TW202202334A - 抗反射膜 - Google Patents

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Abstract

本發明之課題在於提供一種具有較高之紅外線透過率並且具有優異之可撓性的抗反射膜。 本發明之抗反射膜依序具有基材10、硬塗層20、密接層30、及抗反射層40，抗反射層自密接層30側起依序包含：光學厚度為41 nm～52 nm之第1高折射率層411、光學厚度為41 nm～53 nm之第1低折射率層412、光學厚度為302 nm～313 nm之第2高折射率層413、及光學厚度為135 nm～196 nm之第2低折射率層414。

Description

抗反射膜
本技術係關於一種設置於例如顯示裝置正面之抗反射膜。
顯示裝置正面有時會設置對紅外線做出響應之紅外線(IR)感測器。因此，期望設置於顯示裝置正面之抗反射膜具有較高之紅外線透過率(例如參照專利文獻1)。又，近年來，業界在尋求一種可用於可摺疊有機EL(Electroluminescence，電致發光)顯示器、即所謂可摺疊顯示器的具有優異之可撓性之反射膜。
然而，難以既提高抗反射膜之紅外線透過率又儘可能將抗反射膜之厚度抑制得較薄。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1】日本專利特開2019-53115號公報
[發明所欲解決之問題]
本技術係鑒於上述既往現實而提出者，提供一種具有較高之紅外線透過率並且具有優異之可撓性的抗反射膜。 [解決問題之技術手段]
本技術係一種於基材上依序具有硬塗層、密接層、及抗反射層之抗反射膜，上述抗反射層自上述密接層側起依序包含：光學厚度為41 nm～52 nm之第1高折射率層、光學厚度為41 nm～53 nm之第1低折射率層、光學厚度為302 nm～313 nm之第2高折射率層、及光學厚度為135 nm～196 nm之第2低折射率層。
本技術係一種於基材上依序具有硬塗層、密接層、及抗反射層之抗反射膜，上述抗反射層自上述密接層側起依序包含：光學厚度為23 nm～35 nm之第1高折射率層、光學厚度為66 nm～81 nm之第1低折射率層、光學厚度為93 nm～117 nm之第2高折射率層、光學厚度為37 nm～52 nm之第2低折射率層、光學厚度為79 nm～84 nm之第3高折射率層、及光學厚度為146 nm～155 nm之第3低折射率層。
本技術係一種於基材上依序成膜硬塗層、密接層、及抗反射層的抗反射膜之製造方法，上述抗反射層自上述密接層側起依序包含：光學厚度為41 nm～52 nm之第1高折射率層、光學厚度為41 nm～53 nm之第1低折射率層、光學厚度為302 nm～313 nm之第2高折射率層、及光學厚度為135 nm～196 nm之第2低折射率層。
本技術係一種於基材上依序成膜硬塗層、密接層、及抗反射層的抗反射膜之製造方法，上述抗反射層自上述密接層側起依序包含：光學厚度為23 nm～35 nm之第1高折射率層、光學厚度為66 nm～81 nm之第1低折射率層、光學厚度為93 nm～117 nm之第2高折射率層、光學厚度為37 nm～52 nm之第2低折射率層、光學厚度為79 nm～84 nm之第3高折射率層、及光學厚度為146 nm～155 nm之第3低折射率層。 [發明之效果]
根據本技術，將抗反射層之層數設為4層或6層，藉此可獲得具有較高之紅外線透過率並且具有優異之可撓性的抗反射膜。
以下，參照附圖，按照下述順序詳細說明本技術之實施方式。 1.抗反射膜 2.抗反射膜之製造方法 3.實施例
＜1.抗反射膜＞ 圖1模式性地表示應用本技術之抗反射膜之剖視圖。如圖1所示，抗反射膜具有基材10、硬塗層20、密接層30、及抗反射層40，又，視需要具有防污層50。
基材10並無特別限定，作為具體例，可列舉：PET(Polyethylene terephthalate，聚對苯二甲酸乙二酯)、以環烯烴為單體之主鏈具有脂環結構之樹脂(COP)、藉由環狀烯烴(例如降𦯉烯類)與α-烯烴(例如乙烯)之加成聚合所得之樹脂(COC)、TAC(三乙醯纖維素)、PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯)、PC(聚碳酸酯)、以及PC與PMMA等2種聚合物之聚合物合金膜、玻璃膜(膜狀玻璃)、透明聚醯亞胺、聚醯胺等。基材10之厚度因使用該基材之光學裝置之種類或性能而異，通常為25～200 μm，較佳為40～150 μm。
硬塗層20係依據JISK5600-5-4進行測定之刮痕硬度(鉛筆法)試驗中表現出「H」以上之硬度者。作為硬塗層20之樹脂材料，例如可列舉：紫外線硬化型樹脂、電子束硬化型樹脂、熱硬化型樹脂、熱塑型樹脂、二液混合型樹脂、有機無機混合系樹脂等。其中，較佳為使用能夠藉由紫外線照射高效率地形成硬塗層20之紫外線硬化型樹脂。
作為紫外線硬化型樹脂，例如可列舉：丙烯酸系、胺基甲酸酯系、環氧系、聚酯系、醯胺系、矽酮系等。其中，較佳為使用能夠獲得較高透明性之丙烯酸系。
丙烯酸系紫外線硬化型樹脂並無特別限定，可根據硬度、密接性、加工性等，自2官能、3官能以上之多官能丙烯酸系單體、低聚物、聚合物成分等中適當選擇來進行調配。硬塗層20較佳為使含有(甲基)丙烯酸胺基甲酸酯低聚物、3官能以上之(甲基)丙烯酸酯單體、2官能之(甲基)丙烯酸酯單體、及光聚合起始劑之紫外線硬化型樹脂進行光聚合而成。藉由使用此種光硬化性樹脂組合物，可獲得具有優異硬度之硬塗層20。硬塗層20之膜厚通常為0.5～20 μm，較佳為1～15 μm，更佳為1～10 μm。
又，硬塗層20較佳為於樹脂材料中分散有金屬氧化物粒子，較佳為金屬氧化物粒子向密接層30側突出。金屬氧化物粒子之相對於平均粒徑之突出比率之平均值較佳為60%以下，更佳為10%以上30%以下。若金屬氧化物粒子之突出比率過大，則金屬氧化物粒子容易自硬塗層20剝離，導致硬塗層20與密接層30之密接性降低，若突出比率過小，則無法獲得提高密接性之效果。作為使金屬氧化物粒子突出之方法，例如可使用輝光放電處理、電漿處理、離子蝕刻、鹼處理等。
金屬氧化物粒子係使金屬氧化物成為粒子狀所得者，其平均粒徑較佳為800 nm以下，更佳為20 nm以上100 nm以下。若金屬氧化物粒子之平均粒徑過大，則光學特性會降低，若平均粒徑過小，則硬塗層20與密接層30之密接性會降低。再者，於本說明書中，所謂平均粒徑，係指利用BET(Brunauer-Emmett-Teller，布厄特)法測得之值。
又，相對於硬塗層20之樹脂組合物之全部固形物成分，金屬氧化物粒子之含量較佳為20質量%以上50質量%以下。若金屬氧化物粒子之含量過少，則硬塗層20與密接層30之密接性會降低，若過多，則硬塗層20之可撓性等會降低。再者，所謂樹脂組合物之固形物成分，係指除溶劑以外之全部成分，液狀單體成分亦屬於固形物成分。
作為金屬氧化物粒子之具體例，可列舉：SiO2 (二氧化矽)、Al2 O3 (氧化鋁)、TiO2 (二氧化鈦)、ZrO2 (氧化鋯)、CeO2 (氧化鈰)、MgO(氧化鎂)、ZnO、Ta2 O5 、Sb2 O3 、SnO2 、MnO2 等。其中，較佳為使用可獲得較高透明性之二氧化矽。
密接層30較佳為包含氧缺陷狀態之金屬氧化物。作為氧缺陷狀態之金屬氧化物，可列舉：SiOx 、AlOx 、TiOx 、ZrOx 、CeOx 、MgOx 、ZnOx 、TaOx 、SbOx 、SnOx 、MnOx 等。此處，所謂氧缺陷狀態之金屬氧化物，係指以化學計量組成計氧數不足之狀態之金屬氧化物。又，作為金屬，可列舉：Si、Al、Ti、Zr、Ce、Mg、Zn、Ta、Sb、Sn、Mn等。
於硬塗層20中分散有金屬氧化物粒子之情形時，較佳為包含具有與金屬氧化物粒子同種之金屬之氧缺陷狀態之金屬氧化物或與金屬氧化物粒子同種之金屬。例如，於使用SiO2 作為金屬氧化物粒子之情形時，密接層30之SiOx 中之x較佳為0以上1.9以下。又，密接層30之膜厚較佳為小於露出至硬塗層20表面的金屬氧化物粒子之平均粒徑之50%，具體而言，較佳為1 nm～50 nm，更佳為1 nm～30 nm，進而較佳為1 nm～15 nm。
又，為了使硬塗層具有防眩性，亦可添加透光性有機粒子或透光性無機粒子。該等粒子用以使硬塗層表現出光擴散功能、基於表面凹凸形成之防眩功能等。透光性樹脂微粒子可由包含苯乙烯-丙烯酸單體共聚樹脂(苯乙烯-丙烯酸共聚樹脂)、(甲基)丙烯酸樹脂、聚苯乙烯樹脂、聚乙烯樹脂、聚碳酸酯樹脂、氯乙烯樹脂等之樹脂形成。
抗反射層40藉由濺鍍而交替地成膜有包含介電體之高折射率層41、及折射率低於高折射率層41之包含介電體之低折射率層42。如下文所述，抗反射層40之層數較佳為4層或6層。若抗反射層40之層數為8層以上，則抗反射層40之物理厚度會變大，可撓性會降低。抗反射層40之膜厚較佳為500 nm以下，更佳為400 nm以下，進而較佳為300 nm以下。
防污層50係對抗反射膜之表面賦予撥水性、撥油性、耐汗性、防污性等之被覆層。作為構成防污層之材料，例如可使用含氟有機化合物。作為含氟有機化合物，可列舉氟碳、全氟矽烷、或其等之高分子化合物等。例如，藉由使用具有全氟聚醚基之烷氧基矽烷化合物作為含氟有機化合物，可表現出水接觸角為110度以上之撥水性，而可提高防污性。防污層50之膜厚較佳為1 nm～10 nm，更佳為1 nm～7 nm，進而較佳為2 nm～5 nm。
具有此種構成之抗反射膜可獲得較高之紅外線透過率。具體而言，於波長940 nm之光透過率較佳為90%以上，更佳為92%以上。於波長940 nm之光反射率較佳為5%以下，更佳為4%以下。
又，具有上述構成之抗反射膜可獲得優異之可撓性，可用於可摺疊顯示器。具體而言，基於圓筒形心軸法之彎曲試驗(依據JIS K5600-5-1)中之心軸直徑為7 mm以下，更佳為6 mm以下。
進而，具有上述構成之抗反射膜可既提高紅外線透過率又使反射光之色調為中性，這在以往難以實現。具體而言，視感反射率Y較佳為1.0%以下，更佳為0.5%以下。又，CIELAB中之a＊ 值較佳為0～15，更佳為0～10，進而較佳為0～5。CIELAB中之b＊ 值較佳為-18～0，更佳為-15～0，進而較佳為-10～0。於在顯示器最表面配置抗反射膜之情形時，較佳為使反射光之色調為中性。
應用本技術之抗反射膜由於具有較高之紅外線透過率，並且具有優異之可撓性，還能夠使反射光之色調為中性，故可較佳地用於正面設置有對紅外線做出響應之紅外線(IR)感測器的智慧型手機、個人電腦、車載用等之顯示裝置。
[第1實施方式] 第1實施方式之抗反射膜係於基材上依序積層硬塗層、密接層、抗反射層、及防污層而成。由於基材、硬塗層、密接層、及防污層與上述基材10、硬塗層20、密接層30、及防污層50相同，故此處省略說明。
圖2係模式性地表示第1實施方式之抗反射膜之抗反射層的剖視圖。如圖2所示，第1實施方式之抗反射層自密接層30側起依序包含：光學厚度為41 nm～52 nm之第1高折射率層411、光學厚度為41 nm～53 nm之第1低折射率層412、光學厚度為302 nm～313 nm之第2高折射率層413、及光學厚度為135 nm～196 nm之第2低折射率層414。
本說明書中，「光學厚度」係物理厚度與折射率之積。「折射率」係依據JIS K7105，於溫度25℃、波長550 nm之條件下測得。關於「物理厚度」，例如可使用穿透式電子顯微鏡(TEM)或掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)拍攝取得剖面圖像，測定其中20處之厚度，取20處之值之平均值作為物理厚度。
抗反射膜之反射波長及反射率例如可根據高折射率層及低折射率層之光學厚度、高折射率層及低折射率層之總數、高折射率層與低折射率層之間之折射率差等來進行設計。
高折射率層之折射率較佳為2.00～2.60，更佳為2.10～2.45。作為此種高折射率層之主成分，可列舉：五氧化二鈮(Nb2 O5 ，折射率2.33)、氧化鈦(TiO2 ，折射率2.33～2.55)、氧化鎢(WO3 ，折射率2.2)、氧化鈰(CeO2 ，折射率2.2)、五氧化二鉭(Ta2 O5 ，折射率2.16)、氧化鋅(ZnO，折射率2.1)、氧化銦(InO2 )、氧化錫(SnO2 )、氧化鋁(AlO2 )及其等之複合氧化物。作為複合氧化物，可列舉ITO(氧化銦錫)、IZO(氧化銦-氧化鋅)等。再者，於本說明書中，所謂「主成分」，係指含量最多之成分，例如指含有率為80%以上者。
低折射率層之折射率較佳為1.20～1.60，更佳為1.30～1.50。作為此種低折射率層之主成分，可列舉：二氧化矽(SiO2 ，折射率1.46)、氟化鈣(CaF2 ，折射率1.42)、氟化鎂(MgF2 ，折射率1.38)等。又，於低折射率層之折射率處於上述範圍內之情形時，亦可含有其他元素。具體而言，可藉由加入以元素比計為10%左右之鋯，來提高耐化學品性。作為其他例，亦可於成膜時導入氮氣進行成膜，以提高硬度。又，亦可進而加入Al等金屬元素，以提高其光學特性。
高折射率層之折射率與低折射率層之折射率之差較佳為0.40～1.40，更佳為0.70～1.10。作為此種高折射率層與低折射率層之組合，可列舉Nb2 O5 及SiO2 、TiO2 及SiO2 等。
關於圖2所示之第1實施方式之抗反射層，於第1高折射率層411以Nb2 O5 為主成分之情形時，物理厚度較佳為18 nm～22 nm，於第1低折射率層412以SiO2 為主成分之情形時，物理厚度較佳為28 nm～36 nm，於第2高折射率層413以Nb2 O5 為主成分之情形時，物理厚度較佳為130 nm～134 nm，於第2低折射率層414以SiO2 為主成分之情形時，物理厚度較佳為92 nm～95 nm。
根據此種抗反射層，可獲得較高之紅外線透過率。具體而言，於波長940 nm之光透過率較佳為90%以上，更佳為92%以上。於波長940 nm之光反射率較佳為5%以下，更佳為4%以下。
又，藉由以Nb2 O5 作為高折射率層之主成分，以SiO2 作為低折射率層之主成分，使得各層之物理厚度合計達到300 nm以下，由此能夠獲得優異之可撓性，而可用於可摺疊顯示器。具體而言，基於圓筒形心軸法之彎曲試驗(依據JIS K5600-5-1)中之心軸直徑為7 mm以下，更佳為6 mm以下。
進而，藉由以Nb2 O5 作為高折射率層之主成分，以SiO2 作為低折射率層之主成分，可既提高紅外線之透過率又使反射光之色調為中性。具體而言，視感反射率Y較佳為0.5%以下，更佳為0.4%以下。又，CIELAB中之a＊ 值較佳為0～15，更佳為0～10，進而較佳為0～5。CIELAB中之b＊ 值較佳為-15～0，更佳為-12～0，進而較佳為-10～0。
根據第1實施方式之抗反射膜，藉由4層構造之抗反射層，可獲得較高之紅外線透過率，並且可獲得優異之可撓性。又，藉由4層構造之抗反射層，可既提高紅外線之透過率又使反射光之色調為中性，可獲得較高之生產性。
[第2實施方式] 第2實施方式之抗反射膜與第1實施方式同樣地，係於基材上依序積層硬塗層、密接層、抗反射層、及防污層而成。由於基材、硬塗層、密接層、及防污層與上述基材10、硬塗層20、密接層30、及防污層50相同，故此處省略說明。
圖3係模式性地表示第2實施方式之抗反射膜中之抗反射層的剖視圖。如圖3所示，第2實施方式之抗反射層自密接層側起依序包含：光學厚度為23 nm～35 nm之第1高折射率層431、光學厚度為66 nm～81 nm之第1低折射率層432、光學厚度為93 nm～117 nm之第2高折射率層433、光學厚度為37 nm～52 nm之第2低折射率層434、光學厚度為79 nm～84 nm之第3高折射率層435、及光學厚度為146 nm～155 nm之第3低折射率層436。
高折射率層之折射率、高折射率之介電體、低折射率層之折射率、低折射率之介電體、及高折射率層之折射率與低折射率層之折射率之差均與第1實施方式相同。
關於第2實施方式之抗反射層，於第1高折射率層431以Nb2 O5 為主成分之情形時，物理厚度較佳為10 nm～15 nm，於第1低折射率層432以SiO2 為主成分之情形時，物理厚度較佳為45 nm～55 nm，於第2高折射率層433以Nb2 O5 為主成分之情形時，物理厚度較佳為40 nm～50 nm，於第2低折射率層434以SiO2 為主成分之情形時，物理厚度較佳為25 nm～35 nm，於第3高折射率層435以Nb2 O5 為主成分之情形時，物理厚度較佳為30 nm～36 nm，於第3低折射率層436以SiO2 為主成分之情形時，物理厚度較佳為100 nm～106 nm。
根據此種抗反射層，可獲得較高之紅外線透過率。具體而言，於波長940 nm之光透過率較佳為90%以上，更佳為92%以上。於波長940 nm之光反射率較佳為5%以下，更佳為4%以下。
又，藉由以Nb2 O5 作為高折射率層之主成分，以SiO2 作為低折射率層之主成分，使得各層之物理厚度合計達到300 nm以下，由此可獲得優異之可撓性，而可用於可摺疊顯示器。具體而言，基於圓筒形心軸法之彎曲試驗(依據JIS K5600-5-1)中之心軸直徑為7 mm以下，更佳為6 mm以下。
進而，藉由以Nb2 O5 作為高折射率層之主成分，以SiO2 作為低折射率層之主成分，可既提高紅外線之透過率又使反射光之色調為中性。具體而言，視感反射率Y較佳為1.0%以下，更佳為0.8%以下。又，CIELAB中之a＊ 值較佳為0～15，更佳為0～10，進而較佳為0～5。CIELAB中之b＊ 值較佳為-18～0，更佳為-10～0。
根據第2實施方式之抗反射膜，藉由6層構造之抗反射層，可獲得較高之紅外線透過率，並且可獲得優異之可撓性。又，藉由6層構造之抗反射層，可既提高紅外線之透過率又使反射光之色調為中性，可獲得較高之生產性。
＜2.抗反射膜之製造方法＞ 本實施方式之抗反射膜之製造方法係於基材上依序成膜硬塗層、密接層、及抗反射層。又，視需要於抗反射層上成膜防污層50。由於基材、硬塗層、密接層、及防污層與上述基材10、硬塗層20、密接層30、及防污層50相同，故此處省略說明。以下，對各層之成膜進行說明。
[硬塗層之成膜] 首先，例如使用分散機等攪拌機，按照常規方法，將金屬氧化物粒子、(甲基)丙烯酸胺基甲酸酯低聚物、3官能以上之(甲基)丙烯酸酯單體、2官能之(甲基)丙烯酸酯單體、及光聚合起始劑均勻混合，以製備含有該等之紫外線硬化型樹脂組合物。
接下來，將紫外線硬化型樹脂組合物塗佈於基材上。塗佈方法並無特別限定，可使用公知之方法。作為公知之塗佈方法，例如可列舉：微凹版塗佈法、線棒塗佈法、直接凹版塗佈法、模嘴塗佈法、浸漬法、噴塗法、逆輥塗佈法、淋幕式塗佈法、卡馬(comma)塗佈法、刮塗法、旋轉塗佈法等。
繼而，將基材上之紫外線硬化型樹脂組合物加以乾燥，並使其光硬化，藉此形成硬塗層。乾燥條件並無特別限定，可為自然乾燥，亦可為調整乾燥濕度及乾燥時間等之人工乾燥。但是，乾燥時對塗料表面送風之情形下，較佳為不使塗膜表面產生風紋。其原因在於，若產生風紋，則塗佈外觀會變差，會產生表面性之厚度不均。再者，作為使紫外線硬化型樹脂組合物硬化之光，除可使用紫外線以外，還可使用γ射線、α射線、電子束等能量線。
此處，較佳為對硬塗層表面進行蝕刻，以使金屬氧化物粒子突出。作為金屬氧化物粒子之突出方法，並無特別限定，只要能夠選擇性地對硬塗層之樹脂進行蝕刻即可，例如，可使用輝光放電處理、電漿處理、離子蝕刻、鹼處理等。其中，較佳為使用能夠進行大面積處理之輝光放電處理。
[密接層之成膜] 於硬塗層表面成膜包含氧缺陷狀態之金屬氧化物之密接層。作為密接層之成膜方法，較佳為採用使用有靶之濺鍍法。例如，於成膜SiOx 膜之情形時，較佳為使用矽靶，於氧氣與氬氣之混合氣體氛圍下進行反應性濺鍍。又，由於成膜於密接層上之抗反射層亦可藉由濺鍍成膜，故可實現生產性之提高。
[抗反射層之成膜] 抗反射層之成膜係藉由濺鍍交替地形成包含介電體之高折射率層、及折射率低於高折射率層之包含介電體之低折射率層。抗反射層之成膜例如可使用日本專利特開2014-034701號公報中記載之薄膜形成裝置。
