TW315574B - - Google Patents
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Description
315574 A7 B7 五、發明説明(() 本發明係關於顯示面板之檢驗。 用Μ檢驗顯示面板的習用条統包含美國加州麥比塔的 光子動態(Photon Dynamics〉公司,古明斯(Cummins)等人 \ “平面板顯示中影像品質和缺陷特性之評估”一文所述的 条統。 在習用顯示面板檢驗中,顯示面板的影像,包含多數 餹像素,是由也是像素式的一感測器加Μ成像,該感測器 的像素一般不是連續的(亦邸,具有小於100%的充填因 素)並且一般既非相同尺寸而且相對於顯示面板影像的像 素也非完全地對準。 第ΒΑ-1圖是一顯示面板影像的圖形,為簡化起見,其 包含四個顯示面板像素10,為簡化起見,該等像素被包含 六個感測器元件20的一組感測器加Μ成谭。就感测器元件 是連續的方面而言,該感測器是理想的,亦即理論化的。 一般而言,不均勻顯示面板強度在感測器的視頻信號中示 4 出一種局部的變化。在顯示面板像素10內的數目指示在任 意單位下各攝彩機像素所慼测到顯示面板像素的缠面積之 比例。 第ΒΑ-2圔是一棰顯示面板影像的圈形,因其感測器元 件20並非連鳙,所Μ它不是理想型式。在第ΒΑ-2圈中,為 簡化起見,示出三値顯示面板像素30、40和50。顯示面板 像素40未被慼測部份,如交叉線70所示,小於顯示面板像 素30和50的未被感測部份,如斜線80所示。這導致在量測 顯示面板像素的強度時之不精確性。尤其是,在感測器的 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) Α4规格(210X297公釐) —..-------^ ί 装-----_—訂--------^線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央揉隼局負工消費合作社印製 4 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 A7 __ B7 _ 五、發明説明(l ) 視頻信號中之局部變化並不一定指示不均勻的顯示面板強 度。 本發明意欲提供一種用於顯示面板檢驗之改良条統。 \ 依據本發明之一較佳實施例提供用以檢驗包含多數値 像素之顯示面板之一種条統,該条统包含一組選擇式像素 致動器,其只導致該等多數艢像素之某些被致動,也包含 用Μ搜集產生於面板上之影像圖型之一组感測器,Μ及用 Μ辨識在面板像素強度中不均勻性的一组影像處理器。 更依據本發明之一較佳實施例,該顯示面板包含一組 LCD (液晶顯示)面板,並且該条統也包含用以提供照明 至欲檢驗面板之一組照明器。 再依據本發明之一較佳實施例,欲被檢驗之面板的照 明包括背面照明並且像素的致動包含改變其局部傳導性。 再進一步依據本發明之較佳實施例,該選擇式像素致 動器用Μ依序地引動一序列的像素子集,並且各像素子集 Λ 在顯示面板内預定尺寸的各多數個像素範圍内只包含一單 一像素。 侬據本發明之一較佳實施例更提供一種用Μ檢驗包含 多數個像素之顯示面板的糸統,該条統包含用以同時地搜 集產生於面板上圖型之大致整體的影像之一組感測器,Μ 及用Μ辨識面板像素之強度之不均勻性的一組影像處理器 〇 依據本發明之一較佳實施例另外提供一種用以檢驗包 含多數傾像素的顯示面板之方法,該方法包含只致動該等 本紙張尺度適用中國國家標牵(CNS〉Α4规格(210Χ297公釐) ~ 1^—. — 1. -is— n m ^^1 ϊ—^^1 —^1 -- t-1 i— f n^i I— :『 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 A7 B7 _ 五、發明説明(j ) 多數倕像素之某幾傾*搜集產生於面板上之圔型的影像, 以及辨識面板像素強度中之不均勻性。 