JP5292846B2 - 観察装置と、観察方法 - Google Patents
観察装置と、観察方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5292846B2 JP5292846B2 JP2008039066A JP2008039066A JP5292846B2 JP 5292846 B2 JP5292846 B2 JP 5292846B2 JP 2008039066 A JP2008039066 A JP 2008039066A JP 2008039066 A JP2008039066 A JP 2008039066A JP 5292846 B2 JP5292846 B2 JP 5292846B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- low
- magnification
- imaging optical
- reference value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 53
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 53
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 17
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 2
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 238000012258 culturing Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Description
小松啓,「光学顕微鏡の基礎と応用(3)」,応用物理,第60巻,第19号,1991年, p1032−p1034 小松啓,「光学顕微鏡の基礎と応用(4)」,応用物理,第60巻,第11号,1991年, p1136−p1138
被観察物の分解能の異なる少なくとも2つの画像を同時に取得する少なくとも2つの撮像手段と、
前記撮像手段のうちの1つによって相対的に高い分解能で得られた画像の所定領域における画像特徴量に、前記撮像手段のうちの別の1つによって相対的に低い分解能で得られた画像の前記所定領域における画像特徴量が略等しくなるように、前記分解能の低い画像の画像処理のための基準値を算出する制御手段と、
前記基準値に基づき前記分解能の低い画像全体に亘り画像処理する画像処理手段と、
を有することを特徴とする観察装置を提供する。
倍率の異なる少なくとも2つの撮像光学系により、同じ領域を含んで被観察物の高倍率画像と低倍率画像とを同時に撮像し、前記同じ領域の前記高倍率画像と前記低倍率画像との画像特徴量が略等しくなるように前記低倍率画像の基準値を算出し、算出された前記基準値に基づき前記低倍率画像全体を処理し前記低倍率画像の処理結果を表示手段に表示する観察方法を提供する。
図1は、第1実施の形態にかかる観察装置の概略構成図である。図2は、第1実施の形態にかかる観察装置の光学系部分の作用を説明する概念図である。図3は、第1実施の形態にかかる観察装置の低倍撮像光学系で得られる画像の例であり、(a)は周期光源をずらす前の画像、(b)は周期光源を半周期ずらして得られる画像をそれぞれ示す。図4は、第1実施の形態にかかる観察装置で得られる画像の空間分解能の差異を示す図で、(a)は、高倍撮像光学系で得られる画像を、(b)は低倍撮像光学系で得られる画像を、(c)は参考として位相差顕微鏡で得られる画像をそれぞれ示す。
次に、本発明の第2実施の形態にかかる観察装置について図7を参照しつつ説明する。
10 被観察物(位相物体)
11、21 撮像素子
12 低倍撮像光学系
13 ステージ
14 透過型液晶パネル
15 コントローラ
16 コンピュータ(PC)
17 モニタ
18 画像処理部
22 高倍撮像光学系
Claims (8)
- 被観察物の分解能の異なる少なくとも2つの画像を同時に取得する少なくとも2つの撮像手段と、
前記撮像手段のうちの1つによって相対的に高い分解能で得られた画像の所定領域における画像特徴量に、前記撮像手段のうちの別の1つによって相対的に低い分解能で得られた画像の前記所定領域における画像特徴量が略等しくなるように、前記分解能の低い画像の画像処理のための基準値を算出する制御手段と、
前記基準値に基づき前記分解能の低い画像全体に亘り画像処理する画像処理手段と、
を有することを特徴とする観察装置。 - 前記撮像手段は、前記被観察物の像を撮像する倍率の異なる少なくとも2つの撮像光学系を含み、
前記制御手段は、前記分解能の高い前記撮像光学系の高倍率画像で求められる所定領域における画像特徴量が、前記分解能の低い前記撮像光学系の低倍率画像で求められる前記所定領域における画像特徴量と略等しくなるように、前記低倍率画像の画像処理のための基準値を算出することを特徴とする請求項1に記載の観察装置。 - 前記高倍率画像を撮像する前記撮像光学系の視野は、前記低倍率画像を撮像する前記撮像光学系の視野に含まれることを特徴とする請求項2に記載の観察装置。
- 前記高い分解能の撮像光学系の視野中心と前記低い分解能の撮像光学系の視野中心とが一致することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の観察装置。
- 前記画像特徴量は、前記被観察物である細胞の前記撮像された画像に占める細胞占有率、あるいは前記撮像された画像の輝度ヒストグラムからなることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の観察装置。
- 前記基準値は、前記被観察物である細胞の前記撮像された画像に占める細胞占有率が所定値となるときの前記画像の輝度値からなることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の観察装置。
- 前記被観察物を照明し、明部と暗部とが周期的に配置された面光源と、
前記画像処理手段で処理された前記分解能の低い画像の処理結果を表示する表示手段と、
を備えたことを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の観察装置。 - 倍率の異なる少なくとも2つの撮像光学系により、同じ領域を含んで被観察物の高倍率画像と低倍率画像とを同時に撮像し、前記同じ領域の前記高倍率画像と前記低倍率画像との画像特徴量が略等しくなるように前記低倍率画像の基準値を算出し、算出された前記基準値に基づき前記低倍率画像全体を処理し前記低倍率画像の処理結果を表示手段に表示する観察方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008039066A JP5292846B2 (ja) | 2008-02-20 | 2008-02-20 | 観察装置と、観察方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008039066A JP5292846B2 (ja) | 2008-02-20 | 2008-02-20 | 観察装置と、観察方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009198709A JP2009198709A (ja) | 2009-09-03 |
JP2009198709A5 JP2009198709A5 (ja) | 2011-09-08 |
JP5292846B2 true JP5292846B2 (ja) | 2013-09-18 |
Family
ID=41142275
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008039066A Active JP5292846B2 (ja) | 2008-02-20 | 2008-02-20 | 観察装置と、観察方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5292846B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102712890B (zh) * | 2010-01-20 | 2016-03-30 | 株式会社尼康 | 细胞观察装置和细胞培养方法 |
CN103210338A (zh) | 2010-08-30 | 2013-07-17 | 三洋电机株式会社 | 观察装置、观察程序及观察系统 |
JP5274731B1 (ja) | 2011-12-22 | 2013-08-28 | 三洋電機株式会社 | 観察システム、プログラム及び観察システムの制御方法 |
JP5867194B2 (ja) * | 2012-03-13 | 2016-02-24 | 株式会社島津製作所 | 顕微鏡 |
JP6742724B2 (ja) * | 2015-12-28 | 2020-08-19 | シスメックス株式会社 | 細胞領域決定方法、細胞撮像システム、細胞画像の処理装置及びコンピュータプログラム |
JP7030953B2 (ja) * | 2018-02-20 | 2022-03-07 | 富士フイルム株式会社 | 判定装置、細胞剥離回収装置及び判定方法 |
JPWO2019172395A1 (ja) * | 2018-03-09 | 2020-06-18 | 大日本印刷株式会社 | 細胞観察装置、細胞培養装置、細胞培養容器、細胞観察方法、および細胞シートの製造方法 |
JP7109130B2 (ja) * | 2018-04-04 | 2022-07-29 | 株式会社エビデント | 顕微鏡 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1195125A (ja) * | 1997-09-22 | 1999-04-09 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡デジタル画像撮影システム及びその撮影方法 |
JP4462959B2 (ja) * | 2004-02-25 | 2010-05-12 | 富士通株式会社 | 顕微鏡画像撮影システム及び方法 |
JP5059637B2 (ja) * | 2008-01-18 | 2012-10-24 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡用撮像装置 |
-
2008
- 2008-02-20 JP JP2008039066A patent/JP5292846B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009198709A (ja) | 2009-09-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5292846B2 (ja) | 観察装置と、観察方法 | |
JP6594294B2 (ja) | 顕微鏡画像の画像品質評価 | |
US10073258B2 (en) | Microscope system | |
US20080175466A1 (en) | Inspection apparatus and inspection method | |
JP5223069B2 (ja) | 標本の分析方法およびそれを利用した針状領域の分析装置 | |
JP2015102442A (ja) | 検査装置、及び検査方法 | |
TW201132962A (en) | Inspection device and method | |
CN105278090B (zh) | 用于粘附于微量滴定板的流体填充井的底部上的样品的显微镜成像的方法 | |
JP2008014768A (ja) | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
JP2007327836A (ja) | 外観検査装置及び方法 | |
KR101146081B1 (ko) | 마이크로-검사 입력을 이용한 매크로 결함 검출 방법 및시스템 | |
JP2010164487A (ja) | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
JP4597946B2 (ja) | 端部傾斜角測定方法、起伏を有する被検査物の検査方法および検査装置 | |
JP2012220558A (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP2009097959A (ja) | 欠陥検出装置及び欠陥検出方法 | |
JP2017138246A (ja) | 検査装置、検査方法、及びイメージセンサ | |
JP2009079915A (ja) | 微小寸法測定方法および測定装置 | |
JP2009265026A (ja) | 検査装置 | |
JP4021084B2 (ja) | 電子顕微鏡及び検査方法 | |
JP2002350361A (ja) | 周期性パターンのムラ検査方法及び装置 | |
TW201514479A (zh) | 缺陷觀察裝置及其方法 | |
JP4496149B2 (ja) | 寸法測定装置 | |
JP2006003168A (ja) | 表面形状の測定方法およびその装置 | |
JP2006074065A (ja) | 試料の検査装置 | |
JP4952354B2 (ja) | 観察装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110221 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110308 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110722 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120531 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121120 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130121 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130514 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130527 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5292846 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |