JP4353479B2 - ムラ検査装置、ムラ検査方法、および、濃淡ムラをコンピュータに検査させるプログラム - Google Patents
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Description
請求項13に記載の発明は、対象物から得られた対象画像に基づいて前記対象物の濃淡ムラをコンピュータに検査させるプログラムであって、前記プログラムの前記コンピュータによる実行は、前記コンピュータに、対象画像において互いに異なる濃度の領域の境界であるエッジを検出する工程と、前記対象画像にハイパスフィルタ処理を行う工程と、前記ハイパスフィルタ処理が行われた後の前記対象画像のコントラストを強調して処理済画像を生成する工程と、前記処理済画像に基づいて前記対象物の濃淡ムラを検出する工程とを実行させ、前記ハイパスフィルタ処理を行う工程において、前記処理済画像中の一の注目画素の画素値が、前記注目画素をほぼ中心とする固定された大きさのウィンドウ内の画素のうち、前記エッジに妨げられずに前記注目画素と連結している画素群により形成される領域内の画素の画素値のみに基づいて求められる。
2 ステージ
4 コンピュータ
5 撮像部
9 基板
91 表示部
92 電極部
95 スジムラ
421 画像処理部
422 ムラ検出部
900 エッジ
911 表示部画素
911a 注目画素
4213 エッジ検出部
4214 ハイパスフィルタ部
4214a ハイパスウィンドウ
4215 コントラスト強調部
S11〜S19,S161〜S167,S161a〜S164a ステップ
Claims (13)
- 対象物の濃淡ムラを検査するムラ検査装置であって、
対象物を保持する保持部と、
前記対象物の一の主面を撮像する撮像部と、
前記撮像部にて取得された対象画像に画像処理を行って処理済画像を生成する画像処理部と、
を備え、
前記画像処理部が、
前記対象画像において互いに異なる濃度の領域の境界であるエッジを検出するエッジ検出部と、
前記対象画像にハイパスフィルタ処理を行うハイパスフィルタ部と、
前記ハイパスフィルタ部により処理された後の前記対象画像のコントラストを強調するコントラスト強調部と、
を備え、
前記ハイパスフィルタ部が、前記処理済画像中の一の注目画素の画素値を、前記注目画素をほぼ中心とするウィンドウ内の全ての画素の画素値に基づいて求め、前記ウィンドウが前記エッジ近傍に存在する場合に、前記ウィンドウが縮小されて前記注目画素が属する領域以外の領域を前記ウィンドウが避けることを特徴とするムラ検査装置。 - 請求項1に記載のムラ検査装置であって、
前記ウィンドウが矩形であることを特徴とするムラ検査装置。 - 請求項2に記載のムラ検査装置であって、
前記ウィンドウが正方形であって、前記ハイパスフィルタ部が、前記注目画素と前記エッジ中の各画素との間の行方向および列方向の距離のうちの大きい方の値を求め、前記エッジ中の全画素に関する前記大きい方の値の最小値の2倍より1画素だけ小さい値を、前記ウィンドウの各辺の長さとすることを特徴とするムラ検査装置。 - 対象物の濃淡ムラを検査するムラ検査装置であって、
対象物を保持する保持部と、
前記対象物の一の主面を撮像する撮像部と、
前記撮像部にて取得された対象画像に画像処理を行って処理済画像を生成する画像処理部と、
を備え、
前記画像処理部が、
前記対象画像において互いに異なる濃度の領域の境界であるエッジを検出するエッジ検出部と、
前記対象画像にハイパスフィルタ処理を行うハイパスフィルタ部と、
前記ハイパスフィルタ部により処理された後の前記対象画像のコントラストを強調するコントラスト強調部と、
を備え、
前記ハイパスフィルタ部が、前記処理済画像中の一の注目画素の画素値を、前記注目画素をほぼ中心とする固定された大きさのウィンドウ内の画素のうち、前記エッジに妨げられずに前記注目画素と連結している画素群により形成される領域内の画素の画素値のみに基づいて求めることを特徴とするムラ検査装置。 - 請求項4に記載のムラ検査装置であって、
前記ウィンドウが矩形であることを特徴とするムラ検査装置。 - 請求項1ないし5のいずれかに記載のムラ検査装置であって、
前記処理済画像に基づいて演算処理により前記対象物の濃淡ムラの程度を示す値を求めるムラ検出部をさらに備えることを特徴とするムラ検査装置。 - 対象物から得られた対象画像に基づいて前記対象物の濃淡ムラを検査するムラ検査方法であって、
対象画像において互いに異なる濃度の領域の境界であるエッジを検出する工程と、
前記対象画像にハイパスフィルタ処理を行う工程と、
前記ハイパスフィルタ処理が行われた後の前記対象画像のコントラストを強調して処理済画像を生成する工程と、
前記処理済画像に基づいて前記対象物の濃淡ムラを検出する工程と、
を備え、
前記ハイパスフィルタ処理を行う工程において、前記処理済画像中の一の注目画素の画素値が、前記注目画素をほぼ中心とするウィンドウ内の全ての画素の画素値に基づいて求められ、前記ウィンドウが前記エッジ近傍に存在する場合に、前記ウィンドウが縮小されて前記注目画素が属する領域以外の領域を前記ウィンドウが避けることを特徴とするムラ検査方法。 - 請求項7に記載のムラ検査方法であって、
前記ウィンドウが矩形であることを特徴とするムラ検査方法。 - 請求項8に記載のムラ検査方法であって、
前記ウィンドウが正方形であって、前記ハイパスフィルタ処理を行う工程において、前記注目画素と前記エッジ中の各画素との間の行方向および列方向の距離のうちの大きい方の値が求められ、前記エッジ中の全画素に関する前記大きい方の値の最小値の2倍より1画素だけ小さい値が、前記ウィンドウの各辺の長さとされることを特徴とするムラ検査方法。 - 対象物から得られた対象画像に基づいて前記対象物の濃淡ムラを検査するムラ検査方法であって、
対象画像において互いに異なる濃度の領域の境界であるエッジを検出する工程と、
前記対象画像にハイパスフィルタ処理を行う工程と、
前記ハイパスフィルタ処理が行われた後の前記対象画像のコントラストを強調して処理済画像を生成する工程と、
前記処理済画像に基づいて前記対象物の濃淡ムラを検出する工程と、
を備え、
前記ハイパスフィルタ処理を行う工程において、前記処理済画像中の一の注目画素の画素値が、前記注目画素をほぼ中心とする固定された大きさのウィンドウ内の画素のうち、前記エッジに妨げられずに前記注目画素と連結している画素群により形成される領域内の画素の画素値のみに基づいて求められることを特徴とするムラ検査方法。 - 請求項10に記載のムラ検査方法であって、
前記ウィンドウが矩形であることを特徴とするムラ検査方法。 - 対象物から得られた対象画像に基づいて前記対象物の濃淡ムラをコンピュータに検査させるプログラムであって、前記プログラムの前記コンピュータによる実行は、前記コンピュータに、
対象画像において互いに異なる濃度の領域の境界であるエッジを検出する工程と、
前記対象画像にハイパスフィルタ処理を行う工程と、
前記ハイパスフィルタ処理が行われた後の前記対象画像のコントラストを強調して処理済画像を生成する工程と、
前記処理済画像に基づいて前記対象物の濃淡ムラを検出する工程と、
を実行させ、
前記ハイパスフィルタ処理を行う工程において、前記処理済画像中の一の注目画素の画素値が、前記注目画素をほぼ中心とするウィンドウ内の全ての画素の画素値に基づいて求められ、前記ウィンドウが前記エッジ近傍に存在する場合に、前記ウィンドウが縮小されて前記注目画素が属する領域以外の領域を前記ウィンドウが避けることを特徴とするプログラム。 - 対象物から得られた対象画像に基づいて前記対象物の濃淡ムラをコンピュータに検査させるプログラムであって、前記プログラムの前記コンピュータによる実行は、前記コンピュータに、
対象画像において互いに異なる濃度の領域の境界であるエッジを検出する工程と、
前記対象画像にハイパスフィルタ処理を行う工程と、
前記ハイパスフィルタ処理が行われた後の前記対象画像のコントラストを強調して処理済画像を生成する工程と、
前記処理済画像に基づいて前記対象物の濃淡ムラを検出する工程と、
を実行させ、
前記ハイパスフィルタ処理を行う工程において、前記処理済画像中の一の注目画素の画素値が、前記注目画素をほぼ中心とする固定された大きさのウィンドウ内の画素のうち、前記エッジに妨げられずに前記注目画素と連結している画素群により形成される領域内の画素の画素値のみに基づいて求められることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004295672A JP4353479B2 (ja) | 2004-10-08 | 2004-10-08 | ムラ検査装置、ムラ検査方法、および、濃淡ムラをコンピュータに検査させるプログラム |
TW094130515A TWI260396B (en) | 2004-10-08 | 2005-09-06 | Apparatus and method of inspecting unevenness and recording medium |
CNB2005101097700A CN100385200C (zh) | 2004-10-08 | 2005-09-20 | 不均检查装置及方法 |
KR1020050092942A KR100730052B1 (ko) | 2004-10-08 | 2005-10-04 | 농담 불균일을 검사하는 장치, 그 방법 및 농담 불균일검사용 프로그램을 기록한 기록 매체 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004295672A JP4353479B2 (ja) | 2004-10-08 | 2004-10-08 | ムラ検査装置、ムラ検査方法、および、濃淡ムラをコンピュータに検査させるプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006105884A JP2006105884A (ja) | 2006-04-20 |
JP4353479B2 true JP4353479B2 (ja) | 2009-10-28 |
Family
ID=36375792
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004295672A Expired - Fee Related JP4353479B2 (ja) | 2004-10-08 | 2004-10-08 | ムラ検査装置、ムラ検査方法、および、濃淡ムラをコンピュータに検査させるプログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4353479B2 (ja) |
KR (1) | KR100730052B1 (ja) |
CN (1) | CN100385200C (ja) |
TW (1) | TWI260396B (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4702953B2 (ja) * | 2006-06-01 | 2011-06-15 | 大日本スクリーン製造株式会社 | ムラ検査方法、ムラ検査装置およびプログラム |
JP4702952B2 (ja) * | 2006-06-01 | 2011-06-15 | 大日本スクリーン製造株式会社 | ムラ検査方法、ムラ検査装置およびプログラム |
IL188825A0 (en) | 2008-01-16 | 2008-11-03 | Orbotech Ltd | Inspection of a substrate using multiple cameras |
EP2698388B1 (en) | 2011-04-15 | 2015-12-09 | Zeon Corporation | Polymerizable compound, polymerizable composition, polymer, and optically anisotropic body |