依據本發明之一較佳實施例更提供一棰用以檢驗包含 \ 多數健像素的顯示面板之条统,該条统包含一組用Μ捜集 解析度大致不超過橒準電視攝影機而產生於面板上之圖型 的影像之感測器《 Μ及一組用以辨識面板像素強度中不均 勻性的影像處理器。 更依據本發明之一較佳實施例,該組感測器包含少於 1300Χ 1000感測元件。 再依據本發明之一較佳實施例,該組感測器包含不多 於800 X 500感測元件。 依據本發明之一較佳實施例另外提供一棰用Μ檢驗包 含多數艏像素之顯示面板的条統,該条統包含一組用Μ搜 集產生於面板上圖型的影像之感测器,Μ及一組用以辨識 面板的各像素之強度的影像處理器。 φ 更依據本發明之一較佳實施例,該顯示面板包含一種 液晶顯示(LCD)面板。 再依據本發明之一較佳實施例,該顯示面板包含一種 沒有照明,里動器或極化器之LCD胞。 另外依據本發明之一較佳實施例,該条統也包含一種 用Μ固持面板Μ便檢驗之固定器。 依據本發明之一較佳實施例,也提供一棰用W檢驗包 含多數個像素之顯示面板的方法,該方法包含同時地搜集 產生於面板上圖型之大致全部的影像,Μ及辨識在面板像 y 本紙張尺度適用中國國家揉单(CNS ) A4規格(210X297公釐) , I..-------<裝------"一訂------^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局負工消費合作社印製 A7 _B7 _ 五、發明説明() 素的強度之不均勻性。 依據本發明之一較佳實施例,更提供一種用以檢驗包 含多數個像素的顯示面板之方法,該方法包含搜集解析度 丨大致不超過檷準«視攝影機而產生於面板上之圖型的影像 ,以及辨識面板像素強度之不均勻性。 依據本發明之一較佳實施例*更進一步提供一種用Μ 檢驗包含多數個像素的顯示面板之方法*該方法包含搜集 產生於面板上画型之影像,Μ及辨識面板的各像素之強度 〇 本發明從下列詳細說明並且配合附圖而更明白且容易 了解,其中: 第ΒΑ-1圈是感拥器元件為連播的理想顯示面板影像之 圖形; 第ΒΑ-2圖是感測器元件為不建續的非理想顯示面板影 像之蹕形; * 第1圖是檢驗一 LCD胞的顯示面板檢驗糸統之功能方 塊圔; 第2圖是K5X 5像素範圍爲主的一種可能顯示面板像 素致動順序的圖形; 第3圏是M7X 7像素範圍為主的另一種可能顯示面板 像素致動順序的圖形;Μ及 第4圖是適合製作第1圖的彩像處理器而用以辦識受 檢驗顯示面板之各像素強度的一種較佳影像處理方法之簡 化流程圔。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) I--------1裝-------订------^ .旅 (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) A7 B7 經濟部中央揉準局員工消費合作社印製 五、發明説明( 此處也加上下列附錄Μ協助了解及明白本發明所示及 所述之較佳實施例。 附錄Α是在一工作站執行且逹成第3圖的功能之較佳 程式檔之電腦列表。 附錄B-0是副程式,分別名稱爲GRAB_GLOBALS, GRAB —PACKAGE, GRABCENTER, REMOTE, DEMO, RESAMPLE, CC_ LINK, SCAN_FILES, SCAN_IF, SCAN_TEXT, OPTIONS, PIC __I0, GRAB以及IMIO,它們是由附錄A的程式楢所產生的 可執行檔程式所呼叫。 附錄P是第1圖的選擇式像素致動器130之較佳軟體 製作的電腦列表。 現在參看第1圖,它是檢驗一 LCD晦100的顯示面板檢 驗糸統的功能方塊圖。 因爲欲檢驗的單元是一 LCD^,提供有極化器104M及 背面照明110並且有提供與受檢驗面板100進行電氣接觴的 Λ 探針120。一適當固定器124維持LCD面板100,極化器1〇4 Μ及照明器110於相蘭固定位置。 可明白,大致相同条統可用Μ檢驗一LCD模組及/或 一發光顯示面板。若檢驗一 LCD模組時,極化器104、背面 照明110M及探針120可移去。 在本說明中,“LCD胞”用Μ指示無背光、驅g器或 極化器之顯示面板,而“LCD棋組”用以指示完全組合的 顯示面板。 探針120用以提供LCD面板100和一選擇式像素致動器 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) I.\-------裝------訂 ------—-I 1 ---- - —^1 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 8 經濟部中央橾準局貝工消費合作社印製 A7 B7 ._ 五、發明説明() 130之間的霣氣通信。選擇式像索致動器130用Μ導致一起 形成顯示面板100的多數個像素之某些部份同時被致動。 對於LCD面板而言,像素之致動包括改變其局部之傳導性 1 。對於發光二極《而言,像素之致動包括改變像素所發射 之光量。 最好是,該逸擇式像素致動器130用Μ依序地致動一 序列的像素子集,其中各像素子集只包含在顯示面板内預 定尺寸的各値多數値像素範圍内之一單一像素。 最簡單的選擇式像素致動機構是*當一特定像素被照 明時,其8個連接鄰點無一個被照明。依據更複雜像素致 動順序的其他種像素致動機構示於第2和3圖。 第2圖是Μ5Χ 5像素的範圍,Μ 140表之,爲主的一 種顯示面板像素致動順序之圖形。數目1,2,...,25所 示的像素順序表示其致動的順序依下逑進行: 第1步驟:所有檫示“1 ”的像素被引動,因而在屏 幕上產生第一圖型; 第2步驟:所有檷示“2 ”的像素被引動,因而在屏 幕上產生第二圖型; 第25步驟:所有檫示“25”的像素被引動,因而在屏 幕上產生第二十五圖型。 第3圔是Μ7Χ 7像素的範圍,Μ 150表之,為主的一 棰顯示面板像素致動順序之圃形。數目1,2,...,49所 示的像素順序表示其致動的順序依下述進行: 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) I.-------裝---I - <_ 訂— —--—^..^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 9 A7 B7 315574 五、發明説明( 第1步驟:所有標示“1”的像素被引動; 第2步驟:所有檷示“ 2 ”的像素被引動; 第49步驟:所有標示“49”的像素被引動; 這種順序導致在屏幕上依序產生49棰不同圖型。 各範圍大小的選擇是依下列二値相抵«考盧之間的折 衷而定: a. 大範圍使糸統更精確;以及 b. 小範圍使糸統較快速,因為僅箱較少步驟去順序檢驗 範圍内所有像素。 範圍的面積一般依条統的點擴展函數而定,亦邸依条 統感測器所抓取顯示像素的影像被模糊之程度而定。 最好是,25傾或49値圖型序列之前有一對齊匾型,它 不是用來決定在任何恃定圖型中屏幕像素的強度*而是用 Μ決定序列中所有圖型相對於感測器160的像素而言是否 Λ 對齊。一般而言,該對齊匯型包含配置粼接於屏幕的四角 落之四値屏幕像素。 在各序列中一疆型η的切掉和一圖型η + 1的切上之間 Μ及圖型η+1的影像擷取開姶時刻之間的時間間隔依特定 顯示技術的上升時間和下降時間特性而定。例如,在IBM ThinkPad 750C中所裝設主動矩陣式LCD,擷取可在下列二 事件之較埋者發生時開始: a.前面圖型η已充分衰減至,例如,其“切上”強度之 2%以下;Μ及 I-..-------d 装------'—訂一-----^ ^ (請先M讀背面之注意事項再埃寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 本紙張尺度逋用中國國家標牵(CNS >八4規格(210X297公釐} -10 10 經濟部中央橾準局負工消費合作社印裝 A7 B7 五、發明説明() b.目前圖型n + 1已充分上升至,例如,其“切上”強度 之98%M上。 該上升和下降時間可由一適當的光檢澜器,例如PMT 1 (光相乘器管),加Μ量測。 最好是,預定的画型模糊被介入条统感測器所擷取的 影像中,Μ便允許更多慼測元件參與一局部慼測工作而增 加精確性。模糊情況可由一機械式偏移單位而達成,其用 以振動或偏移顯示面板,及/或感測器及/或介於顯示面 板和感测器之間的光學元件如菱鏡或鏡面。另外,或附加 地,模糊可用光學式逹成,例如利用相機上的棋糊濾波器 〇 回看第1圖,該条統包含例如配有一個25毫米透鏡的 珂胡(CohiO 4110數位相機(美國加州聖地亞哥珂胡公司 )的一棰感測器160。該透鏡被加MS擇以便同時地擷取 產生於面板上大致整艏画型的彩像,亦邸,顯示面板100 4 的整値面稹,或是幾乎其整儡面積,被感測器160同時成 像。 透鏡焦距最好被選擇以便可在大約90公分的距離櫬看 具有典型10时對角線的顯示面板。這選擇使因觀看角度引 起的顯示像素強度之變化減至最小。 感測器160擷取影像的解析度最好不超過一檷準«視 攝影機。該感測器最好包含少於1300 X 1000感測元件,或 甚至少於800 X 500感测元件。例如,珂胡攝影機包含739 X 484主動式感測元件。 本纸張尺度適用中國國家標牵(CNS ) A4規格(210X297公釐) ,, -11 - — Ml------4装-----*—訂--------44 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
A7 '發明説明() 感测器160產生的數位梘頻信號,一般具有8位元的 寬度,被餱至一組影像處理器170。控制電路180用以接受 使用者輸入命令和程式並且控制所有条統組件。控制電路 ^ 180和彩像處理器170,若需要的話,可配合美國麻州丹佛 市資料塊(Datacube)公司的MAX VIDEO 20影像處理器而製 作於美國加州山景市太陽撤条统(Sun Microsystem)公司 的SPARC 10工作站内。 第4圖是第1圔的影像處理器170的較佳操作方法之 簡化流程圃。第4圖的方法利用處理產生於顯示面板上各 圖型並且比較產生於顬示面板上的不同圈型而辨識受檢驗 顯示面板的各像素之強度。 第4画的方法最好包含下列步驟: a. 步驟200 :步驟210至270針對產生於顯示面板的各圖 型,例如25圖型或49匾型,而進行。 b. 步驟210 :從感测器160接收數位形式的目前圃型。為 Λ 了改進信號雜訊比,最好將圖型信號積分經過數個視訊圖 框,例如四個視訊圖框。 C. 步驟220:補僂攝彩機像素中之性能變化,例如,從 各攝影機像素值減去其偏移值並且接著用其增益係數與各 相減後像素值相乘。 最好是,在第1圖裝置的操作步驟之前有一攝彩機學 習步驟,其中各攝彩機像素的傾移值和增益係數可被決定 〇 d. 步貉230:屏幕圃型的灰階彩像被Msinc函數經由酒 本紙張尺度適用中國國家標車(CNS ) A4規格(210X297公釐) I.-------^ <裝-----rtr.,-----γ 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局貝工消費合作社印製 經濟部中央揉準局員工消費合作社印製 A7 __B7 _ 五、發明説明() 旋蓮算重新取樣,因而產生解析度大於原姶圖型的新圖型 。例如,解析度可能增大四倍。Msinc函數經迴旋蓮算重 新取樣在克服虛假重叠現象時特別有用,它是一棰習用步 \ 驟,可參考,例如,1988年劍橋大學出版社所出版W. Η.
Press等人所著“C語言數值食譜(Numerical Recipes in * C) ” 第 403至 407頁。 步驟240 :決定該重新取樣、增大解析度的攝影機影 像和目前圖型,它們的待性是已知,之間的粗略對齊。該 粗略對齊是由檢驗對齊圖型而決定Μ便辨識影像處理的放 大度和相對於攝影機之圖型的方位。 步驟250 :接著決定該重新取樣、增大解析度的攝彩 機影像和目前圈型之間的細緻對齊。該重新取樣攝影機像 内各顯示像素的影像之大約位置可由步驟240的粗略對齊 而得知。各大約位置的周圍被加Μ專找以發現一局部最大 強度而當成目前顯示像素之彩像中心。最好是,相鄰顯示 * 像素中心之間的平均距離被計算出來。 步想260:將落於目前顙示像素影像中心的周圍内之 重新取樣像素值相加。例如,影像處理器可將落於半徑約 為相鄰顯示像素中心之間平均距離之半所形成圈形内所有 重新取樣像素值相加。 步驟270 :更正殘餘之重叠效應並且儲存所得多數傾 數值作為包含在目前圃型内對應多數艟屏幕像素之強度。 重叠效應將使圖型點強度之和產生一棰通期式調變,亦邸 在相關技術中習知的摩雷(Moire)圖型。 本紙張尺度適用中國國家梂牵(CNS ) A4規格(21〇>:297公釐) _ 1¾ _ H· ««^1 ^^1 n n I n^. 4 In IK— HI· i !...... n (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 315574 A7 B7 五、發明説明() 用Μ更正殘餘重叠效應之較佳方法包含下列步班: a. 依據在步班240計算出的粗略對齊資訊以及己知顯示 面板像素之週期,計算該摩雷圖型之遇期和方位。用以進 丨 行摩雷週期和方位計算的較佳方法可參考J. Krumm等人所 提“數位影像摩雷圖型之取樣檷和交叉柵模式”,光學工 程,第30冊,第2卷,1991年2月,第195至206頁。 b. 沿垂直於摩雷圖型的波向量之方向,亦即沿摩雷“波 鋒”方向,將二維的黠圈型強度相加。將所得之和除以被 相加項數而加Μ正規化。 〇. 使用步驟b所計算之正規化和向量計算一相閧因數。 該柑醑因數一般為:
Si - A 1--
Si 其中:
Si =正規化和向量之第i個分置;Μ及 A =正規化和向置內所有分量之平均值。 經濟部中央橾準局貝工消費合作社印製 (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁)
用Μ更正殘餘重叠效應之較佳方法的軟醱製作說明於 附錄F的DEMO. C楢案中。進行該方法的常用程式名稱爲FIX _RESULTS° 步驟280: —旦儲存各屏幕像素之數值後,計算該等 數值的中間傾向,例如該等數值之一平均值,因而定義對 於該等屏幕像素之“正常”強度。 步驟290:辨識其強度異於“正常”值的屏幕像素並 本紙張尺度適用中國國家標舉(CNS ) A4规格(210X297公釐) -14 - 經濟部中央揉準局貝工消費合作杜印«. A7 B7 五、發明説明() 且產生這些屏幕像素之指示。 應可明白,此處所示及所述的圔型只是一般類團型序 列的例子。其中在任一圖型中某一範圍内只有單一像素被 丨 致動。在各範圍用所有像素均被致動*但一次只一個。 附錄A是在SPARC 10工作站上執行的較佳程式列表, 其具有Windows (視窗)3·0環境,Pixrect程式庫以及來 自美國資料塊公司MaxVide〇20影像處理器軟體裝設在硬碟 上。MaxVideG20的硬體裝設在SPARC工作站匯流排上並且 連至攝影機160。同時在程式庫中有W.H. Press等人所箸 C語言之數值食譜中之目的檑。GCC和ACC被用作编譯器。 附錄A的程式執行第4圖的功能。 附錄B-0是副程式,分別是GRAB_GLOBALS, GRAB_ PACKAGE, GRABCENTER, REMOTE, DEMO, RESAMPLE, CC_ LINK, SCAN—FILES, SCANjF, SCAN—TEXT, OPTIONS, PIC _I0, GRAB和IMIO,它們被附錄A楢案所產生的執行楢程 Λ 式呼叫。 附錄Ρ是第1圖的選擇式像索致動器130的較佳軟鱧 製作之電腦列表。 採用上述附錄於上逑環境以得到依據本發明之較佳實 施例而構成且操作的PC顯示面板檢驗条統之較佳方法包含 下列步驟: a. 使用VI编輯器打入附錄A至P的播案。 b. 使用附錄A的製造檔编譯附錄A至0的檔案。 c. 欲檢驗一部PC,例如IBM ThinkPad 750C,的顯示面 本紙張尺度適用中國國家標聿(CNS ) A4规格(210X297公釐) 15 ~·1111 11-41 裝-----訂 ----II--^ .旅 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央揉隼局舅工消费合作社印製 A7 _B7 __ 五、發明説明() 板,在PC上使用Borland Turbo C编譯器编譯附錄P。 d. 使用一條習用電纜連接PC的RS232輸出和Sun SPARC工 作站。 \ e. 在PC上,鍵入:FPD 1
在SPARC工作站上,鍵入:DEMO 該SPARC工作站將把第一圖型載入於PC上。第一圖型 的處理說明於步驟ί。 f . 打開SPARC上DEMO所呈現的選擇菜單並且調整下列參 數:PC上點之間隔,沿水平軸之點數Μ及沿垂直軸之點數 0 g. 欲進行第4 _的步驟210和230,按下GRAB按鈕以擷取 一張影像進入TOOLS記憶内。 或者是* &RABCENTER.C檔可被修改K包含第4匾的步 驟220之程序並且被重新编譯,在該情況下,步驟g也將 裂成步驟220。 s h. 在Sun工作站按下DEMO工具上的PERIOD按鈕。 i. 使用SPARC滑鼠Μ指定四個對齊圖型像素。此處,条 統執行第4圈的步驟240。 j . 欲進行第4圖的步驟250、260和270,按下工具中的 ADD按鈕。該程序的綸出包含下列二檔案: i. GRABBED.VALS,包含在画型中,未經殘餘重疊之 修正之像素強度值,以及 II. GRABBED. FIXED,包含在圖型中,經過殘餘重叠 之修正之像素強度值。 本紙浪尺度逋用中國國家梂車(CNS ) A4说格(210X297公釐) I..~ — II--^ I--;---訂—I- — —---^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 315574 A7 _B7___ 五、發明説明() 若需要的話,步费If以後可針對其他圃型而重揉。欲 載入其他圖型,DEMO.C播可被適當修改以產生新圔型。 可明白,附錄中所述的特定實施例只用以提供本發明 \ 之一種極詳細揭示而不是做為限制。本發明不一定以軟體 製作,相反地,可用持定硬醱製作。 可明白,本發明之各特點,為明白起見,它們於不同 實施例中被加以說明,它們也可結合於單一實施例中。相 反地,本發明之各特點,為簡要起見,它們於單一實施例 中被加以說明,它們也可分別提供或以任何適當部份組合 而提供。 對於熟習本技術者將可明白,本發明並不限於上面的 展示和說明。本發明之範睡將由申請專利範围加以界定。 n-^^i ^^1 In 1^1 ^^1 L —i m i ! 1 - I IT— Λ —HI-.....ID - !^\ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局男工消費合作社印製 本纸張尺度適用中國國家樣拿(CNS ) A4規格(210X297公釐}
Claims (1)
- 中請專利範圍 A8 B8 C8 D8 第84102320號申請案申諳專利範圍修正本 :锻}T 一須請委舞明示 經濟部中央標率局貝工消费合作社印装 1. —種用以檢驗具有多數傾像素的顯示面板之条統〗 糸統包含有: 一像素致動器; 一組用以擷取産生於面板上一圖型影'像之感测器 :以及 一組影像處理器,用以辨識多數値像素強度中之 不均勻性; 該条統之特徵在於:該像素致動器用以選擇性地 從該多數値像素中•只致動一組像素子集序列,其中 各像素子集在顯示面板内預定尺寸的各多數値像素範 圍内只包含單一像素。 2. 如申請專利範圍第丨項之糸统•其中該影像處理器用 以辨識面板每一像素之強度。 . 3. 如申請專利範圍第1項之条统,其中該感測器可用以 同時擷取産生於面板上一圖型之大致全部的一影像。 4. 如申請專利範圍第丨項之条統•其中該感測器可用以 擷取圖型影像,該圖型以大致不超越一標準電視攝影 機之解析度産生於面板上。 5. 如申讅專利範圍第1項之条統,其中該感測器包含少 於1300 X 1000値感測元件。 6. 如申請專利範圍第5項之条統,其中該感測器包含不 -18 請 先 閱 讀 背 之 注 意 事 項 再 訂 旅 本紙張尺度逋用中國國家揉率(CNS ) A4规格(210X297公嫠) 申請專利範圍 A8 B8 C8 D8 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 多於800 x 500個感測元件。 7. 如申請專利範圍第1項之条統,其中該顯示面板包含 —液晶顯示器(LCD )面板。 8. 如申請專利範圍第1項之糸統,其並且包含一固定器 ’用以適度地固持供一探針用之面板,該探針用以提 供與欲檢驗面板之電氣接觸。 9. 如申請專利範圍第丨項之条統,其中該感測器包含用 以楔糊圖型影像之模糊裝置。 io.如申請專利範圍第9項之条统,其中該模糊裝置包含 ~組機槭式偏移單元。 Π.如申請專利範圍第9項之条統,其中該模糊裝置包含 光學模糊裝置。 12· —種用以檢驗具有多數個像素之顯示面板的方法,該 方法包含有: 從該多數値像素中,只致動一組像素子集序列, 其中各像素子集在顯示面板内預定尺寸的各多數個像 素範圍内只包含單一像素; 擷取産生於面板上一圖型影像;以及 辨識面板像素強度中之不均勻性。 13. 如申請專利範圍第12項之方法,其並且包含辨識面板 的各像素之強度。 14. 如申請專利範圍第12項之方法,其並且包含同時擷取 --;I.-------:-------訂1!-----峻- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)'申請專利範圍 經濟部中央揉準局貝工消費合作社印製 産生於面板上圖型之大致全部的影像。 15. 如申請專利範圍第12項之方法,其中並且包含擷取圖 型影像,該圖型以大致不超越一標準電視攝影機之解 析度産生於面板上。 16. 如申請專利範圍第12項之方法,其中該顯示面板包含 —液晶顯示(LCD )面板。 17·如申請專利範圍第12項之方法,其並且包含適度地安 裝該供一探針用之面板於一固定器内,該探針用以提 供與欲檢驗面板之電氣接觸。 18. 如申請專利範圍第12項之方法,其中該擷取步驟包含 模糊圖型之影像。 19. 如申請專利範圍第16項之方法,其中該模糊步驟包含 由機械位移加以模糊。 20. 如申請專利範圍第16項之方法,其中該模糊步驟包含 光學模糊。 -20 - 本威張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IL10897494A IL108974A (en) | 1994-03-14 | 1994-03-14 | Device and method for testing a display panel |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW315574B true TW315574B (zh) | 1997-09-11 |
Family
ID=11065931
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW084102320A TW315574B (zh) | 1994-03-14 | 1995-03-11 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5771068A (zh) |
EP (1) | EP0672933A1 (zh) |
JP (1) | JPH0868976A (zh) |
KR (1) | KR950033565A (zh) |
IL (1) | IL108974A (zh) |
TW (1) | TW315574B (zh) |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IL108974A (en) * | 1994-03-14 | 1999-11-30 | Orbotech Ltd | Device and method for testing a display panel |
JP2898269B1 (ja) * | 1998-03-02 | 1999-05-31 | 日本放送協会 | 映像検査装置、方法および記録媒体 |
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CN112837620B (zh) * | 2021-01-22 | 2023-07-04 | 武汉京东方光电科技有限公司 | 柔性显示屏及电子设备 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1994
- 1994-03-14 IL IL10897494A patent/IL108974A/en active IP Right Grant
-
1995
- 1995-03-10 US US08/402,141 patent/US5771068A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-03-11 TW TW084102320A patent/TW315574B/zh active
- 1995-03-13 EP EP95301647A patent/EP0672933A1/en not_active Withdrawn
- 1995-03-14 KR KR1019950005238A patent/KR950033565A/ko not_active Application Discontinuation
- 1995-03-14 JP JP7053884A patent/JPH0868976A/ja active Pending
-
1998
- 1998-06-18 US US09/099,494 patent/US6215895B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0672933A1 (en) | 1995-09-20 |
US6215895B1 (en) | 2001-04-10 |
IL108974A0 (en) | 1994-06-24 |
US5771068A (en) | 1998-06-23 |
KR950033565A (ko) | 1995-12-26 |
JPH0868976A (ja) | 1996-03-12 |
IL108974A (en) | 1999-11-30 |
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