之第 3A圖中所示光學系統的第五修正實例； 第17B圖係示意圖，用以描繪根據本發明另一實施例 之第3B圖中所示光學系統的第五修正實例： 第18A圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之第 3 A圖中所示光學系統的第六修正實例； 第18B圖係示意圖，用以描繪根據本發明另—實施例 之第3B圖中所示光學系統的第六修正實例； 第19圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之第1 圖中所示光學拾取裝置的第一修正實例； 第20圖係圖表’顯示若其中1/4波板係旋轉180度時， 根據本發明實施例之第3 A圖中所示光學系統的操作（效應） f 第21圖係示意圖，用以描繪其中根據本發明實施例之 第3A圖中所示1M波板係藉由1/2波板予以置換的例子； 第22圖係示意圖，用以描繪其中根據本發明實施例之 -81 - (79) 1328811 第3A圖中所示另一1/4波板係藉由另一 1/2波板予以置換的 例子； 第2 3圖係圖表，顯示根據本發明實施例之利用第2 1及 22圖中所示1/2波板之光學系統的操作（效應）； 第24圖係圖表，顯示根據本發明實施例之若其中另一 - 1/2波板係旋轉180度時之光學系統的操作（效應）； 第25圖係示意圖，用以描繪其中根據本發明實施例之 Φ 第3A圖中所示1/4波板係藉由旋轉器來予以置換的例子； 第26圖係示意圖，用以描繪其中根據本發明實施例之 第3A圖中所示另一 1/4波板係藉由另一旋轉器來予以置換 的例子； 第2 7圖係圖表，顯示根據本發明實施例之利用第2 5及 26圖中所示旋轉器之光學系統的操作（效應）； 第28圖係圖表，顯示若其中根據本發明實施例之另一 旋轉器係旋轉180度時之光學系統的操作（效應）； • 第29圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之第1 ‘ 圖中所示光學拾取裝置的第二修正實例； ； 第30圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之第29 圖中所示光學系統中所包含的1/2波板； 第31圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之第29 圖中所示光學系統的操作（效應）； 第32圖係圖表，顯示根據本發明實施例之第29圖中所 示光學系統的操作（效應）； 第33圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之第i -82- (80) (80)1328811 圖中所示光學拾取裝置的第三修正實例； 第34圖係示意圖，用以描繪根據本發明實施例之第33 圖中所示光學系統的操作（效應）； 第35圖係圖表，顯示根據本發明實施例之第33圖中所 示光學系統的操作（效應）； 第36圖係不意圖，用以描繪根據本發明又一實施例之 光學拾取裝置的基本架構； 第3 7圖係根據本發明又一實施例之用以防止光線量（ 光量）中之損失的架構示意圖； 第38圖係示意圖，用以描繪根據本發明又—實施例之 光學拾取裝置的修正實例； 第39圖係示意圖，用以描繪根據本發明又一實施例之 光學拾取裝置的另一修正實例； 第40圖係不意圖，用以描繪根據本發明又一實施例之 光學拾取裝置的另一修正實例； 第4 1圖係示意圖，用以描繪根據本發明又—實施例之 第40圖中所示光學拾取裝置的進一步修正實例； 第42A及42B圖係不意圖，用以描繪根據本發明又—實 施例之形成第40及41圖中所示之光束分光部件及屏蔽部件 爲一聯合體之實例； 第43圖係示意圖’用以描繪根據本發明又—實施例之 光學拾取裝置的另一修正實例； 第44圖係示意圖，用以描繪根據本發明又—實施例之 光學拾取裝置的另一修正實例： -83- (81) 1328811 第45 A、45 B及45C圖係示意圖，用以描繪根據本發明 又一實施例之光束，屏蔽部件，及光束分光部件的位置關 係； 第46A及4 6B圖係示意圖，顯示根據本發明又一實施例 之用以取得軌誤差信號的代表性架構； ’ 第47A及47B圖係示意圖，顯示根據本發明又一實施例 之用以取得焦點誤差信號及軌誤差信號的代表性架構； ® 第圖係示意圖，顯示根據本發明又一實施例之光學 拾取裝置的全部架構； 第49圖係示意圖，用以描繪根據又一實施例之光學單 元的實例； 第50圖係示意圖，用以描繪根據本發明又一實施例之 繞射光柵的實例； 第51 A及51B圖係示意圖，用以描繪讀出及記錄資訊自 及至光碟（雙層資訊記錄媒體）之操作； ® 第52圖係圖形，顯示在降低雙層DVD碟片之中間層厚 ' 度的例子中，再生自第一層L’O之信號的抖動劣化之觀察 ； 結果；以及 第53 A及53B圖顯示第39圖中所示之其中光束分光部件 及屏蔽部件係形成爲一聯合體之架構的修正實例。 【主要元件符號說明】 M0 :第一基板 ΜΒ0 :半透明膜 -84- (82) 1328811

LO :第一記錄層 L 1 :第二記錄層 MB1 :反射膜 M L :中間記錄層 PD :光學偵測單元 LD :半導體雷射 AC :聚焦致動器 1 0 1、1 1 2 :光源 102 :耦合透鏡 103 :分離部件 60、 104 ：物鏡 15 、 81 、 105 ：光碟 5 8、1 0 6 :聚光透鏡 19a 、 20a 、 107 :繞射光柵 1 0 8、1 0 8 ’ ：光學偵測器 111' 1 1 15 :前屏蔽部件 1 1 2、1 1 2 ’ ：後屏蔽部件 113、 115' 116、117、119、120:光束分光部件 114、 114’、118、124b' 124b’、125b' 19b、19.b’： 屏蔽部件 1 1 8 a、1 1 8 b :下方部件 121 :第二聚光透鏡 122 ' 122a、 122b、 122c、 122d、 123、 1235 ' 123(a、 b)、123’（c、d):光學偵測器 -85- (83)1328811 124 :光束分光單元 124a ' 125a ：稜鏡 125、 172d ' 173d、 182d、 183d、 643 ：劃分線 1 2 6 :分光線 172 、 173 : 1/2 波板 72、 74、 182、 183、 183” ：旋轉器 20 :光碟裝置

2 1 :搜尋馬達 2 2 :心軸馬達 23 :光學拾取器 2 4 :雷射控制電路 25 :編碼器 26、47:驅動器控制電路 2 7 :馬達驅動器 28:再生信號處理電路

3 3 :伺服控制器 34 :緩衝器RAM 37 :緩衝管理器 3 8 :界面 39 :快閃記憶體（ROM) 5 1 :光源單元 52 :耦合透鏡 55 、 62 、 63 : 1/4 波板 6 5 :反射鏡 -86- (84) (84)1328811 66 :偏極化分離光學元件 6 1 :透鏡 54:偏極化光束分光器 64 :偏極化光學元件 70 :光學系統 88、200 :光學偵測系統

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Claims (1)

1328811 疒 *· · ·—_ -——, __ 叱)月 十、申請專利範圍 ^ 第95 1 07047號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國99年3月15日修正 1· 一種光學系統，用以自包含信號光線分量及漫射 光線分量之一光束提取信號光線分量，該光學系統包含： 一聚光光學元件，係置於該光束之一光學路徑上，用 • 以聚集該光束； 一偏極化改變單元，用以改變透射穿過該聚光光學元 件之入射光束中所包含的該等信號光線分量及該等漫射光 線分量之其中至少之一的偏極化狀態；以及 一提取元件，用以提取透射穿過該偏極化改變單元之 該光束中所包含的該等信號光線分量， 其中該提取元件藉由僅允許來自該偏極化改變單元之 該信號光線分量透射穿過，而配置以提取該等信號光線分 ®量。 2.如申請專利範圍第1項之光學系統， 其中該偏極化改變單元包含第一及第二偏極化改變元 件； 其中該第一及第二偏極化改變元件各自包含第一及第 二區域，該第一及第二區域係藉由與該聚光光學元件之光 軸垂直交叉的線所劃分； 其中該第一偏極化改變元件係定位於一第一焦點與一 第二焦點之間，該第二焦點係置於比該第一焦點更接近該 1328811 \ 聚光光學元件； 其中該第一焦點係該等信號光線分量所聚集的位置， 及該第二焦點係該等漫射光線分量所聚集的位置； 其中該第二偏極化改變元件係定位於該第一焦點與一 第三焦點之間，該第三焦點係置於比該第一焦點更接近該 提取元件，該第三焦點係該等漫射光線分量所聚集的另一 位置。 3 .如申請專利範圍第2項之光學系統， φ 其中該第一偏極化改變元件具有改變入射於該第一偏 極化改變元件的該第一區域及該第二區域之其中至少之一 上的該光束之偏極化的光學特性； 其中該第二偏極化改變元件具有相同於該第一偏極化 改變元件之該光學特性的光學特性。 4.如申請專利範圍第3項之光學系統，其中該偏極 化改變單元係建構以藉由提供一相位差至該入射光束而改 變該入射光束中所包含的該等信號光線分量及該等漫射光 · 線分量之其中之至少之一的偏極化狀態； 其中提供至該第一偏極化改變元件之該第一區域上的 該入射光束之該相位差與提供至該第二偏極化改變元件之 該第二區域上的該入射光束之該相位差的總合係0波長及 1/2波長之其中之一。 5 .如申請專利範圍第4項之光學系統，其中該第一 偏極化改變元件提供+1/4波長之一相位差至該第一偏極化 改變元件之該第一區域上的該入射光束，以及提供-1/4波 -2- 1325811 長之一相位差至該第一偏極化改變元件之該第二區域上的 該入射光束。 6.如申請專利範圍第4項之光學系統，其中該第一 偏極化改變兀件提供+1/2波長之一相位差至該第一偏極化 改變元件之該第一區域上的該入射光束，以及不提供相位 差至該第一偏極化改變元件之該第二區域上的該入射光束 〇 7-如申請專利範圍第3項之光學系統，其中該偏極 化改變單元係建構以藉由旋轉該入射光束之偏極化方向來 改變該入射光束中所包含的該等信號光線分量及該等漫射 光線分量之其中至少之一的偏極化狀態； 其中該第一偏極化改變元件將該第一偏極化改變元件 之該第一區域上的該入射光束之該偏極化方向旋轉至+45 度之角度，及將該第一偏極化改變元件之該第二區域上的 該入射光束之該偏極化方向旋轉至-45度之角度。 8.如申請專利範圍第1項之光學系統， 其中該偏極化改變單元包含第一及第二偏極化改變元 件； 其中該第一及第二偏極化改變元件各自包含第一及第 二區域，該第一及第二區域係藉由與該聚光光學元件之光 軸垂直交叉之線所劃分； 其中該第一及第二區域具有不同的光學特性； 其中該第一偏極化改變元件係定位於一第一焦點與一 第二焦點之間，該第二焦點係置於比該第一焦點更接近該 -3- 1328811 聚光光學元件； 其中該第一焦點係該等信號光線分量所聚集的位置， 及該第二焦點係該等漫射光線分量所聚集的位置； 其中該第二偏極化改變元件係定位於該第一焦點與一 第三焦點之間，該第三焦點係置於比該第一焦點更接近該 提取元件’該第三焦點係該等漫射光線分量所聚集的另一 位置。 9.如申請專利範圍第8項之光學系統， 其中該第一偏極化改變元件具有改變入射於該第一偏 極化改變元件的該第一區域及該第二區域之其中至少之一 上的該光束之偏極化的光學特性； 其中該第二偏極化改變元件具有相同於該第一偏極化 改變元件之該光學特性的光學特性。 1〇·如申請專利範圍第9項之光學系統，其中該偏極 化改變單元係建構以藉由提供一相位差至該入射光束而改 變該入射光束中所包含的該等信號光線分量及該等漫射光 線分量之其中至少之一的偏極化狀態； 其中提供至該第一偏極化改變元件之該第一區域上的 該入射光束之該相位差與提供至該第二偏極化改變元件之 該第二區域上的該入射光束之該相位差的總合係0波長或 1/2波長。 11.如申請專利範圍第1〇項之光學系統，其中該第 一偏極化改變元件提供+ W4波長之一相位差至該第一偏極 化改變元件之該第一區域上的該入射光束，以及提供-1/4 -4- 1325811 波長之一相位差至該第一偏極化改變元件之該第二區域上 的該入射光束。 12.如申請專利範圍第1〇項之光學系統，其中該第 —偏極化改變元件提供+1/2波長之一相位差至該第一偏極 化改變元件之該第一區域上的該入射光束，以及不提供相 位差至該第一偏極化改變元件之該第二區域上的該入射光 束。 13·如申請專利範圍第8項之光學系統，其中該偏極 化改變單元係建構以藉由旋轉該入射光束之偏極化方向來 改變該入射光束中所包含的該等信號光線分量及該等漫射 光線分量之其中至少之一的偏極化狀態； 其中該第一偏極化改變元件之該第一區域上的該入射 光束之偏極化方向的旋轉角度與該第二偏極化改變元件之 該第二區域上的該入射光束之偏極化方向的旋轉角度的總 合係+ 90度或-90度。 14. 如申請專利範圍第13項之光學系統，其中該第 一偏極化改變元件將該第一偏極化改變元件之該第一區域 上的該入射光線之偏極化方向旋轉至+ 45度之角度，以及 將該第一偏極化改變元件之該第二區域上的該入射光線之 偏極化方向旋轉至-4 5度之角度。 15. 如申請專利範圍第2項之光學系統，其中該第一 及第二偏極化改變元件係經由具有折射率大於1之一透明 構件來予以形成爲一聯合體。 16. 如申請專利範圍第2項之光學系統，其中該第一 -5- 1328811 偏極化改變元件，該第二偏極化改變元件，及該提取元件 係經由具有折射率大於丨之一透明構件來予以形成爲—聯 合體。 17. 如申請專利範圍第2項之光學系統，其中該第一 及第二偏極化改變元件係相對於該聚光光學元件之光軸而 傾斜。 18. 如申請專利範圍第2項之光學系統，其中該第一 偏極化改變元件’該第二偏極化改變元件，及該提取元件 係各自置於對應的稜鏡之一平面上。 19. 如申請專利範圍第18項之光學系統，其中該等 對應的稜鏡係形成爲一聯合體。 2〇. 一種光學系統，用以自包含信號光線分量及漫射 光線分量之一光束提取信號光線分量，該光學系統包含： 一聚光光學元件，係置於該光束之一光學路徑上，用 以聚集該光束； 一偏極化改變單元，包含一偏極化改變元件及一反射 部件的組合，用以改變透射穿過該聚光光學元件之入射光 束中所包含的該等信號光線分量及該等漫射光線分量之其 中至少之一的偏極化狀態；以及 一提取元件，用以提取透射穿過該偏極化改變單元之 該光束中所包含的該等信號光線分量， 其中該提取元件藉由僅允許來自該偏極化改變單元之 該信號光線分量透射穿過，而配置以提取該等信號光線分 量。 -6- 1328811 2 1 ·如申請專利範圍第2 0項之光學系統， 其中該偏極化改變元件包含第一及第二區域，該第— 及第二區域係藉由與該聚光光學元件之光軸垂直交叉的線 所劃分； 其中該偏極化改變元件係定位於一第一焦點與一第二 焦點之間，該第二焦點係置於比該第一焦點更接近該聚光 光學元件： # 其中該第一焦點係該等信號光線分量所聚集的位置， 及該第二焦點係該等漫射光線分量所聚集的位置； 其中該反射部件係定位於該第一焦點。 2 2.如申請專利範圍第21項之光學系統， 其中該偏極化改變元件具有改變入射於該偏極化改變 元件的該第一區域及該第二區域之其中至少之一上的該光 束之偏極化的光學特性； 其中該反射部件具有自該偏極化改變元件之該第一區 ^ 域反射該光束至該偏極化改變元件之該第二區域的光學特 性。 23. 如申請專利範圍第21項之光學系統，其中該偏 極化改變元件提供+1/2波長之一相位差至該偏極化改變元 件之該第一區域上的該入射光束，以及不提供相位差至該 偏極化改變元件之該第二區域上的該入射光束。 24. 如申請專利範圍第21項之光學系統，其中該偏 極化改變元件及該反射部件係經由具有折射率大於1之一 透明構件來予以形成爲一聯合體。 1328811 25. 如申請專利範圍第21項之光學系統，進一步包 含一透明構件，定位於該第一焦點與該第二焦點之間，其 中該透明構件具有大於1之折射率。 26. —種光學拾取裝置，包含： 一光源，用以照射一光束； 一光學系統，包含： 一物鏡，用以聚集該光束至具有複數個記錄層之 一光碟的一目標記錄層，以及 φ 如申請專利範圍第2項之光學系統；以及 一光學偵測系統，用以根據所提取之信號光線分量的 光線量來產生信號。 27. 如申請專利範圍第26項之光學拾取裝置，進一 步包含：一分離光學元件，係定位於該聚光光學元件與該 第一偏極化改變元件之間； 其中該分離光學元件係相對於聚光透鏡之光軸而傾斜 45度； 籲 其中來自該光源之該光束係經由該分離光學元件而入 射於該聚光光學元件之上； 其中來自該聚光光學元件之該光束係入射於該物鏡之 上。 28. 如申請專利範圍第26項之光學拾取裝置，其中 用於該第一及第二偏極化改變元件之各個偏極化改變元件 的該劃分線係以對應於循軌方向之方向來延伸。 29. —種光學拾取裝置，包含： -8- 1328811 一光源’用以照射一光束； 一光學系統，包含： 一物鏡’用以聚集該光束至具有複數個記錄層之 一光碟的一目標記錄層， 如申請專利範圍第20項之光學系統；以及 一光學偵測系統，用以根據所提取之信號光線分量的 光線量來產生信號。 30. 如申請專利範圍第29項之光學拾取裝置，其中 該提取元件係一光束分光器，該光束分光器係置於該光源 與該物鏡間之一光學路徑上，其中該聚光光學元件係一耦 合透鏡’該耦合透鏡置於該光束分光器與該物鏡間之一光 學路徑上。 31. 如申請專利範圍第29項之光學拾取裝置，其中 用於該偏極化改變元件之該劃分線係以對應於循軌方向之 方向來延伸。 32. —種光碟裝置，包含： 如申請專利範圍第26項之光學拾取裝置；以及 一處理裝置，用以根據藉由該光學偵測系統產生之該 等信號來讀出該光碟中所記錄之資訊。 33. —種光碟裝置，包含： 如申請專利範圍第29項之光學拾取裝置：以及 一處理裝置，用以根據藉由該光學偵測系統產生之該 等信號來讀出該光碟中所記錄之資訊。 34. —種光學系統，用以自包含信號光線分量及漫射 -9- 1328811 光線分量之一光束提取信號光線分量，該光學系統包含： 一聚光光學元件，係置於該光束之一光學路徑上，用 以聚集該光束，該聚光光學元件聚集該等信號光線分量於 一第一焦點及聚集該等漫射光線分量於一第二焦點； 一第一偏極化改變元件，係定位於該聚光光學元件與 該第二焦點之間，該第二焦點係置於比該第一焦點更接近 該聚光光學元件，該第一偏極化改變元件包含第一及第二 區域，該第一及第二區域係藉由與該聚光光學元件之光軸 垂直交叉的線所劃分，該第一偏極化改變元件具有將入射 於該第一區域上之該光束的偏極化方向改變至 90度之角 度的光學特性； 一第一分離元件，係定位於該第一與第二焦點之間， 該第一分離元件係可操作來反射或吸收比該第一焦點更朝 向該聚光光學元件所聚集之該等漫射光線分量； 一第二分離元件，係定位於該第一焦點與一第三焦點 之間，透射穿過該第一分離元件之該等漫射光線分量係聚 集於該第三焦點，.該第二分離元件係可操作來反射或吸收 透射穿過該第一分離元件之該等漫射光線分量；以及 —第二偏極化改變元件，包含第一及第二區域，該第 一及第二區域係藉由與該聚光光學元件之光軸垂直交叉的 線所劃分，該第二偏極化改變元件具有將入射於該第二偏 極化改變元件的該第一區域及該第二區域之其中至少之一 上的該光束之偏極化方向改變至 90度之角度的光學特性 -10- 1328811 35. 如申請專利範圍第34項之光學系統，其中該第 一偏極化改變元件提供1 /2波長之一相位改變至該第一偏 極化改變元件之該第一區域上的該入射光束，以及不提供 相位差至該第一偏極化改變元件之該第二區域上的該入射 光束。 36. 如申請專利範圍第34項之光學系統，其中該第 —及第二分離元件係經由具有折射率大於1之一透明構件 • 來予以形成爲一聯合體。 37. 如申請專利範圍第34項之光學系統，進一步包 含：一透明構件，定位於該第二焦點與該第三焦點之間， 該透明構件具有大於1之折射率。 38. 如申請專利範圍第34項之光學系統，其中該第 一偏極化改變元件，該第一分離元件，該第二分離元件， 及該第二偏極化改變元件係經由具有折射率大於1之一透 明構件來予以形成爲一聯合體。 ^ 39.如申請專利範圍第34項之光學系統，其中該第 一及第二分離元件係相對於該聚光光學元件之光軸而傾斜 〇 40·如申請專利範圍第34項之光學系統，其中該第 一偏極化改變元件係置於一第一稜鏡之一平面上，其中該 第一分離元件係置於一第二稜鏡之一平面上，其中該第二 分離元件係置於一第三稜鏡之一平面上，其中該第二偏極 化改變元件係置於一第四稜鏡之一平面上。 41·如申請專利範圍第40項之光學系統，其中該第 -11 - 1328811 一至第四稜鏡係形成爲一聯合體。 42·—種光學拾取裝置，包含： —光源’用以照射一光束； —光學系統，包含： —物鏡’用以聚集該光束至具有複數個記錄層之 一光碟的一目標記錄層，以及 如申請專利範圍第3 4項之光學系統；以及 一光學偵測系統，用以根據所提取之信號光線分量的 光線量來產生信號。 43. 如申請專利範圍第42項之光學拾取裝置，其中 用於該第一及第二偏極化改變元件之各個偏極化改變元件 的該劃分線係以對應於循軌方向之方向來延伸。 44. 一種光碟裝置，包含： 如申請專利範圍第42項之光學拾取裝置；以及 一處理裝置’用以根據藉由該光學偵測系統所產生之 該等信號來讀出該光碟中所記錄之資訊。 45. —種光學拾取裝置，配置有一光源，一準直透鏡 ，一偵測器及分離部件，一物鏡，一光學偵測系統，及一 光學偵測器，用以記錄資訊至一具有複數個層之光碟及自 具有複數個層之光碟讀出資訊，該光學拾取裝置包含： 一聚光光學元件’用以聚集反射自該光碟之該複數個 層的一光束，該光束包含反射自該複數個層之一第m層的 一信號光束Lm，反射自該複數個層之一第m+Ι層的一第 一漫射光束Lm+1’及反射自該複數個層之一第m-Ι層的 •12- 1328811 一第二漫射光束Lm-l，該信號光束Lm係聚集於一第一焦 點fm，該第一漫射光束Lm+1係聚集於一第二焦點fm+i ，及該第二漫射光束Lrn-1係聚集於一第三焦點fm-1 ; 一前屏蔽部件，係定位於該第一焦點fm與該第二焦 點fm+1之間，用以屏蔽定向至一第一區域之該光束；以 及 一後屏蔽部件，係定位於該第一焦點fm與該第三焦 • 點fm-Ι之間，用以屏蔽定向至一第二區域之該光束； 其中該第一及第二區域係藉由該聚光光學元件之一光 軸來予以劃分。 4 6.如申請專利範圍第45項之光學拾取裝置，進一 步包含：另一聚光光學元#，配置於該光學偵測器的前面 ，其中該光學偵測器包含一部件，該部件係藉由平行於循 軌方向之線來劃分爲兩部份。 47·如申請專利範圍第45項之光學拾取裝置，其中 ® 該光學偵測器包含一部件，該部件係藉由與循軌方向垂直 交叉的線來予以劃分。 48.—種光學拾取裝置，配置有一光源，一準直透鏡 ，一偵測器及分離部件，一物鏡，一光學偵測系統，及一 光學偵測器，用以記錄資訊至一具有複數個層之光碟及自 具有複數個層之光碟讀出資訊，該光學拾取裝置包含： 一聚光光學元件，用以聚集反射自該光碟之該複數個 層的一光束，該光束包含反射自該複數個層之一第m層的 一信號光束Lm，反射自該複數個層之一第m+1層的一第 -13- 1328811 一漫射光束Lm+l，及反射自該複數個層之一第m-l層的 一第二漫射光束Lm-1，該信號光束Lm係聚集於一第一焦 點fm，該第一漫射光束Lm+l係聚集於一第二焦點fm+1 ，及該第二漫射光束Lm-1係聚集於一第三焦點fm-1 ; 一光束分光部件，係定位比該第二焦點fm+ 1更接近 該聚光部件，用以將該光束分光至藉由該聚光光學元件之 一光軸所劃分之第一及第二區域之內； 一前屏蔽部件，係定位於該第一區域側之該第一焦點 fm與該第二焦點fm+1之間，用以屏蔽該第一漫射光束 Lm+ 1 ;以及 一後屏蔽部件，係定位於該第二區域側之該第一焦點 fm與該第三焦點fm-Ι之間，用以屏蔽該第二漫射光束 Lm-1。 49.