TW315574B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TW315574B
TW315574B TW084102320A TW84102320A TW315574B TW 315574 B TW315574 B TW 315574B TW 084102320 A TW084102320 A TW 084102320A TW 84102320 A TW84102320 A TW 84102320A TW 315574 B TW315574 B TW 315574B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
panel
item
pixel
patent application
pixels
Prior art date
Application number
TW084102320A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Orbotech Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Orbotech Ltd filed Critical Orbotech Ltd
Application granted granted Critical
Publication of TW315574B publication Critical patent/TW315574B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T1/00General purpose image data processing
    • G06T1/0007Image acquisition
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/60Analysis of geometric attributes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Description

315574 A7 B7 五、發明説明(() 本發明係關於顯示面板之檢驗。 用Μ檢驗顯示面板的習用条統包含美國加州麥比塔的 光子動態(Photon Dynamics〉公司,古明斯(Cummins)等人 \ “平面板顯示中影像品質和缺陷特性之評估”一文所述的 条統。 在習用顯示面板檢驗中,顯示面板的影像,包含多數 餹像素,是由也是像素式的一感測器加Μ成像,該感測器 的像素一般不是連續的(亦邸,具有小於100%的充填因 素)並且一般既非相同尺寸而且相對於顯示面板影像的像 素也非完全地對準。 第ΒΑ-1圖是一顯示面板影像的圖形,為簡化起見,其 包含四個顯示面板像素10,為簡化起見,該等像素被包含 六個感測器元件20的一組感測器加Μ成谭。就感测器元件 是連續的方面而言,該感測器是理想的,亦即理論化的。 一般而言,不均勻顯示面板強度在感測器的視頻信號中示 4 出一種局部的變化。在顯示面板像素10內的數目指示在任 意單位下各攝彩機像素所慼测到顯示面板像素的缠面積之 比例。 第ΒΑ-2圔是一棰顯示面板影像的圈形,因其感測器元 件20並非連鳙,所Μ它不是理想型式。在第ΒΑ-2圈中,為 簡化起見,示出三値顯示面板像素30、40和50。顯示面板 像素40未被慼測部份,如交叉線70所示,小於顯示面板像 素30和50的未被感測部份,如斜線80所示。這導致在量測 顯示面板像素的強度時之不精確性。尤其是,在感測器的 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) Α4规格(210X297公釐) —..-------^ ί 装-----_—訂--------^線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央揉隼局負工消費合作社印製 4 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 A7 __ B7 _ 五、發明説明(l ) 視頻信號中之局部變化並不一定指示不均勻的顯示面板強 度。 本發明意欲提供一種用於顯示面板檢驗之改良条統。 \ 依據本發明之一較佳實施例提供用以檢驗包含多數値 像素之顯示面板之一種条統,該条统包含一組選擇式像素 致動器,其只導致該等多數艢像素之某些被致動,也包含 用Μ搜集產生於面板上之影像圖型之一组感測器,Μ及用 Μ辨識在面板像素強度中不均勻性的一组影像處理器。 更依據本發明之一較佳實施例,該顯示面板包含一組 LCD (液晶顯示)面板,並且該条統也包含用以提供照明 至欲檢驗面板之一組照明器。 再依據本發明之一較佳實施例,欲被檢驗之面板的照 明包括背面照明並且像素的致動包含改變其局部傳導性。 再進一步依據本發明之較佳實施例,該選擇式像素致 動器用Μ依序地引動一序列的像素子集,並且各像素子集 Λ 在顯示面板内預定尺寸的各多數個像素範圍内只包含一單 一像素。 侬據本發明之一較佳實施例更提供一種用Μ檢驗包含 多數個像素之顯示面板的糸統,該条統包含用以同時地搜 集產生於面板上圖型之大致整體的影像之一組感測器,Μ 及用Μ辨識面板像素之強度之不均勻性的一組影像處理器 〇 依據本發明之一較佳實施例另外提供一種用以檢驗包 含多數傾像素的顯示面板之方法,該方法包含只致動該等 本紙張尺度適用中國國家標牵(CNS〉Α4规格(210Χ297公釐) ~ 1^—. — 1. -is— n m ^^1 ϊ—^^1 —^1 -- t-1 i— f n^i I— :『 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 A7 B7 _ 五、發明説明(j ) 多數倕像素之某幾傾*搜集產生於面板上之圔型的影像, 以及辨識面板像素強度中之不均勻性。 