TW444307B - Anisotropic conductor film, method for packaging semiconductor chip, and semiconductor device - Google Patents

Anisotropic conductor film, method for packaging semiconductor chip, and semiconductor device Download PDF

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TW444307B
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semiconductor wafer
anisotropic conductive
conductive film
substrate
aforementioned
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TW088121094A
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Toshihiro Sawamoto
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Seiko Epson Corp
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Description

經濟部智慧財產局員工消費合作社印制恭 4443 0 7 Α7 Β7 五、發明說明(1) 技術範圍 本發明係有關向異性導電膜及半導體晶片之安裝方法 及半導體裝置者,尤其有.關將半導體晶片之主動元件形成 面,適於向基板側安裝之向異性導電膜及半導體晶片之安 裝方法及半導體裝置者。 背景技術 將彩成半導體晶片之主動元件面向下加以安裝的半導 體之安裝方法中,即所謂覆晶安裝中,各異性導電膜被經 常加以使用。此向異性導電膜係發揮黏著能的同時,亦達 成做爲半導體晶片和基板之導通媒體的功能者,爲薄膜狀 之薄形物,令該整體呈帶狀長形地加以形成。又,該材料 構成係一般而言,以固體形狀環氧系樹脂和液狀環氧樹脂 所成之黏著劑,和於樹脂粒子施以金屬電鍍的導電性粒子 所成。導電性粒子係該體積率於黏著劑本體均勻地加以配 合。然而,亦有將金屬粒子做爲導電性粒子使用者。又導 電性粒子之粒徑係2〜1 0 y m程度,主要以5 μ m程度 者爲主流a 在此,將使用以往之向異性導電膜之晶片之安裝方法 之例示於圖5。首先|於設置基板2之配線2 1 ,貼上向 異性導電膜3 ,於向異性導電膜3上,電極接合墊1 1和 配線2 1以相對向之狀態,載置半導體晶片1 »接著,經 ώ加熱加壓工具7 1 ,自將半導體晶片1設置電極接合墊 1 1西之相反側面邊加熱地加以加壓5 ----*------- 裝--------訂----I-----^* (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -4 - 4 44 3 0 T a? B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(2) 經由加熱,向異性導電膜3提昇該流動性,塡充電極 接合墊1 1及配線2 1之周圍的空間·更且,自半導體晶 片1和基板2之黏著面向.外部流出,附著於半導體晶片1 之側面。另-·方面,電極接合墊1 1和配線2 1之間,以 挾著導電性粒子6 1之一部分的狀態介入存在。 此熱壓著之後,終止向異性導電膜3之硬化時,半導 體晶片1和基板2經由向異性導電膜3加以黏著。尤其, 附著於半導體晶片1之側面的向異性導電膜3係形成嵌條 3 4 ,使半導體晶片1和基板2之機械性連接呈強而堅固 者。又,挾於電極接合墊1 1和配線2 1間之導電性粒子 6 1係達成做爲半導體晶片1和基板2之導通媒體的功能 G 然而|於前述以往之技術之中,會產生以下之問題。 半導體晶片1爲薄型者之時,將半導體晶片1經由加 熱加壓工具7 1加熱、加壓之時,不單是半導體晶片1之 側面,如圖5之附著部分3 5所示地,附著至加熱加壓工 具7 1。向異性導電膜3之一部分附著於加熱加壓工具 7 1之情事頻繁產生之時,當然,加熱加壓工具7 1之淸 潔亦對應於此頻繁地加以進行才行,半導體晶片之熱壓著 工程之管理負擔會變大。又,呈如此狀態之半導體晶片之 安裝後的外觀亦不佳= 但是,爲迴避上述之問題1將設於基板2上之向異性 導電膜3的面積,呈較經巾形成乍導體晶片1之電極接合 墊1 1面的面積爲小,或將經由加熱加壓工具7 1之加熱 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝---- 訂--------
A 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -5- 4443 07 A7 B7 五、發明說明(3 ) 溫度較以往者爲低之時,半導體晶片和基板之機械性連接 的強度會有充分消失之可能。 發明之掲示 本發明係提供爲解除前述之以往技術之缺點,可充分 得基板和半導體晶片之機械性連接之強度的同時,經由於 加熱加壓工具可防止向異性導電膜附著地|使半導體晶片 和基板之連接工程之管理變得容易的向異性導電膜爲目的 者。更且1提供具備該電路基板之電子機器爲目的者。 又,本發明係提供可充分得基板和半導體晶片之機械 性連接之強度,經由防止附著於加熱加壓工具之向異性導 電膜,安裝半導體晶片之半導體裝置爲目的者。 又,本發明係提供使用該向異性導電膜之半導體晶片 之安裝方法爲目的者。又,提供使用該半導體晶片之安裝 方法製造之半導體裝置爲目的者。更且,提供具備該半導 體裝置之電子機器爲目的者。 爲達成上述之目的,有關中請專利範圍第1項之向異 性導電膜係黏著半導體晶片和基板的同時,呈前述半導體 晶片和前述基板之電氣導通媒體的向異性導電膜中, 具有第1構件,和鄰接於前述第1構件加以配置之第 2構件,前述第1構件係經由具有較前述第2構件流動性 低的特性的材料加以形成構之構成。 