圖4係表示薄膜形成裝置之概略之立體圖。該薄膜形成裝置係自作為退繞部之退繞輥61供給基礎膜60，並由作為捲繞部之捲繞輥62捲繞形成有抗反射層之抗反射膜。此處，基礎膜60可設為硬塗層成膜後之膜、或密接層成膜後之膜。
又，真空腔室內具備作為成膜單元之第1成膜室單元及第2成膜室單元。真空腔室與排出空氣之真空泵連接，能夠調整至特定之真空度。
第1成膜室單元及第2成膜室單元分別具備第1罐輥71及第2罐輥72，且以與罐輥71、72之外周面對向之方式固定複數個作為成膜部之濺鍍室SP1～SP10。於各濺鍍室SP1～SP10內，於電極上安裝有特定之靶，並且設置有於基礎膜60之寬度方向上具有複數個氣體噴嘴之供給部。
又，薄膜形成裝置具備於第1成膜室單元與第2成膜室單元之間，即利用濺鍍室SP5進行之成膜後，測定光學特性之測定部，即第1光學監控器81。藉此，可確認第1成膜室單元後之半成品薄膜之品質。又，具備於第2成膜室單元之後，即利用濺鍍室SP10進行之成膜後，測定光學特性之測定部，即第2光學監控器82。藉此，可確認第2成膜室單元後之薄膜之品質。
第1光學監控器81及第2光學監控器82藉由可於寬度方向上進行掃描之光學掃描頭，來測定形成於基礎膜60上之薄膜之寬度方向上的光學特性。可藉由利用上述光學監控器81、82，測定例如作為光學特性之反射率之峰值波長，並換算為光學厚度，來獲得寬度方向之光學厚度分佈。
具有此種構成之薄膜形成裝置自退繞輥61退繞出基礎膜60，於第1罐輥71及第2罐輥72之搬送時，於基礎膜60上形成薄膜，並利用捲繞輥62進行捲繞，藉此可獲得多層抗反射層。此處，利用光學監控器81、82測定形成於基礎膜60上之薄膜之寬度方向上的光學特性，基於光學特性來控制來自設置於寬度方向上之各氣體噴嘴的反應性氣體之流量，藉此可形成於長度方向及寬度方向上厚度均勻之薄膜。再者，不限於上述例，亦可追加成膜室單元、追加陰極、採用平面式或旋轉式等作為陰極方式，以提高生產性。
[防污層之成膜] 防污層之成膜可根據形成材料之不同而使用物理氣相沈積法、化學氣相沈積法、濕式塗佈法等。例如，可藉由塗佈具有全氟聚醚基之烷氧基矽烷化合物並使其乾燥，使具有全氟聚醚基之烷氧基矽烷化合物縮合，來形成防污層。 [實施例]
＜3.第1實施例＞ 於第1實施例中，製作抗反射膜，並評估視感反射率Y、反射色相、紅外線透過率、紅外線反射率、及可撓性。再者，本技術並不受該等實施例限定。
[視感反射率Y] 將抗反射膜切成50 mm見方之尺寸，作為評估樣品。介以黏著劑將評估樣品貼附於黑色壓克力板，使用分光光度計(日立高新技術(股)，U4150)測定分光反射率(測定波長：380 nm～1000 nm，入射角：5°)。對樣品背面進行塗黑處理，消除來自背面之反射，而僅測定正面反射。使用測得之分光反射率、及CIE標準光源D65之相對分光分佈，計算JIS Z8701所規定之XYZ表色系統中之基於反射之物體顏色之視感反射率Y(三刺激值Y)。
[反射色相] 基於在視感反射率Y之計算過程中所獲得之XYZ表色系統，利用下式進行換算，求出CIE-Lab表色系統中之a＊ 及b＊ 。
[數式1]
Figure 02_image001
將a＊ 為0以上15以下、且b＊ 為-20以上0以下者之色調評估為「OK」，除此以外評估為「NG」。
[紅外線透過率及紅外線反射率] 使用分光光度計(日立高新技術(股)，U4150)，測定抗反射膜之透射光譜及反射光譜，並測定於波長940 nm之透過率及反射率。
[可撓性] 藉由圓筒形心軸法進行彎曲試驗(依據JISK5600-5-1)，其中抗反射膜試片以抗反射層側為外側進行彎曲。關於可撓性之評估，將心軸直徑為6 mm以下時未產生裂痕者評估為「OK」，將心軸直徑大於6 mm時產生裂痕者評估為「NG」。若心軸直徑為7 mm以下時不產生裂痕，則可用於所謂可摺疊顯示器。
[實施例1] 使用厚度80 μm之TAC作為基材，於TAC上形成包含厚度5 μm之丙烯酸系樹脂層之硬塗層。硬塗層係使含有(甲基)丙烯酸胺基甲酸酯低聚物、3官能以上之(甲基)丙烯酸酯單體、2官能之(甲基)丙烯酸酯單體、及光聚合起始劑之紫外線硬化型樹脂進行光聚合而成。藉由濺鍍，於硬塗層上成膜厚度3 nm之包含SiOx 之密接層，使用薄膜形成裝置，於密接層上成膜交替地積層有高折射率層及低折射率層之抗反射層。進而，於抗反射層上形成包含具有全氟聚醚基之烷氧基矽烷化合物的厚度3 nm之防污層，從而製作實施例1之抗反射膜。
將抗反射層設為總厚度277 nm之4層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為20 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為32 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為131 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、及物理厚度為94 nm之包含SiO2 之第2低折射率層。
如表1所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.39，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為1.4，b＊ 為-9.1，色調評估為OK，紅外線透過率為92.9%，紅外線反射率為3.1%。關於心軸試驗，心軸直徑為6 mm時未產生裂痕，心軸直徑為5 mm時產生裂痕，可撓性評估為OK。
圖5係表示實施例1之抗反射膜之透射光譜的圖，圖6係表示實施例1之抗反射膜之反射光譜的圖。可知，實施例1之抗反射膜於波長450 nm～950 nm之範圍內具有90%以上之透過率，並且具有5%以下之反射率。
[實施例2] 將抗反射層設為總厚度276 nm之4層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為19 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為32 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為132 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、及物理厚度為93 nm之包含SiO2 之第2低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表1所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.26，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為4.1，b＊ 為-7.6，紅外線透過率為91.9%，紅外線反射率為4.3%。關於心軸試驗，心軸直徑為6 mm時未產生裂痕，心軸直徑為5 mm時產生裂痕，可撓性評估為OK。
[實施例3] 將抗反射層設為總厚度282 nm之4層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為22 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為32 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為134 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、及物理厚度為94 nm之包含SiO2 之第2低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表1所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.34，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為4.6，b＊ 為-8.3，紅外線透過率為93.3%，紅外線反射率為3.5%。關於心軸試驗，心軸直徑為6 mm時未產生裂痕，心軸直徑為5 mm時產生裂痕，可撓性評估為OK。
[實施例4] 將抗反射層設為總厚度275 nm之4層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為20 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為32 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為130 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、及物理厚度為93 nm之包含SiO2 之第2低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表1所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.29，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為2.1，b＊ 為-6.8，紅外線透過率為91.8%，紅外線反射率為4.1%。關於心軸試驗，心軸直徑為6 mm時未產生裂痕，心軸直徑為5 mm時產生裂痕，可撓性評估為OK。
[實施例5] 將抗反射層設為總厚度278 nm之4層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為18 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為32 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為134 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、及物理厚度為94 nm之包含SiO2 之第2低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表1所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.34，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為13.0，b＊ 為-13.9，紅外線透過率為91.8%，紅外線反射率為4.1%。關於心軸試驗，心軸直徑為6 mm時未產生裂痕，心軸直徑為5 mm時產生裂痕，可撓性評估為OK。
[實施例6] 將抗反射層設為總厚度278 nm之4層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為19 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為32 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為133 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、及物理厚度為94 nm之包含SiO2 之第2低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表1所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.28，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為8.9，b＊ 為-13.9，紅外線透過率為93.3%，紅外線反射率為3.0%。關於心軸試驗，心軸直徑為6 mm時未產生裂痕，心軸直徑為5 mm時產生裂痕，可撓性評估為OK。
[實施例7] 將抗反射層設為總厚度276 nm之4層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為19 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為32 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為131 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、及物理厚度為94 nm之包含SiO2 之第2低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表1所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.32，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為7.7，b＊ 為-8.8，色調評估為OK，紅外線透過率為95.0%，紅外線反射率為4.6%。關於心軸試驗，心軸直徑為6 mm時未產生裂痕，心軸直徑為5 mm時產生裂痕，可撓性評估為OK。
[實施例8] 將抗反射層設為總厚度274 nm之6層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為13.7 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為49 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為44 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、物理厚度為30.3 nm之包含SiO2 之第2低折射率層、物理厚度為34 nm之包含Nb2 O5 之第3高折射率層、及物理厚度為103 nm之包含SiO2 之第3低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表2所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.66，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為6.6，b＊ 為-15.8，紅外線透過率為92.7%，紅外線反射率為2.1%。關於心軸試驗，心軸直徑為6 mm時未產生裂痕，心軸直徑為5 mm時產生裂痕，可撓性評估為OK。
[實施例9] 將抗反射層設為總厚度272.3 nm之6層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為12 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為49 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為44 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、物理厚度為30.3 nm之包含SiO2 之第2低折射率層、物理厚度為34 nm之包含Nb2 O5 之第3高折射率層、及物理厚度為103 nm之包含SiO2 之第3低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表2所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.96，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為12.6，b＊ 為-15.3，紅外線透過率為93.1%，紅外線反射率為3.3%。關於心軸試驗，心軸直徑為6 mm時未產生裂痕，心軸直徑為5 mm時產生裂痕，可撓性評估為OK。
[實施例10] 將抗反射層設為總厚度270 nm之6層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為13.7 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為49 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為44 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、物理厚度為30.3 nm之包含SiO2 之第2低折射率層、物理厚度為32 nm之包含Nb2 O5 之第3高折射率層、及物理厚度為101 nm之包含SiO2 之第3低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表2所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.74，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為4.1，b＊ 為-9.5，紅外線透過率為92.1%，紅外線反射率為4.9%。關於心軸試驗，心軸直徑為6 mm時未產生裂痕，心軸直徑為5 mm時產生裂痕，可撓性評估為OK。
[比較例1] 將抗反射層設為總厚度654 nm之10層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為14 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為32 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為130 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、物理厚度為35 nm之包含SiO2 之第2低折射率層、物理厚度為18 nm之包含Nb2 O5 之第3高折射率層、物理厚度為230 nm之包含SiO2 之第3低折射率層、物理厚度為25 nm之包含Nb2 O5 之第4高折射率層、物理厚度為33 nm之包含SiO2 之第4低折射率層、物理厚度為37 nm之包含Nb2 O5 之第5高折射率層、及物理厚度為100 nm之包含SiO2 之第5低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表2所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.34，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為-2.6，b＊ 為-2.8，色調評估為NG，紅外線透過率為96.6%，紅外線反射率為2.9%。關於心軸試驗，心軸直徑為10 mm時未產生裂痕，心軸直徑為8 mm時產生裂痕，可撓性評估為NG。
[比較例2] 將抗反射層設為總厚度356 nm之8層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為7 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為35 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為12 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、物理厚度為25 nm之包含SiO2 之第2低折射率層、物理厚度為34 nm之包含Nb2 O5 之第3高折射率層、物理厚度為23 nm之包含SiO2 之第3低折射率層、物理厚度為129 nm之包含Nb2 O5 之第4高折射率層、及物理厚度為91 nm之包含SiO2 之第4低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表2所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.54，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為-3.0，b＊ 為-3.8，色調評估為NG，紅外線透過率為94.5%，紅外線反射率為5.2%。關於心軸試驗，心軸直徑為8 mm時未產生裂痕，心軸直徑為6 mm時產生裂痕，可撓性評估為NG。
[比較例3] 將抗反射層設為總厚度337 nm之6層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為13 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為41 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為37 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、物理厚度為22 nm之包含SiO2 之第2低折射率層、物理厚度為131 nm之包含Nb2 O5 之第3高折射率層、及物理厚度為93 nm之包含SiO2 之第3低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表2所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.58，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為-0.5，b＊ 為-6.6，色調評估為NG，紅外線透過率為89.7%，紅外線反射率為4.1%。關於心軸試驗，心軸直徑為8 mm時未產生裂痕，心軸直徑為6 mm時產生裂痕，可撓性評估為NG。
圖7係表示實施例7及比較例1～3之抗反射膜之透射光譜的圖，圖中，線A～線D分別表示實施例7及比較例1～3之透射光譜。圖8係表示抗反射膜之反射光譜的圖，圖中，線A～線D分別表示實施例7及比較例1～3之反射光譜。
可知實施例7之透射光譜及反射光譜與實施例1之透射光譜及反射光譜同樣地，於波長450 nm～950 nm之範圍內具有90%以上之透過率，並且具有5%以下之反射率。另一方面，比較例1之透射光譜及反射光譜相較於實施例7，於波長850 nm附近，透過率顯著降低，反射率亦顯著提高。比較例2之透射光譜及反射光譜相較於實施例7，於波長850 nm附近，透過率降低，反射率亦提高。比較例3之透射光譜及反射光譜相較於實施例7，於波長850 nm附近，透過率降低，反射率亦提高。
[比較例4] 將抗反射層設為總厚度181 nm之4層構造，該構造自密接層側起依序包含：物理厚度為15 nm之包含Nb2 O5 之第1高折射率層、物理厚度為38 nm之包含SiO2 之第1低折射率層、物理厚度為29 nm之包含Nb2 O5 之第2高折射率層、及物理厚度為99 nm之包含SiO2 之第2低折射率層，除此以外，藉由與實施例1同樣之方式製作抗反射膜。
如表2所示，該抗反射膜之視感反射率Y為0.30，CIE-Lab表色系統中之a＊ 為1.7，b＊ 為-9.5，色調評估為OK，紅外線透過率為89.5%，紅外線反射率為7.2%。關於心軸試驗，心軸直徑為6 mm時未產生裂痕，心軸直徑為5 mm時產生裂痕，可撓性評估為OK。
[表1]
   成分    實施例
1 2 3 4 5 6 7
基材 TAC (μm) 80 80 80 80 80 80 80
硬塗層 丙烯酸系樹脂 (μm) 5 5 5 5 5 5 5
密接層 SiOx (nm) 3 3 3 3 3 3 3
抗反射層 Nb2 O5 (nm) 20 19 22 20 18 19 19
SiO2 (nm) 32 32 32 32 32 32 32
Nb2 O5 (nm) 131 132 134 130 134 133 131
SiO2 (nm) 94 93 94 93 94 94 94
Nb2 O5 (nm) - - - - - - -
SiO2 (nm) - - - - - - -
Nb2 O5 (nm) - - - - - - -
SiO2 (nm) - - - - - - -
Nb2 O5 (nm) - - - - - - -
SiO2 (nm) - - - - - - -
防污層 氟系化合物 (nm) 3 3 3 3 3 3 3
抗反射層之層數    4 4 4 4 4 4 4
抗反射層之總膜厚 (nm) 277 276 282 275 278 278 276
光學特性 視感反射率Y (%) 0.39 0.26 0.34 0.29 0.34 0.28 0.32
a*    1.4 4.1 4.6 2.1 13.0 8.9 7.7
b*    -9.1 -7.6 -8.3 -6.8 -13.9 -13.9 -8.8
反射色相評估    OK OK OK OK OK OK OK
紅外線透過率 (%) 92.9 91.9 93.3 91.8 91.8 93.3 95.0
紅外線反射率 (%) 3.1 4.3 3.5 4.1 4.1 3.0 4.6
可撓性 心軸試驗    OK OK OK OK OK OK OK
[表2]
   成分    實施例 比較例
8 9 10 1 2 3 4
基材 TAC (μm) 80 80 80 80 80 80 80
硬塗層 丙烯酸系樹脂 (μm) 5 5 5 5 5 5 5
密接層 SiOx (nm) 3 3 3 3 3 3 3
抗反射層 Nb2 O5 (nm) 13.7 12 13.7 14 7 13 15
SiO2 (nm) 49 49 49 32 35 41 38
Nb2 O5 (nm) 44 44 44 130 12 37 29
SiO2 (nm) 30.3 30.3 30.3 35 25 22 99
Nb2 O5 (nm) 34 34 32 18 34 131 -
SiO2 (nm) 103 103 101 230 23 93 -
Nb2 O5 (nm) - - - 25 129 - -
SiO2 (nm) - - - 33 91 - -
Nb2 O5 (nm) - - - 37 - - -
SiO2 (nm) - - - 100 - - -
防污層 氟化合物 (nm) 3 3 3 3 3 3 3
抗反射層之層數    6 6 6 10 8 6 4
抗反射層之總膜厚 (nm) 274 272.3 270 654 356 337 181
光學特性 視感反射率Y (%) 0.66 0.96 0.74 0.34 0.54 0.58 0.30
a*    6.6 12.6 4.1 -2.6 -3.0 -0.5 1.7
b*    -15.8 -15.3 -9.5 -2.8 -3.8 -6.6 -9.5
反射色相評估    OK OK OK NG NG NG OK
紅外線透過率 (%) 92.7 93.1 92.1 96.6 94.5 89.7 89.5
紅外線反射率 (%) 2.1 3.3 4.9 2.9 5.2 4.1 7.2
可撓性 心軸試驗    OK OK OK NG NG NG OK
藉由如實施例1～7般將抗反射層設為4層構造，可獲得較高之紅外線透過率，並且可獲得優異之可撓性。又，藉由4層構造之抗反射層，可既提高紅外線之透過率又使反射光之色調為中性。
又，藉由如實施例8～10般將抗反射層設為6層構造，可獲得較高之紅外線透過率，並且可獲得優異之可撓性。又，藉由6層構造之抗反射層，可既提高紅外線之透過率又使反射光之色調為中性。
另一方面，如比較例1，總厚度600 nm以上之10層構造雖然可獲得較高之紅外線透過率，但無法使反射光之色調為中性，無法獲得優異之可撓性。又，如比較例2，總厚度超過300 nm之8層構造雖然可獲得較高之紅外線透過率，但無法使反射光之色調為中性，無法獲得優異之可撓性。又，如比較例3，總厚度超過300 nm之6層構造無法獲得較高之紅外線透過率，又，無法使反射光之色調為中性，亦無法獲得優異之可撓性。又，如比較例4，使抗反射層之層膜厚未達200 nm之4層構造無法獲得較高之紅外線透過率。
10:基材 20:硬塗層 30:密接層 40:抗反射層 41:高折射率層 42:低折射率層 50:防污層 60:基礎膜 61:退繞輥 62:捲繞輥 71:第1罐輥 72:第2罐輥 81:第1光學監控器 82:第2光學監控器 411:第1高折射率層 412:第1低折射率層 413:第2高折射率層 414:第2低折射率層 431:第1高折射率層 432:第1低折射率層 433:第2高折射率層 434:第2低折射率層 435:第3高折射率層 436:第3低折射率層 SP1,SP2,SP3,SP4,SP5,SP6,SP7,SP8,SP9,SP10:濺鍍室
圖1係模式性地表示應用本技術之抗反射膜之剖視圖。 圖2係模式性地表示第1實施方式之抗反射膜中之抗反射層的剖視圖。 圖3係模式性地表示第2實施方式之抗反射膜中之抗反射層的剖視圖。 圖4係表示薄膜形成裝置之概略之立體圖。 圖5係表示實施例1之抗反射膜之透射光譜的圖。 圖6係表示實施例1之抗反射膜之反射光譜的圖。 圖7係表示實施例7及比較例1～3之抗反射膜之透射光譜的圖。 圖8係表示實施例7及比較例1～3之抗反射膜之反射光譜的圖。
10:基材
20:硬塗層
30:密接層
40:抗反射層
41:高折射率層
42:低折射率層
50:防污層

Claims (13)

  1. 一種抗反射膜，其係於基材上依序具有硬塗層、密接層、及抗反射層者， 上述抗反射層自上述密接層側起依序包含： 光學厚度為41 nm～52 nm之第1高折射率層、 光學厚度為41 nm～53 nm之第1低折射率層、 光學厚度為302 nm～313 nm之第2高折射率層、及 光學厚度為135 nm～196 nm之第2低折射率層。
  2. 一種抗反射膜，其係於基材上依序具有硬塗層、密接層、及抗反射層者， 上述抗反射層自上述密接層側起依序包含： 光學厚度為23 nm～35 nm之第1高折射率層、 光學厚度為66 nm～81 nm之第1低折射率層、 光學厚度為93 nm～117 nm之第2高折射率層、 光學厚度為37 nm～52 nm之第2低折射率層、 光學厚度為79 nm～84 nm之第3高折射率層、及 光學厚度為146 nm～155 nm之第3低折射率層。
  3. 如請求項1或2之抗反射膜，其中於上述抗反射層上積層有防污層。
  4. 如請求項1至3中任一項之抗反射膜，其中上述高折射率層之折射率為2.00～2.60， 上述低折射率層之折射率為1.20～1.60。
  5. 如請求項1之抗反射膜，其中上述第1高折射率層包含Nb2 O5 作為主成分，物理厚度為18 nm～22 nm， 上述第1低折射率層包含SiO2 作為主成分，物理厚度為28 nm～36 nm， 上述第2高折射率層包含Nb2 O5 作為主成分，物理厚度為130 nm～134 nm， 上述第2低折射率層包含SiO2 作為主成分，物理厚度為92 nm～95 nm。
  6. 如請求項2之抗反射膜，其中上述第1高折射率層包含Nb2 O5 作為主成分，物理厚度為10 nm～15 nm， 上述第1低折射率層包含SiO2 作為主成分，物理厚度為45 nm～55 nm， 上述第2高折射率層包含Nb2 O5 作為主成分，物理厚度為40 nm～50 nm， 上述第2低折射率層包含SiO2 作為主成分，物理厚度為25 nm～35 nm， 上述第3高折射率層包含Nb2 O5 作為主成分，物理厚度為30 nm～36 nm， 上述第3低折射率層包含SiO2 作為主成分，物理厚度為100 nm～106 nm。
  7. 如請求項1至6中任一項之抗反射膜，其中 於波長940 nm之光透過率為90%以上， 於波長940 nm之光反射率為5%以下。
  8. 如請求項1至7中任一項之抗反射膜，其視感反射率Y為1.0%以下。
  9. 如請求項1至8中任一項之抗反射膜，其中CIELAB中之a＊值為0～15，b＊值為-18～0。
  10. 一種抗反射膜之製造方法，其係於基材上依序成膜硬塗層、密接層、及抗反射層者， 上述抗反射層自上述密接層側起依序包含： 光學厚度為41 nm～52 nm之第1高折射率層、 光學厚度為41 nm～53 nm之第1低折射率層、 光學厚度為302 nm～313 nm之第2高折射率層、及 光學厚度為135 nm～196 nm之第2低折射率層。
  11. 一種抗反射膜之製造方法，其係於基材上依序成膜硬塗層、密接層、及抗反射層者， 上述抗反射層自上述密接層側起依序包含： 光學厚度為23 nm～35 nm之第1高折射率層、 光學厚度為66 nm～81 nm之第1低折射率層、 光學厚度為93 nm～117 nm之第2高折射率層、 光學厚度為37 nm～52 nm之第2低折射率層、 光學厚度為79 nm～84 nm之第3高折射率層、及 光學厚度為146 nm～155 nm之第3低折射率層。
  12. 如請求項10或11之抗反射膜之製造方法，其中於上述抗反射層上積層防污層。
  13. 如請求項10至12中任一項之抗反射膜之製造方法，其中 上述高折射率層之折射率為2.00～2.60， 上述低折射率層之折射率為1.20～1.60。
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