TW201722845A - 奈米碳管接合片及奈米碳管接合片的製造方法 - Google Patents

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Abstract

CNT接合片具備由無機物的燒結體形成的固定片、以及與固定片的燒結體接合的奈米碳管陣列片。

Description

奈米碳管接合片及奈米碳管接合片的製造方法
本發明涉及奈米碳管接合片以及奈米碳管接合片的製造方法。
在電子器件與散熱器（heat sink）之間配置導熱性材料（Thermal Interface Material：以下稱為TIM），使電子器件與散熱器之間的間隙減小，將從電子器件產生的熱高效地向散熱器傳導，上述技術是已知的。作為這樣的TIM，已知有由高分子材料構成的高分子片材、矽潤滑脂等。
但是，高分子片材無法充分地追隨電子器件及散熱器表面的微小的凹凸（表面粗糙度），存在因該微小的凹凸而在電子器件與散熱器之間產生空隙的情況，限制了導熱率的提高。
另外，矽潤滑脂雖然能夠追隨電子器件及散熱器的表面的微小的凹凸，但是存在因反復的溫度變化而泵出（pump out）（從電子器件與散熱器之間流出）的情況，難以長期確保TIM的導熱性能。
因此，希望獲得一種TIM，其能夠追隨電子器件及散熱器表面的微小的凹凸，並且能夠長期確保導熱性能，當前正在研究將奈米碳管（以下稱為CNT）利用於TIM。
例如，有人提出了一種熱介面襯墊（pad）的方案，該熱介面襯墊具備基板、以及在基板的兩面呈陣列狀配置的CNT（例如參照專利文獻1）。
這樣的熱介面襯墊是藉由利用化學氣相沉積使CNT在基板的兩面生長來製造的。並且，在這樣的熱介面襯墊中，因為是在基板的兩面配置有CNT，因此能夠使該CNT追隨電子器件及散熱器表面的微小的凹凸。
習知技術文獻
專利文獻
專利文獻1：日本專利公表2015-526904號公報
（一）要解決的技術問題
但是，專利文獻1記載的熱介面襯墊，因為是利用化學氣相沉積使CNT在基板的兩面生長來製造的，因此無法充分地確保基板與CNT的黏接強度。因此，在將熱介面襯墊作為TIM使用時，存在CNT從基板脫落的情況。在這種情況下，難以確保熱介面襯墊的導熱性能，另外，存在脫落的CNT引起電子器件等的短路的情況。
因此，本發明的目在於，提供一種奈米碳管接合片及奈米碳管接合片的製造方法，該奈米碳管接合片能夠追隨物件物表面的微小的凹凸，並且能夠抑制奈米碳管脫落。
（二）技術手段
本發明（1）包含奈米碳管接合片，該奈米碳管接合片具備：由無機物的燒結體形成的固定片、以及與所述固定片的所述燒結體接合的奈米碳管陣列片（array sheet）。
根據這樣的結構，因為奈米碳管接合片具備奈米碳管陣列片，因此能夠在使奈米碳管接合片與物件物接觸時，使奈米碳管陣列片的多個CNT追隨物件物表面的微小的凹凸。
另外，因為奈米碳管陣列片與固定片的燒結體接合，因此能夠抑制奈米碳管陣列片具有的CNT從固定片脫落。
本發明（2）包含上述（1）所述的奈米碳管接合片，所述無機物包含矽和/或鈦，所述燒結體包含所述奈米碳管陣列片具有的碳與所述固定片含有的矽和/或鈦的燒結體。
根據這樣的結構，因為燒結體包含奈米碳管陣列片具有的碳與固定片含有的矽和/或鈦的燒結體，因此能夠提高奈米碳管陣列片與燒結體的親和性，能夠使奈米碳管陣列片與燒結體切實地接合。因此，能夠切實地抑制奈米碳管陣列片具有的CNT從固定片脫落。
本發明（3）包含上述（1）或（2）所述的奈米碳管接合片，奈米碳管陣列片的與所述燒結體接合的端部埋入所述燒結體。
根據這樣的結構，因為奈米碳管陣列片的端部埋入燒結體，因此能夠進一步更切實地抑制奈米碳管陣列片具有的CNT從固定片脫落。
本發明（4）包含上述（1）至（3）中任一項所述的奈米碳管接合片，所述奈米碳管陣列片的平均體積密度為50mg/cm3 以上。
根據這樣的結構，因為奈米碳管陣列片的平均體積密度在上述下限以上，因此能夠提高奈米碳管陣列片的導熱率，進而，能夠提高奈米碳管接合片的導熱率。
然而，在利用化學氣相沉積使奈米碳管陣列在基板的兩面生長的情況下，難以使奈米碳管陣列的平均體積密度在上述下限以上。
另一方面，根據上述的結構，因為從生長基板剝離的奈米碳管陣列片與固定片的燒結體接合，因此能夠在將奈米碳管陣列片從生長基板剝離後對該奈米碳管陣列片進行高密度化處理。因此，能夠使奈米碳管陣列片的平均體積密度在上述下限以上。
本發明（5）包含奈米碳管接合片的製造方法，該奈米碳管接合片的製造方法包含準備由無機物的燒結體形成的固定片的程序；使垂直取向奈米碳管在生長基板上生長的程序；從所述生長基板剝離所述垂直取向奈米碳管而獲得奈米碳管陣列片的程序；在所述奈米碳管陣列片與所述固定片之間配置金屬薄膜的程序；將配置有所述金屬薄膜的所述奈米碳管陣列片及所述固定片在真空下或非活性氣氛下燒成的程序。
根據這樣的方法，將金屬薄膜配置於從生長基板剝離的奈米碳管陣列片、與由無機物的燒結體形成的固定片之間，然後對它們進行燒成，從而能夠使奈米碳管陣列片與固定片牢固地接合。
因此，是一種簡易的方法，且能夠高效地製造奈米碳管接合片，該奈米碳管接合片具備與固定片的燒結體接合的奈米碳管陣列片。
本發明（6）包含奈米碳管接合片的製造方法，該奈米碳管接合片的製造方法包含準備含有無機粒子的樹脂片材的程序；使垂直取向奈米碳管在生長基板上生長的程序；從所述生長基板剝離所述垂直取向奈米碳管而獲得奈米碳管陣列片的程序；在所述樹脂片材上配置所述奈米碳管陣列片的程序；將配置有所述奈米碳管陣列片的所述樹脂片材在真空下或非活性氣氛下燒成的程序。
根據這樣的方法，將從生長基板剝離的奈米碳管陣列片配置到含有無機粒子的樹脂片材上，然後進行燒成，從而能夠使無機粒子成為燒結體，能夠形成固定片。並且，能夠使奈米碳管陣列片與固定片的燒結體接合。
因此，是一種簡易的方法，且能夠高效地製造奈米碳管接合片，該奈米碳管接合片具備與固定片的燒結體接合的奈米碳管陣列片。
本發明（7）包含奈米碳管接合片的製造方法，該奈米碳管接合片的製造方法包含使垂直取向奈米碳管在生長基板上生長的程序；從所述生長基板剝離所述垂直取向奈米碳管而獲得奈米碳管陣列片的程序；向所述奈米碳管陣列片塗布含有無機粒子的膏的程序；將塗布有所述膏的奈米碳管陣列片在真空下或非活性氣氛下燒成的程序。
根據這樣的方法，將含有無機粒子的膏塗布於從生長基板剝離的奈米碳管陣列片，然後進行燒成，從而能夠使無機粒子成為燒結體，能夠形成固定片。並且，能夠使奈米碳管陣列片與固定片的燒結體接合。
因此，是一種簡易的方法，且能夠高效地製造奈米碳管接合片，該奈米碳管接合片具備與固定片的燒結體接合的奈米碳管陣列片。
（三）有益效果
本發明的奈米碳管接合片能夠追隨物件物表面的微小的凹凸，並且能夠抑制CNT脫落。
本發明的奈米碳管接合片的製造方法是一種簡易的方法，且能夠高效地製造上述的奈米碳管接合片。
本發明的奈米碳管接合片（以下稱為CNT接合片）具備：由無機物的燒結體形成的固定片、以及與固定片的燒結體接合的奈米碳管陣列片。奈米碳管陣列片只要與固定片接合即可，例如與固定片的表面及背面的至少任意一方接合。
下面，對作為本發明的CNT接合片的第一實施方式的導熱性片材1進行說明。
1. 第一實施方式
（1）導熱性片材的結構
如第1A圖所示，導熱性片材1（CNT接合片的一例）具備固定片2、以及兩個奈米碳管陣列片3（以下稱為CNT陣列片3）。
固定片2呈片材形狀（平板形狀），具體而言，固定片2具有規定的厚度並在與其厚度方向垂直的面方向（縱向及橫向）上延伸，且具有平坦的表面2A（厚度方向的一側的面）以及平坦的背面2B（厚度方向另一側的面）。
固定片2的厚度，例如較佳為10μm以上，更佳為50μm以上，例如較佳為500μm以下，更佳為300μm以下。
固定片2由無機物的燒結體形成。具體而言，固定片2是無機物的粒子藉由燒結彼此接合而形成的陶瓷片。此外，在第1A圖中將無機物的燒結體表示為燒結體4。
作為無機物，例如可舉出金屬（例如鈦、矽、鎢等）、無機氧化物（例如二氧化矽、氧化鋁、氧化鈦、氧化鋅、氧化鎂等）、無機氮化物（例如氮化鋁、氮化硼、氮化矽等）、無機碳化物（例如碳化矽、碳化鈦、碳化鎢等）。這樣的無機物可以單獨使用或兩種以上並用。
這樣的無機物根據導熱性片材1的用途適當地選擇。此外，在第一實施方式中，對無機物為無機碳化物的情況進行詳述。作為無機碳化物，較佳地可舉出含有矽和/或鈦的無機碳化物、即碳化矽以及碳化鈦。
固定片2具有電絕緣性，固定片2的厚度方向的電阻（導電電阻），在25℃下例如較佳為103Ω以上，更佳為104Ω以上，例如較佳為108Ω以下。
另外，固定片2的導熱率，在厚度方向上例如較佳為2W/（m・K）以上，更佳為5W/（m・K）以上。
如第3C圖所示，CNT陣列片3從生長基板15（後述；參照第3B圖）剝離，是由多個奈米碳管6（以下稱為CNT6）形成片材形狀的奈米碳管集合體。
更詳細而言，多個CNT6在CNT陣列片3中沿CNT陣列片3的厚度方向取向，不是在厚度方向上彼此連續，而是在面方向（縱向及橫向）上彼此連續地排列成片材形狀。
即，奈米碳管陣列片3（CNT陣列片3）形成為使得沿規定方向取向的多個奈米碳管6（CNT6）在與奈米碳管6的取向方向垂直的方向上彼此連續地呈片材形狀。
由此，CNT陣列片3在從生長基板15（後述）剝離的狀態下以多個CNT6在面方向上彼此接觸的方式保持形狀。另外，CNT陣列片3具有撓性。此外，在多個CNT6中的彼此相鄰的CNT6之間作用有範德瓦耳斯力。
CNT6可以是單層奈米碳管、雙層奈米碳管以及多層奈米碳管中的任一種，較佳為多層奈米碳管。多個CNT6可以僅含有單層奈米碳管、雙層奈米碳管以及多層奈米碳管中的任一種，也可以包含單層奈米碳管、雙層奈米碳管以及多層奈米碳管中的任意兩種以上。
CNT6的平均外徑，例如較佳為1nm以上，更佳為5nm以上，例如較佳為100nm以下，更佳為50nm以下，尤其較佳為20nm以下。
CNT6的平均長度（取向方向的平均尺寸），例如較佳為10μm以上，更佳為50μm以上，例如較佳為1000μm以下，更佳為500μm以下，尤其較佳為200μm以下。此外，CNT的平均外徑及平均長度，例如藉由電子顯微鏡觀察等公知的方法進行測定。
在CNT陣列片3中，多個CNT6的平均體積密度，例如較佳為10mg/cm3 以上，更佳為50mg/cm3 以上，尤其較佳為100mg/cm3 以上，例如較佳為500mg/cm3 以下，更佳為300mg/cm3 以下，尤其較佳為200mg/cm3 以下。此外，CNT6的平均體積密度例如由單位面積的質量（單位面積重量：單位 mg/cm2 ）、奈米碳管的平均長度（利用SEM（日本電子株式會社制）或非接觸膜厚計（KEYENCE株式會社制）進行測定）算出。
CNT陣列片3的G/D比，例如較佳為1以上，更佳為2以上，更佳為5以上，最佳為10以上，例如較佳為20以下，更佳為15以下。
G/D比是指在奈米碳管的拉曼光譜中在1590cm-1 附近觀測到的被稱為G譜帶的峰值的光譜強度相對於在1350cm-1 附近觀測到的被稱為D譜帶的峰值的光譜強度的比。
此外，D譜帶的光譜來源於奈米碳管的缺陷，G譜帶的光譜來源於碳的六元環的面內振動。
CNT陣列片3的厚度方向的電阻（導電電阻），在25℃下例如較佳為1Ω以下，更佳為0.1Ω以下。
CNT陣列片3的導熱率，在厚度方向上例如較佳為1W/（m・K）以上，更佳為2W/（m・K）以上，更佳為10W/（m・K）以上，最佳為30W/（m・K）以上，例如較佳為60W/（m・K）以下，更佳為40W/（m・K）以下。並且，如第1A圖所示，CNT陣列片3藉由在固定片2的表面2A及背面2B這兩面與無機物的燒結體4接合而被支承於固定片2。
即，兩個CNT陣列片3在固定片2的表面2A及背面2B各接合一個，以在厚度方向上夾持固定片2的方式配置。
此外，在將兩個CNT陣列片3彼此區別時，將與固定片2的表面2A接合的CNT陣列片3設為第一CNT陣列片3A，將與固定片2的背面2B接合的CNT陣列片3設為第二CNT陣列片3B。