根據有關於如上述構成之申請專利範圍第1項之向異 性導電膜,於貼附於基板之向異性導電膜,將半導體晶片 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝--------訂---------" 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -6 - 4443 07 A7 B7 五、發明說明(4) 以加熱加壓工具進行熱壓著’於連接半導體晶片和基板之 時,第1構件係抑制第2構件向半導體晶片之側面流動。 因此,可防止第2構件過.剩附蒋於半導體晶片之側面•附 著至加熱加壓工具。結果,可容易進行半導體晶片和基板 之連接工程之管理。 又,有關於申請專利範圍第2項之向異性導電膜,係 黏著半導體晶片和基板的同時’於前述半導體晶片和前述 基板之電氣性導通媒體所成向異性導電膜中,具有第1構 件,和鄰接於前述第1構件加以配置之第2構件1前述第 1構件係於前述半導體晶片和前述基板之接合時’發現前 述第2構件之流動性低的特性的材料所構成。 根據有關於如上述構成之申請專利範圍第2項之向異 性導電膜,於貼附於基板之向異性導電膜,將半導體晶片 以加熱加壓工具進行熱驄著’於連接半導體晶片和基板之 時點,第1構件係較第2構件流動性低之故,經由第1構 件可抑制第2構件向半導體晶片之側面流動。因此’可防 止第2構件過剩附著於半導體晶片之側面1附著至加熱加 壓X具。結果,可容易進行半導體晶片和基板之連接工程 之管理。 又,有關於申請專利範圃第3項之向異性導電膜中’ 前述第2構件係形成呈與形成前述半導體晶片之電極面幾 近同一形狀的構成。 根據有關於如上述構成之申請專利範園第3項之丨異 性導電膜,於黏著半導體晶片和基板之時,可將向半導體 本紙張又度適用令國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝·-------訂---------'" 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4443 Ο 7 A7 五、發明說明(5) 晶片之各側囬流動之第2構件的量與各側囬壬均等, 定之側面無法形成過剩大小之嵌條。 又’有關申請專利範圍第4項之向異性導電膜’係前 述第2構件係與形成前述半導體晶片之前述電極之面幾近 同一面積地加以形成地構成。 根據如上述構成之申請專利範圍第4項之向異性導龜 膜時,將向半導體晶片之各側面流動之第2構件量,於該 側面可抑制形成適切大小之嵌條程度。 . 更且’有關申請專利範圍第6項之電路基板’係設置 記載於上述之任一的向異性導電膜所構成者u 根據有關如上述所構成之申請專利範圍第6項之電路 基板,於熱壓著半導體晶片之時,向異性導電膜過剩流出 於半導體晶片之周園,可防止附著於電路基板上之其他範 圍。又,可確實連接半導體晶片,提供可靠性之高電路基 更且’有關申請專利範圍第7項之電子機器’係具備 上述竜路基板所構成者。 根據有關構成如上述之申請專利範圃第7項之電子機 器時,使用半導體晶片安裝之可靠性之高電路基板之故’ 可提升電子機器本身之可靠性- 然後,有關申請專利範阐第8項之半導體裝置係具備 將半導體晶片經由向異性導電膜安裝之基板所成半導體裝 置屮,前述向異性導電膜係只.有相當於邊緣部之第1構件 ,和較前述第1構件位於中央側之第2構件,前述第1構 本紙張尺度適用中國國家槔準(CNS>A4規格(210x297公釐) ' 8 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) --------訂----1111·'^ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印*1衣 4443 07 A7 B7 五、發明說明(6) 件係經由具有較前述第2構件流勋性低特性的材料所形成 構成者。 根據有關構成上述之屮誧專·利範圍第8項之半導體裝 置時,可提供於基板熱壓著半導體晶片之時’第1構件係 第2構件可抑制向半導體晶片之側面的流動s因此,第2 構件不過剩附著於半導體晶片之側面’外觀優異之半導體 裝置。 又,有關於申請專利範圍第9項之半導體裝置中,前 述第2構件係形成呈與形成前述半導體晶片之電極面幾近 同一形狀的構成。 根據有關於如上述構成之申請專利範圍第9項之半導 體裝置,可將向半導體晶片之各側面流動之第2構件的量 與各側面呈均等,於特定之側面無法形成過剩大小之嵌條 0 又,有關於申請專利範圍第1 0項之半導體裝置中, 前述第2構件係形成呈與形成前述半導體晶片之電極面幾 近同一面積的構成。 根據有關於如上述構成之申請專利範圍第1 〇項之半 導體裝置,於連接半導體晶片和基板之時,可將向半導體 晶片之各側面流動之第2構件的量,於該側面可抑制適切 大小之嵌條的程度。 然後,有關申請專利範圍第1 1項之半導體晶片之安 裝方法,係將形成電極之半導體品片之一方之面,對於形 成基板之電極之面’於相對向之方向,加以安裝之半導體 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) -9- (請先閱讀背面之;i意事項再填寫本頁) 褒---- 訂11 ί_·" 4 443 0 7 A7 B7 五、發明說明(7) 晶片之安裝方法中,具有將具有第1構件,和鄰接於前述 第1構件加以配置的第2構件的向異性導電膜,貼附於形 成前述基板之前述電極之面的工程,和將前述半導體晶片 載置於前述向異性導電膜上之7:程,和將前述半導體晶片 經由加熱加壓邊加熱加以按壓,連接於前述基板之工程的 構成。 根據有關如上述構成之申請專利範圍第1 1項之半導 體晶片之安裝方法,於貼附於基板之向異性導電膜,將半 導體晶片以加熱加壓工具加以熱壓著,連接半導體晶片和 基板之時,第1構件係抑制較此流動性高之第2構件向半 導體晶片之側面流動。因此,第2構件過剩附著於半導體 晶片之側面,可防止至加熱加壓工具之附著。結果,可容 易進行半導體晶片和基板之連接工程之管理u 又,有關申請專利範圍第1 2項之半導體晶片之安裝 方法係前述第1構件具有較前述第2構件流動性爲低之特 性的構成。 根據如上述構成之申請專利範圍第1 2項之半導體晶 片之安裝方法時,可將對第2構件之半導體晶片之側面的 流動,更確實地加以抑制,可防止第2構件附著至加熱加 壓工具。 又,有關申請專利範幽第1 3項之半導體晶片之安裝 方法中,前述第2構件係與前述一方之面相同之形狀加以 形成構成。 根據有關如上述構成之申請專利範圍第1 3項的半導 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝--------訂---------户 經濟部智慧財產局員工消費合作社印*1衣 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -10 - 4443 07 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(8) 體晶片之安裝方法時,向平導體晶片之各側面流動之第2 構件量,呈與各側面幾近均等 > 於特定側面不會形成過乘|丨 大小之嵌條。 又,有關於申誧專利範圖第1 4項之半導體晶片之安 裝方法中,前述第2構件係與前述·一方之面幾近呈同·面 積加以形成構成。 根據有關於如上述構成之申請專利範圍第1 4之半導 體晶片之安裝方法,於連接半導體晶片和基板之時,可將 向半導體晶片之各側面流動之第2構件的量,於該側面可 抑制適切大小之嵌條的程度。 又,有關於申請專利範圍第1 5項之半導體晶片之安 裝方法,係將形成電極之半導體晶片之一方之面,對形成 基板之電極的面,於相對向之方向安裝之半導體晶片之安 裝方法中,具有 加熱在較熱塑性樹脂所成向異性導電膜之邊緣部位於 中央側的範圍,提高前述向異性導電膜之流動性的工程, 和將前述向異性導電膜貼附形成前述基板之前述電極的面 的工程,和將前述半導體晶片載置於前述向異性導電膜上 的工程,和將前述半導體晶片經由加熱加壓體邊加熱地加 以按壓,將前述半導體晶片連接於前述基板之工程的構成 者。 根據有關如上構成之申請專利範圍第1 5項之半導體 晶片之安裝方法時,可提升加熱之範圍之流動性之故,將 半導體晶片連接於基板之T程中,加熱之範圍向半導體晶 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -11 - I.---:------- --------訂----I ----*5 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 4443 07 Α7 Β7 五、發明說明() 片之側面流動的同時’未加熱範圍則可抑制該過剩之流動 。因此,向異性導電膜則過剩附箸於半導體晶片之側面’ 可防止附著至加熱加壓工具。結果’可容易進行半導體晶 片和基板之連接工程。 又,有關申請專利範圆第1 6項之半導體晶片之安裝 方法中,前述向異性導電膜係將前述範圍與前述一方之面 幾近呈同一形狀地加以形成構成。 根據有關如上述構成之申請專利範圍第1 6項之半導 體晶片之安裝方法,將朝向半導體晶片之各側面流動的第 2構件之量,與各側面幾近均等’於特定之側面不會形成 過剩大小之嵌條。 又,有關申請專利範園第1 7項之半導體晶片之安裝 方法,具有將形成電極之半導體晶片之一方之面,對形成 基板之電壓面,朝向相對丨H]女裝Z半導體晶片之安裝方法 中,將形成呈框狀之向異性導電膜’貼附於形成前述基板 之前述電極面的工程, 和於前述向異性導電膜之内側範圍,設置較前述向異性導 電膜流動性高之向異性導電黏著劑的工程f和將前述半導 體晶片載置於前述向異性導電黏著劑上的工程,和將前述 半導體晶片經由加熱加Μ,邊加熱按壓,將前述半導體晶 片連接於前述基板的工程的構成。 根據有關上述構成之申請專利範圍第1 7項之半導體 晶片之安裝方法,於貼附於丛板之向異性導電膜,將半導 體晶片以加熱加壓工具熱Μ茜,連接卞導體晶片和基板之 本紙張尺度適用中囤國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -12 - I----------- --------訂---------.fA' — <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4443 07 A7 B7 五、發明說明(10) ^ 時,形成框狀之向異性導電膜,抑制內側之範圍之向異丨生 •導電黏著劑向半導體晶片之側面的流動。因此,向異丨生導 電黏著劑向半導體晶片之側面過剩附著,防止至加熱加壓 工具的附著。結果,可容易進行半導體晶片和基板之連接 工程之管理。 又,有關申請專利範圔第1 s項之半導體片之女裝 方法中,前述向異性導電膜之內側之範圍係與前述一方之 面幾近形成呈同一形狀的構$ 3 根據有關上述構成之申請專利範圍第1 8項的半導體 晶片之安裝方法,於連接半導體晶片和基板之時’向異性 導電黏著劑向半導體晶片之側面流動時,無形成過剩大小 之嵌條的流動量之故,於加熱加壓工具無附著向異性導電 膜。 然後,有關申請專利範圍第1 9項之半導體裝置係使 用申請專利範圍第1 1項至第1 8項之任一項記載的半導 體晶片之安裝方法加以製造構成。 根據有關上述構成之申請專利範圍第1 9項之半導體 裝置,可提供可提高半導體晶片之連接之可靠性的同時1 可對應安裝形成於半導體晶片之側面的嵌條之大小的半導 體晶片之高度。結果,半導體晶片和基板之連接之可靠性 爲高,且外觀佳之半導體裝置。 更且,有關申請專利範園第2 0項之電子機器,係具 備申請專利範圍第1 9項所記載之半導體裝置的構成。 根據有關上述構成之申請專利範圔第2 0項的電子機 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公芨) -13- I. ------- * --------^---------^ I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 4443 07 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(11) 器時,於適切之大小形成嵌條’具備機械性連接良好之半 導體裝置之故’呈局電十機器之機能可靠性者u 然而’對於前述各手.段所述之基板之材質,爲使用塑 膠基板、可撓性基板等之有機系材料的基板,或使用陶瓷 基板等之無機系材料的基板的某.一 Μ π y v _τ 41 η?\ W [U c 【圖面之簡單說明】 【圖1】顯不有關本發明之第丄之實施形態之半導體 晶片之安裝狀態的截面圖。 【圖2】顯不有關本發明之第1之實施形態之半導體 晶片之安裝工程的截面圖’(1 )係顯示將向異性導電膜 貼附於基板之狀態的截面圖’(2 )係顯示將半導體晶片 載置於向異性導電膜之狀態的截面圖3 }係顯示將半 導體晶片呈熱壓著狀態的截®圖。#1 [H3 ]顯示有H本#ι明之第施形態之半導體 晶片之安裝工程的截面[圖’ (1)係將向異性導電膜 貝占丨时於基板之狀態的斜視圖’(2 )丨1¾ c 一 C線截面圖 ’ (3 )係顯示於向異性導電膜之内側範圍,塗佈糊狀之 向異性導m黏著劑的狀態截面廳I。 【圖4】有關本發明之第1之實施形態的向異性導電 膜之斜視圖。 【圖5】顯示以往之向異性導電膜所成半導體晶片之 安裝狀態的截面圖- 【圖6】經由有關於本發明之任…之實施形態的向異 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -14 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝--------訂---------广! 4443 07 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(12) 性導電膜,安裝半導體晶片之電路基板之說明圖》 【圖了】有關本發明之實施形態的筆記型個人電腦的 説明圖。 【圖8】有關本發明之實施形態的攜帶電話之說明圖 【符號說明】 1 2 3 4 5 4 7 0 0 半導體晶片 基板 向異性導電膜 向異性導電膜 向異性導電黏著劑 電極接合墊 配線 硬部分 柔軟部分 嵌條 附著部分 覆蓋薄膜 導電性粒子 加熱加壓工具 半導體晶片 半導體晶片 筆記型個人電腦 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) I i 11--1 訂·--------. 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -15 - 4443 Ο 7 Α7 Β7 13、 爲贾施發明之最佳形態 以下,對於本發明適切之實施形態,參照圖面詳細力口 以說明。 蠢 圖1係顯示有關本 ^& 五、發明說明( 1 3 0 攜帶型電話 發明之第1^:.賀:施形態的半導體晶 .片名安裝狀態的截面圖。又,圖2 有關本發明之第 Τ 實施形態之半導體晶片之安裝工程的截面圖,(1 ) 係顯示I向異性導電膜貼附於基板之狀態的截面圖,(2 )係顯示將半導體晶片載置於向異性導電膜之狀態的截面 圖,(3 )係顯示將半導體晶片呈4壓著狀態的截面圖。 又,圖3係顯示有關本發明之第2施形態之半導體晶 片之安裝工程的截面圖,(1)係向異性導電膜貼 '乂礙:、 . 附於基板之狀態的斜視圖,(2)係ίΐ — C線截面圖, J '^訂, (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 向之係截的更說話 膜 之明 5 的態。的電 電 狀發圖態形圖腦帶 導 糊本,狀施 Ρ電攜 性 佈關且裝實'_人的 異 塗有更安-..^3¾^個態 向 , 係。之".一\板型形 之 圍 4 圖片,任基記施 態 範圖視晶之路筆實 形 側,斜體明電的之 施 內父之導發之態明 實 之。膜半本片形發 .與 膜圖電成於晶施本 電面導所關體實關 '第 導截性膜有導之有 之 性態思(電由半明係 明 異狀向導經裝發 8 發 向的的性係安本圖 本 於劑態異 6 , 關, 於 示著形向圖膜有者 對 顯黏施寒''電係甚.’ 係電實;'..ίί'.''.·.又導 7 更ΙΗ先 } 導...¾以=性圖。明首 3性'1.-'、示»里(,圖說 ί 異第顯面向且明之 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -16 - 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ^44 3 0 T a? B7 五、發明說明( 的具體構成加以說明。如圖4所示’向異性導電膜係形成 呈薄片狀者,該整體係形成呈良帶狀之形狀。圓4係表示 該一部分者,向靠長度方向之兩端部配置之硬部分3 1 , 及挾於2個硬部分3 1間的柔軟部分3 2則呈一體設置’ 形成向異性導電膜3又,於此表背兩面貼附覆蓋薄膜3 p; 硬部分3 1係由分子量大之熱硬伦樹脂所成,於加熱 之時,仍具有流動性低之特性ϋ又’柔軟部分3 2係由分 子量小之熱硬化樹脂所成’於加熱之時’較硬部分3 1具 有相對性流動性高之特性。具體而言’硬部分3 1係經由 環氧系之樹脂加以形成°該樹脂構成係固形環氧系樹脂爲 7 5重量%〜9 9重量.% ’和液狀環氧樹脂爲1重量%〜 2 5重量%之比率加以配合。又,柔軟部分3 2係經由環 氧系之樹脂加以形成。該樹脂構成係以固形環氧系樹脂爲 5 0重量%〜7 5重量% ’和液狀環氧樹脂爲2 5重量% 〜5 0重量%之比率加以配合: 然而,使用向異性導電膜3 ,安裝半導體晶片等時之 向異性導電膜之加熱溫度係通常爲1 8 0 t〜2 0 0 t之 範圍。又,於使用之時,切斷呈適切需要大小,剝離基板 側之覆蓋薄膜3 6 ,貼附於安裝半導體晶片之處。 又,柔軟部分3 2之寬度係安裝之半導體晶片之一邊 之長度,尤其長方形之半導體晶片之時係與短部方向之邊 之長度相等亦好。此係將半導體晶片1熱壓著於基板2之 時,柔軟部分3 2係流動性非常高,向半導體晶片1和基 J---------- · ^--------訂· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -17- 4 443 0 7 A7 B7 五、發明說明(15) 板2間之外部空間流出,柔軟部分3 2之寬度設定呈上述 寬度時,硬部分3 1則將半導體晶片1和基披2間之空間 ,和外部空間如蓋地加以遮斷之故’柔軟部分3 2則可抑 制流出至外部空間u 又,於半導體晶片,於肜成電極接合墊面之周邊的2 邊或4邊,或於該面本體於一定間隔設置數十〜數百個程 度之電極接合墊。於本發明之實施形態中,半導體晶片之 電極接合墊係可適用於設呈其中之狀態。又,安裝半導體 晶片之基板係爲有機系、無機系之任一者即可,材質上並 無特別選擇= 接著,對於使用有關本發明之第1實施形態的向異性 導電膜3的半導體晶片之安裝方法’沿圖面加以說明。 如圖2 (1)所示,最初,於設置基板2之配線21 處上,將剝離基板2側之覆蓋薄膜3 6的向異性導電膜3 ,於數秒間,1 8 0 °C〜2 0 0 t加以加熱貼附。接著’ 剝離設置半導體晶片1側的檀蓋薄膜3 6 。然而,柔軟部 分3 2之長度係與半導體晶片1之長度方向之邊之長度幾 近呈同一者。 接著,如圖2 ( 2 )所示,於電極接合墊1 1和配線 2 1呈相對向之狀態,將半導體晶片1載置於向異性導電 膜3上。此時,半導體晶片1之長方向之邊和硬部分3 1 幾近呈平行地加以載置。 更且,如圖2 ( 3 )所示’將半導體晶片1自丨未設置 電極接合墊1 1面,經iti加熱加應工具7 1加熱加壓。向 <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝 ----訂-------f·.^ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -18 - 4443 0 7 A7 _ B7 五、發明說明(16) 異性導電膜3係經由加熱流勁性提高,更且經由按壓力加 以變形。然而,加熱加壓...I.:具7 1之熱係可易於傳達至金 屬製之電極接合墊1 1之故,電極接合墊1 1附近之向異 性導電膜係流動性特別變高。 如此之加熱時,柔軟部分3 2係經由自加熱加壓具 7 1的按壓力(箭頭B) 1自半導體晶片1和基板2之間 向半導體晶片1之側面流動。但是,於半導體晶片1之長 方之邊之下方,設置硬部分3 1之故,柔軟部分3 2之流 動係經由硬部分3 1加以抑制。因此,自半導體晶片1和 基板2之間出來的柔軟部分3 2則可防止附著至加熱加壓 工具7 1。 另一方面,於半導體晶片1之邊緣4邊中,於短方向 之邊的下方,不會抑制柔軟部分3 2之流動之故,柔軟部 分3 2係向半導體晶片1之側面,直接加以流動。然而, 於前述,加熱加壓工具7 1之熱係易傳達於電極接合墊 1 1 。因此,半導體晶片1爲長方形之時,係較長方側設 於短邊側之電極接合墊1 1之數者爲少,即供予之熱爲少 之故,短邊側下方之之柔軟部分3 2係較長邊側下方之柔 軟部分3 2呈流動性爲低之狀態。更且,柔軟部分3 2係 於該長度中,與半導體晶片1之長度呈同一地加以設置之 故,附於半導體晶片1之側面的源頭者則不設於半導體晶 片1之周圍。 即1附著於半導體晶片1之此2邊側之側面係限於自 半導體晶片1和基板2間流出者。更且,附著於半導體晶 {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公釐) -19- 4443 07 A7 B7 五、發明說明() 片1之量亦少,或該流動性亦不太高之故,附著至加熱加 壓工具7 1之可能性則1極小。因此,於半導體晶片1之 短方向之邊中,嵌條不會過剩地加以形成- 因此,經由前述工程,將半導體晶片1熱壓著於基板 2時,於加熱加壓工具7 1不會附著向異性導電膜3 。又 ,如圖1所示,於半導體晶片1之側面嵌條3 4不會到達 半導體晶片之背面的高度’以適切之大小加以形成。 然而,於本發明之第1之實施形態中,雖將向異性導 電膜呈具有2個之不同流動性的熱硬化樹脂,於1個之向 異性導電膜中,可使舟定部分之流動性與其他部分不同之 時,可得相同之作用效果。因此,例如做爲第1之實施形 態之變形例,將向異性導電膜黾單一材質之熱塑性樹脂所 成者,對於相當於第i之實施形態之柔軟部分3 2 ,於熱 壓著半導體晶片之前’經由事先透加之預熱,提高流動性 1於之後,熱壓著半導體晶片之時未預熱之部分發揮與硬 部分3 1同樣之功能之故,可得與本發明第1之實施形態 同樣之作用效果。 又,於此變形例中,於向異性導電膜之周緣本體,呈 不透加預熱者時1此周緣本體達與硬部分3 1同樣的功能 之故,可將加上餘熱之部分流_更確實地加以抑制, 首先,如圖3 ( 1 )及(2 )所不’將向異性導電膜 之形狀示於向異性導電膜4地呈框狀者。然後,將向異性 導電膜4貼附於基板2 :然後,向異性導電膜4係由熱硬 化性樹脂所成。又,向異性導電膜4之內側範圍係幾近與 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注急事項再填寫本頁) --------訂---------r~_ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -20- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Α Ά C\ 1 I v A7 _B7_ 五、發明說明(18) 半導體晶片1呈同一形狀,更且,呈幾近同一或較同一爲 大之面積ϋ 接著,如圖3 ( 3 ).所示,於向異性導電膜4之內側 範圍的凹處4 1 ,將糊狀之向異性導電黏著劑5 ,與框狀 之向異性導電膜4幾近呈同等之高度地,於凹處4 1之整 面加以塗佈。 接著,將半導體晶片1載鬩於糊狀之向異性導電黏著 劑5 。之後與第1之實施形態之時同樣地,自與半導體晶 片1之電極接合墊1 1的某面的相反側面,經由加熱加壓 工具7 1加熱加壓。 經由以上之工程,進行半導體晶片之安裝。然而,此 實施形態中,將半導體晶片1載置於糊狀之向異性導電黏 著劑5之時,於凹處4 1嵌入半導體晶片1之時,可進行 半導體晶片1之佈線。因此,於此實施形態中,可使半導 體晶片1載置時之定位工程變得簡便。 根據以上構成之時,糊狀之向異性導電黏著劑5係較 框狀之向異性導電膜4流動性高之故*雖可向半導體晶片 1之側面流動,經由糊狀之向異性導電膜4可抑制該流動 之故,可防止於加熱加壓工貝7 1附著糊狀之向異性導電 黏著劑5。又,此實施形態之ΙΙΪ,於半導體晶片1之4邊 存在可確實抑制糊狀之向異性導電黏著劑5之流動之物之 故,半導體晶片1之形狀呈正方形之時亦可適用。 因此,於此實施形態屮,於加熱加壓工具7 1不附著 向異性導電膜3地,與第1之ϊί施形態同樣地,於半導體 J---III---- --------訂---I----'"1 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用t國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -21 - 444307 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(19) 晶片1之側面,嵌條3 4以適度大小加以形成。又,於此 實施形態之中,代替將糊狀之向異性導電黏著劑5塗於凹 處4 1 '將較向異性導電膜4流動性高之向異性導電膜, 與凹處4 1幾近相同之形狀,且呈同一面積地加以切斷, 將此貼附於凹處4 1亦可。更且,將較向異性導電膜4流 動性高之向異性導電膜預設於凹處4 1亦可。 然而,於前述各實施形態中,配合於向異性導電黏著 劑之導電性粒子係金屬粒子,或於樹脂製之粒子施以金屬 鍍層等之任一者皆可,其材質,形狀則無需過問。又,於 半導體晶片之電極不設置突起電極,於基板之電極上設置 突起電極亦可。 又,於前述實施形態之中,雖於形成半導體晶片之電 極面中,做爲於此面之所有4邊設置電極之事例加以列舉 ,但設置之電極配置則不限於此,僅於2邊或於此面整體 設置電極亦可。 如以上所述,於本發明之實施形態中,將半導體晶片 熬壓著之時,於加熱加壓工具不會附著向異性導電膜3又 ,以適切之大小可將外觀佳之嵌條形成於半導體晶片之側 面之故,半導體晶片和基板之機械連接之確實性則變高= 更且,對於本發明之第2之實施形態’將向異性導電膜呈 框狀之故,經由將半導體晶片置於該樞狀內’可同時完成 半導體晶片之佈線之故,極易容易進行有關半導體晶片之 佈線的工程管理。 更且,做爲利用以上說明之向興性導電膜,安裝半導 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) '22 * Ί----------- --------訂- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4443 07 Α7 Β7 五、發明說明(Q) 體晶片之例則不於圖6 ;即’圖6係利用有關本發明之任 一之實施形態的向異性導電膜4 ,安裝半導體晶片1 1 0 的電路基板1 0 0。然而:,於電路基板1 〇 〇中,一般使 用例如玻璃環氧基板等之有機系基板。於電路基板1 0 0 中,例如銅所成之接合部形成里所期望之電路。然後,將 ί安合部和半導體晶片1 1 0之外部電極機械連接地,可達 成電氣性之導通。 然而’半導體晶片1 1 〇係可將安裝面積縮小到於裸 晶所安裝之面積,將此電路基板1 〇 〇使用於電子機窃時 ,可達成電氣機器之小型化 < 又,於同一面積內,可確保 安裝之空間,而達高機能化。 然後,做爲具備此電路基板1 0 0之電子機器,於圖 7顯示筆記型個人電腦1 2 0 ,於圖8顯示攜帶型電話 13 0 = 產業上利用之可能性 如前所述,本發明與黏著半導體晶片和基板的同時’ 於前述半導體晶片和前述基板之電氣導通媒體所成向異性 導電膜中’具有第1構件,和鄰接於前述第1構件配霞所 成之第2構件,前述第1構件係經由較前述第2構件具有 流動性低之特性的材料所形成爲特徵之向異性導電膜之故 ,第1構件抑制第2構件的流動,於加熱加壓工具可防止 向異性導電膜之附著。囚此,可達成半導體晶片之安裝工 程之有效率化的同時,可達成安裝半導體晶片之外觀上之 I---.------- -^--------訂· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國囤家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -23- 4443 07 A7 -^--E____ 五、發明說明(21) 提升。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 又,具備將半導體晶片經 的半導體裝置中’前述向異,丨生 的第1構件’和較前述第丨構 前述第1構件係經由較前$芽( 的材料所形成之半導5 的流動’於加熱加壓工具可防 大幅降低洗淨加熱加壓丁具白勺 半導體晶片之外觀之提_升_ ^ 又,具備將半導體晶片經 的半導體裝置中1前述向異个生 的第1構件’和較前述第丨構 又’前述第1構件係於前述半 時’發現較前述第2構件之流 半導體裝置之故’第1構件抑 加壓工具R」防止向異性導.電脾 熱加壓工具的頻率。因此,可 觀之提升。 又’對於將形成電極之半 成基板之電極的面,於相對向 片之安裝方法中’具備將具有 1構件加以配置的第2構件的 述基板之前述電梅插的j.程 仏 1:馨 " 於前述向異性導電膜的工程 由向異性導電膜安裝之基板 導電膜係具有相當於邊緣部 件位於中央側的第2構件, 2構件具有流動性低之特性 故’第1構件抑制第2構件 止向異性導電膜之附著,可 頻率。因此,可達成安裝之 由向異性導電膜安裝之基板 導電膜係具有相當於邊緣部 件位於中央側的第2構件, 導體晶片和即述基板之接合 動性爲低之材料所成特徵的 制第2構件的流動,於加熱 之附著,可大幅降低洗淨加 達成安裝之半導體晶片之外 導體晶片之一方之面,對形 之方向加以安裝的半導體晶 第1構件,和鄰接於前述第 向異性導電膜,貼附於形成 ,和將前述半導體晶片載置 ,和將前述半導體晶片經由 I---------- -t--------訂, (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格mo X 297公釐) -24 - 4443 07 Α7 Β7 五、發明說明(22) 加熱加壓體加以加熱擠壓,連接於前述基板之工程,爲特 徵的半導體晶片之安裝方法之故,第1構件抑制第2構件 的流動,於加熱加壓工具可防止向異性導電膜之附著,可 大幅降低洗淨加熱加壓工具的頻率。因此,可達成安裝之 半導體晶片之外觀之提升。 又,對於將形成電極之半導體晶片之一方之面,對形 成基板之電極的面,於相對向之方向加以安裝的半導體晶 片之安裝方法中,具備加熱較熱塑性樹脂所成向異性導電 膜之邊緣部位於中央側之範圍,提高前述向異性導電膜之 流動性的工程,和將前述向異性導電膜貼附於形成前述基 板之前述電極面的工程,和將前述半導體晶片載置於前述 向異性導電膜上的工程,和將前述半導體晶片經由加熱力0 壓體加以加熱擠壓,連接於前述基板之工程,爲特徵的半 導體晶片之安裝方法之故,於加熱加壓工具可防止向異性 導電膜之附著的同時,可簡易達成半導體晶片之貼附位置 之定位工程。因此,向異性導電膜之邊緣部可抑制較該邊 緣部爲中央側部分之流動,於加熱加壓工具可防止向異性 導電膜之附著,可大幅降低洗淨加熱加壓工具的頻率。因 此,可達成安裝之半導體晶片之外觀之提升j 又,對於將形成電極之半導體晶片之一方之面,對形 成基板之電極的面,於相對向之方向加以安裝的半導體晶 片之安裝方法中,具備將形成Μ框狀之向異性導電膜貼附 於形成前述基板之前述電極面的工程,和於前述向異性導 電膜之內側範圍,設置較前述向異性導電膜流動性高之向 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) --------訂---------\ 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印制衣 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x 297公釐) -25- ' 4443 Ο 7 Α7 _Β7 五、發明說明(23) 異性導電黏著劑的工程,和將前述半導體晶片載置於前述 向異性導電黏著劑上的工程,和將前述半導體晶片經由加 熱加壓體加以加熱擠壓·.,連接於前述基板之工秤,爲特 徵的半導體晶片之安裝方u:之故 '半導體晶片之定位可簡 便地進行,可達成半導體品片之安裝工程之有效化。更且 ,可達成安裝之半導體晶片之外觀之提升。 ------------- --------訂---------广~ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x297公釐) -26 -

Claims (1)

  1. AH B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1 · 一種向異性導電膜,屬於黏著半導體晶片和基板 的同時,呈前述半導體晶片和前述基板之電氣導通媒體的 向異性導電膜中1其特徵係具有 第1構件,和鄰接前述第1構件加以配置所成之第2 構件: 前述第1構件係經由具有較前述第2構件流動性低之 特性的材料所形成者。 2 · _—種向異性導電膜,屬於黏著半導體晶片和基板 的同時,呈前述半導體晶片和前述基板之電氣導通媒體的 向異性導電膜中,其特徵係具有 第1構件,和鄰接前述第1構件加以配置所成之第2 構件; 前述第1構件係藉由在於前述半導體晶片和前述基板 之接合時,發現較前述第2構件之流_性爲低之特性的材 料所成者。 經濟部智总时-1 一::r H;工消f合作社印製 m n^i mi 1 - - ^^^1 ^^^1 1^^^ i nn «^ϋ n 1^1 ^^^1 V J. (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 3 ·如申請專利範園第1或第2項之向異性導電膜, 其中|前述第2構件係形成呈與形成前述半導體晶片之電 極的面幾近成同一形狀者= 4 ·如申請專利範圍第3項之向異性導電膜1其中, 前述第2構件係形成呈與形成前述半導體晶片之前述電極 的面幾近成同一面積者。 5 · —種電路基板,其特徴係具有 基板 和第1構件,和鄰接前述第1構件加以配置所成之第 枚呔戍义度適用中國國家標準(CNS > A4規格(210X297公釐) -27 - AS Β8 C8 D8 六、申請專利範圍 2構件,前述第1構件係經由具有較前述第2構件流動性 低之特性的材料所形成的向異性導電膜; 於前述基板設置前述向異性導電膜者。 6 如申請專利範_第5項之逼路基板,其中,前述 向異性導電膜係前述第1構件爲在於前述半導體晶片和前 述基板之接合時,發現較前述第2構件之流動性爲低之特 性的材料所成者。 7 _ —種電子機器,其特徵係具有第1構件|和鄰接 前述第1構件加以配置所成之第2構件;前述第1構件係 具有經由較#第2構件流動性低之特性的材料所形成的 向異性導電 8 ·如申專利範園第7項之電子機器,其中,前述 向異性導電膜係前述第1構件爲在於前述半導體晶片和前 述基板之接合時,發現較前述第2構件之流動性爲低之特 性的材料所成者。 9 · 一種半導體裝置,屬於具備將半導體晶片經由向 異性導電膜加以安裝的基板的半導體裝置中,其特徵係 經.Λ·Ι部钇"时"^:只工^#合作社印製 I » [ n I I '1τ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 前述向異性導電膜係具有相當於邊緣部之第1構件, 和較前述第1構件位於中央側之第2構件, 前述第1構件係經由具衍較前述第2構件流動性低之 特性的材料所形成者 i 0 · —種半導體裝置,屬於Μ備將半導體晶片經由 向異性導電膜加以安裝的基板的半導體裝置中,其特徵係 前述向異性導電膜係具有相當於邊緣部之第1構件1 夂紙乐尺度適用中國國家標绝 ( CNS ) Α4現格(2丨0X297公釐) -28 - Λ8 Β8 C8 D8 4443 0 7 六、申請專利範圍 和較前述第1構件位於中央側之第2構件, (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 前述第1構件係藉由在於前述半導體晶片和前述基板 之接合時,發現較前述第2構件之流動性爲低之特性的材 料所成者。 11 •如申請專利範園第9或第1 0項之半導體裝置 ,其中,前述第2構件係形成呈與形成前述半導體晶片之 電極的面幾近成同一形狀者= 1 2 _如申請專利範圍第1 0項之向異性導電膜,其 中,前述第2構件係形成呈與形成前述半導體晶片之前述 電極的面幾近成同一面積者。 1 3 _ —種半導體晶片之安裝方法,屬於將形成電極 之半導體晶片之一方之面,對形成基板之電極的面1呈相 對向方向加以安裝之半導體晶片之安裝方法,其特徵係具 有 將具有第1構件,和鄰接於前述第1構件加以配置所 成之第2構件的向異性導m膜,貼箸於形成前述基板之前 述電極之面的工程, 經"'部^总財>'"-^9工消費合作社印製 和將前述半導體晶片載置於前述向異性導電膜上之工 程, 和將前述半導體晶片經由加熱加壓體1邊加熱邊按壓 地連接於前述基板之工程〃/ 5. . · 1 4 ·如申請專利範圍..第1 3項所記載之半導體晶片 之安裝方法,其中,前述'賽ί_ 1構件係具有較前述第2構件 流動性爲低之特性者。 故*尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) -29 - 4443 07 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 15·如申請專利範圍第13或第14項之半導體晶 片之安裝方法,其中,前述第2構件係形成呈與前述一方 的面幾近成同…形狀者。 1 6 如申請專利範丨剖第1 5項之半導體晶片之安裝 方法,其中,前述第2構件係形成罕.與前述一方之面幾近 成同一面積者。 1 7 -種半導體晶片之安裝方法,屬於將形成電極 之半導體晶片之一方之而,對形成基板之電極的面,呈相 對向方向加以安裝之半導體晶片之安裝方法,其特徵係具 有 加熱較熱塑性樹脂所成向異性導電膜之邊緣部位於中 央側之範園,提高前述向異性導電膜之流動性之工程, 和將前述向異性導電膜,貼著於形成前述基板之前述 電極之面的工程, 和將前述半導體晶片載置於前述向異性導電膜上之工 程, 經濟部皙总財^工消費合作社印製 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 和將前述半導體晶片經由加熱加壓體,邊加熱邊按壓 地連接於前述基板之工程。 1 8 ·如中請專利範圍笫1 7項之半導體晶片之安裝 方法,其中1前述向異性導電股係將前述範圍與前述之一 方面幾近呈同一形狀者。 1 9 · 一種半導體晶片之安裝方法,屬於將形成電極 之半導體晶片之一方之面,對形成基板之電極的面,呈相 對向方向加以安裝之半導體晶片之安裝方法,其特徵係具 本岐張又度適用中國國家標宰(CNS ) Λ4規格(210X297公釐) -30- 4443 Ο 7 Α8 B8 C8 D8 申請等利範圍 有 將形成呈框狀之向異性導電膜 之前述電極之面的工程,. 和於前述向異性導m膜之内側 性導電膜流動性高之向異性導甫黏ΐ 和將前述半導體晶片載置於前 ,貼著於形成前述基板 範園,設置較前述向異 $劑之工程 述向異性導電膜上之工 程 地連 方法 和將前述半導體晶片經由加熱加壓體,邊加熱邊按壓 接於前述基板之工程。 2 0 ·如申請專利範圍第1 9 ,其中,前述向異性導電膜之 項之半導體晶片之安裝 內側之範圍係形成呈與 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 之一方面幾近呈同一形狀者 2 Μ 部 智 ,¾ 財 !·ϊ r7 Μ χ 費 合 ft 社 印 極之 相對 具有 2構 之面 程, •一種半導體裝置,其特徵係使用屬於將形成電 半導體晶片之一方之面,對形成基板之電極的面,呈 间方向加以安裝之半導體晶片 第1構件,和鄰接於前述第丄 件的向異性導電膜,貼著於形 的工程1 和將前述半導體晶片載遥於前 之安裝方法中1具有將 構件加以配置所成之第 成前述基板之前述電極 述向異性導電膜上之工 和將前述半導體晶)V經山加熱加壓體,邊加熱邊按壓 晶片之安裝方法加以製 地連接於前述基板 工柷的半導體 ''止者 種半導體裝置,其特徵係使用屬於將形成電 夂兄度適用中國國家標聲(CNS ) Α4規格(2!〇X2W公釐) -31 - 4443 0 7 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範園 極之半導體晶片之一方之面,對形成基板之電極的面,呈 相對向方向加以安裝之半導體晶片之安裝方法中,具有 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本百) 加熱較熱塑性樹脂所成向異性導電膜之邊緣部位於中 央側之範圖,提高前述向異性導電胶之流動性之工程, 和將前述向異性導電膜·貼濟於形成前述基板之前述 電極之面的工程, 和將前述半導體晶片載置於前述向異性導電膜上之工 程, 和將前述半導體晶片經由加熱加壓體,邊加熱邊按壓 地連接於前述基板之工程的半導體晶片之安裝方法加以製 造者。 2 3 · —種半導體裝置,其特徵係使用屬於將形成電 極之半導體晶片之一方之面·對形成基板之電極的面,呈 相對向方向加以安裝之半導體晶片之安裝方法,其特徵係 具有 將形成呈框狀之向異性導電膜,貼著於形成前述基板 之前述電極之面的工程· M·-部智总財4¾¾ (工消#合作社印焚 和於前述向異性導窀膜之内側範圍,設置較前述向異 性導電膜流動性高之向異性導電黏著劑之工程 和將前述半導體晶片載置於前述向異性導電膜上之工 程, 和將前述半導體晶片經山加熱加壓體,邊加熱邊按壓 地連接於前述基板之工程的半導體晶片之安裝方法加以製 造者。 反度適用中國國家標嗥(C^S ) Λ4規格(210 X 297公釐) -32 - 8 8 8 8 A BCD 4 4 4 3 0 7 六、申請專利範圍 2 4 · —種電子機器,其特徴係具備使用屬於將形成 電極之半導體晶片之一方之而,對形成基板之電極的面, 呈相對向方向加以安裝之.半導體晶片之安裝方法中,具有 將具有第1構件,和鄰接於前述第1構件加以配置所成之 第2構件的向異性導電膜,貼著於形成前述基板之前述電 極之面的工程, 和將前述半導體晶片載置於前述向異性導電膜上之工 程, 和將前述半導體晶片經由加熱加壓體,邊加熱邊按壓 地連接於前述基板之工程的半導體晶片之安裝方法加以製 造的半導體裝置者。 2 5 · —種電子機器,其特徵係具備使用屬於將形成 電極之半導體晶片之一方之面,對形成基板之電極的面, 呈相對向方向加以安裝之半導體晶片之安裝方法中,具有 加熱較熱塑性樹脂所成向異性導電膜之邊緣部位於中 央側之範園,提高前述向異性導電膜之流動性之工程, 和將前述向異性導電膜,貼著於形成前述基板之前述 電極之面的工程, 和將前述半導體晶片截置於前述向異性導電膜上之工 程, 和將前述半導體晶片經由加熱加壓體,邊加熱邊按壓 地連接於前述基板之工程的屮導體晶片之安裝方法加以製 造的半導體裝置者。 2 6 · ~種電子機器,其特徵係具備使用靥於將形成 匕氓乐尺度適用中國國家標孽(CNS ) A4規格(210X 297公釐) .................... I _ _ _ I I - I! . 丁 _ HI. . - - ίΝ (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智总財4_49工消#'合作社印絮 -33 - 4443 Ο 7 Λ8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 I電極之半導體晶片之…方之而,對形成基板之電極的面, ! 呈相對向方向加以安裝之屮導體品片之安裝方法,其特徵 f糸具有 將形成呈框狀之向異性導?g膜,貼著於形成前述基板 之前述電極之面的工程, 和於前述向異性導屯膜之内側範圍,設置較前述向異 性導電膜流動性高之向異性導電黏著劑之工程 和將前述半導體晶片載置於前述向異性導電膜上之工 程, 和將前述半導體晶片經由加熱加壓體,邊加熱邊按壓 地連接於前述基板之工程的半導體品片之安裝方法加以製 造的半導體裝置者。 ,t歧^尺度適用中國國家標搫(CNS ) Λ4規格(2I0X297公釐-) ---------^------tl------M- (請先閣讀背面之注意事項再填寫本I) -34 -
TW088121094A 1998-12-02 1999-12-02 Anisotropic conductor film, method for packaging semiconductor chip, and semiconductor device TW444307B (en)

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