依據本發明之一較佳實施例更提供一棰用以檢驗包含 \ 多數健像素的顯示面板之条统,該条统包含一組用Μ捜集 解析度大致不超過橒準電視攝影機而產生於面板上之圖型 的影像之感測器《 Μ及一組用以辨識面板像素強度中不均 勻性的影像處理器。 更依據本發明之一較佳實施例,該組感測器包含少於 1300Χ 1000感測元件。 再依據本發明之一較佳實施例,該組感測器包含不多 於800 X 500感測元件。 依據本發明之一較佳實施例另外提供一棰用Μ檢驗包 含多數艏像素之顯示面板的条統,該条統包含一組用Μ搜 集產生於面板上圖型的影像之感测器,Μ及一組用以辨識 面板的各像素之強度的影像處理器。 φ 更依據本發明之一較佳實施例,該顯示面板包含一種 液晶顯示(LCD)面板。 再依據本發明之一較佳實施例,該顯示面板包含一種 沒有照明,里動器或極化器之LCD胞。 另外依據本發明之一較佳實施例,該条統也包含一種 用Μ固持面板Μ便檢驗之固定器。 依據本發明之一較佳實施例,也提供一棰用W檢驗包 含多數個像素之顯示面板的方法,該方法包含同時地搜集 產生於面板上圖型之大致全部的影像,Μ及辨識在面板像 y 本紙張尺度適用中國國家揉单(CNS ) A4規格(210X297公釐) , I..-------<裝------"一訂------^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局負工消費合作社印製 A7 _B7 _ 五、發明説明() 素的強度之不均勻性。 依據本發明之一較佳實施例,更提供一種用以檢驗包 含多數個像素的顯示面板之方法,該方法包含搜集解析度 丨大致不超過檷準«視攝影機而產生於面板上之圖型的影像 ,以及辨識面板像素強度之不均勻性。 依據本發明之一較佳實施例*更進一步提供一種用Μ 檢驗包含多數個像素的顯示面板之方法*該方法包含搜集 產生於面板上画型之影像,Μ及辨識面板的各像素之強度 〇 本發明從下列詳細說明並且配合附圖而更明白且容易 了解,其中: 第ΒΑ-1圈是感拥器元件為連播的理想顯示面板影像之 圖形; 第ΒΑ-2圖是感測器元件為不建續的非理想顯示面板影 像之蹕形; * 第1圖是檢驗一 LCD胞的顯示面板檢驗糸統之功能方 塊圔; 第2圖是K5X 5像素範圍爲主的一種可能顯示面板像 素致動順序的圖形; 第3圏是M7X 7像素範圍為主的另一種可能顯示面板 像素致動順序的圖形;Μ及 第4圖是適合製作第1圖的彩像處理器而用以辦識受 檢驗顯示面板之各像素強度的一種較佳影像處理方法之簡 化流程圔。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) I--------1裝-------订------^ .旅 (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) A7 B7 經濟部中央揉準局員工消費合作社印製 五、發明説明( 此處也加上下列附錄Μ協助了解及明白本發明所示及 所述之較佳實施例。 附錄Α是在一工作站執行且逹成第3圖的功能之較佳 程式檔之電腦列表。 附錄B-0是副程式,分別名稱爲GRAB_GLOBALS, GRAB —PACKAGE, GRABCENTER, REMOTE, DEMO, RESAMPLE, CC_ LINK, SCAN_FILES, SCAN_IF, SCAN_TEXT, OPTIONS, PIC __I0, GRAB以及IMIO,它們是由附錄A的程式楢所產生的 可執行檔程式所呼叫。 附錄P是第1圖的選擇式像素致動器130之較佳軟體 製作的電腦列表。 現在參看第1圖,它是檢驗一 LCD晦100的顯示面板檢 驗糸統的功能方塊圖。 因爲欲檢驗的單元是一 LCD^,提供有極化器104M及 背面照明110並且有提供與受檢驗面板100進行電氣接觴的 Λ 探針120。一適當固定器124維持LCD面板100,極化器1〇4 Μ及照明器110於相蘭固定位置。 可明白,大致相同条統可用Μ檢驗一LCD模組及/或 一發光顯示面板。若檢驗一 LCD模組時,極化器104、背面 照明110M及探針120可移去。 在本說明中,“LCD胞”用Μ指示無背光、驅g器或 極化器之顯示面板,而“LCD棋組”用以指示完全組合的 顯示面板。 探針120用以提供LCD面板100和一選擇式像素致動器 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) I.\-------裝------訂 ------—-I 1 ---- - —^1 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 8 經濟部中央橾準局貝工消費合作社印製 A7 B7 ._ 五、發明説明() 130之間的霣氣通信。選擇式像索致動器130用Μ導致一起 形成顯示面板100的多數個像素之某些部份同時被致動。 對於LCD面板而言,像素之致動包括改變其局部之傳導性 1 。對於發光二極《而言,像素之致動包括改變像素所發射 之光量。 最好是,該逸擇式像素致動器130用Μ依序地致動一 序列的像素子集,其中各像素子集只包含在顯示面板内預 定尺寸的各値多數値像素範圍内之一單一像素。 最簡單的選擇式像素致動機構是*當一特定像素被照 明時,其8個連接鄰點無一個被照明。依據更複雜像素致 動順序的其他種像素致動機構示於第2和3圖。 第2圖是Μ5Χ 5像素的範圍,Μ 140表之,爲主的一 種顯示面板像素致動順序之圖形。數目1,2,...,25所 示的像素順序表示其致動的順序依下逑進行: 第1步驟:所有檫示“1 ”的像素被引動,因而在屏 幕上產生第一圖型; 第2步驟:所有檷示“2 ”的像素被引動,因而在屏 幕上產生第二圖型; 第25步驟:所有檫示“25”的像素被引動,因而在屏 幕上產生第二十五圖型。 第3圔是Μ7Χ 7像素的範圍,Μ 150表之,為主的一 棰顯示面板像素致動順序之圃形。數目1,2,...,49所 示的像素順序表示其致動的順序依下述進行: 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) I.-------裝---I - <_ 訂— —--—^..^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 9 A7 B7 315574 五、發明説明( 第1步驟:所有標示“1”的像素被引動; 第2步驟:所有檷示“ 2 ”的像素被引動; 第49步驟:所有標示“49”的像素被引動; 這種順序導致在屏幕上依序產生49棰不同圖型。 各範圍大小的選擇是依下列二値相抵«考盧之間的折 衷而定: a. 大範圍使糸統更精確;以及 b. 小範圍使糸統較快速,因為僅箱較少步驟去順序檢驗 範圍内所有像素。 範圍的面積一般依条統的點擴展函數而定,亦邸依条 統感測器所抓取顯示像素的影像被模糊之程度而定。 最好是,25傾或49値圖型序列之前有一對齊匾型,它 不是用來決定在任何恃定圖型中屏幕像素的強度*而是用 Μ決定序列中所有圖型相對於感測器160的像素而言是否 Λ 對齊。一般而言,該對齊匯型包含配置粼接於屏幕的四角 落之四値屏幕像素。 在各序列中一疆型η的切掉和一圖型η + 1的切上之間 Μ及圖型η+1的影像擷取開姶時刻之間的時間間隔依特定 顯示技術的上升時間和下降時間特性而定。例如,在IBM ThinkPad 750C中所裝設主動矩陣式LCD,擷取可在下列二 事件之較埋者發生時開始: a.前面圖型η已充分衰減至,例如,其“切上”強度之 2%以下;Μ及 I-..-------d 装------'—訂一-----^ ^ (請先M讀背面之注意事項再埃寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 本紙張尺度逋用中國國家標牵(CNS >八4規格(210X297公釐} -10 10 經濟部中央橾準局負工消費合作社印裝 A7 B7 五、發明説明() b.目前圖型n + 1已充分上升至,例如,其“切上”強度 之98%M上。 該上升和下降時間可由一適當的光檢澜器,例如PMT 1 (光相乘器管),加Μ量測。 最好是,預定的画型模糊被介入条统感測器所擷取的 影像中,Μ便允許更多慼測元件參與一局部慼測工作而增 加精確性。模糊情況可由一機械式偏移單位而達成,其用 以振動或偏移顯示面板,及/或感測器及/或介於顯示面 板和感测器之間的光學元件如菱鏡或鏡面。另外,或附加 地,模糊可用光學式逹成,例如利用相機上的棋糊濾波器 〇 回看第1圖,該条統包含例如配有一個25毫米透鏡的 珂胡(CohiO 4110數位相機(美國加州聖地亞哥珂胡公司 )的一棰感測器160。該透鏡被加MS擇以便同時地擷取 產生於面板上大致整艏画型的彩像,亦邸,顯示面板100 4 的整値面稹,或是幾乎其整儡面積,被感測器160同時成 像。 透鏡焦距最好被選擇以便可在大約90公分的距離櫬看 具有典型10时對角線的顯示面板。這選擇使因觀看角度引 起的顯示像素強度之變化減至最小。 感測器160擷取影像的解析度最好不超過一檷準«視 攝影機。該感測器最好包含少於1300 X 1000感測元件,或 甚至少於800 X 500感测元件。例如,珂胡攝影機包含739 X 484主動式感測元件。 本纸張尺度適用中國國家標牵(CNS ) A4規格(210X297公釐) ,, -11 - — Ml------4装-----*—訂--------44 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
A7 '發明説明() 感测器160產生的數位梘頻信號,一般具有8位元的 寬度,被餱至一組影像處理器170。控制電路180用以接受 使用者輸入命令和程式並且控制所有条統組件。控制電路 ^ 180和彩像處理器170,若需要的話,可配合美國麻州丹佛 市資料塊(Datacube)公司的MAX VIDEO 20影像處理器而製 作於美國加州山景市太陽撤条统(Sun Microsystem)公司 的SPARC 10工作站内。 第4圖是第1圔的影像處理器170的較佳操作方法之 簡化流程圃。第4圖的方法利用處理產生於顯示面板上各 圖型並且比較產生於顬示面板上的不同圈型而辨識受檢驗 顯示面板的各像素之強度。 第4画的方法最好包含下列步驟: a. 步驟200 :步驟210至270針對產生於顯示面板的各圖 型,例如25圖型或49匾型,而進行。 b. 步驟210 :從感测器160接收數位形式的目前圃型。為 Λ 了改進信號雜訊比,最好將圖型信號積分經過數個視訊圖 框,例如四個視訊圖框。 C. 步驟220:補僂攝彩機像素中之性能變化,例如,從 各攝影機像素值減去其偏移值並且接著用其增益係數與各 相減後像素值相乘。 最好是,在第1圖裝置的操作步驟之前有一攝彩機學 習步驟,其中各攝彩機像素的傾移值和增益係數可被決定 〇 d. 步貉230:屏幕圃型的灰階彩像被Msinc函數經由酒 本紙張尺度適用中國國家標車(CNS ) A4規格(210X297公釐) I.-------^ <裝-----rtr.,-----γ 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局貝工消費合作社印製 經濟部中央揉準局員工消費合作社印製 A7 __B7 _ 五、發明説明() 旋蓮算重新取樣,因而產生解析度大於原姶圖型的新圖型 。例如,解析度可能增大四倍。Msinc函數經迴旋蓮算重 新取樣在克服虛假重叠現象時特別有用,它是一棰習用步 \ 驟,可參考,例如,1988年劍橋大學出版社所出版W. Η.
