DE102019129932B4 - Optische Detektionseinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer optischen Detektionseinrichtung - Google Patents

Optische Detektionseinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer optischen Detektionseinrichtung Download PDF

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Abstract

Optische Detektionseinrichtung mit folgenden Merkmalen:a) eine Lichtdetektionseinrichtung (8), die eingerichtet ist zum Erzeugen eines elektrischen Signals in Reaktion auf Licht, dass eine Lichtdetektionsseite (7) der Lichtdetektionseinrichtung (8) erreicht,b) eine Lichtemissionseinrichtung (1), die ein Lichtquellenfeld (2) aufweist, das eine Vielzahl von separat elektrisch ansteuerbaren elektrischen Lichtquellen aufweist, die in einer Matrixstruktur oder einer auf andere Weise definierten zweidimensionalen geometrischen Anordnung über das Lichtquellenfeld (2) verteilt angeordnet sind,c) wobei die Lichtdetektionsseite (7) der Lichtdetektionseinrichtung (8) über einen Untersuchungsbereich (5), an der ein mittels der optischen Detektionseinrichtung zu untersuchendes Objekt anordenbar ist, optisch mit einer Lichtemissionsseite des Lichtquellenfelds (2) gekoppelt ist, sodass von den Lichtquellen abgegebenes Licht durch den Untersuchungsbereich (5) auf die Lichtdetektionsseite (7) der Lichtdetektionseinrichtung (8) strahlt, dadurch gekennzeichnet, dassd) im Strahlengang zwischen der Lichtemissionsseite des Lichtquellenfelds (2) und dem Untersuchungsbereich (5) ein optisches Verkleinerungssystem (3, 4) angeordnet ist, das zur optischen Verkleinerung eines von den Lichtquellen des Lichtquellenfelds (2) abgegebenen Lichtmusters eingerichtet ist, sodass der Untersuchungsbereich (5) mit einem gegenüber dem von dem Lichtquellenfeld (2) abgegebenen Lichtmuster verkleinerten Lichtmuster bestrahlt ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine optische Detektionseinrichtung mit folgenden Merkmalen:
    1. a) eine Lichtdetektionseinrichtung, die eingerichtet ist zum Erzeugen eines elektrischen Signals in Reaktion auf Licht, dass eine Lichtdetektionsseite der Lichtdetektionseinrichtung erreicht,
    2. b) eine Lichtemissionseinrichtung, die ein Lichtquellenfeld aufweist, das eine Vielzahl von separat elektrisch ansteuerbaren elektrischen Lichtquellen aufweist, die in einer Matrixstruktur oder eine auf andere Weise definierten zweidimensionalen geometrischen Anordnung über das Lichtquellenfeld verteilt angeordnet sind,
    3. c) wobei die Lichtdetektionsseite der Lichtdetektionseinrichtung über einen Untersuchungsbereich, an der ein mittels der optischen Detektionseinrichtung zu untersuchendes Objekt anordenbar ist, optisch mit einer Lichtemissionsseite des Lichtquellenfelds gekoppelt ist, sodass von den Lichtquellen abgegebenes Licht durch den Untersuchungsbereich auf die Lichtdetektionsseite der Lichtdetektionseinrichtung strahlt.
  • Die Erfindung betrifft außerdem ein Verfahren zum Betreiben einer solchen optischen Detektionseinrichtung. Mit solchen optischen Detektionseinrichtungen können Objekte, die im Untersuchungsbereich der optischen Detektionseinrichtung angeordnet werden, zum Beispiel eine Probe, auf optische Weise untersucht werden. Durch ein Lichtquellenfeld mit einer großen Anzahl von separat elektrisch ansteuerbaren elektrischen Lichtquellen kann eine hohe Auflösung bei der optischen Untersuchung erreicht werden. Eine gattungsgemäße optische Detektionseinrichtung ist aus der EP 3 320 567 B1 bekannt. Aus der EP 1 157 297 B1 ist ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Objektabbildung bekannt.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Untersuchungsmöglichkeiten einer solchen optischen Detektionsvorrichtung noch weiter zu verbessern.
  • Dies wird bei einer optischen Detektionseinrichtung der eingangs genannten Art dadurch erreicht, dass im Strahlengang von der Lichtemissionsseite des Lichtquellenfelds und dem Untersuchungsbereich ein optisches Verkleinerungssystem angeordnet ist, das zur optischen Verkleinerung eines von den Lichtquellen des Lichtquellenfelds abgegebenen Lichtmusters eingerichtet ist, sodass der Untersuchungsbereich mit einem gegenüber dem von dem Lichtquellenfeld abgegebenen Lichtmuster verkleinerten Lichtmuster bestrahlt ist. Die Erfindung hat den Vorteil, dass die optische Auflösung deutlich erhöht werden kann. Es ist insbesondere möglich, optische Untersuchungen jenseits der Diffraktionsgrenze durchzuführen.
  • Das optische Verkleinerungssystem kann relativ kleinbauend und kostengünstig aus kostengünstigen optischen Elementen bereitgestellt werden. Das optische Verkleinerungssystem sowie die übrigen optischen Elemente erfordern keine besonderen Eingriffe des Benutzers, insbesondere keine gesonderte Ausrichtung während des Betriebs.
  • Die erfindungsgemäße optische Detektionseinrichtung ermöglicht beispielsweise eine Auflösung von Strukturen an dem zu untersuchenden Objekt in Nanometer-Bereich. Dabei kann normales vom Menschen wahrnehmbares Licht genutzt werden. In einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung kann die erfindungsgemäße optische Detektionseinrichtung mit Licht einer einzigen Wellenlänge, im Unterschied zu weißem Licht, betrieben werden. Dies hat den Vorteil, dass beispielsweise durch Anwendung kurzwelligen Lichts der Durchmesser des Diffraktionslimits verringert werden kann, da bei Licht einer Wellenlänge Spektralkomponenten mit größeren Wellenlängen vermieden werden können.
  • Im Gegensatz zu Mikroskopen, die auf einer steuerbaren Laserlichtquelle beruhen, kann durch die erfindungsgemäße optische Detektionseinrichtung ein wesentlich vereinfachter und kostengünstigerer Aufbau erzielt werden. Zudem kann die gesamte optische Detektionseinrichtung viel kleiner realisiert werden. Zudem erlaubt der Einsatz der erfindungsgemäßen Lichtemissionseinrichtung mit einem Lichtquellenfeld eine vereinfachte Erzeugung von Lichtmustern, allein durch Softwaresteuerung mit hoher Geschwindigkeit, insbesondere wechselnde Lichtmuster mit hoher Frequenz erzeugt werden. Die Schaltfrequenzen zur Ansteuerung der Lichtquellen können zum Beispiel in Megahertz-Bereich liegen. Eine solche Lichtemissionseinrichtung kann auch als segmentierte Lichtemissionseinrichtung bezeichnet werden.
  • Die optische Detektionseinrichtung kann beispielsweise derart ausgebildet sein, dass die Lichtdetektionseinrichtung auf einer Seite des Untersuchungsbereichs und die Lichtemissionseinrichtung auf der gegenüberliegenden, anderen Seite des Untersuchungsbereichs angeordnet ist, sodass das Licht in einem gradlinig verlaufenden Strahlengang von der Lichtemissionsseite zur Lichtdetektionsseite gelangt. Die Anordnung zwischen der Lichtdetektionseinrichtung und der Lichtemissionseinrichtung kann auch anders gestaltet sein, beispielsweise indem im Strahlengang des Lichts ganz oder teilweise lichtablenkende Elemente angeordnet sind, wie beispielsweise Spiegel, halbdurchlässige Spiegel, dichroische Strahlteiler und ähnliche Elemente.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, dass das optische Verkleinerungssystem wenigstens ein Kollimationselement aufweist, das an der dem Lichtquellenfeld zugeordneten Seite des optischen Verkleinerungssystems angeordnet ist, wobei das Kollimationselement zum optischen Sammeln des von den Lichtquellen des Lichtquellenfelds abgegebenen divergierenden Lichts eingerichtet ist. Dies hat den Vorteil, dass als Lichtquellen des Lichtquellenfelds einfache, handelsübliche Bauelemente eingesetzt werden können, beispielsweise Leuchtdioden, beziehungsweise Displays mit LED-Technologie oder einer vergleichbaren lichtabgebenden Technologie. Insbesondere können auch Lichtquellen eingesetzt werden, die im Sinne eines Lambertstrahlers einen relativ breiten Lichtabgabewinkel aufweisen, was für die Funktionalität einer solchen optischen Detektionseinrichtung eigentlich ungünstig ist. Durch die Anordnung eines Kollimationselements an der dem Lichtquellenfeld zugeordneten Seite kann das divergierende Licht der Lichtquellen aber gesammelt werden und beispielsweise in einen parallelen Strahlengang gewandelt werden, der entweder direkt oder über eines oder mehrere weitere optische Elemente zum Untersuchungsbereich geleitet wird.
  • Die Lichtemissionseinrichtung kann auch als Vertical-external-cavity surface-emitting-laser (VECSEL) - Array oder oder vertical-cavity surface-emitting-laser (VCSEL)) ausgebildet sein. Die Lichtquellen können auch als Laserdioden ausgebildet sein.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, dass das optische Verkleinerungssystem wenigstens eine im Strahlengang des von dem Lichtquellenfeld abgegeben Lichts dem Kollimationselement nachgeordnete optische Einrichtung, z.B. eine Linse, eine Anordnung von Linsen oder ein Objektiv, zur Abbildung des von dem Kollimationselement aufgenommenen Lichts auf einen verkleinerten Abbildungsmaßstab aufweist. Dies erlaubt eine besonders hochauflösende Untersuchung eines Objekts im Untersuchungsbereich. Durch die optische Einrichtung wird im Untersuchungsbereich ein verkleinertes Abbild eines vom Lichtquellenfeld abgestrahlten Lichtmusters im Untersuchungsbereich projiziert. Dabei ist die optische Einrichtung zumindest in Bezug auf den Untersuchungsbereich auf eine bestimmte Untersuchungsebene des Untersuchungsbereichs, an der das zu untersuchende Objekt zu platzieren ist, fokussiert. Die optische Einrichtung kann zum Beispiel ein Mikroskopobjektiv oder irgendeine andere Art von Linse oder Linsenanordnung sein.
  • Der Gesamt-Verkleinerungsmaßstab kann dabei abhängig von der numerischen Apertur des Kollimationselements und/oder der optischen Einrichtung festgelegt werden.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, dass die optische Detektionseirichtung im Strahlengang des Lichts zwischen dem Untersuchungsbereich zu der Lichtdetektionsseite der Lichtdetektionseinrichtung ein optisches Vergrößerungssystem aufweist, durch das von dem Untersuchungsbereich aufgenommenes Lichtmuster in ein an der Lichtdetektionsseite ankommendes vergrößertes Lichtmuster umgewandelt wird. Auf diese Weise kann das im Untersuchungsbereich verkleinerte Abbild des vom Lichtquellenfeld abgegebenen Lichtmusters wieder auf einen Maßstab vergrößert werden, der an die Charakteristika der Lichtdetektionseinrichtung angepasst ist, beispielsweise an dessen Abmessungen und/oder Auflösung. Das optische Vergrößerungssystem kann zum Beispiel ein Vergrößerungsobjektiv oder irgendeine andere vergrößernde Linsenanordnung aufweisen. Das optische Vergrößerungssystem ist in Richtung des Untersuchungsbereichs auf die Untersuchungsebene fokussiert.
  • Ein solches optisches Vergrößerungssystem ist nicht in jedem Fall erforderlich und somit optional. Wird als Lichtdetektionseinrichtung z.B. ein globales Detektionselement, z.B. eine einzelne Photodiode, verwendet, kann das optische Vergrößerungssystem ohne weiteres entfallen.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Lichtdetektionseinrichtung ein oder mehrere Lichtsensorelemente aufweist, wobei die Anzahl der Lichtsensorelemente geringer ist als die Anzahl der Lichtquellen des Lichtquellenfelds. Dies erlaubt den Einsatz einfacher und kostengünstiger Lichtdetektionseinrichtungen, die auch ohne besonders große Auflösung aufgrund der wesentlich höheren Auflösung des Lichtquellenfelds im Ergebnis eine besonders hohe Auflösung der Detektionseinrichtung ermöglichen. Dies ist dadurch möglich, dass über das Lichtquellenfeld variable Lichtmuster erzeugt werden können, die dazu führen, dass das im Untersuchungsbereich angeordnete Objekt unterschiedlich beleuchtet wird. Aus den an der Lichtdetektionseinrichtung empfangenen Lichtmustern lässt sich dann rechnerisch das im Untersuchungsbereich angeordnete Objekt mit einer wesentlich erhöhten Auflösung rekonstruieren, die deutlich über der Auflösung der Lichtdetektionseinrichtung liegt. Die Lichtdetektionseinrichtung kann zum Beispiel als Kamera ausgebildet sein, zum Beispiel als CCD- oder CMOS-Kamerachip. Die Lichtdetektionseinrichtung kann auch Fotodioden oder ähnliche Elemente aufweisen.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, dass der Durchmesser jeder Lichtquelle des Lichtquellenfelds weniger als 500 Nanometer beträgt. Durch solche Nano-Lichtquellen können Lichtmuster mit besonders hoher Auflösung erzeugt und über das optische Verkleinerungssystem auf den Untersuchungsbereich projiziert werden.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Lichtquellen des Lichtquellenfelds Leuchtdioden (LEDs), Laser (z.B. vertical-external-cavity surface-emitting-laser (VECSEL) oder vertical-cavity surface-emitting-laser (VCSEL)) oder andere strukturierte Lichtquellen sind. Die Leuchtdioden können grundsätzlich Leuchtdioden jeder Art sein. Besonders vorteilhaft sind Galliumnitridbasierte Leuchtdioden.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Lichtdetektionseinrichtung mit der Lichtemissionseinrichtung über eine Steuereinrichtung gekoppelt ist, die zum Steuern der Vielzahl von Lichtquellen nach einem definierten Aktivierungsschema und für eine integrierte, synchronisierte Verarbeitung der von der Lichtdetektionseinrichtung empfangenen Daten eingerichtet ist. Dies erlaubt eine rechnerische Verarbeitung der durch die Lichtdetektionseinrichtung empfangenen Daten, das heißt die vom Untersuchungsbereich aufgenommen Lichtmuster. Durch die Kopplung zwischen der Lichtdetektionseinrichtung und der Lichtemissionseinrichtung kann die Steuereinrichtung in Kenntnis der abgegebenen Lichtmuster aufgrund unterschiedlicher empfangener Lichtmuster ein Abbild eines im Untersuchungsbereich angeordneten Objekts mit erheblich höherer Auflösung bestimmen als es die Diffraktionsgrenze eigentlich erlaubt.
  • Die eingangs genannte Aufgabe wird außerdem gelöst durch ein Verfahren zum Betreiben einer optischen Detektionseinrichtung der zuvor erläuterten Art, mit folgenden Merkmalen:
    1. a) separates oder gruppenweises Aktivieren einiger der Lichtquellen der Lichtemissionseinrichtung gemäß einem definierten Aktivierungsschema zum Aussenden von Licht, wie sequentiell oder gemäß definierten Mustern,
    2. b) Empfangen von emittiertem Licht direkt von den aktivierten Lichtquellen oder daraus resultierendem Licht durch die Lichtdetektionseinrichtung,
    3. c) Erfassen der von der Lichtdetektionseinrichtung erzeugten elektrischen Signale als Reaktion auf Licht, das die Lichtdetektionsseite der Lichtdetektionseinrichtung erreicht und/oder Speichern der elektrischen Signale oder der für sie repräsentativen Daten unter Bezugnahme auf das definierte Aktivierungsschema der Lichtquellen,
    4. d) Erzeugen einer mindestens zweidimensionalen Bilddarstellung eines zu untersuchenden Objekts, das im Untersuchungsbereich der optischen Detektionseinrichtung positioniert ist, aus den erfassten und/oder gespeicherten Signalen und/oder Daten.
  • Auch hierdurch lassen sich die zuvor erläuterten Vorteile realisieren.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Fluoreszenzfähigkeiten eines im Untersuchungsbereich positionierten Objekts erfasst und bewertet werden. Auf diese Weise können auch fluoreszierende Moleküle mit der erfindungsgemäßen optischen Detektionseinrichtung mikroskopisch untersucht werden.
  • Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen unter Verwendung von Zeichnungen erläutert. Es zeigen
    • 1 einen beispielhaften Aufbau einer optischen Detektionseinrichtung in Seitenansicht und
    • 2 eine weitere Ausführungsform einer optischen Detektionseinrichtung in Seitenansicht.
  • Die optische Detektionseinrichtung gemäß 1 weist eine Lichtemissionseinrichtung 1 auf, die ein Lichtquellenfeld 2 aufweist. Das Lichtquellenfeld 2 weist eine Vielzahl von separat elektrisch ansteuerbaren elektrischen Lichtquellen auf, die in einer Matrixstruktur oder in einer auf andere Weise definierten zweidimensionalen Anordnung über das Lichtquellenfeld 2 verteilt angeordnet sind. Die Lichtquellen des Lichtquellenfelds 2 geben Licht an einer Lichtemissionsseite ab, das auf ein Kollimationselement 3 trifft. Durch das Kollimationselement 3 wird das vom Lichtquellenfeld 2 abgebende, divergierende Licht in einen parallelen Strahlengang umgewandelt. Das vom Kollimationselement 3 abgegebene Licht trifft auf eine Linse 4, die das empfangende Licht auf einen kleineren Abbildungsmaßstab bringt und auf eine Untersuchungsebene eines Untersuchungsbereichs 5 projiziert.
  • Im Untersuchungsbereich 5, insbesondere in der Untersuchungsebene, kann ein Objekt angeordnet werden, dass mittels der optischen Detektionseinrichtung untersucht werden soll.
  • Das Kollimationselement 3 und die Linse 4 sind Teile eines optischen Verkleinerungssystems, das zur optischen Verkleinerung eines von den Lichtquellen des Lichtquellenfelds 2 abgegeben Lichtmusters eingerichtet ist. Dementsprechend wird der Untersuchungsbereich 5 mit einem gegenüber dem von dem Lichtquellenfeld 2 abgegebenen Lichtmuster verkleinerten Lichtmuster bestrahlt.
  • Im weiteren Strahlengang gelangt das Licht von dem Untersuchungsbereich 5 zu einem optischen Vergrößerungssystem 6, das beispielsweise als ein Vergrößerungsobjektiv ausgebildet sein kann. Durch das optische Vergrößerungssystem 6 wird das vom Untersuchungsbereich 5 empfangene Lichtmuster in ein vergrößertes Lichtmuster gewandelt, dass auf eine Lichtdetektionsseite 7 einer Lichtdetektionseinrichtung 8 projiziert wird. Die Lichtdetektionseinrichtung 8 kann eines oder mehrere Lichtsensorelemente aufweisen, beispielsweise eine Matrix von Lichtsensorelementen.
  • Wird beispielsweise für das Lichtquellenfeld 2 eine Matrix mit einer sehr hohen Anzahl sehr kleiner Lichtquellen, wie es beispielsweise bei einem Smartphone-Display der Fall ist, eingesetzt, so kann durch Aktivieren unterschiedlicher Lichtquellen des Lichtquellenfelds 2 nacheinander der Bereich im Untersuchungsbereich 5, der durch das Licht bestrahlt ist, entsprechend verändert werden. Auf diese Weise kann ein im Untersuchungsbereich 5 angeordnetes Objekt durch Nacheinander-Einschalten unterschiedlicher Lichtquellen mit sehr hoher Auflösung abgescannt werden, beispielsweise im Bereich von weniger als 100 nm Schrittweite. Auf der Empfängerseite, das heißt durch die Lichtdetektionseinrichtung 8, können die hierdurch entstehenden Lichtmuster empfangen werden. Durch eine Steuereinrichtung, der sowohl eine Information über die von der Lichtdetektionseinrichtung 8 empfangenen Daten als auch der Ansteuerdaten der Lichtquellen des Lichtquellenfelds 2 zugeführt sind, kann ein Abbild des im Untersuchungsbereich 5 angeordneten Objekts mit extrem hoher Auflösung erzeugt werden.
  • Bei der Ausführungsform der 1 kann die Lichtdetektionseinrichtung 8 z.B. ein Kamerasensor sein, z.B. ein CCD-Sensor mit einer Vielzahl von Pixeln. Die 2 zeigt eine Ausführungsform der optischen Einrichtung, bei der als Lichtdetektionseinrichtung 8 eine einzelne Fotodiode eingesetzt wird. Dies hat den Vorteil, dass der gesamte Aufbau der optischen Detektionseinrichtung wesentlich vereinfacht werden kann und insbesondere kürzer bauend gestaltet werden kann, da das optische Vergrößerungssystem 6 hier entfallen kann. Das Licht wird somit vom Lichtquellenfeld 2 über das Kollimationselement 3, die Linse 4 und den Untersuchungsbereich 5 direkt auf die Lichtdetektionseinrichtung 8 übertragen.

