KR950033565A - 디스플레이 패널 검사를 위한 장치와 방법 - Google Patents

디스플레이 패널 검사를 위한 장치와 방법 Download PDF

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도탄 노암
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Abstract

본 발명은 다수의 픽셀을 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 시스템에 관한 것이다. 이 시스템은 다수의 픽셀중 일부분만이 활성화되도록 만들어 주는 선택적 픽셀 활성기, 패널상에서 발생하는 패턴 이미지를 획득하기 위한 센서, 그리고 패널 픽셀 세기의 비균일성을 식별하기 위해 동작하는 이미지 프로세서를 포함한다.

Description

디스플레이 패널 검사를 위한 장치와 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 LCD 셀을 검사하는 디스플레이 패널 검사 시스템의 기능 블럭 다이어그램이다. 제2도는 각각 5X5 픽셀의 주변에 기중하여 한가지 가능한 디스플레이 패널 픽셀 활성화 순서짓기의 다이어그램이다. 제3도는 각각 7X7 픽셀을 주변에 기준하여 또 하나의 가능한 디스플레이 패널 픽셀 활성화 순서짓기의 다이어그램이다. 제4도는 피검 디스플레이 패널의 각 픽셀의 세기를 식별하는 양호한 이미비 프로세싱 방법을 도시한 단순 흐름도(flow chart)인데 이 이미지 프로세싱 방법은 제1도의 이미지 프로세서를 구현하는 데에 접합하다.

Claims (24)

  1. 다수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 시스템에 있어서, 다수의 픽셀 중 일부분만이 활성화되도록 만들어 주는 선택적 픽셀 활성기; 패널 상에 발생하는 패턴 이미지를 획득하는 센서; 그리고 패널의 픽셀세기의 비균일성을 식별하기 위해 작동하는 이미지 프로세서를 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 디스플레이 패널이 액정 디스플레이(liquid crystaldisplay) 패널을 포함하고, 또한 검사될 패널에 조사를 제공하기 위해 작동하는 조사기를 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  3. 제2항에 있어서, 검사될 패널을 조사하는 것이 후방 조사를 포함하고 픽셀의 활성화가 국소 투광도를 변화시키는 것을 특징으로 하는 시스템.
  4. 제1항에 있어서, 선택적 픽셀 활성기가 순차적으로 픽셀 부분 집합들의 열을 활성화하도록 작동하며, 각각의 픽셀 주변들의 각각 내에서 단 하나의 픽셀을 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  5. 다수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 시스템에 있어서, 패널상에 발생하는 패턴의 전부분과 실질적으로 같은 이미지를 동시에 획득하는 센서; 그리고 패널 픽셀 세기의 비균일성을 식별하도록 작동하는 이미지 프로세서를 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  6. 다수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 방법에 있어서, 다수의 픽셀중 일부분만을 활성화하는 단계; 패널상에 발생한 패턴 이미지를 획득하는 단계; 그리고 패널 픽셀 세기의 비균일성을 식별하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 다수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 시스템에 있어서, 표중 TV 카메라의 해상도를 실질적으로 초과하지 않는 해상도로 패널상에 발생하는 패턴 이미지를 획득하는 센서; 그리고 패널 픽셀 세기의 비균일성을 식별하도록 동작하는 이미지 프로세서를 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  8. 제7항에 있어서, 센서가 1300X1000 감지 소자보다 작은 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  9. 제8항에 있어서, 센서가 800X500의 감지 소자보다 크지 않은 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  10. 다수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 시스템에 있어서, 패널상에 발생하는 패턴 이미지를 획득하는 센서; 그리고 패널의 각 픽셀들의 세기를 식별하도록 동작하는 이미지 프로세서를 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  11. 제1,4,5항 그리고 제7∼10항 중 어느 한 항에 있어서, 디스플레이 패널이 액정 디스플레이(LCD) 패널을 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  12. 제6항에 있어서, 디스플레이 패널이 액정 디스플레이(LCD) 패널을 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  13. 제1∼5항과 제7∼11항의 어느 한 항에 있어서, 디스플레이 패널이 조사, 드라이버 또는 편광기가 없는 LCD 셀을 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  14. 제6과 제12항 중 어느 한 항에 있어서, 디스플레이 패널이 조사, 드라이버 또는 편광기 없는 LCD 셀을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  15. 제1∼5항과 제7∼11항 중 어느 한 항에 있어서, 패널이 검사되도록 지지해주는 지지대를 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  16. 디스플레이 패널을 검사하는 방법에 있어서, 패널 상에 발생하는 패턴의 전부분과 실질적으로 같은 이미지를 동시적으로 획득하는 단계; 그리고 패널 픽셀들 세기의 비균일성을 식별하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  17. 다수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 픽셀을 검사하는 방법에 있어서, 표준 TV 카메라의 해상도를 실질적으로 초과하지 않는 해상도로 패널상에 발생하는 패턴 이미지를 획득하는 단계; 그리고 패널 픽셀들 세기의 비균일성을 식별하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  18. 다수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 패널은 검사는 방법에 있어서, 패널상에 발생하는 패턴 이미지를 획득하는 단계; 그리고 각각의 패널 픽셀 세기를 식별하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  19. 제1∼5항, 제7∼9항, 제10항, 제11항, 제13항 및 제15항 중의 어느 한 항에 있어서, 센서가 패턴이미지가 흐려지도록 동작하는 흐림 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  20. 제19항에 있어서, 흐림 장치가 기계적 변위 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  21. 제19항에 있어서, 흐림 장치가 광학적 흐림 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  22. 제6항, 제12항, 제14항과 제16∼18항 중 어느 한 항에 있어서, 획득하는 단계가 패턴의 이미지를 흐리게 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  23. 제22항에 있어서, 흐리게 하는 단계가 기계적 변위로 흐려지게 하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  24. 제22항에 있어서, 흐리게 하는 단계가 광학적 흐리게 하기를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112837620A (zh) * 2021-01-22 2021-05-25 武汉京东方光电科技有限公司 柔性显示屏及电子设备