Press等人所著“C語言數值食譜(Numerical Recipes in * C) ” 第 403至 407頁。 步驟240 :決定該重新取樣、增大解析度的攝影機影 像和目前圖型,它們的待性是已知,之間的粗略對齊。該 粗略對齊是由檢驗對齊圖型而決定Μ便辨識影像處理的放 大度和相對於攝影機之圖型的方位。 步驟250 :接著決定該重新取樣、增大解析度的攝彩 機影像和目前圈型之間的細緻對齊。該重新取樣攝影機像 内各顯示像素的影像之大約位置可由步驟240的粗略對齊 而得知。各大約位置的周圍被加Μ專找以發現一局部最大 強度而當成目前顯示像素之彩像中心。最好是,相鄰顯示 * 像素中心之間的平均距離被計算出來。 步想260:將落於目前顙示像素影像中心的周圍内之 重新取樣像素值相加。例如,影像處理器可將落於半徑約 為相鄰顯示像素中心之間平均距離之半所形成圈形内所有 重新取樣像素值相加。 步驟270 :更正殘餘之重叠效應並且儲存所得多數傾 數值作為包含在目前圃型内對應多數艟屏幕像素之強度。 重叠效應將使圖型點強度之和產生一棰通期式調變,亦邸 在相關技術中習知的摩雷(Moire)圖型。 本紙張尺度適用中國國家梂牵(CNS ) A4規格(21〇>:297公釐) _ 1¾ _ H· ««^1 ^^1 n n I n^. 4 In IK— HI· i !...... n (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 315574 A7 B7 五、發明説明() 用Μ更正殘餘重叠效應之較佳方法包含下列步班: a. 依據在步班240計算出的粗略對齊資訊以及己知顯示 面板像素之週期,計算該摩雷圖型之遇期和方位。用以進 丨 行摩雷週期和方位計算的較佳方法可參考J. Krumm等人所 提“數位影像摩雷圖型之取樣檷和交叉柵模式”,光學工 程,第30冊,第2卷,1991年2月,第195至206頁。 b. 沿垂直於摩雷圖型的波向量之方向,亦即沿摩雷“波 鋒”方向,將二維的黠圈型強度相加。將所得之和除以被 相加項數而加Μ正規化。 〇. 使用步驟b所計算之正規化和向量計算一相閧因數。 該柑醑因數一般為:
Si - A 1--
Si 其中:
Si =正規化和向量之第i個分置;Μ及 A =正規化和向置內所有分量之平均值。 經濟部中央橾準局貝工消費合作社印製 (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁)
用Μ更正殘餘重叠效應之較佳方法的軟醱製作說明於 附錄F的DEMO. C楢案中。進行該方法的常用程式名稱爲FIX _RESULTS° 步驟280: —旦儲存各屏幕像素之數值後,計算該等 數值的中間傾向,例如該等數值之一平均值,因而定義對 於該等屏幕像素之“正常”強度。 步驟290:辨識其強度異於“正常”值的屏幕像素並 本紙張尺度適用中國國家標舉(CNS ) A4规格(210X297公釐) -14 - 經濟部中央揉準局貝工消費合作杜印«. A7 B7 五、發明説明() 且產生這些屏幕像素之指示。 應可明白,此處所示及所述的圔型只是一般類團型序 列的例子。其中在任一圖型中某一範圍内只有單一像素被 丨 致動。在各範圍用所有像素均被致動*但一次只一個。 附錄A是在SPARC 10工作站上執行的較佳程式列表, 其具有Windows (視窗)3·0環境,Pixrect程式庫以及來 自美國資料塊公司MaxVide〇20影像處理器軟體裝設在硬碟 上。MaxVideG20的硬體裝設在SPARC工作站匯流排上並且 連至攝影機160。同時在程式庫中有W.H. Press等人所箸 C語言之數值食譜中之目的檑。GCC和ACC被用作编譯器。 附錄A的程式執行第4圖的功能。 附錄B-0是副程式,分別是GRAB_GLOBALS, GRAB_ PACKAGE, GRABCENTER, REMOTE, DEMO, RESAMPLE, CC_ LINK, SCAN—FILES, SCANjF, SCAN—TEXT, OPTIONS, PIC _I0, GRAB和IMIO,它們被附錄A楢案所產生的執行楢程 Λ 式呼叫。 附錄Ρ是第1圖的選擇式像索致動器130的較佳軟鱧 製作之電腦列表。 採用上述附錄於上逑環境以得到依據本發明之較佳實 施例而構成且操作的PC顯示面板檢驗条統之較佳方法包含 下列步驟: a. 使用VI编輯器打入附錄A至P的播案。 b. 使用附錄A的製造檔编譯附錄A至0的檔案。 c. 欲檢驗一部PC,例如IBM ThinkPad 750C,的顯示面 本紙張尺度適用中國國家標聿(CNS ) A4规格(210X297公釐) 15 ~·1111 11-41 裝-----訂 ----II--^ .旅 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央揉隼局舅工消费合作社印製 A7 _B7 __ 五、發明説明() 板,在PC上使用Borland Turbo C编譯器编譯附錄P。 d. 使用一條習用電纜連接PC的RS232輸出和Sun SPARC工 作站。 \ e. 在PC上,鍵入:FPD 1
在SPARC工作站上,鍵入:DEMO 該SPARC工作站將把第一圖型載入於PC上。第一圖型 的處理說明於步驟ί。 f . 打開SPARC上DEMO所呈現的選擇菜單並且調整下列參 數:PC上點之間隔,沿水平軸之點數Μ及沿垂直軸之點數 0 g. 欲進行第4 _的步驟210和230,按下GRAB按鈕以擷取 一張影像進入TOOLS記憶内。 或者是* &RABCENTER.C檔可被修改K包含第4匾的步 驟220之程序並且被重新编譯,在該情況下,步驟g也將 裂成步驟220。 s h. 在Sun工作站按下DEMO工具上的PERIOD按鈕。 i. 使用SPARC滑鼠Μ指定四個對齊圖型像素。此處,条 統執行第4圈的步驟240。 j . 欲進行第4圖的步驟250、260和270,按下工具中的 ADD按鈕。該程序的綸出包含下列二檔案: i. GRABBED.VALS,包含在画型中,未經殘餘重疊之 修正之像素強度值,以及 II. GRABBED. FIXED,包含在圖型中,經過殘餘重叠 之修正之像素強度值。 本紙浪尺度逋用中國國家梂車(CNS ) A4说格(210X297公釐) I..~ — II--^ I--;---訂—I- — —---^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 315574 A7 _B7___ 五、發明説明() 若需要的話,步费If以後可針對其他圃型而重揉。欲 載入其他圖型,DEMO.C播可被適當修改以產生新圔型。 可明白,附錄中所述的特定實施例只用以提供本發明 \ 之一種極詳細揭示而不是做為限制。本發明不一定以軟體 製作,相反地,可用持定硬醱製作。 可明白,本發明之各特點,為明白起見,它們於不同 實施例中被加以說明,它們也可結合於單一實施例中。相 反地,本發明之各特點,為簡要起見,它們於單一實施例 中被加以說明,它們也可分別提供或以任何適當部份組合 而提供。 對於熟習本技術者將可明白,本發明並不限於上面的 展示和說明。本發明之範睡將由申請專利範围加以界定。 n-^^i ^^1 In 1^1 ^^1 L —i m i ! 1 - I IT— Λ —HI-.....ID - !^\ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局男工消費合作社印製 本纸張尺度適用中國國家樣拿(CNS ) A4規格(210X297公釐}

Claims (1)

  1. 中請專利範圍 A8 B8 C8 D8 第84102320號申請案申諳專利範圍修正本 :锻}T 一
    須請委舞明示 經濟部中央標率局貝工消费合作社印装 1. —種用以檢驗具有多數傾像素的顯示面板之条統〗 糸統包含有: 一像素致動器; 一組用以擷取産生於面板上一圖型影'像之感测器 :以及 一組影像處理器,用以辨識多數値像素強度中之 不均勻性; 該条統之特徵在於:該像素致動器用以選擇性地 從該多數値像素中•只致動一組像素子集序列,其中 各像素子集在顯示面板内預定尺寸的各多數値像素範 圍内只包含單一像素。 2. 如申請專利範圍第丨項之糸统•其中該影像處理器用 以辨識面板每一像素之強度。 . 3. 如申請專利範圍第1項之条统,其中該感測器可用以 同時擷取産生於面板上一圖型之大致全部的一影像。 4. 如申請專利範圍第丨項之条統•其中該感測器可用以 擷取圖型影像,該圖型以大致不超越一標準電視攝影 機之解析度産生於面板上。 5. 如申讅專利範圍第1項之条統,其中該感測器包含少 於1300 X 1000値感測元件。 6. 如申請專利範圍第5項之条統,其中該感測器包含不 -18 請 先 閱 讀 背 之 注 意 事 項 再 訂 旅 本紙張尺度逋用中國國家揉率(CNS ) A4规格(210X297公嫠) 申請專利範圍 A8 B8 C8 D8 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 多於800 x 500個感測元件。 7. 如申請專利範圍第1項之条統,其中該顯示面板包含 —液晶顯示器(LCD )面板。 8. 如申請專利範圍第1項之糸統,其並且包含一固定器 ’用以適度地固持供一探針用之面板,該探針用以提 供與欲檢驗面板之電氣接觸。 9. 如申請專利範圍第丨項之条統,其中該感測器包含用 以楔糊圖型影像之模糊裝置。 io.如申請專利範圍第9項之条统,其中該模糊裝置包含 ~組機槭式偏移單元。 Π.如申請專利範圍第9項之条統,其中該模糊裝置包含 光學模糊裝置。 12· —種用以檢驗具有多數個像素之顯示面板的方法,該 方法包含有: 從該多數値像素中,只致動一組像素子集序列, 其中各像素子集在顯示面板内預定尺寸的各多數個像 素範圍内只包含單一像素; 擷取産生於面板上一圖型影像;以及 辨識面板像素強度中之不均勻性。 13. 如申請專利範圍第12項之方法,其並且包含辨識面板 的各像素之強度。 14. 如申請專利範圍第12項之方法,其並且包含同時擷取 --;I.-------:-------訂1!-----峻- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
    '申請專利範圍 經濟部中央揉準局貝工消費合作社印製 産生於面板上圖型之大致全部的影像。 15. 如申請專利範圍第12項之方法,其中並且包含擷取圖 型影像,該圖型以大致不超越一標準電視攝影機之解 析度産生於面板上。 16. 如申請專利範圍第12項之方法,其中該顯示面板包含 —液晶顯示(LCD )面板。 17·如申請專利範圍第12項之方法,其並且包含適度地安 裝該供一探針用之面板於一固定器内,該探針用以提 供與欲檢驗面板之電氣接觸。 18. 如申請專利範圍第12項之方法,其中該擷取步驟包含 模糊圖型之影像。 19. 如申請專利範圍第16項之方法,其中該模糊步驟包含 由機械位移加以模糊。 20. 如申請專利範圍第16項之方法,其中該模糊步驟包含 光學模糊。 -20 - 本威張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
