TW390915B - Electroless nickel plating solution and method - Google Patents
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Description
' A7 .一__________________________________ __________ _____________________________________ B7 五、發明説明(、) 發明領域 本發明係有關一種無電鍍鎳溶液,其具有改良的精密 圖式化能力(patterning capability),及一種在工作 件上化學沈積鎳鍍層之方法。本發明也有關一種高組份鍍 金方法,其能夠在經化學銨鎳過的工作件上沈積一層厚的 金鍍層,該方法對於在印刷電路板和電子零件件上形成金 鍍層具有工業有利性。 先前技藝 無電或化學鎳鍍以其有利特徵而已被用於廣多種領域 之中。例如,無電鍍鎳即已被廣用於電子用品上。不過, 無電鍍鎳技術尙未完全趕上電子用品方面的迫切需要。 電子用品重量減低的需求促進組成電路密度的增加, 因而需要更細密的線路圖式。使用傳統無電電鍍鎳溶液在 這種細密圖式上電鍍時會產生幾項問題。經減少的線寬在 電鍍時會造成薄肩問題。細窄的圖式間距會產生下列問題 :鍍層突出或向外突起而減低線條之間的阻力及因鍍層橋 連而短路。’薄層(thin shou. lder) —詞意指從橫截面 看來鍍層未完全沈積在線路流道的肩部且該肩部上的鍍層 部份比其餘鍍層明顯地較爲薄。道種問題可能是因爲肩部 有過份黏著安定劑因而限制金屬沈積之@。"鍍層向外突 起' (plating outgrowth) —詞意指鍍層從金屬銅或線 路流道突出來且在線路流道周圍沈積著一鍍層。此現象可 能是因爲在鈀(活化劑)處理後’線路流道周圍所黏著殘 留的鈀離子被無電鍍電溶液還原成金屬鈀’其顯示出催化 才:ϋϊΰϊΐΐ川'ΐϋ家樣彳((他]^4規格(210X297公# ) -4 - A7 _____B7 五、發明説明(2 ) 作用而幫助鎳沈積在其上面之故。 此外,無電鍍金也常用於電子工業零件領域中例如印 刷電路板,陶瓷I c套件’ I TO基材,和I C卡,係因 爲金具有許多優點之故,包括導電性,物理性質例如熱壓 縮黏合能力’抗氧化性’和抗化學性。以有效率方式化學 沈積厚金塗層是印刷電路板工業中的一次重要問題。 〔發明概述〕 本發明的一項目的爲提出一種無電鍍鎳溶液和方法, 其克服了在圖式線上的薄肩及鎳鍍層向外突起諸問題且有 改良的細密圖式清晰性。 本發明的另一目的爲提出一種高組份無電鍍金方法, 其工業有利性在於可在短時間內化學沈積一層厚的金鍍層 本發明發現經由在無電鍍鎳溶液內添加具有硫對硫鍵 的化合物,典型者硫代硫酸鹽,連二硫酸鹽,連多硫酸鹽 或連二亞硫酸鹽,十分意外地,可以克服薄肩和鎳鍍層向 外突起之問題且可消除橋連短路問題。本發明更發現在將 一工作件置於每含有硫對硫鍵的化合物之無電鍍金槽中進 行化學鍍鎳且將鍍過鎳的工作件再經化學鍍金處理時,可 以在短時間內將金鍍層沈積到實質的厚度。 本發明進一步發現在將一工作件先%積在不含具有硫 對硫鍵的化合物之無電鍍金槽中以在該工作件上化學沈積 一鎳底鍍層且於其後浸於包含具有硫對硫鍵的化合物之無 電鍍鎳槽中以在該鎳底鍍層上化學沈積一鎳鍍層,再將該 經兩次鍍鎳過的工作件施以化學鍍金時,可以在短時間內 木紙张八度洎川十阀代家樣彳((、NS ) Λ'1規招(210X 297公郑) (对先閲讀背而之>1.意事項再填寫本頁)
-5 - A7 _______________ — ____ η 7 五、發明説明(3) 沈積到實質厚度的金鍍層。該金鍍層具有優良的外觀,長 時間後不會變色。本發明即以這些發現爲根據。 根據本發明第一部份,提出一無電鍍鎳溶液,其含有 水溶性鎳鹽,還原劑,錯合劑,和具硫對硫鍵的化合物。 根據本發明第二部份,提出一種無電鍍鎳方法,其包 括將一工作件浸漬在上面所定義的無電鍍鎳溶液中,藉此 在該工作上化學沈積一鎳鍍層。 根據本發明第三部份,提出高組份無電鍍金方法,其 包括下述諸步驟:將一工作件浸漬在上面所定義的無電鍍 鎳溶液中,藉此在該工作件上化學沈積一鎳鍍層,及將該 鍍過鎳的工作件浸在無電鍍金槽內,藉此在該工作件上化 學沈積一金鍍層。 於另一部份中,本發明提出一種高姐份無電銨金方法 ,其包括下述步驟:將一工作件浸於不含具有硫對硫鍵的 化合物之無電鍍鎳槽中,藉此在該工作件上化學沈積一鎳 底鍍層;將該工作件浸於含有具有硫對硫鍵的化合物之無 電鍍鎳槽中,藉此在該鎳底鍍層上化學沈積一鎳鍍層;及 在該經雙重銨鎳的工作上進行無電鍍金。 圖式之簡單說明 圖1爲顯示出在經化學沈積鎳鍍層4化學沈積金鍍層 時所得金鍍層厚度與鍍金時間之間的關係之圖形。 圖2爲含有鎳鍍層和金鍍層的工作件上所具鍍層構造 之簡略橫斷面圖;顯示出延伸經過鎳鍍層的針孔。 圓3爲含有鎳底鍍層,鎳鍍層和金鍍層的工作件上所 木ϋϋΐ州屮闪阀家標今(('NS ) Λ4规梠(210X 297公# ) (ΪΛ.1·閱讀背而之注意事項典^-寫本页)
-6 - A7 B7 五、發明説明(4) 具鍍層.構造之簡略橫斷面圖,顯示出延伸經過鎳鍍層的針 孔。 發明之詳細說明 —般而言,無電鍍鎳溶液含有水溶性鎳鹽,還原細, 和錯合劑。 硫酸鎳和氯化鎳爲典型的水溶性鎳鹽。鎳鹽的用量較 佳者爲0.01至1莫耳/升,更佳爲〇. 05至0. 2 莫耳/升。 還原劑的例子包括次磷酸,次磷酸鹽例如次磷酸鈉, 二甲胺硼烷,三甲胺硼烷,和胼。還原劑的用量較佳者爲 〇· 〇1至1莫耳/升,更佳者爲0. 05至0. 5莫耳 /升。 錯合劑的例子包括羧酸例如蘋果酸,丁二酸,乳酸, 和檸檬酸,竣酸鈉鹽,及胺基酸例如甘胺酸,丙胺酸,亞 胺基二乙酸’精胺酸,和穀胺酸。錯合劑的用量較佳者爲 〇· 〇 1至2莫耳/升,更佳者爲〇 · 05至1莫耳/升》 無電鍍鎳溶液中常更加入安定劑。安定劑的例子爲次 溶性鉛鹽例如乙酸鉛和硫化合物例如氫硫基乙酸。安定劑 的較佳用量爲〇·1至100毫克/升。 根據本發明,於無電鍍鎳溶液中也力+入具有硫對硫鍵 的化合物。添加這種化合物可以在用該溶液於細密圖式上 進行電鍍時能化學沈積鎳鍍層而沒有薄肩和鎳鍍層向外突 起之問題。 具有硫對硫鍵的化合物較佳者爲無機硫化合物例如硫 木紙张尺度適力家樣蜱(('NS )八4規枋(2丨0X 297公漦)~ -7 - (誚先閱讀背而之注意事項再填,巧本頁) ,·