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IL108974A (en) * 1994-03-14 1999-11-30 Orbotech Ltd Device and method for testing a display panel
JP2898269B1 (ja) * 1998-03-02 1999-05-31 日本放送協会 映像検査装置、方法および記録媒体
US6714670B1 (en) * 1998-05-20 2004-03-30 Cognex Corporation Methods and apparatuses to determine the state of elements
JP3828283B2 (ja) * 1998-06-04 2006-10-04 株式会社アドバンテスト フラットパネル表示器検査用画像取得方法、フラットパネル表示器検査用画像取得装置
IL126866A (en) 1998-11-02 2003-02-12 Orbotech Ltd Apparatus and method for fabricating flat workpieces
TW417133B (en) * 1998-11-25 2001-01-01 Koninkl Philips Electronics Nv Method of manufacturing a cathode ray tube, in which a display screen is inspected
US6831995B1 (en) * 1999-03-23 2004-12-14 Hitachi, Ltd. Method for detecting a defect in a pixel of an electrical display unit and a method for manufacturing an electrical display unit
US7373015B2 (en) * 1999-12-15 2008-05-13 Sharp Kabushiki Kaisha Image processing device and method
DE10046845C2 (de) * 2000-09-20 2003-08-21 Fresenius Medical Care De Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Funktionsprüfung einer Anzeigeeinrichtung eines medizinisch-technischen Gerätes
EP1472668A2 (en) * 2001-09-14 2004-11-03 American Panel Corporation Visual display testing, optimization and harmonization method and system
US6712466B2 (en) * 2001-10-25 2004-03-30 Ophthonix, Inc. Eyeglass manufacturing method using variable index layer
DE10228579A1 (de) * 2002-06-26 2004-01-15 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Bildqualität des Displays eines Mobiltelefons
KR20040045173A (ko) * 2002-11-22 2004-06-01 갈란트 프리시젼 머시닝 캄파니, 리미티드 교대 팰릿을 갖춘 검사 시스템
KR100471084B1 (ko) * 2002-12-16 2005-03-10 삼성전자주식회사 영상처리시스템 및 영상처리방법
JP2005017116A (ja) * 2003-06-26 2005-01-20 Sharp Corp 光学式エンコーダ用受光素子
GB0318000D0 (en) * 2003-07-31 2003-09-03 Ncr Int Inc Mobile applications
KR100955486B1 (ko) * 2004-01-30 2010-04-30 삼성전자주식회사 디스플레이 패널의 검사장치 및 검사방법
US8184923B2 (en) 2004-04-19 2012-05-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Image analysis method, image analysis program, pixel evaluation system having the image analysis method, and pixel evaluation system having the image analysis program
US20050286753A1 (en) * 2004-06-25 2005-12-29 Triant Technologies Inc. Automated inspection systems and methods
KR20070039604A (ko) * 2004-07-23 2007-04-12 넥스텍 솔루션즈 인크. 대형 기판 평탄 패널의 검사 시스템
JP4353479B2 (ja) * 2004-10-08 2009-10-28 大日本スクリーン製造株式会社 ムラ検査装置、ムラ検査方法、および、濃淡ムラをコンピュータに検査させるプログラム
KR20060044032A (ko) * 2004-11-11 2006-05-16 삼성전자주식회사 표시패널용 검사 장치 및 이의 검사 방법
US8436632B2 (en) * 2008-06-27 2013-05-07 American Panel Corporation System and method for optimizing LCD displays
KR20100072762A (ko) * 2008-12-22 2010-07-01 삼성전자주식회사 물체 정보 제공장치, 물체 인식 장치 및 물체 인식 시스템
US9035673B2 (en) * 2010-01-25 2015-05-19 Palo Alto Research Center Incorporated Method of in-process intralayer yield detection, interlayer shunt detection and correction
KR20140091916A (ko) * 2013-01-14 2014-07-23 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 패널 검사방법
CN104977304A (zh) * 2015-06-26 2015-10-14 清华大学 具有子像素结构的空间光调制器缺陷检测的装置及方法
CN112689752A (zh) * 2018-09-20 2021-04-20 美国西门子医学诊断股份有限公司 用于对基于视觉的检查系统的光学组件进行自主诊断验证的系统、方法和装置
KR102668970B1 (ko) * 2018-12-14 2024-05-24 삼성디스플레이 주식회사 비전 검사 장치 및 이의 구동 방법

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IL72878A (en) * 1984-09-06 1988-10-31 Tadiran Ltd Reconnaissance system
US5245328A (en) * 1988-10-14 1993-09-14 Compaq Computer Corporation Method and apparatus for displaying different shades of gray on a liquid crystal display
US5012314A (en) * 1989-03-31 1991-04-30 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Liquid crystal display restoring apparatus
US5020116A (en) * 1989-12-13 1991-05-28 Hughes Aircraft Company Image registration method and apparatus
US5177437A (en) * 1990-08-08 1993-01-05 Photon Dynamics, Inc. High-density optically-addressable circuit board probe panel and method for use
JPH0634142B2 (ja) * 1990-09-26 1994-05-02 ミナトエレクトロニクス株式会社 表示素子検査方式
JPH04158238A (ja) * 1990-10-22 1992-06-01 Ezel Inc 液晶パネルの検査方法
US5081687A (en) * 1990-11-30 1992-01-14 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for testing LCD panel array prior to shorting bar removal
US5235272A (en) * 1991-06-17 1993-08-10 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for automatically inspecting and repairing an active matrix LCD panel
US5402170A (en) * 1991-12-11 1995-03-28 Eastman Kodak Company Hand-manipulated electronic camera tethered to a personal computer
JPH07507139A (ja) * 1992-03-16 1995-08-03 フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド フラット・パネル・ディスプレイ検査システム
JPH06230744A (ja) * 1993-02-05 1994-08-19 Fuji Electric Co Ltd フラットディスプレイの表示検査方法およびその検査 装置
JPH06236162A (ja) * 1993-02-09 1994-08-23 Sharp Corp カラー液晶パネル欠陥検査方法および装置
JPH06250139A (ja) * 1993-02-23 1994-09-09 Casio Comput Co Ltd 液晶表示パネルの検査方法
IL108974A (en) * 1994-03-14 1999-11-30 Orbotech Ltd Device and method for testing a display panel

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112837620A (zh) * 2021-01-22 2021-05-25 武汉京东方光电科技有限公司 柔性显示屏及电子设备
US11600212B2 (en) 2021-01-22 2023-03-07 Wuhan Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. Flexible display screen and electronic device

Also Published As

Publication number Publication date
IL108974A0 (en) 1994-06-24
IL108974A (en) 1999-11-30
US6215895B1 (en) 2001-04-10
US5771068A (en) 1998-06-23
EP0672933A1 (en) 1995-09-20
JPH0868976A (ja) 1996-03-12
TW315574B (ko) 1997-09-11

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