TW202135100A - 電阻體膏、燒製體及電性製品 - Google Patents

電阻體膏、燒製體及電性製品 Download PDF

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TW202135100A
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吉井喜昭
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日商納美仕有限公司
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Abstract

本發明提供一種電阻體膏，係用以製造降低鈀含量且抑制溫度所造成之電阻值變化的電阻體。
本發明之電阻體膏係包含：(A)金屬粉，包含銀及錫，且實質上不含銠及鈀；(B)銠成分；及(C)玻璃膠；其中，將(A)金屬粉的銀及錫的總重量設為100重量%時，金屬粉中的銀的重量比例為75重量%以上，相對於(A)金屬粉100重量份，(B)銠成分中的銠含量為0.1至10重量份。

Description

電阻體膏、燒製體及電性製品
本發明係關於一種在形成電阻發熱體等電阻體時使用的電阻體膏。又，本發明係關於一種將電阻體膏燒製而成的燒製體、及包含該燒製體之電性製品。
以往係使用電阻體膏作為用以形成電阻發熱體(電阻體)的材料，而該電阻發熱體係用於陶瓷加熱器等。作為電阻體膏所包含之金屬，例如係使用氧化釕及其化合物、銀及鈀。
就陶瓷加熱器而言，例如，專利文獻1中記載了一種陶瓷加熱器，其具備：基板，由陶瓷所構成；導電圖案，形成於前述基板上；電阻發熱體，以與前述導電圖案電性連接的方式形成於前述基板上；及外塗層，係以至少覆蓋前述電阻發熱體的方式形成。又，專利文獻1中記載了前述電阻發熱體包含由銀及鈀所構成之合金以及石墨，其中，相對於前述合金與前述石墨之總和，石墨的含有率為16至47%。
專利文獻2中記載了一種熱印頭(thermal print head)的加熱器或列印機的調色劑定影用的加熱器等。專利文獻2中記載了一種藉由使 用電阻體膏在陶瓷基板上形成加熱電路所製造的陶瓷基板加熱器。再者，專利文獻2中記載了一種含有(A)作為導電性粉末的(A-1)銀粉及(A-2)鈀粉、(B)玻璃膠及(C)無機金屬氧化物粉末的電阻體膏，以作為陶瓷基板加熱器用的電阻體膏。又，專利文獻2中記載了電阻體膏的(B)玻璃膠的軟化點為750℃以上，且其粒徑在1至3μm的範圍內；(C)無機金屬氧化物粉末係選自由氧化鋁、二氧化鋯、二氧化鈦及氧化釔所構成之群組的至少1種無機金屬氧化物粉末，其粒徑在0.1至1μm的範圍內；以及燒製後的電阻體的電阻值變動率在10%以下。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2013-200945號公報
[專利文獻2]日本特開2013-161770號公報
使用氧化釕及其化合物、銀及鈀作為電阻體膏所包含之金屬粉的材料。藉由於銀及鈀中加入玻璃膠(glass frit)及各種添加劑，可控制使用電阻體膏形成之電阻體的溫度所造成之電阻值變化以及控制片電阻。此外，使用電阻溫度係數(TCR，Temperature Coefficient of Resistance)作為表示電阻體的溫度所造成之電阻值變化的係數。
用作電阻發熱體的電阻體因通電而被加熱，其溫度在室溫與操作溫度之間反復變化。在電阻發熱體中，為了要穩定地獲得高可靠度的操作，電阻體的電阻溫度係數(TCR)必須較小。
為了使電阻體的電阻溫度係數(TCR)變小，係添加鈀(Pd)作為電阻體膏所包含之金屬粉的材料。然而，鈀的價格昂貴，故有電阻體膏及使用其製造之電阻體的成本變高的問題。因此，要求降低電阻體膏的鈀含量。
於是，本發明之目的係提供一種電阻體膏，用以製造降低鈀含量且抑制溫度所造成之電阻值變化的電阻體。
為了解決上述課題，本發明具有以下構成。
(構成1)
本發明之構成1係一種電阻體膏，其包含：
(A)金屬粉，包含銀及錫，且實質上不含銠及鈀；
(B)銠成分；及
(C)玻璃膠；
其中，將(A)金屬粉的銀及錫的總重量設為100重量%時，金屬粉中的銀的重量比例為75重量%以上，
相對於(A)金屬粉100重量份，(B)銠成分中的銠含量為0.1至10重量份。
(構成2)
本發明之構成2係如構成1之電阻體膏，其中，(A)金屬粉為銀及錫的合金粉。
(構成3)
本發明之構成3係如構成1或2之電阻體膏，其更包含(D)鈀。
(構成4)
本發明之構成4係如構成1至3中任一構成之電阻體膏，其中，(B)銠成分為松脂酸銠。
(構成5)
本發明之構成5係如構成1至4中任一構成之電阻體膏，其中，(C)玻璃膠的軟化點為700℃至850℃。
(構成6)
本發明之構成6係如構成1至5中任一構成之電阻體膏，其中，電阻體膏為發熱體用的電阻體膏。
(構成7)
本發明之構成7係一種燒製體，其係將如構成1至6中任一構成之電阻體膏燒製而成者。
(構成8)
本發明之構成8係一種電性製品，其使用了如構成7之燒製體。
根據本發明，可提供一種電阻體膏，用以製造降低鈀含量且抑制溫度所造成之電阻值變化的電阻體。
1:基板
2:電阻體
3:電極
4:導線
10:發熱體
圖1係顯示具有電阻體的發熱體之一例的示意圖。
以下具體說明本發明之實施型態。此外，以下實施型態係將本發明具體化時的型態，而並非將本發明限定在其範圍內。
本實施型態係形成電阻發熱體等電阻體時使用的電阻體膏。使用電阻溫度係數(TCR，Temperature Coefficient of Resistance)作為表示電阻體的溫度所造成之電阻值變化的係數。電阻溫度係數(TCR)可藉由下式1表示。
TCR(ppm/℃)=[(Rb-Ra)/Ra]/(Tb-Ta)×106 (式1)
在式1中，Ta為基準溫度(℃)，Ra為於基準溫度時的電阻值，Tb為既定溫度(比較對象的溫度(℃))，Rb為於既定溫度(比較對象的溫度)時的電阻值。此外，本說明書中，使Ta(基準溫度)為25℃、Tb(比較對象的溫度)設為125℃來評估電阻溫度係數(TCR)。室溫為25℃左右，發熱時(操作時)電阻體的溫度為125℃左右，故可評估電阻體的操作溫度範圍中的電阻溫度係數(TCR)。使Ta(基準溫度)為25℃、Tb(比較對象的溫度)為125℃時電阻體的電阻溫度係數(TCR)必須為1000ppm以下，較佳為800ppm以下。TCR超過1000ppm的情況下，可能無法作為具有可靠度的電阻體使用。
接著說明本實施型態之電阻體膏。
本實施型態之電阻體膏包含(A)金屬粉、(B)銠成分及(C)玻璃膠。以下說明各成分。
(A)金屬粉
本實施型態之電阻體膏包含(A)金屬粉。(A)金屬粉包含銀(Ag)及錫(Sn)，且實質上不含銠(Rh)及鈀(Pd)。本實施型態之電阻體膏包含既定的(A)金屬粉，藉此可得到一種電阻體膏，用以製造降低鈀含量且抑制溫度所 造成之電阻值變化的電阻體。又，藉由控制銀與錫的調配比，可控制所得之電阻體的電阻值(例如片電阻)。
