TW552427B - Enhanced loopback testing of serial devices - Google Patents

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552427 A7 ________B7___ 五、發明說明（（） 發明之領域 本發明大致係關於用於電子元件之自動測試設備，且 特別地係關於包含串列通訊埠之電子元件的自動測試。 發明背景 當電子元件變成越來越複雜時，係需要較多的導線以 形成不同元件之間之連接。因此，電路板之佈局及設計已 經變成更複雜。當串列通訊璋允許裝置使用比平行裝置少 很多的線路作通訊時，該些串列通訊璋提供對於此複雜性 之部分補償。串列璋藉由兩條線而通訊，一條用於傳送資 料而另一條用於接收資料。這些線可以是單端的（亦即一 個對於接地之參考訊號）或差動的（亦即兩個互補之訊號 ，兩個訊號皆不接地）。爲了以可與平行埠比較之速率之 下轉移資料，串列埠傾向於在比平行璋高很多之速率之下 操作。目前串列璋係於資料速率達到數個GHz之下操作。 串列埠對於自動測試設備係具有特別的需求。舉例而 言，一般而言，串列璋能夠同時傳送及接收資料。爲了完 整地測試串列埠，該測試器本身應該能夠同時傳送及接收 資料。串列璋亦能夠於不同的速率之下傳送及接收資料， 其之意義係爲：該測試器應該能夠於不同的速率之下操作 。或許更有意義的係爲：串列埠傾向於於相當高之速率之 下操作，該_率係遠快於在傳統之測試器中操作之接腳電 子元件。 廣義來說，用於測試串列埠之技術係落入三個類別： 全功能數位測試、演算法測試及迴歸測試。全功能數位測 ____4_ ^&尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐) 552427 A7 ______B7 __ 五、發明說明（Υ ) 試係採用複雜之以樣式爲基礎之設備，用以產生串列之刺 激元’且用以監視串列反應。這些設備典型地係高速之下 操作’其係足夠快以用於測試大部分的串列埠，且提供對 於訊號之時序及其振幅之許多控制。雖然其係有彈性的且 有能力的’但是全功能數位設備易於變成成本高且需要長 的發展時間。全功能數位設備之範例係爲包含該Gazelle™ 及超尚速串列接腳（Super Speed Serial Pin™)，上述兩者 皆係由麻薩諸塞州波士頓之泰瑞丹公司（Teradyne，lnc.) 所產生。 演算法測試傾向於比全功能數位測試便宜。演算法測 試係牽渉到根據複數個預定之演算法之一而產生串列位元 流’且監視串列反應，以確保其係匹配期望之反應於該串 列朿！J激7U之上。刺激元能夠根據許多演算法之樣式而被配 置’舉例而言爲虛擬隨機樣式、前進樣式（前進一個“ 1 而穿越“〇”之區域）、交替位元樣式及許多其他之樣 式。雖然演算法測試係比全功能測試價格便宜，但是該演. 算法測試亦係比較不周全。舉例而言，該演算法測試一般 而言係無法控制傳送至一串列埠之個別邊緣之置放。因爲 演算法測試係使用一有限組之樣式，演算法測試亦無法測 試個別元件之特別的電路。 迴歸測試係爲測試串列埠之最簡單且或許爲最受歡迎 之方式。迴歸測試係牽涉到連接一個串列埠之傳送線回到 其自己之接收線。然後，該裝置係傳送一已知之串列資料 樣式。〜旦該資料被傳送，該測試器監視該裝置之低速接 ^^尺1 適票準(CNS)A4 規格(21。X 297 Vil ' (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------. 552427 A7 __B7 _ 五、發明說明（j ) 腳，該些低速接腳係具有根據該傳送及接收線之正確操作 之狀態，以決定是否該測試通過或失敗。 迴歸測試係相當方便的。該用於一串列埠之測試設備 僅係需要一用於連接該傳送線至該接收線之導線。該測試 器不傳送串列資料亦不接收串列資料。然而，吾人係體認 到，此方便係付出周全性之代價。因爲該串列璋係以其傳 送資料之速率之下接收資料，迴歸測試並不分別測試，一 個串列埠之該傳送線能夠於不同於該接收線之速率之下操 作。因此，該測試器無法偵測於一元件之同步化電路中之 內部缺陷。吾人亦係體認到，因爲該測試器不直接產生串 列位元流，該測試器無法測P串列璋對於有缺陷之輸入訊 號之容許偏差。這些有缺陷之輸入訊號係包含具有振幅錯 誤、失真及時序抖動之輸入訊號。該測試器係無法直接測 試該串列璋之輸出訊號，，以確保該些串列璋之輸出訊號具 有正確之振幅及時序特性。 此外，迴歸測試之方便係對於達成低成本串列埠測試 提供重要的保證。然而，所需的是加強迴歸測試之彈性及 測試範圍，而不大幅增加其成本。 發明槪要 由上述之背景，本發明之一個目的係爲完整地且以相 當低之成本測試串列埠。 爲了達成上述之目的及其他目的及優點，係採用一種 加強型迴歸技術以測試串列埠。該技術係包含一個接收器 及一個傳送器，該收器及該傳送器之每一個係具有一個輸 _6.__ _ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公爱) " " (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) --------訂·--------· 552427 A7 ________B7_ 五、發明說明（〜） 入端及一個輸出端。該接收器於其輸入端接收由一個串列 埠之該傳送線而來之一個測試訊號。該傳送器係由其輸出 端提供一個測試訊號至該串列璋之該接收線。該接收器之 該輸出端係連接至該傳送器之該輸入端，以用於建立一個 迴歸連接。 根據本發明之一個變化，該接收器之該輸入端係連接 至一個參數測量電路，以用於估計該串列埠之該接收線之 穩態特性。 根據本發明之另一個變化，該接收器之該輸出端係連 接至一個時間測量電路，以用於測量於該串列埠之該傳送 線處所產生之該測試訊號之時序特性。 根據本發明之又一個變化，一個時間失真電路係設置 於該接收器之該輸出端及該傳送器之該輸入端之間，以用 於在提供至該串列璋之該接收線之前提供預定之時序失真 至該測試訊號。 根據本發明之又一個變化，一個選擇器係設置於該接 收器之該輸出端及該傳送器之該輸入端之間，以用於在該 接收器之該輸出端及一個直接輸入端之間作選擇，其中， 該直接輸入端係提供一個不同於由該接收器所接收之該測 試訊號之預定串列位元流。 圖示簡單說明 由後續之說明及圖示，本發明之其他目的、優點及特 色將變成明白的，其中： 第1圖係顯示一個根據先前技藝之傳統測試器結構； _______2____ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 552427 A7 _B7_ 五、發明說明（S ) 第2圖係顯示一個根據本發明之用於測試串列通訊璋 之加強型迴歸裝置；及 第3圖係顯示使用示於第2圖之該加強型迴歸裝置之 用於測試串列通訊埠之流程圖。 〔元件符號說明〕 10 0 自動測試系統或測試器 110 主電腦 12 0 控制匯流排 12 4 數位設備 12 6 類比設備 12 8 電源供應器 13 0 線 14 0 接點 14 2 受測元件 2 0 0 加強型迴歸設備 2 4 0 接點 2 4 2 受測元件 2 5 0 繼電器 2 5 2 繼電器 2 5 4 電阻器 2 5 6 電阻器 2 5 8 接收器 2 6 0 差動放大器 2 6 2 比較器 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

i n m ϋ 一 · ϋ n n I ι_ϋ n n I 552427 A7 B7 五、發明說明 (^ ) 2 6 4 比較器 2 6 6 計時器/計數器 2 6 8 時間失真電路 2 7 0 選擇器 2 7 2 傳送器 2 7 4 電阻器 2 7 6 電阻器 2 7 8 繼電器 2 8 0 繼電器 2 8 2 參數測量單元 2 8 4 電感器 2 8 6 電感器 2 8 8 電感器 2 9 0 直接輸入端 較佳實施例之詳細說明 傳統測試器之結構 第1圖係一個用於一自動測試系統或測試器之傳統結 構1 0 0之高度簡化圖。一個主電腦係使用許多電子硬體 而執行一用於測試一受測元件1 4 2之程式。該硬體一般 而言係包含數位設備1 2 4、類比設備1 2 6及電源供應 器1 2 8。 該電子硬體係透過複數條線1 3 0及個別的接點1 4 0而連接至該受測元件1 4 2。該些接點1 4 0 —般而言 係包含由該測試器延伸而來之裝有彈簧之接腳。該些接腳 --- -2__ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 552427 A7 ___B7___ 五、發明說明（"I ) · 能夠是單端或同軸的。該受測元件1 4 2係置放於一個元 件介面板之上。該元件介面板一般而言係包含導電的焊接 墊，該些焊接墊係配置成匹配由該測試器延伸而來之該些 裝有彈簧之接腳之圖樣。該些接腳係與該些焊接墊接觸， 以形成該測試器及該受測元件1 4 2之間之連接。 該數位設備1 2 4典型地係包含：舉例而言，時脈產 生器、串列測試設備及平行測試設備。該類比設備1 2 6 典型地係包含：舉例而言，一或多個參數測量單元，以用 於測量電路節點之直流特徵，及一個或多個定時器/計數 器，以用於測量電路節點之時序特徵。其係亦可以包含許 多其他用於產生及分析波形之設備，以用於測試該受測元 件1 4 2。透過一控制匯流排1 2 0，該主電腦1 1 〇係 與該電子硬體通訊且控制該電子硬體，以用於根據於該測 試程式中之指令而測試該受測元件1 4 2。 拓樸及操作 第2圖係圖示根據本發明之用於實施加強型串列捧之 迴歸測試的加強型迴歸設備2 0 0。較佳地，該加強型迴 歸設備2 0 0係實施爲一數位設備，且係與其他數位設備 1 2 4裝設於該測試器1 〇 〇之內。 如不於第2圖，該加強型迴歸設備2 〇 Q係包含一個 接收器2 5 8。該接收器2 5 8係配置成透過接點2 4 0 而連接至一個受測元件2 4 2之一個傳送線。 該加強型迴歸設備2 0 0亦包含一個傳送器2 7 2。 該傳送器2 7 2係配置成透過額外的接點2 4 〇而連接至 ______1Q_— ____ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐) 一 -- ---------------------^---------線. (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 552427 A7 ____B7 _ 五、發明說明（3 ) 該受測元件2 4 2之一接收線。如下文更詳細地敘述’該 接收器2 5 8之該輸出端能夠連接至該傳送器2 7 2之該 輸入端，以提供該受測元件2 4 2之迴歸測試。 於該較佳實施例之中，該接收器2 5 8係包含一個差 動放大器2 6 0 ’其建構成用於由該受測元件2 4 2而來 之一個差動訊號。該差動放大器由該傳送線而來之該差動 訊號成爲一個單端訊號。比較器2 6 2及2 6 4係分別比 較該單端訊號及可程式規劃的臨限値V〇j>H及，以決 定是否該單端訊號係超過該些可程式規劃的臨限値V0D_H 及V0D-L。電阻器2 5 4及2 5 6 (典型係爲5 0歐姆）分 別連接該差動放大器2 6 0之輸入端至個別的端電壓 VtERM-H及VtERM_L。該些贿電壓Vterm-H及VteRM-L較佳地 係爲可程式規劃的。 該差動放大器2 6 0及該比較器2 6 2及2 6 4之組 合係產生一個差動比較器，亦即切換以回應於傳送線跨越 一或多個預定臨限値之下之該差動輸入電壓之一個比較器 。藉由提供兩個比較器2 6 2及2 6 4，不論該差動輸入 訊號（於傳送線處）何時跨越該兩個臨限値之一，該加強 型迴歸設備2 0 0能夠產生一個邊緣。此項特色能夠被使 用於，舉例而言，用於驗證一個元件之上升時間及下降時 間之規格，一般而言，其係不可能使用傳統迴歸測試。或 者，僅能使用一個比較器，其具有對應之較少之功能。 作爲另一個替代例，係能夠提供一組額外之比較器， 以檢查由該傳送線而來之訊號之該共模成分，以確保符合 ---- …_jj_______ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 552427 A7 ______^B7 五、發明說明（‘1 ) 該受測元件之規格。這些比較亦能夠用於偵測意圖強迫之 共模訊號，通常稱爲“快速作訊號”之訊號。此外，又另 一組之比較器係能夠提供用於個別地檢查由該傳送線而來 之該差動訊號之每一側，以確保每一側係分別符合該受測 元件之規格。 於該實施例中，該傳送器2 7 2係一個提供於高及低 電壓準位之間變化之互補輸出訊號的差動驅動器。這些分 別標示爲VID-H及vid_l之高及低準位係可程式規劃的，以 用於測試該傳送線對於具有不同電壓準位之輸入訊號之容 許偏差。電阻器2 7 4及2 7 6係連接由該傳送器2 7 2 所產生之訊號。 傳統之迴歸測試係遭遇無法於測量於一串列璋之該傳 送線中之抖動的問題。爲了克服此限制，該差動串較器之 輸出係連接至一個時間測量電路，諸如一計時器/計數器 2 6 6。該計時器/計數器2 6 6係能夠測量該傳送線之 抖動。該計時器/計數器2 6 6亦能夠單獨地測量其頻率 及其他特性。 該差動比較器之該輸出亦係連接至一個時間失真電路 2 6 8。爲了回應特定之因子，該時間失真電路2 6 8係 於由該傳送線而來之訊號回饋至該接收線之前，選擇性地 導入時序失真至由該傳送線而來之訊號之中。於一個模式 之中，該時間失真電路2 6 8係具有導引抖動至該接收線 之效果。藉由增加抖動至該接收線之中並監視該元件之反 應（亦即，是否其正確地接收由該傳送線所提供之資料） 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） --------1--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

552427 A7 _________B7___ 五、發明說明（^ ) ’該接收線對於抖動之容許偏差係能夠被單獨地測試出。 根據該較佳實施例，該時間失真電路2 6 8係包含一 個選擇器，一個轉換速率限制電路及一個高速比較器。該 選擇器選擇該比較器2 6 2及2 6 4之一之輸出，以用於 輸入至該轉換速率限制電路，且該轉換速率限制電路轉換 一個於該選擇出之輸入之邊緣成爲一個斜坡訊號。該斜坡 訊號係饋入至該高速比較器之一個第一輸入端，且一個臨 限訊號係饋入至一個第二輸入端。爲了導入抖動，一個特 疋里之電壓雜β係相加至該臨限訊號之上。該比較器轉換 該電壓雜訊成爲時序雜訊或抖動。 其他形式之時間失真係可能的。舉例而言，藉由改變 該臨限電壓之該直流値，由該選擇出之比較器輸出端而來 之輸入訊號係能夠被相移的。藉由加上一個週期性的波形 ，該輸入訊號係能夠被調變。藉由提供一個穩定的臨限電 壓，該輸入訊號實質上係未失真而通過。 該加強型迴歸設備2 Q 〇亦係包含一個選擇器2 7 0 。該選擇器2 7 0係於該主電腦1 1 〇之控制之下操作。 該選擇器2 7 0通過至其輸出端的不是該時間失真電路2 δ 8之輸出即是一個由一直接輸入端2 g 〇而來之訊號。 假如該選擇器2 7 0通過該時間失真電路2 6 8之輸出， 則建立一個迴歸結構。然而，假如該選擇器2 7 〇通過由 該直接輸入端2 9 Q而來之訊號，則該迴歸連接係中斷， 且該傳送器2 7 2係由該直接輸入訊號所驅動。 該直接輸入端2 9 0係傳送一串列不同於由該受測元 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ---— III I .1 — I — II--

552427 A7 _____B7_ 五、發明說明（） 件2 4 2之該傳送線所產生之位元流。該直接輸入端2 9 0係包含不同於由該傳送線所傳送之資料的資料’且可以 於一不同於該傳送線之位元速率之下操作。於該較佳實施 例之中，該直接輸入端2 9 0係提供一個1及0之簡單演 算法樣式，例如一個虛擬隨機樣式或一個交替之“1〇1 〇，，樣式，其係能夠於一可變時脈速率之下產生。藉由方令 不同之速率下胃供與ώ該傳送,線所產I之不同的資# ’胃 直接輸入端2 9 0係塡補迴歸測試之涵蓋度的間隙’ 言午_串列璋之該接收線與該傳送線分開測試。 第2圖之該加強型迴歸設備2 0 0亦包含一個參數測 量電路，諸如該參數測量單元2 8 2。該參數測量單元2 8 2係連接至該受測元件2 4 2之該傳送線及接收線’ & 對於該些線實施參數測試。如熟悉本項技藝人士所熟知’ 該參數測量單元2 8 2係包含用於強迫電壓、強迫電流' 測量電流及測量電壓之電路。其係用於測試元件之穩態 性，諸如漏電流、阻抗、輸出電流及順應電壓。提供一個 結合這些功能之參數測量單元2 8 2於該加強型迴 2 〇 〇之中，且進一步加強測試能力。 較佳地，該加強型迴歸設備2 0 0係包含開關’諸女13 繼電器2 50, 252, 278，280。爲了實施參數 測試，該些繼電器2 5 0 ’ 2 5 2 ’ 2 7 8 ’ 2 8 〇係開 路的，旦該參數測量單元2 8 2使用該傳送線及該接收線 。因爲該加強型迴歸設備2 0 0係與該受測元件2 4 2分 開，所以可以由該加強型迴歸設備2 0 0消除負載效應。 V紙狀㈣國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) « — III — — — 一5J·1111111». 552427 _________B7 _ 五、發明說明（\> ) 爲了實施串列測試，該些繼電器2 5 0，2 5 2，2 7 8，2 8 0係閉路的。於該較佳之實施例中，該參數測 量單元2 8 2係藉由電感器282，284，286，2 8 8而連接至該傳送線及該接收線。該些電感器2 8 2， 284, 286，28 8係避免提供用於連接及斷開該參 數測量單元2 8 2之開關之需求。該些電感器2 8 2，2 8 4，2 8 6，2 8 8之行爲係類似於對於高速串列位元 流之開路，且類似於對於直流參數訊號之短路。 除了該參數測量單元2 8 2及相關之該些電感器2 8 2, 284, 286, 288之外，較佳的情況爲，該加 強型迴歸設備2 0 0係包含連接高速訊號路徑之高速電子 元件。該電路可以使用一或多個特定應用積體電路而實施 ，或以高速分離之元件或者上述之組合。因爲該加強型迴 歸設備2 0 0係直接於一已經包含測試設備之自動測試設 備之中使用，所以假如資源已經於該測試系統中發現的話 ，該些資源係不需要於該加強型迴歸設備2 0 0中重複。 舉例而言，由泰瑞丹公司（Teradyne，Inc.)所生產之測試 器一般而言係包含一個個別的計時器/計數器及一個個別 的參數測量單元。其亦包含時脈產生器及其他平行數位設 備，其能夠用於產生一個用於該直接輸入端2 9 0之訊號 源。這些設備能夠用於結合該加強型迴歸設備2 0 〇，以 避免因於該加強型迴歸設備2 0 0中重複該些設備所引起 之成本。 測試方法 -____________ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 552427 A7 _____B7___ 五、發明說明（、'Ί ) 第3圖係一個圖示能夠於串列埠上以該加強型迴歸設 備2 0 0實施之測試步驟的流程圖。如該圖所示，不同的 測試能夠實施，且其實施之次序係並不重要。 於步驟3 1 0，該主電腦1 1 0導引該加強型迴歸設 備2 0 0測量直流參數。此步驟係使該些繼電器2 5 0， 252，278，28 0開路，且透過該些電感器2 8 2 ，284, 286, 28 8而測試該傳送線及該接收線， 且該加強型迴歸設備2 0 0之其餘部分係不連接的。於參 數測試結束時（或於串列測試開始前），該繼電器2 5 0 ，252，278，28 0係閉路的。 於步驟3 1 2中，該主電腦1 1 0係激勵該受測元件 2 4 2以傳送串列資料。因此，該受測元件2 4 2於其傳 送線上產生一串列位元流。該串列位元流係傳送至該差動 放大器2 6 0，且然後，至該比較器262及264。於 步驟3 1 4中，該計時器/計數器2 6 6測量由該些比較 器2 6 2及2 6 4所產生之訊號。如上所示’測量可以包 含抖動，頻率或其他於該傳送線上之特性。 於步驟3 1 6中，該主電腦1 1 0係讀取該計時器/ 計數器2 6 6之測量結果’以決定是否該測量出之特性係 於該特定限制之內。 不採用以該計時器/計數器2 6 6測量該傳送線之特 性之方式或除了以該計時器/計數器2 6 6測量該傳送線 之特性之外，亦能實施加強型測試。於步驟3 1 8中’一 個由該比較器2 6 2及2 6 4之一而來之訊號係饋送至該 本紙張尺度柳"規格（210公爱） 請 先 閱 讀 背 面 意 事 項

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552427 A7 ____B7___ 五、發明說明（> ) 時間失真電路2 6 8。根據特定之因子，該訊號係具有可 預測的失真，且透過傳送器2 7 2而回饋至該接收線。於 步驟3 2 4中，該主電腦1 1 0係記錄該受測元件2 4 2 ，以確認是否於該接收線上所接收到之串列位元流匹配於 該傳送線上傳送之串列位元流。該測試通過或失敗係根據 該反應。 此外，該比較器2 6 2及2 6 4之臨限値準位係能夠 被程式規劃成用於該傳送線之該受測元件的振幅規格之限 制値。該受測元件係如同上述一樣被監視。一個有效的訊 號僅傳送至該接收線，且僅當該受測元件符合該傳送線之 振幅規格時，該受測元件通過測試。 類似地’該傳送器2 7 2之輸出準位係能夠被程式規 劃成用於該接收線之該受測元件的振幅規格之限制値。該 受測元件係如同上述一樣被監視。一個有效的訊號僅傳送 至該接收線’且僅當該受測元件符合該接收線之振幅規格 時，該受測元件通過測試。不依賴或除了該測試元件提供 刺激，個別的刺激係能夠透過該直接輸入端2 9 0而提供 。於步驟3 2 0中，該主電腦1 1 〇係控制該選擇器2 7 0阻斷該迴歸訊號，且取而代之的是通過一個由該直接輸 入端2 9 0而來之訊號。一個演算法之樣式係被產生。於 步驟3 2 2中，該演算法樣式係施加至該受測元件之該接 收線。於步驟3 2 4中，該主電腦丨丨〇係詢問該受測元 件，以驗證該受測元件接收正確的資料。 上述之加強型迴歸技術係不昂貴且具有彈性。諸如該 --—---12_ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐）---- 552427 A7 -----— B7____ 五、發明說明（4 ) 計時器/計數器及參數測量單元之資源係已經存在於大部 分的測試系統’因而該計時器/計數器及參數測量單元之 功能能夠以極少成本或不需額外成本而被該加強型迴歸設 備結合使用。對於振幅誤差及抖動，一個串列璋之傳送及 接收線能夠被單獨測試。使用該直接輸入端，演算法樣式 能夠被使用於以由該傳送線而來之不同資料且於不同頻率 之下測試該接收線，因而提供該接收及傳送線之完全獨立 的測試。 替代實施例 已經敘述一個實施例，許多替代的實施例或變化能夠 完成。 如上所述，該計時器/計數器及參數測量單元係爲遠 距設備。然而，該計時器/計數器及參數測量單元係亦能 夠設置於本地。以些許增加之成本，該計時器/計數器及 參數測量單元係能夠被整合於該加強型迴歸設備2 0 0之 內，以提供一個更自我包含之設備。 該加強型迴歸設備2 0 0係已經敘述於上文成爲裝設 於一測試器之一或多個設備之內。然而，其之位置係可以 改變。或者，該加強型迴歸設備2 0 0能夠被置放於鄰接 該受測元件之該元件介面板之上，或者能夠被分割於該些 位置之間。根據又一個替代實施例，該加強型迴歸設備2 〇 〇可以設置於一個獨立之設備之內，其透過一個個別之 匯流排而與該主電腦1 1 0通訊，該匯流排舉例而言係爲 一 IEEE- 4 8 8 或 VXI 匯流排。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公爱） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ，裝--------訂--------

552427 A7 ____________B7__ 五、發明說明（A ) 一個單獨的加強型迴歸設備2 〇 〇係已於上文敘述。 或者，複數個加強型迴歸設備2 0 0係能夠被包含在一起 ，以用於測試複數個串列埠。該計時器/計數器及參數測 量單元係能夠於於該些不同之電路之間作切換，或者複數 個計時器/計數器及參數測量單元係能夠被提供。 上文所敘述之該加強型迴歸設備2 0 〇係允許一寬廣 範圍之測試。舉例而言，該差動比較器之該輸出端亦係能 夠連接至資料抓取設備（未示出）或平行的數位設備。這 些設備能夠處理由差動比較器而來之訊號，以用於額外的 測試，舉例而言，以取出編碼於由該受測元件2 4 2所產 生之串列位元流的資料。然後，該取出之資料係能夠被用 於，舉例而言，藉由該直接輸入而起始化該受測元件，以 用於後續之測試。 如上所述，該參數測量單元2 8 2係藉由電感器2 8 2 ’284 ’286, 28 8而連接至該傳送線及該接收 線。繼電器或其他開關假如適當地阻斷高頻串列位元流， 則亦能夠被使用。 上述之例子係採用一個差動接收器及一個差動傳送器 ’以用於與一受測元件之差動接收線及傳送線作通訊。然 而’此係非必要的。爲了測試單端串列璋，係能夠使用一 個單端接收器及一個單端傳送器。或者，係能夠使用上述 之差動接收器及一個差動傳送器，且該接收器之一個輸入 端係保持一常數電壓且該傳送器之一個輸出端係保持開路 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 請 先 閱 讀 背

訂

552427 A7 _ B7_ 五、發明說明（、Λ ) 這些替代例及變化以及其他例子之每一個係發明人所 考慮出的且意欲落入本發門之範疇之內。因此，應瞭解的 是，上述之敘述係爲例示性的，且本發明應僅限於後附申 請專利範圍之精神及範疇。 _ — _20 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐）

Claims (1)

1. 552427 Ab B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1·一種用於在自動測試設備中測試串列埠之電路， 其係包含： 一個接收器，其具有一個輸入端及一個輸出端，其用 於接收由一個串列埠之一傳送線而來之一個測試訊號·， 一個傳送器，其具有一個輸入端及一個輸出端，其用 於傳送一個測試訊號至該串列埠之一接收線，其中，該接 收器之該輸出端係連接至該傳送器之該輸入端，以用於建 立一個迴歸連接；及 .一個參數測量電路，其係連接至該接收器之該輸入端 ，以用於計算該串列埠之該傳送線之穩態特性。. 2·如申請專利範圍第1項所述之用於在自動測試設 備中測試串列埠之電路，其中，該參數測量電路係進一步 連接至該傳送器之該輸出端，以用於計算該串列埠之該接 收線之穩態特性。 . 3·如申請專利範圍第1項所述之用於在自動測試設 備中測試串列埠之電路，其進一步包含一個時間測量電路 ，其連接至該接收器之該輸出端，以測量由該接收器接收 之測試訊號的時序特性。 4·如申請專利範圍第1項所述之用於在自動測試設 備中測試串列璋之電路，其進一步包含一個時間失真電路 ，其設置於該接收器之該輸出端及該傳送器之該輸入端之 間，以用於導引預定時序失真至該測試訊號之中，以提供 至該串列埠之該接收線。 5·如申請專利範圍第1項所述之用於在自動測試設 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再塡寫本頁)

   干月 + C8 ___補九I 08___ 六、申請專利範圍 備中測試串列璋之電路，其進一步包含一個選擇器，其係 設置於該接收器之該輸出端及該傳送器之該輸入端之間， 以用於在該接收器之該輸出端及一直接輸入端之間作選擇 $ ’其中，該直接輸入端提供一個不同於該接收器所接收之 •該測試訊號之預定的串列位元流。 6·如申請專利範圍第1項所述之用於在自動測試設 備中測試串列埠之電路，其中，該接收器係包含一個具有 第一及第二可程式規劃之臨限値的差動比較器。 .7·如申請專利範圍第1項所述之用於在自動測試設 備中測試串列埠之電路，其中，該傳送器係包含一個具有 第一及第二可程式規劃臨限値的差動驅動器。 8·—種用於在自動測試設備中測試串列埠之電路’ 其係包含： . 一個接收器，其具有一個輸入端及一個輸出端，其用 於接收由一個串列埠之一傳送線而來之一個測試訊號； 一個傳送器，其具有一個輸入端及一個輸出端’其用 於傳送一個測試訊號至該串列埠之一接收線’其中’該接 收器之該輸出端係連接至該傳送器之該輸入端’以用於建 立一個迴歸連接；及 一個時間失真電路，其設置於該接收描^之該輸出贿及 該傳送器之該輸入端之間’以用於導引預定時序失真至該 測試訊號之中，以提供至該串列璋之該接收線。 9·如申請專利範圍第8項所述之用於在自動測試設 備中測試串列埠之電路，其進一步包含一個時間測量電路 2 本紙張尺度適时賴賴準(CNS)A4規格(21G X 297父愛） (請先閲讀背面之注意事項存塡窵本頁)

   修補 5日 1 ..月 6 92,年

   A8B8C8D8 552427 六、申請專利範圍 ，其連接至該接收器之該輸出端，以測量由該接收器接收 之測試訊號的時序特性。 10·—種用於在自動測試設備中測試串列埠之電路 ，其係包含： 一個接收器，其具有一個輸入端及一個輸出端，其用 於接收由一個串列璋之一傳送線而來之一個測試訊號； 一個傳送器，其具有一個輸入端及一個輸出端，其用 於傳送一個測試訊號至該串列埠之一接收線，其中，該接 收.器之該輸出端係連接至該傳送器之該輸入端，以用於建 立一個迴歸連接， 其中，該接收器係具有至少一個可程式規劃之輸入臨 限値，且該傳送器係具有至少一個可程式規劃之輸出準位 〇 11·如申請專利範圍第1〇項所述之用於在自動測 試設備中測試串列埠之電路，其中，該接收器係包含一個 差動比較器，且該傳送器係包含一個差動驅動器。 • 1 2 · —種於自動測試系統中測試受測元件之串列璋 的方法，其係包含下列步驟： (A)計算該串列埠之一傳送線及一接收線之至少一 個的穩態特性； (B )構成該受測元件，以產生一串列位元流； (C) 由該受測元件之該串列埠的該傳送線而來之該 串列位元流； (D) 傳送該接收到的串列位元流及一直接輸入之一 3 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格(210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再塡寫本頁)

   552427 A8B8C8D8正充修補 5日 I 6.月 讼年 六、申請專利範圍 至該受測元件之串列埠的該接收線；及 (E )監視該受測元件，以決定是否由該受測元件所 接收之該串列位元流係匹配一期望之串列位元流。 $ 1 3 ·如申請專利範圍第i 2項所述之於自動測試系 統中測試受測元件之串列埠的方法，其進一步包含：於步 驟D傳送該測試訊號至該受測元件之前，導引預定之時序 失真至於步驟C中所接收之該測試訊號之步驟。 1 4 ·如申g靑專利範圍第1 3項所述之於自動測試系 統.中測試受測元件之串列埠的方法，其中，該預定時序失 真係包含抖動。 15·如申請專利範圍第12項所述之於自動測試系 統中測試受測元件之串列埠的方法，其進一步包含：以一 時間測量電路測量於步驟.B中接收到之該測試訊號的至少 一個時序特性。 16·如申請專利範圍第12項所述之於自動測試系 統中測試受測元件之串列埠的方法，其中，於步驟c中， 該串列位兀流係以一具有至少一個輸入臨限値之電腦所接 收，且該方法係進一步包含程式規劃該至少一個臨値，以 測試是否該受測元件產生有效的輸出準位。 1 7 ·如申請專利範圍第1 2項所述之於自動測試系 統中測g式受測兀件之串列璋的方法，其中，該傳送之步驟 D係包含程式規劃該傳送出之訊號之準位，以決定是否該 受測元件於該程式規劃之準位下回應該輸入。 1 8 ·如申請專利範圍第1 2項所述之於自動測試系 4 (請先閲讀背面之注意事項再塡寫本頁) 、一一：°J 線 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格(210 X 297公釐) 552427

   申請專利範圍 統中測試受測元件之串列埠的方法，其中，該直接輸入係 包含演算法之輸入，該演算法之輸入係與於步驟c中所接 收之該串列位元流不同。 19·如申請專利範圍第18項所述之於自動測試系 統中測試受測元件之串列埠的方法，其中，該演算法輸入 係包含一個1及0之虛擬隨機序列及一個1及〇之交替序 列中之至少一個。 2 0 ·如申請專利範圍第1 2項所述之於自動測試系 統.中測試受測元件之串列埠的方法，其中，該直接輸入傳 送一具有不同於該傳送線之該串列位元流之頻率之頻率的 串列位元流。 (請先閲讀背面之注意事項再塡寫本頁)

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