TW550577B - High speed decoder for flash memory - Google Patents

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Description

550577 A7 B7 cc 而 五、發明説明 發明領域 本發明係關於快閃記憶體用之解碼器,且更特別關於 使用與-時間延遲設計組合的N则驅動器電路、來破定 有效率升壓操作的快速乂解碼器。 發明背景. 快閃記憶體傳統上由一陣列之浮接問極電晶體、或核 心胞70來組成,其被配置成方塊、且可藉由激勵陣列之一 特定字组線和一特定位元線來個別地定址。在一核心胞元 上的對應於針對該胞元、在4謂級上的一高導通臨界 電壓,而“1,,對應於2V等級上的一低導通臨界電壓。各胞 元之字組線被連接於其電晶體之控制閘極,且針對其位址 的位元線激勵其源極-汲極電路。藉由在其源極·汲極電路 被激勵時,把其字組線驅動至上述臨界電壓間的一電壓、 來讀取一胞元。若電流流通,則胞元含有一個“丨”;若不, 則它含有一個“0”。 傳統上,針對快閃記憶體的字組線驅動器電路已在 CMOS構圖中被執行。這些構圖用5V或更多之習用強健v 源來良好工作,其中寄生胞元電容並非一明顯考量。然 近來’一般增加的電子電路之微小化、特別是快閃記憶體 已導致3V等級上的較小vcc供應源。 由於此較低Vcc,需要使用一電壓提升電路、來把一 提升電壓提供於控制閘極。此一電路對載有寄生電容十分 敏感。係一CMOS驅動器之本質地,係泛在字組線的一 X解 碼器必須為低、使胞元被選取。結果,所有未選定胞元之 (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) -*· 4 550577 五、發明説明(2 字組線必須為高,其係載入升 電路、且使它慢下來的一 情況。因此對於快速操作,Μ u、, 功王在不载入升壓電路下、來 提供增加提升之方法。 發明之概要 本發明藉由提供使用舆使用驅動器電晶體之閘極電 容來提㈣外升壓的—時間延遲定址設計組合之NMOS電 晶體的字組線,來解決上述問題。 圖式之簡單描述 第1圖係顯示使用本發明的快閃記憶體之一部段的電 路圖; 第2圖係顯示本發明的字組線驅動器之電路圖; 第3圖係使用在本發明中的_升壓電路之電路圖; 第4圖係在本發明中的一泛在X解碼器之電路圖; 第5圖係字組線閘極驅動器之電路圖; 第6a和6b圖係使用在本發明tfVx解碼器之電路 圖;及 第7圖係說明在操作本發明中遭遇的波形之一組時間_ 幅度圖。 整佳實施例之詳細描沭 第1圖說明一典型快閃記憶體10。記憶體1〇習用上配 置成含有例如一陣列之8x8核心胞元、或浮接閘極電晶體14 的方塊12。各方塊12包括其輸入係一正數泛在字組線 PGW、一負數泛在字組線NGW、和(在第!圖中)八條垂直 字組線AVW〇至AVWy的一局部X解碼器16。局部解碼器16 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格⑵狀撕公蒼)
.«- .訂— (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 550577 A7 _B7___ 五、發明説明(3 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 之輸出係字組線WL〇至WL7,其各用為針對方塊12中的一 水平列之核心胞元14的字組線。一給定水平列之個別核心 胞元14係由使位元線電晶體YG至Y7的一選定者導通來定 址。 第2圖顯示根據本發明的局部X解碼器16之細節。對於 第1圖之8x8方塊,有八個驅動器20〇至207、來產生字組線 信號WL〇至WL7。各個驅動器由一串接對組之η電晶體22、 24和-字組線閘極η電晶體26來組成。電晶體26之控制閘極 被連接至一字組線閘極信號WLG,其產生與第5圖連結地 被描述於下。 若如WL〇的一局部字組線要被選取,則PGW和WLG將 為高、且NGW將為低。若AVWL〇在那些情況下由低變高, 貝4 WL〇將變高至AVWL〇位準。AVWL〇、WLG和PGW最佳由 如說明於第3圖中者的一提升電壓源VBST來供應。提升電壓 產生器30可由於節點38處與一升壓電容器34串聯、和與一η 通道電晶體36之閘極-源極電路並聯的一反相器32來組成。 -正常上高的踢回電壓VK被施於反相器32之輸入,使 得電容器34之VBST輸出透過電晶體36來連接於Vcc。當一 胞元要被讀取時,VK變低、節點38變高至Vcc,且在電晶 體36現在被截止下、VBST變成Vcc加儲存在電容器34上的 電壓。在一讀取操作後,VK回到高、且使電路準備次一讀 取操作。 在新穎·驅動器電路中、如上指出地,只有一方塊之 PGW將為高、來選擇如WL〇的一局部字組線。