Claims (11)

  1. Optische Detektionseinrichtung mit folgenden Merkmalen: a) eine Lichtdetektionseinrichtung (8), die eingerichtet ist zum Erzeugen eines elektrischen Signals in Reaktion auf Licht, dass eine Lichtdetektionsseite (7) der Lichtdetektionseinrichtung (8) erreicht, b) eine Lichtemissionseinrichtung (1), die ein Lichtquellenfeld (2) aufweist, das eine Vielzahl von separat elektrisch ansteuerbaren elektrischen Lichtquellen aufweist, die in einer Matrixstruktur oder einer auf andere Weise definierten zweidimensionalen geometrischen Anordnung über das Lichtquellenfeld (2) verteilt angeordnet sind, c) wobei die Lichtdetektionsseite (7) der Lichtdetektionseinrichtung (8) über einen Untersuchungsbereich (5), an der ein mittels der optischen Detektionseinrichtung zu untersuchendes Objekt anordenbar ist, optisch mit einer Lichtemissionsseite des Lichtquellenfelds (2) gekoppelt ist, sodass von den Lichtquellen abgegebenes Licht durch den Untersuchungsbereich (5) auf die Lichtdetektionsseite (7) der Lichtdetektionseinrichtung (8) strahlt, dadurch gekennzeichnet, dass d) im Strahlengang zwischen der Lichtemissionsseite des Lichtquellenfelds (2) und dem Untersuchungsbereich (5) ein optisches Verkleinerungssystem (3, 4) angeordnet ist, das zur optischen Verkleinerung eines von den Lichtquellen des Lichtquellenfelds (2) abgegebenen Lichtmusters eingerichtet ist, sodass der Untersuchungsbereich (5) mit einem gegenüber dem von dem Lichtquellenfeld (2) abgegebenen Lichtmuster verkleinerten Lichtmuster bestrahlt ist.
  2. Optische Detektionseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das optische Verkleinerungssystem (3, 4) wenigstens ein Kollimationselement (3) aufweist, das an der dem Lichtquellenfeld (2) zugeordneten Seite des optischen Verkleinerungssystems (3, 4) angeordnet ist, wobei das Kollimationselement (3) zum optischen Sammeln des von den Lichtquellen des Lichtquellenfelds (2) abgegebenen divergierenden Lichts eingerichtet ist.
  3. Optische Detektionseinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das optische Verkleinerungssystem (3, 4) wenigstens eine im Strahlengang des von dem Lichtquellenfeld (2) abgegebenen Lichts dem Kollimationselement (3) nachgeordnete optische Einrichtung, z.B. eine Linse (4), eine Anordnung von Linsen oder ein Objektiv, zur Abbildung des von dem Kollimationselement (3) aufgenommenen Lichts auf einen verkleinerten Abbildungsmaßstab aufweist.
  4. Optische Detektionseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die optische Detektionseinrichtung im Strahlengang des Lichts zwischen dem Untersuchungsbereich (5) zu und der Lichtdetektionsseite (7) der Lichtdetektionseinrichtung (8) ein optisches Vergrößerungssystem (6) aufweist, durch das von dem Untersuchungsbereich (5) aufgenommenes Lichtmuster in ein an der Lichtdetektionsseite (7) ankommendes vergrößertes Lichtmuster umgewandelt wird.
  5. Optische Detektionseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtdetektionseinrichtung (8) ein oder mehrere Lichtsensorelemente (7) aufweist, wobei die Anzahl der Lichtsensorelemente (7) geringer ist als die Anzahl der Lichtquellen des Lichtquellenfelds (2).
  6. Optische Detektionseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Durchmesser jeder Lichtquelle des Lichtquellenfelds (2) weniger als 500 Nanometer beträgt.
  7. Optische Detektionseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen des Lichtquellenfelds (2) Leuchtdioden (LEDs), Laser oder andere strukturierte Lichtquellen sind.
  8. Optische Detektionseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtdetektionseinrichtung (8) mit der Lichtemissionseinrichtung (1) über eine Steuereinrichtung gekoppelt ist, die zum Steuern der Vielzahl von Lichtquellen nach einem definierten Aktivierungsschema und für eine integrierte, synchronisierte Verarbeitung der von der Lichtdetektionseinrichtung (8) empfangenen Daten eingerichtet ist.
  9. Optische Detektionseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die optische Detektionseinrichtung als hochauflösendes Mikroskop ausgebildet ist.
  10. Verfahren zum Betreiben einer optischen Detektionseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch: a) separates oder gruppenweises Aktivieren einiger der Lichtquellen der Lichtemissionseinrichtung (1) gemäß einem definierten Aktivierungsschema zum Aussenden von Licht, wie sequentiell oder gemäß definierten Mustern, b) Empfangen von emittiertem Licht direkt von den aktivierten Lichtquellen oder daraus resultierendem Licht durch die Lichtdetektionseinrichtung (8), c) Erfassen der von der Lichtdetektionseinrichtung (8) erzeugten elektrischen Signale als Reaktion auf Licht, das die Lichtdetektionsseite (7) der Lichtdetektionseinrichtung (8) erreicht und/oder Speichern der elektrischen Signale oder der für sie repräsentativen Daten unter Bezugnahme auf das definierte Aktivierungsschema der Lichtquellen, d) Erzeugen einer mindestens zweidimensionalen Bilddarstellung eines zu untersuchenden Objekts, das im Untersuchungsbereich (5) der optischen Detektionseinrichtung positioniert ist, aus den erfassten und/oder gespeicherten Signalen und/oder Daten.
  11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Fluoreszenzfähigkeiten eines im Untersuchungsbereich (5) positionierten Objekts erfasst und bewertet werden.
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102019129932B4 (de) * 2019-11-06 2023-12-21 Technische Universität Braunschweig Optische Detektionseinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer optischen Detektionseinrichtung

Citations (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1998045745A1 (en) 1997-04-04 1998-10-15 Isis Innovation Limited Microscopy imaging apparatus and method
EP1157297B1 (de) 1999-03-02 2002-11-06 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und vorrichtung zur objektabbildung
WO2006058187A2 (en) 2004-11-23 2006-06-01 Robert Eric Betzig Optical lattice microscopy
DE102010026205A1 (de) 2010-07-06 2012-01-12 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop, insbesondere Fluoreszenzmikroskop, dichroitischer Strahlteiler und dessen Verwendung
WO2012050901A2 (en) 2010-09-28 2012-04-19 The Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate Fourier domain sensing
DE102010062341A1 (de) 2010-12-02 2012-06-06 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Vorrichtung zur Erhöhung der Tiefendiskriminierung optisch abbildender Systeme
WO2012135823A1 (en) 2011-04-01 2012-10-04 Massachusetts Institute Of Technology High sensitivity temporal focusing widefield multiphoton endoscope capable of deep imaging
DE102011114500A1 (de) 2011-09-29 2013-04-04 Ludwig-Maximilians-Universität Mikroskopvorrichtung
DE102012017922A1 (de) 2012-09-11 2014-05-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optikanordnung und Lichtmikroskop
US20150211997A1 (en) 2012-10-12 2015-07-30 Nikon Corporation Lighting device and microscope, and lighting method and observation method
DE102012103459B4 (de) 2011-10-19 2016-03-31 National Synchrotron Radiation Research Center Optisches abbildungs-oder bildgebungssystem mit strukturierter beleuchtung
EP3081976A1 (de) 2013-12-12 2016-10-19 Nikon Corporation Mikroskop mit strukturierter beleuchtung, verfahren für strukturierte beleuchtung und programm
DE102016117803A1 (de) 2016-09-21 2018-03-22 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopbeleuchtungsanordnung zur strukturierten Beleuchtung
WO2018205357A1 (zh) 2017-05-12 2018-11-15 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 结构光照明显微成像系统
US20180348496A1 (en) 2013-05-15 2018-12-06 The Administrators Of The Tulane Educational Fund Microscopy of a tissue sample using structured illumination
WO2018233951A1 (en) 2017-06-21 2018-12-27 Asml Netherlands B.V. METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING SUBSTRATE SURFACE VARIATIONS
EP3320567B1 (de) 2015-07-07 2019-05-08 Technische Universität Braunschweig Optische detektionsvorrichtung, verfahren zum betreiben und computerprogramm
US20190162945A1 (en) 2016-04-08 2019-05-30 Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona Systems and methods for extended depth-of-field microscopy
WO2019143556A1 (en) 2018-01-16 2019-07-25 Illumina, Inc. Multi-arm structured illumination imaging
US20190324240A1 (en) 2017-06-06 2019-10-24 Hari Shroff Multi-focal structured illumination microscopy systems and methods
DE102018124984A1 (de) 2018-10-10 2020-04-16 Friedrich-Schiller-Universität Jena Verfahren und Vorrichtung zur hochaufgelösten Fluoreszenzmikroskopie
EP3650905A1 (de) 2018-11-12 2020-05-13 Carl Zeiss Microscopy GmbH Beschleunigte verfahren und vorrichtungen für die dreidimensionale mikroskopie mit strukturierter beleuchtung

Family Cites Families (65)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1935983B1 (de) * 1997-05-05 2011-06-22 ChemoMetec A/S Verfahren zur Bestimmung von biologischen Teilchen im Blut
US9651874B2 (en) * 1999-01-15 2017-05-16 Kenneth C. Johnson Scanned-spot-array DUV lithography system
US6750963B2 (en) * 2002-05-21 2004-06-15 Agilent Technologies, Inc. Imaging systems for signals on a surface
WO2004036284A1 (ja) * 2002-09-30 2004-04-29 Japan Science And Technology Agency 共焦点顕微鏡、共焦点顕微鏡を用いた蛍光測定方法及び偏光測定方法
JP4235440B2 (ja) * 2002-12-13 2009-03-11 キヤノン株式会社 半導体デバイスアレイ及びその製造方法
EP1607041B1 (de) * 2004-06-17 2008-01-16 Cadent Ltd. Verfahren zum Bereitstellen von Daten im Zusammenhang mit der Mundhöhle
JP2006099914A (ja) * 2004-09-30 2006-04-13 Ricoh Co Ltd 光ディスク記録方法及び光ディスク記録再生装置
US7697750B2 (en) * 2004-12-06 2010-04-13 John Castle Simmons Specially coherent optics
US7660226B2 (en) * 2005-03-02 2010-02-09 Ricoh Company, Ltd. Optical system, optical pickup apparatus, and optical disk apparatus
US20070057211A1 (en) * 2005-05-25 2007-03-15 Karsten Bahlman Multifocal imaging systems and method
US7595473B2 (en) * 2005-08-22 2009-09-29 Tufts University Method and system of array imaging
US9976192B2 (en) * 2006-03-10 2018-05-22 Ldip, Llc Waveguide-based detection system with scanning light source
US7460248B2 (en) * 2006-05-15 2008-12-02 Carestream Health, Inc. Tissue imaging system
JP2009544988A (ja) * 2006-07-20 2009-12-17 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ マルチカラーバイオセンサ
WO2008061681A2 (de) * 2006-11-21 2008-05-29 Carl Zeiss Smt Ag Beleuchtungsoptik für die projektions-mikrolithografie sowie mess- und überwachungsverfahren für eine derartige beleuchtungsoptik
US7705309B1 (en) * 2007-02-27 2010-04-27 Agiltron Corporation Radiation detector with extended dynamic range
US8624968B1 (en) * 2007-04-25 2014-01-07 Stc.Unm Lens-less digital microscope
GB2465024B (en) * 2008-11-08 2011-01-12 Adaptive Automation Ltd Shadow sensing apparatus
US9068947B2 (en) * 2008-12-03 2015-06-30 Pcr Max Limited Optical system for multiple reactions
JP2011085759A (ja) * 2009-10-15 2011-04-28 Yokogawa Electric Corp 共焦点光スキャナ
US20140152801A1 (en) * 2009-10-28 2014-06-05 Alentic Microscience Inc. Detecting and Using Light Representative of a Sample
JP5852305B2 (ja) * 2009-10-28 2016-02-03 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh 分解能の向上した顕微鏡法および顕微鏡
CA2779146C (en) * 2009-12-08 2013-09-03 Spectral Applied Research Inc. Imaging distal end of multimode fiber
DE102009060793A1 (de) * 2009-12-22 2011-07-28 Carl Zeiss Microlmaging GmbH, 07745 Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten
JP5056871B2 (ja) * 2010-03-02 2012-10-24 横河電機株式会社 共焦点顕微鏡システム
DE102010045856A1 (de) * 2010-09-17 2012-03-22 Carl Zeiss Ag Optisches Abbildungssystem zur multispektralen Bildgebung
JP5412394B2 (ja) * 2010-09-30 2014-02-12 オリンパス株式会社 標本観察装置
JP5703126B2 (ja) * 2010-09-30 2015-04-15 富士フイルム株式会社 生体分子検出装置および生体分子検出方法
EP2439514A1 (de) * 2010-10-01 2012-04-11 Aqsens Oy Verfahren, Vorrichtung und System zur optischen Untersuchung einer in mehreren Vertiefungen enthaltenen Probe
FR2966258B1 (fr) * 2010-10-15 2013-05-03 Bioaxial Système de microscopie de superresolution de fluorescence et méthode pour des applications biologiques
US9063074B2 (en) * 2010-12-30 2015-06-23 Empire Technology Development Llc Analyzing tissue morphology in three dimensions
US8866063B2 (en) * 2011-03-31 2014-10-21 The Regents Of The University Of California Lens-free wide-field super-resolution imaging device
GB201107556D0 (en) * 2011-05-06 2011-06-22 Sheblee Jafer Spatial resolution enhancements in multibeam confocal scanning systems
JP5323130B2 (ja) * 2011-05-26 2013-10-23 富士フイルム株式会社 蛍光分析装置および蛍光分析方法
DE102011109653B4 (de) * 2011-08-06 2021-11-25 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop mit einem Beleuchtungsarray
DE102011114377A1 (de) * 2011-09-23 2013-03-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Durchlichtbeleuchtung für Lichtmikroskope und Mikroskopsystem
DE102011114336A1 (de) * 2011-09-23 2013-03-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Durchlichtbeleuchtung für Lichtmikroskope und Mikroskopsystem
JP5527625B2 (ja) * 2011-11-22 2014-06-18 横河電機株式会社 顕微鏡装置
KR101300733B1 (ko) * 2012-01-12 2013-08-27 연세대학교 산학협력단 다중 병렬 공초점 시스템
US10025082B2 (en) * 2012-02-23 2018-07-17 The United States Of America, As Represented By The Secretary, Department Of Health And Human Services Multi-focal structured illumination microscopy systems and methods
CN104471462B (zh) * 2012-02-23 2017-09-19 美国卫生与公共服务秘书部 多焦结构化照明显微系统和方法
WO2013181433A2 (en) * 2012-05-30 2013-12-05 Board Of Trustees Of Michigan State University Plant phenometrics systems and methods and devices related thereto
US9885859B2 (en) * 2012-07-05 2018-02-06 Martin Russell Harris Structured illumination microscopy apparatus and method
US20140104681A1 (en) * 2012-10-12 2014-04-17 Spectral Applied Research Inc. Spatial Filter to Combine Excitation Light and Emission Light in an Episcopic Multiplexed Confocal Scanning Microscope
DE102013206394A1 (de) * 2013-04-11 2014-10-16 Asphericon Gmbh Refraktiver Strahlformer
US20150131148A1 (en) * 2013-11-12 2015-05-14 Intelligent Imaging Innovations, Inc. Spinning disk confocal using paired microlens disks
JP5915874B2 (ja) * 2013-12-19 2016-05-11 横河電機株式会社 顕微鏡装置
JP5999121B2 (ja) * 2014-02-17 2016-09-28 横河電機株式会社 共焦点光スキャナ
WO2015164844A1 (en) * 2014-04-24 2015-10-29 Vutara, Inc. Super resolution microscopy
KR20220165286A (ko) * 2014-08-08 2022-12-14 퀀텀-에스아이 인코포레이티드 분자를 프로빙, 검출 및 분석하기 위한 외부 광원을 갖는 통합 디바이스
EP3032312B1 (de) * 2014-12-08 2020-02-26 Yokogawa Electric Corporation Konfokaler scanner und konfokales mikroskop
WO2016105285A1 (en) * 2014-12-26 2016-06-30 Koc University Near-to-eye display device with variable resolution
US10732113B2 (en) * 2016-02-26 2020-08-04 Single Technologies Ab Method and device for high throughput imaging
US10509215B2 (en) * 2016-03-14 2019-12-17 Olympus Corporation Light-field microscope
JP6810167B2 (ja) * 2016-05-27 2021-01-06 ヴェリリー ライフ サイエンシズ エルエルシー 4dハイパースペクトル撮像のためのシステムおよび方法
WO2017210418A1 (en) * 2016-06-01 2017-12-07 Velodyne Lidar, Inc. Multiple pixel scanning lidar
US10458931B1 (en) * 2016-06-17 2019-10-29 Leidos, Inc. Contact imaging sensor head for computed radiography
US11653835B2 (en) * 2016-11-22 2023-05-23 Provincial Health Services Authority Dual mode biophotonic imaging systems and their applications for detection of epithelial dysplasia in vivo
JP7050068B2 (ja) * 2016-12-16 2022-04-07 クアンタム-エスアイ インコーポレイテッド コンパクトなビーム成形およびステアリングアセンブリ
WO2018132487A1 (en) * 2017-01-10 2018-07-19 Photoswitch Biosciences, Inc. Systems and methods for detection
DE102017111718A1 (de) * 2017-05-30 2018-12-06 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Erzeugung und Analyse eines Übersichtskontrastbildes
WO2019090149A1 (en) * 2017-11-03 2019-05-09 California Institute Of Technology Parallel digital imaging acquisition and restoration methods and systems
CN112119340B (zh) * 2018-04-18 2022-07-12 金泰克斯公司 外科显微镜中受限视场的照明
US20220026695A1 (en) * 2018-12-17 2022-01-27 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) Koehler integrator device and application thereof in a multi-focal confocal microscope
DE102019129932B4 (de) * 2019-11-06 2023-12-21 Technische Universität Braunschweig Optische Detektionseinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer optischen Detektionseinrichtung

Patent Citations (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1998045745A1 (en) 1997-04-04 1998-10-15 Isis Innovation Limited Microscopy imaging apparatus and method
EP1157297B1 (de) 1999-03-02 2002-11-06 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und vorrichtung zur objektabbildung
WO2006058187A2 (en) 2004-11-23 2006-06-01 Robert Eric Betzig Optical lattice microscopy
DE102010026205A1 (de) 2010-07-06 2012-01-12 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop, insbesondere Fluoreszenzmikroskop, dichroitischer Strahlteiler und dessen Verwendung
WO2012050901A2 (en) 2010-09-28 2012-04-19 The Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate Fourier domain sensing
DE102010062341A1 (de) 2010-12-02 2012-06-06 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Vorrichtung zur Erhöhung der Tiefendiskriminierung optisch abbildender Systeme
WO2012135823A1 (en) 2011-04-01 2012-10-04 Massachusetts Institute Of Technology High sensitivity temporal focusing widefield multiphoton endoscope capable of deep imaging
DE102011114500A1 (de) 2011-09-29 2013-04-04 Ludwig-Maximilians-Universität Mikroskopvorrichtung
DE102012103459B4 (de) 2011-10-19 2016-03-31 National Synchrotron Radiation Research Center Optisches abbildungs-oder bildgebungssystem mit strukturierter beleuchtung
DE102012017922A1 (de) 2012-09-11 2014-05-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optikanordnung und Lichtmikroskop
US20150211997A1 (en) 2012-10-12 2015-07-30 Nikon Corporation Lighting device and microscope, and lighting method and observation method
US20180348496A1 (en) 2013-05-15 2018-12-06 The Administrators Of The Tulane Educational Fund Microscopy of a tissue sample using structured illumination
EP3081976A1 (de) 2013-12-12 2016-10-19 Nikon Corporation Mikroskop mit strukturierter beleuchtung, verfahren für strukturierte beleuchtung und programm
EP3320567B1 (de) 2015-07-07 2019-05-08 Technische Universität Braunschweig Optische detektionsvorrichtung, verfahren zum betreiben und computerprogramm
US20190162945A1 (en) 2016-04-08 2019-05-30 Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona Systems and methods for extended depth-of-field microscopy
DE102016117803A1 (de) 2016-09-21 2018-03-22 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopbeleuchtungsanordnung zur strukturierten Beleuchtung
WO2018205357A1 (zh) 2017-05-12 2018-11-15 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 结构光照明显微成像系统
US20190324240A1 (en) 2017-06-06 2019-10-24 Hari Shroff Multi-focal structured illumination microscopy systems and methods
WO2018233951A1 (en) 2017-06-21 2018-12-27 Asml Netherlands B.V. METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING SUBSTRATE SURFACE VARIATIONS
WO2019143556A1 (en) 2018-01-16 2019-07-25 Illumina, Inc. Multi-arm structured illumination imaging
DE102018124984A1 (de) 2018-10-10 2020-04-16 Friedrich-Schiller-Universität Jena Verfahren und Vorrichtung zur hochaufgelösten Fluoreszenzmikroskopie
EP3650905A1 (de) 2018-11-12 2020-05-13 Carl Zeiss Microscopy GmbH Beschleunigte verfahren und vorrichtungen für die dreidimensionale mikroskopie mit strukturierter beleuchtung

Also Published As

Publication number Publication date
US20210132357A1 (en) 2021-05-06
DE102019129932A1 (de) 2021-05-06
US11789250B2 (en) 2023-10-17

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