另外，CNT陣列片3的固定片2側的端部埋入固定片2的燒結體4並接合，CNT陣列片3的與固定片2相反側的端部成為自由端。即，CNT陣列片3的與燒結體4接合的端部埋入固定片2的燒結體4。
更詳細而言，第一CNT陣列片3A的另一側的端部，在固定片2的表面2A埋入燒結體4並接合，第一CNT陣列片3A的一側的端部成為自由端。另外，第二CNT陣列片3B的一側的端部，在固定片2的背面2B埋入燒結體4並接合，第二CNT陣列片3B的另一側的端部成為自由端。此外，CNT陣列片3的厚度方向與固定片2的厚度方向彼此一致，各CNT陣列片3的CNT6沿著固定片2的厚度方向延伸。
這樣的導熱性片材1的厚度方向的電阻（導電電阻），例如較佳為103Ω以上，更佳為104Ω以上，例如較佳為107Ω以下，更佳為106Ω以下。
導熱性片材1的導熱率，在厚度方向上例如較佳為1W/（m・K）以上，更佳為2W/（m・K）以上，更佳為10W/（m・K）以上，更佳為25W/（m・K）以上，最佳為50W/（m・K）以上，例如較佳為300W/（m・K）以下，更佳為100W/（m・K）以下。（2）CNT接合片的製造方法。
接下來，對導熱性片材1（CNT接合片的一例）的製造方法的一個實施方式進行說明。
為了製造導熱性片材1，如第4C圖所示，首先，準備由無機碳化物的燒結體形成的固定片2（準備程序）。
另外，除了固定片2之外還另行準備CNT陣列片3。
為了準備CNT陣列片3，如第2A至2C圖所示，例如藉由化學氣相生長法（CVD法）使垂直取向奈米碳管19（Vertically Aligned carbon nanotubes；以下稱為VACNTs19）在生長基板15上生長（CNT生長程序）。
詳細而言，如第2A圖所示，首先準備生長基板15。生長基板15沒有特別限定，例如可舉出CVD法中採用的公知的基板，能夠使用市售產品。
作為生長基板15，例如可舉出矽基板、層疊有二氧化矽膜17的不銹鋼基板16等，較佳地可舉出層疊有二氧化矽膜17的不銹鋼基板16。此外，在第2A至3C圖中，示出了生長基板15為層疊二氧化矽膜17的不銹鋼基板16的情況。
並且，如第2A圖所示，在生長基板15上，較佳在二氧化矽膜17上形成催化劑層18。為了在生長基板15上形成催化劑層18，利用公知的成膜方法使金屬催化劑在生長基板15（較佳在二氧化矽膜17）上成膜。
作為金屬催化劑，例如可舉出鐵、鈷、鎳等，較佳地可舉出鐵。這樣的金屬催化劑可以單獨使用或兩種以上並用。作為成膜方法，例如可舉出真空蒸鍍以及濺鍍，較佳地可舉出真空蒸鍍。
由此，在生長基板15上配置催化劑層18。此外，在生長基板15為層疊有二氧化矽膜17的不銹鋼基板16的情況下，例如也能夠像日本專利公開2014-94856號公報記載的那樣，將二氧化矽前驅體溶液與金屬催化劑前驅體溶液混合而成的混合溶液塗布於不銹鋼基板16，然後對混合液進行分相，接下來進行乾燥，從而同時地形成二氧化矽膜17以及催化劑層18。
接下來，如第2B圖所示，對配置有催化劑層18的生長基板15，在例如700℃以上900℃以下加熱。由此，催化劑層18凝集成為多個粒狀體18A。
並且，如第2C圖所示，向加熱後的生長基板15供給原料氣體。原料氣體包含碳數為1至4的烴氣體（低級烴氣體）。作為碳數為1至4的烴氣體，例如可舉出甲烷氣體、乙烷氣體、丙烷氣體、丁烷氣體、乙烯氣體、乙炔氣體等，較佳地可舉出乙炔氣體。
另外，根據需要，原料氣體也可以包含氫氣、非活性氣體（例如氦、氬等）、水蒸氣等。
作為原料氣體的供給時間，例如較佳為1分鐘以上，更佳為5分鐘以上，例如較佳為60分鐘以下，更佳為30分鐘以下。
由此，分別以多個粒狀體18A為起點來生長多個CNT6。此外，為了方便，在第2C圖中，以從一個粒狀體18A生長一個CNT6的方式進行了記載，但是並不限定於此，也可以從一個粒狀體18A生長多個CNT6。
多個CNT6在生長基板15上以彼此大致平行的方式沿生長基板15的厚度方向（上下方向）延伸。即，多個CNT6以與生長基板15垂直的方式取向（垂直地取向）。
由此，VACNTs19在生長基板15上生長。
如第3C圖所示，VACNTs19在橫向上具備多個將多個CNT6在縱向上直線地排列而成的列19A。在VACNTs19中，多個CNT6密集於面方向（縱向及橫向）。
接下來，如第3A及3B圖所示，從生長基板15剝離VACNTs19（剝離程序）。
為了將VACNTs19從生長基板15剝離，例如使切割刀20沿著生長基板15的上表面滑行移動，將多個CNT6的基端部（生長基板15側端部）一併切斷。由此，將VACNTs19從生長基板15分離。
作為切割刀20，例如可舉出切割刀、剃刀等的公知的金屬刀，較佳地可舉出切割刀。
接下來，如第3B圖所示，將分離的VACNTs19從生長基板15提起。由此，將VACNTs19從生長基板15剝離而獲得CNT陣列片3。另外，藉由重複上述的程序來準備兩個CNT陣列片3，具體而言，是準備第一CNT陣列片3A以及第二CNT陣列片3B。
這樣的CNT陣列片3能夠直接應用於導熱性片材1，但是由於平均體積密度相對較低，因此從提高導熱率的觀點出發，較佳進行高密度化處理（高密度化程序）。
作為高密度化處理，例如可舉出對CNT陣列片3進行加熱處理的方法（參照第4A及4B圖）、向CNT陣列片3供給揮發性液體的方法。
為了對CNT陣列片3進行加熱處理，例如像第4A圖所示那樣，將CNT陣列片3收容於耐熱容器45，並配置到加熱爐內。
耐熱容器45是耐熱溫度超過2600℃的耐熱容器，例如可舉出由碳形成的碳容器、由陶瓷形成的陶瓷容器等公知的耐熱容器。在這樣的耐熱容器中，較佳地可舉出碳容器。
作為加熱爐，例如可舉出電阻加熱爐、感應加熱爐、直通電型電爐等，較佳地可舉出電阻加熱爐。另外，加熱爐可以是分批式，也可以是連續式。
接下來，使非活性氣體流入到加熱爐內，將加熱爐內置換為非活性氣體氣氛。作為非活性氣體，例如可舉出氮、氬等，較佳地可舉出氬。
接下來，使加熱爐內的溫度以規定的升溫速度上升至加熱溫度，然後保持溫度，放置規定的時間。
作為升溫速度，例如較佳為1℃/分鐘以上，更佳為5℃/分鐘以上，例如較佳為40℃/分鐘以下，更佳為20℃/分鐘以下。
作為加熱溫度，例如較佳為2600℃以上，更佳為2700℃以上，最佳為2800℃以上。如果加熱溫度在上述下限以上，則能夠在CNT陣列片3中使多個CNT6切實地密集。
另外，作為加熱溫度，只要低於CNT6的昇華溫度即可，較佳為3000℃以下。如果加熱溫度在上述上限以下，則能夠抑制CNT6昇華。
作為規定的時間，例如較佳為10分鐘以上，更佳為1小時以上，例如較佳為5小時以下，更佳為3小時以下。
另外，CNT陣列片3較佳在無負荷的狀態下（沒有載荷作用於CNT陣列片3的狀態下、即大氣壓下）進行加熱處理。為了在無負荷的狀態下對CNT陣列片3進行加熱處理，如第4A圖所示，將CNT陣列片3以與耐熱容器45的蓋部以及側壁空出間隔的方式收容在耐熱容器45內。
如上所述，對CNT陣列片3進行加熱處理。若對CNT陣列片3進行加熱處理，則在CNT陣列片3中，構成多個CNT6的石墨烯的結晶性提高，CNT6的取向性（直線性）提高。於是，在CNT陣列片3中，彼此相鄰的CNT6因作用於它們之間的範德瓦耳斯力等而以保持取向性（直線性）的狀態不變地呈束狀密集。
由此，CNT陣列片3的整體均勻地密集，CNT陣列片3高密度化。然後，根據需要使CNT陣列片3冷卻（例如自然冷卻）。
加熱處理後的CNT陣列片3的厚度，由於多個CNT6保持取向性（直線性）不變地密集，因此與加熱處理前的CNT陣列片3的厚度基本相同。更具體而言，加熱處理後的CNT陣列片3的厚度，相對於加熱處理前的CNT陣列片3的厚度，例如較佳為95%以上105%以下，更佳為100%。
另外，加熱處理後的CNT陣列片3的體積相對於加熱處理前的CNT陣列片3的體積，例如較佳為10%以上，更佳為30%以上，例如較佳為70%以下，更佳為50%以下。
另外，加熱處理後的CNT陣列片3的G/D比，例如較佳為2以上。
為了向CNT陣列片3供給揮發性的液體，例如向CNT陣列片3噴射揮發性的液體，或者將CNT陣列片3浸漬於揮發性的液體。
作為揮發性的液體，例如可舉出水、有機溶劑等。作為有機溶劑，例如可舉出低級（C1至3）醇類（例如甲醇、乙醇、丙醇等）、酮類（例如丙酮等）、醚類（例如二乙醚、四氫呋喃等）、烷基酯類（例如乙酸乙酯等）、鹵代脂肪族烴類（例如氯仿、二氯甲烷等）、極性非質子類（例如N-甲基毗咯烷酮、二甲基甲醯胺等）等。
在這樣的揮發性的液體中，較佳地可舉出水。這樣的揮發性的液體可以單獨使用或兩種以上並用。
若向CNT陣列片3供給揮發性的液體，則會由於揮發性的液體發生汽化，使得多個CNT6彼此密集，CNT陣列片3的密度提高。
此外，這樣高密度化處理至少實施一次，也可以重複多次。可以將同一高密度化處理重複多次，也可以將多種高密度化處理組合起來實施。例如，可以只是將上述的加熱處理重複多次，也可以將上述的加熱處理與上述的液體供給處理組合起來實施。
在高密度化處理後的CNT陣列片3中，多個CNT6的平均體積密度，例如較佳為50mg/cm3 以上，厚度方向的電阻（導電電阻），在25℃下例如較佳為1Ω以上，導熱率在厚度方向上例如較佳為10W/（m・K）以上。
如上所述，準備由無機碳化物的燒結體形成的固定片2、以及兩個CNT陣列片3。
接下來，如第4C圖所示，在固定片2與CNT陣列片3之間配置金屬薄膜30（薄膜配置程序）。為了在固定片2與CNT陣列片3之間配置金屬薄膜30，首先，在兩個CNT陣列片3上分別形成金屬薄膜30（薄膜形成程序）。
更具體而言，在第一CNT陣列片3A的厚度方向另一側的面形成金屬薄膜30，在第二CNT陣列片3B的厚度方向的一側的面形成金屬薄膜30。
為了在CNT陣列片3上形成金屬薄膜30，例如在CNT陣列片3上蒸鍍金屬。作為金屬，可舉出上述的金屬。在這樣的金屬中，從親和性的觀點出發，較佳地可舉出與固定片2的無機碳化物含有的金屬元素相同的金屬。例如，在固定片2的無機碳化物為碳化鈦時，作為金屬薄膜30的金屬，較佳地可舉出鈦，在固定片2的無機碳化物為碳化矽的情況下，作為金屬薄膜30的金屬較佳地可舉出矽。
即，作為固定片2的無機碳化物與金屬薄膜30的金屬的組合，較佳地可舉出碳化鈦與鈦的組合、以及碳化矽與矽的組合。
接下來，以金屬薄膜30與固定片2接觸的方式，在固定片2的表面2A及背面2B這兩面配置CNT陣列片3。
更具體而言，在固定片2的表面2A，以與第一CNT陣列片3A的金屬薄膜30接觸的方式配置第一CNT陣列片3A，在固定片2的背面2B，以與第二CNT陣列片3B的金屬薄膜30接觸的方式配置第二CNT陣列片3B。由此，以第一CNT陣列片3A及第二CNT陣列片3B在厚度方向上夾持固定片2的方式進行配置，將金屬薄膜30配置在CNT陣列片3與固定片2之間。此外，金屬薄膜30的厚度，例如較佳為5nm以上1μm以下。
接下來，將配置有CNT陣列片3的固定片2（配置有金屬薄膜30的CNT陣列片3及固定片2）在真空下或非活性氣氛下燒成（燒成程序）。
為了燒成這樣的固定片2，例如將配置有CNT陣列片3的固定片2配置在上述的加熱爐內。並且，藉由公知的方法（例如真空泵等）使加熱爐內成為真空狀態，或者將加熱爐內置換為上述的非活性氣體氣氛。
真空狀態的壓力，例如較佳為100Pa以下，更佳為10Pa以下。作為非活性氣體，較佳地可舉出氬。
接下來，使加熱爐內的溫度上升至燒成溫度，然後保持溫度不變地放置規定的時間。
燒成溫度在金屬薄膜30的溶融溫度以上，低於CNT6的昇華溫度，例如較佳為1000℃以上，更佳為1500℃以上，例如較佳為2500℃以下，更佳為2000℃以下。作為燒成時間，例如較佳為1分鐘以上，更佳為5分鐘以上，例如較佳為1小時以下，更佳為30分鐘以下。
由此，在CNT陣列片3上蒸鍍的金屬薄膜30的金屬與CNT陣列片3的CNT6的碳反應，從而生成無機碳化物。
更具體而言，在固定片2的無機碳化物是碳化矽、金屬薄膜30的金屬是矽的情況下，CNT陣列片3的CNT6的碳與矽反應而生成碳化矽（無機碳化物），如第1A圖所示，碳化矽（無機碳化物）與固定片2的碳化矽（無機碳化物）的燒結體4燒結成為一體，將CNT6與固定片2接合。
因此，CNT陣列片3的CNT6藉由由反應生成的碳化矽（無機碳化物）而與燒結體4牢固地接合。
由此，CNT陣列片3（CNT6）的端部埋入燒結體4並接合。並且，CNT陣列片3被支承於固定片2。
更具體而言，第一CNT陣列片3A上的CNT6的另一側的端部，在固定片2的表面2A埋入燒結體4並接合，第二CNT陣列片3B上的CNT6的一側的端部，在固定片2的背面2B埋入燒結體4並接合。
然後，藉由冷卻，製造導熱性片材1。
這樣，在金屬薄膜30由矽形成的情況下，CNT陣列片3在燒成程序中藉由在CNT6的碳與矽的反應時伴隨的反應燒結而與燒結體4接合。在這種情況下，燒結體4包含作為CNT陣列片3具有的碳與矽的反應生成物的碳化矽（無機碳化物）。即，燒結體4包含CNT陣列片3具有的碳與固定片2所含的矽的燒結體。
另外，在固定片2的無機碳化物是碳化鈦、金屬薄膜30由鈦形成的情況下，在上述的燒成程序中，CNT陣列片3的CNT6的碳與金屬薄膜30的鈦反應而生成碳化鈦，碳化鈦與固定片2的碳化鈦的燒結體4燒結成為一體，將CNT6與固定片2接合。
即，在金屬薄膜30由鈦形成的情況下，也藉由在CNT6的碳與鈦的反應時伴隨的反應燒結，將CNT陣列片3與燒結體4接合。在這種情況下，燒結體4包含作為CNT陣列片3具有的碳與鈦的反應生成物的碳化鈦（無機碳化物）。即，燒結體4包含CNT陣列片3具有的碳與固定片2所含的鈦的燒結體。
（3）導熱性片材的使用方式
如第1B圖所示，這樣的導熱性片材1作為TIM，例如以在厚度方向上被夾持於電子器件11（物件物）與散熱部件10（物件物）之間的方式配置使用。
作為電子器件11，例如可舉出半導體元件（IC（積體電路）晶片等）、發光二極體（LED）、高輸出鐳射振盪元件、高輸出燈類、功率半導體元件等。
作為散熱部件10，例如可舉出散熱器、散熱片（heat spreader）等。
另外，在電子器件11的表面11B以及散熱部件10的表面10A形成有微小的凹凸（表面粗糙度）。這些表面粗糙度Rz（依據JIS B0601-2013的十點平均粗糙度），例如較佳為1μm以上10μm以下。
並且，在導熱性片材1中，第一CNT陣列片3A的多個CNT6追隨散熱部件10的表面10A的微小的凹凸，與散熱部件10的表面10A穩定地接觸。另外，第二CNT陣列片3B的多個CNT6追隨電子器件11的表面11B的微小的凹凸，與電子器件11的表面11B穩定地接觸。
因此，若電子器件11發熱，則從電子器件11產生的熱依次經由第二CNT陣列片3B、固定片2以及第一CNT陣列片3A而向散熱部件10傳導。
（4）作用效果
如第1B圖所示，導熱性片材1具備CNT陣列片3。因此，在使導熱性片材1與物件物（例如散熱部件10及電子器件11）接觸時，能夠使CNT陣列片3的多個CNT6追隨物件物表面的微小的凹凸。
另外，如第1A圖所示，CNT陣列片3與固定片2的燒結體4接合。因此，能夠抑制CNT陣列片3具有的CNT6從固定片2脫落的問題。
燒結體4包含CNT陣列片3具有的碳與固定片2含有的矽和/或鈦的燒結體。因此，能夠提高CNT陣列片3與燒結體4的親和性，能夠將CNT陣列片3與燒結體4切實地接合。其結果，能夠切實地抑制CNT陣列片3具有的CNT6從固定片2脫落的問題。
CNT陣列片3的端部埋入燒結體4。因此，能夠進一步更切實地抑制CNT陣列片3具有的CNT6從固定片2脫落的問題。
CNT陣列片3的平均體積密度為50mg/cm3 以上。因此，能夠提高CNT陣列片3的導熱率，進而，能夠提高導熱性片材1的導熱率。
另外，從生長基板15剝離的CNT陣列片3，與固定片2的燒結體4接合，因此能夠在將CNT陣列片3從生長基板15剝離後，對CNT陣列片3進行高密度化處理。因此，能夠使CNT陣列片3的平均體積密度在上述下限以上。
另外，在從生長基板15剝離的CNT陣列片3上形成金屬薄膜30，然後將CNT陣列片3配置到由無機物的燒結體4形成的固定片2上，然後進行燒成，從而能夠使CNT陣列片3與固定片2牢固地接合。
因此，是一種簡易的方法，且能夠高效率製造導熱性片材1，導熱性片材1具備與固定片2的燒結體4接合的CNT陣列片3。
此外，在上述的導熱性片材的製造方法中，在薄膜配置程序中，在CNT陣列片3上形成金屬薄膜30，將CNT陣列片3配置於固定片2，但是並不限定於此，也可以在固定片2上形成金屬薄膜30，然後在金屬薄膜30上配置CNT陣列片3。由此，也可以將金屬薄膜30配置在CNT陣列片3與固定片2之間。
2. 第二實施方式
在第一實施方式中，如第4C圖所示，準備由無機物的燒結體4形成的固定片2，在固定片2上配置CNT陣列片3，然後進行燒成來製造導熱性片材1，但是本發明並不限定於這樣的導熱性片材的製造方法。
在第二實施方式中，如第5A圖所示，準備含有無機粒子8的樹脂片材7，在樹脂片材7上配置CNT陣列片3，然後進行燒成來製造導熱性片材1。此外，在第二實施方式中，對於與上述第一實施方式相同的部件標注相同的圖式標記並省略對它們的說明。
更詳細而言，如第5A圖所示，首先準備含有無機粒子8的樹脂片材7。
樹脂片材7呈片材形狀（平板形狀），具有平坦的表面7A（厚度方向的一側的面）以及平坦的背面7B（厚度方向另一側的面）。樹脂片材7由樹脂材料形成。即，樹脂片材7含有樹脂材料和無機粒子8。作為樹脂材料，可舉出熱固性樹脂、熱塑性樹脂。
熱固性樹脂是固化體（固化後的熱固性樹脂），例如可舉出環氧樹脂、聚醯亞胺樹脂、酚醛樹脂、尿素樹脂、三聚氰胺樹脂、不飽和聚酯樹脂、熱固性彈性體（例如硫化橡膠、矽橡膠、丙烯酸橡膠等）等。
作為熱塑性樹脂，例如可舉出聚酯（例如聚對苯二甲酸乙二醇酯等）、聚烯烴（例如聚乙烯、聚丙烯等）、聚醯胺、聚苯乙烯、聚氯乙烯、聚乙烯醇（PVA）、聚偏二氯乙烯、聚丙烯腈、聚氨酯、氟類聚合物（例如聚四氟乙烯（PTFE）、聚氟乙烯、聚偏氟乙烯等）、熱塑性彈性體（例如烯烴類彈性體（例如乙烯-丙烯橡膠、乙烯-丙烯-二烯橡膠等）、苯乙烯類彈性體、氯乙烯類彈性體等）等。
在這樣的樹脂材料中，較佳地可舉出熱塑性樹脂，更佳地可舉出PVA及氟類聚合物，最佳地可舉出PVA。這樣的樹脂材料可以單獨使用或兩種以上並用。
樹脂片材7的厚度，例如較佳為5μm以上，更佳為10μm以上，例如較佳為300μm以下，更佳為100μm以下。
無機粒子8是由上述的無機物形成的粒子。無機粒子8可以由一種無機物的粒子構成，也可以由兩種以上的無機物的粒子構成。
無機粒子8的平均粒徑，例如較佳為0.1μm以上，更佳為1μm以上，例如較佳為20μm以下，更佳為10μm以下。
另外，無機粒子8的含量比例，相對於樹脂片材7的總量，例如較佳為5質量%以上，更佳為10質量%以上，例如較佳為50質量%以下，更佳為40質量%以下。
接下來，將與第一實施方式同樣地準備的CNT陣列片3配置於樹脂片材7的表面7A及背面7B這兩面。並且，將配置有CNT陣列片3的樹脂片材7與第一實施方式同樣地在真空下或非活性氣氛下燒成（燒成程序）。
於是，樹脂片材7的樹脂材料燒失，無機粒子8彼此接觸，並且，CNT陣列片3上的樹脂片材7側的端部與無機粒子8接觸。
並且，彼此接觸的無機粒子8燒結，並且，CNT陣列片3的CNT6與無機粒子8燒結。由此，無機粒子8成為燒結體4，形成固定片2，CNT陣列片3（CNT6）的端部與燒結體4接合。
更詳細而言，在無機粒子8由金屬和/或無機碳化物形成的情況下，CNT陣列片3的CNT6與第一實施方式同樣地，藉由在CNT6的碳與金屬和/或無機碳化物的反應時伴隨的反應燒結，從而埋入燒結體4並進行接合。在這種情況下，燒結體4含有金屬及無機碳化物的燒結體，或僅含有無機碳化物的燒結體。
另外，在無機粒子8由無機氧化物和/或無機氮化物形成的情況下，CNT陣列片3的CNT6在物理上埋入燒結體4進行接合，不會伴隨著無機粒子8的燒結與無機粒子8發生反應。在這樣的情況下，燒結體4含有無機氧化物和/或無機氮化物的燒結體，不含無機碳化物的燒結體。
由此，兩個CNT陣列片3與第一實施方式同樣地，在固定片2的表面2A及背面2B這兩面，埋入無機物的燒結體4進行接合，被支承於固定片2。
在第二實施方式的導熱性片材1中，厚度方向的電阻（導電電阻）的範圍，與上述的導熱性片材1的厚度方向的電阻的範圍相同，導熱率的範圍與上述的導熱性片材1的導熱率的範圍相同。
根據第二實施方式，如第5A圖所示，將從生長基板15剝離的CNT陣列片3配置到含有無機粒子8的樹脂片材7上，然後進行燒成，使無機粒子8形成燒結體4。由此，能夠如第1A圖所示那樣形成固定片2，能夠使CNT陣列片3與固定片2的燒結體4接合。
因此，是一種簡易的方法，且能夠高效地製造導熱性片材1，導熱性片材1具備與固定片2的燒結體4接合的CNT陣列片3。
藉由第二實施方式，也能夠獲得與上述的第一實施方式同樣的作用效果。
3. 第三實施方式
接下來，參照第5B及5C圖對第三實施方式進行說明。此外，對於和上述第一實施方式及第二實施方式相同的部件標注相同的圖式標記並省略對它們的說明。
在上述的第二實施方式中，準備含有無機粒子8的樹脂片材7，將CNT陣列片3配置於樹脂片材7的兩面，然後對樹脂片材7加熱，將無機粒子8燒結，從而製造導熱性片材1，但是本發明並不限定於這樣的導熱性片材的製造方法。
在第三實施方式中，首先，如第5B圖所示，準備含有無機粒子8的膏（膏準備程序）。
詳細而言，膏含有上述的樹脂材料和無機粒子8。為了準備這樣的膏，使無機粒子8在樹脂溶液中分散。
無機粒子8的含量比例，相對於膏總量，例如較佳為5質量%以上，更佳為10質量%以上，例如較佳為50質量%以下，更佳為40質量%以下。
樹脂溶液是將上述的樹脂材料溶解於溶劑（例如水、有機溶劑等）而成的溶液。作為樹脂材料，較佳地可舉出熱塑性樹脂，更地可舉出PVA。
接下來，在與上述的第一實施方式同樣地準備的第二CNT陣列片3B（CNT陣列片3）的厚度方向的一側的面上塗布膏，形成膏層40（塗布程序）。因此，膏層40含有樹脂材料以及無機粒子8。
膏層40的厚度，例如較佳為10μm以上，更佳為20μm以上，例如較佳為3mm以下，更佳為200μm以下，最佳為100μm以下。
並且，如第5C圖所示，將第一CNT陣列片3A（CNT陣列片3）配置於膏層40的表面40A（厚度方向的一側的面）。
由此，膏層40被夾持在第一CNT陣列片3A與第二CNT陣列片3B之間。換言之，是將CNT陣列片3（第一CNT陣列片3A及第二CNT陣列片3B）配置於膏層40的表面40A及背面40B這兩面。
並且，將配置有CNT陣列片3的膏層40（塗布了膏的CNT陣列片3）在真空下或非活性氣氛下加熱，燒成無機粒子8（燒成程序）。此外，燒成溫度及燒成時間的範圍與上述的第一實施方式相同。
由此，樹脂片材7的樹脂材料也會燒失，無機粒子8彼此接觸，並且，CNT陣列片3上的樹脂片材7側的端部與無機粒子8接觸。並且，彼此接觸的無機粒子8燒結，並且，CNT陣列片3的CNT6埋入燒結體4進行接合。
即，在從生長基板15剝離的CNT陣列片3上塗布含有無機粒子8的膏，然後進行燒成，從而使無機粒子8形成燒結體4。由此，能夠形成固定片2，能夠使CNT陣列片3與固定片2的燒結體4接合。
因此，是一種簡易的方法，且能夠高效地製造導熱性片材1，導熱性片材1具備與固定片2的燒結體4接合的CNT陣列片3。
另外，由此也能夠獲得與上述的第一實施方式及第二實施方式同樣的作用效果。
4. 變形例
在第一實施方式及第二實施方式中，導熱性片材1具備與固定片2的表面2A及背面2B這兩面接合的CNT陣列片3，但是並不限定於此。也可以是如第6圖所示那樣，導熱性片材1在固定片2的表面2A及背面2B的至少任意一方上具備與固定片2的燒結體4接合的CNT陣列片3即可。
在第一實施方式及第二實施方式中，將高密度化處理後的CNT陣列片3用於導熱性片材1的製造，但是並不限定於此，CNT陣列片3也可以在從生長基板15剝離後不經高密度化處理即用於導熱性片材1的製造。
在這種情況下，CNT陣列片3在燒成程序中與固定片2的燒結體4接合，並且高密度化。CNT陣列片3上的多個CNT6的平均體積密度例如為50mg/cm3 以上。
在第一實施方式及第二實施方式中，作為CNT陣列片3的高密度化處理，可舉出加熱處理及液體供給處理，但是CNT陣列片3的高密度化處理並不限定於此，也可以藉由機械性壓縮使CNT陣列片3高密度化。
例如第7A及7B圖所示那樣，將生長基板15上的VACNTs19用兩張推壓板46壓縮來製備高密度化的CNT陣列片3。
更詳細而言，是將兩張推壓板46以夾持VACNTs19的方式配置，然後使兩張推壓板46以彼此靠近的方式滑動，將VACNTs19壓縮。於是，VACNTs19的多個CNT6從對應的粒狀體18A脫離，以彼此接觸的方式被壓縮。
由此，也能夠使VACNTs19從生長基板15分離，能夠準備高密度化的CNT陣列片3。
另外，固定片2也可以含有在燒成程序中因上述的樹脂材料的石墨化而生成的石墨（graphite）。在這種情況下，石墨的含量比例，相對於固定片2的總量，例如較佳為10質量%以上50質量%以下。
在第一實施方式至第三實施方式中，固定片2具有電絕緣性，導熱性片材1構成為電絕緣性片材，但是並不限定於此，也可以使固定片2形成為具有導電性，使導熱性片材1構成為導電性片材。
另外，在導熱性片材1為導電性片材時，也可以使無機微粒子分散到在CNT陣列片3的高密度化處理中供給的揮發性的液體中。
作為無機微粒子，可舉出碳微粒子（例如炭黑、無定形碳等）、金屬微粒子、具有導電性的陶瓷微粒子等。這樣的無機微粒子可以單獨使用或兩種以上並用。
在這種情況下，無機微粒子均勻地附著於CNT陣列片3。由此，能夠根據導熱性片材1的用途使CNT陣列片3適當地具備滿足要求的特性。
在第一實施方式至第三實施方式中，對CNT接合片為導熱性片材1的情況進行了詳述，但是CNT接合片的用途並不限定於導熱性片材。作為CNT接合片的用途，例如可舉出黏接片、防振材料、絕熱材料等。
藉由這些變形例，也能夠獲得與上述的第一實施方式至第三實施方式同樣的作用效果。另外，這些第一實施方式至第三實施方式以及變形例能夠適當地組合。
實施例
以下示出實施例，對本發明更加具體地進行說明，但是本發明並不限定於這些實施例。在以下的記載中採用的配合比例（含量比例）、物性值、參數等的具體的數值，可以被在上述的“具體實施方式”中記載的相對應的配合比例（含量比例）、物性值、參數等相應記載的上限值（定義為“以下”、“不足”的數值）或下限值（定義為“以上”、“超過”的數值）代替。
（實施例1）
在不銹鋼制的生長基板（不銹鋼基板）的表面層疊二氧化矽膜，然後在二氧化矽膜上作為催化劑層蒸鍍鐵。
接下來，將生長基板加熱至規定的溫度，向催化劑層供給原料氣體（乙炔氣體）。由此，在生長基板上形成俯視觀察大致呈矩形形狀的VACNTs。
在VACNTs中，多個CNT以彼此大致平行的方式延伸，以與生長基板垂直的方式取向（垂直取向）。CNT是多層奈米碳管，CNT的平均外徑約為12nm，CNT的平均長度約為80μm，VACNTs的體積密度約為50mg/cm3 。
接下來，使切割刀（切刀）沿著生長基板移動，將VACNTs從生長基板切下，準備CNT陣列片。
接下來，將CNT陣列片收容於耐熱容器即碳容器，將碳容器配置於電阻加熱爐（高溫加熱爐）內。
接下來，將電阻加熱爐內置換為氬氣氛，然後以10℃/分鐘升溫至2800℃，在2800℃下保持2小時。由此，使CNT陣列片高密度化，然後，藉由自然冷卻，冷卻制至室溫。
高密度化的CNT陣列片的體積密度約為100mg/cm3 ，CNT陣列片的厚度方向的電阻（導電電阻）在25℃時為0.1Ω，CNT陣列片的導熱率在厚度方向上約為30W/（m・K）。
並且，與上述同樣地準備了兩個高密度化的CNT陣列片。
接下來，在兩個CNT陣列片各自的一面上藉由蒸鍍形成厚度為20nm的矽薄膜（金屬薄膜）。
接下來，準備厚度為100μm的由碳化矽的燒結體形成的陶瓷片（固定片）。
並且，以矽薄膜與陶瓷片接觸的方式將CNT陣列片配置於固定片的表面及背面這兩面。
接下來，將配置有CNT陣列片的陶瓷片配置於電阻加熱爐（高溫加熱爐）內，在非活性氣體氣氛中，在1700℃下加熱15分鐘。
由此，CNT的碳與蒸鍍的矽反應而生成碳化矽，並且，碳化矽與陶瓷片藉由燒結而接合。然後進行冷卻，獲得導熱性片材。
（實施例2）
準備了由PVA形成且分散有矽粒子（無機粒子）的樹脂片材。此外，矽粒子的平均一次粒徑為2μm，矽粒子的含量比例相對於樹脂片材總量為20質量%。另外，PVA的含量比例相對於樹脂片材總量為80質量%。
接下來，將與實施例1同樣地準備的CNT陣列片配置於樹脂片材的表面及背面這兩面。接下來，將配置有CNT陣列片的樹脂片材配置於電阻加熱爐（高溫加熱爐）內，在非活性氣體氣氛中，在1700℃下加熱15分鐘。
由此，樹脂片材的PVA燒失，並且CNT的碳與樹脂片材的矽粒子反應而生成碳化矽，碳化矽與矽粒子形成燒結體，從而形成了固定片。即，固定片含有碳化矽與矽的燒結體。固定片的厚度為100μm。
然後進行冷卻，獲得導熱性片材。
（實施例3）
使矽粒子（無機粒子）在PVA溶解於水（溶劑）而成的PVA溶液（樹脂溶液、PVA濃度：10質量%）中分散來準備膏。
此外，矽粒子的平均一次粒徑為2μm，矽粒子的含量比例相對於膏總量為20質量%。另外，PVA的含量比例相對於膏總量為80質量%。
接下來，向與實施例1同樣地準備的兩個CNT陣列片中的一個CNT陣列片塗布膏，形成厚度約為2mm的膏層。並且，將另一個CNT陣列片以膏層被夾持在兩個CNT陣列片之間的方式配置到膏層上。
然後，將配置有CNT陣列片的膏層配置於電阻加熱爐（高溫加熱爐）內，在非活性氣體氣氛中，在1700℃下加熱15分鐘。然後進行冷卻，獲得導熱性片材。此外，固定片的厚度為100μm。
（實施例4）
準備由PVA形成的分散有氮化矽粒子（無機粒子）的樹脂片材，除此以外，與實施例2同樣地獲得導熱性片材。此外，導熱性片材的固定片的厚度為100μm。
（比較例1）
在不銹鋼制的生長基板的表面及背面這兩面層疊二氧化矽膜，然後在二氧化矽膜上作為催化劑層蒸鍍鐵。
接下來，將生長基板加熱為規定的溫度，向催化劑層供給原料氣體（乙炔氣體）。由此，在基板的表面及背面這兩面形成俯視觀察大致呈矩形形狀的VACNTs。在各VACNTs中，CNT的平均外徑、CNT的平均長度、以及體積密度與實施例1是同樣的。
這樣，使在兩面配置有VACNTs的生長基板成為導熱性片材。
＜評價＞
（1）導熱率
對於由各實施例及比較例得到的導熱性片材，利用熱電阻測定裝置（商品名：T3Ster DynTIM Tester、Mentor Graphics公司制）測定熱電阻。並且，變更導熱性片材的厚度，測定多個點（例如三個點）的熱電阻，對導熱性片材的厚度以及測定的熱電阻進行圖示。根據圖示結果算出導熱性片材的導熱率。其結果在表1中示出。
（2）電阻
對於由各實施例及比較例得到的導熱性片材，利用電阻測定裝置（商品名：レジスティビティ・チェンバ（Resistivity Chamber）、ADC株式會社制）測定厚度方向的電阻。其結果在表1中示出。
（3）黏接強度試驗
對於由各實施例得到的導熱性片材，相對於CNT陣列片，將膠帶從與固定片相反側黏貼，然後將膠帶剝離。
另外，對於由比較例得到的導熱性片材，相對於VACNTs，將膠帶從與生長基板相反側黏貼，然後將膠帶剝離。
並且，按照以下的基準來評價黏接強度。結果在表1中示出。
○：未見CNT陣列片（VACNTs）顯著地從固定片（生長基板）剝離。
×：發現CNT陣列片（VACNTs）顯著地從固定片（生長基板）剝離。
表1
此外，上述發明是作為本發明的例示的實施方式而提供的，其僅為例示而不進行限定性地解釋。對於該技術領域的技術人員顯而易見的本發明的變形例均包含於權利要求書中。
工業實用性
CNT接合片能夠應用於各種工業產品，例如能夠用作導熱性材料、黏接片、防振材料、絕熱材料等。CNT接合片的製造方法適用於CNT接合片的製造，CNT接合片應用於各種工業產品。
1‧‧‧導熱性片 2‧‧‧固定片 2A‧‧‧表面 2B‧‧‧背面 3‧‧‧CNT陣列片 3A‧‧‧第一CNT陣列片 3B‧‧‧第二CNT陣列片 4‧‧‧燒結 6‧‧‧CNT 7‧‧‧樹脂片材 8‧‧‧無機粒子 15‧‧‧生長基板 19‧‧‧VACNTs
第1A圖是作為本發明的奈米碳管接合片的第一實施方式的導熱性片材的側視圖。
第1B圖是將第1A圖所示的導熱性片材配置於電子器件和散熱器之間的狀態的概略結構圖。
第2A圖是用於對使垂直取向奈米碳管（VACNTs）在生長基板上生長的程序的一個實施方式進行說明的說明圖，表示在基板上形成催化劑層的程序。
第2B圖接續第2A圖表示對基板加熱從而使催化劑層凝集成多個粒狀體的程序。
第2C圖接續第2B圖表示向多個粒狀體供給原料氣體使多個奈米碳管生長來製備VACNTs的程序。
第3A圖是用於對剝離VACNTs的程序進行說明的說明圖，表示從生長基板切斷VACNTs的程序。
第3B圖接續第3A圖表示將VACNTs從生長基板剝離而獲得奈米碳管陣列片（CNT陣列片）的程序。
第3C圖是第3B圖所示CNT陣列片的立體圖。
第4A圖是用於對使第3C圖所示的CNT陣列片高密度化的程序進行說明的說明圖，表示將CNT陣列片收容於耐熱容器內的程序。
第4B圖接續第4A圖表示對CNT陣列片進行加熱處理使CNT陣列片高密度化的程序。
第4C圖表示在第4B圖所示的高密度化的CNT陣列片上形成金屬薄膜並在固定片的表面及背面這兩面配置的程序。
第5A圖表示將第4B圖所示的高密度化的CNT陣列片在樹脂片材的表面及背面這兩面配置的程序。
第5B圖表示在第4B圖所示的高密度化的CNT陣列片上塗布膏而形成膏層的程序。
第5C圖接續第5B圖表示將CNT陣列片配置於膏層的表面的程序。
第6圖是作為本發明的奈米碳管接合片的第二實施方式的導熱性片材的側視圖。
第7A圖是用於對以機械性方式使第2C圖所示的VACNTs高密度化的程序進行說明的說明圖，表示以夾持VACNTs的方式配置推壓板的程序。
第7B圖接續第7A圖表示利用推壓板將VACNTs壓縮的程序。
1‧‧‧導熱性片
2‧‧‧固定片
2A‧‧‧表面
2B‧‧‧背面
3‧‧‧CNT陣列片
3A‧‧‧第一CNT陣列片
3B‧‧‧第二CNT陣列片
6‧‧‧CNT

Claims (7)

  1. 一種奈米碳管接合片，其具備： 由無機物的一燒結體形成的一固定片；以及 與該固定片的該燒結體接合的一奈米碳管陣列片。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之奈米碳管接合片，其中該無機物包含矽和/或鈦，該燒結體包含該奈米碳管陣列片具有的碳與該固定片含有的矽和/或鈦的該燒結體。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之奈米碳管接合片，其中該奈米碳管陣列片的與該燒結體接合的端部埋入該燒結體。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之奈米碳管接合片，其中該奈米碳管陣列片的平均體積密度為50mg/cm3 以上。
  5. 一種奈米碳管接合片的製造方法，其包含： 準備由無機物的一燒結體形成的一固定片的程序； 使垂直取向奈米碳管在一生長基板上生長的程序； 從該生長基板剝離該垂直取向奈米碳管而獲得一奈米碳管陣列片的程序； 在該奈米碳管陣列片與該固定片之間配置一金屬薄膜的程序；以及 將配置有該金屬薄膜的該奈米碳管陣列片及該固定片在真空下或非活性氣氛下燒成的程序。
  6. 一種奈米碳管接合片的製造方法，其包含： 準備含有無機粒子的一樹脂片材的程序； 使垂直取向奈米碳管在一生長基板上生長的程序； 從該生長基板剝離該垂直取向奈米碳管而獲得一奈米碳管陣列片的程序； 在該樹脂片材上配置該奈米碳管陣列片的程序；以及 將配置有該奈米碳管陣列片的該樹脂片材在真空下或非活性氣氛下燒成的程序。
  7. 一種奈米碳管接合片的製造方法，其包含： 使垂直取向奈米碳管在一生長基板上生長的程序； 從該生長基板剝離該垂直取向奈米碳管而獲得一奈米碳管陣列片的程序； 向該奈米碳管陣列片塗布含有無機粒子的膏的程序； 將塗布有膏的該奈米碳管陣列片在真空下或非活性氣氛下燒成的程序。
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