TWI271744B - Semiconductor memory device having advanced data strobe circuit - Google Patents
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Description
1271744 玖、發明說明: (一)發明所屬之技術領域: 本發明係關於一種半導體記憶體裝置;尤其是關於一種 對於在資料寫入操作時,具有較多時間邊限之半導體記憶 體裝置中的資料閃控電路。 (—)先前技術: 一般而言,在雙資料率同步動態隨機存取記憶體中(以下 簡稱爲DDR SDRAM),已經使用預取2位元資料或4位元 資料之方法,以增加DDR SDRAM之操作速度。但是,因 爲當DDR SDRAM根據習知技術預取多位元資料的各位元 時,時間邊限很小,所以會發生一些重要的問題。結果, 爲了增加DDR SDRAM的操作,預取多位元資料之方法被 視爲一種極限狀態。 第1 A圖爲根據習知技術之D D R S D R A Μ的資料閃控電路 方塊圖,而第1 Β圖爲根據習知技術之D D R S D R A Μ的資料 閃控電路中,分割第一 /第二資料區塊i 6 〇的電路圖。 如第1A圖所示,DDR SDRAM之資料閃控電路包含:資 料閃控輸入緩衝器1 1 0、資料輸入緩衝器1 2 〇、資料上升輸 入閂鎖1 3 0、資料下降輸入閂鎖1 4 〇、第一資料分割區塊 1 5 0和第二資料分割區塊1 6 〇。 資料閃控輸入緩衝器1 1 0接收當作參考訊號之資料閃控 訊號DQS,而以排列輸入資料。若啓始緩衝訊號STARTZ 藉由資料寫入指令致能,則資料閃控輸入緩衝器丨i 〇輸出 資料閃控上升訊號DSR〇和資料w控下降訊號DSF〇。在此 1271744 ’使用啓始緩衝訊號STARTZ,以致能資料閃控輸入緩衝器 1 1 0 〇 若啓始緩衝訊號STARTZ藉由資料寫入指令致能,則資 料fei入緩衝器1 2 0,輸出輸入的資料到資料上升輸入閂鎖 1 3 0和資料下降輸入閂鎖丨4 〇。 資料上升輸入閂鎖1 3 0接收自資料閃控輸入緩衝器i i 〇 輸入之資料閃控上升訊號D S R 〇,然後閂鎖資料輸入緩衝器 1 20的輸出。資料下降輸入閂鎖丨4〇接收自資料閃控輸入 緩衝器11 0輸入之資料閃控下降訊號DSFO,然後閂鎖資料 輸入緩衝器1 2 0的輸出。在此,由資料閃控上升訊號D s R 0 控制之資料上升輸入閂鎖1 3 0,在自資料下降輸入閂鎖1 4 〇 輸出下降對齊資料ALIGN_DSFO_DATA的同時,輸出上升 對齊資料 ALIGN —DSRO —DATA。 第一和第二資料分割區塊1 5 0和1 6 0接收上升和下降對 齊資料 ALIGN_DSRO—DATA 和 ALIGN—DSF0_DATA。第一 和第二資料分割區塊丨50和1 60,分別在資料閃控下降訊號 DSFO的第一上升輸出第一對齊資料ALIGN_FIRST_DATA[0:1] ,和在資料閃控下降訊號D S F 0的第二上升輸出第二對齊 資料 ALIGN —SECOND_DATA[0:1]。 第2圖爲根據習知技術之DDR SDRAM的資料閃控電路 ,其寫入操作之時序圖。如上所述,在接收資料閃控訊號 DS之後,資料閃控電路產生資料閃控上升和下降訊號DSRO 和D S F 0,然後響應資料閃控下降訊號D S F 0,輸出第一和 第二對齊資料。 -6- 1271744 如圖所示,當自資料閃控電路輸出的第一和第二對齊資料 ALIGN —FIRST —DATA [0 : 1 ]和 A L I G N _ S E C 〇 N D — D AT A [ 0 : 1 ], 與外部時脈CLK同步化時,資料閃控電路可具有只要外部 時脈C L K 一半周期之時序邊限。