由於PGW、 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 550577 A7 _____ _ B7 五、發明説明(4 ) WLG和AVWL都由VBST來供應,第3圖之vBST產生器的載入 電容被最小4匕、來允許高速之字組線驅動。 雖然上述電路解決vbst載入問題,針對新穎電路之最 佳操作、需要一特定時序設計。因為拉上電晶體22和24係η 通道電晶體,故係電晶體22之閘極的節點28必須保持充分 南、來使它們導通。依據本發明,一自我升壓設計被使用。 因此’AVWL和WL被保持低,直到節點28在PGW和WLG 上升到Vbst之位準期間、達到一充分高電壓為止。然後, 當AVWL被允許上升到VBST時,於節點28的電壓因電晶體 22之通道電容的作用、而自動提升超過vBST。 習用上,一讀取操作係由無論何時在外部位址輸入上 有一改變時所產生的一内部ATD(位址轉移檢測)脈波來實 施。因此,與上面第3圖連結所討論的踢回信號νκ可由ATD 脈波來有利地取代,使在ATD緊接著位址改變後為高時 Vbst=Vcc、且在ATD於一短期間後變回至低時乂⑽了被提升。 ATD脈波有用於新穎電路中的多數功能。第4圖顯示依 據本發明的一總體X解碼器40。外部位址被一 NAND解碼閘 42來解碼,且饋至由電晶體44a和44b組成的PGW產生器。 NAND閘42之輸出也構成至NOR閘46的一輸入,其另一輸 入係ATD脈波。NOR閘46之輸出在反相器48中被反相,來 形成NGW信號。 因此在ATD脈波期間,NGW在PGW被選取時將被迫為 高。在此時期間,局部字組線WL由第2圖中之電晶體24來 強迫為低。於ATD脈波之末端,NGW線之一條將被選擇、 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) _馨· -、τ. 550577 A7 __B7__ 五、發明説明(5 ) 且變低,且第3圖之VBST產生器將輸出經提升VBST電壓。這 使第2圖之局部解碼器準備來驅動局部字組線WL。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 第5圖說明WLG驅動器之一較佳實施例。WLG信號係 共同於一垂直方塊。若該垂直方塊被選擇,則WLG信號將 為VBST,不然它應為Vcc。此如第5圖顯示地來完成。當第 5圖之垂直方塊被選擇時,NAND閘50使η通道電晶體51導 通、且迫使節點52為低。這使電晶體54導通,以在電晶體 5 6截止時把〜^丁傳送至\\^0。若第5圖之方塊未被選擇, 則節點52被迫使為高、電晶體54截止、電晶體56導通、且 Vcc施於WLG。同時,電晶體58a截止、58b導通、且58c導 通,使節點52升壓來改善電晶體56之操作。 上面已提到需要來延遲AVWL信號之致動,直到第2圖 中的節點28已有時間來充電高達VBST,使得電晶體22之通 道電容可向上充電,來作一額外升壓。第6a圖顯示用來執 行該工作的一延遲電路59。該圖中,選擇器NAND閘60具 有一額外輸入Nd,其係由反相器62a和62b、電容器64、及 NOR閘66所抽出的ATD脈波。延遲電路59之一替換樣式被 顯示在第6b圖,其中Nd單純係第3圖之節點38的經反相信 號。
Nd在ATD或38變高時、會變低,且在ATD脈波後、以 一延遲時間來回到高。因此,即使一特定AVWL已被選擇, 它將留為低(68a導通、68b截止、68c截止)直到Nd再變高 (68a截止、68b導通、68c導通)為止。這允許電晶體22之閘 極電容有時間來往上充電,且在AVWL自低(0V)改變至高 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 550577 A7 _B7__ 五、發明説明(6 ) (Vbst)時、把其閘極電壓耦合得高。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 第7圖顯示在操作新穎電路時,在此描述的各種信號 之時間關係。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 9 550577 A7 B7 五、發明説明(7 ) 元件標號對照 10…快閃記憶體 12…方塊 14…浮接問極電晶體 16…局岩px解碼器 20〇-2〇7 ···驅動裔 22、24···η電晶體 26…字組線閘極η電晶體 28、38、52···節點 30…提升電壓產生器 32、48、62a、62b···反相器 34···升壓電容器 30、51 ···!!通道電晶體 40…總體X解碼器 42…NAND解碼閘 44a、44b、54、56、58a-58c、68a-68c·.·電晶體 46、66-..NOR閘 50…NAND閘 59…延遲電路 60···選擇器NAND閘 64…電容器 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 麵- 訂- 10

Claims (1)

  1. 六、申請專利範園 1· 一種快閃記憶體用之定址電路,該定址電路包含·· a) —個Vcc電源供應器; b) —升壓電路,被配置來從該電源供應器、定期地 產生大於Vcc的一提升電壓; c) x解碼裔電路,由該提升電壓來驅動至該記憶體 之位址選定字組線,該x解碼器電路被配置、使得針對 任何給定位址只有一字組線為高、來把該升壓電路上的 寄生電容負载最小化。 2·依據申請專利範圍第!項之定址電路,其中該講碼器包 含NMOS電路。 3. «申請專利範圍幻項之定址電路,其更包含也被該 提升電壓來驅動的垂直父解碼器電路,該垂直X解碼器電 路也被配置、使得針對任何給定位址只有一垂直字組線 為高。 4. -種方塊型㈣記憶體用之定址電路,該定址電路包 含: a) —總體字組線,與各列之方塊相關聯;及 b) -局部字組線’與一方塊内的各列之記憶體胞元 相關聯; C)該局部字組線係由包括其控制閘極係由-總體 字組線驅動器來控制的一對串接電晶體之一垂直字细 線驅動器來激勵; d)该寺驅動器之時序被安排、使得該等控制間極在 該等電晶體之源極-汲極電路被激勵前、於一預定時間 550577 A8 B8 C8 D8 5. 申請專利範圍 來致動,精此在該等電晶體之通道電容上、由致動該等 控制問極所建立的電壓、在其源極·純電路變得被激 勵時、把-導通升壓提供給該等電晶體。 一種局部x解碼器’係在以各含有-陣列之核心胞元的 -陣列之方塊來佈局的一快閃記憶體中,各列之方塊係 與具有正數和負數執道的_分立總體字組線相關聯,一 方塊内的各列之胞元具有—局部字組線、且一方塊内的 各列之胞兀係與一分立垂直字組線相關聯,該X解碼器 包含: a)第一和第二n電晶體,串聯連接在該等垂直字組 線中之-條和接地間’該局部字I線係連接於該等第一 和第二電晶體間; )X第電日日體之閘極係透過一字組線閘極電晶 體,而連接至该總體字組線之該正數執道;及 C)該第二電晶體之閘極係而連接至該總體字組線 之該負數執道。 6.依據申請專利範圍第5項之χ解碼器,其中該總體字組 線、該字組線閘極、和該垂直字組線係由一提升電壓源 來供應。 7· -種總體χ解碼器,用來輸出一總體字組線之一正數執 道和一負數執道,該χ解碼器包含: a) —解碼閘件,在被選擇時其輸出為高; b) —位址轉移檢測信號源,其在選擇一位址隨後、 脈動仔1¾ ; 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公楚) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) •訂丨 12 550577
    A8B8C8D8 / C)-提升電壓源,該源在該位址轉移檢測脈波期間 係於vcc供應電壓、而在該位址轉移檢測脈波之後上升 至一提升電壓; d)—個p通道電晶體和一個n通道電晶體,自該提升 電壓源串聯連接至接地,該等電晶體之間極被連接在一 起、且操作性地連接於該解碼閘件之輸出; 亥總體子組線之該正數執道係連接至該等電晶體 的源極-汲極電路之互相連接部; f) 一個P通道升壓電晶體,連接在該提升電壓源和該 等第一命名電晶體之該經連接閘極間,該升壓電晶體之 閘極連接於該正數軌道; g) —個NOR閘,其輸入係該解碼閘件之輸出和該位 址轉移檢測脈波;及 h) —反相為、’連接來把該n〇R閘之輸出反相、來形 成該總體字組線之該負數軌道。 8·種快閃5己丨思體用之字組線閘極驅動器,該閘極驅動器 包含: a) —字組線閘極信號輸出; b) —垂直方塊選擇解碼閘件,該閘件之輸出在對應 於該字、组線閘極的垂直方塊被選擇時、為高; c) 一提升電壓源,該源在該位址轉移檢測脈波期間 係於VCc供應電壓、而在該位址轉移檢測脈波之後上升 至一提升電壓; d) —個p通道電晶體和一個η通道電晶體,自該提升
    (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
    本紙張尺度適用中國國家擦準(CNS) Α4規格(210X297公釐) 13 550577 A8 B8 C8 六、申請專利範圍 ~ ^~ ^ 電壓源串聯連接至接地,該等電晶體之閘極被連接在一 起、且操作性地連接於該解碼閘件之輸出; 勻一個P通道升壓電晶體,連接在該提升電壓源和 該等第一命名電晶體之該經連接閘極間,該升壓電晶體 之閘極連接於該等第一命名電晶體的源極-汲極電路之 互相連接部; f) P通道和η通道切換電晶體,使其閘極連接至該等 第-命名電晶體的源極·汲極電路之該互相連接部; g) 該ρ通道切換電晶體之源極_汲極電路係連接在 該提升電壓源和該字組線閘極信號輸出間;及 h) 該n通道切換電晶體之源極·汲極電路係連接在 I 孩Vcc供應電壓和該字組線閘極信號輸出間。 9· 一種快閃記憶體用之垂直χ解碼器,該χ解碼器包含: a) 一垂直字組線信號輸出; b) —垂直字組線選擇解碼閘件,該閘件係具有選擇 線輸入和一額外輸入的一個NAND閘; Ο該額外輸入係連接於一檢測脈波,該檢測脈波被 I 延遲使得該額外輸入於該脈波之領先邊緣變低、但在該 脈波之尾隨邊緣後會變高一預定長度之時間; d) —提升電壓源,該源在該位址轉移檢測脈波期間 係於Vcc供應電壓、而在該位址轉移檢測脈波之後上升 至-提升電壓; e) —個ρ通道電晶體和一個n通道電晶體,自該提升 電壓源串聯連接至接地,該等電晶體之閘極被連接在一 本紙張尺度適細Η家標準(CNS) Μ規格(210X297公釐)-- -14 -
    ................. (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、一叮 550577 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 起、且操作性地連接於該解碼閘件之輸出; (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 0 一個p通道升壓電晶體,連接在該提升電壓源和 該等第一命名電晶體之該經連接閘極間,該升壓電晶體 之閘極連接於該垂直字組線信號輸出;及 g)該垂直字組線信號輸出係連接至在其源極-汲極 電路中的該等第一命名電晶體間之互相連接部。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 15
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1351397A3 (en) 2001-11-27 2005-03-02 Texas Instruments Incorporated All-digital frequency synthesis with capacitive re-introduction of dithered tuning information
US6809960B2 (en) * 2002-08-26 2004-10-26 Micron Technology, Inc. High speed low voltage driver
US6888754B2 (en) * 2003-01-31 2005-05-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Nonvolatile semiconductor memory array with byte-program, byte-erase, and byte-read capabilities
US6778437B1 (en) * 2003-08-07 2004-08-17 Advanced Micro Devices, Inc. Memory circuit for providing word line redundancy in a memory sector
JP2005302139A (ja) * 2004-04-09 2005-10-27 Nec Electronics Corp 半導体記憶装置
US7002492B2 (en) * 2004-07-07 2006-02-21 Seagate Technology Llc High rate running digital sum-restricted code
WO2006090442A1 (ja) * 2005-02-23 2006-08-31 Spansion Llc 半導体装置およびその制御方法
US7126862B2 (en) * 2005-03-08 2006-10-24 Spansion Llc Decoder for memory device
US7428172B2 (en) * 2006-07-17 2008-09-23 Freescale Semiconductor, Inc. Concurrent programming and program verification of floating gate transistor
US7583554B2 (en) * 2007-03-02 2009-09-01 Freescale Semiconductor, Inc. Integrated circuit fuse array
US7787323B2 (en) * 2007-04-27 2010-08-31 Freescale Semiconductor, Inc. Level detect circuit
KR101309113B1 (ko) 2007-08-23 2013-09-16 삼성전자주식회사 리드 와일 라이트 동작 시 발생하는 리드 전압의 변동을최소화할 수 있는 노아 플래시 메모리 장치 및 방법
US7672163B2 (en) * 2007-09-14 2010-03-02 Sandisk Corporation Control gate line architecture
JP5398520B2 (ja) * 2009-12-25 2014-01-29 株式会社東芝 ワード線駆動回路

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6129488A (ja) * 1984-07-20 1986-02-10 Hitachi Micro Comput Eng Ltd ダイナミツク型ram
JPH0194591A (ja) * 1987-10-06 1989-04-13 Fujitsu Ltd 半導体メモリ
JPH05120881A (ja) 1991-10-24 1993-05-18 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH0745074A (ja) 1993-07-29 1995-02-14 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
KR960011206B1 (ko) 1993-11-09 1996-08-21 삼성전자 주식회사 반도체메모리장치의 워드라인구동회로
JP3478953B2 (ja) * 1997-09-03 2003-12-15 Necエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
JPH11317074A (ja) * 1998-04-30 1999-11-16 Nec Corp ワード線制御回路
DE19841445C2 (de) * 1998-09-10 2002-04-25 Infineon Technologies Ag Halbleiter-Schaltungsanordnung
US6026047A (en) * 1998-11-03 2000-02-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Integrated circuit memory device with hierarchical work line structure
US6255900B1 (en) * 1998-11-18 2001-07-03 Macronix International Co., Ltd. Rapid on chip voltage generation for low power integrated circuits
DE69823888T2 (de) * 1998-11-18 2004-10-21 Macronix Int Co Ltd Schnelle spannungserzeugung auf dem chip für integrierte schaltungen niedriger leistung
KR20000045361A (ko) * 1998-12-30 2000-07-15 김영환 워드라인 구동장치
JP3940513B2 (ja) * 1999-01-11 2007-07-04 株式会社東芝 半導体記憶装置
JP3296319B2 (ja) * 1999-03-02 2002-06-24 日本電気株式会社 ワード線駆動回路及び半導体記憶装置
KR100381962B1 (ko) * 2000-08-07 2003-05-01 삼성전자주식회사 비휘발성 메모리 장치의 로우 디코더
US6347052B1 (en) * 2000-08-31 2002-02-12 Advanced Micro Devices Inc. Word line decoding architecture in a flash memory

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Publication number Publication date
JP2007323808A (ja) 2007-12-13
US20020159296A1 (en) 2002-10-31
JP2003016793A (ja) 2003-01-17
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KR20030009101A (ko) 2003-01-29
EP1255255A2 (en) 2002-11-06
US6646950B2 (en) 2003-11-11
EP1255255A3 (en) 2004-06-02
EP1255255B1 (en) 2008-07-16
KR100758885B1 (ko) 2007-09-19

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