TW201340087A - 信號處理裝置、液晶裝置、電氣機器及信號處理方法 - Google Patents

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Taku Kitagawa
Hiroyuki Hosaka
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Abstract

本發明係藉由反向傾斜區域之校正，而抑制非校正像素中產生反向傾斜區域。本發明係一種用於液晶裝置之信號處理裝置，且包括：檢測部，其係基於控制施加於像素之電壓之信號，檢測施加較第1基準電壓低之第1電壓之第1信號所符合之第1像素、與施加較第2基準電壓高之第2電壓之第2信號所符合之第2像素之邊界；及校正部，其係將與包含第1像素之M個像素相符之信號於校正期間內，校正為施加高於第1電壓且低於第2電壓之第3電壓之第3信號；且校正部係於上述校正期間內，使上述M產生變化。

Description

信號處理裝置、液晶裝置、電氣機器及信號處理方法
本發明係關於一種減少液晶面板中之顯示方面之不良狀況之技術。
液晶面板係具有由設於每一像素中之像素電極、與在複數個像素中共通地設置之共用電極夾持液晶之構成。如此之液晶面板中，存在產生因相互鄰接之像素電極彼此中產生之側向電場造成之液晶之配向不良(反向傾斜區域(Reverse Tilt Domain))，且此現象成為顯示方面之不良狀況之原因之情形。抑制液晶之配向不良造成之顯示方面之不良狀況之產生之技術係揭示於專利文獻1及專利文獻2中。專利文獻1及專利文獻2係揭示使較強地受到側向電場之像素中之因液晶配向(無機配向膜)之蒸鍍方向而導致易於產生畫質不良之像素中產生之側向電場降低。
[先行技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2009-237366號公報
[專利文獻2]日本專利特開2010-191157號公報
且說，於鄰接有包含連續之複數個暗像素之暗像素群與包含連 續之複數個亮像素之亮像素群之圖像線之情形下，將與邊界相接之暗像素作為校正像素時，可將產生於該暗像素與鄰接之亮像素之間之側向電場降低，但產生於該暗像素與位於亮像素之相反側之暗像素(即、非校正像素)之間之側向電場將較校正前增強，從而存在該部分中產生反向傾斜區域之可能性。同樣地，於將與邊界相接之亮像素作為校正像素時，可將產生於該亮像素與鄰接之暗像素之間之側向電場降低，但產生於該亮像素與位於暗像素之相反側之亮像素(即、非校正像素)之間之側向電場將較校正前增強，從而存在該部分中產生反向傾斜區域之可能性。如此般，存在用以校正反向傾斜區域之影像信號之校正成為使其他部分中產生反向傾斜區域之原因之情形。
本發明係鑒於上述狀況研製而成，其目的之一在於藉由用以減少反向傾斜區域之校正，而抑制非校正像素中產生反向傾斜區域。
為達成上述目的，本發明之信號處理裝置係一種用於具備複數個像素之液晶裝置之信號處理裝置，且其特徵在於：上述信號處理裝置包括：檢測部，其係基於控制施加於上述複數個像素之各者之電壓之信號，檢測施加較第1基準電壓低之第1電壓之第1信號所符合之第1像素、與施加較第2基準電壓高之第2電壓之第2信號所符合之第2像素之邊界；及校正部，其係將與包含上述第1像素之M個(M為1以上之整數)像素相符之信號於校正期間內，校正為施加高於上述第1電壓且低於上述第2電壓之第3電壓之第3信號；且上述校正部係於上述校正期間內，使上述M產生變化。
根據本發明，可藉由用以使反向傾斜區域減少之校正，而抑制非校正像素中產生反向傾斜區域。
本發明之信號處理裝置係一種用於具備複數個像素之液晶裝置之信號處理裝置，且其特徵在於：上述信號處理裝置包括：檢測部， 其係基於控制施加於上述複數個像素之各者之電壓之信號，檢測施加較第1基準電壓低之第1電壓之第1信號所符合之第1像素、與施加較第2基準電壓高之第2電壓之第2信號所符合之第2像素之邊界；及校正部，其係將與包含上述第2像素之N個(N為1以上之整數)像素相符之信號於校正期間內，校正為施加高於上述第1電壓且低於上述第2電壓之第4電壓之第4信號；且上述校正部係於上述校正期間內，使上述N產生變化。
根據本發明，可藉由用以使反向傾斜區域減少之校正，而抑制非校正像素中產生反向傾斜區域。
於本發明中，上述校正部係包括如下校正部，該校正部係將指定對於與自相接於利用上述檢測部所檢測之邊界的上述第1像素朝向該邊界之相反方向連續之N像素(N為1以上之整數)中與相較低於上述第1電壓之第5電壓低下之上述第1像素對應之液晶元件之施加電壓之影像信號，於與該影像信號對應之顯示期間之作為至少一部分之校正期間內，校正為在該校正期間內使上述N變化且指定高於上述第5電壓之第6電壓之影像信號。
根據本發明，可一面抑制每1像素之影像信號之校正，一面抑制非校正像素中產生反向傾斜區域。
於本發明中，上述校正部可使上述M自變化前變化2以上之整數。
根據本發明，與使M自變化前僅變化1之情形相比，可使非校正像素中難以產生反向傾斜區域。
於本發明中，上述校正部可使上述N自變化前變化2以上之整數。
根據本發明，與使N自變化前僅變化1之情形相比，可使非校正像素中難以產生反向傾斜區域。
再者，本發明不僅可作為信號處理裝置之概念，亦可作為液晶裝置、電子機器、信號處理方法之概念。
1‧‧‧液晶顯示裝置
10‧‧‧控制電路
20‧‧‧掃描控制電路
30‧‧‧影像處理電路
100‧‧‧液晶面板
100a‧‧‧元件基板
100b‧‧‧對向基板
100R、100G、100B‧‧‧光閥
101‧‧‧顯示區域
105‧‧‧液晶
108‧‧‧共用電極
112‧‧‧掃描線
114‧‧‧資料線
115‧‧‧電容線
116‧‧‧TFT
118‧‧‧像素電極
120‧‧‧液晶元件
125‧‧‧輔助電容
130‧‧‧掃描線驅動電路
140‧‧‧資料線驅動電路
302‧‧‧延遲電路
304、304a‧‧‧邊界檢測部
3041‧‧‧現訊框邊界檢測部
3042‧‧‧前訊框邊界檢測部
3043‧‧‧保存部
3044‧‧‧應用邊界決定部
3045、3045a‧‧‧判別部
3046‧‧‧風險邊界檢測部
306‧‧‧校正部
308‧‧‧D/A轉換器
2100‧‧‧投影儀
2102‧‧‧燈單元
2106‧‧‧反射鏡
2108‧‧‧雙色反射鏡
2112‧‧‧雙色稜鏡
2114‧‧‧投影透鏡
2120‧‧‧螢幕
2121‧‧‧中繼透鏡系
2122‧‧‧入射透鏡
2123‧‧‧入射透鏡
2124‧‧‧出射透鏡
LCcom‧‧‧電壓
Sync‧‧‧同步信號
Vid-in‧‧‧影像信號
Vx‧‧‧資料信號
X1、X2、X3、...、Xn‧‧‧資料信號
Xctr‧‧‧控制信號
Y1、Y2、Y3、...、Ym‧‧‧掃描信號
圖1係表示應用本發明之第1實施形態之影像處理電路(信號處理裝置)之液晶顯示裝置之圖。
圖2係表示該液晶顯示裝置中之液晶元件之等效電路之圖。
圖3係表示該影像處理電路之構成之圖。
圖4(a)、(b)係表示構成該液晶顯示裝置之液晶面板之V-T特性之圖。
圖5(a)、(b)係表示該液晶面板中之顯示動作之圖。
圖6(a)、(b)係通常之4倍速驅動下之輸入輸出之影像信號之關係之說明圖。
圖7(a)-(c)係該影像處理電路中之邊界之檢測順序之說明圖。
圖8係該影像處理電路中之邊界之檢測順序之說明圖。
圖9(a)、(b)係表示該影像處理電路中之校正處理之圖。
圖10(a)、(b)係表示該影像處理電路中之其他校正處理之圖。
圖11(a)、(b)係表示該影像處理電路中之其他校正處理之圖。
圖12(a)、(b)係表示該影像處理電路中之其他校正處理之圖。
圖13(a)、(b)係表示該影像處理電路中之其他校正處理之圖。
圖14(a)-(c)係該液晶面板中設為VA方式時之初期配向之說明圖。
圖15係表示第2實施形態之影像處理電路之構成之圖。
圖16(a)、(b)係該影像處理電路中之邊界之檢測順序之說明圖。
圖17(a)、(b)係該液晶面板中設為其他傾斜方位角時之圖。
圖18(a)、(b)係該液晶面板中設為其他傾斜方位角時之圖。
圖19(a)、(b)係設為其他傾斜方位角時之該影像處理電路中之風險邊界之檢測順序之說明圖。
圖20(a)、(b)係設為其他傾斜方位角時之該影像處理電路中之邊 界之檢測順序之說明圖。
圖21(a)-(c)係表示第3實施形態之影像處理電路中之校正處理之圖。
圖22(a)、(b)係圖像之移動與液晶元件之透射率變化之關係之說明圖。
圖23(a)、(b)係圖像之移動與液晶元件之透射率變化之關係之說明圖。
圖24(a)、(b)係圖像之移動與液晶元件之透射率變化之關係之說明圖。
圖25(a)、(b)係第4實施形態之影像處理電路之校正處理之說明圖。
圖26係表示應用液晶顯示裝置之投影儀之圖。
圖27係表示側向電場之影響造成之顯示方面之不良狀況等之圖。
以下，一面參照圖式，一面說明本發明之實施形態。
<第1實施形態>
首先，對本發明之第1實施形態進行說明。
圖1係表示應用本實施形態之影像處理電路之液晶顯示裝置1之整體構成之方塊圖。
如圖1所示，液晶顯示裝置1係包括控制電路10、液晶面板100、掃描線驅動電路130、及資料線驅動電路140。對控制電路10，自上位裝置，與同步信號Sync同步地供給影像信號Vid-in。影像信號Vid-in係分別指定液晶面板100中之各像素之灰階等級之數位資料，且以按照同步信號Sync中所含之垂直掃描信號、水平掃描信號及點時鐘信號 (均省略圖示)之掃描之順序進行供給。本實施形態係供給影像信號Vid-in之頻率為60 Hz，且以作為其倒數之週期16.67毫秒供給用以顯示1訊框(1格)圖像之影像信號Vid-in。
再者，影像信號Vid-in係指定灰階等級，但液晶元件之施加電壓係根據灰階等級而定，因此，可謂影像信號Vid-in指定液晶元件之施加電壓。於以下之說明中，設為影像信號之灰階等級越高，則對液晶元件指定之施加電壓越高。
控制電路10係包括掃描控制電路20與影像處理電路30。掃描控制電路20係生成各種控制信號，且與同步信號Sync同步地控制各部分。影像處理電路30將於下文描述詳細情況，但其處理數位之影像信號Vid-in，且輸出類比之資料信號Vx。
液晶面板100係如下之構成，即，保持著固定之間隙將元件基板(第1基板)100a與對向基板(第2基板)100b貼合，並且於該間隙內，夾持著由縱向之電場驅動之液晶105。於元件基板100a中之與對向基板100b之對向面上，沿著圖中X(橫)方向設置有複數m列之掃描線112，另一方面，沿著Y(縱)方向，且以與各掃描線112相互保持電性絕緣之方式設置有複數n行之資料線114。
再者，該實施形態中，為區分掃描線112，而存在於圖中由上而下地稱為第1、2、3、...、(m-1)、m列之情形。同樣地，為區分資料線114，而存在於圖中由左向右地稱為第1、2、3、...、(n-1)、n行之情形。
元件基板100a中，進而，對應著掃描線112與資料線114之各交叉，設置有n通道型之TFT(Thin Film Transistor，薄膜電晶體)116與矩形形狀且具有透明性之像素電極118之組。TFT116之閘極電極係連接於掃描線112，源極電極係連接於資料線114，汲極電極係連接於像素電極118。另一方面，於對向基板100b中之與元件基板100a之對向 面，遍及整面地設置有具有透明性之共用電極108。對共用電極108，藉由省略圖示之電路而施加電壓LCcom。
再者，於圖1中，元件基板100a之對向面為紙面背側，因此，設置於該對向面之掃描線112、資料線114、TFT116及像素電極118應以虛線表示，但因難以觀察，而分別以實線表示。
圖2係表示液晶面板100中之等效電路之圖。
如圖2所示，液晶面板100係構成為對應著掃描線112與資料線114之交叉，排列有由像素電極118與共用電極108夾持液晶105而成之液晶元件120。雖於圖1中省略，但於液晶面板100中之等效電路中，實際上如圖2所示，相對於液晶元件120並列地設置有輔助電容(儲存電容)125。輔助電容125係一端連接於像素電極118，另一端共通連接於電容線115。電容線115係時間性地保持為固定電壓。
此處，若掃描線112成為H位準，則該掃描線中連接有閘極電極之TFT116成為接通，將像素電極118連接於資料線114。因此，於掃描線112為H位準時，若將對應於灰階之電壓之資料信號供給至資料線114，則該資料信號經由已接通之TFT116而施加至像素電極118。若掃描線112為L位準，則TFT116斷開，但施加至像素電極118之電壓由液晶元件120之電容性以及輔助電容125保持。
於液晶元件120中，液晶105之分子配向狀態相應於藉由像素電極118及共用電極108而產生之電場而變化。因此，液晶元件120若為透射型，則成為對應於施加、保持電壓之透射率。於液晶面板100中，由於在每一液晶元件120中透射率產生變化，因此，液晶元件120相當於像素。而且，該像素之排列區域成為顯示區域101。
再者，於本實施形態中，將液晶105設為VA(Vertical Alignment，垂直配向)方式，形成為液晶元件120於未施加電壓時成為黒色狀態之常態黑色模式。
返回圖1，掃描線驅動電路130根據由掃描控制電路20所產生之控制信號Yctr，將掃描信號Y1、Y2、Y3、...、Ym供給至第1、2、3、...、m列之掃描線112。具體而言，掃描線驅動電路130如圖5(a)所示，遍及訊框以第1、2、3、...、(m-1)、m列之順序選擇掃描線112，並且將針對所選擇之掃描線之掃描信號設為選擇電壓VH(H位準)，將針對除此以外之掃描線之掃描信號設為非選擇電壓VL(L位準)。
再者，所謂訊框係指藉由驅動液晶面板100而使液晶面板100顯示相當於1格之圖像所需之期間。於本實施形態中，由同步信號Sync控制之垂直掃描信號之頻率為240 Hz。如圖5(a)所示，於本實施形態之液晶顯示裝置1中，實現將1訊框分別分為第1欄位~第4欄位為止之4個欄位，並且於各欄位中，對第1~m列之掃描線進行掃描之所謂4倍速驅動。即，液晶顯示裝置1基於自上位裝置以60 Hz之供給速度供給之影像信號Vid-in，以240 Hz之驅動速度驅動液晶面板100，藉此，基於影像信號Vid-in顯示1訊框之圖像。1欄位之期間係相當於1/4訊框之期間，此處為約4.16毫秒。又，如圖5(b)所示，液晶顯示裝置1係於第1、3欄位中指定正極性寫入，於第2、4欄位中指定負極性寫入，每一欄位中將寫入極性反轉，實施對像素之資料寫入。
資料線驅動電路140係根據掃描控制電路20之控制信號Xctr，將自影像處理電路30供給之資料信號Vx作為資料信號X1~Xn取樣至第1~n行之資料線114。
再者，於本說明中，關於電壓，除液晶元件120之施加電壓以外，只要未特別明確記載，則將已省略圖示之接地電位作為電壓為零之基準。液晶元件120之施加電壓係共用電極108之電壓LCcom與像素電極118之電位差，且用於與其他電壓進行區分。
此外，液晶元件120之施加電壓與透射率之關係係若為常態黑色模式，則由例如圖4(a)所示之V-T特性表示。因此，為將液晶元件120 設為與由影像信號Vid-in指定之灰階等級對應之透射率，只要將與該灰階等級對應之電壓施加至液晶元件120即可。然而，若僅對應於影像信號Vid-in指定之灰階等級規定液晶元件120之施加電壓，則存在產生因反向傾斜區域所致之顯示方面之不良狀況之情形。
對於因反向傾斜區域所致之顯示方面之不良狀況之例進行說明。例如圖27所示，於由影像信號Vid-in所示之圖像中以白色像素為背景黑色像素連續之黑色圖案於每一訊框中在右方向上各移動1像素之情形時，將顯著出現於該黑色圖案之左端緣部(移動之後緣部)應自黑色像素變為白色像素之像素因產生反向傾斜區域而未變為白色像素之一種曳尾現象。
再者，液晶面板100係於以白色像素為背景之黑色像素之區域在每一訊框各移動2個像素以上時，只要液晶元件之響應時間較更新顯示畫面之時間間隔(即，1訊框期間)短，則如此之曳尾現象不會顯著出現(或者難以視認)。認為其原因如下所述。即，可認為其原因係於某一訊框中，當白色像素與黑色像素鄰接時，於該白色像素中可能產生反向傾斜區域，但若考慮圖像之移動，則產生反向傾斜區域之像素成為離散性，故而視覺上不明顯。
再者，若於圖27中改變看法，則於以黑色像素為背景且白色像素連續之白色圖案在毎個訊框中於右方向上各移動1像素之情形時，亦將出現在該白色圖案之右端緣部(移動之前端部)應自黑色像素變為白色像素之像素因產生反向傾斜區域而亦未變為白色像素。又，於圖27中，為便於說明，於圖像中選出1排之邊界附近。
認為因反向傾斜區域所致之顯示方面之不良狀況之原因之一在於，當液晶元件120中被夾持之液晶分子處於不穩定之狀態時，受到側向電場之影響而產生混亂，結果以後難以成為與施加電壓對應之配向狀態。
此處，所謂受到側向電場之影響之情形係指彼此相鄰之像素電極彼此之電位差變大之情形，其係於即將進行顯示之圖像中黑位準(或接近於黑位準)之暗像素與白位準(或接近於白位準)之亮像素鄰接之情形。
其中，關於暗像素係指施加電壓處於常態黑色模式下之黑位準之電壓Vbk以上且低於閾值Vth1(第1電壓)之電壓範圍A之液晶元件120之像素。又，為方便起見，而將液晶元件之施加電壓處於電壓範圍A內之液晶元件之透射率範圍(灰階範圍)設為「a」。
其次，關於亮像素，設為施加電壓處於閾值Vth2(第2電壓)以上且常態黑色模式下之白位準電壓Vwt以下之電壓範圍B內之液晶元件120。為方便起見，而將液晶元件之施加電壓處於電壓範圍B內之液晶元件之透射率範圍(灰階範圍)設為「b」。
再者，於常態黑色模式下，閾值Vth1係使液晶元件之相對透射率為10%之光學性閾值電壓，且閾值Vth2係使液晶元件之相對透射率為90%之光學性飽和電壓。其中，閾值Vth1及閾值Vth2可為Vth2>Vth1之條件下，分別與其他相對透射率對應之電壓。
液晶分子為不穩定狀態時係液晶元件之施加電壓於電壓範圍A中低於圖4所示之判定電壓Vjb(第5電壓)時。當液晶元件之施加電壓低於判定電壓Vjb時，因該施加電壓而產生之縱向電場之規制力相對弱於配向膜所產生之規制力，因此液晶分子之配向狀態易於因略微之外部要因而混亂。又，此後，施加電壓成為Vjb以上時，即便液晶分子相應於該施加電壓即將傾斜，響應亦容易消耗時間。反之，只要施加電壓為判定電壓Vjb以上，則液晶分子對應於施加電壓開始傾斜(透射率開始變化)，因此，出現液晶分子之配向狀態處於穩定狀態之情形。因此，判定電壓Vjb處於低於由透射率規定之閾值Vth1之關係。
將判定電壓Vjb規定為液晶元件120之施加電壓之影像信號之灰 階等級設為判定等級jb。
因此，設於液晶面板100之前段之影像處理電路30係分析由影像信號Vid-in顯示之圖像，檢測灰階範圍a之暗像素與灰階範圍b之亮像素是否為鄰接之狀態。而且，影像處理電路30係於鄰接於暗像素與亮像素之邊界之暗像素之灰階等級低於判定等級jb之情形時，將該暗像素之影像信號校正為校正等級cb之影像信號。校正等級cb係將校正電壓Vcb(第6電壓)規定為液晶元件120之施加電壓之影像信號之灰階等級。
判定等級jb係屬於灰階範圍a之灰階等級。校正等級cb係至少判定等級jb以上之灰階等級，但此處，屬於高於灰階範圍a且低於灰階範圍b之灰階等級之範圍即灰階範圍d。
又，影像處理電路30係為了使鄰接之暗像素及亮像素間之側向電場降低，抑制反向傾斜區域之產生，而於與暗像素鄰接之亮像素之施加電壓高於判定電壓「Vjw」(第3電壓)之情形時，校正影像信號，以使該亮像素之施加電壓成為判定電壓「Vjw」以下之校正電壓「Vcw」(第4電壓)。以下，將規定判定電壓「Vjw」之影像信號之灰階等級設為判定等級「jw」，將規定校正電壓「Vcw」之影像信號之灰階等級設為判定等級「cw」。校正等級cw係至少判定等級jw以下之灰階等級，但此處屬於灰階範圍d。
此處，對於影像信號Vid-in(圖6(a))與影像信號Vid-out(圖6(b))之通常之4倍速驅動下之關係進行說明。於圖6(a)、(b)中，表示1排之圖像之像素，且各矩形對應於1像素。此處，塗黒色表示之像素為暗像素，塗白色表示之像素為亮像素。
於圖6(b)中，於對應於影像信號Vid-in之影像信號Vid-out中，圖中由上而下地分別表示與第1、第2、第3、第4欄位對應之影像信號Vid-out。
如圖6(a)所示，影像信號Vid-in係以60 Hz之供給速度進行供給，且藉由該影像信號Vid-in，隨著向第1訊框、第2訊框、第3訊框前進，指定圖像在圖中由左向右地各捲軸移動1像素之圖像之顯示。於該情形時，當輸出影像信號Vid-out時，如圖6(b)所示，於包含第1~第4欄位之1訊框期間之整體(即，歷經16.67毫秒)，在同一部位存在暗像素與亮像素之邊界。若如此之邊界長時間存在於同一位置，則如上所述液晶分子之配向不良狀態容易變得穩定，從而成為於其鄰接像素中容易產生反向傾斜區域之狀態。
因此，於本實施形態中，影像處理電路30將指定對於與自相接於邊界之亮像素朝向該邊界之相反方向連續之M像素(M為1以上之整數)中之高於判定電壓Vjw之亮像素對應之液晶元件120之施加電壓之影像信號Vid-in，以1訊框期間為校正期間，校正為在該校正期間內使M變化且指定低於判定電壓Vjw之校正電壓Vcw之影像信號。又，影像處理電路30將指定對於與自相接於邊界之暗像素朝向該邊界之相反方向連續之N像素(N為1以上之整數)中之低於判定電壓Vjb之暗像素對應之液晶元件120之施加電壓之影像信號Vid-in，以1訊框期間(即，與影像信號對應之顯示期間)為校正期間，校正為在該校正期間內使N變化且指定高於判定電壓Vjb之校正電壓Vcb之影像信號。
基於如此之考量，用以對現訊框之影像信號Vid-in進行處理在液晶面板100中將反向傾斜區域之產生防範於未然之電路係圖3中之影像處理電路30。
繼而，參照圖3，說明影像處理電路30之詳細情況。如圖3所示，影像處理電路30係包含延遲電路302、邊界檢測部304、校正部306、及D/A轉換器(Digital/Analog Converter，數位/類比轉換器)308。
延遲電路302係包括FIFO(First In First Out：先進先出)記憶體或 多段之鎖存電路等，且將自上位裝置供給之影像信號Vid-in儲存，並於經過特定時間後讀出，作為影像信號Vid-d輸出。再者，延遲電路302中之儲存及讀出係由掃描控制電路20進行控制。
邊界檢測部304係包括現訊框邊界檢測部3041、前訊框邊界檢測部3042、保存部3043、應用邊界決定部3044、及判別部3045。
現訊框邊界檢測部3041係分析由現訊框之影像信號Vid-in所示之圖像，判別是否存在位於灰階範圍a之暗像素與位於灰階範圍b之亮像素鄰接之部分。而且，現訊框邊界檢測部3041於判別存在鄰接之部分時，檢測作為該鄰接部分之邊界，且將邊界之位置資訊輸出(第1邊界檢測部)。
前訊框邊界檢測部3042係分析由前訊框之影像信號Vid-in所示之圖像，且檢測暗像素與亮像素鄰接之部分作為邊界。前訊框邊界檢測部3042基於影像信號Vid-in，執行與現訊框邊界檢測部3041相同順序之處理，檢測邊界，並將檢測之邊界之位置資訊輸出。
保存部3043係保存由前訊框邊界檢測部3042檢測之邊界之位置資訊，且延遲1訊框期間輸出。
因此，由現訊框邊界檢測部3041檢測之邊界係現訊框之邊界，與此相對，由前訊框邊界檢測部3042檢測且保存於保存部3043中之邊界成為前訊框之邊界。即，前訊框邊界檢測部3042係檢測前訊框之輸入影像信號中之暗像素與亮像素之邊界(第2邊界檢測部)。
應用邊界決定部3044係將由現訊框邊界檢測部3041檢測之現訊框圖像之邊界中除與保存於保存部3043中之前訊框圖像之邊界相同之部分以外者，決定為應用邊界。即，應用邊界係自前訊框向現訊框變化之邊界，換言之，可另稱為不存在於前訊框且存在於現訊框之邊界。
判別部3045係對由延遲輸出之影像信號Vid-d所示之像素是否為 與由應用邊界決定部3044決定之應用邊界相接且高於判定等級jw之亮像素進行判別，且於判別結果為「YES」之情形時，將輸出信號之旗標Q以「1」輸出。又，判別部3045係對由影像信號Vid-d所示之像素是否為與由應用邊界決定部3044決定之應用邊界相接且低於判定等級jb之暗像素進行判別，且於判別結果為「YES」之情形時，將輸出信號之旗標Q以「1」輸出。另一方面，判別部3045係於對於與應用邊界相接之亮像素判別為判定等級jw以下之情形時、對於與應用邊界相接之暗像素判別為判定等級jb以上之情形時、以及判別為均無暗像素及亮像素之情形時，將輸出信號之旗標Q以「0」輸出。
再者，現訊框邊界檢測部3041若未儲存有某種程度(至少3列以上)之影像信號，則無法遍及應顯示之圖像中之垂直或水平方向地檢測邊界。前訊框邊界檢測部3042亦情況相同。因此，為調整來自上位裝置之影像信號Vid-in之供給時序，而設置延遲電路302。
以上係邊界檢測部304之構成之說明。
此處，於由前訊框之影像信號Vid-in所示之圖像為例如圖7(a)所示，且由現訊框之影像信號Vid-in所示之圖像為例如圖7(b)所示之情形時，由各影像信號Vid-in所示之圖像中之邊界分別如圖7(c)所示。而且，與由現訊框邊界檢測部3041檢測之邊界中之由前訊框邊界檢測部3042檢測之邊界不重複者係作為應用邊界，由應用邊界決定部3044決定。由此，該情形時之應用邊界係如圖8所示。
校正部306係於自判別部3045供給之旗標Q為「1」之情形時，校正影像信號Vid-d，且將其作為影像信號Vid-out輸出。如圖9所示，具體而言，校正部306於旗標Q為「1」之情形時，在1訊框期間之第1、第3欄位中，將自與應用邊界相接之亮像素在該應用邊界之相反方向上連續之M像素(此處為2像素)中之灰階等級高於判別等級jw之亮像素，校正為校正等級cw之影像信號。又，校正部306在1訊框期間之 第2、第4欄位中，將自與應用邊界相接之亮像素在該應用邊界之相反方向上連續之M像素(此處為4像素)中之灰階等級高於判別等級jw之亮像素，校正為校正等級cw之影像信號。又，校正部306係於旗標Q為「1」之情形時，在1訊框期間之第1、第3欄位中，將自與應用邊界相接之暗像素在該應用邊界之相反方向上連續之N像素(此處為3像素)中之灰階等級低於判別等級jb之暗像素，校正為校正等級cb之影像信號。又，校正部306在1訊框期間之第2、第4欄位中，將自與應用邊界相接之暗像素在該應用邊界之相反方向上連續之N像素(此處為5像素)中之灰階等級低於判別等級jb之暗像素，校正為校正等級cb之影像信號。
另一方面，校正部306係於旗標Q為「0」時，不對影像信號進行校正，而將影像信號Vid-d直接作為影像信號Vid-out輸出。
再者，在暗像素之某一角中縱橫地連續之邊界所在之暗像素、或在亮像素之某一角中縱橫地連續之邊界所在之亮像素亦視為「與邊界相接」。其原因在於，圖像在傾斜方向上移動1像素時進行處理。與此相對，關於在暗像素之某一角僅縱或橫斷裂之邊界所在之暗像素、或在亮像素之某一角僅縱或橫斷裂之邊界所在之亮像素，不存在縱橫連續之邊界，故不視為與邊界相接。
D/A轉換器308係將作為數位資料之影像信號Vid-out轉換為類比之資料信號Vx。於本實施形態中，由於設為面反轉方式，故資料信號Vx之極性於液晶面板100中每次重寫1格時進行切換。
繼而，對液晶顯示裝置1之顯示動作進行說明，自上位裝置起，影像信號Vid-in遍及訊框以1列1行~1列n行、2列1行~2列n行、3列1行~3列n行、...、m列1行~m列n行之像素之順序供給。影像處理電路30將影像信號Vid-in進行延遲、校正等處理後，作為影像信號Vid-out輸出。
此處，於輸出1列1行~1列n行之影像信號Vid-out之水平有效掃描期間(Ha)進行觀察時，經處理之影像信號Vid-out以相應於奇數欄位或偶數欄位，於每一欄位中更換寫入極性之方式，藉由D/A轉換器308，而如圖5(b)所示地轉換為正極性或負極性之資料信號Vx。於第1欄位中轉換為正極性之資料信號。該資料信號Vx係藉由資料線驅動電路140而作為資料信號X1~Xn取樣至第1~n行之資料線114。
另一方面，於輸出1列1行~1列n行之影像信號Vid-out之水平掃描期間，掃描控制電路20以相對於掃描線驅動電路130僅使掃描信號Y1成為H位準之方式進行控制。若掃描信號Y1為H位準，則第1列之TFT116成為接通狀態，故取樣至資料線114之資料信號經由處於接通狀態之TFT116施加至像素電極118。藉此，對1列1行~1列n行之液晶元件，分別寫入與由影像信號Vid-out指定之灰階等級對應之正極性電壓。
繼而，2列1行~2列n行之影像信號Vid-in係同樣地藉由影像處理電路30進行處理，且作為影像信號Vid-out輸出，並且藉由D/A轉換器308而轉換為正極性之資料信號後，藉由資料線驅動電路140而取樣至第1~n行之資料線114。
於輸出2列1行~2列n行之影像信號Vid-out之水平掃描期間，藉由掃描線驅動電路130而僅使掃描信號Y2成為H位準，故而，取樣至資料線114之資料信號經由處於接通狀態之第2列之TFT116而施加至像素電極118。藉此，對2列1行~2列n行之液晶元件，分別寫入與由影像信號Vid-out指定之灰階等級對應之正極性電壓。
以下，對第3、4、...、m列執行相同之寫入動作，藉此，將與由影像信號Vid-out指定之灰階等級對應之電壓寫入至各液晶元件中，從而製作由影像信號Vid-in規定之透射像。
於下一欄位中，除藉由資料信號之極性反轉而將影像信號Vid- out轉換為負極性之資料信號以外，執行相同之寫入動作。
圖5(b)係表示自影像處理電路30，歷經水平掃描期間(H)輸出1列1行~1列n行之影像信號Vid-out時之第1、第2欄位之資料信號Vx之一例的電壓波形圖。本實施形態係設為常態黑色模式，故資料信號Vx若為正極性，則相對於基準電壓Vcnt，成為與藉由影像處理電路30而處理之灰階等級相應之高位側之電壓(圖中以向上箭頭(↑)表示)，若為負極性，則相對於基準電壓Vcnt，成為與灰階等級相應之低位側之電壓(圖中以向下箭頭(↓)表示)。
詳細而言，資料信號Vx之電壓若為正極性，則於自相當於白色之電壓Vw(+)至相當於黒色之電壓Vb(+)為止之範圍內，另一方面，若為負極性，則於自相當於白色之電壓Vw(-)至相當於黒色之電壓Vb(-)為止之範圍內，分別成為自基準電壓Vcnt相應於灰階地偏移之電壓。
電壓Vw(+)及電壓Vw(-)處於以電壓Vcnt為中心相互對稱之關係。電壓Vb(+)及Vb(-)亦處於以電壓Vcnt為中心相互對稱之關係。
再者，圖5(b)係表示資料信號Vx之電壓波形者，且與施加至液晶元件120之電壓(像素電極118與共用電極108之電位差)不同。又，圖5(b)中之資料信號之電壓之縱向範圍，與圖5(a)中之掃描信號等之電壓波形相比擴大。
以上說明之第1實施形態之影像處理電路30係將校正像素之影像信號，於1訊框期間內使校正像素數M、N產生變化，校正影像信號。藉此，亦根據圖9之記載可知，對於暗像素及亮像素分別而言，校正像素與非校正像素之邊界並非遍及1訊框期間持續地存在於同一位置。由此，根據影像處理電路30，可藉由用以使鄰接之暗像素及亮像素中產生之反向傾斜區域減少之校正，而抑制非校正像素中產生反向傾斜區域。
又，影像處理電路30係於使M、N變化之情形時，使該等自變化 前變化2以上之整數。以此方式處理之原因在於，已獲得以下觀點：若使校正像素與非校正像素之邊界變化相當於至少2像素，則將反向傾斜區域之空間性連結分離之效果達到最大，從而抑制因鄰接之校正像素與非校正像素之間產生之側向電場所致之反向傾斜區域之產生。又，於本實施形態中，根據校正像素數越多則顯示不一致越顯著之觀點，影像處理電路30係亮像素之校正像素數M收斂在4像素以內。
<第1實施形態之變形例>
(第1實施形態之變形例1)於上述第1實施形態中，校正部306使第1欄位與第3欄位為相同之校正像素數，且使第2欄位與第4欄位為相同之校正像素數，但設為相同之校正像素數之組合並不僅限於此。例如圖10所示，校正部306亦可使第1欄位與第2欄位為相同之校正像素數，且使第3欄位與第4欄位為相同之校正像素數。
(第1實施形態之變形例2)於上述第1實施形態中，校正部306係將1訊框期間之全欄位作為校正期間，校正影像信號，但亦可將1訊框期間之至少一部分作為校正期間，且可於剩餘之期間內校正影像信號。例如圖11所示，校正部306亦可於第1欄位及第3欄位中校正影像信號，而於第2及第4欄位中不校正影像信號。
(第1實施形態之變形例3)於上述第1實施形態中，校正部306係將亮像素之校正等級設為cw，且將暗像素之校正等級設為cb，但亦可使各校正等級動態地變化。例如圖12所示，校正部306可在第1欄位及第3欄位中，以將校正前之亮像素之灰階等級提高之校正等級w1校正亮像素之影像信號，並以將校正前之暗像素之灰階等級提高之校正等級b1校正暗像素之影像信號，並且於第2欄位及第4欄位中，以將校正前之亮像素之灰階等級降低之校正等級w2校正亮像素之影像信號，並以將校正前之暗像素之灰階等級降低之校正等級b2校正暗像素之影像信號。如此般，由於校正等級w1為至少比校正前之亮像素之灰階等 級高之灰階等級，且校正等級w2為至少比校正前之亮像素之灰階等級低之灰階等級，故滿足w1>w2之關係。由於校正等級b1為至少比校正前之暗像素之灰階等級高之灰階等級，且校正等級b2為至少比校正前之暗像素之灰階等級低之灰階等級，故滿足b1>b2之關係。如此般，校正部306若對校正像素之像素，在1訊框期間內進行使灰階等級高於校正前之校正、及使灰階等級低於校正前之校正，則可抑制校正導致之1訊框期間內之透射率之積分值(積分透射率)之變化。藉此，可抑制使用者感覺到影像信號之校正導致之透射率變化。
又，校正部306對於亮像素及暗像素之各者，可將校正等級設為3種以上。
(第1實施形態之變形例4)於上述第1實施形態中，校正部306係針對亮像素及暗像素之各者，使校正像素數變化，但亦可使亮像素或暗像素中之僅一者之校正像素數變化。例如圖13所示，校正部306可使亮像素之校正像素數M為2像素及4像素中之一者，而使暗像素之校正像素數N固定為3像素。
(第1實施形態之變形例5)於上述第1實施形態中，校正部306係以使校正像素數M成為2像素或4像素中之任一者之方式，使2種像素數交替地變化，但亦可使3種以上之像素數依序變化。又，校正部306於1訊框期間內採用同一之校正像素數M之次數可為任意次(第1實施形態為2次)。校正部306於1訊框期間內採用同一校正像素數M之次數可設為3次以上，且使校正像素數M反覆地變化。同樣地，校正部306既可針對校正像素數N，使3種以上之像素數依序地變化，亦可使在1訊框期間內採用同一之校正像素數N之次數為3次以上，且使校正像素數N反覆地變化。又，校正部306在1訊框期間之一部分或整體中，既可使校正像素數M=N，亦可將暗像素之校正像素數N收斂在4像素以內。
<第2實施形態>
其次，說明本發明之第2實施形態。
該實施形態係與上述第1實施形態不同之處在於，影像處理電路30考慮到液晶分子之傾斜方位角及傾斜角，進而限制校正像素之方面。首先，對考量液晶分子之傾斜方位角及傾斜角之根據進行說明。
如上所述，於變化前，液晶分子處於不穩定狀態之像素係受到因圖像之移動而導致暗像素與亮像素鄰接時之側向電場之影響，而處於易於產生反向傾斜區域之狀況。但，考量液晶分子之初期配向狀態進行研究，則存在因暗像素與亮像素之位置關係而產生反向傾斜區域之情形與不產生反向傾斜區域之情形。
圖14(a)係表示液晶面板100中相互縱向及橫向地鄰接之2×2之像素之圖，圖14(b)係表示液晶面板100以圖14(a)中之包含p-q線之垂直面斷開時之簡易剖面圖。
如圖14所示，VA方式之液晶分子係設為於像素電極118與共用電極108之電位差(液晶元件之施加電壓)為零之狀態下，以傾斜角θa且傾斜方位角θb(=45度)初期配向者。此處，反向傾斜區域係如上所述，因像素電極118彼此之側向電場而產生，故設於像素電極118之元件基板100a之側之液晶分子之舉動成為問題。因此，對於液晶分子之傾斜方位角及傾斜角，以像素電極118(元件基板100a)之側為基準進行規定。
詳細而言，所謂傾斜角θa係指如圖14(b)所示，將基板法線Sv作為基準，將液晶分子之長軸Sa中之像素電極118側之一端作為固定點，共用電極108側之另一端傾斜時，液晶分子之長軸Sa所成之角度。
另一方面，所謂傾斜方位角θb係指將沿著資料線114之排列方向即Y方向之基板垂直面作為基準，包含液晶分子之長軸Sa及基板法線 Sv之基板垂直面(包含p-q線之垂直面)所成之角度。再者，對於傾斜方位角θb而言，在自身像素電極118之側朝向共用電極108平面觀察時，設為順時針地規定自畫面上方向(Y方向之相反方向)起，以液晶分子之長軸之一端為始點朝向另一端之方向(圖14(a)中為右上方向)為止之角度。
又，同樣地在自身像素電極118之側平面觀察時，將液晶分子中之自身像素電極側之一端朝向另一端之方向，方便起見稱為傾斜方位之下游側，相反地將自另一端朝向一端之方向(圖14(a)中為左下方向)，方便起見稱為傾斜方位之上游側。
亦如日本專利特開2011-107174號公報揭示所述，於VA方式(常態黑色模式)之液晶中，如圖14(a)所示，傾斜方位角θb為45度之情形時，當自身像素以及周邊像素中自液晶分子不穩定狀態僅自身像素變為亮像素時，於該自身像素中反向傾斜係如圖14(c)所示，在沿著左邊及下邊之內周區域產生。由此，於著眼於某一n訊框時，滿足以下要件之情形時，可謂於n訊框中下一個像素中受到反向傾斜區域之影響。
即，(1)著眼於n訊框時，暗像素與亮像素鄰接，即施加電壓較低之狀態之像素與施加電壓較高之狀態之像素鄰接，側向電場增強之情形時，且(2)於n訊框中，該亮像素(施加電壓較高)相對於鄰接之暗像素(施加電壓較低)，位於液晶分子中之相當於傾斜方位之上游側之左下側、左側或下側之情形時，(3)於n訊框中變為該亮像素之像素，在1訊框前之(n-1)訊框中，液晶分子處於不穩定狀態時，於n訊框中該亮像素中產生反向傾斜。
已對原因進行說明，但於(2)中，可認為表示暗像素與亮像素鄰接之部分之邊界在自前訊框移動1像素時，更容易受到反向傾斜區域之影響。
基於如此之考量，處理現訊框之影像信號Vid-in在液晶面板100中將反向傾斜區域之產生防患於未然之電路係圖15中之影像處理電路30。
繼而，參照圖15，對影像處理電路30之詳細情況進行說明。如圖15所示，影像處理電路30係包括延遲電路302、邊界檢測部304a、校正部306、及D/A轉換器308。其中，延遲電路302及D/A轉換器308係實現與上述第1實施形態之構成同等之功能者。
邊界檢測部304a係不僅具有第1實施形態之邊界檢測部304之構成，而且具有風險邊界檢測部3046。風險邊界檢測部3046係分析由現訊框之影像信號Vid-in所示之圖像，判別是否存在處於灰階範圍a之暗像素與處於灰階範圍b之亮像素在垂直或水平方向上鄰接之部分。而且，風險邊界檢測部3046於判別存在鄰接之部分時，提取該鄰接部分之邊界之一部分且暗像素位於上側而亮像素位於下側之部分、及暗像素位於右側而亮像素位於左側之部分，將其作為風險邊界進行檢測，且輸出邊界之位置資訊。以此方式，風險邊界檢測部3046檢測暗像素與亮像素之邊界之一部分且由液晶105之傾斜方位決定之風險邊界(第1邊界檢測部)。
判別部3045a係判別由延遲輸出之影像信號Vid-d所示之像素，是否為與作為由風險邊界檢測部3046檢測之風險邊界且由應用邊界決定部3044決定之應用邊界之邊界相接之像素。判別部3045a基於與作為風險邊界且應用邊界之邊界相接之像素，以第1實施形態中說明之方法，判別校正像素，且將輸出信號輸出。除此以外，判別部3045a與上述第1實施形態同樣地進行動作。
校正部306係與上述第1實施形態同樣地，按照自判別部3045a供給之旗標Q進行動作(參照圖9~13)。
以上說明之第2實施形態係影像處理電路30將與作為風險邊界且應用邊界之邊界相接之像素作為校正像素，因此，與上述第1實施形態相比，可一面縮減容易產生反向傾斜區域之像素，減少校正像素數，一面抑制反向傾斜區域所致之顯示方面之不良狀況之產生。除此以外，根據上述第2實施形態，亦可發揮與上述第1實施形態同等之效果。
<第2實施形態之變形例>
上述第2實施形態係以VA方式中傾斜方位角θb為45度之情形為例進行了說明，但即便如日本專利特開2011-107174號公報中揭示所述，傾斜方位角θb為其他之角度，亦可藉由第1實施形態而減少校正像素。對傾斜方位角θb為225度之例進行說明。
首先，如圖17(a)所示，於自身像素及周邊像素中自液晶分子不穩定狀態起僅自身像素變為亮像素時，在該自身像素中反向傾斜如圖17(b)所示，於沿著左邊及下邊之內周區域產生。再者，該例與使圖14所示之傾斜方位角θb為45度時之例旋轉180度時等效。
於傾斜方位角θb為225度之情形時，將傾斜方位角θb為45度時產生反向傾斜區域之要件(1)~(3)中之要件(2)以如下方式進行修正。即，修正為(2)於n訊框中，該亮像素(施加電壓較高)相對於鄰接之暗像素(施加電壓較低)，位於液晶分子中之相當於傾斜方位之上游側之右上側、右側或上側之情形時。
再者，對要件(1)及要件(3)不進行變更。
因此，若傾斜方位角θb為225度，則於n訊框中，暗像素與亮像素鄰接，且該暗像素相對於該亮像素相反地位於左下側、左側或下側位 置之情形時，對於相當於該暗像素之液晶元件，實施措施以避免液晶分子成為不穩定狀態即可。
因此，影像處理電路30中之校正部306基於自前訊框向現訊框變化之邊界中之暗像素位於下側且亮像素位於上側之部分、與暗像素位於左側且亮像素位於右側之部分之風險邊界，校正影像信號即可。
由此，於傾斜方位角θb為225度之情形時，以圖7(a)至圖7(b)之方式變化之圖像如圖19(a)所示，檢測出風險邊界。而且，作為風險邊界且應用邊界之邊界成為圖20(a)所示。
繼而，對如圖18(a)所示，傾斜方位角θb為90度之例進行說明。該例係於自身像素及周邊像素中自液晶分子不穩定狀態起僅自身像素變為亮像素時，於該自身像素中反向傾斜如圖18(b)所示，集中地產生於沿著右邊之區域中。因此，亦出現如下觀點：在該自身像素中反向傾斜區域以右邊產生之寬度，亦產生於上邊之偏右邊及下邊之偏右邊中。
因此，於傾斜方位角θb為90度之情形時，將傾斜方位角θb為45度時產生反向傾斜區域之要件(1)~(3)中之要件(2)以如下方式進行修正。即，修正為 (2)於n訊框中，該亮像素(施加電壓較高)相對於鄰接之暗像素(施加電壓較低)，不僅位於液晶分子中之相當於傾斜方位之上游側之左側，而且位於受到在該左側產生之區域之影響之上側或下側之情形時。
再者，要件(1)及要件(3)不進行變更。
因此，若傾斜方位角θb為90度，則於n訊框中，暗像素與亮像素與鄰接，且該暗像素相對於該亮像素相反地位於右側、下側或上側之情形時，對於相當於該暗像素之液晶元件，實施措施以避免液晶分子成為不穩定狀態即可。
因此，影像處理電路30中之校正部306基於自前訊框向現訊框變化之邊界中之暗像素位於右側且亮像素位於左側之部分、暗像素位於上側且亮像素位於下側之部分、及暗像素位於下側且亮像素位於上側之部分之風險邊界，校正影像信號即可。
由此，於傾斜方位角θb為90度之情形時，以自圖7(a)向圖7(b)之方式變化之圖像如圖19(b)所示檢測出風險邊界。而且，作為風險邊界且應用邊界之邊界成為如圖20(b)所示。
<第3實施形態>
繼而，說明本發明之第3實施形態。
於以下之說明中，對與第1、2實施形態相同之構成標註同一符號進行表示，且適當地省略該說明。
本實施形態之影像處理電路30係檢測現訊框中暗像素與亮像素鄰接之邊界，且將與該檢測之邊界中之自前訊框朝向現訊框移動1像素之邊界相接之暗像素作為校正像素，而除此以外之像素不作為校正像素。如上述第1實施形態中使用圖27已說明般，在以亮像素為背景之暗像素之區域於每一訊框中各移動2像素以上時，如此之曳尾現象不會顯著出現(或者難以視認)。因此，若影像處理電路30將如此移動1像素之邊界之鄰接像素作為校正像素之要件，則可進而減少校正像素數。
由此，該實施形態係應用邊界決定部3044根據現訊框邊界檢測部3041及前訊框邊界檢測部3042之邊界之檢測結果，僅將移動1像素之邊界決定為應用邊界，而未自前訊框移動之邊界、及移動2像素以上之風險邊界不決定為應用邊界。影像處理電路30之其他各部分實現之功能係與上述第1、2實施形態相同。
圖21係說明本實施形態之校正處理之圖。
如圖21所示，即便自圖21(a)所示之圖像變為圖21(b)所示之圖 像，且自前訊框向現訊框以圖示之方式變化之邊界，影像處理電路30亦如圖21(c)所示，基於滿足1pixel/1flame(每一1訊框中移動1像素)之移動條件満之邊界，決定校正像素，且基於例如邊界移動相當於2像素之邊界，不決定校正像素。
藉此，校正部306，可進一步限制地校正更容易產生反向傾斜區域之部位。
<第4實施形態>
其次，說明本發明之第4實施形態。
於校正像素變多之情形時，存在校正像素所致之顯示不一致顯著之虞。因此，本實施形態係考慮到圖像之移動而以如下方式決定校正像素之像素。
於圖22至圖24中，(a)係對1排之圖像之像素中之自N訊框至N+5訊框為止之圖像之移動之情況進行說明之圖，(b)係對(a)中右起位於第2個之像素P之透射率之時間序列變化進行說明之曲線圖。
如圖22(a)示，考量圖像之移動方向(圖中右方向)中之暗像素之連續數較少之顯示圖案(此處為以白色像素為背景之連續2像素之暗像素之圖案)以1pixel/frame移動之情形。於該情形時，若注視像素P，則第N+2及第N+3訊框中，施加屬於灰階範圍a之電壓Va，其前後之訊框中，施加屬於灰階範圍b之電壓Vb。若假設忽視液晶之響應速度，則第N+2及第N+3訊框中，像素P應達到圖22(b)中「Va之靜態透射率」所示之透射率。然而，實際情況中，如圖22(b)所示，第N+3訊框結束時刻之透射率高於施加電壓Va時之靜態透射率高。此係相對於液晶元件之響應速度，電壓Va之施加期間較短之故。此時，成為液晶之傾斜角大於預傾角之狀態，因此，即便假設該暗像素受到較強之側向電場作用，亦難以產生反向傾斜區域。根據如此之考量，對於如此之暗像素，本實施形態不視為用以減少反向傾斜區域之校正像素。
又，如圖22(a)所示，於將如此之暗像素之施加電壓，校正為校正電壓Vcb之情形時，對於電壓Vb→校正電壓Vcb之響應慢於對於電壓Vb→電壓Va之響應，因此，如圖23(b)所示，在第N+2及第N+3訊框中，校正像素之透射率高於未經校正之情形時。其結果，背景之白色像素與暗像素之圖案之灰階差變小，導致圖像中之對比率(活動圖像對比度)低於原來元之圖像。
根據以上之原因，即便與亮像素相接之暗像素，在達到施加電壓Va時之靜態透射率之前，較理想為，對於電壓Va之施加期間結束之暗像素，不實施用以使反向傾斜區域減少之校正。此處，將液晶面板100之顯示畫面經更新之時間間隔設為S(毫秒)，將自高於閾值Vth2之施加電壓切換為低於Vth1之施加電壓時之液晶元件120之響應時間設為T(毫秒)。於該情形時，若響應時間T為2.5×S，電壓Va之施加期間為2S，則如圖22所示，液晶元件120未達到靜態透射率。另一方面，若電壓Va之施加期間持續3S以上，則如圖24之第N+4訊框所示，液晶元件120達到靜態透射率。由此，為了抑制圖像以顯示方面之不良狀況容易顯著之1pixel/frame移動時之顯示方面之不良狀況，而於被施加電壓Va之暗像素連續3像素以上地持續之情形時，必需進行用以使反向傾斜區域減少之校正。另一方面，於被施加電壓Va之暗像素為連續2像素以下之情形時，無需進行用以使反向傾斜區域減少之校正。一般而言，若將應設為校正像素之暗像素之連續數設為R(R為2以上之整數)，則於連續數R為響應時間T除以時間間隔S所得之值之整數部之值加上1之值以上之情形時，該等暗像素無需進行校正。由此，影像處理電路30於自與邊界相接之暗像素向該邊界之相反方向連續有R個(R為2以上之整數)之暗像素之情形時，基於該邊界決定校正像素，將暗像素作為校正像素即可。
再者，關於響應時間T，例如，施加表示亮像素之最大灰階之電 壓Vwt時之靜態透射率之液晶元件達到施加低於閾值Vth1之電壓(例如，表示最小灰階之電壓Vbk)時之靜態透射率為止之時間預先進行分析即可。
圖25係對響應時間T為2.5×S之情形時影像處理電路30之校正處理之概要進行說明之圖。
於圖25(a)所示之1排之圖像之情形時，如圖25(b)所示，對構成該1排之圖像之像素進行校正。具體而言，於自兩側夾持亮像素之暗像素連續地排列5個之情形時，暗像素之連續數R(=5)為響應時間T除以時間間隔S所得之值之整數部之值加上1之值(即3)以上，因此，該等暗像素中之與亮像素鄰接之2個暗像素成為校正對象，對灰階等級cb之影像信號進行校正。另一方面，於自兩側夾持亮像素之暗像素連續地排列2個之情形時，暗像素之連續數R(=2)未達響應時間T除以時間間隔S所得之值之整數部之值加上1之值(即3)，因此，該等暗像素不成為校正對象。
根據以上說明之第4實施形態，影像處理電路30係即便與應用邊界相接之暗像素，亦於圖像以1pixel/frame移動時，將因液晶元件之響應速度與液晶面板100之更新間隔之關係而未達到靜態透射率之暗像素，自校正像素中排出。藉此，影像處理電路30可將活動圖像中容易產生反向傾斜區域之暗像素限制地作為校正像素，從而可抑制因用以使反向傾斜區域減少之影像信號之校正所致之活動圖像對比度之低下之類的顯示不一致之產生。
<變形例> (變形例1)
於上述各實施形態中，影像處理電路30係將亮像素及暗像素兩者作為校正像素，但亦可僅將亮像素或暗像素中之一者作為校正像素。
(變形例2)
於上述各實施形態中，影像處理電路30係檢測自前訊框向現訊框變化之邊界檢測，且藉由與所檢測之邊界相接之像素而決定校正像素。即便影像處理電路30不具有相當於前訊框邊界檢測部3042、保存部3043及應用邊界決定部3044之構成，亦可確定本發明。即便如此之影像處理電路30之構成，亦可藉由用以使反向傾斜區域減少之校正，而抑制非校正像素中產生反向傾斜區域。
(變形例3)
於上述各實施形態中，對液晶105中採用VA方式之例進行了說明，但亦可採用TN(Twisted Nematic，扭轉向列)方式。其原因亦揭示於日本專利特開2011-107174號公報中。
(變形例4)
於校正部306校正影像信號之情形時，亦可校正為與顯示區域101之圖像之亮度對應之灰階等級之影像信號。例如，校正部306獲取作為顯示區域101之亮度之指標之資訊，且藉由所獲取之資訊而決定之亮度之等級越高(即明亮)，則使校正後之影像信號之灰階等級越高。其原因在於，顯示區域101越明亮，校正導致之灰階等級之變化越難以顯著，且即便為使反向傾斜區域之降低優先，而提高校正後之灰階等級，顯示不一致亦難以令使用者察覺。作為顯示區域101之亮度之指標之資訊，存在有顯示區域101周邊之影像顯示環境之亮度(例如照度)。於該情形時，校正部306獲取得設於液晶顯示裝置1之光感測器之偵測結果後，由校正部306決定校正後之灰階等級即可。除此以外，校正部306亦可獲取輸入影像信號之灰階等級，作為成為亮度指標之資訊(例如，1訊框之輸入影像信號之灰階等級之平均值)。其原因在於，愈顯示高灰階等級之影像信號之圖像，顯示區域101亦變得愈明亮。又，校正部306亦可獲取對規定顯示區域101中顯示之圖像 之亮度或對比率之複數個影像顯示模式中之任一模式進行指定之模式資訊。校正部306係使用與影像顯示模式中規定之亮度或對比率對應之校正量。於該情形時，校正部306於以所謂動態模式>通常模式>省電模式之順序提高灰階等級之情況下，校正為與顯示模式對應之灰階等級之影像信號即可。
又，校正部306亦可獲取偵測液晶顯示裝置1之周邊溫度或裝置內溫度之溫度感測器之偵測結果，根據該偵測結果所示之溫度，決定校正後之影像信號之灰階等級。一般而言，溫度越高則液晶元件之透射率容易變得越高，故而，校正部306以減小透射率之溫度依存性之方式，校正為與溫度對應之灰階等級之影像信號即可。
又，對於校正後之影像信號(液晶元件120之施加電壓)之決定方法，校正部306不僅可為使用運算式進行計算之構成，亦可為參照對照表之構成。
(變形例5)
又，本發明之影像處理電路不僅限於4倍速驅動，亦可應用於例如採用2倍速或8倍速驅動等之倍速驅動之液晶顯示裝置。又，本發明之影像處理電路亦可並非為應用於採用倍速驅動之液晶顯示裝置者。例如，影像處理電路將與相當於1格之影像信號Vid-in對應之顯示期間(例如，複數個訊框期間)之至少一部分作為校正期間，使校正像素數動態變化即可。
(變形例6)
於上述各個實施形態中，影像信號Vid-in係指定像素之灰階等級者，但亦可直接地指定液晶元件之施加電壓。於影像信號Vid-in指定液晶元件之施加電壓之情形時，構成為利用所指定之施加電壓判別邊界，對電壓進行校正即可。
又，於各實施形態中，液晶元件120不僅限於透射型，亦可為反 射型。
<電子機器>
繼而，作為使用上述實施形態之液晶顯示裝置之電子機器之一例，對將液晶面板100用作光閥之投影型顯示裝置(投影儀)進行說明。圖26係表示該投影儀之構成之平面圖。
如該圖所示，於投影儀2100之內部，設置有包含鹵素燈等白色光源之燈單元2102。自該燈單元2102射出之投影光係藉由配置於內部之3片反射鏡2106以及2片雙色反射鏡2108而分離為R(紅)色、G(綠)色、B(藍)色之3原色後，分別被導引至與各原色對應之光閥100R、100G、及100B。再者，B色光係與其他R色或G色相比，光程較長，故為防止其損失，而經由包含入射透鏡2122、中繼透鏡2123及出射透鏡2124之中繼透鏡系2121進行導引。
該投影儀2100中，包含液晶面板100之液晶顯示裝置係對應於R色、G色、B色之各色設置3組。光閥100R、100G、及100B之構成係與上述液晶面板100相同。構成為分別自外部上位電路供給影像信號，且分別將光閥100R、100G、及100驅動，以指定R色、G色、B色各自之原色成分之灰階等級。
藉由光閥100R、100G、100B而分別調變之光係自3個方向入射至雙色稜鏡2112。繼而，於該雙色稜鏡2112中，R色及B色之光折射成90度，另一方面，G色之光直線前進。因此，於合成各原色之圖像後，藉由投影透鏡2114而將彩色圖像投影至螢幕2120。
再者，於光閥100R、100G及100B中，藉由雙色反射鏡2108而入射與R色、G色、B色之各色對應之光，故無需設置彩色濾光片。又，光閥100R、100B之透射像係藉由雙色稜鏡2112反射後進行投影，與此相對，光閥100G之透射像係直接投影，因此，光閥100R、100B之水平掃描方向與光閥100G之水平掃描方向相反，從而成為顯示使左 右反轉之像之構成。
作為電子機器，除參照圖26所說明之投影儀以外，亦可列舉：電視機、取景型或監視器直視型之錄影機、汽車導航裝置、尋呼機、電子記事簿、計算器、文字處理器、工作站、電視電話、POS(point of sale，銷售點)終端機、數位靜態相機、行動電話、具備觸控面板之機器等。而且，上述液晶顯示裝置當然可應用於該等各種之電子機器。
1‧‧‧液晶顯示裝置
10‧‧‧控制電路
20‧‧‧掃描控制電路
30‧‧‧影像處理電路
100‧‧‧液晶面板
100a‧‧‧元件基板
100b‧‧‧對向基板
101‧‧‧顯示區域
105‧‧‧液晶
108‧‧‧共用電極
112‧‧‧掃描線
114‧‧‧資料線
116‧‧‧TFT
118‧‧‧像素電極
130‧‧‧掃描線驅動電路
140‧‧‧資料線驅動電路
LCcom‧‧‧電壓
Sync‧‧‧同步信號
Vid-in‧‧‧影像信號
Vx‧‧‧資料信號
X1、X2、X3、...、Xn‧‧‧資料信號
Xctr‧‧‧控制信號
Y1、Y2、Y3、...、Ym‧‧‧掃描信號

Claims (17)

  1. 一種信號處理裝置，其係用於具備複數個像素之液晶裝置者，且其特徵在於：上述信號處理裝置包括：檢測部，其係基於控制施加於上述複數個像素之各者之電壓之信號，檢測施加較第1基準電壓低之第1電壓之第1信號所符合之第1像素、與施加較第2基準電壓高之第2電壓之第2信號所符合之第2像素之邊界；及校正部，其係將與包含上述第1像素之M個(M為1以上之整數)像素相符之信號於校正期間內，校正為施加高於上述第1電壓且低於上述第2電壓之第3電壓之第3信號；上述校正部係於上述校正期間內，使上述M產生變化。
  2. 如請求項1之信號處理裝置，其中上述校正部係於上述第1電壓較低於上述第1基準電壓之第3基準電壓低之情形時，將與包含上述第1像素之M個像素相符之信號在校正期間內，校正為施加高於上述第1電壓且低於上述第2電壓之第3電壓之第3信號。
  3. 如請求項1之信號處理裝置，其中上述校正部係進而將與包含上述第2像素之N個(N為1以上之整數)之像素相符之信號在校正期間內，校正為施加高於上述第1電壓且低於上述第2電壓之第4電壓之第4信號，且於上述校正期間內，使上述N產生變化。
  4. 一種液晶裝置，其包括如請求項1之信號處理裝置。
  5. 一種電子機器，其包括如請求項4之液晶裝置。
  6. 一種信號處理裝置，其係用於具備複數個像素之液晶裝置者， 且其特徵在於：上述信號處理裝置包括：檢測部，其係基於控制施加於上述複數個像素之各者之電壓之信號，檢測施加較第1基準電壓低之第1電壓之第1信號所符合之第1像素、與施加較第2基準電壓高之第2電壓之第2信號所符合之第2像素之邊界；及校正部，其係將與包含上述第2像素之N個(N為1以上之整數)像素相符之信號於校正期間內，校正為施加高於上述第1電壓且低於上述第2電壓之第4電壓之第4信號；上述校正部係於上述校正期間內，使上述N產生變化。
  7. 如請求項6之信號處理裝置，其中上述校正部係於上述第2電壓較高於上述第2基準電壓之第4基準電壓高之情形時，將與包含上述第2像素之N個像素相符之信號在校正期間內，校正為施加高於上述第1電壓且低於上述第2電壓之第4電壓之第4信號。
  8. 如請求項6之信號處理裝置，其中上述校正部係將與包含上述第1像素之M個(M為1以上之整數)之像素相符之信號在校正期間內，校正為施加高於上述第1電壓且低於上述第2電壓之第3電壓之第3信號，且於上述校正期間內，使上述M產生變化。
  9. 一種液晶裝置，其包括如請求項6之信號處理裝置。
  10. 一種電子機器，其包括如請求項9之液晶裝置。
  11. 一種信號處理裝置，其係用於具備複數個像素之液晶裝置者，且其特徵在於：上述信號處理裝置包括：檢測部，其係基於控制施加於上述複數個像素之各者之電壓 之信號，檢測與第1像素相符且施加較第1基準電壓低之第1電壓之第1信號、以及與相鄰於上述第1像素之第2像素相符且施加較第2基準電壓高之第2電壓之第2信號；及校正部，其係將與包含上述第1像素之M個(M為1以上之整數)像素相符之信號於校正期間內，校正為施加高於上述第1電壓且低於上述第2電壓之第3電壓之第3信號；上述校正部係於上述校正期間內，使上述M產生變化。
  12. 一種液晶裝置，其包括如請求項11之信號處理裝置。
  13. 一種電子機器，其包括如請求項12之液晶裝置。
  14. 一種信號處理裝置，其係用於具備複數個像素之液晶裝置者，且其特徵在於：上述信號處理裝置包括：檢測部，其係基於控制施加於上述複數個像素之各者之電壓之信號，檢測與第1像素相符且施加較第1基準電壓低之第1電壓之第1信號、以及與相鄰於上述第1像素之第2像素相符且施加較第2基準電壓高之第2電壓之第2信號；及校正部，其係將與包含上述第2像素之N個(N為1以上之整數)像素相符之信號於校正期間內，校正為施加高於上述第1電壓且低於上述第2電壓之第4電壓之第4信號；上述校正部係於上述校正期間內，使上述N產生變化。
  15. 一種液晶裝置，其包括如請求項14之信號處理裝置。
  16. 一種電子機器，其包括如請求項15之液晶裝置。
  17. 一種信號處理方法，其係對在具備複數個像素之液晶裝置中顯示之信號進行處理者，且其特徵在於包含如下步驟：基於控制施加於上述複數個像素之各者之電壓之信號，檢測施加較第1基準電壓低之第1電壓之第1信號所符合之第1像素、 與施加較第2基準電壓高之第2電壓之第2信號所符合之第2像素之邊界；及將與包含上述第1像素之M個(M為1以上之整數)像素相符之信號於校正期間內，校正為施加高於上述第1電壓且低於上述第2電壓之第3電壓之第3信號；上述進行校正之步驟係於上述校正期間內，使上述M產生變化。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112242126A (zh) * 2019-07-16 2021-01-19 奇景光电股份有限公司 使用图案检测方法来控制显示面板的各子像素的极性的方法

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6078959B2 (ja) * 2012-03-16 2017-02-15 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、映像処理方法および電子機器
JP6233047B2 (ja) 2014-01-22 2017-11-22 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、映像処理方法、電気光学装置及び電子機器
JP6632275B2 (ja) 2015-09-08 2020-01-22 キヤノン株式会社 液晶駆動装置、画像表示装置および液晶駆動プログラム
JP6253622B2 (ja) * 2015-09-08 2017-12-27 キヤノン株式会社 液晶駆動装置、画像表示装置および液晶駆動プログラム
EP3142097A1 (en) 2015-09-08 2017-03-15 Canon Kabushiki Kaisha Liquid crystal drive apparatus, image display apparatus and liquid crystal drive program
JP2017053950A (ja) 2015-09-08 2017-03-16 キヤノン株式会社 液晶駆動装置、画像表示装置および液晶駆動プログラム
KR102523424B1 (ko) 2018-02-19 2023-04-20 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 패널의 구동 장치 및 이를 포함하는 액정 표시 장치
US11145269B2 (en) * 2019-08-02 2021-10-12 Sakai Display Products Corporation Display apparatus accurately reducing display non-uniformity
KR102651861B1 (ko) * 2020-06-23 2024-03-27 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치, 데이터 구동 회로 및 디스플레이 패널

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080018630A1 (en) 2006-07-18 2008-01-24 Yusuke Fujino Liquid crystal display device, liquid crystal display and method of driving liquid crystal display device
JP5045278B2 (ja) 2006-07-18 2012-10-10 ソニー株式会社 液晶表示装置および液晶表示装置の駆動方法
JP2008281947A (ja) 2007-05-14 2008-11-20 Toshiba Corp 液晶表示装置
JP4720843B2 (ja) * 2008-03-27 2011-07-13 ソニー株式会社 映像信号処理回路、液晶表示装置及び投射型表示装置
JP5217813B2 (ja) * 2008-09-10 2013-06-19 セイコーエプソン株式会社 液晶装置及び電子機器
JP4661965B2 (ja) * 2009-02-18 2011-03-30 ソニー株式会社 液晶表示装置
JP5229162B2 (ja) * 2009-09-01 2013-07-03 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、その処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP5233920B2 (ja) 2009-09-01 2013-07-10 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、その処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP5370021B2 (ja) * 2009-09-07 2013-12-18 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置、駆動方法および電子機器
JP5454092B2 (ja) 2009-11-12 2014-03-26 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、その処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP2011107497A (ja) * 2009-11-19 2011-06-02 Seiko Epson Corp 映像処理回路、その処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP5370169B2 (ja) * 2010-01-15 2013-12-18 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、その処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP5304669B2 (ja) 2010-01-25 2013-10-02 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、その処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP5598014B2 (ja) * 2010-02-22 2014-10-01 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、その処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP5304684B2 (ja) 2010-02-22 2013-10-02 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、その処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP5381807B2 (ja) 2010-02-25 2014-01-08 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、その処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP5556234B2 (ja) * 2010-02-25 2014-07-23 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、その処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP5370214B2 (ja) 2010-02-25 2013-12-18 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、映像処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP5381804B2 (ja) 2010-02-25 2014-01-08 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、映像処理方法、液晶表示装置および電子機器
JP5601173B2 (ja) 2010-11-26 2014-10-08 セイコーエプソン株式会社 映像処理方法、映像処理回路、液晶表示装置および電子機器
JP5720221B2 (ja) 2010-12-13 2015-05-20 セイコーエプソン株式会社 映像処理方法、映像処理回路、液晶表示装置および電子機器
JP5707973B2 (ja) 2011-01-27 2015-04-30 セイコーエプソン株式会社 映像処理方法、映像処理回路、液晶表示装置および電子機器
JP2012168229A (ja) 2011-02-10 2012-09-06 Seiko Epson Corp 映像処理方法、映像処理回路、液晶表示装置および電子機器
JP2012242798A (ja) 2011-05-24 2012-12-10 Seiko Epson Corp 補正電圧設定方法、映像処理方法、補正電圧設定装置、映像処理回路、液晶表示装置及び電子機器
JP2012242797A (ja) 2011-05-24 2012-12-10 Seiko Epson Corp 映像処理方法、映像処理回路、液晶表示装置及び電子機器
JP6078959B2 (ja) * 2012-03-16 2017-02-15 セイコーエプソン株式会社 映像処理回路、映像処理方法および電子機器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112242126A (zh) * 2019-07-16 2021-01-19 奇景光电股份有限公司 使用图案检测方法来控制显示面板的各子像素的极性的方法
CN112242126B (zh) * 2019-07-16 2022-03-18 奇景光电股份有限公司 使用图案检测方法来控制显示面板的各子像素的极性的方法

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Publication number Publication date
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