TWI269284B - Detecting device for tracing error - Google Patents

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1269284 九、發明說明： [發明所屬之技術領域] 本發明係關於用以檢測對光記錄媒體上照射光所得到 光點之追蹤誤差之追蹤誤差檢測裝置。 [先前技術] 從以 CD(Compact Disc)及 DVD(Digital Video Disc)爲 代表之利用凹凸之凹坑來記錄資訊之光碟取得追蹤控制信 號之方式，近年來係採用被稱爲相位差法之手法。 此相位差法之一實例係如專利文獻1所示者。 以下，參照第1 〇圖，針對該專利文獻所示之傳統之追 蹤誤差檢測測裝置進行說明。 第1 0圖係傳統之追蹤誤差檢測裝置之構成方塊圖。 如第1 0圖所示，傳統之追蹤誤差檢測裝置具有··具有 受取光點之反射光之受光元件，用以對應各受光元件之受光 量輸出光電流之光偵檢器1 0 1 ;用以將光偵檢器1 0 1之光電 流輸出轉換成電壓信號之第1至第4電流電壓轉換器102a 〜102d ;用以利用第1至第4電流電壓轉換器l〇2a〜102d 所得到之電壓信號，對應光點之追蹤誤差產生相位互相變化 之2個信號系列之信號產生器，亦即，第1及第2加算器103a 、1 〇3b ;用以從2個信號系列取得第1及第2數位信號系列 之第1及第2類比-數位轉換器（ADC) 104a、104b ;用以針對 輸入之數位信號實施內插之第1及第2內插濾波器l〇5a、 l〇5b ;用以分別檢測利用第1及第2內插濾波器l〇5a、105b 實施內插之第1及第2數位信號系列之零交越點之第1及第 1269284 2零交越點檢測電路1 〇6a、1 〇6b ;用以檢測第1數位信號系 列之零交越點及第2數位信號系列之零交越點之相位差之相 位差檢測電路1 07 ;以及用以限制相位差檢測電路1 07輸出 之相位比較信號之頻帶，並得到追蹤誤差信號之低通濾波器 (LPF)l 08。又，此處，光偵檢器101係具有被以資訊凹坑列 方式記錄於記錄媒體上之資訊軌之切線方向及垂直方向分 割成4部份之受光元件1 0 1 a、1 0 1 b、1 0 1 c、1 〇 1 d，第1及第 2加算器103a、103b係將光偵檢器101輸出之對應各受光元 件之受光量而產生之信號內之位於對角位置之受光元件之 Φ 輸出信號分別進行加算，共用以產生2系列之數位信號者。 又，零交越點係指輸入之數位信號、及利用該數位信號之平 均値等計算之數位信號之中心電平相交之點。 ~ 其次，針對傳統之追蹤誤差檢測裝置之動作進行說明。 ^ 首先，光偵檢器101係接收照射於光記錄媒體（圖上未 標示）之軌之光所得到之光點之反射光，並對應受光量輸出 光電流。 第1至第4電流電壓電路102a、102b、102c、102d針 ® 對各受光元件將光偵檢器1 0 1輸出之光電流轉換成電壓信號 ，並利用第1加算器1 0 3 a實施第1及第3電流電壓電路1 0 2 a 、l〇2c之輸出之加算，且利用第2加算器l〇3b實施第2及 第4電流電壓電路102b、102d之輸出之加算。 其次，第1及第2 ADC 104a、104b以取樣時鐘實施第 1及第2加算器103a、103b輸出之信號之各信號系列之離散 化（取樣），轉換成第1及第2數位信號系歹ij。 1269284 號被 資料 以檢 。又 資料 內插 106b 形之 位比 控制 差檢 部1 106b 之距 零交 其後’第1及第2 ADC 104a、104b輸出之數位信 輸入至內插濾波器〗〇 5 a、1 〇 5 b，並求取數位信號之取樣 間之內插資料後，利用零交越點檢測電路106a、106b 測被內插之2個資料系列之上昇、或下降時之零交越點 ’內插之方法例如被稱爲尼奎斯內插之方法，又，2個 系列之上昇、或下降之零交越點檢測方法例如求取實施 之資料系列之符號之變化點（+4-、或- + 之方法。 相位差檢測電路1 07利用零交越點檢測電路1 06a、 輸出之零交越點之資訊，求取第1及第2信號系列之波 零交越點間之距離，並依據此零交越點間之距離檢測相 較信號，最後，利用LPF 108限制頻帶，產生追蹤伺服 上之必要頻帶之追蹤誤差信號。 其次，參照第1 1圖、第1 2圖，針對前述傳統相位 測電路1 0 7之構成及動作進一步進行詳細說明。 第1 1圖係傳統相位差檢測電路1 〇7之構成方塊圖 第1 1圖中，相位差檢測電路i 〇 7係由相位差演算 、及脈衝產生部2、以及資料更新部3所構成。 相位差演算部1係依據零交越點檢測電路1 0 6 a、 檢測之零交越點資訊實施2系列數位信號之零交越點間 離演算，並將相位比較結果依序輸出至資料更新部3。 脈衝產生部2之相位比較所使用之各資料系列的 越點位置上，分別產生取樣時鐘之1時鐘份之脈衝信號，將 相對於該產生之各資料系列之脈衝信號當中在實施相位比 較之點後出現之脈衝信號當做相位比較結束脈衝並輸.出。 1269284 資料更新部3則針對脈衝產生部2輸出之各相位比較結 束脈衝，利用相位差演算部1依序輸出之相位比較結果實施 輸出資料之更新，且至下一相位比較結束脈衝出現爲止會保 持該輸出資料之輸出電平。 第1 2圖係用以說明相位差檢測電路1 〇7之動作之說明 圖，第12圖上包括第1零交越點檢測電路l〇6a輸出之第1 信號系列（相位比較輸入A)、第2零交越點檢測電路1 06b 輸出之第2信號系列（相位比較輸入B)、脈衝產生部2輸出 之相位比較結束脈衝、以及相位差檢測電路1 07輸出之相位 鲁 比較輸出。 又，第1 2圖中，相位比較輸入A及B所使用之〇記號 係利用第1或第2 ADC 1 04a、1 04b求取之取樣資料、△記 號係利用第1或第2內插濾波器1 〇 5 a、1 0 5 b求取之內插資 ' 料系列、以及•記號及▲記號則係從取樣資料系列及內插資 料系列求取之零交越點。又，第1 2圖說明之相位比較信號 係針對特定之1條軌附近者，係在用以求取相位差之2個資 料系列之下降時所求取者。又，內插資料數爲n = 3。 ® 零交越點檢測電路1 0 6 a、1 0 6 b之輸出若輸入至相位差 檢測電路1 〇 7，則相位差檢測電路1 0 7利用相位差演算部1 實施用以求取零交越點檢測電路1 0 6 a、1 0 6 b檢測到之零交 越點間之距離之演算。又，脈衝產生部2在相位比較所使用 之各資料系列（相位比較輸入A及B)爲零交越點之位置上， 分別產生取樣時鐘之1時鐘份之脈衝信號，並將相對於該產 生之各資料系列之脈衝信號當中在實施相位比較之點後出 1269284 現之脈衝信號當做相位比較結束脈衝（參照第1 2圖之相位比 較結束脈衝）並輸出。 其次，相位差檢測電路1 07之資料更新部3針對脈衝產 生部2輸出之相位比較結束脈衝實施利用相位差演算部1輸 出之相位比較結果之輸出資料之更新，且至下一相位比較脈 衝出現爲止，會保持該輸出資料之輸出電平（參照第1 2圖之 相位比較輸出）。 因此，可利用相位差檢測電路1 07檢測到如第1 2圖之 相位比較輸出所示之相位比較信號，對此相位比較信號實施 · 頻帶限制所得之追蹤誤差信號，在針對特定之1條軌附近時 係大致爲直線狀之信號。其次，針對複數軌觀測此追蹤誤差 信號，則可得到整體如第1 3圖所示之各軌重複之大致爲鋸 _ 齒狀之波形。 ~ 如以上所示，除了可對應傳統追蹤誤差檢測裝置因係利 用數位信號處理檢測追蹤誤差而無法對應利用類比信號處 理之追蹤誤差之光記錄再生裝置之位速化及記錄媒體之高 密度化以外，尙可大幅刪減類比信號處理相關之構成而實現 ® 光記錄再生裝置之小型化及低成本化。 [專利文獻1] 日本特開200卜67690號公報 [專利文獻2] 日本特開昭6 3 - 1 8 1 1 26號公報 [發明內容] 然而，前述之傳統追蹤誤差檢測裝置在因缺陷等而使輸 -10- 1269284 入至第1及第2 ADC 104a、104b之類比信號無法得到充分 之擺動時、或前述類比信號具有雜訊時，第1及第2零交越 點檢測電路l〇6a、106b在零交越點會發生錯誤檢測，而成 爲相位差檢測電路1 〇 7出現錯誤檢測之原因。 第14圖係輸入第1及第2 ADC 104a、104b之類比信號 無法得到充分之擺動時，傳統追蹤誤差檢測裝置所檢測之追 蹤誤差信號圖。 又，第1 4圖中，從上而下分別爲第1零交越點檢測電 路1 06a輸出之第1信號系列（相位比較輸入A)、第2零交越 鲁 點檢測電路1 〇6b輸出之第2信號系列（相位比較輸入B)、脈 衝產生部2輸出之相位比較結束脈衝、以及相位差檢測電路 1 0 7輸出之相位比較輸出。 如相位比較輸入B所示，因缺陷等而使輸入至第1及 ^ 第2 ADC 104a、104b之類比信號無法獲得充分擺動時，零 交越點檢測電路1 〇 6無法正確檢測零交越點，而會檢測到如 第1 4圖之△ 2所示之錯誤相位差並將其當做相位比較結果。 其次，相位差檢測電路1 07之資料更新部3利用此相位 β 比較結果產生之相位比較輸出，在檢測到相位差△ 2之點上 會成爲如第1 4圖之相位比較輸出所示之具有較大値之相位 差信號，結果，會導致利用LPF 1 08實施頻帶限制所產生之 追蹤誤差信號的精度劣化。 本發明之目的即在提供可解決前述課題之追蹤誤差檢 測裝置，不但可減輕相位誤差檢測時之錯誤檢測的影響，尙 可改善追蹤誤差信號之精度。 -11- 1269284 爲了達成上述目的，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵 爲具有：用以從對應以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之 資訊軌之切線方向及垂直方向分割成4部份之受光元件所構 成之光偵檢器所輸出之各受光元件之受光量所產生之信號 內之分別針對位於對角位置之受光元件之輸出信號進行加 算而得到2系列之數位信號，檢測各系列之數位信號、及該 數位信號之中心電平交會之零交越點之零交越點檢測電路 ;用以實施前述2系列之數位信號之零交越點間距離之相位 比較、以及得到之相位比較結果大於預設之第1特定値時用 <1 以限制該相位比較結果使其不大於前述第1特定値並輸出之 相位差檢測電路；以及用以對前述相位差檢測電路輸出之信 號實施頻帶限制而得到追蹤誤差信號之低通濾波器。 _ 又，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵，前述相位差檢 ^ 測電路係由：用以實施前述2系列之數位信號之零交越點間 距離之演算，並將相位比較結果依序輸出之相位差演算部； 使前述2系列之數位信號在零交越點之位置分別產生取樣時 鐘之1時鐘份之脈衝信號，並將對應產生之2系列之數位信 ® 號之脈衝信號當中之實施相位比較之點後出現之脈衝信號 當做相位結束脈衝輸出之脈衝產生部；用以針對前述脈衝產 生部輸出之各相位比較結束脈衝利用前述柑位差演算部依 序輸出之相位比較結果實施輸出資料之更新，且至下一相位 比較結束脈衝出現爲止會保持該輸出資料之輸出電平之資 料更新部；以及用以判斷前述資料更新部輸出之信號是否爲 大於預設之第1特定値之値，並在該資料更新部之輸出信號 -12- 1269284 大於述第1特定値時，限制其不大於前述第1特定値並輸出 之限制控制部；所構成。 又’本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲，前述限制控 制部之前述第1特定値係依據用以實施再生之光碟之最短凹 坑長度、及軌距之關係來設定。 又’本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲具有：用以從 對應以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之資訊軌之切線 方向及垂直方向分割成4部份之受光元件所構成之光偵檢器 所輸出之各受光元件之受光量所產生之信號內之分別針對 Φ 位於對角位置之受光元件之輸出信號進行加算而得到2系列 之數位信號，檢測各系列之數位信號、及該數位信號之中心 電平交會之零交越點之零交越點檢測電路；利用前述2系列 ^ 之數位信號之取樣資料之二進位化信號，檢測用以實施相位 ^ 比較之邊緣之狀態之邊緣檢測電路；利用前述2系列之數位 信號之零交越點間距離實施相位比較，並將相位比較結果輸 出之相位差檢測電路；以及用以對前述相位差檢測電路輸出 之信號實施頻帶限制而得到追蹤誤差信號之低通濾波器；且 ® ，前述相位差檢測電路依據前述邊緣檢測電路檢測到之邊緣 狀態，判斷相位比較對象之邊緣是否爲可用以實施相位比較 之有效邊緣，並不對被該判斷判斷成無效之邊緣實施該邊緣 之相位比較結果之輸出更新。 又，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲，前述相位差 檢測電路係由：實施前述2系列之數位信號之零交越點間距 離之演算，並將相位比較結果依序輸出之相位差演算部；使 -13- 1269284 前述2系列之數位信號在零交越點之位置分別產生取樣時鐘 之1時鐘份之脈衝信號，並將對應產生之2系列之數位信號 之脈衝信號當中之實施相位比較之點後出現之脈衝信號當 做相位結束脈衝輸出之脈衝產生部；依據前述邊緣檢測電路 檢測到之邊緣狀態，判斷相位比較對象之邊緣是否爲可用以 實施相位比較之有效邊緣之無效邊緣取消部；以及針對前述 脈衝產生部輸出之各相位比較結束脈衝執行動作，前述無效 邊緣取消部之判斷結果爲有效時，利用前述相位差演算部輸 出之相位比較結果實施輸出資料之更新，並至下一相位比較 結束脈衝出現爲止會保持該輸出資料之輸出電平，另一方面 ，前述無效邊緣取消部之判斷結果爲無效時，則保持前一相 位比較結束脈衝輸出之輸出電平之資料更新部；所構成。 又，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲，前述邊緣檢 測電路係在檢測到相位差之各點，從含有前頭邊緣之信號側 之邊緣下降位置檢測其他信號之狀態，並輸出代表是否和其 他信號邊緣重疊、或其他信號電平爲”1”或”0”之要點之信號 者，前述無效邊緣取消部則依據前述邊緣檢測電路之輸出， 和其他信號之邊緣重疊時、及其他信號電平爲” 1 ”時，判斷 該邊緣爲有效邊緣，其他信號電平爲”0”時，則判斷該邊緣 爲無效邊緣。 又，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲，前述邊緣檢 測電路分別檢測前述2系列數位信號之取樣資料之二進位化 信號之上昇或下降之邊緣，並輸出代表該分別檢測到之上昇 或下降之邊緣之間隔是否爲預設之第2特定値以下之信號者 -14- 1269284 ，前述無效邊緣取消部依據前述邊緣檢測電路之輸出，在上 昇或下降之邊緣間隔爲前述第2特定値以下時，將該邊緣判 斷成有效邊緣，在上昇或下降之邊緣間隔大於前述第2特定 値時，則將該邊緣判斷成無效邊緣。 又，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲由：用以從對 應以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之資訊軌之切線方 向及垂直方向分割成4部份之受光元件所構成之光偵檢器所 輸出之各受光元件之受光量所產生之4系列之數位信號，檢 測各系列之數位信號、及該數位信號之中心電平交會之零交 馨 越點之零交越點檢測電路；利用前述4系列數位信號之零交 越點內之位於資訊軌之進行方向前方位置之受光元件所得 到之2系列數位信號之零交越點間距離實施相位比較，此外 ' ，在所得到之相位比較結果大於預設之第1特定値時，用以 \ 限制該相位比較結果使其不大於前述第1特定値並輸出之第 1相位差檢測電路；利用前述4系列數位信號之零交越點內 之位於資訊軌之進行方向後方位置之受光元件所得到之2系 列數位信號之零交越點間距離實施相位比較，此外，在所得 ® 到之相位比較結果大於前述第1特定値時，用以限制該相位 比較結果使其不大於前述第1特定値並輸出之第2相位差檢 測電路；用以實施前述第1及第2相位差檢測電路之輸出信 號之加算之加算電路；以及用以對前述加算電路輸出之信號 實施頻帶限制而得到追蹤誤差信號之低通濾波器；所構成。 又，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲，前述第1、 第2相位差檢測電路係由：用以實施前述2系列之數位信號 -15- 1269284 之零交越點間距離之演算，並將相位比較結果依序輸出之相 位差演算部；用以使前述2系列之數位信號在零交越點之位 置分別產生取樣時鐘之1時鐘份之脈衝信號，並將對應該產 生之2系列之數位信號之脈衝信號當中之實施相位比較之點 後出現之脈衝信號當做相位結束脈衝輸出之脈衝產生部；用 以針對前述脈衝產生部輸出之各相位比較結束脈衝利用前 述相位差演算部依序輸出之相位比較結果實施輸出資料之 更新，且至下一相位比較結束脈衝出現爲止會保持該輸出資 料之輸出電平之資料更新部；以及用以判斷前述資料更新部 輸出之信號是否爲大於預設之第1特定値之値，並在該資料 更新部之輸出信號大於前述第1特定値時，限制其不大於前 述第1特定値並輸出之限制控制部；所構成。 ^ 又，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲，前述限制控 制部之前述第1特定値係依據用以實施再生之光碟之最短凹 坑長度、及軌距之關係來設定。 又，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲具有：用以從 對應以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之資訊軌之切線 β 方向及垂直方向分割成4部份之受光元件所構成之光偵檢器 所輸出之各受光元件之受光量所產生之4系列之數位信號， 檢測各系列之數位信號、及該數位信號之中心電平交會之零 交越點之零交越點檢測電路；利用前述4系列數位信號內之 位於資訊軌之進行方向前方位置之受光元件所得到之2系列 數位信號之取樣資料之二進位化信號，檢測用以實施相位比 較之邊緣狀態之第1邊緣檢測電路；利用前述4系列數位信 -16- 1269284 號內之位於資訊軌之進行方向後方位置之受光元件所得到 之2系列數位信號之取樣資料之二進位化信號，檢測用以實 施相位比較之邊緣狀態之第2邊緣檢測電路；利用前述4系 列數位信號之零交越點內之位於資訊軌之進行方向前方位 置之受光元件所得到之2系列數位信號之零交越點間距離實 施相位比較，並輸出相位比較結果之第1相位差檢測電路； 利用前述4系列數位信號之零交越點內之位於資訊軌之進行 方向後方位置之受光元件所得到之2系列數位信號之零交越 點間距離實施相位比較，並輸出相位比較結果之第2相位差 鲁 檢測電路；用以實施前述第1及第2相位差檢測電路之輸出 信號之加算之加算電路；以及用以對前述加算電路輸出之信 號實施頻帶限制而得到追蹤誤差信號之低通濾波器；且，前 ' 述第1相位差檢測電路依據前述第1邊緣檢測電路檢測到之 邊緣狀態，判斷相位比較對象之邊緣是否爲可用以實施相位 比較之有效邊緣，並不對被該判斷判斷成無效之邊緣實施該 邊緣之相位比較結果之輸出更新，前述第2相位差檢測電路 則依據前述第2邊緣檢測電路檢測到之邊緣狀態，判斷相位 Φ 比較對象之邊緣是否爲可用以實施相位比較之有效邊緣，並 不對被該判斷判斷成無效之邊緣實施該邊緣之相位比較結 果之輸出更新。 又，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲，前述第1、 第2相位差檢測電路由：用以實施前述2系列之數位信號之 零交越點間距離之演算，並將相位比較結果依序輸出之相位 差演算部；用以使前述2系列之數位信號在零交越點之位置 7 1269284 分別產生取樣時鐘之1時鐘份之脈衝信號，並將對應產生之 2系列之數位信號之脈衝信號當中之實施相位比較之點後出 現之脈衝信號當做相位結束脈衝輸出之脈衝產生部；依據前 述第1或第2邊緣檢測電路檢測到之邊緣狀態，判斷相位比 較對象之邊緣是否爲可用以實施相位比較之有效邊緣之無 效邊緣取消部；以及針對前述脈衝產生部輸出之各相位比較 結束脈衝執行動作，前述無效邊緣取消部之判斷結果爲有效 時，利用前述相位差演算部輸出之相位比較結果實施輸出資 料之更新，並至下一相位比較結束脈衝出現爲止會保持該輸 馨 出資料之輸出電平，另一方面，前述無效邊緣取消部之判斷 結果爲無效時，則保持前一相位比較結束脈衝輸出之輸出電 平之資料更新部；所構成。 __ 又，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲，前述第1、 第2邊緣檢測電路會在檢測到相位差之各點，從含有前頭邊 緣之信號側之邊緣下降位置檢測其他信號之狀態，並輸出代 表是否和其他信號邊緣重疊、或其他信號電平爲” 1 ”或” 0 ”之要點之信號者，前述無效邊緣取消部則依據前述第1或 # 第2邊緣檢測電路之輸出，和其他信號之邊緣重疊時、及其 他信號電平爲” 1”時，判斷該邊緣爲有效邊緣，其他信號 電平爲” ”時，則判斷該邊緣爲無效邊緣。 又，本發明之追蹤誤差檢測裝置之特徵爲，前述第1、 第2邊緣檢測電路分別檢測前述2系列數位信號之取樣資料 之二進位化信號之上昇或下降之邊緣，並輸出代表該分別檢 測到之上昇或下降之邊緣之間隔是否爲預設之第2特定値以 -18- 1269284 下之信號者，前述無效邊緣取消部依據前述邊緣檢測電路之 輸出，在上昇或下降邊緣間隔爲前述第2特定値以下時，將 該邊緣判斷成有效邊緣，在上昇或下降之邊緣間隔大於前述 第2特定値時，則將該邊緣判斷成無效邊緣。 如以上說明所示，因爲本發明之追蹤誤差檢測裝置具有 :用以從對應以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之切線方 向及垂直方向分割成4部份之受光元件所構成之光偵檢器所 輸出之各受光元件之受光量所產生之信號內之分別針對位 於對角位置之受光元件之輸出信號進行加算而得到2系列之 數位信號，檢測各系列之數位信號、及該數位信號之中心電 平交會之零交越點之零交越點檢測電路；用以實施前述2系 列之數位信號之零交越點間距離之相位比較、以及得到之相 位比較結果大於預設之第1特定値時用以限制該相位比較結 果使其不大於前述第1特定値並輸出之相位差檢測電路；以 及用以對前述相位差檢測電路輸出之信號實施頻帶限制而 得到追縱誤差信號之低通濾波器；因此，可減輕相位誤差檢 測時之錯誤檢測之影響，而可改善追蹤誤差信號之精度。 又，因爲本發明之追蹤誤差檢測裝置具有··用以從對應 以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之資料軌之切線方向 及垂直方向分割成4部份之受光元件所構成之光偵檢器所輸 出之各受光元件之受光量所產生之信號內之分別針對位於 對角位置之受光元件之輸出信號進行加算而得到2系列之數 位信號’檢測各系列之數位信號、及該數位信號之中心電平 交會之零交越點之零交越點檢測電路；利用前述2系列之數 -19- 1269284 .、 位信號之抽樣資料之二進位化信號，檢測用以實施相位比較 之邊緣之狀態之邊緣檢測電路；以及利用前述2系列之數位 信號之零交越點間距離實施相位比較，並將相位比較結果輸 出之相位差檢測電路；以及用以對前述相位差檢測電路輸出 之信號實施頻帶限制而得到追蹤誤差信號之低通濾波器；且 ，前述相位差檢測電路依據前述邊緣檢測電路檢測到之邊緣 狀態，判斷相位比較對象之邊緣是否爲可用以實施相位比較 之有效邊緣，並不對被該判斷判斷成無效之邊緣實施該邊緣 之相位比較結果之輸出更新，因此，可減輕相位誤差檢測時 φ 之錯誤檢測之影響，而改善追蹤誤差信號之精度。 