JP2013015389A (ja) * | 2011-07-04 | 2013-01-24 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 溶接位置の検査方法及びその装置 |
TWI460395B (zh) * | 2012-07-25 | 2014-11-11 | Ind Tech Res Inst | 平整度檢測裝置及其檢測方法 |
TWI477766B (zh) | 2012-12-18 | 2015-03-21 | Ind Tech Res Inst | 檢測裝置以及檢測方法 |
CN103245309B (zh) * | 2013-05-21 | 2017-12-12 | 杭州鼎热科技有限公司 | 一种激光平整度测量误差补偿方法 |
TWI509268B (zh) * | 2013-12-16 | 2015-11-21 | Machvision Inc | 雙進料之電路板檢測方法及其系統 |
JP6638453B2 (ja) * | 2016-02-16 | 2020-01-29 | コニカミノルタ株式会社 | 不良画像発生予測システム及び不良画像発生予測プログラム |
CN107945170B (zh) * | 2017-12-04 | 2020-09-29 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种判定线性制程不均匀的方法及装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3224620B2 (ja) * | 1993-02-05 | 2001-11-05 | 大日本印刷株式会社 | 周期性パターンのムラ定量化方法 |
US5974160A (en) * | 1993-10-26 | 1999-10-26 | Asahi Kasei Kogyo Kabushiki Kaisha | Measuring method and apparatus of gloss irregularity and printing unevenness |
IL108974A (en) * | 1994-03-14 | 1999-11-30 | Orbotech Ltd | Device and method for testing a display panel |
JP3366802B2 (ja) * | 1995-06-21 | 2003-01-14 | 大日本スクリーン製造株式会社 | ムラ検査方法および装置 |
JP3335503B2 (ja) * | 1995-06-22 | 2002-10-21 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 透孔板の検査方法および検査装置 |
JPH0968502A (ja) * | 1995-08-30 | 1997-03-11 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 透孔板の検査方法および検査装置 |
JP3302863B2 (ja) * | 1995-08-30 | 2002-07-15 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 透孔板の検査方法および検査装置 |
JPH10197453A (ja) * | 1997-01-16 | 1998-07-31 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 光学的むら検査装置および光学的むら検査方法 |
JPH10206344A (ja) * | 1997-01-17 | 1998-08-07 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 光学的むら検査装置および光学的むら検査方法 |
JP2000228147A (ja) * | 1999-02-08 | 2000-08-15 | Nec Kansai Ltd | 陰極線管の検査方法 |
-
2004
- 2004-10-08 JP JP2004295672A patent/JP4353479B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-09-06 TW TW094130515A patent/TWI260396B/zh not_active IP Right Cessation
- 2005-09-20 CN CNB2005101097700A patent/CN100385200C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-10-04 KR KR1020050092942A patent/KR100730052B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20060052001A (ko) | 2006-05-19 |
TW200615506A (en) | 2006-05-16 |
CN100385200C (zh) | 2008-04-30 |
JP2006105884A (ja) | 2006-04-20 |
KR100730052B1 (ko) | 2007-06-27 |
TWI260396B (en) | 2006-08-21 |
CN1758021A (zh) | 2006-04-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061221 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090421 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090427 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090623 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |