TW434558B - Anti-fuse programming circuit using variable voltage generator - Google Patents

Anti-fuse programming circuit using variable voltage generator Download PDF

Info

Publication number
TW434558B
TW434558B TW088112871A TW88112871A TW434558B TW 434558 B TW434558 B TW 434558B TW 088112871 A TW088112871 A TW 088112871A TW 88112871 A TW88112871 A TW 88112871A TW 434558 B TW434558 B TW 434558B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
fuse
output
voltage
signal
variable voltage
Prior art date
Application number
TW088112871A
Other languages
English (en)
Inventor
Young-Hee Kim
Kie-Bong Ku
Original Assignee
Hyundai Electronics Ind
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hyundai Electronics Ind filed Critical Hyundai Electronics Ind
Application granted granted Critical
Publication of TW434558B publication Critical patent/TW434558B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/14Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
    • G11C17/18Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Description

434558 五、發明說明(1) 本發明是有關於反嫁絲編程電路,且特別是有關於一 種反炼絲編程電路,其可以藉由内部電壓源電壓的改變而 編程反溶絲’進而增加編程效率、並可以藉由回授環路的 使用而避免在編程反熔絲時的漏電流,進而降低功率消 耗。 一般熔絲,在通過電流超越一既定值時,會因生成高· 溫而熔斷,進而形成一開路以保護關聯的裝置。 另外,熔絲亦可用在記憶體裝置的冗餘電路中,使錯 誤線(Failed line)得以多餘線(Sp are line)取代。要編 程使用的熔絲,目前已提出有數種方法。舉例來說,電性 •溶絲方法(E 1 e c t r i c a 1 f u s e m e t h 〇 d )便是施加過量電流 (Overcurrent)以熔斷熔絲,而雷射切割方法(Laser cutting method)則是施加雷射光束以熔斷熔絲。 在上述方法中,雷射切割方法,因簡單、可靠、容易 安排’而廣為採用。在這個例子中’熔絲是以複晶矽線或 金屬線所製成。 過直電流的切割方法則需要高電流驅動器及溶絲熔塾 (Fuse blowing pad),因此會佔去較大面積。另外,剩餘 物(Residue)亦會在切割後殘留,造成關閉現象 (Swi*tch_off phenomenon) 〇 利用雷射光束切割複晶矽的例子中’要精確施加雷射 光束至複晶矽時可能會發生錯誤’且剩餘物亦會在切割後 殘留。在這個例子中,雷射切割方法需要大量處理時間, 且不易精確實施。另外,這種方法亦無法在封裝階段修
第5頁 434558 五、發明說明(2) 復’導致可靠度的降低。 熔辞為ΪΪΐΪ問題,㉛來乃提出一種新元件,所謂的反 H 其可在封裝階段輕易地編程。 反熔絲的編程是連接(Interconnect)上電極及下電 J。說,反熔絲是在上電極及下電極間形成絕緣 層’使可以介電崩潰電壓⑽旧士 ^…刪 age ’即上電極及下電極的電壓差,輕易打斷。 由此觀點,反熔絲的編程是連接兩電,一 的編程則是將兩電極彼此切斷。 而瓜熔絲 因此,可以編程熔絲、並確認編程結果的電路便有其 需要。 根據上述問題,本發明的目的是提供一種反熔絲編程 電路,其可以藉由内部電壓源電壓的改變以 熔呼、 並阻隔電流路經以降低電流消耗。 反熔4 且根據本發明,本發明乃提供一種反熔絲編程電路,其 具有:一可變電壓源,根據一編程信號以改變其輸出電、 壓I 一緩衝器,造成該可變電壓源之該輸出電壓之些微變 動,一操作切換部,以該可變電壓源之該輸出電壓預充電 該反炫絲編程電路;一反熔絲,連接該操作切 供施一 曰 1 W ^
應一過量電流時介電崩潰;一感應信號輸入部,輪入_ f應信號以確認該反熔絲之編程狀態;一崩潰電壓供應 部’供應該可變電壓源之該輸出電壓以介電崩潰該反炼 絲;:輸出部’根據該感應信號輸入部之該感應信號以輪 出一#號’藉以表示該反熔絲之編程狀態;一電流阻隔月J
第6頁 434558 五、發明說明(3) 部’根據該輸出部之一4Φ ^ ιΜ τίϋ tf- / 丨之椏制“唬以阻隔自該崩潰電壓供應 部至该炼絲之一雷流政姆* n tt _a _ + k μ # π、 問鎖部,根據該輸出部 電壓。 反落糸穩固在该可變電壓源之該輸出 …分之一操作電壓時維持絕緣狀態、並在源 電壓時介電崩潰。 可變電壓源裝置在正常狀態時輸出二分之一操作電 Ϊ罟ί = 2時輸出源電屋。在正常狀態時,操作切換 ^‘1 壓源裝置的二分之一操作電壓預充電反炫 絲j程電路。閃鎖裝置則將反炼絲的電壓穩固在可變電壓 源裝置的輸出電壓。 =述預充電狀態下冑入編程信號以編程反熔絲, 則可受電壓源裝置的輪出電壓會上升至源電壓。也就是 說,可變電Μ源裝置的輸出電S會由二分之一操作電愿變 成源電壓。崩潰電壓供應裝置會提供可變電壓源裝置的源 電壓至反熔絲,藉以介電崩潰及編程反熔絲。 若在反嫁絲已編程的狀態下輸入感應信號,藉以確認 反熔絲的編程狀態,則輸出裝置會輸出信號以表示反熔絲 的編程狀態。 反炼絲的介電崩潰狀態可能會導致自崩潰電壓供應褒 置至反熔絲之電流路徑之形成。此時,電流阻隔裝置的功 用則是根據輸出裝置之控制信號阻隔電流路徑,藉以避免 進一步的電流消耗。 緩衝裝置連接可變電壓源裝置的輸出端,藉以避免預
434558 五、發明說明(4) 充4 €電壓的驟變。這亦使低電壓的反熔絲編程變得可能。 為該本發明之上述目的、特徵、和優點能更明顯易 僅’下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明 如下: [圖式簡單說明] 第1圖是本發明—實施例之反熔絲編程電路結構之電 路圖; 第2圖是第1圖反熔絲編程電路之輸入/輸出信號之模 擬結果圖;以及 第3圖是第1圖反熔絲編程電路中可變電壓源之輸入/ 輸出信號之模擬結果圖。 符號說明 1 0〜可變電壓源;1 〇 2〜切換部;2 〇〜緩衝器;3 0〜操作 切換4 ’ 4 0 ~感應信號輸入部;5 〇〜崩潰電壓供應部;6 〇〜 電流阻隔部,· 70〜閂鎖部;80〜輸出部;90〜反熔絲。 [實施例] 第1圖是本發明一實施例之反熔絲編程電路結構之電 路圖,其應用於一記憶體裝置。 凊參考第1圖,可變電壓源1 〇具有切換部i 〇 2以將可變 電壓源10的輸出信號,根據一編程信號pgm及互補的編程 信號pgmb而切換至源電壓VCC及二分之一操作電壓HVC(: 任一。 切換部102會在編程狀態輸出源電壓vcc,及在正常狀 態輸出二分之一操作電壓叮“ β為此,切換.部ι〇2具有第
第 8 買 ' ----— 434558
出端PVCC之間、並根據互補的編程信號pgmb 2 =二隱電晶體P2,連接於二分之—操作電M似及 輸出端PVCC之間、並根據編程信號PGM以進行切換。 緩衝器20連接於可變電壓源10之輸出端pvcc'。 20具有一大電容NM0S電容C1以作為逆電容(Reverse衝时 capacitor),其連接至地點電壓端。反電容的作用是允許 可變電壓源1 0的輸出信號可以根據基於反電容之時間常數 而緩慢變動於0V及二分之一操作電壓HVCC之間戍二分一 操作電壓HVCC及源電壓VCC之間。
mV 緩衝器20之上述動作在正常狀態並不重要但在杳 反熔絲90是否具有突發信號(Abrupt signal)時卻很重一 要0 理由是:反熔絲90在介電崩潰前之作用相當於一個電 容,所以當源電壓VCC出現突發變動時,電流便會通過反 熔絲90。因此,在編程反熔絲時所需之高壓乃成為缺點。 操作切換部30是以可變電壓源10的輸出電壓來預充電 反熔絲編程電路。為此,操作切換部3〇具有第SPM〇s 體P3。 第二PM0S電晶體P3的没極連接可變電壓源1〇的輸出端
PVCC,源極連接反熔絲90 —端,閘極則輸出互補的預充電^ 信號prechb。 I 反溶絲90 —端及第三PM0S電晶體P1源極的共同連接點 (Common connection point)隨後稱為節點a。 感應信號輸入部40具有NM0S電晶體N1,其汲極連接溶
434558
感應信號輸入部40具有NMOS電晶體N1,其汲極連接熔 絲90的另一端,源極連接地點電壓端,閘極則輸入一錯 位址信號ADDR。 崩=電壓供應部50是用來將可變電壓源1〇的輸出電壓 供應至節點a ^為此,崩溃電壓供應部5〇具有第六㈣⑽ 晶體P6。 電流阻隔部60是用來中斷(interrupt)來自崩潰電壓 — 供應部50之崩潰電壓,藉以在編程反熔絲9〇後阻隔自崩潰 電壓供應部50至反熔絲90的電流路徑。為此’電流阻隔部 60具有第五PM0S電晶體P5。 第六PM0S電晶體P6的汲極連接可變電壓源1〇的輸出端 J P V C C,源極連接第五p Μ 〇 S電晶體p 5的汲極’閘極則輸入互 補的編程信號pgmb。第五PM0S電晶體Ρ5的源極連接節點 a,閘極則輸入回授自輸出部80中第一反相器INV1的輸出 信號’其乃是將節點a的電壓反相。 第一反相器INV1是以可變電壓源1〇的輸出電塵致能。 換句話說,第一反相器在編程狀態時是以源電壓致 能’在正常狀態時則是由二分之—操作電壓HVCC致能。 閂鎖部70是用來將可變電壓源1〇的輸出電壓供應至節 點a,藉以穩定節點a的電壓位準為此,閂鎖部7〇具有第I」 四PM0S電晶體P4 ’其汲極連接可變電壓源1〇的輸出端 PVCC,源極連接節點a ’閘極則連接第一反相器I NV1的輸 出端。 第一反相器INV1連接反熔絲9 0 —端(或節點a ),並利
第10頁 434558 五、發明說明(7) 用可變電壓源10的輸出電壓pvcc致能以反相節點a的電壓 位準。輸出部80亦具有第二反相器INV2,其利用可變電壓 源ίο的輸出電壓pvcc致能,藉以反相第一反相器INV1的輸 出信號°利用此結構’輪出部8〇可用以輸出節點a的電壓 狀態。 輸出部80的輸出信號在正常狀態時為高位準,在編程 反炼絲90時則根據施加於感應信號輸入部4〇之位址信號 ADDR而為低位準。 第2圖是第1圖反熔絲編程電路之輸入/輸出信號之模 擬結果圖。 本發明上述反熔絲編程電路結構的操作將配合第2圖 詳細說明如下。 首先’在正常狀態下,編程信號pgin為低電壓,且互 補編程信號pgmb為高電壓。 此時’在可變電壓源10中’第一PM〇s電晶體ρι會關 閉’且第二PMOS電晶體P2會開啟,使二分之一操作電壓 HVCC傳送至輸出端pVCC。 換句話說’可變電壓源丨〇的功用就是在正常狀態輸出 一分之一操作電壓HVCC ’及在編程狀態輸出源電壓VCC。 這樣可以避免高電壓在正常狀態時施加至反熔絲編程 電路’進而降低正常狀態時的電流消耗。 此時’若互補預充電信號prechb變成低電壓以預充電 反熔絲編程電路,操作切換部3〇之第三pM〇S電晶體p3會開 啟以供應可變電壓源i 0的輸出電壓至節點a。
第11頁 434558 五、發明說明(8) 變成高電壓。輸 壓HVCC之位準, 壓HVCC致能。
出部80之此尚壓輸出具有二分之_操作胃 因為第二反相器JNV2是由二分之—操作電 若互補的預充電信號prechb在上述預充電條件下變成 高電壓’第三PM〇S電晶體會關閉,且二分之一操作電壓 HVCC不會施加至節點&。此時,節點a是由閂鎖部7〇維持在 二分之一操作電壓HVCC之預充電狀態。 電流阻隔部6〇的第五PMOS電晶體P5會根據第—反相器 INV1回授之低位準輸出而維持在開啟狀態。 此時,若錯誤位址信號ADDK變成高位準以感應反炼絲 90的編程狀態’ NMOS電晶體N1會開啟。不過,因^反熔’絲 9 0沒有介電崩潰’節點a不會被充電,故輸出部8〇 repb亦不會有變動。 隨後’當編程信號pgm變成高位準以編程反炼絲9 〇 時,互補的編程信號pgmb會變成低位準。因此,在可變電 壓源ίο中,第一pmos電晶體P1會開啟且第二PM0S電晶體p2 會關閉,藉以使輸出電壓PVCC基於緩衝器20之時間常數上 升至源電壓VCC。 第六PMOS電晶體P6亦會根據互補的編程信號pgmb開啟 以供應可變電壓源10輸出端PVCC之源電壓VCC至節點a。因 此,自節點a經由反炼絲90及開啟nm〇S電晶體Ml至地點電 壓k之電流路徑便形成’造成反炼絲g q的介電崩潰。 若反惊絲9 0在上述情况下介電崩潰,節點&會自高電 壓變成低電壓’然後再以第一反相器INV1由低電壓反相成
43455S 五、發明說明(9) '' 高電壓。因此,電流阻隔部60之第五PMOS電晶體P5及問鎖 部70之第四PMOS電晶體P4會關閉以使源電壓VCC不會供應 至節點a。 然後’節點a的電壓便依序由第一反相器INV1及第_ 反相器INV2反相,使輸出部80的輸出repb變成低電壓。此 意味著’反熔絲9 0的編程狀態為正常。
第3圖是可變電壓源1〇之輸出變動之模擬結果圖。如 圖中所示’輸出電壓PVCC之上升會根據缓衝器20中逆電容 的時間常數而延遲’即使編程信號pgm及互補的編裎信號 Pgmb突然變動。 U 在這種情況下’可變電壓源1 〇的輸出電壓會在緩衝器 20的幫助下和緩變動。這可以避免反熔絲編程電路因突發 之電壓變動而造成錯誤操作。 由上述可知’根據本發明,反熔絲可於半導體裝置之 封裝階段時’在介電崩潰的情況下編程以連接兩電極。這 亦改善了單位成本及可靠度。 再者,在編程反熔絲時使用可變電壓源,故源電壓 (或高電壓)不會持續施加於反熔絲編程電路。另外,電源 供應會在反熔絲之介電崩潰後阻隔,此亦可大幅降低電流 >肖耗。 雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以 限定本發明’任何熟習此項技藝者,在不脫離本發明之精 神和範圍内,當可作更動與潤飾’因此本發明之保護範圍 當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
第13頁

Claims (1)

  1. 434558 六、申請專利範圍 1 · 一種反熔絲編程電路,包括: 電 一可變電壓源裝置,根據一蝙程信號以改 壓; 丹输出 該輸出電壓之 一緩衝裝置’造成該可變電麗源裝置之 些微變動; < 一操作切換裝置,以該可變電壓源裝置之該輪 預充電該反熔絲編程電路; π歷 一反炼絲’連接該操作切換裝置,會在供應一過量電 流時介電崩潰; 一感應信號輸入裝置,輸入一感應信號以確認該反溶 絲之編程狀態; 一崩潰電壓供應裝置,供應該可變電壓源裝置之該輸 出電壓以介電崩潰該反熔絲; _ 一輸出裝置’根據該感應信號輸入裝置之該感 以輸出一信號’藉以表示該反熔絲之編程狀態; 以降 一電流阻隔裝置,根據該輸出鈇置之一控制信據及 隔自該崩潰電壓供應裝置至該熔絲之一電流路徑;^該反 一閂鎖裝置,根據該輸出裝置之該控制信號以 熔絲穩固在該可變電壓源裝置之該輸出電壓。 2.如申請專利範圍第1項所述的反熔絲編程電β ^ 中該可變電壓源裝置具有一切換裝置,根據該編^: 切換該可電壓源裝置之該輸出電壓至源電壓或二匆
    作電壓。 3 ·如申請專利範圍第2項所述的反熔絲編
    第U頁 434558 六、申請專利範圍 中該切換裝置具有‘ 一第一PMOS電晶體,連接於〆源電壓端及該可變電壓 源裝置之一輪出端之間,根據/彡補的編程信號以進行切 換;以及 二分之一操作電壓端及 ,根據該編程信號以進
    一第二PMOS電晶體,連接於/ 該可變電壓源裝置之該輸出端!間 行切換。
    4·如申請專利範圍第丨項所述的反熔絲編程電路,其 中該緩衝裝置具有一逆電容器,速接於該可變電壓源裝置 之輸出端及一地點電壓端之間。 5 ·如申請專利範圍第1項所述的反熔絲編程電路’其 中該操作切換裝置具有—PM〇s電晶體,連接於該可變電壓 源裝置之—輸出端及該反炼絲之間、並根據一預充電信號 以操作。 6♦如申請專利範圍第1項所述的反熔絲編程電路’其 該感應信號輸出裝置具有一NMOS電晶體,連接於該反熔 、’、及地點電壓端之間、並根據該感應信號以操作。 由兮^如申請專利範圍第1項所述的反熔絲編程電路,其 k崩潰電壓供應裝置具有一PM〇s電晶體,連接於該可變
    站C源骏置之一輸出端及該電流阻隔裝置之間、並根據該 編程信號以操作。 + β 如申請專利靶圍第1項所述的反熔絲編程電路,其 中該輪出裴置具有: 第一反相器’連接該熔絲並以該可變電壓源裝置之
    第15頁 434558 六、申請專利範圍 # # 該輸出電壓致能’用來反相該反熔絲之一輸出信號、並輸 出其反相信號以作為該控制信號;以及 一第二反相器’以該可變電壓源裝置之該輸出電壓致 能,用來反相該第一反相器之該控制信號、並輸出其反相 信號以作為該仏號,藉以表示該反熔絲之編程狀態。 9.如申明專利範圍第丄項所述的反熔絲編程電路,其 中該電流阻隔裝置具有—PMnc步„ ^ & .也+网、 供應裝置之一輸出端電晶體’連接於該崩潰電堡 該控制信號以操作錢絲之間、並根據該輸出裝置之 1 0 .如申請專利範圍第1 中該閃鎖裝置具有—PM〇s電 變電壓源裝置之一輸出端之 制信號以操作。 項所述的反嫁絲編程電路,其 晶體’連接於該反熔絲及該可 間 '並根據該輸出裝置之該控 11
    第16頁
TW088112871A 1998-06-30 1999-07-29 Anti-fuse programming circuit using variable voltage generator TW434558B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-1998-0026223A KR100359855B1 (ko) 1998-06-30 1998-06-30 가변전압발생기를이용한앤티퓨즈의프로그래밍회로

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW434558B true TW434558B (en) 2001-05-16

Family

ID=19542563

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW088112871A TW434558B (en) 1998-06-30 1999-07-29 Anti-fuse programming circuit using variable voltage generator

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6144247A (zh)
JP (1) JP3660828B2 (zh)
KR (1) KR100359855B1 (zh)
TW (1) TW434558B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111796807A (zh) * 2020-04-09 2020-10-20 电子科技大学 一种应用于反熔丝器件的自适应编程方法
TWI716163B (zh) * 2019-07-16 2021-01-11 南亞科技股份有限公司 熔斷反熔絲元件的方法

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100368307B1 (ko) * 1999-12-29 2003-01-24 주식회사 하이닉스반도체 안티퓨즈 프로그램 회로
KR100399896B1 (ko) * 2001-04-23 2003-09-29 주식회사 하이닉스반도체 안티 퓨즈용 공급전압 콘트롤회로
US6614278B2 (en) * 2001-05-29 2003-09-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Pulsed signal transition delay adjusting circuit
US6628561B2 (en) * 2001-08-30 2003-09-30 Micron Technology, Inc. Small anti-fuse circuit to facilitate parallel fuse blowing
JP3730932B2 (ja) 2002-04-16 2006-01-05 エルピーダメモリ株式会社 半導体記憶装置および容量ヒューズの状態確認方法
US20030234665A1 (en) * 2002-06-20 2003-12-25 Sterling Smith Anti-fuse sense amplifier
KR100865708B1 (ko) * 2002-07-19 2008-10-29 주식회사 하이닉스반도체 반도체 장치
JP3878586B2 (ja) * 2003-07-17 2007-02-07 株式会社東芝 リード/プログラム電位発生回路
US7437584B2 (en) * 2006-02-27 2008-10-14 Atmel Corporation Apparatus and method for reducing power consumption in electronic devices
JP4191202B2 (ja) * 2006-04-26 2008-12-03 エルピーダメモリ株式会社 不揮発性記憶素子を搭載した半導体記憶装置
JP4946260B2 (ja) * 2006-08-16 2012-06-06 富士通セミコンダクター株式会社 アンチヒューズ書込電圧発生回路を内蔵する半導体メモリ装置
JP5082334B2 (ja) 2006-08-18 2012-11-28 富士通セミコンダクター株式会社 電気ヒューズ回路、メモリ装置及び電子部品
CN101556825B (zh) * 2009-05-20 2011-11-30 炬力集成电路设计有限公司 一种集成电路
KR101710056B1 (ko) 2010-08-11 2017-02-27 삼성전자주식회사 퓨즈 회로, 이를 포함하는 퓨즈 어레이 및 반도체 메모리 장치
KR101240256B1 (ko) * 2011-03-28 2013-03-11 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 집적회로
KR101842143B1 (ko) * 2011-11-29 2018-03-27 에스케이하이닉스 주식회사 안티퓨즈 제어 회로
EP2849183B1 (en) 2013-09-17 2017-03-22 Dialog Semiconductor GmbH On-chip Voltage Generation for a Programmable Memory Device

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5243226A (en) * 1991-07-31 1993-09-07 Quicklogic Corporation Programming of antifuses
US5491444A (en) * 1993-12-28 1996-02-13 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Fuse circuit with feedback disconnect
US5426614A (en) * 1994-01-13 1995-06-20 Texas Instruments Incorporated Memory cell with programmable antifuse technology
US5517455A (en) * 1994-03-31 1996-05-14 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Integrated circuit with fuse circuitry simulating fuse blowing
US5495436A (en) * 1995-01-13 1996-02-27 Vlsi Technology, Inc. Anti-fuse ROM programming circuit
KR0145221B1 (ko) * 1995-05-25 1998-08-17 김광호 반도체 메모리 소자의 스위치 회로
US5583463A (en) * 1995-05-30 1996-12-10 Micron Technology, Inc. Redundant row fuse bank circuit
KR0149259B1 (ko) * 1995-06-30 1998-10-15 김광호 반도체 메모리 장치의 퓨즈 시그너쳐 회로
US5604693A (en) * 1995-08-16 1997-02-18 Micron Technology, Inc. On-chip program voltage generator for antifuse repair
US5689455A (en) * 1995-08-31 1997-11-18 Micron Technology, Inc. Circuit for programming antifuse bits
JPH09251797A (ja) * 1996-03-18 1997-09-22 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置、その救済方法及びその試験方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI716163B (zh) * 2019-07-16 2021-01-11 南亞科技股份有限公司 熔斷反熔絲元件的方法
CN111796807A (zh) * 2020-04-09 2020-10-20 电子科技大学 一种应用于反熔丝器件的自适应编程方法
CN111796807B (zh) * 2020-04-09 2023-08-22 电子科技大学 一种应用于反熔丝器件的自适应编程方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000082297A (ja) 2000-03-21
KR20010008397A (ko) 2001-02-05
JP3660828B2 (ja) 2005-06-15
KR100359855B1 (ko) 2003-01-15
US6144247A (en) 2000-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW434558B (en) Anti-fuse programming circuit using variable voltage generator
US6150868A (en) Anti-fuse programming circuit
TW434559B (en) Repair circuit for redundancy circuit with anti-fuse
EP0336500A1 (en) Integrated circuit comprising a programmable cell
TW436784B (en) Anti-fuse programming circuit with cross-coupled feedback loop
TW454198B (en) Repair circuit of semiconductor memory device
KR100321167B1 (ko) 앤티퓨즈로미세조정되는기준전압발생기
TW521392B (en) Fuse circuit
TW378326B (en) An electrically programmable anti-fuse circuit
US20040046601A1 (en) Circuit with fuse and semiconductor device having the same circuit
TWI259470B (en) Evaluation circuit for an anti-fuse
CN101794769A (zh) 熔丝电路及其布线设计方法
CN110400595B (zh) 一种具备修正功能的antifuse电路
JP4342165B2 (ja) メークリンクヒューズ付き回路及びこれを利用した半導体装置
JPH11328991A (ja) メモリ素子用アンチヒューズ安定化装置
CN111881638B (zh) 可编程电路及其编程方法、读取方法
CN116453571B (zh) 一种低功耗的熔丝读取结构
US20100226193A1 (en) Semiconductor memory device
KR20010008398A (ko) 앤티퓨즈를 갖는 내부전압발생기
JPH038039B2 (zh)
KR20130077626A (ko) 안티 퓨즈 회로
KR20060039483A (ko) 퓨즈의 프로그램 여부 판단방법 및 이를 위한 퓨즈의프로그램 여부 판단회로
KR20010061267A (ko) 반도체메모리장치의 리페어 장치
TW200400691A (en) Anti-fuse sense amplifier
JPS58175859A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees