TWI226512B - Photoresist composition, preparation method thereof and method for forming pattern in semiconductor processing using the same - Google Patents

Photoresist composition, preparation method thereof and method for forming pattern in semiconductor processing using the same Download PDF

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TWI226512B
TWI226512B TW089105938A TW89105938A TWI226512B TW I226512 B TWI226512 B TW I226512B TW 089105938 A TW089105938 A TW 089105938A TW 89105938 A TW89105938 A TW 89105938A TW I226512 B TWI226512 B TW I226512B
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Young-Ho Kim
Hoe-Sik Chung
Sang-Mun Chon
Boo-Sup Lee
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Samsung Electronics Co Ltd
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Description

1226512 A7 B7 五、發明説明(1 ) 發明背景 1 .發明領域 本發明係有關於一種光阻組合物,其製法及使用其於半 導體操作中形成圖案之方法,更特定言之,係有關於一種 具高敏感度及解析度可用於產生具極精細輪廓之圖案之正 光阻組合物,其製法及使用其於半導體操作中有利形成圖 案之方法。 2 .先前技藝說明 最近,由於電腦在快速發展之資訊媒體上廣被使用,目 前正需要一種具有高速度及大操作貯存容量之半導體存儲 裝置。為此,製造半導體存儲裝置之方法正進行發展以改 良集成度,可靠度及反應時間。光刻術(photolithography) 之發展可被視為很重要,因其為提高存儲裝置集成度之關 鍵技術。 是故,集成度的發展係正在進行中的過程。舉例而言, DRAM (dynamic random access memory,動態隨機存儲)裝 置,如16 Mbit (兆位)DRAM及64 Mbit DRAM現已大量製 造,而256 Mbit DRAM正在研發大量製造。再者,Giga bit (千兆位)DRAM之大量製造目前也正在發展中。 因此,用於製造裝置之光刻方法所涉及的因素已受到愈 益嚴格的控制。特定言之,光阻方法所用的光阻劑是半導 體裝置發展的基本根本因素,而因此對光阻劑品質的要求 每年都在提高。利用光刻術使用普通光阻劑形成圖案之方 法如下。 -6 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1226512
首先,在已有欲作成圖案之層,如介電層或導電層形成 《基材上塗覆光阻劑層,該層係有機物層,其對驗溶液之 溶解度隨暴露於光如紫外光或X·射線而異。在光阻劑層 上放置具有預定圖案,可使光阻劑層預定部份選擇性暴露 之掩模(Mask),並使光阻劑層暴露於光下。然後,具高溶 解度之部份(正光阻劑暴露部份)經顯像移除,而具低 度之部份則保留以產生光阻劑圖案。光阻劑圖案所產生的 暴露層經蝕刻而形成圖案,然後除去剩下光阻劑而得所要 圖案以供接線及形成電極之用。 作為…、射用之光源,具G _線波長(43 6 nm)之光被廣泛用 作為紫外光。然而,考慮解析度及焦點深度,則以具較短 I-線波長( 365 nm)之光為較佳。光阻組合物之組份隨光源 而異。 光阻組合物中的典型光敏物料,係使用諸如聚羥基二苯 甲酮與二疊氮化莕醌-5 _磺酸之酯化合物等之化合物。特 別是,2,3,4,4’-四羥基二苯甲酮之酯化合物用得很廣泛(見
Shoji Kawata,Motofumi Kashiwagi 等,Journal of Polymer
Science and Technology, V〇l. 4, No· 1 pp. 101-108 (1991)”)。然而,此一化合物對具卜線波長之光則缺乏透 明度。結果,它在暴露之後、會吸收具_ j線波長之光。因 此’利用I -線光源如此所得之光阻圖案,其輪廓及解析度 並不理想。 包括甲酚-甲醛之酚醛清漆樹脂與經二疊氮化莕醌取代 之光敏物料之光阻組合物已揭示於美國專利3,〇46,118, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) 1226512 A7 , B7 五、發明説明(3 ) 3,106,465,3,148,983,4,115,128 及4,173,470 號及日本專利 公告案昭字(Sho) 62-28457號中,而包括酚醛清漆樹脂與 三羥基二苯甲酮-1,2 -二疊氮化莕醌磺酸酯之典型光阻組 合物已揭示於“L.F. Thompson,Introduction to Microlithography, ACS Publishing Co. Ltd·,No. 219 ρρ· 112-121 ” 中。此外, 美國專利5,648,194號揭示含有鹼溶性樹脂,〇-二疊氮化莕 醌磺酸酯及乙晞基醚之光阻組合物,及美國專利5,468,590 號揭示含有利用二疊氮化醌化合物及多酚製備之鹼溶性樹 脂之光阻劑。具改良物理特徵且包括酚醛清漆樹脂,二疊 氮化醌化合物及多酚之光阻組合物已揭示於美國專利 5,413,895 號。 如上所述,具二疊氮化莕醌官能之化合物可用為光敏物 料,而當中,以二疊氮化萘醌-5 -磺酸酯,二疊氮化莕醌-4 -橫酸g旨及類似物為較佳(見J. Kosar,Lightsensitive Systems,John wiley & Sons Inc· ρρ· 343-361 )。美國專利 5,714,620號揭示包括多酚之二疊氮化醌磺酸酯化合物之正 光阻劑。 為提高光敏莕醌官能之含量以完成高解析度,一種利用 具有大量三酯基之光敏物料之方法已揭示於日本專利公告 案昭字60-158440號。再者,、一種添加具有溶解度參數為 11-12之有機溶劑之方法已揭示於日本專利公告案昭字61-260239號。然而,由於使用諸如二甲亞砜之溶劑,含有該 溶劑之光阻組合物在儲存時很不穩定,故而在長期儲存 時,組合物的敏感度及解析度都會顯著降低。 -8- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X 297公釐) 五、發明説明(4 ) 入1本1!公告案平字(hei)卜189644號揭示-種正光阻組 :—,、匕括具有特定參(羥苯基)甲烷化合物代替多羥基 二丰甲酮芡丨,2_二疊氮化莕醌磺酸酯作為基底之光敏度。 然而,此-光阻組合物之耐熱性低於以多幾基二苯^ 基《組合物者,且光敏基易於沉殿而降低其儲存穩定性。 已知有許多具有齡素幾基之化合物作為光敏物料。炊 :,各種特徵如敏感度’解析度’耐熱性等等欲無法同:寺 =足。藉由混合具有不同特徵之光敏化合物以改良物理特 狀努力曾有人執行過。例如,美國專利5,378,586號即揭 不―種具有改良解析度且包括由具有不同特徵之二叠氮化 物基之磺酸酿混合所得之光敏化合物之光阻組合物。 為改良敏感度’光阻劑巾光敏物料之量應料低,但這 3會降低解析度。為改良解析度,㈣清漆樹脂之疏水 *應讀高,但這通常會降低敏感度H滿練感度 及解析度二種條件的組合物很難得到。 Q此,現在需要一種同時滿足高敏感度及解析度之光阻 、、且口物。此外,也需要-種可適用於具G·線波長及卜線波 長《光的普通光阻組合物以在半導體裝置製造過程中獲得 具有艮好輪廓及解析度之光阻圖案。特別是,需要一種可 土用万、具1'線波長之光以在更大量集成之裝置產生良好圖 木輪廓之光阻組合物。 發明概1 因此,本發明之—目的為提供—種具有改良之解析度、 耐…性玟餘率及敏感度特徵,一般可應用於半導體裝置 -9-
1226512 A7 B7 五、發明説明(5 製造過程的正光阻組合物。 一種製備正光阻組合物之適當 本發明之另一目的為提供 方法。
本毛明之再一目的為提供一種利用上述光阻組合物形成 具有改良輪廓之圖案之方法。 V 為完成本發明之目的,其提供者為一種光阻組合物,包 口由、力30-70重I %結構(丨)所代表第一光敏化合物與約 3 0重里/〇总構(2 a)或(2 b )所代表第二光敏化合物混合所得 之光敏物料,適用於正光阻劑之樹脂及溶劑。
(1)
在〜構(1)中,Ri及尺2 (可為相同或不同)獨立為氫原 ,L2·二疊氮化莕醌_4_磺醯基,ι,2·二疊氮化莕醌_ -10-
1226512
%磺醯基或丨,2-二疊氮化莕醌胃6_磺醯基且不可同時為氫 原子,Πΐ及112代表〇,1,2或3且不可同時為0 ,及在結構 (a)及(2b)中,:^’心及^可為相同或不同^獨立為氫原 子* 1,2 ——瑩氮化莕醌· 4 -磺醯基,1,2 -二疊氮化莕醌·
5 — %醯基或1,2 —二疊氮化莕醌-6 -磺醯基且不可同時為氫 原子,Xl、Y
la lb ^、^、乂^乂处及义^可為相同或不同) 獨立為氫原子或烷基,及n3代表1或2。 本么明之其他目的可藉一種製備光阻組合物之方完成, 該方法包含下列步驟: 订
田i)藉由進行結構(1,)所代表之多元醇化合物與丨,2-二 璺鼠化莕醌-4-磺醯基氯,;t,2_二疊氮化莕醌_5_磺醯基氯 或1,2 -二叠氮化蕃酿-6 _磺醯基氯間之酯化反應製備如結 構(1 )所代表之第一光敏化合物; i i)藉由進行結構(2 a ’)或(2 b ’)所代表之多元醇化合物 人1 , 2 - 一金氮化各自昆_ 4 _橫酿基氯,1,2 _二疊氮化莕酉昆_ 5 -績醒基氯或1,2 ·二疊氮化莕醌-6 _磺醯基氯間之酯化反 應製備如結構(2 a)或(2 b )所代表之第二光敏化合物;及 111)將由約3 0 - 7 0重量%第一光敏化合物與約7 〇 - 3 0重 量%第二光敏化合物混合所得之光敏物料及適用於正光阻 劑之樹脂溶於溶劑中。 -11 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1226512 A7 B7 五、發明説明(7 )
〇=c
2 ⑴
(OH)«2 (1,)
x>Mla 0R3^Jt lb (2a) U~〇R5 (2a) Ή3
•OH (2b) OR3
(2b’)
X: HO
^la Xlc
lb
OH Xid 0H
X2b
Xib
-12 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 x 297公釐) 1226512 A7 B7
五、發明説明(8 ) 在結構(1)及(1,)中,心及尺〆可為相同或不同)獨立 氫原子’ U2-二疊氮靡_4-續酿基,i,二叠氮二乂 醌-5-磺醯基或丨,2_二疊氮化莕醌磺醯基且不可同時^ 氫原子,^及!^代表〇, i,2或3且不可同時為〇,及在蛀 構(2a),(2a,),(2b)及(2b’)中,R3,心及&獨立(可為相同° 或不同)為氫原子,1,2_二疊氮化萘醌磺醯基,丨,2_二 疊氮化蓁醌· 5-磺醯基或ι,2-二疊氮化蓁醌_6-磧聽美 相同或不同)獨立為氫原子或燒基,及η 3代表1或2。 適用於正光阻劑之樹脂之實例為鹼溶性酚醛清漆樹脂。 酉分酸清漆樹脂較佳係由m _甲酚,ρ _甲g分及2,3,5-三甲基酚 之紛化合物與甲醛水縮合而製備。 為完成此第三目的,本發明提供者為一種形成圖案之方 法’包含下列步驟: 在基材上形成光阻劑層,而以具有由約3 〇 _ 7 〇重量%結 構(1 )所代表第一光敏化合物與約7 0 - 3 0重量%結構(2 a) 或(2 b )所代表第二光敏化合物混合所得之光敏物料,適用 於正光阻劑之樹脂及溶劑之光阻組合物塗覆基材; 利用光源使光阻劑層暴露;及 藉由使暴露之光阻劑層顯像而形成光阻劑圖案。
-13- 本紙張尺度相巾s目家辟(cns)八视格(⑽χ 2的公爱) 1226512 五、發明説明(9
Lla ^2b
Me (2a) or3- OR4 Xld n3 (2b)
OR 在結構⑴中’ Ri&R2(可為相同不同)獨立 =二疊氮化m續酿基’u-二疊氮化革Γ二 ^=’2-二疊氮化審g“ 續驢基,且不可同時為氫原 及pi;中'I表〇 12或3且不可同時為〇,及在結構(2a) ,3,1及1(可為相同或不同)獨立為氳原子, :二疊氮,-4_績醯基,i,二疊氮化審酿_5_績 :二5丨,2-—璺虱化莕醌-6-磺醯基且不可同時為氫原 链’ 、Xlb、XlC、Xld、X2a、X2b及Ac (可為相同或不同) 獨立為氫原子或烷基,及n3代表^ 根據本發明之光阻組合物係塗覆在基材上形成光阻劑 層,然後再利用具有預定圖案以選擇性暴露光阻層之掩模 使光阻劑層選擇性暴露。本發明之組合物在利用具有各別 G-線波長W•線波長之光時即可應用1而,具卜線波長 之光為較佳’因為晚近半導體裝置所需要的更精細圖案輪 靡可藉利用具有I-線波長之光而獲得。光源可隨場合需要 加以選擇。暴露完成之後,光阻劑圖案即予顯像以除去溶 -14 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(21〇 X 297公愛)-' - 1226512 A7 B7
五、發明説明(10 ) " ·〜— - 解度南的暴露部份,而剩餘溶解度低之未暴露部份 光阻圖案。光阻劑除去而暴露之基材即予績刻,然= 去剩餘光阻劑即成供各種接線,電極等形成之必^ 介電圖案。 交等笔或 J1圖之簡要説明 本發明 < 以上目的及優點,在參照隨附圖式就其較佳且 體例詳細說明後,將變得更明白。 乂 ’、 圖1 a至1 C顯示一種利用本發明光阻組合物形成圖案之方 法的概略剖面圖。 t 發明之詳細銳明 以下將參照附圖更詳細說明本發明。 本發明所用第一光敏化合物具以下結構(丨)。
在結構(1 )中,I及R2 (可為相同或不同)獨立為氫原 子,1,2 ·二疊氮化莕醌_ 4 -磺醯基,i,八二疊氮化蓁醌-5 -—醯基或1,2 -二疊氮化莕g昆_ 6 _橫醯基且不可同時為氫 原子’ η丨及η 2代表0 ’ 1,2或3、且不可同時為〇。 特定言之,結構(1 )所代表第一光敏化合物之較佳實例 有:2,3,4,4,-四羥基二苯甲酮之二疊氮化萘醌=醯 酯,2,3,4,4,-四羥基二苯甲酮之I〗·二疊氮化萘醌·夂磺 醯酯,^斗/’-四羥基二苯甲酮之込八二疊氮化萘醍·。 本紙張尺度通用巾H S家鮮(CNS) Α4規格(2ι〇X 297公愛) 1226512 A7 B7 五、發明説明(11 績酿g旨及類似物。 本發明所用第二光敏化合物具以下結構(2a)或(2b)。
X2a X2b (2b)
裝 訂 在結構(2 a)及(2 b )中,R3,尺4及R5 (可為相同或不同)獨 立為氫原子,1,2 -二疊氮化莕醌-4-磺醯基,1,2 -二疊氮 化奈醜-5 -績醯基或1,2 ·二疊氮化莕g昆-6 -橫醯基且不可同 時為氫原子 ’ Xla、Xlb、Xic、Xid、X2a、X2b&X2c (可為相同 或不同)獨立為氫原子或烷基,及n3代表1或2。
結構式(2 a )或(2 b )所代表之第二光敏化合物之較佳實例 有:具有3或4個單烴基烷基苯環之非-二苯甲酮之丨,2 _二疊 氮化茶醌-4 -磺酸酯,具有3或4個單羥基烷基苯環之非-二 苯甲酮之1,2 -二疊氮化莕醌-5 _磺酸酯,具有3或4個單羥 基燒基苯環之非-二苯甲酮之丨,2 _二疊氮化莕醌-6 _磺酸酯 及類似物。 本發明之光敏物料係藉第一及第二光敏化合物混合而製 備。第一光敏化合物具有極優敏感度同時呈現略低之解析 -16- 本紙張尺度適用fiii標準(CNS) μ規格(21〇X297公金 1 1226512 A7 ______B7 五、發明説明(12 ) 度,而第一光敏化合物則具極優之解析度及高敏感度。 第一光敏化合物之混合量若低於3〇重量%,則組合物之 敏感度會太低,而若高於7 0重量%,則耐熱性會降低。相 反的,第二光敏化合物之混合量若高出7 〇重量%,則組合 物的敏感度會太低’而若低於3 〇重量%,則耐熱性會降 低。因此,第一與第二光敏化合物之混合比應在3〇:7〇_ 70:30重量%之範圍内。 包括第一及第二光敏化合物之光敏物料之量若低於丨〇重 量份對1 0 0重量份適用於正光阻劑之樹脂,解析度會變 低,而若咼於1 0 0重量份,則光阻組合物之敏感度會變 低。因此,光敏物料之較佳量為在丨〇_丨〇〇重量份對1 〇 〇重 Ϊ刀之树H曰’而更佳為在1 〇 5 〇重量份之範圍内。 包括在二豐氮化審g昆續酸酯基光敏物料内之第一光敏化 合物之酯化比若在40%以下,或若第二光敏化合物之酯化 比在2 0 %以下,則顯像後之光阻劑層之厚度會自標準厚度 降低,而同時敏感度會變得比習知光敏物料高。同時,若 第一光敏化合物之酿化比高於9 0 %,則敏感度會變得太高 而降低組合物之穩定性。因此,第一光敏組合物之較佳酯 化比為在40-100%之範圍内,而第二光敏組合物之較佳酯 化比則在20-90%之範圍内。第一光敏化合物之酯化比更佳 為60-90%,而第二光敏化合物之酯化比更佳為5〇_7〇%。 作為適用於正光阻劑之樹脂,可使用酚醛清漆樹脂。酚 駿’青漆樹脂廣泛用作為正及驗溶性樹脂。 酉分趁清漆樹脂可由酚化合物與醛化合物在酸式觸媒下反 -17- 1226512
應而製備。作為紛,較佳可使用m-甲酚,酚,〇-甲 酉=二甲苯酉分如2,3·二甲苯酉分,2,5·二甲苯驗,3,5-二 甲苯鉍及3,4 - 一甲苯酚,烷基酚如2,3_三甲基酚, i,3;5三乙基紛,心乙基S分,ρ-乙基酴,0-乙基酴,4-第一 丁基酉;;’ 3 -第二·丁基酉分,2 _第三丁基酉分,2 _第三一 丁,4甲基酉分,2 -第三一丁基_ 5甲基酉分,燒氧基驗如p -甲氧基酉;7 m -甲氧基酉分,ρ·乙氧基酉分及心乙氧基酚,異 丙烯基酚如〇-異丙烯基酚,卜異丙埽基酚,2·甲基_4•異 丙缔基酉77及2 -乙基.4 _異丙缔基紛,多經基鼢及類似物。 該等化合物可以單一化合物或以二或多種化合物之混合物 使用。酚醛清漆樹脂更佳可藉利用m_甲酚,甲酚與 2,3,5 -三甲基酚之3 _化合物酚混合物製備。 作為醛,可以單一組份或以二或多種化合物之混合物使 用甲醛,對·甲醛,乙醛,丙醛,丁醛,三甲基醛,苯 醛,對苯二甲醛,苯基乙醛,心羥基苯醛,卜羥基苯 醛’ 羥基苯醛,m·甲基苯醛,ρ_甲基苯醛及類似物。 更佳為可使用甲醛。 此外’縮合反應所用之酸式觸媒可為無機酸如氫氯酸、 硫酸及磷酸,及有機酸如醋酸,ρ _甲苯磺酸及草酸。當中 以草酸為最佳。縮合反應係在約60-120°C下進行約2-30小 時。 如此所得之酚醛清漆樹脂具有聚苯乙烯換算平均分子量 為約 1,000-20,000,較佳為約2,00〇-1〇,〇〇〇,更佳為 5,〇〇〇_ 7,000 ’以凝膠滲透色層分析法計算。 -18- 1226512 A7
:::月曰為由瓜甲酚,ρ·甲酚及2,3,5·三甲基酚與甲 :水:早酸酸式觸媒下縮合而製得且具聚苯乙烯換算平均 子里、、勺5,〇〇〇-7,〇〇〇(尤其是6,〇〇〇)之酚醛清漆樹脂。 紛醛清漆樹脂之量較佳係在1〇,重量%之範圍内,以正 光阻組合物中之固體含量為準。 、乍為用万;本發明正光阻組合物之溶劑,任何不會與光敏 物料及㈣清漆樹脂反應且具足夠溶解度及適當乾燥速度 <溶劑都可使用,以便在溶劑乾燥之後得均句又平坦之塗 1匕在本發明巾’可溶解光敏物料及S㈣清漆樹脂之乳酸 烷酉曰基,谷劑及具良好成層能力之醋酸酯基溶劑較佳皆可使 用彼等可以單一組份之溶劑或以混合物使用。 田車可使用乳酸乙酯與醋酸丁酯之混合物。乳酸乙酯之 里:呵於8 0重量%,則溶解度良好,然而組合物之黏度會 太而成層特性將會變得不理想。醋酸丁酯之量若高於7曰〇 ==%,則成層特性良好,但光敏物料及酚醛清漆樹脂之 /合解度會降低,而因此組合物之穩定性將變得不理想。因 此’礼酸乙酯與醋酸丁醋之較佳混合比為在80:20_30:70重 量%之範圍内。 具有光敏物料,適用於正光阻劑之樹脂及溶劑之光阻組 =物中之固體含量若低於20重量%(以組合物之總重量為 V ) 黏度會受待·太低,而若組合物中之固體含量高於 4 〇重I%,則黏度會變得太高,而由其形成之光阻劑層之 厚度會變得很難控制。因此,光阻組合物中之固體含量較 佳為在20-40重量%之範圍内,以組合物之總量為準。此 -19- 本紙張尺銳財輯標X挪公爱) 1226512 A7
時,光阻組合物之黏度係控制在28-32 β 可藉由多元醇與 。此特在以下作 本發明所用二疊氮化萘醌基之光敏物料 二疊氮化莕醌磺醯基氯之酯化反應而製備 詳細說明。 育先,弟-光敏化合物係藉由結構(1,)所代表之多元醇 -石^基乳或^二疊氮化H6料基氯之酯化 而製備。 (0Η>1χ^ 。 a /(Ο· (1,)
Ο 在結構(1 ’)_ ’ ηι及η2代表0,1,2或3且不可同時為 〇 第二光敏化合物係藉由結構(2a,)及(2b,)所代表多元醇 與1/,-二疊氮化萘醌磺醯基氯,二疊氮化莕醌_ 5 /、Sia基氯或1,2 - 一登氮化萘酿_ 6 _績醯基氯之酯化反應 而製備。
-20- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公藿) 1226512 A7 B7 五、發明説明(16 ) (2b,)
在結構(2a,)及(2b,)中,Xla、Xlb、Xlc、xld、X2a、X2# ^2c獨立為氫原子或健基(可為相同或不同),3代表1或 2 〇 製備第一及第二光敏化合物之酯化反應係分別在鹼之存 在下進行。較佳鹼可為胺化合物如三甲基胺,三乙基胺, 二乙醇胺,N,N -二甲苯胺,N,N -二乙基苯胺及吡啶,視 場合需要,可使用無機鹼控制敏感度。 驗之較佳量為1,2 -二疊氮化莕醌-4,5或6 -磺醯基氯莫耳 數之1-5倍,更佳量為i1-12莫耳倍。 酉旨化反應一般係在酯化溶劑,如二嘮烷化合物如丨,4 _二 5燒’醚化合物如四氫呋喃及酮化合物如丙酮、甲基乙基 酮,環己酮及2 -戊酮中進行。彼等可以單一組份或以二或 多種化合物之混合物使用。 為進行步驟1)及i i)光阻組合物之製備,酯化溶劑之量較 佳為在結構(1,)所代表多羥基化合物之重量或結構(2 a,) 或(2b’)所代表多羥基化合物、與1,2-二疊氮化莕醌-4,5或 6 -〜醯基氣之混合量之2 _ 6倍,更佳4 _ 5倍之範圍内。 酯化時間通常係在3〇_24〇分之範圍内。反應完成之 後反底、物即過遽以〉慮除固體含量。然後,在剩下濾液中 緩k滴入1 - 2重I %之含水酸如含水醋酸或含水硫酸以產 -21 - _~c^TliiT21QX 297公爱)---- 1226512 五、發明説明(17 ) 生沉殿物。此一沉殿物經過滤,然後洗務及乾燥 (1),(2a)或(2b)之光敏化合物。 于〜構 其後,酚醛清漆樹脂係藉m _甲酚,p _甲酚及2 3 $ 一 甲基酚之酚化合物與醛化合物縮合而製備。 ,,5 _二 如此所得之第-及第二光敏化合物與㈣清漆樹 預定混合比溶解於溶劑中。此_混合物經過遽 本發明之光阻組合物。 W- 結構(1)所代表之第一光敏化合物適用於具匕線波長之 光,而結構(2a)或(2b)所代表之第二光敏化合物則適用 於具I-線波長之光。經本發明人等重覆試驗後,可發現, 具有由二種光敏化合物混合而得之光敏物料之光阻組合 物,對具各別G-線及I-線波長之兩種光而言,均可提良好 敏感度及解析度。特定言之,利用具廣泛用於獲得高解析 度之I-線波長(365 nm)及更短波長之光,即可开》成具有良 好輪廓之圖案。 因此,在根據本發明形成圖案之方法中,係先製備包括 由3 0- 70重量%結構(1)所代表第一光敏化合物與7〇_3〇重 量%結構(2 a)或(2 b )所代表第二光敏化合物混合所得之光 敏物料,適用於正光阻劑之樹脂及溶劑之光阻組合物。然 後’再將光阻組合物塗覆於基材上形成光阻劑層。此時, 組合物之黏度係在28-32 cp之範圍内,而在組合物塗覆時 基材或晶片之轉動速度為900-4,000 rpm。如此形成之光阻 劑層之厚度可隨場合需要而異,較佳適用厚度係在15,〇〇〇_ 33,000又之範圍内。 -22- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) 1226512 五、發明説明(18 ) 然後’利用具有預定圖案之掩模使絲劑層之選 選擇性地暴露。此時,由於本發明之组合物可藉任何且二 G-線波長或!-線波長及以下之光即起反應,故可使用適告 的光源。然後,光阻劑層經顯像而除去暴露之可溶部份: 而剩下的不可溶部份即留下而形成光阻劑圖案。然後^基 材經蝕刻,及剩餘光阻劑經除去而形成供各種接線及泰^ 用之圖案。 私 β本發明之較佳實例將作更詳細說明。然而,應了解的 是,本發明不受以下具體例所限制。 (光敏化合物之合成) 合成實例1 將4 · 0克結構(3 )所代表光敏化合物之基本物料,7 · 〇克 1,2 - —《氮化綦醌_ 5 _磺醯基氯及3 〇 〇毫升丙酮加入三頸 燒瓶中並攪拌而得一溶液。將3 2克三乙基胺緩慢且逐滴 加土,谷液中,然後在室溫下將如此所得之反應物攪拌4小 時。反應芫畢後,將反應物過濾。將固體含量濾除,並將 1 %含水硫酸逐滴加入濾液中以產生沉澱物。將如此所得 炙沉澱物過濾並收集,然後以甲醇洗滌並乾燥而得3克之 二疊氮化萘醌磺酸酯基之第二光敏化合物A _ j。 合成實例2 將4 · 0克結構(3 )所代表之光敏化合物之基本物料,7 · 〇 克1,2 -二疊氮化莕醌-4 -磺醯基氯及3 〇 〇毫升丙酮加至三 頒燒瓶中並攪摔以得一溶液。將3 · 2克三乙基胺緩慢且逐 滴加至溶液中,然後在室溫下將如此得到之反應物攪拌4 -23 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 1226512
發明説明( Μ基之第二光敏化合物A_2。.克一 ^
將4.0克結構(4)所代表之光敏化合物之基本物料,6.8 ,2 且氮化奈S昆-5-績S&基氯及300毫升丙_加至三 碩燒瓶中並攪拌以得一溶液。將3 · 〇克三乙基胺緩慢且逐 滴加至落液中,然後在室溫下將如此得到之反應物攪拌4 =時。< 後,進行合成1所述之相同程序,得5克二疊氮化 奈醌磺酸酯基之第二光敏化合物B _ 1。 小時。i後,進行合成丨所述之相同程序,得3 爲 合成實例4 將4.0克結構(4)所代表之光敏化合物之基本物料,6.8 克1’2 一里氮化奈目昆-4-橫醯基氯及300毫升丙酮加至三 項燒瓶中並授拌以得一溶液。將3 · 0克三乙基胺緩慢且逐 滴加至落液中’然後在室溫下將如此得到之反應物攪摔4 小時。之後’進行合成1所述、之相同程序,得5 · 4克二疊氮 化莕醌磺酸酯基之第二光敏化合物B-2。 -24-
1226512 A7
OH
(4) 7.4 將4.2克又構(5)所代表之光敏化合物之基本物料, 克1,2 —璺氮化萘g昆_ 5 _磺醯基氯及3 〇 〇毫 頸燒瓶中並攪拌以搵一 &、、 μ 』加土一 、 于/谷,夜。將3 · 4克三乙基胺緩慢且逐 滴加至溶液中:然後在室溫下將如此得到之反應物攪拌4 J時 < 後,進行合成1所述之相同程序,得7 ·丨克二疊氮 化蓁醌磺酸酯基之第二光敏化合物C4。 合成實例6 將4 · 〇克結構(5 )所代表之光敏化合物之基本物料,6.8 克1,2 - — Φ氮化蓁醌-5 _磺醯基氯及3 〇 〇毫升丙酮加至三 頭燒規中並攪拌以得一溶液。將3 · 〇克三乙基胺緩慢且逐 滴加至落液中’然後在室溫下將如此得到之反應物攪拌4 小時。之後’進行合成1所述之相同程序,得6克二疊氮化 莕醌磺酸酯基之第二光敏化合物C _ 2。 -25- 本紙張尺度適用中國S家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) 1226512 A7 B7 五、發明説明(21 ) (5)
將4 · 0克結構(6 )所代表之光敏化合物之基本物料,6 · 5 克1,2 -二疊氮化莕醜-5 _磺醯基氯及3 〇 〇毫升丙酮加至三 頸燒瓶中並攪拌以得一溶液。將2 · 5克三乙基胺緩慢且逐 滴加至溶液中,然後在室溫下將如此得到之反應物攪摔4 小時。< 後,進行合成丨所述之相同程序,得6克二疊氮化 莕醌磺酸酯基之第二光敏化合物D _ i。 合成實例8 將4.0克結構(6)所代表之光敏化合物之基本物料,6 5 克1,2 -二疊氮化莕醌-4 _磺醯基氯及3 〇 〇毫升丙酮加至三 頸燒瓶中並攪拌以得一溶液。將2 · 5克三乙基胺緩慢且逐 滴加至溶时,㈣在室溫下將如此得収反應物揽摔4 小時。之後,進行合幻所述之相同程序,得6·3克二疊氣 化莕醌磺酸酯基之第二光敏化合物D - 2。 -26- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X 297公釐) 1226512 A7 -------------B7 五、發明説明(22 )
>4^2.5克2,3,4,4’-四羥基二苯甲酮,6〇克I〗·二疊氮化 奈2 - 5 -磺醯基氯及3 〇 〇亳升丙酮加至三頸燒瓶中並攪拌 以侍一落液。將2· 5克三乙基胺緩慢且逐滴加至溶液中, 然後在室溫下將如此得到之反應物攪拌4小時。之後,進 灯合成1所述之相同程序,得5 〇克2,3,4,4,·四羥基二苯甲 酮之酯化產物,即第—光敏化合物E-1。 合成實例1 〇 P將2.5克2,3,4,4’_四羥基二苯甲酮,6.〇h,2-二疊氮化 莕= -4-磺醯基氯及3〇〇毫升丙酮加至三頸燒瓶中並攪拌 以得一溶液。將2.5克三乙基胺緩慢且逐滴加至溶液中, 然後在室溫下將如此得到之反應物攪拌4小時。之後,進 行合成1所述之相同程序,得5 3克2,3,4,4'四羥基二苯甲 酮之醋化產物’即第一光敏化合物E _ 2。 比較合成實例1 將2.3克2,3,4_三經基二苯甲酉同,6〇克u-二叠氮化苯 醌-5 -磺醯基氯及3 〇 〇毫升丙酮加至三頸燒瓶中並攪拌: 得-溶液。紅5克三乙基胺緩慢且逐滴加至溶液中,炊 後在室溫下將如此得到之反應物攪拌4小時。之後,進二 -27-
1226512 五、發明説明(23 ) 合成I所述之相同程序,得4, 醋化產物F-1。 一丰甲酮< 比較合成實例2 :广二Ϊ2其3广二以二苯甲’,6·°克1,2-二疊氮化萘 二二…及3 00毫升丙酮加至三頭燒瓶中娜 ::㉟2 ·5克二乙基胺緩慢且逐滴加至溶液中,然 ^至/獄下將如此得到之反應物攪捽4小時。之後,進杆 合成1所述之相同程序,得5 ()克2,认三 酯化產物F-2。 尽《f自 比較合成實例3 將^克2’4,4’_三經基二苯甲嗣,6〇克U•二叠氮化莕 ^ 醞基虱及3 00毫升丙酮加至三頸燒瓶中並攪拌以 得一溶液。將2.5克三乙基胺缓慢且逐滴加至溶液十,然 後在1:溫下將如此得到之反應物攪摔4小時。之後,進行 合成1所述之相同程序,得5.98克2,4,4,·三羥基二苯甲酮 之酯化產物G-1。 比較合成實例4 將2.3克2,4,4,-三羥基二苯甲酮,6.〇克1,2_二疊氮化萘 醌-5-磺醯基氯及3 00毫升丙酮加至三頸燒瓶中並攪拌以 得一溶液。將2.5克三乙基胺緩慢且逐滴加至溶液中,然 後在室溫下將如此得到之反應物攪拌4小時。之後,進行 合成1所述之相同程序,得5.〇克2,4,4,_三羥基二苯甲酮之 酉旨化產物G - 2。 (酉分醛清漆樹脂之合成) -28 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) 1226512
發明説明 合成實例1 1 將5 0克m ·甲酚,4 〇克p _甲酚及丨2克2,3,5 _三甲基酚之 二組份之紛化合物與甲醛水在草酸作為觸媒之存在下縮合 而ί于驗;么性齡酸清漆樹脂。齡駿清漆樹脂之平均分子量為 6,000(換算為聚苯乙烯)。 (光阻組合物之合成) 實例1 將1.2克合成實例丨所製得第二光敏化合物Α4,克合 成貫例9所製得第一光敏化合物ε _丨及8克合成實例1 1所製 得驗〉谷性紛酸清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸乙酯與酯酸丁酯 以8.2重里比混合所得之溶劑混合物中。使用〇·2 #瓜膜滤 器’將如此所得產物過濾而得正光阻組合物。光阻組合物 中之固體含量為2 5 %,而組合物之黏度為28-32 cP。 實例2 將1.2克合成實例3所製得第二光敏化合物,〇·8克合 成貫例9所製得第一光敏化合物Ε _丨及8克合成實例丨2所製 得驗溶性紛酸清漆樹脂溶解於3〇克由乳酸乙酯與酯酸丁酯 以8 · 2重量比混合所得之溶劑混合物中。使用〇 · 2 #瓜膜滤 為’將如此所得產物過濾而得正光阻組合物。光阻組合物 中之固體含量為25%,而組合物之黏度為28-32 cP。 實例3 將1·2克合成實例5所製得第二光敏化合物C-1 , 〇·8克合 成實例9所製得第一光敏化合物Ε _丨及8克合成實例丨丨所製 得鹼溶性酚醛清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸乙酯與酯酸丁酯 -29- 本紙張尺度適用中國國豕標準(CNS) A4規格(210X297公复) "" ' '" 1226512 A7 , ------Β7___ 五、發明説明(25 ) 以8 : 2重量比混合所得之溶劑混合物中。使用〇·2 #⑺膜濾 斋’將如此所得產物過濾而得正光阻組合物。光阻組合物 中之固體含量為25%,而組合物之黏度為28-32 cP。 實例4 將1 · 2克合成實例7所製得第二光敏化合物D-丨,〇.8克合 成貫例9所製得第一光敏化合物e _丨及8克合成實例丨丨所製 得驗落性紛駿清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸乙酯與醋酸丁酯 以8 : 2重量比混合所得之溶劑混合物中。使用〇·2 # m膜濾 為’將如此所得產物過濾而得正光阻組合物。光阻組合物 中之固體含量為25%,而組合物之黏度為28_32 cP。 實例5 將1 · 2克合成實例2所製得第二光敏化合物a-2,0.8克合 成貫例9所製得第一光敏化合物e _丨及8克合成實例1 1所製 得驗溶性紛酸清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸乙酯與醋酸丁酯 以8 ·· 2重量比混合所得之溶劑混合物中。使用〇·2 #瓜膜濾 器’將如此所得產物過濾而得正光阻組合物。光阻組合物 中之固體含量為2 5 %,而組合物之黏度為28-32 cP。 實例6 將1.2克合成實例2所製得第二光敏化合物a-2,0.8克合 成貫例1 0所製得第一光敏化合物E - 2及8克合成實例1 1所 製得驗溶性齡酸清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸乙酯與醋酸丁 酉旨以8 ·· 2重量比混合所得之溶劑混合物中。使用〇 2 #爪膜 滤器’將如此所得產物過濾而得正光阻組合物。光阻組合 物中之固體含量為25%,而組合物之黏度為28-32 cP。 -30- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(21〇χ 297公釐) 1226512 A7 B7 五、發明説明(26 實例7 將1 . 2克合成實例5所製得第二光敏化合物c-1,0.8克合 成實例9所製得第一光敏化合物e _丨及8克合成實例1 1所製 得驗溶性酚醛清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸乙酯與醋酸丁酯 以8 : 2重量比混合所得之溶劑混合物中。使用〇·2 # m膜濾 器’將如此所得產物過濾而得正光阻組合物。光阻組合物 中之固體含量為2 5 %,而組合物之黏度為28-32 cP。 實例8 將1 .2克合成實例5所製得第二光敏化合物c-1,0.8克合 成實例1 0所製得第一光敏化合物E - 2及8克合成實例1 1所 製得鹼溶性酚醛清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸乙酯與醋酸丁 酯以8 : 2重量比混合所得之溶劑混合物中。使用〇.2 // m膜 滤器’將如此所得產物過滤而得正光阻組合物。光阻組合 物中之固體含量為25%,而組合物之黏度為28-32 cP。 比較實例1 將2 · 0克合成實例1所製得第二光敏化合物a - 1及8克合 成實例1 1所製得鹼溶性酚醛清漆樹脂溶解於3 0克由乳酸 乙酯與醋酸丁 S旨以9 5 : 5重量比混合所得之溶劑混合物 中。使用0.2 # m膜濾器,將如此所得產物過濾而得正光阻 組合物。光阻組合物中之固體含量2 5 %,而組合物之黏度 28-32 cP ° 比較實例2 將2 · 0克合成實例2所製得第二光敏化合物A - 2及8克合 成實例1 1所製得鹼溶性酚醛清漆樹脂溶解於3 0克由乳酸 -31 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1226512 A7 ________B7_ 五、發明説明(27 ) 乙醋與醋酸丁醋以3 0 ·· 7 0重量比混合所得之溶劑混合物 中。使用0.2 // m膜濾器,將如此所得產物過濾而得正光阻 組合物。光阻組合物中之固體含量2 5 %,而組合物之黏度 28-32 cP 〇 比較實例3 將2 · 0克合成實例9所製得第一光敏化合物E-丨及8克合 成貫例1 1所製得鹼溶性酚醛清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸 乙醋與醋酸丁醋以3 0 : 7 0重量比混合所得之溶劑混合物 中。使用0.2//m膜濾器,將如此所得產物過濾而得正光阻 組合物。光阻組合物中之固體含量2 5 %,而組合物之黏度 2 8_3 2 cP 〇 比較實例4 將1.2克合成實例9所製得第二光敏化合物,〇 6克 合成貫例1所製得第一光敏化合物F _丨及8克合成實例丨丨所 製得驗溶性紛酸清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸乙酯與醋酸丁 酯以30:70重量比混合所得之溶劑混合物中。使用〇.2//111膜 /慮為’將如此所得產物過濾而得正光阻組合物。光阻組合 物中之固體含量2 5%,而組合物之黏度28-32cp。 比較實例5 將1 · 2克合成實例9所製得第二光敏化合物e _丨,〇 . 6克 合成實例3所製得第一光敏化合物及8克合成實例n 所製彳于驗落性紛酸清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸乙酯與醋酸 丁酯以20:80重量比混合所得之溶劑混合物中。使用〇.2#m 月吴濾為,將如此所得產物過濾而得正光阻組合物。光阻組 -32- 本紙張尺度適财® ®冢標準(CNS) A4規格(21〇x297公愛) 1226512
發明説明 一物中之固m含量25% ’而組合物之黏度28-32 cP。 比較實例6 知〇 · 2克合成實例1所製得第二光敏化合物a _丨,1 · 8克 合成實例9所製得第一光敏化合物E - 1及8克合成實例1 1所 氣得驗落性紛醛清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸乙酯與醋酸丁 酉旨以20:80重量比混合所得之溶劑混合物中。使用〇·2 # m膜 滤器’將如此所得產物過濾而得正光阻組合物。光阻組合 物中之固體含量25%,而組合物之黏度28-32 cp。 比較實例7 將1 · 8克合成實例!所製得第二光敏化合物a _丨,〇 · 2克 合成實例9所製得第一光敏化合物e _丨及8克合成實例1 i所 製得驗溶性紛駿清漆樹脂溶解於3 〇克由乳酸乙酯與醋酸丁 酯以20:80重量比混合所得之溶劑混合物中。使用〇.2#m膜 遽器’將如此所得產物過濾而得正光阻組合物。光阻組合 物中之固體含量2 5 %,而組合物之黏度28-32 cP。 (正光阻組合物之評估) 在晶片上形成光阻組合物之光阻圖案以評估實例i _ 8及 比較實例1 -7所製得之光阻組合物。 圖1 a至1 c為顯示利用上述光阻組合物形成圖案之方法的 概略剖面圖。請參閱圖1 a,實例丨_ 8及比較實例丨—7之一 所得之光阻组合物係利用旋轉塗覆器以轉動速為9〇〇_4,〇〇〇 rpm塗覆於矽晶片1 〇上以形成光阻劑層丨2。然後,在9 〇 °C之電熱板上,將光阻劑層1 2烘烤6 Ό秒。光阻劑層} 2之 厚度為1.3 # m。 -33- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 1226512 A7 B7 五、發明説明 29 ) 請參閱圖1 b,利用I -線1 4波長之步進器及光掩模(未示 出)使光阻劑層12選擇性暴露於具I-線波長(365 nm)之 光’然後在110°C之電熱板上烘烤60秒。 請參閱圖lc ’利用2.38%含水四甲銨化氫氧將光阻劑層 顯像1分鐘,然後使用水洗滌3 0秒並乾燥以除去光阻劑層 暴露之部份。具有開口部份1 6而暴露一部份之矽晶片i 〇 之光阻劑圖案1 2 a即告形成。 利用掃描電子顯微鏡檢驗實例1 - 8及比較實例丨_ 7所形成 的光阻劑圖案以評估光阻劑圖案l2a。結果與光阻組=物 之特徵一起顯示於表1。 表1
光敏化合物 相對敏感度 殘餘比(%) 圖案輪廓(θ) :办、Si: «ί 金办 L.1 實例 1 (A-1)+(E-1) 1.7 100 89 135 /令及穩疋性 〇 號碼 2 (B-1)+(E-1) 1.6 100 88 135 〇 3 (C-1)+(E-1) 1.8 100 89 135 〇 4 (D-1)+(E-1) 1.5 99.5 87 130 〇 5 (Α-2)+(Ε-1) 1.7 100 89 135 〇 6 (A_l)+(E-2) 1.7 100 89 135 〇 7 (C-1)+(E-1) 1.8 100 89 135 〇 8 (C-l)+(E-2) 1.8 100 89 135 Γ\ 比較實 1 (A-l) 2.4 99 86 115 χ 例號碼 2 (A-2) 2.4 98 86 115 X 3 (E-l) 1.0 93 82 120 χ 4 (E-1)+(F-1) 0.8 92 80 125 △ 5 (E-1)+(G-1) 1.4 95 83 125 △ 6 (A-1ME-1) 1.2 94 82 125 Λ 7 _(A-1)+(E-1) 2.2 98 85 115 LS Δ 裝 訂
-34- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1226512 A7
閾此(Eth)設足於κο時之相對值表示。 殘餘比(%)表示光阻劑層在未暴 露部份之比。 路#_像後留在未暴 耐姓刻圖案輪扉)之形狀係以在⑽m圖案剖面中耐 姓刻層相對於晶片平面之角度表示。 耐熱性係以石夕晶片±所形成的1〇〇 _厚耐姓刻層在電熱 板上烘烤5分鐘時電熱板之溫度表示。 溶液穩定性係以正光阻組合物在其於3 〇它下儲存丨2 〇天 後之改變程度(敏感度,沉澱物之量)測試。表1中,〇代 表良好,△代表普通及X代表差。 從表1可看出,使用實例i _8之光阻組合物所形成的圖 案,其耐蝕刻層之形狀為8 5度或以上且具良好輪廓。相反 的’比較實例3僅包括第一光敏化合物及比較實例丨及2僅 包括第二光敏化合物之光阻組合物之耐蝕刻層形狀及耐熱 性皆較實例1 - 8之組合物者為差。再者,比較實例丨_ 3之 組合物之溶液穩定性也不理想。 就包括第一光敏化合物與習知光敏化合物之光阻組合物 如比較實例4及5而言,其耐蝕刻層之輪廓很差且耐熱性及 溶液穩定性皆不理想。 同時,就根據比較實例6具有過量第一光敏化合物之組 合物而言,其相對敏感度,殘餘比,圖案輪廓、耐熱性及 溶液穩定性皆不理想。就根據比較實例7具有過量第二光 敏化合物之組合物而言,其相對敏感度據測定為良好。然 -35-本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4规格(210 x 297公釐) 1226512 五、發明説明(31 而,耐熱性據測定為不理想且溶液敎性也普通。 因此,利用實例"之光阻組合物所形成之圖案之殘餘 比’耐熱性及溶液穩定性據測^俱較比較 二 物者為佳。 4 a 光阻劑層之厚度為i 3 " m。蚀二 ,^ 0 A .3/Zm。然而,本發明人等已經由形 成具有實際適用厚度為15鼻33,_又之光阻劑層實現; 具有相同咼品質輪廓之光阻劑圖案。 如上所述,根據本發明之光阻組合物具有高度之良好解 析度’耐熱性及溶液穩定性。因&,與習知組合物相比, 本發明組合物可儲存更長時間,而所得之圖案具有優異之 輪廓。此外’本組合物可應用具有各別G·線波長及卜線波 長< H ®此’光源可隨場合需要任意選擇。利用本 發明之組合物形成圖案時,光源可根據不同製造條件加以 選擇S此’現有的習用設備即可利用,此代表可獲得高 生產率。 發明之真正精神及範圍下, 相當物 〇 圖式元件符號簡單說明 10 矽晶片 12 光阻劑層 12a 光阻劑圖案 14 I-線 16 開口部分 雖然本發明已參照所附具體例詳細說明,但在不偏離本 -36 - t紙張尺度適用中國國Μ規格(2ι〇χ撕在--

Claims (1)

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或烷基,及n3代表^^2)。 2.如2請專利範圍第1項之光阻組合物,其中該第一光敏 田=物為至少一種自2,3,4,4,-四經基二苯甲酮之12-二 豐虱化蓁醌_4-磺酸酯,2,3,4,4、四羥基二苯甲酮之 $氮化莕醌_5 -磺酸酯及2,3,4,4,-四羥基二苯甲 •、,—宜氮化奈酉此_ 6 - ♦故@旨所組成之族群中所撰 出者。 3·如2請專利範圍第1項之光阻組合物,其中該第二光敏 # a物為至少一種自具3或4値單經基烷基苯環之非-二 *甲S同之1,2 -二疊氮化審醜_ 4 _橫酸酯,具3或4個單經 ^燒基苯環之非-二苯甲酮之二疊氮化莕醌磺酸 ^及具3或4個單羥基烷基苯環之非-二苯甲酮之1,2 -二 i氮化茶醌-6 -磺酸酯所組成之族群中所選出者。 •如申凊專利範圍第1項之光阻組合物,其中該適用於該 正光阻劑之樹脂為酚醛清漆樹脂。 5. 如申凊專利範圍第4項乏光阻組合物,其中該酚醛清漆 樹脂係藉酚化合物與醛化合物在酸式觸媒下縮合而製 得’且具聚苯乙烯換算平均分子量為100()-2,000。 6. 如申凊專利範圍第5項之光阻組合物,其中該酚醛清漆 樹脂係藉m -甲酚,p -甲酚及2,3,5-三甲基酚之酚化合物 與甲酸在草酸為觸媒之存在下縮合而製得,且具聚苯乙 缔換算平均分子量為5,000-7,000。 7. 如申请專利範圍第1項之光阻組合物,其中該溶刻為乳 §乂乙醋’醋酸丁酯或該乳酸乙酯與該醋酸丁酯以混合比 為8 0 : 2 0 - 3 0 : 7 0重量比混合之混合物。 -2 - G張尺度適"^^家標準(CNS) A4規格—公董)
裝 訂
1226512 A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 8·如申請專利範圍第丨項之光阻組合物,其中該光阻組合 物中之固體含量為20-40重量%,以該光阻組合物之總量 為準。 9·如申請專利範圍第1項之光阻組合物,其中該第一及第 一光敏化合物之量為10-1〇〇重量份,以該適用於該正光 阻劑之樹脂1 0 0重量份為準。 10·如申請專利範圍第i項之光阻組合物,其中該(丨)之第一 光敏化合物之酯化比為4-100%,及該(2a)或(2b)之第 二光敏化合物之酯化比為2〇_9〇 %。 11.如申請專利範圍第丨項之光阻組合物,其中該光阻組合 物之黏度係在28-32 cP之範圍内。 12· —種製造光阻組合物之方法,包括下列步驟: 尸1)藉由進行結構(1 ’)所代表多元醇化合物與丨,2 -二疊 氮化莕醌磺醯基氯,丨,2_二疊氮化萘醌-5-磺醯基氯 或1,2 -二疊氮化莕醌_ 6 _磺醯基氯間之酯化反應製備如 結構(1 )所代表之一光敏化合物; 11)藉由進行結構(2 a ’)或(2 b,)所代表之多元醇化合 物與1,2 -二疊氮化莕醌_ 4 _磽醯基氣,丨,2 -二疊氮化苯 醌-5-磺醯基氯或丨,2_二疊氮化審醌_6_磺醯基氣間之酯 化反應製備如結構(2 a)或(2 b )所代表之第二光敏化合 物;及 "0扣由30-70重量。/。第一光敏化合物與7〇_3〇重量 %第二光敏化合物混合所得之光敏物料及適用於正光阻 劑之樹脂溶於溶劑中, -3· 本紙張尺度適用巾國國家標CNS) A4規格(21〇χ挪公褒)-—- 1226512 8 8 8 8 A B c D 六、申請專利範圍
o=c (OR2)«2 ⑴
(〇H)«2 (if)
n3
X2a X2b W •c
Xla C 0R4 Xld OR4 Xlb (2b)
OR3 (2b’)
-4 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1226512 A8 B8
1226512 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 " 氯或1,2 -二疊氮化萘醌-6 _磺醯基氣之物丨_ 5莫耳倍。 17·,申請專利範圍第丨2項之方法,該適用於該正光阻劑之 樹脂係藉m-甲酚,p-甲酚及2,3, 5_三甲基酚之酚化合 物與甲趁縮合而製得之酚醛清漆樹脂。 18· —種形成之圖案之方法,包含下列步驟: 在基材上形成光阻劑層,即以具有由3 〇重量%結構(i) 所代表第一光敏化合物與70-3〇重量%結構(2a)或(2b) 所代表第二光敏化合物混合所得之光敏物料,適用於正 光阻劑之樹脂及溶劑之光阻組合物塗覆基材; 利用光源使光阻劑層暴露;及 藉由使暴露之光阻劑層顯像而形成光阻劑圖案,
OR4 Xld 」n3
(在結構(1)中,心及心獨立為氫原子,丨,2_二疊氮
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六、申請專利範園 化莕醌-4 -磺醯基,2 _二疊氮化萘g昆 w 々醯基或 1,2 -二疊氮化莕醌_ 6 _磺醯基且不可同時為氫原子,〆 及112代表〇,1,2或3且不可同時為〇, η】 在結構(2 a)及(2b)中,&,以及1獨立為氫原予, I,2-二疊氮化莕醌·4·磺醯基,二疊氮化莕醌巧一 磺醯基或1,2_二疊氮化莕醌-6_磺醯基且不可同時為氫 原子Xla Xlb Xlc、Xld、X〗a、X2b及X2c獨立為氫原子 或烷基,及η 3代表1或2 ) D 19.如申請專利範圍第18項之方法,其中該光源產生的光具 有365 nm波長。 20·如申請專利範圍第i 8項之方法,其中該組合物之黏度係 在28-32 cP之範圍内,該基材之轉動速度係在9〇〇_4,〇〇〇 rpm之範圍内及該光阻劑層之厚度係在ι5,〇〇〇_33 ,〇〇〇A 之 範圍内。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 告木 丨以修5 L1_L補充 申請曰期 案 號 089105938 類 別 6。务卜公 (以上各欄由本局填註) 1226512 A4 C4 中文說明書替換本(93年9月) ί1專利説明書 -、當!名稱 中文 光阻組合物,其製法及使用其於半導體操作中形成圖案之 方法 英文 "PHOTORESIST COMPOSITION, PREPARATION METHOD THEREOF AND METHOD FOR FORMING PATTERN IN SEMICONDUCTOR PROCESSING USING THE SAME" 姓 名 1.金永虎 3.全相文 2.鄭會式 4.李富燮 國 籍 1.2.3.4.均南韓 發明 創作 人 住、居所 姓 名 (名稱) 國 籍 1·大韓民國京畿道水原市八達區靈通洞碧山ApT. 331-901 2.大韓民國$城市瑞草區瑞草丨洞現代 3 ·大韓民國京畿道城南市盆唐區九美洞LG APT. 205-1802 4.大韓民國仁川市西區佳佐洞472-2 韓商三星電子股份有限公司 南韓 % ti 三、申請人 大韓民國京畿道水原市八達區梅灘洞416番地 尹鍾龍
Igi
申請專利範圍 1· 一種光阻組合物,包含藉由3 0-7 0重量%結構(1)所代表 ^ —光敏化合物與70- 3 0重量%結構(2a)或(2b)所代表 第二光敏化合物混合所得之光敏物料,適用於正光阻劑 之樹脂及溶液,
〇R4 ld OR4 氮 或 η 氫 子 (在結構(1)中,Rl及尺2獨立為氫原予,丨,2_二疊 化萘醌-4-磺醯基,;ι,2_二疊氮化萘醌·5_磺醯基 1 ’ 2 -二疊氮化茶|昆_ 6 -續g盘基且不可同時為氫原子 及η?代表〇, 1,2或3且不可同時為〇 , 在結構(2a)及(2b)中,獨立為氫原子 1,2-二疊氮化莕醌-4-磺醯基,;!,2_二疊氮化苯醌 磺醯基或1,2-二疊氮化莕醌-6-磺醯基且不可同時為 原子,Xla、xlb、xlc、xld、X2a、X,x2c 獨立為氫原
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