換言之,第一和第二對齊 資料,在外部時脈CLK的一半周期期間,應該要藉由資料 閃控下降訊號D S F 0輸出。一般而言,當某一個資料閃控 訊號,如D S,輸入到資料閃控電路時,與該資料閃控訊號 同步化的8個資料,也會輸入到資料閃控電路。在資料閃 控電路接收許多資料閃控訊號的情形下,各資料閃控訊號 不會同時,而是依序輸入。結果,輸出的資料閃控訊號之 間會發生時脈錯誤。 第3圖爲展示與外部時脈C L K相較之資料閃控訊號,如 DQS、DQS1、DQS2 的時序圖。 資料閃控訊號之間的時序邊限可以使用tDQSS界定,即 ,從外部時脈CLK的上升到資料閃控訊號的第一上升之時 間。例如,在輸入寫入指令之後,最早的第一資料閃控訊 號DQS 1可經過0.75tCK致能。在此,1 tCK表示1個周期 的外部時脈C L K。在輸入寫入指令之後,後面的第二資料 閃控訊號D Q S 2可經過1 · 2 5 t C K致能。換言之,資料閃控 訊號係在不同的響應時序下輸入,而非在相同的時序下輸 入。 在示於第3圖之情形中,藉由各資料閃控訊號排列之第 一和第二對齊資料的時序邊限只有〇.5 tCK。結果,在許多 資料當中,最早的資料被藉由第二寫入指令輸入之前,在 1271744 許多資料當中,藉由第一寫入指令輸入之後面的資料,應 該不是由時脈域的控制訊號閂鎖,而是應該由資料閃控訊 號閂鎖。換言之,當用以操作以參考時脈從資料閃控訊號 DS變成外部時脈CLK時,各對齊資料具有〇.5tCK的時序 邊限。因此,外部時脈C L K之較短的一個周期’ HP 1 t C K ,使各對齊資料具有較短的時序邊限,即〇.5tCK ;所以習 知技術的資料閃控電路不適用於使用高頻之半導體記憶體 裝置的高速操作。 (三)發明內容: 因此,本發明之目的在於提供一種具有先進資料閃控電 路之半導體記憶體裝置,藉由使用根據依序接收輸入資料 的過程,產生資料閃控訊號的各個過程之方法,保證資料 排列操作有足夠的時序邊限。 根據本發明之觀點,提供一種用以預取Μ個N位元資料 之資料閃控電路,Μ和Ν爲正整數,其中包含用以根據資 料閃控訊號,產生Μ個對齊控制訊號之資料閃控緩衝單元 ;具有Μ個閃鎖區塊之同步化區塊,其各用以接收ν位元 資料,然後響應Ν-1個對齊控制訊號,以並聯型式輸出N_ i 位元資料,及響應其餘的對齊控制訊號,輸出1位元預取 資料;及具有Μ個對齊區塊之輸出區塊,其各用並聯型式 接收Ν - 1位元資料’使Ν - 1位元資料和對齊控制訊號同步 ’然後輸出已同步化的Ν - 1位元資料,當作Ν _丨位元預取 資料。 -8 - 1271744 (四)實施方式: 下文中,將參考附圖,詳細說明根據本發明具有先進資 料閃控電路之半導體記憶體裝置。 第4圖爲根據本發明實施例之資料閃控電路的方塊圖。 如圖所示’資料閃控電路包含資料閃控緩衝器區塊400 、資料閃控分割區塊42 0、資料輸入緩衝器區塊4 1 0,具有 第一到第四閂鎖單元43 0到46 0之閂鎖區塊,及具有第一 到第三對齊單元4 7 0到490之資料對齊區塊。 資料閃控緩衝器區塊400接收資料閃控訊號DS,然後輸 出緩衝的資料閃控訊號DSBUF_OUT。資料輸入緩衝器區塊 4 1 0接收輸入資料DIN,然後輸出緩衝的輸入資料DIN_OUT 。資料閃控分割區塊420接收緩衝的資料閃控訊號DSBUF_OUT ,然後產生第一上升和下降資料閃控訊號DSR0和DSF0, 及第二上升和下降資料閃控訊號D S R 1和D S F 1。在此,第 一上升和下降資料閃控訊號D S R0和D S F 0,及第二上升和 下降資料閃控訊號D S R 1和D S F 1,依序與緩衝的資料閃控 訊號DSBUF_OUT之第一上升、第一下降、第二上升和第 二下降同步化。當然,資料閃控分割區塊420係操作在閃 控致能訊號STARTZ被致能時之時序點。資料閃控分割區 塊420之電路圖示於第5圖。 第6圖爲資料閃控分割區塊42 0之操作展示的時序圖。 若閃控致能訊號STARTZ響應寫入指令致能,則根據本 發明實施例之資料閃控分割區塊42 0,輸出與緩衝的資料 閃控訊號DSBUF_OUT的第一上升同步化之第一上升資料 -9- 1271744 閃控訊號D S R 0。然後,資料閃控分割區塊4 2 〇依序輸出:與 緩衝的資料閃控訊號D S B U 〇 U Τ的第一下降同步化之第一 下降資料閃控訊號DSF0 ;與緩衝的資料閃控訊號dSBUF_OUT 的第二上升同步化之第二上升資料閃控訊號D S R 1 ;及與緩 衝的資料閃控訊號DSBUF__〇UT的第二下降同步化之第二 下降資料閃控訊號D S F 1。 分別輸入到第一閂鎖單元4 3 0、第二閂鎖單元4 4 0、第三 閂鎖單元4 5 0及第四閂鎖單元460之第一上升和下降資料 閃控訊號DSRO和DSFO,及第二上升和下降資料閃控訊號 D S R 1和D S F 1,用以在各資料閃控訊號,即d S R 0、D S F 0 、D S R 1和D S F 1的上升,閂鎖緩衝的輸入資料d IN _ 0 U T 。此外,第一下降資料閃控訊號D S F 0、第二上升資料閃控 訊號D S R 1和第二下降資料閃控訊號D S F }係個別輸入到第 一到第三對齊單元4 7 0到4 9 0,使得輸出自第一到第三對 齊單元470到490之對齊資料,與輸出自第4閂鎖單元460 所閂鎖的資料同步化。 詳而言之’第一閂鎖單元4 3 0接收第一上升資料閃控訊 號D S R0和輸出自資料輸入緩衝器區塊4 1 0之緩衝輸入資 料DIN —OUT,然後在第一上升資料閃控訊號DSR0的第一 上升,閂鎖緩衝輸入資料DIN_OUT。然後,第一閂鎖單元 4 3 0在第一上升資料閃控訊號D S R0的下一個上升,將第一 閂鎖資料R〇_〇UT輸出到第一對齊單元470。
第二閂鎖單元4 4 0接收第一下降資料閃控訊號DSF0和 輸出自資料輸入緩衝器區塊4 1 0之緩衝輸入資料D IN 0 U T -10- 1271744 ,然後在第一下降資料閃控訊號D s F 0的第一上升,閂鎖 緩衝輸入資料DIN —OUT。然後’第二閂鎖單元440在第二 下降資料閃控訊號D S F 0的下一個上升’將第二閂鎖資料 FO-OUT輸出到第二對齊單元480。 第三閂鎖單元4 5 0接收第二上升資料閃控訊號D S R 1和 輸出自資料輸入緩衝器區塊410之緩衝輸入資料dIN_0UT ,然後在第二上升資料閃控訊號D S R 1的第一上升,閂鎖 緩衝輸入資料DIN_0UT。然後,第三閂鎖單元4 5 0在第二 上升資料閃控訊號D S R 1的下一個上升,將第三閂鎖資料 Rl—OUT輸出到第二對齊單元490。 第四閂鎖單元460接收第二下降資料閃控訊號DSF1和 輸出自資料輸入緩衝器區塊4 1 0之緩衝輸入資料DIN_0UT ,然後在第二下降資料閃控訊號D S F 1的第一上升,閂鎖 緩衝輸入資料DIN —OUT。然後,第一閂鎖單元43 0在第二 下降資料閃控訊號D S F 1的下一個上升,輸出第四對齊資 料ALIGN_F1_0UT。在此,在與輸出自第一到第三對齊單 元4 7 0到4 9 0之對齊資料同步化之後,自第四閂鎖單元4 6 0 輸出第四對齊資料ALIGN_F1_0UT。 第7圖爲示於第4圖之第一對齊單元470的電路圖。 如圖所示,第一對齊單元470包含:用以響應第一上升 資料閃控訊號D S R 0的上升,傳輸第一閂鎖資料R 〇 _ 〇 U T 之第一傳輸閘7 0 1,用以反相輸出自第一傳輸閘7 0 1的第 一閂鎖資料R〇_〇UT之第一反相器7 02,用以接收輸出自 第一反相器7 02的反相第一閂鎖資料/R0_out之第二反相 1271744 器7 Ο 3,循環連接到第二反相器7 〇 3,用以閂鎖輸出自第一 反相器7 0 2的第一閂鎖資料r 〇 _〇u T之第三反相器7 0 4, 用以響應第二上升資料閃控訊號DSR1的上升,輸出第二 反相器7 0 3所輸出的反相第一閂鎖資料/ro_〇ut之第二傳
輸閘7 〇 5 ’用以反相輸出自第二傳輸閘7 〇 5的反相第一閂 鎖資料/R0 —OUT之第四反相器7〇6,用以接收輸出自第四 反相器700的反相第〜閂鎖資料/R〇_〇uT之第五反相器707 ’循環連接到第五反相器7 〇 7,用以閂鎖輸出自第四反相 器706的第一閂鎖資料r〇_〇ut之第六反相器708,及用 以響應第二下降資料閃控訊號D S F 1的上升,輸出自第五 反相器7 0 7的第一閂鎖資料r 〇 _ 〇 u T之第三傳輸閘7 0 9。 換言之,第一對齊單元4 7 0接收第一閂鎖資料R 〇 _ 〇 U T 、第一下降資料閃控訊號D S F 0、第二上升資料閃控訊號 D S R 1和第二下降資料閃控訊號d S F 1,然後輸出第一對齊 資料ALIGN_RO_OUT,即,與第二下降資料閃控訊號DSF1 同步化之第一閂鎖資料R〇_〇UT。
第8圖爲示於第4圖之第二對齊單元48〇的電路圖。 如圖所示,第二對齊單元480包含:用以響應第二上升 資料閃控訊號D S R 1的上升,傳輸第二閂鎖資料f 〇 _ 〇 u T 之第四傳輸閘8 0 1,用以反相輸出自第四傳輸閘8 〇丨的第 二閂鎖資料F0 —OUT之第六反相器8 02,用以接收輸出自第 六反相器8 0 2的反相第二閂鎖資料/ F 〇 — 〇 υ τ之第七反相器 8〇3,循環連接到第七反相器803,用以閂鎖輸出自第七反 相器803的第二閂鎖資料F〇_OUT之第八反相器8〇4,及用 -12, 1271744 以響應第二下降資料閃控訊號D S F 1的上升,輸出自第七 反相器8 0 3的第二閂鎖資料FO_OUT之第五傳輸閘8 0 5。 第二對齊單元4 8 0接收第二閂鎖資料F0_ OUT,第二上升 資料閃控訊號D S R 1和第二下降資料閃控訊號D S F 1,然後 輸出第二對齊資料ALIGN F0 OUT,即,與第二下降資料 閃控訊號DSF1同步化之第二閂鎖資料FO_OUT。 第9圖爲示於第4圖之第三對齊單元490的電路圖。
如圖所示,第三對齊單元4 90包含:用以響應第二下降 資料閃控訊號DSF1的上升,傳輸第三問鎖資料Rl—OUT 之第六傳輸閘9 0 1。第三對齊單元4 9 0接收第三閂鎖資料 Rl_OUT和第二下降資料閃控訊號DSF1,然後輸出第三對 齊資料ALIGN —Rl_OUT,即,與第二下降資料閃控訊號 DSF1同步化之第三閂鎖資料Rl_〇UT。 第1 0圖爲示於第4圖之資料閃控電路的操作展示時序圖。
如圖所示,因爲第一資料係由資料閃控訊號DQS到DQS2 的最早輸入訊號之第一資料閃控訊號D Q s 1所閂鎖’直到 第二資料由資料閃控訊號D Q S到D Q S 2的最後輸入訊號之 第二資料閃控訊號DQS2閂鎖,所以時序邊限約爲1.5tCK 。本發明之資料閃控電路的時序邊限,即1.5tCK,長於習 知技術之資料閃控電路的時序邊限,即〇 . 5 t C K。 第1 1圖爲根據本發明另一實施例之資料閃控電路的方 塊圖。本實施例之資料閃控電路可以應用到可同時預取2 n 位元資料之半導體記憶體裝置。 如圖所示,資料閃控多重分割區塊1 3 0 0包含許多資料閃 -13- 1271744 控分割單元131〇到13N0。多重閂鎖區塊14〇〇也具有許多 R鎖區塊1410到MNO,而多重對齊區塊15〇〇包含許多對 齊區塊151〇到15N0。因爲每〜個閂鎖區塊都閂鎖一個資 料組’所以資料閃控電路可以預取N個資料組,即2„位元 貝料(N爲正整數)。在此,每—個資料閃控分割單元,如 1 3 1 0 ’每一個問鎖區塊’如1 4丨〇,和每〜個對齊區塊,如 1 5 1 0 ’都和示於第4圖的那些相似。爲了方便,省略那些 區塊詳細的操作說明。 另一方面,有一個根據本發明另一實施例之資料對齊區 塊。爹考第4圖和第11圖,第一對齊單元,如470,和第 一封齊區塊’如1510之第一資料對齊單元,如“Η,分 別接收3個資料閃控訊號。但是,每一個單元4 7 0或1 5 1 1 可以不用分別接收資料閃控訊號D S R 1或.D S R卜1 ,就對齊 輸入資料。例如,傳輸閘7 0 5和3個反相器7 0 6、7 0 7和7 0 8 不是基本組件,所以這些組件可以自第一對齊單元4 7 0中 移除。因爲第一對齊單元470包含用以暫時儲存輸入資料 之迴路連接式反相器703和704,所以第一對齊單元470可 以藉由只接收資料閃控訊號DSF0和DSF1對齊輸入訊號。 在此情形下,資料閃控電路可藉由減少資料對齊單元中 所含有之電晶體的數量實行。結果,即使資料閃控電路之 操作的時序邊限保持不變,電流消耗也可以減少,而且也 可以減少資料閃控電路的總面積。 具有根據本發明的資料閃控電路之半導體記憶體裝置, 因爲保證有足夠的時序邊限,所以具有穩定寫入操作之優 1271744 點。 本發明已根據特定的實施例詳細說明’對於熟悉此項技 術之人士,其各種不同的變化例和修正例明顯將不脫離本 發明在下面的申請專利範圍中所定義之精神和範圍。 (五)圖式簡單說明: 第1 A圖爲根據習知技術之DDR SDRAM的資料閃控電路 方塊圖;
第1 B圖爲根據習知技術之D D R S D R A Μ的資料閃控電路 中,分割第一 /第二資料區塊的電路圖; 第2圖爲根據習知技術之DDR SDRAM的資料閃控電路 ,其寫入操作之時序圖; 第3圖爲展示與外部時脈C L K相較之資料閃控訊號的時 序圖; 第4圖爲根據本發明實施例之資料閃控電路的方塊圖; - 第5圖爲示於第4圖之資料閃控電路的資料閃控分割區 。 塊電路圖; 第6圖爲示於第5圖之資料閃控分割區塊的操作展示時 f 序圖, 第7圖爲示於第4圖之資料閃控電路的第一對齊單元電 路圖; - 第8圖爲示於第4圖之資料閃控電路的第二對齊單元電 _ 路圖; 第9圖爲示於第4圖之資料閃控電路的第三對齊單元電 路圖; -15- 1271744 第1 0圖爲示於第4圖之資料閃控電路的操作展示時序圖 ;及 第1 1圖爲根據本發明另一實施例之資料閃控電路的方 塊圖。 主要部分之代表符號說明: 110 120 13 0 140 1 50 160 400 4 10 420 43 0 440 450 460 470 480 490 70 1 702 703 資料閃控輸入緩衝器 資料輸入緩衝器 資料上升輸入閂鎖 資料下降輸入閂鎖 第一資料分割區塊 第二資料分割區塊 資料閃控緩衝器區塊 資料輸入緩衝器區塊 資料閃控分割區塊 第一閂鎖單元 第二閂鎖單元 第三閂鎖單元 第四閂鎖單元 第一對齊單元 第二對齊單元 第三對齊單元 第一傳輸閘 第一反相器 第二反相器 -16- 1271744 704 第三反相器 705 第二傳輸閘 706 第四反相器 707 第五反相器 708 第六反相器 709 第三傳輸閘 710,711 反相器 80 1 第四傳輸閘 802 第六反相器 803 第七反相器 804 第八反相器 805 第五傳輸聞 806,807 反相器 90 1 第六傳輸閘 902,903 反相器 1100 資料閃控緩衝器區塊 1200 資料輸入緩衝器區塊 1300 資料閃控多重分割區塊 1 310 〜1 3N0 資料閃控分割區塊 1400 多重閂鎖區塊 1 4 1 0 〜1 4N0 閂鎖區塊 1500 多重對齊區塊 1 510 〜1 5N0 對齊區塊
Claims (1)
1271744 拾、申請專利範圍: 1 . 一種用以預取Μ個N位元資料之資料閃控電路,其中Μ 和Ν爲正整數,包含: . 用以根據資料閃控訊號’產生Μ個對齊控制訊號之資 料閃控緩衝單元; 具有Μ個閂鎖區塊之同步化區塊,其各用以接收ν位 元資料,然後響應Ν - 1個對齊控制訊號,以並聯型式輸 出Ν - 1位元資料,及響應其餘的對齊控制訊號,輸出1 位元預取資料;及 具有Μ個對齊區塊之輸出區塊,其各用並聯型式接收 Ν - 1位元資料,使Ν - 1位元資料和對齊控制訊號同步, 然後輸出已同步化的Ν - 1位元資料,當作ν - 1位元預取 資料。 2 ·如申請專利軔S弟1項之資料閃控電路,其中至少一個 ,甚或更多的對齊控制訊號具有至少比資料閃控訊號的 周期長2倍之周期。 3 .如申請專利範圍第1項之資料閃控電路,其中同步化區 塊包含Μ個問鎖區塊’其各自具有Ν個問鎖,每一個問 鎖都是用以響應一個對齊控制訊號,閂鎖一個位元的資 料。 4 .如申請專利範圍第1項之資料閃控電路,其中輸出區塊 包含Μ個對齊區塊,其各自具有Ν-1個對齊單元,每一 個對齊單元都是用以接收至少一個對齊控制訊號,使一 個位元資料與對齊控制訊號同步化,然後輸出已同步化 1271744 的一個位元資料,當作一個位元的預取資料。 5 .如申請專利範圍第丨項之資料閃控電路,其中n等於4。 6 .如申請專利範圍第5項之資料閃控電路,其中資料閃控 分割裝置,響應資料閃控訊號的上升和下降,產生第一 上升和下降資料閃控訊號,及第二上升和下降資料閃控 訊號。 7 ·如申請專利範圍第6項之資料閃控電路,其中同步化區 塊包含至少一個閂鎖區塊,用以閂鎖響應第一上升和下 降資料問控訊號與第二上升和下降資料閃控訊號輸入之 4位元資料,然後響應第二下降資料閃控訊號,輸出一 個閂鎖位元的資料,當作一個位元的預取資料。 8 ·如申請專利範圍第7項之資料閃控電路,其中輸出區塊 包含至少一個對齊區塊,用以響應第一下降資料閃控訊 號、第二上升資料閃控訊號和第二下降資料閃控訊號, 接收輸入自問鎖裝置之3位元資料,而且同時輸出3位 元已同步化的資料當作3位元預取資料。 9 ·如申請專利範圍第6項之資料閃控電路,其中第一上升 資料閃控訊號的上升對應原始資料閃控訊號的第一周期 之上升;第一下降資料閃控訊號的上升對應原始資料閃 控訊號的第一周期之下降;第二上升資料閃控訊號的上 升對應原始資料閃控訊號的第二周期之上升;及第二下 降資料閃控訊號的上升對應原始資料閃控訊號的第二周 期之下降。 1 0 .如申請專利範圍第9項之資料閃控電路,其中閂鎖區塊 -19- 1271744 包含: 用以響應第一上升資料閃控訊號的上升,閂鎖第一資 料之第一上升閂鎖; 用以響應第一下降資料閃控訊號的上升,閂鎖第二資 料之第一下降閂鎖; 用以響應第二上升資料閃控訊號的上升,閂鎖第三資 料之第二上升閂鎖;及 用以響應第二下降資料閃控訊號的上升,閂鎖第四資 料之第二下降閂鎖。 1 1 .如申請專利範圍第1 〇項之資料閃控電路,其中該對齊區 塊包含: 在自第二下降閂鎖區塊輸出第四資料之時間點,用以 同時輸出第一上升閂鎖區塊所閂鎖的第一資料之第一上 升對齊區塊; 在自第二下降閂鎖區塊輸出第四資料之時間點,用以 同時輸出第一下降閂鎖區塊所閂鎖的第二資料之第一下 降對齊區塊;及 在自第二下降閂鎖區塊輸出第四資料之時間點,用以 同時輸出第二上升閂鎖區塊所閂鎖的第三資料之第二上 升對齊區塊。 1 2 .如申請專利範圍第1 1項之資料閃控電路,其中第一上升 對齊區塊包含: 用以響應第一下降資料閃控訊號的上升,傳輸輸入的 第一資料之第一傳輸閘; -20- 1271744 用以反相自第一傳輸閘輸出的第一資料之第一反相器; 用以接收自第一反相器輸出的反相第一資料之第二反 相器; 循環連接到第二反相器,用以閂鎖自第一反相器所輸 出的第一資料之第三反相器; 用以響應第二上升資料閃控訊號的上升,輸出自第二 反相器輸出的第一資料之第二傳輸閘; 用以反相自第二傳輸閘輸出的第一資料之第四反相器; 用以接收自第四反相器輸出的反相第一資料之第五反 相器; 循環連接到第五反相器,用以閂鎖自第四反相器輸出 的第一資料之第六反相器;及 用以響應第二下降資料閃控訊號的上升,輸出自第五 反相器輸出的第一資料之第三傳輸閘。 1 3 ·如申請專利範圍第1 1項之資料閃控電路,其中第一下降 對齊區塊包含: 用以響應第二上升資料閃控訊號的上升,傳輸輸入的 第二資料之第一傳輸閘; 用以反相自第一傳輸閘輸出的第二資料之第一反相器; 用以接收自第一反相器輸出的反相第二資料之第二反 相器; 循環連接到第二反相器,用以閂鎖自第一反相器輸出 的第二資料之第三反相器;及 用以響應第二下降資料閃控訊號的上升,輸出自第二 1271744 反相器輸出的第二資料之第二傳輸閘。 1 4 .如申請專利範圍第1 1項之資料閃控電路,其中第二上升 對齊區塊包含: 用以響應第二下降資料閃控訊號的上升,傳輸輸入的 第三資料之第一傳輸閘。 1 5 .如申請專利範圍第1 1項之資料閃控電路,其中第一上升 對齊區塊包含: 用以響應第二下降資料閃控訊號的上升,輸出自第五 反相器輸出的第一資料之第一傳輸閘。 1 6 .如申請專利範圍第1 1項之資料閃控電路,其中第一下降 對齊區塊包含: 用以響應第二下降資料閃控訊號的上升,輸出自第五 反相器輸出的第一資料之第一傳輸聞。 -22-
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US6728162B2 (en) * | 2001-03-05 | 2004-04-27 | Samsung Electronics Co. Ltd | Data input circuit and method for synchronous semiconductor memory device |
KR100419012B1 (ko) * | 2001-07-19 | 2004-02-14 | 삼성전자주식회사 | 4비트 프리페치 기능을 가진 동기형 반도체 메모리 장치및 이 장치의 데이터 처리 방법 |
DE10136852C2 (de) * | 2001-07-27 | 2003-09-25 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Erzeugung eines Datenstrobesignals für sehr schnelle Halbleiterspeichersysteme |
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