(A)金屬粉包含銀及錫。以往的電阻體膏之金屬粉中通常含有銀以及鈀。錫的價格遠低於貴金屬的鈀。因此，藉由使用本實施型態之(A)金屬粉，可得到大幅降低成本的電阻體膏。
此外，本實施型態之電阻體膏中，(A)金屬粉實質上不含銠及鈀。在本說明書中，「實質上不含」意為，作為(A)金屬粉，並不蓄意地添加銠及鈀，但也不排除含有作為雜質而不可避免混入的銠及鈀。此外，關於銠，係另外作為下述的(B)銠成分而調配至電阻體膏中。
(A)金屬粉可為包含銀粉及錫粉的混合粉。在不損及本實施型態之效果的範圍內，混合粉可包含銀及錫以外的其他金屬粉。然而，為了可靠度良好地達成較低的電阻溫度係數(TCR)，金屬粉更佳為僅由銀及錫的金屬粉所構成。
又，(A)金屬粉較佳為包含銀及錫之合金的合金粉。藉由使(A)金屬粉為包含銀及錫的合金粉，相較於包含銀粉及錫粉之混合粉的情況，可達成更低的電阻溫度係數(TCR)。在不損及本實施型態之效果的範圍內，合金粉亦可包含銀及錫以外的其他金屬。然而，為了進一步達成較低的電阻溫度係數(TCR)，合金粉更佳為實質上僅由銀及錫所構成的合金粉。
本實施型態之電阻體膏中，將(A)金屬粉的銀及錫的總重量設為100重量%時，金屬粉中的銀的重量比例為75重量%以上，較佳為80重量%以上，更佳為90重量%以上。藉由使銀的重量比例為既定的比例以上，可得到低電阻的電阻體膏。
(A)金屬粉的錫的重量比例較佳為小於10重量%。此情況下，可降低將電阻體膏燒製而得之電阻體的電阻值，又，可使電阻溫度係 數(TCR)更低。若(A)金屬粉的錫的重量比例為10重量%以上，則無法降低電阻體的電阻值。又，若(A)金屬粉的錫的重量比例小於2重量%，則會導致電阻溫度係數(TCR)變高。因此，(A)金屬粉的錫的重量比例較佳為2重量%以上，更佳為7重量%以上。
作為(A)金屬粉中可包含的銀及錫以外的元素，可列舉：銅、鎳、鉬、碳、矽、鎢及鐵等。在不妨礙實施型態之效果的範圍內，可將銀及錫以外的元素添加至(A)金屬粉。
從良好地進行網版印刷等印刷的觀點來看，(A)金屬粉的平均粒徑較佳為0.1至5μm，更佳為1至3μm。此處，金屬粉的平均粒徑係指雷射繞射散射法所測量的平均粒徑(D50)。金屬粉的形狀並無特別限定，可列舉球狀、鱗片狀等，較佳為球狀。此外，在本說明書中，其他成分的平均粒徑亦與金屬粉相同地，為雷射繞射散射法所測量的平均粒徑(D50)。
(B)銠(Rh)成分
本實施型態之電阻體膏包含(B)銠(Rh)成分。藉由在電阻體膏包含(B)銠成分，可使將電阻體膏燒製而得之電阻體的電阻溫度係數(TCR)變得更低。
本實施型態之電阻體膏中，相對於(A)金屬粉100重量份，(B)銠成分中的銠含量為0.10至10重量份，較佳為0.10至6重量份。電阻體膏的(B)銠成分中的銠含量少的情況下，變得難以降低將電阻體膏燒製而得之電阻體的電阻溫度係數(TCR)。又，電阻體膏的(B)銠成分中的銠含量太多的情況，電阻體膏的印刷性變差，並且亦會產生電阻體膏的成本上升的問題。
本實施型態之電阻體膏中，(B)銠成分較佳為松脂酸銠。藉由使(B)銠成分為松脂酸銠，相較於直接添加銠金屬粉，可將(B)銠成分均 勻地調配至電阻體膏，結果，比添加銠金屬粉時減少銠成分的添加量，而可得到同等級的效果。
本實施型態之電阻體膏包含(C)玻璃膠。
藉由使電阻體膏包含(C)玻璃膠，可使將電阻體膏燒製而成的電阻體對於陶瓷基板具有接著性，並且可防止在燒製電阻體時產生裂縫。又，藉由調節玻璃膠的含量，可控制燒製而得之燒製體的電阻(例如片電阻)值，而可降低電阻溫度係數(TCR)。
相對於(A)金屬粉100重量份，電阻體膏的(C)玻璃膠的含量較佳為0.1至30重量份，更佳為0.5至15重量份。玻璃膠的含量少於0.1重量份的情況下，電阻體對於陶瓷基板的密合強度降低。又，玻璃膠的含量多於30重量份的情況下，電阻體的電阻值超出容許範圍。
本實施型態之電阻體膏中，(C)玻璃膠的軟化點較佳為700℃至850℃。藉由使用軟化點較高的高耐熱玻璃之玻璃膠，可降低製作電阻體元件時的反復燒製所造成的電阻值變化，且亦可使電阻溫度係數(TCR)變低。此外，軟化點係藉由示差熱分析(differential thermal analysis)裝置所測量的值。此外，使Ta(基準溫度)為25℃、Tb(比較對象的溫度)為125℃時電阻體的電阻溫度係數(TCR)必須為1000ppm以下，較佳為800ppm以下。TCR超過1000ppm的情況下，可能無法作為具有可靠度的電阻體使用。
為了使網版印刷等印刷及與基板的接著性等變得良好，(C)玻璃膠的平均粒徑較佳為0.1至10μm，更佳為1至5μm。
本實施型態之電阻體膏較佳為更包含(D)鈀(Pd)。藉由使本實施型態之電阻體膏更包含(D)鈀，可使燒製而得之電阻體的電阻更低，而可使電阻溫度係數(TCR)更低。
相對於(A)金屬粉100重量份，電阻體膏之(D)鈀的含量較佳為0.1至5重量份，更佳為0.1至3重量份。本實施型態之電阻體膏中，鈀並非必要成分，但鈀的含量少於0.1重量份的情況下，降低電阻溫度係數(TCR)的效果小。又，鈀的含量多於5重量份的情況下，電阻體膏的成本變高。
為了良好地進行網版印刷等印刷及降低電阻體的電阻等，(D)鈀粒子的平均粒徑較佳為0.01至5μm，更佳為0.05至3μm。
本實施型態之電阻體膏可包含纖維素樹脂及丙烯酸樹脂等(E)熱塑性樹脂。
藉由(E)熱塑性樹脂，可賦予電阻體膏印刷性、搖變性(thixotropy)、脫脂(debinding)溫度的低溫化。作為纖維素樹脂，可列舉乙基纖維素及硝酸纖維素。作為丙烯酸樹脂，可列舉：丙烯酸甲酯、丙烯酸乙酯、丙烯酸丙酯、丙烯酸丁酯、甲基丙烯酸酯甲酯、甲基丙烯酸酯乙酯、甲基丙烯酸酯丙酯及甲基丙烯酸酯丁酯的聚合物或此等的共聚物。(E)熱塑性樹脂可單獨使用亦可併用兩種以上。
本實施型態之電阻體膏可包含(F)溶劑。
作為電阻體膏的溶劑，可使用萜烯系、酯醇、芳香族烴、酯系溶劑。作為萜烯系溶劑，可列舉：檸檬烯、對薄荷烷、蒎烷、萜品醇及二氫萜品醇等。作為酯醇，可列舉2,2,4-三甲基-1,3-戊二醇單異丁酸酯。作為芳香族烴，可列舉：二甲苯、異丙苯及甲苯。作為酯系溶劑，可列舉：乙酸乙二醇單甲醚、乙酸二乙二醇單甲醚及乙酸二乙二醇單丁醚。此等溶劑可單獨使用亦可使用多種。
在不損及本實施型態之效果的範圍內，本實施型態之電阻體膏可含有黏度調整劑、消泡劑、阻燃劑及抗氧化劑等作為任意成分。
本實施型態之電阻體膏可使用例如破碎機(擂潰機)、球磨機、三輥研磨機、旋轉式混合機、雙軸混合器等，將上述材料、亦即(A)金屬粉、(B)銠成分及(C)玻璃膠、以及視需求調配之(D)鈀、(E)熱塑性樹脂及/或(F)溶劑等任意材料混合而製造。
本實施型態之電阻體膏中，電阻體膏較佳為發熱體用的電阻體膏。
圖1中顯示表示發熱體10之一例的示意圖。在圖1所示之發熱體10中，在基板1的表面上形成有電阻體2。電阻體2與一組電極3係電性連接，可藉由一組導線4使來自外部電源(圖中未顯示)的電流流入電阻體2。電阻體2藉由施加之電流而發熱，藉此對外部釋放熱量。本實施型態之電阻體膏可較佳地用於形成發熱體10的電阻體2。
圖1所示之發熱體10的電阻體2係將本實施型態之電阻體膏燒製而成的燒製體。亦即，藉由網版印刷等，將本實施型態之電阻體膏以成為既定圖案的方式塗布於基板1的表面。將電阻體膏的圖案在大氣環境中進行燒製，藉此可得到既定圖案形狀的電阻體2(燒製體)。若使用本實施型態之電阻體膏，則藉由以大氣作為燒製氣體環境的燒製，可得到低電阻、且低電阻溫度係數(TCR)的電阻體2(燒製體)。
本實施型態之電阻體膏的塗布方法為任意。作為塗布方法，可列舉例如：分注(dispense)、噴射分注(jet dispense)、孔版印刷(stencil printing)、網版印刷、針式轉印及捺印(stamping)等習知的方法。從能夠以預期的膜厚再現性來良好地形成既定圖案形狀的觀點來看，較佳為使用網版印刷作為電阻體膏的塗布方法。
藉由將所塗布之電阻體膏進行燒製，可得到如圖1之電阻體2的燒製體。本實施型態之電阻體膏的燒製可在大氣環境中進行。燒製溫度 較佳為500至900℃，更佳為600至900℃，再佳為700至900℃，特佳為800至900℃。藉由以這樣的燒製溫度進行燒製，電阻體膏所包含之金屬粉彼此燒結，並且可使電阻體膏所包含之有機黏結劑等成分燒失(Ignition Lost)。
燒製體(電阻體2)的片電阻值必須為50至500mΩ/□(mΩ/square)。電阻體於25℃(室溫)的片電阻為50mΩ/□以下或500mΩ/□以上的情況下，可能無法作為電阻體使用。
燒製體的膜厚較佳為5至30μm，更佳為10至20μm。可調整燒製體的膜厚來使燒製體的片電阻值在上述範圍內。燒製體的膜厚，例如在使用網版印刷法的情況下，可藉由網布(screen)的選擇及印刷條件的調整來控制。
本實施型態係使用將上述電阻體膏燒製而成之燒製體的電性製品。作為電性製品，可列舉：熱印頭、列印機及加熱板等。
將本實施型態之電阻體膏燒製而成的燒製體，可作為用於陶瓷基板加熱器(發熱體)的電阻體使用，而該陶瓷基板加熱器係用於熱印頭的加熱器、列印機的調色劑定影用加熱器及加熱板的加熱器等。將本實施型態之電阻體膏以成為既定圖案的方式印刷至陶瓷基板的表面並進行燒製，藉此可製造具有既定加熱電路的陶瓷基板加熱器。
本實施型態之電阻體膏可減少鈀含量，故為低成本。又，將本實施型態之電阻體膏燒製而成的電阻體(燒製體)，可抑制溫度所造成的電阻值變化。因此，藉由使用本實施型態之電阻體膏，可得到低成本且能夠抑制溫度所造成之電阻值變化的電阻體。因此，使用應用本實施型態之電阻體膏的電阻體的電性製品，可降低成本，且可提高使用電阻體作為發熱體的情況中會隨著溫度變化之運作時的可靠度。
[實施例]
以下，藉由實施例具體說明本發明，但本發明並不限定於此等。
於表1及表2所示之調配中調配各成分，製備實施例及比較例的電阻體膏。以下，針對用作(A)金屬粉A1至A6、(B)銠成分、(C)玻璃膠C1及C2、(D)鈀成分、(E)熱塑性樹脂E1及E2、(F)溶劑F1及F2的材料進行說明。此外，下述說明的平均粒徑係雷射繞射散射法所測量的平均粒徑(D50)。
(A)金屬粉
使用以下金屬粉A1至A6作為(A)金屬粉。下述Ag/Sn的數值為重量比例。
金屬粉A1(合金粉)：Ag/Sn=93/7，球狀，平均粒徑2.5μm
金屬粉A2(合金粉)：Ag/Sn=98/2，球狀，平均粒徑2.5μm
金屬粉A3(合金粉)：Ag/Sn=95/5，球狀，平均粒徑2.5μm
金屬粉A4(合金粉)：Ag/Sn=70/30，球狀，平均粒徑2.5μm
金屬粉A5：Ag粉，球狀，平均粒徑2.5μm
金屬粉A6：Sn粉，球狀，平均粒徑2.5μm
(B)銠成分
使用下述成分作為(B)銠(Rh)成分。此外，表1中顯示了將(A)金屬粉設為100重量份時之松脂酸酯中的Rh的重量比例。
松脂酸銠：Rh含有率10%(大研化學工業股份有限公司製)
(C)玻璃膠
使用下述玻璃膠C1及C2作為(C)玻璃膠。此外，軟化點係藉由示差熱分析裝置所測量的值。又，玻璃膠的平均粒徑為2μm。
玻璃膠C1：SiO2系，軟化點820℃(奧野製藥工業股份有限公司製)
玻璃膠C2：SiO2系，軟化點740℃(奧野製藥工業股份有限公司製)
(D)鈀成分
使用平均粒徑為0.1μm的鈀粒子作為(D)鈀(Pd)成分。
(E)熱塑性樹脂
使用下述熱塑性樹脂E1及E2作為熱塑性樹脂。
熱塑性樹脂E1：乙基纖維素樹脂(STD-14，Dow Chemical公司製)
熱塑性樹脂E2：乙基纖維素樹脂(STD-200，Dow Chemical公司製)
(F)溶劑
使用下述溶劑F1及F2作為溶劑。
溶劑F1：丁基卡必醇(大伸化學股份有限公司製)
溶劑F2：Texanol(Eastman Chemical股份有限公司製)
以行星式混合機(planetary mixer)將上述既定製備比例的材料混合，再以三輥研磨機進行分散，並使其膏狀化，藉此製備電阻體膏。
接著，針對實施例及比較例的電阻體膏進行下述試驗。
(於25℃的片電阻)
於25℃(室溫)的片電阻(單位：mΩ/□)，係藉由使用實施例及比較例的電阻體膏製造電阻體，並測量電阻體的片電阻來進行。
首先，藉由網版印刷法，將實施例及比較例的電阻體膏以成為膜厚10μm的方式在氧化鋁製的基板表面印刷長度71mm、寬度1mm的長方形之測試圖案。
使以上述方式將電阻體膏的測試圖案印刷至表面的基板於150℃乾燥10分鐘。接著，以帶式爐將附測試圖案的基板於大氣(air)環境 中、最高溫度850℃保持10分鐘，在進出時間(in-out time)60分鐘的條件下進行燒製，藉此製造實施例及比較例的測試圖案形狀的電阻體。
接著，將試樣於溫度25℃、相對濕度65%的恆溫恆濕環境下靜置30分鐘後，使用測試器以4端子法測量實施例及比較例的電阻體於室溫(Ta=25℃)的片電阻(Ra)(mΩ/□)。
此外，所製造之電阻體於25℃(室溫)的片電阻必須在50至500mΩ/□的範圍。所製造之薄膜於25℃(室溫)的片電阻為50mΩ/□以下或500mΩ/□以上的情況下，認為難以作為電阻體使用。
將以上述方式而得的實施例及比較例之片電阻顯示於表1及表2的「於25℃的片電阻(mΩ/□)」一欄。
(電阻溫度係數)
電阻溫度係數(Temperature Coefficient of Resistance：TCR)的測量係以下述方式進行。
以上述方式測量實施例及比較例的電阻體於室溫(Ta=25℃)的片電阻(Ra)後，將電阻體加熱至溫度Tb=125℃，測量溫度125℃(Tb)的片電阻(Rb)。使用下式，從溫度Ta及Tb、以及測量而得之片電阻Ra及Rb算出電阻溫度係數(TCR)。
TCR(ppm/℃)=[(Rb-Ra)/Ra]/(Tb-Ta)×106
此外，電阻體的電阻溫度係數(TCR)必須為1000ppm以下，較佳為800ppm以下。TCR超過1000ppm的情況下，認為難以作為具有可靠度的電阻體使用。
將以上述方式而得的實施例及比較例之電阻溫度係數(TCR)顯示於表1及表2的「電阻溫度係數(TCR)(ppm/℃)」欄。
(印刷性的評估)
印刷與上述「於25℃的片電阻」中的說明相同的測試圖案，對於使用共焦顯微鏡所拍攝之測試圖案的影像進行評估，藉此進行實施例及比較例之電阻體膏的印刷性評估。
亦即，首先，藉由網版印刷法，將實施例及比較例的電阻體膏以成為膜厚10μm的方式在氧化鋁製的基板表面上印刷成長度1mm、寬度71mm的長方形測試圖案。接著，使用共焦顯微鏡拍攝測試圖案。藉由拍攝所得到的影像進行下述判斷以作為印刷性的評估。表1中顯示印刷性的評估結果。
○：表面無凹凸，無滲出
△：表面稍有凹凸，稍有滲出
×：表面有凹凸，有滲出
(可靠度的評估)
可靠度的測量係以下述方式進行。首先，與上述「於25℃的片電阻」中的說明相同，製造實施例及比較例的電阻體。接著，在試驗前測量於25℃的片電阻(R0)。接著，將試樣加熱，於600℃保持1小時後冷卻至室溫。此加熱係將保持於600℃及冷卻作為1個循環，並進行10個循環的熱處理。10個循環的熱處理後，於室溫(25℃)測量片電阻(R1)。判斷試驗後的片電阻相對於試驗前的片電阻(R0)的變化率((R1-R0)/R0)是否在既定範圍內，藉此進行可靠度的評估。表1中顯示可靠度的判斷結果。表1所示之記號表示下述片電阻的變化率範圍。
○：片電阻的變化率在5%以內
△：片電阻的變化率為5至10%
×：片電阻的變化率在10%以上
(評估結果)
由表1及表2所示之結果明確可知，本發明之實施例1至13於25℃的片電阻、電阻溫度係數、印刷性及可靠度的全部評估項目中皆滿足作為電阻體的要求。
另一方面，由表2所示之結果可知，比較例3於25℃的片電阻為50mΩ以下，難以作為電阻體使用。又，比較例5於25℃的片電阻太高而無法測量。又，比較例1、3及4的電阻溫度係數(TCR)超過1000ppm，難以作為具有可靠度的電阻體使用。又，在比較例2的印刷性評估中所得到的共焦顯微鏡之影像中觀察到表面凹凸，再者亦觀察到滲出。因此，明顯可知使用比較例2之電阻體膏的情況下，難以印刷預期形狀的圖案。
[表1]
Figure 110100433-A0202-12-0017-1
[表2]
Figure 110100433-A0202-12-0018-2
1:基板
2:電阻體
3:電極
4:導線
10:發熱體

Claims (8)

  1. 一種電阻體膏，其包含：
    (A)金屬粉，包含銀及錫，且實質上不含銠及鈀；
    (B)銠成分；及
    (C)玻璃膠；
    其中，將(A)金屬粉的銀及錫的總重量設為100重量%時，金屬粉中的銀的重量比例為75重量%以上，
    相對於(A)金屬粉100重量份，(B)銠成分中的銠含量為0.1至10重量份。
  2. 如請求項1所述之電阻體膏，其中，(A)金屬粉為銀及錫的合金粉。
  3. 如請求項1或2所述之電阻體膏，更包含(D)鈀。
  4. 如請求項1至3中任一項所述之電阻體膏，其中，(B)銠成分為松脂酸銠。
  5. 如請求項1至4中任一項所述之電阻體膏，其中，(C)玻璃膠的軟化點為700℃至850℃。
  6. 如請求項1至5中任一項所述之電阻體膏，其中，電阻體膏為發熱體用的電阻體膏。
  7. 一種燒製體，其係將如請求項1至6中任一項所述之電阻體膏燒製而成者。
  8. 一種電性製品，其係使用了如請求項7所述之燒製體。
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