TW084102320A 1994-03-14 1995-03-11 TW315574B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IL10897494A IL108974A (en) 1994-03-14 1994-03-14 Device and method for testing a display panel

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW315574B true TW315574B (zh) 1997-09-11

Family

ID=11065931

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW084102320A TW315574B (zh) 1994-03-14 1995-03-11

Country Status (6)

Country Link
US (2) US5771068A (zh)
EP (1) EP0672933A1 (zh)
JP (1) JPH0868976A (zh)
KR (1) KR950033565A (zh)
IL (1) IL108974A (zh)
TW (1) TW315574B (zh)

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IL108974A (en) * 1994-03-14 1999-11-30 Orbotech Ltd Device and method for testing a display panel
JP2898269B1 (ja) * 1998-03-02 1999-05-31 日本放送協会 映像検査装置、方法および記録媒体
US6714670B1 (en) * 1998-05-20 2004-03-30 Cognex Corporation Methods and apparatuses to determine the state of elements
JP3828283B2 (ja) * 1998-06-04 2006-10-04 株式会社アドバンテスト フラットパネル表示器検査用画像取得方法、フラットパネル表示器検査用画像取得装置
IL126866A (en) * 1998-11-02 2003-02-12 Orbotech Ltd Apparatus and method for fabricating flat workpieces
TW417133B (en) * 1998-11-25 2001-01-01 Koninkl Philips Electronics Nv Method of manufacturing a cathode ray tube, in which a display screen is inspected
US6831995B1 (en) * 1999-03-23 2004-12-14 Hitachi, Ltd. Method for detecting a defect in a pixel of an electrical display unit and a method for manufacturing an electrical display unit
JP3927807B2 (ja) * 1999-12-15 2007-06-13 シャープ株式会社 画像処理装置および方法
DE10046845C2 (de) * 2000-09-20 2003-08-21 Fresenius Medical Care De Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Funktionsprüfung einer Anzeigeeinrichtung eines medizinisch-technischen Gerätes
KR100899021B1 (ko) * 2001-09-14 2009-05-27 아메리칸 패널 코포레이션 영상 디스플레이 테스팅, 최적화 및 조화 방법과 시스템
US6712466B2 (en) * 2001-10-25 2004-03-30 Ophthonix, Inc. Eyeglass manufacturing method using variable index layer
DE10228579A1 (de) * 2002-06-26 2004-01-15 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Bildqualität des Displays eines Mobiltelefons
KR20040045173A (ko) * 2002-11-22 2004-06-01 갈란트 프리시젼 머시닝 캄파니, 리미티드 교대 팰릿을 갖춘 검사 시스템
KR100471084B1 (ko) * 2002-12-16 2005-03-10 삼성전자주식회사 영상처리시스템 및 영상처리방법
JP2005017116A (ja) * 2003-06-26 2005-01-20 Sharp Corp 光学式エンコーダ用受光素子
GB0318000D0 (en) * 2003-07-31 2003-09-03 Ncr Int Inc Mobile applications
KR100955486B1 (ko) * 2004-01-30 2010-04-30 삼성전자주식회사 디스플레이 패널의 검사장치 및 검사방법
US8184923B2 (en) 2004-04-19 2012-05-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Image analysis method, image analysis program, pixel evaluation system having the image analysis method, and pixel evaluation system having the image analysis program
US20050286753A1 (en) * 2004-06-25 2005-12-29 Triant Technologies Inc. Automated inspection systems and methods
KR20070039604A (ko) * 2004-07-23 2007-04-12 넥스텍 솔루션즈 인크. 대형 기판 평탄 패널의 검사 시스템
JP4353479B2 (ja) * 2004-10-08 2009-10-28 大日本スクリーン製造株式会社 ムラ検査装置、ムラ検査方法、および、濃淡ムラをコンピュータに検査させるプログラム
KR20060044032A (ko) * 2004-11-11 2006-05-16 삼성전자주식회사 표시패널용 검사 장치 및 이의 검사 방법
US8436632B2 (en) * 2008-06-27 2013-05-07 American Panel Corporation System and method for optimizing LCD displays
KR20100072762A (ko) * 2008-12-22 2010-07-01 삼성전자주식회사 물체 정보 제공장치, 물체 인식 장치 및 물체 인식 시스템
US9035673B2 (en) * 2010-01-25 2015-05-19 Palo Alto Research Center Incorporated Method of in-process intralayer yield detection, interlayer shunt detection and correction
KR20140091916A (ko) * 2013-01-14 2014-07-23 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 패널 검사방법
CN104977304A (zh) * 2015-06-26 2015-10-14 清华大学 具有子像素结构的空间光调制器缺陷检测的装置及方法
US11555789B2 (en) 2018-09-20 2023-01-17 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Systems, methods and apparatus for autonomous diagnostic verification of optical components of vision-based inspection systems
KR102668970B1 (ko) * 2018-12-14 2024-05-24 삼성디스플레이 주식회사 비전 검사 장치 및 이의 구동 방법
CN112837620B (zh) * 2021-01-22 2023-07-04 武汉京东方光电科技有限公司 柔性显示屏及电子设备

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IL72878A (en) * 1984-09-06 1988-10-31 Tadiran Ltd Reconnaissance system
US5245328A (en) * 1988-10-14 1993-09-14 Compaq Computer Corporation Method and apparatus for displaying different shades of gray on a liquid crystal display
US5012314A (en) * 1989-03-31 1991-04-30 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Liquid crystal display restoring apparatus
US5020116A (en) * 1989-12-13 1991-05-28 Hughes Aircraft Company Image registration method and apparatus
US5177437A (en) * 1990-08-08 1993-01-05 Photon Dynamics, Inc. High-density optically-addressable circuit board probe panel and method for use
JPH0634142B2 (ja) * 1990-09-26 1994-05-02 ミナトエレクトロニクス株式会社 表示素子検査方式
JPH04158238A (ja) * 1990-10-22 1992-06-01 Ezel Inc 液晶パネルの検査方法