,1T 旅 A7 ___ __ — ___ B7 五、發明説明(5 ) 代硫酸鹽.,連二硫酸鹽,連多硫酸鹽和連二亞硫酸鹽,不 過有機硫化合物也可以接受。連多硫酸鹽的式子爲〇3s _ Sn—!S 〇3,其中η爲1至4»常使用水溶性鹽,典型 者爲鹼金屬鹽。具有硫對硫鍵的化合物的較佳添加量爲 0. 01至100毫克/升,特別者0· 05至50毫克 /升。低於0. 01毫克/升的化合物對於本發明目的而 言沒有效用而高於1 0 0毫克/升的化合物則可遏止鎳鍍 層沈.積》 本發明無電鍍鎳溶液的ρ Ή值爲4至7,特別者ρ Η 4至6。 使用具有上述組成的無電鍍鎳溶液時,可以用傳統技 術,亦即,單純地將工作件浸於鍍液中,即可在細密圖式 或工作件上化學形成鎳鍍層。要鍍的工作件係用可催化無 電鎳鍍層的還原性沈積之金屬所製成者,例如鐵,鈷,鎳 ,鈀和彼等的合金。也可以使用非催化性金屬,只要其能 經由施加電於該工作件直到起始還原性沈積爲止而完成電 流起始即可。另外,在非催化性金屬工作件上事先鍍上如 上述的催化性金屬之鍍層後也可以在其上進行無電鍍著。 再者,於玻璃,陶瓷,塑膠或非催化性金屬的工作件上以 傳統技術施加催化性金屬核例如鈀核之缉,可以在其上進 行無電鍍著。鍍著溫度較佳者爲4 0至9 5 °C,特別是 6 0至9 5 °C。必要時,在鍍著之中將鍍液攪動》 在用本發明無電鍍鋅槽於細密圖式上沈積鎳鍍層時, 在圖式肩部發生很少的薄化現象且可克服困鎳鍍層向外突 木紙if‘尺度適川屮(('NS)/M現枯(210X297公# ) ----------·I ~^-----1T--- 綿〕 uijl先間讀背而之注意事項再填,Ϊ?本J!) -8 ~ η η .1 ii'i 印 A7 B7 五、發明説明(6 ) 起導致橋連所引起之短路問題。 在上面具有化學沈積鎳鍍層的工作件易於接受無電鍍 金。更特別者,在已用內含具有硫對硫鍵的化合物之無電 鍍鎳溶液化學沈積成的鎳鍍層上進行無電鍍金時,比在用 傳統無電鍍鎳溶液化學沈積成的鎳鍍層上進行無電鍍金, 可以在較短時間內沈積一層厚的金鍍層。 本發明所用無電鍍金槽中含有金源,錯合劑和其他成 份。該金源可選自傳統鍍金槽中常用者,例如,氰化金, 亞硫酸金,和硫代硫酸金。特別有用者爲水溶性氰化金鹽 例如氰化金鉀。金源的添加量不具關鍵性,不過槽中的金 濃度最好爲0. 5至10克/升,特別者1至5克/升。 沈積速率係隨金源的添加量,亦即,槽中的金離子濃度呈 實質正比地增加。超過1 0克/升的金濃度可提供增加的 沈積速率,但卻會使該槽較不安定。低於0. 5克/升的 金濃度會導致非常低的沈積速率。 任何熟知的錯合劑都可以用於無電鍍金槽中。例如, 硫酸銨,胺基羧酸鹽,羧酸鹽,和羥基羧酸鹽,都可以使 用。錯合劑的添加量較佳者爲5至3 0 0克/升,特別者 1 0至2 0 0克/升。低於5克/升的錯合劑會較不具效 用且會不利地影響溶液的安定性。超過$ 0 0克/升的錯 合劑會因爲不再有進一步的效應可得而成爲不具經濟性。 此外,可將硫代硫酸鹽,肼和抗壞血酸摻入作爲還原 劑。硫代硫酸鹽的例子有硫代硫酸銨,硫代硫酸鈉,和硫 代硫代硫酸鉀。還原劑可以單獨地使用或以其兩種或多種 本纸乐尺度诚川十KPil家樣彳(rNS ) Λ4規格(2丨0X 297公f ) (邡先間讀背而之注4市項再功,?5本頁)
-9 - A7 ______________B7 五、發明説明(7 ) 的混合物形式使用。還原劑的添加量不具關鍵性但最好是 採用0至10克/升,特別者0至5克/升之濃度。沈積 速度會隨還原劑濃度呈正比地增加。在超過1 0克/升的 還原劑添加量之下,沈積速率不會繼續增加且該槽會;變得 較不安定。且即使不加還原劑,也會經由與鎳的取代反應 而發生金的沈積。 除了上述諸成份之外,無電鍍金槽中可更含有p Η調 整劑例如磷酸鹽,亞磷酸鹽,和羧酸鹽,晶體調整劑例如 丁 iT,A s ,和P b ,及其他各種添加劑。 無電鍍金槽最好是在約中性,常爲pH3. 5至9, 特別者PH4至9使用》 本發明所用的無電鍍金槽爲高組份系統(high-bui Id system )。除了使用上述無電鍍金槽之外,本發明無電鍍 金法可依傳統方式進行。使用上述無電鍍金槽時,可在具 有已根據本發明化學沈積鎳鍍層的工作件上直接化學沈積 一金鍍層。特別者於形成厚金鍍層的試驗中,在打底無電 鍍金後,最好續以高組份無電鍍金。先行的打底無電鍍金 係用來改變鍍鎳過的工作件之表面使其能接受後續的厚層 鍍金。其結果使後續厚層金鍍層可緊密地黏著劑底層工作 件且在厚度上具一致性》 ,, 本發明所用的打底無電鍍金槽所具組成中含有上述金 源,其濃度爲0· 5至10克/升,特別者1至5克/升 的金,及一錯合劑,例如E D T A,其鹼金屬鹽及上舉諸 劑,其濃度爲5至3 0 0克/升,特別者1 0至2 0 0克 本紙张尺度珅川屮阈阀家榀彳(('NS ) /\4况格(2丨0X 297公费) (郃先間讀背而之注意事項再禎."本頁 訂 -10 - /K 部 卑 J··) >ΐί 合 Vi ϋ 印 A7 B7 五、發明説明(8 ) /升。該槽係經調整到P Η 3 . 5至9。 在使用上述無電鍍金槽進行鍍金時,較佳的鍍著條件 包括用於打底無電鍍金槽的2 0至9 5 °C,特別者3 0至 9 0°C溫度及1/2至3 0分鐘,特別者1至1 5分鐘之 時間及用於高組份無電鍍金槽的2 0至9 5 °C,特別者 5 0至9 0°C的溫度及1至6 0分鐘,特別者5至4 0分 鐘的時間。若高組份無電鍍金槽的溫度低於2 0 °C時,其 沈積速率會太低,對於厚鍍而言,產率較低且不具經濟性 。超過95 °C的溫度可能會引起鍍槽分解。 ‘ 在鍍過鎳的工作件上直接進行高組份無電鍍金時,槽 溫最好必須在5 0至9 5 °C,特別者7 0至9 0 °C。低於 5 0°C的槽溫會導致低沈積速率而超過9 5 °C的溫度會增 加沈積速率,但會使得金鍍層較不穩定。 ‘ 根據本發明,在已用其特徵爲含有如上述具硫對硫鍵 的化合物之無電鍍鎳溶液化學沈積好的鎳鍍層上進行無電 鍍金時可以沈積厚金鍍層。於這方面,本發明建議先將工 作件置於不含具有硫對硫鍵的化合物之槽內進行無電鍍鎳 以化學沈積一鎳底鍍層,之後將其置於含有具有S — S鍵 的化合物之槽內進行無電鍍鎳以在該鎳底鍍層上化學沈積 一鎳鑛層,並於最後進行無電鍍金。 \ 其理由說明於下。不論無電鍍金槽內含有還原劑與否 ,化學鍍金基本上是經由與無電鎳鍍層(從含有具S - S 鍵的化合物之槽所得者)的取代反應而發生的,特別是在 該無電鍍金層的金源爲氰化金的鹽時,亦即,其爲在鎳鍍 本紙張尺度读州肀國國家標彳(CNS ) Λ4規格(210X 297公f ) (#!先閲讀背而之注悫事項再填寫本頁) -11 - A7 B7____ 五、發明説明(g ) 層溶解於無電鍍金槽中之同時,金離子A u+即被還原之 機構。 ! N i ° — N i 2++ 2 e 2 A u + + 2 e 2 A u 0 參看圖2,工作件1上載有用含有具S — S鍵的化合 物之無電鍍鎳槽在其上沈積成的鎳鍍層2及用無電鍍金槽 在其上沈積成的金鍍層3,上述機構可推測在化學鍍金的 過程中,鎳鍍層2可能局部溶解形成深達工作件1的針孔 4。於針孔4延伸深入到工作件的情況中,若工作件的基 質金屬,爲可腐蝕性金屬例如銅之時,該可腐蝕金屬可能 被溶解出來。在該可腐蝕金屬被溶解時,其可能移動經過 該等針孔而污染無電鍍金槽和正沈積的金鍍層致使其變色 〇 圖3顯示出較佳實施例的構造,其中在工作件1與鎳 鍍層2之間插入一鎳底鍍層5。更特定言之,該鎳底鎳層 5係用不含具有S — S鍵的化合物之無電鍍鎳槽在工作件 1上沈積而成者且該鎳鍍層2是用含有具有S — S鍵的化 合物之無電鍍鎳槽在其上沈積成的。就無電鎳鍍層在無電 鍍金槽中的溶解速率(金離子轉化成金屬金的速率)而言 ’用含有具有S — S鍵的化合物之無電辦鎳槽所得鎳鍍層 2明顯地比用不含具有S - S鍵的化合物之無電鍍鎳槽所 得鎳底鍍層5較爲快。亦即,用不含具有s — S鍵的化合 物之無電鍍鎳槽所得鎳底鍍層5具有非常低的溶解速率。 如此,即使用含有具有S - S鍵的化合物之無電鍍鎳槽所 才紙川屮 1 ( ('NS ) Λ4規梢(—210 乂 297公f ~ -12 - (誚先間讀背而之注意事項再填巧本頁)
A7 B7 五、發明说明(l〇 ) 得鎳鍍層2如圖3所示般局部溶解形成穿透該鍍層2的針 孔4,這些針孔4也會在鎳底鍍層5的表面終止。沒有針 孔會進~r步延伸到該鎳底鍍層5之間。後續的情況爲在鎳 鍍層2內的不同部位形成新的針孔或者已先形成的針孔4 向測量展開》 綜上所述*在用不含具有S — S鍵的化合物之.無電鍍 鎳槽所得鎳底鍍層5之上以含有具有S - S鍵的化合物之 無電鍍鎳槽沈積形成鎳鍍層2之後,可在短時間內沈積一 具有實質厚度的金鍍層而不會發生無電鍍金槽可能被工作 件基質材料溶解出的金屬離子所污染及金鍍層可能因其而 變色之各種問題。 該不含具有s -S鍵的化合物之無電鍍鎳槽的組成中 除了省略掉該有S - S鍵的化合物之外可與上述含有具有 s - S鍵的化合物之無電鍍鎳槽的組成相同。鍍著條件也 可以相同。 綜上所述當工作件的基質金屬爲可腐蝕金屬例如銅, 例如’該工作件爲印刷電路板時,可以有利地採用使用鎳 底鎳層之較佳實施例。 較佳者,用不含具有S - S鍵的化合物之無電鍍鎳槽 所得鎳底鑛層具有〇 . 5至5微米,特$者1至3微米之 厚度。在這種鎳底鍍層上,用含有具有S — S鍵的化合物 之無電鍍鎳槽沈積成一鎳鍍層,其厚度較佳者爲〇· 5至 5微米’特別者1至5微米。 在工作件基質不是可腐蝕金屬時,可以用含有具有s ........ j ': j,! '1' ^ 1-¾ ivi* ( CKS ) AAim ( 210X 297公舞) —~~.一 —--- -13 -
(1/.先閱讀1ί·νδ 之·/·#.意事項-¾¾¾¾ 本TJO Φ. -s
il、 >K A7 B7 • I ——*->**—» «Μ — I**. — — ·, I····· » Μ·· —.^―^— -------- |· I ^ I I I *·_·__ _ 五、發明说明(U ) - s鍵的化合物之無電鍍鎳槽直接在工·作件上沈積一鎳鍍 層。於此實施例中,該鎳鍍層較佳者具有0. 5至10微 米,特別者1至8微米之厚度。較佳者該鎳鍍層要沈積到 足夠的厚度以遏止針孔延伸穿透該鍍層或以減少針孔。 該無電金鍍層的厚度不具關鍵性,不過其通常爲 0·1至2微米,較佳者爲〇· 3至0. 8微米。 實施 下面要爲闡述而非爲限制地列出本發明實施例。 (訃先閱讀背而之·;ί'"'事項-,TJ"-寫本S )
硫 酸鎳 2 0 克 / 升 次 磷酸鈉 2 0 克 / 升 蘋 果酸 1 0 克 / 升 丁 二酸鈉 2 0 克 / 升 鉛 離子 1 0 毫 克 /升 P Η 4 . 6 溫 度 8 5 V }-.· ...,· 'T 硫 酸鎳 2 0 克 / 升 '1 .小 ,? 次 磷酸鈉 2 0 克 / 升 .:々 蘋 果酸 1 0 克 / 升, -1 f 丁 二酸鈉 2 0 克 / 升 / 1 ; 氫 硫基乙酸 1 0 毫 克 /升 lV /· 1 P Η 4 6 溫 度. 8 5 °C (^^T'21〇X 297^f ) 14 A7 B7 五、發明説明(12) 實施例1 硫酸鎳 2 0 克/升 次磷酸鈉 2 0 克/升 蘋果酸 1 0 克/升 丁二酸鈉 2 0 克/升 鉛離子 1 0毫克/升 硫化硫酸鈉 1 • 0毫克/升 pH 4 6 溫度 8 5 °C 實施例2 硫酸鎳 2 0 克/升 次磷酸鈉 2 0 克/升 蘋果酸 1 0 克/升 丁二酸鈉 2 0 克/升 鉛離子 1 0毫克/升 二硫硫酸鈉 5 0毫克/升 P Η 4 6 Λ-: 溫度 8 5 °C 部 '1, 實施例3 ·?- 硫酸鎳 2 0 克/升, J:> ji .1 次磷酸鈉 2 0 t 克/升 ;i; !' 蘋果酸 1 0 克/升 11 丨:丨1 丁二酸鈉 2 0 克/升 :I 鉛離子 1 0毫克/升 木紙张尺度吒川( CNS ) ( 210X 297公f ) (兔先間讀背而之注4事項再填ΛΓ本頁)
-15 ~ A 7 _________________________________ ________ B7 五、發明説明(13 ) ' ' 二硫硫酸鈉 9 · 〇毫克/升 pH 4 . 6 溫度 8 5。(: (¾先間讀背而之注意來項再^¾本页」 在厚度爲1 8微米,線寬5 0微米及隙寬5 0微米的 試驗銅圖式上用個別鍍液於所示溫度下化學沈積5 · 〇微 米厚的鎳鍍層。經由立體顯微鏡,目視觀察鎳鑛層的向外 突起及鎳越過電路線條的橋連情況。將圖式切割並經由立 體顯微鏡觀察電路線條切割斷面的肩部薄化情形。其結果 列於表1之 中。 表1 鎳鍍層 比較 比較 實施 實例 實施 例1 例2 例1 例2 例3 向外突起 有看到 有看到 >frn^ 挑 無 ^TTf. m 橋連 有看到 有看到 yfrTf- m -fnT- m 無 薄肩 有看到 有看到 int m /fnr m 無 實施例4 使用實施例1的無電鍍鎳溶液在一銅條上化學沈積5 微米厚的鎳鍍層。接著,將該鍍過鎳的銅條置於具有下示 組成的打底無電鍍金溶液內在下述條件下於其上進行打底 .- ·. .......* - .......... ...... ... | | - .....- .....- | | I· | | | III .... 本紙依尺及译圯1IRPJ系e彳((NS )以况你(210X 297公雉) -16 - A 7 B7 _____— 五、發明説明(14) 鍍著且於其後,在具有下示組成的高組份無電鍍金溶液內 於下示條件下在其上面化學沈積一厚的金鍍層。於不同诗 段測量該金鍍層的厚度。其結果標繪於圖1的圖形之中》 打底無電鍍金溶液 1.5 克/升 1.0 克/升) 5.0 克/升 3 0.0 克/升 7 9 0 °C 7分鐘 K A u ( C N ) 2 (A u
E D T A . 2 N a 檸檬酸二鉀 pH 溫度 時間
5.9 克/升 4 . 0 克/升) 2 0 0 克/升 0.5 克/升 5 . 0 克/升 6 9 0 °C {誚尤阳靖肾£3之汶4事唄再^"本頁)
_組份無電鍍金溶液 K A u ( C N ) 2 (A u 硫酸銨 硫代硫酸鈉 磷酸銨 pH 溫度 卜上蛟例3 重複實施例4,不同處在於本實施例係使用比較例1 木紙体几度珣州、丨内内家匕吟.((,防)八4现招(2丨0〆297公# ) A7 ______ B7 五、發明説明(15 ) 的無電鍍鎳溶液。其結果也標繪於圖1的圖形中》 從圖1可以看出,在已用實施例1無電鍍鎳溶液化學 沈積成的鎳鍍層上進行無電鍍金(實施例4 )時,比在已 用比較例1無電鎪鎳溶液化學沈積成的鎳鍍層上進行無電 鍍金(比較例3 )可以在每單位時間沈積明顯較厚的金鍍 層》於短時間內可以沈積或厚達0. 5微米或更厚之金鍍 層。 實施例5 使用有下示組成的無電鍍鎳溶液,在下示條件下於一 銅條上進行化學鍍鎳而沈積成厚度2. 5微米的鎳底鍍層 〇 鎳底鍍層 硫酸鎳 2 0 克/升 次磷酸鈉 2 0 克/升 蘋果酸 1 0 克/升 h A 丁二酸鈉 2 0 克/升 斗 Ί· .小. 鉛離子 1 - 0毫克/升 又b PH 4 • 6 . U .7 溫度 8 5 °C •1 i f- 時間 1 5 分鐘 使用有下示組成的無電鍍鎳溶液,在下示條件下於該 木彳..關㈣彳((’NS ) Λ4職(^0x 297公錄) : - -18 - (誚先閱讀背而之注意事項再填,¾本頁)
Γ,.^ΆΠ A7 B7 --------------------------------------------;__________________ 五、發明説明(16) 鎳底鍍層上進行化學鍍鎳而沈積成厚度3. 0微米的鎳鍍 .層,。 鎳鍍層 硫酸鎳 2 0 克/升 次磷酸鈉 2 0 克/升 蘋果酸 1 0 克/升 丁二酸鈉 2 0 克/升 鉛離子 1 - 0毫克/升 硫代硫酸鈉 1 • 0毫克/升 PH 4 * 6 溫度 8 5 °C 時間 1 5 分鐘 接著,在該經雙重鍍鎳過的銅條上於具有與實施例1 相同組成的打底無電鍍金溶液內及與其相同的條件下進行 打底鍍著7分鐘,且於其後,在具有與實施例1相同組成 的高組份無電鍍金溶液內及相同條件下進行鍍金2 0分鐘 ,而沈積成厚度0. 5微米的厚金鍍層。 將鍍好的銅條保持在1 5 0 °C空氣$ 4小時後才檢驗 其外觀》沒有發現有變色現象且其外觀保持與剛鍍後者相 同。 在經過與上面相同的檢驗之後,沒有鎳底鍍層的類似 樣品稍微變色,不過其在實用上完全可被接受。 ................. .......... ——_ . ------ _ — -- ·ιι -------- 本纸张尺度诚州'1. R丨( ('NS ) Λ4叹格(2丨0X 297公梦} u?先閱讀背而之注意事項再填,¾本頁)
'/;-.vl U+- ?v而1' -;,1“ I / i · I /— · 390915 a? B7五、發明説明(17) 雖然已說明過一些較佳實施例,不過從前面的說明部 份可以完成許多修改和變更之處。因此要了解者’在後附 申請專利範圍的範圍之內,本發明可以在說明書中所述者 之外實施。 本紙张尺庖进川屮KRim ('NS ) Μ規招(210X 297公笳) (誚先間讀背而之注*事項/)頊寫本頁)
Claims (1)
- 39S915 ?8s ___D8 六、申請專利範圍 1 ·—種無電鍍鎳的溶液,其含有〇 · 〇 1至1莫耳 /升之水溶性鎳鹽,〇 〇 1至2莫耳/升之還原劑, 0 · 01至2莫耳/升之錯合劑,與〇· 01至100毫 克/升之選自連二硫酸鹽、連多硫酸鹽及連二亞硫酸鹽的 化合物。 2 ·—種無電鑛鎳的方法,其包括下述步驟,將一工 作件浸漬於含有〇 · 〇1至1莫耳/升之水溶性鎳鹽, 〇. 〇1至2莫耳/升之還原劑,〇 01至2莫耳/升 之錯合劑,和〇. 01至100毫克/升之選自連二硫酸 鹽、連多硫酸鹽及連二亞硫酸鹽的化合物之無電鍍鎳槽中 ’藉此在該工作件上化學沈積一鎳鍍層。 3 _ —種高組份無電鍍金的方法,其包括下述諸步驟 將一工作件浸於含有〇 · 〇 1至1莫耳/升之水溶性 鎳鹽’0· 0 1至2莫耳/升之還原劑,〇. 〇1至2莫 耳/升之錯合劑’和〇 . 〇 1至1 〇 〇毫克/升之選自連 二硫酸鹽、連多硫酸鹽及連二亞硫酸鹽的化合物之無電鍍 鎳槽中,藉此在該工作件上化學沈積一鎳鍍層,及 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 將該鍍過鎳的工作件浸漬於無電鍍金槽內,藉此在該 工作件上化學沈積一金鍍層,其中該無電鍍金槽包含選自 氰化金、亞硫酸金及硫代硫酸金之金源(金濃度爲0. 5 至10克/升)及5至300克/升之錯合劑。 4 .如申請專利範圍第3項之高組份無電鍍金的方法 ,其進一步包括在將該工作件浸於含有選自連二硫酸鹽、 連多硫酸鹽及連二亞酸鹽的化合物之無電鍍鎳槽內的步驟 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)〇1 390915 I D8 六、申請專利範圍 之前,將該工作件先浸漬在不含選自連二硫酸鹽、連多硫 酸鹽及連二亞硫酸鹽的化合物之無電鍍鎳槽內,藉此在該 工作件上化學浸漬一鎳底鍍層之步驟。 5.如申請專利範圍第3或4項之高組份無電鍍金的 方法,其中該無電鍍金槽含有氰化金作爲金源且其P Η值 爲4至9。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印裂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐)
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