又，因爲本發明之追蹤誤差檢測裝置由：用以從對應以 資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之資訊軌之切線方向及 ' 垂直方向分割成4部份之受光元件所構成之光偵檢器所輸出 之各受光元件之受光量所產生之4系列之數位信號，檢測各 系列之數位信號、及該數位信號之中心電平交會之零交越點 之零交越點檢測電路；利用前述4系列數位信號之零交越點 內之位於資訊軌之進行方向前方位置之受光元件所得到之2 # 系列數位信號之零交越點間距離實施相位比較，此外，在所 得到之相位比較結果大於預設之第1特定値時，用以限制該 相位比較結果使其不大於前述第1特定値並輸出之第1相位 差檢測電路；利用前述4系列數位信號之零交越點內之位於 資訊軌之進行方向後方位置之受光元件所得到之2系列數位 信號之零交越點間距離實施相位比較，此外，在所得到之相 位比較結果大於前述第1特定値時，用以限制該相位比較結 -20- 1269284 果使其不大於前述第1特定値並輸出之第2相位差檢測電路 •，用以實施前述第1及第2相位差檢測電路之輸出信號之加 算之加算電路；以及用以對前述加算電路輸出之信號實施頻 帶限制而得到追蹤誤差信號之低通濾波器；所構成，故可減 輕相位誤差檢測時之錯誤檢測之影響，並改善追蹤誤差信號 之精度，尙可防止因刻印於碟片上之凹坑的凹坑深度而發生 之偏置，而實現正確之追蹤誤差信號檢測。 又，因爲本發明之追蹤誤差檢測裝置具有：用以從對應 以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之資訊軌之切線方向 φ 及垂直方向分割成4部份之受光元件所構成之光偵檢器所輸 出之各受光元件之受光量所產生之4系列之數位信號，檢測 各系列之數位信號、及該數位信號之中心電平交會之零交越 ^ 點之零交越點檢測電路；利用前述4系列數位信號內之位於 ’· 資訊軌之進行方向前方位置之受光元件所得到之2系列數位 信號之取樣資料之二進位化信號，檢測用以實施相位比較之 邊緣狀態之第1邊緣檢測電路；利用前述4系列數位信號內 之位於資訊軌之進行方向後方位置之受光元件所得到之2系 ® 列數位信號之取樣資料之二進位化信號，檢測用以實施相位 比較之邊緣狀態之第2邊緣檢測電路；利用前述4系列數位 信號之零交越點內之位於資訊軌之進行方向前方位置之受 光元件所得到之2系列數位信號之零交越點間距離實施相位 比較，並輸出相位比較結果之第1相位差檢測電路；利用前 述4系列數位信號之零交越點內之位於資訊軌之進行方向後 方位置之受光元件所得到之2系列數位信號之零交越點間距 -21- 1269284 離實施相位比較，並輸出相位比較結果之第2相位差檢測電 路；用以實施前述第1及第2相位差檢測電路之輸出信號之 加算之加算電路；以及用以對前述加算電路輸出之信號實施 頻帶限制而得到追蹤誤差信號之低通濾波器；且’前述第1 相位差檢測電路依據前述第1邊緣檢測電路檢測到之邊緣狀 態，判斷相位比較對象之邊緣是否爲可用以實施相位比較之 有效邊緣，並不對被該判斷判斷成無效之邊緣實施該邊緣之 相位比較結果之輸出更新，前述第2相位差檢測電路則依據 前述第2邊緣檢測電路檢測到之邊緣狀態，判斷相位比較對 · 象之邊緣是否爲可用以實施相位比較之有效邊緣，並不對被 該判斷判斷成無效之邊緣實施該邊緣之相位比較結果之輸 出更新，故可減輕相位誤差檢測時之錯誤檢測之影響，而改 ^ 善追蹤誤差信號之精度，尙可防止因刻印於碟片上之凹坑的 \ 凹坑深度而發生之偏置，而實現正確之追蹤誤差信號檢測。 [貫施方式] (實施形態1) 以下，參照第1圖及第2圖，針對本發明實施形態1 馨 之追蹤誤差檢測裝置進行說明。 第1圖係本發明實施形態1之追蹤誤差檢測裝置之構成 實例之方塊圖。 第1圖中，本發明之追蹤誤差檢測裝置係由：光偵檢器 101、電流電壓轉換器102a〜102d、用以產生2個信號系列 之信號產生器之第1及第2加算器103a、l〇3b、第1及第2 類比-數位轉換器（ADC) 104a、104b、第1及第2內插濾波器 -22- 1269284 105a、105b、第1及第2零交越點檢測電路i〇6a、106b、相 位差檢測電路1 1、以及低通濾波器（LP F ) 1 〇 8所構成。又， 本發明實施形態1之追蹤誤差檢測裝置之相位差檢測電路 1 1以外之各構成要素，因爲和以第1 〇圖實施說明之前述傳 統追蹤誤差檢測裝置相同，故此處附與相同符號並省略其說 明。 相位差檢測電路1 1係由：相位差演算部1、脈衝產生 部2、資料更新部3、以及限制控制部4所構成。又，構成 相位差檢測電路1 1之相位差演算部1、脈衝產生部2、以及 馨 資料更新部3因爲和以第1 0圖說明之前述傳統相位差檢測 電路1 07之相位差演算部1、脈衝產生部2、以及資料更新 部3相同，故附與相同符號，此處則省略其說明。 ~ 限制控制部4執行資料更新部3輸出之信號是否爲大於 預設之第1特定値之値之判斷，資料更新部3輸出之信號大 於前述第1特定値時，會限制其不大於前述第1特定値並輸 出。又，限制控制部4之前述第1特定値，可依據用以實施 再生之光碟之最短凹坑長度及軌距之關係來進行任意設定 · ，最好將其設定成不超過實施再生之光碟之追蹤誤差信號之 最大値之値。 其次，進對本發明之相位差檢測電路1 1之動作進行說 明。 第2圖係用以說明本發明實施形態1之相位差檢測電路 1 1之動作之說明圖，如第2圖所示，從上而下分別爲第1 零交越點檢測電路l〇6a輸出之第1信號系列（相位比較輸入 -23- 1269284 A)、第2零交越點檢測電路l〇6b輸出之第2信號系列（相位 比較輸入B )、脈衝產生部2輸出之相位比較結束脈衝、以及 相位差檢測電路1 1輸出之相位比較輸出。 第2圖之相位比較輸入A及B所示之第1及第2零交 越點檢測電路1 06a、1 06b輸出之2系列信號，會被輸入至 相位差檢測電路11之相位差演算部1、及脈衝產生部2，相 位差演算部1則依據零交越點檢測電路1 06a、1 〇6b檢測到 之零交越點資訊，依序計算相位差△ 1、△ 2、△ 3。另一方 面，脈衝產生部2針對相位比較所使用之各資料系列在零交 越點位置分別產生取樣時鐘之1時鐘份之脈衝信號，將相對 於該產生之各資料系列之脈衝信號當中在實施相位比較之 點後出現之脈衝信號當做相位比較結束脈衝（參照第2圖之 相位比較結束脈衝）並輸出。 其次，資料更新部3針對脈衝產生部2輸出之各相位比 較結束脈衝，利用相位差演算部1輸出之相位比較結果實施 輸出信號之更新，且至下一相位比較結束脈衝出現爲止會保 持輸出資料（參照第2圖之相位比較輸出）。 最後，資料更新部3輸出之信號會輸入至限制控制部4 ，判斷該資料更新部3輸出之信號是否爲大於限制控制部4 保持之第1特定値之値，針對大於第1特定値之信號輸出， 以該第1特定値實施限制並輸出（參照第2圖之相位比較輸 出）。 以此方式產生之相位比較輸出，最後會利用LPF 1 08 實施頻帶限制，產生追蹤伺服控制上必要之頻帶之追蹤誤差 -24- 1269284 . 信號。 其次，針對限制控制部4實施限制時所使用之第1特定 値，以實施再生之光碟爲DVD-ROM時爲例來進行說明。 第3圖係DVD-ROM之凹坑及追蹤誤差信號之關係圖， 第3 (a)圖係DVD-ROM之凹坑及軌，第3(b)圖係利用第3(a) 圖所示之DVD-ROM之凹坑所得到之追蹤誤差信號。 DVD之記錄符號採用8-16調變符號時，若記錄再生系 所使用之通道時鐘之1時鐘份爲1T，形成於DVD-ROM之碟 片上之凹坑係由3 T〜4T之圖案所構成，該凹坑之最小凹坑 Φ 長度（3T)爲0.27//m，軌距爲0.74//m。其次，由第3(a)圖 所示之DVD-ROM之凹坑所得到之追蹤誤差信號，如第3(b) 圖所示，各軌之中心爲” 〇 ” ，又，軌及軌之中間亦爲” 〇 ” 。又，追蹤誤差信號爲最大之點，若從軌距計算，則係從軌 之中心爲0.74 a m/4# 0.19// m之點，此相當於2T之距離。 相對於此，因爲本發明之追蹤誤差檢測裝置係以零交越 點間之距離直接計算相位差，所得到之相位比較結果之値應 0 爲不會大於追蹤誤差信號之最大値之値。 因此，DVD-ROM再生時，檢測到大於DVD-ROM之追 蹤誤差信號之最大値2T之誤差信號時，可將該誤差信號視 爲錯誤檢測。 因此，實施DVD-ROM之再生時，若利用限制控制部4 實施限制時所使用之第1特定値爲例如2 T之相位差，則資 料更新部3之輸出大於設定成第1特定値之2T之値時，因 -25- 1269284 爲會以追蹤誤差信號爲最大之前述2T之値實施限制並輸出 ’故可減輕錯誤檢測之影響。 如此，依據本發明實施形態1之追蹤誤差檢測裝置，利 用相位差檢測電路1 1之限制控制部4對相位誤差信號檢測 之信號擺動實施限制，故可減輕相位誤差檢測時之錯誤檢測 之影響’而改善追蹤誤差信號之精度。 (實施形態2) 以下，針對本發明實施形態2之追蹤誤差檢測裝置進行 說明。 _ 第4圖係本發明實施形態2之追蹤誤差檢測裝置之構成 實例之方塊圖。 第4圖中，本發明之追蹤誤差檢測裝置係由：光偵檢器 101、電流電壓轉換器102a〜102d、第1及第2加算器l〇3a ，· 、l〇3b、第1及第2類比-數位轉換器（ADC)104a、104b、邊 緣檢測電路2 1、第1及第2內插濾波器1 0 5 a、1 0 5 b、第1 及第2零交越點檢測電路l〇6a、106b、相位差檢測電路22 、以及低通濾波器（LPF) 108所構成。又，本發明實施形態2 # 之追蹤誤差檢測裝置之邊緣檢測電路2 1、及相位差檢測電路 2 2以外之各構成要素，因爲和以第1 0圖實施說明之前述傳 統追蹤誤差檢測裝置相同，故此處附與相同符號並省略其說 明。 邊緣檢測電路21係利用第1及第2 ADC 104a、l〇4b 輸出之數位信號之取樣資料之二進位化信號檢測用以實施 相位比較之邊緣之狀態者，此邊緣之狀態檢測土，係在用以 -26- 1269284 檢測相位差之各點，從含有前頭邊緣之信號側之邊緣位置檢 測其他信號之狀態者。又，邊緣檢測電路2 1係依據邊緣之 狀態檢測而輸出代表邊緣爲重疊之要點之信號、或代表其他 信號電平爲” 1 ”或” 0”之要點之信號者。 相位差檢測電路22係由：相位差演算部1、脈衝產生 部2、無效邊緣取消部5、以及資料更新部6所構成。又， 構成相位差檢測電路22之相位差演算部1及脈衝產生部2 因爲和以第1 〇圖說明之前述傳統相位差檢測電路1 07之相 位差演算部1及脈衝產生部2相同，故附與相同符號，此處 馨 則省略其說明。 無效邊緣取消部5依據邊緣檢測電路21之輸出，判斷 相位比較對象之邊緣是否爲可用以實施相位比較之有效邊 _ 緣，針對被判斷成無效之邊緣，資料更新部6不實施該邊緣 ^ 之相位比較結果之輸出更新。 資料更新部6針對脈衝產生部2輸出之各相位比較結束 脈衝執行動作，無效邊緣取消部5之判斷結果爲有效時，則 利用相位差演算部1輸出之相位比較結果實施輸出資料之更 β 新，並至下一相位比較結束脈衝出現爲止會保持該輸出資料 之輸出電平，另一方面，無效邊緣取消部5之判斷結果爲無 效時，則不利用相位差演算部1輸出之相位比較結果實施輸 出資料之更新，而保持前一相位比較結束脈衝輸出之輸出電 平。 其次，針對無效邊緣取消部5實施之是否爲有效邊緣之 判斷進行詳姻說明。又，此處係以實施再生之光碟爲 -27- 1269284 、, DVD-ROM時爲例進行說明。 第5圖係實施DVD-ROM之再生時在檢測到相位差之點 檢測到之邊緣之關係圖，第5(a)圖係相位差爲0時，第5(b) 圖係超前相位爲最大時，第5(c)圖係延遲相位爲最大時。 DVD-ROM之凹坑及追蹤誤差信號之關係如利用第3圖 之前面說明所述，DVD-ROM時，從軌距換算之追蹤之偏離 量最大値約爲2T，另一方面，因爲記錄圖案之最小凹坑長 度爲3T，DVD-ROM再生時，從用以檢測用以實施相位比較 之2個信號之相位差之邊緣當中之含有前頭邊緣之信號側之 ® 邊緣下降位置檢測到另一方信號之狀態時，應爲邊緣重疊（ 第5(a)圖）、或其他信號電平爲” 1” （第5(b)、（〇圖）之其中 、 任一狀態。因此，其他信號電平爲” 0 ”時，可判斷該邊緣 1 爲錯誤檢測。其次，此點不限於DVD-ROM時，採用CD-R 或CD-ROM等之其他媒體時亦相同。 因此，利用無效邊緣取消部5判斷用以實施相位比較之 邊緣是否爲有效時，在邊緣檢測電路2 1輸出之信號爲邊緣 馨 重疊、或其他信號電平爲” 1 ”時將該邊緣判斷成有效邊緣 ，而將其他信號電平爲” ”時將該邊緣判斷成無效邊緣即 可。 其次，針對本發明之相位差檢測電路2 2之動作進行說 明。 第6圖係用以說明本發明實施形態2之追蹤誤差檢測裝 置之無效邊緣取消部5之動作之說明圖，如第6圖所示’從 -28- 1269284 上而下分別爲第1零交越點檢測電路1 〇6a輸出之第1信號 系列（相位比較輸入A)、第2零交越點檢測電路1 06b輸出之 第2信號系列（相位比較輸入B)、無效邊緣取消部5實施判 定時所使用之第1信號系列之二進位化信號（二進位化信號 A)、無效邊緣取消部5實施判定時所使用之第2信號系列之 二進位化信號（二進位化信號B)、脈衝產生部2輸出之相位 比較結束脈衝、以及相位差檢測電路1 1輸出之相位比較輸 出。 第6圖之相位比較輸入A及B所示之第1及第2零交 鲁 越點檢測電路l〇6a、106b輸出之2系列之信號，會被輸入 至相位差檢測電路1 1之相位差演算部1及脈衝產生部2，相 位差演算部1則會依據零交越點檢測電路l〇6a、106b檢測 ' 到之零交越點資訊依序計算相位差△ 1、△ 2、△ 3。另一方 面，脈衝產生部2則在相位比較所使用之各資料系列之零交 越點之位置，分別產生取樣時鐘之1時鐘份之脈衝信號，將 相對於該產生之各資料系列之脈衝信號當中在實施相位比 較之點後出現之脈衝信號當做相位比較結束脈衝（參照第6 ♦ 圖之相位比較結束脈衝）並輸出。 此時，無效邊緣取消部5則依據邊緣檢測電路2 1之輸 出，判斷相位比較對象之邊緣是否爲可用以實施相位比較之 有效邊緣（參照第6圖之二進位化信號A及B )，並將判斷結 果輸出至資料更新部6。 其次，資料更新部6針對脈衝產生部2輸出之各相位比 較結束脈衝，若無效邊緣.取消部5之判斷結果爲有效，則利 •29- 1269284 用相位差演算部1輸出之相位比較結果實施輸出資料之更新 ，此外，至下一相位比較結束脈衝出現爲止會保持該輸出資 料。另一方面，若無效邊緣取消部5之判斷結果爲無效，則 不利用相位差演算部1輸出之相位比較結果實施輸出資料之 更新，並繼續保持前一相位比較結束脈衝輸出之輸出電平。 因此，第6圖之相位比較輸入A及B所示之△ 2之相位差， 不會在資料更新部6進行更新，資料更新部6則將△ 1、△ 3 之相位差當做相位比較結果輸出（參照第6圖之相位比較輸 出）。 # 因此，無效邊緣取消部5判定成無效邊緣之部位，會利 用資料更新部6保持前一相位比較結果之値，而避免相位差 之錯誤檢測所造成之影響。 胃 如此，依據本發明實施形態2之追蹤誤差檢測裝置，係 ^ 利用相位差檢測電路22之無效邊緣取消部4判斷相位比較 對象之邊緣是否爲可用以實施相位比較之有效邊緣，資料更 新部6針對判斷成無效之邊緣不會實施該邊緣之相位比較輸 出，故可減輕相位誤差檢測時之錯誤檢測之影響，而改善追 ® 蹤誤差信號之精度。 又，本發明實施形態2中係針對下述進行說明，亦即， 邊緣檢測電路21在檢測到相位差之各點，從含有前頭邊緣 之信號側之邊緣下降位置檢測其他信號之狀態，其他信號之 邊緣重疊時、及其他信號電平爲” 1”時，無效邊緣取消部5 判斷該邊緣爲有效邊緣，其他信號電平爲” 〇”時，則判斷 該邊緣爲無效邊緣，然而，邊緣檢測電路21及無效邊緣取 -30- 1269284 消部5亦可依據邊緣檢測電路2 1檢測到之用以實施相位比 較之邊緣之狀態，再由無效邊緣取消部5判斷用以實施相位 比較之邊緣爲有效或無效，例如，邊緣檢測電路2 1分別檢 測2系列數位信號之取樣資料之二進位化信號之上昇邊緣或 下降邊緣，並檢測代表該檢測到之上昇邊緣間之間隔或下降 邊緣間之間隔是否爲第2特定値（例如，2T)以下之信號，若 上昇邊緣間之間隔或下降邊緣間之間隔爲前述第2特定値以 下，則無效邊緣取消部5判斷該邊緣爲有效邊緣，而上昇邊 緣間之間隔或下降邊緣間之間隔大於前述第2特定値時，則 馨 判斷該邊緣爲無效邊緣。 又，本發明實施形態1及2係針對下述進行說明，亦即 ’利用用以產生2個信號系列之信號產生器之第1及第2加 ^ 算器產生2系列之類比信號後，再利用第1及第2 ADC 1 04a 、1 04b產生2系列之數位信號，然而，輸入至相位差檢測電 路1 〇 7之2系列數位信號之產生方式並不限於此，例如，針 對光偵檢器1 0 1之各受光元件利用A D C 1 0 4將類比信號轉換 成數位信號後，再產生2系列之數位信號。 · (實施形態3) 以下，針對本發明實施形態3之追蹤誤差檢測裝置進行 說明。 第7圖係本發明實施形態3之追蹤誤差檢測裝置之構成 實例之方塊圖。 第7圖中，本發明之追蹤誤差檢測裝置係由：具有用以 受取光點之反射光之受光元件，用以對應各受光元件之受光 -31- 1269284 量輸出光電流之光偵檢器1 01 ;用以將光偵檢器1 〇 1之光電 流輸出轉換成電壓信號之第1至第4電流電壓轉換器1 〇2a 〜1 02d;用以從利用第1至第4電流電壓轉換器1 〇2a〜1 02 d 所得到之電壓信號取得第1至第4數位信號系列之第1至第 4類比-數位轉換器（ADC)104a〜l〇4d ;用以針對輸入之數位 信號實施內插處理之第1至第4內插濾波器1 〇 5 a〜1 0 5 d ;用 以分別檢測經過第1至第4內插濾波器1 〇 5 a〜1 0 5 d實施內 插之第1至第4數位信號系列之零交越點之第1至第4零交 越點檢測電路l〇6a〜106d;用以利用4系列數位信號之零交 馨 越點內之特定2系列數位信號之零交越點間距離實施相位比 較，且在輸出相位比較結果時若該相位比較結果大於預設之 第1特定値，用以限制該相位比較結果使其不大於前述第1 ^ 特定値並輸出之第1及第2相位差檢測電路1 1 a、1 1 b ;用以 ' 實施第1相位差檢測電路11 a之輸出信號、及第2相位差檢 測電路Π b之輸出信號之加算之加算器1 〇9 ;以及用以針對 加算器1 09之輸出信號實施頻帶限制而得到追蹤誤差信號之 低通濾波器（LPF) 108 ;所構成。又，此處之光偵檢器101具 馨 有被以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之資訊軌之切線 方向及垂直方向分割成4部份之受光元件l〇la、l〇lb、101c 、1 Ο 1 d，對映於此上之資訊軌之延伸方向係圖中箭頭所示之 方向。又，零交越點則係指輸入之數位信號、及利用該數位 信號之平均値等計算所得之數位信號之中心電平之交會點。 其次，針對第1及第2相位差檢測電路1 1 a、1 1 b進一 步進行詳細說明。 -32- 1269284 第1相位差檢測電路1 1 a除了利用從4系列數位信號之 零交越點內之零交越點檢測電路106a及106b輸出之位於資 訊軌之進行方向前方位置之受光元件所得到之2系列數位信 號之零交越點間距離實施相位比較以外，在輸出相位比較結 果時，若該相位比較結果大於預設之第1特定値，尙會限制 該相位比較結果使其不大於第1特定値並輸出，係由相位差 演算部1 a、脈衝產生部2a、資料更新部3a、以及限制控制 部4 a所構成。 第2相位差檢測電路1 1 b除了利用從4系列數位信號之 春 零交越點內之零交越點檢測電路106c及10 6d輸出之位於資 訊軌之進行方向後方位置之受光元件所得到之2系列數位信 號之零交越點間距離實施相位比較以外，在輸出相位比較結 ~ 果時，若該相位比較結果大於設設之第1特定値，尙會限制 該相位比較結果使其不大於第1特定値並輸出，係由相位差 演算部1 b、脈衝產生部2b、資料更新部3b、以及限制控制 部4b所構成。 又，相位差演算部1 a、1 b、脈衝產生部2a、2b、資料 鲁 更新部3 a、3 b、以及限制控制部4a、4b係和前述實施形態 1中利用第1圖說明之相位差演算部1、脈衝產生部2、資料 更新部3、以及限制控制部4相當，故此處以相同符號表示 並省略其說明。 其次，參照第8圖，針對利用相位差法之追蹤誤差信號 檢測進行說明。 利用相位差法之追蹤誤差信號之檢測上，凹坑深度會導 -33- 1269284 致偏置係大家所熟知。 第8圖係凹坑深度導致追蹤誤差信號產生偏置之發生 原理圖，第8(a)圖係凹坑深度爲λ /4之無透鏡位移時之第1 至第4電流電壓轉換器102a〜102d之輸出，第8(b)圖係凹 坑深度爲λ /4之有透鏡位移時之第1至第4電流電壓轉換器 102a〜102d之輸出，第8(c)圖係凹坑深度爲；I /4以外之無 透鏡位移時之第1至第4電流電壓轉換器102a〜102d之輸 出，第8(d)圖則係凹坑深度爲λ /4以外之有透鏡位移時之第 1至第4電流電壓轉換器102a〜102d之輸出。 φ 又，光偵檢器1 〇 1係由第1至第4受光元件1 0 1 a、1 0 1 b 、：l 0 1 c、1 0 1 d所構成，對映於此上之資訊軌之延伸方向係圖 中箭頭所示之方向。 如第8(a)、（b)圖所示，凹坑深度爲λ /4(此處，A爲光 、 束之波長）時，因爲第1至第4電流電壓轉換器102a〜102d 之輸出不會產生相位差，利用構成光偵檢器1 〇 1之受光元件 之對角受光元件輸出之加算所得到之（A + C)信號及（B + D)信 號會出現相同波形圖案，例如，如第8 (b)圖所示，即使發生 φ 透鏡位移而使光偵檢器上之光點產生移動，光點位於軌中心 上時，（A + C)信號及（B + D)信號間之相位差仍然爲零。 相對於此，凹坑深度不是λ /4時，如第8(c)、（d)圖所 示，會使相位差產生對應聚焦狀態之變化，如第8(c)圖所示 ，光偵檢器上之光點未移動時，因爲A〜D信號之信號擺動 未變化，結果，（A + C)信號及（B + D)信號出現之波形圖案不會 受到對應聚焦狀態而變化之相位差之影響，追蹤誤差信號會 - 34- 1269284 成爲零，然而，如第8(d)圖所示，透鏡位移導致光偵檢器上 之光點產生移動時，因爲A〜D信號之信號擺動產生變化， (A + C)信號及（B + D)信號出現之波形圖案，會受到對應聚焦狀 態而變化之相位差之影響，而使追蹤誤差信號發生偏置。 因此，前述實施形態1及2說明之追蹤誤差檢測裝置在 刻印於碟片上之凹坑之凹坑深度不是λ /4時，爲了正確檢測 追蹤誤差信號，必須另行設置以消除上述偏置爲目的之控制 電路。 因此，本發明實施形態3之追蹤誤差檢測裝置著眼於位 於資訊軌移動方向之前方及後方位置之2個受光元件之間不 會發生相位產，亦即，受光元件101a及101b之間、及受光 元件1 0 1 c及1 0 1 d之間不會發生相位差，而利用相對於資訊 軌之移動方向之位於前方及後方位置之2個受光元件間之相 位差來檢測追蹤誤差信號。 具體而言，如第7圖所示，利用第1相位差檢測電路 1 1 a檢測受光元件1 〇 1 a及1 0 1 b之相位差，且利用第2相位 差檢測電路1 1 b檢測受光元件1 0 1 c及1 0 1 d之相位差，再利 用加算器1 〇 9實施第1相位差檢測電路1 1 a之輸出信號及第 2相位差檢測電路1 1 b之輸出信號之加算後，利用低通濾波 器1 08對加算器1 09輸出之信號實施頻帶限制而得到追蹤誤 差信號。 其次，若檢測到此追蹤誤差信號，由第8(a)〜（d)圖可 知，資訊軌移動方向之前後受光元件間，亦即，受光元件1 0 1 a 、1 〇 1 b及受光元件1 0 1 c、1 0 1 d間之輸出信號之相位差不會 -35- 1269284 產生影響，物鏡會以追蹤爲目的而位移，結果，即使光點在 光偵檢器1 〇 1上出現位移，亦可抑制追蹤誤差檢測之偏置變 動。 如此，依據本發明實施形態3之追蹤誤差檢測裝置，係 對相位誤差信號檢興之信號擺動實施限制，故可減輕相位誤 差檢測時之錯誤檢測之影響，並改善追蹤誤差信號之精度， 尙可防止因刻印於碟片上之凹坑之凹坑深度而發生之偏置 ，而實現正確之追蹤誤差信號檢測。 (實施形態4) # 其次，針對本發明實施形態4之追蹤誤差檢測裝置進行 說明。 第9圖係本發明實施形態4之追蹤誤差檢測裝置之構成 ^ 實例之方塊圖。 ^ 本發明實施形態4之追蹤誤差檢測裝置係分別針對位 於光偵檢器之資訊軌進行方向前方位置之受光元件所得到 之2系列數位信號、及位於後方位置之受光元件所得到之2 系列數位信號，另行設置第4圖所示實施形態2之追蹤誤差 β 檢測裝置之邊緣檢測電路2 1及相位差檢測電路22。 因此，因無需實施無效邊緣之相位比較輸出而可減輕相 位誤差檢測時之錯誤檢測之影響，並改善追蹤誤差信號之精 度，尙可防止因刻印於碟片上之凹坑的凹坑深度而發生之偏 置，而實現正確之追蹤誤差信號檢測。 本發明在產業上之利用可能性如下所示。 本發明之追蹤誤差檢測裝置因爲可減輕相位誤差檢測 -36- 1269284 時之錯誤檢測之影響且可改善追蹤誤差信號之精度，故係以 實施正確追蹤控制爲目的之有用技術。 [圖式簡單說明] 第1圖係本發明實施形態1之追蹤誤差檢測裝置之構成 實例之方塊圖。 第2圖係用以說明本發明實施形態1之相位差檢測電路 之動作之說明圖。 第3(a)、3(b)圖係DVD-ROM之凹坑及追蹤誤差信號之 關係圖。 第4圖係本發明實施形態2之追蹤誤差檢測裝置之構成 實例之方塊圖。 第5(a)、5(b)、5(c)圖係實施DVD-ROM之再生時在檢 測到相位差之點檢測到之邊緣之關係圖。 第6圖係用以說明本發明實施形態2之追蹤誤差檢測裝 置之無效邊緣取消部之動作之說明圖。 第7圖係本發明實施形態3之追蹤誤差檢測裝置之構成 實例之方塊圖。 第8(a)、8(b)、8(c)、8(d)圖係凹坑深度導致追蹤誤差 信號產生偏置之發生原理圖。 第9圖係本發明實施形態4之追蹤誤差檢測裝置之構成 實例之方塊圖。 第1 0圖係傳統追蹤誤差檢測裝置之構成實例之方塊圖 〇 第1 1圖係傳統相位差檢測電路之構成之方塊圖。 第1 2圖係用以說明傳統相位差檢，測電路之動作之說明 1269284 圖。 第13圖 之實例圖。 第1 4圖 分之擺動時， 圖。 [元件符號之雲 1 、 la 、 lb 2 、 2a 、 2b 3 4、4a、4b 5 、 5a 、 5b 6、6a、6b 11、 11a、 lib 21 、 21a 、 21b 101a 、 101b 、 102a、102b、 103a、 103b、 104a、 104b、 105a 、 105b 、 106a 、 106b 、 108 係利用追蹤誤差檢測裝置檢測之追蹤誤差信號 係輸入第1及第2 ADC之類比信號無法得到充 傳統追蹤誤差檢測裝置所檢測之追蹤誤差信號 明] 相位差演算部 脈衝產生部 資 料更 新 部 限 制控 制 部 Μ j\\\ 效邊 緣 取消部 資 料更 新 部 > 22 22a、 22b 、 i〇7 相 位 差 檢 測 電路 邊 緣 檢 測 電 路 101c 、 101d 光 偵 檢 器 102c 102d 電 流 電 壓 轉 換電路 103c 加 算 器 104c Λ 1 04d 類 比 -數位轉換器（ADC) 105c 1 05d 內 插 濾 波 器 106c 、 1 06d 零 交 越 點 檢 測電路 低 通 濾 波 器 (LPF)

Claims (1)

1. 聊284 门_ .:.'V 二二； 十、申請惠勒範圍： 第9 3 1 0 9 0 0 6號「追蹤誤差檢測裝置」專利案 (2006年8月23日修正） 1 · 一種追蹤誤差檢測裝置，其特徵爲具有·· 零交越點檢測電路，用以由2系列數位信號，檢測各 系列數位信號與該數位信號之中心電平交會之零交越點 ，而該2系列數位信號係藉由把因應受光元件所構成之光 偵檢器所輸出之各受光元件之受光量而產生之信號中之 各個位於對角位置之受光元件之輸出信號進行加算而獲 得，受光元件係在以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之 資訊軌之切線方向及垂直方向被分割成4部份； 相位差檢測電路，使用前述2系列數位信號之零交越 點間距離以進行之相位比較，同時在所獲得之相位比較結 果爲大於預設之第1特定値時，則限制該相位比較結果使 其不大於前述第1特定値並輸出；以及 低通濾波器，對前述相位差檢測電路所輸出之信號實 施頻帶限制而得到追蹤誤差信號。 2.如申請專利範圍第1項之追蹤誤差檢測裝置，其中 前述相位差檢測電路係由如下所構成： 相位差演算部，演算前述2系列數位信號之零交越點 間距離，並作爲相位比較結果依序輸出； 脈衝產生部，在前述2系列數位信號會作零交越之位 置分別產生取樣時鐘之1時鐘份之脈衝信號，並把對應所 產生之2系列數位信號之脈衝信號當中之於實施相位比較 1269284^] 之點後出現之脈衝信號，當做相位比較結束脈衝而輸出； 資料更新部，按前述脈衝產生部所輸出之各相位比較 結束脈衝，利用前述相位差演算部所依序輸出之相位比較 結果以更新輸出資料，且在截至下一相位比較結束脈衝出 現爲止係保持該輸出資料之輸出電平；以及 限制控制部，用以判斷來自前述資料更新部之輸出信 號是否爲大於預設之第1特定値之値，且在來自該資料更 新部之輸出信號爲大於前述第1特定値時，限制其不大於 前述第1特定値並輸出。 3 ·如申請專利範圍第2項之追蹤誤差檢測裝置，其中 前述限制控制部之前述第1特定値係依據用以執行再 生之光碟的最短凹坑長度及軌距之關係來設定。 4 · 一種追蹤誤差檢測裝置，其特徵爲具有： 零交越點檢測電路，用以由2系列數位信號，檢測各 系列數位信號與該數位信號之中心電平交會之零交越點 ，而該2系列數位信號係藉由把因應受光元件所構成之光 偵檢器所輸出之各受光元件之受光量而產生之信號中之 各個位於對角位置之受光元件之輸出信號進行加算而獲 得，受光元件係在以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之 資訊軌之切線方向及垂直方向被分割成4部份； 邊緣檢測電路，利用前述2系列數位信號之取樣資料 之二進位化信號，檢測要實施相位比較的邊緣之狀態·， 相位差檢測電路，利用前述2系列數位信號之零交越 點間之距離以實施相位比較，並將相位比較結果輸出；以 1269284 ‘ ‘ 及 低通濾波器，用以對前述相位差檢測電路所輸出之信 號實施頻帶限制而得到追蹤誤差信號；且， 前述相位差檢測電路係依據由前述邊緣檢測電路所 檢測到之邊緣的狀態，判斷相位比較對象之邊緣是否爲可 實施相位比較之有效邊緣，而對被該判斷判斷成無效之邊 緣，不實施該邊緣之相位比較結果之輸出更新。 5 ·如申請專利範圍第4項之追蹤誤差檢測裝置，其中 前述相位差檢測電路係由如下所構成： 相位差演算部，演算前述2系列數位信號之零交越點 間之距離，並作爲相位比較結果而依序輸出； 脈衝產生部，在前述2系列數位信號會作零交越之位 置分別產生取樣時鐘之1時鐘份之脈衝信號，並把對應所 產生之2系列數位信號之脈衝信號當中之於實施相位比較 之點後出現之脈衝信號，當做相位比較結束脈衝而輸出； 無效邊緣取消部，依據由前述邊緣檢測電路所檢測到 之邊緣的狀態，判斷相位比較對象之邊緣是否爲可實施相 位比較之有效邊緣；以及 資料更新部，按前述脈衝產生部所輸出之各相位比較 結束脈衝而動作，且在前述無效邊緣取消部之判斷結果爲 有效時，利用由前述相位差演算部所輸出之相位比較結果 以更新輸出資料，並於截至下一相位比較結束脈衝出現爲 止係保持該輸出資料之輸出電平，另一方面’在前述無效 邊緣取消部之判斷結果爲無效時，則照其原樣保持以前一 1269284 相位比較結束脈衝所輸出之輸出電平。 6.如申請專利範圍第5項之追蹤誤差檢測裝置，其中 前述邊緣檢測電路係於要檢測相位差之各點，從含有 前頭邊緣之信號側之邊緣下降位置，檢測其他信號之狀態 ，並輸出代表是否和其他信號邊緣重疊、或其他信號電平 爲”1”或”0”之信號者， 前述無效邊緣取消部係依據來自前述邊緣檢測電路 之輸出，在與其他信號之邊緣重疊時、及在其他信號電平 爲” 1”時，判斷該邊緣爲有效邊緣，而其他信號電平爲”0” 時，則判斷該邊緣爲無效邊緣。 7·如申請專利範圍第5項之追蹤誤差檢測裝置，其中 前述邊緣檢測電路分別檢測前述2系列數位信號之取 樣資料之二進位化信號之上昇或下降之邊緣，並輸出代表 該檢測到之上昇或下降之邊緣之彼此間隔是否爲預設之 第2特定値以下之信號者， 前述無效邊緣取消部係依據來自前述邊緣檢測電路 之輸出，在上昇或下降之邊緣間隔爲前述第2特定値以下 時’將該邊緣判斷成有效邊緣，在上昇或下降之邊緣之彼 此間隔爲大於前述第2特定値時，則將該邊緣判斷成無效 邊緣。 8 · —種追蹤誤差檢測裝置，其特徵爲具有： 零交越點檢測電路，用以由4系列數位信號，檢測各 系列之數位信號與該數位信號之中心電平交會之零交越 點’而該4系列數位信號係藉由把因應受光元件所構成之 -4- 1269284 · *" '；: ： ：·- \ - I 9a §/23' ' ；'^； ί；—，丨 >3^值檢^器f 4出之各受光元件之受光量而產生，受光元件 係在以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之資訊軌之切 _ 線方向及垂直方向被分割成4部份·， 第1相位差檢測電路，利用前述4系列數位信號之零 交越點內之位於資訊軌之進行方向前方位置之受光元件 所得到之2系列數位信號之零交越點間的距離以實施相位 比較，且在所得到之相位比較結果爲大於預設之第1特定 値時，限制該相位比較結果使其不大於前述第1特定値並 輸出； φ 第2相位差檢測電路，利用前述4系列數位信號之零 交越點內之位於資訊軌之進行方向後方位置之受光元件 所得到之2系列數位信號之零交越點間的距離以實施相位 比較，且在所得到之相位比較結果爲大於前述第1特定値 ^ 時，限制該相位比較結果使其不大於前述第1特定値並輸 出； 加算電路，用以實施前述第1及第2相位差檢測電路 之輸出信號之加算；以及 · 低通濾波器，用以對前述加算電路所輸出之信號實施 頻帶限制而得到追蹤誤差信號。 9.如申請專利範圍第8項之追蹤誤差檢測裝置，其中 前述第1、第2相位差檢測電路係由如下所構成： 相位差演算部，用以演算前述2系列數位信號之零交 越點間的距離，並作爲相位比較結果而依序輸出； 脈衝產生部，在前述2系列數位信號會作零交越之位 1269284 .. - 置分別產生t取樣時鐘之1時鐘份之脈衝信號，並把對應該 產生之2系列數位信號之脈衝信號當中之於實施相位比較 之點後出現之脈衝信號，當做相位比較結束脈衝而輸出； 資料更新部，按前述脈衝產生部輸出之各相位比較結 束脈衝，利用前述相位差演算部所依序輸出之相位比較結 果以更新輸出資料，且在截至下一相位比較結束脈衝出現 爲止係保持該輸出資料之輸出電平；以及 限制控制部，用以判斷由前述資料更新部輸出之信號 是否爲大於預設之第1特定値之値，並在該資料更新部之 輸出信號爲大於前述第1特定値時，限制其不大於前述第 1特定値並輸出。 I 〇 ·如申請專利範圍第9項之追蹤誤差檢測裝置，其中 前述限制控制部之前述第1特定値係依據要實施再生 之光碟之最短凹坑長度、及軌距之關係來設定。 II · 一種追蹤誤差檢測裝置，其特徵爲具有： 零父越點檢測電路’用以由4系列數位信號，檢測各 系列之數位信號與該數位信號之中心電平交會之零交越 點’而該4系列數位信號係藉由把因應受光元件所構成之 光偵檢器所輸出之各受光元件之受光量而產生，受光元件 係在以資訊凹坑列方式記錄於記錄媒體上之資訊軌之切 線方向及垂直方向被分割成4部份； 第1邊緣檢測電路，利用前述4系列數位信號內之由 位於資訊軌之進行方向前方位置之受光元件所得到之2系 列數位is號之取樣資料之二進位化信號，以檢測要實施相 1269284 μ 較之邊緣的狀態； 第2邊緣檢測電路，利用前述4系列數位信號內之由 位於資訊軌之進行方向後方位置之受光元件所得到之2系 列數位信號之取樣資料之二進位化信號，以檢測要實施相 位比較之邊緣的狀態； 第1相位差檢測電路，利用前述4系列數位信號之零 交越點內之由位於資訊軌之進行方向前方位置之受光元 件所得到之2系列數位信號之零交越點間的距離實施相位 比較，並輸出相位比較結果； 第2相位差檢測電路，利用前述4系列數位信號之零 交越點內之由位於資訊軌之進行方向後方位置之受光元 件所得到之2系列數位信號之零交越點間的距離以實施相 位比較，並輸出相位比較結果； 加算電路，用以實施前述第1及第2相位差檢測電路 之輸出信號之加算；以及 低通濾波器，用以對前述加算電路輸出之信號實施頻 帶限制而得到追蹤誤差信號；且， 前述第1相位差檢測電路係依據前述第1邊緣檢測電 路所檢測到之邊緣狀態，判斷相位比較對象之邊緣是否爲 可實施相位比較之有效邊緣，而對被該判斷判斷成無效之 邊緣，不實施該邊緣之相位比較結果之輸出更新， 前述第2相位差檢測電路係依據前述第2邊緣檢測電 路所檢測到之邊緣狀態，判斷相位比較對象之邊緣是否爲 可實施相位比較之有效邊緣，而對被該判斷判斷成無效之 1269284 .. (、 ,ν：.. 邊緣，不實施該邊緣之相位比較結果之輸出更新。 1 2 ·如申請專利範圍第1 1項之追縱誤差檢測裝置，其中 前述第1、第2相位差檢測電路係由如下所構成： 相位差演算部，用以演算前述2系列數位信號之零交 越點間的距離，並作爲相位比較結果而依序輸出； 脈衝產生部，在前述2系列數位信號會作零交越之位 置分別產生取樣時鐘之1時鐘份之脈衝信號，並把對應所 產生之2系列數位信號之脈衝信號當中之於實施相位比較 之點後出現之脈衝信號，當做相位比較結束脈衝輸出； 無效邊緣取消部，依據由前述第1或第2邊緣檢測電 路所檢測到之邊緣狀態，判斷相位比較對象之邊緣是否爲 可實施相位比較之有效邊緣；以及 資料更新部，按前述脈衝產生部輸出之各相位比較結 束脈衝而執行動作，在前述無效邊緣取消部之判斷結果爲 有效時，利用前述相位差演算部所輸出之相位比較結果以 更新輸出資料，並在截至下一相位比較結束脈衝出現爲止 係保持該輸出資料之輸出電平，另一方面，在前述無效邊 緣取消部之判斷結果爲無效時，則照其原樣保持前一枏位 比較結束脈衝所輸出之輸出電平。 1 3 ·如申請專利範圍第1 2項之追蹤誤差檢測裝置，其中 前述第1、第2邊緣檢測電路係在要檢測相位差之各 點，從含有前頭邊緣之信號側之邊緣下降位置’檢測其他 信號之狀態，並輸出代表是否和其他信號邊緣重疊、或其 他信號電平爲” 1 ”或” 0 ”之信號者， 284 284 前述第1或第2邊緣檢測 緣重疊時、及在其他信號 —JiLl.無..梦邊_取消部係依據 電路之輸出，在與其他信號之邊 電平爲” 1”時，判斷該邊緣爲有效邊緣，而在其他信號 電平爲” 0 ”時，則判斷該邊緣爲無效邊緣。 4 .如申請專利範圍第1 2項之追蹤誤差檢測裝置，其中

   前述第1、第2邊緣檢測電路係分別檢測前述2系列 數位信號之取樣資料之二進位化信號之上昇或下降之邊 緣，並輸出代表該檢測到之上昇或下降之邊緣彼此之間隔 是否爲預設之第2特定値以下之信號者， 前述無效邊緣取消部係依據來自前述邊緣檢測電路 之輸出，在上昇或下降邊緣之彼此間隔爲前述第2特定値 以下時，將該邊緣判斷成有效邊緣，在上昇或下降之邊緣 彼此之間隔爲大於前述第2特定値時，則將該邊緣判斷成 無效邊緣。