US5081687A (en) * 1990-11-30 1992-01-14 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for testing LCD panel array prior to shorting bar removal
US5235272A (en) * 1991-06-17 1993-08-10 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for automatically inspecting and repairing an active matrix LCD panel
US5402170A (en) * 1991-12-11 1995-03-28 Eastman Kodak Company Hand-manipulated electronic camera tethered to a personal computer
JPH07507139A (ja) * 1992-03-16 1995-08-03 フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド フラット・パネル・ディスプレイ検査システム
JPH06230744A (ja) * 1993-02-05 1994-08-19 Fuji Electric Co Ltd フラットディスプレイの表示検査方法およびその検査 装置
JPH06236162A (ja) * 1993-02-09 1994-08-23 Sharp Corp カラー液晶パネル欠陥検査方法および装置
JPH06250139A (ja) * 1993-02-23 1994-09-09 Casio Comput Co Ltd 液晶表示パネルの検査方法
IL108974A (en) * 1994-03-14 1999-11-30 Orbotech Ltd Device and method for testing a display panel

Also Published As

Publication number Publication date
EP0672933A1 (en) 1995-09-20
US6215895B1 (en) 2001-04-10
IL108974A0 (en) 1994-06-24
US5771068A (en) 1998-06-23
KR950033565A (ko) 1995-12-26
JPH0868976A (ja) 1996-03-12
IL108974A (en) 1999-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW315574B (zh)
JP4581927B2 (ja) 表示装置のぎらつき測定方法およびぎらつき測定装置
TW200401106A (en) Testing liquid crystal microdisplays
KR20100092014A (ko) 패턴 에러들을 검출하기 위한 방법들 및 장치들
TW200425048A (en) Display device and information terminal device
KR20050105194A (ko) 디스플레이의 광학 검사 방법 및 장치
US6362802B1 (en) Method and apparatus for acquiring an image for inspection of a flat panel display
TWI484159B (zh) 用以測定或識別平板顯示器或其像素之位置的方法及裝置
JP5292846B2 (ja) 観察装置と、観察方法
JP7089906B2 (ja) 基板検査装置、基板処理装置および基板検査方法
US5881164A (en) Image data processing method and image data processing apparatus
JP3366802B2 (ja) ムラ検査方法および装置
JPH0875542A (ja) 表示画素の光量測定方法並びに表示画面の検査方法及び装置
CN113870255B (zh) Mini LED产品缺陷检测方法及相关设备
TW594001B (en) Method and system of multiple band UV light illumination of wafers for optical microscopy wafer inspection and metrology system
US11704786B2 (en) Stress luminescence measurement method and stress luminescence measurement device
JPH05118830A (ja) 光コネクタの端面検査装置
JP2000019064A (ja) フィルム評価方法およびフィルム評価装置
JPH0989537A (ja) 表面うねり検査装置
CN1396446A (zh) 用于扫描装置检测透光式底片上缺陷的方法
JP2001201459A (ja) 周期性パターンのムラ検査方法及び装置
JP3245066B2 (ja) 表示パネルの欠陥検査装置
JP2660560B2 (ja) 欠陥検査方法
JPH0666633A (ja) 明度補正装置
TW457809B (en) Testing method of abnormal image