如申請專利範圍第48項之光學拾取裝置，進一 步包含：另一聚光光學元件，係相對於藉由該光束分光部 件所分光之一部分該光束而配置在該光學偵測器前面，其 中藉由該另一聚光光學元件所聚集之該信號光束係藉由該 光學偵測部件來予以偵測，該光學偵測部件包含一部件， 該部件係藉由平行於循軌方向之線來劃分爲兩部份。 5 0.如申請專利範圍第48項之光學拾取裝置，其中 在無其他聚光光學元件配置於該光學偵測部件前面的情況 中，用以偵測藉由該光束分光部件所分光之一部分該光束 的該光學偵測部件包含一部件，該部件係藉由平行於循軌 方向之線來劃分爲兩部份。 -14- 1328811 5 1.如申請專利範圍第48項之光學拾取裝置， 步包含：另一聚光器部件，係配置於該光學偵測器前 用以經由該另一聚光器部件來偵測藉由該光束分光部 分光之一部分該光束；以及 另一光學偵測器，用以偵測藉由該光束分光部件 光線所分光之另一部分光線集束。 52. —種光學拾取裝置，配置有一光源，一準直 # ’ —偵測器及分離部件，一物鏡，一光學偵測系統， 光學偵測器，用以記錄資訊至一具有複數個層之光碟 具有複數個層之光碟讀出資訊，該光學拾取裝置包含 一聚光光學元件，用以聚集反射自該光碟之該複 層的一光束，該光束包含反射自該複數個層之一第m 一信號光束Lm，反射自該複數個層之一第m+l層的 —漫射光束Lm+1，及反射自該複數個層之一第m-l 一第二漫射光束Lm-1，該信號光束Lm係聚集於一第 ^ 點fm，該第一漫射光束Lm+1係聚集於一第二焦點 ，及該第二漫射光束Lm-Ι係聚集於一第三焦點fm-1 一光束分光部件，係定位於該第一焦點fm與該 焦點fm+ 1之間，用以將該光束分光至藉由該聚光光 件之一光軸所劃分之第一及第二區域之內；以及 —屏蔽部件，係定位於該第一焦點fm與該第三 fm-Ι之間，用以屏蔽該第一漫射光束Lm+1及該第二 光束Lm-1。 5 3 .如申請專利範圍第5 2項之光學拾取裝置， 進一 面， 件所 信號 透鏡 及一 及自 數個 層的 一第 層的 一焦 fm+1 * 第— Pw 1 學元 焦點 漫射 其中 -15- 1328811 該光束分光部件包含一對光學楔形物，其中該等光學模形 物之較薄側係匹配使得該等光學楔形物相對於該聚光光學 元件的光軸係彼此相互對稱的。 54. 如申請專利範圍第52項之光學拾取裝置，其中 該光束分光部件包含一對光學楔形物，其中該等光學楔形 物之較厚側係匹配使得該等光學楔形物相對於該聚光光學 元件的光軸係彼此相互對稱的》 55. 如申請專利範圍第53項之光學拾取裝置，其中 該光束分光部件及該屏蔽部件係形成爲一聯合體。 56_如申請專利範圍第54項之光學拾取裝置，其中 該光束分光部件及該屛蔽部件係形成爲一聯合體。 57. 如申請專利範圍第52項之光學拾取裝置，其中 該光束分光部件包含一繞射光柵，用以提供相對於該第一 及第二區域之不同的繞射。 58. 如申請專利範圍第57項之光學拾取裝置，其中 該繞射光柵係建構來繞射該光束，使得所繞射的光束係反 相的。 59. 如申請專利範圍第58項之光學拾取裝置，其中 該繞射光柵及該屏蔽部件係形成爲一聯合體。 60. 如申請專利範圍第57項之光學拾取裝置，其中 若未提供該繞射光栅時，該光源係置於該焦點 fm，其中 該光源係以可不受該繞射光柵所繞射的方向來照射一線性 偏極化光線。 61·如申請專利範圍第57項之光學拾取裝置，其中 -16- 1328811 該繞射光柵及該屏蔽部件係 62. 如申請專利範圍第 該繞射光柵，該屏蔽部件， 成爲一聯合體。 63. —種光學記錄裝置 用以記錄資訊於光碟上 如申請專利範圍第45习 64. —種光學再生裝置 用以自光碟讀出資訊之 如申請專利範圍第45 $ 65. —種光學記錄及再 用以記錄/重製資訊至/丨 如申請專利範圍第45 IJ 形成爲一聯合體。 57項之光學拾取裝置，其中 該光源，及該光學偵測器係形 ，包含： 之裝置；以及 看之光學拾取裝置。 ，包含： 裝置；以及 I之光學拾取裝置。 生裝置，包含： 自光碟之裝置；以及 喔之光學拾取裝置。 -17-